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JP3479702B2 - Surface coating material by tin and tin-lead alloy plating, and electronic parts using the coating material - Google Patents
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JP3479702B2 - Surface coating material by tin and tin-lead alloy plating, and electronic parts using the coating material - Google Patents

Surface coating material by tin and tin-lead alloy plating, and electronic parts using the coating material

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JP3479702B2
JP3479702B2 JP24917096A JP24917096A JP3479702B2 JP 3479702 B2 JP3479702 B2 JP 3479702B2 JP 24917096 A JP24917096 A JP 24917096A JP 24917096 A JP24917096 A JP 24917096A JP 3479702 B2 JP3479702 B2 JP 3479702B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はスズ及びスズ―鉛合
金メッキによる表面被覆材料、並びにこの被覆材料を利
用した電子部品に関し、スズ又はスズ−鉛合金メッキ皮
膜中のβ−スズの結晶に特定の配向性を付与するものを
提供する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface coating material by tin and tin-lead alloy plating, and an electronic component using this coating material, which is specified to crystals of β-tin in tin or tin-lead alloy plating film. What provides the orientation of.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイス、コネクター等の電子部
品のリード、或は電極などは、ハンダ付け性の向上など
を主目的に、スズ又はスズ−鉛合金の電着皮膜で表面被
覆されるが、これらの電子部品の製造過程においては
(具体的には、半導体基板に実装するなどの目的で)、電
気メッキしたリード、電極などを金型を用いて曲げ加工
したり、切削、或は切断などの各種の機械加工を施す場
合が多い。しかしながら、スズ又はスズ−鉛合金メッキ
皮膜の性状は軟らかいために、曲げ加工などの後加工を
施すと、加工部分からメッキ皮膜の削れ屑が発生してし
まい、従来では、これを防止する有効な手段がないとい
うのが実情であった。
BACKGROUND OF THE INVENTION Leads, electrodes, etc. of electronic devices such as semiconductor devices and connectors are coated with a tin or tin-lead alloy electrodeposition film mainly for the purpose of improving solderability. In the manufacturing process of these electronic parts
(Specifically, for the purpose of mounting on a semiconductor substrate, etc.), electroplated leads, electrodes, etc. may be bent using a mold, or subjected to various machining such as cutting or cutting. Many. However, since the tin or tin-lead alloy plating film has a soft property, when post-processing such as bending is performed, shavings of the plating film are generated from the processed part, and conventionally, it is effective to prevent this. The reality was that there was no means.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記機械加工に際し
て、メッキ皮膜の削れ屑が発生すると、次のような弊害
がある。 (1)リード、電極などに削れ屑が付着して残留した場
合、電子部品の短絡の原因になり、部品の信頼性を著し
く阻害してしまう。 (2)繰り返し機械加工を行った場合、削れ屑が金型に付
着・成長し、金型の加工精度を落とすため、一定期間毎
に金型を清掃する必要があり、加工の生産効率を著しく
低下させる。 (3)金型に付着した削れ屑はリードなどに転写すること
もあり、上記(1)のように、部品の信頼性を低下させる
問題を起こす。
When the plating film shavings are generated during the above-mentioned machining, there are the following adverse effects. (1) If shavings adhere to and remain on the leads and electrodes, they may cause a short circuit of electronic components, which significantly impairs the reliability of the components. (2) When repeated machining is performed, shavings adhere to and grow on the mold, reducing the machining accuracy of the mold.Therefore, it is necessary to clean the mold at regular intervals. Lower. (3) The shavings attached to the mold may be transferred to the lead or the like, which causes a problem of reducing the reliability of the component as described in (1) above.

【0004】本発明は、スズ又はスズ−鉛合金メッキ皮
膜で覆った電子部品のリードなどのような表面被覆材料
に機械加工を施した場合に、メッキ皮膜の削れ屑の発生
量を低く抑制することを技術的課題とする。
According to the present invention, when a surface coating material such as a lead of an electronic component covered with a tin or tin-lead alloy plating film is machined, the amount of shavings of the plating film is suppressed to a low level. This is a technical issue.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】例えば、特開平5−25
689号公報には、エンジンのクランク軸、コンロッド
の大端部などに使用される滑り軸受けに関し、軸受けの
表面層を構成する鉛合金の結晶構造を特定化すると、そ
の表面層に保油性などを具備させて、耐焼き付き性を向
上できることが開示されている。
Means for Solving the Problems For example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-25
Japanese Patent No. 689 discloses a sliding bearing used for a crankshaft of an engine, a large end portion of a connecting rod, and the like, and when a crystal structure of a lead alloy constituting a surface layer of the bearing is specified, the surface layer is provided with an oil retaining property. It is disclosed that the anti-seizure property can be improved by providing the anti-glare agent.

【0006】本発明者らは、当該公開公報の技術を出発
点にして鋭意研究の結果、メッキ皮膜中のβ−スズの結
晶の配向性が、曲げ加工などにおけるメッキ皮膜の削れ
屑の発生量に影響することを見い出し、この結晶の配向
性を制御することで、削れ屑の発生量を抑えることを着
想して、本発明を完成した。
The inventors of the present invention have conducted extensive studies as a starting point of the technique disclosed in the publication, and as a result, the orientation of β-tin crystals in the plated film was found to be the amount of shavings generated in the plated film during bending. The present invention has been completed based on the finding that the amount of shavings generated can be suppressed by controlling the crystal orientation.

【0007】 即ち、本発明1は、素地金属上にスズ―
鉛合金メッキ皮膜を電気メッキにより被覆する表面被覆
材料において、素地金属表面に平行な外力方向に対し
て、メッキ皮膜中のβ−スズの結晶格子におけるミラー
指数の〈001〉方向が90〜35度の高角度を成すよ
うに、当該β−スズの結晶を優先配向させることを特徴
とするスズ―鉛合金メッキによる表面被覆材料である。
That is, the present invention 1 relates to tin-containing metal on a base metal.
In a surface coating material for coating a lead alloy plating film by electroplating, the <001> direction of the Miller index in the β-tin crystal lattice in the plating film is 90 to 35 degrees with respect to the external force direction parallel to the surface of the base metal. The β-tin crystal is preferentially oriented so that the β-tin crystal has a high angle.

【0008】[0008]

【0009】 本発明2は、素地金属上にスズメッキ皮
膜を電気メッキにより被覆する表面被覆材料において、
素地金属表面に平行な外力方向に対して、メッキ皮膜中
のβ−スズの結晶格子におけるミラー指数の〈001〉
方向が90〜35度の高角度を成すように、当該β−ス
ズの結晶を優先配向させることを特徴とするスズメッキ
による表面被覆材料である。
The present invention 2 is a tin-plated skin on a base metal.
In the surface coating material for coating the film by electroplating,
In the plating film in the direction of external force parallel to the surface of the base metal
Miller index <001> in the β-tin crystal lattice of
The β-smoothness so that the direction forms a high angle of 90 to 35 degrees.
Tin plating characterized by preferentially orienting the crystals of copper
Is a surface coating material.

【0010】 本発明3は、上記本発明1において、ス
ズ−鉛合金メッキ皮膜中の鉛の含有率が20%以下であ
ることを特徴とするスズ―鉛合金メッキによる表面被覆
材料である。
The invention 3 is the same as the invention 1 described above.
Z-Lead alloy content of lead is less than 20%
Surface coating by tin-lead alloy plating characterized by
It is a material.

【0011】 本発明4は、上記本発明1〜3のいずれ
かにおいて、メッキ皮膜の膜厚が1〜30μmであるこ
とを特徴とするスズ及びスズ―鉛合金メッキによる表面
被覆材料である。
The present invention 4 is any one of the above inventions 1 to 3.
In this case, the thickness of the plating film should be 1 to 30 μm.
Surfaces with tin and tin-lead alloy plating characterized by
It is a coating material.

【0012】 本発明5は、上記本発明1〜4のいずれ
かにおいて、スズの可溶性塩、或はスズ及び鉛の可溶性
塩と、有機スルホン酸と、界面活性剤とを主成分とする
メッキ浴により、素地金属上に電気メッキを施すことを
特徴とするものである。
A fifth aspect of the present invention is the plating bath according to any one of the first to fourth aspects, which contains a tin soluble salt or a tin and lead soluble salt, an organic sulfonic acid, and a surfactant as main components. According to the present invention, the base metal is electroplated.

【0013】 本発明6は、リード、電極が上記本発明
1〜5のいずれかの表面被覆材料であることを特徴とす
る電子部品である。
In a sixth aspect of the present invention, the leads and electrodes are the same as those of the present invention.
An electronic component, which is the surface coating material according to any one of 1 to 5 .

【0014】 本発明7は、上記本発明6の電子部品が
半導体デバイス、コネクターであることを特徴とするも
のである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an electronic component according to the sixth aspect.
It is a semiconductor device and a connector .

【0015】[0015]

【発明の実施の態様】上記表面被覆の対象となる素地金
属は42合金、銅合金、コバールを初め、任意の材質を
選択でき、特定の材質に限定されない。素地金属の表面
には、電気メッキ又は無電解メッキ方法などで施された
ニッケル又は銅等の下地メッキ層が存在しても良い。上
記スズ又はスズ−鉛合金メッキ皮膜の膜厚は1〜30μ
mが好ましく、30μmはメッキを施す場合の通常の厚
みの一応の上限を示すものであるが、これ以上の膜厚で
あっても良い。上記スズ−鉛合金メッキでは鉛の含有率
は20%以下が好ましく、鉛が20%を越えると、合金
の性状が軟らかくなり過ぎるため、本発明1のように、
β−スズの配向性を特定条件下で制御しても、もはや、
機械加工に際してメッキ皮膜の削れ屑の発生を有効に抑
制することは容易でなくなる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The base metal to be surface-coated can be selected from any material including 42 alloy, copper alloy and Kovar, and is not limited to a specific material. On the surface of the base metal, there may be an underplating layer such as nickel or copper applied by an electroplating method or an electroless plating method. The thickness of the tin or tin-lead alloy plating film is 1 to 30 μm.
m is preferable, and 30 μm indicates a temporary upper limit of the usual thickness when plating is applied, but a film thickness of more than this may be used. The tin - content of lead in the lead alloy plating is preferably 20% or less, the lead exceeds 20%, the properties of the alloy becomes too soft, as in the present invention 1,
Even if the orientation of β-tin is controlled under specific conditions,
It becomes difficult to effectively suppress the generation of shavings in the plating film during machining.

【0016】 通常、メッキ皮膜は多結晶体であり、β
−スズの結晶が優先配向するとは、皮膜中のβ−スズの
結晶が全て特定の方位に配向していることを意味するの
ではなく、統計的に大多数が(即ち、傾向として)一定
範囲の方位に配向していることを意味する。従って、例
えば、本発明1のスズ−鉛合金メッキ皮膜では、β−ス
ズの結晶は、単位格子におけるミラー指数の〈001〉
方向が表面被覆材料に加える外力方向に対して90〜3
5度の範囲内で大多数が統計的に揃うように配向してい
ながら、上記統計的に揃った方位から外れたランダムな
方位の結晶が部分的に含まれても良い。また、本発明2
のスズ皮膜においても配向性の意味は同様である。
Usually, the plating film is a polycrystal, and β
-The preferential orientation of tin crystals does not mean that all β-tin crystals in the film are oriented in a specific orientation, but statistically the majority (that is, as a tendency) falls within a certain range. It means that it is oriented in the azimuth direction. Therefore, for example, in the tin-lead alloy plating film of the present invention 1, the β-tin crystal has a Miller index <001> of the unit lattice.
The direction is 90 to 3 with respect to the direction of the external force applied to the surface coating material.
A crystal may be partially included in a random orientation deviating from the above-described statistically aligned orientation, while the majority is oriented so as to be statistically aligned within a range of 5 degrees. In addition, the present invention 2
The meaning of the orientation is the same in the tin film.

【0017】 一般に、冒述の電子デバイスやコネクタ
ーなどの電子部品製造過程で施される折り曲げ、切削、
切断などの各種の機械加工(或は、手動加工)において
は、素地金属表面に平行に沿った加工が多く、スズ−鉛
合金メッキ皮膜を対象とする本発明1は、β−スズの結
晶格子におけるミラー指数の〈001〉方向を、この素
地金属表面に平行な加工方向、即ち、外力方向に関係付
けたものである。また、スズ皮膜を対象とした本発明2
も同様に、β−スズの結晶の〈001〉方向を素地金属
表面に平行な外力方向に沿わせたものである。
In general, the electronic devices and connectors mentioned above
Bending, cutting, etc. performed in the manufacturing process of electronic parts such as
In various machining such as cutting (or manual machining)
Is often processed along the surface of the base metal.
The present invention 1, which is directed to an alloy plating film, is formed of β-tin.
The <001> direction of the Miller index in the crystal lattice is
Related to the processing direction parallel to the base metal surface, that is, the external force direction
It is a digit. Further, the present invention 2 for a tin film
Similarly, in the <001> direction of β-tin crystal,
It is along an external force direction parallel to the surface.

【0018】上記メッキ皮膜に電気メッキを施す場合、
メッキ浴の組成やメッキ条件などの多くの因子によりβ
−スズの結晶の配向性が変化する。しかしながら、これ
らのメッキ浴の組成やメッキ条件と、得られるスズ又は
スズ−鉛合金メッキ皮膜のβ−スズの配向性との間に
は、多くの因子が介在することから一般的な(或は明解
な)法則性は存在せず(特定し得ず)、不明な部分が多い
のである。
When electroplating the above plating film,
Β due to many factors such as plating bath composition and plating conditions
-The orientation of the tin crystals changes. However, there are many factors between the composition and plating conditions of these plating baths and the orientation of β-tin in the obtained tin or tin-lead alloy plating film. There is no (clear) law (which cannot be specified), and there are many unknown parts.

【0019】 当該メッキ浴の組成の因子としては、ス
ズ及び/又は鉛の金属可溶性塩の濃度と種類、酸の濃度
と種類、界面活性剤や湿潤剤などの各種添加剤の濃度と
種類などが挙げられる。 また、電気メッキ浴の組成と
しては、本発明5に示すように、腐食性が少なく、排水
処理が容易であるなどの理由から、スズ及び/又は鉛の
可溶性塩と、有機スルホン酸と、界面活性剤とを主成分
とする有機スルホン酸浴が好ましい。上記界面活性剤
は、ノニオン系、両性、カチオン系、アニオン系などの
種々の活性剤を使用できる。
Factors of the composition of the plating bath include the concentration and type of the metal-soluble salt of tin and / or lead, the concentration and type of acid, and the concentration and type of various additives such as surfactants and wetting agents. Can be mentioned. Further, the composition of the electroplating bath is, as shown in the present invention 5 , a small salt of tin and / or lead, an organic sulfonic acid, an interface, and an interface because of their low corrosiveness and easy drainage treatment. An organic sulfonic acid bath containing an activator as a main component is preferable. Various surfactants such as nonionic, amphoteric, cationic and anionic can be used as the surfactant.

【0020】一方、本出願人は、特願平7−27833
1号において次の技術的事項を記載した。 (1)特定のトリアルキルべンジルアンモニウム塩類をス
ズ又はスズ−鉛合金メッキ浴に添加すると、スズ又はス
ズ−鉛合金メッキした被覆材料に折り曲げたり、切断す
るなどの後加工を施しても、メッキ皮膜にクラックが発
生するなどの弊害を有効に低減できる。 (2)特定のトリアルキルべンジルアンモニウム塩類に加
えて、さらに芳香族スルホン酸類を併用添加すると、後
加工でのメッキ皮膜のクラック発生防止効果をさらに促
進できる。
On the other hand, the present applicant has filed Japanese Patent Application No. 7-27833.
The following technical matters are described in No. 1. (1) When a specific trialkylbenzil ammonium salt is added to a tin or tin-lead alloy plating bath, the tin or tin-lead alloy plated coating material may be bent or cut, and after-treatment such as cutting may be performed. It is possible to effectively reduce the adverse effects such as cracks in the plating film. (2) In addition to the specific trialkylbenzil ammonium salts, the addition of aromatic sulfonic acids in combination can further promote the effect of preventing cracking of the plated film in the post-processing.

【0021】通常、スズ又はスズ−鉛合金メッキによる
表面被覆材料に折り曲げなどの後加工を施す際には、削
れ屑が発生する弊害の外に、クラックが生ずる場合も少
なくない。このため、スズ及び/又は鉛の可溶性塩と、
有機スルホン酸と、界面活性剤とを主成分とする前記有
機スルホン酸浴に、上記特定のトリアルキルべンジルア
ンモニウム塩類や芳香族スルホン酸類を併用添加する
と、メッキ皮膜の削れ屑の抑制と同時に、クラックの発
生を防止することも併せて期待できる。上記特定のトリ
アルキルべンジルアンモニウム塩類とは、(ベンジル)ジ
メチルテトラデシルアンモニウム塩(アルキルスルホネ
ート塩、アセテート塩、ハロゲン化物など)、(ベンジル)
ジメチルドデシルアンモニウム塩、(ベンジル)ジメチル
オクタデシルアンモニウム塩、(ベンジル)ジメチルデシ
ルアンモニウム塩、(ベンジル)ジエチルオクチルアンモ
ニウム塩、((トリフルオロメチル)フェニルメチル)ジメ
チルドデシルアンモニウム塩、(ベンジル)エチルメチル
オクタデシルアンモニウム塩、(モノクロロフェニルメ
チル)ジメチルヘキサデシルアンモニウム塩などをい
う。上記芳香族スルホン酸類とは、ベンゼンスルホン
酸、ナフタレンスルホン酸、及びこれらの塩などをい
う。具体的には、1,2−ジヒドロキシベンゼンスルホ
ン酸、モノ−t−ブチルナフタレンスルホン酸、2−ヒ
ドロキシナフタレンスルホン酸、1,3−ジヒドロキシ
ベンゼンスルホン酸塩、ジアミルナフタレンスルホン酸
塩、トリ−イソプロピルナフタレンスルホン酸塩、1,
2−ジヒドロキシナフタレンスルホン酸塩、1,8−ジ
ヒドロキシナフタレンスルホン酸塩などが挙げられる。
Usually, when post-processing such as bending is performed on a surface coating material plated with tin or a tin-lead alloy, in addition to the harmful effects of shavings, cracks often occur. Therefore, with a soluble salt of tin and / or lead,
When the organic sulfonic acid and the organic sulfonic acid bath containing a surfactant as a main component are added together with the specific trialkylbenzil ammonium salt or aromatic sulfonic acid, the shavings of the plating film can be suppressed at the same time. Also, it can be expected to prevent the occurrence of cracks. The specific trialkyl benzyl ammonium salts, (benzyl) dimethyl tetradecyl ammonium salt (alkyl sulfonate salts, acetate salts, halides, etc.), (benzyl)
Dimethyl dodecyl ammonium salt, (benzyl) dimethyl octadecyl ammonium salt, (benzyl) dimethyl decyl ammonium salt, (benzyl) diethyl octyl ammonium salt, ((trifluoromethyl) phenylmethyl) dimethyl dodecyl ammonium salt, (benzyl) ethyl methyl octadecyl ammonium salt Salt, (monochlorophenylmethyl) dimethylhexadecyl ammonium salt and the like. The aromatic sulfonic acids mentioned above include benzenesulfonic acid, naphthalenesulfonic acid, and salts thereof. Specifically, 1,2-dihydroxybenzenesulfonic acid, mono-t-butylnaphthalenesulfonic acid, 2-hydroxynaphthalenesulfonic acid, 1,3-dihydroxybenzenesulfonic acid salt, diamylnaphthalenesulfonic acid salt, tri-isopropyl Naphthalene sulfonate, 1,
Examples thereof include 2-dihydroxynaphthalene sulfonate and 1,8-dihydroxynaphthalene sulfonate.

【0022】さらに、メッキ浴にはp−クロロベンズア
ルデヒド、1−ナフトアルデヒド、ベンジリデンアセト
ン等の光沢剤、チオ尿素、ベンゾチアゾール類等の半光
沢剤、或は平滑剤などの各種の添加剤を加えても良い。
Further, various additives such as brighteners such as p-chlorobenzaldehyde, 1-naphthaldehyde and benzylideneacetone, semi-brighteners such as thiourea and benzothiazole, or smoothing agents are added to the plating bath. May be.

【0023】前記メッキ条件の因子としては、陰極電流
密度、メッキ浴温、メッキ浴の撹拌度合、メッキ時間、
メッキ膜厚、印加する電圧波形、通電する電流波形など
が挙げられる。
The factors of the plating conditions are: cathode current density, plating bath temperature, plating bath agitation degree, plating time,
The plating film thickness, applied voltage waveform, energized current waveform, etc. may be mentioned.

【0024】上記表面被覆材料は、具体的には、半導体
デバイス、コネクター、抵抗、コンデンサ、インダクタ
等の電子部品のリードや電極、或はフープ材などであ
る。
Specifically, the surface coating material is a lead or electrode of an electronic component such as a semiconductor device, a connector, a resistor, a capacitor, an inductor, or a hoop material.

【0025】[0025]

【発明の効果】β−スズは体心正方晶の結晶形態をと
り、単位結晶格子におけるa軸は5.8317Åである
のに対し、c軸は3.1815Åであるため、機械的性
質の異方性が強いと推定できる。即ち、このβ−スズの
結晶の塑性変形は格子中の所定の結晶面がずれることに
より起こり、中でも、主にミラー指数の{110}面な
どが〈001〉方向に沿って滑ることにより生じると考
えられる。通常、電子部品のリードを曲げ加工する場合
などには、リードの素地金属表面に平行に沿う横方向の
外力を受け易いため、β−スズの結晶格子の〈001〉
方向を、この素地金属表面に平行な外力方向に対して
0〜35度を成して優先配向すると、β−スズの結晶の
上記滑り方向でもある〈001〉方向がこの外力方向に
対して高角度になるので、メッキ皮膜はこの外力に沿う
方向には塑性変形し難くなる。別言すると、冒述のよう
に、電子部品のリードを金型で曲げ加工する場合などに
は、リードの素地金属表面に平行な方向が直ちに外力方
向になるため、本発明1又は2のように、外力方向との
関係においてβ−スズの結晶を特定条件下で配向させる
と、機械加工を施しても加工の方向にはメッキ皮膜の塑
性変形が難しくなり、スズ又はスズ−鉛合金メッキ皮膜
の削れ屑の発生量を低く抑えられる。
EFFECTS OF THE INVENTION β-tin has a body-centered tetragonal crystal morphology, and the a-axis in the unit crystal lattice is 5.8317Å, while the c-axis is 3.1815Å. It can be estimated that the directionality is strong. That is, the plastic deformation of the β-tin crystal occurs when a predetermined crystal plane in the lattice shifts, and particularly when the {110} plane of the Miller index or the like slides along the <001> direction. Conceivable. Usually when bending leads of electronic parts
For example, in the lateral direction parallel to the base metal surface of the lead.
Being susceptible to external force, <001> of β-tin crystal lattice
The direction is 9 with respect to the external force direction parallel to the surface of the base metal.
When the preferred orientation is 0 to 35 degrees, the <001> direction, which is also the sliding direction of the β-tin crystal, forms a high angle with respect to this external force direction, so that the plating film is directed in the direction along this external force. It becomes difficult to plastically deform. In other words, as described above, when bending the leads of electronic parts with a mold, the direction parallel to the surface of the base metal of the leads immediately becomes
Therefore, if the β-tin crystal is oriented under a specific condition in relation to the external force direction as in the present invention 1 or 2 , even if mechanical processing is performed, plastic deformation of the plating film is generated in the processing direction. And the amount of shavings of the tin or tin-lead alloy plating film can be suppressed to a low level.

【0026】[0026]

【0027】即ち、表面被覆材料の機械加工に際して生
じるメッキ皮膜の削れ屑に関し、従来ではスズの配向性
を制御することで対応するという技術的思想はなかった
のであるが、本発明では、スズの結晶の配向性を制御す
るという簡潔、且つ、明解な手段で、削れ屑の発生量を
低減できるという実効性の高い技術を新たに開発できた
のである。
That is, regarding the shavings of the plating film generated during the machining of the surface coating material, there has been no technical idea of controlling the orientation of tin in the past. It was possible to newly develop a highly effective technique capable of reducing the amount of shavings by a simple and clear means of controlling the crystal orientation.

【0028】[0028]

【実施例】以下、各種のメッキ浴及び電気メッキの実施
例を述べるとともに、得られたスズ及びスズ−鉛合金の
電着皮膜の削れ屑発生試験例を併記する。但し、本発明
は下記の実施例などに拘束されるものではない。
EXAMPLES Examples of various plating baths and electroplating will be described below, together with an example of shavings generation test of the obtained tin and tin-lead alloy electrodeposition coating. However, the present invention is not limited to the following examples.

【0029】《実施例1》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 200g/l オクタデシルアルコールポリエトキシレート(EO20) 10g/l ドデシルアミンポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 3g/l (ベンジル)ジメチルテトラデシルアンモニウムクロライド 3g/l モノ−t−ブチルナフタレンスルホン酸 0.5g/l カテコール 2g/l
Example 1 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonate 200 g / l Octadecyl alcohol polyethoxylate (EO20) 10 g / l Dodecylamine polyethoxylate (EO15) -polypropoxylate (PO3) 3 g / l (benzyl) dimethyltetradecyl ammonium chloride 3 g / l mono-t-butylnaphthalene sulfonic acid 0.5 g / l catechol 2 g / l

【0030】上記メッキ浴は、スズ及び鉛の可溶性塩を
含む有機スルホン酸浴に、2種類のノニオン系界面活性
剤と、特定のトリアルキルベンジルアンモニウム塩と、
芳香族スルホン酸と、酸化防止剤(第一スズイオンの酸
化防止用)とを混合したものである。上記メッキ浴を使
用して、25×25×0.2mmの大きさで42合金を
材質とする素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを
施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :35℃ 以下、実施例2〜19並びに比較例1〜8共に、素地金
属の大きさ、材質は同じである。
The plating bath is an organic sulfonic acid bath containing soluble salts of tin and lead, two kinds of nonionic surfactants, and a specific trialkylbenzylammonium salt.
It is a mixture of an aromatic sulfonic acid and an antioxidant (for preventing the oxidation of stannous ions). Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of 42 alloy in the size of 25 × 25 × 0.2 mm under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. or less, and the size and material of the base metal are the same in Examples 2 to 19 and Comparative Examples 1 to 8.

【0031】得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜は約10
μmの膜厚と10%程度の鉛含有率を有していた。尚、
後述の実施例2〜19及び比較例1〜8では、10±1
μmの膜厚条件を満たすように、また、スズ-鉛合金メ
ッキの実施例1〜12及び比較例1〜4では、10±
0.5%の鉛含有率条件を満たすように各メッキ皮膜を
作成した。
The resulting tin-lead alloy plating film had a thickness of about 10
It had a film thickness of μm and a lead content of about 10%. still,
In Examples 2 to 19 and Comparative Examples 1 to 8 described later, 10 ± 1
In order to satisfy the film thickness condition of μm, and in Examples 1-12 and Comparative Examples 1 to 4 of tin-lead alloy plating, 10 ±
Each plating film was formed so as to satisfy the lead content condition of 0.5%.

【0032】そして、上記スズ−鉛合金メッキ皮膜にお
けるβ−スズの結晶の配向性をX線回折法で調べた。当
該回折方式では、X線回折パターンによりβ−スズの各
結晶面の回折ピーク高さを求め、次式(A)により夫々の
結晶面の配向性指数Xhklを算出した(当該算出式は金属
表面技術協会 第76回講演大会 要旨集第200〜20
1頁(1987年)を参照)。 Xhkl={(ΣASTMのI/I1)×(測定された(hkl)面のI/I1)}÷ {(Σ測定されたI/I1)×(ASTM(hkl)面のI/I1)}…(A) 式(A)中のXhkl:(hkl)面の配向性指数 I/I1:(hkl)面の回折強度/X線回折パターン中
の最も強い回折ピークの回折強度 ΣASTMのI/I1:標準となるASTMカードのI
/I1の総和 Σ測定されたI/I1:実際に測定されたI/I1の総和 即ち、測定されたX線回折図では、各結晶面ごとに異な
る強度の回折ピークが現れるが、各結晶面の回折ピーク
Iをその最大ピークI1で除して、各(hkl)面のI/
1、或はΣ測定されたI/I1を求めるとともに、標準
の回折パターンであるASTMカードにおける夫々の対
応値を求め、配向性指数Xhklを計算した。
Then, the orientation of β-tin crystals in the tin-lead alloy plating film was examined by an X-ray diffraction method. In the diffraction method, the diffraction peak height of each crystal face of β-tin was obtained from the X-ray diffraction pattern, and the orientation index X hkl of each crystal face was calculated by the following formula (A) (the calculation formula is metal Surface Technology Association 76th Lecture Meeting Abstracts No. 200-20
See page 1 (1987)). X hkl = {(ΣASTM I / I 1 ) × (measured (hkl) plane I / I 1 )} ÷ {(Σ measured I / I 1 ) × (ASTM (hkl) plane I / I 1 ) × I 1 )} (A) X hkl in formula (A): orientation index of (hkl) plane I / I 1 : diffraction intensity of (hkl) plane / diffraction of strongest diffraction peak in X-ray diffraction pattern Strength Σ ASTM I / I 1 : Standard ASTM card I
/ I 1 sum Σ Measured I / I 1 : Sum of actually measured I / I 1 , that is, in the measured X-ray diffraction diagram, diffraction peaks with different intensities appear for each crystal plane, The diffraction peak I of each crystal plane is divided by its maximum peak I 1 to obtain I / I of each (hkl) plane.
I 1 or I / I 1 measured by Σ was determined, and corresponding values in the standard ASTM pattern of the ASTM card were determined to calculate the orientation index X hkl .

【0033】この場合、配向性指数の中の最も高い数値
をとる結晶面が優先配向面となり、素地金属表面に対し
て統計的に平行になる。
In this case, the crystal plane having the highest numerical value in the orientation index becomes the preferential orientation plane and is statistically parallel to the surface of the base metal.

【0034】 一方、β−スズの結晶格子において、上
記優先配向面と〈001〉方向との間の角度は空間上一
義的に定まるため、素地金属表面に平行になる優先配向
面が具体的に判明すると、この〈001〉方向が素地金
属表面に立てた法線方向に対して成す角度θは容易に決
定できる。換言すると、β−スズの結晶の配向性は、優
先配向面という結晶面に替えて、〈001〉方向と素地
金属表面の法線方向との間の角度θを用いることによ
り、定量的に表現できるのである。その結果、本実施例
1のメッキ皮膜では、β−スズの結晶の〈001〉方向
が素地金属表面の法線方向に対して次の角度θを成して
優先配向していることが認められた。θ=28.6度
尚、後述の実施例2〜19及び比較例1〜8の角度θ
は、上記〈001〉方向が素地金属表面の法線方向に対
して成す角度を各々示す。
On the other hand, in the β-tin crystal lattice, the angle between the preferential orientation plane and the <001> direction is uniquely determined in space, so that the preferential orientation plane parallel to the surface of the base metal is specifically When it is found, the angle θ formed by this <001> direction with respect to the normal direction standing on the surface of the base metal can be easily determined. In other words, the crystal orientation of β-tin is quantitatively expressed by using the angle θ between the <001> direction and the normal to the surface of the base metal, instead of the crystal plane of the preferential orientation plane. You can do it. As a result, in the plating film of Example 1, the <001> direction of the β-tin crystal was observed.
It has been confirmed that is preferentially oriented at the following angle θ with respect to the normal direction of the surface of the base metal . θ = 28.6 degrees The angle θ of Examples 2 to 19 and Comparative Examples 1 to 8 described later
Indicates the angle formed by the <001> direction with respect to the normal to the surface of the base metal.

【0035】《実施例2》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 46.5g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 3.5g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 3g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 2 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 46.5 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 3.5 g / l Free methane sulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 10 g / l nonylamine polyethoxylate (EO15) -polypropoxylate (PO2) 3 g / l (benzyl) dimethyldodecyl ammonium methyl sulfonate 3 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0036】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、上記実施例1と同様に、得られたスズ−鉛合金
メッキ皮膜におけるβ−スズの結晶の配向性をX線回折
法で調べ、配向性指数の最も高い数値をとる結晶面に基
づいて次の角度θを得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, in the same manner as in Example 1 above, the orientation of β-tin crystals in the obtained tin-lead alloy plating film was examined by X-ray diffraction, and orientation was performed. The following angle θ was obtained based on the crystal plane having the highest sex index. θ = 28.6 degrees

【0037】《実施例3》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 46.5g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 3.5g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 3g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 3 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 46.5 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 3.5 g / l Free methane sulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 10 g / l nonylamine polyethoxylate (EO15) -polypropoxylate (PO2) 3 g / l (benzyl) dimethyldodecyl ammonium methyl sulfonate 3 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0038】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:7A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 7 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0039】《実施例4》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 46.5g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 3.5g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 3g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 4 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 46.5 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 3.5 g / l Free methane sulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 10 g / l nonylamine polyethoxylate (EO15) -polypropoxylate (PO2) 3 g / l (benzyl) dimethyldodecyl ammonium methyl sulfonate 3 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0040】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=50.7度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the base metal surface of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 50.7 degrees

【0041】《実施例5》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 140g/l オクチルフェノールポリエトキシレート(EO12) −ポリプロポキシレート(PO4) 10g/l デシルアミンポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO4) 2g/l (ベンジル)ジエチルオクチルアンモニウムブロマイド 3g/l トリ−イソプロピルナフタレンスルホン酸カリウム 1g/l カテコール 2g/l
Example 5 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free 2-propanol sulfonate 140 g / l Octylphenol polyethoxylate (EO12) -Polypropoxylate (PO4) 10 g / l decylamine polyethoxylate (EO15) -polypropoxylate (PO4) 2 g / l (benzyl) diethyloctyl ammonium bromide 3 g / l potassium tri-isopropylnaphthalene sulfonate 1 g / l catechol 2 g / L

【0042】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0043】《実施例6》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 46.5g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 3.5g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO30) 10g/l ドデシルアミンポリエトキシレート(EO8) −ポリプロポキシレート(PO3) 2g/l ((トリフルオロメチル)フェニルメチル)ジメチルドデシル −アンモニウムアセテート 3g/l 2−ヒドロキシナフタレンスルホン酸 2g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 6 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 46.5 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 3.5 g / l Free 2-propanol sulfonate 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO30) 10 g / l dodecylamine polyethoxylate (EO8) -polypropoxylate (PO3) 2 g / l ((trifluoromethyl) phenylmethyl) dimethyldodecyl-ammonium acetate 3 g / l 2-hydroxynaphthalenesulfonic acid 2 g / l hydroquinone 2 g / l l

【0044】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the base metal surface made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0045】《実施例7》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 46.5g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 3.5g/l 遊離メタンスルホン酸 180g/l オクタデシルアルコールポリエトキシレート(EO30) 10g/l オクチルアミンポリエトキシレート(EO6) −ポリプロポキシレート(PO4) 3g/l (ベンジル)エチルメチルオクタデシル −アンモニウムメチルスルホネート 3g/l 1,2−ジヒドロキシナフタレンスルホン酸ナトリウム 1g/l カテコール 2g/l
Example 7 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 46.5 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 3.5 g / l Free methanesulfonate 180 g / l Octadecyl alcohol polyethoxylate (EO30) 10 g / l Octylamine polyethoxylate (EO6) -polypropoxylate (PO4) 3g / l (benzyl) ethylmethyloctadecyl-ammonium methyl sulfonate 3g / l 1,2-dihydroxynaphthalene sodium sulfonate 1g / l catechol 2g / l

【0046】上記メッキ浴を使用して、銅合金製の素地
金属表面(大きさは実施例1と同じ;以下の実施例、及
び比較例でも同様)上に次の条件下で電気メッキを施し
た。 陰極電流密度:12A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=40.8度
Using the above-mentioned plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of copper alloy (the size is the same as in Example 1; the same applies to the following Examples and Comparative Examples) under the following conditions. did. Cathode current density: 12 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β-in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 40.8 degrees

【0047】《実施例8》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 160g/l ナフトールポリエトキシレート(EO20) 10g/l ドデシルアミンポリエトキシレート(EO8) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルオクタデシルアンモニウムクロライド 3g/l 1,8−ジヒドロキシナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 8 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonate 160 g / l Naphthol polyethoxylate (EO20) 10 g / l Dodecyl Amine polyethoxylate (EO8) -polypropoxylate (PO2) 3 g / l (benzyl) dimethyloctadecyl ammonium chloride 3 g / l 1,8-dihydroxynaphthalene sulfonic acid sodium salt 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0048】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:17A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 17 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β-in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 28.6 degrees

【0049】《実施例9》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 27g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 3g/l 遊離メタンスルホン酸 120g/l ナフトールポリエトキシレート(EO30) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO30) −ポリプロポキシレート(PO6) 3g/l (モノクロロフェニルメチル)ジメチルヘキサデシル −アンモニウムクロライド 3g/l 1,2−ジヒドロキシベンゼンスルホン酸 0.5g/l カテコール 2g/l
Example 9 A tin-lead alloy plating bath having the following composition was constructed. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 27 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 3 g / l Free methanesulfonate 120 g / l Naphthol polyethoxylate (EO30) 10 g / l Nonyl Amine polyethoxylate (EO30) -polypropoxylate (PO6) 3 g / l (monochlorophenylmethyl) dimethylhexadecyl-ammonium chloride 3 g / l 1,2-dihydroxybenzenesulfonic acid 0.5 g / l catechol 2 g / l

【0050】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:7A/dm2 浴温 :30℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=50.7度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 7 A / dm 2 Bath temperature: 30 ° C and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 50.7 degrees

【0051】《実施例10》下記の組成でスズ−鉛合金
メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l 2−プロパノールスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 200g/l オクチルフェノールポリエトキシレート(EO30) −ポリプロポキシレート(PO4) 10g/l デシルアミンポリエトキシレート(EO30) −ポリプロポキシレート(PO4) 2g/l (ベンジル)ジメチルデシルアンモニウムブロマイド 3g/l 1,3−ジヒドロキシベンゼンスルホン酸ナトリウム 1g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 10 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead 2-propanol sulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free 2-propanol sulfonate 200 g / l Octylphenol polyethoxylate (EO30) -Polypropoxylate (PO4) 10 g / l decylamine polyethoxylate (EO30) -polypropoxylate (PO4) 2 g / l (benzyl) dimethyldecyl ammonium bromide 3 g / l sodium 1,3-dihydroxybenzenesulfonate 1 g / l Hydroquinone 2g / l

【0052】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:20A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 20 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β-in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0053】《実施例11》下記の組成でスズ−鉛合金
メッキ浴を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 19.3g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 0.7g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 100g/l ベンジルフェノールポリエトキシレート(EO10) 10g/l 2−メルカプトベンゾチアゾール 0.3g/l カテコール 1g/l
Example 11 A tin-lead alloy plating bath having the following composition was constructed. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 19.3 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 0.7 g / l Free 2-propanol sulfonate 100 g / l Benzylphenol polyethoxylate (EO10) ) 10 g / l 2-mercaptobenzothiazole 0.3 g / l catechol 1 g / l

【0054】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:2A/dm2 浴温 :25℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 2 A / dm 2 Bath temperature: 25 ° C. and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0055】《実施例12》下記の組成でスズ−鉛合金
メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 19g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 1g/l 遊離メタンスルホン酸 100g/l ナフトールポリエトキシレート(EO10) 10g/l オクチルアミンポリエトキシレート(EO14) −ポリプロポキシレート(PO4) 3g/l 2−メルカプトベンゾチアゾール 0.4g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 12 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 19 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 1 g / l Free methanesulfonate 100 g / l Naphthol polyethoxylate (EO10) 10 g / l Octylamine polyethoxylate (EO14) -polypropoxylate (PO4) 3 g / l 2-mercaptobenzothiazole 0.4 g / l hydroquinone 2 g / l

【0056】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:2A/dm2 浴温 :25℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 2 A / dm 2 Bath temperature: 25 ° C. and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 28.6 degrees

【0057】《実施例13》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO10) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO12) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 2g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 13 A tin plating bath having the following composition was set up. Stannous 2-propanol (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO10) 10 g / l Nonylamine polyethoxylate (EO12) -Polypropoxylate (PO2) 3 g / L (benzyl) dimethyl dodecyl ammonium methyl sulfonate 2 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0058】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=21.1度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the base metal surface made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 21.1 degrees

【0059】《実施例14》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO10) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO12) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 2g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 14 A tin plating bath having the following composition was constructed. Stannous 2-propanol (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO10) 10 g / l Nonylamine polyethoxylate (EO12) -Polypropoxylate (PO2) 3 g / L (benzyl) dimethyl dodecyl ammonium methyl sulfonate 2 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0060】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=50.7度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the base metal surface made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 50.7 degrees

【0061】《実施例15》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO10) 10g/l ノニルアミンポリエトキシレート(EO12) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルドデシルアンモニウムメチルスルホネート 2g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 15 A tin plating bath having the following composition was constructed. Stannous 2-propanol (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO10) 10 g / l Nonylamine polyethoxylate (EO12) -Polypropoxylate (PO2) 3 g / L (benzyl) dimethyl dodecyl ammonium methyl sulfonate 2 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0062】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:7A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the base metal surface made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 7 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. Then, the orientation of β-tin crystals in the obtained tin-plated film was examined by an X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 28.6 degrees

【0063】《実施例16》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 2−プロパノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 140g/l ノニルフェノールポリエトキシレート(EO28) 10g/l ドデシルアミンポリエトキシレート(EO8) −ポリプロポキシレート(PO2) 2g/l ((トリフルオロメチル)フェニルメチル)ジメチルドデシル −アンモニウムアセテート 3g/l ジアミルナフタレンスルホン酸ナトリウム 2g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 16 A tin plating bath having the following composition was constructed. Stannous 2-propanol sulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free 2-propanol sulfonate 140 g / l Nonylphenol polyethoxylate (EO28) 10 g / l Dodecylamine polyethoxylate (EO8) -Polypropoxylate (PO2) ) 2 g / l ((trifluoromethyl) phenylmethyl) dimethyldodecyl-ammonium acetate 3 g / l sodium diamylnaphthalene sulfonate 2 g / l hydroquinone 2 g / l

【0064】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=40.8度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 40.8 degrees

【0065】《実施例17》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 160g/l ナフトールポリエトキシレート(EO20) 10g/l ドデシルアミンポリエトキシレート(EO8) −ポリプロポキシレート(PO2) 3g/l (ベンジル)ジメチルオクタデシルアンモニウムクロライド 3g/l 1,8−ジヒドロキシナフタレンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 17 A tin plating bath having the following composition was set up. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 160 g / l Naphthol polyethoxylate (EO20) 10 g / l Dodecylamine polyethoxylate (EO8) -Polypropoxylate (PO2) 3 g / l (Benzyl) dimethyl octadecyl ammonium chloride 3 g / l 1,8-dihydroxynaphthalene sodium sulfonate 0.5 g / l hydroquinone 2 g / l

【0066】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:17A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=50.7度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 17 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, the orientation of β-tin crystals in the obtained tin-plated film was examined by an X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 50.7 degrees

【0067】《実施例18》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離2−プロパノールスルホン酸 200g/l オクチルフェノールポリエトキシレート(EO30) −ポリプロポキシレート(PO4) 10g/l デシルアミンポリエトキシレート(EO30) −ポリプロポキシレート(PO4) 2g/l (ベンジル)ジメチルデシルアンモニウムブロマイド 3g/l 1,3−ジヒドロキシベンゼンスルホン酸ナトリウム 1g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 18 A tin plating bath having the following composition was set up. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free 2-propanol sulfonic acid 200 g / l Octylphenol polyethoxylate (EO30) -Polypropoxylate (PO4) 10 g / l Decylamine polyethoxylate (EO30)- Polypropoxylate (PO4) 2 g / l (benzyl) dimethyldecylammonium bromide 3 g / l Sodium 1,3-dihydroxybenzenesulfonate 1 g / l Hydroquinone 2 g / l

【0068】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:13A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 13 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 28.6 degrees

【0069】《実施例19》下記の組成でスズメッキ浴
を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/l 遊離メタンスルホン酸 100g/l ナフトールポリエトキシレート(EO10) 10g/l オクチルアミンポリエトキシレート(EO14) −ポリプロポキシレート(PO4) 3g/l 2−メルカプトベンゾチアゾール 0.4g/l ハイドロキノン 2g/l
Example 19 A tin plating bath having the following composition was set up. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 20 g / l Free methanesulfonic acid 100 g / l Naphthol polyethoxylate (EO10) 10 g / l Octylamine polyethoxylate (EO14) -polypropoxylate (PO4) 3 g / l 2-mercaptobenzothiazole 0.4 g / l hydroquinone 2 g / l

【0070】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:2A/dm2 浴温 :25℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=28.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 2 A / dm 2 Bath temperature: 25 ° C. Then, the orientation of β-tin crystals in the obtained tin-plated film was examined by an X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 28.6 degrees

【0071】《比較例1》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO23) 8g/l プルロニックポリエトキシレート(EO26) −ポリプロポキシレート(PO30) 2g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 1 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonate 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO23) 8 g / 1 Pluronic polyethoxylate (EO26) -polypropoxylate (PO30) 2 g / l sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0072】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=58.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 58.6 degrees

【0073】《比較例2》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO23) 8g/l プルロニックポリエトキシレート(EO26) −ポリプロポキシレート(PO30) 2g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 2 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonate 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO23) 8 g / 1 Pluronic polyethoxylate (EO26) -polypropoxylate (PO30) 2 g / l sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0074】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:20A/dm2 浴温 :45℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=58.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 20 A / dm 2 Bath temperature: 45 ° C. And β-in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 58.6 degrees

【0075】《比較例3》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO14) 10g/l プルロニックポリエトキシレート(EO18) −ポリプロポキシレート(PO4) 1.5g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 3 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO14) 10 g / Pluronic polyethoxylate (EO18) -polypropoxylate (PO4) 1.5 g / l Sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0076】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=90度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. And β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 90 degrees

【0077】《比較例4》下記の組成でスズ−鉛合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l メタンスルホン酸鉛(Pb2+として) 4.2g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO14) 10g/l プルロニックポリエトキシレート(EO18) −ポリプロポキシレート(PO4) 1.5g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 4 A tin-lead alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Lead methanesulfonate (as Pb 2+ ) 4.2 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO14) 10 g / Pluronic polyethoxylate (EO18) -polypropoxylate (PO4) 1.5 g / l Sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0078】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズ−鉛合金メッキ皮膜におけるβ−
スズの結晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを
得た。 θ=90度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. and β- in the obtained tin-lead alloy plating film
The orientation of the tin crystal was examined by X-ray diffraction, and the following angle θ was obtained. θ = 90 degrees

【0079】《比較例5》下記の組成でスズメッキ浴を
建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO23) 8g/l プルロニックポリエトキシレート(EO26) −ポリプロポキシレート(PO30) 2g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 5 A tin plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO23) 8 g / l Pluronic polyethoxylate (EO26) -Polypropoxylate (PO30) 2 g / l Sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0080】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=58.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 58.6 degrees

【0081】《比較例6》下記の組成でスズメッキ浴を
建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO23) 8g/l プルロニックポリエトキシレート(EO26) −ポリプロポキシレート(PO30) 2g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 6 A tin plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylate (EO23) 8 g / l Pluronic polyethoxylate (EO26) -Polypropoxylate (PO30) 2 g / l Sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l Catechol 1 g / l

【0082】上記メッキ浴を使用して、前記42合金製
の素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:20A/dm2 浴温 :45℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=58.6度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the base metal made of the 42 alloy under the following conditions. Cathode current density: 20 A / dm 2 Bath temperature: 45 ° C. Then, the orientation of β-tin crystals in the obtained tin-plated film was examined by an X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 58.6 degrees

【0083】《比較例7》下記の組成でスズメッキ浴を
建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 60g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO14) 10g/l プルロニックポリエトキシレート(EO18) −ポリプロポキシレート(PO4) 1.5g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 7 A tin plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 60 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylates (EO14) 10 g / l Pluronic polyethoxylates (EO18) -polypropoxylates (PO4) 1. 5 g / l sodium dodecylbenzene sulfonate 0.5 g / l catechol 1 g / l

【0084】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :40℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=90度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 40 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 90 degrees

【0085】《比較例8》下記の組成でスズメッキ浴を
建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 55.8g/l 遊離メタンスルホン酸 140g/l スチレン化フェノールポリエトキシレート(EO23) 10g/l プルロニックポリエトキシレート(EO18) −ポリプロポキシレート(PO4) 1.5g/l ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウム 0.5g/l カテコール 1g/l
Comparative Example 8 A tin plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 55.8 g / l Free methanesulfonic acid 140 g / l Styrenated phenol polyethoxylates (EO23) 10 g / l Pluronic polyethoxylates (EO18) -polypropoxylates (PO4) 1.5 g / l sodium dodecylbenzenesulfonate 0.5 g / l catechol 1 g / l

【0086】上記メッキ浴を使用して、前記銅合金製の
素地金属表面上に次の条件下で電気メッキを施した。 陰極電流密度:15A/dm2 浴温 :35℃ そして、得られたスズメッキ皮膜におけるβ−スズの結
晶の配向性をX線回折法で調べ、次の角度θを得た。 θ=90度
Using the above plating bath, electroplating was performed on the surface of the copper alloy base metal under the following conditions. Cathode current density: 15 A / dm 2 Bath temperature: 35 ° C. Then, the orientation of β-tin crystal in the obtained tin plating film was examined by X-ray diffraction method, and the following angle θ was obtained. θ = 90 degrees

【0087】 上記実施例1〜19並びに比較例1〜8
では、メッキ浴の組成やメッキ条件の変化により、結晶
格子の〈001〉方向が素地金属表面の法線方向に対し
てどのような角度θを成して配向したかを記載したが、
以下では、〈001〉方向が素地金属表面に対して成す
角度α(=90度−θ)に置き換えて、このβ−スズの
結晶の配向性評価をまとめた。
Examples 1 to 19 and Comparative Examples 1 to 8
Then, it was described how the <001> direction of the crystal lattice was oriented at an angle θ with respect to the normal direction of the surface of the base metal due to changes in the composition of the plating bath and the plating conditions.
In the following, the <001> direction is formed with respect to the surface of the base metal.
The angle α (= 90 ° −θ) was replaced, and the orientation evaluation of the β-tin crystal was summarized.

【0088】 《β−スズの結晶の配向性評価》 スズ−鉛合金メッキ皮膜において、上記実施例1と2と
8と12を比較すると、メッキ浴の組成が異なる場合で
も、陰極電流密度や浴温のメッキ条件を制御すること
で、メッキ皮膜のβ−スズの結晶は同じ配向性(共に、
θ=28.6度、即ち、α=61.4度)を獲得するこ
とが判る。このことは、スズメッキ皮膜において、実施
例15と18と19の関係に同じである。逆に、スズ−
鉛合金メッキ皮膜において、上記実施例2と3と4を比
較すると、メッキ浴の組成が同じ場合でも、陰極電流密
度や浴温のメッキ条件を制御することで、メッキ皮膜の
β−スズの結晶は異なる配向性を獲得することが判る。
このことは、スズメッキ皮膜において、実施例13と1
4と15の関係に同じである。
<< Assessment of Orientation of β-Tin Crystals >> When tin-lead alloy plating films are compared with Examples 1 and 2 and 8 and 12, even if the compositions of the plating baths are different, the cathode current density and the bath are different. By controlling the temperature plating conditions, the β-tin crystals in the plating film have the same orientation (both
It can be seen that θ = 28.6 degrees , that is, α = 61.4 degrees ) is obtained. This is the same as the relationship between Examples 15 and 18 and 19 in the tin plating film. Conversely, tin-
Comparing Examples 2 and 3 and 4 in the lead alloy plating film, even if the composition of the plating bath is the same, the β-tin crystal of the plating film can be controlled by controlling the plating conditions such as the cathode current density and the bath temperature. It can be seen that each obtains a different orientation.
This means that the tin plating film of Examples 13 and 1
It is the same as the relationship between 4 and 15.

【0089】 一方、スズ−鉛合金メッキ皮膜におい
て、上記実施例2、5、6と比較例1、3とを対比する
と、陰極電流密度や浴温のメッキ条件(15A/dm
及び40℃)が同じ場合でも、メッキ浴の組成を制御す
ることで、メッキ皮膜のβ−スズの結晶は異なる配向性
を獲得することが判る。即ち、実施例2、5、6ではθ
<55度(即ち、α>35度)であったが、比較例1と
3ではθ>55度(即ち、α<35度)であった。特
に、比較例1と3を見ると、陰極電流密度や浴温が同じ
でも、浴組成が少し異なると、角度θは58.6度(比
較例1)から90度(比較例3)に大きく変化している
(角度αは31.4度から0度に大きく低減してい
る)。このことは、スズメッキ皮膜において、実施例1
3、16と比較例5、7との関係に同じである。
On the other hand, in the tin-lead alloy plating film, comparing Examples 2, 5, and 6 with Comparative Examples 1 and 3, the plating conditions of cathode current density and bath temperature (15 A / dm 2
It can be seen that the β-tin crystals of the plating film acquire different orientations by controlling the composition of the plating bath even at the same temperature of 40 ° C. and 40 ° C.). That is, in Examples 2, 5, and 6, θ
It was <55 degrees (ie, α> 35 degrees) , but in Comparative Examples 1 and 3, θ> 55 degrees (ie, α <35 degrees) . In particular, looking at Comparative Examples 1 and 3, even if the cathode current density and bath temperature were the same, the angle θ increased from 58.6 degrees (Comparative Example 1) to 90 degrees (Comparative Example 3) when the bath composition was slightly different. Changing
(The angle α is greatly reduced from 31.4 degrees to 0 degrees.
) . This means that in the tin plating film,
The relationship between Nos. 3 and 16 and Comparative Examples 5 and 7 is the same.

【0090】 尚、上記実施例2と4(又は、実施例1
3と14)を対比すると、メッキ浴の組成と陰極電流密
度が同じ場合、電気メッキ時の浴温を35→40℃に上
げると、角度θが50.7→28.6度(又は50.7
→21.1度)に減少することが判る(即ち、〈00
1〉方向が素地金属表面に対して成す角度αに置き換え
ると、39.3度から61.4度に、又は39.3度か
ら68.9度に増大する)。また、上記実施例3と4
(又は、実施例14と15)を対比すると、メッキ浴の
組成と浴温が同じ場合、電気メッキ時の陰極電流密度を
15→7A/dmに下げると、角度θが50.7→2
1.1度(又は50.7→28.6度)に減少すること
が判る(即ち、角度αに置き換えると、39.3度から
68.9度に、又は39.3度から61.4度に増大す
る)
Incidentally, the above-mentioned Embodiments 2 and 4 (or Embodiment 1)
3 and 14), when the composition of the plating bath and the cathode current density are the same, when the bath temperature during electroplating is increased from 35 to 40 ° C., the angle θ is 50.7 to 28.6 degrees (or 50. 7
→ It turns out to decrease to 21.1 degrees (that is, <00
1) Replace with the angle α that the direction makes with the surface of the base metal
Then, from 39.3 degrees to 61.4 degrees, or 39.3 degrees
To 68.9 degrees) . In addition, the above-mentioned Examples 3 and 4
Comparing (or Examples 14 and 15), when the composition of the plating bath and the bath temperature are the same, when the cathode current density during electroplating is lowered to 15 → 7 A / dm 2 , the angle θ is 50.7 → 2.
It can be seen that the angle decreases to 1.1 degrees (or 50.7 → 28.6 degrees) (that is, substituting the angle α from 39.3 degrees
Increased to 68.9 degrees or 69.3 degrees from 39.3 degrees
) .

【0091】以上のことから、メッキ浴の組成及びメッ
キ条件の制御により、β−スズの結晶に適正な配向性を
付与することは実用上可能であるが、その反面、既述し
たように、メッキ浴の組成やメッキ条件と、得られるメ
ッキ皮膜のβ−スズの結晶の配向性との間には多くの因
子が介在するため、一般的な法則性を導くことは容易で
ない。
From the above, it is practically possible to impart proper orientation to the β-tin crystal by controlling the composition of the plating bath and the plating conditions, but on the other hand, as described above, Since many factors exist between the composition and plating conditions of the plating bath and the orientation of the β-tin crystal of the obtained plating film, it is not easy to derive a general law.

【0092】《メッキ皮膜の削れ屑発生試験例》上記実
施例1〜19並びに比較例1〜8の表面被覆材料を各試
験片とし、当該試験片のスズ又はスズ−鉛合金メッキ皮
膜の表面に対して、垂直に300gfの荷重をかけて3
0mm径の鋼球を押し当てた。次いで、鋼球をメッキ皮
膜の表面に水平方向に50mm/分の速度で100回往
復運動を行い、摩耗痕の膜厚を測定した。そして、当該
膜厚の元の厚みからの減少量により、メッキ皮膜の削れ
屑の発生度合を評価した。
<< Example of shavings generation test of plating film >> The surface coating materials of Examples 1 to 19 and Comparative Examples 1 to 8 were used as test pieces, and the surface of the tin or tin-lead alloy plating film of the test piece was tested. On the other hand, a vertical load of 300 gf is applied 3
A 0 mm diameter steel ball was pressed. Next, the steel ball was reciprocated 100 times in the horizontal direction at a speed of 50 mm / min on the surface of the plated film, and the film thickness of the wear mark was measured. Then, the degree of generation of shavings in the plating film was evaluated based on the amount of decrease in the film thickness from the original thickness.

【0093】削れ屑の発生量の評価基準は下記の通りで
あり、膜厚減少量が低減するほど削れ屑の発生量が少な
く、評価は高い。 5点:膜厚減少量が1μm以下。 4点:膜厚減少量が1〜2μm。 3点:膜厚減少量が2〜4μm。 2点:膜厚減少量が4〜8μm。 1点:膜厚減少量が8μm以上。
The evaluation criteria for the amount of shavings generated are as follows. The smaller the film thickness reduction amount, the smaller the amount of shavings generated, and the higher the evaluation. 5 points: The amount of film thickness reduction is 1 μm or less. 4 points: The film thickness reduction amount is 1 to 2 μm. 3 points: The thickness reduction amount is 2 to 4 μm. 2 points: The amount of film thickness reduction is 4 to 8 μm. 1 point: The thickness reduction amount is 8 μm or more.

【0094】 図1はスズ−鉛合金メッキ皮膜の被覆材
料の試験結果、図2はスズメッキ皮膜の場合の試験結果
を各々示す。実施例1〜12(スズ−鉛合金メッキ皮
膜)は各4点、実施例13〜19(スズメッキ皮膜)は
各5〜4点の高評価であったのに対して、比較例1〜8
は1〜2点と評価が低く、膜厚減少量が大きかった。即
ち、上記実施例1〜19は、前記角度θ<55度(角度
α>35度)の条件で各メッキ皮膜のβ−スズの結晶を
優先配向したものであるが、θ>55度(α<35度)
で優先配向した各比較例1〜8を対比すれば、これらの
実施例における削れ屑の発生量の抑制効果は明らかであ
る。
FIG. 1 shows the test results of the coating material of the tin-lead alloy plating film, and FIG. 2 shows the test results of the tin plating film. Examples 1 to 12 (tin-lead alloy plating film) were evaluated at 4 points each, and Examples 13 to 19 (tin plating film) were evaluated at 5 to 4 points respectively, while Comparative Examples 1 to 8 were evaluated.
The evaluation was low with 1 to 2 points, and the amount of film thickness reduction was large. That is, in the above Examples 1 to 19, the angle θ <55 degrees (angle
α> 35 degrees) , β-tin crystals of each plating film are preferentially oriented, but θ> 55 degrees (α <35 degrees)
By comparing the comparative examples 1 to 8 which are preferentially oriented in 1., the effect of suppressing the generation amount of shavings in these examples is clear.

【0095】 ここで、角度θは、前述したように、β
−スズの結晶格子の〈001〉方向が素地金属表面の法
線方向に対して成す角度であり、角度αは上記〈00
1〉方向が素地金属表面に対して成す角度である。
た、本試験例においては、鋼球が加えた外力方向はメッ
キ皮膜の表面(即ち、素地金属表面)に沿う水平方向で
ある。このため、θ<55度の条件下でβ−スズの結晶
を優先配向することは、当該素地金属表面に平行な外力
方向との関係で表現すると、β−スズの結晶格子の〈0
01〉方向を上記外力方向に対して、α=90〜35度
の高角度を成して優先配向させることと同義である。
Here, the angle θ is β as described above.
-The <001> direction of the tin crystal lattice is an angle formed with respect to the normal direction of the surface of the base metal , and the angle α is the above <00
The 1> direction is an angle formed with respect to the surface of the base metal. Further, in this test example, the direction of the external force applied by the steel balls is the horizontal direction along the surface of the plating film (that is, the surface of the base metal). Therefore, preferentially orienting the β-tin crystal under the condition of θ <55 degrees is expressed by the relation with the external force direction parallel to the surface of the base metal , <0 of the β-tin crystal lattice.
01> direction with respect to the external force direction α = 90 to 35 degrees
Is synonymous with forming a high angle and preferentially orienting.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例1〜12及び比較例1〜4から得られた
スズ−鉛合金メッキ皮膜の各表面被覆材料による削れ屑
発生試験の結果を示す図表である。
FIG. 1 is a table showing the results of a shaving generation test with each surface coating material of a tin-lead alloy plating film obtained from Examples 1 to 12 and Comparative Examples 1 to 4.

【図2】実施例13〜19及び比較例5〜8から得られ
たスズメッキ皮膜の各表面被覆材料による削れ屑発生試
験の結果を示す図表である。
FIG. 2 is a table showing the results of a shaving generation test using tin coatings obtained in Examples 13 to 19 and Comparative Examples 5 to 8 with each surface coating material.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 武内 孝夫 兵庫県明石市二見町南二見21番地の8 株式会社大和化成研究所内 (56)参考文献 特開 平4−168292(JP,A) 特開 平5−25689(JP,A) 特開 昭61−292350(JP,A) 特開 平9−95794(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C25D 3/00 - 7/12 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takao Takeuchi 8 21 Minami Futami, Futami-cho, Akashi-shi, Hyogo 8 Daiwa Kasei Laboratory Co., Ltd. (56) Reference JP-A-4-168292 (JP, A) JP-A 5-25689 (JP, A) JP-A-61-292350 (JP, A) JP-A-9-95794 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) C25D 3/00 -7/12

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 素地金属上にスズ―鉛合金メッキ皮膜を
電気メッキにより被覆する表面被覆材料において、素地
金属表面に平行な外力方向に対して、メッキ皮膜中のβ
−スズの結晶格子におけるミラー指数の〈001〉方向
が90〜35度の高角度を成すように、当該β−スズの
結晶を優先配向させることを特徴とするスズ―鉛合金メ
ッキによる表面被覆材料。
1. A tin on base metal - the surface covering material covering by electroplating lead alloy plating film, the matrix
Β in the plating film with respect to the external force direction parallel to the metal surface
A surface coating material by tin-lead alloy plating, characterized in that the β-tin crystal is preferentially oriented so that the <001> direction of the Miller index in the tin crystal lattice forms a high angle of 90 to 35 degrees. .
【請求項2】 素地金属上にスズメッキ皮膜を電気メッ
キにより被覆する表面被覆材料において、素地金属表面
に平行な外力方向に対して、メッキ皮膜中のβ−スズの
結晶格子におけるミラー指数の〈001〉方向が90〜
35度の高角度を成すように、当該β−スズの結晶を優
先配向させることを特徴とするスズメッキによる表面被
覆材料。
2. A tin-plated film is electroplated on the base metal.
In the surface coating material coated by g
Parallel to the external force direction of β-tin in the plating film
The <001> direction of the Miller index in the crystal lattice is 90-
The β-tin crystal is excelled so as to form a high angle of 35 degrees.
A surface coating material by tin plating , characterized by being orientated first .
【請求項3】 スズ−鉛合金メッキ皮膜中の鉛の含有率
が20%以下であることを特徴とする請求項1に記載の
スズ―鉛合金メッキによる表面被覆材料。
3. The surface coating material according to claim 1, wherein the content of lead in the tin-lead alloy plating film is 20% or less.
【請求項4】 メッキ皮膜の膜厚が1〜30μmである
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の
スズ及びスズ―鉛合金メッキによる表面被覆材料。
4. The surface coating material by tin and tin-lead alloy plating according to claim 1, wherein the plating film has a thickness of 1 to 30 μm.
【請求項5】 スズの可溶性塩、或はスズ及び鉛の可溶
性塩と、有機スルホン酸と、界面活性剤とを主成分とす
るメッキ浴により、素地金属上に電気メッキを施すこと
を特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のスズ
及びスズ―鉛合金メッキによる表面被覆材料。
5. A base metal is electroplated with a plating bath containing a soluble salt of tin or a soluble salt of tin and lead, an organic sulfonic acid, and a surfactant as main components. The surface coating material by the tin and tin-lead alloy plating according to any one of claims 1 to 4.
【請求項6】 リード、電極が請求項1〜5のいずれか
1項に記載の表面被覆材料であることを特徴とする電子
部品。
6. An electronic component, wherein the lead and the electrode are the surface coating material according to any one of claims 1 to 5.
【請求項7】 請求項6に記載の電子部品が半導体デバ
イス、コネクターであることを特徴とするもの。
7. The electronic component according to claim 6 semiconductor Device
Characterized by being a chair or connector .
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