JP3454337B2 - Panel for cathode ray tube - Google Patents
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- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、優れた反射防止性と解
像度が得られる陰極線管用パネルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】陰極線管用パネルは、その外表面に何ら
の処理も施されていない状態では外表面が鏡面になって
おり、かかるパネルを用いた陰極線管では、外方からの
光線がパネルの外表面で反射して、パネルに映し出され
る画像が見難くなるという問題がある。
【0003】そこで、外光反射を防止する目的で、パネ
ルの外表面に多数の凹凸加工が施された陰極線管が提案
されている。かかる陰極線管においては、パネルの外表
面に形成された多数の凹凸がパネル表面での外光反射を
散乱させることにより、正反射を小さくして、外光反射
を低減できる。
【0004】パネルの外表面に凹凸を形成するには、ホ
ーニング加工やフロスト加工といった機械的、化学的な
手段によりパネルガラスに直接凹凸を形成して外表面を
粗面にする方法がある。しかしながら、ホーニング加工
はパネルの外表面に研磨剤を吹き付けてガラスを研削し
て凹凸をつけるため、再生が不可能であり、しかも品質
が安定しないという欠点がある。また、フロスト加工
は、弗酸によりガラスをエッチングして凹凸をつけるた
め、再生が不可能であるだけでなく、弗酸の使用に伴う
取り扱い上の安全性や公害の面での問題がある。
【0005】そこで、かかる問題を解決するために、パ
ネルの外表面にSiO2 粒子を含む溶液を吹き付けるこ
とにより、SiO2 粒子からなる多数の凹凸を呈するS
iO2 被膜を形成した陰極線管が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
SiO2 被膜を形成した陰極線管においては、外光反射
を防止できる反面、パネルに映し出される画像を形成す
る画像光線が、前記SiO2 被膜を構成するSiO2 粒
子によって拡散されるため、陰極線管にとって最も重要
な解像度が著しく低下するという問題がある。
【0007】図4、図5は、従来のSiO2 被膜を構成
しているSiO2 粒子の拡大断面図である。従来のSi
O2 被膜を構成しているSiO2 粒子20は、図4に示
すように、その周縁部21が隆起し、中心部22は周縁
部21から滑らかに窪んだ椀形状になっているか、或い
は、図5に示すように、周縁部21から中心部22に向
けて盛り上がった半球状になっており、これらのSiO
2 粒子20からなるSiO2 被膜は全体として多数の凹
凸を呈したものとなる。しかしながら、図4の中心部2
2、或いは図5のSiO2 粒子20の表面が球面を呈し
ているため、パネル内面の蛍光体から透過してくる画像
光線は、前記SiO2 粒子20の球面においてレンズ効
果により拡散され、その結果として陰極線管の解像度が
低下する。そのため、パネルの外表面にSiO2 被膜が
形成された従来の陰極線管においては、優れた反射防止
性を得るためには、解像度の著しい低下を余儀なくされ
るという問題を有している。
【0008】また、従来のSiO2 被膜を構成している
SiO2 粒子20は、SiO2 粒子20の中心部22の
膜厚が厚いことから解像度が悪く、加えてSiO2 粒子
20の周縁部21と中心部22とにおける膜厚の差が大
きいために、例えばパネルの外表面にスピンコート等に
より反射防止膜を形成した上に更に上記SiO2 粒子2
0からなる多数の凹凸を呈するSiO2 被膜を形成した
場合には、結果的に光の干渉効果による反射が大きくな
るという問題も併存している。
【0009】そこで、本発明の目的は、パネルの外表面
に、凹凸を呈するSiO2 被膜を形成し、優れた反射防
止性と解像度が得られる陰極線管用パネルを提供するこ
とである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の課題及び
目的に鑑みてなされたもので、外表面にSiO2を含む
溶液を吹き付け、微小なSiO2粒子からなる多数の凹
凸を呈するSiO2被膜を形成した陰極線管用パネルに
おいて、各々のSiO2粒子の周縁部は隆起して中心部
が平坦を呈しており、且つ前記中心部の膜厚が400Å
以下であり、SiO 2 粒子の周縁部と中心部との落差が
200〜400Åであることを特徴とする陰極線管用パ
ネルである。
【0011】
【0012】尚、本発明において形成する多数の凹凸を
呈するSiO2 被膜は、パネルの外表面に直接形成する
場合に限定されず、例えば、パネルの外表面に形成され
た導電膜や、反射防止膜等の他の膜上に最外層膜として
形成する場合も含むものとする。
【0013】
【作用】本発明によれば、SiO2 被膜を構成する各々
のSiO2 粒子の中心部が平坦を呈していることによ
り、かかる中心部を透過する画像光線は前記SiO2 粒
子のレンズ効果により拡散されることなくパネルの外方
へと透過するので、優れた解像度が得られる。中心部の
膜厚を400Å以下にする理由は、特にパネルの外表面
にスピンコート等により形成された反射防止膜の上に、
SiO2 粒子によるSiO2 被膜を形成する場合におい
ては、SiO2 粒子の中心部の膜厚が400Åより大き
いと表面反射が著しく大きくなるためである。
【0014】また、各々のSiO2 粒子の周縁部と中心
部との落差を200〜400Åにすることにより、Si
O2 粒子の周縁部と中心部とにおける膜厚の差を小さく
して、反射光を小さくすることができる。落差が200
Åより小さいと防眩効果が得られず、また、400Åよ
り大きいと光の干渉効果が得られず、表面反射が大きい
ものになる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の陰極線管用パネルとその製造
方法につき、実施例に基づいて説明する。
【0016】(実施例)図1は本発明の陰極線管用パネ
ルの縦断面図である。
【0017】このパネルガラス10の外表面には、微小
なSiO2 粒子からなる多数の凹凸11を呈するSiO
2 被膜12が形成されている。
【0018】図2は、前記SiO2 被膜12を構成する
SiO2 粒子の拡大断面図である。
【0019】各々のSiO2 粒子13の周縁部14は隆
起して中心部15が平坦を呈している。また、SiO2
粒子13の中心部15の膜厚は400Å以下である。各
SiO2 粒子13における周縁部14と中心部15との
落差は200〜400Åである。SiO2 粒子13の周
縁部14と中心部15との落差が大きすぎると結果的に
SiO2 粒子13の中心部15が平坦化し難くなるのが
実情であり、本発明の目的の1つである解像度の向上を
図るためには、SiO2 粒子13の周縁部14と中心部
15との落差の上限値は400Åであると考えられる。
【0020】このパネルガラス10へのSiO2 被膜1
2の形成は以下の方法によって行った。
【0021】先ず、パネルガラス10の外表面を洗浄、
乾燥させた後、外表面を40〜50℃に昇温加熱した。
【0022】次いで、SiO2 固形分1.5〜2.0%
のSiO2 を含むエタノール溶液をスプレーコート法に
より、2.7kg/cm3 のスプレー圧でパネルガラス
10の外表面に吹き付けた。この際、パネルガラス10
の外表面に吹き付けられたSiO2 を含むエタノール溶
液は液滴となり、パネルガラス10の外表面に当たるこ
とにより、その周縁部14が隆起し、中心部15は椀形
状を呈するが、パネルガラス10の外表面が40〜50
℃にあることにより瞬時には乾燥せず、周縁部14から
中心部15に亙る変形が生じて中心部15が平坦化した
後、乾燥、固化する。その結果、周縁部14が隆起して
中心部が平坦を呈したSiO2 粒子13となる。
【0023】その後、このパネルガラス10を450℃
で30分焼成することにより、上記の微小なSiO2 粒
子13からなる凹凸11を呈するSiO2 被膜12を形
成した。
【0024】尚、本実施例では、SiO2 の溶媒として
エタノール液を使用したが、これに限定されるものでは
なく、他の溶液を溶媒としたSiO2 (OR)4 につい
ても可能である。
【0025】また、上記透明被膜12はパネルガラス1
0の外表面に形成された他の膜上に形成されるものであ
ってもよい。
【0026】(比較例)図1に示すようなパネルガラス
10を用意し、その外表面に、微小なSiO2粒子から
なる多数の凹凸を呈するSiO2 被膜を形成した。
【0027】かかるSiO2 被膜を構成する各々のSi
O2 粒子の周縁部は隆起しており、その中心部は周縁部
から滑らかに窪んだ椀形状を呈している。また、各Si
O2粒子における中心部の膜厚は500Å以上であり、
周縁部と中心部との落差は500〜1000Åである。
【0028】このパネルガラス10へのSiO2 被膜の
形成は以下の方法によって行った。
【0029】先ず、パネルガラス10の外表面を洗浄、
乾燥させた後、外表面を55〜65℃に昇温加熱し、以
降、実施例と同じ方法で、上記の微小なSiO2 粒子か
らなる凹凸を呈するSiO2 被膜を形成した。
【0030】こうして作製した各々の陰極線管用パネル
の反射防止性及び解像度についてのを測定試験を行っ
た。
【0031】反射防止性については、実施例、比較例共
にグロス値が65%の優れた反射防止性を有していた。
【0032】また、解像度については、各々のパネルガ
ラスを所定寸法にサンプルカットして、垂直に設置した
ガラスサンプルのSiO2 被膜形成側に受光器を、他側
に光源を設置して、光源に対する正面位置を0°として
受光器を角度移動させ、各角度毎の透過光強度を測定す
る変角透過試験により測定した。
【0033】図3は、各々の陰極線管用パネルの変角透
過光強度の測定結果である。図3から明らかなように、
実施例の陰極線管用パネルの曲線は比較例のものに比べ
て、裾の広がりが小さい曲線となった。即ち、実施例の
陰極線管用パネルは、比較例に比べて変角角度0°にお
ける透過光強度が高く、変角に伴う透過光強度の低下率
が大きく、優れた解像度を有していた。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明によると、優れた反
射防止性を有すると共に優れた解像度が得られる陰極線
管用パネル得ることができる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a panel for a cathode ray tube capable of obtaining excellent antireflection properties and resolution. 2. Description of the Related Art A cathode ray tube panel has a mirror surface when the outer surface thereof is not subjected to any treatment. In a cathode ray tube using such a panel, an external light beam is emitted. However, there is a problem that an image reflected on an outer surface of the panel becomes difficult to see an image projected on the panel. [0003] To prevent external light reflection, a cathode ray tube has been proposed in which a large number of irregularities are formed on the outer surface of a panel. In such a cathode ray tube, a large number of irregularities formed on the outer surface of the panel scatter external light reflection on the panel surface, so that regular reflection can be reduced and external light reflection can be reduced. In order to form irregularities on the outer surface of the panel, there is a method of forming irregularities directly on the panel glass by mechanical or chemical means such as honing or frosting to roughen the outer surface. Honing, however, has the drawback that it cannot be regenerated and its quality is not stable because the glass is ground by applying an abrasive to the outer surface of the panel to make the glass uneven. Further, the frosting process involves etching the glass with hydrofluoric acid to make the glass uneven, so that not only is it impossible to regenerate but also there is a problem in terms of handling safety and pollution associated with the use of hydrofluoric acid. [0005] In order to solve such a problem, a solution containing SiO 2 particles is sprayed on the outer surface of the panel, so that a large number of irregularities composed of SiO 2 particles are formed.
A cathode ray tube formed with an iO 2 coating has been proposed. [0006] The present invention is, however, in the cathode ray tube to form a conventional SiO 2 film, although capable of preventing reflection of external light, an image light to form an image displayed on the panel, the SiO 2 Since it is diffused by the SiO 2 particles constituting the coating, there is a problem that the resolution which is most important for the cathode ray tube is significantly reduced. FIGS. 4 and 5 are enlarged sectional views of SiO 2 particles constituting a conventional SiO 2 coating. Conventional Si
As shown in FIG. 4, the SiO 2 particles 20 constituting the O 2 coating have a peripheral portion 21 protruding, and a central portion 22 has a bowl shape smoothly depressed from the peripheral portion 21. As shown in FIG. 5, a hemisphere bulging from the peripheral portion 21 toward the central portion 22 is formed.
The SiO 2 coating composed of the two particles 20 has many irregularities as a whole. However, FIG.
2, or since the surface of the SiO 2 particles 20 in FIG. 5 has a spherical surface, the image light rays transmitted from the phosphor on the inner surface of the panel are diffused by the lens effect on the spherical surface of the SiO 2 particles 20, and as a result, As a result, the resolution of the cathode ray tube decreases. Therefore, in the conventional cathode ray tube in which the SiO 2 coating is formed on the outer surface of the panel, there is a problem that the resolution is remarkably reduced in order to obtain excellent antireflection properties. Further, the SiO 2 particles 20 constituting the conventional SiO 2 film, SiO 2 that poor resolution from the thickness of the central portion 22 of the particle 20 is thick, plus the periphery 21 of the SiO 2 particles 20 Because of the large difference in film thickness between the substrate and the central portion 22, for example, an antireflection film is formed on the outer surface of the panel by spin coating or the like, and the SiO 2 particles 2
When a SiO 2 film having a large number of irregularities made of 0 is formed, there is also a problem that reflection due to the interference effect of light is increased. Accordingly, an object of the present invention is to provide a panel for a cathode ray tube in which an SiO 2 film having irregularities is formed on the outer surface of the panel to obtain excellent antireflection properties and resolution. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems and objects, and sprays a solution containing SiO 2 on the outer surface to form a large number of irregularities composed of fine SiO 2 particles. In the cathode ray tube panel on which the formed SiO 2 coating is formed, the peripheral portion of each SiO 2 particle is raised and the central portion is flat, and the central portion has a thickness of 400 °.
Ri der Hereinafter, the difference between the peripheral portion and the central portion of the SiO 2 particles
200~400Å der is Rukoto cathode ray tube panel according to claim. Incidentally, the SiO 2 film having a large number of irregularities formed in the present invention is not limited to the case where it is formed directly on the outer surface of the panel. And the case where it is formed as an outermost layer film on another film such as an antireflection film. According to the present invention, since the central portion of each of the SiO 2 particles constituting the SiO 2 coating has a flat surface, the image light beam transmitted through the central portion is formed by the lens of the SiO 2 particles. Since the light is transmitted to the outside of the panel without being diffused by the effect, excellent resolution is obtained. The reason why the thickness of the central portion is set to 400 ° or less is, in particular, on the antireflection film formed on the outer surface of the panel by spin coating or the like.
In the case of forming the SiO 2 film by SiO 2 particles is because the thickness of the central portion of the SiO 2 particles is significantly larger 400Å greater than the surface reflection. Further, by setting the head of each SiO 2 particle between the peripheral part and the central part at 200 to 400 °,
By reducing the difference in film thickness between the peripheral portion and the central portion of the O 2 particles, reflected light can be reduced. The head is 200
If it is smaller than Å, an antiglare effect cannot be obtained, and if it is larger than 400 Å, a light interference effect cannot be obtained and the surface reflection will be large. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a cathode ray tube panel of the present invention and a method of manufacturing the same will be described based on embodiments. FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a panel for a cathode ray tube according to the present invention. The outer surface of the panel glass 10 is made of SiO 2 having many irregularities 11 made of minute SiO 2 particles.
Two coatings 12 are formed. FIG. 2 is an enlarged sectional view of the SiO 2 particles constituting the SiO 2 coating 12. The peripheral part 14 of each SiO 2 particle 13 is raised and the central part 15 is flat. In addition, SiO 2
The thickness of the central portion 15 of the particle 13 is 400 ° or less. The drop between the peripheral portion 14 and the central portion 15 in each SiO 2 particle 13 is 200 to 400 °. A peripheral edge portion 14 when the fall is too large between the central portion 15 results in the center 15 of the SiO 2 particles 13 are less likely to flatten the situation of SiO 2 particles 13, is one of the objects of the present invention In order to improve the resolution, it is considered that the upper limit of the drop between the peripheral portion 14 and the central portion 15 of the SiO 2 particles 13 is 400 °. An SiO 2 coating 1 on the panel glass 10
2 was formed by the following method. First, the outer surface of the panel glass 10 is cleaned,
After drying, the outer surface was heated to 40 to 50 ° C and heated. Then, a SiO 2 solid content of 1.5 to 2.0%
The ethanol solution containing SiO 2 by spray coating, and was blown to the outer surface of the panel glass 10 at a spray pressure of 2.7 kg / cm 3. At this time, the panel glass 10
The ethanol solution containing SiO 2 sprayed on the outer surface of the panel glass becomes droplets and hits the outer surface of the panel glass 10 so that the peripheral portion 14 is raised and the center portion 15 has a bowl shape. 40-50 outer surface
Due to the temperature of ° C., it does not dry instantaneously, but deforms from the peripheral portion 14 to the central portion 15 to flatten the central portion 15 and then dry and solidify. As a result, the SiO 2 particles 13 in which the peripheral portion 14 is raised and the central portion has a flat shape are obtained. Thereafter, the panel glass 10 is heated at 450 ° C.
By baking for 30 minutes, a SiO 2 coating film 12 having irregularities 11 composed of the above-mentioned fine SiO 2 particles 13 was formed. In this embodiment, an ethanol solution is used as a solvent for SiO 2. However, the present invention is not limited to this, and SiO 2 (OR) 4 using another solution as a solvent is also possible. The transparent coating 12 is formed on the panel glass 1.
0 may be formed on another film formed on the outer surface. (Comparative Example) A panel glass 10 as shown in FIG. 1 was prepared, and on its outer surface, an SiO 2 coating having a large number of irregularities composed of fine SiO 2 particles was formed. Each Si constituting the SiO 2 coating
The peripheral portion of the O 2 particles is raised, and the center portion has a bowl shape smoothly depressed from the peripheral portion. In addition, each Si
The central portion of the O 2 particles has a thickness of 500 ° or more,
The difference between the periphery and the center is 500-1000 °. The formation of the SiO 2 coating on the panel glass 10 was performed by the following method. First, the outer surface of the panel glass 10 is cleaned,
After drying, the outer surface was heated to 55 to 65 ° C. and heated, and thereafter, an SiO 2 coating having irregularities composed of the above minute SiO 2 particles was formed in the same manner as in the example. A measurement test was conducted on the antireflection properties and the resolution of each of the cathode ray tube panels thus produced. Regarding the antireflection property, both the examples and comparative examples had excellent antireflection properties with a gloss value of 65%. Regarding the resolution, each panel glass was sample-cut to a predetermined size, and a photodetector was installed on the side of the glass sample that was installed vertically on the SiO 2 film forming side, and a light source was installed on the other side. With the front position set to 0 °, the light receiver was moved at an angle, and the angle was measured by a variable angle transmission test for measuring the transmitted light intensity at each angle. FIG. 3 shows the results of measuring the transmitted light intensity of the variable angle of each panel for a cathode ray tube. As is clear from FIG.
The curve of the panel for a cathode ray tube of the example was a curve in which the skirt spread was smaller than that of the panel of the comparative example. That is, the panel for a cathode ray tube of the example had a higher transmitted light intensity at a variable angle of 0 ° than the comparative example, a large decrease rate of the transmitted light intensity due to the variable angle, and had excellent resolution. As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a panel for a cathode ray tube having excellent antireflection properties and excellent resolution.
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の陰極線管用パネルの縦断面図
である。
【図2】本発明の実施例のSiO2 被膜を構成するSi
O2 粒子の拡大断面図である。
【図3】本発明の陰極線管用パネルと比較例の陰極線管
用パネルの変角透過光強度を示すグラフである。
【図4】従来のSiO2 被膜を構成するSiO2 粒子の
拡大断面図である。
【図5】従来のSiO2 被膜を構成するSiO2 粒子の
拡大断面図である。
【符号の説明】
10 パネルガラス
11 凹凸
12 SiO2 被膜
13、20 SiO2 粒子
14、21 周縁部
15、22 中心部BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a cathode ray tube panel according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows an example of Si constituting an SiO 2 coating according to an embodiment of the present invention.
It is an enlarged sectional view of the O 2 particles. FIG. 3 is a graph showing the angle-changed transmitted light intensities of the cathode ray tube panel of the present invention and a cathode ray tube panel of a comparative example. FIG. 4 is an enlarged sectional view of SiO 2 particles constituting a conventional SiO 2 coating. FIG. 5 is an enlarged sectional view of SiO 2 particles constituting a conventional SiO 2 coating. [Description of Signs] 10 Panel glass 11 Irregularities 12 SiO 2 coating 13, 20 SiO 2 particles 14, 21 Peripheral parts 15, 22 Central part
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 29/88 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01J 29/88
Claims (1)
け、微小なSiO2粒子からなる多数の凹凸を呈するS
iO2被膜を形成した陰極線管用パネルにおいて、各々
のSiO2粒子の周縁部は隆起して中心部が平坦を呈し
ており、且つ前記中心部の膜厚が400Å以下であり、
SiO 2 粒子の周縁部と中心部との落差が200〜40
0Åであることを特徴とする陰極線管用パネル。(57) [Claims 1] A solution containing SiO 2 is sprayed on the outer surface to form a plurality of irregularities composed of minute SiO 2 particles.
In the cathode ray tube panel forming the iO 2 film, the periphery of each of the SiO 2 particles are present a flat central portion and raised, Ri and thickness der less 400Å of the central portion,
The drop between the peripheral edge and the center of the SiO 2 particles is 200 to 40
0Å der cathode-ray tube for the panel characterized the Rukoto.
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1996
- 1996-09-20 JP JP27136696A patent/JP3454337B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
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| JPH1097831A (en) | 1998-04-14 |
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