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JP3320382B2 - Package judgment device - Google Patents
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JP3320382B2 - Package judgment device - Google Patents

Package judgment device

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JP3320382B2
JP3320382B2 JP18137199A JP18137199A JP3320382B2 JP 3320382 B2 JP3320382 B2 JP 3320382B2 JP 18137199 A JP18137199 A JP 18137199A JP 18137199 A JP18137199 A JP 18137199A JP 3320382 B2 JP3320382 B2 JP 3320382B2
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package
tray
csp
unit
semiconductor chip
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勝男 相馬
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株式会社サイネックス
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージ判定装
置に関し、例えば、マーキング処理工程に向けて搬送さ
れるパッケージの搬送時の向きを判定するパッケージ判
定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a package judging device, for example, to a package judging device for judging a direction of a package conveyed toward a marking process.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4に従来のQFP(Quad Flat Packag
e)を示す。同図(a)はQFPの平面図、(b)は(a)の側面
図である。QFP51は、半導体チップが収容されたモ
ールド部53と、モールド部53から四方に突出する複
数のリード50とを有する。モールド部53は、表面の
隅部に、1番ピンに対応する1ピンマーク52を有し、
表面の中央部に、製造年月日や製品名を示し且つ上下方
向の基準となる捺印文字54を有する。この捺印文字5
4は、1ピンマーク52を基準にマーキングされるもの
で、上下逆にマーキングされると、基板への実装時にQ
FP51は誤った状態で配線されることになる。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional QFP (Quad Flat Packag).
e) is shown. FIG. 2A is a plan view of the QFP, and FIG. 2B is a side view of FIG. The QFP 51 has a molded portion 53 in which a semiconductor chip is accommodated, and a plurality of leads 50 projecting from the molded portion 53 in all directions. The mold part 53 has a one-pin mark 52 corresponding to the first pin at a corner of the surface,
At the center of the front surface, there is a seal character 54 indicating the date of manufacture or product name and serving as a reference in the vertical direction. This seal character 5
Reference numeral 4 denotes a marking based on the 1-pin mark 52. When the marking is performed upside down, Q is marked when mounted on the board.
The FP51 is wired in an incorrect state.

【0003】レーザマーカハンドラを用いて上記QFP
51に捺印文字54をマーキングする際には、トレイに
複数のQFP51を載置して搬送し、専用のカメラで各
QFP51の1ピンマーク52を上方から検出しその検
出データを画像処理することに基づいて、トレイ上の各
QFP51の向きを判定する。この判定後に、QFP5
1の向きに対応して捺印文字54をマーキングする。
[0003] The above QFP using a laser marker handler
When marking the stamp characters 54 on the 51, a plurality of QFPs 51 are placed on a tray and conveyed, and a dedicated camera detects the 1-pin mark 52 of each QFP 51 from above, and processes the detected data by image processing. Based on this, the orientation of each QFP 51 on the tray is determined. After this determination, QFP5
The marking character 54 is marked in accordance with the direction of 1.

【0004】近年、半導体チップの外形寸法とほぼ同じ
寸法のパッケージに半導体チップを収容したチップサイ
ズパッケージ(Chip Size Package:CSP)が出現してい
る。CSPでは、パッケージ表面に1ピンマークが形成
されず、インターポーザの裏面に印刷又はメッキで形成
される。このため、CSPに対する捺印文字のマーキン
グは、以下のように行われる。
In recent years, a chip size package (CSP) in which a semiconductor chip is housed in a package having substantially the same external dimensions as a semiconductor chip has appeared. In the CSP, a 1-pin mark is not formed on the surface of the package, but is formed on the back surface of the interposer by printing or plating. For this reason, the marking of the seal characters on the CSP is performed as follows.

【0005】図5は、CSPの搬送用トレイを示し、
(a)はトレイ全体の斜視図、(b)はトレイの一部を拡大し
て示す斜視図である。トレイ32は、矩形状に構成さ
れ、マトリックス状に配置された複数のチップ収容部2
2、23を有する。チップ収容部22の底部には、一隅
部に切欠き24を有する開口22aが形成されている。
この開口22aは、CSP裏面の1ピンマークをトレイ
下方から検知するためのものである。一方、トレイ中央
のチップ収容部23には、トレイ32を真空吸着して搬
送する目的から、開口は形成されない。
FIG. 5 shows a CSP transport tray.
(a) is a perspective view of the entire tray, and (b) is a perspective view showing a part of the tray in an enlarged manner. The tray 32 is formed in a rectangular shape, and includes a plurality of chip accommodation units 2 arranged in a matrix.
2, 23. An opening 22 a having a notch 24 at one corner is formed at the bottom of the chip housing portion 22.
The opening 22a is for detecting a 1-pin mark on the back of the CSP from below the tray. On the other hand, an opening is not formed in the chip accommodating portion 23 at the center of the tray for the purpose of vacuum-adsorbing and transporting the tray 32.

【0006】上記トレイ32を用いたマーキング時に
は、各チップ収容部22にCSPを載置し、切欠き24
から露出する1ピンマークを専用カメラで検知し、捺印
文字54を形成する(第1の検知方法)。一方、別の方
法では、マーキングの前段でトレイ32を反転させて他
のトレイに全CSPを移し替え、このトレイ上で反転し
たCSP裏面の1ピンマークを上方から検知することに
基づいて、捺印文字54をマーキングする(第2の検知
方法)。
At the time of marking using the tray 32, the CSP is placed in each chip accommodating section 22 and the notch 24
The dedicated camera detects the 1-pin mark exposed from, and forms the seal character 54 (first detection method). On the other hand, according to another method, the tray 32 is inverted before the marking, all CSPs are transferred to another tray, and the marking is performed based on detecting the 1-pin mark on the reverse side of the inverted CSP from above on this tray. The character 54 is marked (second detection method).

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】第1の検知方法では、
底部が塞がったチップ収容部23に載置したCSPに対
しては1ピンマークの検知ができず、チップ収容部22
にのみCSPを載置してマーキングしなければならない
等、作業効率が良好ではなかった。また、第2の検知方
法では、トレイ32の反転時に落下するCSPを傷つけ
るおそれがあると共に、トレイの反転機構が別途必要に
なり、コスト高を招いていた。
In the first detection method,
The 1-pin mark cannot be detected for the CSP placed in the chip storage section 23 whose bottom is closed, and the chip storage section 22 is not detected.
The work efficiency was not good, for example, the CSP had to be placed and marked only on the surface. Further, in the second detection method, the CSP that falls when the tray 32 is inverted may be damaged, and a separate tray inversion mechanism is required, resulting in an increase in cost.

【0008】本発明は、上記に鑑み、トレイに載置して
搬送する場合には、チップ収容部の底部開口の有無に拘
わらず、載置した全てのパッケージに対する方向判定が
実施でき、また、トレイ上のパッケージを別のトレイに
移し替えて反転させる等の処理が不要なパッケージ判定
装置を提供することを目的とする。
In view of the above, according to the present invention, in the case of placing and transporting on a tray, it is possible to determine the direction for all the loaded packages irrespective of the presence or absence of the bottom opening of the chip accommodating portion. It is an object of the present invention to provide a package determination apparatus that does not require processing such as transferring a package on a tray to another tray and inverting the package.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のパッケージ判定装置は、搬送されるパッケ
ージの向きを判定するパッケージ判定装置であって、前
記パッケージに透過性光束を照射する照射手段と、前記
パッケージを透過した光束を受光し、前記パッケージ中
の回路パターン又は半田パターンの像を検出する像検出
手段と、検出された前記回路パターン又は半田パターン
の像に基づいて前記パッケージの向きを判定する判定手
段とを備えることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a package judging device according to the present invention is a package judging device for judging a direction of a package to be conveyed, and irradiates the package with a transmissive light beam. Irradiating means, an image detecting means for receiving a light beam transmitted through the package and detecting an image of a circuit pattern or a solder pattern in the package, and detecting the image of the circuit pattern or the solder pattern in the package based on the detected image of the circuit pattern or the solder pattern. Determining means for determining an orientation.

【0010】本発明における「透過性光束」という語句
は、赤外線等の光線と共にX線をも意味する。
The phrase "transmitted light beam" in the present invention means X rays as well as light rays such as infrared rays.

【0011】本発明のパッケージ判定装置では、搬送さ
れるパッケージに対して透過性光束を照射しつつ、例え
ば照射手段と同じ側で、回路パターン又は半田パターン
を検出することができる。このため、トレイに載置して
搬送する場合には、チップ収容部の底部開口の有無に拘
わらず、載置した全てのパッケージに対する方向判定が
実施できる。また、トレイ上のパッケージを別のトレイ
に移し替えて反転させる等の処理が不要となってパッケ
ージに傷をつけるおそれがなくなり、トレイの反転機構
が不要となる分コストダウンが図れる。
In the package determining apparatus of the present invention, a circuit pattern or a solder pattern can be detected, for example, on the same side as the irradiating means while irradiating the package to be conveyed with a transparent light flux. For this reason, in the case where the package is placed and transported on the tray, the direction can be determined for all the loaded packages regardless of the presence or absence of the bottom opening of the chip accommodating section. In addition, there is no need to perform a process such as transferring the package on the tray to another tray and inverting the package, so that there is no possibility of damaging the package, and the cost can be reduced by eliminating the need for a tray inversion mechanism.

【0012】ここで、本発明の好ましいパッケージ判定
装置では、前記判定手段は、前記回路パターン又は半田
パターンに対応する前記パッケージの向きに関する比較
情報が予め記憶される記憶手段を備えることが好まし
い。これにより、製品ごとに異なる回路パターン又は半
田パターンに対応した比較情報を予め記憶させることに
より、種々の製品に対処することができる。
Here, in a preferred package determination apparatus of the present invention, the determination means preferably includes storage means for storing in advance comparison information on the orientation of the package corresponding to the circuit pattern or the solder pattern. This makes it possible to deal with various products by storing in advance the comparison information corresponding to the circuit pattern or the solder pattern that differs for each product.

【0013】また、前記パッケージが、半導体チップ及
び該半導体チップを固定するインターポーザを備えたチ
ップサイズパッケージから成ることが好ましい。この場
合、前記透過性光束が、前記半導体チップを透過する所
定波長域の赤外線から構成されれば、赤外線ランプを用
いて透過性光束を簡便に供給することができる。
It is preferable that the package comprises a chip size package having a semiconductor chip and an interposer for fixing the semiconductor chip. In this case, if the transmissive light beam is composed of infrared light in a predetermined wavelength range that passes through the semiconductor chip, the transmissive light beam can be easily supplied using an infrared lamp.

【0014】或いは、上記に代えて、前記透過性光束
が、前記半導体チップ及び前記インターポーザの双方を
透過するX線から成ることも好ましい態様である。この
場合、搬送路を挟んで照射手段と逆側に像検出手段を配
置しても、回路パターン又は半田パターンが検出可能な
ので、配置上のバリエーションが広がる。
Alternatively, instead of the above, it is also a preferable embodiment that the transmissive light beam is composed of X-rays that pass through both the semiconductor chip and the interposer. In this case, even if the image detection unit is arranged on the opposite side of the irradiation unit with the conveyance path therebetween, the circuit pattern or the solder pattern can be detected.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施形態例に基づいて本発明を更に詳細に説明する。図1
は、本発明の一実施形態例におけるパッケージ判定装置
を備えたCSP用レーザマーカハンドラを示す側面図で
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on embodiments of the present invention with reference to the drawings. FIG.
1 is a side view showing a laser marker handler for CSP provided with a package determination device according to an embodiment of the present invention.

【0016】CSP用レーザマーカハンドラは、複数の
プーリ36に巻回された無端状のコンベアベルト35に
よって構成される搬送路を有しており、この搬送路の上
部側には、上流側から順にトレイ送出部25、パッケー
ジ判定部26、レーザマーカ31及びトレイ受入部27
が配設される。搬送路の下部側には、トレイ送出部25
に対向する上下動ユニット34、レーザマーカ31に対
向するトレイ位置調整部28、及び、トレイ受入部27
に対向する上下動ユニット43が配設される。また、C
SP用レーザマーカハンドラは、各部を統括的に制御す
るマイクロコンピュータ等の制御部18を有する。
The CSP laser marker handler has a transport path constituted by an endless conveyor belt 35 wound around a plurality of pulleys 36, and trays are provided on the upper side of the transport path in order from the upstream side. Sending unit 25, package determining unit 26, laser marker 31, and tray receiving unit 27
Is arranged. At the lower side of the transport path, a tray sending section 25 is provided.
Unit 34 facing the laser marker, tray position adjusting unit 28 facing the laser marker 31, and tray receiving unit 27
A vertically moving unit 43 is disposed opposite to. Also, C
The SP laser marker handler has a control unit 18 such as a microcomputer that controls each unit as a whole.

【0017】トレイ送出部25は、複数のトレイ32を
重ねて保持する機能を有し、対向して配置される送出し
シリンダ33の作動によって、最下部のトレイ32から
順に所定のタイミングで搬送路に供給する。供給された
トレイ32は、上下動ユニット34によって保持されつ
つ下降してコンベアベルト35上に載せられる。
The tray delivery section 25 has a function of holding a plurality of trays 32 in a stacked manner, and operates at predetermined timings from the lowermost tray 32 at predetermined timing by the operation of the delivery cylinders 33 arranged opposite to each other. To supply. The supplied tray 32 descends while being held by the vertical movement unit 34 and is placed on the conveyor belt 35.

【0018】パッケージ判定部26は、搬送路に対向す
る開口29から取り込んだ映像を撮影する赤外線カメラ
38と、波長が約1100nm付近の赤外線を照射する
赤外線ランプ44と、開口29の垂直方向、水平方向の
位置を調整する直動ユニット39とを有する。赤外線カ
メラ38が落射照明用ハーフミラー(図示せず)を有す
る場合、赤外線ランプ44からの赤外線は、光ファイバ
45を経由して導かれ、開口29に対向する位置で停止
したトレイ32上のCSPに向けてほぼ垂直に照射され
る。これに限らず、光ファイバ45及び赤外線カメラ3
8を経由しなくても、赤外線ランプ44からの赤外線
を、開口29に対向する位置で停止したトレイ32上の
CSPに向けて斜めに照射することができ、これによっ
ても後述の像の撮影を同様に行うことができる。
The package determination section 26 includes an infrared camera 38 for photographing an image captured from the opening 29 facing the transport path, an infrared lamp 44 for irradiating infrared light having a wavelength of about 1100 nm, and a vertical and horizontal direction of the opening 29. A linear motion unit 39 for adjusting the position in the direction. When the infrared camera 38 has an epi-illumination half mirror (not shown), the infrared light from the infrared lamp 44 is guided via the optical fiber 45, and the CSP on the tray 32 stopped at a position facing the opening 29. Irradiated almost vertically toward. Not limited to this, the optical fiber 45 and the infrared camera 3
The infrared rays from the infrared lamp 44 can be radiated obliquely toward the CSP on the tray 32 stopped at a position facing the opening 29 without passing through the light source 8. The same can be done.

【0019】レーザマーカ31は、上下ユニット41上
のトレイ32に載置された各CSPに対してレーザ光を
照射することにより、対応する位置のCSPの表面に捺
印文字12(図3参照)をマーキングする。
The laser marker 31 irradiates a laser beam to each of the CSPs placed on the tray 32 on the upper and lower units 41 to mark the stamped characters 12 (see FIG. 3) on the surface of the CSP at the corresponding position. I do.

【0020】トレイ受入部27は、処理済みの複数のト
レイ32を上下方向に重ねて保持する機能を有し、対向
して配置された受入れシリンダ42の作動により、上下
動ユニット43によって持ち上げられたトレイ32を順
次に保持する。
The tray receiving section 27 has a function of vertically holding a plurality of processed trays 32 in a vertical direction. The tray receiving section 27 is lifted by the vertical movement unit 43 by the operation of the receiving cylinders 42 arranged opposite to each other. The trays 32 are sequentially held.

【0021】トレイ位置調整部28は、2軸XYテーブ
ル40及び上下ユニット41を有し、捺印文字12のマ
ーキング時に、レーザマーカ31に対向したトレイ32
を2軸XYテーブル40によってX-Y方向に、上下ユ
ニット41によって上下方向に移動させる。
The tray position adjuster 28 has a two-axis XY table 40 and an upper / lower unit 41. The tray 32 is opposed to the laser marker 31 when marking the seal characters 12.
Is moved in the XY direction by the two-axis XY table 40 and in the up-down direction by the up-down unit 41.

【0022】図2は、図1のCSP用レーザマーカハン
ドラを示す平面図である。CSP用レーザマーカハンド
ラでは、プーリ36が平面視において搬送路の左右に2
箇所ずつ配置されており、コンベアベルト35は搬送路
の両側に所定間隔をあけて1本ずつ配設されている。こ
の構造により、上下動ユニット34、トレイ位置調整部
28及び上下動ユニット43が、搬送路を貫通して上下
動することができる。搬送路の一方の端部には、駆動用
のプーリ36に回転を与える電動モータ37が配設され
ている。
FIG. 2 is a plan view showing the CSP laser marker handler of FIG. In the CSP laser marker handler, the pulley 36 is located on the left and right sides of the conveyance path in plan view.
The conveyor belts 35 are disposed one by one on both sides of the conveyance path at predetermined intervals. With this structure, the vertical movement unit 34, the tray position adjustment unit 28, and the vertical movement unit 43 can move up and down through the transport path. An electric motor 37 for rotating the driving pulley 36 is provided at one end of the transport path.

【0023】図3は、本CSP用レーザマーカハンドラ
で処理されるCSPを示し、(a)は側面図、(b)は(a)の
矢印A方向から見た底面図、(c)は半導体チップに形成
された回路パターンを上方から透過した状態で示す図、
(d)は捺印文字マーキング後の平面図である。
FIGS. 3A and 3B show CSPs processed by the present CSP laser marker handler. FIG. 3A is a side view, FIG. 3B is a bottom view as viewed from the direction of arrow A in FIG. A diagram showing a circuit pattern formed in a state transmitted through from above,
(d) is a plan view after the marking character marking.

【0024】CSP11は、インターポーザ14と、イ
ンターポーザ14上に固定された半導体チップ13(図
3(a))と、インターポーザ14の裏面全体に微小な半
田ボールがマトリックス状に固定された半田ボール列1
5と、インターポーザ14裏面の一隅に形成された1ピ
ンマーク16とを有している(図3(b))。
The CSP 11 includes an interposer 14, a semiconductor chip 13 fixed on the interposer 14 (FIG. 3A), and a solder ball row 1 in which minute solder balls are fixed in a matrix on the entire back surface of the interposer 14.
5 and a one-pin mark 16 formed at one corner of the back surface of the interposer 14 (FIG. 3B).

【0025】半導体チップ13のインターポーザ14側
には、CSPの種類ごとに異なる回路パターン17が形
成されており(図3(c))、回路パターン17はその上
下方向を識別するための比較情報として制御部18のメ
モリ(図示せず)に予め記憶される。制御部18は、検
出された回路パターン17(又は、後述の半田パター
ン)の像に基づいてCSP11の向きを判定する判定手
段を構成する。
A different circuit pattern 17 is formed for each type of CSP on the interposer 14 side of the semiconductor chip 13 (FIG. 3C), and the circuit pattern 17 is used as comparison information for identifying its vertical direction. It is stored in a memory (not shown) of the control unit 18 in advance. The control unit 18 constitutes a determination unit that determines the orientation of the CSP 11 based on the detected image of the circuit pattern 17 (or a solder pattern described later).

【0026】CSP11から回路パターン17が赤外線
カメラ38で取り込まれると、メモリ内の比較情報との
比較に基づいて、トレイ32上でのCSP11の向きが
判定され、その後、半導体チップ13の表面に捺印文字
12がマーキングされる(図3(d))。
When the circuit pattern 17 is captured from the CSP 11 by the infrared camera 38, the orientation of the CSP 11 on the tray 32 is determined based on the comparison with the comparison information in the memory, and thereafter, the surface of the semiconductor chip 13 is stamped. The character 12 is marked (FIG. 3D).

【0027】本実施形態例のCSP用レーザマーカハン
ドラは、次のように作動する。所定の操作で処理が開始
されると、制御部18からの指令に従って、上下動ユニ
ット34が所定の高さに上昇し、この状態でトレイ送出
部25が送出しシリンダ33を作動させ、最下部のトレ
イ32を上下動ユニット34上に供給する。
The CSP laser marker handler of this embodiment operates as follows. When the process is started by a predetermined operation, the vertical movement unit 34 moves up to a predetermined height in accordance with a command from the control unit 18, and in this state, the tray sending unit 25 operates the sending cylinder 33 to move the lowermost unit. Is supplied onto the vertical movement unit.

【0028】次いで、トレイ32を受け取った上下動ユ
ニット34が下降し、このトレイ32をコンベアベルト
35上に載置する。更に、電動モータ37が作動してコ
ンベアベルト35が搬送方向(図1の矢印B方向)に回
転し、トレイ32をパッケージ判定部26に対向させ
る。
Next, the vertically moving unit 34 that has received the tray 32 descends, and places the tray 32 on the conveyor belt 35. Further, the electric motor 37 operates to rotate the conveyor belt 35 in the transport direction (the direction of the arrow B in FIG. 1), and the tray 32 faces the package determination unit 26.

【0029】パッケージ判定部26は、直動ユニット3
9によって開口29の垂直方向、水平方向の位置が調整
されて、トレイ32上の複数のチップ収容部22、23
(図5参照)に載置された各CSP11に対し順次に赤
外線を照射しつつ、赤外線カメラ38によって各回路パ
ターン17の像を撮影する。この撮影情報が、制御部1
8に順次に取り込まれ、メモリに予め記憶された比較情
報と比較されることに基づいて、各CPU11のトレイ
上での向きが判定される。この判定情報は、上記メモリ
に一旦記憶される。
The package judging section 26 includes the linear motion unit 3
9, the vertical and horizontal positions of the opening 29 are adjusted, and the plurality of chip accommodating portions 22 and 23 on the tray 32 are adjusted.
While sequentially irradiating infrared rays to the CSPs 11 mounted on the CSP 11 (see FIG. 5), an image of each circuit pattern 17 is photographed by the infrared camera 38. This photographing information is transmitted to the control unit 1
8, the orientation of each CPU 11 on the tray is determined based on the comparison with the comparison information stored in the memory in advance. This determination information is temporarily stored in the memory.

【0030】トレイ32上の全CSP11に対する判定
処理が終了した時点で、電動モータ37がコンベアベル
ト35を所定量回転させる。これにより、撮影処理後の
トレイ32がレーザマーカ31に対向する。この状態
で、トレイ位置調整部28及びレーザマーカ31が、上
記メモリに一旦記憶された判定情報に従って駆動され
る。これにより、上下ユニット41及び2軸XYテーブ
ル40が作動してトレイ32を垂直方向、水平方向に適
宜移動させつつ、レーザマーカ31がトレイ32上の各
CSP11に対してレーザ光を発する。これにより、各
CSP11に対応する向きの捺印文字12(図3(d))
が順次にマーキングされる。
When the determination process for all the CSPs 11 on the tray 32 is completed, the electric motor 37 rotates the conveyor belt 35 by a predetermined amount. Thereby, the tray 32 after the photographing process faces the laser marker 31. In this state, the tray position adjustment unit 28 and the laser marker 31 are driven according to the determination information once stored in the memory. As a result, the laser marker 31 emits laser light to each CSP 11 on the tray 32 while the upper and lower units 41 and the two-axis XY table 40 operate to move the tray 32 appropriately in the vertical and horizontal directions. As a result, the seal character 12 in the direction corresponding to each CSP 11 (FIG. 3D)
Are sequentially marked.

【0031】トレイ32上の全CSP11に対するマー
キングが終了した時点で、電動モータ37がコンベアベ
ルト35を所定量回転させる。これにより、マーキング
処理後のトレイ32がトレイ受入部27に対向する。こ
の状態で、上下動ユニット43が作動し、前回までに保
持されていた他のトレイ32を今回のトレイ32で押し
上げつつ所定高さまで上昇させ、また、受入れシリンダ
42が所定のタイミングで作動して、今回のトレイ32
を保持する。以上で、1つのトレイ32上の全CSP1
1に対するマーキングの一連の処理が終了する。
When the marking on all the CSPs 11 on the tray 32 is completed, the electric motor 37 rotates the conveyor belt 35 by a predetermined amount. Thus, the tray 32 after the marking process faces the tray receiving unit 27. In this state, the vertical movement unit 43 is operated, and the other tray 32 held up to the previous time is raised to a predetermined height while being pushed up by the current tray 32, and the receiving cylinder 42 is operated at a predetermined timing. , This time tray 32
Hold. As described above, all CSPs 1 on one tray 32
A series of processes of marking for 1 is completed.

【0032】本実施形態例では、搬送されるCSP11
に対して赤外線を照射しつつ、赤外線ランプ44と同じ
側で、回路パターン17を検出することができる。この
ため、トレイ32に載置して搬送する場合には、チップ
収容部22、23の開口22aの有無に拘わらず、載置
した全てのCSP11に対する方向判定が実施できる。
また、トレイ32上のCSP11を別のトレイに移し替
えて反転させる等の処理が不要となってCSP11に傷
をつけるおそれがなくなり、トレイ32の反転機構が不
要となる分コストダウンが図れる。
In this embodiment, the transported CSP 11
The circuit pattern 17 can be detected on the same side as the infrared lamp 44 while irradiating infrared light to the infrared light. For this reason, in the case of transporting the CSP 11 placed on the tray 32, the direction can be determined for all the CSPs 11 placed, regardless of the presence or absence of the openings 22a of the chip housing sections 22 and 23.
In addition, there is no need to perform a process such as transferring the CSP 11 on the tray 32 to another tray and inverting the CSP 11, and there is no possibility of damaging the CSP 11, thereby reducing the cost because the inversion mechanism of the tray 32 is not required.

【0033】本実施形態例では、トレイ32上のCSP
11に対し赤外線を照射して回路パターンを検出する判
定方式について説明したが、判定方式はこれに限られ
ず、赤外線に代えてX線を用いることもできる。この場
合、X線は半導体チップ13と共にインターポーザ14
をも透過するので、撮影するのは回路パターンではなく
インターポーザ14裏面の半田ボール列15となる。図
3では半田ボール列15のパターン(半田パターン)は
単なるマトリックス状に配置されていたが、上記のよう
に半田ボール列15のパターンをCSP11の方向判定
に用いる際には、半田ボールのパターンを上下で異なる
ような配置とする。なお、X線照射時の出力を調整し、
CSP11と共にトレイ32をも透過できるようにすれ
ば、X線用のカメラを搬送路の下部側に配置することが
できる。
In this embodiment, the CSP on the tray 32
Although the determination method for irradiating infrared rays to 11 to detect a circuit pattern has been described, the determination method is not limited to this, and X-rays can be used instead of infrared rays. In this case, the X-rays pass through the interposer 14 together with the semiconductor chip 13.
Therefore, what is photographed is not the circuit pattern but the solder ball row 15 on the back surface of the interposer 14. In FIG. 3, the pattern of the solder ball array 15 (solder pattern) is simply arranged in a matrix. However, when the pattern of the solder ball array 15 is used for determining the direction of the CSP 11 as described above, the pattern of the solder ball is changed. The arrangement is different between the top and bottom. The output during X-ray irradiation was adjusted,
If the tray 32 can be transmitted together with the CSP 11, the X-ray camera can be arranged at the lower side of the transport path.

【0034】また、本実施形態例では、複数のCSP1
1をトレイ32に載置した状態で方向判定及びマーキン
グを施したが、本発明はこれに限られず、CSP11を
1個ずつ搬送する方式のCSP用レーザマーカハンドラ
に適用することもできる。
In this embodiment, a plurality of CSPs 1
Although the direction determination and the marking are performed in a state in which 1 is placed on the tray 32, the present invention is not limited to this, and the present invention can also be applied to a CSP laser marker handler of a type that transports the CSP 11 one by one.

【0035】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明のパッケージ判定装置は、上
記実施形態例の構成にのみ限定されるものではなく、上
記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を施したパ
ッケージ判定装置も、本発明の範囲に含まれる。
Although the present invention has been described based on the preferred embodiment, the package judging device of the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment, but the configuration of the above-described embodiment. Various modifications and changes made from the above are also included in the scope of the present invention.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のパッケー
ジ判定装置によると、トレイに載置して搬送する場合に
は、チップ収容部の底部開口の有無に拘わらず、載置し
た全てのパッケージに対する方向判定が実施でき、ま
た、トレイ上のパッケージを別のトレイに移し替えて反
転させる等の処理をなくすことができる。
As described above, according to the package judging device of the present invention, when a package is conveyed while being placed on a tray, all the packages placed are placed regardless of the presence or absence of the bottom opening of the chip accommodating portion. Can be determined, and processing such as transferring a package on a tray to another tray and inverting the package can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例におけるパッケージ判定
装置を適用したCSP用レーザマーカハンドラを示す側
面図である。
FIG. 1 is a side view showing a laser marker handler for CSP to which a package determination device according to an embodiment of the present invention is applied.

【図2】図1のCSP用レーザマーカハンドラを示す平
面図である。
FIG. 2 is a plan view showing the CSP laser marker handler of FIG. 1;

【図3】本実施形態例のCSP用レーザマーカハンドラ
で処理されるCSPを示し、(a)は側面図、(b)は(a)の
矢印A方向から見た底面図、(c)は半導体チップに形成
された回路パターンを上方から透過した状態で示す図、
(d)は捺印文字マーキング後の平面図である。
FIGS. 3A and 3B show a CSP processed by the CSP laser marker handler of the present embodiment, where FIG. 3A is a side view, FIG. 3B is a bottom view seen from the direction of arrow A in FIG. A diagram showing a circuit pattern formed on a chip in a state of being transmitted from above,
(d) is a plan view after the marking character marking.

【図4】従来のQFPを示し、(a)はQFPの平面図、
(b)は(a)の側面図である。
FIG. 4 shows a conventional QFP, (a) is a plan view of the QFP,
(b) is a side view of (a).

【図5】CSPの搬送用トレイを示し、(a)はトレイ全
体の斜視図、(b)はトレイの一部を拡大して示す斜視図
である。
5A and 5B show a transfer tray of the CSP, wherein FIG. 5A is a perspective view of the entire tray, and FIG. 5B is a perspective view showing a part of the tray in an enlarged manner.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11:CSP 12:捺印文字 13:半導体チップ 14:インターポーザ 15:半田ボール列 16:1ピンマーク 17:回路パターン 18:制御部(判定手段) 25:トレイ送出部 26:パッケージ判定部 27:トレイ受入部 28:トレイ位置調整部 31:レーザマーカ 32:トレイ 33:送出しシリンダ 34:上下動ユニット 35:コンベアベルト 37:電動モータ 38:赤外線カメラ(像検出手段) 39:直動ユニット 40:2軸XYテーブル 41:上下ユニット 42:受入れシリンダ 43:上下動ユニット 44:赤外線ランプ 45:光ファイバ 11: CSP 12: Sealing character 13: Semiconductor chip 14: Interposer 15: Solder ball array 16: 1 pin mark 17: Circuit pattern 18: Control unit (determining means) 25: Tray sending unit 26: Package determining unit 27: Tray receiving Unit 28: Tray position adjusting unit 31: Laser marker 32: Tray 33: Sending cylinder 34: Vertical movement unit 35: Conveyor belt 37: Electric motor 38: Infrared camera (image detecting means) 39: Linear movement unit 40: 2-axis XY Table 41: Vertical unit 42: Receiving cylinder 43: Vertical unit 44: Infrared lamp 45: Optical fiber

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 搬送されるパッケージの向きを判定する
パッケージ判定装置であって、 前記パッケージに透過性光束を照射する照射手段と、 前記パッケージを透過した光束を受光し、前記パッケー
ジ中の回路パターン又は半田パターンの像を検出する像
検出手段と、 検出された前記回路パターン又は半田パターンの像に基
づいて前記パッケージの向きを判定する判定手段とを備
えることを特徴とするパッケージ判定装置。
1. A package determining apparatus for determining a direction of a package to be conveyed, comprising: an irradiating unit configured to irradiate a transmissive light beam to the package; and a circuit pattern in the package that receives the light beam transmitted through the package. Alternatively, a package determining apparatus comprising: image detecting means for detecting an image of a solder pattern; and determining means for determining the orientation of the package based on the detected image of the circuit pattern or the solder pattern.
【請求項2】 前記判定手段は、前記回路パターン又は
半田パターンに対応する前記パッケージの向きに関する
比較情報が予め記憶される記憶手段を備える、請求項1
に記載のパッケージ判定装置。
2. The storage device according to claim 1, wherein the determination unit includes a comparison unit that stores in advance comparison information on the orientation of the package corresponding to the circuit pattern or the solder pattern.
3. The package determination device according to claim 1.
【請求項3】 前記パッケージが、半導体チップ及び該
半導体チップを固定するインターポーザを備えたチップ
サイズパッケージから成る、請求項1又は2に記載のパ
ッケージ判定装置。
3. The package determination device according to claim 1, wherein the package comprises a chip size package including a semiconductor chip and an interposer for fixing the semiconductor chip.
【請求項4】 前記透過性光束が、前記半導体チップを
透過する所定波長域の赤外線から成る、請求項3に記載
のパッケージ判定装置。
4. The package judging device according to claim 3, wherein said transmissive light beam is composed of infrared light having a predetermined wavelength range and transmitted through said semiconductor chip.
【請求項5】 前記透過性光束が、前記半導体チップ及
び前記インターポーザの双方を透過するX線から成る、
請求項3に記載のパッケージ判定装置。
5. The transmissive light beam includes X-rays that pass through both the semiconductor chip and the interposer.
The package determination device according to claim 3.
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