Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3321482B2 - Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3321482B2 - Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method - Google Patents

Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method

Info

Publication number
JP3321482B2
JP3321482B2 JP25000693A JP25000693A JP3321482B2 JP 3321482 B2 JP3321482 B2 JP 3321482B2 JP 25000693 A JP25000693 A JP 25000693A JP 25000693 A JP25000693 A JP 25000693A JP 3321482 B2 JP3321482 B2 JP 3321482B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scattered light
sample powder
particle size
size distribution
flow cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP25000693A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0783816A (en
Inventor
喜昭 東川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP25000693A priority Critical patent/JP3321482B2/en
Publication of JPH0783816A publication Critical patent/JPH0783816A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3321482B2 publication Critical patent/JP3321482B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ回折式粒度分布
測定装置および方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method.

【0002】[0002]

【従来の技術】粉体や粒体の粒度分布を調べる方法とし
て、レーザ回折式粒度分布測定方法がある。この粒度分
布測定方法は、気中に分散した試料粉体にレーザ光を照
射したとき生ずる散乱光の強度パターンを例えばCPU
において演算処理することにより、粉体試料における粒
度分布を求めるもので、薬品、食品、セラミックス、化
粧品、塗料、色素などの広い分野にわたって用いられて
いる。
2. Description of the Related Art As a method for examining the particle size distribution of powders and granules, there is a laser diffraction type particle size distribution measuring method. This particle size distribution measuring method uses an intensity pattern of scattered light generated when a sample powder dispersed in the air is irradiated with laser light, for example, using a CPU.
Is used to calculate the particle size distribution in a powder sample, and is used in a wide range of fields such as medicines, foods, ceramics, cosmetics, paints, and pigments.

【0003】図2は、上記レーザ回折式粒度分布測定方
法に用いる装置の構成を概略的に示すもので、この図に
おいて、1はホッパで、試料粉体Sが貯留されている。
2はホッパ1の下方に設けられるフローセルで、その上
端は導入管3を介してホッパ1に接続され、下端は排出
管4を介して集塵機5と接続されている。6は集塵機5
に接続された真空ポンプである。
FIG. 2 schematically shows the structure of an apparatus used in the above-mentioned laser diffraction type particle size distribution measuring method. In this figure, reference numeral 1 denotes a hopper, in which a sample powder S is stored.
Reference numeral 2 denotes a flow cell provided below the hopper 1, the upper end of which is connected to the hopper 1 via an inlet pipe 3, and the lower end of which is connected to a dust collector 5 via a discharge pipe 4. 6 is a dust collector 5
Is a vacuum pump connected to.

【0004】7はフローセル2の一方の側に設けられる
例えばHe−Neレーザよりなる光源で、この光源7か
らのレーザ光がミラー8、ビーム拡大器9を介してフロ
ーセル2に対して照射される。10はフローセル2側か
らの散乱光を検出する光検出器である。そして、11は
フローセル2の他方の側に設けられる集光レンズであ
る。12は集光レンズ11の後方に設けられるリング状
光検出器で、フローセル2側からの散乱光および透過光
を検出する。そして、13は光検出器10,12の出力
信号を適宜切換えAD変換器14に送出する信号切換回
路である。
[0004] Reference numeral 7 denotes a light source provided on one side of the flow cell 2 and made of, for example, a He-Ne laser. . Reference numeral 10 denotes a photodetector that detects scattered light from the flow cell 2 side. Reference numeral 11 denotes a condenser lens provided on the other side of the flow cell 2. Reference numeral 12 denotes a ring-shaped photodetector provided behind the condenser lens 11, which detects scattered light and transmitted light from the flow cell 2 side. Reference numeral 13 denotes a signal switching circuit for appropriately switching the output signals of the photodetectors 10 and 12 and transmitting the output signals to the AD converter 14.

【0005】15はCPUで、装置の各部に対する各種
制御を行うとともに、前記信号切換回路13およびAD
変換器14を介して入力される光検出器10、12の出
力信号を処理し、粒度分布演算を行うものである。16
はCRTなどの表示画面17の周辺に各種のファンクシ
ョンキー18を備えた表示操作部で、表示画面17に前
記粒度分布演算によって得られた出力を粒度分布グラフ
19として表示できるように構成されている。また、2
0はプリンタで、前記粒度分布演算の結果をプリントア
ウトするものである。
Reference numeral 15 denotes a CPU which performs various controls for each part of the apparatus, and which controls the signal switching circuit 13 and the AD converter.
It processes the output signals of the photodetectors 10 and 12 input via the converter 14 and performs a particle size distribution calculation. 16
Is a display operation unit having various function keys 18 around a display screen 17 such as a CRT, which is configured to be able to display an output obtained by the particle size distribution calculation on the display screen 17 as a particle size distribution graph 19. . Also, 2
Numeral 0 denotes a printer for printing out the result of the particle size distribution calculation.

【0006】そして、上記構成のレーザ回折式粒度分布
測定装置を用いて、従来においては、図3に示すような
手順で測定を行っていた。すなわち、フローセル2に対
する試料粉体Sの供給を開始し(ステップS11)、オ
ペレータが測定開始をCPUに指示する(ステップS1
2)。試料粉体Sから生ずる散乱光が光検出器10,1
2で検出され、散乱光測定が開始される(ステップS1
3)。散乱光の測定が終了すると、散乱光強度パターン
からCPU15によって粒度分布が演算される(ステッ
プS14)。所定の演算終了後、試料粉体Sの供給が停
止され(ステップS15)、次の測定に備える。
Conventionally, the measurement is performed by the procedure as shown in FIG. 3 using the laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus having the above configuration. That is, the supply of the sample powder S to the flow cell 2 is started (step S11), and the operator instructs the CPU to start measurement (step S1).
2). The scattered light generated from the sample powder S is detected by the photodetectors 10, 1
2 and the scattered light measurement is started (step S1).
3). When the measurement of the scattered light is completed, the particle size distribution is calculated by the CPU 15 from the scattered light intensity pattern (step S14). After the completion of the predetermined calculation, the supply of the sample powder S is stopped (step S15), and preparations are made for the next measurement.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記測定に
おいては、フローセル2に供給され、レーザ光が照射さ
れた試料粉体Sは、集塵機5によって捕集され、再利用
されることはないので、散乱光測定時のみ試料粉体Sの
供給が行われる。しかしながら、上記従来の測定方法に
おいては、試料粉体Sの供給操作(ステップS11)か
ら測定開始操作まで(ステップS12)までの間および
散乱光測定終了後(ステップS14)から試料粉体Sの
供給停止(ステップS15)までの間にも、試料粉体S
がフローセル2に供給されているため、それらの間に供
給される試料粉体Sが無駄に費やされることになり、試
料粉体Sを必要以上に消費するといった不都合があっ
た。
Incidentally, in the above measurement, the sample powder S supplied to the flow cell 2 and irradiated with the laser beam is collected by the dust collector 5 and is not reused. The supply of the sample powder S is performed only at the time of measuring the scattered light. However, in the above-described conventional measuring method, the supply of the sample powder S is performed from the operation of supplying the sample powder S (step S11) to the operation of starting the measurement (step S12) and after the end of the scattered light measurement (step S14). Until the stop (step S15), the sample powder S
Is supplied to the flow cell 2, the sample powder S supplied between them is wasted and the sample powder S is consumed more than necessary.

【0008】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的は、試料粉体の消費を必要最小限に抑
え、安価に所望の測定を行うことができるレーザ回折式
粒度分布測定装置および方法を提供することにある。
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned problems, and has as its object to reduce the consumption of a sample powder to a minimum and to perform a desired measurement at a low cost by a laser diffraction type particle size distribution. It is to provide a measuring device and a method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明は、気中に分散した試料粉体
をフローセルに対して供給するとともに、フローセルに
対してレーザ光を照射し、そのときに得られる散乱光強
度パターンに基づいて試料粉体における粒度分布を測定
するレーザ回折式粒度分布測定装置において、試料粉体
によって生じた散乱光強度の増減の度合いまたは透過率
の増減の度合いに基づいて試料粉体が供給されているこ
とまたは試料粉体が供給されなくなったことを自動的に
判断するように構成したことを特徴としている。 そし
て、請求項2に記載の発明は、気中に分散した試料粉体
をフローセルに対して供給するとともに、フローセルに
対してレーザ光を照射し、そのときに得られる光検出器
の出力に基づいて散乱光強度および透過率を演算し、前
記散乱光強度パターンに基づいて試料粉体における粒度
分布を測定するレーザ回折式粒度分 布測定装置におい
て、試料粉体を供給した後に、前記演算において散乱光
強度の増加の度合いまたは透過率の低下の度合いが所定
の設定値を超えたと判断された場合に散乱光データの蓄
積を自動的に開始することを特徴としている。また、請
求項3に記載の発明は、気中に分散した試料粉体をフロ
ーセルに対して供給するとともに、フローセルに対して
レーザ光を照射し、そのときに得られる光検出器の出力
に基づいて散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱
光強度パターンに基づいて試料粉体における粒度分布を
測定するレーザ回折式粒度分布測定装置において、試料
粉体の供給を停止した後に、前記演算において散乱光強
度の減少の度合いまたは透過率の増加の度合いが所定の
設定値を超えたと判断された場合に散乱光データの蓄積
を自動的に終了することを特徴としている。 さらに、請
求項4に記載の発明は、気中に分散した試料粉体をフロ
ーセルに対して供給するとともに、フローセルに対して
レーザ光を照射し、そのときに得られる光検出器の出力
に基づいて散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱
光強度パターンに基づいて試料粉体における粒度分布を
測定するレーザ回折式粒度分布測定装置において、試料
粉体を供給した後に、前記演算において散乱光強度の増
加の度合いまたは透過率の低下の度合いが所定の設定値
を超えたと判断された場合に散乱光データの蓄積を自動
的に開始し、さらに、試料粉体の供給を停止した後に、
前記演算において散乱光強度の減少の度合いまたは透過
率の増加の度合いが所定の設定値を超えたと判断された
場合に散乱光データの蓄積を自動的に終了することを特
徴としている。 そして、請求項5に記載の発明は、気中
に分散した試料粉体をフローセルに対して供給するとと
もに、フローセルに対してレーザ光を照射し、そのとき
に得られる光検出器の出力に基づいて散乱光強度および
透過率を演算し、前記散乱光強度パターンに基づいて試
料粉体における粒度分布を測定するレーザ回折式粒度分
布測定方法において、フローセルに対してレーザ光を照
射するステップと、レーザ光が照射されているフローセ
ルに対して試料粉体を供給するステップと、前記演算に
おいて散乱光強度の増加の度合いまたは透過率の低下の
度合いが所定の設定値を超えたと判断された場合に散乱
光データの蓄積を自動的に開始するステップと、レーザ
光が照射されているフローセルに対して試料粉体を供給
を停止する ステップと、前記演算において散乱光強度の
減少の度合いまたは透過率の増加の度合いが所定の設定
値を超えたと判断された場合に散乱光データの蓄積を自
動的に終了するステップとからなることを特徴としてい
る。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a sample powder dispersed in the air is supplied to a flow cell, and the flow cell is irradiated with a laser beam. and, in the laser diffraction particle size distribution measuring apparatus for measuring a particle size distribution in the sample powder based on the scattered light intensity pattern obtained at that time, the sample powder
The degree of increase or decrease in the scattered light intensity or transmittance caused by the
That the sample powder is supplied based on the degree of
Automatically when the sample powder is no longer supplied
It is characterized in that it is configured to judge . Soshi
The invention according to claim 2 provides a sample powder dispersed in air.
To the flow cell and
Photodetector obtained by irradiating a laser beam to it
Calculate the scattered light intensity and transmittance based on the output of
Particle size of sample powder based on the scattered light intensity pattern
Laser diffraction particle size distribution measuring apparatus odor for measuring the distribution
After supplying the sample powder, the scattered light
Prescribed degree of increase in intensity or degree of decrease in transmittance
Of scattered light data when it is determined that the
It is characterized in that the product is started automatically. In addition,
The invention as set forth in claim 3 is a method in which the sample powder dispersed in the air is flowed.
To the flow cell and to the flow cell
Irradiation of laser light, the output of the photodetector obtained at that time
Calculate the scattered light intensity and transmittance based on the
Particle size distribution in sample powder based on light intensity pattern
In the laser diffraction type particle size distribution measuring device,
After the supply of the powder is stopped, the intensity of the scattered light
Degree of decrease or increase of transmittance
Accumulation of scattered light data when it is determined that the set value has been exceeded
Is automatically terminated. In addition,
The invention as set forth in claim 4 is a method in which the sample powder dispersed in the air is flown.
To the flow cell and to the flow cell
Irradiation of laser light, the output of the photodetector obtained at that time
Calculate the scattered light intensity and transmittance based on the
Particle size distribution in sample powder based on light intensity pattern
In the laser diffraction type particle size distribution measuring device,
After supplying the powder, increase the scattered light intensity in the above calculation.
The degree of addition or the degree of decrease in transmittance is a predetermined set value.
Automatically accumulates scattered light data when it is determined that
Start, and after stopping the supply of sample powder,
In the above calculation, the degree of decrease or transmission of the scattered light intensity
It has been determined that the rate of increase has exceeded the specified value
Automatically terminates the accumulation of scattered light data.
It is a sign. And the invention according to claim 5 is a
When the sample powder dispersed in
First, the flow cell is irradiated with laser light,
Scattered light intensity based on the output of the photodetector
Calculate the transmittance and test based on the scattered light intensity pattern.
Laser diffraction particle size measurement of particle size distribution in powdered materials
In the cloth measurement method, irradiate the flow cell with laser light.
Irradiation step and the flow cell to which the laser light is being irradiated.
Supplying the sample powder to the
The degree of increase in scattered light intensity or decrease in transmittance
Scattering when the degree is judged to exceed the set value
Automatically starting the storage of optical data;
Supply sample powder to the flow cell where light is irradiated
Stopping the scattered light intensity in the calculation.
Predetermined degree of decrease or increase of transmittance
If it is determined that the value has exceeded the
And dynamically terminating steps.
You.

【0010】[0010]

【作用】上記レーザ回折式粒度分布測定装置および測定
方法においては、CPUは、次のようにして試料粉体S
がフローセル2に供給されているか否かを判断すること
ができる。すなわち、試料粉体Sがフローセル2に供給
されていないときにもレーザ光がフローセル2に対して
照射する。このとき、CPU15においては、光検出器
10,12の出力信号に基づいて散乱光強度と透過率が
演算されている。そして、試料粉体Sがフローセル2に
供給されると、散乱光が生じ、散乱光強度が増加する。
このとき、試料粉体Sにより一部のレーザ光の透過が妨
げられるので、透過光の強度が減少し、透過率が低下す
る。また、フローセル2に対する試料粉体Sの供給が停
止されると、今度は、散乱光強度が減少するとともに、
透過率が大きくなる。
In the above-mentioned laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and measuring method, the CPU sets the sample powder S in the following manner.
Can be determined whether or not is supplied to the flow cell 2. That is, even when the sample powder S is not supplied to the flow cell 2, the laser light is applied to the flow cell 2. At this time, the CPU 15 calculates the scattered light intensity and the transmittance based on the output signals of the photodetectors 10 and 12. When the sample powder S is supplied to the flow cell 2, scattered light is generated, and the scattered light intensity increases.
At this time, the transmission of a part of the laser light is hindered by the sample powder S, so that the intensity of the transmitted light decreases and the transmittance decreases. When the supply of the sample powder S to the flow cell 2 is stopped, the intensity of the scattered light decreases, and
The transmittance increases.

【0011】従って、散乱光量の増加の度合いまたは透
過率の低下の度合いが所定の設定値を超えたとき、CP
U15は試料粉体Sがフローセル2に供給されていると
判断し、粒度分布測定のための散乱光強度測定を自動的
に開始して散乱光強度データの蓄積を開始する。また、
散乱光量の減少の度合いまたは透過率の増加の度合いが
所定の設定値を超えたとき、試料粉体Sがフローセル2
に供給されなくなったと判断し、散乱光強度データの蓄
積を終了し、それまでに蓄積された散乱光強度データに
基づいて粒度分布を求めるのである。
Therefore, when the degree of increase in the amount of scattered light or the degree of decrease in the transmittance exceeds a predetermined value, the CP
U15 determines that the sample powder S is being supplied to the flow cell 2, automatically starts scattered light intensity measurement for particle size distribution measurement, and starts accumulation of scattered light intensity data. Also,
When the degree of decrease in the amount of scattered light or the degree of increase in transmittance exceeds a predetermined set value, the sample powder S is removed from the flow cell 2.
Then, the accumulation of the scattered light intensity data is terminated, and the particle size distribution is obtained based on the scattered light intensity data accumulated so far.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は、本発明に係るレーザ回折式粒度分
布測定方法の一例を示すフローチャートである。そし
て、本測定方法を実施するための装置は、前記図2に示
したものと本質的に異なるところがない。
FIG. 1 is a flow chart showing an example of the laser diffraction type particle size distribution measuring method according to the present invention. An apparatus for carrying out the present measuring method has essentially no difference from the apparatus shown in FIG.

【0014】まず、オペレータが装置の電源スイッチを
オンする。これによって、光源7からレーザ光が発せら
れ、このレーザ光は、ミラー8およびビーム拡大器9を
介してフローセル2に照射される。この状態で表示操作
部16のファンクションキー「真空ポンプオン」を操作
する。これによって、真空ポンプ6が集塵機5を通じて
フローセル2内の空気を排出し、セル上部から空気を吸
入して、図2において矢印で示す下方への気流が形成さ
れる(ステップS1)。
First, an operator turns on a power switch of the apparatus. As a result, a laser beam is emitted from the light source 7, and the laser beam is applied to the flow cell 2 via the mirror 8 and the beam expander 9. In this state, the function key “vacuum pump on” of the display operation unit 16 is operated. Thereby, the vacuum pump 6 discharges the air in the flow cell 2 through the dust collector 5 and sucks the air from the upper part of the cell, thereby forming a downward airflow indicated by an arrow in FIG. 2 (step S1).

【0015】前記真空ポンプ6を始動した段階では、試
料粉体Sがフローセル2に対して供給されてなく、CP
U15においては、光検出器10,12の出力信号に基
づいて散乱光強度と透過率が演算される(ステップS
2)。
At the stage when the vacuum pump 6 is started, the sample powder S is not supplied to the flow cell 2 and the
In U15, the scattered light intensity and the transmittance are calculated based on the output signals of the photodetectors 10 and 12 (step S15).
2).

【0016】ファンクションキー「試料供給開始」をオ
ンすることにより、ホッパ1の下部が開口するなどして
ホッパ1内の試料粉体Sが前記気流に引かれてフローセ
ル2内に導入される(ステップS3)。フローセル2内
を飛翔しながら通過した試料粉体Sは、集塵機5に捕集
される。
By turning on the function key "Start sample supply", the sample powder S in the hopper 1 is drawn into the flow cell 2 by the air flow as the lower part of the hopper 1 is opened (step). S3). The sample powder S that has passed while flying in the flow cell 2 is collected by the dust collector 5.

【0017】上記のように、フローセル2内を試料粉体
Sが通過することにより、フローセル2を照射している
レーザ光は、試料粉体Sにより、一部が散乱または吸収
され、一部が透過する。試料粉体Sにより散乱された光
は、光検出器10,12によって受光され、その散乱光
強度パターンからCPU15により粒度分布が演算され
る。また、透過光は、光検出器10によりその強度が測
定され、試料粉体Sの非供給実施例の透過光強度と比較
することにより透過率が求められる。
As described above, when the sample powder S passes through the flow cell 2, the laser light irradiating the flow cell 2 is partially scattered or absorbed by the sample powder S and partially To Penetrate. The light scattered by the sample powder S is received by the photodetectors 10 and 12, and the particle size distribution is calculated by the CPU 15 from the scattered light intensity pattern. The intensity of the transmitted light is measured by the photodetector 10, and the transmittance is obtained by comparing the transmitted light intensity with the transmitted light intensity of the example in which the sample powder S is not supplied.

【0018】そして、このように試料粉体Sがフローセ
ル2に供給されることにより、散乱光量が増加する一
方、一部の光の透過が阻止されるため、透過光強度が減
少し、透過率が低下する。
When the sample powder S is supplied to the flow cell 2 as described above, the amount of scattered light increases, but the transmission of a part of the light is stopped. Decrease.

【0019】従って、散乱光量の増加の度合いまたは透
過率の低下の度合いが所定の設定値を超えたとき、CP
U15は試料粉体Sがフローセル2に供給されていると
判断し、粒度分布測定のための散乱光強度測定を自動的
に開始して散乱光強度データの蓄積を開始する(ステッ
プS4)。
Therefore, when the degree of the increase in the amount of scattered light or the degree of the decrease in the transmittance exceeds a predetermined value, the CP
U15 determines that the sample powder S is supplied to the flow cell 2, automatically starts scattered light intensity measurement for particle size distribution measurement, and starts accumulation of scattered light intensity data (step S4).

【0020】その後、オペレータがファンクションキー
「試料供給停止」をオンすることにより、ホッパ1の下
部が閉鎖され、フローセル2に対する試料粉体Sの供給
が停止される(ステップS5)と、散乱光強度の減少の
度合いまたは透過率の増加の度合いが所定の設定値を超
ているので、これによって、CPU15は試料粉体S
がフローセル2に供給されなくなったと判断し、散乱光
強度データの蓄積を終了し(ステップS6)、それまで
に蓄積された散乱光強度データに基づいて粒度分布を求
める(ステップS7)。
Thereafter, when the operator turns on the function key "stop sample supply", the lower portion of the hopper 1 is closed, and the supply of the sample powder S to the flow cell 2 is stopped (step S5). reduction in the degree or extent of the increase in transmittance exceeds a predetermined set value Tei Runode, whereby, CPU 15 samples the powder S
Is determined to be no longer supplied to the flow cell 2, accumulation of the scattered light intensity data is terminated (step S6), and a particle size distribution is obtained based on the scattered light intensity data accumulated up to that time (step S7).

【0021】前記粒度分布演算の結果は、CPU15の
メモリ内にストックされるとともに、粒度分布グラフと
して、表示操作部16の表示画面17上に表示された
り、場合によっては、プリンタ20によってプリントア
ウトされる。
The result of the particle size distribution calculation is stocked in the memory of the CPU 15 and displayed as a particle size distribution graph on the display screen 17 of the display / operation unit 16 or printed out by the printer 20 in some cases. You.

【0022】上述の説明から理解されるように、粒度分
布の非測定時には、フローセル2に対して試料粉体Sが
供給されることがないから、試料粉体Sが必要以上に消
費されることがない。
As will be understood from the above description, the sample powder S is not supplied to the flow cell 2 when the particle size distribution is not measured, so that the sample powder S is consumed more than necessary. There is no.

【0023】なお、上記散乱光の測定は、試料粉体Sの
供給終了検出時の他に、予め設定された測定時間経過後
やオペレータの終了操作によって終了することがある。
その場合、散乱光の測定の終了後に試料粉体Sの供給を
停止して、非測定時における不要な試料粉体Sの供給を
なくすようにしてもよい。
Note that the measurement of the scattered light may be terminated after a predetermined measurement time elapses or by an operator's termination operation, other than when the supply end of the sample powder S is detected.
In this case, the supply of the sample powder S may be stopped after the measurement of the scattered light is completed, so that the unnecessary supply of the sample powder S during non-measurement may be eliminated.

【0024】また、上述の実施例においては、散乱光強
度の増減の度合いと透過率の増減の度合いを同時に検出
し、それによって試料粉体Sの供給または停止を行うよ
うにしているが、本発明はこれに限られるものではな
く、散乱光強度の増減の度合いと透過率の増減の度合い
のいずれか一方のみに基づいて試料粉体Sの供給または
停止を行うようにしてもよいことはいうまでもない。
In the above-described embodiment, the degree of increase and decrease of the scattered light intensity and the degree of increase and decrease of the transmittance are detected at the same time, thereby supplying or stopping the sample powder S. The invention is not limited to this, and it is also possible to supply or stop the sample powder S based on only one of the degree of increase and decrease of the scattered light intensity and the degree of increase and decrease of the transmittance. Not even.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試料粉体の供給操作から測定開始操作までの間および散
乱光測定後試料粉体供給停止操作を行うまでに試料粉体
が無駄に供給されることがなくなり、粒度分布の非測定
時にはフローセルに対して試料粉体が供給されることが
なく、真に測定に必要な試料粉体のみを消費するだけで
あるので、安価に所望の測定を行うことができる。
As described above, according to the present invention,
The sample powder is not supplied unnecessarily from the sample powder supply operation to the measurement start operation and before the sample powder supply stop operation is performed after the scattered light measurement. As a result, the sample powder is not supplied, and only the sample powder truly required for the measurement is consumed, so that the desired measurement can be performed at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るレーザ回折式粒度分布測定方法の
手順の一例を示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing an example of a procedure of a laser diffraction type particle size distribution measuring method according to the present invention.

【図2】前記測定方法を実施するための装置の構成を概
略的に示す図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration of an apparatus for performing the measurement method.

【図3】従来方法を手順を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…フローセル、15…CPU、S…試料粉体。 2 ... Flow cell, 15 ... CPU, S ... Sample powder.

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 気中に分散した試料粉体をフローセルに
対して供給するとともに、フローセルに対してレーザ光
を照射し、そのときに得られる散乱光強度パターンに基
づいて試料粉体における粒度分布を測定するレーザ回折
式粒度分布測定装置において、試料粉体によって生じた
散乱光強度の増減の度合いまたは透過率の増減の度合い
に基づいて試料粉体が供給されていることまたは試料粉
体が供給されなくなったことを自動的に判断するように
構成したことを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定
1. A method for supplying a sample powder dispersed in the air to a flow cell, irradiating the flow cell with laser light, and obtaining a particle size distribution in the sample powder based on a scattered light intensity pattern obtained at that time. Caused by the sample powder in a laser diffraction type particle size distribution measuring device
The degree of change in scattered light intensity or the degree of change in transmittance
That the sample powder is supplied based on
Automatically determine when your body is no longer supplied
Laser diffraction particle size distribution measurement instrumentation, characterized in that configuration the
Place .
【請求項2】(2) 気中に分散した試料粉体をフローセルにSample powder dispersed in air is placed in a flow cell
対して供給するとともに、フローセルに対してレーザ光Laser beam to the flow cell
を照射し、そのときに得られる光検出器の出力に基づいAnd based on the output of the photodetector obtained at that time
て散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱光強度パTo calculate the scattered light intensity and the transmittance.
ターンに基づいて試料粉体における粒度分布を測定するMeasuring particle size distribution in sample powder based on turn
レーザ回折式粒度分布測定装置において、試料粉体を供In the laser diffraction particle size distribution analyzer, supply the sample powder.
給した後に、前記演算において散乱光強度の増加の度合After the supply, the degree of increase in the scattered light intensity
いまたは透過率の低下の度合いが所定の設定値を超えたOr the degree of decrease in transmittance exceeds the specified value
と判断された場合に散乱光データの蓄積を自動的に開始Automatically starts storing scattered light data when it is determined
することを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定装置。A laser diffraction type particle size distribution measuring device.
【請求項3】(3) 気中に分散した試料粉体をフローセルにSample powder dispersed in air is placed in a flow cell
対して供給するとともに、フローセルに対してレーザ光Laser beam to the flow cell
を照射し、そのときに得られる光検出器の出力に基づいAnd based on the output of the photodetector obtained at that time
て散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱光強度パTo calculate the scattered light intensity and the transmittance.
ターンに基づいて試料粉体における粒度分布を測定するMeasuring particle size distribution in sample powder based on turn
レーザ回折式粒度分布測定装置において、試料粉体の供In the laser diffraction type particle size distribution analyzer,
給を停止した後に、前記演算において散乱光強度の減少After the supply is stopped, the scattered light intensity decreases in the above calculation.
の度合いまたは透過率の増加の度合いが所定の設定値をThe degree of increase or the degree of increase in transmittance
超えたと判断された場合に散乱光データの蓄積を自動的Automatically accumulates scattered light data when it is determined to exceed
に終了することを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定Laser diffraction particle size distribution measurement
装置。apparatus.
【請求項4】(4) 気中に分散した試料粉体をフローセルにSample powder dispersed in air is placed in a flow cell
対して供給するとともに、フローセルに対してレーザ光Laser beam to the flow cell
を照射し、そのときに得られる光検出器の出力に基づいAnd based on the output of the photodetector obtained at that time
て散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱光強度パTo calculate the scattered light intensity and the transmittance.
ターンに基づいて試料粉体における粒度分布を測定するMeasuring particle size distribution in sample powder based on turn
レーザ回折式粒度分布測定装置においLaser diffraction particle size distribution analyzer て、試料粉体を供The sample powder.
給した後に、前記演算において散乱光強度の増加の度合After the supply, the degree of increase in the scattered light intensity
いまたは透過率の低下の度合いが所定の設定値を超えたOr the degree of decrease in transmittance exceeds the specified value
と判断された場合に散乱光データの蓄積を自動的に開始Automatically starts accumulating scattered light data when it is determined that
し、さらに、試料粉体の供給を停止した後に、前記演算After the supply of the sample powder is stopped,
において散乱光強度の減少の度合いまたは透過率の増加The degree of decrease in scattered light intensity or increase in transmittance
の度合いが所定の設定値を超えたと判断された場合に散If it is determined that the degree of
乱光データの蓄積を自動的に終了することを特徴とするAutomatically terminates storage of scattered light data
レーザ回折式粒度分布測定装置。Laser diffraction particle size distribution analyzer.
【請求項5】(5) 気中に分散した試料粉体をフローセルにSample powder dispersed in air is placed in a flow cell
対して供給するとともに、フローセルに対してレーザ光Laser beam to the flow cell
を照射し、そのときに得られる光検出器の出力に基づいAnd based on the output of the photodetector obtained at that time
て散乱光強度および透過率を演算し、前記散乱光強度パTo calculate the scattered light intensity and the transmittance.
ターンに基づいて試料粉体における粒度分布を測定するMeasuring particle size distribution in sample powder based on turn
レーザ回折式粒度分布測定方法において、フローセルにIn the laser diffraction particle size distribution measurement method, the flow cell
対してレーザ光を照射するステップと、レーザ光が照射Irradiating the laser light to the
されているフローセルに対して試料粉体を供給するステFor supplying sample powder to the flow cell
ップと、前記演算において散乱光強度の増加の度合いまAnd the degree of increase in the scattered light intensity in the above calculation.
たは透過率の低下の度合いが所定の設定値を超えたと判Or that the degree of decrease in transmittance exceeds a specified value.
断された場合に散乱光データの蓄積を自動的に開始するAutomatically start scattered light data accumulation when interrupted
ステップと、レーザ光が照射されているフローセルに対Step and the flow cell irradiated with the laser light
して試料粉体を供給を停止するステップと、前記演算にStopping the supply of the sample powder by performing
おいて散乱光強度の減少の度合いまたは透過率の増加のThe degree of decrease in scattered light intensity or increase in transmittance
度合いが所定の設定値を超えたと判断された場合に散乱Scattering when the degree is judged to exceed the set value
光データの蓄積を自動的に終了するステップとからなるAutomatically terminating the accumulation of optical data
ことを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定方法。A laser diffraction type particle size distribution measuring method, characterized in that:
JP25000693A 1993-09-11 1993-09-11 Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method Expired - Fee Related JP3321482B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25000693A JP3321482B2 (en) 1993-09-11 1993-09-11 Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25000693A JP3321482B2 (en) 1993-09-11 1993-09-11 Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0783816A JPH0783816A (en) 1995-03-31
JP3321482B2 true JP3321482B2 (en) 2002-09-03

Family

ID=17201449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25000693A Expired - Fee Related JP3321482B2 (en) 1993-09-11 1993-09-11 Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3321482B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0783816A (en) 1995-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2720340B2 (en) Laser diffraction particle size distribution measurement method
US5301014A (en) Method and arrangement for spectroscopically measuring the concentration of a component of a gas sample
US5574654A (en) Electrical parameter analyzer
JP2716863B2 (en) Method and apparatus for measuring particle size distribution
JPH09138248A5 (en)
WO2010092784A1 (en) Fluorescence detection device and fluorescence detection method
JP3321482B2 (en) Laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus and method
JP3689274B2 (en) Dynamic light scattering particle size distribution measurement system
US5682235A (en) Dry particle-size distribution measuring apparatus
JP2002156321A (en) Suspended particulate matter measurement device
JPS62106347A (en) Light source fluctuation correction method for particle analyzer
JP3294668B2 (en) Method and apparatus for detecting particle size of particle group
CN112504923A (en) Atmospheric particulate concentration and particle size distribution measuring method based on multi-frequency SAW array
JP2528521B2 (en) Automatic measurement range switching device for surface area measuring device
JPH08128956A (en) Gas concentration measuring equipment
Hofler et al. Performance of the CEBAF arc beam position monitors
JP3258881B2 (en) Dry particle size distribution analyzer
JP3049926B2 (en) Particle size distribution analyzer
JPH07140071A (en) Device for measuring dispersibility of fine particles in liquid
JP4294384B2 (en) Particle size distribution measuring device
JPS5821149A (en) Stabilizing circuit of crest value for x-ray analyzing apparatus
CN214374258U (en) Sulfur dioxide gas analysis system
JP3506578B2 (en) Substrate processing device and air concentration management system
JPS6010255B2 (en) Method for detecting agglutination reactions in blood, etc.
JPH04110638A (en) Particle measuring apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110621

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110621

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110621

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120621

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120621

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130621

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees