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JP3216065B2 - Method for manufacturing hollow structure - Google Patents
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JP3216065B2 - Method for manufacturing hollow structure - Google Patents

Method for manufacturing hollow structure

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JP3216065B2
JP3216065B2 JP23128994A JP23128994A JP3216065B2 JP 3216065 B2 JP3216065 B2 JP 3216065B2 JP 23128994 A JP23128994 A JP 23128994A JP 23128994 A JP23128994 A JP 23128994A JP 3216065 B2 JP3216065 B2 JP 3216065B2
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membrane
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Abstract

PURPOSE: To make it possible to remove even extremely thin low melting org. matter layers which are sacrificial layers by dry etching by removing part of the low melting org. matter layers between substrates to form hollow parts and using the low melting org. matter layers made to remain as spacers. CONSTITUTION: An Si substrate (100) 1 is subjected to anisotropic etching, by which groove parts 2 are formed and simultaneously, the thin sheet points at the bottoms of these groove parts 2 are formed as vibratable Si membranes 3. Next, Langmuir-Blodgett (LB) films 4 as the low melting org. matter are formed as the spacers on the surfaces formed with the groove parts 2 of the substrate l and Al films which are the metallic membranes 6 are formed thereon. The LB films 4 are then irradiated with the laser beam transmitted through the substrate 1 via a mask in a vacuum atmosphere, by which the LB films 4 are decomposed and evaporated to form gap parts (hollow parts) 5. Then, the gap parts 5 are formable extremely thin if the LB films formable by monomolecule layer each are used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は中空構造体の製造方法
係わり、特にスペーサを介して隔てられた複数の基体間
の一部に中空部を有する中空構造体の製造方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a hollow structure, and more particularly to a method for manufacturing a hollow structure having a hollow portion in a part between a plurality of substrates separated by a spacer. >

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、中空構造体は通常特公平5−54
709号等に記載されている様に、犠牲層となるべき個
所を予め残して置き、さらに該犠牲層の上に穴を有する
膜を成膜し、その後該穴からエッチィング液を流入する
ことによって該犠牲層を全て除去し中空部を形成する手
法で作られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a hollow structure is generally known as Japanese Patent Publication 5-54.
No. 709, etc., leaving a portion to be a sacrificial layer in advance, further forming a film having a hole on the sacrificial layer, and then flowing an etching liquid through the hole. The sacrificial layer is entirely removed to form a hollow portion.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では膜の穴からエッチィング液を流入しながら犠牲
層をエッチィングするため次のような課題があった。す
なわち、 (1)膜の穴からエッチィング液を流入させるため、該
穴が小さい場合、表面張力が作用し、該エッチィング液
が入りづらい。 (2)犠牲層エッチィングのために、エッチィング液を
用いるため、エッチィング後該エッチィング液の表面張
力によって、該膜の張り付が生ずる。 (3)エッチィング液を用いるため、該エッチィング液
の表面張力の発生によって、極薄の犠牲層エッチィング
によって中空構造体を形成することは困難である。 (4)同一犠牲層において、エッチィングする必要のあ
る部分とエッチィングしてはいけない部分(接合層とし
ての役目を果す部分)との2つに分けることは困難であ
る。
However, in the above-mentioned prior art, the sacrificial layer is etched while the etching liquid is flowing from the hole of the film, so that there are the following problems. That is, (1) Since the etching liquid flows through the holes of the membrane, when the holes are small, surface tension acts to make it difficult for the etching liquid to enter. (2) Since the etching liquid is used for etching the sacrificial layer, the film sticks due to the surface tension of the etching liquid after the etching. (3) Since an etching liquid is used, it is difficult to form a hollow structure by etching a very thin sacrificial layer due to generation of surface tension of the etching liquid. (4) In the same sacrificial layer, it is difficult to divide into two parts: a part that needs to be etched and a part that must not be etched (a part that serves as a bonding layer).

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の中空構造体の製
造方法は、基板上に低融点有機物から成る第1の薄膜を
形成する工程と、前記第1の薄膜上に第2の薄膜を形成
する工程と、前記第2の薄膜を形成した後、前記基板を
通して第1の薄膜の一部にレーザ光を照射し、第1の薄
膜を部分的に除去することによって中空部を形成する工
程とから成り、除去されなかった前記第1の薄膜の残り
の部分をスペーサとして前記第2の薄膜が基板上に中空
部を挟んで支持された構造体を製造することを特徴とす
る。
The hollow structure of the present invention is manufactured.
The method is to form a first thin film made of a low melting point organic substance on a substrate.
Forming and forming a second thin film on the first thin film
And after forming the second thin film, the substrate is
And irradiates a part of the first thin film with laser light through the first thin film.
Work to form a hollow part by partially removing the film
And the remainder of the first thin film not removed
Is used as a spacer, and the second thin film is hollow on the substrate.
Manufacturing a structure supported across the part
You.

【0005】[0005]

【0006】なお、本願において、スペーサを介して隔
てられた複数の基体とは、スペーサを介した基板と基板
の他、スペーサを介した基板と積層膜、スペーサを介し
た積層膜と積層膜等も含まれるものとする。
In the present application, a plurality of substrates separated by a spacer means a substrate and a substrate via a spacer, a substrate and a laminated film via a spacer, a laminated film and a laminated film via a spacer, and the like. Shall also be included.

【0007】[0007]

【作用】本発明は、基体間の低融点有機物層の一部を除
去することで中空部とし、残された該低融点有機物層を
スペーサとしたものである。
According to the present invention, a hollow portion is formed by removing a part of the low melting point organic material layer between the substrates, and the remaining low melting point organic material layer is used as a spacer.

【0008】低融点有機物層としては、エネルギを与え
ることで気化蒸発する材質のものであればよいが、例え
ば中空部が薄い場合には単分子層づつの成膜が可能なL
B膜を用いれば分子レベルの膜制御が可能となる。
The low-melting-point organic material layer may be any material that can be vaporized and evaporated by applying energy. For example, when the hollow portion is thin, it is possible to form a single molecular layer.
The use of the B film makes it possible to control the film at the molecular level.

【0009】低融点有機物層の一部にエネルギを与える
手段としては、例えば、レーザ光を用いることができ
る。レーザ光としては、波長0.2μm〜12μmの範
囲のレーザ光を用いることができ、このような波長のレ
ーザ光源としてCO2レーザ、YAGレーザ、エキシマ
レーザ等を用いることができる。
As a means for applying energy to a part of the low melting point organic layer, for example, a laser beam can be used. As the laser light, a laser light having a wavelength in the range of 0.2 μm to 12 μm can be used. As a laser light source having such a wavelength, a CO 2 laser, a YAG laser, an excimer laser, or the like can be used.

【0010】[0010]

〔実施例1〕[Example 1]

図1、図2〜図5は本発明により製造された中空構造体
の第1の実施例を示し、図1は本発明により製造された
中空構造体の構成を表わす斜視図であり、図2〜図5は
本発明の製造方法を表す断面図である。図1〜図5にお
いて、1はSi基板(100)であるところの基板、2
は基板1を異方性エッチィングすることによって形成し
た基板の溝部、3は基板1の溝部2を形成することによ
って生じたものであり基板1のSiメンブレン、4は基
板1上に成膜したLB膜(ラングミュア・ロジェット
膜)、5はLB膜4の一部を犠牲層としてエッチィング
によって除去したところの空隙部(中空部)、6はLB
膜4の上にAl(アルミニウム)の成膜によって形成し
た金属メンブレン、8はLB膜4に空隙部5を形成する
ためのマスク、9はLB膜4を光エッチィングするため
のレーザ光、10は金属メンブレン6と基板1のSiメ
ンブレン3との間に電界を印加するところの電源、11
は金属メンブレン6の端部に設けた電極、13は電極1
1と電源10及び基板1と電源10との間をそれぞれ電
気的に連結するところのリード線、15は電源10によ
って基板1の振動部(Siメンブレン)3及び振動部
(金属メンブレン)6との間に交番的な電界を印加する
ことによって生じた静電引力による振動から生じた音波
である。
1, FIGS. 2-5 show a first embodiment of a hollow structure produced by the present invention, FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of <br/> hollow structure produced by the present invention Yes, and FIGS.
It is sectional drawing showing the manufacturing method of this invention . 1 to 5, reference numeral 1 denotes a substrate which is a Si substrate (100);
Is a groove of the substrate formed by anisotropically etching the substrate 1, 3 is a groove formed by forming the groove 2 of the substrate 1, and is a Si membrane of the substrate 1, and 4 is a film formed on the substrate 1. LB film (Langmuir-Bed Rojetto film) 5 and the void portion of the was removed by Etchiingu as a sacrificial layer a part of the LB film 4 (hollow portion), the 6 LB
A metal membrane 8 formed on the film 4 by forming an Al (aluminum) film; 8, a mask for forming a gap 5 in the LB film 4; 9, a laser beam for optically etching the LB film 4; A power source for applying an electric field between the metal membrane 6 and the Si membrane 3 of the substrate 1;
Is an electrode provided at the end of the metal membrane 6, and 13 is an electrode 1
A lead wire 15 electrically connects the power supply 1 to the power supply 10 and the substrate 1 to the power supply 10. A lead 15 connects the vibration part (Si membrane) 3 and the vibration part (metal membrane) 6 of the substrate 1 by the power supply 10. This is a sound wave generated from vibration due to electrostatic attraction generated by applying an alternating electric field therebetween.

【0011】つぎに上記の構造体を形成するまでの製造
プロセスについて図2〜図5を用いて説明する。まず、
(100)面のSi基板から成る基板1にKOHを用い
た異方性エッチィングにより溝部2を形成し、同時に該
溝部2の底部の薄板個所を振動可能なSiメンブレン3
とする(図2)。次に図3に見る様に、基板1の溝部2
を形成した側の片面にLB膜4を任意の厚さに成膜し、
さらに該LB膜4の上に金属メンブレン6となるAl膜
を成膜する(図4)。そして、図5に見る様に真空雰囲
気中(図示無し)で、マスク8を介して基板1を透過し
たレーザ光9をLB膜4に照射することによりLB膜を
分解し、蒸発させて空隙部5を形成する。ここで、Si
メンブレン3と金属メンブレン6との間の隙間は、LB
膜4の膜厚と同じであり該LB膜4の厚さを薄くすれば
する程、小さくなる。従って、該LB膜4を極めて薄く
成膜した場合、空隙部5は極めて狭くなる。そこで金属
メンブレン6とSi基板メンブレン3との間に電圧を印
加するならば、より少ない電圧で該金属メンブレン6と
該Si基板メンブレン3とを互いに静電引力で引き合う
ことが可能となる。今、図1に見る様に、交番電圧を発
生する電源10を金属メンブレン6とSiメンブレン3
との間に印加した場合、金属メンブレン6とSiメンブ
レン3は、電源6の周波数に同期して振動し、結果とし
て音波15を発生する。
Next, a manufacturing process until the above-mentioned structure is formed will be described with reference to FIGS. First,
A groove 2 is formed on a substrate 1 made of a (100) Si substrate by anisotropic etching using KOH, and at the same time, a thin membrane portion 3 at the bottom of the groove 2 can vibrate.
(FIG. 2). Next, as shown in FIG.
An LB film 4 is formed to an arbitrary thickness on one surface on the side where
Further, an Al film to be the metal membrane 6 is formed on the LB film 4 (FIG. 4). Then, as shown in FIG. 5, the LB film 4 is decomposed by irradiating the LB film 4 with a laser beam 9 transmitted through the substrate 1 through the mask 8 in a vacuum atmosphere (not shown), and the LB film is evaporated to form a void portion. 5 is formed. Where Si
The gap between the membrane 3 and the metal membrane 6 is LB
It is the same as the film thickness of the film 4, and the smaller the thickness of the LB film 4, the smaller. Therefore, when the LB film 4 is formed to be extremely thin, the gap 5 becomes extremely narrow. Therefore, if a voltage is applied between the metal membrane 6 and the Si substrate membrane 3, the metal membrane 6 and the Si substrate membrane 3 can be attracted to each other by electrostatic attraction with a smaller voltage. Now, as shown in FIG. 1, a power supply 10 for generating an alternating voltage is connected to a metal membrane 6 and a Si membrane 3.
In this case, the metal membrane 6 and the Si membrane 3 vibrate in synchronization with the frequency of the power supply 6, and generate a sound wave 15 as a result.

【0012】尚、本実験に用いたLB膜4はC−22
(ベヘン酸)であり、30層積層したものである。又、
レーザ光9はCO2 レーザを用いたものであり、マスク
8は金属から成るものである。そして、図5に見る様に
レーザ光9はマスク8の穴部を通過するが、それ以外の
マスク8部では反射する。
The LB film 4 used in this experiment was C-22.
(Behenic acid), and 30 layers are laminated. or,
The laser beam 9 uses a CO 2 laser, and the mask 8 is made of metal. Then, as shown in FIG. 5, the laser beam 9 passes through the hole of the mask 8, but is reflected by the other mask 8 portions.

【0013】今、電源10によって両電極端子間に、P
eak to Peak電圧10V、周波数10kHz
を印加したところ、Siメンブレン3及び金属メンブレ
ン6が互いに振動し、音波を発生した。
Now, P
eak to Peak voltage 10V, frequency 10kHz
Was applied, the Si membrane 3 and the metal membrane 6 vibrated with each other to generate a sound wave.

【0014】尚、上記LB膜は直鎖飽和脂肪酸である
が、他のLB膜、例えば強誘電性LB膜(例として、ジ
アセチレン系、あるいはベンゼン誘導体)、あるいはポ
リイミドLB膜を用いることもできる。 〔実施例2〕図6、図7〜図11は本発明の中空構造体
の第2の実施例を示し、図6は本発明の中空構造体の構
成を表わす斜視図であり、図7〜図11はその製造方法
を表す断面図である。
The LB film is a straight-chain saturated fatty acid, but other LB films such as a ferroelectric LB film (for example, a diacetylene-based or benzene derivative) or a polyimide LB film can also be used. . [Embodiment 2] FIGS. 6, 7 to 11 show a second embodiment of the hollow structure of the present invention, and FIG. 6 is a perspective view showing the structure of the hollow structure of the present invention. FIG. 11 is a sectional view showing the manufacturing method.

【0015】図6〜図11において、1はSi基板であ
るところの基板、2は基板1を異方性エッチィングする
ことによって形成した基板の溝部、3は基板1の溝部2
を形成することによって生じたものであり基板1のSi
メンブレン、4は基板1上に成膜したLB膜、5はLB
膜4の一部を犠牲層としてエッチィングによって除去し
たところの空隙部(中空部)、6はLB膜4の上にAl
(アルミニウム)の成膜によって形成した接着中間層、
7は接着中間層6に陽極接合によって接着したガラスか
ら成る台座、8はLB膜4に空隙部5を形成するための
マスク、9はLB膜4を光エッチィングするためのレー
ザ光、10は接着中間層6と基板1のSiメンブレン3
との間に、Siメンブレン3が静電引力によって変形し
ない程度の交番電圧を高周波で発生し、Siメンブレン
3に作用する外部からの圧力によって空隙部5の隙間変
化を、すなわち容量変化を電流変化にする様に作用する
ところの電源、11はSiメンブレン3に電気的に連結
したところの基板1の電極、12はSiメンブレンと電
極として作用する接着中間層6との間の容量変化を電圧
信号に変換するところの電気抵抗、13は電極11と電
源10、接着中間層6と電気抵抗12及び電気抵抗12
と電源10とのそれぞれの間を電気的に連結するところ
のリード線、14は電気抵抗12からの信号取出し部、
16はSiメンブレン3に作用するところの圧力波であ
る。
6 to 11, reference numeral 1 denotes a substrate which is a Si substrate, 2 denotes a groove of the substrate formed by anisotropically etching the substrate 1, and 3 denotes a groove of the substrate 1.
Formed on the substrate 1, and
4 is an LB film formed on the substrate 1 and 5 is an LB film.
A void portion (hollow portion) where a part of the film 4 is removed by etching as a sacrificial layer,
An adhesive intermediate layer formed by deposition of (aluminum),
Reference numeral 7 denotes a pedestal made of glass bonded to the bonding intermediate layer 6 by anodic bonding, 8 denotes a mask for forming the voids 5 in the LB film 4, 9 denotes a laser beam for optically etching the LB film 4, and 10 denotes a laser beam. Adhesive intermediate layer 6 and Si membrane 3 of substrate 1
A high-frequency alternating voltage is generated at which the Si membrane 3 is not deformed by electrostatic attraction, and a change in the gap of the void 5 due to an external pressure acting on the Si membrane 3, that is, a change in capacitance is caused by a current change. A power supply 11 acts as follows, 11 is an electrode of the substrate 1 electrically connected to the Si membrane 3, and 12 is a voltage signal indicating a change in capacitance between the Si membrane and the adhesive intermediate layer 6 acting as an electrode. Is an electrode 11 and a power supply 10, an adhesive intermediate layer 6, an electric resistance 12, and an electric resistance 12.
A lead wire for electrically connecting each of the power supply 10 and the power supply 10, a signal extraction portion 14 from the electric resistance 12,
Reference numeral 16 denotes a pressure wave acting on the Si membrane 3.

【0016】つぎに上記の構造体を形成するまでの製造
プロセスについて図7〜図11を用いて説明する。ま
ず、(100)面のSi基板から成る基板1にKOH溶
液を用いた異方性エッチィングにより溝部2を形成し、
同時に該溝部2の底部の薄板個所を振動可能なSiメン
ブレン3とする(図7)。次に図8に見る様に基板1の
溝部2を形成した側の反対面にLB膜4を任意の厚さに
成膜し、さらに該LB膜4の上に接着中間層6となるA
l膜を成膜する(図9)。そして、該接着中間層6にP
yrexガラス(コーニング社の商標、#7740)を
光照射陽極接合によって接着し(図10)、その後、図
11に見る様に真空雰囲気中(図示無し)で、マスク8
を介してSiメンブレン3を透過したレーザ光9をLB
膜4に照射することによりLB膜を分解し、蒸発させて
空隙部5を形成する。ここで、Siメンブレン3と金属
メンブレン6との間の隙間はLB膜4の膜厚と同じであ
り、該LB膜の厚さを薄くすればする程、小さくなる。
従って、該LB膜4を極めて薄く成膜した場合、空隙部
5は極めて狭くなる。そこで、圧力波16をSiメンブ
レン3に作用した場合、Siメンブレン3と接着中間層
6との間の距離の変化量の割合は大となり、結果として
該Siメンブレン3と接着中間層6との間の電気容量の
変化量は大となる。今、図6に見る様にSiメンブレン
3と接着中間層6との間に電源10により高周波を印加
しながら、同時に圧力波16をSiメンブレン3に作用
したところ、信号取出部14において、電圧変化が生じ
た。
Next, a manufacturing process until the above-mentioned structure is formed will be described with reference to FIGS. First, a groove 2 is formed on a substrate 1 made of a (100) Si substrate by anisotropic etching using a KOH solution.
At the same time, the thin portion at the bottom of the groove 2 is made into a vibrable Si membrane 3 (FIG. 7). Next, as shown in FIG. 8, an LB film 4 is formed to an arbitrary thickness on the surface opposite to the side where the groove 2 of the substrate 1 is formed.
1 film is formed (FIG. 9). Then, the adhesive intermediate layer 6 has P
Yrex glass (Corning's trademark, # 7740) is adhered by light irradiation anodic bonding (FIG. 10), and then, in a vacuum atmosphere (not shown) as shown in FIG.
The laser light 9 transmitted through the Si membrane 3 through the LB
By irradiating the film 4, the LB film is decomposed and evaporated to form the voids 5. Here, the gap between the Si membrane 3 and the metal membrane 6 is the same as the thickness of the LB film 4, and becomes smaller as the thickness of the LB film is reduced.
Therefore, when the LB film 4 is formed to be extremely thin, the gap 5 becomes extremely narrow. Therefore, when the pressure wave 16 acts on the Si membrane 3, the rate of change in the distance between the Si membrane 3 and the bonding intermediate layer 6 increases, and as a result, the distance between the Si membrane 3 and the bonding intermediate layer 6 increases. The change amount of the electric capacity becomes large. Now, as shown in FIG. 6, while applying a high frequency from the power source 10 between the Si membrane 3 and the adhesive intermediate layer 6 and simultaneously applying a pressure wave 16 to the Si membrane 3, a voltage change occurs in the signal extracting portion 14. Occurred.

【0017】尚、本発明に用いたLB膜はC−20(ア
ラキジン酸)であり、30層積層したものである。又、
レーザ光9はCO2 レーザを用いたものであり、マスク
8は金属から成るものである。また、CO2 レーザ光の
代りにYAGレーザ光及びエキシマレーザ光を用いた場
合においても上記と同様の効果が生じた。
The LB film used in the present invention is C-20 (arachidic acid), and is a laminate of 30 layers. or,
The laser beam 9 uses a CO 2 laser, and the mask 8 is made of metal. In addition, the same effect as described above also occurs when the YAG laser light and the excimer laser light are used instead of the CO 2 laser light.

【0018】なお、該LB膜の代わりにパリレンの蒸着
膜を用いた場合においても、上記と同様の効果を得た。
従って、LB膜の他にパリレン等の様な蒸着膜ができ且
つ蒸発可能な有機物を用いた場合においても、本発明の
意図するところは変わらない。
The same effect as described above was obtained when a vapor deposition film of parylene was used instead of the LB film.
Therefore, the present invention does not change even when a vapor-deposited organic material such as parylene is formed and an evaporable organic material is used in addition to the LB film.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基体間の低融点有機物層の一部を除去することで中空部
とし、残された該低融点有機物層をスペーサとすること
で、薄い中空部を有する中空構造体を提供することがで
きる。そして犠牲層となる低融点有機物層の厚さが極め
て薄い場合においても、該犠牲層を分解しその後蒸発消
失する、すなわちドライエッチィングで該犠牲層を除去
することができる。
As described above, according to the present invention,
A hollow structure having a thin hollow portion can be provided by removing a part of the low-melting-point organic material layer between the substrates to form a hollow portion and using the remaining low-melting-point organic material layer as a spacer. Even when the thickness of the low-melting organic layer serving as a sacrifice layer is extremely small, the sacrifice layer can be decomposed and then evaporated and disappeared, that is, the sacrifice layer can be removed by dry etching.

【0020】なお、低融点有機物層として、単分子長の
厚さで、すなわち原子長オーダでの膜厚制御が可能な積
層LB膜を利用すれば、基体間の隙間(中空部)、例え
ば、基板と金属膜との間に生ずる隙間をオングストロー
ム長のオーダで制御することが可能になる。そして、極
薄LB膜を用いた場合、任意の個所に極薄の空間を有す
る中空構造体の作製が可能となる。これによって、静電
引力を利用したマイクロ・マシンにおいて、低電圧で駆
動できるデバイスの製作が容易になり、かつ、微小変位
によって変化する静電容量を利用したデバイスの製作も
可能となる効果がある。
When a laminated LB film having a thickness of a single molecule, that is, a film thickness controllable on the order of the atomic length is used as the low-melting-point organic material layer, a gap (hollow portion) between substrates, for example, The gap generated between the substrate and the metal film can be controlled on the order of Angstrom length. When an ultra-thin LB film is used, a hollow structure having an ultra-thin space at any position can be manufactured. As a result, in a micro machine using electrostatic attraction, it is easy to manufacture a device that can be driven at a low voltage, and it is also possible to manufacture a device using a capacitance that changes due to minute displacement. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を実施した音波発生器の概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram of a sound wave generator embodying the present invention.

【図2】図1の音波発生器の作製プロセス図である。FIG. 2 is a manufacturing process diagram of the sound wave generator of FIG.

【図3】図1の音波発生器の作製プロセス図である。FIG. 3 is a manufacturing process diagram of the sound wave generator of FIG. 1;

【図4】図1の音波発生器の作製プロセス図である。FIG. 4 is a manufacturing process diagram of the sound wave generator of FIG. 1;

【図5】図1の音波発生器の作製プロセス図である。FIG. 5 is a manufacturing process diagram of the sound wave generator of FIG. 1;

【図6】本発明を実施した音圧センサの概略図である。FIG. 6 is a schematic diagram of a sound pressure sensor embodying the present invention.

【図7】図6の音圧センサの作製プロセス図である。FIG. 7 is a manufacturing process diagram of the sound pressure sensor of FIG. 6;

【図8】図6の音圧センサの作製プロセス図である。FIG. 8 is a manufacturing process diagram of the sound pressure sensor of FIG. 6;

【図9】図6の音圧センサの作製プロセス図である。FIG. 9 is a manufacturing process diagram of the sound pressure sensor of FIG. 6;

【図10】図6の音圧センサの作製プロセス図である。FIG. 10 is a manufacturing process diagram of the sound pressure sensor of FIG. 6;

【図11】図6の音圧センサの作製プロセス図である。FIG. 11 is a manufacturing process diagram of the sound pressure sensor of FIG. 6;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 基板の溝部 3 Siメンブレン 4 LB膜 5 空隙部 6 金属メンブレンあるいは接着中間層 7 台座 8 マスク 9 レーザ光 10 電源 11 電極 12 電気抵抗 13 リード線 14 信号取出部 15 音波 16 圧力波 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Groove of substrate 3 Si membrane 4 LB film 5 Air gap 6 Metal membrane or adhesive intermediate layer 7 Pedestal 8 Mask 9 Laser beam 10 Power supply 11 Electrode 12 Electrical resistance 13 Lead wire 14 Signal extraction section 15 Sound wave 16 Pressure wave

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H04R 31/00 G10K 9/12 101C (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G10K 9/122 B05D 1/20 B23K 26/00 G01L 9/04 101 H01L 29/84 H04R 31/00 ──────────────────────────────────────────────────の Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI H04R 31/00 G10K 9/12 101C (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G10K 9/122 B05D 1 / 20 B23K 26/00 G01L 9/04 101 H01L 29/84 H04R 31/00

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板上に低融点有機物から成る第1の薄
膜を形成する工程と、前記第1の薄膜上に第2の薄膜を
形成する工程と、前記第2の薄膜を形成した後、前記基
板を通して第1の薄膜の一部にレーザ光を照射し、第1
の薄膜を部分的に除去することによって中空部を形成す
る工程とから成り、除去されなかった前記第1の薄膜の
残りの部分をスペーサとして前記第2の薄膜が基板上に
中空部を挟んで支持された構造体を製造することを特徴
とする中空構造体の製造方法。
A first thin film made of a low-melting organic material on a substrate;
Forming a film, and forming a second thin film on the first thin film.
Forming, and after forming the second thin film, the substrate
A part of the first thin film is irradiated with laser light through the plate,
To form a hollow part by partially removing the thin film of
And removing the first thin film that has not been removed.
The second thin film is formed on the substrate by using the remaining portion as a spacer.
It is characterized by manufacturing a structure supported by a hollow part.
A method for producing a hollow structure.
【請求項2】 更に、前記レーザ光を照射する前に、レ
ーザ光が照射される部分の前記基板に溝部を設ける工程
から成る請求項1記載の中空構造体の製造方法。
2. The method according to claim 1, further comprising :
Providing a groove in the portion of the substrate to be irradiated with laser light
The method for producing a hollow structure according to claim 1, comprising:
【請求項3】 前記第1の薄膜は、ラングミュア・ブロ
ジェット膜から成る請求項1または2記載の中空構造体
の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the first thin film is a Langmuir block.
3. The hollow structure according to claim 1, comprising a jet membrane.
Manufacturing method.
【請求項4】 前記ラングミュア・ロジェット膜は
直鎖飽和脂肪酸から形成された請求項3記載の中空構造
体の製造方法。
Wherein said Langmuir-Bed Rojetto film,
4. The hollow structure according to claim 3, formed from a linear saturated fatty acid.
How to make the body.
【請求項5】 前記レーザ光の波長は0.2μm〜1
2μmの範囲である請求項1乃至4のいずれか一項に記
載の中空構造体の製造方法。
Wavelength of claim 5 wherein said laser beam, 0.2Myuemu~1
5. The method according to claim 1, wherein the thickness is in a range of 2 μm.
Manufacturing method of the above-mentioned hollow structure.
【請求項6】 前記レーザ光はCO2 レーザ、YAGレ
ーザ、エキシマレーザのいずれかから発したものである
請求項1乃至5のいずれか一項に記載の中空構造体の製
造方法。
Wherein said laser beam is one emitted CO 2 laser, YAG laser, from any of the excimer laser
A hollow structure according to any one of claims 1 to 5.
Construction method.
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