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JP3450040B2 - Monitoring equipment for electron beam processing machines - Google Patents
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JP3450040B2 - Monitoring equipment for electron beam processing machines - Google Patents

Monitoring equipment for electron beam processing machines

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JP3450040B2
JP3450040B2 JP35451393A JP35451393A JP3450040B2 JP 3450040 B2 JP3450040 B2 JP 3450040B2 JP 35451393 A JP35451393 A JP 35451393A JP 35451393 A JP35451393 A JP 35451393A JP 3450040 B2 JP3450040 B2 JP 3450040B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子ビーム加工機の監
視装置に係り、さらに詳しくは、電子ビーム加工機の作
動状態によって値が変化する情報に基づいて、電子ビー
ム加工機の構成部品の劣化を監視するための監視装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a monitoring device for an electron beam processing machine, and more particularly, to a component of the electron beam processing machine based on information whose value changes depending on the operating state of the electron beam processing machine. The present invention relates to a monitoring device for monitoring deterioration.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば、電子ビーム加工機として
の電子ビーム溶接機は、複数の点検箇所に対して、作業
員による1ケ月、3ケ月等の周期的な定期点検が実施さ
れており、また、電子ビーム溶接機の構成部品、例え
ば、真空状態とされる溶接作業室内をシールするための
シールリング等は定期的に新規なものと交換されてい
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, in an electron beam welding machine as an electron beam processing machine, a worker carries out periodical periodic inspections for one month, three months, etc. Further, the components of the electron beam welding machine, such as a seal ring for sealing the inside of the welding work chamber in a vacuum state, are regularly replaced with new ones.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の作
業員による定期点検では、作業員の個人差などによる判
断ミス等の問題が生じ、また、定期点検前に異常が生じ
た場合には、直ちに対処することができなかった。ま
た、電子ビーム溶接機のシールリング等の構成部品をそ
の劣化の程度に拘りなく定期的に交換するため、保全費
の増大を招くという問題があった。
However, in the above-mentioned conventional periodical inspection by the worker, if a problem such as a judgment error due to individual differences of the worker occurs, or if an abnormality occurs before the periodical inspection, I couldn't deal with it immediately. Further, since the components such as the seal ring of the electron beam welding machine are regularly replaced regardless of the degree of deterioration thereof, there is a problem that maintenance costs increase.

【0004】本発明の目的は、電子ビーム加工機の構成
部品の劣化を予知して対処することができる電子ビーム
加工機の監視装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a monitoring device for an electron beam processing machine, which can predict and cope with deterioration of components of the electron beam processing machine.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の電子ビーム加工
機の監視装置は、真空状態とされる作業室内の被加工物
に電子ビームを照射して、該被加工物を加工する電子ビ
ーム加工機の監視装置であって、前記電子ビーム加工機
の作動状態によって値が変化する情報を検出する検出手
段と、前記検出手段によって検出された検出情報の値の
所定の単位期間毎の平均値を求める平均値演算手段と、
前記平均値演算手段によって求められた平均値の履歴か
ら前記検出情報の値の今後の変化を予測する予測手段
と、前記予測手段が予測した検出情報の値が所定のしき
い値に到達するまでの余裕期間を求める余裕期間演算手
段と、前記余裕期間が所定の警戒期間内になったときに
警報を発する第1の警報手段とを備えたことを特徴とす
る。
An electron beam processing machine monitoring apparatus according to the present invention irradiates an electron beam to a workpiece in a work chamber in a vacuum state to process the workpiece. A monitoring device for a machine, a detection means for detecting information whose value changes depending on the operating state of the electron beam processing machine, and an average value of the values of the detection information detected by the detection means for each predetermined unit period. Means for calculating the average value,
Prediction means for predicting future changes in the value of the detection information from the history of average values obtained by the average value calculation means, and until the value of the detection information predicted by the prediction means reaches a predetermined threshold value And a first alarm means for issuing an alarm when the margin period is within a predetermined warning period.

【0006】[0006]

【作用】本発明の電子ビーム加工機の監視装置は、電子
ビーム加工機の作動状態に応じて値が変化する情報を検
出し、そして、その検出情報の所定の単位時間毎の平均
値の履歴から、その検出情報の値が所定のしきい値に到
達するまでの余裕期間を予測して、その余裕期間が所定
の警戒期間内になったときに警報を発する。したがって
電子ビーム加工機の構成部品の劣化を予知して警報を発
することになる。
The monitoring device for an electron beam processing machine according to the present invention detects information whose value changes in accordance with the operating state of the electron beam processing machine, and records the average value of the detected information for each predetermined unit time. From this, a margin period until the value of the detection information reaches a predetermined threshold value is predicted, and an alarm is issued when the margin period falls within a predetermined warning period. Therefore, an alarm is issued by predicting the deterioration of the components of the electron beam processing machine.

【0007】また、例えば、電子ビーム溶接機の場合に
は、その構成部品の劣化を予知して、電子ビーム溶接機
の作業能率の悪化や溶接の品質悪化等を未然に回避する
ことを可能とする。
Further, for example, in the case of an electron beam welding machine, it is possible to predict deterioration of its components and avoid the deterioration of work efficiency of the electron beam welding machine and the deterioration of welding quality. To do.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0009】本実施例は、ワーク(被溶接物)Wを電子
ビーム溶接するための電子ビーム溶接機の監視装置とし
ての適用例である。そこで、まず、その電子ビーム溶接
機を図1,図2および図3に基づいて簡単に説明する。
The present embodiment is an application example as a monitoring device of an electron beam welding machine for electron beam welding a work (workpiece) W. Therefore, first, the electron beam welding machine will be briefly described with reference to FIGS. 1, 2 and 3.

【0010】「電子ビーム溶接機について」本例の電子
ビーム溶接機は、真空室(溶接作業室)R内にてワーク
Wを上下方向の軸線O1 を中心として回転させつつ、そ
の軸線O1 上から外れたワークWの上部に電子ビームE
B(図2参照)を照射することによって、ワークWの上
部をその回転方向に沿って連続的に溶接する構成となっ
ている。図2において、15は電子ビームEBを発生す
るための電子銃である。真空室Rは、開閉バルブ(「コ
ラムバルブ」ともいう)1を介して互いに連通されるチ
ャンバ室R1 とコラム室R2 とによって形成されてお
り、コラム室R2 内には、図示しない高圧電源に接続さ
れるフィラメント2が備えられている。また、チャンバ
室R1 およびコラム室R2 のそれぞれは、真空ポンプを
備えた個別の排気系によって真空状態とされる。チャン
バ室R1 の下方には、その下側開口部に着脱可能な蓋体
3が備えられている。本例の場合、この蓋体3は、上下
方向の軸線O2 を中心として回転する回転体4に、その
周方向に沿って等間隔的に計4つ配備されており、回転
体4の回転に応じて、蓋体3が択一的にチャンバ室R1
の下方に位置する。各蓋体3は、回転体4に対して昇降
自在とされ、さらに、ワークWを載置可能な回転テーブ
ル5が上下方向の軸線を中心として回転自在に備えられ
ている。
[0010] "About electron beam welding machine" this example an electron beam welding machine, while rotating the workpiece W about the axis O 1 of the vertical in a vacuum chamber (welding chamber) R, the axis O 1 Electron beam E on top of work W
By irradiating B (see FIG. 2), the upper portion of the work W is continuously welded along its rotation direction. In FIG. 2, reference numeral 15 is an electron gun for generating the electron beam EB. The vacuum chamber R is formed by a chamber chamber R 1 and a column chamber R 2 which are communicated with each other through an opening / closing valve (also referred to as “column valve”) 1, and the column chamber R 2 has a high pressure (not shown). A filament 2 connected to the power supply is provided. Further, each of the chamber chamber R 1 and the column chamber R 2 is brought into a vacuum state by an individual exhaust system equipped with a vacuum pump. Below the chamber R 1 , there is provided a lid 3 which is attachable to and detachable from the lower opening. In the case of this example, a total of four lids 3 are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the rotating body 4 that rotates about the vertical axis O 2. depending on the lid 3 is alternatively chamber chamber R 1
Located below. Each lid 3 is movable up and down with respect to the rotating body 4, and a rotary table 5 on which a work W can be mounted is further provided so as to be rotatable around an axis line in the vertical direction.

【0011】そして、チャンバ室R1 の下方に位置した
蓋体3は、シリンダ6に押されて上昇し、図2に示すよ
うにチャンバ室R1 の下側開口部を閉塞する。さらに、
その蓋体3に備わる回転テーブル5が交流モータ(電動
モータ)7の駆動力により回転される。すなわち、シリ
ンダ6が上方へ伸長することによって、回転テーブル5
の回転軸5Aの下端に駆動軸8の上端が連結され、その
駆動軸8がギアボックス9内のギア10,11,12、
およびスプライン軸13を介してモータ7により回転さ
れる。ギア12とスプライン軸13はスプライン嵌合し
て、シリンダ6の伸縮に拘らずモータ7の回転力を伝達
する。
The lid 3 located below the chamber R 1 is pushed up by the cylinder 6 and rises to close the lower opening of the chamber R 1 as shown in FIG. further,
A rotary table 5 provided on the lid 3 is rotated by a driving force of an AC motor (electric motor) 7. That is, when the cylinder 6 extends upward, the rotary table 5
The upper end of the drive shaft 8 is connected to the lower end of the rotary shaft 5A of the drive shaft 8, and the drive shaft 8 is connected to the gears 10, 11, 12 in the gear box 9,
And is rotated by the motor 7 via the spline shaft 13. The gear 12 and the spline shaft 13 are spline-fitted to each other to transmit the rotational force of the motor 7 regardless of expansion and contraction of the cylinder 6.

【0012】結局、本例の電子ビーム溶接機は、回転体
4を回転させて4つの回転テーブル5を順次にチャンバ
室R1 内に位置させることによって、それらの回転テー
ブル5に対する溶接前のワークWの取付け、そのワーク
Wの溶接、および溶接終了後のワークWの取外しを連続
的に実施できることになる。
After all, in the electron beam welding machine of this example, the rotary body 4 is rotated to sequentially position the four rotary tables 5 in the chamber R 1 , so that the workpieces before the rotary tables 5 are welded to the rotary tables 5. It is possible to continuously mount W, weld the work W, and remove the work W after the welding is completed.

【0013】図3において15,16は、チャンバ室R
1 の排気系に備わる真空ポンプであり、また17,18
は、コラム室R2 の排気系に備わる真空ポンプである。
ワークWの溶接に際しては、コラム室R2 内が既に所定
の真空状態にまで真空引き(排気)されていることを前
提した場合では、まず、大気に開放されたチャンバ室R
1 内にワークWを位置させてから、そのチャンバ室R1
を閉じる。そして、チャンバ室R1 内を溶接可能な真空
状態にまで真空引き(排気)してからバルブ1を開き、
そしてワークWを回転させつつ、その上部に電子ビーム
EBを照射して、そのワークWを溶接する。チャンバ室
1 内の真空引きは、溶接が終了するまで続行される。
溶接終了後は、バルブ1を閉じてからチャンバ室R1
開き、その内部から溶接ずみのワークWを取り出す。そ
して、コラム室R2 内を所定の真空状態にまで排気す
る。以降、同様の動作を繰り返して、ワークWの溶接を
実施する。
In FIG. 3, reference numerals 15 and 16 designate chamber chambers R.
It is a vacuum pump equipped in the exhaust system of 1 , and also 17,18
Is a vacuum pump provided in the exhaust system of the column chamber R 2 .
When welding the work W, assuming that the inside of the column chamber R 2 has already been evacuated (exhausted) to a predetermined vacuum state, first, the chamber chamber R opened to the atmosphere.
After placing the work W in the chamber 1 , the chamber R 1
Close. Then, the inside of the chamber R 1 is evacuated (evacuated) to a vacuum state where welding is possible, and then the valve 1 is opened.
Then, while rotating the work W, the electron beam EB is irradiated onto the upper part of the work W to weld the work W. The evacuation of the chamber R 1 is continued until the welding is completed.
After the welding is completed, the valve 1 is closed, the chamber R 1 is opened, and the welded work W is taken out from the inside. Then, the inside of the column chamber R 2 is exhausted to a predetermined vacuum state. After that, the same operation is repeated to weld the work W.

【0014】本発明に係る監視装置は、このような電子
ビーム溶接機において、その作動状態によって変化する
情報に基づき、その情報に関係する構成部品の劣化を監
視する。次に、その監視装置を実施例毎に説明する。
In such an electron beam welding machine, the monitoring device according to the present invention monitors the deterioration of the component parts related to the information based on the information that changes depending on the operating state. Next, the monitoring device will be described for each embodiment.

【0015】「第1の実施例の監視装置の構成」本例の
監視装置は、チャンバ室R1 内の排気を開始してから、
そのチャンバ室R1 内が溶接可能な真空状態となるまで
の排気時間Tを監視情報としている。この排気時間T
は、チャンバ室R1 をシールするためのシールリングの
劣化、真空ポンプ15,16のポンプ油の変化やカーボ
ンの付着などによる能力低下等に起因して長くなる。
[Structure of the Monitoring Device of the First Embodiment] The monitoring device of the present embodiment, after starting the exhaust of the chamber R 1 ,
The evacuation time T until the inside of the chamber R 1 becomes a vacuum state where welding is possible is used as the monitoring information. This exhaust time T
Is long due to deterioration of the seal ring for sealing the chamber R 1 , deterioration of the performance of the vacuum pumps 15 and 16 due to changes in pump oil, adhesion of carbon, and the like.

【0016】その経過時間Tを検出するために、図4に
示すように、圧力検出手段20A、排気動作の開始時期
検出手段20B、および排気時間の計測手段(検出手
段)21が備えられている。圧力検出手段20Aは、チ
ャンバ室R1 内の圧力を検出するための圧力センサであ
り、例えば、チャンバ室R2 の内壁に備えられている。
排気動作の開始時期検出手段20Bは、真空ポンプ1
5,16の作動状態に基づいてチャンバ室R1 内の排気
引きの開始時期を検出するためのものであり、例えば、
真空ポンプ15,16の駆動信号の出力時期を検出する
構成となっている。計測手段21は、後述するように、
検出手段20A,20Bの検出内容に基づいて排気時間
Tを計測する。さらに本例の監視装置には、その排気時
間Tに基づいて機能する平均値演算手段22、予測手段
23、余裕期間演算手段24、第1,第2の警報手段2
5,26、および表示手段27が備えられている。これ
らの機能は動作と共に後述する。
In order to detect the elapsed time T, as shown in FIG. 4, a pressure detecting means 20A, an exhaust operation start timing detecting means 20B, and an exhaust time measuring means (detecting means) 21 are provided. . Pressure detecting means 20A is a pressure sensor for detecting the pressure in the chamber chamber R 1, for example, are provided on the inner wall of the chamber room R 2.
The exhaust operation start timing detection unit 20B is the vacuum pump 1
This is for detecting the start timing of the evacuation of the inside of the chamber R 1 based on the operating states of 5, 16 and, for example,
It is configured to detect the output timing of the drive signals of the vacuum pumps 15 and 16. The measuring means 21 is, as described later,
The exhaust time T is measured based on the detection content of the detection means 20A, 20B. Further, in the monitoring device of this example, the average value calculating means 22, the predicting means 23, the margin period calculating means 24, and the first and second alarm means 2 which function based on the exhaust time T thereof.
5, 26 and display means 27 are provided. These functions will be described later together with the operation.

【0017】次に、本実施例の監視装置の動作を図5お
よび図6のフローチャートにしたがって説明する。
Next, the operation of the monitoring apparatus of this embodiment will be described with reference to the flow charts of FIGS.

【0018】「第1の実施例の監視装置による監視動
作」まず、チャンバ室R1 内の真空引きの開始(ステッ
プS1A)を検出手段20Bにより検出し、その検出時
点t0 (図7参照)から、計測手段21が排気時間T
(例えば、0.1秒単位)の計測を開始する(ステップ
S1B)。そして、チャンバ室R1 内が溶接可能な真空
状態となったことを条件として(ステップS1C)、つ
まり圧力検出手段20Aによってチャンバ室R1 内の圧
力が溶接可能な圧力V0 (図7参照)となったことを条
件として、排気時間Tの値が確定する(図7参照)。そ
して、その時間T(以下「検出時間T」ともいう)が所
定の比較基準値TMAX を越えたときに異常警報を発生す
る(ステップS2,S3,S4)。このような警報機能
は、第2の警報手段26の警報部26A(図4参照)が
例えば、表示手段27におけるCRT等の表示部27A
(図4参照)に警報内容を表示することによって果し、
また比較基準値TMAX の設定機能はしきい値設定部26
B(図4参照)が果すことになる。検出時間Tがこの基
準値TMAX を越えたときに、チャンバ室R1 のシールリ
ングの劣化や真空ポンプ15,16の能力低下など(以
下「チャンバ室R1 の関連部品の性能劣化」という)が
生じたと判定する。このように1回の溶接作業毎に検出
される時間Tはデータとして蓄積し、そして、以下のよ
うな(検出時間Tのデータ処理)を行う。
"Monitoring operation by the monitoring device of the first embodiment" First, the detection means 20B detects the start of the evacuation of the chamber R 1 (step S1A), and the detection time point t 0 (see FIG. 7). From the measuring means 21 to the exhaust time T
Measurement (for example, in 0.1 second units) is started (step S1B). Then, on condition that the inside of the chamber R 1 is in a weldable vacuum state (step S1C), that is, the pressure inside the chamber R 1 is weldable pressure V 0 by the pressure detection means 20A (see FIG. 7). The value of the exhaust time T is determined on the condition that the above condition is satisfied (see FIG. 7). Then, when the time T (hereinafter also referred to as "detection time T") exceeds a predetermined comparison reference value T MAX , an abnormality alarm is issued (steps S2, S3, S4). In such an alarm function, the alarm unit 26A (see FIG. 4) of the second alarm unit 26 is, for example, a display unit 27A such as a CRT in the display unit 27.
This is achieved by displaying the alarm details on (see Fig. 4),
Further, the setting function of the comparison reference value T MAX has a threshold setting unit 26.
B (see FIG. 4) will be fulfilled. When the detection time T exceeds the reference value T MAX , deterioration of the seal ring of the chamber R 1 and deterioration of the capacity of the vacuum pumps 15 and 16 (hereinafter referred to as “degradation of performance of related components of the chamber R 1 ”) Is determined to have occurred. In this way, the time T detected for each welding operation is accumulated as data, and the following (data processing of the detection time T) is performed.

【0019】(検出時間Tのデータ処理)まず、1時間
毎、1日毎、および1ケ月毎の検出時間Tの平均値を算
出すべく、それらの経過時期と一致した時に、平均値演
算手段22が次のような演算処理をする。
(Data Processing of Detection Time T) First, in order to calculate the average value of the detection time T for every hour, every day, and every month, the average value calculating means 22 when they coincide with the elapsed time. Performs the following arithmetic processing.

【0020】すなわち、1時間毎の経過時期と一致した
時は、ステップS5,S6,S7において、過去1時間
内にて検出した検出時間Tの平均値(T−H)を算出し
て、図9に示すように表示手段27の表示部27Aに表
示される「時間変化グラフ」(時間単位の経時変化グラ
フ)G1 のデータを更新する。グラフG1 の横軸が日
時、縦軸が1時間毎の平均値(T−H)である。グラフ
1 中の上限はTMAX の値を示す。
That is, when it coincides with the elapsed time of every hour, the average value (TH) of the detection times T detected within the past hour is calculated in steps S5, S6 and S7, As shown in FIG. 9, the data of the “time change graph” (time change graph in time unit) G 1 displayed on the display unit 27A of the display means 27 is updated. The horizontal axis of the graph G 1 is the date and time, and the vertical axis is the average value (TH) for each hour. The upper limit in the graph G 1 indicates the value of T MAX .

【0021】次に、1日毎の経過時期と一致した時は、
ステップS8,S9,S10において、過去1日分の平
均値(T−H)を平均した平均値(T−D)を算出し
て、図9に示すように表示手段27の表示部27Aに表
示される(日−経時変化グラフ」(日単位の経時変化グ
ラフ)G2 のデータを更新する。グラフG2 の横軸が月
日、縦軸が1日毎の平均値(T1 −D)である。グラフ
2 中の上限はTMAX の値を示す。
Next, when it coincides with the elapsed time for each day,
In steps S8, S9 and S10, the average value (T-D) obtained by averaging the average values (T-H) for the past one day is calculated and displayed on the display unit 27A of the display means 27 as shown in FIG. in time course graph "(day updating data changes over time graph) G 2 units horizontal axis month of chart G 2, the vertical axis the average value for each day (T 1 -D) - is (day. The upper limit in the graph G 2 indicates the value of T MAX .

【0022】次に、1ケ月毎の経時時期と一致した時に
は、ステップS11,S12,S13において、過去1
ケ月分の平均値(T−D)を平均した平均値(T−M)
を算出して、図9に示すように表示手段27の表示部2
7Aに表示される「月−経時変化グラフ」(月単位の経
時変化グラフ)G3 のデータを更新する。グラフG3
横軸が年月、縦軸が1ケ月毎の平均値(T1 −M)であ
る。このグラフG3 中の上限はTMAX の値を示す。
Next, when it coincides with the elapsed time of every one month, in the steps S11, S12 and S13, the past 1
Average value (T-M) obtained by averaging average values (T-D) for months
And the display unit 2 of the display means 27 is calculated as shown in FIG.
It is displayed in 7A - (aging graph monthly) "month aging graph" updates the data in the G 3. Abscissa years of the graph G 3, the vertical axis represents the average value for each one month (T 1 -M). The upper limit in this graph G 3 indicates the value of T MAX .

【0023】さらに、1日毎の経過時期と一致した時に
は、1日毎の平均値(T1 −D)の今後の変化を予測す
る(図6参照)。
Further, when it coincides with the elapsed time for each day, future changes in the average value (T 1 -D) for each day are predicted (see FIG. 6).

【0024】すなわち、最新日の平均値(T−D)およ
び30日前の平均値(T−D)をそれぞれA1 およびB
1 として読出し(ステップS15,S16)、さらに、
後述する警報許容上限値C1 と警戒日数(警戒期間)D
1 を読出す(ステップS17,S18)。それから、予
測手段23(図4参照)が1日当たりの平均変化量Z1
を下式(1)により求める(ステップS19)。
That is, the average value (T-D) of the latest day and the average value (T-D) of 30 days before are A 1 and B, respectively.
Read as 1 (steps S15 and S16), and
Allowable alarm upper limit value C 1 and warning days (warning period) D described later
1 is read (steps S17, S18). Then, the predicting means 23 (see FIG. 4) uses the average change amount Z 1 per day.
Is calculated by the following equation (1) (step S19).

【0025】[0025]

【数1】 [Equation 1]

【0026】さらに、その平均変化量Z1 が今後も継続
するとの仮定の基に、余裕期間演算手段24の余裕期間
演算部24A(図4参照)によって、今後の平均値(T
−D)が上限値C1 に到達するまでの単純到達日数(余
裕期間)E1 を下式(2)により求める(ステップS2
3)。なお、上限値C1 の設定機能は、しきい値設定部
24B(図4参照)が果すことになる。
Further, based on the assumption that the average variation Z 1 will continue in the future, the future average value (T
-D) is determined by simple arrival days to reach the upper limit value C 1 (the following expression Slack) E 1 (2) (step S2
3). The threshold setting unit 24B (see FIG. 4) fulfills the function of setting the upper limit C 1 .

【0027】[0027]

【数2】 [Equation 2]

【0028】例えば、図8中の最新日aの時点では、そ
の最新日aの平均値(T−D)を(A1 −a)、それよ
りも29日前の日(a−29)の平均値(T−D)を
(B1−a)として、上式(1),(2)から上限値C1
までの単純到達日数(E1 −a)を予想する。その後
の最新日bの時点では、その最新日bの平均値(T−
D)を(A1 −b)とし、それよりも29日前の日(b
−29)の平均値(T−D)を(B1 −b)として、上
式(1),(2)から上限値C1 までの単純到達日数
(E1 −b)を予想することになる。ところで、この図
8のように平均値(T−D)が上昇することは、チャン
バ室R1 の関連部品の性能が劣化したことを意味する。
したがって、単純到達日数E1 を求めることは、チャン
バ室R1 の関連部品の性能の劣化が上限値C1 に相当す
る程度に進むまでの日数を予想することになる。
For example, at the time of the latest day a in FIG. 8, the average value (TD) of the latest day a is (A 1 -a), and the average of the days 29 days before that (a-29). value (T-D) as (B 1 -a), the above equation (1), the upper limit value C 1 (2)
Estimate the number of simple arrival days (E 1 −a). After that, at the latest date b, the average value (T-
D) is (A 1 -b), and 29 days before that (b
The average value (T-D) of −29) is set to (B 1 −b), and the simple arrival days (E 1 −b) from the above formulas (1) and (2) to the upper limit C 1 are predicted. Become. By the way, the increase of the average value (TD) as shown in FIG. 8 means that the performance of the related parts of the chamber R 1 is deteriorated.
Therefore, determining the simple arrival days E 1 predicts the number of days until the deterioration of the performance of the related parts in the chamber R 1 progresses to an extent corresponding to the upper limit value C 1 .

【0029】その後、単純到達日数E1 が警戒日数D1
以内であればチャンバ室R1 の関連部品の性能の劣化を
報じる警報を発する(ステップS21,S22)。この
ように、単純到達日数E1 が警戒日数D1 に達したとき
の警報機能は、第1の警報手段25の警報部25A(図
4参照)が例えば、表示手段27の表示部27Aに警報
内容を表示することによって果し、また警戒日数D1
設定機能はしきい値設定部25B(図4参照)が果すこ
とになる。それから、後述する劣化予想グラフG4 のデ
ータを更新する(ステップS23)。
After that, the simple arrival days E 1 are the warning days D 1
If it is within emits an alarm Hojiru degradation of performance of the related parts of the chamber room R 1 (step S21, S22). As described above, the warning function when the simple arrival days E 1 reaches the warning days D 1 is, for example, the warning unit 25A (see FIG. 4) of the first warning unit 25, which alerts the display unit 27A of the display unit 27. This is achieved by displaying the contents, and the threshold setting unit 25B (see FIG. 4) fulfills the function of setting the number of warning days D 1 . Then, the data of the deterioration prediction graph G 4 described later is updated (step S23).

【0030】ここで、表示手段27について説明する。The display means 27 will now be described.

【0031】この表示手段27は、CRT等の表示部2
7Aを備えており、その表示内容を表示内容切換部27
Bによって切換えることができるようになっている。そ
の表示画面は、図9に示すように4つのグラフを表示す
るチャンバ排気時間監視用の画面と、それら4つのグラ
フを個別に拡大表示する拡大画面と、図10に示すよう
なチャンバ排気時間の変化予想画面と、しきい値(T
MAX )の設定画面とがある。図9中のグラフG0 は、検
出時間T1 の変化を逐次表示して監視するためのもので
ある。また、図10の画面は、図8に示すような平均値
(T−D)の履歴を表わすグラフG4 と共に、警戒日数
1 としての警報出力設定日、その変更操作画面、およ
び単純到達日数E1 を表示する。勿論、表示画面の表示
内容および表示形態等は、このような例のみに特定され
ず任意である。
The display means 27 is a display unit 2 such as a CRT.
7A, and the display content is displayed by the display content switching unit 27.
It can be switched by B. The display screen includes a screen for chamber exhaust time monitoring that displays four graphs as shown in FIG. 9, an enlarged screen for individually displaying these four graphs in an enlarged manner, and a chamber exhaust time monitor screen as shown in FIG. Change prediction screen and threshold (T
MAX ) setting screen. The graph G 0 in FIG. 9 is for sequentially displaying and monitoring changes in the detection time T 1 . Further, the screen of FIG. 10 includes a graph G 4 showing the history of the average value (TD) as shown in FIG. 8, the alarm output setting date as the warning days D 1 , its change operation screen, and the simple arrival days. Display E 1 . Of course, the display contents and display form of the display screen are arbitrary, not limited to such an example.

【0032】「第2の実施例の監視装置の構成」本例の
監視装置は、溶接終了後にチャンバ室R1 内の真空引き
が終了した時点t3 (図7参照)におけるチャンバ室R
1 内の圧力Vを監視情報としている。その真空引きが終
了した時点t3 の後に、バルブ1を閉じてからチャンバ
室R1 を開いて、溶接ずみのワークWを取り出すことに
なる。したがって、圧力Vはチャンバ室R1 の最高の真
空度に相当する。また、この圧力Vは、前述した検出時
間T1 と同様に、チャンバ室R1 の関連部品の劣化に応
じて変化し、その劣化が進行することによって値が大き
くなる。
[Structure of Monitoring Device of Second Embodiment] In the monitoring device of this embodiment, the chamber chamber R at the time point t 3 (see FIG. 7) when the evacuation of the chamber chamber R 1 is completed after the welding is completed.
The pressure V in 1 is used as monitoring information. After the time t 3 when the evacuation is completed, the valve 1 is closed and then the chamber R 1 is opened to take out the welded work W. Therefore, the pressure V corresponds to the maximum vacuum degree of the chamber R 1 . Further, this pressure V changes in accordance with the deterioration of the related parts of the chamber R 1 , as in the above-described detection time T 1, and the value increases as the deterioration progresses.

【0033】本例の監視装置には、その圧力Vを検出す
るための圧力センサ121と共に、その圧力V(以下、
「検出圧力V」ともいう)に基づいて機能する平均値演
算手段122、予測手段123、余裕期間演算手段12
4、第1,第2の警報手段125,126、および表示
手段127が備えられている。これらの機能は動作と共
に後述する。
In the monitoring apparatus of this example, a pressure sensor 121 for detecting the pressure V and a pressure V (hereinafter,
The average value calculating means 122, the predicting means 123, and the margin period calculating means 12 that function based on "the detected pressure V")
4, first and second alarm means 125 and 126, and display means 127 are provided. These functions will be described later together with the operation.

【0034】次に、監視装置の動作を図12および図1
3に示すフローチャートにしたがって説明する。
Next, the operation of the monitoring device will be described with reference to FIGS.
A description will be given according to the flowchart shown in FIG.

【0035】「第2の実施例の監視装置による監視動
作」まず、圧力センサ121によって、チャンバ室R1
内の真空引き終了直後の時間t3 (図7参照)の圧力V
を検出し(ステップS101)、そして、その検出圧力
Vが所定の比較基準値VMAX を越えたときに異常警報を
発生する(ステップS102〜104)。このような警
報機能は、第2の警報手段126の警報部126Aが例
えば、表示手段127におけるCRT等の表示部127
Aに警報内容を表示することによって果し、また比較基
準値VMAX の設定機能はしきい値設定部126Bが果す
ことになる。検出圧力Vがこの基準値VMAX を越えたと
きに、チャンバ室R1 の関連部品の性能劣化が生じたと
判定する。このように1回の溶接作業毎に検出される圧
力Vはデータとして蓄積し、そして、以下のような(検
出圧力Vのデータ処理)を行う。
[Monitoring Operation by Monitoring Device of Second Embodiment] First, the pressure sensor 121 is used to detect the chamber R 1
Pressure V at time t 3 (see FIG. 7) immediately after the evacuation of the inside
Is detected (step S101), and when the detected pressure V exceeds a predetermined comparison reference value V MAX , an abnormality alarm is issued (steps S102 to 104). In such an alarm function, the alarm unit 126A of the second alarm unit 126 is, for example, a display unit 127 such as a CRT in the display unit 127.
This is achieved by displaying the alarm content on A, and the threshold setting unit 126B performs the function of setting the comparison reference value V MAX . When the detected pressure V exceeds this reference value V MAX , it is determined that the performance degradation of the related parts in the chamber R 1 has occurred. In this way, the pressure V detected for each welding operation is accumulated as data, and the following (data processing of the detected pressure V) is performed.

【0036】(検出圧力Vのデータ処理)まず、1時間
毎、1日毎、および1ケ月毎の検出圧力Vの平均値を算
出すべく、それらの経過時期と一致した時に、平均値演
算手段122が次のような演算処理をする。
(Data Processing of Detected Pressure V) First, in order to calculate the average value of the detected pressure V for every hour, every day, and every month, the average value calculating means 122 when they coincide with the elapsed time. Performs the following arithmetic processing.

【0037】すなわち、1時間毎の経過時期と一致した
時は、ステップS105〜107において、過去1時間
内にて検出した検出圧力Vの平均値(V−H)を算出し
て、図15に示すように表示手段127の表示部127
Aに表示される「時間変化グラフ」(時間単位の経時変
化グラフ)G10のデータを更新する。グラフG10の横軸
が日時、縦軸が1時間毎の平均値(V−H)である。グ
ラフG10中の上限はVMAX の値を示す。
That is, when it coincides with the elapsed time of every one hour, the average value (V-H) of the detected pressure V detected within the past one hour is calculated in steps S105 to 107 and shown in FIG. As shown, the display unit 127 of the display means 127.
Updates the data of the G 10 (aging time graph units) "time change graph" displayed on the A. The horizontal axis of the graph G 10 is the date and time, and the vertical axis is the average value (VH) for each hour. The upper limit in graph G 10 indicates the value of V MAX .

【0038】次に、1日毎の経過時期と一致した時は、
ステップS108〜110において、過去1日分の平均
値(V−H)を平均した平均値(V−D)を算出して、
図15に示すように表示手段127の表示部127Aに
表示される(日−経時変化グラフ」(日単位の経時変化
グラフ)G12のデータを更新する。グラフG12の横軸が
月日、縦軸が1日毎の平均値(V−D)である。グラフ
12中の上限はVMAXの値を示す。
Next, when it coincides with the elapsed time for each day,
In steps S108 to 110, the average value (V-D) obtained by averaging the average values (V-H) for the past one day is calculated,
Is displayed on the display unit 127A of the display unit 127 as shown in FIG. 15 (day -. The horizontal axis of the temporal change graph "(day time course graph of the unit) to update the data of the G 12 graph G 12 is month, The vertical axis represents the average value (V-D) for each day, and the upper limit in the graph G 12 represents the value of V MAX .

【0039】次に、1ケ月毎の経時時期と一致した時に
は、ステップS111〜113において、過去1ケ月分
の平均値(V−D)を平均した平均値(V−M)を算出
して、図15に示すように表示手段127の表示部12
7Aに表示される「月−経時変化グラフ」(月単位の経
時変化グラフ)G13のデータを更新する。グラフG13
横軸が年月、縦軸が1ケ月毎の平均値(V−M)であ
る。このグラフG13中の上限はVMAX の値を示す。
Next, when it coincides with the elapsed time for each month, in steps S111 to 113, the average value (VM) obtained by averaging the average values (V-D) for the past one month is calculated, As shown in FIG. 15, the display unit 12 of the display means 127 is shown.
It is displayed in 7A - (aging graph monthly) "month aging graph" updates the data of the G 13. The horizontal axis of the graph G 13 is the year and month, and the vertical axis is the average value (VM) for each month. The upper limit in this graph G 13 indicates the value of V MAX .

【0040】さらに、1日毎の経過時期と一致した時に
は、1日毎の平均値(V−D)の今後の変化を予測する
(図13参照)。
Further, when it coincides with the elapsed time for each day, future changes in the average value (VD) for each day are predicted (see FIG. 13).

【0041】すなわち、最新日の平均値(V−D)およ
び30日前の平均値(V−D)をそれぞれA2 およびB
2 として読出し(ステップS115,S116)、さら
に、後述する警報許容上限値C2 と警戒日数(警戒期
間)D2 を読出す(ステップS117,S118)。そ
れから、予測手段123(図11参照)が1日当たりの
平均変化量Z2 を下式(11)により求める(ステップ
S119)。
That is, the average value (V-D) of the latest day and the average value (V-D) of 30 days before are A 2 and B, respectively.
2 is read (steps S115 and S116), and an alarm allowable upper limit value C 2 and a warning days (warning period) D 2 which will be described later are read (steps S117 and S118). Then, the prediction means 123 (see FIG. 11) obtains the average change amount Z 2 per day by the following equation (11) (step S119).

【0042】[0042]

【数3】 [Equation 3]

【0043】さらに、その平均変化量Z2 が今後も継続
するとの仮定の基に、余裕期間演算手段124の余裕期
間演算部124A(図11参照)によって、今後の平均
値(V−D)が上限値C2 に到達するまでの単純到達日
数(余裕期間)E2 を下式(12)により求める(ステ
ップS123)。なお、上限値C2 の設定機能は、しき
い値設定部124B(図11参照)が果すことになる。
Further, based on the assumption that the average variation Z 2 will continue in the future, the future average value (V-D) is calculated by the margin period calculating section 124A (see FIG. 11) of the margin period calculating means 124. The simple arrival days (margin period) E 2 until reaching the upper limit C 2 is calculated by the following equation (12) (step S123). The function of setting the upper limit value C 2 is performed by the threshold value setting unit 124B (see FIG. 11).

【0044】[0044]

【数4】 [Equation 4]

【0045】例えば、図14中の最新日aの時点では、
その最新日aの平均値(V−D)を(A2 −a)、それ
よりも29日前の日(a−29)の平均値(V−D)を
(B2 −a)として、上式(11),(12)から上限
値C2 までの単純到達日数(E2 −a)を予想する。そ
の後の最新日bの時点では、その最新日bの平均値(V
−D)を(A2 −b)とし、それよりも29日前の日
(b−29)の平均値(V−D)を(B2 −b)とし
て、上式(11),(12)から上限値C2 までの単純
到達日数(E2 −b)を予想することになる。ところ
で、この図14のように平均値(V−D)が上昇するこ
とは、チャンバ室R1 の関連部品の性能が劣化したこと
を意味する。したがって、単純到達日数E2 を求めるこ
とは、チャンバ室R1 の関連部品の性能の劣化が上限値
2 に相当する程度に進むまでの日数を予想することに
なる。
For example, at the latest date a in FIG. 14,
Average of the latest date a the (V-D) (A 2 -a), the average value of it 29 days prior than (a-29) to (V-D) as (B 2 -a), the upper Predict the simple arrival days (E 2 −a) from the expressions (11) and (12) to the upper limit value C 2 . After that, at the latest date b, the average value (V
The -D) and (A 2 -b), the average value of it 29 days prior than (b-29) to (V-D) as (B 2 -b), the above equation (11), (12) To the upper limit value C 2 from the simple arrival days (E 2 −b). By the way, the increase of the average value (V-D) as shown in FIG. 14 means that the performance of the related parts of the chamber R 1 is deteriorated. Therefore, obtaining the simple arrival days E 2 predicts the number of days until the deterioration of the performance of the related components in the chamber R 1 progresses to the extent corresponding to the upper limit C 2 .

【0046】その後、単純到達日数E2 が警戒日数D2
以内であればチャンバ室R1 の関連部品の性能の劣化を
報じる警報を発する(ステップS121,S122)。
このように、単純到達日数E2 が警戒日数D2 に達した
ときの警報機能は、第1の警報手段125の警報部12
5A(図11参照)が例えば、表示手段127の表示部
127Aに警報内容を表示することによって果し、また
警戒日数D2 の設定機能はしきい値設定部125B(図
11参照)が果すことになる。それから、後述する劣化
予想グラフG14のデータを更新する(ステップS12
3)。
After that, the simple arrival days E 2 are the warning days D 2
If it is within the range, an alarm is issued to report the deterioration of the performance of the related parts in the chamber R 1 (steps S121, S122).
In this way, the warning function when the simple arrival days E 2 reaches the warning days D 2 is the warning unit 12 of the first warning means 125.
5A (see FIG. 11) is achieved, for example, by displaying the warning content on the display unit 127A of the display means 127, and the threshold setting unit 125B (see FIG. 11) performs the function of setting the number of warning days D 2 . become. Then, the data of the deterioration prediction graph G 14 described later is updated (step S12).
3).

【0047】ここで、表示手段127について説明す
る。
The display means 127 will be described below.

【0048】この表示手段127は、CRT等の表示部
127Aを備えており、その表示内容を表示内容切換部
127Bによって切換えることができるようになってい
る。その表示画面は、図15に示すように4つのグラフ
を表示するチャンバ真空度監視用の画面と、それら4つ
のグラフを個別に拡大表示する拡大画面と、図16に示
すようなチャンバ真空度の変化予想画面と、しきい値
(VMAX )の設定画面とがある。図15中のグラフG10
は、検出時間V1 の変化を逐次表示して監視するための
ものである。また、図16の画面は、図14に示すよう
な平均値(V−D)の履歴を表わすグラフG14と共に、
警戒日数D2 としての警報出力設定日、その変更操作画
面、および単純到達日数E2 を表示する。勿論、表示画
面の表示内容および表示形態等は、このような例のみに
特定されず任意である。
The display means 127 is provided with a display section 127A such as a CRT, and the display content can be switched by the display content switching section 127B. The display screen includes a screen for monitoring the degree of vacuum of the chamber that displays four graphs as shown in FIG. 15, an enlarged screen for individually enlarging and displaying these four graphs, and a screen for the degree of vacuum of the chamber as shown in FIG. There are a change prediction screen and a threshold (V MAX ) setting screen. Graph G 10 in FIG.
Is for sequentially displaying and monitoring changes in the detection time V 1 . Also, the screen of FIG. 16 shows a graph G 14 showing the history of average values (V−D) as shown in FIG.
The alarm output setting date as the warning days D 2 , the change operation screen, and the simple arrival days E 2 are displayed. Of course, the display contents and display form of the display screen are arbitrary, not limited to such an example.

【0049】「第3の実施例の監視装置」本実施例で
は、前述した第1の実施例と同様の構成の監視装置によ
って、コラム室R2 内の排気時間を監視する。その排気
時間は、コラム室R2 内の排気を開始してから、そのコ
ラム室R2 内が溶接可能な所定の真空状態となるまでの
排気時間であり、前述した第1の実施例の場合と同様
に、その排気時間を監視情報とすることによって、コラ
ム室R2 のシールリングの劣化や真空ポンプ17,18
の能力低下など(以下「コラム室R2 の関連部品の性能
劣化」という)を監視できることになる。
[Monitoring Device of Third Embodiment] In this embodiment, the exhaust time in the column chamber R 2 is monitored by the monitoring device having the same configuration as that of the first embodiment described above. An exhaust time, from the start of the evacuation of the column chamber R 2, is an exhaust time to the column chamber R 2 becomes a predetermined vacuum state weldable, in the first embodiment described above Similarly, by using the exhaust time as the monitoring information, deterioration of the seal ring of the column chamber R 2 and the vacuum pumps 17 and 18 are performed.
It is possible to monitor the deterioration of the capacity (hereinafter referred to as “degradation of performance of related parts in the column room R 2 ”).

【0050】「第4の実施例の監視装置」本実施例で
は、前述した第2の実施例と同様の構成の監視装置によ
って、所定時期におけるコラム室R2 内の圧力を監視す
る。その監視情報としての圧力は、チャンバ室R1 が溶
接可能な真空状態にまで真空引き(排気)されてから、
バルブ1が開かれるまでの間の時期におけるコラム室R
2 内の圧力であり、その圧力は、バルブ1のシール部の
劣化の進行に応じて大きくなる。したがって、その時期
におけるコラム室R2 内の圧力を監視することによっ
て、バルブ1のシール部の劣化を監視できることにな
る。
[Monitoring Device of Fourth Embodiment] In this embodiment, the pressure in the column chamber R 2 at a predetermined time is monitored by the monitoring device having the same configuration as that of the second embodiment described above. The pressure as the monitoring information is evacuated (exhausted) to a vacuum state in which the chamber R 1 can be welded,
Column chamber R during the period until valve 1 is opened
It is the pressure within 2 , and the pressure increases as the deterioration of the seal portion of the valve 1 progresses. Therefore, the deterioration of the seal portion of the valve 1 can be monitored by monitoring the pressure in the column chamber R 2 at that time.

【0051】「第5の実施例の監視装置」一般に、電子
銃15(図2参照)は、溶接中(ビームON)以外の
時、つまりビームOFF時にも若干のビーム電流が流れ
ているため、その時に発生する電子ビームEBがバルブ
1に当たって、そのバルブ1が損傷することになる。そ
こで、溶接中以外の時における電子銃15のビーム電流
を検出して、その積算値を監視情報にすることによっ
て、バルブ1の保守時期が予測できることになる。例え
ば、その積算値の最新の値と、所定時間前の値との間の
変化量が今後も継続するとの仮定の基に、その積算値が
バルブ1の保守時期に相当する値に到達するまでの単純
到達日数(余裕期間)を求めて、それが所定の警戒日数
以内となったときに警報を発するように構成すればよ
い。
[Monitoring Device of Fifth Embodiment] In general, the electron gun 15 (see FIG. 2) has a slight beam current flowing during a time other than welding (beam ON), that is, beam OFF. The electron beam EB generated at that time hits the bulb 1, and the bulb 1 is damaged. Therefore, the maintenance time of the valve 1 can be predicted by detecting the beam current of the electron gun 15 at times other than during welding and using the integrated value as monitoring information. For example, under the assumption that the amount of change between the latest value of the integrated value and the value before the predetermined time will continue in the future, until the integrated value reaches a value corresponding to the maintenance time of the valve 1. The simple arrival days (margin period) may be obtained, and an alarm may be issued when the number of days is within a predetermined warning days.

【0052】「第6の実施例の監視装置」電子ビームE
Bを発生する電子銃15(図2参照)は、溶接中(ビー
ムON)以外の時、つまりビームOFF時にも若干のビ
ーム電流が流れており、そのビームOFF時のビーム電
流は、電子銃15を駆動制御するバイポーラ電源に漏れ
電流として現われる。その漏れ電流は、バイポーラ電源
の故障、コラム室R2 内の真空度の悪化、電子銃15や
コラム室R2 内の汚れ、電子銃15に給電するための電
圧ケーブルの絶縁不良などの原因によって増大する。と
ころで、コラム室R2 内の汚れに関しては、それを外部
から検出することは難しく、また、そのコラム室R2
の汚れがひどくなった場合には、電子ビームEBがコラ
ム室R2 の内壁に照射(アーキング)されて、バイポー
ラ電源の破壊を招くおそれがある。
"Monitoring Device of Sixth Embodiment" Electron Beam E
The electron gun 15 for generating B (see FIG. 2) has a slight beam current flowing during a time other than welding (beam ON), that is, when the beam is OFF. It appears as a leakage current in the bipolar power supply that controls the drive of the. Its leakage current malfunction of the bipolar power supply, the deterioration of the degree of vacuum in the column chamber R 2, contamination of the electron gun 15 and the column chamber R 2, depending on the cause, such as insulation failure voltage cable for powering the electron gun 15 Increase. By the way, it is difficult to detect the stains in the column chamber R 2 from the outside, and when the stains in the column chamber R 2 become severe, the electron beam EB causes the electron beam EB to fall on the inner wall of the column chamber R 2 . There is a risk that the bipolar power supply may be destroyed by being irradiated (arcing).

【0053】そこで、上記の漏れ電流を検出して、その
値を監視情報とすることによって、コラム室R2 内の汚
れの程度を判断して、その清掃時期を予測できることに
なる。例えば、漏れ電流の最新の値と、所定時間前の値
との間の変化量が今後も継続するとの仮定の基に、その
漏れ電流の値がコラム室R2 の清掃時期に相当する値に
到達するまでの単純到達日数(余裕期間)を求めて、そ
れが所定の警戒日数以内となったときに警報を発するよ
うに構成すればよい。
Therefore, by detecting the above-mentioned leakage current and using the value as monitoring information, it is possible to judge the degree of contamination in the column chamber R 2 and predict the cleaning time. For example, based on the assumption that the amount of change between the latest value of the leakage current and the value before the predetermined time continues, the value of the leakage current becomes a value corresponding to the cleaning time of the column chamber R 2. The simple arrival days (margin period) until the arrival is obtained, and an alarm may be issued when the arrival times are within a predetermined warning days.

【0054】「第7の実施例の監視装置」電子ビーム溶
接機に備わる各種の電磁開閉器において、それを開閉制
御するための制御回路の制御タイミングと、それが開閉
動作することによって駆動制御される駆動回路の駆動タ
イミングは、電磁開閉器の開閉動作時のアーク等による
接点の劣化の程度に応じてずれることが考えられる。そ
こで、電磁開閉器の開閉動作時における制御回路の制御
タイミングと駆動回路の駆動タイミングとのずれ量を検
出して、それを監視情報とすることによって、電磁開閉
器の劣化が監視できることになる。また、電磁開閉器の
起動,停止時の電圧値を検出して、それを監視情報とす
ることによっても電磁開閉器の劣化が監視できる。これ
らの場合の監視方法は、前述した第1,第2の実施例と
同様である。
"Monitoring Device of Seventh Embodiment" In various electromagnetic switches provided in the electron beam welding machine, the control timing of the control circuit for controlling the opening and closing thereof and the drive control by the opening and closing operation thereof. It is considered that the drive timing of the drive circuit is shifted depending on the degree of deterioration of the contacts due to arc or the like during the opening / closing operation of the electromagnetic switch. Therefore, the deterioration of the electromagnetic switch can be monitored by detecting the amount of deviation between the control timing of the control circuit and the driving timing of the drive circuit during the opening / closing operation of the electromagnetic switch and using it as the monitoring information. Further, the deterioration of the electromagnetic switch can be monitored by detecting the voltage value at the start and stop of the electromagnetic switch and using it as the monitoring information. The monitoring method in these cases is the same as in the first and second embodiments described above.

【0055】(その他)なお、本発明の監視装置におい
て、監視情報の種類は、何ら上記実施例のみに特定され
ず任意であり、要は、電子ビーム溶接機の作動状態によ
って値が変化する情報であればよい。また、1つの監視
装置によって、多数の監視情報を集中して監視すること
もできる。
(Others) In the monitoring apparatus of the present invention, the type of monitoring information is arbitrary and is not limited to the above-mentioned embodiment, and the point is that the value changes depending on the operating state of the electron beam welding machine. If Moreover, a large number of pieces of monitoring information can be centrally monitored by one monitoring device.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子ビー
ム加工機の監視装置は、電子ビーム加工機の作動状態に
よって値が変化する情報を検出し、そして、その検出情
報の所定の単位期間毎の平均値の履歴から、その検出情
報の値が所定のしきい値に到達するまでの余裕期間を予
測して、その余裕期間が所定の警戒期間内になったとき
に警報を発する構成であるから、電子ビーム加工機の構
成部品の劣化を予知して警報を発することできる。
As described above, the monitoring device for an electron beam processing machine according to the present invention detects information whose value changes depending on the operating state of the electron beam processing machine, and then detects the information for a predetermined unit period. It is configured to predict the margin period until the value of the detection information reaches a predetermined threshold value from the history of the average value for each, and to issue an alarm when the margin period falls within the predetermined warning period. Therefore, it is possible to predict the deterioration of the components of the electron beam processing machine and issue an alarm.

【0057】したがって、例えば、電子ビーム溶接機の
場合には、その構成部品の劣化を予知して、電子ビーム
溶接機の作業能率の悪化や溶接の品質悪化等を未然に回
避することができる。
Therefore, for example, in the case of an electron beam welding machine, it is possible to predict deterioration of its components and prevent deterioration of work efficiency of the electron beam welding machine and deterioration of welding quality.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の監視装置が備えられる電子ビーム溶接
機のワーク回転駆動系の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a work rotation drive system of an electron beam welding machine provided with a monitoring device of the present invention.

【図2】図1に示す電子ビーム溶接機内の真空室の概略
構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a vacuum chamber in the electron beam welding machine shown in FIG.

【図3】図1に示す電子ビーム溶接機の全体の側面図で
ある。
FIG. 3 is a side view of the entire electron beam welding machine shown in FIG.

【図4】本発明の第1の実施例を示すブロック構成図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1の実施例の動作を説明するための
フローチャートである。
FIG. 5 is a flow chart for explaining the operation of the first exemplary embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1の実施例の動作を説明するための
フローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation of the first exemplary embodiment of the present invention.

【図7】図2に示すチャンバ室内の圧力変化の説明図で
ある。
7 is an explanatory diagram of a pressure change in the chamber shown in FIG.

【図8】図4に示す予測手段および余裕期間演算部の動
作の説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of operations of a prediction unit and a margin period calculation unit shown in FIG.

【図9】図4に示す表示部における表示内容の一例を説
明するための表示画面の正面図である。
9 is a front view of a display screen for explaining an example of display contents on the display unit shown in FIG. 4. FIG.

【図10】図4に示す表示部における表示内容の他の例
を説明するための表示画面の正面図である。
10 is a front view of a display screen for explaining another example of the display contents on the display unit shown in FIG.

【図11】本発明の第2の実施例を示すブロック構成図
である。
FIG. 11 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第2の実施例の動作を説明するため
のフローチャートである。
FIG. 12 is a flow chart for explaining the operation of the second exemplary embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第2の実施例の動作を説明するため
のフローチャートである。
FIG. 13 is a flow chart for explaining the operation of the second exemplary embodiment of the present invention.

【図14】図11に示す予測手段および余裕期間演算部
の動作の説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram of operations of a prediction unit and a margin period calculation unit shown in FIG. 11.

【図15】図11に示す表示部における表示内容の一例
を説明するための表示画面の正面図である。
15 is a front view of a display screen for explaining an example of display contents on the display unit shown in FIG.

【図16】図11に示す表示部における表示内容の他の
例を説明するための表示画面の正面図である。
16 is a front view of a display screen for explaining another example of the display content on the display unit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

R 真空室(溶接作業室) W ワーク(被溶接物) EB 電子ビーム 15,16,17,18 真空ポンプ 21 排気時間計測手段(検出手段) 22 平均値演算手段 23 予測手段 24 余裕期間演算手段 25 第1の警報手段 26 第2の警報手段 27 表示手段 R vacuum chamber (welding work room) W work (workpiece) EB electron beam 15,16,17,18 Vacuum pump 21 Exhaust time measurement means (detection means) 22 Mean value calculation means 23 Prediction means 24 Margin period calculation means 25 First alarm means 26 Second warning means 27 Display means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷川 信一 静岡県富士市今泉字鴨田700番地の1 ジャトコ株式会社内 (72)発明者 中川 浩義 静岡県富士市今泉字鴨田700番地の1 ジャトコ株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−78022(JP,A) 特開 平2−69619(JP,A) 特開 平7−100724(JP,A) 実開 昭63−27903(JP,U) 実開 平2−18197(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23K 15/02 - 15/06 G01M 3/02 G05B 19/18 G05B 23/02 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shinichi Hasegawa 1 at 700 Kamoda, Imaizumi, Fuji City, Shizuoka Prefecture Jatco Ltd. (72) Inventor Hiroyoshi Nakagawa 1 at 700 Kamoda, Imaizumi, Fuji City, Shizuoka Prefecture Jatco stock In-house (56) Reference JP-A-7-78022 (JP, A) JP-A-2-69619 (JP, A) JP-A-7-100724 (JP, A) Actual development Sho-63-27903 (JP, U) ) Actual Kaihei 2-18197 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) B23K 15/02-15/06 G01M 3/02 G05B 19/18 G05B 23/02

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 真空状態とされる作業室内の被加工物に
電子ビームを照射して、該被加工物を加工する電子ビー
ム加工機の監視装置であって、 前記電子ビーム加工機の作動状態によって値が変化する
情報を検出する検出手段と、 前記検出手段によって検出された検出情報の値の所定の
単位期間毎の平均値を求める平均値演算手段と、 前記平均値演算手段によって求められた平均値の履歴か
ら前記検出情報の値の今後の変化を予測する予測手段
と、 前記予測手段が予測した検出情報の値が所定のしきい値
に到達するまでの余裕期間を求める余裕期間演算手段
と、 前記余裕期間が所定の警戒期間内になったときに警報を
発する第1の警報手段とを備えたことを特徴とする電子
ビーム加工機の監視装置。
1. A monitoring device for an electron beam processing machine, which irradiates an electron beam to a workpiece in a working chamber which is in a vacuum state to process the workpiece, the operating state of the electron beam processing machine. By means of detecting information whose value changes by means, means for calculating an average value of the values of the detection information detected by the means for each predetermined unit period, and means for calculating the average value Prediction means for predicting a future change in the value of the detection information from the history of average values, and margin period calculation means for obtaining a margin period until the value of the detection information predicted by the prediction means reaches a predetermined threshold value. And a first alarm means for issuing an alarm when the margin period is within a predetermined warning period, the monitoring device for an electron beam processing machine.
【請求項2】 前記予測手段は、前記平均値演算手段に
よって求められた所定期間前の過去の平均値と最新の平
均値との間の変化の度合が今後も継続するものとして、
前記検出情報の値の今後の変化を予測するものであるこ
とを特徴とする請求項1に記載の電子ビーム加工機の監
視装置。
2. The predicting means assumes that the degree of change between the past average value and the latest average value before the predetermined period, which is obtained by the average value calculating means, will continue in the future.
The monitoring device for an electron beam processing machine according to claim 1, wherein the monitoring device predicts a future change in the value of the detection information.
【請求項3】 前記検出手段の検出情報の値が所定のし
きい値を越えたときに警報を発する第2の警報手段を備
えたことを特徴とする請求項1または2に記載の電子ビ
ーム加工機の監視装置。
3. The electron beam according to claim 1, further comprising second alarm means for issuing an alarm when the value of the detection information of the detection means exceeds a predetermined threshold value. Monitoring equipment for processing machines.
【請求項4】 前記平均値演算手段と前記余裕期間演算
手段の演算結果および前記予測手段の予測結果を表示す
る表示手段を備えたことを特徴とする請求項1,2また
は3に記載の電子ビーム加工機の監視装置。
4. The electronic device according to claim 1, further comprising display means for displaying a calculation result of said average value calculation means and said margin period calculation means and a prediction result of said prediction means. Beam processing machine monitoring device.
【請求項5】 前記検出手段は前記作業室内を真空状態
とするための吸引手段が作動を開始してから、前記作業
室内が所定の圧力に達するまでの時間を検出するもので
あることを特徴とする請求項1,2,3、または4に記
載の電子ビーム加工機の監視装置。
5. The detecting means detects the time from when the suction means for bringing the working chamber into a vacuum state starts to operate until when the working chamber reaches a predetermined pressure. The monitoring device for an electron beam processing machine according to claim 1, 2, 3, or 4.
【請求項6】 前記検出手段は、前記作業室内を真空状
態とするための吸引手段の所定の作動時期に、前記作業
室内の圧力を検出するものであることを特徴とする請求
項1,2,3、または4に記載の電子ビーム加工機の監
視装置。
6. The detection means detects the pressure in the work chamber at a predetermined operation timing of the suction means for bringing the work chamber into a vacuum state. , 3 or 4, the electron beam processing machine monitoring device.
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