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JP3218682B2 - Method for forming ultrafine particle film, transparent plate and image display plate - Google Patents
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JP3218682B2 - Method for forming ultrafine particle film, transparent plate and image display plate - Google Patents

Method for forming ultrafine particle film, transparent plate and image display plate

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JP3218682B2
JP3218682B2 JP12450292A JP12450292A JP3218682B2 JP 3218682 B2 JP3218682 B2 JP 3218682B2 JP 12450292 A JP12450292 A JP 12450292A JP 12450292 A JP12450292 A JP 12450292A JP 3218682 B2 JP3218682 B2 JP 3218682B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は超微粒子膜の形成方法、
並びにこれを応用した透明板並びに画像表示板とこれら
の製造方法に係り、特に画像表示板の反射と帯電を防止
する膜として有効に機能し得る超微粒子を利用した透明
板とその製造方法、並びにこれを応用した画像表示板の
製造方法に関する。
The present invention relates to a method for forming an ultrafine particle film,
Also, the present invention relates to a transparent plate and an image display plate using the same and a method for manufacturing the same, and in particular, a transparent plate using ultrafine particles capable of effectively functioning as a film for preventing reflection and charging of the image display plate, and a method for manufacturing the same, and The present invention relates to a method for manufacturing an image display panel to which the above method is applied.

【0002】[0002]

【従来の技術】透明性板表面の可視光を反射する反射率
を低減する膜(反射防止膜)は古くから研究されてお
り、カメラ、メガネなどのレンズに利用されてきた。現
在は、ビジュアル・デイスプレイ・タ−ミナル(VD
T)の反射光を低減するための反射防止フィルタなどに
用いられている。反射防止膜には様々なものが考えられ
ているが、現在利用されているものは主に多層膜と不均
質膜である。
2. Description of the Related Art A film (antireflection film) for reducing the reflectance of a transparent plate surface that reflects visible light has been studied for a long time, and has been used for lenses of cameras, glasses and the like. Currently, Visual Display Terminal (VD
T) is used for an anti-reflection filter for reducing the reflected light. Various antireflection films have been considered, but currently used ones are mainly multilayer films and heterogeneous films.

【0003】多層膜は透明性板表面に低屈折率物質と高
屈折率物質とを交互に少なくとも三層積層した構造であ
り、その反射防止効果は各層間での光学的干渉作用の総
合効果である。多層膜に関してはフィジックス・オブ・
シン・フィルムの2巻(1964年)242頁〜284
頁(Phyiscs of Thin Films2,
(1964)p.242〜p284)に論じられてい
る。
A multilayer film has a structure in which a low-refractive index material and a high-refractive index material are alternately laminated at least three layers on the surface of a transparent plate, and the antireflection effect is a total effect of optical interference between the layers. is there. Physics of Multilayer
Shin Film, Vol. 2 (1964), pp. 242-284
Page (Physics of Thin Films 2,
(1964) p. 242-p 284).

【0004】また、膜厚方向に屈折率分布を持つ不均質
膜は、透明性板表面を多孔質化したものが一般的であ
る。
In general, a heterogeneous film having a refractive index distribution in a film thickness direction has a transparent plate surface made porous.

【0005】ガラス表面に島状の金属蒸着膜を形成後、
スパッタエッチングにより微細な凹凸を形成して不均質
膜を作り、反射率を低減する方法がアプライド・フィジ
ックス・レタ−36号(1980)の727頁〜730頁(Apl.Phys.Le
tt,36(1980)p.727〜p730)において論じられている。
After forming an island-shaped metal deposition film on the glass surface,
A method of forming a heterogeneous film by forming fine irregularities by sputter etching and reducing the reflectance is described in Applied Physics Lettera 36 (1980), pp. 727-730 (Apl. Phys.
tt, 36 (1980) p.727-p730).

【0006】一方、陰極管においてはガラス面の帯電防
止の為に導電性膜を形成すると共に反射防止の工夫も要
求されている。
On the other hand, in the cathode ray tube, it is required to form a conductive film in order to prevent the glass surface from being charged, and to take measures to prevent reflection.

【0007】ところで、ブラウン管などの陰極管の前面
パネル表面(画像表示板)が帯電することが知れてい
る。その理由は図8に示すごとく、通常ブラウン管81の
内面82に塗布されている蛍光体83の上に薄く均一なアル
ミニウムを蒸着しているが、そのアルミニウム膜84に高
電圧が印加されると、その印加時及び遮断時にブラウン
管前面パネル85に静電誘導により帯電現象を起こすこと
による。
It is known that the front panel surface (image display plate) of a cathode ray tube such as a cathode ray tube is charged. As shown in FIG. 8, the reason is that thin and uniform aluminum is usually deposited on the phosphor 83 applied to the inner surface 82 of the cathode ray tube 81, but when a high voltage is applied to the aluminum film 84, This is because a charging phenomenon is caused in the cathode ray tube front panel 85 by electrostatic induction at the time of application and cutoff.

【0008】このような表示管表面での帯電を防止し、
さらに表面の反射を防止する方法は、特開昭61-51101号
公報に開示されている。この場合にはまずガラス基板に
真空蒸着法、スパッタリング法などの物理的気相法ある
いは化学的気相法などにより、導電性膜を形成し、その
上に反射防止膜を形成するようになっていた。
In order to prevent such charging on the display tube surface,
Further, a method of preventing surface reflection is disclosed in JP-A-61-51101. In this case, a conductive film is first formed on a glass substrate by a physical vapor method such as a vacuum deposition method or a sputtering method or a chemical vapor method, and an antireflection film is formed thereon. Was.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は形成方
法がスパッタリング法、真空蒸着法に限られ、かつ膜厚
の高精度制御が必要であるため、コストが高く、大面積
の基板への適用が困難であるという問題点があった。
In the above prior art, the method of formation is limited to the sputtering method and the vacuum evaporation method, and high precision control of the film thickness is required. There was a problem that it was difficult.

【0010】この場合の反射防止膜は基本的にはガラス
表面に屈折率の異なる物質を何層か蒸着したものであ
り、各層間での光学的干渉作用により反射防止を図って
いる。この反射防止機構を考える上で、今最も単純な単
層蒸着膜を例に取る。屈折率Ngのガラス表面に、ガラス
よりも低い屈折率Nfをもつ物質を厚さdでコ-ティングし
た場合、この表面に入射する光の反射挙動はフルネルの
公式によって導くことができ、反射率Rは式「数1」で
表される。
In this case, the anti-reflection film is basically formed by depositing several layers of substances having different refractive indexes on the glass surface, and anti-reflection is achieved by optical interference between the layers. In considering this antireflection mechanism, the simplest single-layer deposited film will now be taken as an example. When a material having a refractive index Nf lower than that of glass is coated with a thickness d on a glass surface having a refractive index Ng, the reflection behavior of light incident on this surface can be derived by the Fresnel's formula. R is represented by the formula “Equation 1”.

【0011】[0011]

【数1】 (Equation 1)

【0012】[0012]

【数2】 (Equation 2)

【0013】上式よりNf=√NgでR=0となり、波長λの光
に対してまったく反射光がない状態となる。最も一般的
なソ-ダガラスではNg=1.52であるので、Nf=1.23の物質
をコ-ティングすれば膜厚dによって決まる波長λにおけ
る理想的な反射防止膜となる。しかしながらこのような
低い屈折率をもつ物質は実在せず、今のところ利用でき
る物質の中ではNf=1.38のフッ化マグネシウム(MgF2)が
最も低い屈折率を有する。 この場合の反射率はR=1.3%
となる。また単層膜の反射防止条件は「数1」、「数
2」から明らかなようにある特定の波長λに対するもの
であり、λの前後で反射率は大きくなる。このため、可
視光領域全域(400〜700nm)で反射を低減するためには
屈折率の異なる物質を、膜厚を厳密に制御しながら何層
も重ねる必要があった。 一方、膜厚方向に屈折率分布
を持つ不均質膜によっても表面の反射を低減することが
できる。今、ガラス表面が図9のような凹凸を持つ場
合、この層の深さ方向の座標をxとすると屈折率(nF(x))
は式「数3」で表すことができる。
From the above equation, R = 0 when Nf = √Ng, and there is no reflected light with respect to the light having the wavelength λ. Since Ng = 1.52 in the most common soda glass, coating an Nf = 1.23 substance results in an ideal antireflection film at a wavelength λ determined by the film thickness d. However, there is no material having such a low refractive index, and magnesium fluoride (MgF 2 ) with Nf = 1.38 has the lowest refractive index among the materials available at present. The reflectance in this case is R = 1.3%
Becomes The antireflection condition of the single-layer film is for a specific wavelength λ as is apparent from “Equation 1” and “Equation 2”, and the reflectance increases before and after λ. For this reason, in order to reduce the reflection in the entire visible light region (400 to 700 nm), it is necessary to stack several layers of substances having different refractive indexes while controlling the film thickness strictly. On the other hand, even with a heterogeneous film having a refractive index distribution in the film thickness direction, surface reflection can be reduced. Now, in the case where the glass surface has irregularities as shown in FIG. 9, if the coordinate in the depth direction of this layer is x, the refractive index (nF (x))
Can be represented by the formula “Equation 3”.

【0014】[0014]

【数3】 (Equation 3)

【0015】ここに、ngはガラスの屈折率、V(x)はxで
のガラスの占める体積、n0は空気の屈折率である。
Here, ng is the refractive index of glass, V (x) is the volume occupied by glass at x, and n 0 is the refractive index of air.

【0016】この場合、空気と膜との界面及び膜とガラ
ス基板との界面では、図10に示すように不連続的に屈
折率が変化するのでこの点における屈折率をそれぞれ
n1、n2とすると、この層の反射率Rは式「数4」で表す
ことができる。
In this case, the refractive index at the interface between the air and the film and the interface between the film and the glass substrate changes discontinuously as shown in FIG.
Assuming that n 1 and n 2 , the reflectance R of this layer can be expressed by Expression 4.

【0017】[0017]

【数4】 (Equation 4)

【0018】この式において、n0=1.0(空気の屈折率)、
n1=1.1、n2=1.47、ng=1.53(ガラスの屈折率)として可視
光波長での反射率を求めたのが図11である。図から最
も低い反射率が得られるのは表面の凹凸が100nm(0.1μ
m)程度であることが明らかである。しかし、この大きさ
の凹凸を規則正しくガラス表面に設けることは困難であ
り、エッチング法によっても多くの時間を要する。本発
明者らは、これまでにこの凹凸を超微粒子によって形成
することにより三層蒸着膜に匹敵する低反射特性を有す
る膜を提案した。超微粒子による凹凸膜の場合の反射特
性は基本的には「数4」で表すことができるが、図12
に示すように超微粒子と基板表面との間にはバインダ−
が薄膜層2として形成されているので、この薄膜層2と
超微粒子層1を区別する必要がある。まず、超微粒子表
面層は図13に示すモデルで表すことができる。この場
合には、「数4」のng(1.53,ガラスの屈折率)をns(バイ
ンダ-と超微粒子の混合屈折率、1.47)と置き換えると次
式で表される。
In this equation, n 0 = 1.0 (refractive index of air),
FIG. 11 shows the reflectance at the wavelength of visible light, where n 1 = 1.1, n 2 = 1.47, and ng = 1.53 (refractive index of glass). From the figure, the lowest reflectance can be obtained when the surface unevenness is 100 nm (0.1 μm).
m). However, it is difficult to form irregularities of this size regularly on the glass surface, and much time is required even by the etching method. The present inventors have proposed a film having low reflection characteristics comparable to a three-layer vapor-deposited film by forming the irregularities with ultrafine particles. The reflection characteristic in the case of an uneven film made of ultrafine particles can be basically expressed by “Equation 4”.
As shown in the figure, there is a binder between the ultrafine particles and the substrate surface.
Is formed as the thin film layer 2, it is necessary to distinguish the thin film layer 2 from the ultrafine particle layer 1. First, the ultrafine particle surface layer can be represented by a model shown in FIG. In this case, if ng (1.53, refractive index of glass) in “Equation 4” is replaced with ns (mixed refractive index of binder and ultrafine particles, 1.47), the following equation is obtained.

【0019】[0019]

【数5】 (Equation 5)

【0020】またバインダ−層2及び空気と超微粒子と
の混合層15からなるガラス3の表面層の反射率Rbは図
14のモデルで考えられ、次式で求めることができる。
The reflectance Rb of the surface layer of the glass 3 composed of the binder layer 2 and the mixed layer 15 of air and ultrafine particles can be obtained by the following equation, which can be considered by the model shown in FIG.

【0021】[0021]

【数6】 (Equation 6)

【0022】従って全体の反射率RはR=Ra+Rbとなる。Therefore, the total reflectance R is R = Ra + Rb.

【0023】Raはn0=1.0、n1=1.10、n2=1.38、ns=1.47
と仮定すると、λ=550nmで約0.19%となる。またRbは透
明性板をガラスとすると、ng=1.53、他の屈折率はRaの
場合と同一と仮定すると、λ=550nmで約0.04%となる。
従ってこの系の反射率RはR=Ra+Rb≒0.23%となる。
Ra is n 0 = 1.0, n 1 = 1.10, n 2 = 1.38, ns = 1.47
Assuming that λ = 550 nm, it is about 0.19%. Further, Rb is about 0.04% at λ = 550 nm, assuming that ng = 1.53 when the transparent plate is made of glass and other refractive indices are the same as those of Ra.
Therefore, the reflectance R of this system is R = Ra + Rb ≒ 0.23%.

【0024】本発明者等は、先に超微粒子を所定量混合
した塗布液を、基板表面上を所定の速度で上昇あるいは
下降することにより、塗布液に混合されている超微粒子
が基板上に規則正しく配列、塗布され、理論値に近い反
射率が得られることを提案したが、さらに鋭意検討した
結果、帯電防止用超微粒子及び/または赤外線反射用超
微粒子を基板にまず塗布し、次に可視光反射防止用超微
粒子を塗布することにより、基板の材質に係らず安定し
た特性が得られると同時に、塗布処理時間が大幅に短縮
できることを見出した。
The inventors of the present invention raise or lower a coating solution containing a predetermined amount of ultrafine particles on the substrate surface at a predetermined speed, so that the ultrafine particles mixed with the coating solution are deposited on the substrate. It has been proposed that the layers are regularly arranged and coated, and a reflectance close to the theoretical value is obtained. As a result of further intensive studies, antistatic ultrafine particles and / or infrared reflective ultrafine particles are first applied to a substrate, and then visible. By applying the ultrafine particles for preventing light reflection, it has been found that stable characteristics can be obtained irrespective of the material of the substrate and that the coating processing time can be significantly reduced.

【0025】本発明の目的は、低コストでかつ大面積に
適用できる可視光反射防止膜と帯電防止膜及び/または
赤外線反射膜と、これを適用した画像表示板を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a visible light antireflection film, an antistatic film and / or an infrared reflection film which can be applied to a large area at a low cost, and an image display panel using the same.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】上記目的は、超微粒子を
均一に分散した塗布溶液で基板表面を覆った後、基板表
面を露出させて超微粒子を基板に塗布する工程を少なく
とも2回以上行うことによって達成される。
The object of the present invention is to cover the surface of a substrate with a coating solution in which ultrafine particles are uniformly dispersed, to expose the surface of the substrate, and to apply the ultrafine particles to the substrate at least twice. Achieved by:

【0027】このとき、超微粒子膜を形成すべき基板を
容器に設置し超微粒子とバインダ−とを含む混合塗布溶
液を容器内に導入し、少なくとも基板の超微粒子膜形成
部分を混合塗布溶液が覆った後に容器から混合塗布溶液
を吐出させ基板の超微粒子膜形成部分を露出させること
を2回以上行い、基板表面に超微粒子膜を多層形成す
る。
At this time, the substrate on which the ultrafine particle film is to be formed is placed in a container, the mixed coating solution containing the ultrafine particles and the binder is introduced into the container, and at least the portion of the substrate where the ultrafine particle film is formed is mixed with the mixed coating solution. After covering, the mixed coating solution is discharged from the container to expose the portion where the ultrafine particle film is formed on the substrate twice or more, thereby forming a multilayer of the ultrafine particle film on the substrate surface.
You.

【0028】そして、超微粒子として可視光反射防止用
超微粒子、帯電防止用超微粒子及び/または赤外線反射
用超微粒子を用いる。
As the ultrafine particles, there are used ultrafine particles for preventing reflection of visible light , ultrafine particles for preventing charge, and / or ultrafine particles for reflecting infrared light.

【0029】また、基板を設置する容器の側面に穴
開け、その部分に基板の超微粒子膜形成面が容器内面側
になるように基板を設置する
[0029] or, a hole in the side surface of the container installing the substrate, ultrafine particle film forming surface vessel inner surface side of the substrate in that portion
Set the substrate so that

【0030】また、基板の超微粒子膜形成部分を露出さ
せる速度は10mm/s以下であることが望ましい。
It is desirable that the speed at which the ultrafine particle film forming portion of the substrate is exposed is 10 mm / s or less.

【0031】可視光反射防止用超微粒子は二酸化ケイ素
(SiO2)、フッ化マグネシウム(MgF2)の群から、帯電防止
用超微粒子は二酸化スズ(SnO2),SnO2+酸化アンチモン
(Sb2O3),酸化インジウム(In2O3),In2O3+SnO2の群から
さらに赤外線反射用超微粒子はSnO2,SnO2+Sb2O3,In2O3,
In2O3+SnO2,酸化チタン(TiO2),酸化ジルコニウム(ZrO
2)の群から選ばれるものである。
The ultrafine particles for preventing visible light reflection are silicon dioxide.
From the group of (SiO 2 ) and magnesium fluoride (MgF 2 ), ultra-fine particles for antistatic are tin dioxide (SnO 2 ), SnO 2 + antimony oxide
From the group of (Sb 2 O 3 ), indium oxide (In 2 O 3 ) and In 2 O 3 + SnO 2 , ultrafine particles for infrared reflection are SnO 2 , SnO 2 + Sb 2 O 3 , In 2 O 3 ,
In 2 O 3 + SnO 2 , titanium oxide (TiO 2 ), zirconium oxide (ZrO
2 ) is selected from the group.

【0032】また、一回目に形成する超微粒子膜が帯電
防止用超微粒子または赤外線反射用超微粒子を含有する
か、二回目に形成する超微粒子膜が可視光反射防止用超
微粒子を含有する超微粒子膜の形成方法である。
The ultrafine particle film formed first time contains ultrafine particles for antistatic or infrared reflection, or the ultrafine particle film formed for the second time contains ultrafine particles for preventing visible light reflection. This is a method for forming a fine particle film.

【0033】基板がガラスのとき、バインダ−としてSi
(OR)4(Rはアルキル基)を使用し、アルカリ及び/ま
たはフッ酸で、基板がプラスチックのとき、バインダ−
としてSi(OR)4(Rはアルキル基)を使用し、プラスチ
ックに対する官能基を有するカップリング剤を使用し、
さらにアルカリ及び/またはフッ酸で基板を前処理する
のが良い。
When the substrate is glass, Si is used as a binder.
When (OR) 4 (R is an alkyl group) is used and the substrate is plastic with alkali and / or hydrofluoric acid, the binder
Using Si (OR) 4 (R is an alkyl group) as a coupling agent having a functional group for plastic,
Further, the substrate is preferably pre-treated with alkali and / or hydrofluoric acid.

【0034】また、カップリング剤はプラスチックがア
クリル樹脂のとき、γ−メタクリルオキシプロピルトリ
メトキシシランとし、プラスチックがエポキシ樹脂のと
き、γ−グリシドオキシプロピルトリメトキシシランと
するのが良い。
The coupling agent is preferably γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane when the plastic is an acrylic resin, and γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane when the plastic is an epoxy resin.

【0035】超微粒子膜は基板の両面に形成しても、片
面にのみ形成しても良い。
The ultrafine particle film may be formed on both surfaces of the substrate, or may be formed on only one surface.

【0036】可視光反射防止用超微粒子が粒径80nm〜15
0nmのSiO2超微粒子からなるもの、帯電防止用超微粒子
が粒径10nm以下の酸化スズ化合物からなるものが良い。
The ultrafine particles for preventing visible light reflection have a particle size of 80 to 15 nm.
It is preferable that the fine particles are made of ultrafine SiO 2 particles of 0 nm, and the fine particles for antistatic are made of a tin oxide compound having a particle diameter of 10 nm or less.

【0037】さらに、上記の方法により超微粒子膜を形
成する基板は透明板とし、この透明板を液晶パネル、自
動車用窓ガラスまたは展示用保護板に備えても良い。
Further, the substrate on which the ultrafine particle film is formed by the above method may be a transparent plate, and this transparent plate may be provided on a liquid crystal panel, a window glass for automobiles or a protective plate for exhibition.

【0038】また、透明基板に上記の方法により超微粒
子膜を形成し画像表示板または画像表示保護板としても
良く、さらにこの画像表示板または画像表示保護板をブ
ラウン管に備えても良い。
Further, an ultrafine particle film may be formed on a transparent substrate by the above method to form an image display plate or an image display protection plate, and the image display plate or the image display protection plate may be provided in a cathode ray tube.

【0039】尚、上記に述べた基板は平板状のものに限
らず超微粒子膜を形成する表面を有するものも含まれ
る。
The above-mentioned substrate is not limited to a flat substrate, but also includes a substrate having a surface on which an ultrafine particle film is formed.

【0040】[0040]

【作用】一般に超微粒子を混合していない塗布溶液を用
いて、ディッピング法により膜形成を行った場合、膜厚
tと引上げ速度vとの間には次の式「数7」が成り立つ
ことが知られている。
In general, when a film is formed by a dipping method using a coating solution in which no ultrafine particles are mixed, the following equation (Equation 7) is established between the film thickness t and the pulling speed v. Are known.

【0041】[0041]

【数7】 (Equation 7)

【0042】ここにηは溶液の粘性、pは溶液の密度、
gは重力加速度、Kは定数である。
Where η is the viscosity of the solution, p is the density of the solution,
g is a gravitational acceleration and K is a constant.

【0043】一方、本発明者等は、反射防止用の比較的
大きな超微粒子(80〜150nm)を混合した塗布液
を一定速度で基板表面上を上昇あるいは下降させた場
合、基板の材質あるいは基板表面の状態によって超微粒
子の配列の形態が大きく異なることを見出した。例えば
同じ市販の板ガラスでも表と裏では配列の形態が異な
り、反射特性が変わる。この種の板ガラスの表面状態を
X線光電子分光分析装置(XPS)等の表面分析計で分析
すると、片側の表面から酸化スズ(SiO2)が多く検出さ
れた。これは板ガラスを製造する工程で、スズ浴上を溶
融ガラスが通過する際にスズがガラスに付着することに
よると考えられる。この付着したSiO2はガラス洗浄の前
処理を行っても取り除くことが困難である。このような
表面状態の基板に超微粒子混合溶液を塗布した場合に
は、ぬれ性が良好の為通常の表面状態に較べると薄く塗
布できることを見出した。言い替えれば同じ膜厚を得よ
うとするならば「数7」から塗布速度を速くすることが
できる。塗布速度が速ければ塗布時間は当然短くなるの
で製造コストは安価になる。
On the other hand, the present inventors have found that when a coating solution mixed with relatively large ultrafine particles (80 to 150 nm) for anti-reflection is raised or lowered on the substrate surface at a constant speed, the material of the substrate or the substrate is reduced. It was found that the morphology of the arrangement of the ultrafine particles differs greatly depending on the state of the surface. For example, even in the same commercially available plate glass, the arrangement form differs between the front and the back, and the reflection characteristics change. The surface condition of this type of flat glass
When analyzed with a surface analyzer such as an X-ray photoelectron spectrometer (XPS), a large amount of tin oxide (SiO 2 ) was detected from one surface. This is considered to be due to the fact that tin adheres to the glass when the molten glass passes through the tin bath in the step of manufacturing the sheet glass. It is difficult to remove the attached SiO 2 even if pretreatment for glass cleaning is performed. It has been found that when the mixed solution of ultrafine particles is applied to a substrate having such a surface state, the wettability is good, so that it can be applied thinly as compared with a normal surface state. In other words, if the same film thickness is to be obtained, the application speed can be increased from "Equation 7". If the coating speed is high, the coating time is naturally short, so that the manufacturing cost is low.

【0044】また、前述のように基板の材質が異なると
表面状態も異なるために、ぬれ性が変わり超微粒子膜の
膜厚が変化する。従って同一の膜厚、超微粒子の配列状
態を得ようとする場合にはその都度塗布条件を変化させ
なければならない。特にガラスとプラスチックスとでは
表面状態が全く異なるので、前処理の工程から考慮する
必要がある。しかし本発明では、あらかじめ帯電防止及
び/または赤外線反射用超微粒子としてSnO2、酸化イン
ジュ−ム(In2O3)などの小さな酸化物超微粒子(10nm
以下)を塗布するので、基板の表面状態あるいは基板材
質が異なっていても常に一定の表面状態を得ることがで
きる。従って同様の塗布条件で同一の特性が得られる。
この時、粒径10nm程度の小さな超微粒子を混合した溶液
の場合でも、基板の表面状態の違いによる超微粒子の配
列状態は変化するが、反射防止用超微粒子膜のように規
則正しく配列されている必要はないので、同様の前処理
でもほぼ一定の特性(帯電防止、または赤外線反射特
性)が得られる。
As described above, since the surface condition is different when the material of the substrate is different, the wettability changes and the thickness of the ultrafine particle film changes. Therefore, in order to obtain the same film thickness and the arrangement state of the ultrafine particles, the application conditions must be changed each time. In particular, since the surface state is completely different between glass and plastics, it is necessary to consider the pretreatment step. However, in the present invention, small oxide ultrafine particles (10 nm) such as SnO 2 and indium oxide (In 2 O 3 ) are used as antistatic and / or infrared reflective ultrafine particles in advance.
The following is applied, so that a constant surface state can always be obtained even if the surface state of the substrate or the substrate material is different. Therefore, the same characteristics can be obtained under similar application conditions.
At this time, even in the case of a solution in which ultra-fine particles having a particle diameter of about 10 nm are mixed, the arrangement state of the ultra-fine particles changes due to the difference in the surface state of the substrate, but is regularly arranged like an antireflection ultra-fine particle film. Since it is not necessary, almost the same characteristics (antistatic or infrared reflection characteristics) can be obtained by the same pretreatment.

【0045】[0045]

【実施例】以下、本発明の実施例につき図面に従って説
明する。先ず、本発明の構成要件につき分説する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, the components of the present invention will be described separately.

【0046】(超微粒子)超微粒子の機能は透明性、透
光性に支障のない限り特に限定はされないが、サブミク
ロンの平均粒径のものをいう。代表的な機能は可視光反
射防止、帯電防止及び/または赤外線反射である。
(Ultra-fine particles) The function of the ultra-fine particles is not particularly limited as long as the transparency and the light transmission are not hindered. Typical functions are visible light antireflection, antistatic and / or infrared reflection.

【0047】反射防止用超微粒子は二酸化ケイ素(Si
O2)、MgF2の群から選ばれることが望ましい。帯電防止
用超微粒子はSnO2、SnO2+酸化アアンチモン(Sb2O3)、
In2O3、In2O3+SnO2の群から選ばれることが望ましい。
また赤外線反射超微粒子はIn2O3、In2O3+SnO2、酸化チタ
ン(TiO2)、酸化ジルコニゥム(ZrO2)の群から選ばれ
ることが好ましい。
The antireflection ultrafine particles are silicon dioxide (Si)
O 2 ) and MgF 2 . Ultrafine particles for antistatic are SnO 2 , SnO 2 + antimony oxide (Sb 2 O 3 ),
It is desirable to be selected from the group of In 2 O 3 and In 2 O 3 + SnO 2 .
Further, the infrared reflective ultrafine particles are preferably selected from the group consisting of In 2 O 3 , In 2 O 3 + SnO 2 , titanium oxide (TiO 2 ), and zirconium oxide (ZrO 2 ).

【0048】上記反射防止用超微粒子の平均粒径は80〜
150nmが望ましい。80nmより小さい粒径の超微粒子では
形成された膜の最外表面が平坦になりすぎて十分な反射
防止効果が得られない恐れがあり、一方150nmより大き
な粒径の超微粒子では反射防止効果は十分得られるが、
拡散反射が大きくなり、そこ結果白濁すると同時に解像
度が低下する恐れがあるからである。従って反射防止用
超微粒子の粒径は80〜150nmが好ましい。尚、SiO2やMgF
2などの反射防止用超微粒子材料は、いずれもその屈折
率が1.50以下である。
The average particle size of the antireflection ultrafine particles is 80 to 80%.
150 nm is desirable. With ultrafine particles having a particle diameter smaller than 80 nm, the outermost surface of the formed film may be too flat to obtain a sufficient antireflection effect. You can get enough,
This is because diffuse reflection becomes large, and as a result, there is a possibility that the resolution becomes lower at the same time as clouding. Therefore, the particle size of the antireflection ultrafine particles is preferably from 80 to 150 nm. In addition, SiO 2 and MgF
Each of the antireflection ultrafine particle materials such as 2 has a refractive index of 1.50 or less.

【0049】帯電防止用超微粒子の平均粒径は10nm以下
が望ましい。また帯電防止用超微粒子は2種以上併用し
ても良い。平均粒径が10nm以下の超微粒子を塗布液に混
合した場合には、基板の表面状態が異なっていても比較
的均一な膜が得られる。またかなり厚く塗布しても、透
過率の低下および白濁を招く恐れが比較的少ない。
The average particle size of the antistatic ultrafine particles is desirably 10 nm or less. Further, two or more kinds of antistatic ultrafine particles may be used in combination. When ultrafine particles having an average particle size of 10 nm or less are mixed with the coating solution, a relatively uniform film can be obtained even if the surface condition of the substrate is different. Further, even if the coating is applied with a considerably large thickness, there is relatively little possibility that the transmittance and the cloudiness are reduced.

【0050】透明導電性機能或いは赤外線反射機能或い
は電磁遮断機能を有する超微粒子としては、SnO2、In
2O3、TiO2、ZrO2などの金属酸化物或いはこれらの混合物
などが挙げられる。この中でSnO2+10重量%Sb2O3、或い
はIn2O3+5重量%SnO2は導電特性と赤外線反射特性が優れ
ているので好ましい。膜厚は0.1〜0.5μm、粒径は5〜50
nmが望ましい。透明導電性の機能を有する金属酸化物あ
るいはこれらの混合物は、エネルギ−バンドギャップが
3eV以上あるために可視光域で高い透過性を示すと同時
に、化学量論組成からのずれ、及び不純物添加による高
い自由電子濃度を有するために高導電性を示す。
Ultrafine particles having a transparent conductive function, an infrared reflecting function, or an electromagnetic shielding function include SnO 2 , In
Examples thereof include metal oxides such as 2 O 3 , TiO 2 , and ZrO 2, and mixtures thereof. Among them, SnO 2 + 10% by weight Sb 2 O 3 or In 2 O 3 + 5% by weight SnO 2 is preferable because of its excellent conductivity and infrared reflection properties. Thickness 0.1 ~ 0.5μm, particle size 5 ~ 50
nm is preferred. A metal oxide having a transparent conductive function or a mixture thereof has an energy band gap.
Since it has 3 eV or more, it shows high transmittance in the visible light region, and at the same time, shows high conductivity due to deviation from stoichiometric composition and high free electron concentration due to addition of impurities.

【0051】(透光性基板)透光性基板としてはガラス
板でもプラスチックス板でもプラスチックスフィルムで
も差し支えない。プラスチック材としては主成分が例え
ば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ウレタン、アクリ
ル、フェノ−ル、エポキシ、メラニン、ナイロン、ポリ
イミド、ポリカ−ボネ−ト、ブチル、エポキシフェノ−
ル、塩化ビニル、ポリエステルなどのものが挙げられ
る。尚、基板の超微粒子形成面は平板上はもちろんのこ
と、ブラウン管のように曲率を有していても良い。また
超微粒子形成面は片面でも両面でも差し支えない。
(Translucent Substrate) The translucent substrate may be a glass plate, a plastics plate, or a plastics film. The main components of the plastic material are, for example, polyethylene, polypropylene, urethane, acrylic, phenol, epoxy, melanin, nylon, polyimide, polycarbonate, butyl, epoxy phenol.
, Vinyl chloride, polyester and the like. The surface of the substrate on which the ultrafine particles are formed may have not only a flat plate but also a curvature like a cathode ray tube. The surface on which the ultrafine particles are formed may be one side or both sides.

【0052】(前処理)基板とのぬれ性を考慮するなら
ば、アルカリ処理やフッ酸処理等の前処理が好ましい。
また、プラスチックス基板の場合には中性洗剤等による
前処理も有効である。
(Pretreatment) In consideration of wettability with the substrate, pretreatment such as alkali treatment or hydrofluoric acid treatment is preferable.
In the case of a plastic substrate, a pretreatment with a neutral detergent or the like is also effective.

【0053】(塗布方法)塗布液が基板などの被塗物を
覆った後露出させる速度は10mm/s以下が望ましい。ま
た、この速度は被塗物の形状により一定速度でも変化さ
せても良い。基板は容器内に設置するか、或いはこれに
代えて容器の側面部に開けた穴から基板面を露出させて
も良い。後者の方法はブラウン管など製品形状がほぼ出
来上がったものに超微粒子膜を形成するのに適してい
る。
(Coating Method) The speed at which the coating liquid is exposed after covering an object to be coated such as a substrate is preferably 10 mm / s or less. This speed may be constant or varied depending on the shape of the object to be coated. The substrate may be placed in the container or, alternatively, the substrate surface may be exposed through a hole drilled in the side of the container. The latter method is suitable for forming an ultrafine particle film on almost finished product such as a cathode ray tube.

【0054】塗布面の加熱処理としては炉中で50〜200
℃で焼成するのが実用的であるが、高圧水銀灯などを用
いて紫外線により短時間に焼成しても良い。
The heat treatment of the coating surface is performed in a furnace at 50 to 200
Although it is practical to bake at a temperature of ° C., baking may be performed in a short time by ultraviolet rays using a high-pressure mercury lamp or the like.

【0055】以上はデイッピング方法の1例で説明した
が、プラスチックス基板への塗布方法や膜表面の均一さ
を問わないならば、このデイッピング法に限らず他のデ
ィッピング法やスピンコ−ト法、スプレ−法、或いはこ
れらの組合せやこれらとデイッピング法との組合せも有
効である。
The above description has been made with reference to one example of the dipping method. However, if the coating method on the plastic substrate or the uniformity of the film surface is not considered, the dipping method is not limited to this dipping method, and the dipping method, the spin coating method, The spray method, a combination of these methods, and a combination of these methods with the dipping method are also effective.

【0056】(塗布溶液)本発明の超微粒子膜の形成に
は、所定量の超微粒子にバインダ−や必要に応じてカッ
プリング剤、その他添加物を加えた塗布溶液を用いる。
(Coating Solution) For forming the ultrafine particle film of the present invention, a coating solution obtained by adding a binder, a coupling agent as needed, and other additives to a predetermined amount of ultrafine particles is used.

【0057】透光性板がガラス体のときは、バインダ−
としてSi(OR)4(但しRはアルキル基)を使用すること
が好ましく、透光性板がプラスチックスの時はバインダ
−としてSi(OR)x(X=2〜4,好ましくは3)を使用すること
が好ましい。更に透光性板がプラスチックスの時はこの
プラスチックス材に対する官能基を有するカップリング
剤を併用することが望ましい。
When the translucent plate is a glass body, a binder
It is preferable to use Si (OR) 4 (where R is an alkyl group), and when the translucent plate is plastics, use Si (OR) x (X = 2 to 4, preferably 3) as a binder. It is preferred to use. Further, when the translucent plate is made of plastics, it is desirable to use a coupling agent having a functional group for the plastics material.

【0058】透光性板がガラス体の場合にはSi(OR)
4(但しRはアルキル基)を溶解したアルコ−ル溶液
に、透光性板がプラスチックスの場合にはこの高分子体
と容易に反応する官能基とSi(OR)x(X=2〜4,好ましくは
3)を保有するシランカップリング剤、或いは上記Si(O
R)4とシランカップリング剤との混合溶液を溶解したア
ルコ−ル溶液に超微粒子を分散させる。
When the translucent plate is a glass body, Si (OR)
4 When the translucent plate is made of plastics, a functional group that easily reacts with the polymer and Si (OR) x (X = 2 to 4 ) are added to an alcohol solution in which R is an alkyl group. 4, preferably
3) Silane coupling agent possessing or Si (O
R) Ultrafine particles are dispersed in an alcohol solution in which a mixed solution of 4 and a silane coupling agent is dissolved.

【0059】この基板を透光性板上に前記方法により塗
布した後、この塗布面を加熱(或いは焼成)して膜形成
を行う。この加熱処理によりSi(OR)4或いはシランカッ
プリング剤は分解してSiO2などそれぞれ超微粒子と基板
との接着剤としての役目を果たす。
After the substrate is coated on the light-transmitting plate by the above method, the coated surface is heated (or baked) to form a film. By this heat treatment, the Si (OR) 4 or the silane coupling agent is decomposed to serve as an adhesive between the ultrafine particles such as SiO 2 and the substrate, respectively.

【0060】Si(OR)4のRとしては一般に炭素数1〜5の
アルキル基が好ましい。一方、シランカップリング剤は
透光性板の高分子材料によって適宜選択する必要があ
る。
In general, R of Si (OR) 4 is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. On the other hand, the silane coupling agent needs to be appropriately selected depending on the polymer material of the light-transmitting plate.

【0061】例えば主成分がポリエチレン、ポリプロピ
レン、ウレタン、アクリルなどの場合にはビニルトリエ
トキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピルトリメト
キシシラン等のシランカップリング剤が有効である。ま
たフェノ−ル、エポキシ、メラニン、ナイロン、ポリイ
ミド、ポリカ−ボネ−トの場合にはγ−アミノプロピル
エトキシシラン、γ−グリシドオキシプロピルトリメト
キシシランなどのシランカップリング剤が有効である。
更にブチル、エポキシフェノ−ル、塩化ビニル、ポリエ
ステルの場合にはβ,3,4−エポキシシクロヘキシル
エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドオキシプロピ
ルトリメトキシシラン等のシランカップリング剤が有効
である。
For example, when the main component is polyethylene, polypropylene, urethane, acrylic or the like, a silane coupling agent such as vinyltriethoxysilane or γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane is effective. In the case of phenol, epoxy, melanin, nylon, polyimide and polycarbonate, silane coupling agents such as γ-aminopropylethoxysilane and γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane are effective.
Further, in the case of butyl, epoxyphenol, vinyl chloride and polyester, a silane coupling agent such as β, 3,4-epoxycyclohexylethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane is effective.

【0062】またSi(OR)4或いはシランカップリング剤
を溶融させるためのアルコ−ルは、上記Rの炭素数の増
加と共に混合アルコ−ル溶液の粘性が高くなるので作業
性を考慮して粘性が高くなり過ぎないように適宜アルコ
−ルを選択すれば良い。一般に使用可能なアルコ−ルと
しては炭素数が1乃至5のアルコ−ルが挙げられる。
The alcohol for melting the Si (OR) 4 or the silane coupling agent increases the viscosity of the mixed alcohol solution with an increase in the number of carbon atoms of R. May be appropriately selected so that the value does not become too high. Alcohols that can be generally used include alcohols having 1 to 5 carbon atoms.

【0063】さらにSi(OR)4が加水分解するために水及
び触媒として鉱酸、例えば硝酸などを加えて塗膜溶液を
調整しても良い。
In order to hydrolyze Si (OR) 4 , a coating solution may be prepared by adding water and a mineral acid such as nitric acid as a catalyst.

【0064】以下、本発明をブラウン管の前面パネル表
面(ガラス面板)に適用した実施例を述べる。
An embodiment in which the present invention is applied to the front panel surface (glass face plate) of a cathode ray tube will be described below.

【0065】図1は本実施例の工程図である。まずブラ
ウン管表面をアルカリ洗浄し、純水で水洗後、水滴の跡
が残らないように窒素ガス等でブロ-する。次にこのブ
ラウン管を塗布装置に装着し、導電性超微粒子を混合し
た塗布液を塗布する。尚、塗布装置と塗布方法は後述す
る。この時の混合塗布溶液組成及び塗布条件の一実施例
を表1に示す。塗布後、所定時間放置したあと、ブラウ
ン管を装置から脱着し、窒素ガスで乾燥させる。乾燥は
ガスあるいはクリ-ンエア-による冷風乾燥、熱風乾燥、
若しくは炉中乾燥でもよい。乾燥した後、同一仕様の別
塗布装置に装着し、反射防止用超微粒子を混合した塗布
溶液を塗布する。この時の混合塗布溶液組成及び塗布条
件の一実施例を「表1」に示す。
FIG. 1 is a process chart of this embodiment. First, the surface of the cathode ray tube is washed with alkali, washed with pure water, and then blown with nitrogen gas or the like so that no trace of water drops remains. Next, this cathode ray tube is mounted on a coating device, and a coating solution mixed with conductive ultrafine particles is coated. The application device and application method will be described later. Table 1 shows an example of the composition of the mixed coating solution and the coating conditions at this time. After being left for a predetermined time after the application, the cathode ray tube is detached from the apparatus and dried with nitrogen gas. Drying can be done with cold air or hot air using gas or clean air.
Alternatively, drying in an oven may be used. After drying, it is mounted on another coating device of the same specification, and a coating solution mixed with antireflection ultrafine particles is applied. Table 1 shows an example of the composition of the mixed coating solution and the coating conditions at this time.

【0066】[0066]

【表1】 [Table 1]

【0067】次にブラウン管を塗布装置から脱着した
後、炉中で160℃、30分焼成する。焼成は炉中加熱の
他、紫外線あるいは赤外線による加熱でもよい。この焼
成工程により、超微粒子がブラウン管に強固に接着され
る。以上の塗布工程によって、帯電防止、反射防止膜が
形成される。
Next, after the cathode ray tube is detached from the coating apparatus, it is baked in a furnace at 160 ° C. for 30 minutes. The firing may be performed by heating in a furnace, or heating by ultraviolet light or infrared light. By this firing step, the ultrafine particles are firmly adhered to the cathode ray tube. The antistatic and antireflection films are formed by the above coating process.

【0068】また図2は本実施例の塗布装置構成を示す
図である。図2において、21はブラウン管、22は塗布液
槽、23は塗布溶液、24は加圧調整用バルブ、25はオ-バ-
フロ-用バルブ、26は溶液タンク、27は溶液供給加圧バ
ルブ、28はリ-ク用バルブである。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a coating apparatus according to this embodiment. In FIG. 2, reference numeral 21 denotes a cathode ray tube, 22 denotes a coating liquid tank, 23 denotes a coating solution, 24 denotes a pressure adjusting valve, and 25 denotes an overpressure.
A flow valve, 26 is a solution tank, 27 is a solution supply pressurizing valve, and 28 is a leak valve.

【0069】かかる構成において、塗布液槽22にブラウ
ン管21を装着する。この場合、塗布液槽22の取付け面に
は、塗布工程で塗布液及び加圧ガスが漏れないようにパ
ッキンあるいはOリングが施されており、かつ作業性を
考慮してブラウン管を押し当てるだけでシ-ルできる構
造になっている。
In such a configuration, the cathode ray tube 21 is mounted on the coating liquid tank 22. In this case, a packing or an O-ring is provided on the mounting surface of the coating solution tank 22 so that the coating solution and the pressurized gas do not leak in the coating process, and the cathode ray tube is simply pressed against the workability. It has a structure that can be sealed.

【0070】次に超微粒子が混合された塗布溶液を塗布
液槽22とブラウン管表面との間に形成された空間に導入
する。この塗布液の導入は、先ず加圧調整用バルブ24及
びリ-ク用バルブ28を閉にし、オ-バ-フロ-用バルブ25及
び溶液供給加圧バルブ27を開にする。
Next, the coating solution containing the ultrafine particles is introduced into a space formed between the coating solution tank 22 and the surface of the cathode ray tube. In order to introduce the coating liquid, first, the pressure adjusting valve 24 and the leak valve 28 are closed, and the overflow valve 25 and the solution supply pressure valve 27 are opened.

【0071】この操作により溶液タンク26に充填されて
いる塗布溶液23を加圧してブラウン管表面上に充たし、
一部をオ-バ-フロ-バルブ25から予備タンク29に入れ
る。このことによりブラウン管表面上或いは経路上に付
着しているゴミなどをオ-バ-フロ-させた溶液と共に予
備タンクに排出することができる。
By this operation, the coating solution 23 filled in the solution tank 26 is pressurized and filled on the surface of the CRT.
A part is put into the spare tank 29 from the overflow valve 25. As a result, dust and the like adhering to the surface of the cathode ray tube or on the path can be discharged to the spare tank together with the overflowed solution.

【0072】次にオ-バ-フロ-用バルブ25及び溶液供給
加圧バルブ27を閉にした後、加圧調整用バルブ24とリ−
ク用バルブ28を開にするとブラウン管表面に充たされて
いる塗布溶液23は溶液タンク26に戻される。この場合加
圧調整用バルブ24に加えるガス圧力とリ-ク用バルブ28
の開閉度とによって、塗布溶液23がブラウン管表面上を
所定の速度で下降する速度を調整することができる。
Next, after closing the overflow valve 25 and the solution supply pressurizing valve 27, the pressurizing adjusting valve 24 and the lead
When the shutoff valve 28 is opened, the coating solution 23 filled on the surface of the cathode ray tube is returned to the solution tank 26. In this case, the gas pressure applied to the pressure adjusting valve 24 and the leak valve 28
The speed at which the coating solution 23 descends on the surface of the cathode ray tube at a predetermined speed can be adjusted by the degree of opening and closing.

【0073】次にこの塗布溶液の混合方法について述べ
る。まず一層目に塗布する帯電防止膜用塗布溶液は、エ
チルシリケ−ト〔Si(OC2H5)4〕をエタノ−ルに溶解し、
更に加水分解のためのH2Oと、触媒としてのHNO3とを添
加した溶液を作り、この溶液に粒径6nmのSnO2超微粒子
を重量%で2%添加する。また二層目に塗布する反射防止
用塗布溶液は、エチルシリケ−ト〔Si(OC2H5)4〕をエタ
ノ−ルに溶解し、更に加水分解のためのH2Oと、触媒と
してのHNO3とを添加した溶液を作り、この溶液に粒径12
0nmのSiO2超微粒子を重量%で5%添加する。この時充分
分散するように溶液のPHを調整する。
Next, a method of mixing the coating solution will be described. First, the coating solution for the antistatic film applied to the first layer is obtained by dissolving ethyl silicate [Si (OC 2 H 5 ) 4 ] in ethanol,
Further, a solution is prepared by adding H 2 O for hydrolysis and HNO 3 as a catalyst, and 2% by weight of ultrafine SnO 2 particles having a particle diameter of 6 nm is added to this solution. The antireflection coating solution applied to the second layer is prepared by dissolving ethyl silicate [Si (OC 2 H 5 ) 4 ] in ethanol, further adding H 2 O for hydrolysis and HNO as a catalyst. 3) , and add a particle size of 12 to this solution.
5% by weight of ultrafine SiO 2 particles of 0 nm is added. At this time, the pH of the solution is adjusted so as to be sufficiently dispersed.

【0074】次にこの帯電防止膜用塗布溶液を前記方法
によりブラウン管表面に満たし、3.0mm/sの速度で塗布
液を降下して塗布を行った。塗布後は冷風によって強制
乾燥させた。次にこの上に反射防止用塗布溶液を同様の
方法で塗布した。この時の塗布速度は2.5mm/sである。
その後、160℃で30分空気中で焼成し、エチルシリケ−
トを分解した。溶液に添加したSnO2及びSiO2超微粒子
は、分解してできたSiO2がバインダ−の役目を果たすの
で、ブラウン管表面に強固に接着、固定される。また、
一層目の表面は、SnO2超微粒子が均一に分散、塗布され
ているので、ぬれ性が良好かつ均一である。従って、二
層目のSiO2超微粒子は均一に配列されて、連続的な凹凸
を形成することができる。図3はブラウン管と同材質の
ガラス板にこの膜を被覆し、破断してその断面を走査型
電子顕微鏡(SEM)により観察した結果を模式的に表した
斜視図である。ガラス板3にほぼ均一の膜厚で形成され
た一層目の導電性膜5の上に120nmのSiO2超微粒子10が一
層配列している。一部超微粒子が欠落している個所があ
るが、この大きさは超微粒子2〜3個分,即ち約240〜360
nm程度の距離であり可視光波長よりも十分小さいために
反射特性には大きな影響はない。
Next, the surface of the cathode ray tube was filled with the coating solution for an antistatic film by the above-mentioned method, and the coating solution was dropped at a speed of 3.0 mm / s to perform coating. After the application, it was forcibly dried with cold air. Next, an antireflection coating solution was applied thereon in the same manner. The coating speed at this time is 2.5 mm / s.
Then, it is fired in air at 160 ° C. for 30 minutes,
Was disassembled. SnO 2 and SiO 2 ultrafine particles added to the solution, SiO 2 was Deki by decomposition binder - so play a role, firmly adhered to the CRT surface, it is fixed. Also,
Since the SnO 2 ultrafine particles are uniformly dispersed and applied to the surface of the first layer, the wettability is good and uniform. Therefore, the second layer of SiO 2 ultrafine particles can be uniformly arranged to form continuous irregularities. FIG. 3 is a perspective view schematically showing a result obtained by coating a glass plate of the same material as that of a cathode ray tube with this film, breaking the film, and observing a cross section thereof with a scanning electron microscope (SEM). On the first conductive film 5 formed on the glass plate 3 with a substantially uniform film thickness, 120 nm ultrafine SiO 2 particles 10 are arranged in a single layer. Although there are some places where ultrafine particles are missing, this size is equivalent to 2-3 ultrafine particles, that is, about 240 to 360
Since the distance is on the order of nm and sufficiently smaller than the wavelength of visible light, there is no significant effect on the reflection characteristics.

【0075】この膜を形成したブラウン管表面に入射角
5°で光を入射させ、反射率を測定した結果、図4に示
すように波長550nmにおいて0.08%の低反射率が得られ
た。
Light was incident on the surface of the cathode ray tube on which this film was formed at an incident angle of 5 °, and the reflectance was measured. As a result, a low reflectance of 0.08% was obtained at a wavelength of 550 nm as shown in FIG.

【0076】一方、この膜の表面抵抗値を測定した結
果、約108Ω/□であり、この帯電特性は図5に示すよう
に、参考として示した従来の特性と比べるとほとんど帯
電しないことが判った。この時導電性超微粒子の間には
薄い絶縁性のバインダ−が存在することになるが、SnO2
等の物質はトンネル効果により電子が移動することが知
られており、この作用により導電性の機能が発揮され
る。
On the other hand, as a result of measuring the surface resistance value of this film, it was about 10 8 Ω / □, and as shown in FIG. I understood. Thin insulating binder between the Tokishirube conductive ultrafine particles - but would be there, SnO 2
It is known that electrons move due to a tunnel effect in such a substance, and a conductive function is exhibited by this action.

【0077】次に、本実施例の帯電防止低反射膜を消し
ゴム(ライオン社製、50-30タイプ)を用いて1kgfの
荷重で50回擦った結果、反射率は0.1%程度変化しただけ
で、膜品質上はまったく問題がなかった。
Next, as a result of rubbing the antistatic low-reflection film of this embodiment 50 times with a load of 1 kgf using an eraser (Lion Corporation, 50-30 type), the reflectance changed only by about 0.1%. There was no problem on the film quality.

【0078】このような帯電、反射防止膜を形成するプ
ロセスでは、完成したブラウン管に直接膜を形成するこ
とが出来、また既存のSi(OR)4アルコ−ル溶液にSnO2
微粒子あるいはSiO2超微粒子とを混合して塗布、焼成す
るだけで良く、フッ酸などの有害な薬品の使用は一切な
く、品質一定でしかも低コストで製造することができ
る。
In the process of forming such a charging and anti-reflection film, a film can be formed directly on the completed cathode ray tube, and ultrafine SnO 2 particles or SiO 2 can be added to an existing Si (OR) 4 alcohol solution. It is only necessary to apply the mixture with ultrafine particles and apply and bake it. There is no use of harmful chemicals such as hydrofluoric acid, and it can be manufactured at a constant quality and at low cost.

【0079】また上記実施例では、Si(OR)4としてRが
エチル基の例を示したが、前述の通りR=CnHm(m=2n+1)と
したとき、n=1〜5の範囲で実施可能でありnが大きくな
る場合、溶液の粘性が少し高くなるので溶媒としては作
業性を考慮してそれに応じたアルコ−ルを選択すれば良
い。
In the above embodiment, R is an ethyl group as Si (OR) 4. However, when R = CnHm (m = 2n + 1) as described above, the range of n = 1 to 5 is satisfied. When n becomes large, the viscosity of the solution becomes slightly high. Therefore, it is sufficient to select an alcohol corresponding to the solvent in consideration of workability.

【0080】以上のように、本実施例によれば、反射防
止効果に優れ、かつ帯電防止機能を有する膜を形成した
画像表示板が簡単な装置と簡便な塗布工程で形成するこ
とができる。しかも、本実施例の表示板は、フッ酸など
の有害な処理薬品を使用せず、簡単で安全なプロセスで
製造でき、量産性に好適で、耐汚染性にも優れている。
As described above, according to the present embodiment, an image display panel having a film having an excellent antireflection effect and having an antistatic function can be formed by a simple apparatus and a simple coating process. Moreover, the display panel of this embodiment can be manufactured by a simple and safe process without using harmful processing chemicals such as hydrofluoric acid, is suitable for mass production, and has excellent stain resistance.

【0081】他の実施例につき図6を用いて説明する。Another embodiment will be described with reference to FIG.

【0082】図6は本実施例の装置構成を示す。図6に
おいて61は透明基板で複数枚を治具62に設置し、塗布液
槽22内に納める。第1実施例のブラウン管の透明基板が
ガラス板であったのに対して、透明基板61はプラスチッ
クス板である。
FIG. 6 shows an apparatus configuration of this embodiment. In FIG. 6, reference numeral 61 denotes a transparent substrate, a plurality of which are set on a jig 62 and placed in the coating solution tank 22. The transparent substrate of the cathode ray tube of the first embodiment is a glass plate, whereas the transparent substrate 61 is a plastic plate.

【0083】この場合、塗布液槽22に治具及び被塗物の
出し入れように設けた出入口には、塗布工程で塗布液及
び加圧ガスが漏れないようにパッキンあるいはOリング
を施し、塗布液槽22の内部は密閉状態となるようにし
た。
In this case, packing or an O-ring is applied to the entrance and exit provided in the coating liquid tank 22 so that the jig and the object to be coated are put in and out in the coating step so that the coating liquid and the pressurized gas do not leak. The inside of the tank 22 was sealed.

【0084】次に超微粒子が混合された塗布溶液を塗布
液槽22の空間に導入した。この塗布液の導入には、まず
加圧調整用バルブ14及びリ-ク用バルブ28を閉にし、オ-
バ-フロ-用バルブ25及び溶液供給加圧バルブ27を開にす
る。この操作により溶液タンク26に充填されている塗布
溶液23を加圧して塗布液槽22内に満たし、一部をオ-バ-
フロ-バルブ25から予備タンク29に入れる。
Next, the coating solution containing the ultrafine particles was introduced into the space of the coating solution tank 22. To introduce this coating solution, first, the pressure adjusting valve 14 and the leak valve 28 are closed, and
The valve 25 for the flow and the pressure valve 27 for supplying the solution are opened. By this operation, the coating solution 23 filled in the solution tank 26 is pressurized and filled in the coating solution tank 22, and a part of the coating solution is overcoated.
Put into the spare tank 29 from the flow valve 25.

【0085】次にオ-バ-フロ-用バルブ25及び溶液供給
加圧バルブ27を閉にした後、加圧調整用バルブ24とリ-
ク用バルブ28を開にすると加圧調整用バルブ24から供給
される加圧ガスの圧力が塗布液槽22に満たされている塗
布溶液23に加わり、塗布溶液23は溶液タンク26に戻され
る。この場合、加圧調整用バルブ24に加えるガス圧力と
リ−ク用バルブ28の開閉度とによって、塗布溶液23が複
数枚の透明基板61の各表面上を所定速度で下降するよう
速度調整することができる。この場合の塗布工程は図1
とほぼ同様であるが、ブラウン管装着の工程が治具62を
塗布液槽61に設置、ブラウン管脱着の工程が治具62を塗
布液槽61から引き上げて別の塗布装置に設置する工程に
なる。また三層塗布の場合には異なる三種類の塗布液、
同一仕様の塗布装置を三台用いて塗布を行う。
Next, after closing the overflow valve 25 and the solution supply pressurizing valve 27, the pressurizing adjusting valve 24 and the
When the pressure valve 28 is opened, the pressure of the pressurized gas supplied from the pressure adjusting valve 24 is applied to the coating solution 23 filled in the coating solution tank 22, and the coating solution 23 is returned to the solution tank 26. In this case, the gas pressure applied to the pressure adjusting valve 24 and the degree of opening and closing of the leaking valve 28 are adjusted so that the coating solution 23 descends on each surface of the plurality of transparent substrates 61 at a predetermined speed. be able to. The coating process in this case is shown in FIG.
However, the CRT mounting step is a step of installing the jig 62 in the coating liquid tank 61, and the CRT removing and attaching step is a step of pulling up the jig 62 from the coating liquid tank 61 and installing the jig 62 in another coating apparatus. In the case of three-layer coating, three different coating liquids,
Coating is performed using three coating devices having the same specifications.

【0086】尚、塗布液槽22に満たされている塗布溶液
23を溶液タンク26に戻す方法は、上記のように加圧ガス
を用いる他、溶液タンク26の内部を真空状態にしても良
い。
The coating solution filled in the coating solution tank 22
As a method of returning the 23 to the solution tank 26, in addition to using the pressurized gas as described above, the inside of the solution tank 26 may be evacuated.

【0087】次にこの塗布溶液の混合方法について述べ
る。
Next, a method of mixing the coating solution will be described.

【0088】まず一層目にハ-ドコ-ト機能を付与するた
めに塗布を行う。塗布するハ-ドコ-ト用塗布溶液は、γ
−メラクリルオキシプロピルトリメトキシシランを含む
エチルシリケ−ト〔Si(OC2H5)3〕をエタノ−ルに溶解
し、更に加水分解のためのH2Oと、触媒としてのHNO3
を添加した溶液を作る。次に二層目に塗布する帯電防止
膜用塗布溶液は、一層目と同様γ−メラクリルオキシプ
ロピルトリメトキシシランを含むエチルシリケ−ト〔Si
(OC2H5)3〕をエタノ−ルに溶解し、更に加水分解のため
のH2Oと、触媒としてのHNO3とを添加した溶液を作り、
この溶液に粒径6nmのSnO2超微粒子を重量%で2%添加
する。また三層目に塗布する反射防止用塗布溶液は、エ
チルシリケ−ト〔Si(OC2H5)4〕をエタノ−ルに溶解し、
更に加水分解のためのH2Oと、触媒としてのHNO3とを添
加した溶液を作り、この溶液に粒径80nmのSiO2超微粒子
を重量%で5%添加する。この時充分分散するように溶
液のPHを調整する。
First, application is performed to give a hard coat function to the first layer. The coating solution for hard coating to be applied is γ
- added dissolved in Le, and more of H 2 O for hydrolysis, and HNO 3 as a catalyst - Echirushirike including camera acrylic trimethoxysilane - DOO [Si (OC 2 H 5) 3] to ethanol Make a solution. Next, the coating solution for the antistatic film to be applied to the second layer is the same as that for the first layer, ethyl silicate containing γ-meracryloxypropyltrimethoxysilane [Si
(OC 2 H 5 ) 3 ] was dissolved in ethanol, and H 2 O for hydrolysis and HNO 3 as a catalyst were added to form a solution.
To this solution, 2% by weight of ultrafine SnO 2 particles having a particle size of 6 nm is added. The antireflection coating solution applied to the third layer is obtained by dissolving ethyl silicate [Si (OC 2 H 5 ) 4 ] in ethanol.
Further, a solution is prepared by adding H 2 O for hydrolysis and HNO 3 as a catalyst, and 5% by weight of ultrafine SiO 2 particles having a particle size of 80 nm is added to this solution. At this time, the pH of the solution is adjusted so as to be sufficiently dispersed.

【0089】次にこの三種類の塗布溶液を順次図6の装
置を用いて前述の手順により塗布を行った。「表2」は
この時の塗布条件である。
Next, these three kinds of coating solutions were sequentially applied by using the apparatus shown in FIG. "Table 2" shows the coating conditions at this time.

【0090】[0090]

【表2】 [Table 2]

【0091】三回の塗布工程を終了した後はプラスチッ
クの種類によって50〜120℃の焼成を行った。図7はこ
の膜を被覆した基板11を破断しその断面をSEMで観察し
た結果を示す模式図である。基板32の表面に一層目のハ
-ドコ-ト層34が、その上に帯電防止用の導電性膜5が夫
々ほぼ均一厚さで形成されている。また、前述のガラス
基板の場合と同様可視光反射防止層30である三層目のSi
O2超微粒子はほぼ均一に配列されており、反射防止機能
もガラス基板の場合と同等である。また、帯電防止機能
及び耐摩耗性、耐久性にも優れた膜ができた。
After the completion of the three coating steps, firing was performed at 50 to 120 ° C. depending on the type of plastic. FIG. 7 is a schematic diagram showing the result of fracturing the substrate 11 coated with this film and observing the cross section thereof by SEM. The first layer on the surface of the substrate 32
A coating layer 34, on which a conductive film 5 for antistatic is formed with a substantially uniform thickness. Further, as in the case of the above-described glass substrate, the third layer Si
The O 2 ultrafine particles are almost uniformly arranged, and the antireflection function is the same as that of the glass substrate. Further, a film excellent in antistatic function, abrasion resistance and durability was obtained.

【0092】尚、本実施例においては三層構成から成る
超微粒子膜について述べたが、三層以上の超微粒子膜を
形成する場合も上記の塗布工程を追加することによって
行うことができる。
In this embodiment, an ultrafine particle film having a three-layer structure has been described. However, an ultrafine particle film having three or more layers can be formed by adding the above coating step.

【0093】[0093]

【発明の効果】本発明によれば、超微粒子を用い簡単な
塗布方法により被塗物上に可視光反射防止膜、帯電防止
膜及び/または赤外線反射膜を多層状に容易に形成する
ことができる。
According to the present invention, it is possible to easily form a visible light antireflection film, an antistatic film and / or an infrared reflection film in a multilayer shape on an object to be coated by a simple coating method using ultrafine particles. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る膜形成工程図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a film forming process according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例に係る装置構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例に係る超微粒子膜の断面斜視
図である。
FIG. 3 is a sectional perspective view of an ultrafine particle film according to one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の超微粒子膜を反射防止膜に適用した場
合の反射特性図である。
FIG. 4 is a reflection characteristic diagram when the ultrafine particle film of the present invention is applied to an antireflection film.

【図5】本発明の超微粒子膜を帯電防止膜に適用した場
合の帯電特性図である。
FIG. 5 is a charging characteristic diagram when the ultrafine particle film of the present invention is applied to an antistatic film.

【図6】本発明の他の実施例に係る装置構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram of an apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の他の実施例に係る超微粒子膜の断面図
である。
FIG. 7 is a sectional view of an ultrafine particle film according to another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の適用対象例であるブラウン管の一般的
な断面図である。
FIG. 8 is a general sectional view of a cathode ray tube which is an application example of the present invention.

【図9】本発明の反射防止原理説明図である。FIG. 9 is an explanatory view of the principle of antireflection according to the present invention.

【図10】本発明の反射防止原理説明図である。FIG. 10 is an explanatory view of the principle of antireflection according to the present invention.

【図11】本発明の反射防止原理を説明する反射特性図
である。
FIG. 11 is a reflection characteristic diagram for explaining the principle of antireflection of the present invention.

【図12】本発明の反射特性モデル説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram of a reflection characteristic model of the present invention.

【図13】本発明の反射特性モデル説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram of a reflection characteristic model according to the present invention.

【図14】本発明の反射特性モデル説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram of a reflection characteristic model of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…超微粒子層、2…バインダ−層、3…ガラス板、5
…導電性膜、10…超微粒子、15…空気と超微粒子と
の混合層、21…ブラウン管、22…塗布液槽、23…
塗布溶液、24…加圧調整用バルブ、25…オ−バ−フ
ロ−用バルブ、26…溶液タンク、27…溶液供給加圧
バルブ、28…リ−ク用バルブ、30…可視光反射防止
層、32…基板、34…ハ−ドコ−ト層、81…ブラウ
ン管、82…ブラウン管内面、83…蛍光体、84…ア
ルミニウム膜、85…ブラウン管前面パネル。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ultra fine particle layer, 2 ... Binder layer, 3 ... Glass plate, 5
... conductive film, 10 ... ultra fine particles, 15 ... mixed layer of air and ultra fine particles, 21 ... cathode ray tube, 22 ... coating liquid tank, 23 ...
Coating solution, 24 ... Pressure adjustment valve, 25 ... Overflow valve, 26 ... Solution tank, 27 ... Solution supply pressure valve, 28 ... Leak valve, 30 ... Visible light antireflection layer Reference numeral 32 denotes a substrate, 34 denotes a hard coat layer, 81 denotes a cathode ray tube, 82 denotes an inner surface of the cathode ray tube, 83 denotes a phosphor, 84 denotes an aluminum film, and 85 denotes a front panel of the cathode ray tube.

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI // C08L 101:00 G02B 1/10 (72)発明者 河村 啓溢 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社 日立製作所 茂原工場内 (72)発明者 小原 克美 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社 日立製作所 茂原工場内 (72)発明者 山田 俊宏 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社 日立製作所 機械研究所内 (72)発明者 川端 利明 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社 日立製作所 機械研究所内 (72)発明者 河村 孝男 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社 日立製作所 茂原工場内 (56)参考文献 特開 昭62−148902(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B32B 5/30 C08J 7/04 - 7/06 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI // C08L 101: 00 G02B 1/10 (72) Inventor Hirofumi Kawamura 3300 Hayano, Mobara-shi, Chiba Pref. Hitachi, Ltd. Mobara factory (72) Inventor Katsumi Ohara 3300 Hayano Mobara-shi, Chiba Pref. In Hitachi, Ltd. 502, Kantate-cho, Hitachi, Ltd.Mechanical Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Takao Kawamura 3300, Hayano, Mobara-shi, Chiba, Japan Mobara Plant, Hitachi, Ltd. (56) References JP-A-62-148902 58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) B32B 5/30 C08J 7/ 04-7/06

Claims (13)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】超微粒子群と前記超微粒子群を構成する各
超微粒子の間隔を充填するバインダ−とによる超微粒子
膜を基板上に形成する超微粒子膜の形成方法において、
側部に開孔部を設けた容器を用い、前記基板の超微粒子
膜形成面が容器内面側になるように基板を設置し前記超
微粒子とバインダ−とを含む混合塗布溶液を前記容器内
に導入し、少なくとも前記基板の超微粒子膜形成部分を
前記混合塗布溶液が覆った後に容器から混合塗布溶液を
吐出させ基板を露出させることを2回以上行い、基板表
面に超微粒子膜を多層形成することを特徴とする超微粒
子膜の形成方法。
An ultrafine particle film forming method for forming an ultrafine particle film on a substrate by using an ultrafine particle group and a binder filling a space between the ultrafine particles constituting the ultrafine particle group,
Using a container provided with an opening on the side, the substrate is placed such that the surface of the substrate on which the ultrafine particle film is formed is on the inner side of the container, and the mixed coating solution containing the ultrafine particles and the binder is placed in the container. Introducing the mixed coating solution at least over the portion of the substrate where the ultrafine particle film is formed is covered with the mixed coating solution and discharging the mixed coating solution from the container to expose the substrate twice or more, thereby forming a multilayer of the ultrafine particle film on the substrate surface. A method of forming an ultrafine particle film.
【請求項2】超微粒子群と前記超微粒子群を構成する各
超微粒子の間隔を充填するバインダ−とによる超微粒子
膜を基板上に形成する超微粒子膜の形成方法において、
前記超微粒子膜を形成すべき基板を容器に設置し、前記
超微粒子として可視光反射防止用超微粒子、帯電防止用
超微粒子及び/または赤外線反射用超微粒子を用い、前
記超微粒子とバインダ−とを含む混合塗布溶液を前記容
器内に導入し、前記混合塗布溶液が前記基板の超微粒子
膜形成部分を覆った後に容器から混合塗布溶液を吐出さ
せることを2回以上行い、前記基板表面に超微粒子膜を
二層形成することを特徴とする超微粒子膜の形成方法。
2. A method for forming an ultrafine particle film on a substrate, comprising: an ultrafine particle group and a binder filling a space between the ultrafine particles constituting the ultrafine particle group.
The substrate on which the ultrafine particle film is to be formed is placed in a container, and ultrafine particles for preventing visible light reflection, ultrafine particles for antistatic and / or ultrafine particles for infrared reflection are used as the ultrafine particles, and the ultrafine particles and the binder are used. The mixed coating solution containing is introduced into the container, and the mixed coating solution is discharged from the container twice or more after the mixed coating solution covers the portion where the ultrafine particle film is formed on the substrate. A method for forming an ultrafine particle film, comprising forming two layers of a fine particle film.
【請求項3】超微粒子群と前記超微粒子群を構成する各
超微粒子の間隔を充填するバインダ−とによる超微粒子
膜を基板上に形成する超微粒子膜の形成方法において、
側部に開孔部を設けた容器を用い前記基板の超微粒子膜
形成面が容器内面側になるように基板を設置し、前記超
微粒子として可視光反射防止用超微粒子、帯電防止用超
微粒子及び/または赤外線反射用超微粒子を用い、前記
超微粒子とバインダ−とを含む混合塗布溶液を前記容器
内に導入し、前記混合塗布溶液が前記基板の超微粒子膜
形成部分を覆った後に容器から混合塗布溶液を吐出させ
ることを2回以上行い、前記基板表面に超微粒子膜を二
層形成することを特徴とする超微粒子膜の形成方法。
3. A method of forming an ultrafine particle film on a substrate, the method comprising forming an ultrafine particle film on a substrate by using an ultrafine particle group and a binder filling a space between the ultrafine particles constituting the ultrafine particle group.
Using a container provided with an opening on the side, the substrate is set such that the surface of the substrate on which the ultrafine particle film is formed is on the inner surface side of the container, and the ultrafine particles are ultrafine particles for antireflection of visible light and ultrafine particles for antistatic. And / or using ultra-fine particles for infrared reflection, introducing a mixed coating solution containing the ultra-fine particles and a binder into the container, and removing the mixed coating solution from the container after covering the ultra-fine particle film-forming portion of the substrate. Discharging the mixed coating solution two or more times to form two ultrafine particle films on the substrate surface.
【請求項4】前記混合塗布液が前記基板を露出させる速
度が10mm/s以下であることを特徴とする請求項1乃至3
のいずれかに記載の超微粒子膜の形成方法。
4. The apparatus according to claim 1, wherein a speed at which the mixed coating solution exposes the substrate is 10 mm / s or less.
The method for forming an ultrafine particle film according to any one of the above.
【請求項5】一回目に形成する超微粒子膜が前記帯電防
止用超微粒子または前記赤外線反射用超微粒子を含有し
ており、二回目に形成する超微粒子膜が前記可視光反射
防止用超微粒子を含有していることを特徴とする請求項
3又は4に記載の超微粒子膜の形成方法。
5. The ultrafine particle film formed for the first time contains said antistatic ultrafine particles or said infrared reflective ultrafine particles, and the ultrafine particle film formed for the second time is said ultrafine particles for preventing visible light reflection. The method for forming an ultrafine particle film according to claim 3, wherein the method further comprises:
【請求項6】前記可視光反射防止用超微粒子が粒径80nm
〜150nmのSiO2超微粒子であることを特徴とする請求項
5に記載の超微粒子膜の形成方法。
6. The ultrafine particles for preventing reflection of visible light have a particle size of 80 nm.
6. The method for forming an ultrafine particle film according to claim 5, wherein the ultrafine particles are SiO2 ultrafine particles having a thickness of about 150 nm.
【請求項7】前記帯電防止用超微粒子が粒径10nm以下の
酸化スズ化合物であることを特徴とする請求項5に記載
の超微粒子膜の形成方法。
7. The method for forming an ultrafine particle film according to claim 5, wherein the antistatic ultrafine particles are a tin oxide compound having a particle size of 10 nm or less.
【請求項8】透明基板の表面に超微粒子膜を備える透明
板であって、前記超微粒子膜が帯電防止用超微粒子また
は赤外線反射用超微粒子を含有する層と可視光反射防止
用超微粒子を含有する層を含む多層からなることを特徴
とする透明板。
8. A transparent plate having an ultrafine particle film on the surface of a transparent substrate, wherein the ultrafine particle film comprises a layer containing antistatic ultrafine particles or infrared reflecting ultrafine particles and a visible light antireflective ultrafine particle. A transparent plate comprising a multilayer containing layers to be contained.
【請求項9】透明基板の表面に超微粒子膜を備える画像
表示板であって、前記超微粒子膜が帯電防止用超微粒子
または赤外線反射用超微粒子を含有する層と可視光反射
防止用超微粒子を含有する層を含む多層からなることを
特徴とする画像表示板。
9. An image display plate comprising an ultrafine particle film on a surface of a transparent substrate, wherein the ultrafine particle film contains an antistatic ultrafine particle or an infrared reflective ultrafine particle and a visible light antireflective ultrafine particle. An image display plate comprising a multilayer including a layer containing:
【請求項10】透明基板の表面に超微粒子膜を備える画
像表示保護板であって、前記超微粒子膜が帯電防止用超
微粒子または赤外線反射用超微粒子を含有する層と可視
光反射防止用超微粒子を含有する層を含む多層からなる
ことを特徴とする画像表示保護板。
10. An image display protective plate comprising a transparent substrate having an ultrafine particle film on its surface, wherein said ultrafine particle film comprises a layer containing antistatic ultrafine particles or infrared reflecting ultrafine particles, and a visible light antireflection layer. An image display protection plate comprising a multilayer including a layer containing fine particles.
【請求項11】請求項9に記載の画像表示板および/ま
たは請求項10に記載の画像表示保護板を備えてなるこ
とを特徴とするブラウン管。
11. A cathode ray tube comprising the image display plate according to claim 9 and / or the image display protection plate according to claim 10.
【請求項12】請求項9に記載の画像表示板および/ま
たは請求項10に記載の画像表示保護板を備えてなるこ
とを特徴とする液晶パネル。
12. A liquid crystal panel comprising the image display plate according to claim 9 and / or the image display protection plate according to claim 10.
【請求項13】請求項8に記載の透明板を備えてなるこ
とを特徴とする自動車用窓ガラス。
13. An automotive window glass comprising the transparent plate according to claim 8.
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