Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3391973B2 - アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3391973B2 - アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング - Google Patents

アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング

Info

Publication number
JP3391973B2
JP3391973B2 JP04448396A JP4448396A JP3391973B2 JP 3391973 B2 JP3391973 B2 JP 3391973B2 JP 04448396 A JP04448396 A JP 04448396A JP 4448396 A JP4448396 A JP 4448396A JP 3391973 B2 JP3391973 B2 JP 3391973B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
integrated circuit
digital
digital values
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP04448396A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08305780A (ja
Inventor
エドワード オフォード グレン
リー ソンタグ ジェフレイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
AT&T Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AT&T Corp filed Critical AT&T Corp
Publication of JPH08305780A publication Critical patent/JPH08305780A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3391973B2 publication Critical patent/JP3391973B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F7/00Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
    • G06F7/02Comparing digital values

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ・ロジッ
クを用いたデジタル・パターンのマッチングに関する。
【0002】
【従来の技術】デジタル・パターンのマッチングは、通
常デジタル・ロジックを用いて作成され、そこでは入力
パターンが参照パターンに対してマッチングされる。た
とえば、一つの方法の概観図である図1では、第1の入
力の組A1 ... A4 と第2の入力の組B1 ... B4 をそ
れぞれ持つ一連のXORゲート101,...,104が
示される。さらに一般化すれば、整数nについて、n個
のXORゲートに対してn組の入力がある。「ペアの一
致」を調べるために、入力パターンの2進数が入力の第
1組になり、参照パターンの2進数は入力の第2組とさ
れる。ペアの一致が生じると、所与のXORゲートにつ
いて入力An が入力Bn と等しくなり、所与のXORゲ
ートの出力が連想制御線(105、106、107、ま
たは108)を低い状態に設定する。
【0003】しかし、ペアの不一致が生じると(すなわ
ちAn ≠Bn のとき)、連想XORゲートの出力からの
制御線は高くなる。このため、ペアの不一致の数は、第
1ステージ(109と110)およびマッチングされる
値の数によって1または複数の後続ステージ(111)
からなる一連の計数器の中でカウントすることができ
る。計数器118からの出力は、母線112を経由して
比較器113へ送られたペアの不一致の総数を表す。許
容されるペアの不一致の数、たとえば不一致2件は、母
線114を経由して比較器へ送られる。母線112にお
けるペアの不一致の数が母線114上での許容数より少
ないかまたは等しい場合には、比較器は「パターン一
致」信号を比較器の出力線115へ送る。それ以外の場
合には、「パターン不一致」の信号が出力線115へ送
られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】マッチングする値の数
が増えるにつれて、計数器118の複雑性が高まる。こ
のことは、第1ステージ計数器をより多く用意しなけれ
ばならないだけでなく、後続ステージ計数器もより多く
必要だということを意味する。こうして、入力の数
(n)の増加に従い、回路の複雑性と規模の両方が増大
し、また計数器を通過するための遅延も増大する。その
他のパターン・マッチング技術にはソフトウエア・プロ
グラムを用いるものがあるが、基本的にはそれらはハー
ドウエアを備えた技術ほど速度が速くない。
【0005】
【課題を解決するための手段】我々は、デジタル比較器
により第1の値の組が第2の値の組と比較されるデジタ
ル・パターン・マッチング技術を発明した。比較器の出
力は可制御電流源へ提供されるため、所与の電流源から
の出力電流は対応するデジタル比較器から一致の指示が
あるかどうかに依存する。電流源からの出力は合算さ
れ、総出力電流が所与の値と比較される。パターン一致
の信号は、固定値または代替的にプログラム可能な値で
ある所与の値より総出力電流が大きいか小さいかに応じ
て提供される。このようにして、第1および第2の値の
組が少なくとも部分的には望ましい範囲内で一致すると
きに、パターンの一致が表示される。
【0006】
【発明の実施の形態】以下の詳細説明は、アナログ・ロ
ジックを用いたデジタル・パターンのマッチング技術に
関する。図2によると、本発明の実施例200には排他
的NOR(XNOR)ゲート201、202、および2
03の組が含まれる。これらは、入力パターン(A1
2 、An )の数字と参照パターン(B1 、B2 、B
n )の数字とのデジタルな比較をおこなう。これらのデ
ジタル・パターンのソース(それぞれ218、219)
は、たとえば光学および音声読み取り装置など、さまざ
まな種類の装置のいずれでもよい。一実施例では、ソー
スAがデータを出力する磁気ディスクで、ソースBは磁
気ディスク上の望ましい場所を獲得したことを示す参照
パターンを提供する。
【0007】以下、例示に際し「入力パターン」および
「参照パターン」という用語を使用するが、どの2組の
数値も本発明の技術によって比較されることに注意を要
する。XNORゲート201、202、および203か
らの出力は、制御線204、205、および206を経
由して電流源207、208、および209の制御入力
へそれぞれ接続される。所与の入力のペアが不一致の場
合(すなわち一方の入力ロジックが「0」で他方の入力
ロジックが「1」のとき)、対応するXNORゲートが
下がる。この低位の出力はXNORゲートに接続された
電流源を接続状態にし、XNORゲートに対応する電流
線210、211、または212へ電流「i」を提供す
る。しかし、所与の入力のペアが一致する場合は、対応
するXNORゲートXNORゲート出力は高まる。この
高位の出力はXNORゲートに接続された電流源の接続
を切る。
【0008】接続状態にされた電流源からの電流はノー
ド213で合算され、合計電流「I」を、線214から
電流シンク215へ送る。電流シンク215には、吸収
できる電流の最大値「Imax 」がある。I<Imax のと
き、ノード213の電圧は、通常その回路がCMOS技
術に用いられたときのVSS程度の低位のままである。
他方、I>Imax のとき、ノード213の電圧は、通常
CMOS技術におけるVDD程度に上昇する。
【0009】実際には、他に電流源やシンクが存在しな
いとすれば、接続状態の電流源からノード213へ流入
する総電流は常に電流シンク215へ流入する電流Iと
等しいことに注意を要する。このため、所与の電流源ま
たはシンクを電圧が通過するとき、電流「i」と「I
max 」は公称値に対応する。しかし、ノード213の電
圧が上昇すると、電流源からの電流は公称値「i」より
低下し、電流シンクが吸収できる電流の値は公称値「I
max 」より上昇する。電流「i」の合計は総電流「I」
であり、これは電流シンクへ流入する電流と等しい。
【0010】総電流「I」が「Imax 」を越えると、ノ
ード213の電圧は上昇する。このため、Imax の値
は、望ましい範囲内で少なくとも部分的に一致するパタ
ーンを示しつつ、「パターン一致」信号がノード213
へ提供される前にいくつの入力ペア(A1 −B1 ,...
,An −Bn )がデジタルに一致しなければならない
かを決定することに注意を要する。実際には、出力ノー
ド213は通常、線217へ逆転した出力を提供するた
めにインバーター216により緩衝される。
【0011】電流源と電流シンクはアナログ設計技術で
知られているさまざまな技術を利用して作られる。その
うち、現在よく使われるものの実施例300を、図3に
示した。一列に並んだ可制御電流源は、点線で囲まれた
ブロック309に示したトランジスタで構成される。図
2の電流源207、208、および209の制御部を含
む3個のpチャンネル・トランジスタ310、311、
および312が図示される。一般に、図2に示すような
可制御電流源に対応する数の作成にあたり、同じ方法で
接続されたいくつかの(n)トランジスタが使用され
る。ゲートはそれぞれ制御線204、205、および2
06(図2)と接続する313、314、および315
へそれぞれつながる。独立の電流(i)が接続された制
御トランジスタを通り、トランジスタ317と319を
通る総電流(I)を形成するためにノード316で合算
される。バイアス・ネットワークはトランジスタ30
1、302、および304、および値Rを持つレジスタ
ー303を含む。このネットワークはトランジスタ30
7および317のゲートにバイアス電圧を発生させ、I
refおよびIの両方により高いインピーダンス電流源
をもたらす。
【0012】トランジスタ305、307、および30
8を流れる参照電流Iref は、許容される不一致の数を
表す。Iref は、Imax の値を算定するためにトランジ
スタ319を経由してミラー化され概算された電流であ
る。すなわち、接続状態の制御トランジスタの数が増え
る(XNORゲート201...203の入力におけるペ
アの不一致の数の増加のせいで)につれて、Iの値が増
加する。このため、ノード318の電圧は上昇する。
【0013】
【外1】
【0014】デジタル比較器、制御電流源、および電流
シンクは、通常単一の集積回路上に形成され、入力パタ
ーンのソースは通常その外側に設置される。参照パター
ン・ソースには、パターン・マッチング・ロジックとし
て同じ集積回路上に形成された、ハードワイヤード・ロ
ジックまたは代替的にメモリー(例、静的記憶装置、読
みだし専用メモリー、またはプログラム可能読みだし専
用メモリー)がある。しかし、他にもさまざまな作成方
法が可能である。前述の実施例では、所与の2進数の入
力ペアが不一致のとき所与の電流源が接続状態になるこ
とを示している。このため、所与の値より大きい複数の
デジタル入力ペアの不一致はノード213の上昇を引き
起こし、これによってパターン不一致を示す。
【0015】しかし、他の実施例では、所与の電流源は
所与の2進数の入力ペアが一致するときに接続状態にな
る。この場合には、ノード213の電圧の上昇はパター
ンの一致を表す。上記のデジタル2進比較器はXORゲ
ート(図1)およびXNORゲート(図2)を使用して
作成され、一般的に「排他的論理和」の働きをするもの
と考えられる。排他的論理和の機能は、業界周知のさま
ざまな回路を用いて果たすことができる。さらに、複数
レベル論理比較器は2個以上のパターンを同時に比較す
るために使用され、不一致の入力なし、不一致入力1
対、不一致入力2対などを表す複数レベル出力信号を提
供する。
【0016】電流源は、1列のpチャンネル・トランジ
スタ(309)の代わりに1列のnチャンネル・トラン
ジスタにより制御される。また、電流源とシンクについ
ては別の設計も可能である。最後に、電流シンクは固定
最大電流値(Imax )を持つものとして示してきたが、
この値をプログラム可能なものとすることもできる。こ
れは、たとえば305に平行したトランジスタを提供
し、不一致のレベルの上昇/下降に応じて適当に断続す
ることにより、簡便に達成することができる。望むなら
ば、参照パターンもプログラム化することができる。こ
のアプローチは、パターン一致と見なすにはMビット・
パターンのうちいずれかのNビットが一致しなければな
らないという「ファジー」マッチングにおいて、特に有
益である。
【図面の簡単な説明】
【図1】デジタルな値を比較する従来の技法を示す図で
ある。
【図2】本発明の実施例を示す図である。
【図3】本発明の実施に適した電流源のアレーの概要を
示す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェフレイ リー ソンタグ アメリカ合衆国 19522 ニュージャー シィ,フリートウッド,シュウエイツ ロード 93エー (56)参考文献 特表 平9−500749(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06G 7/14 H03K 19/20

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 デジタル値の第1組が少なくとも部分的
    に第2組のデジタル値と望ましい範囲内で一致するかど
    うかを示すための集積回路であって、前記集積回路は、 それぞれ前記第1組のデジタル値(218)に接続する
    ための第1入力(A1−An )と、前記第2組のデジタ
    ル値(219)に接続するための第2入力(B1−B
    n )と、出力(204−206)とを有する1組のデジ
    タル比較器(201−203)を含み、 前記の第1および第2組の1対のデジタル値が等しいと
    きに第1の電流の値を提供するため、および前記の第1
    および第2組の1対のデジタル値が等しくないときに第
    2の電流の値を提供するためにそれぞれデジタル比較器
    の出力と接続された電流源(207−209)と、前記
    の電流源からの電流(i)を合算して総電流(I)を算
    出するための電流加算器(213)とをさらに含み、 前記総電流が所与の値(Imax )を越えたときに第1の
    出力信号を提供し、前記総電流が所与の値より低いとき
    に第2の出力信号を提供する電流比較器(215)をさ
    らに含む集積回路。
  2. 【請求項2】 前記デジタル比較器が排他的論理和ゲー
    ト、または代替的に排他的否定論理和ゲートである、請
    求項1に記載の集積回路。
  3. 【請求項3】 前記電流源が前記デジタル比較器の出力
    に接続されたゲート(313−315)と、電圧源(V
    DD)に接続されたソースと、一括して共通ノード(31
    6)へ接続されたそれらのドレーンとを有する電界効果
    トランジスタ(310−312)の並列アレー(30
    9)を含む、請求項1に記載の集積回路。
  4. 【請求項4】 前記電流比較器が、最大値までの電流の
    値を吸収する電流シンクから成り、その最大値以上のと
    き前記電流シンクにかかる電圧が上昇することを特徴と
    する、請求項1に記載の集積回路。
  5. 【請求項5】 前記電流シンクが第1支線を流れる参照
    電流(Iref )と、第2支線を流れる総電流(I)とを
    有する比例的電流ミラーを含む、請求項4に記載の集積
    回路。
  6. 【請求項6】 前記第2組のデジタル値が参照パターン
    であり、前記集積回路が前記第2組のデジタル値のソー
    スをさらに含む、請求項1に記載の集積回路。
JP04448396A 1995-03-01 1996-03-01 アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング Expired - Lifetime JP3391973B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/397,700 US5550528A (en) 1995-03-01 1995-03-01 Matching of digital patterns using analog logic
US08/397700 1995-03-01

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08305780A JPH08305780A (ja) 1996-11-22
JP3391973B2 true JP3391973B2 (ja) 2003-03-31

Family

ID=23572282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04448396A Expired - Lifetime JP3391973B2 (ja) 1995-03-01 1996-03-01 アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5550528A (ja)
JP (1) JP3391973B2 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5867644A (en) * 1996-09-10 1999-02-02 Hewlett Packard Company System and method for on-chip debug support and performance monitoring in a microprocessor
US5881224A (en) * 1996-09-10 1999-03-09 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for tracking events in a microprocessor that can retire more than one instruction during a clock cycle
US5887003A (en) * 1996-09-10 1999-03-23 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for comparing a group of binary fields with an expected pattern to generate match results
US6003107A (en) * 1996-09-10 1999-12-14 Hewlett-Packard Company Circuitry for providing external access to signals that are internal to an integrated circuit chip package
US5956476A (en) * 1996-10-31 1999-09-21 Hewlett Packard Company Circuitry and method for detecting signal patterns on a bus using dynamically changing expected patterns
US5880671A (en) * 1996-10-31 1999-03-09 Hewlett-Packard Company Flexible circuitry and method for detecting signal patterns on a bus
US5956477A (en) * 1996-11-25 1999-09-21 Hewlett-Packard Company Method for processing information in a microprocessor to facilitate debug and performance monitoring
US6009539A (en) * 1996-11-27 1999-12-28 Hewlett-Packard Company Cross-triggering CPUs for enhanced test operations in a multi-CPU computer system
US5881217A (en) * 1996-11-27 1999-03-09 Hewlett-Packard Company Input comparison circuitry and method for a programmable state machine
KR100258870B1 (ko) * 1997-12-24 2000-06-15 김영환 2진 비교회로
JP3490885B2 (ja) * 1998-02-24 2004-01-26 三洋電機株式会社 コンパレータ
US6226696B1 (en) * 1998-10-29 2001-05-01 Fairchild Semiconductor Corporation Programmable circuit for sensing computer pointing devices to sink a different amount of current depending on the requirements of the device
US6374370B1 (en) 1998-10-30 2002-04-16 Hewlett-Packard Company Method and system for flexible control of BIST registers based upon on-chip events
US6169505B1 (en) * 1999-02-12 2001-01-02 Agilent Technologies, Inc. Multi-channel, parallel, matched digital-to-analog conversion method, multi-channel, parallel, matched digital-to-analog converter, and analog drive circuit incorporating same
US20050083860A1 (en) * 2003-10-15 2005-04-21 Texas Instruments Incorporated Determining distance to echo points on a wire-line medium
US6950490B1 (en) * 2004-01-05 2005-09-27 National Semiconductor Corporation Fault state detection mechanism for a ring-counter-based frequency divider-by-N that generates non-overlapping N-phases of divide-by-N clocks with 1/N duty ratio
US7193505B2 (en) * 2004-09-09 2007-03-20 Tektronix, Inc. Channel-to-channel compare
US7848257B1 (en) * 2008-10-08 2010-12-07 Sprint Spectrum L.P. Synchronizing reservation status between an access terminal and an access node
US8531209B2 (en) * 2009-01-16 2013-09-10 Tektronix, Inc. Multifunction word recognizer element
JP2021047967A (ja) * 2019-09-20 2021-03-25 キオクシア株式会社 半導体デバイス

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3036065A1 (de) * 1980-09-25 1982-05-06 Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg Binaere mos-parallel-komparatoren
US4560974A (en) * 1981-09-28 1985-12-24 Hughes Aircraft Company Real-time ordinal-value filter utilizing reference-function comparison
US4736437A (en) * 1982-11-22 1988-04-05 View Engineering, Inc. High speed pattern recognizer
US4860243A (en) * 1984-03-23 1989-08-22 Omron Tateisi Electronics Co. Fuzzy logic semifinished integrated circuit
US4694418A (en) * 1984-03-23 1987-09-15 Omron Tateisi Electronics Co. Fuzzy logic basic circuit and fuzzy logic integrated circuit operable in current mode
US4672678A (en) * 1984-06-25 1987-06-09 Fujitsu Limited Pattern recognition apparatus
US4716540A (en) * 1984-07-06 1987-12-29 Omron Tateisi Electronics Co. Multi-functional fuzzy logic circuit
US4933662A (en) * 1988-10-17 1990-06-12 Texas Instruments Incorporated Comparator having variable width comparisons
US5140538A (en) * 1988-12-27 1992-08-18 University Of Arkansas Hybrid digital-analog computer parallel processor
US5046019A (en) * 1989-10-13 1991-09-03 Chip Supply, Inc. Fuzzy data comparator with neural network postprocessor
JPH04111018A (ja) * 1990-08-30 1992-04-13 Nippon Steel Corp ディジタル値比較回路

Also Published As

Publication number Publication date
US5550528A (en) 1996-08-27
JPH08305780A (ja) 1996-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3391973B2 (ja) アナログ・ロジックを用いたデジタル・パターンのマッチング
US5329632A (en) Cache memory system, and comparator and MOS analog XOR amplifier for use in the system
US4710650A (en) Dual domino CMOS logic circuit, including complementary vectorization and integration
US6157236A (en) Parametric tuning of an integrated circuit after fabrication
CN1618022A (zh) 用于电压电平检测的输入缓冲器和方法
US4446390A (en) Low leakage CMOS analog switch circuit
US6900658B1 (en) Null convention threshold gate
JPH11249870A (ja) 二進比較回路
US4933662A (en) Comparator having variable width comparisons
US5043934A (en) Lookahead adder with universal logic gates
US5539332A (en) Adder circuits and magnitude comparator
US4229803A (en) I2 L Full adder and ALU
JPH0997839A (ja) 機能選択が可能な集積回路およびその機能選択方法
US4764749A (en) CMOS encoder circuit
JPH04302216A (ja) 差動2値信号の転送方法及び該方法を実施するための電子アセンブリ
JP3712508B2 (ja) Nビット比較器
US20020125915A1 (en) Logic gate with symmetrical propagation delay from any input to any output and a controlled output pulse width
US7106608B2 (en) Priority circuit
US6667637B1 (en) Dynamic logic circuit with beta controllable noise margin
EP0707262A1 (en) A circuit which includes cells with high fanout requirements which has a reduced RC delay
US6515533B1 (en) Multi-input comparator
US6567836B1 (en) Multi-level carry-skip adder
JPH0755618Y2 (ja) 基準電圧設定回路
US6219687B1 (en) Method and apparatus for an N-nary Sum/HPG gate
JP3214086B2 (ja) 桁上げ先見回路

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20021219

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080124

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100124

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100124

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term