JP3307341B2

JP3307341B2 - 実装基板のスクリーニング装置

Info

Publication number: JP3307341B2
Application number: JP30087698A
Authority: JP
Inventors: 将史森本
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date: 1998-10-22
Filing date: 1998-10-22
Publication date: 2002-07-24
Anticipated expiration: 2018-10-22
Also published as: JP2000131365A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、所定の温度環境
下において、プリント配線基板に諸電子部品が実装され
た実装基板の動作の良、不良の検査をするための実装基
板のスクリーニング装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種のスクリーニング装置とし
て、図６及び図７に示すようなものがある。

【０００３】このスクリーニング装置は、内部の収容室
１００ａ内の雰囲気温度が調整自在とされた恒温槽１０
０と、この恒温層１００内に収容された実装基板１２０
に対しその雰囲気温度下で動作の良、不良を検査するた
めの検査部１１０とを備える。

【０００４】上記収容室１００ａ内には、それぞれ受コ
ネクタ１０１と基板受部１０２とからなる複数の基板セ
ット部１０３が、縦横に配列して設けられる（図７で
は、４セットのみ図示）。

【０００５】受コネクタ１０１は、収容室１００ａの背
面に取付けられており、実装基板１２０に設けられたコ
ネクタ１２１に接続可能なように構成されている。

【０００６】また、基板受部１０２は、上記コネクタ１
２１を受コネクタ１０１に接続するようにして収容室１
００ａ内に収容された実装基板１２０の下縁部をその下
側から受け止めて所定姿勢に保持する役割を果たす。

【０００７】上記各受コネクタ１０１は、それぞれ中継
ケーブル１３０を介して検査部１１０に接続されてい
る。ここで、中継ケーブル１３０として単線のものが用
いられると、例えば、２０極の入出力端子を有するコネ
クタ１０１が設けられた実装基板１２０を１００個同時
に検査する場合には、中継ケーブル１３０が２０００本
程度必要となる。

【０００８】こうして、中継ケーブル１３０を介し検査
部１１０の入出力端子と、対応する実装基板１２０のコ
ネクタ１２１の各入出力端子とが互いに電気的に接続さ
れて、検査部１１０と実装基板１２０との間で検査用入
出力信号の送受信が可能になっている。

【０００９】このスクリーニング装置を用いて複数の実
装基板１２０の動作の良、不良を検査するにあたって
は、上述のように各実装基板１２０をそれぞれ各基板セ
ット部１０３にセットした状態で、収容室１００ａ内の
雰囲気温度を所定温度に設定し、この状態で、検査部１
１０から所定の検査プログラムに従って検査用入力信号
が各実装基板１２０に順次送信される一方、これに応答
して各実装基板１２０から検査用出力信号が出力されて
検査部１１０で受信され、検査部１１０において受信さ
れた検査用出力信号に基づいて実装基板１２０の動作の
良、不良が判断される。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところで、実際に製造
される実装基板１２０は、その形状や大小サイズ、コネ
クタ１２１の構造、及びコネクタ１２１の入出力端子の
配列等も様々である。

【００１１】従って、例えば、特定の種類の実装基板１
２０用に製造されたスクリーニング装置によって、異な
る種類の実装基板１２０を検査しようとした場合等に
は、受コネクタ１０１の取り換えや、ケーブル１３０の
配線のし直し等が必要である。特に、各受コネクタ１０
１と検査部１１０間の配線作業は面倒であり、場合によ
っては数千本以上の中継ケーブル１３０を配線し直しす
る必要がある。

【００１２】そのため、従来のスクリーニング装置で
は、一台のスクリーニング装置で異なる種類の実装基板
を対象としてその動作の良、不良の検査を行うことは、
実質的に不可能に近く、各種実装基板に応じて専用のス
クリーニング装置をそれぞれ準備しなければならないと
いう問題があった。

【００１３】そこで、この発明は上述したような問題を
解決すべくなされたもので、一台の装置で、異なる種類
の実装基板を対象として、所定温度環境下におけるその
動作の良、不良を検査することが可能な実装基板のスク
リーニング装置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、この発明の請求項１記載の実装基板のスクリーニン
グ装置は、所定の温度環境下における実装基板の動作の
良、不良の検査を行うための実装基板のスクリーニング
装置であって、内部のパレット収容室内の雰囲気温度が
調整自在とされた恒温槽と、検査対象となる種類の実装
基板毎に対応して形成され、それぞれ対応する検査対象
となる種類の実装基板を複数セット可能に構成されると
共に、前記パレット収容室内にそれぞれ着脱自在に収容
可能とされた複数のパレットと、検査用入出力信号を入
出力するための入出力端子を有し、それら入出力端子を
介して検査用入力信号を前記パレットにセットされた各
実装基板に送信すると共にそれら各実装基板から出力さ
れる検査用出力信号を受信して、それら実装基板の動作
の良、不良を検査するための検査手段とを備え、前記複
数のパレットに共通の中継コネクタがそれぞれ設けられ
ると共に、前記パレット収容室内に前記パレットが収容
された状態で前記中継コネクタに接続される受中継コネ
クタが設けられ、前記各パレットにおいて、前記中継コ
ネクタからの配線群がそのパレットにセットされる実装
基板の数に応じて分岐されて、その分岐された配線群の
端部にそれぞれ前記各実装基板のコネクタに接続される
受コネクタが設けられ、検査対象となる種類の実装基板
に応じてそのコネクタの入出力端子がそれらに対応する
前記検査手段の入出力端子と対応して電気的に接続され
るように配線の切換を行うための入出力切換手段が前記
中継コネクタと前記検査手段との間に介装されている。

【００１５】なお、請求項２記載のように、検査対象と
なる実装基盤の種類がデータ入力される制御手段がさら
に設けられ、前記制御手段に前記データ入力がなされる
と、その制御手段により、前記データ入力に対応する実
装基板に応じた配線切換を行うための配線切換指令が前
記入出力切換手段に与えられると共に、その実装基板に
応じた検査を実行する指令が前記検査手段に与えられる
ように構成されていてもよい。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、この発明にかかる一実施形
態の実装基板のスクリーニング装置について説明する。

【００１７】このスクリーニング装置は、図１に示すよ
うに、恒温槽１０と検査測定機５０とが中継ケーブル９
０を介して接続されてなる。

【００１８】恒温槽１０は、図１及び図２に示すよう
に、その本体部１１内に上下２列のパレット収容室２０
が形成されると共に、各パレット収容室２０の前面開口
を覆うように扉部１２が閉開自在に設けられてなる。こ
の恒温槽１０には、周知の温度制御手段が設けられてお
り、各パレット収容室２０内の雰囲気温度を自在に調整
して検査条件に応じた所定の温度となるように制御可能
なように構成されている。

【００１９】各パレット収容室２０は、それらの間が棚
部１９によって仕切られた横長の空間に形成されてお
り、両パレット収容室２０は同一サイズ、すなわちそれ
らの高さ寸法Ｈと奥行き寸法Ｄがそれぞれ同一の寸法に
形成されている（図５参照）。

【００２０】各パレット収容室２０には、その幅方向に
所定間隔をあけてパレット３０が着脱自在に収容される
ように構成されている。例えば、上下２列のパレット収
容室２０のそれぞれに１４個のパレット３０が収容され
る。

【００２１】パレット３０は、検査対象となる実装基板
の種類毎に対応して準備されるもので、例えば、図２及
び図３に示すパレット３０は、一のコーナ部にコネクタ
４１が設けられた比較的大きめの長方形状の実装基板４
０に対応して準備されたものである。なお、実装基板４
０に実装された諸電子部品については図示を省略してい
る。

【００２２】すなわち、このパレット３０は、扁平な直
方体形状の本体部３１と、４個の実装基板４０を本体部
３１にそれぞれセットするための４組の基板セット部３
２と、セットされる各実装基板４０のコネクタ４１にそ
れぞれ接続可能な受コネクタ３６と、各コネクタ３６と
電気的に接続された中継コネクタ３４とを備える。

【００２３】本体部３１は、その高さ寸法ｈがパレット
収容室２０の高さ寸法Ｈよりも若干小さく、かつ、奥行
き寸法ｗがパレット収容室２０の奥行き寸法Ｄよりも若
干小さく仕上げられており、パレット３０を垂直に立て
たままの姿勢でパレット収容室２０内に収容可能なよう
に構成されている。

【００２４】基板セット部３２は、本体部３１の両側面
にそれぞれ上下に２組ずつ設けられており、各実装基板
４０の下側の２つのコーナ部を着脱自在に保持すること
等によって、当該各実装基板４０を本体部３１の両側面
に２枚ずつセット可能なように構成されている。

【００２５】中継コネクタ３４は、本体部３１の後側
（図３の左側）の端面の中央部に設けられており、後述
するパレット収容室２０内の受中継コネクタ２１に接続
可能なように構成されている（図５参照）。

【００２６】また、本体部３１の後端面の中継コネクタ
３４を上下から挟む位置に、一対のパイロットピン３５
が突設されている。各パイロットピン３５の先端部は、
やや尖るように仕上げられており、後述するパイロット
ピン受部２３の穴部２３ａ内に挿入可能なように構成さ
れている（図５参照）。

【００２７】中継コネクタ３４から延びる電線群（配線
群）は、このパレット３０にセットされる実装基板４０
の数に応じて４つに分岐されると共に、それら分岐され
た電線群（分岐配線群）３７の端部にそれぞれ受コネク
タ３６が取付けられている。

【００２８】そして、各受コネクタ３６をコネクタ４１
に接続すると、コネクタ４１の各入出力端子が中継コネ
クタ３４の複数の端子と１対１に対応づけられて電気的
に接続されるように構成されている。

【００２９】なお、本体部３１の前側（図３の右側）の
端面に取っ手部３３が設けられており、パレット３０を
パレット収容室２０に出し入れする際に、この取っ手部
３３を持って容易に出し入れ作業を行えるようになって
いる。

【００３０】また、図４に示すパレット３０Ｂは、一長
辺側の中央部にコネクタ４１Ｂが設けられた比較的小さ
めの長方形状の実装基板４０Ｂに対応して準備されたも
のである。なお、実装基板４０Ｂに実装された諸電子部
品についても図示が省略されている。

【００３１】このパレット３０Ｂは、上記パレット３０
のものと同様構成の本体部３１，取っ手部３３，中継コ
ネクタ３４及びパイロットピン３５を備えており、後述
するようにパレット３０と同様にパレット収容室２０内
に収容してその中継コネクタ３４を受中継コネクタ２１
に接続可能なように構成されている。

【００３２】そして、パレット３０と異なる構成とし
て、本体部３１の両側面にそれぞれ６組ずつ設けられた
基板セット部３２Ｂによって、当該実装基板４０Ｂを本
体部３１の両側面に６枚ずつセット可能なように構成さ
れている。

【００３３】もう一つの相違点として、中継コネクタ３
４から延びる電線群（配線群）が、このパレット３０に
セットされる実装基板４０Ｂの数に応じて１２に分岐さ
れると共に、それら分岐電線群（分岐配線群）３７Ｂの
端部にそれぞれコネクタ４１Ｂに接続可能な受コネクタ
３６Ｂが取付られている。

【００３４】そして、各受コネクタ３６Ｂをコネクタ４
１Ｂに接続すると、コネクタ４１Ｂの各入出力端子が中
継コネクタ３４の複数の端子に１対１に対応づけられて
電気的に接続されるように構成される。

【００３５】これらのパレット３０（又は３０Ｂ）を収
容するパレット収容室２０は、図２及び図５に示すよう
に、そのパレット３０（又は３０Ｂ）が収容される奥側
の壁面の各位置に、受中継コネクタ２１及びパイロット
ピン受部２３がそれぞれ設けられる。

【００３６】受中継コネクタ２１は、上下方向に延びる
縦長に形成され、その内部に上記中継コネクタ３４の各
端子にそれぞれ対応する複数の端子２２が配設されてい
る。この受中継コネクタ２１は、パレット３０（又は３
０Ｂ）をパレット収容室２０内に収容した状態で、中継
コネクタ３４と対向する位置に配設されている。

【００３７】また、パレット収容室２０の奥側の壁面の
上記受中継コネクタ２１を上下両側から挟み込む各位置
にパイロットピン３５を挿入可能な穴２３ａを有するパ
イロットピン受部２３が設けられる。この各パイロット
ピン受部２３は、パレット３０（又は３０Ｂ）をパレッ
ト収容室２０内に収容した状態で、各パイロットピン３
５と対向する位置に配設されている。

【００３８】そして、各パイロットピン３５をパイロッ
トピン受部２３の穴２３ａに挿入することによって案内
しながらパレット３０（又は３０Ｂ）をパレット収容室
２０内に押し込むようにして収容すると、その中継コネ
クタ３４が受中継コネクタ２１に接続されることにな
る。こうして、中継コネクタ３４の各端子は受中継コネ
クタ２１の対応する各端子にそれぞれ電気的に接続され
る。

【００３９】各受中継コネクタ２１から延びる中継ケー
ブル９０（配線群）は、恒温槽１０の背面側よりそれぞ
れ引き出されて検査測定機５０に接続される。

【００４０】検査測定機５０は、実装基板４０の動作の
良、不良を検査するための検査部７０と、配線の切換を
行うための入出力切換部６０と、検査部７０及び入出力
切換部６０に接続された制御手段８０とを備える。

【００４１】制御手段８０は、ＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲ
ＡＭ等を備える例えばパソコン等の一般的なマイクロコ
ンピュータが使用され、この制御手段８０に、検査対象
となる実装基板４０（又は４０Ｂ）に関するデータ（た
とえば品番等）が入力されると、そのデータ入力に対応
する実装基板４０（又は４０Ｂ）に応じた配線切換指令
が入出力切換部６０に与えられると共に、その実装基板
４０（又は４０Ｂ）に応じた検査を実行する検査指令が
検査部７０に与えられるように構成される。

【００４２】入出力切換部６０は、恒温槽１０側の入出
力部６０ａと、検査部７０側の入出力部６０ｂと、これ
ら両入出力部６０ａ，６０ｂ間の配線を切り換える切換
回路部６０ｃとを備える。

【００４３】恒温槽１０側の入出力部６０ａは、前記受
中継コネクタ２１より引出された中継ケーブル９０の端
部に取付けられた入出力コネクタ９１に電気的に接続さ
れる入出力受コネクタ６１を備えている。この入出力受
コネクタ６１は、恒温槽１０に設けられた受中継コネク
タ２１の数（パレット収容室２０内に収容されるパレッ
ト３０の数）に対応して複数設けられており、それぞれ
の入出力受コネクタ６１は、対応するそれぞれの受中継
コネクタ２１の各端子と対応する複数の端子を備えてい
る。

【００４４】また、検査部７０側の入出力部６０ｂは、
後述する検査部７０の検査用の入出力端子に対応した複
数の端子を備えており、各端子は、ケーブル９４を介し
て検査部７０の検査用の入出力端子に１対１で対応して
電気的に接続される。この検査部７０側の入出力部６０
ｂの端子数は上記恒温槽１０側の入出力部６０ａの端子
数と同一数だけ設けられている。

【００４５】切換回路部６０ｃは、トランジスタのスイ
ッチング機能等を用いて、恒温槽１０側の入出力部６０
ａの端子と検査部７０側の入出力部６０ｂの端子間の接
続切換（配線の切換）を行うものである。この切換は、
制御手段８０から与えられる配線切換指令に基づいて行
われ、配線切換指令が与えられると、その検査対象とな
る実装基板４０（又は４０Ｂ）に応じて、恒温槽１０側
の入出力部６０ａの各端子と検査部７０側の入出力部６
０ｂの各端子とが１対１に対応づけて切換接続され、こ
れにより検査対象となる実装基板４０（又は４０Ｂ）に
応じてそのコネクタ４１（又は４１Ｂ）の入出力端子が
それらに対応する検査部７０の入出力端子に１：１に対
応して電気的に接続されるように構成される。

【００４６】検査部７０は、検査用入出力信号を入出力
するための入出力端子を有し、その内部メモリには、実
装基板４０（又は４０Ｂ）の種類に応じた所定の検査プ
ログラムが予めストアされている。そして、この入出力
端子を上記入出力切換手段６０を介して、恒温層１０内
の各実装基板４０（又は４０Ｂ）のコネクタ４１（又は
４１Ｂ）の入出力端子にそれぞれ電気的に接続した状態
で、制御手段８０からその検査対象となる実装基板４０
（又は４０Ｂ）の検査指令が与えられると、その実装基
板４０（又は４０Ｂ）に応じた検査プログラムに基づい
て検査用入力信号が順次各実装基板４０（又は４０Ｂ）
に送信される一方、これに応答して各実装基板４０（又
は４０Ｂ）から出力された検査用出力信号が受信され、
この受信された検査用出力信号に基づいて各実装基板４
０（又は４０Ｂ）の動作の良、不良が判断されるように
構成される。

【００４７】本実装基板のスクリーニング装置は、以上
のように構成されており、次に、このスクリーニング装
置を用いた実装基板４０（又は４０Ｂ）の検査方法につ
いて説明する。

【００４８】まず、実装基板４０を検査するにあたって
は、４枚の実装基板４０を図３に示すパレット３０の各
基板セット部３２にそれぞれセットする。次に、パレッ
ト３０の各受コネクタ３６を各実装基板４０のコネクタ
４１にそれぞれ接続する。これをパレット収容室２０内
に収容されることになる他のパレット３０に対しても同
様に行う。

【００４９】そして、これらのパレット３０をパレット
収容室２０内にそれぞれ収容して、各パレット３０の中
継コネクタ３４をパレット収容室２０の各受中継コネク
タ２１にそれぞれ接続する。

【００５０】こうしておいてから、制御手段８０に検査
対象となる実装基板４０に関するデータ（例えば品番
等）を入力すると、それに応じた配線切換指令が入出力
切換部６０に与えられ、これにより、パレット収容室２
０内に収容されたすべての実装基板４０のコネクタ４１
の各入出力端子がそれらに対応する検査部７０の各入出
力端子にそれぞれ電気的に接続されるようになる。

【００５１】また、制御手段８０から検査対象となった
実装基板４０に応じた検査を実行する指令が検査部７０
に同時に与えられると、検査部７０により所定の検査プ
ログラムに従って各実装基板４０の検査が開始される。
すなわち、検査部７０の入出力端子、入出力切換部６
０，中継ケーブル９０，受中継コネクタ２１，中継コネ
クタ３４，受コネクタ３６，コネクタ４１を介して、検
査部７０から所定の検査用入力信号が各実装基板４０に
送信されると共に、これに応答して各実装基板４０から
出力される検査用出力信号が検査部７０に受信され、こ
の検査部７０において上記検査用出力信号に基づいて各
実装基板４０の動作の良、不良が検査される。

【００５２】実装基板４０Ｂの検査も同様にして行わ
れ、すなわち、まず、パレット収容室２０内に収容され
ることになるそれぞれのパレット３０Ｂの各基板セット
部３２Ｂに、１２枚の実装基板４０Ｂをセットして、上
述の場合と同様に、各パレット３０Ｂをパレット収容室
２０内に収容し、各中継コネクタ３４をパレット収容室
２０内の各受中継コネクタ２１にそれぞれ接続する。

【００５３】そして、制御手段８０に検査対象となる実
装基板４０Ｂに関するデータ（例えば品番等）を入力す
ると、入出力切換部６０に配線切換指令が与えられてそ
の入出力切換部６０においてその実装基板に応じた配線
の切換が行われ、パレット収容室２０内に収容されたす
べての実装基板４０Ｂのコネクタ４１Ｂの各入出力端子
がそれらに対応する検査部７０の各入出力端子にそれぞ
れ電気的に接続されるようになる。

【００５４】また、制御手段８０から検査部７０に検査
対象となる実装基板４０Ｂに応じた検査を実行する指令
が同時に与えられ、上述の場合と同様に、検査部７０に
より各実装基板４０Ｂの動作の良、不良が検査される。

【００５５】以上のように構成された実装基板のスクリ
ーニング装置によると、それぞれ対応する検査対象とな
る種類の実装基板４０（又は４０Ｂ）を複数セット可能
に構成されると共に、パレット収容室２０内に着脱自在
にそれぞれ収容可能とされたパレット３０（又は３０
Ｂ）が、検査対象となる種類の実装基板４０（又は４０
Ｂ）毎に対応して複数種類形成されているため、異なる
種類の実装基板４０（又は４０Ｂ）であってもそれに応
じたパレット３０（又は３０Ｂ）を用いることによっ
て、その実装基板４０（又は４０Ｂ）を恒温槽１０のパ
レット収容室２０内に収容することが可能である。

【００５６】そして、各実装基板４０（又は４０Ｂ）の
コネクタ４１（又は４１Ｂ）は、分岐電線群３７（又は
３７Ｂ），中継コネクタ３４，受中継コネクタ２１，中
継ケーブル９０，入出力切換部６０及びケーブル９４を
介して検査部７０に接続され、また、その入出力切換部
６０によってコネクタ４１（又は４１Ｂ）の各入出力端
子がそれらに対応する検査部７０の各入出力端子に電気
的にそれぞれ接続されるように配線の切換が行われるた
め、異なる種類の実装基板４０（又は４０Ｂ）であって
も、それに応じたパレット３０（又は３０Ｂ）を用い、
それに応じた配線の切換と検査プログラムによる検査を
行うことによって、その実装基板４０（又は４０Ｂ）の
動作の良、不良を検査することが可能である。

【００５７】従って、一台の装置で異なる種類の実装基
板３０（又は３０Ｂ）を対象として、所定の温度環境下
におけるその動作の検査をすることが可能となる。

【００５８】また、図６及び図７に示す従来のスクリー
ニング装置では、狭い空間である収容室１００ａ内で実
装基板１２０のコネクタ１２１を受コネクタ１０１に接
続する必要があったので当該接続作業性が悪かったが、
このスクリーニング装置では、パレット収容室２０外の
広い空間でパレット３０（又は３０Ｂ）に実装基板３０
（又は３０Ｂ）のセット作業を行うことができるので、
その作業性に優れる。

【００５９】なお、この際、パレット３０（又は３０
Ｂ）をパレット収容室２０内に収容可能な数の２倍だけ
準備しておけば、その半数のパレット３０（又は３０
Ｂ）をパレット収容室２０内に収容して実装基板４０
（又は４０Ｂ）の検査を実行している間に、他の半数の
パレット３０（又は３０Ｂ）に実装基板４０（又は４０
Ｂ）をセット作業することができるので、多数の実装基
板４０（又は４０Ｂ）を効率よく検査することができ
る。

【００６０】また、一の受中継コネクタ２１と入出力切
換部６０間を接続する中継ケーブル９０を１セットとし
てその中継ケーブル９０を交換することができるので、
当該中継ケーブル９０の熱劣化時等における交換が容易
となる。

【００６１】

【発明の効果】以上のように、この発明の実装基板のス
クリーニング装置によると、それぞれ対応する検査対象
となる種類の実装基板を複数セット可能に構成されると
共に、パレット収容室内にそれぞれ着脱自在に収容可能
とされたパレットが、検査対象となる種類の実装基板毎
に対応して複数形成されているため、異なる種類の実装
基板であってもそれに応じたパレットを用いることによ
って、その実装基板を恒温槽のパレット収容室内に収容
することが可能である。

【００６２】また、入出力切換部によって検査対象とな
る各実装基板のコネクタの各入出力端子がそれらに対応
する検査部の入出力端子にそれぞれ電気的に接続される
ように配線の切換が行われた状態で、検査部によりそれ
ら実装基板に応じた検査が行われるように構成されてい
るため、異なる種類の実装基板でもその動作の良、不良
を検査することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明にかかる一実施形態の実装基板のスク
リーニング装置を示す全体斜視図である。

【図２】恒温槽の内部を示す斜視図である。

【図３】パレットを示す斜視図である。

【図４】他のパレットを示す斜視図である。

【図５】パレット収容室の破断図及び検査測定機を示す
図である。

【図６】従来の実装基板のスクリーニング装置を示す全
体斜視図である。

【図７】同上のスクリーニング装置の恒温槽内部を示す
斜視図である。

【符号の説明】

１０恒温槽２０パレット収容室２１受中継コネクタ３０，３０Ｂパレット３４中継コネクタ３６受コネクタ３７電線群４０，４０Ｂ実装基板４１，４１Ｂコネクタ６０入出力切換部７０検査部９０中継ケーブル９４ケーブル

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/28 G01R 31/26

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】所定の温度環境下における実装基板の動
作の良、不良の検査を行うための実装基板のスクリーニ
ング装置であって、内部のパレット収容室内の雰囲気温度が調整自在とされ
た恒温槽と、検査対象となる種類の実装基板毎に対応して形成され、
それぞれ対応する検査対象となる種類の実装基板を複数
セット可能に構成されると共に、前記パレット収容室内
にそれぞれ着脱自在に収容可能とされた複数のパレット
と、検査用入出力信号を入出力するための入出力端子を有
し、それら入出力端子を介して検査用入力信号を前記パ
レットにセットされた各実装基板に送信すると共にそれ
ら各実装基板から出力される検査用出力信号を受信し
て、それら実装基板の動作の良、不良を検査するための
検査手段とを備え、前記複数のパレットに共通の中継コネクタがそれぞれ設
けられると共に、前記パレット収容室内に前記パレット
が収容された状態で前記中継コネクタに接続される受中
継コネクタが設けられ、前記各パレットにおいて、前記中継コネクタからの配線
群がそのパレットにセットされる実装基板の数に応じて
分岐されて、その分岐された配線群の端部にそれぞれ前
記各実装基板のコネクタに接続される受コネクタが設け
られ、検査対象となる種類の実装基板に応じてそのコネクタの
入出力端子がそれらに対応する前記検査手段の入出力端
子と対応して電気的に接続されるように配線の切換を行
うための入出力切換手段が前記中継コネクタと前記検査
手段との間に介装された実装基板のスクリーニング装
置。
【請求項２】検査対象となる実装基盤の種類がデータ
入力される制御手段がさらに設けられ、前記制御手段に前記データ入力がなされると、その制御
手段により、前記データ入力に対応する実装基板に応じ
た配線切換を行うための配線切換指令が前記入出力切換
手段に与えられると共に、その実装基板に応じた検査を
実行する指令が前記検査手段に与えられるように構成さ
れた請求項１記載の実装基板のスクリーニング装置。