JP3256286B2 - 光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ製造方法 - Google Patents
光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ製造方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本発明は光コネクタのコア偏心
測定方法および製造方法に関する。
測定方法および製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
昭和６３年電子情報通信学会秋期全国大会、Ｂ−３４３
の「多心コネクタの高精度寸法測定技術」が知られてい
る。図１３は、これを模式的に示す斜視図である。光コ
ネクタ１０１は図示しないステージ（Ｘ方向，Ｙ方向の
可動ステージ）にセットされ、後端面から照明光源１０
２により照明される。光コネクタ１０１の前端面側には
対物レンズ１０３を挾んでＣＣＤなどの撮像デバイス１
０４が配置され、光コネクタ１０１の前端面の像が撮像
デバイス１０４に結像される。
昭和６３年電子情報通信学会秋期全国大会、Ｂ−３４３
の「多心コネクタの高精度寸法測定技術」が知られてい
る。図１３は、これを模式的に示す斜視図である。光コ
ネクタ１０１は図示しないステージ（Ｘ方向，Ｙ方向の
可動ステージ）にセットされ、後端面から照明光源１０
２により照明される。光コネクタ１０１の前端面側には
対物レンズ１０３を挾んでＣＣＤなどの撮像デバイス１
０４が配置され、光コネクタ１０１の前端面の像が撮像
デバイス１０４に結像される。
【０００３】ここで、光コネクタ１０１には両側に２本
のガイドピン穴１０５が設けられると共に、その間には
多数本のファイバ穴１０６が形成されている。このた
め、照明光源１０２からの照明光はガイドピン穴１０５
およびファイバ穴１０６を通り、透過照明光となって撮
像デバイス１０４に入射する。画像処理装置１０７には
光コネクタ１０１の前端面からの透過照明光の撮像デー
タが与えられる。
のガイドピン穴１０５が設けられると共に、その間には
多数本のファイバ穴１０６が形成されている。このた
め、照明光源１０２からの照明光はガイドピン穴１０５
およびファイバ穴１０６を通り、透過照明光となって撮
像デバイス１０４に入射する。画像処理装置１０７には
光コネクタ１０１の前端面からの透過照明光の撮像デー
タが与えられる。
【０００４】このため、画像処理装置１０７ではガイド
ピン穴１０５とファイバ穴１０６の前端面におけるエッ
ジの輪郭を求めることができるので、その結果からガイ
ドピン穴１０５とファイバ穴１０６の中心位置が求ま
る。そこで、この測定された中心位置を設計上の中心位
置と対比すれば、いわゆる偏心量や偏心方向が求まり、
製品の評価が可能になる。なお、ＣＲＴ１０８は撮像デ
ータや測定結果を目視可能に表示するものである。
ピン穴１０５とファイバ穴１０６の前端面におけるエッ
ジの輪郭を求めることができるので、その結果からガイ
ドピン穴１０５とファイバ穴１０６の中心位置が求ま
る。そこで、この測定された中心位置を設計上の中心位
置と対比すれば、いわゆる偏心量や偏心方向が求まり、
製品の評価が可能になる。なお、ＣＲＴ１０８は撮像デ
ータや測定結果を目視可能に表示するものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、ファイバ穴１０６の偏心は評価できる
が、光ファイバと光ファイバのクリアランスが存在する
ことにより、ここに挿入される光ファイバ自体の偏心を
評価できない。このため、光ファイバを挿入して光コネ
クタとして実際に使用すると、好適な光結合を行なえな
い場合があった。また、位置決めの基準となるガイドピ
ン穴１０５は、その前端面において研磨による 「ダ
レ」が生じやすく、中心位置が正確に算出できない不都
合があった。
従来技術では、ファイバ穴１０６の偏心は評価できる
が、光ファイバと光ファイバのクリアランスが存在する
ことにより、ここに挿入される光ファイバ自体の偏心を
評価できない。このため、光ファイバを挿入して光コネ
クタとして実際に使用すると、好適な光結合を行なえな
い場合があった。また、位置決めの基準となるガイドピ
ン穴１０５は、その前端面において研磨による 「ダ
レ」が生じやすく、中心位置が正確に算出できない不都
合があった。
【０００６】 そこで本発明は、極めて高精度に偏心を
測定することのできる光コネクタのコア偏心測定方法お
よび製造方法を提供することを目的とする。
測定することのできる光コネクタのコア偏心測定方法お
よび製造方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光コネクタ
のコア偏心測定方法は、(1) 接続時の位置を決める少な
くとも２本のガイドピン穴が形成され、１本もしくは複
数本の光ファイバがそれぞれ１本もしくは複数本のファ
イバ穴に挿入状態で固定され、前端面で光ファイバの端
面が略同一平面に配置された光コネクタを用意する第１
ステップと、(2) ガイドピン穴の構成材料よりも硬い材
料で構成され貫通穴が形成されたダミーパイプを用意
し、このダミーパイプの端面における外形中心と貫通穴
の中心との偏心をあらかじめ測定する第２ステップと、
(3) ダミーパイプをガイドピン穴に挿入する第３ステッ
プと、(4) 貫通穴に後端面側から照明光を入射し、前端
面側で透過照明光を撮像することにより、貫通穴の中心
位置を求める第４ステップと、(5) この第４ステップで
求めた貫通穴の中心位置と設計データとに基づくととも
に、第２ステップで測定した偏心に基づいて補正して、
ファイバ穴に挿入された光ファイバのコア中心の設計位
置を求める第５ステップと、(6) ファイバ穴に挿入され
た光ファイバに後端面側から照明光を入射し、前端面側
で当該光ファイバからの出射照明光を撮像することによ
り、当該光ファイバのコアの中心位置を求める第６ステ
ップとを備え、光ファイバのコア中心位置の設計位置か
らのずれを測定することを特徴とする。
のコア偏心測定方法は、(1) 接続時の位置を決める少な
くとも２本のガイドピン穴が形成され、１本もしくは複
数本の光ファイバがそれぞれ１本もしくは複数本のファ
イバ穴に挿入状態で固定され、前端面で光ファイバの端
面が略同一平面に配置された光コネクタを用意する第１
ステップと、(2) ガイドピン穴の構成材料よりも硬い材
料で構成され貫通穴が形成されたダミーパイプを用意
し、このダミーパイプの端面における外形中心と貫通穴
の中心との偏心をあらかじめ測定する第２ステップと、
(3) ダミーパイプをガイドピン穴に挿入する第３ステッ
プと、(4) 貫通穴に後端面側から照明光を入射し、前端
面側で透過照明光を撮像することにより、貫通穴の中心
位置を求める第４ステップと、(5) この第４ステップで
求めた貫通穴の中心位置と設計データとに基づくととも
に、第２ステップで測定した偏心に基づいて補正して、
ファイバ穴に挿入された光ファイバのコア中心の設計位
置を求める第５ステップと、(6) ファイバ穴に挿入され
た光ファイバに後端面側から照明光を入射し、前端面側
で当該光ファイバからの出射照明光を撮像することによ
り、当該光ファイバのコアの中心位置を求める第６ステ
ップとを備え、光ファイバのコア中心位置の設計位置か
らのずれを測定することを特徴とする。
【０００８】 ここで、ガイドピン穴には光コネクタよ
りも高硬度のダミーパイプを挿入するのが望ましく、さ
らにダミーパイプの貫通穴にダミー用の光ファイバを挿
入することも望ましい。本発明に係る光コネクタ製造方
法は、接続時の位置を決める少なくとも２本のガイドピ
ン穴が形成され、１本もしくは複数本の光ファイバがそ
れぞれ１本もしくは複数本のファイバ穴に挿入状態で固
定され、前端面で光ファイバの端面が略同一平面に配置
された光コネクタを製造する方法であって、上記の本発
明に係る光コネクタのコア偏心測定方法によりコア偏心
を測定するステップを備えることを特徴とする。
りも高硬度のダミーパイプを挿入するのが望ましく、さ
らにダミーパイプの貫通穴にダミー用の光ファイバを挿
入することも望ましい。本発明に係る光コネクタ製造方
法は、接続時の位置を決める少なくとも２本のガイドピ
ン穴が形成され、１本もしくは複数本の光ファイバがそ
れぞれ１本もしくは複数本のファイバ穴に挿入状態で固
定され、前端面で光ファイバの端面が略同一平面に配置
された光コネクタを製造する方法であって、上記の本発
明に係る光コネクタのコア偏心測定方法によりコア偏心
を測定するステップを備えることを特徴とする。
【０００９】
【作用】 本発明の構成によれば、ファイバ穴にあらか
じめ光ファイバを挿入しておき、この光ファイバからの
出射照明光が撮像されるので、光ファイバのコア自体の
偏心が測定できる。また、ダミーパイプをガイドピン穴
に挿入することで、透過照明光の輪郭は明瞭となるの
で、ファイバ穴に挿入された光ファイバのコア中心の設
計位置が正確になり、偏心も正確に測定できる。さら
に、ダミーパイプにダミー用の光ファイバを挿入すれ
ば、全ての出射照明光を同一条件で測定でき、偏心も正
確に求まる。 特に、本発明では、ダミーパイプの端面
における外形中心と貫通穴の中心との偏心をあらかじめ
測定することにより、或いは、ダミーパイプの端面にお
ける外形中心とダミー用の光ファイバのコアの中心との
偏心をあらかじめ測定することにより、これらの偏心が
あっても、ダミーパイプをガイドピン穴に挿入した状態
でダミーパイプを回転することなく１回のみ測定を行っ
て補正すれば、ガイドピン穴の真の中心位置を求めるこ
とができる。 また、本発明に係る光コネクタ製造方法
によれば、上記の本発明に係るコア偏心測定方法により
コアの偏心を測定するステップを備えているので、低損
失で安定した光コネクタを得ることができる。
じめ光ファイバを挿入しておき、この光ファイバからの
出射照明光が撮像されるので、光ファイバのコア自体の
偏心が測定できる。また、ダミーパイプをガイドピン穴
に挿入することで、透過照明光の輪郭は明瞭となるの
で、ファイバ穴に挿入された光ファイバのコア中心の設
計位置が正確になり、偏心も正確に測定できる。さら
に、ダミーパイプにダミー用の光ファイバを挿入すれ
ば、全ての出射照明光を同一条件で測定でき、偏心も正
確に求まる。 特に、本発明では、ダミーパイプの端面
における外形中心と貫通穴の中心との偏心をあらかじめ
測定することにより、或いは、ダミーパイプの端面にお
ける外形中心とダミー用の光ファイバのコアの中心との
偏心をあらかじめ測定することにより、これらの偏心が
あっても、ダミーパイプをガイドピン穴に挿入した状態
でダミーパイプを回転することなく１回のみ測定を行っ
て補正すれば、ガイドピン穴の真の中心位置を求めるこ
とができる。 また、本発明に係る光コネクタ製造方法
によれば、上記の本発明に係るコア偏心測定方法により
コアの偏心を測定するステップを備えているので、低損
失で安定した光コネクタを得ることができる。
【００１０】
【実施例】以下、添付図面により本発明の実施例を説明
する。図１は実施例の方法が適用されるコア偏心測定装
置の全体構成を示す斜視図であり、図２はその機能構成
を示すブロック図である。
する。図１は実施例の方法が適用されるコア偏心測定装
置の全体構成を示す斜視図であり、図２はその機能構成
を示すブロック図である。
【００１１】図１に示すように、光コネクタ１０１は水
平面上で回転可能な回転ステージ１１上にセットされ、
この回転ステージ１１は水平なＹ方向にリニア駆動され
るＹ軸ステージ１２上に取り付けられ、Ｙ軸ステージ１
２はＹ方向と直交するＸ方向にリニア駆動されるＸ軸ス
テージ１３上に取り付けられる。光コネクタ１０１の上
方には対物レンズ２１を取り付けた顕微鏡２２がセット
され、この顕微鏡２２にはＣＣＤカメラ２３がマウント
されている。さらに、顕微鏡２２の側方には反射型ＡＦ
（オートフォーカス）装置２４が取り付けられ、これら
は垂直方向（Ｚ方向）に可動なＺ軸ステージ１４に取り
付けられている。
平面上で回転可能な回転ステージ１１上にセットされ、
この回転ステージ１１は水平なＹ方向にリニア駆動され
るＹ軸ステージ１２上に取り付けられ、Ｙ軸ステージ１
２はＹ方向と直交するＸ方向にリニア駆動されるＸ軸ス
テージ１３上に取り付けられる。光コネクタ１０１の上
方には対物レンズ２１を取り付けた顕微鏡２２がセット
され、この顕微鏡２２にはＣＣＤカメラ２３がマウント
されている。さらに、顕微鏡２２の側方には反射型ＡＦ
（オートフォーカス）装置２４が取り付けられ、これら
は垂直方向（Ｚ方向）に可動なＺ軸ステージ１４に取り
付けられている。
【００１２】一方、回転ステージ１１、Ｙ軸ステージ１
２、Ｘ軸ステージ１３およびＺ軸ステージ１４の平行移
動する側面にはリニアスケールに代表される測長器が備
えられ、この動きをセンサ３１〜３４で検出して、移動
量に応じたパルスを出力するようになっている。また、
光源４０が別途に設けられ、ここからの照明光が光ファ
イバ４１を介して、あるいは光学レンズ（図示せず）を
介して光コネクタ１０１に送られるようになっている。
この照明光は、光コネクタ１０１のガイドピン穴１０５
に直接導かれ、あるいは光コネクタ１０１のファイバ穴
１０６に挿入された光ファイバに導かれる。
２、Ｘ軸ステージ１３およびＺ軸ステージ１４の平行移
動する側面にはリニアスケールに代表される測長器が備
えられ、この動きをセンサ３１〜３４で検出して、移動
量に応じたパルスを出力するようになっている。また、
光源４０が別途に設けられ、ここからの照明光が光ファ
イバ４１を介して、あるいは光学レンズ（図示せず）を
介して光コネクタ１０１に送られるようになっている。
この照明光は、光コネクタ１０１のガイドピン穴１０５
に直接導かれ、あるいは光コネクタ１０１のファイバ穴
１０６に挿入された光ファイバに導かれる。
【００１３】図２に示すように、回転ステージ１１は回
転駆動機構５１により、Ｙ軸ステージ１２はＹ軸駆動機
構５２により、Ｘ軸ステージ１３はＸ軸駆動機構５３に
より、Ｚ軸ステージ１４はＺ軸駆動機構５４により可動
となっており、これら駆動機構５１〜５４はステッピン
グモータなどで構成され、それぞれステージドライバ５
５によりコントロールされる。また、センサ３１〜３４
の出力パルスはカウンタ３５により計数され、移動量が
モニタされる。なお、回転ステージ１１は本実施例にお
いては通常は固定状態で使用される。しかしながら、光
コネクタ１０１がＸおよびＹ軸に対し大きく傾いている
場合等、必要があれば駆動して使用することもできる。
転駆動機構５１により、Ｙ軸ステージ１２はＹ軸駆動機
構５２により、Ｘ軸ステージ１３はＸ軸駆動機構５３に
より、Ｚ軸ステージ１４はＺ軸駆動機構５４により可動
となっており、これら駆動機構５１〜５４はステッピン
グモータなどで構成され、それぞれステージドライバ５
５によりコントロールされる。また、センサ３１〜３４
の出力パルスはカウンタ３５により計数され、移動量が
モニタされる。なお、回転ステージ１１は本実施例にお
いては通常は固定状態で使用される。しかしながら、光
コネクタ１０１がＸおよびＹ軸に対し大きく傾いている
場合等、必要があれば駆動して使用することもできる。
【００１４】ＣＣＤカメラ２３の出力（画像データ）は
画像処理装置６１に送られ、輪郭検出や中心位置演算が
なされると共に、画像ＡＦ装置６２にも送られて焦点合
わせに供される。この画像処理装置６１および画像ＡＦ
装置６２の出力はＣＰＵ６３に送られ、ＣＲＴ６４で適
宜表示される。なお、ＣＰＵ６３は反射型ＡＦ装置２４
およびステージドライバ５５をコントロールすると共
に、光源ドライバ４２を介して光ファイバ４１照明用の
光源４０Ａおよびガイドピン穴１０５照明用の光源４０
Ｂをコントロールしている。
画像処理装置６１に送られ、輪郭検出や中心位置演算が
なされると共に、画像ＡＦ装置６２にも送られて焦点合
わせに供される。この画像処理装置６１および画像ＡＦ
装置６２の出力はＣＰＵ６３に送られ、ＣＲＴ６４で適
宜表示される。なお、ＣＰＵ６３は反射型ＡＦ装置２４
およびステージドライバ５５をコントロールすると共
に、光源ドライバ４２を介して光ファイバ４１照明用の
光源４０Ａおよびガイドピン穴１０５照明用の光源４０
Ｂをコントロールしている。
【００１５】図３は実施例における光コネクタ１０１の
状態を示している。両側には互いに平行な２本のガイド
ピン穴１０５が形成され、その間に多数本のファイバ穴
１０６が形成されている。そして、ファイバ穴１０６に
は光ファイバ４１が挿入され、光コネクタ１０１の前端
面でファイバ穴１０６の開口から光ファイバ４１の端面
が露出している。光源４０Ａからの照明光はこの光ファ
イバ４１の後端部からレンズ（図示せず）を介して入射
され、光源４０Ｂからの照明光は光コネクタ１０１の後
方からレンズ（図示せず）を介してガイドピン穴１０５
に直接入射される。
状態を示している。両側には互いに平行な２本のガイド
ピン穴１０５が形成され、その間に多数本のファイバ穴
１０６が形成されている。そして、ファイバ穴１０６に
は光ファイバ４１が挿入され、光コネクタ１０１の前端
面でファイバ穴１０６の開口から光ファイバ４１の端面
が露出している。光源４０Ａからの照明光はこの光ファ
イバ４１の後端部からレンズ（図示せず）を介して入射
され、光源４０Ｂからの照明光は光コネクタ１０１の後
方からレンズ（図示せず）を介してガイドピン穴１０５
に直接入射される。
【００１６】図４は反射型ＡＦ装置２４の詳細な構成を
示している。これは、臨界角法による合焦検出装置であ
り、被測定面（光コネクタ１０１の前端面）に垂直方向
（光ファイバ４１に対し同軸方向）から光が入射され
る。光源２４１からの測定光はコリメートレンズ２４２
によって平行光とされ、偏光ビームスプリッタ２４３に
入射され、直角方向に反射される。反射光は１／４波長
板２４４を通ることによって偏波面が４５°回転され、
集光（または対物）レンズ２４５により集束される。
示している。これは、臨界角法による合焦検出装置であ
り、被測定面（光コネクタ１０１の前端面）に垂直方向
（光ファイバ４１に対し同軸方向）から光が入射され
る。光源２４１からの測定光はコリメートレンズ２４２
によって平行光とされ、偏光ビームスプリッタ２４３に
入射され、直角方向に反射される。反射光は１／４波長
板２４４を通ることによって偏波面が４５°回転され、
集光（または対物）レンズ２４５により集束される。
【００１７】ここで、被測定面が集光レンズ２４５の焦
点位置にあるとき（実線の状態）は、反射光は同一の光
路を通って集光レンズ２４５で再び平行光とされ、１／
４波長板２４４を通って偏波面がさらに４５°回転され
る。これにより、反射光は偏光ビームスプリッタ２４３
に対して偏波面が直交することになるので、偏光ビーム
スプリッタ２４３をそのまま通過して臨界角プリズム２
４６に入射する。ここで、臨界角プリズム２４６は図中
の角度θが臨界角となっているので、入射光は全反射す
ることになり、反射光は２分割センサ２４７に入射され
る。したがって、２分割センサ２４７の双方の受光面に
等しく光が入射され、被測定面が合焦位置にあることが
わかる。
点位置にあるとき（実線の状態）は、反射光は同一の光
路を通って集光レンズ２４５で再び平行光とされ、１／
４波長板２４４を通って偏波面がさらに４５°回転され
る。これにより、反射光は偏光ビームスプリッタ２４３
に対して偏波面が直交することになるので、偏光ビーム
スプリッタ２４３をそのまま通過して臨界角プリズム２
４６に入射する。ここで、臨界角プリズム２４６は図中
の角度θが臨界角となっているので、入射光は全反射す
ることになり、反射光は２分割センサ２４７に入射され
る。したがって、２分割センサ２４７の双方の受光面に
等しく光が入射され、被測定面が合焦位置にあることが
わかる。
【００１８】これに対し、被測定面が図中の点線のよう
に反射型ＡＦ装置２４から離れたときには、集光レンズ
２４５を通った後の反射光は集束光となり、この状態で
臨界角プリズム２４６に入射される。すると、臨界角プ
リズム２４６の反射面への入射光の入射角度は、片側で
は臨界角θ以上となり、反対側ではθ以下となるので、
臨界角θ以下の光のみが反射されて２分割センサ２４７
に検出される。このため、２分割センサ２４７の双方の
受光面での検出レベルを比較すれば、被測定面が離れた
ことが判明する。逆に、被測定面が焦点位置よりも接近
したときは、２分割センサ２４７の出力比は逆になるの
で、接近したことがわかる。これにより合焦検出が可能
となる。
に反射型ＡＦ装置２４から離れたときには、集光レンズ
２４５を通った後の反射光は集束光となり、この状態で
臨界角プリズム２４６に入射される。すると、臨界角プ
リズム２４６の反射面への入射光の入射角度は、片側で
は臨界角θ以上となり、反対側ではθ以下となるので、
臨界角θ以下の光のみが反射されて２分割センサ２４７
に検出される。このため、２分割センサ２４７の双方の
受光面での検出レベルを比較すれば、被測定面が離れた
ことが判明する。逆に、被測定面が焦点位置よりも接近
したときは、２分割センサ２４７の出力比は逆になるの
で、接近したことがわかる。これにより合焦検出が可能
となる。
【００１９】この臨界角法は、図５に実線で示すよう
に、光ファイバ４１への光源４０からの光の入射と同軸
方向から、合焦操作用の測定光を光コネクタ１０１の前
端面にある光ファイバ４１の端面に照射するものである
が、この構成を採用するために、光路上には波長選択性
のビームスプリッタ２４０が設けられる。すなわち、ビ
ームスプリッタ２４０については、光源４０からの白色
光（実線）を透過し、反射型ＡＦ装置２４の光源２４１
からの赤外光（例えば波長８３０ｎｍ）は反射するよう
に構成する。これにより、ＣＣＤカメラ２３による撮像
と反射型ＡＦ装置２４による合焦操作が同時に実行でき
る。
に、光ファイバ４１への光源４０からの光の入射と同軸
方向から、合焦操作用の測定光を光コネクタ１０１の前
端面にある光ファイバ４１の端面に照射するものである
が、この構成を採用するために、光路上には波長選択性
のビームスプリッタ２４０が設けられる。すなわち、ビ
ームスプリッタ２４０については、光源４０からの白色
光（実線）を透過し、反射型ＡＦ装置２４の光源２４１
からの赤外光（例えば波長８３０ｎｍ）は反射するよう
に構成する。これにより、ＣＣＤカメラ２３による撮像
と反射型ＡＦ装置２４による合焦操作が同時に実行でき
る。
【００２０】また、図５に一点鎖線で示すように、光源
２４８から光を斜軸方向に入射し、反射光をカメラ２４
９で撮像して合焦検出してもよい。すなわち、本発明で
は図４のような臨界角法のみならず、他の方式による合
焦検出、たとえばナイフエッジ法や非点収差法を用いる
ことも可能である。
２４８から光を斜軸方向に入射し、反射光をカメラ２４
９で撮像して合焦検出してもよい。すなわち、本発明で
は図４のような臨界角法のみならず、他の方式による合
焦検出、たとえばナイフエッジ法や非点収差法を用いる
ことも可能である。
【００２１】光ファイバ４１への入射光の波長すなわち
光源４０の発光波長については、特に制限はないが、光
ファイバ４１のカットオフ波長より長い波長の光である
ことが望ましい。すなわち、図６に示すように、カット
オフ波長より長いとシングルモードとなり、光ファイバ
４１からの出射光の強度分布はガウス分布（同図
（ａ））となるので、光ファイバ４１のコア中心位置が
正確に求まる。これに対し、カットオフ波長より短いと
同図（ｂ）のマルチモード型の光強度分布となる。しか
し、この場合であっても、反射型ＡＦ装置２４を用いて
正確に合焦させることにより、正確なコア中心の測定が
可能になる。
光源４０の発光波長については、特に制限はないが、光
ファイバ４１のカットオフ波長より長い波長の光である
ことが望ましい。すなわち、図６に示すように、カット
オフ波長より長いとシングルモードとなり、光ファイバ
４１からの出射光の強度分布はガウス分布（同図
（ａ））となるので、光ファイバ４１のコア中心位置が
正確に求まる。これに対し、カットオフ波長より短いと
同図（ｂ）のマルチモード型の光強度分布となる。しか
し、この場合であっても、反射型ＡＦ装置２４を用いて
正確に合焦させることにより、正確なコア中心の測定が
可能になる。
【００２２】光ファイバ４１のコア中心を求めるための
端面画像のエッジ検出は、図７（ａ）のように、端面の
パターンの輝度変化をＸ，Ｙ方向で調べて変化点すなわ
ちエッジを求め、このエッジの組み合わせから円のパタ
ーンを検出してもよいが、図７（ｂ），（ｃ）に示すよ
うにメモリ一括方式によって行なってもよい。すなわ
ち、光ファイバ４１からの出射光を複数の撮像範囲に別
けてＣＣＤカメラ２３で撮像し、画像処理装置６１に内
蔵されたフレームメモリに格納する。そして、図７
（ｃ）のようにエッジに対応するアドレスから、最小二
乗法により円の方程式を計算する。これにより、円の中
心すなわち光ファイバ４１のコア中心位置の座標が求ま
る。
端面画像のエッジ検出は、図７（ａ）のように、端面の
パターンの輝度変化をＸ，Ｙ方向で調べて変化点すなわ
ちエッジを求め、このエッジの組み合わせから円のパタ
ーンを検出してもよいが、図７（ｂ），（ｃ）に示すよ
うにメモリ一括方式によって行なってもよい。すなわ
ち、光ファイバ４１からの出射光を複数の撮像範囲に別
けてＣＣＤカメラ２３で撮像し、画像処理装置６１に内
蔵されたフレームメモリに格納する。そして、図７
（ｃ）のようにエッジに対応するアドレスから、最小二
乗法により円の方程式を計算する。これにより、円の中
心すなわち光ファイバ４１のコア中心位置の座標が求ま
る。
【００２３】次に、上記の装置を用いて実行される光コ
ネクタのコア偏心測定方法を説明する。図８はそのフロ
ーチャートである。まず、図１のように光コネクタ１０
１を回転ステージ１１の上面にセットし（ステップ８０
１）、Ｙ軸ステージ１２およびＸ軸ステージ１３を駆動
して一方のガイドピン穴１０５に顕微鏡２２を位置合わ
せし、反射型ＡＦ装置２４とＺ軸ステージ１４により合
焦操作を行なう（ステップ８０２）。次に、光源４０Ｂ
を点灯して照明光をガイドピン穴１０５に投光し、ＣＣ
Ｄカメラ２３により透過照明光の撮像を行なう（ステッ
プ８０３）。しかる後、他方のガイドピン穴１０５に位
置合わせしてステップ８０２，８０３と同様の操作を行
なう（ステップ８０４，８０５）。
ネクタのコア偏心測定方法を説明する。図８はそのフロ
ーチャートである。まず、図１のように光コネクタ１０
１を回転ステージ１１の上面にセットし（ステップ８０
１）、Ｙ軸ステージ１２およびＸ軸ステージ１３を駆動
して一方のガイドピン穴１０５に顕微鏡２２を位置合わ
せし、反射型ＡＦ装置２４とＺ軸ステージ１４により合
焦操作を行なう（ステップ８０２）。次に、光源４０Ｂ
を点灯して照明光をガイドピン穴１０５に投光し、ＣＣ
Ｄカメラ２３により透過照明光の撮像を行なう（ステッ
プ８０３）。しかる後、他方のガイドピン穴１０５に位
置合わせしてステップ８０２，８０３と同様の操作を行
なう（ステップ８０４，８０５）。
【００２４】上記のようにして撮像データが双方のガイ
ドピン穴１０５について得られたら、これを画像処理装
置６１のフレームメモリから取り出し、図７（ｂ），
（ｃ）に示した手法によって輪郭を検出し、双方のガイ
ドピン穴１０５の中心位置の計算を行なう（ステップ８
０６）。しかる後、図９（ａ），（ｂ）のようにしてフ
ァイバ穴１０６に挿入された光ファイバ４１のコア中心
位置の設計値を求める（ステップ８０７）。図９（ａ）
は光コネクタ１０１を前端面から見た正面図である。こ
の光コネクタ１０１に対し、ガイドピン穴１０５に投光
して撮像すると同図 （ｂ）のパターンが得られ、ガイ
ドピン穴１０５の中心が計算できる。そこで、この中心
位置と設計データを用いれば、光ファイバ４１のコア中
心が位置すべき設計位置が計算できる。
ドピン穴１０５について得られたら、これを画像処理装
置６１のフレームメモリから取り出し、図７（ｂ），
（ｃ）に示した手法によって輪郭を検出し、双方のガイ
ドピン穴１０５の中心位置の計算を行なう（ステップ８
０６）。しかる後、図９（ａ），（ｂ）のようにしてフ
ァイバ穴１０６に挿入された光ファイバ４１のコア中心
位置の設計値を求める（ステップ８０７）。図９（ａ）
は光コネクタ１０１を前端面から見た正面図である。こ
の光コネクタ１０１に対し、ガイドピン穴１０５に投光
して撮像すると同図 （ｂ）のパターンが得られ、ガイ
ドピン穴１０５の中心が計算できる。そこで、この中心
位置と設計データを用いれば、光ファイバ４１のコア中
心が位置すべき設計位置が計算できる。
【００２５】次に、図８のステップ８０８，８０９の操
作を行なう。すなわち光ファイバ４１に顕微鏡２２を位
置合わせし、反射型ＡＦ装置２４とＺ軸ステージ１４に
よる合焦操作を行なう。そして、光源４０Ａによりその
光ファイバ４１に照明光を入射し、出射光をＣＣＤカメ
ラ２３で撮像し、結果を画像処理装置６１のフレームメ
モリに取り組む。上記の操作は全ての光ファイバ４１に
対して行ない（ステップ８１０）、終了したら各々の光
ファイバ４１のコア中心位置の計算を行なう（ステップ
８１１）。なお、この場合の輪郭のパターン検出は、図
７（ｂ），（ｃ）の手法により行なう。
作を行なう。すなわち光ファイバ４１に顕微鏡２２を位
置合わせし、反射型ＡＦ装置２４とＺ軸ステージ１４に
よる合焦操作を行なう。そして、光源４０Ａによりその
光ファイバ４１に照明光を入射し、出射光をＣＣＤカメ
ラ２３で撮像し、結果を画像処理装置６１のフレームメ
モリに取り組む。上記の操作は全ての光ファイバ４１に
対して行ない（ステップ８１０）、終了したら各々の光
ファイバ４１のコア中心位置の計算を行なう（ステップ
８１１）。なお、この場合の輪郭のパターン検出は、図
７（ｂ），（ｃ）の手法により行なう。
【００２６】以上のように、ステップ８０７までの操作
で光ファイバ４１のコア中心の設計位置が計算で求ま
り、ステップ８１１までの操作で光ファイバ４１のコア
中心の実測位置が求まったら、その差を求める。すなわ
ち、図９（ｃ）のように光ファイバ４１のパターンが撮
像され、その中心が求まったら、図９（ｂ）のように設
計値との差ΔｘあるいはΔｙを求める。なお、図９
（ｂ）において、丸印は実測中心であり、クロス印は設
計中心である。
で光ファイバ４１のコア中心の設計位置が計算で求ま
り、ステップ８１１までの操作で光ファイバ４１のコア
中心の実測位置が求まったら、その差を求める。すなわ
ち、図９（ｃ）のように光ファイバ４１のパターンが撮
像され、その中心が求まったら、図９（ｂ）のように設
計値との差ΔｘあるいはΔｙを求める。なお、図９
（ｂ）において、丸印は実測中心であり、クロス印は設
計中心である。
【００２７】次に、第２実施例に係る光コネクタのコア
偏心測定方法を説明する。図１０はこの場合の光コネク
タ１０１の縦断面図であり、ガイドピン穴１０５の近傍
のみを拡大して示している。図示の通り、ガイドピン穴
１０５には中心軸方向に貫通穴９２を有するダミーパイ
プ９１が挿入されており、このダミーパイプ９１は光コ
ネクタ１０１の構成材料に比べて高硬度の材料で形成さ
れている。このため、貫通穴９２の端部はダレ９３の生
じたガイドピン穴１０５の端部に比べて鋭角になってい
る。
偏心測定方法を説明する。図１０はこの場合の光コネク
タ１０１の縦断面図であり、ガイドピン穴１０５の近傍
のみを拡大して示している。図示の通り、ガイドピン穴
１０５には中心軸方向に貫通穴９２を有するダミーパイ
プ９１が挿入されており、このダミーパイプ９１は光コ
ネクタ１０１の構成材料に比べて高硬度の材料で形成さ
れている。このため、貫通穴９２の端部はダレ９３の生
じたガイドピン穴１０５の端部に比べて鋭角になってい
る。
【００２８】このダレ９３は、光コネクタ１０１の前端
面の研磨等により生じるものであるが、これがあると透
過照明光の撮像画面の輪郭が不明確になり、中心位置の
計算が正確に行えない。そこで、図１０のようなダミー
パイプ９１を挿入し、前端面の研磨を行なう。そして、
この貫通穴９２からの透過照明光をＣＣＤカメラ２３で
撮像すれば、正確なエッジ検出による正確な中心位置が
計算できる。
面の研磨等により生じるものであるが、これがあると透
過照明光の撮像画面の輪郭が不明確になり、中心位置の
計算が正確に行えない。そこで、図１０のようなダミー
パイプ９１を挿入し、前端面の研磨を行なう。そして、
この貫通穴９２からの透過照明光をＣＣＤカメラ２３で
撮像すれば、正確なエッジ検出による正確な中心位置が
計算できる。
【００２９】図１１は上記実施例を一部変形した場合の
光コネクタ１０１の断面図である。この変形例では、ダ
ミーパイプ９１の貫通穴９２にダミー用に光ファイバ９
４が挿入されている。このため、光ファイバ９４の外径
が例えば１２５μｍであるときは、貫通穴９２の内径は
１２６μｍとされている。この実施例では、光ファイバ
９４の一方の端面に光源４０Ｂからの照明光が入射され
る。そして、光ファイバ９４の他方の端面（光コネクタ
１０１の前端面）からの出射光がＣＣＤカメラ２３で撮
像される。この構成によれば、ダミーパイプ９１をとく
に高硬度の材料とすることなく（もちろん、高硬度であ
ってもよい）、正確な中心検出が行える。
光コネクタ１０１の断面図である。この変形例では、ダ
ミーパイプ９１の貫通穴９２にダミー用に光ファイバ９
４が挿入されている。このため、光ファイバ９４の外径
が例えば１２５μｍであるときは、貫通穴９２の内径は
１２６μｍとされている。この実施例では、光ファイバ
９４の一方の端面に光源４０Ｂからの照明光が入射され
る。そして、光ファイバ９４の他方の端面（光コネクタ
１０１の前端面）からの出射光がＣＣＤカメラ２３で撮
像される。この構成によれば、ダミーパイプ９１をとく
に高硬度の材料とすることなく（もちろん、高硬度であ
ってもよい）、正確な中心検出が行える。
【００３０】図１２は図１０，図１１の実施例を変形し
た例を示すダミーパイプ９１の端面図である。貫通穴９
２は望ましくはダミーパイプ９１の中心軸に形成される
のが、実際には偏位しやすく、この偏位（図１２（ａ）
のΔＸ，ΔＹ）があると光コネクタ１０１のガイドピン
穴１０５中心が正確に認識できない。そこで、図１２
（ｂ）のように第１回目の測定を行った後に、ダミーパ
イプ９１を１８０°回転させ、第２回目の測定を行う。
すると、測定された貫通穴９２の２つの中心位置は、ダ
ミーパイプ９１の本来の中心位置に対して点対称となる
ので、両者の測定値の平均を求めることにより、真の中
心位置が得られる。また、ダミーパイプの外径に対する
貫通穴または貫通穴に挿入された光ファイバ自体のコア
の偏心を測定する手段を備え、光ファイバ自体の偏心を
予め測定しておくことも考えられる。このようにするな
らば、上述のように測定を２回行うことなく１度だけ行
えば良く、後に光ファイバ自体の偏心のデータで補正す
れば良い。
た例を示すダミーパイプ９１の端面図である。貫通穴９
２は望ましくはダミーパイプ９１の中心軸に形成される
のが、実際には偏位しやすく、この偏位（図１２（ａ）
のΔＸ，ΔＹ）があると光コネクタ１０１のガイドピン
穴１０５中心が正確に認識できない。そこで、図１２
（ｂ）のように第１回目の測定を行った後に、ダミーパ
イプ９１を１８０°回転させ、第２回目の測定を行う。
すると、測定された貫通穴９２の２つの中心位置は、ダ
ミーパイプ９１の本来の中心位置に対して点対称となる
ので、両者の測定値の平均を求めることにより、真の中
心位置が得られる。また、ダミーパイプの外径に対する
貫通穴または貫通穴に挿入された光ファイバ自体のコア
の偏心を測定する手段を備え、光ファイバ自体の偏心を
予め測定しておくことも考えられる。このようにするな
らば、上述のように測定を２回行うことなく１度だけ行
えば良く、後に光ファイバ自体の偏心のデータで補正す
れば良い。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、ファイバ穴にあらかじ
め光ファイバを挿入しておき、この光ファイバからの出
射照明光が撮像されるので、光ファイバのコア自体の偏
心が極めて高精度に測定できる。また、高硬度の材料か
らなるダミーパイプをガイドピン穴に挿入すれば、透過
照明光の輪郭は明瞭となるので、ファイバ穴に挿入され
た光ファイバのコア中心の設計位置が正確になり、偏心
も更に正確に測定できる。さらに、ダミーパイプにダミ
ー用の光ファイバを挿入すれば、全ての出射照明光を同
一条件で測定でき、偏心も正確に求まる。また、この方
法で偏心を測定した光コネクタは、常に低損失で安定し
た製品として市場に供給することができ、さらに、損失
測定の際のマスタコネクタの選別にも使用されるため、
信頼性の極めて高い光コネクタを選別することができ
る。
め光ファイバを挿入しておき、この光ファイバからの出
射照明光が撮像されるので、光ファイバのコア自体の偏
心が極めて高精度に測定できる。また、高硬度の材料か
らなるダミーパイプをガイドピン穴に挿入すれば、透過
照明光の輪郭は明瞭となるので、ファイバ穴に挿入され
た光ファイバのコア中心の設計位置が正確になり、偏心
も更に正確に測定できる。さらに、ダミーパイプにダミ
ー用の光ファイバを挿入すれば、全ての出射照明光を同
一条件で測定でき、偏心も正確に求まる。また、この方
法で偏心を測定した光コネクタは、常に低損失で安定し
た製品として市場に供給することができ、さらに、損失
測定の際のマスタコネクタの選別にも使用されるため、
信頼性の極めて高い光コネクタを選別することができ
る。
【図１】実施例の光コネクタのコア偏心測定方法が適用
される装置の斜視図。
される装置の斜視図。
【図２】実施例の光コネクタのコア偏心測定方法が適用
される装置のブロック図。
される装置のブロック図。
【図３】実施例に係るコネクタの斜視図。
【図４】臨界角法による合焦検出の説明図。
【図５】合焦検出の説明図。
【図６】光ファイバからの出射光の強度分布図。
【図７】中心位置検出の説明図。
【図８】実施例に係る光コネクタのコア偏心測定方法を
示すフローチャート。
示すフローチャート。
【図９】実施例に係る光コネクタのコア偏心測定方法を
示す光コネクタの図。
示す光コネクタの図。
【図１０】変形例を示す光コネクタの要部断面図。
【図１１】変形例を示す光コネクタの要部断面図。
【図１２】変形例を示すダミーパイプの図。
【図１３】従来例を示す斜視図。
１０１…光コネクタ、１０２…照明光源、１０４…撮像
デバイス、１０５…ガイドピン穴、１０６…ファイバ
穴、１０７…画像処理装置、１１…回転ステージ、１２
…Ｙ軸ステージ、２１…対物レンズ、２２…顕微鏡、２
３…ＣＣＤカメラ、２４…反射型ＡＦ装置、１４…Ｚ軸
ステージ、４０…光源、４１…光ファイバ、５１…回転
駆動機構、５２…Ｙ軸駆動機構、５３…Ｘ軸駆動機構、
５４…Ｚ軸駆動機構、５５…ステージドライバ、６１…
画像処理装置、６２…画像ＡＦ装置、６３…ＣＰＵ、６
４…ＣＲＴ、２４１…光源、２４２…集光レンズ、２４
３…偏光ビームスプリッタ、２４４…１／４波長板、２
４５…集光レンズ、２４６…臨界角プリズム、２４７…
２分割センサ、２４０…ビームスプリッタ、９２…貫通
穴、９１…ダミーピン、９４…光ファイバ。
デバイス、１０５…ガイドピン穴、１０６…ファイバ
穴、１０７…画像処理装置、１１…回転ステージ、１２
…Ｙ軸ステージ、２１…対物レンズ、２２…顕微鏡、２
３…ＣＣＤカメラ、２４…反射型ＡＦ装置、１４…Ｚ軸
ステージ、４０…光源、４１…光ファイバ、５１…回転
駆動機構、５２…Ｙ軸駆動機構、５３…Ｘ軸駆動機構、
５４…Ｚ軸駆動機構、５５…ステージドライバ、６１…
画像処理装置、６２…画像ＡＦ装置、６３…ＣＰＵ、６
４…ＣＲＴ、２４１…光源、２４２…集光レンズ、２４
３…偏光ビームスプリッタ、２４４…１／４波長板、２
４５…集光レンズ、２４６…臨界角プリズム、２４７…
２分割センサ、２４０…ビームスプリッタ、９２…貫通
穴、９１…ダミーピン、９４…光ファイバ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長沢 真二 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平４−199008（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−67833（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 G02B 6/36 - 6/40
Claims (3)
- 【請求項１】 接続時の位置を決める少なくとも２本の
ガイドピン穴が形成され、１本もしくは複数本の光ファ
イバがそれぞれ１本もしくは複数本のファイバ穴に挿入
状態で固定され、前端面で前記光ファイバの端面が略同
一平面に配置された光コネクタを用意する第１ステップ
と、 前記ガイドピン穴の構成材料よりも硬い材料で構成され
貫通穴が形成されたダミーパイプを用意し、このダミー
パイプの端面における外形中心と前記貫通穴の中心との
偏心をあらかじめ測定する第２ステップと、 前記ダミーパイプを前記ガイドピン穴に挿入する第３ス
テップと、 前記貫通穴に後端面側から照明光を入射し、前端面側で
透過照明光を撮像することにより、前記貫通穴の中心位
置を求める第４ステップと、 この第４ステップで求めた前記貫通穴の中心位置と設計
データとに基づくとともに、前記第２ステップで測定し
た偏心に基づいて補正して、前記ファイバ穴に挿入され
た前記光ファイバのコア中心の設計位置を求める第５ス
テップと、 前記ファイバ穴に挿入された前記光ファイバに後端面側
から照明光を入射し、前端面側で当該光ファイバからの
出射照明光を撮像することにより、当該光ファイバのコ
アの中心位置を求める第６ステップとを備え、前記光フ
ァイバのコア中心位置の前記設計位置からのずれを測定
することを特徴とする光コネクタのコア偏心測定方法。 - 【請求項２】 接続時の位置を決める少なくとも２本の
ガイドピン穴が形成され、１本もしくは複数本の光ファ
イバがそれぞれ１本もしくは複数本のファイバ穴に挿入
状態で固定され、前端面で前記光ファイバの端面が略同
一平面に配置された光コネクタを用意する第１ステップ
と、 ダミー用の光ファイバが挿入されてなる貫通穴が形成さ
れたダミーパイプを用意し、このダミーパイプの端面に
おける外形中心と前記ダミー用の光ファイバのコアの中
心との偏心をあらかじめ測定する第２ステップと、 前記ダミーパイプを前記ガイドピン穴に挿入する第３ス
テップと、 前記ダミー用の光ファイバに後端面側から照明光を入射
し、前端面側で前記ダミー用の光ファイバからの出射照
明光を撮像することにより、前記ダミー用の光ファイバ
のコアの中心位置を求める第４ステップと、 この第４ステップで求めた前記ダミー用の光ファイバの
コアの中心位置と設計データとに基づくとともに、前記
第２ステップで測定した偏心に基づいて補正して、前記
ファイバ穴に挿入された前記光ファイバのコア中心の設
計位置を求める第５ステップと、 前記ファイバ穴に挿入された前記光ファイバに後端面側
から照明光を入射し、前端面側で当該光ファイバからの
出射照明光を撮像することにより、当該光ファイバのコ
アの中心位置を求める第６ステップとを備え、前記ファ
イバ穴に挿入された光ファイバのコア中心位置の前記設
計位置からのずれを測定することを特徴とする光コネク
タのコア偏心測定方法。 - 【請求項３】 接続時の位置を決める少なくとも２本の
ガイドピン穴が形成され、１本もしくは複数本の光ファ
イバがそれぞれ１本もしくは複数本のファイバ穴に挿入
状態で固定され、前端面で前記光ファイバの端面が略同
一平面に配置された光コネクタを製造する方法であっ
て、請求項１または２に記載の光コネクタのコア偏心測
定方法によりコア偏心を測定するステップを備えること
を特徴とする光コネクタ製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22606492A JP3256286B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22606492A JP3256286B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0674863A JPH0674863A (ja) | 1994-03-18 |
| JP3256286B2 true JP3256286B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=16839242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22606492A Expired - Fee Related JP3256286B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3256286B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014145979A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Fujitsu Ltd | 光コネクタの製造方法、光コネクタ製造装置、及び光コネクタ |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6330301B1 (en) * | 1999-12-17 | 2001-12-11 | Osmic, Inc. | Optical scheme for high flux low-background two-dimensional small angle x-ray scattering |
| US8699012B2 (en) * | 2010-03-17 | 2014-04-15 | Tyco Electronics Nederland B.V. | Optical fiber alignment measurement method and apparatus |
| JP5939389B2 (ja) * | 2012-06-11 | 2016-06-22 | 株式会社島津製作所 | 光検出器 |
| JP6207847B2 (ja) * | 2013-03-05 | 2017-10-04 | シナジーオプトシステムズ株式会社 | 検出装置および検出方法 |
| KR101459608B1 (ko) * | 2013-05-16 | 2014-11-07 | 조선대학교산학협력단 | 광점퍼코드 단면 자동 검사 장치 |
| CN104965265B (zh) * | 2015-07-27 | 2016-09-14 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种可视化光纤装配装置 |
| CN106291839A (zh) * | 2016-09-27 | 2017-01-04 | 江苏奥雷光电有限公司 | 一种四通道小型可热插拔光模块组装系统 |
| JP6496699B2 (ja) * | 2016-10-24 | 2019-04-03 | 日本電信電話株式会社 | 多心光コネクタフェルールの偏心測定装置および方法 |
| CN109946046B (zh) * | 2017-12-21 | 2022-01-07 | 宁波舜宇车载光学技术有限公司 | 偏心测试装置及方法 |
| CN110082076B (zh) * | 2019-05-29 | 2024-07-02 | 武汉楚星光纤应用技术有限公司 | 用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备及其检测方法 |
| US20230003615A1 (en) * | 2021-07-02 | 2023-01-05 | Kla Corporation | System and method of fiber location mapping in a multi-beam system |
| CN114136242B (zh) * | 2021-12-01 | 2024-01-12 | 南通大学 | 一种光纤预制棒偏心度测量装置 |
| CN115979589B (zh) * | 2023-03-21 | 2023-07-07 | 陕西中信机电有限公司 | 一种可靠性检测方法、系统、存储介质及智能终端 |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP22606492A patent/JP3256286B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014145979A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Fujitsu Ltd | 光コネクタの製造方法、光コネクタ製造装置、及び光コネクタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0674863A (ja) | 1994-03-18 |
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