JP3330779B2

JP3330779B2 - ワイヤ放電加工機の位置決め方法及びその装置

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Publication number: JP3330779B2
Application number: JP12919095A
Authority: JP
Inventors: 雄二金子; 享嘉元矢; 竜生豊永
Original assignee: Sodick Co Ltd
Current assignee: Sodick Co Ltd
Priority date: 1995-04-30
Filing date: 1995-04-30
Publication date: 2002-09-30
Anticipated expiration: 2017-09-30
Also published as: JPH08300225A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ワイヤ放電加工機の位
置決め方法及びその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、略垂直方向に張架されたワイヤ
電極を更新送りしつつこれと被加工物との間に放電現象
を発生させて、あたかも糸ノコのように被加工物に所望
の場所に輪郭形状で加工を施すようにした装置として、
ワイヤ放電加工機が知られている。この種のワイヤ放電
加工機は、非常に加工精度が高く、精密機械加工に適し
ている。加工を行なうに際しては、被加工物の決められ
た箇所に精度良く加工を行なうため、加工の位置に対す
る基準となる被加工物の基準面または基準孔とワイヤ電
極を接触させて、その接触位置を求め、その接触位置を
放電加工の基準位置として被加工物上の各位置が相対的
に決定される。従って、加工前のこの基準位置を求めて
ワイヤ電極を被加工物に対して位置決めする位置決め
は、加工精度に大きな影響を与え、非常に重要な操作と
なる。

【０００３】ここで、図９に基づいて従来のワイヤ放電
加工機の位置決め方法について説明する。図示するよう
に被加工物Ｗは、Ｘ・Ｙテーブル２上に設けたワークス
タンド４に固定されており、この被加工物Ｗに臨ませて
ワイヤ電極６を走行させるためのワイヤ供給移送手段８
は、ワイヤボビン９に巻回されたワイヤ電極６を、最下
流の回収ローラ１０とピンチローラ１２で挟み込んで一
定の力で引っ張ることにより送り出すようになってお
り、途中にプーリ１４や、プーリ１６、パウダーブレー
キ１８及びピンチローラ２０よりなるテンション付与機
構２２やプーリ２１、２３を介している。また、被加工
物Ｗを挟み込むような形で、この上下にはワイヤ電極６
の走行方向を案内する上ガイド２４及び下ガイド２６が
配置されている。

【０００４】更に、上ガイド２４の上方には、ワイヤ電
極６と接触してこれに給電を可能とするための給電子２
８が配置されており、この給電子２８とワークスタンド
４との間にパルス状の加工電圧を供給する加工電圧供給
部３０及び中心位置を決定する時に用いる接触検出部３
２からの給電ラインが接続される。そして、マイクロコ
ンピュータ等よりなるＮＣ装置３３は、これらの動作を
制御するものであり、Ｘ・Ｙテーブル２に設けたエンコ
ーダ３４からの座標情報に基づいてドライバ３８を介し
て駆動モータ３６を制御して、ワイヤ電極６と被加工物
Ｗとの相対位置を制御している。尚、実際には上ガイド
２４或いは下ガイド２６も移動させて相対位置を制御す
るが、図示例においては説明の簡単化のために記載を省
略している。このような構成において、ワイヤ電極６と
被加工物Ｗが、最初に接触した位置を接触検出部３２で
検出し、ここを基準位置、或いは基準座標として各部の
座標を決定するようになっている。

【０００５】ところで、ワイヤ電極のテンションはワイ
ヤ供給側とワイヤ電極巻取り側の間に設けたテンション
付与機構２２により与えられるが、ワイヤ電極の供給移
送手段８で送られるワイヤ電極が一対の上下のガイド２
４、２６間で僅かに振動することは避けられない。この
振動の原因は、テンションが加えられることによるワイ
ヤ電極の伸びや、給電子２８とワイヤ間の摩擦抵抗や、
テンション制御によるテンションの変動等に起因して発
生するが、この振動をできる限り少なくするよう設計し
ても無振動状態にできない。ワイヤの振動周波数は複数
の周波数が混在した状態であるが、約１ＫＨｚ〜２ＫＨ
ｚ程度の振動が位置決め精度に大きく影響する。

【０００６】そこで、このようなワイヤ電極の振動を考
慮して、一例として以下のような種々の位置決め方法が
提案されている。特開昭６３−９３５２４号公報では、
上下の各接触検出電極を有する治具を用いて、検出しよ
うとする上下の溝幅を対称に設けてあり、そこにワイヤ
電極の走行を止めた状態の接触検出位置と、ワイヤ電極
を走行させた状態で接触検出位置と、ワイヤ電極と走行
させた状態で接触検出位置の差から振動幅を求め、真の
垂直座標を得るようになっている。また、特開平２−１
６０４２３号公報では、ワイヤ電極を走行させながら位
置決めを行うと、走行によってワイヤ電極に微少振動が
発生し、精度及び再現性を低下させてしまうので、ワイ
ヤ電極の走行を停止させて所定の張力を与えた状態にし
つつ位置決めを行なうようにしている構成が提案されて
いる。

【０００７】更に、特開平１−３０６１３２号公報で
は、ワイヤ電極と検出点が上下に２つ有している垂直出
し用治具とを利用し、ワイヤ電極の垂直出しを行うもの
であって、ワイヤ電極が検出点に接触する回数を例えば
上部のみ、下部のみ、上下両方のみ、上下共に接触無し
の各々がカウントされるようになっており、そして各々
のカウントにより上部ワイヤガイドを前進或いは後退駆
動させてワイヤ電極を垂直に補正するようにした構成が
開示されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た各従来装置には、次のような問題点があった。まず、
第１の特開昭６３−９３５２４号公報に示す技術にあっ
ては、ワイヤの走行状態と停止状態で接触させ、これら
の差を持ってワイヤ電極の振動幅と見なし差分を補正し
ようとしている。しかしながら、ワイヤ電極を停止して
位置決めすると、ワイヤ電極を停止させた位置が常に同
じ位置で停止せず振動幅のどこかで止まるので停止位置
が安定しない。この理由は、ガイドの孔径とワイヤ電極
の径に差があること及び、給電子はワイヤ電極軸線上に
張り出しているためにワイヤ電極は常に給電子によりし
ごかれている状態下におかれることにある。また、ゴミ
等の付着物に起因する場合も少なくない。従って、ワイ
ヤ電極が被加工物と接触したときの位置が振動幅のどの
位置で接触したのか確定することができない。すなわち
ワイヤ電極が振動していない場合にあるべき位置までワ
イヤ電極と被加工物をサーボにて相対移動させ位置決め
するものであるが、振動しているワイヤ電極のどの振動
位置で接触したのか不明である。

【０００９】また、加工は所定のワイヤ電極送り速度と
所定のテンション下で行われるので、加工を行うときの
走行状態で位置検出しないと加工中の真の中心位置とし
て位置決めできない。また、第２の特開平２−１６０
４２３号公報では、ワイヤ電極を停止させて振動のない
状態で位置決めしているが、この場合にも上記第１の公
報にて説明したように、ワイヤ電極は振動幅のどの位置
で停止するか判らないので停止位置が安定せず、第１の
公報の場合と同様な問題点を有する。また、第３の特開
平１−３０６１３２号公報では、垂直出し操作は、ワイ
ヤ電極を停止させた状態でなされており、この場合にも
前述したと同様な問題点が生ずる。

【００１０】本発明は、以上のような問題点を解決すべ
く創案されたものである。本発明の目的は接触位置決め
の際、ワイヤ電極を加工時と同じ環境下に置きワイヤ電
極を走行させながらワイヤ電極の接触位置を検出するこ
とにより、ワイヤ電極の振動による検出誤差をなくすこ
とのできるワイヤ放電加工機の位置決め方法とその装置
を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
の本発明のワイヤ放電加工機の位置決め方法の基本的な
プロセスは、一対のワイヤガイド（２４），（２６）間
に張架されたワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）を相対
移動して放電加工を行なうワイヤ放電加工機の位置決め
方法において、ワイヤ電極（６）を所定のテンション下
で走行させるステップと、ワイヤ電極（６）を被加工物
（Ｗ）に対して接近するように相対移動させるステップ
と、ワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）との間に検出電
圧を印加してワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）との間
の電圧を検出するステップと、この検出された電圧に基
づいてワイヤ電極（６）が被加工物（Ｗ）の先端におい
てワイヤ電極（６）の振動幅の中心位置（Ｂ）でとどま
るようにワイヤ電極（６）を被加工物（Ｗ）に対して相
対的に前進または後退させるステップと、ワイヤ電極
（６）を被加工物（Ｗ）に対して相対的に前進または後
退させている間、ワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）と
の相対位置を繰返し検出するステップと、これら検出さ
れた相対位置に基づいて前記ワイヤ電極の振動幅の中心
位置を求めて放電加工の基準位置として決定しワイヤ電
極（６）を被加工物（Ｗ）に対して位置決めするステッ
プと、を含んで構成される。また、本発明のワイヤ放電
加工機の位置決め装置の基本的な構成は、一対のワイヤ
ガイド（２４），（２６）間に張架されたワイヤ電極
（６）を走行させるワイヤ供給移送手段（８）と、ワイ
ヤ電極（６）に所定の張力を付与するテンション付与機
構（２２）と、ワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）とを
相対移動させる移動機構と、ワイヤ電極（６）と被加工
物（Ｗ）との間に電圧を供給する加工電圧供給部（３
０）と、ワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）との間の電
圧を検出する接触検出部（３２）とを具備するワイヤ放
電加工機の位置決め装置において、接触検出部（３２）
で検出された電圧に基づいてワイヤ電極（６）が被加工
物（Ｗ）の先端においてワイヤ電極（６）の振動幅の中
心位置（Ｂ）でとどまるようにワイヤ電極（６）を被加
工物（Ｗ）に対して相対的に前進または後退させるよう
に前記移動機構を駆動制御する移動機構制御部（４１）
と、接触検出部（３２）で検出された電圧に基づいてワ
イヤ電極（６）が被加工物（Ｗ）の先端に対して略ワイ
ヤ電極（６）の振動幅の中心位置に位置している状態で
ワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）とが接触したときに
検出されるワイヤ電極（６）と被加工物（Ｗ）の相対位
置の座標値を順次記憶する座標記憶部（７０）と、座標
記憶部（７０）に記憶された前記複数の相対位置の座標
値の平均値を演算して放電加工の基準位置として決定す
る接触位置演算処理部（７６）と、を含んでなる。

【００１２】

【作用】以上のように構成することにより、位置決め時
には、ワイヤ電極を所定のテンション下で走行させつつ
ワイヤ電極と被加工物とを相対移動させる。この相対移
動時には、ワイヤ電極と被加工物との接触・離反の繰り
返し動作をするサーボで両者の移動を制御する。そし
て、この接触・離反時の各位置座標を記憶しておき、所
定の回数の位置座標を検出したならば、不定振幅におけ
る中心位置への移動制御のばらつきを平均化する演算を
することにより、より正確に放電加工の基準位置を求め
ることが可能となる。この場合、接触・離反操作中にお
いて、相対移動量が許容範囲を逸脱した場合にはエラー
とし、この許容範囲を設定する仮の基準位置となる初期
座標を設定し直して再実行する。これにより、ワイヤ電
極を加工時と同じ環境下に置き、ワイヤ電極を走行させ
ながら接触位置を求めることが可能となる。

【００１３】

【実施例】以下に、本発明に係るワイヤ放電加工機の位
置決め方法及びその装置の一実施例を添付図面を参照し
つつ説明する。図１は本発明の係るワイヤ放電加工機の
位置決め装置を示す概略構成図、図２は図１に示す位置
決め装置の制御ユニットを示すブロック構成図である。
尚、図９にて示した部分と同一部分については同一符号
を付して説明する。

【００１４】図示するようにこのワイヤ放電加工機は、
基台４０上に設置したＸ・Ｙテーブル２を有しており、
この上にワークスタンド４を介して被加工物Ｗを固定し
ている。このＸ・Ｙテーブル２は、テーブルを動かすボ
ールネジ３５とこれを回転駆動するステップモータの如
き駆動モータ３６を有し、Ｘ方向及びこれに直交するＹ
方向の任意の位置に移動し得るようになっている。被加
工物Ｗの位置（座標）は、それぞれの駆動モータ３６に
設けたエンコーダ３４（図中においては一方のみ示す）
により検出される。尚、図示例の移動機構では、Ｘ・Ｙ
テーブル２のみ移動できるようになっているが、実際
は、上ガイド２４或いは下ガイド２６も移動できるよう
になっており、これらの相対移動によって位置制御され
るが、図示例では、説明の容易化のためにガイドの移動
機構を省略している。

【００１５】一方、被加工物Ｗに臨ませて、ワイヤ電極
６を走行させるためのワイヤ供給移送手段８は、ワイヤ
ボビン９に巻回されたワイヤ電極６を、最下流の回収ロ
ーラ１０とピンチローラ１２で挟み込んで一定の力で引
っ張ることにより送り出すようになっており、途中にプ
ーリ１４や、プーリ１６、パウダーブレーキ１８及びピ
ンチローラ２０よりなるテンション付与機構２２やプー
リ２１、２３を介設している。また、被加工物Ｗを挟み
込むような形で、この上下にはワイヤ電極６の走行方向
を案内する上ガイド２４及び下ガイド２６が配置され
る。更に、上ガイド２４の上方には、ワイヤ電極６と接
触してこれに給電を可能とするための給電子２８が配置
されており、この給電子２８とワークスタンドとの間に
パルス状の加工電圧を供給するための加工電圧供給部３
０及び中心位置を決定する時に用いる、位置決め装置４
２の一部を構成する接触検出部３２からの給電ラインが
接続される。

【００１６】そして、マイクロコンピュータ等よりなる
ＮＣ装置３３は、これらの動作を制御するものであり、
Ｘ・Ｙテーブル２に設けたエンコーダ３４からの座標情
報を基にドライバ３８を介して駆動モータ３６を制御し
て、ワイヤ電極６と被加工物との相対位置を制御する。
また、ＮＣ装置３３は、本発明の一部を構成する移動機
構制御部４１を内蔵する。この移動機構制御部４１は、
上記接触検出部３２からの信号を受けてワイヤ電極６と
被加工物Ｗとの接触状態の時間をカウントする接触状態
カウント部４４とこれらの非接触状態の時間をカウント
する非接触状態カウント部４６と、それぞれのカウント
値が所定時間に達する毎に、前進パルス或いは後退パル
スを出力する移動制御部４８とにより主に構成されてお
り、両者が接触しない時は前進パルスを出力し、接触し
た時には後退パルスを出力して両者が付かず離れずの関
係を維持するように制御している。

【００１７】上記した制御系は、機械部の制御系である
が、次に、接触位置を求める本発明の特徴とする演算ユ
ニット５０の構成について図２を参照して説明する。図
２は演算ユニット５０を示すブロック構成図である。こ
の演算の概要について説明すると、まず、ワイヤ電極と
被加工物とが接近して最初に接触するとその座標値が記
憶され、その後、連続的に入力されてくる座標値を所定
の数だけ記憶する。この間は、前述のようにワイヤ電極
と被加工物は付かず離れずの相対移動制御が行われてお
り、そして、所定の数の座標値を記憶したならば、この
平均値を求めて、目的とする接触位置座標を求める。た
だし、所定の数の座標値を求めるに当たり、各種のエラ
ー要素が侵入する恐れがあるので、複数のチェック工程
を設けておく。例えば仮の基準座標として第１と第２の
初期座標を設けて、これらの座標値を中心として所定の
許容範囲以外に座標値が逸脱した場合や、付かず離れず
の動作途中において前進方向或いは後退方向に所定の数
だけ連続的に移動パルスが発生した場合等をエラーと
し、この場合には再度、座標値の検出動作を行なうよう
になっている。

【００１８】まず、図中、第１の初期座標記憶部５２
は、ワイヤ電極と被加工物が最初に接触して接触信号が
きた時の座標値を記憶するメモリであり、ここで記憶さ
れた第１の初期座標を基に、最大許容範囲が決められ
る。この座標値は、後述するようにエラーが発生しても
更新されることはなく、固定値となる。第２の初期座標
記憶部５４は、基準となる第２の初期座標を記憶するメ
モリであり、この座標値は、第１の初期座標とは異な
り、エラー信号が入力される毎にその座標値が更新され
て新しい座標値となる。

【００１９】広域許容範囲記憶部５６は、上記第１の初
期座標を中心として現在の座標値が取り得る最大の許容
範囲を記憶するメモリであり、本実施例ではこの広域許
容範囲を記憶するメモリであり、本実施例ではこの広域
許容範囲は例えば±９μｍの範囲に設定される。狭域許
容範囲記憶部５８は、上記第２の初期座標を中心として
現在の座標値が取り得る許容範囲を記憶するメモリであ
り、この許容範囲は上記広域許容範囲よりも狭く設定さ
れており、本実施例ではこの狭域許容範囲は例えば±４
μｍの範囲に設定されている。

【００２０】第１の初期座標比較部６０は、現在の座標
値が、上記第１の初期座標を基準として定まる上記広域
許容範囲内に納まっているか否かを比較判断するもので
あり、この許容範囲を逸脱した時には、エラー信号を出
力する。第２の初期座標比較部６２は、現在の座標値
が、上記第２の初期座標を基準として定まる上記狭域許
容範囲内に納まっているか否かを比較判断するものであ
り、この許容範囲を逸脱した時には、エラー信号を出力
する。

【００２１】連続値カウンタ部６４は、座標値が上記広
域及び狭域許容範囲内に入った状態で所定の回数だけ連
続的に増加或いは減少した時の数をカウントするもので
あり、従って、このカウンタ部６４は、連続増加数をカ
ウントする連続増加カウンタ６４Ａと、連続減少数をカ
ウントする連続減少カウンタ６４Ｂを内蔵している。連
続値比較部６６は、上記カウンタ部６４のカウント値が
所定値になった時にエラー信号を出力するものであり、
この比較部６６は、上記２つのカウンタ６４Ａ，６４Ｂ
に対応させて連続増加比較器６６Ａと、連続減少比較器
６６Ｂとを内蔵している。本実施例では、設定値は、例
えば［３］に設定されている。

【００２２】座標検出回数記憶部６８は、ワイヤ電極と
被加工物とが最初に接触した後の、サンプリングによる
座標の検出回数を記憶するメモリであり、このメモリ内
容は、エラー信号が検出される毎にリセットされる。座
標記憶部７０は、上記ワイヤ電極と被加工物が最初に接
触した後において、検出された座標値を記憶するメモリ
であり、このメモリ内容はエラー信号が検出される毎に
リセットされる。リセット部７２は、各部からエラー信
号が入力される毎に上記記憶部６８、７０の内容をリセ
ットするものである。

【００２３】検出回数比較部７４は、座標検出回数記憶
部の値が所定値に達したか否かを比較判断するものであ
り、本実施例では例えば所定値として［１００］が設定
されている。接触位置演算処理部７６は、上記検出回数
比較部７４にて検出回数が設定値に達したと判断した時
に、上記座標記憶部７０に記憶されている座標値の平均
を求めて放電加工の基準位置を求める演算処理を行な
う。この演算結果は、ディスプレイ等の表示部７８に表
示され、オペレータに知らせる。また、エラー回数記憶
部８０は、各部から出力されたエラー回数を記憶するメ
モリである。

【００２４】エラー回数比較部８２は、上記エラー回数
記憶部８０の値が所定値に達したか否かを比較判断する
ものであり、所定値に達したならば、その旨を装置全体
の動作を制御する図示しないホストコンピュータ等に知
らせてこの動作全体を停止させる。この実施例では、所
定値は例えば［５］に設定される。

【００２５】次に、以上のように構成された装置により
行われる本発明の位置決め方法において説明する。この
装置は、ワイヤ電極と被加工物が接触した後は、これら
が付かず離れずの相対移動を行なうように機械部の振動
中心移動制御と、接触時における接触位置の演算処理と
を同時に行なう。図３はこの時のフローを示しており、
ＣＰＵのマルチタスク処理により、上記制御及び処理が
並列に行われている。まず、初めに処理プログラムのＳ
Ｔ−ＦＬＧ（接触フラグ）及びＥＮＤ−ＦＬＧ（終了フ
ラグ）を共に［０］にすることにより、初期設定する。
すると、両者の振動中心移動制御（Ｓ２００）及び接触
位置演算処理（Ｓ５００）は、上記ＥＮＤ−ＦＬＧが
［１］でない限りは繰り返し行なわれる。そして、ＥＮ
Ｄ−ＦＬＧに［１］が立つと、Ｓ３００及びＳ６００の
判断がＮＯとなり、動作が終了することになる。

【００２６】次に、図４乃至図６に基づいて、上記Ｓ２
００にて行われる振動中心移動制御について詳しく説明
する。図４はこの振動中心移動制御を示すフロー、図５
はワイヤ電極の振動と接触検出信号との関係を示す図、
図６はワイヤ電極の振動と各カウンタ部のカウント値と
の関係を示すグラフである。前述のようにここではワイ
ヤ電極６と被加工物Ｗとが最初に接触すると、それ以後
は、両者が付かず離れずの状態となるように制御され
る。

【００２７】まず、Ｓ２０１では、内部カウンタとして
図１に示す接触状態カウント部４４（以下、ＣＮＴ−Ｂ
Ｋと称す）と非接触状態カウント部４６（以下、ＣＮＴ
−ＧＯと称す）とを［０］として初期設定する。また、
Ｆ値を例えば１００に設定する。ここで、Ｆ値は、サー
ボモータの送り速度を意味しており、１分間にモータへ
の出力パルスをどれだけの周期で出力するかが決定され
る。この場合、Ｆ値を１００に設定すると、２ｍｍ／ｍ
ｉｎの速度となるような間隔でパルスが出力される。

【００２８】Ｓ２０２ではＥＮＤ−ＦＬＧが［０］か否
か判断され、この場合［０］とする処理がなされていな
いので［Ｙ］の方に実行される。Ｓ２０３では接触検出
部（極間）３２での接触信号があるか否かの判断処理す
るところである。ここで、接触信号でない場合（ＮＯ）
には、Ｓ２０４ではＣＮＴ−ＧＯカウンタ４６に１をカ
ウントする処理がなされる。

【００２９】Ｓ２０５では、前記カウンタ４６のカウン
ト値と設定値とを移動制御部４８にて比較判断処理する
ところである。この場合、設定値Ｆとして、上述のよう
に例えば１００が入力されているとすると、設定値１０
０になるまでＳ２０２〜Ｓ２０５の処理を繰り返す。
尚、設定値１００とは前述のようにサーボのＦ値（送り
速度）を意味しており、１分間にモータへの出力パルス
をどれだけの周期で出力すれば所定のＦ値とすることが
できるか決定するための値である。この場合は設定値１
００にすると２ｍｍ／ｍｉｎの値で前進サーボが実行さ
れることになる。また、本実施例ではＳ２０２〜Ｓ２０
５までの１ループに要する時間は、３００μｓである。

【００３０】Ｓ２０６では、ＣＮＴ−ＧＯが１００にな
った時点（Ｙ）でモータへ前進パルスを１パルス発信さ
せる処理であり、この処理が実行されるまでは同じ位置
を維持しつづけることになる。つまり、モータの前進パ
ルスを出力するまではＳ２０２〜Ｓ２０５の処理を実行
しており、その処理のループ回数が、前記Ｆ値が２ｍｍ
／ｍｉｎとなるようにタイミングを図っていることを意
味している。ここでは、移動制御部４８からドライバ３
８を介してモータ３６に実際に前進パルスが１つ出力さ
れる。Ｓ２０７では、ＣＮＴ−ＧＯカウンタ４６をクリ
アする処理を行っている。尚、ここで、ＣＮＴ−ＢＫカ
ウンタ４４もクリアするようにしてもよい。

【００３１】Ｓ２０８では、前記接触検出部３２からの
接触信号があった場合、すなわちＳ２０３にてＹＥＳの
場合、ＳＴフラグが［０］であるか否かを判断する。Ｓ
２０８でＹＥＳの場合には、Ｓ２０９に行き、Ｓ２０９
では、ＳＴフラグを［１］とする処理をしている。これ
により、ワイヤ電極と被加工物とが初めて接触した事を
示す。Ｓ２１０ではＣＮＴ−ＢＫカウンタに１をカウン
トする。Ｓ２１１では前記Ｓ２０５での処理と同様に実
行するが、この処理では後退用の処理をするものであ
る。すなわち、カウンタ４４のカウント値が所定値１０
０に達したか否を判断する。

【００３２】Ｓ２１２では前記Ｓ２０６と同様な処理を
実行するが、ここでは後退の処理をするものである。す
なわち、カウント値が１００に達すると、後退パルスを
１つ出してモータを後退させ、両者を離す方向へ移動す
る。Ｓ２１３では前記Ｓ２９７と同様な処理を実行し、
ＣＮＴ−ＢＫカウンタをクリアする。尚、ここでＣＮＴ
−ＧＯカウンタもクリアするようにしてもよい。すなわ
ち、上記の一連の処理における動作をまとめて説明する
と、Ｓ２０３の接触検出の判断により、前進側ループ回
数、すなわち接触状態の検出回数の頻度が高い場合は、
モータへの後退出力用パルス数が増加し、接触検出しよ
うとするものに対して接近し、逆に後退側ループ回数、
すなわち非接触状態の検出回数の頻度が高い場合は、モ
ータへの後退出力用パルス数が増加し、接触検出しよう
とするものに対して離れるような動作となる。このよう
な動作を繰り返すことによって、ワイヤ電極が被加工物
に接近するようにワイヤ電極と被加工物とが相対移動さ
れ、ワイヤ電極と被加工物とが一旦接触した後は、付か
ず離れずの状態となるようにそれらの相対移動が制御さ
れることになる。つまり、ワイヤ電極の振動による接触
回数がサーボバックまたは前進を左右し、結果として、
ワイヤ電極は被加工物の先端においてワイヤ電極の振動
幅の中心位置でとどまるように動作する。

【００３３】図５にこの時のワイヤ電極６の振動状態と
接触検出信号の状態との関係を示す。図示するように、
図中右側よりワイヤ電極６に対して被加工物Ｗが次第に
接近していくと、Ａ地点などのように接触初期の段階で
は、ほとんど無負荷状態であり、たまに両者が接触して
ショート状態となる。更に、被加工物Ｗの移動が進んで
例えばＢ地点に達すると、無負荷状態とショート状態が
時間的に略同じとなる。そして、更に被加工物Ｗの位置
が進んで例えばＣ地点に達すると、Ａ地点の場合と逆に
なり、ショート状態の時間が非常に長くなる。

【００３４】さて、このような接触状態の時の各カウン
タ部のカウント値の変化について図６を参照して説明す
る。ここでは、ワイヤー電極の振動周波数を２ＫＨｚ、
サーボ動作周波数を１００Ｈｚ、接触検出周波数（サン
プリング周波数）を１００ＫＨｚとした時の各地点のタ
イミングチャート中、略右半分のエリアは、時間を圧縮
して記載している。また、Ｆの設定値は１００ではな
く、１０００とし、カウント値が１０００に達する毎に
前進或いは後退パルスを１つ出力するようになってい
る。図から明らかなように両カウンタ部４４、４６のカ
ウント値は、相補的に増加し、相互に一方のカウント値
が増加するときは他方のカウント値は停止する関係にあ
る。Ａ地点に示す場合には、前述の図５で説明したよう
に両者は僅かな時点でしか接触しないので、ＣＮＴ−Ｇ
Ｏカウンタ部（非接触状態カウント部）４６のカウント
値は急激に増加するのに対して、ＣＮＴ−ＢＫカウンタ
部（接触状態カウント部）４６のカウント値の増加は遅
い。そして、早く設定値１０００に達した方のカウンタ
部、この場合は、ＣＮＴ−ＧＯカウンタ部４６に対応し
たパルス、すなわちここでは前進パルスが１発出力され
る。

【００３５】また、Ｂ地点に示す場合には、ワイヤ電極
と被加工物との接触・非接触の時間は略同等なので、両
カウンタ部４４、４６の値は略同じ速度で増加してい
る。すなわち、このＢ地点では、図５に示されるよう
に、被加工物Ｗの先端は略ワイヤ電極６の振動幅の中心
位置にあるので、両者が接触状態となる時間と非接触状
態になる時間が略同じとなる。換言すれば単位時間当り
の接触状態の検出回数の増加量と非接触状態の検出回数
の増加量が略同じになる。すなわち、このＢ地点の座標
が、先立って求めるべき接触位置（放電加工の基準位
置）である。更に、Ｃ地点に示す場合には、先のＡ地点
の場合と、逆のカウント状態を示し、ＣＮＴ−ＢＫのカ
ウント値が急激に増加することになる。このような動作
を行うことにより、ワイヤ電極と被加工物とが付かず離
れずの状態、つまりワイヤ電極が被加工物の先端におい
てワイヤ電極６の振動幅の中心位置Ｂでとどまるように
その相対移動が制御される。

【００３６】次に、上記したような振動中心移動制御と
並列的に処理される接触位置を求めるための演算処理の
フローについて、図７を参照して説明する。まず、Ｓ５
０１にてｎ、Ｅ、ΣＢ、Ｃ、Ｄの各変数値を［０］に初
期設定し、各記憶部６８、８０、７０及び各カウンタ６
４Ａ、６４Ｂの値をクリアする。ここで、ｎはワイヤ電
極−被加工物間の最初の接触後の座標検出回数であり座
標検出回数記憶部６８に記憶されている値、Ｅは出力さ
れたトータルのエラー回数であり、エラー回数記憶部８
０に記憶される値、ΣＢは座標記憶部７０に記憶される
座標値、Ｃは座標値が連続的に増加したときのサンプリ
ング数（パスＰ１を連続的に通った回数）であり、Ｄは
座標値が連続的に減少した時のサンプリング数（パスＰ
３を連続的に通った回数）であり、連続減少カウンタ６
６Ｂに記憶されている値である。Ｓ５０２は、ＳＴ−Ｆ
ＬＧの状態が判断され、前述の振動中心移動制御（図
４）において最初の接触信号が検出されるとＳＴ−ＦＬ
Ｇ＝１になることから、最初の接触信号がくるまでの待
機処理である。そして、ＳＴ−ＦＬＧ＝１になると、次
の処理であるＳ５０３へ移行する。

【００３７】Ｓ５０３では極間での最初の接触信号が入
力されたと同時に、第１の初期座標記憶部５２にそのと
きの接触位置の座標値が取り込まれて格納される。尚、
この値は、処理が完全に終了するまでは固定となってい
る。Ｓ５０４では上記Ｓ５０３と同様な処理が行われ、
第２の初期座標記憶部５４にその時の座標値が格納され
る。尚、この値は、エラーが生ずる毎に更新される。こ
こで初期座標値として第１及び第２の２つの初期座標値
を設ける理由は、先ず第１の初期座標値は、次々と取り
込まれる座標値に対して、ある程度の精度をもたせて、
後述する比較判断処理ルートＳ５０８、Ｓ５０９で判断
する際に、仮の基準ラインを設けておく必要があるから
である。すなわち、基準ラインが仮に第１の初期座標値
だけであると、エラーが発生する度に基準ラインが変化
してしまい、これでは座標値の計算上ばらつきが大きく
なり、結果として信頼性に欠けるからである。

【００３８】Ｓ５０５ではエラー回路比較部８２にてエ
ラー発生回数Ｅを設定値と比較判断する。ここで、５回
以上エラーが発生していれば、操作は完全にストップす
る。Ｓ５０６では検出回数比較部７４にてループの回
数、すなわち座標検出回数ｎを設定値［１００］と比較
判断する。Ｓ５０７では極間で検出された座標値（ｎ）
を取り込み座標記憶部７０へ格納する。Ｓ５０８では第
１の初期座標比較部６０にて次々と取り込まれる座標値
（ｎ）が一番最初の第１の初期座標値である仮の基準ラ
イン（固定で不変のものである）より限度幅±９μｍ以
内に入っているかどうかを比較判断する。この限度幅
は、広域許容範囲記憶部５６に記憶されている。

【００３９】Ｓ５０９では、第２の初期座標比較部６２
にて処理動作としてエラールートに入ってきたときだけ
更新される第２の初期座標値と、Ｓ５０７の処理で次々
と座標を取り込み入力される座標値（ｎ）とが比較され
る。尚、この初期座標値は、エラー回数５回までは更新
される。そして更に、Ｓ５０８で取り込んだ座標値
（ｎ）が、更に小さい第２の初期座標値用の限度幅±４
μｍ以内に入っているかどうかを比較判断する。この限
度幅は、狭域許容範囲記憶部５８に記憶されている。こ
のようにＳ５０８、Ｓ５０９の比較判断処理を経ること
で、まず第１の初期座標で大枠の仮の基準幅を設定し、
この枠内で第２の初期座標がさらに小さい枠の基準幅を
設定する。これにより第２の初期座標はエラー毎に前記
大枠の範囲内で小さい枠の基準幅をエラー５回迄の間で
変位させ、良好な座標値を得るよう集束させて、ふるい
にかける作用を促している。すなわち、次々と入力した
座標値がある程度の精度をもって計算上ばらつきが無い
ようにする。

【００４０】Ｓ５１０では座標値比較部６３にて座標値
（ｎ）とその直前の座標値（ｎ−１）との比較判断の処
理を行う。ここで比較結果は、３つのパターンに分類さ
れる。すなわち、座標値（ｎ）＞座標値（ｎ−１）の場
合（パスＰ１）、座標値（ｎ）＝座標値（ｎ−１）の場
合（パスＰ２）、座標値ｎ＜座標値（ｎ−１）の場合
（パスＰ３）である。Ｓ５１２では、連続値カウンタ部
６４にて上記パスＰ１を通った連続回数Ｃをカウント
し、この値Ｃは連続増加カウンタ６４Ａに格納され同時
に、他方のカウンタ６４Ｂの値Ｄをクリアする。Ｓ５５
１では上記パスＰ３を通った連続回数Ｄをカウントし、
この値Ｄは連続減少カウンタ６４Ｂに格納され、同時
に、他方のカウンタ６４Ａの値Ｃをクリアする。

【００４１】Ｓ５１３、Ｓ５１４では、連続値比較部６
６にて上記Ｓ５１１、Ｓ５１２のカウント数と設定値
［３］との比較判断の処理を行う。そして、Ｓ５１３と
Ｓ５１４のどちらかの式を満たしたならば、エラーとな
り、エラー信号を出力する。Ｓ５１５では、座標検出回
数記憶部６８におけるループ回数、すなわち座標検出回
数ｎをカウントアップする処理を行う。Ｓ５１６では、
エラー回数記憶部８０にてエラー回数をカウントする処
理を行っている。Ｓ５１７では、リセット部７２にて、
エラーのルートを通ってきたことにより演算処理に関わ
る変数を全てクリアーの状態とし、初期状態に設定す
る。そして上記Ｓ５０４から再度、演算処理に入る。

【００４２】Ｓ５１８では、ループ回数、すなわち座標
検出回数ｎが設定値［１００］以上になった時、いまま
で座標記憶部７０に格納しておいた座標値の平均値を接
触位置演算処理部７６にて演算して求め、この値を出力
する。そしてこの結果はＣＲＴ等の表示部７８の画面上
に表示するようにする。Ｓ５１９ではＥＮＤ−ＦＬＧ＝
１として図３に示すように振動中心位置移動制御及び接
触位置演算処理フローが終了する。

【００４３】ここで、上記エラー判断の状況を図８を参
照して具体的に説明する。図中、黒丸は、座標値を示
す。ａ．エラー判断１の説明．図８（Ａ）は複数の検出座標に対するＳ５０７〜Ｓ５１
４間の工程における処理状況を示している。先ず、Ｓ５
０３、Ｓ５０４にて第１及び第２の初期座標が入力さ
れ、比較判断処理を行うための仮の基準ラインが設定さ
れる。続いてＳ５０５〜Ｓ５０９までを順当に進みＳ５
１０に来ると、比較判断の上、３つのパターンに振り分
けられる。今、ループが第１回目として考えると、Ｐ２
の処理ルートになる。そして、Ｓ５１３、Ｓ５１４を経
て、Ｓ５１５にてループカウントに１が加算され、Ｓ５
０６の処理に入る。ここで、ループ回数が比較判断され
て、次番目のメモリに座標値を格納する。仮に初期座標
より大きい座標値であったとして、Ｓ５１０で比較判断
処理が行われ、Ｐ１の処理ルートへ入る。そして、Ｓ５
１２の処理がおこなわれてＣが＋１、Ｄが０となる。図
では５回の処理がなされた結果、５回とも同じ座標値で
あることが示されている。第６回目以降は比較判断の結
果、徐々に座標値が増大していることが理解できる。す
なわち、Ｃが＋１ずつ増加している。

【００４４】この場合、連続３回して座標値が増大し、
Ｃ＝３となることから、Ｓ５１３の比較処理でＮＯのル
ートへ移行し、エラー処理となる。仮に座標値の増大方
向が＋と考えると、最初の接触基準位置に対して、ワイ
ヤ電極を押し付けている状態となる。逆に−方向では前
記基準位置から離れることになる。

【００４５】ｂ．エラー判断２の説明．図８（Ｂ）は、Ｓ５０８での比較判断の処理を示してい
る。初めの点は上記で説明した通りでＳ５０３〜Ｓ５０
７までの処理は同じである。次に第３回目になると、第
１の初期座標（基準座標ライン）に対して、第３回目に
取り込んだ座標値（３）が広域許容範囲である±９μｍ
の外に出てしまい、エラーとなってエラーカウントされ
る。そして今までの演算に必要な変数はクリアーされ、
第２の初期座標の基準ラインが次に取り入れられた座標
値に更新される。その後の処理は上記と同じように行わ
れる。そしてエラーによって更新された第２の初期座標
値の後、第２〜第５回目とエラーが続きカウントオーバ
ーでエラーストップとなる。

【００４６】ｃ．エラー判断３の説明．図８（Ｃ）は、Ｓ５０９での比較判断の処理を示してい
る。ここでは大枠の第１の初期座標の基準幅内であっ
て、更にその幅内に狭い基準幅を設けた第２の初期座標
値についての説明を表している。ここで、Ｓ５０８の比
較判断処理を経ていることが前提となって説明すると、
先ず、第１回目の点は上記Ｓ５０８と同様になる。そし
て第２回目は取り込んだ座標値（２）が第２の初期座標
の基準幅（狭域許容範囲）から外れてエラーとなり、エ
ラールートに入る。エラーが１つカウントアップされた
後、前記変数がクリアーされる。しかる後に取り込んだ
座標を次の新たな第２の初期座標として更新する。今度
は更新した第２の初期座標が新らたな基準ラインとな
り、従って、狭域許容範囲も変動する。

【００４７】このようにして、本発明ではワイヤ電極を
加工時と同じ環境下に置き、ワイヤ電極を走行させなが
らこれに被加工物を付かず離れずの状態に制御しながら
座標を求めるようにしたので、ワイヤ電極の振動による
検出誤差を抑制してワイヤ電極の振動幅の中心位置にと
どまるようにワイヤ電極と被加工物を相対移動させるこ
とで、放電加工の基準位置が精度良く決定することが可
能となる。

【００４８】尚、上記実施例では、Ｓ５１５から直接、
Ｓ５０６に入っているが、この間にディレイを行なうデ
ィレイタイム挿入ステップを設けるのが好ましい。これ
は、先に説明したサーボフローのところで、前進後退の
サーボ駆動させる処理と、座標値の取り込み処理との時
間にタイミングを図るために、例えば、サーボモータの
送りパルス一発が出力する時間（ループ回数の設定値に
より変化する、所謂Ｆ値）より座標値の取り込み処理時
間が早すぎると、前記モータ駆動パルスが出力されない
間（モータは止まっている状態）座標の取り込みが終っ
てしまい、演算処理ループ回数の設定値１００回分同じ
座標値が取り込まれてしまうことになるため、これを回
避するためのものである。

【００４９】ところで、上記説明したフローは、例えば
図６に示す図において、被加工物ＷがＡ地点とＣ地点と
の間を往復移動を繰返しつつ相対移動して最終的に放電
加工の基準位置（Ｂ地点）の座標を求めることをプログ
ラム上保証したものであるが、ワイヤ電極６の振動状態
が比較的規則正しい状態であれば、Ａ地点からＢ地点へ
ワイヤ電極が相対移動するに従って、ＣＮＴ−ＢＫカウ
ンタ部及びＣＮＴ−ＧＯカウンタ部のカウント値も図６
に示すようにＡ地点の波形からＢ地点の波形へスムーズ
に移行する。従って、この場合には、Ｃ地点側にワイヤ
電極が相対移動することなく最終目的とする接触位置が
求められることになる。

【００５０】また、ワイヤ電極と被加工物との接触状態
の時間をカウントするＣＮＴ−ＢＫカウンタ部のカウン
ト値の増加量と、両者が非接触状態の時間をカウントす
るＣＮＴ−ＧＯカウント部のカウント値の増加量が略同
じになった時、換言すれば、図６中のＢ地点の波形が示
すように両カウント部の増加量が略同じになった時の座
標位置を接触位置として決定するプログラムを組み込む
ようにしておいてもよい。このように構成することによ
り、前述と同様に、ワイヤ電極が比較的規則正しい振動
をしている場合には、ワイヤ電極がＡ地点からＢ地点へ
相対移動するにつれて、カウンタ部の値はＡ地点の波形
からＢ地点の波形へスムーズに移行し、Ｂ地点の近傍に
おいては両カウンタ部の増加量が略同じとなり、これに
より即座にこの地点を求めるべき接触位置として決定す
ることができる。この時、ワイヤ電極と被加工物の相対
移動は停止させればよい。

【００５１】更には、上記したように接触或いは非接触
状態の時間をカウントするのではなく、所定時間、例え
ば１０ｍｓｅｃ（秒）毎のワイヤ電極と被加工物間の電
圧の平均値を求め、これが印加電圧の略１／２になった
時に、ワイヤ電極と被加工物の相対移動を停止させるよ
うにして、接触位置を求めるようにしてもよい。また、
上記した各設定値は単に一例を示したに過ぎず、これら
に限定しないのは勿論である。

【００５２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のワイヤ放
電加工機の位置決め方法及びその装置によれば次のよう
に優れた作用効果を発揮することができる。ワイヤ電極
を走行させて加工時と同じ状況下にし、しかも進退サー
ボ動作によって接触・離反を繰返しつつ付かず離れずの
状態を維持させているので、ワイヤ電極の振動によって
常に検出点が変化しているにもかかわらず、正確に被加
工物の先端をワイヤ電極の振動幅の中心位置へ移動して
放電加工の基準位置を決定することができる。また、ワ
イヤ電極と被加工物とが最初に接触した座標を基準とし
て広い許容範囲を定め、更に、この範囲内にエラーによ
り更新可能に狭い許容範囲を設定して検出された複数の
座標値から振動幅の中心位置を求めるようにしたので、
その精度を大幅に向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るワイヤ放電加工機の位置決め装置
を示す概略構成図である。

【図２】図１に示す位置決め装置の制御ユニットを示す
ブロック構成図である。

【図３】位置決め装置が行なう並列処理を示すフローで
ある。

【図４】振動中心移動制御を示すフローである。

【図５】ワイヤ電極の振動と接触検出信号との関係を示
す図である。

【図６】ワイヤ電極の振動と各カウント部のカウント値
との関係を示すグラフである。

【図７】接触位置を求めるための演算処理を示すフロー
である。

【図８】各種エラー状況を説明するための図である。

【図９】従来のワイヤ放電加工機の位置決め装置を示す
概略構成図である。

【符号の説明】

２Ｘ・Ｙテーブル６ワイヤ電極２４上ガイド２６下ガイド３２接触検出部３４エンコーダ３６駆動モータ４１移動機構制御部４２位置決め装置４４接触状態カウント部４６非接触状態カウント部４８移動制御部５２第１の初期座標記憶部５４第２の初期座標記憶部５６広域許容範囲記憶部５８狭域許容範囲記憶部６０第１の初期座標比較部６２第２の初期座標比較部６３座標比較部６４連続値カウンタ部６４Ａ連続増加カウンタ６４Ｂ連続減少カウンタ６６連続値比較部６６Ａ連続増加比較器６６Ｂ連続減少比較器６８座標検出回数記憶部７０座標記憶部７２リセット部７４検出回数比較部７６接触位置演算処理部８０エラー回数記憶部８２エラー回数比較部Ｗ被加工物

フロントページの続き (72)発明者豊永竜生神奈川県横浜市都筑区仲町台３−12−１株式会社ソディック技術研修センター審査官神崎孝之 (56)参考文献特開平３−281150（ＪＰ，Ａ) 特開平１−281822（ＪＰ，Ａ) 特開平４−81908（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−124828（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−63017（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B23H 7/04 B23H 7/02 B23H 7/14

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
ヤ電極と被加工物を相対移動して放電加工を行なうワイ
ヤ放電加工機の位置決め方法において、前記ワイヤ電極を所定のテンション下で走行させるステ
ップと、前記ワイヤ電極を前記被加工物に対して接近するように
相対移動させるステップと、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に検出電圧を印加
して前記ワイヤ電極と前記被加工物との間の電圧を検出
するステップと、前記検出された電圧に基づいて前記ワイヤ電極が前記被
加工物の先端において前記ワイヤ電極の振動幅の中心位
置でとどまるように前記ワイヤ電極を前記被加工物に対
して相対的に前進または後退させるステップと、前記ワイヤ電極を前記被加工物に対して相対的に前進ま
たは後退させている間、前記ワイヤ電極と前記被加工物
との相対位置を繰返し検出するステップと、前記検出された相対位置に基づいて前記ワイヤ電極の振
動幅の中心位置を求めて放電加工の基準位置として決定
し前記ワイヤ電極と前記被加工物とを位置決めするステ
ップと、を含んでなるワイヤ放電加工機の位置決め方法。
【請求項２】前記ワイヤ電極を前記被加工物に対して
相対的に前進または後退させるステップは、前記検出さ
れた電圧に基づいて前記ワイヤ電極と前記被加工物とが
接触している接触状態と接触していない非接触状態とを
分別して検出するとともに前記接触状態と前記非接触状
態の検出回数をカウントするステップと、前記接触状態
のカウントされた値が予め設定された設定値に達したと
きには前記ワイヤ電極と前記被加工物とが離反するよう
に前記ワイヤ電極と前記被加工物とを相対移動させ、前
記非接触状態のカウントされた値が前記設定値に達した
ときには前記ワイヤ電極と前記被加工物とが接近するよ
うに前記ワイヤ電極と前記被加工物とを相対移動させる
ステップと、を含んでなる請求項１に記載のワイヤ放電
加工機の位置決め方法。
【請求項３】前記ワイヤ電極を前記被加工物に対して
位置決めするステップは、前記相対位置の座標値を予め
設定された所定の回数取得して記憶させていくステップ
と、前記記憶させた複数の相対位置の座標値の平均値を
演算して前記ワイヤ電極の振動幅の中心位置を求めて放
電加工の基準位置を設定するステップと、を含んでなる
請求項１に記載のワイヤ放電加工機の位置決め方法。
【請求項４】前記ワイヤ電極と前記被加工物とが最初
に接触したときの前記ワイヤ電極と前記被加工物との相
対位置の座標値を第１の初期座標として記憶させるステ
ップと、次に検出される前記相対位置の座標値を第２の
初期座標として記憶させるステップと、検出される前記
相対位置の座標値が前記第１の初期座標に基づいて設定
される広域許容範囲及び前記第２の初期座標に基づいて
設定される狭域許容範囲の何れかを逸脱したときに前記
記憶させた複数の前記相対位置の座標値をクリアすると
ともにさらに次に検出される前記相対位置の座標値を新
たな第２の初期座標値として記憶させるステップと、を
含んでなる請求項３に記載のワイヤ放電加工機の位置決
め方法。
【請求項５】ある検出される前記相対位置の座標値と
次に検出される前記相対位置の座標値とを比較して予め
設定された所定の回数以上連続して相対位置の座標値が
増加または減少したときには前記記憶させた複数の相対
位置の座標値をクリアするステップとを含んでなる請求
項３に記載のワイヤ放電加工機の位置決め方法。
【請求項６】一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
ヤ電極を走行させるワイヤ供給移送手段と、前記ワイヤ
電極に所定の張力を付与するテンション付与機構と、前
記ワイヤ電極と前記被加工物とを相対移動させる移動機
構と、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に電圧を供
給する加工電圧供給部と、前記ワイヤ電極と前記被加工
物との間の電圧を検出する接触検出部とを具備するワイ
ヤ放電加工機の位置決め装置において、前記接触検出部で検出された電圧に基づいて前記ワイヤ
電極が前記被加工物の先端において前記ワイヤ電極の振
動幅の中心位置でとどまるように前記ワイヤ電極を前記
被加工物に対して相対的に前進または後退させるように
前記移動機構を駆動制御する移動機構制御部と、前記ワイヤ電極の振動幅の中心位置でとどまるように前
記ワイヤ電極を前記被加工物に対して相対的に前進また
は後退している状態で連続的に検出される前記ワイヤ電
極と前記被加工物との相対位置の座標値を順次記憶する
座標記憶部と、前記座標記憶部に記憶された前記複数の相対位置の座標
値の平均値を演算して放電加工の基準位置として決定す
る接触位置演算処理部と、を含んでなるワイヤ放電加工機の位置決め装置。
【請求項７】前記移動機構は、前記ワイヤ電極と前記
被加工物とが接触状態にあることが検出された回数をカ
ウントする接触状態カウント部と、前記ワイヤ電極と前
記被加工物とが非接触状態にあることが検出された回数
をカウントする非接触状態カウント部とを含み、前記移
動機構制御部が前記接触状態カウント部のカウント値が
予め設定された所定値に達する毎に後退パルスを出力す
るとともに前記非接触状態カウント部のカウント値が予
め設定された所定値に達する毎に前進パルスを出力する
ものであることを特徴とする請求項６に記載のワイヤ放
電加工機の位置決め装置。
【請求項８】一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
ヤ電極を走行させるワイヤ供給移送手段と、前記ワイヤ
電極に所定の張力を付与するテンション付与機構と、前
記ワイヤ電極と前記被加工物とを相対移動させる移動機
構と、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に電圧を供
給する加工電圧供給部と、前記ワイヤ電極と前記被加工
物との間の電圧を検出する接触検出部とを具備するワイ
ヤ放電加工機の位置決め装置において、前記接触検出部により検出された電圧に基づいて前記ワ
イヤ電極が前記被加工物の先端において前記ワイヤ電極
の振動幅の中心位置でとどまるように前記ワイヤ電極を
前記被加工物に対して相対的に前進または後退させるよ
うに前記移動機構を駆動制御する移動機構制御部と、前記ワイヤ電極と前記被加工物とが最初に接触したとき
に検出される前記ワイヤ電極と前記被加工物の相対位置
の座標値を第１の初期座標として記憶する第１の初期座
標記憶部と、前記ワイヤ電極の振動幅の中心位置でとどまるように前
記ワイヤ電極を前記被加工物に対して相対的に前進また
は後退している状態で連続的に検出される前記ワイヤ電
極と前記被加工物との相対位置の座標値を順次記憶する
座標記憶部と、前記連続的に検出される前記ワイヤ電極と被加工物との
前記相対位置の座標値のうち最初に検出される前記相対
位置の座標値を第２の初期座標として記憶するとともに
予め定められたエラーが検出される毎に次に検出される
前記相対位置の座標値に内容が更新される第２の初期座
標記憶部と、前記第１の初期座標に基づいて設定される広域許容範囲
を記憶する広域許容範囲記憶部と、前記第２の初期座標に基づいて設定される狭域許容範囲
を記憶する狭域許容範囲記憶部と、新たに検出される前記相対位置の座標値が前記広域許容
範囲から逸脱した時にエラー信号を出力する第１の初期
座標比較部と、前記新たに検出される前記相対位置の座標値が前記狭域
許容範囲から逸脱した時にエラー信号を出力する第２の
初期座標比較部と、連続的に入力してくる２つの前記相対位置の座標値を比
較する座標値比較部と、前記相対位置の座標値が前記広
域許容範囲内及び前記狭域許容範囲内に存在するとき
に、前記座標値比較部の出力に基づいて前記相対位置の
座標値が連続的に増加する回数をカウントする連続増加
カウンタと前記相対位置の座標値が連続的に減少する回
数をカウントする連続減少カウンタとを含む連続値カウ
ンタ部と、前記連続値カウンタ部のカウント値が所定値になった時
にエラー信号を出力する連続値比較部と、前記連続的に検出される前記相対位置の座標値の検出回
数を記憶する座標検出回数記憶部と、前記連続的に検出され入力してくる前記相対位置の座標
値を順次記憶する座標記憶部と、前記第１の初期座標比較部、前記第２の初期座標比較
部、または連続値比較部から前記エラー信号が出力され
たときに前記座標検出回数記憶部の内容をクリアするリ
セット部と、前記座標検出回数記憶部に記憶された検出回数が予め定
められた所定回数に達した時に比較信号を出力する検出
回数比較部と、前記検出回数比較部からの出力に応じて前記座標記憶部
に記憶された相対位置の座標値の平均値を演算して放電
加工の基準位置として決定する接触位置演算処理部と、を含んでなるワイヤ放電加工機の位置決め装置。