JP3227953B2 - Lead frame and semiconductor device using the same - Google Patents
Lead frame and semiconductor device using the sameInfo
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は電子回路が集積、形成
された半導体チップ(以下、単に「ICチップ」と記
す)をトランスファーモールド法により樹脂で封止する
樹脂封止型半導体装置(以下、単に「IC」と記す)及
びその製造方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-encapsulated semiconductor device (hereinafter, simply referred to as an "IC chip") in which an electronic circuit is integrated and formed by a transfer molding method. Simply referred to as “IC”) and a method for producing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のICの樹脂封止方法では、リード
フレームに載置、固定されたICチップを成形金型を用
いてトランスファーモールド法により樹脂成形するが、
成形金型のキャビティ内に在るICチップはこのキャビ
ティに注入される溶融樹脂の圧力によりそのキャビティ
内で設計上の位置から上下に移動したり、傾斜する、所
謂ステイシフトが生じることがある。2. Description of the Related Art In a conventional IC resin sealing method, an IC chip mounted and fixed on a lead frame is resin-molded by a transfer molding method using a molding die.
The IC chip in the cavity of the molding die may move up and down or tilt from a designed position in the cavity due to the pressure of the molten resin injected into the cavity, or a so-called stay shift may occur.
【0003】特に、近年、電子回路の集積度が増大し、
それにつれてICチップの面積も大面積になり、その一
方ではICのピン数が増え、アウターリード間ピッチも
狭くなり、それに伴い、インナーリードやダイパッドを
吊っている吊りリードの幅も細く、かつ長くなってきて
いる。In particular, in recent years, the degree of integration of electronic circuits has increased,
As the area of the IC chip increases, the number of pins of the IC also increases, and the pitch between the outer leads also decreases. As a result, the width of the suspending leads for suspending the inner leads and the die pad becomes thinner and longer. It has become to.
【0004】また、ICを超薄型化するために、インナ
ーリードにバンプを形成し、ダイパッドレスのリードフ
レームを用い、そのバンプをICチップの電極パッドに
接続し、金ワイヤーを用いないフローティングチップ構
造のICや、ポリイミドフィルムをベースとしてその表
面に銅箔からなるリードを形成したTABリードをリー
ドフレームに代えて用い、TABリードのインナーリー
ドをICチップの電極パッドに直接接続したタイプのI
Cがある。Further, in order to make an IC ultra-thin, a floating chip which does not use a gold wire by forming a bump on an inner lead, using a lead frame without a die pad, connecting the bump to an electrode pad of an IC chip, and using a bump. An IC of a structure in which a TAB lead having a copper film lead formed on a surface thereof based on a polyimide film is used in place of a lead frame, and an inner lead of the TAB lead is directly connected to an electrode pad of an IC chip.
There is C.
【0005】これらのような構造になると僅かな樹脂圧
力でもICチップがステイシフトが生じやすい。その結
果、ICパッケージが反ったり、ICチップ、インナー
リード、或いは金ワイヤー13が外部に露出し、水分の
侵入による腐食、金ワイヤーのショート、或いは断線、
そして外光による特性の変化などが生じることになる。In such a structure, the IC chip is liable to cause a stay shift even with a small resin pressure. As a result, the IC package is warped, the IC chip, the inner lead, or the gold wire 13 is exposed to the outside, and corrosion due to invasion of moisture, short-circuit of the gold wire, or disconnection of the gold wire is caused.
Then, a change in characteristics due to external light occurs.
【0006】そこで、このステイシフトを発生を防止す
るために、本発明者らは各種の研究を行い、例えば、本
出願人が平成5年10月25日に出願した特願平5ー2
66378号「樹脂封止型半導体装置及びその製造方
法」に記載のような発明を行った。In order to prevent the stay shift from occurring, the present inventors have conducted various studies, for example, Japanese Patent Application No. 5-2 filed on Oct. 25, 1993 by the present applicant.
No. 66378, entitled "Resin-sealed semiconductor device and its manufacturing method".
【0007】即ち、この発明では、ダイパッドを有する
リードフレームの場合には、ICチップの表面上のみ
に、またはダイパッドの裏面上にも、またフローティン
グチップタイプのリードフレームの場合には、ICチッ
プの表面上のみに、またはICチップの裏面上に、実用
最低限の高さを有する複数の突起物を形成し、そして、
トランスファーモールド用成形金型のキャビティの所定
の位置に、前記ICチップを搭載したリードフレームを
配置し、上下金型を締結してICチップの上下動を前記
突起物によりキャビティ内で規制し、このような状態で
溶融樹脂をキャビティに注入してICチップを封止して
ICを得るようにし、前記ステイシフトの問題などを解
決している。That is, according to the present invention, in the case of a lead frame having a die pad, only on the front surface of the IC chip or on the back surface of the die pad. Forming a plurality of protrusions having a practical minimum height only on the front surface or on the back surface of the IC chip, and
A lead frame on which the IC chip is mounted is disposed at a predetermined position in a cavity of a transfer mold, and the upper and lower molds are fastened to control the vertical movement of the IC chip in the cavity by the protrusion. In such a state, the molten resin is injected into the cavity to seal the IC chip to obtain an IC, thereby solving the stay shift problem and the like.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記特許願の
発明のICでは、ICチップの表面などに複数の突起物
を形成しなければならず、突起物を形成する工程が増
え、そして突起物を形成する装置を必要とし、また突起
物を形成すること自体、高度の技術が必要になるなどと
いう難点がある。However, in the IC of the invention of the patent application, a plurality of projections must be formed on the surface of an IC chip or the like, and the number of steps for forming the projections increases. There is a drawback in that a device for forming the projection is required, and the formation of the projection itself requires a high level of technology.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】そこで、この発明では、
複数のインナーリードと、これらのインナーリードに対
応して形成されたアウターリードと、これらのインナー
リードとほぼ同一面に形成された複数のICチップ抑え
とが形成され、ダイパッドレスであるリードフレームを
用い、ICチップを、そのICチップに形成された複数
の電極と前記各インナーリードとを接続し、また前記I
Cチップ抑えが中間導電層を介して半導体チップのダミ
ーパッドに接合された状態になるように搭載し、このよ
うな状態のICチップをトランスファーモールド用成形
金型のキャビティ内に載置した状態で、このキャビティ
内に溶融樹脂を注入し、前記ICチップがこの溶融樹脂
で煽られようとする動きを前記ICチップ抑えで抑えて
押圧しながらそのICチップを樹脂封止するようにし
て、前記課題を解決した。Accordingly, in the present invention,
A plurality of inner leads, outer leads formed corresponding to these inner leads, and a plurality of IC chip holders formed on substantially the same surface as these inner leads are formed, and a die frame without a die pad is formed. A plurality of electrodes formed on the IC chip and the respective inner leads are connected to each other;
The C chip holder is mounted so as to be bonded to the dummy pad of the semiconductor chip via the intermediate conductive layer, and the IC chip in such a state is placed in the cavity of the transfer mold. Injecting a molten resin into the cavity and sealing the IC chip with a resin while pressing the IC chip while suppressing the movement of the IC chip by the molten resin. Was solved.
【0010】[0010]
【作用】従って、ICチップ抑えをインナーリードやア
ウターリードに形成する時に、上方導電層にはインナー
リードとICチップ抑えとをパターニングし、下方導電
層の表面にはアウターリードをパターニングして、イン
ナーリード、ICチップ抑え、及びアウターリードを両
面から同時に形成することができ、しかもそれらのIC
チップ抑えでICチップを確実に固定することができる
ので、超薄型の構造のICが精度良く、そして安価に製
造することができる。Therefore, when the IC chip holder is formed on the inner lead or the outer lead, the inner lead and the IC chip holder are patterned on the upper conductive layer, and the outer lead is patterned on the surface of the lower conductive layer. Leads, IC chip holders, and outer leads can be formed simultaneously from both sides.
Since the IC chip can be reliably fixed by holding down the chip, an IC having an ultra-thin structure can be manufactured with high accuracy and at low cost.
【0011】[0011]
【実施例】次に、図1乃至図6を用いて、この発明のリ
ードフレーム及びそれを用いた半導体装置とそのリード
フレームの製造方法を説明する。図1はこの発明のリー
ドフレームの実施例を示していて、同図Aはそのリード
フレームにICチップを載置、固定した状態の概略的平
面図、同図Bは同図AのA−A線上におけるインナーリ
ード及びアウターリード断面図、そして図Cは同図Aの
矢示Bで示したICチップ抑えの拡大平面図であり、図
2は図1に示したリードフレームのICチップ抑えでI
Cチップの動きを抑える第1の構造を示した要部の拡大
平面図であり、図3は図1に示したリードフレームのI
Cチップ抑えでICチップの動きを抑える第2の構造を
示した要部の拡大平面図である。1 to 6, a lead frame according to the present invention, a semiconductor device using the same and a method for manufacturing the lead frame will be described. FIG. 1 shows an embodiment of a lead frame according to the present invention. FIG. 1A is a schematic plan view showing a state in which an IC chip is mounted and fixed on the lead frame, and FIG. A cross-sectional view of the inner lead and the outer lead on the line, and FIG. C is an enlarged plan view of the IC chip holder indicated by an arrow B in FIG. A, and FIG. 2 is an IC chip holder of the lead frame shown in FIG.
FIG. 3 is an enlarged plan view of a main part showing a first structure for suppressing the movement of the C chip, and FIG.
FIG. 9 is an enlarged plan view of a main part showing a second structure for suppressing the movement of the IC chip by holding down the C chip.
【0012】そして図4は図3に示した状態の構造でこ
の発明のリードフレームに載置、固定された状態のIC
チップの第1の樹脂封止方法を説明するための図で、同
図Aはトランスファーモールド用成形金型に装着した状
態を示した断面図であり、同図Bはその成形金型から取
り出した状態のICの断面図であり、図5は図2に示し
た状態の構造でこの発明のリードフレームに載置、固定
された状態のICチップの第2の樹脂封止方法を説明す
るための図で、同図Aはトランスファーモールド用成形
金型に装着した状態を示した断面図であり、同図Bはそ
の成形金型から取り出した状態のICの断面図であり、
そして図6は図2に示した状態の構造でこの発明のリー
ドフレームに載置、固定された状態のICチップの第3
の樹脂封止方法を説明するための図で、同図Aはトラン
スファーモールド用成形金型に装着した状態を示した断
面図であり、同図Bはその成形金型の下金型のキャビテ
ィ面を示した平面図、そして同図Cはその成形金型から
取り出した状態のICの断面図である。FIG. 4 shows the structure of the IC shown in FIG. 3 mounted and fixed on the lead frame of the present invention.
FIG. 4A is a view for explaining a first resin sealing method of a chip, FIG. 4A is a cross-sectional view showing a state where the chip is mounted on a transfer mold, and FIG. 5B is taken out from the mold. FIG. 5 is a cross-sectional view of the IC in a state, and FIG. 5 is a view for explaining a second resin sealing method of the IC chip mounted and fixed on the lead frame according to the present invention with the structure shown in FIG. FIG. 2A is a cross-sectional view showing a state where the IC is mounted on a transfer mold, and FIG. 2B is a cross-sectional view of the IC taken out of the mold.
FIG. 6 shows the third state of the IC chip mounted and fixed on the lead frame of the present invention in the structure shown in FIG.
FIG. A is a cross-sectional view showing a state in which the mold is mounted on a transfer mold, and FIG. B is a cavity surface of a lower mold of the mold. And FIG. C is a sectional view of the IC taken out of the molding die.
【0013】先ず、図1を用いて、この発明のリードフ
レームの実施例を説明する。この図1に示したリードフ
レームLは、本出願人が出願し、平成5年4月9日に公
開された特開平5ー90350「半導体装置」に開示さ
れている、Cu、Al、Cuの組み合わせなどからなる
3層クラッド材を用いて形成されたリードフレームの構
造と基本的に同一である。このリードフレームLは、従
来のリードフレームの長所とTABリードの長所とを備
えたリードフレームであって、TABリードのアウター
リードの強度などが改良されている。First, an embodiment of a lead frame according to the present invention will be described with reference to FIG. The lead frame L shown in FIG. 1 is made of Cu, Al, and Cu disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 5-90350 “Semiconductor Device” filed by the present applicant and published on April 9, 1993. The structure is basically the same as the structure of a lead frame formed using a three-layer clad material composed of a combination or the like. The lead frame L is a lead frame having the advantages of the conventional lead frame and the advantages of the TAB lead, in which the strength of the outer lead of the TAB lead is improved.
【0014】このリードフレームLは、中央にICチッ
プSが載置される開口部7が形成されている。即ち、こ
のリードフレームLはダイパッドレス型のものである。
この開口部7に先端部が臨み、前記開口部7にICチッ
プSが載置された場合、そのICチップSの表面に形成
された複数の電極パッド8上にくるように延長された複
数のインナーリード1と、これらのインナーリードに対
応して形成されたアウターリード2と、これらのインナ
ーリード1とほぼ同一面に形成された複数のICチップ
抑え5とから構成されている。The lead frame L has an opening 7 in the center where the IC chip S is placed. That is, the lead frame L is a die padless type.
When the front end faces the opening 7 and the IC chip S is placed in the opening 7, a plurality of IC chips S are extended so as to come on a plurality of electrode pads 8 formed on the surface of the IC chip S. It comprises an inner lead 1, outer leads 2 formed corresponding to these inner leads, and a plurality of IC chip holders 5 formed on substantially the same surface as the inner leads 1.
【0015】前記ICチップ抑え5はICチップSの前
記電極パッド8が形成されていない部分を抑えることが
望ましく、この実施例ではフレーム6側から前記開口部
7に臨み、ICチップSの両側で、そして両端部の近傍
を抑えられるような位置に形成されている(同図A及び
同図C)。そしてこの実施例のICチップ抑え5には複
数の孔9を開け、ICチップSの樹脂封止の場合の溶融
樹脂が自由に流動できるようにされている。The IC chip holder 5 desirably suppresses a portion of the IC chip S where the electrode pads 8 are not formed. In this embodiment, the IC chip holder 5 faces the opening 7 from the frame 6 side, and is provided on both sides of the IC chip S. , And at positions where the vicinity of both ends can be suppressed (FIGS. A and C). A plurality of holes 9 are formed in the IC chip holder 5 of this embodiment so that the molten resin in the case of sealing the IC chip S with resin can flow freely.
【0016】このリードフレームLの製造は、前記公開
公報に開示されている方法によって行うことができる。
即ち、例えば、厚さ30μmのCu層と厚さ50μmの
Al層と厚さ125μmのCu層とからなる3層クラッ
ド板を基材として製作されている。厚さ30μmのCu
層の表面にはインナーリード1とICチップ抑え5とを
パターニングし、厚さ125μmのCu層の表面にはア
ウターリード2をパターニングして、両面から同時に、
或いは一方の面から順次エッチングすることにより、複
数のインナーリード1とICチップ抑え5と、インナー
リード1に対応した複数のアウターリード2とを形成す
ることができる。The manufacture of the lead frame L can be performed by the method disclosed in the above publication.
That is, for example, it is manufactured using a three-layer clad plate composed of a Cu layer having a thickness of 30 μm, an Al layer having a thickness of 50 μm, and a Cu layer having a thickness of 125 μm as a base material. Cu with a thickness of 30 μm
The inner lead 1 and the IC chip holder 5 are patterned on the surface of the layer, and the outer leads 2 are patterned on the surface of the Cu layer having a thickness of 125 μm.
Alternatively, by sequentially etching from one surface, a plurality of inner leads 1 and IC chip holders 5 and a plurality of outer leads 2 corresponding to the inner leads 1 can be formed.
【0017】この場合、前記Al層3はエッチングスト
ップ層となるが、このAl層3の不要部分を除去し、そ
れぞれのインナーリード1の先端部に厚さ約50μmの
Alのバンプ4を形成する。また、前記各インナーリー
ド1とアウターリード2とはこのAl層3で連結された
構造になる(同図B)。In this case, the Al layer 3 serves as an etching stop layer. An unnecessary portion of the Al layer 3 is removed, and an Al bump 4 having a thickness of about 50 μm is formed at the tip of each inner lead 1. . Further, the inner leads 1 and the outer leads 2 are connected by the Al layer 3 (FIG. 2B).
【0018】このような構造のリードフレームLの前記
開口部7にICチップSを載置すると、図1Aに示した
ように、複数のICチップ抑え5はICチップSの両側
周辺部で、かつその両端部に掛かり、また、複数のイン
ナーリード1の先端部に形成されたバンプ4はICチッ
プSの各電極パッド8上に位置するようになる。従っ
て、各バンプ4を電極パッド8にボンディングすること
で、ICチップSをリードフレームLに固定することが
できる。When the IC chip S is placed in the opening 7 of the lead frame L having such a structure, a plurality of IC chip holders 5 are provided on both sides of the IC chip S, as shown in FIG. The bumps 4 formed on both ends and formed on the tips of the plurality of inner leads 1 are located on the respective electrode pads 8 of the IC chip S. Therefore, the IC chip S can be fixed to the lead frame L by bonding each bump 4 to the electrode pad 8.
【0019】この状態の場合のICチップ抑え5の状態
は、図2に示したように、ICチップ抑え5の先端部は
ICチップSの電子回路形成面の周辺部に掛かり、その
部分を抑えてた状態になっている。また、図3に示した
ように、これらのICチップ抑え5の先端部に、前記イ
ンナーリード1のバンプ4と同様のAlバンプ10を形
成し、一方でICチップSの表面にもダミーパッド11
を形成し、これら両者をボンディングすると、一層IC
チップSはリードフレームLに強固に固定することがで
きる。As shown in FIG. 2, the state of the IC chip retainer 5 in this state is such that the tip of the IC chip retainer 5 hangs over the periphery of the electronic circuit forming surface of the IC chip S and suppresses that portion. It is in the state that it was in. As shown in FIG. 3, an Al bump 10 similar to the bump 4 of the inner lead 1 is formed at the tip of the IC chip holder 5, while the dummy pad 11 is also formed on the surface of the IC chip S.
Is formed, and by bonding these two, the IC is further increased.
The chip S can be firmly fixed to the lead frame L.
【0020】次に、図4乃至図6を用いて、このリード
フレームLに載置、固定された状態のICチップSの樹
脂封止方法を説明する。また、その第1の樹脂封止方法
を図4を用いて説明する。同図Aにおいて、符号20は
トランスファーモールド用成形金型を指し、この成形金
型20は上金型21と下金型22とからなる。上金型2
1のキャビティ23と下金型22のキャビティ24とで
構成されたキャビティ内にICチップS、インナーリー
ド1、ICチップ抑え5及び一部のフレーム6が収容
し、上下金型21、22を締結して、溶融樹脂を注入す
る。そしてその溶融樹脂の硬化後、成形金型20からI
CチップSを取り出せば、同図Bに示したように、IC
チップSの周りが封止樹脂Mで封止されたIC30を得
ることができる。なお、点線Tで示したように、樹脂封
止される範囲にフレーム6を含めないようにして、IC
チップSを樹脂封止することもできる。Next, a resin sealing method of the IC chip S mounted and fixed on the lead frame L will be described with reference to FIGS. The first resin sealing method will be described with reference to FIG. In FIG. 1A, reference numeral 20 denotes a transfer molding molding die, and the molding die 20 includes an upper die 21 and a lower die 22. Upper mold 2
The IC chip S, the inner lead 1, the IC chip holder 5, and a part of the frame 6 are accommodated in a cavity formed by the first cavity 23 and the cavity 24 of the lower mold 22, and the upper and lower molds 21, 22 are fastened. Then, the molten resin is injected. After curing of the molten resin, the molding die 20
If the C chip S is taken out, as shown in FIG.
The IC 30 in which the periphery of the chip S is sealed with the sealing resin M can be obtained. As shown by the dotted line T, the frame 6 is not included in the area to be sealed with the resin.
The chip S can be sealed with a resin.
【0021】この実施例では、ICチップSは下金型2
2のキャビティ面から浮いた状態で成形金型20に配置
されるので、流入する溶融樹脂圧の影響を受けやすい。
従って、この場合のICチップSに対するICチップ抑
え5の構造は、図3に示したようなICチップSがリー
ドフレームLに強固に固定された構造のものを用いるこ
とが望ましい。In this embodiment, the IC chip S is a lower mold 2
Since it is arranged in the molding die 20 in a state of being floated from the cavity surface of No. 2, it is easily affected by the pressure of the flowing molten resin.
Therefore, in this case, it is preferable that the structure of the IC chip holder 5 with respect to the IC chip S use a structure in which the IC chip S is firmly fixed to the lead frame L as shown in FIG.
【0022】図5に第2の樹脂封止方法を示した。同図
Aにおいて、この樹脂封止方法では、下金型22のキャ
ビティ面22AにICチップSの裏面が接触するように
載置し、ICチップ抑え5がそのICチップSを上方か
らキャビティ面22aに抑えつけるような状態で上下金
型21、22を締結する。そして、溶融樹脂を注入する
と、その溶融樹脂がICチップSを上方に浮き上がらせ
ようとしても、ICチップ抑え5でその浮き上がりを抑
制することができる。FIG. 5 shows a second resin sealing method. In FIG. 1A, in this resin sealing method, the IC chip S is placed so that the back surface of the IC chip S is in contact with the cavity surface 22A of the lower mold 22, and the IC chip holder 5 holds the IC chip S from above on the cavity surface 22a. The upper and lower dies 21, 22 are fastened in such a state that they are held down. When the molten resin is injected, the floating of the IC chip S can be suppressed by the IC chip retainer 5 even if the molten resin attempts to lift the IC chip S upward.
【0023】なお、この樹脂封止方法では、ICチップ
Sの裏面がキャビティ面22aで支えられるので、図2
に示したように、ICチップSがリードフレームLにイ
ンナーリード1だけで固定された状態のものを用いてよ
い。そしてその溶融樹脂の硬化後、成形金型20からI
CチップSを取り出せば、同図Bに示したように、IC
チップSの片面が封止樹脂Mで封止されたIC31を得
ることができる。In this resin sealing method, the back surface of the IC chip S is supported by the cavity surface 22a.
As shown in (1), the one in which the IC chip S is fixed to the lead frame L with only the inner lead 1 may be used. After curing of the molten resin, the molding die 20
If the C chip S is taken out, as shown in FIG.
An IC 31 in which one surface of the chip S is sealed with the sealing resin M can be obtained.
【0024】図6に第3の樹脂封止方法を示した。この
成形金型20Aに用いられる下金型22Aのキャビティ
面22aには、ICチップSの裏面の4隅付近(同図
B)を支持できる円柱状のピン25が植設されている。
これらのピン25はICチップSの厚み方向の位置決め
を行う。このような構造の下金型22Aを用い、同図A
に示したように、ICチップSをこれらのピン25に載
置し、ICチップ抑え5でこのICチップSを上方から
これらのピン25に抑え付けるようにして固定し、前記
キャビティに溶融樹脂を注入する。溶融樹脂の硬化後、
成形金型20AからICチップSを取り出せば、同図C
に示したように、ICチップSの裏面の封止樹脂Mにピ
ン跡26ができた形状のIC32を得ることができる。FIG. 6 shows a third resin sealing method. On the cavity surface 22a of the lower die 22A used for the molding die 20A, columnar pins 25 capable of supporting four corners (B in the drawing) on the back surface of the IC chip S are implanted.
These pins 25 position the IC chip S in the thickness direction. Using the lower mold 22A having such a structure, FIG.
As shown in the figure, the IC chip S is placed on these pins 25, and the IC chip S is fixed to the pins 25 from above by the IC chip holder 5, and the molten resin is filled in the cavity. inject. After curing the molten resin,
If the IC chip S is taken out from the molding die 20A, the same as FIG.
As shown in (2), an IC 32 having a shape in which the pin mark 26 is formed on the sealing resin M on the back surface of the IC chip S can be obtained.
【0025】以上の説明では、リードフレームとして3
層クラッド材を基材としたものを例示したが、この発明
のリードフレームはこの構造のものに限定されるもので
はない。これまで一般に使用されてきた一枚の金属板か
ら形成されるリードフレームにも適用できることは言う
までもない。この場合、ICチップ抑えはインナーリー
ドやアウターリードなどがエッチングまたは打ち抜きで
形成される時に同時に形成することができる。In the above description, 3 is used as the lead frame.
Although the example in which the layer clad material is used as the base material is illustrated, the lead frame of the present invention is not limited to this structure. It goes without saying that the present invention can also be applied to a lead frame formed from a single metal plate that has been generally used. In this case, the IC chip holder can be formed at the same time when the inner leads and the outer leads are formed by etching or punching.
【0026】[0026]
【発明の効果】以上、説明したように、この発明のリー
ドフレームはICチップ抑えを備え、そのICチップ抑
えやその先端部に形成したAlバンプはインナーリード
やアウターリードを形成する時に同時に形成することが
でき、しかもそれらのICチップ抑えでICチップを確
実に抑制、或いは固定することができるので、超薄型の
構造のICが精度良く、そして安価に製造することがで
きる。特に、図1に示した実施例のリードフレームにお
いては、インナーリードとアウターリードとがマイクロ
接合された状態にあるので、この部分は溶融樹脂圧の影
響を受け易いが、溶融樹脂の注入時はICチップ抑えで
ICチップの移動を抑えているので、その部分の損傷を
軽減または無くすことができるなど、数々の優れた効果
がある。As described above, the lead frame of the present invention is provided with an IC chip holder, and the Al chip formed on the IC chip holder and the tip thereof is formed simultaneously with the formation of the inner lead and the outer lead. Since the IC chips can be reliably suppressed or fixed by holding down the IC chips, an IC having an ultra-thin structure can be manufactured with high accuracy and at low cost. In particular, in the lead frame of the embodiment shown in FIG. 1, since the inner lead and the outer lead are in a micro-joined state, this portion is easily affected by the molten resin pressure. Since the movement of the IC chip is suppressed by the IC chip holding, there are a number of excellent effects, such as damage to that part can be reduced or eliminated.
【図1】 この発明のリードフレームの実施例を示して
いて、同図AはそのリードフレームにICチップを載
置、固定した状態の概略的平面図、同図Bは同図AのA
−A線上におけるインナーリード及びアウターリード断
面図、そして図Cは同図Aの矢示Bで示したICチップ
抑えの拡大平面図である。FIG. 1 shows an embodiment of a lead frame according to the present invention. FIG. 1A is a schematic plan view showing a state in which an IC chip is mounted and fixed on the lead frame, and FIG.
A sectional view of the inner lead and the outer lead on the line -A, and FIG. C is an enlarged plan view of the IC chip holder indicated by the arrow B in FIG.
【図2】 図1に示したリードフレームのICチップ抑
えでICチップの動きを抑える第1の構造を示した要部
の拡大平面図である。FIG. 2 is an enlarged plan view of a main part showing a first structure for suppressing the movement of the IC chip by holding down the IC chip of the lead frame shown in FIG. 1;
【図3】 図1に示したリードフレームのICチップ抑
えでICチップの動きを抑える第2の構造を示した要部
の拡大平面図である。FIG. 3 is an enlarged plan view of a main part showing a second structure for suppressing the movement of the IC chip by holding down the IC chip of the lead frame shown in FIG. 1;
【図4】 図3に示した状態の構造でこの発明のリード
フレームに載置、固定された状態のICチップの第1の
樹脂封止方法を説明するための図で、同図Aはトランス
ファーモールド用成形金型に装着した状態を示した断面
図であり、同図Bはその成形金型から取り出した状態の
ICの断面図である。FIG. 4 is a view for explaining a first resin sealing method of the IC chip mounted and fixed on the lead frame of the present invention with the structure shown in FIG. 3, and FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where the IC is mounted on a molding die, and FIG. 2B is a cross-sectional view of the IC taken out of the molding die.
【図5】 図2に示した状態の構造でこの発明のリード
フレームに載置、固定された状態のICチップの第2の
樹脂封止方法を説明するための図で、同図Aはトランス
ファーモールド用成形金型に装着した状態を示した断面
図であり、同図Bはその成形金型から取り出した状態の
ICの断面図である。FIG. 5 is a view for explaining a second resin sealing method of the IC chip mounted and fixed on the lead frame of the present invention with the structure shown in FIG. 2, and FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where the IC is mounted on a molding die, and FIG. 2B is a cross-sectional view of the IC taken out of the molding die.
【図6】 図2に示した状態の構造でこの発明のリード
フレームに載置、固定された状態のICチップの第3の
樹脂封止方法を説明するための図で、同図Aはトランス
ファーモールド用成形金型に装着した状態を示した断面
図であり、同図Bはその成形金型の下金型のキャビティ
面を示した平面図、そして同図Cはその成形金型から取
り出した状態のICの断面図である。FIG. 6 is a view for explaining a third resin sealing method of the IC chip mounted and fixed on the lead frame according to the present invention with the structure shown in FIG. 2, and FIG. It is sectional drawing which showed the state attached to the molding die for molding, FIG. B is the top view which showed the cavity surface of the lower die of the molding die, and FIG. C was taken out from the molding die. It is sectional drawing of IC of a state.
S ICチップ L リードフレーム M 封止樹脂 1 インナーリード 2 アウターリード 3 Al層 4 バンプ 5 ICチップ抑え 6 フレーム 7 開口部 8 電極パッド 9 孔 10 Alバンプ 11 ダミーパッド 20 成形金型 20A 成形金型 21 上金型 22 下金型 22A 下金型 22a キャビティ面 23 キャビティ 24 キャビティ 25 ピン 26 ピン跡 30 第1の実施例のIC 31 第2の実施例のIC 32 第3の実施例のIC S IC chip L Lead frame M Sealing resin 1 Inner lead 2 Outer lead 3 Al layer 4 Bump 5 IC chip holder 6 Frame 7 Opening 8 Electrode pad 9 Hole 10 Al bump 11 Dummy pad 20 Mold 20A Mold 21 Upper mold 22 Lower mold 22A Lower mold 22a Cavity surface 23 Cavity 24 Cavity 25 Pin 26 Pin mark 30 IC of the first embodiment 31 IC of the second embodiment 32 IC of the third embodiment
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−57255(JP,A) 特開 平4−7848(JP,A) 特開 平2−278857(JP,A) 実公 昭62−23088(JP,Y2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/50 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-3-57255 (JP, A) JP-A-4-7848 (JP, A) JP-A-2-278857 (JP, A) 23088 (JP, Y2) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 23/50
Claims (2)
少なくとも3層からなる積層クラッド材から形成され、
複数のインナーリードと、該インナーリードに対して形
成されたアウターリードと、前記インナーリードとほぼ
同一面に形成された複数の半導体チップ抑えとを有する
ダイパッドレスの半導体装置用リードフレームであっ
て、 前記下方導電層で複数の前記アウターリードが形成さ
れ、前記上方導電層で前記各アウターリードに対応した
前記インナーリードと複数の前記半導体チップ抑えとが
形成され、且つ該インナーリードと該半導体チップ抑え
とが前記アウターリードと前記中間導電層を介して接続
されることを特徴とする半導体装置用リードフレーム。1. A laminated clad material comprising at least three layers of an upper conductive layer, an intermediate conductive layer, and a lower conductive layer,
A die padless semiconductor device lead frame having a plurality of inner leads, outer leads formed with respect to the inner leads, and a plurality of semiconductor chip holders formed on substantially the same surface as the inner leads, A plurality of the outer leads are formed in the lower conductive layer, and the inner leads and the plurality of semiconductor chip holders corresponding to the respective outer leads are formed in the upper conductive layer, and the inner leads and the semiconductor chip holders are formed. Are connected to the outer leads via the intermediate conductive layer.
チップを搭載してなる樹脂封止型半導体装置であって、 前記リードフレームのインナーリードと半導体チップに
形成した電極とを接続するとともに、該リードフレーム
に形成した半導体チップ抑えが、前記中間導電層を介し
て半導体チップのダミーパッドに接合された状態で樹脂
封止されたことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。2. A resin-encapsulated semiconductor device comprising a semiconductor chip mounted on a lead frame according to claim 1, wherein an inner lead of the lead frame is connected to an electrode formed on the semiconductor chip. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein a semiconductor chip holder formed on a lead frame is resin-encapsulated while being bonded to a dummy pad of the semiconductor chip via the intermediate conductive layer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29357593A JP3227953B2 (en) | 1993-11-24 | 1993-11-24 | Lead frame and semiconductor device using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29357593A JP3227953B2 (en) | 1993-11-24 | 1993-11-24 | Lead frame and semiconductor device using the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07147373A JPH07147373A (en) | 1995-06-06 |
| JP3227953B2 true JP3227953B2 (en) | 2001-11-12 |
Family
ID=17796514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29357593A Expired - Fee Related JP3227953B2 (en) | 1993-11-24 | 1993-11-24 | Lead frame and semiconductor device using the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3227953B2 (en) |
-
1993
- 1993-11-24 JP JP29357593A patent/JP3227953B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07147373A (en) | 1995-06-06 |
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