JP3337100B2 - 電子部品の分類方法 - Google Patents
電子部品の分類方法Info
- Publication number
- JP3337100B2 JP3337100B2 JP29460894A JP29460894A JP3337100B2 JP 3337100 B2 JP3337100 B2 JP 3337100B2 JP 29460894 A JP29460894 A JP 29460894A JP 29460894 A JP29460894 A JP 29460894A JP 3337100 B2 JP3337100 B2 JP 3337100B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shuttle
- classification
- electronic components
- electronic component
- storage lane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
関し、特に検査測定後の電子部品をその検査結果に応じ
て複数のカテゴリに分類する電子部品の分類方法に関す
るものである。
結果に応じて複数のカテゴリ、例えば良品、不良品、再
検査などに分類する電子部品の分類方法は、1つの分類
シャトルを設けて、検査測定装置の払い出しレーンから
順次搬出される電子部品を分類シャトル内で係止すると
ともに、その電子部品の搬出に同期して検査測定装置か
ら出力される検査結果に応じて分類シャトルを移動さ
せ、各カテゴリの電子部品を収集するアンローダに対し
て、係止していた電子部品を搬出することにより分類す
るものとなっていた。
な従来の電子部品の分類方法では、個々の検査測定装置
に対応して、それぞれ分類方法およびアンローダを設け
る必要があり、設備が大型化するとともに、設備コスト
が増大するという問題点があり、また2つの検査測定装
置で1つの分類シャトルからなる分類機構を兼用するよ
うにした場合には、各検査測定装置から供給される電子
部品の供給速度に分類処理速度が追いつくことができ
ず、検査測定装置の処理速度が速くてもこのような分類
方法を用いたシステム全体の処理速度は改善されないと
いう問題点があった。本発明はこのような課題を解決す
るためのものであり、検査測定後の2つの電子部品を共
通のアンローダに対して高速に分類することができる電
子部品の分類方法を提供することを目的としている。
るために、本発明による電子部品の分類方法は、電子部
品を落下または滑走させるとともに、電子部品を係止す
るための分類ストッパを有する2つの分類シャトルから
なり、検査測定後の電子部品をその検査結果に応じたカ
テゴリに分類する分類手段と、電子部品を落下または滑
走させるとともに、電子部品を係止するための集約スト
ッパを有する2つの集約シャトルからなり、分類手段に
より特定のカテゴリに分類された電子部品を1つの収納
レーンに集約する集約手段とを備え、集約手段は、常時
いずれか一方の集約シャトルが収納レーンに連続する位
置に停止するとともに、収納レーンに連続する位置に停
止した集約シャトルの集約ストッパを係止解除状態と
し、他方の集約シャトルの集約ストッパを係止状態と
し、分類手段は、所定の電子部品受け取り位置で、検査
測定後の2つの電子部品をそれぞれの分類シャトルで1
つづつ受け取って分類ストッパにより一旦係止し、各電
子部品が特定のカテゴリのものである場合には、各分類
シャトルが集約シャトルにそれぞれ連続する位置に移動
して、各分類ストッパによる係止を解除することによ
り、一方の電子部品を一方の集約シャトルを介して直接
収納レーンに搬出すると同時に、他方の電子部品を他方
の集約シャトルに搬出し、集約手段は、他方の集約シャ
トルが収納レーンに連続する位置に移動して、他方の集
約シャトルの集約ストッパによる係止を解除することに
より、他方の電子部品を収納レーンに搬出し、これと同
時に、分類手段は、電子部品受け取り位置に移動して、
次に分類する電子部品を受け取るようにしたものであ
る。また、分類手段は、受け取った電子部品のうちいず
れか一方の電子部品が特定のカテゴリ以外の他のカテゴ
リのものである場合には、一方の電子部品を他のカテゴ
リに分類した後、他方の電子部品を係止する分類シャト
ルが収納レーンに連続する位置に停止している集約シャ
トルと連続する位置に移動して、集約シャトルの集約ス
トッパによる係止を解除して他方の電子部品を収納レー
ンに搬出するようにしたものである。
各電子部品が収納レーンに分類すべき特定のカテゴリの
ものである場合には、分類手段が移動して、各電子部品
が集約手段のそれぞれの集約シャトルに搬出され、これ
により、一方は集約シャトルを介して直接収納レーンに
搬出され、他方は集約シャトルに係止された後、集約手
段が移動して収納レーンに搬出される。また、各分類シ
ャトルに係止されている電子部品のうちいずれか一方の
電子部品が特定のカテゴリ以外のものである場合には、
分類手段が移動して、一方の電子部品が他のカテゴリに
分類された後、さらに分類手段が移動して、他方の電子
部品が収納レーンに搬出される。
る。図1,2は本発明の一実施例である電子部品の分類
方法の動作を模式的に示す動作説明図であり、同図にお
いて、1a,1bは個々の検査測定装置から検査測定後
のICがそれぞれ搬出される払い出しレーン、2a,2
bは各検査測定装置から搬出されるICを一旦係止する
分類ストッパ5a,5bをそれぞれ有し、払い出しレー
ン1a,1bにそれぞれ連続する中央位置で停止して払
い出しレーン1a,1bから搬出されたICを分類スト
ッパ5a,5bで係止し、中央位置から左右いずれかに
一体として移動して順に係止を解除することによりIC
を分類する分類シャトル(分類手段)である。
ICを収集するアンローダの収納レーン、3a,3bは
いずれか一方が収納レーン4に連続する位置に停止する
ように一体として移動するとともに、その移動位置に応
じて動作する集約ストッパ6a,6bをそれぞれ有し、
分類シャトル2aまたは2bから同時に供給されたIC
のうち、収納レーン4に連続する側に供給されたICは
そのまま収納レーン4に落下させ、他方のICは集約ス
トッパ6aまたは6bにより一旦係止した後、左右いず
れかに一体として移動して他方のICの係止解除するこ
とにより収納レーン4に集約する集約シャトル(集約手
段)、7a,7b,8a,8bは検査測定後のICであ
る。
シャトル3a,3bは、ICを自重により落下または滑
走させる搬送路を内部に有する環状部材からなり、それ
ぞれ所定の位置関係で一体として移動自在に支持されて
いる。また分類ストッパ5a,5bおよび集約ストッパ
6a,6bは、それぞれのシャトルの搬送路内に突出す
ることにより、ICを係止するものとなっている。
を説明する。なお、払い出しレーン1a,1bおよび収
納レーン4は固定されており、収納レーン4には良品カ
テゴリのICのみが分類されるものとする。まず、図1
(a)に示すように、分類シャトル2a,2bは払い出
しレーン1a,1bからのICを受け取るため、両方の
シャトル2a,2bがそれぞれ払い出しレーン1a,1
bに連続する中央位置(電子部品受け取り位置)に移動
しており、各測定検査装置(図示せず)で検査測定され
たIC7a,7bは、払い出しレーン1a,1bから同
時に搬出されて、分類シャトル2a,2b内へ自重によ
り落下する。
て同時にIC7a,7bを供給する手段として、払い出
しレーン1a,1bから測定検査装置側に、それぞれ測
定検査後のIC7a,7bを一時的に係止する手段を設
けてもよく、また各測定検査装置の動作を同期させて、
検査測定後のIC7a,7bを同時に搬出させるように
してもよい。分類シャトル2a,2bに設けられた分類
ストッパ5a,5bは、IC7a,7bの受け取りに先
立ってIC7a,7bを係止する状態となっており、分
類シャトル2a,2b内を落下するIC7a,7bはそ
れぞれ分類ストッパ5a,5bにより係止される。
bに対する検査結果がいずれも良品であることを示して
いる場合には、図1(b)に示すように、分類シャトル
2a,2bが中央位置から集約シャトル3a,3bにそ
れぞれ連続する位置に移動して、分類ストッパ5a,5
bによる係止が解除され、IC7a,7bが集約シャト
ル3a,3b内に落下する。この場合、集約シャトル3
a,3bは、収納レーン4に対して集約シャトル3bが
連続する位置に移動していることから、分類シャトル2
a,2bは中央位置から左方向に移動するものとなる。
3a,3bの移動位置に応じて動作するものとなってお
り、この場合には、収納レーン4に連続する側の集約ス
トッパ6bが係止解除状態となり、他方の集約ストッパ
6aが係止状態となっている。これにより、分類シャト
ル2a,2bから落下したIC7a,7bのうち、IC
7aは集約シャトル3aの集約ストッパ6aにより係止
されるとともに、IC7bは集約シャトル3bをそのま
ま通過して収納レーン4に集約されるものとなる。
ャトル3a,3bは、集約シャトル3a内に係止されて
いるIC7aを収納レーン4に搬出するため、右方向に
移動して、集約シャトル3aと収納レーン4とが連続す
る位置に停止する。これにより、集約ストッパ6a,6
bが前述の図1とは逆の状態となり、集約ストッパ6b
が係止状態となるとともに、ストッパ6aが係止解除状
態となり、ストッパ6aにより係止されていたIC7a
が収納シャトル4に集約される。
は、左側の位置から払い出しレーン1a,1bに連続す
る中央位置に移動し、次に分類するIC8a,8bを受
け取るものとなり、前述と同様に、各IC8a,8bに
対応する検査結果に応じて分類ストッパ5a,5bが動
作し、いずれのIC8a,8bも良品である場合には、
分類ストッパ5a,5bにより分類シャトル内に係止さ
れる。
トル2a,2bが集約シャトル3a,3bに連続する位
置、この場合には右側の位置に移動し、分類ストッパ5
a,5bによる係止が解除されて、IC8a,8bが集
約シャトル3a,3b内に落下するものとなり、集約ス
トッパ6aが係止解除状態となっていることから、IC
8aは集約シャトル3aを通過して収納レーン4に直接
集約され、一方集約ストッパ6bが係止状態となってい
ることから、IC8bは集約ストッパ6bにより集約シ
ャトル3b内に係止される。
シャトル3b内のIC8bを収納レーン4に搬出するた
め、集約シャトル3bと収納レーン4とが連続する位
置、すなわち前述の図1(a)に示したように右側に移
動し、これに応じて集約ストッパ6aが係止状態、集約
ストッパ6bが係止解除状態となり、IC8bが収納レ
ーン4に集約される。また、これと同時に、分類シャト
ル2a,2bが、左側の位置から払い出しレーン1a,
1bに連続する中央位置に移動し、次に分類するICを
受け取るものとなり、以降、前述した順に繰り返し分類
および集約が実施されるものとなる。
ち、常に一方のシャトルが収容レーン4に連続する位置
に停止させておき、検査測定終了後のIC7a,7bを
分類シャトル2a,2bにより同時に受け取り、IC7
a,7bが良品である場合には、集約シャトル3a,3
bと連続する位置に移動してIC7a,7bを受け渡
し、一方のICを集約シャトルを介して直接収納レーン
4に搬出し、他方のICを集約シャトルで一旦係止した
後、集約シャトル3a,3bを移動させて係止していた
ICを収納レーン4に搬出するようにしたので、2つの
検査測定装置から搬出されたICを共通のアンローダに
集約することが可能となり、設備を大型化させることな
く、比較的低いコストで実現することが可能となる。
bと集約シャトル3a,3bとを設けて、分類シャトル
2a,2bから集約シャトル3a,3bへのIC7a,
7bの受け渡しと、収納レーン4への搬出とを同時に行
うとともに、集約シャトル3a,3bに係止されている
IC7a,7bの収納レーン4への搬出と、分類シャト
ル2a,2bによるIC8a,8bの受け取りとを同時
に行うことが可能となり、従来の1つの分類シャトルに
より2つの検査測定装置から搬出されるICを分類する
場合と比較して、ICの分類速度が改善されるものとな
り、ICの検査および分類システム全体の処理速度をよ
り高速化させることが可能となる。
分類する場合の動作を模式的に示す動作説明図であり、
同図において、前述の図1,2と同一部分には同一符号
を付してある。図3(a)において、9は良品ICを分
類するための収納レーン4とは異なる他のカテゴリ、例
えば不良品、再検査などカテゴリのICを分類するため
の収納レーンであり、前述の図1(a)において、検査
測定結果が、分類シャトル2a,2bに係止しているI
C7a,7bのうちの一方、例えばIC7bが良品では
なく、収納レーン4に搬出されるべきカテゴリ以外のも
のであることを示している場合には、まず、良品ではな
いIC7bを先に搬出するために、IC7bを係止して
いる分類シャトル2bが検査測定結果に対応するカテゴ
リの収納レーン9に連続する位置まで移動し、分類スト
ッパ5bによる係止を解除してIC7bをそのカテゴリ
の収納レーン9に搬出する。
品IC7aを収納レーン4に搬出するため、IC7aを
係止している分類シャトル2aを収納レーン4に連続す
る位置まで移動し、分類ストッパ5aによる係止を解除
してIC7aを収納レーン4に搬出するものとなる。ま
た、両方のIC7a,7bが良品ではない場合には、分
類シャトル2a,2bがそれぞれ順に検査測定結果に対
応するカテゴリの収納レーン9に連続する位置まで移動
し、分類ストッパ5a,5bによる係止を解除してIC
7a,7bをそのカテゴリの収納レーン9に搬出する。
け取ったIC7a,7bのうち、一方が良品ではない場
合には、そのICを先に対応するカテゴリの収納レーン
に分類し、その後、良品ICを収納レーン4に搬出する
ようにしたので、良品以外のICを分類シャトル2a,
2bに係止しておく時間が短くなり、分類ストッパ5
a,5bなどの動作不良が発生した場合でも、良品IC
を先に分類する場合と比較して、良品ICの収納レーン
4にそれ以外のカテゴリのICが混入する可能性を低下
させることが可能となり、より信頼性の高い分類方法を
実現することが可能となる。
分類シャトルからなる分類手段と、2つの集約シャトル
からなる集約手段とを設けて、各分類シャトルに係止さ
れている各電子部品が収納レーンに分類すべきカテゴリ
のものである場合には、分類手段を移動させて、各電子
部品を集約手段のそれぞれの集約シャトルに搬出するこ
とにより、一方を集約シャトルを介して直接収納レーン
に搬出し、他方を集約シャトルに係止した後、集約手段
を移動させて収納レーンに搬出するようにしたので、2
つの検査測定装置から搬出された電子部品を共通のアン
ローダに集約することが可能となり、設備を大型化させ
ることなく、比較的低いコストで実現することが可能と
なるとともに、従来の1つの分類シャトルにより2つの
検査測定装置から搬出される電子部品を分類する場合と
比較して、その分類速度が改善されるものとなり、電子
部品の検査および分類システム全体の処理速度をより高
速化させることが可能となる。
子部品のうちいずれか一方の電子部品が収納レーンに分
類すべきカテゴリ以外のものである場合には、分類手段
を移動させて、一方の電子部品を他のカテゴリに分類し
た後、さらに分類手段を移動させて、他方の電子部品を
収納レーンに搬出するようにしたので、収納レーンに良
品カテゴリを割り当てた場合、良品以外の電子部品を分
類シャトルに係止しておく時間が短くなり、分類ストッ
パなどの動作不良が発生した場合でも、良品を先に分類
する場合と比較して、良品の収納レーンにそれ以外のカ
テゴリの電子部品が混入する可能性を低下させることが
可能となり、より信頼性の高い分類方法を実現すること
が可能となる。
の動作を模式的に示す動作説明図である。
の動作を模式的に示す動作説明図である。
の動作を模式的に示す動作説明図である。
ル(分類手段)、3a,3b…集約シャトル(集約手
段)、4…収納レーン、5a,5b…分類ストッパ、6
a,6b…集約ストッパ、7a,7b,8a,8b…I
C、9…収納レーン。
Claims (2)
- 【請求項1】 検査測定後の電子部品をその検査結果に
応じて複数のカテゴリに分類する電子部品の分類方法に
おいて、 電子部品を落下または滑走させるとともに、前記電子部
品を係止するための分類ストッパを有する2つの分類シ
ャトルからなり、検査測定後の電子部品をその検査結果
に応じたカテゴリに分類する分類手段と、 電子部品を落下または滑走させるとともに、前記電子部
品を係止するための集約ストッパを有する2つの集約シ
ャトルからなり、分類手段により特定のカテゴリに分類
された電子部品を1つの収納レーンに集約する集約手段
とを備え、 集約手段は、常時いずれか一方の集約シャトルが収納レ
ーンに連続する位置に停止するとともに、前記収納レー
ンに連続する位置に停止した集約シャトルの集約ストッ
パを係止解除状態とし、他方の集約シャトルの集約スト
ッパを係止状態とし、 分類手段は、所定の電子部品受け取り位置で、検査測定
後の2つ電子部品をそれぞれの分類シャトルで1つづ受
け取って分類ストッパにより一旦係止し、前記各電子部
品が前記特定のカテゴリのものである場合には、各分類
シャトルが集約シャトルにそれぞれ連続する位置に移動
して、各分類ストッパによる係止を解除することによ
り、一方の電子部品を一方の集約シャトルを介して直接
収納レーンに搬出すると同時に、他方の電子部品を他方
の集約シャトルに搬出し、 集約手段は、前記他方の集約シャトルが前記収納レーン
に連続する位置に移動して、前記他方の集約シャトルの
集約ストッパによる係止を解除することにより、前記他
方の電子部品を収納レーンに搬出し、 これと同時に、分類手段は、前記電子部品受け取り位置
に移動して、次に分類する電子部品を受け取るようにし
たことを特徴とする電子部品の分類方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の分類方法において、 分類手段は、受け取った電子部品のうちいずれか一方の
電子部品が前記特定のカテゴリ以外の他のカテゴリのも
のである場合には、前記一方の電子部品を前記他のカテ
ゴリに分類した後、他方の電子部品を係止する分類シャ
トルが収納レーンに連続する位置に停止している集約シ
ャトルと連続する位置に移動して、前記集約シャトルの
集約ストッパによる係止を解除して前記他方の電子部品
を収納レーンに搬出するようにしたことを特徴とする電
子部品の分類方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29460894A JP3337100B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | 電子部品の分類方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29460894A JP3337100B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | 電子部品の分類方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08152454A JPH08152454A (ja) | 1996-06-11 |
| JP3337100B2 true JP3337100B2 (ja) | 2002-10-21 |
Family
ID=17809968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29460894A Expired - Fee Related JP3337100B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | 電子部品の分類方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3337100B2 (ja) |
-
1994
- 1994-11-29 JP JP29460894A patent/JP3337100B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08152454A (ja) | 1996-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102170140B1 (ko) | 트레이에 기반한 재료 선별 장치 및 선별 방법 | |
| US8457781B2 (en) | Facility wide mixed mail sorting and/or sequencing system and components and methods thereof | |
| US3662881A (en) | Module handling apparatus | |
| CN109285796A (zh) | 旋转式分选机的自动化 | |
| US20170304871A1 (en) | Inspection and sorting machine | |
| JP3646531B2 (ja) | 検体搬送システム | |
| CN103733073B (zh) | 样本检查自动化系统 | |
| JP3134738B2 (ja) | ハンドリングシステム | |
| JP3337100B2 (ja) | 電子部品の分類方法 | |
| JP7223147B2 (ja) | 小包分類システム | |
| JPS5857735A (ja) | 選別装置 | |
| US9186704B2 (en) | Method and device for sorting identification objects | |
| CN102027586B (zh) | 用于分类ic单元的系统和方法 | |
| US8598888B2 (en) | System and method for improved testing of electronic devices | |
| JPS59183351A (ja) | アンプルの検査装置 | |
| KR100260038B1 (ko) | Ic제품 자동 다중 분류기 | |
| JPS6351273B2 (ja) | ||
| JPH02110376A (ja) | 自動分析装置 | |
| JP2002181886A (ja) | 部品ハンドラ、ic測定システム、icの分別方法 | |
| CN114878591A (zh) | 一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法 | |
| TW419771B (en) | Measurement system of semiconductor manufacturing line | |
| JPS6167239A (ja) | Icハンドラの多連型搬出機構 | |
| DE102020210723B4 (de) | Verfahren und System zur Handhabung von zumindest einer Gepäckeinheit eines Nutzers durch einen Handhabungsservice | |
| JPH0922306A (ja) | 生産制御装置および方法 | |
| JPH04196454A (ja) | 半導体装置製造システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070809 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080809 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080809 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090809 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100809 Year of fee payment: 8 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100809 Year of fee payment: 8 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110809 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120809 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |