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JP3307305B2 - How to judge the quality of capacitors - Google Patents
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JP3307305B2 - How to judge the quality of capacitors - Google Patents

How to judge the quality of capacitors

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JP3307305B2
JP3307305B2 JP34861897A JP34861897A JP3307305B2 JP 3307305 B2 JP3307305 B2 JP 3307305B2 JP 34861897 A JP34861897 A JP 34861897A JP 34861897 A JP34861897 A JP 34861897A JP 3307305 B2 JP3307305 B2 JP 3307305B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサの良否判
定方法、特にコンデンサの充電終了時における充電電流
を予測し、コンデンサの良否を判定する方法に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention is good or bad Trial of capacitor
Measuring method, in particular the charging current at the end of charging of the capacitor
And a method of judging the quality of the capacitor .

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、コンデンサの良否を判定するた
め、測定用の直流電圧をコンデンサに印加し、十分に充
電された後のコンデンサの漏れ電流(充電電流)を測定
することにより、コンデンサの絶縁抵抗を測定する方法
が知られている。当然ながら、良品は漏れ電流が少な
い。
2. Description of the Related Art In general, in order to judge the quality of a capacitor, a DC voltage for measurement is applied to the capacitor, and the leakage current (charging current) of the capacitor after it is sufficiently charged is measured. Methods for measuring resistance are known. Naturally, good products have low leakage current.

【0003】従来、この種の絶縁抵抗測定方法として
は、JIS−C5102で規定された測定方式が知られ
ている。この方式は、コンデンサに十分に充電された状
態の電流値を測定する必要があるため、約60秒の測定
時間が必要であった。しかし、電子機器のコストダウ
ン、信頼性向上の要求に伴い、コンデンサなどの電子部
品もその生産能力向上と品質向上とが求められており、
コンデンサ1個当たりこのような長い測定時間を要する
従来の測定方法では、到底このような要求に応えること
ができない。
Conventionally, as this kind of insulation resistance measuring method, a measuring method specified in JIS-C5102 is known. In this method, it is necessary to measure a current value in a state where the capacitor is sufficiently charged, so that a measurement time of about 60 seconds is required. However, with the demand for cost reduction and reliability improvement of electronic equipment, electronic parts such as capacitors are also required to have improved production capacity and quality.
The conventional measuring method requiring such a long measuring time per capacitor cannot meet such a demand at all.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、コンデンサ
への充電方法として、直流電圧を連続的に印加する方法
の他に、断続印加する方法が知られている(特開平4−
254769号公報)。この方法は、間欠送りされるタ
ーンテーブルを用いて特性測定を行う場合に適した充電
方法であり、パーツフィーダから供給された多数のコン
デンサを連続的に特性測定できるという特徴がある。こ
のようなターンテーブルを用いた絶縁抵抗測定方法に
は、複数の充電領域を通過して充電を終えたコンデンサ
に対して、1個ずつ絶縁抵抗を測定する連続方式と、タ
ーンテーブルに所定数のコンデンサを供給した後、ター
ンテーブルを停止し、複数のコンデンサに対して同時に
充電と絶縁抵抗測定とを行うバッチ方式とがあるが、い
ずれの方式も充電に長時間が必要であり、作業効率があ
まり良くない。
As a method of charging a capacitor, a method of intermittently applying a DC voltage is known in addition to a method of continuously applying a DC voltage.
No. 254,768). This method is a charging method suitable for measuring characteristics using a turntable that is intermittently fed, and has the characteristic that a large number of capacitors supplied from a parts feeder can be continuously measured. Such a method of measuring insulation resistance using a turntable includes a continuous method of measuring insulation resistance one by one for a capacitor that has passed through a plurality of charging regions and has been charged, and a method of measuring a predetermined number of turns on a turntable. After supplying the capacitors, there is a batch method in which the turntable is stopped and charging and insulation resistance measurement are performed simultaneously on multiple capacitors.Both methods require a long time for charging, and work efficiency is low. not really good.

【0005】しかしながら、本発明者は、コンデンサへ
の直流電圧の断続印加について鋭意研究を重ねた結果、
断続印加であっても、ある条件の下では連続印加と同様
な効果を持つこと、つまり、断続印加の場合も、連続印
加と同様の充電特性を持ち、たとえ電圧印加が途切れた
瞬間があっても、短い期間であれば、充電は進むという
事実を発見した。このような事実に基づけば、断続印加
の初期の数回に亘って充電電流を測定すれば、十分に充
電された後の充電電流、ひいては絶縁抵抗を予測するこ
とが可能である。
However, the present inventor has conducted intensive studies on the intermittent application of a DC voltage to a capacitor, and as a result,
Even under intermittent application, under certain conditions, it has the same effect as continuous application.In other words, in the case of intermittent application, it has the same charging characteristics as continuous application, even if there is a moment when voltage application is interrupted. Even found that the charging progressed for a short period of time. Based on such facts, if the charging current is measured several times in the initial period of the intermittent application, it is possible to predict the charging current after sufficient charging, and thus the insulation resistance.

【0006】本発明は上記のような知見に基づいてなさ
れたもので、その目的は、コンデンサに直流電圧を断続
的に印加した場合に、断続印加の初期の電流値から十分
に充電された時点における電流値を予測し、コンデンサ
の良否を短時間で判定できるコンデンサの良否判定方法
を提供することにある。
The present invention has been made on the basis of the above-described knowledge, and an object of the present invention is to provide a method in which, when a DC voltage is intermittently applied to a capacitor, a point of time when a sufficient charge is obtained from an initial current value of the intermittent application. Predict the current value at the capacitor
To provide a method for determining the quality of a capacitor in a short time .

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明は、コンデンサに直流電圧を
断続的に印加する工程と、断続印加による複数の印加期
内の各時点の電流値を測定する工程と、上記測定され
た複数の電流値から、コンデンサの誘電分極成分の充電
電流計算式を求める工程と、上記充電電流計算式から充
電終期における電流値を求める工程と、上記充電終期に
おける電流値を用いてコンデンサの良否を判定する工程
と、を含むものである。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 includes a step of intermittently applying a DC voltage to a capacitor and a step of applying a DC voltage to each of the plurality of application periods by intermittent application . Measuring the current value;
A plurality of current values, a step of determining a charge current formula for the dielectric polarization component of the capacitor, a step of determining the current value in the charging end of the charging current equation, to the charging end
For judging the quality of a capacitor using the current value of the capacitor
And

【0008】セラミックコンデンサについて、連続印加
時と断続印加時における電流値の変化を正確に測定し、
その電流値と時間とを対数電流−対数時間の座標にプロ
ットすると、図1,図2のような特性があることを発見
した。すなわち、連続印加の場合には、図1のように印
加開始t0 から微小期間はほぼ一定の大きな電流が流
れるが、それに続く遷移期間で急激に電流値が低下
し、その後、ある傾きを持った線形の充電特性で電流
が低下した。この線形の充電特性は、充電開始から1
分〜2分後まで持続していた。一方、断続印加の場合に
は、図2のように1回目の電圧印加の特性,,は
連続印加時と全く同様である。その後、時刻ta で一旦
電圧印加を中止した後、時刻tb で2回目の電圧印加を
行うと、最初はのように急激に電流値が高くなるが、
その後、急激に低下して線形の充電特性に安定する。
図2の横軸は対数時間であるため、の頂部の特性は明
確ではないが、実際にはと同様な水平部とと同様な
遷移期間とで構成されている。また、線形の充電特性
は1回目の電圧印加時の線形の充電特性の延長線上に
あることが分かった。その後、電圧の断続印加を繰り返
しても、上記〜と同様の特性が繰り返され、線形の
充電特性,の延長線上に安定する。なお、印加電圧
は連続印加も断続印加も同一電圧とした。
For a ceramic capacitor, the change in current value during continuous application and intermittent application is accurately measured,
When the current value and time were plotted on a logarithmic current-logarithmic time coordinate system, it was found that the characteristics shown in FIGS. 1 and 2 were obtained. That is, in the case of continuous application is small period from the application start t 0 as shown in FIG. 1 is almost constant large current flows, the current rapidly value decreases with subsequent transition period, then, with a certain inclination The current dropped due to the linear charging characteristics. This linear charging characteristic is 1
Minutes to 2 minutes. On the other hand, in the case of intermittent application, the characteristics of the first voltage application, as shown in FIG. 2, are exactly the same as in the case of continuous application. Then, after stopping once the voltage applied at time t a, the a second time the voltage applied at time t b, the first is rapidly current value becomes higher as,
Thereafter, the charge rapidly decreases and stabilizes to a linear charging characteristic.
Since the horizontal axis in FIG. 2 is logarithmic time, the characteristic of the top is not clear, but it is actually composed of the same horizontal portion and the same transition period. Further, it was found that the linear charging characteristic was on an extension of the linear charging characteristic when the first voltage was applied. Thereafter, even if the intermittent application of the voltage is repeated, the same characteristics as those described above are repeated, and the characteristic is stabilized on the extension of the linear charging characteristic. The applied voltage was the same for both continuous and intermittent application.

【0009】印加開始から一定時間Tを経た時点t3
電流値i3 を計測すると、連続印加時も断続印加時も電
流値i3 は同一であった。つまり、直流電圧を断続印加
した場合であっても、断続印加におけるOFF時間(t
a 〜tb )が短い期間(例えば数百m秒以下)であれ
ば、連続印加により充電した時と同様の結果となった。
本発明者らの実験によると、0.01μF以上の容量値
を有するコンデンサであれば、断続印加のOFF時間を
500m秒以下とすれば、連続印加時と同様な結果が得
られた。
When a current value i 3 at a time point t 3 after a certain time T from the start of the application was measured, the current value i 3 was the same both during the continuous application and during the intermittent application. That is, even if the DC voltage is intermittently applied, the OFF time (t
If a to t b ) is short (for example, several hundred milliseconds or less), the same result as when charging by continuous application is obtained.
According to the experiments of the present inventors, the same result as in the case of continuous application was obtained if the off time of the intermittent application was 500 msec or less for a capacitor having a capacitance value of 0.01 μF or more.

【0010】上記充電特性についてさらに検討してみる
と、次のような事実が判明した。すなわち、コンデンサ
の等価回路は、図3のように容量C0 、内部抵抗r、絶
縁抵抗R0 のほかに、誘電分極成分Dが含まれており、
誘電分極成分Dは容量C1 ,C2 ・・・Cn と抵抗
1 ,R2 ・・・Rn とで構成されている。そして、図
1,図2の非線形的な充電特性,は容量C0 の充電
領域であるのに対し、線形的な充電特性は誘電分極
成分Dの充電領域であることが判明した。
When the charging characteristics were further examined, the following facts were found. That is, the equivalent circuit of the capacitor includes the dielectric polarization component D in addition to the capacitance C 0 , the internal resistance r, and the insulation resistance R 0 as shown in FIG.
Dielectric polarization component D is constituted by the capacitance C 1, C 2 ··· C n and the resistor R 1, R 2 ··· R n . It has been found that the non-linear charging characteristics in FIGS. 1 and 2 correspond to the charging region of the capacitance C 0 , whereas the linear charging characteristics correspond to the charging region of the dielectric polarization component D.

【0011】したがって、断続印加の1回目における線
形の充電特性3)と2回目における線形の充電特性5)(あ
るいは3回目以後の充電特性を用いてもよい)とを用い
て、誘電分極成分Dの充電特性の電流計算式を求め、こ
の電流計算式から充電終期(例えば60秒後)における
電流値を求めれば、コンデンサの絶縁抵抗を短時間に予
測することができる。そして、この絶縁抵抗を基準値と
比較することで、コンデンサの良否を簡単に判定でき
る。
Therefore, using the linear charging characteristic 3) at the first time of the intermittent application and the linear charging characteristic 5) at the second time (or the charging characteristic after the third time may be used), the dielectric polarization component D By calculating the current calculation formula for the charging characteristic of, and calculating the current value at the end of charging (for example, after 60 seconds) from the current calculation formula, the insulation resistance of the capacitor can be predicted in a short time. Then, this insulation resistance is used as a reference value.
By comparing, the quality of the capacitor can be easily determined.
You.

【0012】本発明によれば、連続印加方式のように測
定装置(例えばターンテーブル)を長期間止めておく必
要がなく、コンデンサを間欠搬送しながら絶縁抵抗を測
定できるので、設備能力を向上させることができるとい
う利点がある。
According to the present invention, it is not necessary to stop the measuring device (for example, a turntable) for a long time unlike the continuous application method, and the insulation resistance can be measured while the capacitor is intermittently conveyed. There is an advantage that can be.

【0013】上記充電電流計算式を求める方法として
は、種々の方法が考えられる。例えば、断続印加による
2つの印加期間の各時点の電流値を測定し、この測定さ
れた2つの電流値から、充電電流計算式log i=a・lo
g t+bの勾配aと切片bとを求める方法がある。この
場合、測定時刻は断続印加における線形の特性部分,
であることが必要である。
Various methods are conceivable as a method for obtaining the above-mentioned charging current calculation formula. For example, a current value at each time point in two application periods due to intermittent application is measured, and a charging current calculation formula log i = a · lo is obtained from the two measured current values.
There is a method of determining the gradient a of g t + b and the intercept b. In this case, the measurement time depends on the linear characteristic part in intermittent application,
It is necessary to be.

【0014】上記の充電電流計算式は直線近似式である
が、直線近似式で近似しえない場合には、対数近似式を
用いればよい。この場合の充電電流計算式はlog (log
i)=a・log t+bである。
The above-described charging current calculation formula is a linear approximation formula, but if it cannot be approximated by a linear approximation formula, a logarithmic approximation formula may be used. The charge current calculation formula in this case is log (log
i) = a · log t + b.

【0015】また、充電電流計算式を求める他の方法と
して、コンデンサの等価回路を使う方法がある。この方
法の場合、まず等価回路に基づいて充電電流計算式を初
期設定し、断続印加による複数の印加期間の実測電流値
m(t)と上記充電電流計算式を使って求めた計算電流
値i(t)とが一致するように、等価回路の誘電分極成
分Dである容量C1 ,C2 ・・・Cn と抵抗R1 ,R2
・・・Rn とを決定し、充電電流計算式を修正すればよ
い。この場合も、実測電流値m(t)は、断続印加にお
ける線形の特性部分,で測定すればよい。
As another method for obtaining the charging current calculation formula, there is a method using an equivalent circuit of a capacitor. In the case of this method, first, a charging current calculation formula is initially set based on an equivalent circuit, and a measured current value m (t) in a plurality of application periods by intermittent application and a calculation current value i obtained by using the above charging current calculation formula. as (t) and matches, resistance capacitance C 1, C 2 ··· C n is the dielectric polarization component D of the equivalent circuit R 1, R 2
... to determine the R n, it may be modified charging current formula. Also in this case, the measured current value m (t) may be measured at a linear characteristic portion in intermittent application.

【0016】ところで、断続印加時にコンデンサに流れ
る充電電流は、JISで50mAと決められている。し
かしながら、充電電流を50mAより大きくすると、初
期特性(図2の,,)の時間が短くなり、線形の
特性,が長くなる。したがって、充電電流を大きく
すれば、充電の応答性が向上し、電圧印加時間が短くて
も充電でき、設備処理能力を上げることができる。
Incidentally, the charging current flowing through the capacitor at the time of intermittent application is determined to be 50 mA according to JIS. However, when the charging current is larger than 50 mA, the time of the initial characteristics (, in FIG. 2) becomes shorter, and the linear characteristics become longer. Therefore, when the charging current is increased, the responsiveness of the charging is improved, and the charging can be performed even when the voltage application time is short, so that the equipment processing capacity can be increased.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】図4は本発明方法を実施するため
の電流測定装置の一例を示す。この測定装置は、本願出
願人が特願平7−293442号で提案したものであ
る。この測定装置は、直流測定電源10、スイッチ1
1、被測定物であるコンデンサ12、制限抵抗13、対
数増幅器14、計測用アンプ15、A/D変換器16,
18、演算処理回路(CPU)17を備えている。充電
初期は計測用アンプ15で電流値を計測し、所定の閾値
で対数増幅器14に切り換え、それ以後は対数増幅器1
4で電流値を計測する。この測定装置は、コンデンサ1
2の充電電流が幅広いレンジで変化しても正確に測定す
ることができるので、従来の測定装置では計測困難であ
った充電初期から充電終期までの電流値を連続的に計測
できる。
FIG. 4 shows an example of a current measuring device for carrying out the method of the present invention. This measuring device has been proposed by the present applicant in Japanese Patent Application No. 7-293442. This measuring device comprises a DC measuring power supply 10, a switch 1
1. Capacitor 12 to be measured, limiting resistor 13, logarithmic amplifier 14, measuring amplifier 15, A / D converter 16,
And an arithmetic processing circuit (CPU) 17. At the beginning of charging, the current value is measured by the measuring amplifier 15 and switched to the logarithmic amplifier 14 at a predetermined threshold.
In step 4, the current value is measured. This measuring device uses a capacitor 1
Since the measurement can be performed accurately even if the charging current of No. 2 changes in a wide range, the current value from the initial stage to the end of charging, which is difficult to measure with the conventional measuring device, can be continuously measured.

【0018】上記スイッチ11はCPU17によって所
定時間おきにON/OFFされ、コンデンサ12には直
流電圧が断続印加される。スイッチ11をON/OFF
させる時間間隔は一定である必要はない。例えば、2回
目のON時間を1回目のON時間より長くしてもよい
し、1回目のON時間を2回目のON時間より長くして
もよい。さらに3回以上印加する場合には、各回のON
時間を変えてもよい。なお、本発明方法は図4の測定装
置を用いる必要性はなく、コンデンサへの電圧印加を断
続できるものであれば、他のいかなる測定装置を用いて
もよい。
The switch 11 is turned on / off at predetermined intervals by the CPU 17, and a DC voltage is intermittently applied to the capacitor 12. Switch 11 ON / OFF
It is not necessary that the time interval be constant. For example, the second ON time may be longer than the first ON time, or the first ON time may be longer than the second ON time. When applying more than three times, turn on each time
You may change the time. The method of the present invention does not require the use of the measuring device of FIG. 4, and any other measuring device may be used as long as the voltage application to the capacitor can be intermittently performed.

【0019】次に、本発明にかかる充電電流の予測方法
の第1実施例を図5にしたがって説明する。まず、コン
デンサに直流電圧を断続的に印加する(ステップS0
1)。次に、断続印加による2つの印加期間の各時点t
1 ,t2 の電流値i1 ,i2 を測定する(ステップS0
2)。測定時点t1 ,t2 は、図2に示すように誘電分
極成分Dの充電領域3)5)内の時点とする必要があるが、
断続印加の初期(例えば1回目や2回目など)における
充電領域の電流値を測定する方が、測定時間を短縮でき
るので望ましい。続いて、測定電流値i1 ,i2 からコ
ンデンサの誘電分極成分Dの充電領域の直線近似式(lo
g i=a・log t+b)の勾配aと切片bを求める(ス
テップS03)。勾配aと切片bは次式により計算され
る。 a=(log i2 −log i1 )/(log t2 −log t1 ) b=(log i1 ・log t2 −log i2 ・log t1 )/(log t2 −log t1 ) 次に、勾配aと切片bとを求めた直線近似式log i=a
・log t+bに、最終充電時t3 (例えば60秒)を代
入すれば、充電時の電流値i3 を計算で求めることがで
きる(ステップS04)。この電流値i3 からコンデン
サの絶縁抵抗を知ることができる。
Next, a first embodiment of a method for predicting a charging current according to the present invention will be described with reference to FIG. First, a DC voltage is intermittently applied to the capacitor (step S0).
1). Next, each time point t of the two application periods due to the intermittent application
The current values i 1 , i 2 at 1 , 1 and t 2 are measured (step S0).
2). The measurement time points t 1 and t 2 need to be within the charged area 3) 5) of the dielectric polarization component D as shown in FIG.
It is desirable to measure the current value in the charging area at the beginning of the intermittent application (for example, the first or second time) because the measurement time can be reduced. Subsequently, a linear approximation formula (lo) of the charged region of the dielectric polarization component D of the capacitor is obtained from the measured current values i 1 and i 2.
The gradient a and the intercept b of g i = a · log t + b) are obtained (step S03). The gradient a and the intercept b are calculated by the following equations. a = (log i 2 −log t 1 ) / (log t 2 −log t 1 ) b = (log i 1 · log t 2 −log i 2 · log t 1 ) / (log t 2 −log t 1 ) Next, a linear approximation formula log i = a that is obtained from the gradient a and the intercept b
If the last charging time t 3 (for example, 60 seconds) is substituted for log t + b, the current value i 3 during charging can be obtained by calculation (step S04). From this current value i 3 can know the insulation resistance of the capacitor.

【0020】図6は、上記のようにして求めた直線近似
式(破線で示す)および実測値(実線で示す)である。
被測定物であるコンデンサとしては、積層セラミックコ
ンデンサを用い、充電電流は50mAとした。直線近似
式を求めるための具体的データは以下の通りである。 ta =30m秒,tb =70m秒,tc =100m秒 t1 =30m秒,i1 =1.0μA t2 =100m秒,i2 =0.3μA a=−0.97,b=3.5×10-83 =60秒 計算値i3 =1.05nA,実測値i3 =1.01nA このように、計算値i3 と実測値i3 との誤差は3.9
6%であった。これにより、上記方法が精度の高い測定
方法であることが実証された。なお、図6の実測値は6
0秒までの連続印加によって求めた。また、計算値は0
〜30m秒、70m秒〜100m秒の2回の断続印加に
よって求めた。
FIG. 6 shows the linear approximation formula (shown by a broken line) and the measured value (shown by a solid line) obtained as described above.
A multilayer ceramic capacitor was used as the capacitor to be measured, and the charging current was 50 mA. Specific data for obtaining the linear approximation formula is as follows. t a = 30 ms, t b = 70 ms, t c = 100 ms t 1 = 30 ms, i 1 = 1.0 μA t 2 = 100 ms, i 2 = 0.3 μA a = −0.97, b = 3.5 × 10 −8 t 3 = 60 seconds Calculated value i 3 = 1.05 nA, measured value i 3 = 1.01 nA As described above, the error between the calculated value i 3 and the measured value i 3 is 3.9.
6%. This proved that the above method was a highly accurate measurement method. The measured value in FIG.
It was determined by continuous application up to 0 seconds. The calculated value is 0
It was determined by two intermittent applications of 〜30 ms, 70 ms to 100 ms.

【0021】上記実施例では、対数座標における直線近
似式(log i=a・log t+b)を用いて時刻t3 の電
流値i3 を予測したが、コンデンサの種類によっては誘
電分極成分Dの充電特性が必ずしも直線にならない
場合がある。その場合には、対数近似式(log (log
i)=a・log t+b)を用いて電流値i3 を求めても
よい。この場合には、勾配aと切片bは次のようにして
求められる。
[0021] In the above embodiment, the predicted current value i 3 at time t 3 using linear approximation in the logarithmic coordinates (log i = a · log t + b), the charging of the dielectric polarization component D depending on the type of capacitor The characteristics may not always be linear. In that case, the logarithmic approximation (log (log
The current value i 3 may be obtained using i) = a · log t + b). In this case, the gradient a and the intercept b are obtained as follows.

【0022】[0022]

【数1】 (Equation 1)

【数2】 (Equation 2)

【0023】次に、本発明にかかる充電電流の予測方法
の第3実施例の原理を説明する。まず、コンデンサの等
価回路が図3で表されることは既に述べた。ここで、図
3に示した等価回路の誘電分極成分Dである容量C1
2 ・・・Cn と抵抗R1,R2 ・・・Rn を、以下に
示すように等比数列の関係におく。 Ck =pk-11 , Rk =qk-11 但し、k=1,2・・・n、C1 ,R1 ,p,qは定数
である。等価回路に流れる電流式は以下のとおりであ
る。
Next, the principle of a third embodiment of the method for predicting a charging current according to the present invention will be described. First, it has already been described that the equivalent circuit of the capacitor is shown in FIG. Here, the capacitance C 1 , which is the dielectric polarization component D of the equivalent circuit shown in FIG.
The C 2 ··· C n and the resistor R 1, R 2 ··· R n , placed in relationship geometric progression as shown below. C k = p k−1 C 1 , R k = q k−1 R 1 where k = 1, 2,..., N, C 1 , R 1 , p, and q are constants. The current equation flowing through the equivalent circuit is as follows.

【0024】[0024]

【数3】 但し、Eはコンデンサへの印加電圧、tは時間、R0
絶縁抵抗である。
(Equation 3) Here, E is the voltage applied to the capacitor, t is time, and R 0 is the insulation resistance.

【0025】(1)式において、第1項は絶縁抵抗R0
を流れる電流、第2項は誘電分極成分Dを流れる電流で
ある。なお、充電初期には容量C0 と内部抵抗rとの直
列回路にも電流が流れるが、これは本発明における充電
電流計算式に直線関係がないので、省略した。
In the equation (1), the first term is the insulation resistance R 0
And the second term is the current flowing through the dielectric polarization component D. In the initial stage of charging, a current also flows in a series circuit of the capacitance C 0 and the internal resistance r, but this is omitted because the charging current calculation formula in the present invention has no linear relationship.

【0026】上記のように設定した計算電流値i(t)
と図4の電流測定装置で実測された実測電流値m(t)
とがほぼ一致するように、パラメータC1 ,R1 ,p,
qを決定する。なお、実測電流値m(t)の計測時刻
は、誘電分極成分Dの充電領域内(図2参照)の時
点とする必要があるが、断続印加における初期(例えば
1回目,2回目など)の充電領域とするのが望ましい。
The calculated current value i (t) set as described above
And the actually measured current value m (t) measured by the current measuring device of FIG.
So that the parameters C 1 , R 1 , p,
Determine q. Note that the measurement time of the actually measured current value m (t) needs to be at the time point within the charged region of the dielectric polarization component D (see FIG. 2), but the initial time (for example, the first time, the second time, etc.) in the intermittent application. It is desirable to use a charging area.

【0027】計算電流値i(t)と実測電流値m(t)
との一致度は以下のようにして評価する。まず、評価関
数n(t)を次のように設定する。 n(t)=log(m(t))−log(i(t)) 上式で求めた評価関数n(t)を直線近似する。近似式
は一次式y=ax+bで表されるが、この式の傾きaと
切片bとが0に近い程、一致度が高いと判断する。この
ように一致度の高いパラメータを用いて計算式(1)を
修正し、修正された計算式(1)に充電終了時の時間
(例えば60秒)を代入することにより、充電終了時の
電流値を求めることができる。
The calculated current value i (t) and the actually measured current value m (t)
Is evaluated in the following manner. First, the evaluation function n (t) is set as follows. n (t) = log (m (t))-log (i (t)) The evaluation function n (t) obtained by the above equation is linearly approximated. The approximate expression is represented by a linear expression y = ax + b, and it is determined that the closer the slope a and the intercept b of this expression are to 0, the higher the degree of coincidence. By correcting the calculation formula (1) using the parameter having a high degree of coincidence and substituting the time at the end of charging (for example, 60 seconds) into the corrected calculation formula (1), the current at the end of charging is calculated. The value can be determined.

【0028】次に、第3実施例における充電電流予測方
の具体例を説明する。まず、被測定物であるコンデン
サとして積層セラミックコンデンサを用い、パラメータ
1 ,R1 ,p,qを次のような値に初期設定した。 C1 =210×10-121 =0.1×106 p=1.07 q=2.1
Next, the charging current prediction method in the third embodiment
A specific example of the method will be described. First, a multilayer ceramic capacitor was used as a capacitor to be measured, and parameters C 1 , R 1 , p, and q were initially set to the following values. C 1 = 210 × 10 −12 R 1 = 0.1 × 10 6 p = 1.07 q = 2.1

【0029】このような初期設定値により求めた計算値
i(t)と実測値m(t)を図7に示す。初期設定値に
より求めた直線近似式は、図7の中の式のように傾きa
=5.37、切片b=0.044であり、共に0に近く
ない。そのため、例えば60秒後の計算値i(t)と実
測値m(t)とが一致していないことが分かる。なお、
図7も図6と同様にして実測値および計算値を求めた。
FIG. 7 shows the calculated value i (t) and the actually measured value m (t) obtained from such initial setting values. The linear approximation equation obtained from the initial setting value has a slope a as shown in the equation in FIG.
= 5.37, intercept b = 0.044, and both are not close to 0. Therefore, for example, it can be seen that the calculated value i (t) after 60 seconds does not match the actually measured value m (t). In addition,
In FIG. 7, the measured values and the calculated values were obtained in the same manner as in FIG.

【0030】次に、傾きaおよび切片bが0に近くなる
ように、図8のような方法を用いてパラメータC1 ,R
1 ,p,qを修正した。まず、パラメータC1 ,R1
p,qを初期設定する(ステップS1)。次に、初期設
定されたパラメータを用いて、計算式(1)により、誘
電分極成分Dの充電領域(図2参照)における計算
電流値i(t)を求める(ステップS2)。続いて、同
時点における実測値m(t)を測定し、実測値m(t)
と計算値i(t)との差により評価関数n(t)を求め
る(ステップS3)。次に、評価関数n(t)を直線近
似する(ステップS4)。次に、近似式y=ax+bの
切片bの絶対値が所定値βより小さいか否かを判定する
(ステップS5)。このステップは、切片bが0に近い
かどうかを判定するものである。ステップS5で、|b
|≧βの場合には、近似計算回数が所定回数N1 以内で
あるか否かを判定する(ステップS6)。これは、無限
ループを回避するための処理である。近似計算回数がN
1 回以下であれば、bの正負によってC1 を一定値だけ
増加もしくは減少させる(ステップS7)。近似計算回
数がN1 回以上になれば、C1 の修正では切片bが0に
近づかないことを意味するので、qおよび/またはR1
をbの正負によって一定値だけ増加もしくは減少させる
(ステップS8)。ステップS7またはS8で、C1
たはq,R1 を修正した後、ステップS2〜S3〜S4
〜S5を繰り返す。ステップS5で|b|<βとなった
場合は、続いて近似式の傾きaの絶対値が所定値αより
小さいか否かを判定する(ステップS9)。ステップS
9で、|a|≧αの場合には、近似計算回数が所定回数
2 以内であるか否かを判定する(ステップS10)。
これも、無限ループを回避するための処理である。近似
計算回数がN2 回以下であれば、aの正負によってpを
一定値だけ増加もしくは減少させる(ステップS1
1)。近似計算回数がN2 回以上になれば、pの修正で
は傾きaが0に近づかないことを意味するので、qおよ
び/またはR1 をaの正負によって一定値だけ増加もし
くは減少させる(ステップS12)。ステップS11ま
たはS12で、pまたはqおよび/またはR1 を修正し
た後、ステップS2〜S3〜S4〜S5〜S9を繰り返
し、|b|<βでかつ|a|<αとなった場合に、一致
が完了したと判断する(ステップS13)。つまり、パ
ラメータC1 ,R1 ,p,qを最終的に決定する。
Next, the parameters C 1 , R are set using the method as shown in FIG. 8 so that the slope a and the intercept b are close to 0.
1 , p and q were modified. First, the parameters C 1 , R 1 ,
Initially, p and q are set (step S1). Next, the calculated current value i (t) in the charged region (see FIG. 2) of the dielectric polarization component D is obtained by the calculation formula (1) using the initially set parameters (step S2). Subsequently, the measured value m (t) at the same point is measured, and the measured value m (t)
An evaluation function n (t) is obtained from the difference between the calculated value and the calculated value i (t) (step S3). Next, the evaluation function n (t) is linearly approximated (step S4). Next, it is determined whether or not the absolute value of the intercept b of the approximate expression y = ax + b is smaller than a predetermined value β (step S5). This step determines whether or not the intercept b is close to zero. In step S5, | b
| In the case of ≧ beta is the number of approximation calculations is equal to or less than a predetermined number N 1 (step S6). This is a process for avoiding an infinite loop. Number of approximate calculations is N
If more than once, a C 1 is increased or decreased by a fixed value by the sign of b (step S7). If the number of approximate calculations becomes N 1 or more, it means that the intercept b does not approach 0 with the correction of C 1 , so that q and / or R 1
Is increased or decreased by a constant value depending on the sign of b (step S8). In step S7 or S8, C 1 or q, after modifying the R 1, step S2~S3~S4
To S5 are repeated. When | b | <β is satisfied in step S5, it is determined whether the absolute value of the gradient a of the approximate expression is smaller than a predetermined value α (step S9). Step S
In 9, | a | in the case of ≧ alpha is the number of approximation calculations is equal to or less than a predetermined number N 2 (step S10).
This is also a process for avoiding an infinite loop. If the number of approximate calculations is N 2 or less, p is increased or decreased by a constant value depending on the sign of a (step S1).
1). If the number of approximation calculations is more than two times N, the inclination a is the modification of p is meant that not approach 0, is increased or decreased by a fixed value q and / or R 1 by the sign of a (step S12 ). In step S11 or S12, after modifying the p or q and / or R 1, repeat steps S2~S3~S4~S5~S9, | b | when a <α, | a | <and in β It is determined that the matching has been completed (step S13). That is, the parameters C 1 , R 1 , p, and q are finally determined.

【0031】最終的に決定されたパタメータは以下の通
りである。 C1 =198.3×10-121 =0.1×106 p=1.093 q=2.1
The parameters finally determined are as follows. C 1 = 198.3 × 10 −12 R 1 = 0.1 × 10 6 p = 1.093 q = 2.1

【0032】図9は修正されたパラメータを用いて求め
た計算値(t)と実測値m(t)との比較図である。こ
の場合の直線近似式は、傾きa=2×10-5、切片b=
−6×10-6であり、共に0に近い。図9から明らかな
ように、計算値i(t)と実測値m(t)とが充電終了
時(例えば60秒後)でも非常によく一致しており、本
発明方法が非常に精度の高い予測方法であることが証明
された。なお、図9も図6と同様にして実測値および計
算値を求めた。
FIG. 9 is a comparison diagram between the calculated value (t) obtained using the corrected parameters and the actually measured value m (t). In this case, the linear approximation formula is as follows: slope a = 2 × 10 −5 , intercept b =
−6 × 10 −6 , and both are close to 0. As is clear from FIG. 9, the calculated value i (t) and the actually measured value m (t) match very well even at the end of charging (for example, after 60 seconds), and the method of the present invention has extremely high accuracy. It proved to be a prediction method. Note that, in FIG. 9, measured values and calculated values were obtained in the same manner as in FIG. 6.

【0033】上記実施例では、直線近似によってパラメ
ータC1 ,R1 ,p,qを修正したが、直線近似に加え
て、2次曲線近似を用いることにより、パラメータを修
正するようにしてもよい。すなわち、図10に示される
ように、実測値と計算値との差n(t)に対して、直線
y=ax+bで近似した場合、傾きaおよび切片bは共
に0に近い値となり、直線近似の一致度は高いことにな
る。しかしながら、実測値と近似直線とは全く一致して
いない。そのため、充電終期における計算値と実測値と
が大きく食い違う結果となる。このような場合には、2
次曲線近似を併用することにより、高い精度で一致度を
評価できる。
In the above embodiment, the parameters C 1 , R 1 , p, and q are modified by linear approximation. However, the parameters may be modified by using quadratic curve approximation in addition to linear approximation. . That is, as shown in FIG. 10, when the difference n (t) between the actually measured value and the calculated value is approximated by a straight line y = ax + b, both the slope a and the intercept b become values close to 0, and the straight line approximation is performed. Will be high. However, the measured values and the approximate straight line do not completely match. Therefore, the calculated value and the measured value at the end of charging greatly differ from each other. In such a case, 2
By using the following curve approximation together, the degree of coincidence can be evaluated with high accuracy.

【0034】2次曲線近似を行う場合には、評価関数n
(t)の近似式をy=dx2 +ex+fとし、2次係数
dが0に近く、かつ(−e/2d)が一致度合いを比較
するための区間時間内の値となったとき、一致度が高い
と判断する。この区間時間としては、例えば5〜20m
秒程度が望ましい。一致度が低い場合、計算式(1)の
0 の値を変更する。このように、直線近似式と2次曲
線近似式の一致度が高くなるようにパラメータを修正し
た後、修正したパラメータを用いた計算式(1)で電流
値を求めれば、一層精度の高い計算値を得ることができ
る。
When performing quadratic curve approximation, the evaluation function n
When the approximate expression of (t) is y = dx 2 + ex + f, and the secondary coefficient d is close to 0 and (−e / 2d) is a value within the section time for comparing the degree of coincidence, the degree of coincidence Is determined to be high. As this section time, for example, 5 to 20 m
Seconds are desirable. If the degree of coincidence is low, the value of R 0 in equation (1) is changed. As described above, if the parameters are corrected so that the degree of coincidence between the linear approximation formula and the quadratic curve approximation formula becomes high, and then the current value is obtained by the calculation formula (1) using the corrected parameters, a more accurate calculation can be performed. Value can be obtained.

【0035】図11は直線近似法と2次曲線近似法とを
併用したパラメータの決定方法を示す図である。まず、
充電初期(例えば5〜20m秒)における電流値m
(t)を測定する(ステップS14)。次に、絶縁抵抗
0 を決定する。R0 の初期値は十分大きな値を設定す
る(ステップS15)。次に、パタメータC1 ,R1
p,qを決定する(ステップS16)。これらパラメー
タの初期値は図8のステップS1と同様に、経験的に知
られた値とすればよい。次に、決定されたパラメータを
用いて計算式(1)により計算電流値i(t)を求める
(ステップS17)。次に、実測した電流値m(t)と
計算で求めた計算電流値i(t)との差により評価関数
n(t)を求める(ステップS18)。次に、評価関数
n(t)を直線近似する(ステップS19)。次に、直
線近似による一致度が高いか否かを判定する(ステップ
S20)。判定方法は、図8における傾きaと切片bが
共に0に近いかどうかで判定する。一致度が低い場合
は、パタメータC1 ,R1 ,p,qを修正し、ステップ
S16以下の処理を繰り返す。直線近似の一致度が高い
場合には、続いて評価関数n(t)を2次曲線近似する
(ステップS21)。続いて、2次曲線近似による一致
度が高いか否かを判定する(ステップS22)。この判
定方法は、2次曲線近似式の2次係数dが0に近く、か
つ(−e/2d)が一致度合いを比較するための区間時
間内の値となったか否かで判定する。一致度が低い場合
は、パタメータR0 を修正し、ステップS15以下の処
理を繰り返す。2次曲線近似の一致度が高いと判断した
場合には、パラメータR0 およびC1,R1 ,p,qを
最終決定する(ステップS23)。
FIG. 11 is a diagram showing a parameter determination method using both the linear approximation method and the quadratic curve approximation method. First,
Current value m at the beginning of charging (for example, 5 to 20 msec)
(T) is measured (step S14). Next, the insulation resistance R 0 is determined. A sufficiently large value is set as the initial value of R 0 (step S15). Next, the parameters C 1 , R 1 ,
p and q are determined (step S16). The initial values of these parameters may be empirically known values, similarly to step S1 in FIG. Next, a calculated current value i (t) is obtained by the calculation formula (1) using the determined parameters (step S17). Next, an evaluation function n (t) is obtained from the difference between the actually measured current value m (t) and the calculated current value i (t) (step S18). Next, the evaluation function n (t) is linearly approximated (step S19). Next, it is determined whether or not the degree of coincidence by the linear approximation is high (step S20). The determination method is based on whether both the slope a and the intercept b in FIG. 8 are close to 0. If the degree of coincidence is low, the parameters C 1 , R 1 , p, and q are corrected, and the processing from step S16 is repeated. If the degree of coincidence in the linear approximation is high, then the evaluation function n (t) is approximated by a quadratic curve (step S21). Subsequently, it is determined whether or not the degree of coincidence by the quadratic curve approximation is high (step S22). This determination method determines whether or not the quadratic coefficient d of the quadratic curve approximation equation is close to 0 and (-e / 2d) is a value within the section time for comparing the degree of coincidence. If the degree of coincidence is low, the parameter R0 is corrected, and the processing from step S15 is repeated. If it is determined that the degree of coincidence in the quadratic curve approximation is high, the parameters R 0 and C 1 , R 1 , p, and q are finally determined (step S23).

【0036】上記実施例では、等価回路の誘電分極成分
Dである容量C1 ,C2 ・・・Cnと抵抗R1 ,R2
・・Rn を等比数列の関係に設定したが、等比数列以外
の関係に設定してもよい。いずれにしても、実測電流値
m(t)と計算電流値i(t)の一致度から、容量
1 ,C2 ・・・Cn と抵抗R1 ,R2 ・・・Rn を決
定できる方法であればよい。また、実測電流値m(t)
と計算電流値i(t)との一致度を評価するため、直線
近似または2次曲線近似を行ったが、他の公知の近似法
を用いてもよいことは勿論である。
In the above embodiment, the capacitances C 1 , C 2 ... C n and the resistances R 1 , R 2.
··· R n is set to a geometric progression, but may be set to a relationship other than a geometric progression. In any case, the capacitances C 1 , C 2 ... C n and the resistances R 1 , R 2 ... R n are determined from the degree of coincidence between the measured current value m (t) and the calculated current value i (t). Any method that can be used can be used. Also, the measured current value m (t)
Although linear approximation or quadratic curve approximation was performed to evaluate the degree of coincidence between the calculated current value i (t) and the calculated current value i (t), it is a matter of course that other known approximation methods may be used.

【0037】上記実施例では、コンデンサに流れる充電
電流を、制限抵抗13(図4参照)によってJISで決
められた50mAに制限したものであるが、制限抵抗1
3の抵抗値を小さくして充電電流を大きくすると、図1
2に示すように充電の応答が速くなることを発見した。
図12の実線は充電電流を50mAとした場合、二点鎖
線は充電電流を100mAとした場合である。
In the above embodiment, the charging current flowing to the capacitor is limited to 50 mA determined by JIS by the limiting resistor 13 (see FIG. 4).
When the charging current is increased by lowering the resistance value of FIG.
As shown in FIG. 2, it has been found that the response of charging is faster.
The solid line in FIG. 12 is the case where the charging current is 50 mA, and the two-dot chain line is the case where the charging current is 100 mA.

【0038】すなわち、容量C0 による充電領域の
電流値が高くなるとともに、その時間が短縮された。こ
れに対し、誘電分極成分Dの充電領域の充電曲線は
全く変化しておらず、充電領域の開始点がより速く
なった。つまり、線形的な誘電分極成分Dの充電領域
が延長されたものである。そのため、第1実施例にお
ける電流値i1 ,i2 を測定するための時刻t1 ,t2
や、計算式(1)の評価,修正を行う時刻を短縮でき
る。つまり、より高速にかつより正確に絶縁抵抗を測定
することが可能となった。
That is, the current value of the charging area by the capacitance C 0 was increased, and the time was shortened. On the other hand, the charging curve of the charged region of the dielectric polarization component D did not change at all, and the starting point of the charged region became faster. That is, the charging region of the linear dielectric polarization component D is extended. Therefore, the times t 1 and t 2 for measuring the current values i 1 and i 2 in the first embodiment.
Also, the time at which the evaluation and correction of the formula (1) are performed can be reduced. That is, it has become possible to measure the insulation resistance faster and more accurately.

【0039】図13は本発明方法を用いた特性測定・選
別・テーピング装置の一具体例を示す。図において、2
0はターンテーブルであり、ターンテーブル20は矢印
方向に1ピッチずつ間欠的に回転する。ターンテーブル
20の周囲には、被測定物であるチップ型コンデンサを
1個ずつ保持できる複数の保持部21が等ピッチ間隔で
設けられている。ターンテーブル20の周囲には、コン
デンサをターンテーブル20へ供給する供給部22、容
量測定部23、本発明が実施される2つの充電IR測定
部24a,24b、不良品排出部25、良品取出部26
等が設けられており、供給部22にはコンデンサを1個
ずつターンテーブル20へ送り込むパーツフィーダなど
の供給装置27が配置されている。
FIG. 13 shows a specific example of a characteristic measuring / selecting / taping apparatus using the method of the present invention. In the figure, 2
Reference numeral 0 denotes a turntable, and the turntable 20 rotates intermittently by one pitch in the direction of the arrow. Around the turntable 20, a plurality of holding parts 21 capable of holding one chip type capacitor as an object to be measured are provided at equal pitch intervals. Around the turntable 20, a supply unit 22 for supplying a capacitor to the turntable 20, a capacity measuring unit 23, two charging IR measuring units 24a and 24b in which the present invention is implemented, a defective product discharging unit 25, and a non-defective product extracting unit 26
The supply unit 22 is provided with a supply device 27 such as a parts feeder that feeds the capacitors to the turntable 20 one by one.

【0040】また、良品取出部26に対応してテーピン
グ装置28が配置されている。テーピング装置28はコ
ンデンサ収納用の基材テープ29を矢印方向に1ピッチ
ずつ間欠的に駆動しており、基材テープ29の収納部2
9aには良品取出部26から良品コンデンサが1個ずつ
収納される。収納部29aへコンデンサを収納した後、
テーピング装置28は周知のように基材テープ29にカ
バーテープ(図示せず)を接着する。
A taping device 28 is arranged corresponding to the non-defective product take-out section 26. The taping device 28 intermittently drives the base tape 29 for accommodating the capacitor in the direction of the arrow one pitch at a time.
9a, non-defective capacitors are stored one by one from the non-defective portion 26. After storing the capacitor in the storage section 29a,
The taping device 28 adheres a cover tape (not shown) to the base tape 29 as is well known.

【0041】従来の場合には、コンデンサをターンテー
ブル上で長時間充電しなければならないため、テーピン
グ装置と同期させることができず、ターンテーブルで特
性測定を終了した良品のコンデンサを取出容器などに所
定個数溜めておき、取出容器からコンデンサを改めてパ
ーツフィーダなどを用いて1個ずつ取り出し、テーピン
グ装置に供給していた。そのため、特性測定から梱包に
至る作業スピードが非常に遅く、設備の大型化、コスト
の増大を招いていた。
In the conventional case, since the capacitor must be charged on the turntable for a long time, the capacitor cannot be synchronized with the taping device. A predetermined number is stored, and condensers are taken out of the take-out container one by one again using a parts feeder or the like and supplied to a taping device. Therefore, the operation speed from the characteristic measurement to the packaging is extremely slow, which has led to an increase in size of the equipment and an increase in cost.

【0042】これに対し、本発明方法を用いた場合に
は、コンデンサの充電時の電流、つまり絶縁抵抗を充電
IR測定部24a,24bで瞬時に求めることができる
ので、ターンテーブル20の2回もしくはそれ以上の停
止期間中に絶縁抵抗測定を終了でき、充電IR測定部2
4a,24bを最小2区画で構成することができる。そ
のため、ターンテーブル20とテーピング装置28とを
容易に同期させることができ、特性測定が終了したコン
デンサをターンテーブル22から直接テーピング装置2
8へ送り込むことができる。その結果、従来に比べて作
業スピードが格段に向上するだけでなく、設備の小型化
およびコスト削減を実現できる。
On the other hand, when the method of the present invention is used, the current at the time of charging the capacitor, that is, the insulation resistance, can be instantaneously obtained by the charging IR measuring units 24a and 24b. Alternatively, the insulation resistance measurement can be completed during the suspension period, and the charging IR measurement unit 2
4a and 24b can be composed of at least two sections. Therefore, the turntable 20 and the taping device 28 can be easily synchronized, and the capacitor whose characteristics have been measured can be directly transferred from the turntable 22 to the taping device 2.
8 can be sent. As a result, not only the work speed is remarkably improved as compared with the conventional one, but also the downsizing of the equipment and the cost reduction can be realized.

【0043】図14は特性測定・選別・テーピング装置
の他の具体例を示す。この装置は、1台のターンテーブ
ル20を中心として、その両側にパーツフィーダなどの
供給装置27を配置するとともに、2台のテーピング装
置28を配置したものである。2本のテープ29は互い
に逆方向に送られる。この装置の場合、図13の装置に
比べて作業スピードの一層の向上と、効率化とが図れ
る。
FIG. 14 shows another specific example of the characteristic measuring / sorting / taping apparatus. In this device, a supply device 27 such as a parts feeder is arranged on both sides of a single turntable 20 and two taping devices 28 are arranged. The two tapes 29 are sent in opposite directions. In the case of this device, the working speed can be further improved and efficiency can be improved as compared with the device of FIG.

【0044】図15は特性測定・選別・バルクケース詰
め装置の一具体例を示す。この装置では、パーツフィー
ダ27、ターンテーブル20を経て取り出された良品コ
ンデンサは、ターンテーブル20からバルクケース詰め
装置30によってバルクケース31へ詰められる。バル
クケース31には所定個数のコンデンサを収納できるよ
うになっており、一定個数のコンデンサが収納された
後、バルクケース31は矢印方向に駆動される。この場
合も、図13と同様な効果がある。
FIG. 15 shows a specific example of an apparatus for measuring, sorting, and filling a bulk case. In this device, the non-defective capacitor taken out through the parts feeder 27 and the turntable 20 is packed from the turntable 20 into the bulk case 31 by the bulk case packing device 30. A predetermined number of capacitors can be stored in the bulk case 31, and after a certain number of capacitors are stored, the bulk case 31 is driven in the direction of the arrow. In this case, the same effect as in FIG. 13 is obtained.

【0045】なお、本発明はセラミックコンデンサに限
らず、電解コンデンサやフィルムコンデンサなど、誘電
分極成分を有するコンデンサであれば、如何なるコンデ
ンサであっても測定可能である。
It should be noted that the present invention is not limited to ceramic capacitors, and any capacitor having a dielectric polarization component, such as an electrolytic capacitor or a film capacitor, can be measured.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、コンデンサに直流電圧を断続的に印加し、断続
印加による複数の印加期間内の各時点の電流値を測定
し、この測定電流値からコンデンサの誘電分極成分の充
電電流計算式を求め、この充電電流計算式から充電終期
における電流値を求めるようにしたので、最終的な電流
値(例えば1分後の電流値)を正確に予測できる。その
ため、この電流値からコンデンサの良否を短時間でかつ
正確に判定できる。また本発明では、コンデンサに連続
的に電圧を印加する必要がないので、ターンテーブルな
どによって間欠搬送しながらコンデンサの良否を判定
きる。そして、間欠搬送時の停止期間を数十m秒程度ま
で短縮できるので、判定能力を大幅に向上させることが
できるという効果がある。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a DC voltage is intermittently applied to a capacitor, and the current value at each time point within a plurality of application periods due to the intermittent application is measured.
Then, the charging current calculation formula for the dielectric polarization component of the capacitor is obtained from the measured current value, and the current value at the end of charging is obtained from the charging current calculation formula, so that the final current value (for example, the current after one minute) is obtained. Value) can be accurately predicted. That
Therefore, the quality of the capacitor can be accurately determined in a short time from the current value . Further, in the present invention, since it is not necessary to continuously apply a voltage to the capacitor, it is possible to determine the quality of the capacitor while intermittently transporting the capacitor using a turntable or the like. Since the stop period during intermittent conveyance can be reduced to about several tens of milliseconds, there is an effect that the determination ability can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】コンデンサに直流電圧を連続印加した時の充電
特性図である。
FIG. 1 is a charge characteristic diagram when a DC voltage is continuously applied to a capacitor.

【図2】コンデンサに直流電圧を断続印加した時の充電
特性図である。
FIG. 2 is a charge characteristic diagram when a DC voltage is intermittently applied to a capacitor.

【図3】コンデンサの等価回路の他の例の回路図であ
る。
FIG. 3 is a circuit diagram of another example of an equivalent circuit of a capacitor.

【図4】充電電流測定装置の一例の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of an example of a charging current measuring device.

【図5】充電電流測定方法の第1実施例のフローチャー
ト図である。
FIG. 5 is a flowchart of a first embodiment of a charging current measuring method.

【図6】本発明にかかる電流計算式と実測値との比較図
である。
FIG. 6 is a comparison diagram between a current calculation formula according to the present invention and an actually measured value.

【図7】本発明にかかる電流計算式の修正前の計算値と
実測値との比較図である。
FIG. 7 is a comparison diagram between a calculated value of a current calculation formula according to the present invention before correction and an actually measured value.

【図8】直線近似法を用いてパラメータを決定する方法
を示すフローチャート図である。
FIG. 8 is a flowchart illustrating a method for determining parameters using a linear approximation method.

【図9】本発明にかかる電流計算式の修正後の計算値と
実測値との比較図である。
FIG. 9 is a comparison diagram between a calculated value of a current calculation formula according to the present invention after correction and an actually measured value.

【図10】直線近似式による近似ができない場合の図で
ある。
FIG. 10 is a diagram in a case where approximation by a linear approximation formula cannot be performed.

【図11】直線近似と2次曲線近似とを併用した場合の
パラメータ決定方法を示すフローチャート図である。
FIG. 11 is a flowchart illustrating a parameter determination method when both linear approximation and quadratic curve approximation are used.

【図12】充電電流を大きくした時のコンデンサの充電
特性図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating charging characteristics of a capacitor when a charging current is increased.

【図13】本発明方法を用いた特性測定・選別・テーピ
ング装置の一例の平面図である。
FIG. 13 is a plan view of an example of a characteristic measuring / sorting / taping apparatus using the method of the present invention.

【図14】本発明方法を用いた特性測定・選別・テーピ
ング装置の他の例の平面図である。
FIG. 14 is a plan view of another example of the characteristic measuring / sorting / taping apparatus using the method of the present invention.

【図15】本発明方法を用いた特性測定・選別・バルク
ケース詰め装置の一例の平面図である。
FIG. 15 is a plan view of an example of an apparatus for measuring, sorting, and packing a bulk case using the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 直流測定電源 12 コンデンサ 13 抵抗 14 対数増幅器 15 計測用アンプ 16,18 A/D変換器 17 CPU 20 ターンテーブル 24a,24b 充電IR測定部 27 パーツフィーダ 28 テーピング装置 Reference Signs List 10 DC measurement power supply 12 Capacitor 13 Resistance 14 Logarithmic amplifier 15 Measurement amplifier 16, 18 A / D converter 17 CPU 20 Turntable 24a, 24b Charge IR measurement unit 27 Parts feeder 28 Taping device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北河 満 京都府長岡京市天神2丁目26番10号 株 式会社村田製作所内 (56)参考文献 特開 平9−113545(JP,A) 特開 昭62−123367(JP,A) 特開 昭57−39360(JP,A) 特開 平11−83926(JP,A) 特開 平10−221396(JP,A) 特開 平10−239368(JP,A) 特許3175674(JP,B2) 特許3293540(JP,B2) 特許3293541(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 27/00 - 27/32 H01G 13/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Mitsuru Kitagawa 2-26-10 Tenjin, Nagaokakyo-shi, Kyoto Murata Manufacturing Co., Ltd. (56) References JP-A-9-113545 (JP, A) JP-A Sho 62-123367 (JP, A) JP-A-57-39360 (JP, A) JP-A-11-83926 (JP, A) JP-A-10-221396 (JP, A) JP-A-10-239368 (JP, A A) Patent 3127574 (JP, B2) Patent 3293540 (JP, B2) Patent 3293541 (JP, B2) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 27 / 00-27/32 H01G 13/00

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】コンデンサに直流電圧を断続的に印加する
工程と、 断続印加による複数の印加期間内の各時点の電流値を測
定する工程と、 上記測定された複数の電流値から、コンデンサの誘電分
極成分の充電電流計算式を求める工程と、 上記充電電流計算式から充電終期における電流値を求め
る工程と、 上記充電終期における電流値を用いてコンデンサの良否
を判定する工程と、を含むコンデンサの良否判定方法。
A step of intermittently applying a DC voltage to a capacitor; a step of measuring a current value at each point in time during a plurality of application periods by intermittent application; A step of obtaining a charging current calculation formula of the dielectric polarization component; a step of obtaining a current value at the end of charging from the charging current calculation formula; and a step of determining the quality of the capacitor using the current value at the end of charging. Pass / fail judgment method.
【請求項2】上記充電電流計算式を求める工程は、 断続印加による2つの印加期間の各時点t1 ,t2 の電
流値i1 ,i2 を測定する工程と、 上記測定された2つの電流値i1 ,i2 から、充電電流
計算式log i=a・log t+bの勾配aと切片bとを求
める工程と、を含む請求項1に記載のコンデンサの良否
判定方法
2. The step of calculating the charging current calculation formula includes the steps of: measuring current values i 1 and i 2 at time points t 1 and t 2 of two application periods by intermittent application; from the current value i 1, i 2, the quality of the capacitor of claim 1 comprising the steps of determining the gradient a and the intercept b of the charging current equation log i = a · log t + b
Judgment method .
【請求項3】上記充電電流計算式を求める工程は、 断続印加による2つの印加期間の各時点t1 ,t2 の電
流値i1 ,i2 を測定する工程と、 上記測定された2つの電流値i1 ,i2 から、充電電流
計算式log (log i)=a・log t+bの勾配aと切片
bとを求める工程と、を含む請求項1に記載のコンデン
サの良否判定方法
3. The step of obtaining the charging current calculation formula includes the steps of measuring current values i 1 and i 2 at time points t 1 and t 2 of two application periods by intermittent application. 2. The method of claim 1, further comprising: determining a gradient a and an intercept b of a charging current calculation formula log (log i) = a · log t + b from the current values i 1 and i 2 .
【請求項4】上記充電電流計算式を求める工程は、 コンデンサの等価回路を使って電流計算式を初期設定す
る工程と、 断続印加による複数の印加期間の実測電流値m(t)と
上記充電電流計算式を使って求めた計算電流値i(t)
とが一致するように、等価回路の誘電分極成分である容
量C1 ,C2 ・・・Cn と抵抗R1 ,R2 ・・・Rn
を決定し、充電電流計算式を修正する工程と、を含む請
求項1に記載のコンデンサの良否判定方法
4. The step of obtaining the charging current calculation formula includes the steps of: initializing the current calculation formula using an equivalent circuit of a capacitor; and measuring the measured current value m (t) in a plurality of application periods by intermittent application and the charging current. The calculated current value i (t) obtained using the current calculation formula
As bets are matched, the capacitance C 1 is the dielectric polarization component of the equivalent circuit, C 2 ··· C n and the resistor R 1, R 2 ··· determine a R n, modifies the charging current formula 2. The method of claim 1, further comprising the steps of:
【請求項5】上記直流電圧の断続印加によってコンデン
サに流れる最大充電電流を50mAより大きくしたこと
を特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載のコン
デンサの良否判定方法
5. A quality determination method of a capacitor according to any one of claims 1 to 4, characterized in that the maximum charging current flowing to the capacitor by the intermittent application of the DC voltage of greater than 50 mA.
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