JP3368941B2 - Auto focus mechanism - Google Patents
Auto focus mechanismInfo
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- JP3368941B2 JP3368941B2 JP18488393A JP18488393A JP3368941B2 JP 3368941 B2 JP3368941 B2 JP 3368941B2 JP 18488393 A JP18488393 A JP 18488393A JP 18488393 A JP18488393 A JP 18488393A JP 3368941 B2 JP3368941 B2 JP 3368941B2
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- pinhole
- reflected light
- objective lens
- photodetector
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ピンホール方式のオー
トフォーカス機構に関する。詳しくは、物体からの反射
光を2つの光に分割し、その分割反射光の前および後に
ピンホールをそれぞれ配置したピンホール方式のオート
フォーカス機構に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pinhole type autofocus mechanism. More specifically, the present invention relates to a pinhole type autofocus mechanism in which reflected light from an object is split into two lights, and pinholes are arranged in front of and behind the split reflected light.
【0002】[0002]
【背景技術】例えば、表面粗さ計の測定ヘッドやフロー
ピィーディスクドライバーのピックアップなどに用いら
れるオートフォーカス機構の1方式として、ピンホール
方式が知られている。これは、物体からの反射光を2つ
の光に分割し、その分割反射光の前および後にピンホー
ルをそれぞれ配置し、その直後に光検出器を配置し、そ
の光検出器の出力を基にフォーカスエラー信号を得る方
式である。BACKGROUND ART For example, a pinhole system is known as one of autofocus mechanisms used for a measuring head of a surface roughness meter and a pickup of a flowpy disk driver. This is because the reflected light from the object is split into two lights, a pinhole is placed before and after the split reflected light, and a photodetector is placed immediately after that, and based on the output of the photodetector. This is a method of obtaining a focus error signal.
【0003】具体的には、物体に光を集光させる対物レ
ンズを含む光学系と、物体からの反射光を2つの光に分
割するビームスプリッタと、一方の分割反射光の結像点
の前と他方の分割反射光の結像点の後とにそれぞれ配置
されたピンホールを有するピンホール板と、この各ピン
ホール板の直後に配置された光検出器と、この光検出器
の出力を基に焦点ずれを検出する検出回路と、この検出
回路からの出力信号(フォーカスエラー信号)を基に前
記対物レンズが常に物体表面で焦点を結ぶように対物レ
ンズを移動させる駆動機構とを備えた構成である。Specifically, an optical system including an objective lens for converging light on an object, a beam splitter for splitting the reflected light from the object into two lights, and a front of an image forming point of one of the divided reflected lights. And a pinhole plate having pinholes respectively arranged after the image formation point of the other divided reflected light, a photodetector arranged immediately after each pinhole plate, and an output of this photodetector. And a drive mechanism for moving the objective lens so that the objective lens always focuses on the object surface based on an output signal (focus error signal) from the detection circuit. It is a composition.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述したピンホール方
式のオートフォーカス機構の場合、ピンホールをオート
フォーカス機構の光軸に一致させる必要がある。しか
し、最初の組立・調整時に、ピンホールが光軸の近傍に
位置していないと、光検出器には全く光が入らないか
ら、どちらの方向へピンホール板を移動調整してよいの
かが判らない。そのため、従来は、試行錯誤的にピンホ
ール板を移動調整しながら、ピンホールを光軸に一致さ
せるようにしていたため、調整が面倒でかつ時間がかか
るという欠点があった。In the case of the pinhole type autofocus mechanism described above, it is necessary to align the pinhole with the optical axis of the autofocus mechanism. However, at the time of initial assembly and adjustment, if the pinhole is not located near the optical axis, no light will enter the photodetector. Which direction should the pinhole plate be moved and adjusted? I do not know. Therefore, conventionally, the pinhole plate is made to coincide with the optical axis while the pinhole plate is moved and adjusted by trial and error, so that the adjustment is troublesome and time-consuming.
【0005】ここに、本発明の目的は、このような従来
の欠点を解消し、ピンホールを光軸に簡単にかつ迅速に
一致させることができるピンホール方式のオートフォー
カス機構を提供することにある。It is an object of the present invention to provide a pinhole type autofocus mechanism which can eliminate such drawbacks of the prior art and can easily and quickly align the pinhole with the optical axis. is there.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】第1の発明では、物体に
光を集光させる対物レンズを含む光学系と、物体からの
反射光を2つの光に分割するビームスプリッタと、一方
の分割反射光の結像点の前と他方の分割反射光の結像点
の後とにそれぞれ配置されたピンホールを有するピンホ
ール板と、この各ピンホール板の直後に配置された光検
出器と、この光検出器の出力を基に焦点ずれを検出する
検出回路と、この検出回路からの出力信号を基に前記対
物レンズを移動させる駆動機構とを備えたオートフォー
カス機構において、前記ピンホール板には、複数のピン
ホールが縦および横方向に一定ピッチ間隔で配列され、
かつ、ピンホール板は移動可能に設けられていることを
特徴とする。According to a first aspect of the invention, an optical system including an objective lens for focusing light on an object, a beam splitter for splitting reflected light from the object into two lights, and one of the split reflections A pinhole plate having pinholes arranged before the image formation point of light and after the image formation point of the other divided reflected light, and a photodetector arranged immediately after each pinhole plate, In the autofocus mechanism including a detection circuit for detecting defocus based on the output of the photodetector and a drive mechanism for moving the objective lens based on the output signal from the detection circuit, the pinhole plate is , Multiple pinholes are arranged in the vertical and horizontal directions at regular intervals.
The pinhole plate is movably provided.
【0007】第2の発明では、物体に光を集光させる対
物レンズを含む光学系と、物体からの反射光を2つの光
に分割するビームスプリッタと、一方の分割反射光の結
像点の前と他方の分割反射光の結像点の後とにそれぞれ
配置されたピンホールを有するピンホール板と、この各
ピンホール板の直後に配置された光検出器と、この光検
出器の出力を基に焦点ずれを検出する検出回路と、この
検出回路からの出力信号を基に前記対物レンズを移動さ
せる駆動機構とを備えたオートフォーカス機構におい
て、前記ピンホール板には、1つのピンホールと、その
ピンホールを通る直線に沿って幅が略ピンホールの直径
以下でかつ長さが所定長さを有するガイト長孔とが設け
られていることを特徴とすることを特徴とする。In the second invention, an optical system including an objective lens for converging light on an object, a beam splitter for splitting reflected light from the object into two lights, and an image forming point of one of the split reflected lights. A pinhole plate having pinholes respectively arranged before and after the image formation point of the other divided reflected light, a photodetector arranged immediately after each pinhole plate, and an output of this photodetector. In the autofocus mechanism including a detection circuit for detecting defocus based on the above, and a drive mechanism for moving the objective lens based on an output signal from the detection circuit, one pinhole is provided in the pinhole plate. And a guide long hole having a width substantially equal to or less than the diameter of the pinhole and having a predetermined length along the straight line passing through the pinhole.
【0008】[0008]
【作用】第1の発明では、ピンホール板に複数のピンホ
ールが縦および横方向に一定ピッチ間隔で配列されてい
るから、最初の組立・調整時にピンホールが光軸に一致
する確率が増える。最初の組立・調整時に一致しない場
合でも、ピンホール板をいずかの方向へ移動させれば、
隣接するピンホールが光軸に一致するから、従来より
も、ピンホールを光軸に簡単にかつ迅速に一致させるこ
とができる。In the first aspect of the invention, since the plurality of pinholes are arranged on the pinhole plate in the vertical and horizontal directions at constant pitch intervals, the probability that the pinholes coincide with the optical axis at the time of initial assembly / adjustment is high. Increase. Even if they do not match during the initial assembly and adjustment, if you move the pinhole plate in any direction,
Since the adjacent pinholes are aligned with the optical axis, the pinholes can be aligned with the optical axis more easily and quickly than ever before.
【0009】第2の発明では、ピンホール板に1つのピ
ンホールと、そのピンホールを通る直線に沿って幅が略
ピンホールの直径以下でかつ長さが所定長さを有するガ
イト長孔とが設けられているから、最初の組立・調整時
にガイド長孔に対して直交する方向でかつガイド長孔の
長さに対応する幅を有する帯域内に光軸が入るように位
置させておく。これは、範囲が広いので容易である。そ
こで、まず、ピンホール板をガイド長孔に対して直交す
る方向へ移動させていくと、光軸がガイド長孔に入る。
次に、ピンホール板をガイド長孔方向へ移動させていく
と、光軸に対してガイド長孔が外れ光検出器からの信号
が一旦とだえるが、そのまま移動させていくと、光軸に
ピンホールが入り光検出器から出力が得られる。従っ
て、従来よりも、ピンホールを光軸に簡単にかつ迅速に
一致させることができる。In the second invention, one pinhole is provided in the pinhole plate, and a guide hole having a width which is substantially equal to or smaller than the diameter of the pinhole and has a predetermined length along a straight line passing through the pinhole. Is provided, the optical axis is positioned so that the optical axis is in a direction orthogonal to the guide slot and having a width corresponding to the length of the guide slot during the initial assembly and adjustment. This is easy due to the wide range. Therefore, first, when the pinhole plate is moved in the direction orthogonal to the guide slot, the optical axis enters the guide slot.
Next, when the pinhole plate is moved in the direction of the guide long hole, the guide long hole comes off the optical axis and the signal from the photodetector temporarily stops. An output is obtained from the photodetector with a pinhole. Therefore, the pinhole can be aligned with the optical axis more easily and quickly than in the conventional case.
【0010】[0010]
【実施例】以下、本発明のピンホール方式のオートフォ
ーカス機構を用いた光学式変位計について図を参照しな
がら詳細に説明する。ここでは、はじめに、各実施例に
共通する光学式変位計の構成について説明したのち、各
実施例の説明を行う。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An optical displacement meter using a pinhole type autofocus mechanism of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. Here, first, the configuration of the optical displacement meter common to each embodiment will be described, and then each embodiment will be described.
【0011】同光学式変位計は、図1に示す如く、変位
計本体1と、この変位計本体1に対して対物レンズ14
を図で上下方向へ移動自在に保持する対物レンズホルダ
2と、この対物レンズホルダ2を上下方向へ駆動させる
駆動機構としてのボイスコイル6と、前記対物レンズホ
ルダ2の上下方向位置を検出するリニアエンコーダ9と
を含んで構成されている。前記ボイスコイル6は、前記
変位計本体1に固定されたマグネット4と、前記対物レ
ンズホルダ2に固定されたコイル5とから構成されてい
る。前記リニアエンコーダ9は、前記対物レンズホルダ
2に一端が固定されたスケール7と、前記変位計本体1
にスケール7に対向して固定された検出器8とから構成
されている。As shown in FIG. 1, the optical displacement meter includes a displacement meter body 1 and an objective lens 14 for the displacement meter body 1.
, An objective lens holder 2 for holding the objective lens holder 2 movably in the vertical direction, a voice coil 6 as a drive mechanism for driving the objective lens holder 2 in the vertical direction, and a linear for detecting the vertical position of the objective lens holder 2. The encoder 9 is included. The voice coil 6 is composed of a magnet 4 fixed to the displacement meter main body 1 and a coil 5 fixed to the objective lens holder 2. The linear encoder 9 includes a scale 7, one end of which is fixed to the objective lens holder 2, and the displacement gauge body 1.
And a detector 8 fixed to face the scale 7.
【0012】前記変位計本体1には、半導体レーザ11
と、この半導体レーザ11から放射された光を測定面1
0に向けて反射するビームスプリッタ12と、このビー
ムスプリッタ12により進行方向を変えられた光を平行
ビームとして前記対物レンズ14へ向けるコリメータレ
ンズ13と、測定面10からの反射光を結像する結像レ
ンズ15と、この結像レンズ15を通過した光を分割す
るビームスプリッタ16と、このビームスプリッタ16
により分割された各分割反射光の合焦位置よりも前およ
び後にそれぞれ配置されたピンホール板17A,17B
と、この各ピンホール板17A,17Bを通過した分割
反射光の光量をそれぞれ検出する光検出器18A,18
Bとが設けられている。なお、ここでは、前記半導体レ
ーザ11、ビームスプリッタ12、コリメータレンズ1
3および測定面10に光を集光させる対物レンズ14を
含んで照明用光学系19が形成されている。A semiconductor laser 11 is provided on the displacement meter main body 1.
And the light emitted from the semiconductor laser 11
A beam splitter 12 that reflects toward 0, a collimator lens 13 that directs the light whose traveling direction has been changed by the beam splitter 12 into a parallel beam, and a reflected light from the measurement surface 10 that forms an image. The image lens 15, the beam splitter 16 that splits the light that has passed through the imaging lens 15, and the beam splitter 16
Pinhole plates 17A and 17B arranged before and after the in-focus position of each divided reflected light
And photodetectors 18A, 18 for detecting the amount of split reflected light that has passed through the pinhole plates 17A, 17B, respectively.
B and are provided. In addition, here, the semiconductor laser 11, the beam splitter 12, and the collimator lens 1 are used.
An illumination optical system 19 is formed including the objective lens 14 that collects light on the measurement surface 3 and the measurement surface 10.
【0013】図2は検出回路20を示している。同検出
回路20は、前記各光検出器18A,18Bの出力電流
を電圧に変換する電流−電圧(I−V)変換器21A,
21Bと、この各I−V変換器21A,21Bの出力電
圧を増幅する増幅器22A,22Bと、この両増幅器2
2A,22Bの出力の差を演算する差演算器23と、両
増幅器22A,22Bの出力の和を演算する和演算器2
4と、前記差演算器23の出力を和演算器24の出力で
割ってS字状カーブのフォーカスエラー信号Sとする徐
算器25とから構成されている。FIG. 2 shows the detection circuit 20. The detection circuit 20 includes a current-voltage (IV) converter 21A, which converts the output current of each photodetector 18A, 18B into a voltage.
21B, amplifiers 22A and 22B for amplifying the output voltages of the respective IV converters 21A and 21B, and both amplifiers 2
Difference calculator 23 that calculates the difference between the outputs of 2A and 22B and sum calculator 2 that calculates the sum of the outputs of both amplifiers 22A and 22B.
4 and a divider 25 that divides the output of the difference calculator 23 by the output of the sum calculator 24 to obtain a focus error signal S having an S-shaped curve.
【0014】いま、各分割反射光の合焦位置から各ピン
ホール板17A,17Bまでの距離が互いに等しくなる
ように設定すると、各光検出器18A,18Bの出力は
図3のようになる。そのとき、検出回路20から得られ
るフォーカスエラー信号Sは、図4のように、S字状カ
ーブとなり、測定面10の変位に応じた信号となる。従
って、フォーカスエラー信号Sを基に、対物レンズ14
が常に測定面10に焦点を結ぶように、ボイスコイル6
を制御すれば、そのときのリニアエンコーダ9の出力を
測定値として出力することができる。つまり、測定面1
0の粗さをリニアエンコーダ9の出力から求めることが
できる。Now, if the distances from the in-focus position of each divided reflected light to each pinhole plate 17A, 17B are set to be equal to each other, the output of each photodetector 18A, 18B becomes as shown in FIG. At that time, the focus error signal S obtained from the detection circuit 20 becomes an S-shaped curve as shown in FIG. 4, and becomes a signal corresponding to the displacement of the measurement surface 10. Therefore, based on the focus error signal S, the objective lens 14
So that the measurement surface 10 is always focused on by the voice coil 6
By controlling, the output of the linear encoder 9 at that time can be output as a measurement value. That is, measurement surface 1
The roughness of 0 can be obtained from the output of the linear encoder 9.
【0015】第1実施例
上記光学式変位計において、前記各ピンホール板17
A,17Bには、図5に示す如く、それぞれがピンホー
ル機能を有する複数のピンホール31が縦および横方向
に一定ピッチ間隔で配列されている。このように、ピン
ホール板17A,17Bには複数のピンホール31が設
けられているから、最初の組立・調整時にピンホール3
1が光軸に一致する確率が増える。最初の組立・調整時
に一致しない場合でも、ピンホール板17A,17Bを
いずかの方向へ移動させれば、隣接するピンホール31
を光軸に一致させることができる。従って、第1実施例
によれば、従来に比べ、ピンホールを光軸に簡易にかつ
迅速に一致させることができるとともに、作業者の負担
を軽減することができる。 First Embodiment In the above optical displacement meter, each pinhole plate 17 is used.
As shown in FIG. 5, a plurality of pinholes 31 each having a pinhole function are arranged in A and 17B in the vertical and horizontal directions at regular intervals. As described above, since the pinhole plates 17A and 17B are provided with the plurality of pinholes 31, the pinholes 3 are initially assembled and adjusted.
The probability that 1 matches the optical axis increases. Even if they do not match at the time of initial assembly and adjustment, if the pinhole plates 17A and 17B are moved in either direction, the adjacent pinholes 31
Can be aligned with the optical axis. Therefore, according to the first embodiment, the pinhole can be easily and quickly aligned with the optical axis and the burden on the operator can be reduced, as compared with the related art.
【0016】なお、第1実施例において、ピンホール3
1の数や配列方法については、上記実施例に限られるも
のでない。例えば、数については、2以上であれば任意
であるが、多くすればするほどピンホールが光軸に一致
する確率が高くなる利点がある。 In the first embodiment, the pinhole 3
The number of 1s and the arrangement method are not limited to those in the above embodiment. For example, for the number is arbitrary as long as it is two or more, advantages there the probability that a pinhole more you often coincides with the optical axis increases Ru.
【0017】第2実施例
上記光学式変位計において、前記各ピンホール板17
A,17Bには、図6に示す如く、1つのピンホール3
2と、そのピンホール32を通る直線に沿って幅がピン
ホール32の直径と等しくかつ長さが前記直径の数倍長
さを有するガイト長孔33とが設けられている。最初の
組立・調整時にガイド長孔33に対して直交する方向で
かつガイド長孔33の長さに対応する幅を有する帯域3
4内に光軸が入るように位置させておく。これは、範囲
が広いので容易である。そこで、まず、ピンホール板1
7A,17Bをガイド長孔33に対して直交する方向へ
移動させていくと、光軸がガイド長孔33に入る。次
に、ピンホール板17A,17Bをガイド長孔33方向
へ移動させていくと、光軸に対してガイド長孔33が外
れ光検出器18A,18Bからの信号が一旦とだえる
が、そのまま移動させていくと、光軸にピンホール32
が入り光検出器18A,18Bから出力が得られる。従
って、第2実施例によれば、従来に比べ、ピンホールを
光軸に簡易にかつ迅速に一致させることができるととも
に、作業者の負担を軽減することができるほか、1つの
ピンホール32とガイト長孔33とを穿孔するだけでよ
いから、第1実施例に比べ穿孔加工を少なくできる。 Second Embodiment In the above optical displacement meter, each pinhole plate 17 is used.
A and 17B have one pinhole 3 as shown in FIG.
2 and a guide hole 33 having a width equal to the diameter of the pinhole 32 and a length several times the diameter are provided along a straight line passing through the pinhole 32. A band 3 having a width in a direction orthogonal to the guide slot 33 at the time of initial assembly and adjustment and corresponding to the length of the guide slot 33.
Position it so that the optical axis is inside 4. This is easy due to the wide range. Therefore, first, the pinhole plate 1
When 7A and 17B are moved in a direction orthogonal to the guide slot 33, the optical axis enters the guide slot 33. Next, when the pinhole plates 17A and 17B are moved in the direction of the guide elongated hole 33, the guide elongated hole 33 is disengaged from the optical axis and the signals from the photodetectors 18A and 18B are temporarily stopped. As you move it, the pinhole 32 on the optical axis
And the outputs are obtained from the photodetectors 18A and 18B. Therefore, according to the second embodiment, the pinhole can be easily and quickly aligned with the optical axis, and the burden on the operator can be reduced, and one pinhole 32 can be provided. Since it is only necessary to drill the guide long holes 33, the number of drilling processes can be reduced as compared with the first embodiment.
【0018】なお、第2実施例では、ガイド長孔33の
幅をピンホール32の直径と等しくしたが、ガイド長孔
33の幅は、ピンホール32の直径より僅か大きくても
よく、また、ピンホール32の直径より小さくてもよ
い。つまり、略ピンホール32の直径以下であればよ
い。長さについては、ピンホール板17A,17Bの移
動調整可能な範囲を考慮して決定すればよい。また、ピ
ンホール32を挟んだ反対側にもう1つのガイド長孔を
形成し、つまり、ピンホール32を挟んで2つのガイド
長孔33,33をピンホール32を通る直線上に配列す
るようにすれば、最初の組立・調整時に両側の帯域34
内に光軸が入るように位置させておけばよいから、第2
実施例の場合よりも簡単である。In the second embodiment, the width of the guide elongated hole 33 is made equal to the diameter of the pin hole 32, but the width of the guide elongated hole 33 may be slightly larger than the diameter of the pin hole 32. It may be smaller than the diameter of the pinhole 32. That is, the diameter may be substantially equal to or smaller than the diameter of the pinhole 32. The length may be determined in consideration of the movable range of the pinhole plates 17A and 17B. Further, another guide elongated hole is formed on the opposite side of the pin hole 32, that is, the two guide elongated holes 33, 33 are arranged on the straight line passing through the pin hole 32 so as to sandwich the pin hole 32. By doing so, the bands 34 on both sides can be adjusted during the initial assembly and adjustment.
Since it is only necessary to position it so that the optical axis can enter inside,
It is simpler than the case of the embodiment.
【0019】また、上記各実施例では、光学式変位計に
適用した例について説明したが、本発明のオートフォー
カス機構は、これに限られるものでない。例えば、三次
元測定機で倣い動作させる場合に用いられる倣いプロー
ブやフローピィーディスクドライバーのピックアップな
どにも利用できる。Further, in each of the above-described embodiments, the example applied to the optical displacement meter has been described, but the autofocus mechanism of the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be used for a copying probe used when performing a copying operation in a coordinate measuring machine, a pickup of a flowpy disc driver, and the like.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上の通り、本発明のオートフォーカス
機構によれば、ピンホール方式の合焦方式において、ピ
ンホールを光軸に簡易にかつ迅速に一致させることがで
きるという効果を奏する。As described above, according to the autofocus mechanism of the present invention, in the pinhole focusing method, the pinhole can be easily and quickly aligned with the optical axis.
【図1】本発明が適用される光学式変位計の構成を示す
断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of an optical displacement meter to which the present invention is applied.
【図2】図1の光学式変位計の検出回路を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a detection circuit of the optical displacement meter of FIG.
【図3】図1の光学式変位計における光検出器の出力を
示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an output of a photodetector in the optical displacement meter of FIG.
【図4】図1の光学式変位計におけるフォーカスエラー
信号を示す図である。4 is a diagram showing a focus error signal in the optical displacement meter of FIG.
【図5】本発明の第1実施例におけるピンホール板を示
す図である。FIG. 5 is a diagram showing a pinhole plate in the first embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第2実施例におけるピンホール板を示
す図である。FIG. 6 is a diagram showing a pinhole plate according to a second embodiment of the present invention.
11 半導体レーザ 14 対物レンズ 17A,17B ピンホール板 18A,18B 光検出器 19 照明用光学系 20 検出回路 31,32 ピンホール 33 ガイド長孔 11 Semiconductor laser 14 Objective lens 17A, 17B pinhole plate 18A, 18B photo detector 19 Optical system for illumination 20 detection circuit 31,32 pinhole 33 Guide long hole
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−65921(JP,A) 特開 平4−265918(JP,A) 特開 昭58−102107(JP,A) 実開 平5−34512(JP,U) 実開 平5−33109(JP,U) 実開 昭54−66859(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01C 3/00 - 3/32 G01B 11/00 - 11/30 102 G02B 7/28 - 7/40 G03B 13/32 - 13/36 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP 55-65921 (JP, A) JP 4-265918 (JP, A) JP 58-102107 (JP, A) 34512 (JP, U) Actually open 5-33109 (JP, U) Actually open 54-66859 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01C 3/00-3 / 32 G01B 11/00-11/30 102 G02B 7/28-7/40 G03B 13/32-13/36
Claims (2)
学系と、物体からの反射光を2つの光に分割するビーム
スプリッタと、一方の分割反射光の結像点の前と他方の
分割反射光の結像点の後とにそれぞれ配置されたピンホ
ールを有するピンホール板と、この各ピンホール板の直
後に配置された光検出器と、この光検出器の出力を基に
焦点ずれを検出する検出回路と、この検出回路からの出
力信号を基に前記対物レンズを移動させる駆動機構とを
備えたオートフォーカス機構において、前記ピンホール
板には、複数のピンホールが縦および横方向に一定ピッ
チ間隔で配列され、かつ、ピンホール板は移動可能に設
けられていることを特徴とするオートフォーカス機構。1. An optical system including an objective lens for condensing light on an object, a beam splitter for splitting reflected light from the object into two lights, and a beam splitter before and after an image forming point of one of the split reflected lights. A pinhole plate having pinholes arranged after and at the image formation point of the split reflected light, a photodetector arranged immediately after each pinhole plate, and a focus based on the output of this photodetector. In an autofocus mechanism including a detection circuit that detects a shift and a drive mechanism that moves the objective lens based on an output signal from the detection circuit, the pinhole plate has a plurality of pinholes vertically and horizontally. In a certain direction
An autofocus mechanism characterized in that the pinhole plates are arranged so that they can be moved, and the pinhole plates are movably provided.
学系と、物体からの反射光を2つの光に分割するビーム
スプリッタと、一方の分割反射光の結像点の前と他方の
分割反射光の結像点の後とにそれぞれ配置されたピンホ
ールを有するピンホール板と、この各ピンホール板の直
後に配置された光検出器と、この光検出器の出力を基に
焦点ずれを検出する検出回路と、この検出回路からの出
力信号を基に前記対物レンズを移動させる駆動機構とを
備えたオートフォーカス機構において、前記ピンホール
板には、1つのピンホールと、そのピンホールを通る直
線に沿って幅が略ピンホールの直径以下でかつ長さが所
定長さを有するガイト長孔とが設けられていることを特
徴とするオートフォーカス機構。2. An optical system including an objective lens for condensing light on an object, a beam splitter for splitting reflected light from the object into two lights, and a beam splitter before and after an image forming point of one split reflected light. A pinhole plate having pinholes arranged after and at the image formation point of the split reflected light, a photodetector arranged immediately after each pinhole plate, and a focus based on the output of this photodetector. In an autofocus mechanism including a detection circuit for detecting a shift and a drive mechanism for moving the objective lens based on an output signal from the detection circuit, the pinhole plate has one pinhole and its pin. An autofocus mechanism, characterized in that a guide long hole having a width of not more than the diameter of a pinhole and a length of a predetermined length is provided along a straight line passing through the hole.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18488393A JP3368941B2 (en) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | Auto focus mechanism |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18488393A JP3368941B2 (en) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | Auto focus mechanism |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743148A JPH0743148A (en) | 1995-02-10 |
| JP3368941B2 true JP3368941B2 (en) | 2003-01-20 |
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ID=16160986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18488393A Expired - Fee Related JP3368941B2 (en) | 1993-07-27 | 1993-07-27 | Auto focus mechanism |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3368941B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1993
- 1993-07-27 JP JP18488393A patent/JP3368941B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH0743148A (en) | 1995-02-10 |
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