Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3350485B2 - Active matrix type liquid crystal display - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3350485B2 - Active matrix type liquid crystal display - Google Patents

Active matrix type liquid crystal display

Info

Publication number
JP3350485B2
JP3350485B2 JP24930299A JP24930299A JP3350485B2 JP 3350485 B2 JP3350485 B2 JP 3350485B2 JP 24930299 A JP24930299 A JP 24930299A JP 24930299 A JP24930299 A JP 24930299A JP 3350485 B2 JP3350485 B2 JP 3350485B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
liquid crystal
signal line
display pixel
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP24930299A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000075323A (en
Inventor
義裕 浅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP24930299A priority Critical patent/JP3350485B2/en
Publication of JP2000075323A publication Critical patent/JP2000075323A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3350485B2 publication Critical patent/JP3350485B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜トランジスタ
をスイッチ素子として表示画素電極アレイを構成したア
クティブマトリクス型液晶表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix type liquid crystal display device comprising a display pixel electrode array using thin film transistors as switching elements.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、液晶を用いた表示装置として、テ
レビ表示やグラフィックディスプレイなどを指向した大
容量で高密度のアクティブマトリクス型液晶表示装置が
開発され、実用化されている。このような表示装置で
は、クロストークがなく高コントラストに表示できるよ
うに、各画素の駆動制御手段として半導体スイッチが用
いられている。
2. Description of the Related Art In recent years, large-capacity, high-density active matrix type liquid crystal display devices for television display, graphic display, and the like have been developed and put into practical use as display devices using liquid crystal. In such a display device, a semiconductor switch is used as drive control means for each pixel so that high-contrast display can be performed without crosstalk.

【0003】この半導体スイッチとしては、透過型の表
示が可能であり、大面積化も容易であるなどの理由か
ら、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:TFT)
が用いられ、絶縁基板上に形成される。
[0003] As this semiconductor switch, a thin film transistor (TFT) can be used because a transmissive display is possible and the area can be easily increased.
Is formed on an insulating substrate.

【0004】図3は、上述のような液晶表示装置の一例
として、特開昭56−162793号公報に示されてい
る概略断面構造を示している。この図3において、11,1
2はガラスなどの透明な絶縁基板で、一方の絶縁基板11
の一主面上には、薄膜トランジスタ13と透明電極膜によ
る表示画素電極14とが、複数個マトリクス状に配置構成
されている。また、他方の絶縁基板12の一主面上には、
透明導電膜の対向電極15が全面に形成されている。これ
ら両絶縁基板11,12は、両絶縁基板11,12の各一主面が互
いに対向するように間隙を保って配置される。そして、
この間隙の周囲は封着剤16により封止され、内部には液
晶17が封入されている。
FIG. 3 shows a schematic cross-sectional structure disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-162793 as an example of the above-mentioned liquid crystal display device. In this FIG.
2 is a transparent insulating substrate such as glass, and one of the insulating substrates 11
On one main surface, a plurality of thin film transistors 13 and display pixel electrodes 14 made of a transparent electrode film are arranged in a matrix. Also, on one main surface of the other insulating substrate 12,
A counter electrode 15 of a transparent conductive film is formed on the entire surface. These two insulating substrates 11 and 12 are arranged with a gap therebetween so that one main surface of each of the two insulating substrates 11 and 12 faces each other. And
The periphery of this gap is sealed with a sealing agent 16, and a liquid crystal 17 is sealed inside.

【0005】次に、図4によって薄膜トランジスタを備
えた表示画素電極アレイの一画素分の電気回路を説明す
る。図4において、21は信号線、22は走査線で、これら
信号線21および走査線22は絶縁基板11の一主面上にそれ
ぞれ複数本ずつ交差状態で、かつ、相互に絶縁された状
態で配設されている。これら信号線21および走査線22の
各交点位置にはそれぞれ薄膜トランジスタ13が設けられ
ている。各薄膜トランジスタ13のゲートは行毎に走査線
22に接続され、また、ドレインは列毎に信号線21に接続
されている。さらに、ソースは表示画素電極14に接続さ
れている。この表示画素電極14は、前述のように液晶17
を介して対向電極15と対向しており、さらに対向電極15
は直流電源24の正極側と接続している。
Next, an electric circuit for one pixel of a display pixel electrode array having a thin film transistor will be described with reference to FIG. In FIG. 4, reference numeral 21 denotes a signal line, 22 denotes a scanning line, and the signal line 21 and the scanning line 22 cross each other on one main surface of the insulating substrate 11 and are insulated from each other. It is arranged. A thin film transistor 13 is provided at each intersection of the signal line 21 and the scanning line 22. The gate of each thin film transistor 13 is a scanning line for each row.
The drain is connected to the signal line 21 for each column. Further, the source is connected to the display pixel electrode 14. The display pixel electrode 14 is connected to the liquid crystal 17 as described above.
Opposing the counter electrode 15 through the
Is connected to the positive electrode side of the DC power supply 24.

【0006】次に、回路構成による一画素分の駆動方法
を説明する。
Next, a driving method for one pixel by a circuit configuration will be described.

【0007】薄膜トランジスタ13のゲートに走査線22か
ら走査線選択電圧が印加されている期間、すなわちスイ
ッチング期間に、信号線21からドレインに映像信号が加
わると、ソースに接続されている表示画素電極14の電位
は映像信号電位と同電位に設定される。また、ゲートに
走査線非選択電圧が印加されている期間は、表示画素電
極14はこの電位を保持する。これらの結果、表示画素電
極14に対して所定の電位に設定されている対向電極15と
の間に挟持された液晶17には、映像信号電圧に応じた電
位差がかかる。そして、この電位差に応じて液晶17の配
列状態が変化することにより、この電位差の生じた液晶
の部分の光透過率が変化し、画像表示される。
When a video signal is applied from the signal line 21 to the drain during a period in which a scanning line selection voltage is applied from the scanning line 22 to the gate of the thin film transistor 13, that is, during a switching period, the display pixel electrode 14 connected to the source is Is set to the same potential as the video signal potential. The display pixel electrode 14 keeps this potential during the period when the scanning line non-selection voltage is applied to the gate. As a result, a potential difference corresponding to the video signal voltage is applied to the liquid crystal 17 sandwiched between the display pixel electrode 14 and the counter electrode 15 set to a predetermined potential. When the arrangement state of the liquid crystal 17 changes according to the potential difference, the light transmittance of the liquid crystal portion where the potential difference occurs changes, and an image is displayed.

【0008】ここで、液晶17を直流駆動すると、液晶17
は分子の電気分解により劣化し、寿命が短くなるため交
流駆動が行なわれる。一般的には、対向電極15の電位を
直流電位に設定し、この対向電極電位に対して映像信号
電圧を偶奇フレームで正負対称に設定することにより、
交流駆動する。つまり、映像信号電圧は、所定の直流電
圧と映像信号に対応した正負対称な交流電圧とが加算さ
れたものである。
[0008] Here, when a DC drive the liquid crystal 17, a liquid crystal 17
Is degraded by the electrolysis of molecules and its life is shortened, so that AC driving is performed. Generally, the potential of the counter electrode 15 is set to a DC potential, and the video signal voltage is set to be positive / negative symmetric with respect to this counter electrode potential in an even-odd frame.
AC drive. That is, the video signal voltage is obtained by adding a predetermined DC voltage and a positive / negative symmetric AC voltage corresponding to the video signal.

【0009】図5および図6は薄膜トランジスタを備え
た表示画素電極アレイの一画素分の断面図で、図5は薄
膜トランジスタ13部分、図6は信号線21の部分である。
5 and 6 are cross-sectional views of one pixel of a display pixel electrode array provided with a thin film transistor. FIG. 5 shows a thin film transistor 13 portion, and FIG. 6 shows a signal line 21 portion.

【0010】始めに薄膜トランジスタ13部分を図5によ
り説明する。図5において、13Gはゲート電極で、この
ゲート電極13Gはアレイ基板27となる一方の絶縁基板11
上に形成され、図示しない走査線と導電接続している。
このゲート電極13Gの表面およびこのゲート電極13Gを含
む絶縁基板11の表面はゲート絶縁膜28により覆われてい
る。このゲート絶縁膜28を介してゲート電極13Gの上面
と対向する部分には、半導体層29が形成され、さらに、
この半導体層29の上部中央には絶縁膜として 絶縁体層
30が形成されている。
First, the thin film transistor 13 will be described with reference to FIG. In FIG. 5, 13G is a gate electrode, and this gate electrode 13G is one of the insulating substrates 11 to be an array substrate 27.
It is formed above and is conductively connected to a scanning line (not shown).
The surface of the gate electrode 13G and the surface of the insulating substrate 11 including the gate electrode 13G are covered with a gate insulating film. A semiconductor layer 29 is formed on a portion facing the upper surface of the gate electrode 13G with the gate insulating film 28 interposed therebetween.
In the upper center of the semiconductor layer 29, an insulator layer as an insulating film
30 are formed.

【0011】また、13Sはソース電極で、このソース電
極13Sは半導体層29および絶縁体層30の図示左半分上に
オーミック層31aを介して形成する。13Dはドレイン電極
で、このドレイン電極13Dは、半導体層29および絶縁体
層30の図示右半分上にオーミック層31bを介して形成さ
れる。そして、表示画素電極14は、ドレイン電極13Dの
一端に重なるようにして導電接続され、かつ、ゲート絶
縁膜28上に形成されている。そして、これら全体は配向
膜32により覆われている。
A source electrode 13S is formed on the left half of the semiconductor layer 29 and the insulator layer 30 via an ohmic layer 31a. 13D is a drain electrode, and this drain electrode 13D is formed on the right half of the semiconductor layer 29 and the insulator layer 30 in the figure via an ohmic layer 31b. The display pixel electrode 14 is conductively connected so as to overlap one end of the drain electrode 13D, and is formed on the gate insulating film 28. These components are entirely covered with an alignment film 32.

【0012】アレイ基板27に対する対向基板34は、前述
のように絶縁基板12の一主面の全体に渡って対向電極15
が形成されており、さらに、対向基板34の上面には配向
膜35が全面に渡って形成されている。そして、これらア
レイ基板27と対向基板34との間隙には、液晶17が挟持さ
れている。
As described above, the counter substrate 34 with respect to the array substrate 27 is provided over the entirety of one main surface of the insulating substrate 12.
Are formed, and an alignment film 35 is formed on the entire surface of the counter substrate 34 over the entire surface. The liquid crystal 17 is interposed between the array substrate 27 and the opposing substrate.

【0013】次に、信号線21部分を図6により説明す
る。絶縁基板11上には、前述のようにゲート絶縁膜28が
形成されており、信号線21は、各画素ごとの表示画素電
極14を避けた位置に形成されている。そして、この信号
線21も前述のように配向膜32により覆われている。
Next, the signal line 21 will be described with reference to FIG. The gate insulating film 28 is formed on the insulating substrate 11 as described above, and the signal line 21 is formed at a position avoiding the display pixel electrode 14 for each pixel. The signal line 21 is also covered with the alignment film 32 as described above.

【0014】ところで、このような構成の液晶表示装置
では、図示のように、薄膜トランジスタ13のドレイン電
極13D、ソース電極13Sおよび信号線21が、表示画素電極
14に対して凸形状である。液晶表示装置の製造工程に
は、配向膜32全体をローラにより液晶配向処理する工
程、いわゆるラビング工程がある。この場合、前述のよ
うにドレイン電極13D、ソース電極13Sおよび信号線21
は、表示画素電極14に対して凸形状であるため、これら
の部分の配向膜32は、表示画素電極14部分の配向膜32よ
り強くこすられる。このため、これらドレイン電極13
D、ソース電極13Sおよび信号線21部分の配向膜32はラビ
ング時にはがれが生じ易く、はがれが生じた場合は、配
向膜32の厚さが数μm程度であっても、これらドレイン
電極13D、ソース電極13Sおよび信号線21部分は直接液晶
17と接触する。
By the way, in the liquid crystal display device having such a configuration, as shown, the drain electrode 13D, the source electrode 13S and the signal line 21 of the thin film transistor 13 are connected to the display pixel electrode.
14 is convex. In the manufacturing process of the liquid crystal display device, there is a so-called rubbing process in which the entire alignment film 32 is subjected to a liquid crystal alignment process using a roller. In this case, as described above, the drain electrode 13D, the source electrode 13S and the signal line 21 are provided.
Are convex with respect to the display pixel electrode 14, the alignment film 32 in these portions is rubbed more strongly than the alignment film 32 in the display pixel electrode 14. Therefore, these drain electrodes 13
D, the alignment film 32 of the source electrode 13S and the signal line 21 portion is likely to peel during rubbing, and when the peeling occurs, even if the thickness of the alignment film 32 is about several μm, these drain electrodes 13D, Source electrode 13S and signal line 21 are directly liquid crystal
Contact 17

【0015】ここで、信号線21の材料にはアルミニウム
などの化学的に活性な低抵抗金属が用いられることが多
いが、これらの金属が液晶17と直接に接触すると金属成
分が液晶17中に混入し、この付近の液晶17の比抵抗が下
がってしまう。このため、走査線22に走査線非選択電圧
が印加されている期間において、表示画素電極14が保持
するべき電荷が液晶17を介してリークするので、コント
ラストの低下や階調表示能力の低下などの画質不良を生
じる。
Here, a chemically active low-resistance metal such as aluminum is often used as a material of the signal line 21, but when these metals come into direct contact with the liquid crystal 17, a metal component is contained in the liquid crystal 17. And the specific resistance of the liquid crystal 17 in the vicinity is lowered. For this reason, during the period in which the scanning line non-selection voltage is applied to the scanning line 22, the electric charge to be held by the display pixel electrode 14 leaks through the liquid crystal 17, so that the contrast and the gradation display capability are reduced. Causes poor image quality.

【0016】また、このため、信号線21、ソース電極13
Sおよびドレイン電極13Dが液晶17と直接接触しないよう
にパッシベーション膜などを信号線21、ソース電極13S
およびドレイン電極13Dの表面を含む液晶17と接触する
面に形成している。
Also, for this reason, the signal line 21 and the source electrode 13
The passivation film and the like for the signal line 21 and the source electrode 13S so that the S and the drain electrode 13D do not directly contact the liquid crystal 17.
And on the surface in contact with the liquid crystal 17 including the surface of the drain electrode 13D.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、半導体
スイッチとして薄膜トランジスタ13を用いたアクティブ
マトリクス型液晶表示装置では、ラビング時に電極や配
線部分の配向膜32にはがれが生じやすく、このはがれに
より画質不良が発生する。
As described above, in the active matrix type liquid crystal display device using the thin film transistor 13 as the semiconductor switch, the rubbing is likely to occur on the alignment film 32 of the electrode or the wiring portion during the rubbing, and the peeling causes the image quality. Failure occurs.

【0018】また、パッシベーション膜を形成するもの
では、工程が増加するとともに構造が複雑になる問題を
有している。
In the case of forming a passivation film, there is a problem that the number of steps increases and the structure becomes complicated.

【0019】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、ラビングにより配向膜の一部にはがれが生じても、
その付近に比抵抗の低下が生じることがなく、比抵抗の
低下に起因する画質不良が生じることのなく簡単に構成
できるアクティブマトリクス型液晶表示装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and even if rubbing causes a part of the alignment film to peel off,
It is an object of the present invention to provide an active matrix type liquid crystal display device which can be easily configured without causing a decrease in specific resistance in the vicinity thereof and without causing image quality defects due to the decrease in specific resistance.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁基板の一
主面上に互いに交差して配置される複数本の走査線およ
び信号線、およびこれら走査線および信号線の各交点近
くに配置される薄膜トランジスタを介して設けられIT
Oで形成された表示画素電極を備えたアレイ基板と、こ
のアレイ基板に対向する対向基板と、前記アレイ基板と
対向基板との間に配置される液晶とを具備したアクティ
ブマトリクス型液晶表示装置であって、前記薄膜トラン
ジスタは、前記走査線に接続されるゲート電極と、この
ゲート電極上に配置される絶縁膜と、この絶縁膜上に配
置される半導体膜と、この半導体膜および前記信号線に
電気的に接続されるソース電極と、前記半導体膜および
前記表示画素電極に電気的に接続されるドレイン電極と
を含み、前記信号線、前記ソース電極および前記ドレイ
ン電極のそれぞれは、前記表示画素電極と同じ材料であ
ITOで形成された保護層により被覆され、前記アレ
イ基板は、前記表示画素電極および前記保護層上に直接
配置される配向膜を含み、前記ソース電極と前記半導体
膜との間、および前記ドレイン電極と前記半導体膜との
間には、オーミック層がそれぞれ配置され、このオーミ
ック層の端部は、前記保護層により被覆されているもの
である。
According to the present invention, there are provided a plurality of scanning lines and signal lines arranged crossing each other on one main surface of an insulating substrate, and arranged near each intersection of the scanning lines and signal lines. iT is provided via the thin film transistor to be
An active matrix type liquid crystal display device comprising: an array substrate having a display pixel electrode formed of O; a counter substrate facing the array substrate; and a liquid crystal disposed between the array substrate and the counter substrate. The thin film transistor may include a gate electrode connected to the scanning line, an insulating film provided on the gate electrode, a semiconductor film provided on the insulating film, a semiconductor film provided on the insulating film, and a signal line provided on the signal line. a source electrode electrically connected, wherein the semiconductor film and includes a drain electrode, wherein connected to the display pixel electrodes electrically, the signal lines, each of the source electrode and the drain electrode, wherein the pixel electrode the same the material protective layer formed of ITO is coated, the array substrate, an alignment layer disposed directly on said display pixel electrode and the protective layer and Only contains, said the source electrode semiconductor
Between the film, and between the drain electrode and the semiconductor film.
In between, ohmic layers are arranged.
The end of the backing layer is covered with the protective layer .

【0021】そして、ソース電極と半導体膜との間、お
よびドレイン電極と半導体膜との間のそれぞれにオーミ
ック層を配置して、このオーミック層の端部と、ソース
電極およびドレイン電極とのそれぞれを、表示画素電極
と同じ材料のITOにて形成された保護層にて被覆させ
たので、これらソース電極およびドレイン電極上の配向
膜がラビング時にはがれても、これらソース電極および
ドレイン電極が液晶と直接接触しなくなるとともに、オ
ーミック層の端部を被覆する保護層上の配向膜がラビン
グ時にはがれても、このオーミック層の端部を介してソ
ース電極およびドレイン電極が液晶と直接接触しなくな
るから、液晶の汚染によって生じるコントラストの低下
や階調表示能力の低下などの画質不良が防止される。ま
た、オーミック層の端部を保護層で被覆し、この保護層
および表示画素電極上にアレイ基板の配向膜を直接配置
させたので、オーミック層の端部を被覆するために必要
なプロセスの増加がなくなる。
Then, between the source electrode and the semiconductor film,
Ohmic between the drain electrode and the semiconductor film.
Arrange the backing layer so that the end of this ohmic layer and the source
Electrodes and drain electrodes, respectively,
Covered with a protective layer made of ITO of the same material as
Therefore, the orientation on these source and drain electrodes
Even if the film comes off during rubbing, these source electrodes and
The drain electrode no longer directly contacts the liquid crystal,
The alignment film on the protective layer that covers the edge of the
When peeling off during the
Source and drain electrodes no longer directly contact the liquid crystal.
Lowers the contrast caused by contamination of the liquid crystal
And image quality defects such as a decrease in gradation display capability are prevented. Ma
The end of the ohmic layer is covered with a protective layer, and the protective layer
Direct alignment of array substrate on display and display pixel electrodes
Required to cover the end of the ohmic layer
Process increases.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面を参照して説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0023】図1および図2は薄膜トランジスタを備え
た表示画素電極アレイの一画素分の断面図で、図1は薄
膜トランジスタ13の部分、図2は信号線21の部分であ
る。なお、これらの構成は、図5および図6で示した従
来の構成と共通する部分が多いので、共通部分には、同
一符号を付して説明する。
1 and 2 are cross-sectional views of one pixel of a display pixel electrode array provided with a thin film transistor. FIG. 1 shows a thin film transistor 13 portion, and FIG. 2 shows a signal line 21 portion. Note that these configurations have many parts in common with the conventional configuration shown in FIGS. 5 and 6, and therefore, the common parts will be described with the same reference numerals.

【0024】まず、薄膜トランジスタ13の部分を図1に
より説明する。
First, the portion of the thin film transistor 13 will be described with reference to FIG.

【0025】図1に示すように、ゲート電極13Gは、ア
レイ基板27となる一方の絶縁基板11上に形成され、図示
しない走査線と導電接続されている。そして、このゲー
ト電極13Gの表面およびゲート電極13Gを含む絶縁基板11
の表面はゲート絶縁膜28により覆われている。このゲー
ト絶縁膜28を介してゲート電極13Gの上面と対向する部
分には、半導体膜としての半導体層29が形成され、さら
にこの半導体層29の上部中央には絶縁体層30が形成され
ている。
As shown in FIG. 1, the gate electrode 13G is formed on one of the insulating substrates 11 to be the array substrate 27, and is conductively connected to a scanning line (not shown). Then, the surface of the gate electrode 13G and the insulating substrate 11 including the gate electrode 13G
Is covered with a gate insulating film. A semiconductor layer 29 as a semiconductor film is formed at a portion facing the upper surface of the gate electrode 13G via the gate insulating film 28, and an insulator layer 30 is formed at the upper center of the semiconductor layer 29. .

【0026】また、ソース電極13Sは、半導体層29およ
び絶縁体層30上の一部にオーミック層31aを介して形成
され、ドレイン電極13Dは、半導体層29および絶縁体層3
0上の他の一部に、オーミック層31bを介して形成され
る。表示画素電極14は、ドレイン電極13Dの一端に重な
るようにして導電接続され、かつ、ゲート絶縁膜28上に
形成されている。
The source electrode 13S is formed on the semiconductor layer 29 and a part of the insulator layer 30 via an ohmic layer 31a, and the drain electrode 13D is formed on the semiconductor layer 29 and the insulator layer 3.
It is formed on the other part on 0 through the ohmic layer 31b. The display pixel electrode 14 is conductively connected so as to overlap one end of the drain electrode 13D, and is formed on the gate insulating film 28.

【0027】さらに、ソース電極13Sおよびドレイン電
極13Dと信号線21との表面側、すなわち、対向基板34と
の間に挟持される液晶17側の面は、表示画素電極14と同
一の材料、たとえばITO(Indium Tin Oxide)の保護膜
である保護層14aによって覆われる。この保護層14aは、
オーミック層31bの端部を被覆する。さらに、これら表
示画素電極14および保護層14a上全体は配向膜32により
直接配置されて覆われる。
Further, the surface of the source electrode 13S and the drain electrode 13D and the signal line 21, that is, the surface of the liquid crystal 17 sandwiched between the counter substrate 34 is made of the same material as the display pixel electrode 14, for example. Protective film of ITO (Indium Tin Oxide)
Is covered with a protective layer 14a. This protective layer 14a
The end of the ohmic layer 31b is covered. Further, the whole of the display pixel electrode 14 and the protective layer 14a is directly arranged and covered by the alignment film 32.

【0028】また、アレイ基板27および対向基板34の絶
縁基板11,12の両外側には、偏向板36,37が形成されてい
る。
Further, deflection plates 36 and 37 are formed on both outer sides of the insulating substrates 11 and 12 of the array substrate 27 and the counter substrate 34.

【0029】なお、アレイ基板27に対する対向基板34
は、図5および図6で示したものと同じであり、絶縁基
板12の一主面の全体に渡って対向電極15が形成されてお
り、さらに絶縁基板12の上面には配向膜35が全面に渡っ
て形成されている。
The counter substrate 34 with respect to the array substrate 27
Is the same as that shown in FIG. 5 and FIG. 6, in which an opposing electrode 15 is formed over the entire main surface of the insulating substrate 12, and an alignment film 35 is further formed on the upper surface of the insulating substrate 12. Is formed over.

【0030】信号線21は、図2で示すように、絶縁基板
11上のゲート絶縁膜28上に、各画素ごとの表示画素電極
14を避けた状態で形成されている。そして、この信号線
21も、表示画素電極14と同一の材料、たとえばITOの
保護層14aによって覆われたのち、前述したように配向
膜32により覆われている。また、これら信号線21には走
査線22が複数本ずつ交差状態で、かつ、相互に絶縁され
た状態で配設されている。なお、これら信号線21および
走査線22の交点に、薄膜トランジスタ13が配設されてい
る。
The signal line 21 is, as shown in FIG.
Display pixel electrode for each pixel on the gate insulating film 28 on 11
It is formed in a state avoiding 14. And this signal line
21 is also covered with the same material as the display pixel electrode 14, for example, the protective layer 14a of ITO, and then covered with the alignment film 32 as described above. The signal lines 21 are provided with a plurality of scanning lines 22 crossing each other and insulated from each other. The thin film transistor 13 is provided at the intersection of the signal line 21 and the scanning line 22.

【0031】上記構成において、薄膜トランジスタ13の
ドレイン電極13D、ソース電極13Sおよび信号線21には、
一般に同一材料が用いられており、表示画素電極14に対
して凸形状である。このため、ラビング時に、これらド
レイン電極13D、ソース電極13Sおよび信号線21部分の配
向膜32は、表示画素電極14部分の配向膜32より強くこす
られ、これらの部分の配向膜32にはがれが生じることが
ある。
In the above configuration, the drain electrode 13D, the source electrode 13S, and the signal line 21 of the thin film transistor 13
Generally, the same material is used, and has a convex shape with respect to the display pixel electrode 14. Therefore, at the time of rubbing, the alignment film 32 of the drain electrode 13D, a source electrode 13S and the signal line 21 portion is rubbed strongly than the orientation film 32 of the pixel electrode 14 portion, peeling occurs in the orientation film 32 of these portions Sometimes.

【0032】ここで、配向膜32の一部、たとえば信号線
21部分の配向膜32に全面的あるいは部分的にはがれが生
じた場合、信号線21は、信号線材料であるたとえばアル
ミニウムの表面の液晶17に接する部分に表示画素電極14
と同じ材料であるITOの保護層14aが形成されている
ため、パッシベーション膜を形成することなく、アルミ
ニウムの信号線21が液晶17と直接接触することはない。
したがって、従来のようにアルミニウムなどの金属成分
が液晶17中に混入し、この付近の液晶17の比抵抗が下が
り、コントラストの低下や階調表示能力の低下などの画
質不良を生じることもない。なお、保護14aのITO
は酸化物であり、化学的には非常に安定であり、保護
14a自体が液晶17と直接接触してもITO成分が液晶17
中に混入することもなく、したがって、配向膜32のはが
れが生じた付近の比抵抗が低下することもなく、この比
抵抗の低下を原因とする画質低下が生じることもない。
さらに、薄膜トランジスタ13のドレイン電極13Dおよび
ソース電極13Sの表面の配向膜32の一部にはがれが生じ
た場合にも同様である。
Here, a part of the alignment film 32, for example, a signal line
If the alignment film 32 in the portion 21 is completely or partially peeled off, the signal line 21 is placed on the display pixel electrode 14 in a portion in contact with the liquid crystal 17 on the surface of the signal line material, for example, aluminum.
Since the protective layer 14a of ITO made of the same material as that of the first embodiment is formed, the aluminum signal line 21 does not directly contact the liquid crystal 17 without forming a passivation film.
Therefore, unlike the conventional case, a metal component such as aluminum is mixed into the liquid crystal 17, the specific resistance of the liquid crystal 17 in the vicinity is reduced, and the image quality defect such as a decrease in contrast and a decrease in gradation display capability does not occur. The ITO of the protective layer 14a
Is an oxide, is chemically very stable and has a protective layer
Even if 14a itself comes into direct contact with the liquid crystal 17, the ITO component
Therefore, the specific resistance in the vicinity of the peeling of the alignment film 32 does not decrease, and the image quality does not deteriorate due to the decrease in the specific resistance.
Further, the same applies to a case where a part of the alignment film 32 on the surface of the drain electrode 13D and the source electrode 13S of the thin film transistor 13 has peeled off.

【0033】また、信号線21のアルミニウムの表面に保
護層14aのITOが形成された二重構造のため、アルミ
ニウムの信号線21の配線部分に断線が生じても、この断
線部分にはITOの保護層14aの配線が存在するために
断線にはならず、信号線21の断線に起因する歩留まりの
低下を抑えることができ、液晶表示装置自体の信頼性も
向上する。さらに、製造工程自体は従来と変わりないの
で、歩留まり低下の新たな要因となる製造工程の複雑化
を伴うことがなく、効果を期待できる。
Further, due to the double structure in which the ITO of the protective layer 14a is formed on the aluminum surface of the signal line 21, even if the wiring portion of the aluminum signal line 21 is disconnected, the disconnection portion of the ITO is applied to the aluminum wire. The presence of the wiring of the protective layer 14a does not cause a disconnection, the reduction in yield due to the disconnection of the signal line 21 can be suppressed, and the reliability of the liquid crystal display device itself improves. Further, since the manufacturing process itself is the same as that of the related art, an effect can be expected without complicating the manufacturing process, which is a new factor for lowering the yield.

【0034】さらに、図1に示すように、薄膜トランジ
スタ13のソース電極13Sおよび半導体層29の間と、この
薄膜トランジスタ13のドレイン電極13Dおよび半導体層2
9の間とのそれぞれにオーミック層31a,31bを配置し、こ
のオーミック層31a,31bの端部と、ソース電極13Sおよび
ドレイン電極13DとのそれぞれをITOの保護層14aにて
被覆させることにより、これらソース電極13Sおよびド
レイン電極13D上の配向膜32がラビング時にこすれては
がれた場合でも、これらソース電極13Sおよびドレイン
電極13DのそれぞれがITOの保護膜14aにて被覆されて
いるので、これらソース電極13Sおよびドレイン電極13D
が液晶17と直接接触することがない。
Further, as shown in FIG.
Between the source electrode 13S of the star 13 and the semiconductor layer 29,
Drain electrode 13D of thin film transistor 13 and semiconductor layer 2
The ohmic layers 31a and 31b are arranged between
Of the ohmic layers 31a and 31b, and the source electrode 13S and
Each of the drain electrodes 13D is covered with an ITO protective layer 14a.
By covering, the source electrode 13S and the
If the alignment film 32 on the rain electrode 13D is rubbed during rubbing
If the source electrode 13S and the drain
Each of the electrodes 13D is covered with an ITO protective film 14a.
The source electrode 13S and the drain electrode 13D
Does not come into direct contact with the liquid crystal 17.

【0035】また、オーミック層31a,31bの端部を被覆
する保護層14a上の配向膜32がラビング時にはがれた場
合でも、これらオーミック層31a,31bの端部が保護膜14a
にて被覆されているので、これらオーミック層31a,31b
の端部を介してソース電極13Sおよびドレイン電極13Dが
液晶17と直接接触することがない。よって、液晶17の汚
染によって生じるコントラストの低下や階調表示能力の
低下などの画質不良を防止できる。
Further , the ends of the ohmic layers 31a and 31b are covered.
If the alignment film 32 on the protective layer 14a
In any case, the ends of these ohmic layers 31a and 31b are
These ohmic layers 31a, 31b
Source electrode 13S and drain electrode 13D
There is no direct contact with the liquid crystal 17. Therefore, the contamination of the liquid crystal 17 is
The reduction in contrast caused by dyeing and the
Poor image quality such as deterioration can be prevented.

【0036】さらに、オーミック層31a,31bの端部を保
護層14aで被覆し、この保護層14aおよび表示画素電極14
上にアレイ基板27の配向膜32を直接配置させたので、こ
れら オーミック層31a,31bの端部を被覆するためなどに
必要なプロセスの増加をなくすことができる。
Further, the ends of the ohmic layers 31a and 31b are retained.
Protective layer 14a, and the protective layer 14a and the display pixel electrode 14
Since the alignment film 32 of the array substrate 27 was directly disposed on the
For covering the edges of the ohmic layers 31a, 31b, etc.
The increase in required processes can be eliminated.

【0037】本実施の形態によれば、信号線21のアルミ
ニウム上にITOの保護14aを形成したが、ITOに
代えてSnO(酸化錫)、In(酸化インジウム)
を用いることもできる。
According to the present embodiment, the protective layer 14a of ITO is formed on the aluminum of the signal line 21, but SnO 2 (tin oxide) and In 2 O 3 (indium oxide) are used instead of ITO.
Can also be used.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、ソース電極と半導体膜
との間、およびドレイン電極と半導体膜との間のそれぞ
れにオーミック層を配置して、このオーミック層の端部
と、ソース電極およびドレイン電極とのそれぞれを、表
示画素電極と同じ材料のITOにて形成された保護層に
て被覆させたので、これらソース電極およびドレイン電
極上の配向膜がラビング時にはがれても、これらソース
電極およびドレイン電極が液晶と直接接触しなくなると
ともに、オーミック層の端部を被覆する保護層上の配向
膜がラビング時にはがれても、このオーミック層の端部
を介してソース電極およびドレイン電極が液晶と直接接
触しなくなるから、液晶の汚染によって生じるコントラ
ストの低下や階調表示能力の低下などの画質不良を防止
できる。また、オーミック層の端部を保護層で被覆し、
この保護層および表示画素電極上にアレイ基板の配向膜
を直接配置させたので、オーミック層の端部を被覆する
ために必要なプロセスの増加をなくすことができる。
According to the present invention, a source electrode and a semiconductor film
And between the drain electrode and the semiconductor film.
The ohmic layer is placed on the end of the ohmic layer.
And each of the source and drain electrodes
The protective layer made of ITO of the same material as the pixel electrode
The source and drain electrodes.
Even if the uppermost alignment film comes off during rubbing, these sources
When the electrode and drain electrode stop contacting the liquid crystal directly
Both orientations on the protective layer covering the edges of the ohmic layer
Even if the film comes off during rubbing, the edge of this ohmic layer
The source and drain electrodes are in direct contact with the liquid crystal through
Because it does not touch, contra
Prevents image quality defects such as reduced cost and reduced gradation display capability
it can. In addition, the end of the ohmic layer is covered with a protective layer,
An alignment film of an array substrate is formed on the protective layer and the display pixel electrodes.
Directly covers the end of the ohmic layer
This eliminates the need for additional processes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のアクティブマトリクス型液晶表示装置
の一実施の形態を示す薄膜トランジスタ部分を示す断面
図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a thin film transistor portion showing an embodiment of an active matrix type liquid crystal display device of the present invention.

【図2】同上信号線の部分を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a signal line part according to the first embodiment;

【図3】従来の一般的なアクティブマトリクス型液晶表
示装置の内部構造を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing the internal structure of a conventional general active matrix type liquid crystal display device.

【図4】図3で示したアクティブマトリクス型液晶表示
装置における表示画素電極アレイの一画素分の電気回路
を示す等価回路図である。
4 is an equivalent circuit diagram showing an electric circuit for one pixel of a display pixel electrode array in the active matrix liquid crystal display device shown in FIG.

【図5】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置の
薄膜トランジスタ部分を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a thin film transistor portion of a conventional active matrix type liquid crystal display device.

【図6】同上信号線の部分を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a signal line part according to the first embodiment;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,12 絶縁基板 13 薄膜トランジスタ 13D ドレイン電極 13G ゲート電極 13S ソース電極 14 表示画素電極 14a 保護層 17 液晶 21 信号線 22 走査線 27 アレイ基板 28 ゲート絶縁膜 29 半導体膜としての半導体層 31a,31b オーミック層 32 配向膜 34 対向基板 11,12 Insulating substrate 13 Thin film transistor 13D Drain electrode 13G Gate electrode 13S Source electrode 14 Display pixel electrode 14a Protective layer 17 Liquid crystal 21 Signal line 22 Scan line 27 Array substrate 28 Gate insulating film 29 Semiconductor layers as semiconductor film 31a, 31b Ohmic layer 32 Alignment film 34 Counter substrate

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 絶縁基板の一主面上に互いに交差して配
置される複数本の走査線および信号線、およびこれら走
査線および信号線の各交点近くに配置される薄膜トラン
ジスタを介して設けられITOで形成された表示画素電
極を備えたアレイ基板と、このアレイ基板に対向する対
向基板と、前記アレイ基板と対向基板との間に配置され
る液晶とを具備したアクティブマトリクス型液晶表示装
置であって、 前記薄膜トランジスタは、前記走査線に接続されるゲー
ト電極と、このゲート電極上に配置される絶縁膜と、こ
の絶縁膜上に配置される半導体膜と、この半導体膜およ
び前記信号線に電気的に接続されるソース電極と、前記
半導体膜および前記表示画素電極に電気的に接続される
ドレイン電極とを含み、 前記信号線、前記ソース電極および前記ドレイン電極
それぞれは、前記表示画素電極と同じ材料であるITO
で形成された保護層により被覆され、 前記アレイ基板は、前記表示画素電極および前記保護層
上に直接配置される配向膜を含み、 前記ソース電極と前記半導体膜との間、および前記ドレ
イン電極と前記半導体膜との間には、オーミック層がそ
れぞれ配置され、このオーミック層の端部は、前記保護
層により被覆されている ことを特徴とするアクティブマ
トリクス型液晶表示装置。
1. A plurality of scanning lines and signal lines arranged on one main surface of an insulating substrate so as to intersect with each other, and thin film transistors arranged near intersections of these scanning lines and signal lines. An active matrix type liquid crystal display device comprising: an array substrate having display pixel electrodes formed of ITO; a counter substrate facing the array substrate; and a liquid crystal disposed between the array substrate and the counter substrate. The thin film transistor may include a gate electrode connected to the scanning line, an insulating film disposed on the gate electrode, a semiconductor film disposed on the insulating film, and a semiconductor film and the signal line. A source electrode that is electrically connected, and a drain electrode that is electrically connected to the semiconductor film and the display pixel electrode, wherein the signal line, the source electrode, Of the serial drain electrode
Each is made of ITO, which is the same material as the display pixel electrode.
In is covered with a protective layer formed, the array substrate is viewed contains an alignment layer disposed directly on said display pixel electrode and the protective layer, between the source electrode and the semiconductor film, and the drain
An ohmic layer is provided between the in-electrode and the semiconductor film.
Each end of this ohmic layer is
An active matrix liquid crystal display device characterized by being covered with a layer .
【請求項2】 信号線、ソース電極およびドレイン電極
は、アルミニウムであることを特徴とする請求項1記載
のアクティブマトリクス型液晶表示装置。
2. The active matrix type liquid crystal display device according to claim 1, wherein the signal line, the source electrode and the drain electrode are made of aluminum.
JP24930299A 1999-09-02 1999-09-02 Active matrix type liquid crystal display Expired - Fee Related JP3350485B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24930299A JP3350485B2 (en) 1999-09-02 1999-09-02 Active matrix type liquid crystal display

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24930299A JP3350485B2 (en) 1999-09-02 1999-09-02 Active matrix type liquid crystal display

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25660191A Division JP3165194B2 (en) 1991-10-03 1991-10-03 Method for manufacturing active matrix type liquid crystal display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000075323A JP2000075323A (en) 2000-03-14
JP3350485B2 true JP3350485B2 (en) 2002-11-25

Family

ID=17190970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24930299A Expired - Fee Related JP3350485B2 (en) 1999-09-02 1999-09-02 Active matrix type liquid crystal display

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3350485B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012037916A (en) * 2011-11-25 2012-02-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Liquid crystal display device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000075323A (en) 2000-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3210437B2 (en) Liquid crystal display
US6266117B1 (en) Active-matrix liquid crystal display
US6570630B2 (en) Display panel
US6803976B1 (en) LCD having electrode(s) outside display area which adsorb ionic impurities
CN101673014B (en) Liquid crystal display device
TWI428677B (en) Liquid crystal device, method of manufacturing liquid crystal device, and electronic device
US6819385B2 (en) Transflective pixel structure
JP2002162914A (en) Method for darkening pixel
US6326641B1 (en) Liquid crystal display device having a high aperture ratio
EP0412831B1 (en) An active matrix board
JPH04331922A (en) Active matrix display device
US8208108B2 (en) Electro-optic device and electronic apparatus
JP3335567B2 (en) Active matrix type liquid crystal display device and its defect repair method
US10168581B2 (en) Display device
JP3350485B2 (en) Active matrix type liquid crystal display
JPH10268356A (en) Liquid crystal display
JP3350486B2 (en) Active matrix type liquid crystal display
JP3119912B2 (en) Liquid crystal display
JP3165194B2 (en) Method for manufacturing active matrix type liquid crystal display device
JP2001356367A (en) Liquid crystal image display device and method of manufacturing semiconductor device for image display device
JPH117044A (en) Array substrate for display device
JPH04338728A (en) Active matrix substrate
JP3418684B2 (en) Active matrix type liquid crystal display
JP2000231345A (en) Flat panel display
JP2003021843A (en) Liquid crystal display

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070913

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees