JP3420904B2 - Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus - Google Patents
Lead wire loop forming method in wire bonding apparatusInfo
- Publication number
- JP3420904B2 JP3420904B2 JP33442096A JP33442096A JP3420904B2 JP 3420904 B2 JP3420904 B2 JP 3420904B2 JP 33442096 A JP33442096 A JP 33442096A JP 33442096 A JP33442096 A JP 33442096A JP 3420904 B2 JP3420904 B2 JP 3420904B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- loop
- bond
- arc
- wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/0711—Apparatus therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/0711—Apparatus therefor
- H10W72/07141—Means for applying energy, e.g. ovens or lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07502—Connecting or disconnecting of bond wires using an auxiliary member
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07521—Aligning
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5522—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤボンディン
グ装置におけるリード線のループ形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ワイヤボンディング装置では、半導体チ
ップ上のパッド(電極)とリードフレームのリード間を
結ぶリード線として、通常20〜38μmφ程度の金線
を用いている。このパッドとリード間を結ぶリード線の
ループ形状は製品品質に影響を及ぼすものであり、その
ループ形状は使用される金線の機械的性質、供給量、ボ
ンディング時のキャピラリーの移動軌跡などよって決定
される。中でも、キャピラリーの移動軌跡はループ形状
に重要な影響を与える。
【0003】図2〜図4を参照して、従来のワイヤボン
ディング装置におけるリード線のループ形成方法を説明
する。図2はワイヤボンディング時のキャピラリーの移
動軌跡図、図3は金線の供給量がループ長と同じ程度の
場合のループ形状図、図4は金線の供給量がループ長よ
りも長い場合のループ形状図である。
【0004】従来のワイヤボンディング装置において
は、図2に示すように、キャピラリー1は、第1ボンド
点(パッド)2に金線(図示せず)を接着した後、僅か
に引き上げられ、この引き上げ位置において第2ボンド
点3と反対方向へ僅かの距離引き戻された後(以後、こ
の動作を「リバース動作a」という)、第1ボンド点2
のほぼ真上のループアップ点4まで引き上げられる(以
後、この動作を「ループアップ動作b」という)。そし
て、さらに、このループアップ点4から第2ボンド点3
に向かって、ある点、例えば図示するように第1ボンド
点2を中心として半径rの円弧を描いて移動させた後
(以後、この動作を「ループダウン動作c」という)、
第2ボンド点3に金線を接着するものである。
【0005】キャピラリー1を図2のような軌跡に沿っ
て移動させた場合、形成される金線のループ形状は、そ
の供給量によって次のように変わる。すなわち、図3は
金線5の供給量をループ長と同じ程度とした場合のルー
プ形状図を示すもので、キャピラリー1は、ループダウ
ン動作c(図2参照)によって形成される基準円弧d上
を移動していくため、供給された金線5を常に引っ張る
形となる。このため、最終的に形成されるループ形状
は、リバース動作a(図2参照)によって形成した金線
5の曲がり癖6を引き延ばす形となり、十分なループ高
さを取ることができなくなる。
【0006】また、図4は金線5の供給量を曲がり癖6
を壊さない程度まで長くした場合のループ形状図を示す
もので、この時のループ形状は、金線5が余分に供給さ
れているために、曲がり癖6の部分の形状は維持できる
が、この曲がり癖6に続く直線部が垂れ下がってしま
い、金線5とチップエッジの間に十分なギャップをとる
ことができなくなる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のループ形成方法の場合、ループ形成能力に限界があ
り、多種多様の半導体デバイスへの対応が困難になって
いた。本発明は、このような問題を解決するためになさ
れたもので、ループ形成能力に優れ、多種多様の半導体
デバイスへの対応が可能なワイヤボンディング装置にお
けるループ形成方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明方法は、第1ボンド点にリード線を接着した
後、キャピラリーを僅かに引き上げてリバース動作を行
なわせ、次いでループアップ点まで引き上げた後、該ル
ープアップ点から第2ボンド点まで基準円弧に沿って移
動させるようにしたワイヤボンディング装置におけるリ
ード線のループ形成方法において、前記ループアップ点
と第2ボンド点を結ぶ基準円弧の中間適宜位置であって
当該基準円弧の内側適宜位置にステップ点を設定し、該
ステップ点とループアップ点との間は、任意に設定した
第1中心点を中心に形成される前記ステップ点とループ
アップ点を結ぶ第1の円弧に沿って前記基準円弧の内側
を移動させるとともに、前記ステップ点と第2ボンド点
との間は、任意に設定した第2中心点を中心に形成され
る前記ステップ点と第2ボンド点を結ぶ第2の円弧に沿
って前記基準円弧の内側から外側を通って第2ボンド点
に至るように移動せしめることを特徴とするものであ
る。
【0009】
【作用】上記のように構成した場合、ループアップ点か
らステップ点の間は、キャピラリーは基準円弧の内側を
通るので、リード線が引っ張られて曲がり癖が伸びるよ
うなことがなくなり、また、ステップ点から第2ボンド
点の間は、キャピラリーは基準円弧の内側から外側を通
って第2ボンド点に至るので、供給されたリード線を適
正量だけ引っ張ることができる。このため、ループ形成
時に余分な力で金線を引っ張ることがなく、また、余分
な金線を供給することもなくなるので、安定した形状の
ループを得ることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は本発明に係るループ形成方
法の一実施形態の原理説明図である。なお、説明を分か
り易くするために、前述した従来例と同一の部分には同
一の符号を付して示した。
【0011】本発明方法が、前述した従来のループ形成
方法と異なる点は、ループアップ点4から第2ボンド点
6に至るループダウン動作の途中にステップ点7を設定
し、このステップ点7を中継点として、2段階のループ
ダウン動作e,fを行なわせるようにした点である。
【0012】すなわち、本発明方法は、従来のループダ
ウン動作cによって形成される基準円弧dの中間適宜位
置であって基準円弧dの内側に位置してステップ点7を
設定し、このステップ点7とループアップ点5との間
は、任意に設定した第1中心点C1 を中心に形成される
半径r1 の第1の円弧gに沿って第1のループダウン動
作eを行なわせ、キャピラリー1を基準円弧dの内側を
移動させるようにし、さらに、ステップ点7と第2ボン
ド点3との間は、任意の第2中心点C2 を中心に形成さ
れる半径r2 の第2の円弧hに沿って第2のループダウ
ン動作fを行なわせ、キャピラリー1を基準円弧dの内
側から外側を通って第2ボンド点3に至るように構成し
たものである。
【0013】前記第1中心点C1 の位置は、ループアッ
プ点5とステップ点7を円弧で結ぶことのできる半径位
置であればよく、また、前記第2中心点C2 の位置は、
ステップ点7と第2ボンド点3間を円弧で結ぶととも
に、該円弧が基準円弧の内側から外側を通って第2ボン
ド点に至るような半径位置であればよい。
【0014】このように、ステップ点7を中に挟んで2
段階のループダウン動作を行なわせると、ループアップ
点5からステップ点7に至る第1のループダウン動作e
時には、キャピラリー1は基準円弧dの内側を通るの
で、金線5が引っ張られて曲がり癖6が伸びることがな
くなり、また、ステップ点7から第2ボンド点3に至る
第2のループダウン動作f時には、キャピラリー1は基
準円弧dの内側から外側へ抜け出て第2ボンド点3に至
るように移動するので、金線5を適正量だけ引っ張るこ
とができる。
【0015】この結果、ループ形成時に余分な力で金線
を引っ張ることがなく、また、余分な金線を供給するこ
ともなくなるので、図4に示したように、最終的に金線
5のループ形状は曲がり癖6がそのまま残るとともに、
この曲がり癖6に続く金線部分が直線的に伸びた安定し
た形状のループを得ることができる。このため、十分な
ループ高さをとることができると同時に、金線とチップ
エッジ間にも十分なギャップをとることができ、どのよ
うな半導体デバイスに対しても用いることが可能とな
る。
【0016】なお、前記の例では、リード線として金線
を用いたが、他の金属線を用いた場合であっても同様に
実施できることは勿論である。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明方法による
ときは、ループアップ点と第2ボンド点を結ぶ基準円弧
の中間適宜位置であって当該基準円弧の内側適宜位置に
ステップ点を設定し、該ステップ点とループアップ点と
の間は、任意に設定した第1中心点を中心に形成される
前記ステップ点とループアップ点を結ぶ第1の円弧に沿
って前記基準円弧の内側を移動させるとともに、前記ス
テップ点と第2ボンド点との間は、任意に設定した第2
中心点を中心に形成される前記ステップ点と第2ボンド
点を結ぶ第2の円弧に沿って前記基準円弧の内側から外
側を通って第2ボンド点に至るように移動せしめるよう
にしたので、ループ形成時に余分な力でリード線を引っ
張ることがなく、また、余分なリード線を供給すること
もなくなり、リード線が垂れることのない安定した形状
のループを形成することができる。このため、どのよう
な半導体デバイスに対しても適用することが可能とな
る。また、ループ形状が安定するため、不良品の発生率
が小さくなり、生産効率も向上できる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a lead wire loop in a wire bonding apparatus. In a wire bonding apparatus, a gold wire of about 20 to 38 μmφ is usually used as a lead wire connecting a pad (electrode) on a semiconductor chip and a lead of a lead frame. The loop shape of the lead wire connecting the pad and the lead affects the product quality. The loop shape is determined by the mechanical properties of the gold wire used, the supply amount, the movement trajectory of the capillary during bonding, etc. Is done. Among these, the movement trajectory of the capillary has an important influence on the loop shape. A method of forming a lead wire loop in a conventional wire bonding apparatus will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a movement locus diagram of a capillary during wire bonding, FIG. 3 is a loop shape diagram when the supply amount of the gold wire is about the same as the loop length, and FIG. 4 is a case where the supply amount of the gold wire is longer than the loop length. It is a loop shape figure. In the conventional wire bonding apparatus, as shown in FIG. 2, the capillary 1 is slightly lifted after a gold wire (not shown) is bonded to the first bond point (pad) 2 and then pulled up. After a slight distance is pulled back in the opposite direction to the second bond point 3 at this position (hereinafter, this operation is referred to as “reverse operation a”), the first bond point 2
Is raised to a loop-up point 4 almost immediately above (this operation is hereinafter referred to as “loop-up operation b”). Further, from the loop-up point 4 to the second bond point 3
Toward a certain point, for example, a circular arc having a radius r about the first bond point 2 as shown in the drawing, and moving (hereinafter, this operation is referred to as “loop-down operation c”).
A gold wire is bonded to the second bond point 3. When the capillary 1 is moved along a locus as shown in FIG. 2, the loop shape of the gold wire to be formed changes as follows according to the supply amount. That is, FIG. 3 shows a loop shape diagram when the supply amount of the gold wire 5 is made the same as the loop length, and the capillary 1 is on the reference arc d formed by the loop-down operation c (see FIG. 2). Therefore, the supplied gold wire 5 is always pulled. For this reason, the loop shape finally formed becomes a shape in which the bent wire 6 of the gold wire 5 formed by the reverse operation a (see FIG. 2) is extended, and a sufficient loop height cannot be obtained. FIG. 4 also shows that the supply amount of the gold wire 5 is bent.
The shape of the loop is shown in the case where it is lengthened to the extent that it does not break. The loop shape at this time can maintain the shape of the bent portion 6 because the extra gold wire 5 is supplied. The straight line portion following the bend 6 hangs down, and a sufficient gap cannot be formed between the gold wire 5 and the chip edge. As described above, in the case of the conventional loop forming method, the loop forming ability is limited, and it is difficult to cope with a wide variety of semiconductor devices. The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a loop forming method in a wire bonding apparatus that is excellent in loop forming ability and can cope with a wide variety of semiconductor devices. . In order to achieve the above object, according to the method of the present invention, after bonding a lead wire to the first bond point, the capillary is lifted slightly to perform a reverse operation, and then a loop is performed. In a method for forming a lead wire loop in a wire bonding apparatus that is moved along a reference arc from the loop-up point to the second bond point after being pulled up to the up point, the loop-up point and the second bond point are connected. A step point is set at an appropriate position in the middle of the reference arc and at an appropriate position inside the reference arc, and the step point and the loop-up point are formed around the arbitrarily set first center point. Move the inside of the reference arc along the first arc connecting the step point and the loop-up point, and between the step point and the second bond point , Along the second arc connecting the step point and the second bond point formed around the arbitrarily set second center point, from the inside to the outside of the reference arc to the second bond point It is characterized by being moved to. In the case of the construction as described above, since the capillary passes inside the reference arc from the loop-up point to the step point, the lead wire is not pulled and the bending fold does not extend, Further, since the capillary reaches the second bond point from the inside of the reference arc through the outside between the step point and the second bond point, the supplied lead wire can be pulled by an appropriate amount. For this reason, the gold wire is not pulled with an extra force when forming the loop, and the extra gold wire is not supplied, so that a loop having a stable shape can be obtained. DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of an embodiment of a loop forming method according to the present invention. For ease of explanation, the same parts as those in the above-described conventional example are denoted by the same reference numerals. The method of the present invention differs from the conventional loop formation method described above in that a step point 7 is set during the loop-down operation from the loop-up point 4 to the second bond point 6, and this step point 7 is As a relay point, two-stage loop-down operations e and f are performed. That is, according to the method of the present invention, the step point 7 is set at an appropriate position in the middle of the reference arc d formed by the conventional loop-down operation c and inside the reference arc d. The first loop-down operation e is performed between the first and second loop-up points 5 and 5 along a first arc g having a radius r 1 formed around a first center point C 1 set arbitrarily. 1 is moved inside the reference arc d, and the second point having a radius r 2 formed around an arbitrary second center point C 2 is formed between the step point 7 and the second bond point 3. A second loop-down operation f is performed along the arc h, and the capillary 1 is configured to reach the second bond point 3 from the inside to the outside of the reference arc d. The position of the first center point C 1 may be a radial position where the loop-up point 5 and the step point 7 can be connected by an arc, and the position of the second center point C 2 is
The step point 7 and the second bond point 3 may be connected by a circular arc, and the radial position may be such that the circular arc passes from the inside to the second bond point of the reference arc. Thus, step point 7 is sandwiched between 2
When the loop-down operation is performed in stages, the first loop-down operation e from the loop-up point 5 to the step point 7 e
Sometimes, the capillary 1 passes through the inside of the reference arc d, so that the gold wire 5 is not pulled and the bend 6 does not extend, and the second loop-down operation f from the step point 7 to the second bond point 3 f. Sometimes, the capillary 1 moves from the inside to the outside of the reference arc d and reaches the second bond point 3, so that the gold wire 5 can be pulled by an appropriate amount. As a result, the gold wire is not pulled with an extra force when the loop is formed, and the extra gold wire is not supplied. Therefore, as shown in FIG. The loop shape is bent and the saddle 6 remains,
It is possible to obtain a loop having a stable shape in which the gold wire portion following the bend 6 extends linearly. For this reason, a sufficient loop height can be obtained, and at the same time, a sufficient gap can be formed between the gold wire and the chip edge, which can be used for any semiconductor device. In the above example, a gold wire is used as the lead wire, but it goes without saying that the present invention can be similarly implemented even when another metal wire is used. As described above, according to the method of the present invention, the step point is positioned at an appropriate position in the middle of the reference arc connecting the loop-up point and the second bond point and at an appropriate position inside the reference arc. Between the step point and the loop-up point, the reference arc of the reference arc is formed along a first arc connecting the step point and the loop-up point formed around the arbitrarily set first center point. While moving the inside, the second point arbitrarily set between the step point and the second bond point
Since it is made to move from the inside of the reference arc to the second bond point along the second arc connecting the step point formed around the center point and the second bond point, When the loop is formed, the lead wire is not pulled with an extra force, and no extra lead wire is supplied, so that a loop having a stable shape in which the lead wire does not sag can be formed. Therefore, it can be applied to any semiconductor device. Moreover, since the loop shape is stable, the occurrence rate of defective products is reduced, and the production efficiency can be improved.
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のループ形成方法の原理説明図である。
【図2】従来のループ形成方法におけるキャピラリーの
移動軌跡図である。
【図3】従来のループ形成方法において金線の供給量が
ループ長と同じ程度の場合のループ形状図である。
【図4】従来のループ形成方法において金線の供給量が
ループ長よりも長い場合のループ形状図である。
【符号の説明】
1 キャピラリー
2 第1ボンド点(パッド)
3 第2ボンド点(リード)
4 リープアップ点
5 金線(リード線)
6 曲がり癖
7 ステップ点
8 金線(リード線)
a リバース動作
b ループアップ動作
c ループダウン動作
d 基準円弧
e 第1のループダウン動作
f 第2のループダウン動作
g 第1の円弧
h 第2の円弧
C1 第1中心点
C2 第2中心点
r1 第1の円弧の半径
r2 第2の円弧の半径BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of a loop forming method according to the present invention. FIG. 2 is a movement locus diagram of a capillary in a conventional loop forming method. FIG. 3 is a loop shape diagram in the case where the supply amount of the gold wire is about the same as the loop length in the conventional loop forming method. FIG. 4 is a loop shape diagram when the supply amount of the gold wire is longer than the loop length in the conventional loop forming method. [Explanation of Symbols] 1 Capillary 2 First bond point (pad) 3 Second bond point (lead) 4 Leap-up point 5 Gold wire (lead wire) 6 Bending bar 7 Step point 8 Gold wire (lead wire) a Reverse operation b Loop-up operation c Loop-down operation d Reference arc e First loop-down operation f Second loop-down operation g First arc h Second arc C 1 First center point C 2 Second center point r 1 Radius of arc 1 r 2 radius of second arc
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−42135(JP,A) 特開 平4−33346(JP,A) 特開 昭62−140427(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 ──────────────────────────────────────────────────── ----- Continuation of the front page (56) References JP-A 63-42135 (JP, A) JP-A 4-33346 (JP, A) JP-A 62-140427 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60
Claims (1)
キャピラリーを僅かに引き上げてリバース動作を行なわ
せ、次いでループアップ点まで引き上げた後、該ループ
アップ点から第2ボンド点まで基準円弧に沿って移動さ
せるようにしたワイヤボンディング装置におけるリード
線のループ形成方法において、 前記ループアップ点と第2ボンド点を結ぶ基準円弧の中
間適宜位置であって当該基準円弧の内側適宜位置にステ
ップ点を設定し、 該ステップ点とループアップ点との間は、任意に設定し
た第1中心点を中心に形成される前記ステップ点とルー
プアップ点を結ぶ第1の円弧に沿って前記基準円弧の内
側を移動させるとともに、 前記ステップ点と第2ボンド点との間は、任意に設定し
た第2中心点を中心に形成される前記ステップ点と第2
ボンド点を結ぶ第2の円弧に沿って前記基準円弧の内側
から外側を通って第2ボンド点に至るように移動せしめ
ることを特徴とするワイヤボンディング装置におけるリ
ード線のループ形成方法。(57) [Claims] [Claim 1] After bonding a lead wire to the first bond point,
Loop formation of a lead wire in a wire bonding apparatus in which a capillary is pulled up slightly to perform a reverse operation and then pulled up to a loop-up point and then moved along the reference arc from the loop-up point to the second bond point In the method, a step point is set at an appropriate position in the middle of the reference arc connecting the loop-up point and the second bond point, and at an appropriate position inside the reference arc, and an arbitrary interval between the step point and the loop-up point is set. The inside of the reference arc is moved along a first arc connecting the step point and the loop-up point formed with the first center point set to be between the step point and the second bond point. Is a step point formed around an arbitrarily set second center point and the second point.
A method of forming a loop of a lead wire in a wire bonding apparatus, wherein the lead wire is moved along the second arc connecting the bond points from the inside of the reference arc to the second bond point through the outside.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33442096A JP3420904B2 (en) | 1996-12-02 | 1996-12-02 | Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33442096A JP3420904B2 (en) | 1996-12-02 | 1996-12-02 | Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10163244A JPH10163244A (en) | 1998-06-19 |
| JP3420904B2 true JP3420904B2 (en) | 2003-06-30 |
Family
ID=18277182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33442096A Expired - Lifetime JP3420904B2 (en) | 1996-12-02 | 1996-12-02 | Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3420904B2 (en) |
-
1996
- 1996-12-02 JP JP33442096A patent/JP3420904B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10163244A (en) | 1998-06-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3189115B2 (en) | Semiconductor device and wire bonding method | |
| JP3996216B2 (en) | Improved capillary and fine pitch ball bonding method | |
| JP3455092B2 (en) | Semiconductor device and wire bonding method | |
| JP3333413B2 (en) | Wire bonding method | |
| JP2000114304A (en) | Wire bonding method | |
| JP3370539B2 (en) | Wire bonding method | |
| US9824959B2 (en) | Structure and method for stabilizing leads in wire-bonded semiconductor devices | |
| JPH0917819A (en) | Wiring method in the manufacture of microelectronic devices | |
| KR910000154B1 (en) | Semiconductor device and preparation there of and bonding wire used there of | |
| US6036080A (en) | Wire bonding method | |
| JPH10189647A (en) | Capillary for wire bonding and bonding method | |
| US6182885B1 (en) | Wire bonding method | |
| JP3049515B2 (en) | Wire bonding method | |
| JP3420904B2 (en) | Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus | |
| JP3420905B2 (en) | Lead wire loop forming method in wire bonding apparatus | |
| JP3128718B2 (en) | Wire bonding method | |
| US6155474A (en) | Fine pitch bonding technique | |
| JP3455126B2 (en) | Wire bonding method | |
| JPH04255237A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| JP4369401B2 (en) | Wire bonding method | |
| JP2976947B2 (en) | Bump forming method | |
| JP3252153B2 (en) | Method and bonding tool for forming raised contact metallization | |
| JP3532361B2 (en) | Method for forming protruding electrode on IC electrode | |
| JPH01244654A (en) | Lead frame | |
| JPH04369235A (en) | Fabrication of semiconductor device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090418 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100418 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120418 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130418 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130418 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140418 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |