JP3296992B2 - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 44
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 202
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 202
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 166
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 99
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 95
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 74
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 73
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 53
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims description 52
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 50
- 229920006015 heat resistant resin Polymers 0.000 claims description 31
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 23
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims description 22
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 21
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 18
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 17
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 15
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 13
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 56
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 33
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 25
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 25
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 24
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 21
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 19
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 17
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 16
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 15
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 13
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 12
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 11
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 9
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 8
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 8
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 8
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 8
- KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N prop-2-enoyloxy prop-2-eneperoxoate Chemical compound C=CC(=O)OOOC(=O)C=C KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- ZFSLODLOARCGLH-UHFFFAOYSA-N isocyanuric acid Chemical compound OC1=NC(O)=NC(O)=N1 ZFSLODLOARCGLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 description 7
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 7
- VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenone Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 6
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 5
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 5
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 5
- ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M phosphinate Chemical compound [O-][PH2]=O ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 5
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 5
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 4
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 4
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001453 nickel ion Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 4
- 239000003002 pH adjusting agent Substances 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 2,4-diethylthioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(CC)=CC(CC)=C3SC2=C1 BTJPUDCSZVCXFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OWYWGLHRNBIFJP-UHFFFAOYSA-N Ipazine Chemical group CCN(CC)C1=NC(Cl)=NC(NC(C)C)=N1 OWYWGLHRNBIFJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 3
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 3
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N Bipyridyl Chemical group N1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical compound OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N Nickel(2+) Chemical compound [Ni+2] VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUWOETZNAMLKMG-UHFFFAOYSA-N [P].[Ni].[Cu] Chemical compound [P].[Ni].[Cu] JUWOETZNAMLKMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 acryloxyethyl Chemical group 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920003180 amino resin Polymers 0.000 description 2
- ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N ammonium persulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXCZMVOFGPJBDE-UHFFFAOYSA-L calcium dihydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[Ca+2] AXCZMVOFGPJBDE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000920 calcium hydroxide Substances 0.000 description 2
- 229910001861 calcium hydroxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000015165 citric acid Nutrition 0.000 description 2
- 229910001429 cobalt ion Inorganic materials 0.000 description 2
- XLJKHNWPARRRJB-UHFFFAOYSA-N cobalt(2+) Chemical compound [Co+2] XLJKHNWPARRRJB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008139 complexing agent Substances 0.000 description 2
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 2
- 125000002485 formyl group Chemical group [H]C(*)=O 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L nickel sulfate Chemical compound [Ni+2].[O-]S([O-])(=O)=O LGQLOGILCSXPEA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910000363 nickel(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- HYIMSNHJOBLJNT-UHFFFAOYSA-N nifedipine Chemical compound COC(=O)C1=C(C)NC(C)=C(C(=O)OC)C1C1=CC=CC=C1[N+]([O-])=O HYIMSNHJOBLJNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 2
- PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L palladium(II) chloride Chemical compound Cl[Pd]Cl PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000012286 potassium permanganate Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BJEPYKJPYRNKOW-REOHCLBHSA-N (S)-malic acid Chemical compound OC(=O)[C@@H](O)CC(O)=O BJEPYKJPYRNKOW-REOHCLBHSA-N 0.000 description 1
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VZXTWGWHSMCWGA-UHFFFAOYSA-N 1,3,5-triazine-2,4-diamine Chemical compound NC1=NC=NC(N)=N1 VZXTWGWHSMCWGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-difluorophenoxy)pyridin-3-amine Chemical compound NC1=CC=CN=C1OC1=CC=C(F)C=C1F LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017755 Cu-Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017927 Cu—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 1
- NVEQHMCRCNAQRQ-UHFFFAOYSA-J NC(N)=S.Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl Chemical compound NC(N)=S.Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl NVEQHMCRCNAQRQ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 229910021586 Nickel(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001096 P alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ITBPIKUGMIZTJR-UHFFFAOYSA-N [bis(hydroxymethyl)amino]methanol Chemical compound OCN(CO)CO ITBPIKUGMIZTJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 1
- BJEPYKJPYRNKOW-UHFFFAOYSA-N alpha-hydroxysuccinic acid Natural products OC(=O)C(O)CC(O)=O BJEPYKJPYRNKOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910001870 ammonium persulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007514 bases Chemical class 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 1
- 150000001869 cobalt compounds Chemical class 0.000 description 1
- GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L cobalt dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Co+2] GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000361 cobalt sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940044175 cobalt sulfate Drugs 0.000 description 1
- KTVIXTQDYHMGHF-UHFFFAOYSA-L cobalt(2+) sulfate Chemical compound [Co+2].[O-]S([O-])(=O)=O KTVIXTQDYHMGHF-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical group [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003411 electrode reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- MSNOMDLPLDYDME-UHFFFAOYSA-N gold nickel Chemical compound [Ni].[Au] MSNOMDLPLDYDME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- GQZXNSPRSGFJLY-UHFFFAOYSA-N hydroxyphosphanone Chemical compound OP=O GQZXNSPRSGFJLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940005631 hypophosphite ion Drugs 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 1
- 239000001630 malic acid Substances 0.000 description 1
- 235000011090 malic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L nickel dichloride Chemical compound Cl[Ni]Cl QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 description 1
- 239000004848 polyfunctional curative Substances 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N sodium hypochlorite Chemical compound [Na+].Cl[O-] SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L sodium persulfate Substances [Na+].[Na+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- 229940095064 tartrate Drugs 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YFNKIDBQEZZDLK-UHFFFAOYSA-N triglyme Chemical compound COCCOCCOCCOC YFNKIDBQEZZDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical class OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
板の製造方法に関し、とくに、表面に凹凸を有する配線
基板の両面に、平滑で厚膜の層間樹脂絶縁層を短時間で
形成できる方法を確立し、生産性のより一層の改善を図
ろうとするものである。
いう要請から、いわゆるビルドアップ多層プリント配線
板が注目されている。このビルドアップ多層プリント配
線板は、例えば、特開平6−81154 号公報に開示されて
いるような方法により製造される。即ち、コア基板上
に、未硬化の層間樹脂絶縁剤(無電解めっき用接着剤)
をロールコータ等により塗布し、これを乾燥、硬化(露
光,現像,硬化)させて、バイアホール用開口を有する
層間樹脂絶縁層を形成し、次いで、この層間樹脂絶縁層
の表面を粗化したのち、その粗化面にめっきレジストを
設け、その後、レジスト非形成部分に無電解めっきを施
してバイアホールを含む導体回路パターンを形成し、そ
して、このような工程を複数回繰り返すことにより、多
層化したビルドアップ多層プリント配線板が得られる。
板の製造方法において、基板の両面に配線層を形成しよ
うとすると、該基板の両面には、層間樹脂絶縁層を形成
させることが必要となる。この層間樹脂絶縁層は、まず
基板の片面に未硬化の層間樹脂絶縁剤を塗布し、これを
乾燥させ、次いで、該基板を裏返して反対面に未硬化の
層間樹脂絶縁剤を塗布し、これを乾燥させ、その後、該
基板の両面に塗布した層間樹脂絶縁剤を硬化させること
により、基板両面に形成するのが一般的であった。
法において、基板の片面に未硬化の層間樹脂絶縁剤を塗
布するに当たっては、回転粘度計による粘度が6rpm で
0.5〜1.5 Pa・sである層間樹脂絶縁剤を用い、基板を
水平搬送しながらロールコータにて塗布する方法が採用
されている。かかる方法によれば、気泡などの混入を招
くことなく1回の塗布により20μm以上の厚みを確保し
た厚膜の層間樹脂絶縁層を形成することができる。
板の両面に層間樹脂絶縁層を形成する際に、塗布、乾燥
という一連の処理を表裏2回繰り返して行う必要があ
り、生産性を向上させる観点からは不利であり、層間樹
脂絶縁層の形成時間の短縮を図ることが重要な課題とな
っていた。
脂絶縁剤を片面に塗布した基板は、層間樹脂絶縁剤の乾
燥処理を終えた後、層間樹脂絶縁剤が未硬化の状態(B
ステージ状態)のまま、他方の面にも層間樹脂絶縁剤が
塗布される。このため、基板の両面に層間樹脂絶縁層を
形成する際に、層間樹脂絶縁層の形成面にゴミが付着す
るという不具合を招きやすく、多層プリント配線板の不
良の原因となった。
縁剤を片面にのみ塗布した基板は、層間樹脂絶縁剤を乾
燥する際に、溶剤の揮発に伴う絶縁樹脂の収縮によって
反る、という不具合があった。このため、バイアホール
の形成位置にずれが生じやすく、多層プリント配線板の
不良の原因となった。
法において、層間樹脂絶縁層の形成時間を何の不具合を
伴わずに短縮することができる方法として、配線基板の
両面に層間樹脂絶縁層を形成する際に、前記基板を一対
の塗布用ロールのロール間に挟み、層間樹脂絶縁剤を両
面同時に塗布する方法が有利である。このような層間樹
脂絶縁剤を両面同時に塗布する方法としては、基板を垂
直に立てた状態で行う方法と、基板を水平にした状態で
行う方法がある。
度計による粘度が6rpm で 0.5〜1.5 Pa・sである上記
層間樹脂絶縁剤を用い、基板を垂直に立てた状態でロー
ルコータにて両面同時に塗布すると、前記層間樹脂絶縁
剤は、それの粘度が低いので、塗布用ロールに転着しに
くく、基板に転写されても重力により下方に流れてしま
う。また、基板を水平にした状態で塗布する場合でも、
乾燥時には基板を垂直に立てることになるため、上記
0.5〜1.5 Pa・sの層間樹脂絶縁剤は、乾燥する際に重
力により下方に流れてしまう。そのため、上記の方法で
は、層間樹脂絶縁層の厚みを十分に確保することができ
ない。
体パターン等に起因した凹凸を有する配線基板の両面に
層間樹脂絶縁剤を塗布すると、前記凹凸の凹部にも層間
樹脂絶縁剤が充填されるので、層間樹脂絶縁層の表面に
は、前記導体パターンの凹凸に起因した窪みが発生する
という問題があった。
造方法において、表面に設けたバイアホールを含む導体
パターン等に起因した凹凸を有する配線基板の両面に、
平滑で厚膜の層間樹脂絶縁層を短時間で形成できる方法
を確立することにある。
実現に向け鋭意検討した結果、以下に示す内容を発明の
要旨構成とする方法を完成するに至った。すなわち、本
発明は、多層プリント配線板を製造するに当たって、表
面に凹凸を有する配線基板の両面に層間樹脂絶縁層を形
成する際に、最初に、基板表面で重力方向に移動しない
程度に粘度の低い層間樹脂絶縁剤を、前記配線基板を垂
直に立てた状態で塗布用の一対のロール間に挟みながら
両面同時に塗布し、その後、前記層間樹脂絶縁剤よりも
粘度の高い層間樹脂絶縁剤を、前記配線基板を垂直に立
てた状態で塗布用の一対のロール間に挟みながら両面同
時に塗布することを特徴とする多層プリント配線板の製
造方法である。
に、基板表面で重力方向に移動しない程度に粘度の低い
層間樹脂絶縁剤として、23±1℃で 1.0Pa・s以上5Pa
・s未満の粘度を示す層間樹脂絶縁剤を用いて、好まし
くは少なくとも2回塗布し、その後、前記層間樹脂絶縁
剤よりも粘度の高い層間樹脂絶縁剤として、23±1℃で
5〜15Pa・sの粘度を示す層間樹脂絶縁剤を用いて塗布
することが望ましい。
直に立てた状態で塗布用の一対のロール間に挟みなが
ら、層間樹脂絶縁剤を塗布することの理由は次のとおり
である。水平状態で塗布する場合、その後の乾燥はすべ
て基板を垂直に立てて行うため、塗布工程から乾燥工程
への基板の搬送が困難となる。これに対し、基板を垂直
に立てた状態にして塗布すると、そのままの状態で乾燥
工程へ基板を搬送でき、量産においては有利だからであ
る。また、水平状態で塗布すると、重力と層間樹脂絶縁
剤の表面張力で下側の層間樹脂絶縁剤の膜厚が基板中央
でやや大きくなる傾向が見られ、膜厚均一性が十分では
ない。この点、基板を垂直に立てた状態にして塗布する
と、このような問題は見られないからである。
間樹脂絶縁剤としては、硬化処理によって酸あるいは酸
化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性樹脂中に酸あるいは
酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子が分散
された無電解めっき用接着剤を用いることが望ましく、
また、前記塗布用ロールのロール長さは、基板の幅より
も短いものを用いることが望ましい。さらに本発明の方
法は、特に前記凹凸がバイアホールである場合に有効で
ある。
板の製造方法は、レベリング性に優れる低粘度の層間樹
脂絶縁剤と、この層間樹脂絶縁剤よりも粘度が高く、膜
厚を大きくできる層間樹脂絶縁剤とを併用し、配線基板
を垂直に立てた状態で塗布用の一対のロール間に挟みな
がら両面同時に塗布する点に特徴がある。
脂絶縁層を形成する際に、まず最初に、基板表面で重力
方向に移動しない程度に粘度の低い層間樹脂絶縁剤、好
ましくは回転粘度計(B型)による60rpm(ローターNo.
4)で1分間測定した場合の粘度が23±1℃で 1.0Pa・
s以上5Pa・s未満である層間樹脂絶縁剤を塗布するこ
とにより、配線基板表面の凹部に絶縁材を充填して表面
の平坦化を図り、その後、前記層間樹脂絶縁剤よりも粘
度の高い層間樹脂絶縁剤、好ましくは回転粘度計(B
型)による60rpm(ローターNo.4)で1分間測定した場合
の粘度が23±1℃で5〜15Pa・sである層間樹脂絶縁剤
を塗布することにより、層間樹脂絶縁層の厚さを確保
し、平滑で厚膜の層間樹脂絶縁層を得ることができる。
なお、粘度の低い層間樹脂絶縁剤は、23±1℃で 1.5〜
2.1 Pa・sが、粘度の高い層間樹脂絶縁剤は、23±1℃
で9〜15Pa・sがよい。
方法は、層間樹脂絶縁層を形成する際に塗布する層間樹
脂絶縁剤として、基板を水平搬送しながら塗布する特開
平6−81154 号公報に開示の層間樹脂絶縁剤よりも高い
粘度を示す層間樹脂絶縁剤を用いた点に他の特徴があ
る。
て層間樹脂絶縁剤を両面同時に塗布しても、層間樹脂絶
縁剤は、基板に転写されやすく、重力により下方に流れ
てしまうこともない。その結果、厚膜の層間樹脂絶縁層
を短時間で確実に形成することができ、生産性のより一
層の改善を図るものとなる。また、基板の両面に層間樹
脂絶縁剤を同時に塗布した後、その層間樹脂絶縁剤の乾
燥は必ず基板を立てた状態にして行う。本発明の方法に
よれば、このような場合でも層間樹脂絶縁剤は重力で下
方に流れることはない。
造方法として、フルアディティブ法を例に挙げて説明す
る。 (1) まず、コア基板の両面に、内層銅パターンを形成す
る。この基板への銅パターンの形成は、銅張積層板をエ
ッチングして行うか、あるいは、ガラスエポキシ基板や
ポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などの基板
に無電解めっき用接着剤層を形成し、この接着剤層表面
を粗化して粗化面とし、ここに無電解めっきを施して行
う方法がある。なお、コア基板には、スルーホールが形
成され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層
を電気的に接続することができる。
基板に、層間樹脂絶縁剤 (感光性の無電解めっき用接着
剤) を塗布し、次いで、この層間樹脂絶縁剤を70℃、60
分間で乾燥したのち、1000mJ/cm2 で露光し、DMTG
で現像処理して、バイアホール形成用の開口を有する層
間樹脂絶縁層を形成する。ここで、感光性の無電解めっ
き用接着剤としては、例えば、DMDG (ジエチレング
リコールジメチルエーテル) に溶解したクレゾールノボ
ラック型エポキシ樹脂 (日本化薬製、分子量2500) の25
%アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォン
(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤 (四国化成
製、商品名:2E4MZ-CN)4重量部、感光性モノマーであ
るカプロラクトン変成トリス (アクロキシエチル) イソ
シアヌレート (東亜合成製、商品名:アロニックスM32
5 )10重量部、光開始剤としてのベンゾフェノン (関東
化学製) 5重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン
(関東化学製) 0.5 重量部を混合し、これらの混合物に
対し、エポキシ樹脂粒子の平均粒径 5.5μmのものを35
重量部、平均粒径 0.5μmのものを5重量部を混合した
後、さらにNMPを添加しながら混合し、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度12Pa・sに調整し、続いて3本ロールで
混練して得られる無電解めっき用接着剤を用いることが
できる。
子を溶解除去することにより、上記層間樹脂絶縁層の表
面を粗化し、パラジウムなどのめっき用触媒核を付与す
る。そして、後述するような感光性樹脂組成物を塗布し
て乾燥させるか、あるいは市販の感光性のドライフィル
ムを貼付し、露光、現像処理してめっきレジストを形成
したのち、後述するような無電解めっきを施すことによ
り、バイアホールと内層銅パターンを形成した基板を得
る(図1(a) 参照)。
銅パターンを形成した基板を、垂直に立てた状態で一対
の塗布用ロールのロール間に挟み、層間樹脂絶縁剤を両
面同時に塗布して層間樹脂絶縁層を形成する(図2参
照)。
両面に、基板表面で重力方向に移動しない程度に粘度の
低い層間樹脂絶縁剤2a、好ましくは回転粘度計(B型)
による60rpm での粘度が23±1℃で 1.0Pa・s以上5Pa
・s未満である層間樹脂絶縁剤を塗布し、これを例えば
70℃で30分間乾燥する。このような低粘度の層間樹脂絶
縁剤2aを最初に塗布することにより、バイアホールを含
む導体パターン等に起因した配線基板表面の凹部を層間
樹脂絶縁剤で充填した層間樹脂絶縁層を形成し、基板表
面の平坦化を図る(図1(b),(c) 参照)。この塗布は1
回に限らず、複数回行ってもよい。2回以上塗布する方
が層間樹脂絶縁層の平滑度を上げることができるからで
ある。
1.0Pa・s以上5Pa・s未満の範囲内とすることが望ま
しい理由は、粘度が5Pa・sより高くなると、レベリン
グ性が悪くなり、バイアホールを含む導体パターン等に
起因した配線基板表面の凹部を確実に充填できなくな
る。一方、粘度が 1.0Pa・sよりも低いと、基板を垂直
に立てた状態にして層間樹脂絶縁剤を両面同時に塗布す
ると、層間樹脂絶縁剤が重力により下方に流れてしまう
からである。
記低粘度の層間樹脂絶縁剤よりも粘度の高い層間樹脂絶
縁剤2b、好ましくは回転粘度計(B型)による60rpm で
の粘度が23±1℃で5〜15Pa・sである層間樹脂絶縁剤
を塗布し、これを例えば70℃で30分間乾燥する。このよ
うな高粘度の層間樹脂絶縁剤2bをさらに塗布することに
より、層間樹脂絶縁層の厚さを確保し、厚膜の層間樹脂
絶縁層を得ることができる(図1(d) 参照)。
〜15Pa・sの範囲内とすることが望ましい理由は、5Pa
・s未満では、1回の塗布で30μm 程度の十分な膜厚を
得ることができず、15Pa・sを超えると、レベリング性
が低下して表面に凹凸が残存してしまうためである。
は、溶剤の添加量によるか、あるいは、層間樹脂絶縁剤
として後述する無電解めっき用接着剤を用いる場合に
は、耐熱性樹脂粒子の量や粒径を調整することによって
行う。ここに使用する溶剤としては、DMDG(ジエチ
レングリコールジメチルエーテル)、DMTG(トリエ
チレングリコールジメチルエーテル)などの、下記(化
1)の構造式を持つグリコールエーテル系の有機溶剤や
NMP(N−メチルピロリドン)などがよい。
縁層を構成する層間樹脂絶縁剤としては、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、
フェノール樹脂などの熱硬化性樹脂やこれらを感光化し
た感光性樹脂、あるいはポリエーテルスルフォンなどの
熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体、
感光性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体を使用することがで
きる。これらの層間樹脂絶縁剤はいずれも未硬化の絶縁
樹脂であり、例えば一対の塗布用ロールを有するロール
コータを用いて基板の両面に同時に塗布される。この概
念図を図2に記載する。
は、配線基板を垂直に立てた状態でロールコータの一対
の塗布用ロール18間に挟み、下側から上側へ搬送させて
基板の両面に層間樹脂絶縁剤2を同時に塗布する。ここ
で用いられるロールコータには、各ロール18に対して塗
布面側で完全に接触させるかあるいは 0.6mm以下の一定
の隙間を有する、ドクターバー19が設けられている。ま
た、このドクターバー19は、各ロール18との間で未硬化
の層間樹脂絶縁剤2を溜めておくワニス溜めを形造って
いる。一方、各ロール18の表面は、ゴムあるいはウレタ
ンなどの樹脂で構成され、このゴムや樹脂の表面には図
3に示すように回転方向に無数の溝が形成されている。
このため、ロール18が回転すると、ワニス溜めに溜めら
れた層間樹脂絶縁剤2がロール18の溝の中に入り込み、
さらにこの層間樹脂絶縁剤2が基板に接触すると基板側
に転写されて基板への層間樹脂絶縁剤2の塗布が行われ
る。
下側から上側へ搬送させる方法は、基板の上方両側縁部
を支持することにより、次の工程である乾燥炉へ容易に
搬送できる点で、上側から下側へ搬送させる方法に比べ
て好適である。搬送速度は、0.5 〜5m/分であること
が望ましい。
18のロール長さは、基板の幅よりも短いものを用いるこ
とが望ましい。この理由は、図4に示すように、基板の
両側縁部に、層間樹脂絶縁剤のない把持部20を設けるこ
とができるからである。この把持部20が設けられている
と、この把持部20を持ってハンドリングができ、またこ
の把持部20に搬送治具を固定して搬送できるようにな
る。その結果、ハンドリング時や搬送時に作業者の手や
搬送機械器具等が層間樹脂絶縁層に接触せず、層間樹脂
絶縁層へのゴミ等の付着は生じない。上記ロール長さ
は、基板の幅より1〜3cm短いことが望ましい。これに
より、基板の両側縁部に 0.5〜1.5 cmの層間樹脂絶縁剤
2のない把持部20を設けることができるからである。
両面に層間樹脂絶縁剤を同時に塗布することができ、ま
た、基板を垂直に立てても層間樹脂絶縁剤が下方へ流れ
ないため、乾燥炉による層間樹脂絶縁剤の乾燥処理もま
た、基板を垂直に立てて両面同時に行うことができる。
その結果、溶剤の揮発に伴う絶縁樹脂の収縮が基板の両
面で同時に起きるので、基板の反りは生じない。それ故
に、層間樹脂絶縁層に形成されるバイアホールの位置ず
れや導体パターンの位置ずれを防止することができる。
なお、上記乾燥は塗布毎に行うことが望ましい。
して、無電解めっき用接着剤を用いることが望ましい。
この無電解めっき用接着剤は、硬化処理によって酸ある
いは酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性樹脂中に酸あ
るいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子
が分散されてなるものが最適である。これは、酸あるい
は酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を溶解して除去する
ことにより、表面に蛸壺状のアンカーを形成でき、導体
回路との密着性を改善できるからである。
処理によって酸あるいは酸化剤に難溶性となる耐熱性樹
脂としては、感光化した熱硬化性樹脂、感光化した熱硬
化性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体を用いることが望まし
い。この理由は、感光化すれば、露光、現像により、バ
イアホールを容易に形成できるからである。また、熱可
塑性樹脂と複合化すれば、靱性を向上させることがで
き、導体回路のピール強度の向上、ひいてはヒートサイ
クルによるバイアホール部分のクラック発生を防止でき
るからである。具体的には、エポキシ樹脂をアクリル酸
やメタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレート
やエポキシアクリレートとポリエーテルスルホンとの複
合体がよい。エポキシアクリレートは、全エポキシ基の
20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応したも
のが望ましい。
耐熱性樹脂粒子としては、平均粒径が10μm以下の耐
熱性樹脂粉末、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉
末を凝集させて平均粒径2〜10μmの大きさとした凝集
粒子、平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均
粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均
粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか
少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、平均粒径
が 0.1〜0.8 μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が 0.8を
超え2μm未満の耐熱性樹脂粉末との混合物、から選ば
れることが望ましい。これらは、複雑なアンカーを形成
できるからである。耐熱性樹脂粒子の樹脂としては、エ
ポキシ樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グ
アナミン樹脂)などがよい。特に、エポキシ樹脂は、そ
のオリゴマーの種類、硬化剤の種類、架橋密度を変える
ことにより任意に酸や酸化剤に対する溶解度を変えるこ
とができる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂
オリゴマーをアミン系硬化剤で硬化処理したものは、酸
化剤に溶解しやすい。しかし、ノボラックエポキシ樹脂
オリゴマーをイミダゾール系硬化剤で硬化させたもの
は、酸化剤に溶解しにくい。
樹脂絶縁剤としては、硬化処理によって酸あるいは酸化
剤に難溶性となる耐熱性樹脂中に、硬化された状態の、
その平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粒子と平均粒径
2μm未満の耐熱性樹脂粉末の混合物が分散された無電
解めっき用接着剤が望ましい。異なる平均粒径を持って
いるため、密着強度が高く、混合した際の粘度も高くな
るからである。また、低粘度の層間樹脂絶縁剤として
は、硬化処理によって酸あるいは酸化剤に難溶性となる
耐熱性樹脂中に、硬化された状態の、その平均粒径が0.
1 〜2.0μmの耐熱性樹脂微粉末が分散された無電解め
っき用接着剤が望ましい。粒子径が細かく、混合した際
の粘度を低くしやすいからである。
例としては、次のような成分組成と方法によって得られ
る樹脂絶縁剤を挙げることができる。 (高粘度の層間樹脂絶縁剤)DMDG(ジエチレングリ
コールジメチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラ
ック型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%
アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォン(P
ES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商
品名: 2E4MZ−CN)4重量部、感光性モノマーであるカ
プロラクトン変成トリス(アクロキシエチル)イソシア
ヌレート(東亜合成製、商品名:アロニックスM325 )
10重量部、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)5重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東
化学製)0.5 重量部を混合し、これらの混合物に対し、
エポキシ樹脂粒子の平均粒径 5.5μmのものを35重量部
と平均粒径 0.5μmのものを5重量部を混合した後、さ
らにNMPを添加しながら混合し、ホモディスパー攪拌
機で粘度12Pa・sに調整し、続いて3本ロールで混練し
て得られる感光性接着剤溶液(層間樹脂絶縁剤)。
て、DMDG(ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル)に溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重
量部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名: 2E4MZ−CN)
2重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン変成ト
リス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東亜合成
製、商品名:アロニックスM315 )4重量部、光開始剤
(チバガイギー社製、商品名:I−907 )2重量部、光
増感剤(日本化薬製、商品名:DETX-S)0.2 重量部、レ
ベリング剤(サンノプコ製、商品名:S−65)0.5 重量
部を混合し、これらの混合物に対し、♯2400にふるいに
かけたエポキシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリマ
ーポール)の平均粒径 3.0μmのものを12.08 重量部、
平均粒径 0.5μmのものを4.83重量部を混合した後、さ
らにNMP(ノルマルメチルピロリドン)30重量部を添
加しながら混合し、ホモディスパー攪拌機で23±1 ℃で
粘度8Pa・s に調整し、続いて3本ロールで混練して得
られる感光性接着剤溶液がある。
エチレングリコールジメチルエーテル)に溶解したクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量
2500)の25%アクリル化物を70重量部、ポリエーテルス
ルフォン(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四
国化成製、商品名: 2E4MZ−CN)4重量部、感光性モノ
マーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチ
ル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:アロニッ
クスM325 )10重量部、光開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学製)5重量部、光増感剤としてのミヒラー
ケトン(関東化学製)0.5 重量部を混合し、これらの混
合物に対し、エポキシ樹脂粒子の平均粒径 0.5μmのも
のを40重量部を混合した後、さらにNMPを添加しなが
ら混合し、ホモディスパー攪拌機で粘度 1.2Pa・sに調
整し、続いて3本ロールで混練して得られる感光性接着
剤溶剤(層間樹脂絶縁剤)。
て、DMDG(ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル)に溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重
量部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名: 2E4MZ−CN)
2重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン変成ト
リス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東亜合成
製:商品名アロニックスM315 )4重量部、光開始剤
(チバガイギー社製、商品名:I−907 )2重量部、光
増感剤(日本化薬製、商品名:DETX-S)0.2 重量部、レ
ベリング剤(サンノプコ製、商品名:S−65)0.5 重量
部を混合し、これらの混合物に対し、エポキシ樹脂粒子
の平均粒径 0.5μmのものを14.49 重量部を混合した
後、さらにNMPを添加しながら混合し、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度 1.5Pa・sに調整し、続いて3本ロール
で混練して得られる感光性接着剤溶剤がある。
を、感光性樹脂の場合は、露光、現像することにより、
また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化したのちレーザー
加工することにより、バイアホール用の開口部を設け
る。
設けた層間樹脂絶縁層の表面を酸あるいは酸化剤で粗化
処理した後、触媒核を付与する。ここで、上記粗化処理
に使用できる酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるい
は蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸が望ま
しい。粗化処理した場合に、バイアホールから露出する
金属導体層を腐食させにくいからである。一方、酸化剤
としては、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸カ
リウムなど)が望ましい。特に、アミノ樹脂を溶解除去
する場合は、酸と酸化剤で交互に粗化処理することが望
ましい。また、上記触媒核の付与には、貴金属イオンや
貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一般的に
は、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。
なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望
ましい。このような触媒核としてはパラジウムがよい。
きレジストを形成する。このめっきレジストとしては、
市販品を使用してもよく、エポキシ樹脂をアクリル酸や
メタクリル酸などと反応させてアクリル化させたエポキ
シアクリレートとイミダゾール硬化剤からなる組成物、
あるいはエポキシアクリレート、ポリエーテルスルホン
およびイミダゾール硬化剤からなる組成物でもよい。こ
こで、エポキシアクリレートとポリエーテルスルホンの
比率は、50/50〜80/20程度が望ましい。エポキシアク
リレートが多過ぎると可撓性が低下し、少な過ぎると感
光性、耐塩基性、耐酸性、耐酸化剤特性が低下するから
である。エポキシアクリレートは、全エポキシ基の20〜
80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応したものが
望ましい。アクリル化率が高過ぎるとOH基による親水性
が高くなり吸湿性が上がり、アクリル化率が低過ぎると
解像度が低下するからである。基本骨格樹脂であるエポ
キシ樹脂としては、ノボラック型エポキシ樹脂が望まし
い。架橋密度が高く、硬化物の吸水率が 0.1%以下に調
整でき、耐塩基性に優れるからである。ノボラック型エ
ポキシ樹脂としては、クレゾールノボラック型、フェノ
ールノボラック型がある。
成されなかった部分に一次めっきを施す。このとき、銅
パターンだけでなく、バイアホールを形成する。この一
次めっきとしては、銅、ニッケル、コバルトおよびリン
から選ばれるいずれか少なくとも2種以上の金属イオン
を使用した合金めっきであることが望ましい。この理由
は、これらの合金は強度が高く、ピール強度を向上させ
ることができるからである。上記一次めっきの無電解め
っき液においては、銅、ニッケルおよびコバルトから選
ばれるいずれか少なくとも2種以上の金属イオンを使用
することが必要である。この理由は、これらの金属の合
金は強度が高く、ピール強度を向上させることができる
からである。上記一次めっきの無電解めっき液におい
て、銅、ニッケル、コバルトイオンと塩基性条件下で安
定した錯体を形成する錯化剤としては、ヒドロキシカル
ボン酸を用いることが望ましい。上記一次めっきの無電
解めっき液において、金属イオンを還元して金属元素に
するための還元剤は、アルデヒド、次亜リン酸塩(ホス
フィン酸塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩、ヒドラジン
から選ばれるいずれか少なくとも1種であることが望ま
しい。これらの還元剤は、水溶性であり、還元力に優れ
るからである。特に、ニッケルを析出させる点では次亜
リン酸塩が望ましい。上記一次めっきの無電解めっき液
において、塩基性条件下に調整するためのpH調整剤と
しては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カ
ルシウムから選ばれる少なくとも1種の塩基性化合物を
用いることが望ましい。塩基性条件下において、ヒドロ
キシカルボン酸はニッケルイオンなどと錯体を形成する
からである。このヒドロキシカルボン酸としては、クエ
ン酸、リンゴ酸、酒石酸などが望ましい。これらは、ニ
ッケル、コバルト、銅と錯体を形成しやすいからであ
る。前記ヒドロキシカルボンの濃度は 0.1〜0.8 Mであ
ることが望ましい。この理由は、 0.1Mより少ないと十
分な錯体が形成できず、異常析出や液の分解が生じる。
一方、0.8 Mを超えると析出速度が遅くなったり、水素
の発生が多くなったりするなどの不具合が発生するから
である。上記一次めっきの無電解めっき液は、ビピリジ
ルを含有してなることが望ましい。この理由は、ビピリ
ジルはめっき浴中の金属酸化物の発生を抑制してノジュ
ールの発生を抑制できるからである。なお、銅イオン、
ニッケルイオン、コバルトイオンは、硫酸銅、硫酸ニッ
ケル、硫酸コバルト、塩化銅、塩化ニッケル、塩化コバ
ルトなどの銅、ニッケル、コバルトの化合物を溶解させ
ることにより供給する。
た一次めっき膜は、無電解めっき用接着剤層の粗化面に
対する追従性に優れ、粗化面の形態をそのままトレース
する。そのため、一次めっき膜は、粗化面と同様にアン
カーを持つ。従って、この一次めっき膜上に形成される
二次めっき膜は、このアンカーにより、密着性が確保さ
れるのである。従って、一次めっき膜は、ピール強度を
支配するために、上述したような無電解めっき液によっ
て析出する強度が高いめっき膜が望ましく、一方、二次
めっき膜は、電気導電性が高く、析出速度が早いことが
望ましいので、複合めっきよりも単純な銅めっき液によ
って析出するめっき膜が望ましい。
に二次めっきを施して、一次めっき膜と二次めっき膜か
らなるバイアホールを含む導体回路を形成する。この二
次めっきによるめっき膜は、銅めっき膜であることが望
ましい。上記二次めっきの無電解めっき液は、銅イオ
ン、トリアルカノールアミン、還元剤、pH調整剤から
なる無電解めっき液において、銅イオンの濃度が 0.005
〜0.015mol/l、pH調整剤の濃度が、0.25〜0.35 mol
/lであり、還元剤の濃度が0.01〜0.04 mol/lである
無電解めっき液を用いることが望ましい。このめっき液
は、浴が安定であり、ノジュールなどの発生が少ないか
らである。上記二次めっきの無電解めっき液において、
トリアルカノールアミンの濃度は0.1〜0.8 Mであるこ
とが望ましい。この範囲でめっき析出反応が最も進行し
やすいからである。このトリアルカノールアミンは、ト
リエタノールアミン、トリイソパノールアミン、トリメ
タノールアミン、トリプロパノールアミンから選ばれる
少なくとも1種であることが望ましい。水溶性だからで
ある。上記二次めっきの無電解めっき液において、還元
剤は、アルデヒド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩、ヒ
ドラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望ま
しい。水溶性であり、塩基性条件下で還元力を持つから
である。pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム、水酸化カルシウムから選ばれる少なくとも1種で
あることが望ましい。なお、一次めっきと二次めっきの
無電解めっき液においてはいずれも、溶質は水を溶媒と
する。
所望の両面多層プリント配線板を得る。こうして得られ
た多層プリント配線板の表層は、層間樹脂絶縁層の表面
が粗化され、その粗化面にめっきレジストが形成され、
このめっきレジストの非形成面に導体回路が露出した状
態で設けられた構造になっている。このため、露出した
上記導体回路は、はんだ層を形成する部分に開口を有す
るソルダーレジストで被覆して保護する。
部のはんだ層を形成する部分(パッド部分)に、ニッケ
ル−金めっきを施し、この部分に、はんだ転写法やスク
リーン印刷法などにより、はんだ層を形成する。なお、
はんだ転写法は、フィルム上にはんだパターンを形成
し、このはんだパターンをパッドに接触させながら加熱
リフローしてはんだをパッドに転写する方法である。な
お、はんだ層ははんだバンプであってもよい。
断除去する。また、量産の場合は、一つのワークサイズ
の基板から複数の製品ピースをダイシングマシンなどに
よる加工で切り出すが、この加工の際に前記把持部を切
断除去することができる。
配線板の他の製造方法として、セミアディテイブ法を例
に挙げて説明する。 (1) まず、基板の表面に導体回路を形成した配線基板を
作製する。この基板としては、ガラスエポキシ基板やポ
リイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板な
どの樹脂絶縁基板、セラミック基板、金属基板などを用
いることができる。この配線基板の導体回路は、銅張積
層板(図5参照)をエッチングして行う方法、あるい
は、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラミック
基板、金属基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を
形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここ
に無電解めっきする方法、もしくはいわゆるセミアディ
ティブ法(その粗化面全体に薄付けの無電解めっきを施
し、めっきレジスト形成し、めっきレジスト非形成部分
に厚付けの電解めっきを施した後、そのめっきレジスト
を除去してさらにエッチング処理し、電解めっき膜と無
電解めっき膜からなる導体回路を形成する方法)により
形成される。
とも側面を含む表面に、銅−ニッケル−リンからなる粗
化層を形成することにより、この導体回路の上に形成さ
れる層間樹脂絶縁層との密着性を改善することができる
(図6,図9参照)。この粗化層は、無電解めっきによ
り形成することが望ましい。その無電解めっきの液組成
は、銅イオン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜リン酸イ
オン濃度が、それぞれ 2.2×10-2〜4.1 ×10-2 mol/
l、 2.2×10-3〜 4.1×10-3 mol/l、0.20〜0.25 mol
/lであることが望ましい。この範囲で析出する皮膜
は、結晶構造が針状構造であり、アンカー効果に優れる
からである。なお、無電解めっき浴には上記化合物に加
えて錯化剤や添加剤を加えてもよい。粗化層を形成する
他の方法として、導体回路表面を酸化(黒化)−還元処
理したり、エッチング処理して形成する方法などがあ
る。
くかつチタン以下である金属または貴金属の層で被覆さ
れていてもよい。これらの金属または貴金属の層は、粗
化層を被覆し、層間樹脂絶縁層を粗化する際に起こる局
部電極反応による導体回路の溶解を防止できるからであ
る。その層の厚さは 0.1〜2μmがよい。このような金
属としては、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、インジ
ウム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビス
マスから選ばれるいずれか少なくとも1種がある。貴金
属としては、金、銀、白金、パラジウムがある。これら
のうち、特にスズがよい。スズは無電解置換めっきによ
り薄い層を形成でき、粗化層に追従できるため有利であ
る。このスズの場合、ホウフッ化スズ−チオ尿素、塩化
スズ−チオ尿素液を使用する。そして、Cu−Snの置換反
応により 0.1〜2μm程度のSn層が形成される(このSn
層は、図6,図9では図示しない。)。貴金属の場合
は、スパッタや蒸着などの方法が採用できる。
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層を
電気的に接続することができる。さらに、スルーホール
およびコア基板の導体回路間にビスフェノールF型エポ
キシ樹脂などの低粘度の樹脂を充填し、配線基板の平滑
性を確保してもよい(図7,8参照)。
両面に、層間樹脂絶縁剤を塗布する。この層間樹脂絶縁
剤のうち、高粘度のものとしては、硬化処理によって酸
あるいは酸化剤に難溶性となる耐熱性樹脂中に酸あるい
は酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子が分散してなり、前
記耐熱性樹脂粒子が、平均粒径が 0.1〜0.8 μmの微
粒子と平均粒径が 0.8μmを超え2.0 μm未満の粗粒子
との混合物、あるいは平均粒径 1.5μm以下の微粒子
で構成されているものが好適である。具体的には、DM
DG(ジエチレングリコールジメチルエーテル)に溶解
したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、ポリ
エーテルスルフォン(PES)12重量部、イミダゾール
硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)2重量部、感
光性モノマーであるカプロラクトン変成トリス(アクロ
キシエチル)イソシアヌレート(東亜合成製、商品名:
アロニックスM315 )4重量部、光開始剤(チバガイギ
ー社製、商品名:I−907 )2重量部、光増感剤(日本
化薬製、商品名:DETX-S)0.2 重量部、レベリング剤
(サンノプコ製、商品名:S−65)0.5 重量部を混合
し、これらの混合物に対し、エポキシ樹脂粒子(三洋化
成製、商品名:ポリマーポール)の平均粒径 1.0μmの
ものを 7.2重量部、平均粒径 0.5μmのものを3.09重量
部を混合した後、さらにNMP(ノルマルメチルピロリ
ドン)30.0重量部を添加しながら混合し、ホモディスパ
ー攪拌機で粘度8Pa・sに調整し、続いて3本ロールで
混練して得られる感光性の無電解めっき用接着剤溶液
(層間樹脂絶縁剤)がある。
としては、硬化処理によって酸あるいは酸化剤に難溶性
となる耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱
性樹脂粒子が分散してなり、前記耐熱性樹脂粒子が、平
均粒径 0.1〜2.0 μmの粒子で構成されているものが好
適である。具体的には、DMDG(ジエチレングリコー
ルジメチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック
型エポキシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アク
リル化物を35重量部、ポリエーテルスルフォン(PE
S)12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品
名:2E4MZ-CN)2重量部、感光性モノマーであるカプロ
ラクトン変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレ
ート(東亜合成製、商品名:アロニックスM315 )4重
量部、光開始剤(チバガイギー社製、商品名:I−907
)2重量部、光増感剤(日本化薬製、商品名:DETX-
S)0.2 重量部、レベリング剤(サンノプコ製、商品
名:S−65)0.5 重量部を混合し、これらの混合物に対
し、エポキシ樹脂粒子の平均粒径 0.5μmのものを 14.
49重量部を混合した後、さらにNMPを添加しながら混
合し、ホモディスパー攪拌機で粘度 2.3Pa・sに調整
し、続いて3本ロールで混練して得られる感光性接着剤
溶剤がある。
ータ、カーテンコータなどを使用できる(図10参照、こ
の図では、簡略化のため2層になっているが、実際は下
層側には2回塗布し、上層側には1回塗布した)。ま
た、ロールコータによる層間樹脂絶縁剤の塗布は、配線
基板を立てた状態にして行う(図10(a) 参照)。
き用接着剤)を乾燥する。この時点では、基板の導体回
路上に設けた層間樹脂絶縁層は、導体回路パターン上の
層間樹脂絶縁層の厚さが薄く、大面積を持つ導体回路上
の層間樹脂絶縁層の厚さが厚くなり、凹凸が発生してい
る状態であることが多い。そのため、この凹凸状態にあ
る層間樹脂絶縁層を、金属板や金属ロールを用いて加熱
しながら押圧し、その層間樹脂絶縁層の表面を平坦化す
ることが望ましい(図10(b) 参照)。
で、その層間樹脂絶縁層にはバイアホール形成用の開口
を設ける(図11参照)。層間樹脂絶縁層の硬化処理は、
無電解めっき用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹
脂である場合は熱硬化して行い、感光性樹脂である場合
は紫外線などで露光して行う。バイアホール形成用の開
口は、無電解めっき用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬
化性樹脂である場合は、レーザ光や酸素プラズマなどを
用いて穿孔し、感光性樹脂である場合は、露光現像処理
にて穿孔される。なお、露光現像処理は、前述したバイ
アホール形成のための円パターンが描画されたフォトマ
スク(ガラス基板がよい)を、円パターンを感光性の層
間樹脂絶縁層の上に密着させて載置したのち、露光、現
像処理する。
た層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を
粗化する(図12参照)。無電解めっき用接着剤を用いる
場合は、その表面に存在する耐熱性樹脂粒子を酸あるい
は酸化剤によって溶解除去することにより、接着剤層表
面を粗化処理する。このとき、粗化面の窪み(アンカ
ー)の深さは、1〜5μm程度がよい。ここで、上記酸
としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるいは蟻酸や酢酸な
どの有機酸があるが、特に有機酸を用いることが望まし
い。粗化処理した場合に、バイアホールから露出する金
属導体層を腐食させにくいからである。一方、上記酸化
剤としては、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸
カリウムなど)を用いることが望ましい。
核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金
属コロイドなどを用いることが望ましく、一般的には、
塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。な
お、触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望ま
しい。このような触媒核としてはパラジウムがよい。
面に薄付けの無電解めっき膜を形成する(図13参照)。
この無電解めっき膜は、無電解銅めっき膜がよく、その
厚みは、1〜5μm、より望ましくは2〜3μmとす
る。なお、無電解銅めっき液としては、常法で採用され
る液組成のものを使用でき、例えば、硫酸銅:29g/
l、炭酸ナトリウム:25g/l、酒石酸塩:140 g/
l、水酸化ナトリウム:40g/l、37%ホルムアルデヒ
ド:150 ml、(pH=11.5)からなる液組成のものが
よい。
膜上に感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネ
ートし、めっきレジストパターンが描画されたフォトマ
スク(ガラス基板がよい)を感光性樹脂フィルムに密着
させて載置し、露光、現像処理することにより、めっき
レジストパターンを配設した非導体部分を形成する(図
14参照)。
以外に電解めっき膜を形成し、導体回路、ならびにバイ
アホールとなる導体部を設ける(図15参照)。ここで、
電解めっきとしては、電解銅めっきを用いることが望ま
しく、その厚みは、10〜20μmがよい。
除去した後、さらに、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫
酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化
第二銅などのエッチング液で無電解めっき膜を溶解除去
し、無電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる独立
した導体回路、ならびにバイアホールを得る(図16参
照)。なお、非導体部分に露出した粗化面上のパラジウ
ム触媒核は、クロム酸などで溶解除去する。
びにバイアホールの表面に粗化層を形成する(図17参
照)。この粗化層の形成方法としては、エッチング処
理、研磨処理、酸化還元処理あるいはめっき処理があ
る。酸化還元処理は、酸化浴(黒化浴)としてNaOH(10
g/l)、NaClO2(40g/l)、Na3PO4(6g/l)を
用い、還元浴としてNaOH(10g/l)、 NaBH4(5g/
l)を用いて行う。また、銅−ニッケル−リン合金層に
よる粗化層を形成する場合は無電解めっきにより析出さ
せる。この合金の無電解めっき液としては、硫酸銅1〜
40g/l、硫酸ニッケル0.1 〜6.0 g/l、クエン酸10
〜20g/l、次亜リン酸塩10〜100g/l、ホウ酸10〜4
0g/l、界面活性剤0.01〜10g/lからなる液組成の
めっき浴を用いることが望ましい。
い、層間樹脂絶縁層を形成する(図18参照)。(13)さら
に、必要に応じて(4) 〜(10)の工程を繰り返すことによ
り多層化し、多層プリント配線板を製造する(図19〜22
参照)。(14)そしてさらに、導体回路の表面を粗化して
ソルダーレジストを塗布し、そのソルダーレジスト層に
開口を設けた後、はんだペーストを印刷してリフローす
ることにより、はんだバンプを有する多層プリント配線
板を得る(図23、24参照)。
層プリント配線板の製造方法において、表面に導体パタ
ーン等の凹凸を有する配線基板の両面に、平滑で厚膜の
層間樹脂絶縁層を短時間で形成することができる。
成工程を示す断面概略図である。
使用状態を示す概念図である。
示す図である。
を設けた状態を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
る一工程を示す図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 多層プリント配線板を製造するに当たっ
て、表面に凹凸を有する配線基板の両面に層間樹脂絶縁
層を形成する際に、最初に、基板表面で重力方向に移動
しない程度に粘度の低い層間樹脂絶縁剤を、前記配線基
板を垂直に立てた状態で一対の塗布用ロールのロール間
に挟みながら両面同時に塗布し、その後、前記層間樹脂
絶縁剤よりも粘度の高い層間樹脂絶縁剤を、前記配線基
板を垂直に立てた状態で一対の塗布用ロールのロール間
に挟みながら両面同時に塗布することを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。 - 【請求項2】 多層プリント配線板を製造するに当たっ
て、表面に凹凸を有する配線基板の両面に層間樹脂絶縁
層を形成する際に、最初に、基板表面で重力方向に移動
しない程度に粘度の低い層間樹脂絶縁剤として、23±1
℃で 1.0Pa・s以上5Pa・s未満の粘度を示す層間樹脂
絶縁剤を、前記配線基板を垂直に立てた状態で一対の塗
布用ロールのロール間に挟みながら両面同時に塗布し、
その後、前記層間樹脂絶縁剤よりも粘度の高い層間樹脂
絶縁剤として、23±1℃で5〜15Pa・sの粘度を示す層
間樹脂絶縁剤を、前記配線基板を垂直に立てた状態で一
対の塗布用ロールのロール間に挟みながら両面同時に塗
布することを特徴とする製造方法。 - 【請求項3】 多層プリント配線板を製造するに当たっ
て、表面に凹凸を有する配線基板の両面に層間樹脂絶縁
層を形成する際に、最初に、基板表面で重力方向に移動
しない程度に粘度の低い層間樹脂絶縁剤として、23±1
℃で 1.0Pa・s以上5Pa・s未満の粘度を示す層間樹脂
絶縁剤を、前記配線基板を垂直に立てた状態で一対の塗
布用ロールのロール間に挟みながら両面同時に少なくと
も2回塗布し、その後、前記層間樹脂絶縁剤よりも粘度
の高い層間樹脂絶縁剤として、23±1℃で5〜15Pa・s
の粘度を示す層間樹脂絶縁剤を、前記配線基板を垂直に
立てた状態で一対の塗布用ロールのロール間に挟みなが
ら両面同時に塗布することを特徴とする製造方法。 - 【請求項4】 前記層間樹脂絶縁剤として、硬化処理に
よって酸あるいは酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性
樹脂中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐
熱性樹脂粒子が分散された無電解めっき用接着剤を用い
ることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1に記載の
製造方法。 - 【請求項5】 前記塗布用ロールのロール長さは、基板
の幅よりも短いものを用いる請求項1〜3のいずれか1
に記載の製造方法。 - 【請求項6】 前記凹凸がバイアホールである請求項1
〜3のいずれか1に記載の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11661897A JP3296992B2 (ja) | 1996-09-27 | 1997-05-07 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-257052 | 1996-09-27 | ||
| JP25705296 | 1996-09-27 | ||
| JP11661897A JP3296992B2 (ja) | 1996-09-27 | 1997-05-07 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10154876A JPH10154876A (ja) | 1998-06-09 |
| JP3296992B2 true JP3296992B2 (ja) | 2002-07-02 |
Family
ID=26454917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11661897A Expired - Fee Related JP3296992B2 (ja) | 1996-09-27 | 1997-05-07 | 多層プリント配線板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3296992B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100855529B1 (ko) | 1998-09-03 | 2008-09-01 | 이비덴 가부시키가이샤 | 다층프린트배선판 및 그 제조방법 |
| JP2001185833A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板の製造方法及び製造装置 |
| US7943861B2 (en) | 2004-10-14 | 2011-05-17 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and method for manufacturing printed wiring board |
| JP4969072B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2012-07-04 | オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド | 回路装置およびその製造方法 |
| US8309856B2 (en) | 2007-11-06 | 2012-11-13 | Ibiden Co., Ltd. | Circuit board and manufacturing method thereof |
| JP5793849B2 (ja) * | 2010-11-02 | 2015-10-14 | 大日本印刷株式会社 | サスペンション用基板、サスペンション、ヘッド付サスペンション、およびハードディスクドライブ、並びにサスペンション用基板の製造方法 |
| JPWO2017168745A1 (ja) * | 2016-04-01 | 2018-04-05 | 株式会社ケミトロン | 導体形成装置及び導体製造方法 |
-
1997
- 1997-05-07 JP JP11661897A patent/JP3296992B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10154876A (ja) | 1998-06-09 |
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