JP3456579B2 - 光ヘッド装置および光学式情報記録再生装置 - Google Patents
光ヘッド装置および光学式情報記録再生装置Info
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Description
て記録や再生を行うための光ヘッド装置および光学式情
報記録再生装置、特に、光記録媒体のラジアルチルトを
検出することが可能な光ヘッド装置および光学式情報記
録再生装置に関するものである。
度は、光ヘッド装置が光記録媒体上に形成する集光スポ
ットの径の2乗に反比例する。すなわち、集光スポット
の径が小さいほど記録密度は高くなる。集光スポットの
径は光ヘッド装置における対物レンズの開口数に反比例
する。すなわち、対物レンズの開口数が高いほど集光ス
ポットの径は小さくなる。一方、光記録媒体が対物レン
ズに対して半径方向に傾くと、光記録媒体の基板に起因
するコマ収差により集光スポットの形状が乱れ、記録再
生特性が悪化する。コマ収差は対物レンズの開口数の3
乗に比例するため、対物レンズの開口数が高いほど記録
再生特性に対する光記録媒体の半径方向の傾き(ラジア
ルチルト)のマージンは狭くなる。従って、記録密度を
高めるために対物レンズの開口数を高めた光ヘッド装置
および光学式情報記録再生装置においては、記録再生特
性を悪化させないために、光記録媒体のラジアルチルト
を検出、補正することが必要である。
検出することが可能な従来の光ヘッド装置の構成を示
す。この光ヘッド装置は、特開平7−141673号公
報に記載されているものである。半導体レーザ257か
らの出射光はコリメータレンズ258で平行光化され、
ハーフミラー259を約50%が透過し、対物レンズ2
60でディスク261上に集光される。ディスク261
からの反射光は対物レンズ260を逆向きに透過し、ハ
ーフミラー259で約50%が反射され、ホログラム光
学素子262により透過光および+1次回折光に分割さ
れ、レンズ263を透過して、光検出器264で受光さ
れる。
面図である。ホログラム光学素子262は、ディスク2
61の半径方向における左側、右側に設けられた、内側
に格子が形成された楕円状の領域265、266を有す
る。格子の方向は領域265、266のいずれにおいて
もディスク261の接線方向にほぼ平行であり、格子の
パタンは領域265、266のいずれにおいてもオフア
クシスの同心円状である。領域265、266の内側へ
の入射光は+1次回折光としてそれぞれ一部または全部
が回折される。一方、領域265、266の外側への入
射光は、全部が透過する。なお、図28中の点線は対物
レンズ260の有効径を示している。
ンと光検出器264上の光スポットの配置を示す。光ス
ポット271はホログラム光学素子262の領域26
5、266の外側からの透過光に相当し、光軸を通りデ
ィスク261の接線方向に平行な分割線で2つに分割さ
れた受光部267、268で受光される。光スポット2
72はホログラム光学素子262の領域265の内側か
らの+1次回折光に相当し、単一の受光部269で受光
される。光スポット273はホログラム光学素子262
の領域266の内側からの+1次回折光に相当し、単一
の受光部270で受光される。
れV267〜V270で表わすと、トラック誤差信号
は、プッシュプル法により、(V267+V269)−
(V268+V270)の演算から得られる。ディスク
261のラジアルチルトを検出するためのラジアルチル
ト信号は(V267+V270)−(V268+V26
9)の演算から得られる。また、再生信号は(V267
+V268+V269+V270)の演算から得られ
る。フォーカス誤差信号を得る方法に関しては示されて
いない。
りディスク261のラジアルチルトが検出できる理由に
ついて説明する。図30〜32にディスク261からの
反射光の強度分布の計算例を示す。図中の色が濃い部分
は強度が強い部分、色が薄い部分は強度が弱い部分にそ
れぞれ対応している。
がない場合の強度分布を示している。強度分布は、光軸
を通りディスク261の接線方向に平行な直線に関して
対称であり、ディスク261からの0次光と+1次回折
光の重なる領域(図中のディスク261の半径方向にお
ける左側の領域)である領域274、276、およびデ
ィスク261からの0次光と−1次回折光の重なる領域
(図中のディスク261の半径方向における右側の領
域)である領域275、277における強度が比較的強
く、ディスク261からの0次光のみの領域である領域
278における強度が比較的弱いことがわかる。
ルトがある場合の強度分布を示している。ディスク26
1からの0次光と+1次回折光の重なる領域である領域
279、281においては、周辺部である領域279の
強度が中心部である領域281の強度に比べて強く、デ
ィスク261からの0次光と−1次回折光の重なる領域
である領域280、282においては、周辺部である領
域280の強度が中心部である領域282の強度に比べ
て弱いことがわかる。
ルトがある場合の強度分布を示している。ディスク26
1からの0次光と+1次回折光の重なる領域である領域
283、285においては、周辺部である領域283の
強度が中心部である領域285の強度に比べて弱く、デ
ィスク261からの0次光と−1次回折光の重なる領域
である領域284、286においては、周辺部である領
域284の強度が中心部である領域286の強度に比べ
て強いことがわかる。
からの0次光と+1次回折光の重なる領域における周辺
部、中心部は、図29に示す光検出器264の受光部2
67、269、ディスク261からの0次光と−1次回
折光の重なる領域における周辺部、中心部は、図29に
示す光検出器264の受光部268、270にそれぞれ
対応している。
トが0、正、負の場合、ラジアルチルト信号である(V
267+V270)−(V268+V269)の値はそ
れぞれ0、正、負となる。従って、このラジアルチルト
信号を用いてディスク261のラジアルチルトを検出す
ることができる。ディスク261のラジアルチルトが検
出できれば、そのラジアルチルト量に応じた補正を行う
ことにより、記録再生特性に対する悪影響をなくすこと
ができる。
おいて、ラジアルチルト(半径方向の傾き)の検出を行
う場合、対物レンズ260が、ディスク261の偏芯等
によりディスク261の半径方向にシフトすると、ラジ
アルチルト信号にそのシフト量に応じたオフセットを生
じ、ディスク261のラジアルチルトを正しく検出する
ことができないという課題がある。具体的には、対物レ
ンズ260がディスク261の半径方向にシフトする
と、光検出器264上の光スポット271もディスク2
61の半径方向にシフトする。光スポット271が、図
29中で左向きにシフトしたとすると、受光部267か
らの出力は増え、受光部268からの出力は減るため、
ラジアルチルト信号である[(V267+V270)−
(V268+V269)]に正のオフセットを生じる。
ルトを検出することが可能な従来の光ヘッド装置におけ
る上記に述べた課題を解決し、対物レンズが光記録媒体
の半径方向にシフトしても、ラジアルチルト信号にオフ
セットを生じず、光記録媒体のラジアルチルトを正しく
検出することができる光ヘッド装置および光学式情報記
録再生装置を提供することにある。
おいては、光源からの出射光からメインビームとサブビ
ームを生成し、光記録媒体で反射されたメインビーム、
サブビームの各々を、光記録媒体からの0次光と+1次
回折光の重なる領域の周辺部、光記録媒体からの0次光
と+1次回折光の重なる領域の中心部、光記録媒体から
の0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部、および
光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の
中心部の4つの領域に分割し、光記録媒体で反射された
メインビーム、サブビームの各々に対する、光記録媒体
からの0次光と+1次回折光の重なる領域の周辺部の強
度と、光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる
領域の中心部の強度の和と、光記録媒体からの0次光と
−1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、光記録媒
体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部の
強度の和との差に基づいて、光記録媒体のラジアルチル
トを検出する。このとき、サブビームの集光スポットを
メインビームの集光スポットに対し、光記録媒体の半径
方向にずらして配置するか、対物レンズに入射するサブ
ビームの位相を、光軸を通り光記録媒体の接線方向に平
行な直線の左側と右側で互いにずらす。
ーム、サブビームの各々に対する、光記録媒体からの0
次光と+1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、光
記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の中
心部の強度の和と、光記録媒体からの0次光と−1次回
折光の重なる領域の周辺部の強度と、光記録媒体からの
0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部の強度の和
との差を、それぞれメインビーム、サブビームのラジア
ルチルト信号と呼ぶ。このとき、サブビームの集光スポ
ットをメインビームの集光スポットに対し、光記録媒体
の半径方向にずらして配置するか、対物レンズに入射す
るサブビームの位相を、光軸を通り光記録媒体の接線方
向に平行な直線の左側と右側で互いにずらすため、光記
録媒体にラジアルチルトがある場合のラジアルチルト信
号はメインビームとサブビームで値が異なる。一方、対
物レンズが光記録媒体の半径方向にシフトした場合、光
検出器上の光スポットが光記録媒体の半径方向にシフト
する量はメインビームとサブビームで同じであるため、
ラジアルチルト信号に生じるオフセットもメインビーム
とサブビームで同じである。
号とサブビームのラジアルチルト信号の差を最終的なラ
ジアルチルト信号とすると、光記録媒体にラジアルチル
トがある場合のラジアルチルト信号はメインビームとサ
ブビームで相殺されず、対物レンズが光記録媒体の半径
方向にシフトした場合にラジアルチルト信号に生じるオ
フセットはメインビームとサブビームで相殺されるた
め、対物レンズが光記録媒体の半径方向にシフトしても
ラジアルチルト信号にオフセットを生じず、光記録媒体
のラジアルチルトを正しく検出することができる。
は、光記録媒体のラジアルチルトを検出することが可能
な本発明の光ヘッド装置を用い、記録再生特性に対する
悪影響がなくなるように光記録媒体のラジアルチルトの
補正を行う。
の実施形態について説明する。
本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態を示す。波長約
650nmのレーザ光を出射する半導体レーザ1からの
出射光は、コリメータレンズ2で平行光化され、回折光
学素子3によりメインビームである0次光、サブビーム
である±1次回折光の3つの光に分割される。これらの
光は偏光ビームスプリッタ4にP偏光として入射してほ
ぼ100%が透過し、1/4波長板5を透過して直線偏
光から円偏光に変換され、対物レンズ6でディスク7上
に集光される。回折光学素子3からの0次光および±1
次回折光に対応するディスク7からの3つ反射光は、対
物レンズ6を逆向きに透過し、1/4波長板5を透過し
て円偏光から往路と偏光方向が直交した直線偏光に変換
され、偏光ビームスプリッタ4にS偏光として入射して
ほぼ100%が反射され、ホログラム光学素子8で+1
次回折光としてほぼ100%が回折され、レンズ9を透
過して光検出器10で受光される。
折光学素子3は、図中に点線で示す対物レンズ6の有効
径を含む領域に回折格子が形成された構成である。回折
格子における格子の方向はディスク7の半径方向にほぼ
平行であり、格子のパタンは等間隔の直線状である。格
子のライン部とスペース部の位相差を例えば0.232
πとすると、入射光は0次光として約87.3%が透過
し、±1次回折光としてそれぞれ約5.1%が回折され
る。
を示す。ここで、ディスク7への入射光の側から見て、
ディスク7に形成された溝の凸部をグルーブ、凹部をラ
ンドと呼び、グルーブと凹部のランドとで1トラックと
して用いることとする。集光スポット12、13、14
は、それぞれ回折光学素子3からの0次光、+1次回折
光、−1次回折光に相当する。集光スポット12はトラ
ック11(グルーブまたはランド)上、集光スポット1
3はトラック11の左側に隣接するトラック(ランドま
たはグルーブ)上、集光スポット14はトラック11の
右側に隣接するトラック(ランドまたはグルーブ)上に
それぞれ配置されている。
る。ホログラム光学素子8は、ディスク7の接線方向に
平行な5本の分割線および半径方向に平行な分割線で、
領域15〜22の8つに分割されている。格子の方向は
領域15〜22のいずれにおいてもディスク7の接線方
向に平行である。また、格子のパタンは領域15〜22
のいずれにおいても等間隔の直線状であり、領域15、
21における間隔は最も狭く、領域16、22における
間隔、領域17、19における間隔、領域18、20に
おける間隔は順に広くなる。さらに、格子の断面形状は
領域15〜22のいずれにおいても鋸歯状であり、入射
光に対する鋸歯の上部と下部の位相差を2πとすると、
各領域への入射光は+1次回折光としてそれぞれほぼ1
00%が回折される。領域15〜18における鋸歯の向
きは+1次回折光が図の左側に偏向されるように設定さ
れており、領域19〜22における鋸歯の向きは+1次
回折光が図の右側に偏向されるように設定されている。
検出器10上の光スポットの配置を示す。光スポット5
5は回折光学素子3からの0次光のうちホログラム光学
素子8の領域15からの+1次回折光に相当し、ディス
ク7の半径方向に平行な分割線で2つに分割された受光
部23、24の境界線上に集光される。光スポット56
は回折光学素子3からの0次光のうちホログラム光学素
子8の領域16からの+1次回折光に相当し、ディスク
7の半径方向に平行な分割線で2つに分割された受光部
25、26の境界線上に集光される。光スポット57は
回折光学素子3からの0次光のうちホログラム光学素子
8の領域17からの+1次回折光に相当し、ディスク7
の半径方向に平行な分割線で2つに分割された受光部2
7、28の境界線上に集光される。
0次光のうちホログラム光学素子8の領域18からの+
1次回折光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分
割線で2つに分割された受光部29、30の境界線上に
集光される。光スポット59は回折光学素子3からの0
次光のうちホログラム光学素子8の領域20からの+1
次回折光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割
線で2つに分割された受光部31、32の境界線上に集
光される。光スポット60は回折光学素子3からの0次
光のうちホログラム光学素子8の領域19からの+1次
回折光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割線
で2つに分割された受光部33、34の境界線上に集光
される。光スポット61は回折光学素子3からの0次光
のうちホログラム光学素子8の領域22からの+1次回
折光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で
2つに分割された受光部35、36の境界線上に集光さ
れる。光スポット62は回折光学素子3からの0次光の
うちホログラム光学素子8の領域21からの+1次回折
光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で2
つに分割された受光部37、38の境界線上に集光され
る。
からの+1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域
15からの+1次回折光に相当し、単一の受光部39上
に集光される。光スポット64は回折光学素子3からの
+1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域16か
らの+1次回折光に相当し、単一の受光部40上に集光
される。光スポット65は回折光学素子3からの+1次
回折光のうちホログラム光学素子8の領域17からの+
1次回折光に相当し、単一の受光部41上に集光され
る。光スポット66は回折光学素子3からの+1次回折
光のうちホログラム光学素子8の領域18からの+1次
回折光に相当し、単一の受光部42上に集光される。
1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域20から
の+1次回折光に相当し、単一の受光部43上に集光さ
れる。光スポット68は回折光学素子3からの+1次回
折光のうちホログラム光学素子8の領域19からの+1
次回折光に相当し、単一の受光部44上に集光される。
光スポット69は回折光学素子3からの+1次回折光の
うちホログラム光学素子8の領域22からの+1次回折
光に相当し、単一の受光部45上に集光される。光スポ
ット70は回折光学素子3からの+1次回折光のうちホ
ログラム光学素子8の領域21からの+1次回折光に相
当し、単一の受光部46上に集光される。
らの−1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域1
5からの+1次回折光に相当し、単一の受光部47上に
集光される。光スポット72は回折光学素子3からの−
1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域16から
の+1次回折光に相当し、単一の受光部48上に集光さ
れる。光スポット73は回折光学素子3からの−1次回
折光のうちホログラム光学素子8の領域17からの+1
次回折光に相当し、単一の受光部49上に集光される。
光スポット74は回折光学素子3からの−1次回折光の
うちホログラム光学素子8の領域18からの+1次回折
光に相当し、単一の受光部50上に集光される。
1次回折光のうちホログラム光学素子8の領域20から
の+1次回折光に相当し、単一の受光部51上に集光さ
れる。光スポット76は回折光学素子3からの−1次回
折光のうちホログラム光学素子8の領域19からの+1
次回折光に相当し、単一の受光部52上に集光される。
光スポット77は回折光学素子3からの−1次回折光の
うちホログラム光学素子8の領域22からの+1次回折
光に相当し、単一の受光部53上に集光される。光スポ
ット78は回折光学素子3からの−1次回折光のうちホ
ログラム光学素子8の領域21からの+1次回折光に相
当し、単一の受光部54上に集光される。
V23〜V54で表わすと、フォーカス誤差信号は、フ
ーコー法により、[(V23+V25+V27+V29
+V32+V34+V36+V38)−(V24+V2
6+V28+V30+V31+V33+V35+V3
7)]の演算から得られる。トラック誤差信号は、差動
プッシュプル法により、[(V23+V24+V25+
V26+V31+V32+V33+V34)−(V27
+V28+V29+V30+V35+V36+V37+
V38)]−K[(V39+V40+V43+V44+
V47+V48+V51+V52)−(V41+V42
+V45+V46+V49+V50+V53+V5
4)](Kは定数)の演算から得られる。
するためのラジアルチルト信号は、[(V23+V24
+V29+V30+V33+V34+V35+V36)
−(V25+V26+V27+V28+V31+V32
+V37+V38)]−K[(V39+V42+V44
+V45+V47+V50+V52+V53)−(V4
0+V41+V43+V46+V48+V49+V51
+V54)](Kは定数)の演算から得られる。また、
メインビームである集光スポット12による再生信号
は、(V23+V24+V25+V26+V27+V2
8+V29+V30+V31+V32+V33+V34
+V35+V36+V37+V38)の演算から得られ
る。
りディスク7のラジアルチルトが検出できる理由につい
て説明する。図30〜32にディスク7からの反射光の
強度分布の計算例を示す。計算は、図1に示す構成にお
いて、半導体レーザ1の波長660nm、対物レンズ6
の開口数0.65、ディスク7の基板厚0.6mm、ト
ラックピッチ0.5μm、溝深さ70nmの条件で行っ
た。図中の色が濃い部分は強度が強い部分、色が薄い部
分は強度が弱い部分にそれぞれ対応している。図30
は、ディスク7にラジアルチルトがなく、かつメインビ
ームである集光スポット12がディスク7のグルーブ上
またはランド上に位置する場合のメインビームの強度分
布を示している。強度分布は、光軸を通りディスク7の
接線方向に平行な直線に関して対称であり、ディスク7
からの0次光と+1次回折光の重なる領域(図中のディ
スク7の半径方向における左側の領域)である領域27
4、276、およびディスク7からの0次光と−1次回
折光の重なる領域(図中のディスク7の半径方向におけ
る右側の領域)である領域275、277における強度
が比較的強く、ディスク7からの0次光のみの領域であ
る領域278における強度が比較的弱いことがわかる。
アルチルトがあり、かつメインビームである集光スポッ
ト12がディスク7のグルーブ上に位置する場合、また
は、ディスク7に−0.2°のラジアルチルトがあり、
かつメインビームである集光スポット12がディスク7
のランド上に位置する場合のメインビームの強度分布を
示している。ディスク7からの0次光と+1次回折光の
重なる領域においては、周辺部である領域279の強度
が中心部である領域281の強度に比べて強く、ディス
ク7からの0次光と−1次回折光の重なる領域において
は、周辺部である領域280の強度が中心部である領域
282の強度に比べて弱いことがわかる。
アルチルトがあり、かつメインビームである集光スポッ
ト12がディスク7のグルーブ上に位置する場合、また
は、ディスク7に+0.2°のラジアルチルトがあり、
かつメインビームである集光スポット12がディスク7
のランド上に位置する場合のメインビームの強度分布を
示している。ディスク7からの0次光と+1次回折光の
重なる領域においては、周辺部である領域283の強度
が中心部である領域285の強度に比べて弱く、ディス
ク7からの0次光と−1次回折光の重なる領域において
は、周辺部である領域284の強度が中心部である領域
286の強度に比べて強いことがわかる。
0次光と+1次回折光の重なる領域における周辺部は、
光検出器10の受光部23、24、33、34、ディス
ク7からの0次光と+1次回折光の重なる領域における
中心部は光検出器10の受光部25、26、31、3
2、ディスク7からの0次光と−1次回折光の重なる領
域における周辺部は光検出器10の受光部27、28、
37、38、ディスク7からの0次光と−1次回折光の
重なる領域における中心部は光検出器10の受光部2
9、30、35、36にそれぞれ対応している。
チルト信号に関わる各種の波形を示す。横軸はメインビ
ームである集光スポット12がディスク7の溝を半径方
向の左側から右側へ横断する際の集光スポット12と溝
の位置ずれであり、図6の上段に示すaは集光スポット
12がグルーブ上に位置している状態、bは集光スポッ
ト12がグルーブとランドの境界上に位置している状
態、cは集光スポット12がランド上に位置している状
態、dは集光スポット12がランドとグルーブの境界上
に位置している状態にそれぞれ対応している。
るプッシュプル信号である[(V23+V24+V25
+V26+V31+V32+V33+V34)−(V2
7+V28+V29+V30+V35+V36+V37
+V38)]の波形は図6(a)の実線のようになる。
集光スポット13は集光スポット12に対し、ディスク
7の溝の1/2周期分だけディスク7の半径方向に図3
の左側にずらして配置されているため、サブビームであ
る集光スポット13によるプッシュプル信号である
[(V39+V40+V43+V44)−(V41+V
42+V45+V46)]の波形は、図6(a)の実線
の波形に対して位相が、πだけ遅れて、図6(b)の実
線のようになる。
2に対し、ディスク7の溝の1/2周期分だけディスク
7の半径方向に、図3の右側にずらして配置されている
ため、サブビームである集光スポット14によるプッシ
ュプル信号である[(V47+V48+V51+V5
2)−(V49+V50+V53+V54)]の波形
は、図6(a)の実線の波形に対して位相がπだけ進ん
で、図6(b)の実線のようになる。図6(a)、図6
(b)の実線の波形は逆相であるため、メインビームで
ある集光スポット12によるプッシュプル信号と、サブ
ビームである集光スポット13、14によるプッシュプ
ル信号の和との差、すなわち差動プッシュプル法による
トラック誤差信号である[(V23+V24+V25+
V26+V31+V32+V33+V34)−(V27
+V28+V29+V30+V35+V36+V37+
V38)]−K[(V39+V40+V43+V44+
V47+V48+V51+V52)−(V41+V42
+V45+V46+V49+V50+V53+V5
4)](Kは定数)の波形は、図6(c)の実線のよう
になる。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上またはランド上に位置する場合共に0となるため、
その波形は図6(d)の実線のようになる。集光スポッ
ト13は集光スポット12に対し、ディスク7の溝の1
/2周期分だけディスク7の半径方向に、図3の左側に
ずらして配置されているため、サブビームである集光ス
ポット13によるラジアルチルト信号である[(V39
+V42+V44+V45)−(V40+V41+V4
3+V46)]の波形は、図6(d)の実線の波形に対
して位相がπだけ遅れて図6(e)の実線のようにな
る。集光スポット14は集光スポット12に対し、ディ
スク7の溝の1/2周期分だけディスク7の半径方向に
図3の右側にずらして配置されているため、サブビーム
である集光スポット14によるラジアルチルト信号であ
る[(V47+V50+V52+V53)−(V48+
V49+V51+V54)]の波形は、図6(d)の実
線の波形に対して位相がπだけ進んで、図6(e)の実
線のようになる。このため、メインビームである集光ス
ポット12によるラジアルチルト信号と、サブビームで
ある集光スポット13、14によるラジアルチルト信号
の和との差、すなわち最終的なラジアルチルト信号であ
る[(V23+V24+V29+V30+V33+V3
4+V35+V36)−(V25+V26+V27+V
28+V31+V32+V37+V38)]−K[(V
39+V42+V44+V45+V47+V50+V5
2+V53)−(V40+V41+V43+V46+V
48+V49+V51+V54)](Kは定数)の波形
は、図6(f)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上に位置する場合は正、ランド上に位置する場合は負
となるため、その波形は図6(g)の実線のようにな
る。集光スポット13は集光スポット12に対し、ディ
スク7の溝の1/2周期分だけディスク7の半径方向に
図3の左側にずらして配置されているため、サブビーム
である集光スポット13によるラジアルチルト信号であ
る[(V39+V42+V44+V45)−(V40+
V41+V43+V46)]の波形は、図6(g)の実
線の波形に対して位相がπだけ遅れて図6(h)の実線
のようになる。また、集光スポット14は集光スポット
12に対し、ディスク7の溝の1/2周期分だけディス
ク7の半径方向に図3の右側にずらして配置されている
ため、サブビームである集光スポット14によるラジア
ルチルト信号である[(V47+V50+V52+V5
3)−(V48+V49+V51+V54)]の波形
は、図6(g)の実線の波形に対して位相がπだけ進ん
で、図6(h)の実線のようになる。図6(g)、図6
(h)の実線の波形は逆相であるため、メインビームで
ある集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サ
ブビームである集光スポット13、14によるラジアル
チルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチル
ト信号である[(V23+V24+V29+V30+V
33+V34+V35+V36)−(V25+V26+
V27+V28+V31+V32+V37+V38)]
−K[(V39+V42+V44+V45+V47+V
50+V52+V53)−(V40+V41+V43+
V46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は、図6(i)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上に位置する場合は負、ランド上に位置する場合は正
となるため、その波形は図6(j)の実線のようにな
る。集光スポット13は集光スポット12に対し、ディ
スク7の溝の1/2周期分だけディスク7の半径方向に
図3の左側にずらして配置されているため、サブビーム
である集光スポット13によるラジアルチルト信号であ
る[(V39+V42+V44+V45)−(V40+
V41+V43+V46)]の波形は、図6(j)の実
線の波形に対して位相がπだけ遅れて図6(k)の実線
のようになる。
2に対し、ディスク7の溝の1/2周期分だけディスク
7の半径方向に、図3の右側にずらして配置されている
ため、サブビームである集光スポット14によるラジア
ルチルト信号である[(V47+V50+V52+V5
3)−(V48+V49+V51+V54)]の波形
は、図6(j)の実線の波形に対して位相がπだけ進
ん、図6(k)の実線のようになる。図6(j)、図6
(k)の実線の波形は逆相であるため、メインビームで
ある集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サ
ブビームである集光スポット13、14によるラジアル
チルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチル
ト信号である[(V23+V24+V29+V30+V
33+V34+V35+V36)−(V25+V26+
V27+V28+V31+V32+V37+V38)]
−K[(V39+V42+V44+V45+V47+V
50+V52+V53)−(V40+V41+V43+
V46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は図6(l)の実線のようになる。
を用いて、図中のaの状態すなわちグルーブに対してト
ラックサーボをかける場合について考える。ディスク7
のラジアルチルトが0、正、負の場合、図6(f)、
(i)、(l)に示すラジアルチルト信号の値はそれぞ
れ0、正、負となる。従って、このラジアルチルト信号
を用いてディスク7のラジアルチルトを検出することが
できる。次に、図6(c)に示すトラック誤差信号を用
いて、図中のcの状態すなわちランドに対してトラック
サーボをかける場合について考える。ディスク7のラジ
アルチルトが0、正、負の場合、図6(f)、(i)、
(l)に示すラジアルチルト信号の値はそれぞれ0、
負、正となる。従って、このラジアルチルト信号を用い
てディスク7のラジアルチルトを検出することができ
る。
フトすると、ホログラム光学素子8上のメインビーム、
サブビームもディスク7の半径方向にシフトする。メイ
ンビームが、図4中で左向きにシフトしたとすると、受
光部23、24、33、34からの出力は増え、受光部
27、28、37、38からの出力は減る。また、サブ
ビームが、図4中で左向きにシフトしたとすると、受光
部39、44、47、52からの出力は増え、受光部4
1、46、49、54からの出力は減る。
ト12によるプッシュプル信号である[(V23+V2
4+V25+V26+V31+V32+V33+V3
4)−(V27+V28+V29+V30+V35+V
36+V37+V38)]の波形は図6(a)の点線の
ようになる。サブビームである集光スポット13による
プッシュプル信号である[(V39+V40+V43+
V44)−(V41+V42+V45+V46)]の波
形は、図6(b)の点線のようになる。サブビームであ
る集光スポット14によるプッシュプル信号である
[(V47+V48+V51+V52)−(V49+V
50+V53+V54)]の波形は、図6(b)の点線
のようになる。図6(a)、図6(b)の点線の波形は
逆相であるが、直流成分の符号が同じであるため、差動
プッシュプル法によるトラック誤差信号である[(V2
3+V24+V25+V26+V31+V32+V33
+V34)−(V27+V28+V29+V30+V3
5+V36+V37+V38)]−K[(V39+V4
0+V43+V44+V47+V48+V51+V5
2)−(V41+V42+V45+V46+V49+V
50+V53+V54)](Kは定数)の波形は、Kの
値を適切に設定することにより、プッシュプル信号に生
じるオフセットがメインビームとサブビームで相殺さ
れ、図6(c)の実線のようになる。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図6(d)の点線のようになる。サブ
ビームである集光スポット13によるラジアルチルト信
号である[(V39+V42+V44+V45)−(V
40+V41+V43+V46)]の波形は、図6
(e)の点線のようになる。サブビームである集光スポ
ット14によるラジアルチルト信号である[(V47+
V50+V52+V53)−(V48+V49+V51
+V54)]の波形は、図6(e)の点線のようにな
る。図6(d)、図6(e)の点線の波形は直流成分の
符号が同じであるため、最終的なラジアルチルト信号で
ある[(V23+V24+V29+V30+V33+V
34+V35+V36)−(V25+V26+V27+
V28+V31+V32+V37+V38)]−K
[(V39+V42+V44+V45+V47+V50
+V52+V53)−(V40+V41+V43+V4
6+V48+V49+V51+V54)](Kは定数)
の波形は、Kの値を適切に設定することにより、ラジア
ルチルト信号に生じるオフセットがメインビームとサブ
ビームで相殺され、図6(f)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図6(g)の点線のようになる。サブ
ビームである集光スポット13によるラジアルチルト信
号である[(V39+V42+V44+V45)−(V
40+V41+V43+V46)]の波形は、図6
(h)の点線のようになる。サブビームである集光スポ
ット14によるラジアルチルト信号である[(V47+
V50+V52+V53)−(V48+V49+V51
+V54)]の波形は、図6(h)の点線のようにな
る。図6(g)、図6(h)の点線の波形は逆相である
が直流成分の符号が同じであるため、最終的なラジアル
チルト信号である[(V23+V24+V29+V30
+V33+V34+V35+V36)−(V25+V2
6+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]−K[(V39+V42+V44+V45+V4
7+V50+V52+V53)−(V40+V41+V
43+V46+V48+V49+V51+V54)]
(Kは定数)の波形は、Kの値を適切に設定することに
より、ラジアルチルト信号に生じるオフセットがメイン
ビームとサブビームで相殺され、図6(i)の実線のよ
うになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は図6(j)の点線のようになる。サブビ
ームである集光スポット13によるラジアルチルト信号
である[(V39+V42+V44+V45)−(V4
0+V41+V43+V46)]の波形は、図6(k)
の点線のようになる。サブビームである集光スポット1
4によるラジアルチルト信号である[(V47+V50
+V52+V53)−(V48+V49+V51+V5
4)]の波形は、図6(k)の点線のようになる。図6
(j)、図6(k)の点線の波形は逆相であるが直流成
分の符号が同じであるため、最終的なラジアルチルト信
号である[(V23+V24+V29+V30+V33
+V34+V35+V36)−(V25+V26+V2
7+V28+V31+V32+V37+V38)]−K
[(V39+V42+V44+V45+V47+V50
+V52+V53)−(V40+V41+V43+V4
6+V48+V49+V51+V54)](Kは定数)
の波形は、Kの値を適切に設定することにより、ラジア
ルチルト信号に生じるオフセットが、メインビームとサ
ブビームで相殺され、図6(l)の実線のようになる。
径方向にシフトしても、ラジアルチルト信号にオフセッ
トを生じず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出
することができる。
ルチルト特性を示す。横軸はラジアルチルト、縦軸はト
ラック和信号で規格化したラジアルチルト信号である。
図中の点線はグルーブに対してトラックサーボをかける
場合、実線はランドに対してトラックサーボをかける場
合をそれぞれ示している。グルーブ、ランドのいずれに
対してトラックサーボをかける場合も、ラジアルチルト
の絶対値が大きいほど、ラジアルチルト信号の絶対値も
大きくなる。ラジアルチルトの検出の感度は、図中の直
線状の実線、点線の傾きの絶対値で与えられる。図30
〜32に示す強度分布の計算の条件では、この値は約
0.4/°であり、感度としてはかなり高い。
態]図8に本発明の光学式情報記録再生装置の第一の実
施形態を示す。本実施の形態は、図1に示す本発明の光
ヘッド装置の第一の実施形態に、光学式情報記録再生装
置としての演算回路79、駆動回路80を付加したもの
である。通常の光学式情報記録再生装置においては、デ
ィスクを回転させるための駆動回路、データや画像信
号、音声信号等をディスクから読み出すための読み出し
用信号処理回路、データや画像信号、音声信号等をディ
スクに書き込むための書き込み用信号処理回路、操作盤
等の処理回路、CPU等の制御回路などが備えられてい
るが、これらについては、通常の回路でも良いため説明
を省略する。
からの出力に基づいて、ラジアルチルト信号を演算す
る。演算方法は本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態
で説明した通りである。駆動回路80は、演算回路79
と組み合わせることによりフィードバックによるループ
回路を構成し、ラジアルチルト信号が0になるように、
図中の点線で囲まれた領域288内の対物レンズ6をア
クチュエータによりディスク7の半径方向に傾ける。こ
れによりディスク7のラジアルチルトが補正され、記録
再生特性に対する悪影響がなくなる。例えばアクチュエ
ータには、電磁アクチュエータや圧電アクチュエータな
どが用いられる。具体的なアクチュエータの構成に関し
ては、例えばISOM/ODS'99テクニカルダイジ
ェスト20〜22頁に記載されている。図7に示すよう
に、グルーブに対してトラックサーボをかける場合と、
ランドに対してトラックサーボをかける場合では、ラジ
アルチルト信号の符号が逆になる。従って、グルーブと
ランドでは、ラジアルチルトの補正を行うための演算回
路79、駆動回路80から構成される回路の極性を切り
換える。
態]図9に本発明の光学式情報記録再生装置の第二の実
施形態を示す。本実施形態は、図1に示す本発明の光ヘ
ッド装置の第一の実施の形態に、演算回路79、駆動回
路81を付加したものである。
各受光部からの出力に基づいてラジアルチルト信号を演
算する。演算方法は本発明の光ヘッド装置の第一の実施
形態で説明した通りである。
み合わせることによりフィードバックによるループ回路
を構成し、ラジアルチルト信号が0になるように、図中
の点線で囲まれた領域289内の光ヘッド装置全体を、
図示しないモータにより、ディスク7の半径方向に傾け
る。これによりディスク7のラジアルチルトが補正さ
れ、記録再生特性に対する悪影響がなくなる。例えばモ
ータには、DCモータやステップモータなどが用いられ
る。具体的なモータの構成に関しては、例えば特開平9
−161293号公報に記載されている。図7に示すよ
うに、グルーブに対してトラックサーボをかける場合
と、ランドに対してトラックサーボをかける場合では、
ラジアルチルト信号の符号が逆になる。従って、グルー
ブとランドでは、ラジアルチルトの補正を行うための演
算回路79、駆動回路81から構成される回路の極性を
切り換える。本発明の光学式情報記録再生装置の実施形
態としては、これ以外に、光ヘッド装置の光学系中に、
液晶光学素子を設置して、ディスク7のラジアルチルト
を補正する形態も考えられる。この液晶光学素子を用い
る実施形態においては、ラジアルチルト信号が0になる
ように、複数の領域に分割された液晶光学素子の各領域
に異なる電圧を印加して、ディスク7の基板に起因する
コマ収差を打ち消すような、コマ収差を発生させる。具
体的な液晶光学素子の構成に関しては、例えばISOM
/ODS'96テクニカルダイジェスト351〜353
頁に記載されている。
の光ヘッド装置の第二の実施形態は、図1に示す本発明
の光ヘッド装置の第一の実施形態における、図3に示す
ディスク7上の集光スポットの配置を、図10に示すデ
ィスク7上の集光スポットの配置に変えたものである。
集光スポット12、82、83は、それぞれ回折光学素
子3からの0次光、+1次回折光、−1次回折光に相当
する。集光スポット12はトラック11(グルーブまた
はランド)上、集光スポット82はトラック11とその
左側に隣接するトラック(ランドまたはグルーブ)の境
界上、集光スポット83はトラック11とその右側に隣
接するトラック(ランドまたはグルーブ)の境界上にそ
れぞれ配置されている。
ルチルト信号に関わる各種の波形を示す。横軸はメイン
ビームである集光スポット12がディスク7の溝を半径
方向の左側から右側へ横断する際の集光スポット12と
溝の位置ずれであり、aは集光スポット12がグルーブ
上に位置している状態、bは集光スポット12がグルー
ブとランドの境界上に位置している状態、cは集光スポ
ット12がランド上に位置している状態、dは集光スポ
ット12がランドとグルーブの境界上に位置している状
態にそれぞれ対応している。
るプッシュプル信号である[(V23+V24+V25
+V26+V31+V32+V33+V34)−(V2
7+V28+V29+V30+V35+V36+V37
+V38)]の波形は、図11(a)の実線のようにな
る。図10に示す集光スポット82は集光スポット12
に対し、ディスク7の溝の1/4周期分だけディスク7
の半径方向に図10の左側にずらして配置されているた
め、サブビームである集光スポット82によるプッシュ
プル信号である[(V39+V40+V43+V44)
−(V41+V42+V45+V46)]の波形は、図
11(a)の実線の波形に対して位相がπ/2だけ遅れ
て図11(b)の実線のようになる。
光スポット12に対し、ディスク7の溝の1/4周期分
だけディスク7の半径方向に図10の右側にずらして配
置されているため、サブビームである集光スポット83
によるプッシュプル信号である[(V47+V48+V
51+V52)−(V49+V50+V53+V5
4)]の波形は、図11(a)の実線の波形に対して位
相がπ/2だけ進んで図11(c)の実線のようにな
る。図11(b)、図11(c)の実線の波形は逆相で
あり、図11(a)の実線の波形に対して位相がπ/2
だけずれているため、メインビームである集光スポット
12によるプッシュプル信号と、サブビームである集光
スポット82、83によるプッシュプル信号の和との
差、すなわち差動プッシュプル法によるトラック誤差信
号である[(V23+V24+V25+V26+V31
+V32+V33+V34)−(V27+V28+V2
9+V30+V35+V36+V37+V38)]−K
[(V39+V40+V43+V44+V47+V48
+V51+V52)−(V41+V42+V45+V4
6+V49+V50+V53+V54)](Kは定数)
の波形は図11(d)の実線のようになる。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上またはランド上に位置する場合共に0となるため、
その波形は、図11(e)の実線のようになる。集光ス
ポット82は集光スポット12に対し、ディスク7の溝
の1/4周期分だけディスク7の半径方向に図10の左
側にずらして配置されているため、サブビームである集
光スポット82によるラジアルチルト信号である[(V
39+V42+V44+V45)−(V40+V41+
V43+V46)]の波形は、図11(e)の実線の波
形に対して位相がπ/2だけ遅れて、図11(f)の実
線のようになる。
2に対し、ディスク7の溝の1/4周期分だけディスク
7の半径方向に図10の右側にずらして配置されている
ため、サブビームである集光スポット83によるラジア
ルチルト信号である[(V47+V50+V52+V5
3)−(V48+V49+V51+V54)]の波形
は、図11(e)の実線の波形に対して位相がπ/2だ
け進んで、図11(g)の実線のようになる。このた
め、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号と、サブビームである集光スポット82、
83によるラジアルチルト信号の和との差、すなわち最
終的なラジアルチルト信号である[(V23+V24+
V29+V30+V33+V34+V35+V36)−
(V25+V26+V27+V28+V31+V32+
V37+V38)]−K[(V39+V42+V44+
V45+V47+V50+V52+V53)−(V40
+V41+V43+V46+V48+V49+V51+
V54)](Kは定数)の波形は図11(h)の実線の
ようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上に位置する場合は正、ランド上に位置する場合は負
となるため、その波形は、図11(i)の実線のように
なる。集光スポット82は集光スポット12に対し、デ
ィスク7の溝の1/4周期分だけディスク7の半径方向
に、図10の左側にずらして配置されているため、サブ
ビームである集光スポット82によるラジアルチルト信
号である[(V39+V42+V44+V45)−(V
40+V41+V43+V46)]の波形は、図11
(i)の実線の波形に対して位相がπ/2だけ遅れて、
図11(j)の実線のようになる。集光スポット83は
集光スポット12に対し、ディスク7の溝の1/4周期
分だけディスク7の半径方向に図10の右側にずらして
配置されているため、サブビームである集光スポット8
3によるラジアルチルト信号である[(V47+V50
+V52+V53)−(V48+V49+V51+V5
4)]の波形は、図11(i)の実線の波形に対して位
相がπ/2だけ進んで図11(k)の実線のようにな
る。
の波形は逆相であり、図11(i)の実線の波形に対し
て位相がπ/2だけずれているため、メインビームであ
る集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サブ
ビームである集光スポット82、83によるラジアルチ
ルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチルト
信号である[(V23+V24+V29+V30+V3
3+V34+V35+V36)−(V25+V26+V
27+V28+V31+V32+V37+V38)]−
K[(V39+V42+V44+V45+V47+V5
0+V52+V53)−(V40+V41+V43+V
46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は図11(l)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の値は、集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上に位置する場合は負、ランド上に位置する場合は正
となるため、その波形は図11(m)の実線のようにな
る。集光スポット82は集光スポット12に対し、ディ
スク7の溝の1/4周期分だけディスク7の半径方向
に、図10の左側にずらして配置されているため、サブ
ビームである集光スポット82によるラジアルチルト信
号である[(V39+V42+V44+V45)−(V
40+V41+V43+V46)]の波形は、図11
(m)の実線の波形に対して位相がπ/2だけ遅れて、
図11(n)の実線のようになる。集光スポット83は
集光スポット12に対し、ディスク7の溝の1/4周期
分だけディスク7の半径方向に、図10の右側にずらし
て配置されているため、サブビームである集光スポット
83によるラジアルチルト信号である[(V47+V5
0+V52+V53)−(V48+V49+V51+V
54)]の波形は、図11(m)の実線の波形に対して
位相がπ/2だけ進んで図11(o)の実線のようにな
る。
の波形は逆相であり、図11(m)の実線の波形に対し
て位相がπ/2だけずれているため、メインビームであ
る集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サブ
ビームである集光スポット82、83によるラジアルチ
ルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチルト
信号である[(V23+V24+V29+V30+V3
3+V34+V35+V36)−(V25+V26+V
27+V28+V31+V32+V37+V38)]−
K[(V39+V42+V44+V45+V47+V5
0+V52+V53)−(V40+V41+V43+V
46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は図11(p)の実線のようになる。
号を用いて、図中のaの状態すなわちグルーブに対して
トラックサーボをかける場合について考える。ディスク
7のラジアルチルトが0、正、負の場合、図11
(h)、(l)、(p)に示すラジアルチルト信号の値
はそれぞれ0、正、負となる。従って、このラジアルチ
ルト信号を用いてディスク7のラジアルチルトを検出す
ることができる。次に、図11(d)に示すトラック誤
差信号を用いて、図中のcの状態すなわちランドに対し
てトラックサーボをかける場合について考える。ディス
ク7のラジアルチルトが0、正、負の場合、図11
(h)、(l)、(p)に示すラジアルチルト信号の値
はそれぞれ0、負、正となる。従って、このラジアルチ
ルト信号を用いてディスク7のラジアルチルトを検出す
ることができる。
フトすると、ホログラム光学素子8上のメインビーム、
サブビームもディスク7の半径方向にシフトする。メイ
ンビームが、図4中で左向きにシフトしたとすると、受
光部23、24、33、34からの出力は増え、受光部
27、28、37、38からの出力は減る。また、サブ
ビームが、図4中で左向きにシフトしたとすると、受光
部39、44、47、52からの出力は増え、受光部4
1、46、49、54からの出力は減る。
ト12によるプッシュプル信号である[(V23+V2
4+V25+V26+V31+V32+V33+V3
4)−(V27+V28+V29+V30+V35+V
36+V37+V38)]の波形は、図11(a)の点
線のようになる。サブビームである集光スポット82に
よるプッシュプル信号である[(V39+V40+V4
3+V44)−(V41+V42+V45+V46)]
の波形は図11(b)の点線のようになる。サブビーム
である集光スポット83によるプッシュプル信号である
[(V47+V48+V51+V52)−(V49+V
50+V53+V54)]の波形は、図11(c)の点
線のようになる。図11(b)、図11(c)の点線の
波形は逆相であり、図11(a)の点線の波形に対して
位相がπ/2だけずれているが、直流成分の符号が全て
同じであるため、差動プッシュプル法によるトラック誤
差信号である[(V23+V24+V25+V26+V
31+V32+V33+V34)−(V27+V28+
V29+V30+V35+V36+V37+V38)]
−K[(V39+V40+V43+V44+V47+V
48+V51+V52)−(V41+V42+V45+
V46+V49+V50+V53+V54)](Kは定
数)の波形は、Kの値を適切に設定することにより、プ
ッシュプル信号に生じるオフセットがメインビームとサ
ブビームで相殺され、図11(d)の実線のようにな
る。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(e)の点線のようになる。サ
ブビームである集光スポット82によるラジアルチルト
信号である[(V39+V42+V44+V45)−
(V40+V41+V43+V46)]の波形は図11
(f)の点線のようになる。サブビームである集光スポ
ット83によるラジアルチルト信号である[(V47+
V50+V52+V53)−(V48+V49+V51
+V54)]の波形は図11(g)の点線のようにな
る。図11(e)、図11(f)、図11(g)の点線
の波形は直流成分の符号が全て同じであるため、最終的
なラジアルチルト信号である[(V23+V24+V2
9+V30+V33+V34+V35+V36)−(V
25+V26+V27+V28+V31+V32+V3
7+V38)]−K[(V39+V42+V44+V4
5+V47+V50+V52+V53)−(V40+V
41+V43+V46+V48+V49+V51+V5
4)](Kは定数)の波形は、Kの値を適切に設定する
ことにより、ラジアルチルト信号に生じるオフセットが
メインビームとサブビームで相殺され、図11(h)の
実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(i)の点線のようになる。サ
ブビームである集光スポット82によるラジアルチルト
信号である[(V39+V42+V44+V45)−
(V40+V41+V43+V46)]の波形は図11
(j)の点線のようになる。サブビームである集光スポ
ット83によるラジアルチルト信号である[(V47+
V50+V52+V53)−(V48+V49+V51
+V54)]の波形は、図11(k)の点線のようにな
る。図11(j)、図11(k)の点線の波形は逆相で
あり、図11(i)の点線の波形に対して位相がπ/2
だけずれているが、直流成分の符号が全て同じであるた
め、最終的なラジアルチルト信号である[(V23+V
24+V29+V30+V33+V34+V35+V3
6)−(V25+V26+V27+V28+V31+V
32+V37+V38)]−K[(V39+V42+V
44+V45+V47+V50+V52+V53)−
(V40+V41+V43+V46+V48+V49+
V51+V54)](Kは定数)の波形は、Kの値を適
切に設定することにより、ラジアルチルト信号に生じる
オフセットがメインビームとサブビームで相殺され、図
11(l)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(m)の点線のようになる。サ
ブビームである集光スポット82によるラジアルチルト
信号である[(V39+V42+V44+V45)−
(V40+V41+V43+V46)]の波形は図11
(n)の点線のようになる。サブビームである集光スポ
ット83によるラジアルチルト信号である[(V47+
V50+V52+V53)−(V48+V49+V51
+V54)]の波形は、図11(o)の点線のようにな
る。図11(n)、図11(o)の点線の波形は逆相で
あり、図11(m)の点線の波形に対して位相がπ/2
だけずれているが、直流成分の符号が全て同じであるた
め、最終的なラジアルチルト信号である[(V23+V
24+V29+V30+V33+V34+V35+V3
6)−(V25+V26+V27+V28+V31+V
32+V37+V38)]−K[(V39+V42+V
44+V45+V47+V50+V52+V53)−
(V40+V41+V43+V46+V48+V49+
V51+V54)](Kは定数)の波形は、Kの値を適
切に設定することにより、ラジアルチルト信号に生じる
オフセットがメインビームとサブビームで相殺され、図
11(p)の実線のようになる。
径方向にシフトしてもラジアルチルト信号にオフセット
を生じず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出す
ることができる。
おいては、サブビームである集光スポット82によるプ
ッシュプル信号である[(V39+V40+V43+V
44)−(V41+V42+V45+V46)]の波形
は、図11(b)の実線のようになり、サブビームであ
る集光スポット83によるプッシュプル信号である
[(V47+V48+V51+V52)−(V49+V
50+V53+V54)]の波形は、図11(c)の実
線のようになる。ここで、集光スポット82によるプッ
シュプル信号と、集光スポット83によるプッシュプル
信号の差を、ランド/グルーブの位置検出信号と呼ぶ。
このとき、ランド/グルーブの位置検出信号である
[(V39+V40+V43+V44+V49+V50
+V53+V54)−(V41+V42+V45+V4
6+V47+V48+V51+V52)]の値は、メイ
ンビームである集光スポット12がディスク7のグルー
ブ上に位置する場合は、正、ランド上に位置する場合は
負となる。従って、ランド/グルーブの位置検出信号の
符号により、集光スポット12がディスク7のランド、
グルーブのどちらの上に位置するかを検出することが可
能である。
の光ヘッド装置の第三の実施形態は、図1に示す本発明
の光ヘッド装置の第一の実施形態における、図2に示す
回折光学素子3を、図12に示す回折光学素子84に置
き換えたものである。
る。回折光学素子84は、図中に点線で示す対物レンズ
6の有効径を含む領域に回折格子が形成された構成であ
り、入射光の光軸を通りディスク7の接線方向に平行な
直線で、領域85、86の2つに分割されている。回折
格子における格子の方向は領域85、86のいずれにお
いてもディスク7の半径方向に平行であり、格子のパタ
ンは領域85、86のいずれにおいても等間隔の直線状
である。領域85と領域86における格子の位相は互い
にπだけずれている。
相差を例えば0.232πとすると、入射光は0次光と
して約87.3%が透過し、±1次回折光としてそれぞ
れ約5.1%が回折される。+1次回折光、−1次回折
光を、図12でそれぞれ上側に回折される光、下側に回
折される光とすると、領域85、86からの+1次回折
光は位相が互いにπだけずれ、領域85、86からの−
1次回折光は位相が互いにπだけずれる。
置を示す。集光スポット12、87、88は、それぞれ
回折光学素子84からの0次光、+1次回折光、−1次
回折光に相当し、同一のトラック11(グルーブまたは
ランド)上に配置されている。集光スポット87、88
は、ディスク7の半径方向の左側と右側に強度が等しい
2つのピークを持つ。
ディスク7の接線方向に平行な直線で領域85、86の
2つに分割し、領域85と領域86における格子の位相
を互いにπだけずらすことにより、対物レンズ6に入射
するサブビームの位相を、光軸を通りディスク7の接線
方向に平行な直線の左側と右側で互いにπだけずらすこ
とは、ディスク7上の2つのサブビームの集光スポット
をメインビームの集光スポットに対し、ディスク7の溝
の1/2周期分だけディスク7の半径方向に互いに逆向
きにずらして配置することと、トラック誤差信号に関し
ては等価である。その理由に関しては、例えば第57回
応用物理学会学術講演会講演予稿集第3分冊906頁
(7p−E−1)に記載されている。同様に、両者はラ
ジアルチルト信号に関しても等価である。
施形態におけるトラック誤差信号およびラジアルチルト
信号に関わる各種の波形は、図6に示す本発明の光ヘッ
ド装置の第一の実施形態におけるトラック誤差信号およ
びラジアルチルト信号に関わる各種の波形と同じであ
る。すなわち、対物レンズ6がディスク7の半径方向に
シフトしても、ラジアルチルト信号にオフセットを生じ
ず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出すること
ができる。
おいては、メインビームである集光スポット12と、サ
ブビームである集光スポット87、88が、ディスク7
の同一のトラック11上に配置されている。従って、ト
ラックピッチが異なるディスクに対しても、集光スポッ
ト12、87、88の配置は変わらず、任意のトラック
ピッチのディスクに対してラジアルチルトを正しく検出
することができる。
の光ヘッド装置の第四の実施形態は、図1に示す本発明
の光ヘッド装置の第一の実施形態における、図2に示す
回折光学素子3を、図14に示す回折光学素子89に置
き換えたものである。
る。回折光学素子89は、図中に点線で示す対物レンズ
6の有効径を含む領域に回折格子が形成された構成であ
り、入射光の光軸を通りディスク7の接線方向に平行な
直線で、領域90、91の2つに分割されている。回折
格子における格子の方向は領域90、91のいずれにお
いても、ディスク7の半径方向に平行であり、格子のパ
タンは領域90、91のいずれにおいても等間隔の直線
状である。領域90と領域91における格子の位相は互
いにπ/2だけずれている。格子のライン部とスペース
部の位相差を、例えば0.232πとすると、入射光は
0次光として約87.3%が透過し、±1次回折光とし
てそれぞれ約5.1%が回折される。+1次回折光、−
1次回折光を、図14でそれぞれ上側に回折される光、
下側に回折される光とすると、領域90からの+1次回
折光は領域91からの+1次回折光に対して位相がπ/
2だけ進み、領域90からの−1次回折光は領域91か
らの−1次回折光に対して位相がπ/2だけ遅れる。
置を示す。集光スポット12、92、93は、それぞれ
回折光学素子89からの0次光、+1次回折光、−1次
回折光に相当し、同一のトラック11(グルーブまたは
ランド)上に配置されている。集光スポット92は、デ
ィスク7の半径方向の左側に強度が強く、右側に強度が
弱い、2つのピークを持ち、集光スポット93は、ディ
スク7の半径方向の左側に強度が弱く、右側に強度が強
い、2つのピークを持つ。
ィスク7の接線方向に平行な直線で領域90、91の2
つに分割し、領域90と領域91における格子の位相を
互いにπ/2だけずらすことにより、対物レンズ6に入
射するサブビームの位相を、光軸を通り、ディスク7の
接線方向に平行な直線の左側と右側とで、互いにπ/2
だけずらすことは、ディスク7上の2つのサブビームの
集光スポットをメインビームの集光スポットに対し、デ
ィスク7の溝の1/4周期分だけディスク7の半径方向
に、互いに逆向きにずらして配置することと、トラック
誤差信号に関しては等価である。その理由に関しては、
例えばジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド・
フィジックス第38巻第1部第3B号1761〜176
7頁に記載されている。同様に、両者はラジアルチルト
信号に関しても等価である。
施形態におけるトラック誤差信号およびラジアルチルト
信号に関わる各種の波形は、図11に示す本発明の光ヘ
ッド装置の第二の実施形態におけるトラック誤差信号お
よびラジアルチルト信号に関わる各種の波形と同じであ
る。すなわち、対物レンズ6がディスク7の半径方向に
シフトしても、ラジアルチルト信号にオフセットを生じ
ず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出すること
ができる。
おいては、メインビームである集光スポット12とサブ
ビームである集光スポット92、93がディスク7の同
一のトラック11上に配置されている。従って、トラッ
クピッチが異なるディスクに対しても、集光スポット1
2、92、93の配置は変わらず、任意のトラックピッ
チのディスクに対して、ラジアルチルトを正しく検出す
ることができる。
形態と同様に、集光スポット12がディスク7のラン
ド、グルーブのどちらの上に位置するかを、ランド/グ
ルーブの位置検出信号の符号により検出することが可能
である。
の光ヘッド装置の第五の実施形態は、図1に示す本発明
の光ヘッド装置の第一の実施形態における、図2に示す
回折光学素子3を、図16に示す回折光学素子94に置
き換えたものである。
る。回折光学素子94は、図中に点線で示す対物レンズ
6の有効径を含む領域に、回折格子が形成された構成で
あり、入射光の光軸を通り、ディスク7の接線方向に平
行な直線、および半径方向に平行な直線で、領域95〜
98の4つに分割されている。回折格子における格子の
方向は領域95〜98のいずれにおいても、ディスク7
の半径方向に平行であり、格子のパタンは、領域95〜
98のいずれにおいても、等間隔の直線状である。領域
95、98と、領域96、97における格子の位相は、
互いにπ/2だけずれている。格子のライン部とスペー
ス部の位相差を、例えば0.232πとすると、入射光
は、0次光として約87.3%が透過し、±1次回折光
としてそれぞれ約5.1%が回折される。+1次回折
光、−1次回折光を、図16でそれぞれ上側に回折され
る光、下側に回折される光とすると、領域95、98か
らの+1次回折光は領域96、97からの+1次回折光
に対して、位相がπ/2だけ進み、領域95、98から
の−1次回折光は、領域96、97からの−1次回折光
に対して位相がπ/2だけ遅れる。
4を用いた場合のディスク7上の集光スポットの配置を
示す。集光スポット12、99、100は、それぞれ回
折光学素子94からの0次光、+1次回折光、−1次回
折光に相当し、同一のトラック11(グルーブまたはラ
ンド)上に配置されている。集光スポット99、100
は、ディスク7の接線方向および半径方向に対して±4
5°の方向に4つのサイドローブを持つ。
るプッシュプル信号である[(V23+V24+V25
+V26+V31+V32+V33+V34)−(V2
7+V28+V29+V30+V35+V36+V37
+V38)]の波形は、図11(a)の実線のようにな
る。ここで、回折光学素子94の領域95、96からの
+1次回折光、領域97、98からの+1次回折光によ
るプッシュプル信号をそれぞれ集光スポット99による
プラス前側プッシュプル信号および、プラス後側プッシ
ュプル信号と呼び、回折光学素子94の領域95、96
からの−1次回折光、領域97、98からの−1次回折
光によるプッシュプル信号を、それぞれ集光スポット1
00によるマイナス前側プッシュプル信号、マイナス後
側プッシュプル信号と呼ぶ。このとき、サブビームであ
る集光スポット99によるプラス前側プッシュプル信号
である[(V39+V40)−(V41+V42)]、
集光スポット100によるマイナス後側プッシュプル信
号である[(V51+V52)−(V53+V54)]
の波形は、図11(b)の実線のようになる。
プラス後側プッシュプル信号である[(V43+V4
4)−(V45+V46)]、集光スポット100によ
るマイナス前側プッシュプル信号である[(V47+V
48)−(V49+V50)]の波形は、図11(c)
の実線のようになる。
ト12によるプッシュプル信号と、サブビームである集
光スポット99、100による前側、後側プッシュプル
信号の和との差、すなわち差動プッシュプル法によるト
ラック誤差信号である[(V23+V24+V25+V
26+V31+V32+V33+V34)−(V27+
V28+V29+V30+V35+V36+V37+V
38)]−K[(V39+V40+V43+V44+V
47+V48+V51+V52)−(V41+V42+
V45+V46+V49+V50+V53+V54)]
(Kは定数)の波形は、図11(d)の実線のようにな
る。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(e)の実線のようになる。
6からの+1次回折光、領域97、98からの+1次回
折光によるラジアルチルト信号をそれぞれ集光スポット
99によるプラス前側ラジアルチルト信号、プラス後側
ラジアルチルト信号と呼び、回折光学素子94の領域9
5、96からの−1次回折光、領域97、98からの−
1次回折光によるラジアルチルト信号をそれぞれ集光ス
ポット100によるマイナス前側ラジアルチルト信号、
マイナス後側ラジアルチルト信号と呼ぶ。このとき、サ
ブビームである集光スポット99によるプラス前側ラジ
アルチルト信号である[(V39+V42)−(V40
+V41)]、集光スポット100によるマイナス後側
ラジアルチルト信号である[(V52+V53)−(V
51+V54)]の波形は、図11(f)の実線のよう
になる。サブビームである集光スポット99によるプラ
ス後側ラジアルチルト信号である[(V44+V45)
−(V43+V46)]、集光スポット100によるマ
イナス前側ラジアルチルト信号である[(V47+V5
0)−(V48+V49)]の波形は、図11(g)の
実線のようになる。
ト12によるラジアルチルト信号と、サブビームである
集光スポット99、100による前側、後側ラジアルチ
ルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチルト
信号である[(V23+V24+V29+V30+V3
3+V34+V35+V36)−(V25+V26+V
27+V28+V31+V32+V37+V38)]−
K[(V39+V42+V44+V45+V47+V5
0+V52+V53)−(V40+V41+V43+V
46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は図11(h)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(i)の実線のようになる。サ
ブビームである集光スポット99によるプラス前側ラジ
アルチルト信号である[(V39+V42)−(V40
+V41)]、集光スポット100によるマイナス後側
ラジアルチルト信号である[(V52+V53)−(V
51+V54)]の波形は、図11(j)の実線のよう
になる。
プラス後側ラジアルチルト信号である[(V44+V4
5)−(V43+V46)]、集光スポット100によ
るマイナス前側ラジアルチルト信号である[(V47+
V50)−(V48+V49)]の波形は、図11
(k)の実線のようになる。このため、メインビームで
ある集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サ
ブビームである集光スポット99、100による前側、
後側ラジアルチルト信号の和との差、すなわち最終的な
ラジアルチルト信号である[(V23+V24+V29
+V30+V33+V34+V35+V36)−(V2
5+V26+V27+V28+V31+V32+V37
+V38)]−K[(V39+V42+V44+V45
+V47+V50+V52+V53)−(V40+V4
1+V43+V46+V48+V49+V51+V5
4)](Kは定数)の波形は、図11(l)の実線のよ
うになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(m)の実線のようになる。サ
ブビームである集光スポット99によるプラス前側ラジ
アルチルト信号である[(V39+V42)−(V40
+V41)]、集光スポット100によるマイナス後側
ラジアルチルト信号である[(V52+V53)−(V
51+V54)]の波形は、図11(n)の実線のよう
になる。サブビームである集光スポット99によるプラ
ス後側ラジアルチルト信号である[(V44+V45)
−(V43+V46)]、集光スポット100によるマ
イナス前側ラジアルチルト信号である[(V47+V5
0)−(V48+V49)]の波形は、図11(o)の
実線のようになる。このため、メインビームである集光
スポット12によるラジアルチルト信号と、サブビーム
である集光スポット99、100による前側、後側ラジ
アルチルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアル
チルト信号である[(V23+V24+V29+V30
+V33+V34+V35+V36)−(V25+V2
6+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]−K[(V39+V42+V44+V45+V4
7+V50+V52+V53)−(V40+V41+V
43+V46+V48+V49+V51+V54)]
(Kは定数)の波形は、図11(p)の実線のようにな
る。
フトした場合のトラック誤差信号およびラジアルチルト
信号に関わる各種の波形も、図11を参照して同様に説
明できる。すなわち、対物レンズ6がディスク7の半径
方向にシフトしてもラジアルチルト信号にオフセットを
生じず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出する
ことができる。
おいては、メインビームである集光スポット12と、サ
ブビームである集光スポット99、100が、ディスク
7の同一のトラック11上に配置されている。従って、
トラックピッチが異なるディスクに対しても、集光スポ
ット12、99、100の配置は変わらず、任意のトラ
ックピッチのディスクに対してラジアルチルトを正しく
検出することができる。
おいては、サブビームである集光スポット99によるプ
ラス前側プッシュプル信号である[(V39+V40)
−(V41+V42)]、集光スポット100によるマ
イナス後側プッシュプル信号である[(V51+V5
2)−(V53+V54)]の波形は、図11(b)の
実線のようになり、サブビームである集光スポット99
によるプラス後側プッシュプル信号である[(V43+
V44)−(V45+V46)]、集光スポット100
によるマイナス前側プッシュプル信号である[(V47
+V48)−(V49+V50)]の波形は、図11
(c)の実線のようになる。
側プッシュプル信号と集光スポット100によるマイナ
ス後側プッシュプル信号の和と、集光スポット99によ
るプラス後側プッシュプル信号と集光スポット100に
よるマイナス前側プッシュプル信号の和との差を、ラン
ド/グルーブの位置検出信号と呼ぶ。このとき、ランド
/グルーブの位置検出信号である[(V39+V40+
V45+V46+V49+V50+V51+V52)−
(V41+V42+V43+V44+V47+V48+
V53+V54)]の値は、メインビームである集光ス
ポット12がディスク7のグルーブ上に位置する場合は
正、ランド上に位置する場合は負となる。従って、ラン
ド/グルーブの位置検出信号の符号により、集光スポッ
ト12がディスク7のランド、グルーブのどちらの上に
位置するかを検出することが可能である。
おいては、図15に示すように、集光スポット92はデ
ィスク7の半径方向の左側の強度が強く、集光スポット
93はディスク7の半径方向の右側の強度が強い。この
ため、ディスク7の偏芯等により集光スポット12、9
2、93の列に対してトラック11が傾くと、正方向に
傾いた場合と、負方向に傾いた場合で、集光スポット9
2、93によるプッシュプル信号の和の位相が大きく変
化し、その結果、差動プッシュプル信号の振幅が大きく
変化する。
の実施の形態においては、図17に示すように、集光ス
ポット99、100は、共にディスク7の半径方向の強
度分布が左右対称である。このため、ディスク7の偏芯
等により集光スポット12、99、100の列に対し
て、トラック11が傾いても、正方向に傾いた場合と、
負方向に傾いた場合で、集光スポット99、100によ
るプッシュプル信号の和の位相が変化せず、その結果、
差動プッシュプル信号の振幅が変化しない。
の光ヘッド装置の第六の実施形態は、図1に示す本発明
の光ヘッド装置の第一の実施形態における、図2に示す
回折光学素子3を、図18に示す回折光学素子101に
置き換えたものである。
る。回折光学素子101は、図中に点線で示す対物レン
ズ6の有効径を含む領域に、回折格子が形成された構成
であり、入射光の光軸を通り、ディスク7の接線方向に
平行な直線および半径方向に平行な2つの直線で、領域
102〜107の6つに分割されている。
領域102、103の占める面積が、領域104〜10
7の占める面積に比べて広い。回折格子における格子の
方向は、領域102〜107のいずれにおいても、ディ
スク7の半径方向に平行であり、格子のパタンは領域1
02〜107のいずれにおいても、等間隔の直線状であ
る。領域102、105、107と、領域103、10
4、106における格子の位相は、互いにπ/2だけず
れている。格子のライン部とスペース部の位相差を、例
えば0.232πとすると、入射光は0次光として約8
7.3%が透過し、±1次回折光としてそれぞれ約5.
1%が回折される。+1次回折光、−1次回折光を図1
8でそれぞれ上側に回折される光、下側に回折される光
とすると、領域102、105、107からの+1次回
折光は、領域103、104、106からの+1次回折
光に対して、位相がπ/2だけ進み、領域102、10
5、107からの−1次回折光は、領域103、10
4、106からの−1次回折光に対して位相がπ/2だ
け遅れる。
置を示す。集光スポット12、108、109は、それ
ぞれ回折光学素子101からの0次光、+1次回折光、
−1次回折光に相当し、同一のトラック11(グルーブ
またはランド)上に配置されている。集光スポット10
8は、ディスク7の接線方向の中央かつ半径方向の左側
に強度が強い1つのピーク、ディスク7の接線方向の前
側および後側かつ半径方向の右側に強度が弱い2つのピ
ークを持ち、集光スポット109は、ディスク7の接線
方向の中央かつ半径方向の右側に強度が強い1つのピー
ク、ディスク7の接線方向の前側および後側かつ半径方
向の左側に強度が弱い2つのピークを持つ。
るプッシュプル信号である[(V23+V24+V25
+V26+V31+V32+V33+V34)−(V2
7+V28+V29+V30+V35+V36+V37
+V38)]の波形は、図11(a)の実線のようにな
る。ここで、回折光学素子101の領域102、103
からの+1次回折光、領域104、105からの+1次
回折光、領域106、107からの+1次回折光による
プッシュプル信号をそれぞれ集光スポット108による
中央プッシュプル信号、前側プッシュプル信号、後側プ
ッシュプル信号と呼び、回折光学素子101の領域10
2、103からの−1次回折光、領域104、105か
らの−1次回折光、領域106、107からの−1次回
折光によるプッシュプル信号をそれぞれ集光スポット1
09による中央プッシュプル信号、前側プッシュプル信
号、後側プッシュプル信号と呼ぶ。
108による中央プッシュプル信号、集光スポット10
9による前側プッシュプル信号、後側プッシュプル信号
の波形は図11(b)の実線のようになる。サブビーム
である集光スポット108による前側プッシュプル信
号、後側プッシュプル信号、集光スポット109による
中央プッシュプル信号の波形は、図11(c)の実線の
ようになる。このため、メインビームである集光スポッ
ト12によるプッシュプル信号と、サブビームである集
光スポット108、109による中央、前側、後側プッ
シュプル信号の和との差、すなわち差動プッシュプル法
によるトラック誤差信号である[(V23+V24+V
25+V26+V31+V32+V33+V34)−
(V27+V28+V29+V30+V35+V36+
V37+V38)]−K[(V39+V40+V43+
V44+V47+V48+V51+V52)−(V41
+V42+V45+V46+V49+V50+V53+
V54)](Kは定数)の波形は、図11(d)の実線
のようになる。
メインビームである集光スポット12によるラジアルチ
ルト信号である[(V23+V24+V29+V30+
V33+V34+V35+V36)−(V25+V26
+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(e)の実線のようになる。
2、103からの+1次回折光、領域104、105か
らの+1次回折光、領域106、107からの+1次回
折光によるラジアルチルト信号をそれぞれ集光スポット
108による中央ラジアルチルト信号、前側ラジアルチ
ルト信号、後側ラジアルチルト信号と呼び、回折光学素
子101の領域102、103からの−1次回折光、領
域104、105からの−1次回折光、領域106、1
07からの−1次回折光によるラジアルチルト信号をそ
れぞれ集光スポット109による中央ラジアルチルト信
号、前側ラジアルチルト信号、後側ラジアルチルト信号
と呼ぶ。
108による中央ラジアルチルト信号、集光スポット1
09による前側ラジアルチルト信号、後側ラジアルチル
ト信号の波形は図11(f)の実線のようになる。サブ
ビームである集光スポット108による前側ラジアルチ
ルト信号、後側ラジアルチルト信号、集光スポット10
9による中央ラジアルチルト信号の波形は、図11
(g)の実線のようになる。このため、メインビームで
ある集光スポット12によるラジアルチルト信号と、サ
ブビームである集光スポット108、109による中
央、前側、後側ラジアルチルト信号の和との差、すなわ
ち最終的なラジアルチルト信号である[(V23+V2
4+V29+V30+V33+V34+V35+V3
6)−(V25+V26+V27+V28+V31+V
32+V37+V38)]−K[(V39+V42+V
44+V45+V47+V50+V52+V53)−
(V40+V41+V43+V46+V48+V49+
V51+V54)](Kは定数)の波形は図11(h)
の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(i)の実線のようになる。サ
ブビームである集光スポット108による中央ラジアル
チルト信号、集光スポット109による前側ラジアルチ
ルト信号、後側ラジアルチルト信号の波形は、図11
(j)の実線のようになる。サブビームである集光スポ
ット108による前側ラジアルチルト信号、後側ラジア
ルチルト信号、集光スポット109による中央ラジアル
チルト信号の波形は、図11(k)の実線のようにな
る。このため、メインビームである集光スポット12に
よるラジアルチルト信号と、サブビームである集光スポ
ット108、109による中央、前側、後側ラジアルチ
ルト信号の和との差、すなわち最終的なラジアルチルト
信号である[(V23+V24+V29+V30+V3
3+V34+V35+V36)−(V25+V26+V
27+V28+V31+V32+V37+V38)]−
K[(V39+V42+V44+V45+V47+V5
0+V52+V53)−(V40+V41+V43+V
46+V48+V49+V51+V54)](Kは定
数)の波形は図11(l)の実線のようになる。
合、メインビームである集光スポット12によるラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]の波形は、図11(m)の実線のようになる。
る中央ラジアルチルト信号、集光スポット109による
前側ラジアルチルト信号、後側ラジアルチルト信号の波
形は図11(n)の実線のようになる。サブビームであ
る集光スポット108による前側ラジアルチルト信号、
後側ラジアルチルト信号、集光スポット109による中
央ラジアルチルト信号の波形は、図11(o)の実線の
ようになる。このため、メインビームである集光スポッ
ト12によるラジアルチルト信号と、サブビームである
集光スポット108、109による中央、前側、後側ラ
ジアルチルト信号の和との差、すなわち最終的なラジア
ルチルト信号である[(V23+V24+V29+V3
0+V33+V34+V35+V36)−(V25+V
26+V27+V28+V31+V32+V37+V3
8)]−K[(V39+V42+V44+V45+V4
7+V50+V52+V53)−(V40+V41+V
43+V46+V48+V49+V51+V54)]
(Kは定数)の波形は図11(p)の実線のようにな
る。
フトした場合のトラック誤差信号およびラジアルチルト
信号に関わる各種の波形も、図11を参照して同様に説
明できる。すなわち、対物レンズ6がディスク7の半径
方向にシフトしても、ラジアルチルト信号にオフセット
を生じず、ディスク7のラジアルチルトを正しく検出す
ることができる。
おいては、メインビームである集光スポット12とサブ
ビームである集光スポット108、109が、ディスク
7の同一のトラック11上に配置されている。従って、
トラックピッチが異なるディスクに対しても、集光スポ
ット12、108、109の配置は変わらず、任意のト
ラックピッチのディスクに対して、ラジアルチルトを正
しく検出することができる。
の形態と同様に、集光スポット12がディスク7のラン
ド、グルーブのどちらの上に位置するかを検出すること
が可能である。
おいては、図15に示すように、集光スポット92はデ
ィスク7の半径方向の左側の強度が強く、集光スポット
93はディスク7の半径方向の右側の強度が強い。この
ため、ディスク7の偏芯等により集光スポット12、9
2、93の列に対して、トラック11が傾くと、正方向
に傾いた場合と、負方向に傾いた場合で、集光スポット
92、93によるプッシュプル信号の和の位相が大きく
変化し、その結果、差動プッシュプル信号の振幅が大き
く変化する。
の実施形態においては、図19に示すように、集光スポ
ット108はディスク7の接線方向の中央では半径方向
の左側の強度、ディスク7の接線方向の前側および後側
では、半径方向の右側の強度がそれぞれ強く、集光スポ
ット109はディスク7の接線方向の中央では、半径方
向の右側の強度、ディスク7の接線方向の前側および後
側では、半径方向の左側の強度がそれぞれ強い。このた
め、ディスク7の偏芯等により集光スポット12、10
8、109の列に対して、トラック11が傾いても、正
方向に傾いた場合と、負方向に傾いた場合とで、集光ス
ポット108、109によるプッシュプル信号の和の位
相が大きく変化せず、その結果、差動プッシュプル信号
の振幅が大きく変化しない。
に本発明の光ヘッド装置の第七の実施形態を示す。半導
体レーザ1からの出射光は、コリメータレンズ2で平行
光化され、回折光学素子3によりメインビームである0
次光、サブビームである±1次回折光の3つの光に分割
される。これらの光は、偏光ビームスプリッタ4にP偏
光として入射して、ほぼ100%が透過し、1/4波長
板5を透過して、直線偏光から円偏光に変換され、対物
レンズ6でディスク7上に集光される。ディスク7から
の3つの反射光は対物レンズ6を逆向きに透過し、1/
4波長板5を透過して円偏光から往路と偏光方向が直交
した直線偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ4にS
偏光として入射して、ほぼ100%が反射され、円筒
(シリンドリカル)レンズ110、レンズ9を透過して
光検出器111で受光される。光検出器111は円筒レ
ンズ110、レンズ9の2つの焦線の中間に設置されて
いる。
おける回折光学素子3の平面図は、図2に示す本発明の
光ヘッド装置の第一の実施形態における回折光学素子3
の平面図と同じである。また、本発明の光ヘッド装置の
第七の実施形態におけるディスク7上の集光スポットの
配置は、図3に示す本発明の光ヘッド装置の第一の実施
形態におけるディスク7上の集光スポットの配置と同じ
である。
と、光検出器111上の光スポットの配置を示す。光ス
ポット136は回折光学素子3からの0次光に相当し、
光軸を通りディスク7の接線方向に平行な5本の分割
線、および半径方向に平行な1本の分割線で計12に分
割された受光部112〜123で受光される。
+1次回折光に相当し、ディスク7の接線方向に平行な
5本の分割線で6つに分割された受光部124〜129
で受光される。光スポット138は回折光学素子3から
の−1次回折光に相当し、ディスク7の接線方向に平行
な5本の分割線で6つに分割された受光部130〜13
5で受光される。
ポット12〜14の列は、接線方向であるが、円筒レン
ズ110およびレンズ9の作用により、光検出器111
上の光スポット136〜138の列は半径方向となる。
2〜135からの出力を、それぞれV112〜V135
で表わすと、フォーカス誤差信号は、非点収差法によ
り、[(V112+V113+V114+V121+V
122+V123)−(V115+V116+V117
+V118+V119+V120)]の演算から得られ
る。
により、[(V112+V113+V114+V118
+V119+V120)−(V115+V116+V1
17+V121+V122+V123)]−K[(V1
24+V125+V126+V130+V131+V1
32)−(V127+V128+V129+V133+
V134+V135)](Kは定数)の演算から得られ
る。
めのラジアルチルト信号は、[(V112+V114+
V116+V118+V120+V122)−(V11
3+V115+V117+V119+V121+V12
3)]−K[(V124+V126+V128+V13
0+V132+V134)−(V125+V127+V
129+V131+V133+V135)](Kは定
数)の演算から得られる。
2による再生信号は、[V112+V113+V114
+V115+V116+V117+V118+V119
+V120+V121+V122+V123]の演算か
ら得られる。
おけるトラック誤差信号およびラジアルチルト信号に関
わる各種の波形は、図6に示す本発明の光ヘッド装置の
第一の実施形態におけるトラック誤差信号およびラジア
ルチルト信号に関わる各種の波形と同じである。すなわ
ち、対物レンズ6がディスク7の半径方向にシフトして
も、ラジアルチルト信号にオフセットを生じず、ディス
ク7のラジアルチルトを正しく検出することができる。
に本発明の光ヘッド装置の第八の実施形態を示す。半導
体レーザ140、光検出器141がモジュール139内
に設置されている。ここで、半導体レーザ140からデ
ィスク7への光路を往路とし、ディスク7から光検出器
141への光路を復路として説明する。
ータレンズ2で平行光化され、偏光性回折光学素子14
2に異常光として入射して、メインビームである0次
光、サブビームである±1次回折光の3つの光に分割さ
れる。これらの光は偏光性ホログラム光学素子143に
常光として入射して、ほぼ100%が透過し、1/4波
長板5を透過して、直線偏光から円偏光に変換され、対
物レンズ6でディスク7上に集光される。ディスク7か
らの3つの反射光は対物レンズ6を逆向きに透過し、1
/4波長板5を透過して円偏光から往路と偏光方向が直
交した直線偏光に変換され、偏光性ホログラム光学素子
143に異常光として入射して、+1次回折光として、
ほぼ100%が回折され、偏光性回折光学素子142に
常光として入射して、ほぼ100%が透過し、コリメー
タレンズ2を透過して、光検出器141で受光される。
おける偏光性回折光学素子142の平面図は、図2に示
す本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態における回折
光学素子3の平面図と同じである。偏光性回折光学素子
142は、例えば複屈折性を有するニオブ酸リチウム基
板上に、プロトン交換領域と、誘電体膜から成る2層の
格子が形成された構成である。プロトン交換領域の深さ
と、誘電体膜の厚さを、適切に設計することにより、格
子のライン部とスペース部の位相差を常光、異常光に対
して独立に規定することができる。往路の異常光に対し
ては、格子のライン部とスペース部の位相差を例えば
0.232πとすると、入射光は0次光として約87.
3%が透過し、±1次回折光としてそれぞれ約5.1%
が回折される。一方、復路の常光に対しては、格子のラ
イン部とスペース部の位相差を0とすると、入射光はほ
ぼ100%が透過する。
におけるディスク7上の集光スポットの配置は、図3に
示す本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態におけるデ
ィスク7上の集光スポットの配置と同じである。
おける偏光性ホログラム光学素子143の平面図は、図
4に示す本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態におけ
るホログラム光学素子8の平面図と同じである。
ば複屈折性を有するニオブ酸リチウム基板上にプロトン
交換領域と誘電体膜から成る2層の格子が形成された構
成である。さらに、格子の断面形状は領域15〜22の
いずれにおいても2層の鋸歯状であり、プロトン交換領
域の深さと誘電体膜の厚さを適切に設計することによ
り、鋸歯の上部と下部の位相差を常光、異常光に対して
独立に規定することができる。往路の常光に対しては、
鋸歯の上部と下部の位相差を0とすると、各領域への入
射光はそれぞれほぼ100%が透過する。一方、復路の
異常光に対しては、鋸歯の上部と下部の位相差を2πと
すると、各領域への入射光は+1次回折光としてそれぞ
れほぼ100%が回折される。
と光検出器141上の光スポットの配置を示す。光検出
器141上には、半導体レーザ140、およびミラー1
44が設置されている。半導体レーザ140からの出射
光はミラー144で反射されて、ディスク7へ向かう。
光スポット177は偏光性回折光学素子142からの0
次光のうち、偏光性ホログラム光学素子143の領域1
5からの+1次回折光に相当し、ディスク7の半径方向
に平行な分割線で2つに分割された受光部145、14
6の境界線上に集光される。光スポット178は偏光性
回折光学素子142からの0次光のうち偏光性ホログラ
ム光学素子143の領域16からの+1次回折光に相当
し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で2つに分割
された受光部147、148の境界線上に集光される。
光スポット179は偏光性回折光学素子142からの0
次光のうち偏光性ホログラム光学素子143の領域17
からの+1次回折光に相当し、ディスク7の半径方向に
平行な分割線で2つに分割された受光部149、150
の境界線上に集光される。光スポット180は偏光性回
折光学素子142からの0次光のうち偏光性ホログラム
光学素子143の領域18からの+1次回折光に相当
し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で2つに分割
された受光部151、152の境界線上に集光される。
42からの0次光のうち偏光性ホログラム光学素子14
3の領域20からの+1次回折光に相当し、ディスク7
の半径方向に平行な分割線で2つに分割された受光部1
53、154の境界線上に集光される。光スポット18
2は偏光性回折光学素子142からの0次光のうち偏光
性ホログラム光学素子143の領域19からの+1次回
折光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で
2つに分割された受光部155、156の境界線上に集
光される。光スポット183は偏光性回折光学素子14
2からの0次光のうち偏光性ホログラム光学素子143
の領域22からの+1次回折光に相当し、ディスク7の
半径方向に平行な分割線で2つに分割された受光部15
7、158の境界線上に集光される。光スポット184
は偏光性回折光学素子142からの0次光のうち偏光性
ホログラム光学素子143の領域21からの+1次回折
光に相当し、ディスク7の半径方向に平行な分割線で2
つに分割された受光部159、160の境界線上に集光
される。
素子142からの+1次回折光のうち偏光性ホログラム
光学素子143の領域15からの+1次回折光に相当
し、単一の受光部161上に集光される。光スポット1
86は偏光性回折光学素子142からの+1次回折光の
うち偏光性ホログラム光学素子143の領域16からの
+1次回折光に相当し、単一の受光部162上に集光さ
れる。光スポット187は偏光性回折光学素子142か
らの+1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素子14
3の領域17からの+1次回折光に相当し、単一の受光
部163上に集光される。光スポット188は偏光性回
折光学素子142からの+1次回折光のうち偏光性ホロ
グラム光学素子143の領域18からの+1次回折光に
相当し、単一の受光部164上に集光される。光スポッ
ト189は偏光性回折光学素子142からの+1次回折
光のうち偏光性ホログラム光学素子143の領域20か
らの+1次回折光に相当し、単一の受光部165上に集
光される。
42からの+1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素
子143の領域19からの+1次回折光に相当し、単一
の受光部166上に集光される。光スポット191は偏
光性回折光学素子142からの+1次回折光のうち偏光
性ホログラム光学素子143の領域22からの+1次回
折光に相当し、単一の受光部167上に集光される。光
スポット192は偏光性回折光学素子142からの+1
次回折光のうち偏光性ホログラム光学素子143の領域
21からの+1次回折光に相当し、単一の受光部168
上に集光される。
素子142からの−1次回折光のうち偏光性ホログラム
光学素子143の領域15からの+1次回折光に相当
し、単一の受光部169上に集光される。光スポット1
94は偏光性回折光学素子142からの−1次回折光の
うち偏光性ホログラム光学素子143の領域16からの
+1次回折光に相当し、単一の受光部170上に集光さ
れる。光スポット195は偏光性回折光学素子142か
らの−1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素子14
3の領域17からの+1次回折光に相当し、単一の受光
部171上に集光される。光スポット196は偏光性回
折光学素子142からの−1次回折光のうち偏光性ホロ
グラム光学素子143の領域18からの+1次回折光に
相当し、単一の受光部172上に集光される。
42からの−1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素
子143の領域20からの+1次回折光に相当し、単一
の受光部173上に集光される。光スポット198は偏
光性回折光学素子142からの−1次回折光のうち偏光
性ホログラム光学素子143の領域19からの+1次回
折光に相当し、単一の受光部174上に集光される。光
スポット199は偏光性回折光学素子142からの−1
次回折光のうち偏光性ホログラム光学素子143の領域
22からの+1次回折光に相当し、単一の受光部175
上に集光される。光スポット200は偏光性回折光学素
子142からの−1次回折光のうち偏光性ホログラム光
学素子143の領域21からの+1次回折光に相当し、
単一の受光部176上に集光される。
をそれぞれV145〜V176で表わすと、フォーカス
誤差信号は、フーコー法により、[(V145+V14
7+V149+V151+V154+V156+V15
8+V160)−(V146+V148+V150+V
152+V153+V155+V157+V159)]
の演算から得られる。
により、[(V145+V146+V147+V148
+V153+V154+V155+V156)−(V1
49+V150+V151+V152+V157+V1
58+V159+V160)]−K[(V161+V1
62+V165+V166+V169+V170+V1
73+V174)−(V163+V164+V167+
V168+V171+V172+V175+V17
6)](Kは定数)の演算から得られる。
めのラジアルチルト信号は、[(V145+V146+
V151+V152+V155+V156+V157+
V158)−(V147+V148+V149+V15
0+V153+V154+V159+V160)]−K
[(V161+V164+V166+V167+V16
9+V172+V174+V175)−(V162+V
163+V165+V168+V170+V171+V
173+V176)](Kは定数)の演算から得られ
る。
2による再生信号は[V145+V146+V147+
V148+V149+V150+V151+V152+
V153+V154+V155+V156+V157+
V158+V159+V160]の演算から得られる。
おけるトラック誤差信号およびラジアルチルト信号に関
わる各種の波形は、図6に示す本発明の光ヘッド装置の
第一の実施形態におけるトラック誤差信号およびラジア
ルチルト信号に関わる各種の波形と同じである。すなわ
ち、対物レンズ6がディスク7の半径方向にシフトして
もラジアルチルト信号にオフセットを生じず、ディスク
7のラジアルチルトを正しく検出することができる。 [光ヘッド装置の第九の実施形態]図24に本発明の光
ヘッド装置の第九の実施形態を示す。半導体レーザ14
0、光検出器201がモジュール139内に設置されて
いる。
ータレンズ2で平行光化され、偏光性回折光学素子14
2に異常光として入射してメインビームである0次光、
サブビームである±1次回折光の3つの光に分割され
る。これらの光は偏光性ホログラム光学素子202に常
光として入射してほぼ100%が透過し、1/4波長板
5を透過して直線偏光から円偏光に変換され、対物レン
ズ6でディスク7上に集光される。
ズ6を逆向きに透過し、1/4波長板5を透過して円偏
光から往路と偏光方向が直交した直線偏光に変換され、
偏光性ホログラム光学素子202に異常光として入射し
て±1次回折光として大部分が回折され、偏光性回折光
学素子142に常光として入射してほぼ100%が透過
し、コリメータレンズ2を透過して光検出器201で受
光される。光検出器201は偏光性ホログラム光学素子
202、コリメータレンズ2の2つの焦線の中間に設置
されている。
おける偏光性回折光学素子142の平面図は、図2に示
す本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態における回折
光学素子3の平面図と同じである。偏光性回折光学素子
142は、例えば複屈折性を有するニオブ酸リチウム基
板上にプロトン交換領域と誘電体膜から成る2層の格子
が形成された構成である。プロトン交換領域の深さと誘
電体膜の厚さを適切に設計することにより、格子のライ
ン部とスペース部の位相差を常光、異常光に対して独立
に規定することができる。
とスペース部の位相差を例えば0.232πとすると、
入射光は0次光として約87.3%が透過し、±1次回
折光としてそれぞれ約5.1%が回折される。一方、復
路の常光に対しては、格子のライン部とスペース部の位
相差を0とすると、入射光はほぼ100%が透過する。
おけるディスク7上の集光スポットの配置は、図3に示
す本発明の光ヘッド装置の第一の実施形態におけるディ
スク7上の集光スポットの配置と同じである。
の平面図である。偏光性ホログラム光学素子202は±
1次回折光に対して円筒レンズの働きをし、+1次回折
光における母線および−1次回折光における母線は、デ
ィスク7の半径方向に対してそれぞれ+45°および−
45°の角度を成している。偏光性ホログラム光学素子
202における格子の方向はディスク7の接線方向にほ
ぼ平行であるが、格子のパタンはディスク7の接線方向
および半径方向を漸近線とする双曲線である。偏光性ホ
ログラム光学素子202は、例えば複屈折性を有するニ
オブ酸リチウム基板上にプロトン交換領域と誘電体膜か
ら成る2層の格子が形成された構成である。プロトン交
換領域の深さと誘電体膜の厚さを適切に設計することに
より、格子のライン部とスペース部の位相差を常光、異
常光に対して独立に規定することができる。往路の常光
に対しては、格子のライン部とスペース部の位相差を0
とすると、入射光はほぼ100%が透過する。一方、復
路の異常光に対しては、格子のライン部とスペース部の
位相差をπとすると、入射光は±1次回折光としてそれ
ぞれ約40.5%が回折される。
と光検出器201上の光スポットの配置を示す。光検出
器201上には半導体レーザ140およびミラー144
が設置されている。半導体レーザ140からの出射光は
ミラー144で反射されてディスク7に向かう。
42からの0次光のうち偏光性ホログラム光学素子20
2からの+1次回折光に相当し、光軸を通りディスク7
の接線方向に平行な5本の分割線および半径方向に平行
な分割線で12に分割された受光部203〜214で受
光される。
42からの0次光のうち偏光性ホログラム光学素子20
2からの−1次回折光に相当し、光軸を通りディスク7
の接線方向に平行な5本の分割線および半径方向に平行
な分割線で12に分割された受光部215〜226で受
光される。
42からの+1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素
子202からの+1次回折光に相当し、ディスク7の接
線方向に平行な5本の分割線で6つに分割された受光部
227〜232で受光される。光スポット254は偏光
性回折光学素子142からの+1次回折光のうち偏光性
ホログラム光学素子202からの−1次回折光に相当
し、ディスク7の接線方向に平行な5本の分割線で6つ
に分割された受光部233〜238で受光される。
42からの−1次回折光のうち偏光性ホログラム光学素
子202からの+1次回折光に相当し、ディスク7の接
線方向に平行な5本の分割線で6つに分割された受光部
239〜244で受光される。光スポット256は偏光
性回折光学素子142からの−1次回折光のうち偏光性
ホログラム光学素子202からの−1次回折光に相当
し、ディスク7の接線方向に平行な5本の分割線で6つ
に分割された受光部245〜250で受光される。
列は接線方向であるが、偏光性ホログラム光学素子20
2およびコリメータレンズ2の作用により、光検出器2
01上の光スポット251、253、255および光ス
ポット252、254、256の列は半径方向となる。
また、偏光性ホログラム光学素子202の±1次回折光
における2つの母線は互いに直交しているため、光スポ
ット251、253、255と光スポット252、25
4、256は、上下および左右の強度分布が互いに逆に
なる。
れV203〜V250で表わすと、フォーカス誤差信号
は、非点収差法により、[(V203+V204+V2
05+V212+V213+V214+V218+V2
19+V220+V221+V222+V223)−
(V206+V207+V208+V209+V210
+V211+V215+V216+V217+V224
+V225+V226)]の演算から得られる。
より、[(V203+V204+V205+V209+
V210+V211+V218+V219+V220+
V224+V225+V226)−(V206+V20
7+V208+V212+V213+V214+V21
5+V216+V217+V221+V222+V22
3)]−K[(V227+V228+V229+V23
6+V237+V238+V239+V240+V24
1+V248+V249+V250)−(V230+V
231+V232+V233+V234+V235+V
242+V243+V244+V245+V246+V
247)](Kは定数)の演算から得られる。
めのラジアルチルト信号は[(V203+V205+V
207+V209+V211+V213+V216+V
218+V220+V222+V224+V226)−
(V204+V206+V208+V210+V212
+V214+V215+V217+V219+V221
+V223+V225)]−K[(V227+V229
+V231+V234+V236+V238+V239
+V241+V243+V246+V248+V25
0)−(V228+V230+V232+V233+V
235+V237+V240+V242+V244+V
245+V247+V249)](Kは定数)の演算か
ら得られる。また、メインビームである集光スポット1
2による再生信号は[V203+V204+V205+
V206+V207+V208+V209+V210+
V211+V212+V213+V214+V215+
V216+V217+V218+V219+V220+
V221+V222+V223+V224+V225+
V226]の演算から得られる。
おけるトラック誤差信号およびラジアルチルト信号に関
わる各種の波形は、図6に示す本発明の光ヘッド装置の
第一の実施の形態におけるトラック誤差信号およびラジ
アルチルト信号に関わる各種の波形と同じである。すな
わち、対物レンズ6がディスク7の半径方向にシフトし
てもラジアルチルト信号にオフセットを生じず、ディス
ク7のラジアルチルトを正しく検出することができる。
は、図20に示す第七の実施形態、図22に示す第八の
実施形態、図24に示す第九の実施形態におけるディス
ク7上の集光スポットの配置を、図10に示すディスク
7上の集光スポットの配置に変えた形態も考えられる。
は、図20に示す第七の実施形態における回折光学素子
3、図22に示す第八の実施形態における偏光性回折光
学素子142、図24に示す第九の実施形態における偏
光性回折光学素子142を、別の回折光学素子または偏
光性回折光学素子で置き換えた形態も考えられる。
子の平面図は、図12に示す回折光学素子84の平面
図、図14に示す回折光学素子89の平面図、図16に
示す回折光学素子94の平面図、または図18に示す回
折光学素子101の平面図と同じである。
実施形態においては、ディスク7で反射されたメインビ
ーム、サブビームの各々を、図4に示すホログラム光学
素子8により、ディスク7からの0次光と+1次回折光
の重なる領域の周辺部である領域15、19、ディスク
7からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部で
ある領域16、20、ディスク7からの0次光と−1次
回折光の重なる領域の周辺部である領域17、21、お
よびディスク7からの0次光と−1次回折光の重なる領
域の中心部である領域18、22の4つの領域に分割し
ている。ディスク7からの0次光と+1次回折光の重な
る領域の周辺部と中心部、およびディスク7からの0次
光と−1次回折光の重なる領域の周辺部と中心部は、そ
れぞれディスク7の接線方向に平行な分割線で隔てられ
ている。
の第七の実施形態においては、ディスク7で反射された
メインビーム、サブビームの各々を、図21に示す光検
出器111により、ディスク7からの0次光と+1次回
折光の重なる領域の周辺部である受光部112、11
4、118、120、124、126、130、13
2、ディスク7からの0次光と+1次回折光の重なる領
域の中心部である受光部113、119、125、13
1、ディスク7からの0次光と−1次回折光の重なる領
域の周辺部である受光部115、117、121、12
3、127、129、133、135、およびディスク
7からの0次光と−1次回折光の重なる領域の中心部で
ある受光部116、122、128、134の4つの領
域に分割している。ディスク7からの0次光と+1次回
折光の重なる領域の周辺部と中心部、およびディスク7
からの0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部と中
心部は、それぞれディスク7の接線方向に平行な分割線
で隔てられている。
素子262等により、ディスク7からの0次光と+1次
回折光の重なる領域の周辺部と中心部、およびディスク
7からの0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部と
中心部が、それぞれディスク7の半径方向における左
側、右側に設けられた楕円状の分割線で隔てられた形態
も考えられる。図22に示す本発明の光ヘッド装置の第
八の実施の形態、図24に示す本発明の光ヘッド装置の
第九の実施の形態等に関しても同様である。
実施形態、図20に示す本発明の光ヘッド装置の第七の
実施形態、図22に示す本発明の光ヘッド装置の第八の
実施形態、図24に示す本発明の光ヘッド装置の第九の
実施形態等においては、半導体レーザからの出射光を回
折光学素子または偏光性回折光学素子により0次光、±
1次回折光の3つの光に分割し、0次光をメインビー
ム、±1次回折光をサブビームとして用いている。これ
に対し、半導体レーザからの出射光を回折光学素子また
は偏光性回折光学素子により0次光、+1次回折光また
は−1次回折光の2つの光に分割し、0次光をメインビ
ーム、+1次回折光または−1次回折光のどちらか一方
のみをサブビームとして用いる形態も考えられる。
回折光学素子または偏光性回折光学素子により2つまた
は3つの光に分割してメインビーム、サブビームとして
用いる代わりに、2個または3個の半導体レーザからの
出射光をそれぞれメインビーム、サブビームとして用い
る形態も考えられる。このとき、サブビームの集光スポ
ットをメインビームの集光スポットに対し、ディスクの
半径方向にずらして配置するか、対物レンズに入射する
サブビームの位相を、光軸を通りディスクの接線方向に
平行な直線の左側と右側で互いにずらす。後者の場合、
サブビームの光路中に、対物レンズに入射するサブビー
ムの位相を、光軸を通りディスクの接線方向に平行な直
線の左側と右側で互いにずらすための位相制御素子等の
素子が挿入される。位相制御素子の形態としては、光軸
を通りディスクの接線方向に平行な直線の左側と右側で
厚さが異なる平行平板等が考えられる。
置の第一の実施形態、図9に示す本発明の光学式情報記
録再生装置の第二の実施形態においては、図1に示す本
発明の光ヘッド装置の第一の実施形態に演算回路、駆動
回路を付加しているが、本発明の光ヘッド装置の第二〜
第九の実施形態に演算回路、駆動回路を付加した形態も
考えられる。本発明の光学式情報記録再生装置の実施形
態においては、グルーブとランドで、ラジアルチルトの
補正を行うための演算回路、駆動回路から構成される回
路の極性を切り換える。その際、メインビームの集光ス
ポットがディスクのランド、グルーブのどちらの上に位
置するかを検出することが必要である。ディスクに形成
されているアドレス情報を再生すれば、このようなラン
ド/グルーブの位置検出を間欠的に行うことが可能であ
るが、本発明の光ヘッド装置の第二、第四、第五、第六
の実施の形態に演算回路、駆動回路を付加した形態にお
いては、ランド/グルーブの位置検出信号を用いれば、
ディスクに形成されているアドレス情報を再生しなくて
も、このようなランド/グルーブの位置検出を連続的に
行うことが可能である。
式情報記録再生装置に用いる光ヘッド装置について説明
したが、本発明は、相変化型の光学式情報記録再生装置
に用いる光ヘッド装置に限らず、光磁気型の光学式情報
記録再生装置に用いる光ヘッド装置にも適用することが
できる。また、光記録媒体として、スピンドルモータ等
によって回転するディスク型の光記録媒体について説明
したが、ディスク型の光記録媒体に限らず、カード型の
光記録媒体やテープ型の光記録媒体に対しても、本発明
の光ヘッド装置を適用することにより、トラックに直交
する方向のチルトを検出し、そのチルト量に応じた補正
を行い、記録再生特性に対する悪影響をなくすことがで
きる。特に、平面性を完璧に保てない光記録媒体にとっ
ては好適である。
装置においては、光源からの出射光からメインビームと
サブビームを生成し、光記録媒体で反射されたメインビ
ーム、サブビームの各々を、光記録媒体からの0次光と
+1次回折光の重なる領域の周辺部、光記録媒体からの
0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部、光記録媒
体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部、
および光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる
領域の中心部の4つの領域に分割し、光記録媒体で反射
されたメインビーム、サブビームの各々に対する、光記
録媒体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の周辺
部の強度と、光記録媒体からの0次光と−1次回折光の
重なる領域の中心部の強度の和と、光記録媒体からの0
次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、光
記録媒体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中
心部の強度の和との差に基づいて、光記録媒体のラジア
ルチルトを検出する。このとき、サブビームの集光スポ
ットをメインビームの集光スポットに対し、光記録媒体
の半径方向にずらして配置するか、対物レンズに入射す
るサブビームの位相を、光軸を通り光記録媒体の接線方
向に平行な直線の左側と右側で互いにずらす。
おいては、光記録媒体のラジアルチルトを検出すること
が可能な本発明の光ヘッド装置を用い、記録再生特性に
対する悪影響がなくなるように光記録媒体のラジアルチ
ルトの補正を行う。
録再生装置の効果は、対物レンズが光記録媒体の半径方
向にシフトしてもラジアルチルト信号にオフセットを生
じず、光記録媒体のラジアルチルトを正しく検出するこ
とができることである。その理由は以下の通りである。
ブビームの各々に対する、光記録媒体からの0次光と+
1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、光記録媒体
からの0次光と−1次回折光の重なる領域の中心部の強
度の和と、光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重
なる領域の周辺部の強度と、光記録媒体からの0次光と
+1次回折光の重なる領域の中心部の強度の和との差
を、それぞれメインビーム、サブビームのラジアルチル
ト信号と呼ぶ。このとき、サブビームの集光スポットを
メインビームの集光スポットに対し、光記録媒体の半径
方向にずらして配置するか、対物レンズに入射するサブ
ビームの位相を、光軸を通り光記録媒体の接線方向に平
行な直線の左側と右側で互いにずらすため、光記録媒体
にラジアルチルトがある場合のラジアルチルト信号はメ
インビームとサブビームで値が異なる。一方、対物レン
ズが光記録媒体の半径方向にシフトした場合、光検出器
上の光スポットが光記録媒体の半径方向にシフトする量
はメインビームとサブビームで同じであるため、ラジア
ルチルト信号に生じるオフセットもメインビームとサブ
ビームで同じである。
号とサブビームのラジアルチルト信号の差を最終的なラ
ジアルチルト信号とすると、光記録媒体にラジアルチル
トがある場合のラジアルチルト信号はメインビームとサ
ブビームで相殺されず、対物レンズが光記録媒体の半径
方向にシフトした場合にラジアルチルト信号に生じるオ
フセットはメインビームとサブビームで相殺されるた
め、対物レンズが光記録媒体の半径方向にシフトしても
ラジアルチルト信号にオフセットを生じず、光記録媒体
のラジアルチルトを正しく検出することができる。
す図である。
ける回折光学素子の平面図である。
けるディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
けるホログラム光学素子の平面図である。
ける光検出器の受光部のパタンと光検出器上の光スポッ
トの配置を示す図である。
けるトラック誤差信号およびラジアルチルト信号に関わ
る各種の波形を示す図である。
けるラジアルチルト特性を示す図である。
の形態を示す図である。
の形態を示す図である。
おけるディスク上の集光スポットの配置を示す図であ
る。
おけるトラック誤差信号およびラジアルチルト信号に関
わる各種の波形を示す図である。
おける回折光学素子の平面図である。
おけるディスク上の集光スポットの配置を示す図であ
る。
おける回折光学素子の平面図である。
おけるディスク上の集光スポットの配置を示す図であ
る。
おける回折光学素子の平面図である。
おけるディスク上の集光スポットの配置を示す図であ
る。
おける回折光学素子の平面図である。
おけるディスク上の集光スポットの配置を示す図であ
る。
示す図である。
おける光検出器の受光部のパタンと光検出器上の光スポ
ットの配置を示す図である。
示す図である。
おける光検出器の受光部のパタンと光検出器上の光スポ
ットの配置を示す図である。
示す図である。
おける偏光性ホログラム光学素子の平面図である。
おける光検出器の受光部のパタンと光検出器上の光スポ
ットの配置を示す図である。
素子の平面図である。
部のパタンと光検出器上の光スポットの配置を示す図で
ある。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
Claims (25)
- 【請求項1】 光源と、該光源からの出射光を光記録媒
体上に集光する対物レンズと、前記光記録媒体からの反
射光を受光する光検出器を有する光ヘッド装置におい
て、 前記光源からの出射光からメインビームとサブビームを
生成し、前記光記録媒体で反射された前記メインビー
ム、前記サブビームの各々を、前記光記録媒体からの0
次光と+1次回折光の重なる領域の周辺部、前記光記録
媒体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心
部、前記光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重な
る領域の周辺部、前記光記録媒体からの0次光と−1次
回折光の重なる領域の中心部の4つの領域に分割する分
割手段を有し、 前記光記録媒体で反射された前記メインビームと前記サ
ブビームの各々に対する、前記光記録媒体からの0次光
と+1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、前記光
記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の中
心部の強度の和と、前記光記録媒体からの0次光と−1
次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、前記光記録媒
体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部の
強度の和との差を、それぞれメインビーム、サブビーム
のラジアルチルト信号として、前記メインビームのラジ
アルチルト信号と前記サブビームのラジアルチルト信号
の差を最終的なラジアルチルト信号として、前記光記録
媒体のラジアルチルトを検出することを特徴とする光ヘ
ッド装置。 - 【請求項2】 前記光記録媒体上に集光される前記サブ
ビームの集光スポットは、前記メインビームの集光スポ
ットに対し、前記光記録媒体の半径方向にずらして配置
されていることを特徴とする請求項1記載の光ヘッド装
置。 - 【請求項3】 前記対物レンズに入射する前記サブビー
ムの位相は、光軸を通り前記光記録媒体の接線方向に平
行な直線の左側と右側で互いにずれていることを特徴と
する請求項1記載の光ヘッド装置。 - 【請求項4】 前記光記録媒体からの0次光と+1次回
折光の重なる領域の周辺部と中心部、および前記光記録
媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部
と中心部は、それぞれ前記光記録媒体の接線方向に平行
な分割線で隔てられていることを特徴とする請求項1乃
至3のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項5】 前記光記録媒体からの0次光と+1次回
折光の重なる領域の周辺部と中心部、および前記光記録
媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の周辺部
と中心部は、それぞれ前記光記録媒体の半径方向におけ
る左側、右側に設けられた楕円状の分割線で隔てられて
いることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項6】 前記メインビームの集光スポットは前記
光記録媒体の所定のグルーブ上(または所定のランド
上)、前記サブビームの集光スポットは前記光記録媒体
の前記所定のグルーブに隣接するランド上(または前記
所定のランドに隣接するグルーブ上)にそれぞれ配置さ
れていることを特徴とする請求項2記載の光ヘッド装
置。 - 【請求項7】 前記メインビームの集光スポットは前記
光記録媒体の所定のグルーブ上(または所定のランド
上)、前記サブビームの集光スポットは前記光記録媒体
の前記所定のグルーブとそれに隣接するランドの境界上
(または前記所定のランドとそれに隣接するグルーブの
境界上)にそれぞれ配置されていることを特徴とする請
求項2記載の光ヘッド装置。 - 【請求項8】 前記サブビームの集光スポットによるプ
ッシュプル信号に基づいてランドまたはグルーブの位置
検出信号を生成し、該ランドまたはグルーブの位置検出
信号の符号により、前記メインビームの集光スポットが
前記光記録媒体のランド、グルーブのどちらの上に位置
するかを検出することを特徴とする請求項7記載の光ヘ
ッド装置。 - 【請求項9】 前記光源と前記対物レンズの間に、前記
光源からの出射光を複数の光に分割する前記分割手段で
ある回折光学素子または偏光性回折光学素子を有し、該
回折光学素子または該偏光性回折光学素子からの0次光
を前記メインビームとして用い、±1次回折光の一方ま
たは両方を前記サブビームとして用いることを特徴とす
る請求項1乃至8のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項10】 前記光源と前記対物レンズの間に、前
記光源からの出射光を複数の光に分割する前記分割手段
である回折光学素子または偏光性回折光学素子を有し、
該回折光学素子または該偏光性回折光学素子からの0次
光を前記メイ ンビームとして用い、±1次回折光の一方
または両方を前記サブビームとして用い、 さらに、 前記メインビームの集光スポット、前記サブビ
ームの集光スポットは前記光記録媒体の同一のトラック
(グルーブまたはランド)上に配置されていることを特
徴とする請求項1、3乃至5のいずれかに記載の光ヘッ
ド装置。 - 【請求項11】 前記回折光学素子または前記偏光性回
折光学素子は、前記対物レンズの有効径を含む領域に回
折格子が形成された構成であり、入射光の光軸を通り前
記光記録媒体の接線方向に平行な直線で、左側の第一の
領域、右側の第二の領域の2つに分割されており、前記
第一の領域と前記第二の領域における格子の位相は互い
にπだけずれていることを特徴とする請求項9記載の光
ヘッド装置。 - 【請求項12】 前記回折光学素子または前記偏光性回
折光学素子は、前記対物レンズの有効径を含む領域に回
折格子が形成された構成であり、入射光の光軸を通り前
記光記録媒体の接線方向に平行な直線で、左側の第一の
領域、右側の第二の領域の2つに分割されており、前記
第一の領域と前記第二の領域における格子の位相は互い
にπ/2だけずれていることを特徴とする請求項9記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項13】 前記回折光学素子または前記偏光性回
折光学素子は、前記対物レンズの有効径を含む領域に回
折格子が形成された構成であり、入射光の光軸を通り前
記光記録媒体の接線方向に平行な直線および半径方向に
平行な直線で、左上側の第一の領域、右上側の第二の領
域、左下側の第三の領域、右下側の第四の領域の4つに
分割されており、前記第一、前記第四の領域と前記第
二、前記第三の領域における格子の位相は互いにπ/2
だけずれていることを特徴とする請求項9記載の光ヘッ
ド装置。 - 【請求項14】 前記回折光学素子または前記偏光性回
折光学素子は、前記対物レンズの有効径を含む領域に回
折格子が形成された構成であり、入射光の光軸を通り前
記光記録媒体の接線方向に平行な直線および半径方向に
平行な2つの直線で、左中央の第一の領域、右中央の第
二の領域、左上側の第三の領域、右上側の第四の領域、
左下側の第五の領域、右下側の第六の領域の6つに分割
されており、前記第一、前記第四、前記第六の領域と前
記第二、前記第三、前記第五の領域における格子の位相
は互いにπ/2だけずれていることを特徴とする請求項
9記載の光ヘッド装置。 - 【請求項15】 前記サブビームの集光スポットによる
プッシュプル信号に基づいてランドまたはグルーブの位
置検出信号を生成し、該ランドまたはグルーブの位置検
出信号の符号により、前記メインビームの集光スポット
が前記光記録媒体のランド、グルーブのどちらの上に位
置するかを検出することを特徴とする請求項12乃至1
4のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項16】 前記光源として複数個の光源を有し、
該複数個の光源からの出射光をそれぞれ前記メインビー
ム、前記サブビームとして用いることを特徴とする請求
項1記載の光ヘッド装置。 - 【請求項17】 前記サブビームの光路中に、前記対物
レンズに入射する前記サブビームの位相を、光軸を通り
前記光記録媒体の接線方向に平行な直線の左側と右側で
互いにずらすための位相制御素子が挿入されていること
を特徴とする請求項16記載の光ヘッド装置。 - 【請求項18】 前記位相制御素子は、光軸を通り前記
光記録媒体の接線方向に平行な直線の左側と右側で厚さ
が異なる平行平板であることを特徴とする請求項17記
載の光ヘッド装置。 - 【請求項19】 光源と、該光源からの出射光を光記録
媒体上に集光する対物レンズと、前記光記録媒体からの
反射光を受光する光検出器とを具備する光ヘッド装置を
備えた光学式情報記録再生装置において、 前記光源からの出射光からメインビームとサブビームを
生成し、前記光記録媒体で反射された前記メインビー
ム、前記サブビームの各々を、前記光記録媒体からの0
次光と+1次回折光の重なる領域の周辺部、前記光記録
媒体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心
部、前記光記録媒体からの0次光と−1次回折光の重な
る領域の周辺部、前記光記録媒体からの0次光と−1次
回折光の重なる領域の中心部の4つの領域に分割する分
割手段を有し、 前記光記録媒体で反射された前記メインビーム、前記サ
ブビームの各々に対する、前記光記録媒体からの0次光
と+1次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、前記光
記録媒体からの0次光と−1次回折光の重なる領域の中
心部の強度の和と、前記光記録媒体からの0次光と−1
次回折光の重なる領域の周辺部の強度と、前記光記録媒
体からの0次光と+1次回折光の重なる領域の中心部の
強度の和との差を、それぞれメインビーム、サブビーム
のラジアルチルト信号として、前記メインビームのラジ
アルチルト信号と前記サブビームのラジアルチルト信号
の差を最終的なラジアルチルト信号として、前記光記録
媒体のラジアルチルトを検出すると共に、前記光記録媒
体のラジアルチルトを補正することを特徴とする光学式
情報記録再生装置。 - 【請求項20】 前記対物レンズを前記光記録媒体の半
径方向に傾けることにより前記光記録媒体のラジアルチ
ルトを補正することを特徴とする請求項19記載の光学
式情報記録再生装置。 - 【請求項21】 前記光ヘッド装置全体を前記光記録媒
体の半径方向に傾けることにより前記光記録媒体のラジ
アルチルトを補正することを特徴とする請求項19記載
の光学式情報記録再生装置。 - 【請求項22】 前記光ヘッド装置の光学系中に液晶光
学素子を設置し、該液晶光学素子に電圧を印加すること
により前記光記録媒体のラジアルチルトを補正すること
を特徴とする請求項19記載の光学式情報記録再生装
置。 - 【請求項23】 前記光記録媒体上に集光される前記メ
インビームの集光スポットが、前記光記録媒体のランド
とグルーブのどちらの上に位置するかを検出し、前記光
記録媒体のグルーブとランドで前記ラジアルチルトの補
正を行うための回路の極性を切り換えることを特徴とす
る請求項19記載の光学式情報記録再生装置。 - 【請求項24】 前記光記録媒体に形成されているアド
レス情報を再生することにより、前記光記録媒体上に集
光される前記メインビームの集光スポットが、前記光記
録媒体のランドとグルーブのどちらの上に位置するかを
検出することを特徴とする請求項23記載の光学式情報
記録再生装置。 - 【請求項25】 請求項8,15のいずれかに記載の光
ヘッド装置を備え、前記光記録媒体のラジアルチルトを
補正する光学式情報記録再生装置において、 前記ランドまたはグルーブの位置検出信号を用いること
により、前記光記録媒 体上に集光される前記メインビー
ムの集光スポットが、前記光記録媒体のランドとグルー
ブのどちらの上に位置するかを検出し、前記光記録媒体
のグルーブとランドで前記ラジアルチルトの補正を行う
ための回路の極性を切り換えることを特徴とする光学式
情報記録再生装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000119919A JP3456579B2 (ja) | 2000-04-20 | 2000-04-20 | 光ヘッド装置および光学式情報記録再生装置 |
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