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JP3370419B2 - Positioning method for mounting electronic components on circuit boards - Google Patents
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JP3370419B2 - Positioning method for mounting electronic components on circuit boards - Google Patents

Positioning method for mounting electronic components on circuit boards

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JP3370419B2
JP3370419B2 JP06527694A JP6527694A JP3370419B2 JP 3370419 B2 JP3370419 B2 JP 3370419B2 JP 06527694 A JP06527694 A JP 06527694A JP 6527694 A JP6527694 A JP 6527694A JP 3370419 B2 JP3370419 B2 JP 3370419B2
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    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor

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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子部品を回路基板に実
装する際の位置合わせ方法に係り、詳しくは、半導体チ
ップを搭載した基板の実装面に半田バンプ、半田ボール
等が形成された半導体搭載装置や、実装面に同様のバン
プ、ボール等が形成された半導体チップ等の電子部品を
プリント配線板等の回路基板に実装する際の位置合わせ
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a positioning method for mounting electronic components on a circuit board, and more particularly to a semiconductor having solder bumps, solder balls, etc. formed on a mounting surface of a board on which a semiconductor chip is mounted. The present invention relates to a mounting device and a positioning method for mounting an electronic component such as a semiconductor chip having similar bumps and balls formed on a mounting surface on a circuit board such as a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型化、高性能化に伴
い半導体チップ(ベアチップ)等の電子部品を搭載した
半導体搭載装置等の部品のプリント配線板(マザーボー
ド)への表面実装化が進んでいる。
2. Description of the Related Art In recent years, with downsizing and higher performance of electronic equipment, surface mounting of components such as semiconductor mounting devices having electronic components such as semiconductor chips (bare chips) onto a printed wiring board (motherboard) has progressed. I'm out.

【0003】この種の表面実装部品としてはQFP(ク
アッデッド・フラット・パッケージ)等に代表されるよ
うに、所謂リードフレームを使用した半導体パッケージ
が主流を占めている。しかしながら、ICの高集積化と
ともに端子数の増加、インナーリードと接続されるIC
チップの接続ピッチの狭ピッチ化が進むと、エッチング
等で形成されるリードフレームでは、多ピン化、狭ピッ
チ化が困難であり、扱いにくい等の問題が生じる。そこ
で、ICチップを搭載するプリント配線板の裏面にバン
プを形成し、そのバンプに半球状の半田バンプを形成し
たBGA(ボール・グリッド・アレイ)が多ピン化によ
る小型化に適した半導体パッケージとして注目されてい
る。
As a surface mount component of this type, a semiconductor package using a so-called lead frame is dominated, as represented by a QFP (Quad Flat Package). However, with the high integration of ICs, the number of terminals increases and ICs connected to inner leads
As the chip connection pitch becomes narrower, a lead frame formed by etching or the like has a problem in that it is difficult to increase the number of pins and the pitch, and it is difficult to handle. Therefore, a BGA (ball grid array) in which bumps are formed on the back surface of a printed wiring board on which an IC chip is mounted and hemispherical solder bumps are formed on the bumps is used as a semiconductor package suitable for miniaturization by increasing the number of pins. Attention has been paid.

【0004】このBGAをプリント配線板に表面実装す
るには、一般的に半田あるいは半田及びフラックスでコ
ートされたプリント配線板上の実装用パッドに、BGA
のバンプを位置合わせして、接着剤等により仮固定した
後、リフロー炉にて加熱して半田付けするようにしてい
る。従って、リフロー半田付けするにあたっては、BG
Aのバンプとプリント配線板上の実装用パッドとの正確
な位置合わせが要求される。
To surface-mount this BGA on a printed wiring board, the BGA is generally mounted on a mounting pad on the printed wiring board coated with solder or solder and flux.
The bumps are aligned and temporarily fixed with an adhesive or the like, and then heated in a reflow furnace to be soldered. Therefore, when performing reflow soldering, BG
Accurate alignment between the bump A and the mounting pad on the printed wiring board is required.

【0005】従来、BGA等の半導体パッケージの実装
装置では、カメラを用いてバンプと実装用パッドとを観
察して位置合わせするようにしている。すなわち、BG
Aの下側からバンプを第1のカメラにて観察し、プリン
ト配線板の上方から実装用パッドを第2のカメラで観察
して、各座標値を演算するようにしている。そして、例
えば、ボンディングヘッドに吸着されたBGAをプリン
ト配線板上に移動させた後、コンピュータの画像処理に
よって得られた各座標値に基づいてX−Y−θ方向のず
れ量を補正して位置合わせしてから実装するようにして
いる。
Conventionally, in a semiconductor package mounting device such as a BGA, a bump and a mounting pad are observed and aligned using a camera. That is, BG
The bumps are observed from the lower side of A with the first camera, and the mounting pads are observed from the upper side of the printed wiring board with the second camera to calculate each coordinate value. Then, for example, after the BGA adsorbed by the bonding head is moved onto the printed wiring board, the displacement amount in the XY-θ direction is corrected based on each coordinate value obtained by the image processing of the computer and the position is corrected. I'm trying to implement after matching.

【0006】又、半導体パッケージにおいて半導体チッ
プを搭載用基板に表面実装するようにしたものもある。
例えば、複数個のベアチップをプリント配線板に搭載す
る所謂MCM(マルチ・チップ・モジュール)と呼ばれ
る装置においては、フリップチップボンディングにより
複数のベアチップをプリント配線板に直接実装してい
る。すなわち、フリップチップボンディングはベアチッ
プの一面に形成された半田バンプと、プリント配線板に
形成された実装用パッドもしくはパッド上に形成された
半田バンプとを半田付け等により電気的に接続するとい
う方法である。
There is also a semiconductor package in which a semiconductor chip is surface-mounted on a mounting substrate.
For example, in a so-called MCM (multi-chip module) in which a plurality of bare chips are mounted on a printed wiring board, a plurality of bare chips are directly mounted on the printed wiring board by flip chip bonding. That is, flip chip bonding is a method of electrically connecting a solder bump formed on one surface of a bare chip to a mounting pad formed on a printed wiring board or a solder bump formed on the pad by soldering or the like. is there.

【0007】このフリップチップボンディングにおいて
は、例えば、特開平4−206534号に記載されてい
るような方法が提案されている。この方法では、第1及
び第2のカメラを設け、両者の中心点間のオフセット距
離を求めるとともに、パターン(パッド)及びバンプの
絶対位置座標を読み取って両座標間のずれ量を求める。
そして、半導体チップを吸着したボンディングヘッドを
オフセット距離とずれ量の和だけ移動させて、基板上の
パッドに位置合わせして実装するようにしている。
For this flip-chip bonding, for example, a method described in Japanese Patent Laid-Open No. 4-206534 has been proposed. In this method, the first and second cameras are provided, the offset distance between the center points of the two is determined, and the absolute position coordinates of the pattern (pad) and bump are read to determine the amount of deviation between the two coordinates.
Then, the bonding head sucking the semiconductor chip is moved by the sum of the offset distance and the shift amount, and is aligned with the pad on the substrate for mounting.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記したB
GAの実装方法やフリップチップボンディングでは、次
のような問題点がある。
However, the above-mentioned B
The GA mounting method and flip chip bonding have the following problems.

【0009】従来の画像認識方法では、第1及び第2の
カメラがそれぞれ別の位置に設けられている。このた
め、各カメラで観察したパッドとバンプの画像データに
基づいて両者を位置合わせするときに、第1及び第2の
カメラの中心点(光軸)間の距離を0にしてから、パッ
ドとバンプとの各座標間のずれ量を補正しなければなら
ない。従って、第1及び第2のカメラの中心点間の距離
を0にする際に誤差が生じた場合、パッドとバンプとの
各座標間のずれ量を補正するときに、その誤差を考慮し
なければならず、ずれ量の補正が困難となるばかりでな
く、位置合わせ精度を向上させる上で支障となるという
問題点がある。又、ずれ量を補正するための演算プログ
ラムを誤差が生じた場合を考慮して作成しなければなら
ず、そのプログラムの作成や演算処理回路の設計に時間
がかかるとともに、装置自体が複雑で高コストとなると
いう問題点がある。
In the conventional image recognition method, the first and second cameras are provided at different positions. Therefore, when aligning the pads and bumps based on the image data of the pads observed by each camera, the distance between the center points (optical axes) of the first and second cameras is set to 0, The amount of displacement between each coordinate with the bump must be corrected. Therefore, if an error occurs when the distance between the center points of the first and second cameras is set to 0, the error must be taken into consideration when correcting the deviation amount between the coordinates of the pad and the bump. In addition to the difficulty in correcting the amount of deviation, there is a problem in that the accuracy of alignment is improved. In addition, a calculation program for correcting the deviation amount must be created in consideration of the case where an error occurs, and it takes time to create the program and design the calculation processing circuit, and the device itself is complicated and expensive. There is a problem that it becomes a cost.

【0010】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたものであって、その目的は、実装面にバンプが形
成された半導体チップや、半導体搭載装置等の電子部品
を回路基板に位置合わせする際に、バンプとパッドとの
ずれ量を容易に補正することができる電子部品を回路基
板に実装する際の位置合わせ方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to position a semiconductor chip having bumps formed on a mounting surface or an electronic component such as a semiconductor mounting device on a circuit board. It is an object of the present invention to provide a positioning method for mounting an electronic component on a circuit board, which can easily correct the amount of displacement between the bump and the pad at the time of matching.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め請求項1に記載の発明では、電子部品の実装面に形成
された複数のバンプと、回路基板に形成された前記バン
プに対応する実装用パッドとのいずれか一方を第1のカ
メラで観察し、次に観察された前記電子部品及び回路基
板のいずれか一方を当該観察位置から移動させた後、前
記第1のカメラの光軸に第2のカメラの光軸が光学的に
一致するように同第2のカメラを配置し、次いで前記第
1のカメラで観察されなかった前記バンプ及び実装用パ
ッドのいずれか一方を第2のカメラで観察し、前記第1
及び第2のカメラで観察した画像データに基づいて、コ
ンピュータによりバンプ及び実装用パッドの各座標値を
相互に対応させて演算し、その演算結果に基づいて電子
部品及び回路基板のいずれか一方を移動させて、バンプ
と実装用パッドとのずれ量を補正するようにした。
In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 corresponds to a plurality of bumps formed on a mounting surface of an electronic component and the bumps formed on a circuit board. After observing any one of the mounting pad with the first camera and moving any one of the electronic component and the circuit board observed next from the observation position, the optical axis of the first camera The second camera is arranged so that the optical axes of the second camera are optically coincident with each other, and then one of the bump and the mounting pad not observed by the first camera is attached to the second camera. Observe with a camera, the first
And based on the image data observed by the second camera, the computer calculates the coordinate values of the bump and the mounting pad in correspondence with each other, and based on the calculation result, either one of the electronic component and the circuit board is calculated. It was moved to correct the amount of displacement between the bump and the mounting pad.

【0012】請求項2に記載の発明では、前記第2のカ
メラを配置する際に、前記第1のカメラの光軸に指標を
設け、該指標を第2のカメラによって観察しながら第1
及び第2のカメラの光軸を光学的に一致させるようにし
た。
According to a second aspect of the present invention, when the second camera is arranged, an index is provided on the optical axis of the first camera, and the index is observed by the second camera while the first camera is used.
And the optical axes of the second camera are optically matched.

【0013】[0013]

【0014】[0014]

【作用】請求項1に記載の発明では、電子部品の実装面
に形成された複数のバンプ、及び回路基板に形成された
前記バンプに対応する実装用パッドのいずれか一方が第
1のカメラで観察される。次に観察された電子部品及び
回路基板のいずれか一方が当該観察位置から移動された
後、第1のカメラの光軸に第2のカメラの光軸が光学的
に一致するようにその第2のカメラが配置される。次い
で第1のカメラで観察されなかったバンプ及び実装用パ
ッドのいずれか一方が第2のカメラで観察され、第1及
び第2のカメラで観察した画像データに基づいて、コン
ピュータによりバンプ及び実装用パッドの各座標値が相
互に対応して演算される。そして、その演算結果に基づ
いて電子部品及び回路基板のいずれか一方が移動して、
バンプと実装用パッドとのずれ量が補正されて、電子部
品と回路基板との位置合わせが完了する。
According to the first aspect of the present invention, one of the plurality of bumps formed on the mounting surface of the electronic component and the mounting pad corresponding to the bumps formed on the circuit board is the first camera. To be observed. After one of the observed electronic component and the circuit board is moved from the observation position, the second optical axis of the second camera is optically aligned with the optical axis of the first camera. Cameras are placed. Next, either one of the bump and the mounting pad, which was not observed by the first camera, was observed by the second camera, and the bump and the mounting pad for computer were measured by the computer based on the image data observed by the first and second cameras. Each coordinate value of the pad is calculated corresponding to each other. Then, based on the calculation result, either one of the electronic component and the circuit board moves,
The displacement amount between the bump and the mounting pad is corrected, and the alignment between the electronic component and the circuit board is completed.

【0015】従って、第1のカメラの光軸と第2のカメ
ラの光軸との誤差が0となるので、バンプと実装用パッ
ドとの各座標間のずれ量を補正するときに、両光軸間の
誤差を考慮しなくてもよくなる。この結果、ずれ量の補
正が容易となる。
Therefore, since the error between the optical axis of the first camera and the optical axis of the second camera becomes 0, both light beams are corrected when the deviation amount between the coordinates of the bump and the mounting pad is corrected. It is not necessary to consider the error between axes. As a result, it becomes easy to correct the deviation amount.

【0016】又、請求項2に記載の発明では、第1のカ
メラの光軸に設けられた指標が第2のカメラによって観
察されながら、第1及び第2のカメラの光軸が光学的に
一致するように第2のカメラが配置される。従って、第
2のカメラを第1のカメラ上に繰り返し配置しても、両
者の光軸が確実に一致する。
According to the second aspect of the invention, while the index provided on the optical axis of the first camera is observed by the second camera, the optical axes of the first and second cameras are optically The second camera is arranged so as to match. Therefore, even if the second camera is repeatedly arranged on the first camera, the optical axes of the two cameras surely coincide with each other.

【0017】[0017]

【0018】[0018]

【実施例】【Example】

(実施例1)以下、本発明をBGA(ボール・グリッド
・アレイ)をプリント配線板に実装する際の位置合わせ
方法に具体化した実施例1を図1〜図8に従って説明す
る。最初にBGAとプリント配線板の構成について簡単
に説明する。
(Embodiment 1) Hereinafter, Embodiment 1 embodying the present invention as a positioning method for mounting a BGA (ball grid array) on a printed wiring board will be described with reference to FIGS. First, the configurations of the BGA and the printed wiring board will be briefly described.

【0019】図1に示すように、電子部品としてのBG
A1の底面には、複数の半田よりなる半球状のバンプ2
が2列配置で正方形の領域を周回するように設けられて
いる。図5に示すように、電子回路基板としてのプリン
ト配線板3の表面には、BGA1の実装用パッド(以
下、単にパッドという)4がバンプ2と同様に配置され
ている。このパッド4には予め図示しない半田皮膜が形
成されている。なお、バンプ2のみでパッド4との接合
強度が十分に得られるのであれば、半田皮膜は形成しな
くてもよい。
As shown in FIG. 1, BG as an electronic component
Hemispherical bumps 2 made of a plurality of solders on the bottom surface of A1.
Are arranged in two rows so as to surround a square area. As shown in FIG. 5, mounting pads (hereinafter, simply referred to as pads) 4 of the BGA 1 are arranged on the surface of a printed wiring board 3 as an electronic circuit board in the same manner as the bumps 2. A solder film (not shown) is previously formed on the pad 4. Note that the solder film may not be formed as long as sufficient bonding strength with the pad 4 can be obtained only by the bump 2.

【0020】次に、BGA1の位置合わせ方法について
説明する。図示しないボンディングヘッドに設けられた
吸着ノズル5に吸着されたBGA1を降下させて、上向
きに配置された第1のカメラ6と近接する観察位置に配
置して、バンプ2を観察する(図1)。このとき、吸着
ノズル5の中心とBGA1の中心とが一致していなくて
もよい。又、第1のカメラ6にてBGA1を観察し易い
ように、BGA1の斜め下方から照明装置7による照明
を行う。
Next, a method of aligning the BGA 1 will be described. The BGA 1 adsorbed by the adsorption nozzle 5 provided on the bonding head (not shown) is lowered and placed at an observation position close to the first camera 6 arranged upward to observe the bump 2 (FIG. 1). . At this time, the center of the suction nozzle 5 and the center of the BGA 1 do not have to coincide with each other. Further, in order to make it easy to observe the BGA 1 with the first camera 6, the illumination device 7 illuminates from diagonally below the BGA 1.

【0021】続いて、第1のカメラ6が観察したバンプ
2の画像データをコンピュータが入力して、各座標位置
を読取るとともに2値化処理して、モニタ8上に一部の
複数個(この場合、10個)のバンプ2を表示する(図
2)。次いで、モニタ8上に表示されたバンプ2の中抜
き処理をコンピュータが行って、円形の外形線からなる
バンプ2の静止画像を再び、モニタ8上に表示する(図
3)。
Subsequently, a computer inputs image data of the bumps 2 observed by the first camera 6, reads each coordinate position and binarizes the data, and a part of a plurality of these (on this monitor 8) is displayed on the monitor 8. In this case, 10 bumps 2 are displayed (FIG. 2). Then, the computer performs the blanking process of the bumps 2 displayed on the monitor 8 to display again a still image of the bumps 2 having a circular outline on the monitor 8 (FIG. 3).

【0022】次に、吸着ノズル5に吸着された状態でB
GA1を上方の待機位置に移動させた後、第1のカメラ
6の上方に下向きに配置された第2のカメラ9を側方か
ら移動させる(図4)。このとき、第2のカメラ9が観
察した第1のカメラ6のレンズ10の光軸A1 に設けら
れた指標としてのマーク11に基づいて、両カメラ6,
9の光軸A1 ,A2 が光学的に一致するように第2のカ
メラ9を第1のカメラ6に位置合わせする。第2のカメ
ラ9には自動焦点調節機構12が設けられており、この
機構12によって第1のカメラ6のマーク11に焦点が
調節される。
Next, in the state of being sucked by the suction nozzle 5, B
After moving the GA 1 to the standby position above, the second camera 9 arranged downward above the first camera 6 is moved from the side (FIG. 4). At this time, based on the mark 11 as an index provided on the optical axis A1 of the lens 10 of the first camera 6 observed by the second camera 9, both cameras 6,
The second camera 9 is aligned with the first camera 6 so that the optical axes A1 and A2 of 9 are optically coincident with each other. The second camera 9 is provided with an automatic focus adjustment mechanism 12, and the mechanism 12 adjusts the focus on the mark 11 of the first camera 6.

【0023】次に、第1のカメラ6を降下させた後、第
2のカメラ9の下方に基板搭載台13上に載置されたプ
リント配線板3を移動させて、BGA1を実装するパッ
ド4を観察する(図5)。このとき、自動焦点調節機構
12によって第2のカメラ9の焦点が、パッド4に合う
ように調節される。
Next, after lowering the first camera 6, the printed wiring board 3 placed on the board mounting base 13 is moved below the second camera 9 to move the pad 4 for mounting the BGA 1. Are observed (FIG. 5). At this time, the focus of the second camera 9 is adjusted by the automatic focus adjustment mechanism 12 so as to match the pad 4.

【0024】続いて、第2のカメラ9が観察したパッド
4の画像データをコンピュータが入力して、各座標位置
を演算するとともに、モニタ8上に表示されたバンプ2
の画像と、バンプ2と対応する部分の複数(この場合、
10個)のパッド4の生画像とを合成して表示する(図
6)。このとき、第2のカメラ9にてパッド4を観察し
易いように、パッド4の斜め上方から照明装置14によ
る照明を行う。
Subsequently, the computer inputs image data of the pad 4 observed by the second camera 9 to calculate each coordinate position, and the bump 2 displayed on the monitor 8 is displayed.
Image and a plurality of parts corresponding to the bump 2 (in this case,
Ten (10) raw images of the pads 4 are combined and displayed (FIG. 6). At this time, the illumination device 14 illuminates the pad 4 obliquely from above so that the second camera 9 can easily observe the pad 4.

【0025】次に、基板搭載台13に装備された図示し
ないXステージ,Yステージ及びθステージをコンピュ
ータによって操作して、プリント配線板3をX−Y−θ
方向へ移動させて、パッド4をバンプ2に位置合わせす
る。この位置合わせは、バンプ2の座標値とパッド4の
座標値とのずれ量が、0となるようにコンピュータが補
正することにより行われる。又、位置合わせの状況はモ
ニタ8に表示されたパッド4が移動して、バンプ2の外
形線と重なって一致することにより目視で確認される
(図7)。このようにして、BGA1の位置合わせが完
了し、続いて、BGA1の実装が、以下のようにして行
われる。
Next, the X, Y and θ stages (not shown) mounted on the board mounting base 13 are operated by a computer to move the printed wiring board 3 to XY-θ.
The pad 4 is aligned with the bump 2 by moving in the direction. This alignment is performed by the computer correcting the displacement amount between the coordinate value of the bump 2 and the coordinate value of the pad 4 to be zero. Further, the state of alignment is visually confirmed by the movement of the pad 4 displayed on the monitor 8 and the overlapping and matching of the outline of the bump 2 (FIG. 7). In this way, the alignment of the BGA1 is completed, and then the BGA1 is mounted as follows.

【0026】第2のカメラ9を元の位置へ移動させた
後、待機位置に待機していたBGA1を吸着ノズル5と
ともに降下させて、バンプ2とパッド4とが接触するよ
うにプリント配線板3上に仮固定する。このとき、BG
A1の仮固定には接着剤が用いられる。そして、吸着ノ
ズル5によるBGA1の吸着を解除した後、プリント配
線板3を図示しないリフロー炉に投入して加熱して、バ
ンプ2及びパッド4の表面の半田を溶融させて、バンプ
2とパッド4とを接合させる(図8)。このようにし
て、バンプ2とパッド4との位置合わせ、及びBGA1
のプリント配線板3への実装が完了する。
After moving the second camera 9 to the original position, the BGA 1 waiting at the standby position is lowered together with the suction nozzle 5 so that the bump 2 and the pad 4 come into contact with each other. Temporarily fix it on top. At this time, BG
An adhesive is used to temporarily fix A1. Then, after the suction of the BGA 1 by the suction nozzle 5 is released, the printed wiring board 3 is put into a reflow furnace (not shown) and heated to melt the solder on the surfaces of the bumps 2 and the pads 4, thereby causing the bumps 2 and pads 4 And (FIG. 8). In this way, the bump 2 and the pad 4 are aligned and the BGA 1 is aligned.
The mounting on the printed wiring board 3 is completed.

【0027】上記したように実施例1においては、第2
のカメラ9を第1のカメラ6上に移動させる際に、両者
の光軸A1 ,A2 を光学的に一致させた後で、バンプ2
とパッド4との各座標値間のずれ量を補正するようにし
た。従って、第1のカメラ6の光軸A1 と第2のカメラ
9の光軸A2 との誤差が0となるので、パッド4とバン
プ2との各座標間のずれ量を補正するときに、光軸A1
,A2 間の誤差を考慮しなくてもよくなる。この結
果、ずれ量の補正が容易となるばかりでなく、位置合わ
せ精度を向上させる上で有用となる。
As described above, in the first embodiment, the second
When the second camera 9 is moved onto the first camera 6, after the optical axes A1 and A2 of the two are optically aligned, the bump 2
The shift amount between the coordinate values of the pad 4 and the pad 4 is corrected. Therefore, since the error between the optical axis A1 of the first camera 6 and the optical axis A2 of the second camera 9 becomes 0, when the deviation amount between the coordinates of the pad 4 and the bump 2 is corrected, Axis A1
, It is not necessary to consider the error between A2. As a result, not only is it easy to correct the amount of deviation, but it is also useful for improving the alignment accuracy.

【0028】又、ずれ量を補正するための演算プログラ
ムを作成するにあたり、前記誤差を考慮しなくてもよく
なり、、そのプログラムの作成や演算処理回路の設計時
間が短縮されるともに、装置自体が簡単でで低コストと
なる。
In addition, when the calculation program for correcting the deviation amount is created, it is not necessary to consider the above error, the time for creating the program and the design time of the calculation processing circuit is shortened, and the apparatus itself. Is simple and low cost.

【0029】又、第1のカメラ6のレンズ10の光軸A
1 にマーク11を設け、第2のカメラ9に設けられた自
動焦点調節機構12によって、マーク11に焦点が合う
ように調整するようにしたことにより、両者の光軸1 ,
A2 を確実に一致させることができる。
Further, the optical axis A of the lens 10 of the first camera 6
The mark 11 is provided on the optical axis 1 and the automatic focus adjusting mechanism 12 provided on the second camera 9 adjusts so that the mark 11 is in focus.
A2 can be surely matched.

【0030】更には、バンプ2及びパッド4の一部をモ
ニタ8に表示して、ずれ量を補正するようにしたことに
より、BGA1のプリント配線板3への位置合わせ状況
を目視で確認することができる。しかも、バンプ2は中
抜き処理によって円形の外形線にて表示された状態で、
パッド4とのずれ量の補正が行われるので、バンプ2と
パッド4とを容易に区別することができる。
Further, by displaying a part of the bump 2 and the pad 4 on the monitor 8 so as to correct the deviation amount, it is possible to visually confirm the alignment condition of the BGA 1 to the printed wiring board 3. You can Moreover, the bump 2 is displayed in a circular outline by the blanking process,
Since the amount of deviation from the pad 4 is corrected, the bump 2 and the pad 4 can be easily distinguished.

【0031】(実施例2)次に、実施例2について説明
する。この実施例では第2のカメラ9の配置が前記実施
例1と異なる。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment will be described. In this embodiment, the arrangement of the second camera 9 is different from that in the first embodiment.

【0032】図9に示すように、第2のカメラ9は第1
のカメラ6の光軸A1 と、第2のカメラ9の光軸A2 と
が直交する位置に固定されている。図10に示すよう
に、BGA1が待機位置に配置された状態で、第1及び
第2のカメラ6,9の光軸A1,A2 の交点に、鏡面が
当たるように全反射のミラー21が配置されるようにな
っている。このミラー21は鏡面の平面度が0.05〜
0.1μm程度となっており、光軸A1 ,A2 にて形成
される面と直交する方向に、水平面に対して45°の傾
斜角度θを保持しながら移動するようになっている。
As shown in FIG. 9, the second camera 9 has a first
The optical axis A1 of the camera 6 and the optical axis A2 of the second camera 9 are fixed at a position orthogonal to each other. As shown in FIG. 10, with the BGA 1 placed in the standby position, a total reflection mirror 21 is placed so that the mirror surface hits the intersection of the optical axes A 1 and A 2 of the first and second cameras 6 and 9. It is supposed to be done. This mirror 21 has a flatness of 0.05 to
It is about 0.1 μm, and it moves in a direction orthogonal to the plane formed by the optical axes A1 and A2 while maintaining an inclination angle θ of 45 ° with respect to the horizontal plane.

【0033】次に、BGA1の位置合わせ方法について
説明する。図9に示す状態で、吸着ノズル5に吸着され
たBGA1を降下させて、第1のカメラ6によってバン
プ2を観察し、観察したバンプ2の画像データを実施例
1と同様に中抜き処理を行って、円形の外形線にてモニ
タ8上に表示する。
Next, a method of aligning the BGA 1 will be described. In the state shown in FIG. 9, the BGA 1 sucked by the suction nozzle 5 is lowered, the bumps 2 are observed by the first camera 6, and the image data of the observed bumps 2 is subjected to the hollowing-out process as in the first embodiment. Go and display on the monitor 8 with a circular outline.

【0034】次に、BGA1を上方の待機位置に移動さ
せた後、側方からミラー21を移動させて、第1及び第
2のカメラ6,9の光軸A1 ,A2 の交点に鏡面が当た
るように配置する。このとき、ミラー21は傾斜角度θ
が45°となっているので、光軸A1 と光軸A2 とが見
かけ上一致する。
Next, after moving the BGA 1 to the upper standby position, the mirror 21 is moved from the side so that the mirror surface hits the intersection of the optical axes A1 and A2 of the first and second cameras 6 and 9. To arrange. At this time, the mirror 21 has an inclination angle θ.
Is 45 °, the optical axis A1 and the optical axis A2 apparently coincide with each other.

【0035】次に、ミラー21の下方に基板搭載台13
上に載置されたプリント配線板3を移動させて、第2の
カメラ9によってミラー21の鏡面にて反射するパッド
4の像を観察する(図10)。このとき、第2のカメラ
9は実際のパッド4と面対称のパッド4を観察する。
又、第2のカメラ9は予めミラー21の鏡面に焦点が合
うように配置されており、自動焦点調節機構12は設け
られていない。
Next, below the mirror 21, the substrate mounting table 13 is provided.
The printed wiring board 3 placed on the top is moved, and the image of the pad 4 reflected by the mirror surface of the mirror 21 is observed by the second camera 9 (FIG. 10). At this time, the second camera 9 observes the pad 4 that is plane-symmetric with the actual pad 4.
Further, the second camera 9 is arranged in advance so that the mirror surface of the mirror 21 is in focus, and the automatic focusing mechanism 12 is not provided.

【0036】続いて、第2のカメラ9が観察したパッド
4の画像データをコンピュータが入力し、面対称のパッ
ド4であることを考慮して各座標位置を演算するととも
に、モニタ8上にバンプ2と対応するパッド4の生画像
とを合成して表示する。
Then, the computer inputs the image data of the pad 4 observed by the second camera 9 to calculate each coordinate position in consideration of the pad 4 having plane symmetry, and the bumps are displayed on the monitor 8. 2 and the corresponding raw image of the pad 4 are combined and displayed.

【0037】次に、実施例1と同様にして、プリント配
線板3をX−Y−θ方向へ移動させて、パッド4をバン
プ2に位置合わせする。このようにして、BGA1の位
置合わせが完了する。
Next, similarly to the first embodiment, the printed wiring board 3 is moved in the XY-θ direction to align the pad 4 with the bump 2. In this way, the alignment of the BGA 1 is completed.

【0038】上記したように実施例2においては、第2
のカメラ9をその光軸A2 と第1のカメラ6の光軸A1
とが直交する位置に固定し、両光軸A1 ,A2 の交点に
鏡面が当たるようにミラー21を移動可能に配置した。
従って、実施例1とは異なり第2のカメラ9を移動させ
て、第1のカメラ6の光軸A1 に一致させる必要がなく
なる。又、ミラー21を光軸A1 ,A2 にて形成される
面と直交する方向に、水平面に対して45°の傾斜角度
θを保持しながら移動させるようにしたことにより、第
2のカメラ9は第1のカメラ6と同じ光軸でパッド4を
観察することができ、バンプ2とパッド4とのずれ量を
容易に補正することができる。
As described above, in the second embodiment, the second
Of the camera 9 of the first camera 6 and the optical axis A1 of the first camera 6
It was fixed at a position where and were orthogonal to each other, and the mirror 21 was movably arranged so that the mirror surface hits the intersection of both optical axes A1 and A2.
Therefore, unlike the first embodiment, it is not necessary to move the second camera 9 to match the optical axis A1 of the first camera 6. Further, the mirror 21 is moved in the direction orthogonal to the plane formed by the optical axes A1 and A2 while maintaining the inclination angle θ of 45 ° with respect to the horizontal plane, whereby the second camera 9 is The pad 4 can be observed on the same optical axis as the first camera 6, and the amount of deviation between the bump 2 and the pad 4 can be easily corrected.

【0039】(実施例3)次に、実施例3について説明
する。この実施例では1台のカメラで位置合わせすると
ともに、フリップチップボンディングにおける電子部品
としてのベアチップの位置合わせ方法に具体化している
点が前記両実施例と異なる。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment will be described. This embodiment is different from the above-mentioned embodiments in that the positioning is performed by one camera and the method of positioning a bare chip as an electronic component in flip chip bonding is embodied.

【0040】図11に示すように、カメラ31の光軸A
3 の方向には2箇所の鏡面32a,32bを有するミラ
ー32が配置されている。ミラー32は鏡面32a,3
2bがカメラ31のレンズと対向し、かつ光軸A3 を境
として上下方向にそれぞれ45°の傾斜角度θとなるよ
うに設けられている。ミラー32及びカメラ31は同じ
支持部材(図示せず)に支持されており、基板搭載台1
3と平行に移動するようになっている。カメラ31は鏡
面32a,32bにて反射する像を観察可能な距離だけ
離間している。
As shown in FIG. 11, the optical axis A of the camera 31 is used.
A mirror 32 having two mirror surfaces 32a and 32b is arranged in the direction of 3. The mirror 32 has mirror surfaces 32a, 3
2b is provided so as to face the lens of the camera 31 and have an inclination angle θ of 45 ° in the vertical direction with the optical axis A3 as a boundary. The mirror 32 and the camera 31 are supported by the same support member (not shown), and the substrate mounting table 1
It is designed to move in parallel with 3. The camera 31 is separated from the mirror surfaces 32a and 32b by an observable distance.

【0041】次に、ベアチップの位置合わせ方法につい
て説明する。吸着ノズル33に吸着されたベアチップ3
4を降下させるとともに、ベアチップ34の下方にパッ
ド4が位置するように基板搭載台13に搭載されたプリ
ント配線板3を移動させる。次いで、側方からミラー3
2及びカメラ31を移動させて、ベアチップ34の下方
に鏡面32aが対向し、パッド4の上方に鏡面32bが
対向するようにミラー32を配置する(図11)。
Next, a bare chip alignment method will be described. Bare chip 3 sucked by suction nozzle 33
4 is moved down, and the printed wiring board 3 mounted on the board mounting base 13 is moved so that the pad 4 is located below the bare chip 34. Then mirror 3 from the side
2 and the camera 31 are moved to arrange the mirror 32 so that the mirror surface 32a faces below the bare chip 34 and the mirror surface 32b faces above the pad 4 (FIG. 11).

【0042】次に、鏡面32aにて反射したバンプ2の
像と、鏡面32bにて反射したパッド4の像とをカメラ
31にて観察する。このとき、鏡面32a,32bはそ
れぞれカメラ31の光軸A3 を境として45°の傾斜角
度θとなっているため、バンプ2及びパッド4の像が確
実にカメラ31にて観察される。
Next, the image of the bump 2 reflected by the mirror surface 32a and the image of the pad 4 reflected by the mirror surface 32b are observed by the camera 31. At this time, since the mirror surfaces 32a and 32b each have an inclination angle θ of 45 ° with the optical axis A3 of the camera 31 as a boundary, the images of the bumps 2 and the pads 4 can be reliably observed by the camera 31.

【0043】次に、観察したバンプ2の画像データを前
記実施例1,2と同様に中抜き処理を行って、図6に示
すように、円形の外形線にてモニタ8上に表示するとと
もに、バンプ2と対応するパッド4の生画像とを合成し
て表示する。このとき、カメラ31にて観察したパッド
4の像を、鏡面32a,32bの境目を中心としてバン
プ2側に反転させてモニタ8に表示する。
Next, the image data of the observed bumps 2 is subjected to the hollowing-out process as in the first and second embodiments, and is displayed on the monitor 8 as a circular outline as shown in FIG. , The bump 2 and the corresponding raw image of the pad 4 are combined and displayed. At this time, the image of the pad 4 observed by the camera 31 is displayed on the monitor 8 while being inverted to the bump 2 side with the boundary between the mirror surfaces 32a and 32b as the center.

【0044】次に、実施例1,2と同様にして、プリン
ト配線板3をX−Y−θ方向へ移動させて、パッド4を
バンプ2に位置合わせする。このようにして、ベアチッ
プ34の位置合わせが完了する。
Next, similarly to the first and second embodiments, the printed wiring board 3 is moved in the XY-θ direction to align the pad 4 with the bump 2. In this way, the alignment of the bare chip 34 is completed.

【0045】上記したように実施例3においては、2つ
の鏡面32a,32bを有するミラー32を用いて、バ
ンプ2及びパッド4を1台のカメラ31で観察するよう
にしたことにより、光軸の誤差を考慮する必要が全くな
くなる。従って、バンプ2とパッド4とのずれ量をカメ
ラ31とミラー32とを組み合わせた簡単な構成で、容
易に補正することができる。又、カメラの台数が減って
コストダウンを図ることができる。
As described above, in the third embodiment, the mirror 32 having the two mirror surfaces 32a and 32b is used, and the bump 2 and the pad 4 are observed by the single camera 31. There is no need to consider the error. Therefore, the shift amount between the bump 2 and the pad 4 can be easily corrected with a simple configuration in which the camera 31 and the mirror 32 are combined. Further, the number of cameras can be reduced, and the cost can be reduced.

【0046】なお、本発明は以下のように具体化するこ
ともできる。 (1)上記実施例1及び2では、最初に第1のカメラ6
でバンプ2を観察した後、第2のカメラ9でパッド4を
観察するようにしたが、反対にパッド4を観察した後、
バンプ2を観察するようにしてもよい。
The present invention can be embodied as follows. (1) In the first and second embodiments, first the first camera 6
After observing the bump 2 with, the second camera 9 was used to observe the pad 4, but after observing the pad 4 on the contrary,
The bumps 2 may be observed.

【0047】この場合、実施例1においては第1のカメ
ラ6を水平方向に移動可能に配置し、第2のカメラ9を
上下動可能に配置する。そして、第2のカメラ9でパッ
ド4を観察した後、そのカメラ9を上方の待機位置へ移
動させて、第1のカメラ6を側方から第2のカメラ9の
下方に移動させて、互いの光軸A1 ,A2 を光学的に一
致させるようにすればよい。又、実施例2においては第
1のカメラ6を水平方向に固定し、第2のカメラ9を上
下動可能に配置する。そして、第2のカメラ9でパッド
4を観察した後、そのカメラ9を上方の待機位置へ移動
させて、BGA1を側方から移動させてパッド4上に配
置するとともに、BGA1とプリント配線板3との間に
鏡面が斜め45°上方を向くミラー21を配置して、第
1のカメラ6でバンプ2を観察するようにすればよい。
In this case, in the first embodiment, the first camera 6 is arranged so as to be movable in the horizontal direction, and the second camera 9 is arranged so as to be movable up and down. Then, after observing the pad 4 with the second camera 9, the camera 9 is moved to the upper standby position, the first camera 6 is moved from the side to the lower side of the second camera 9, and The optical axes A1 and A2 may be optically matched with each other. Further, in the second embodiment, the first camera 6 is fixed in the horizontal direction, and the second camera 9 is arranged so as to be vertically movable. Then, after observing the pad 4 with the second camera 9, the camera 9 is moved to the standby position above and the BGA 1 is moved from the side to be placed on the pad 4, and the BGA 1 and the printed wiring board 3 are also arranged. The mirror 21 whose mirror surface faces obliquely upward by 45 ° may be disposed between and so that the bump 2 is observed by the first camera 6.

【0048】(2)モニタ8上に表示するバンプ2及び
パッド4の数を任意に変更してもよい。この場合、両者
の数を一致させるのが位置合わせ状況を目視で確認し易
いという点で好ましい。
(2) The number of bumps 2 and pads 4 displayed on the monitor 8 may be arbitrarily changed. In this case, it is preferable to match the numbers of both because it is easy to visually confirm the alignment condition.

【0049】(3)上記各実施例では、基板搭載台13
に装備された図示しないXステージ,Yステージ及びθ
ステージをコンピュータによって操作して、プリント配
線板3をX−Y−θ方向へ移動させるようにしたが、人
が各ステージを操作してモニタを見ながら位置合わせす
るようにしてもよい。
(3) In each of the above embodiments, the board mounting base 13
Not shown X stage, Y stage and θ
Although the printed wiring board 3 is moved in the X-Y- [theta] direction by operating the stage with a computer, a person may operate each stage to align the position while looking at the monitor.

【0050】(4)上記実施例では、第2のカメラ9に
自動焦点調節機構12を設けて第1のカメラ6の光軸A
1 と光学的に一致させるようにしたが、自動焦点調節機
構12を設けずに予め第2のカメラ9の焦点が第1のカ
メラ6のマーク11に合うように配置しておいてもよ
い。
(4) In the above embodiment, the automatic focusing mechanism 12 is provided in the second camera 9 so that the optical axis A of the first camera 6 can be obtained.
Although it is optically matched with 1, it may be arranged in advance so that the focus of the second camera 9 is aligned with the mark 11 of the first camera 6 without providing the automatic focusing mechanism 12.

【0051】(5)BGA1等の電子部品に形成された
半田バンプを半田ボール、突起電極、半田端子等の呼称
に置き換えてもよい。又、プリント配線板3の実装用パ
ッド4上に半田バンプを形成して、BGA1等を実装し
てもよい。
(5) The solder bumps formed on the electronic component such as the BGA 1 may be replaced by the names of solder balls, protruding electrodes, solder terminals and the like. Alternatively, solder bumps may be formed on the mounting pads 4 of the printed wiring board 3 to mount the BGA 1 or the like.

【0052】本発明における光軸を以下のように定義す
る。 光軸:CCD(チャージ・カップルド・デバイス)等の
固体撮像素子を撮影手段に用いるカメラに装備された光
学系レンズの中心を通る直線をいう。
The optical axis in the present invention is defined as follows. Optical axis: A straight line passing through the center of an optical system lens equipped in a camera that uses a solid-state imaging device such as a CCD (charge coupled device) as a photographing means.

【0053】上記実施例から把握できる請求項に記載し
た以外の技術思想について、以下にその効果とともに記
載する。請求項1に記載の位置合わせ方法において、コ
ンピュータにより演算されたパッド及び実装用パッドの
各座標値をモニタに表示しながら、パッドと実装用パッ
ドとのずれ量を補正するようにした。このようにすれ
ば、位置合わせ状況を目視で確認することができる。
Technical ideas other than those described in the claims which can be understood from the above-described embodiments will be described below along with their effects. In the alignment method of claim 1, while displaying the coordinate values of the pads and the mounting pads calculated by a computer to monitor and to correct the deviation amount between the pad and the mounting pad. By doing so, the alignment condition can be visually confirmed.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上詳述したように、請求項1に記載の
発明によれば、実装面にバンプが形成された半導体チッ
プや、半導体搭載装置等の電子部品を回路基板に位置合
わせする際に、バンプと実装用パッドとのずれ量を容易
に補正することができる。
As described in detail above, according to the invention described in claim 1, when aligning a semiconductor chip having bumps formed on a mounting surface or an electronic component such as a semiconductor mounting device with a circuit board. In addition, the amount of displacement between the bump and the mounting pad can be easily corrected.

【0055】請求項2に記載の発明によれば、上記効果
に加えて第2のカメラを第1のカメラ上に繰り返し配置
しても、両者の光軸を確実に一致させることができる
According to the invention described in claim 2, in addition to the above effect, even if the second camera is repeatedly arranged on the first camera, the optical axes of both can be surely matched .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例1において第1のカメラでバン
プを観察している状態を示す概略斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing a state in which a bump is observed by a first camera according to a first embodiment of the present invention.

【図2】モニタに表示されたバンプの画像データを示す
概略図である。
FIG. 2 is a schematic view showing image data of bumps displayed on a monitor.

【図3】中抜き処理されたバンプの画像データを示す概
略図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing image data of bumps subjected to hollowing processing.

【図4】第1のカメラの光軸に第2のカメラの光軸を合
わせた状態を示す概略斜視図である。
FIG. 4 is a schematic perspective view showing a state where the optical axis of the second camera is aligned with the optical axis of the first camera.

【図5】第2のカメラで実装用パッドを観察している状
態を示す概略斜視図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view showing a state of observing a mounting pad with a second camera.

【図6】バンプと実装用パッドとの画像データをモニタ
上に合成した状態を示す概略図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a state in which image data of bumps and mounting pads are combined on a monitor.

【図7】バンプと実装用パッドとを位置合わせした状態
を示す概略図である。
FIG. 7 is a schematic view showing a state in which bumps and mounting pads are aligned.

【図8】BGAをプリント配線板に実装した状態を示す
概略側面図である。
FIG. 8 is a schematic side view showing a state in which the BGA is mounted on a printed wiring board.

【図9】第2実施例において第1のカメラでバンプを観
察する状態を示す概略斜視図である。
FIG. 9 is a schematic perspective view showing a state in which bumps are observed by a first camera in the second embodiment.

【図10】ミラーを介して第2のカメラで実装用パッド
を観察している状態を示す概略斜視図である。
FIG. 10 is a schematic perspective view showing a state in which a mounting pad is observed by a second camera via a mirror.

【図11】実施例3においてベアチップとプリント配線
板3との間にミラーを配置し、このミラーを介してカメ
ラでバンプと実装用パッドとを観察している状態を示す
斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a state in which a mirror is arranged between a bare chip and a printed wiring board 3 in Example 3, and a bump and a mounting pad are observed by a camera through the mirror.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…電子部品としてのBGA、2…バンプ、3…回路基
板としてのプリント配線板、4…実装用パッド、6…第
1のカメラ、9…第2のカメラ、11…指標としてのマ
ーク、21…ミラー、31…カメラ、32a,32b…
鏡面、34…電子部品としてのベアチップ、A1 〜A3
…光軸。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... BGA as an electronic component, 2 ... Bump, 3 ... Printed wiring board as a circuit board, 4 ... Mounting pad, 6 ... 1st camera, 9 ... 2nd camera, 11 ... Mark as an index, 21 ... Mirror, 31 ... Camera, 32a, 32b ...
Mirror surface, 34 ... Bare chips as electronic parts, A1 to A3
…optical axis.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−39851(JP,A) 特開 平2−28343(JP,A) 特開 昭58−137222(JP,A) 特開 昭59−72145(JP,A) 特開 平4−65844(JP,A) 特開 平4−206534(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H01L 21/52 H04N 5/225 ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) References JP-A-60-39851 (JP, A) JP-A-2-28343 (JP, A) JP-A 58-137222 (JP, A) JP-A 59- 72145 (JP, A) JP-A-4-65844 (JP, A) JP-A-4-206534 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 H01L 21 / 52 H04N 5/225

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電子部品の実装面に形成された複数のバ
ンプと、回路基板に形成された前記バンプに対応する実
装用パッドとのいずれか一方を第1のカメラで観察し、
次に観察された前記電子部品及び回路基板のいずれか一
方を当該観察位置から移動させた後、前記第1のカメラ
の光軸に第2のカメラの光軸が光学的に一致するように
同第2のカメラを配置し、次いで前記第1のカメラで観
察されなかった前記バンプ及び実装用パッドのいずれか
一方を第2のカメラで観察し、前記第1及び第2のカメ
ラで観察した画像データに基づいて、コンピュータによ
りバンプ及び実装用パッドの各座標値を相互に対応させ
て演算し、その演算結果に基づいて電子部品及び回路基
板のいずれか一方を移動させて、バンプと実装用パッド
とのずれ量を補正するようにした電子部品を回路基板に
実装する際の位置合わせ方法。
1. A first camera observes one of a plurality of bumps formed on a mounting surface of an electronic component and a mounting pad corresponding to the bump formed on a circuit board,
After moving one of the observed electronic component and circuit board from the observation position, the optical axis of the second camera is optically aligned with the optical axis of the second camera. An image obtained by arranging a second camera, and then observing with the second camera one of the bump and the mounting pad, which was not observed with the first camera, with the first and second cameras. Based on the data, the computer calculates the coordinate values of the bump and the mounting pad in correspondence with each other, and moves either the electronic component or the circuit board based on the calculation result to move the bump and the mounting pad. A positioning method for mounting an electronic component on a circuit board that corrects the amount of deviation from
【請求項2】 前記第2のカメラを配置する際に、前記
第1のカメラの光軸に指標を設け、該指標を第2のカメ
ラによって観察しながら第1及び第2のカメラの光軸を
光学的に一致させるようにした請求項1に記載の電子部
品を回路基板に実装する際の位置合わせ方法。
2. When arranging the second camera, an index is provided on the optical axis of the first camera, and the optical axes of the first and second cameras are observed while observing the index by the second camera. The method for aligning the electronic components according to claim 1, wherein the electronic components are optically matched with each other.
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