JP3485492B2 - Method and apparatus for producing optical disk master - Google Patents
Method and apparatus for producing optical disk masterInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク原盤作製
方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an optical disk master.
【0002】[0002]
【従来の技術】光ディスクの原盤を作製する工程をマス
タリングといい、この工程で最終的にスタンパーと呼ば
れるニッケル等の金属の原盤が作製される。このスタン
パーが後の成形工程で金型として用いられ、大量のディ
スクの複製が生産される。従来のマスタリング工程は、
フォトレジストが塗布されたガラス基盤に信号変調され
たレーザを露光し、その後、ガラス基盤の上に現像液を
かけて露光部分をエッチィングし、ピットと呼ばれる微
細な凹凸のパターンをフォトレジスト上に形成すること
によって行われていた。2. Description of the Related Art A process for producing an optical disc master is called mastering, and in this process, a metal master such as nickel called a stamper is finally produced. This stamper is used as a mold in a later molding process to produce a large number of disk replicas. The conventional mastering process is
A signal-modulated laser is exposed on a glass substrate coated with photoresist, and then a developing solution is applied on the glass substrate to etch the exposed portion, and a fine uneven pattern called a pit is formed on the photoresist. It was done by forming.
【0003】上記の方法では、記録時に露光されるレー
ザビームのパターンがガウシャン分布をしているため、
結果として出来る凹凸のピットの側壁もある程度の傾斜
を持たざるを得ない。ピットの側壁角度はフォトレジス
トの残膜特性によっても影響される。最近は残膜特性の
γ値が大きなものもあり、ピットの側壁が急峻な形状の
加工も可能になってきた。In the above method, since the pattern of the laser beam exposed during recording has a Gaussian distribution,
The sidewalls of the resulting uneven pits also have to be inclined to some extent. The sidewall angle of the pit is also affected by the residual film characteristics of the photoresist. Recently, some of the residual film characteristics have a large γ value, and it has become possible to process steep sidewalls of pits.
【0004】図8はドライエッチングによる従来の加工
方法を示す。図8(a)では基盤11の上にレジストノ
ズル12よりフォトレジストを塗布してスピニングによ
りレジスト膜13を得る。図8(b)では記録する信号
で変調されたレーザビーム4を記録レンズ5でサブミク
ロンの大きさに絞り、回転する基盤のレジスト膜13に
露光する。FIG. 8 shows a conventional processing method by dry etching. In FIG. 8A, a photoresist is applied from the resist nozzle 12 onto the substrate 11 and a resist film 13 is obtained by spinning. In FIG. 8B, the laser beam 4 modulated by the signal to be recorded is narrowed down to a submicron size by the recording lens 5, and the rotating base resist film 13 is exposed.
【0005】図8(c)では現像装置の内部で現像ノズ
ル14から現像液をかけて露光部分を溶解させ開口部1
5を得る。この例ではポジ型のフォトレジストが用いら
れている。図8(d)では上記の開口が形成されたフォ
トレジストをマスクにしてドライエッチングが行われ基
盤にピット16が形成される。In FIG. 8C, the developing solution is applied from the developing nozzle 14 inside the developing device to dissolve the exposed portion and the opening 1
Get 5. In this example, a positive photoresist is used. In FIG. 8D, dry etching is performed using the photoresist having the above-described openings as a mask to form pits 16 in the substrate.
【0006】次に、基盤上のレジスト膜を除去して図8
(e)に示すように加工された基盤11を得る。図8
(f)ではこの基盤11の表面をスパッタリングや無電
解メッキなどの方法で導電化処理して導電体膜17を形
成する。図8(g)では電鋳によりニッケルの厚膜18
を形成する。Next, the resist film on the substrate is removed, and the structure shown in FIG.
A substrate 11 processed as shown in (e) is obtained. Figure 8
In (f), the surface of the substrate 11 is made conductive by a method such as sputtering or electroless plating to form a conductor film 17. In FIG. 8 (g), the nickel thick film 18 is formed by electroforming.
To form.
【0007】図8(h)ではニッケルの厚膜18を基盤
11より剥離して金属原盤19を得る。In FIG. 8 (h), the nickel thick film 18 is peeled from the substrate 11 to obtain a metal master 19.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】このように従来の製造
方法は、現像後のレジスト膜13をエッチングマスクと
して利用する方法である。この方法では露光するレーザ
のパワーと現像時間の両方の要素が開口部の寸法を決定
する。図9は現像工程でレーザ露光部が溶解する時の進
行状況を示している。ポジ型のレジストの場合には、レ
ーザの露光を受けた部分が現像液により溶融しピット開
口が形成される。図中の線S1,S2,S3,S4,S
5は溶解過程の断面を示しており、レジスト膜13はS
1〜S5の順に溶解が進行する。As described above, the conventional manufacturing method uses the resist film 13 after development as an etching mask. In this method, both the power of the exposing laser and the development time determine the size of the opening. FIG. 9 shows a progress state when the laser exposure portion is melted in the developing process. In the case of a positive type resist, a portion exposed to laser is melted by a developing solution to form a pit opening. Lines S1, S2, S3, S4, S in the figure
5 shows a cross section of the melting process, and the resist film 13 is S
Dissolution proceeds in the order of 1 to S5.
【0009】このS1〜S5の溶解は短時間に進行する
ため、停止時点を精度よく管理するのが難しく、常に一
定の形状を得るのが大変むずかしい。図より分かるよう
に現像の終端のばらつきによって開口部の大きさが大き
く変化し、レジスト膜をエッチングマスクとして利用す
る際、精度が要求されるマスク部の大きさが不安定にな
るという問題がある。Since the melting of S1 to S5 proceeds in a short time, it is difficult to accurately control the stop point, and it is very difficult to always obtain a constant shape. As can be seen from the figure, there is a problem in that the size of the opening changes greatly due to variations in the end of development, and when the resist film is used as an etching mask, the size of the mask part that requires precision becomes unstable. .
【0010】本発明は、マスクの開口部の寸法が安定し
て得られる製造方法を提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a manufacturing method by which the size of the opening of the mask can be stably obtained.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の製造方法は、エ
ッチングによってピットを形成する方式は従来例と同じ
であるが、マスクとして利用する膜をフォトレジストで
はなく、レーザの露光時に開口が形成される材料を用い
て製造することを特徴とする。この本発明では、記録時
のレーザのパワーを一定にする制御を行えば常に同じ大
きさの開口を得ることができ、現像のように薬液で膜を
溶解して開口を得る方式ではないのでコントロールが容
易であって、マスクの開口部の寸法が安定して得られ
る。In the manufacturing method of the present invention, the method of forming pits by etching is the same as in the conventional example, but the film used as the mask is not a photoresist but an opening is formed at the time of laser exposure. It is characterized in that it is manufactured by using the material. In the present invention, if the laser power during recording is controlled to be constant, an opening of the same size can be obtained at all times, and it is not a method of obtaining an opening by dissolving a film with a chemical solution like development. The size of the opening of the mask can be stably obtained.
【0012】[0012]
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1記載の光ディス
ク原盤作製方法は、光ディスクの成形時の金型となる原
盤を作製する方法であって、基盤の上に記録膜を形成す
る工程と、前記記録膜の上にこの記録膜よりもエッチン
グレートの低い保護膜を形成する工程と、前記記録膜が
形成された基盤に記録すべき信号に対応して変調された
レーザビームを集光露光し前記保護膜と前記記録膜に同
時に開口部を形成する工程と、前記開口部を通してエッ
チングにより前記基盤にピットを開ける工程と、前記エ
ッチング工程後にエッチング時にエッチングマスクとな
っていた部分を除去する工程と、前記記録膜が除去され
た基盤の表面を導電性にする工程と、前記表面が導電性
になった基盤に電鋳処理を施し原盤を作製する工程とか
らなることを特徴とする。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An optical disk master manufacturing method according to claim 1 of the present invention is a method for manufacturing a master disk which serves as a mold for molding an optical disk, which comprises a step of forming a recording film on a substrate. A step of forming a protective film having an etching rate lower than that of the recording film on the recording film, and a laser beam modulated corresponding to a signal to be recorded on a substrate on which the recording film is formed is focused and exposed. Then, a step of simultaneously forming an opening in the protective film and the recording film, a step of forming a pit in the substrate by etching through the opening, and a step of removing a portion which has been an etching mask during etching after the etching step And a step of making the surface of the substrate, from which the recording film has been removed, electrically conductive, and a step of subjecting the substrate having the electrically conductive surface to electroforming to produce a master. To.
【0014】 この請求項1の構成によると、保護膜で
薄くオーバーコートされた記録膜は、レーザの集光照射
により保護膜ごと溶融し、開口部が形成される。このよ
うにしてできたマスクは耐エッチング性の高い保護膜で
覆われているので、エッチング時の耐性が向上する。こ
の構成によると、エッチングのマスクとして耐エッチン
グ性に乏しい記録膜を使用した場合であっても所望の深
さまで基盤をエッチングできる。According to the structure of the first aspect , the recording film thinly overcoated with the protective film is melted together with the protective film by the focused irradiation of the laser, and the opening is formed. Since the mask could do is covered with an etching-resistant highly protective film, it increases resistance during etching. This
According to the above configuration, the substrate can be etched to a desired depth even when a recording film having poor etching resistance is used as an etching mask.
【0015】[0015]
【0016】[0016]
【0017】 本発明の請求項2記載の光ディスク原盤
作製方法は、光ディスクの成形時の金型となる原盤を作
製する方法であって、少なくとも表面が導電性の基盤の
上に記録膜を形成する工程と、前記記録膜の上にこの記
録膜よりもエッチングレートの低い保護膜を形成する工
程と、前記記録膜と保護膜が形成された基盤に記録すべ
き信号に対応して変調されたレーザビームを集光露光し
前記記録膜と保護膜に同時に開口部を形成する工程と、
前記開口部を通してエッチングにより前記基盤の表面に
ピットを開ける工程と、前記エッチング工程後にエッチ
ング時にエッチングマスクとなっていた部分を除去する
工程と、前記記録膜が除去された基盤の表面に剥離処理
を施す工程と、前記剥離処理が施された基盤に電鋳処理
を施し原盤を作製する工程とからなることを特徴とす
る。A method of manufacturing an optical disk master according to a second aspect of the present invention is a method of manufacturing a master used as a mold for molding an optical disk, wherein a recording film is formed on at least a surface of a conductive base. A step of forming a protective film having a lower etching rate than the recording film on the recording film, and a laser modulated corresponding to a signal to be recorded on a base on which the recording film and the protective film are formed. A step of converging and exposing a beam to simultaneously form openings in the recording film and the protective film,
A step of opening a pit on the surface of the substrate by etching through the opening, a step of removing a portion which was an etching mask at the time of etching after the etching step, and a peeling treatment on the surface of the substrate from which the recording film has been removed. It is characterized in that it comprises a step of applying and a step of producing a master by subjecting the substrate subjected to the peeling process to electroforming.
【0018】 本発明の請求項3記載の光ディスク原盤
作製方法は、光ディスクの成形時の金型となる原盤を作
製する方法であって、少なくとも表面が導電性の基盤の
上に記録膜を形成する工程と、前記記録膜の上にこの記
録膜よりもエッチングレートの低い保護膜を形成する工
程と、前記記録膜と保護膜が形成された基盤に記録すべ
き信号に対応して変調されたレーザビームを集光露光し
前記記録膜と保護膜に同時に開口部を形成する工程と、
前記開口部を通してエッチングにより前記基盤の表面に
ピットを開ける工程と、前記エッチング工程後にエッチ
ング時にエッチングマスクとなっていた部分を除去する
工程と、前記記録膜が除去された基盤に電鋳処理を施し
原盤を作製する工程とからなることを特徴とする。A method of manufacturing an optical disk master according to a third aspect of the present invention is a method of manufacturing a master used as a mold for molding an optical disk, wherein a recording film is formed on at least a conductive base. A step of forming a protective film having a lower etching rate than the recording film on the recording film, and a laser modulated corresponding to a signal to be recorded on a base on which the recording film and the protective film are formed. A step of converging and exposing a beam to simultaneously form openings in the recording film and the protective film,
A step of forming a pit on the surface of the substrate by etching through the opening, a step of removing a portion which was an etching mask at the time of etching after the etching step, and an electroforming treatment on the substrate from which the recording film is removed. And a step of producing a master.
【0019】 本発明の請求項4記載の光ディスク原盤
作製方法は、請求項1〜請求項3において、信号変調さ
れたレーザを集光露光し基盤に信号を記録する工程で
は、レーザビームによる記録直後にレーザにより形成さ
れた開口部に再生用のレーザビームを照射して記録され
た信号をモニターすることを特徴とする。本発明の請求
項5記載の光ディスク原盤作製方法は、請求項1〜請求
項3において、記録すべき信号に対応したレーザ光を集
光露光し開口部を形成する工程において、前記記録レー
ザとは別に前記形成された開口部の幅を読み取るための
再生レーザを照射してモニターし、前記再生レーザによ
る再生信号から求めた開口部の幅と設定された基準幅と
を比較し、その差分信号で前記記録レーザのパワーを制
御し、前記記録された開口部の幅を一定に制御すること
を特徴とする。 An optical disk master according to claim 4 of the present invention
In the manufacturing method according to any one of claims 1 to 3 , in the step of converging and exposing a signal-modulated laser to record a signal on a substrate, a reproducing laser is formed in an opening formed by the laser immediately after recording with the laser beam. It is characterized by irradiating a beam and monitoring the recorded signal. Claiming the invention
The method for producing an optical disk master according to claim 5,
In the item 3 , in the step of converging and exposing a laser beam corresponding to a signal to be recorded to form an opening, a reproducing laser for reading the width of the formed opening is irradiated separately from the recording laser. The width of the opening obtained by monitoring and reproducing from the reproduction laser is compared with a set reference width, the power of the recording laser is controlled by the difference signal, and the width of the recorded opening is kept constant. characterized in that that control to.
【0020】 本発明の請求項6記載の光ディスク原盤
作製方法は、請求項1〜請求項4において、記録信号に
対応して変調されたレーザ光を集光露光して開口部を形
成する工程では、前記記録レーザとは別に前記形成され
た開口部の凹凸を信号として読み取る再生レーザを照射
し、再生レーザで読み取られた信号の波形を2値化する
ことにより再生信号のデューティを求め、前記デューテ
ィが所望の値になるように前記記録信号のデューティを
制御することを特徴とする。 An optical disk master according to claim 6 of the present invention
The manufacturing method according to any one of claims 1 to 4 , wherein in the step of forming the opening by converging and exposing the laser light modulated corresponding to the recording signal, the opening formed separately from the recording laser is used. The duty of the reproduction signal is obtained by irradiating a reproduction laser for reading the unevenness of the signal as a signal and binarizing the waveform of the signal read by the reproduction laser, and the duty of the recording signal is adjusted so that the duty becomes a desired value. It is characterized by controlling.
【0021】 本発明の請求項7記載の光ディスク原盤
作製方法は、請求項4〜請求項6において、基盤上に形
成された記録膜の厚さが、再生レーザの波長をλとした
ときに
((1/4)+(n/2))・λ
ただし、nはゼロを含む正の整数( =0,1,2,
3,・・・・ )であることを特徴とする。 An optical disk master according to claim 7 of the present invention
The manufacturing method is as described in claim 4 to claim 6, wherein the thickness of the recording film formed on the substrate is ((1/4) + (n / 2)) when the wavelength of the reproducing laser is λ. λ where n is a positive integer including zero (= 0, 1, 2,
3, ...)).
【0022】 本発明の請求項8記載の光ディスク原盤
作製方法は、請求項1,請求項2〜請求項6において、
基盤上に形成された( 記録膜の厚さ+保護膜の厚さ )
が、再生レーザの波長をλとしたときに
((1/4)+(n/2))・λ
ただし、nはゼロを含む正の整数( =0,1,2,
3,・・・・ )であることを特徴とする。 An optical disk master according to claim 8 of the present invention
The manufacturing method is, in claim 1, claim 2 to claim 6 ,
Formed on the substrate (recording film thickness + protective film thickness)
Where λ is the wavelength of the reproducing laser ((1/4) + (n / 2)) · λ where n is a positive integer including zero (= 0, 1, 2,
3, ...)).
【0023】 本発明の請求項9記載の光ディスク原盤
作製装置は、光ディスクの成形時の金型となる原盤を作
製する装置であって、基盤の上に形成された記録膜また
は基盤の上に形成された記録膜とこの記録膜の上に形成
された保護膜に、記録すべき信号に対応して変調された
記録レーザを集光露光する記録露光手段と、前記記録レ
ーザの露光によって形成された開口部の幅を読み取るた
めの再生レーザを照射してモニターするモニター手段
と、前記再生レーザによる再生信号から求めた開口部の
幅と設定された基準幅とを比較し前記記録レーザのパワ
ーを制御する制御手段とを設けたことを特徴とする。An optical disk master manufacturing apparatus according to claim 9 of the present invention is an apparatus for manufacturing a master disk which serves as a mold for molding an optical disk, and is formed on a recording film formed on a base or a base. A recording exposure means for converging and exposing a recording laser modulated corresponding to a signal to be recorded on the recorded recording film and a protective film formed on the recording film, and the recording laser is formed by the exposure of the recording laser. The power of the recording laser is controlled by comparing the monitor width for irradiating and monitoring the reproduction laser for reading the width of the opening with the width of the opening obtained from the reproduction signal by the reproduction laser and the set reference width. And a control means for controlling the operation.
【0024】以下、本発明の製造方法を具体的な実施の
形態に基づいて説明する。
(実施の形態1)図1の(a)〜(h)は本発明の製造
方法による(実施の形態1)の製造工程を示している。
先ず、図1(a)では回転する基盤1に記録材料をノズ
ル2より塗布してスピンにより記録膜3を得る。Hereinafter, the manufacturing method of the present invention will be described based on specific embodiments. (Embodiment 1) FIGS. 1A to 1H show manufacturing steps of (Embodiment 1) according to the manufacturing method of the present invention.
First, in FIG. 1A, a recording material is applied from a nozzle 2 to a rotating base 1 and a recording film 3 is obtained by spinning.
【0025】次に図1(b)では、記録信号に対応した
レーザ4を記録レンズ5でサブミクロンの大きさに絞
り、これを回転する記録膜3に照射する。記録膜3の照
射部分はレーザの熱によって溶発または溶融し、その後
の収縮により開口部6が形成される。なお、記録膜3と
しては有機色素などを含み、レーザの熱によって溶解ま
たは溶発する材料であればよい。具体的には、例として
シアニン系有機色素,フタロシアニン系有機色素,アゾ
系有機色素などを挙げることができる。Next, in FIG. 1B, a laser 4 corresponding to a recording signal is narrowed down to a submicron size by a recording lens 5, and the rotating recording film 3 is irradiated with this. The irradiated portion of the recording film 3 is ablated or melted by the heat of the laser, and the subsequent contraction forms the opening 6. The recording film 3 may be any material that contains an organic dye or the like and is melted or ablated by the heat of the laser. Specifically, examples include cyanine-based organic dyes, phthalocyanine-based organic dyes, azo-based organic dyes, and the like.
【0026】この例では塗布により記録膜3を形成して
いるが、スパッタなどにより記録膜3としてアルミなど
の金属膜が形成されている膜でもよい。その場合でも、
レーザの熱により照射部分が溶融または蒸発し、開口部
6が形成される。何れの場合でも、開口部6が冷却時に
表面張力で収縮し、その穴の周りに盛り上がり部を形成
する。図1(c)に記録後の基盤を示し、基盤上にはマ
スク3aが形成されている。In this example, the recording film 3 is formed by coating, but a film in which a metal film such as aluminum is formed as the recording film 3 by sputtering or the like may be used. Even then,
The irradiation portion is melted or evaporated by the heat of the laser to form the opening 6. In either case, the opening 6 contracts due to surface tension during cooling, forming a raised portion around the hole. FIG. 1C shows the substrate after recording, and the mask 3a is formed on the substrate.
【0027】次に図1(d)に示すように、マスク3a
を通して基盤1をエッチングしてピット7を形成する。
記録膜3の膜厚としては、基板1と記録膜3とのエッチ
ング比を考慮して、所望の深さのピット7が形成される
まで記録膜3が残る厚みが必要である。この際の基板1
のエッチングの方法としてはスパッタエッチング、イオ
ンエッチング、プラズマエッチング、反応性イオンエッ
チングなどのドライエッチングおよびウエット式エッチ
ングでもよい。Next, as shown in FIG. 1D, the mask 3a
The substrate 1 is etched through to form pits 7.
As the film thickness of the recording film 3, it is necessary to take the etching ratio between the substrate 1 and the recording film 3 into consideration so that the recording film 3 remains until the pits 7 having a desired depth are formed. Substrate 1 at this time
As a method of etching, dry etching such as sputter etching, ion etching, plasma etching, reactive ion etching, and wet etching may be used.
【0028】次に図1(e)では、図1(d)の中間品
から基盤1の上のマスク3aを除去して原盤Aを得る。
除去の方法は、記録膜3を溶解する薬液をかけて除去す
る方法とドライ処理のアッシングで除去する方法があ
り、記録膜の材質に適した方法が選ばれる。その後は図
8に示した従来例と同じであるが、図1(f)のように
原盤Aの表面を導電化処理して導電体膜8を形成し、次
に図1(g)のように電鋳により金属厚膜9を形成し、
最後に、図1(h)のように基盤1から剥離して金属原
盤10を得る。Next, in FIG. 1 (e), the master 3 is obtained by removing the mask 3a on the base 1 from the intermediate product of FIG. 1 (d).
The removal method includes a method of applying a chemical solution that dissolves the recording film 3 and a method of removing it by ashing in a dry process, and a method suitable for the material of the recording film is selected. After that, it is the same as the conventional example shown in FIG. 8, but as shown in FIG. 1 (f), the surface of the master A is subjected to a conductive treatment to form a conductor film 8, and then as shown in FIG. 1 (g). To form a thick metal film 9 by electroforming,
Finally, as shown in FIG. 1H, the metal master 10 is obtained by peeling from the base 1.
【0029】(実施の形態2)図2の(a)〜(h)は
本発明の製造方法による(実施の形態2)の製造工程を
示している。この例では基盤21が導電性を有してい
る。また表面にスパッタなどにより導電性の膜を形成し
ているものでもよい。(Embodiment 2) FIGS. 2A to 2H show the manufacturing process of (Embodiment 2) according to the manufacturing method of the present invention. In this example, the base 21 has conductivity. Alternatively, a conductive film may be formed on the surface by sputtering or the like.
【0030】図2(a)では導電性を有している基盤2
1の表面に、(実施の形態1)を示す図1(a)〜
(d)と同じようにして記録膜を形成してレーザの熱に
よって溶発または溶融し、記録膜のマスクを除去する。
図2(e)ではエッチング後の原盤Aの表面に剥離処理
を施し剥離皮膜23を形成する。剥離皮膜としては酸化
物が好ましく、クローム酸塩によるウエット処理や、ド
ライ処理のアッシング工法で酸素ラディカルによって酸
化皮膜を形成する方法などがある。剥離処理はこの後の
電鋳によって形成する金属厚膜を導電性基盤から剥離し
やすいように分離層として薄膜を設けるもので、基盤の
材質に適した工法が選ばれる。In FIG. 2A, the substrate 2 having conductivity is shown.
1 (a) to (Embodiment 1) on the surface of FIG.
A recording film is formed in the same manner as in (d) and ablated or melted by the heat of the laser, and the mask of the recording film is removed.
In FIG. 2E, the surface of the master A after etching is subjected to a peeling treatment to form a peeling film 23. The release film is preferably an oxide, and there is a method of forming an oxide film by oxygen radical by wet treatment with chromate or ashing method of dry treatment. In the peeling treatment, a thin film is provided as a separation layer so that the metal thick film formed by electroforming after this can be easily peeled from the conductive substrate, and a method suitable for the material of the substrate is selected.
【0031】なお、基盤材質によっては剥離膜を設ける
必要のないものもある。具体的にはアモルファスカーボ
ンの成形板などの基盤に、ニッケルの金属厚膜を作った
ような場合には、剥離膜はいらない。次に図2(f)に
示すように電鋳により金属厚膜24を形成し、剥離膜2
3を介して剥離することにより金属原盤25を得る。Depending on the substrate material, there is a case where the release film need not be provided. Specifically, when a nickel metal thick film is formed on a substrate such as a molded plate of amorphous carbon, a peeling film is not necessary. Next, as shown in FIG. 2F, a metal thick film 24 is formed by electroforming, and the peeling film 2 is formed.
The metal master disk 25 is obtained by peeling the metal master disk 3 through.
【0032】この方法では基盤自身が導電性であるため
(実施の形態1)の図1(f)のようにスパッタ等で導
電化処理して導電体膜8を形成する必要がない。
(実施の形態3)図3に本発明の(実施の形態3)を示
す。(a)に示すように、回転する基盤1に記録材料を
ノズル2より塗布し、スピンにより記録膜3を得る。In this method, since the substrate itself is conductive, it is not necessary to form the conductor film 8 by conducting the conductive treatment by sputtering etc. as shown in FIG. 1 (f) of the first embodiment. (Embodiment 3) FIG. 3 shows (Embodiment 3) of the present invention. As shown in (a), a recording material is applied from a nozzle 2 to a rotating base 1, and a recording film 3 is obtained by spinning.
【0033】次に(b)のように記録膜3の上に保護膜
50を付ける。記録膜3と保護膜50はスピン方式によ
り塗布してもよいし、蒸着やスパッタのようにドライプ
ロセスで膜付けしてもよい。記録膜3よりもエッチング
レートの低い保護膜50としては、ITO膜や酸化シリ
コンのような酸化膜を用いてもよいし、金属膜でもよ
い。保護膜50の厚みは数百オングストローム以下であ
るが、後工程のレーザ記録時に容易に溶融して開口を作
り、かつ耐エッチング性を維持できる厚みが選択され
る。Next, as shown in (b), a protective film 50 is attached on the recording film 3. The recording film 3 and the protective film 50 may be applied by a spin method, or may be applied by a dry process such as vapor deposition or sputtering. As the protective film 50 having an etching rate lower than that of the recording film 3, an ITO film, an oxide film such as silicon oxide, or a metal film may be used. The thickness of the protective film 50 is several hundreds of angstroms or less, but a thickness is selected so that it can be easily melted to form an opening at the time of laser recording in a later step and the etching resistance can be maintained.
【0034】次に(c)のように、記録信号に対応した
レーザ10を、記録レンズ5でサブミクロンの大きさに
絞り回転する記録膜3に照射する。保護膜50と記録膜
3の照射部分はレーザの熱によって溶発または溶融し、
その後の収縮により開口部6が形成される。記録膜3と
しては有機色素などを含み、レーザの熱によって溶解ま
たは蒸発する材料であればよい。一般に開口部6は冷却
時に表面張力で収縮し、穴の周りに盛り上がり部を形成
する。(d)は記録後の基盤を示す。基盤上にはマスク
3aが形成されている。Then, as shown in (c), the laser 10 corresponding to the recording signal is applied to the recording film 3 which is rotated by the recording lens 5 so as to stop at a size of submicron. The irradiated portions of the protective film 50 and the recording film 3 are ablated or melted by the heat of the laser,
The subsequent contraction forms the opening 6. The recording film 3 may be any material that contains an organic dye or the like and is melted or evaporated by the heat of the laser. Generally, the opening 6 contracts due to surface tension during cooling, forming a raised portion around the hole. (D) shows the base after recording. A mask 3a is formed on the base.
【0035】次に(e)に示すように、マスク3aを通
して基盤1をエッチングし、ピット7を形成する。エッ
チングの方法としてはスパッタエッチング、イオンエッ
チング、プラズマエッチング、反応性イオンエッチング
などのドライエッチングおよびウエット式エッチングで
もよい。マスク3aの開口部分と周辺の盛り上がり部3
bの寸法がエッチングされるピット形状を決定する。Next, as shown in (e), the substrate 1 is etched through the mask 3a to form pits 7. As the etching method, sputter etching, ion etching, plasma etching, dry etching such as reactive ion etching, or wet etching may be used. Opening of the mask 3a and the surrounding raised portion 3
The dimension of b determines the pit shape to be etched.
【0036】図の例ではエッチングにより保護膜50は
無くなり、記録膜3もかなり削り取られている。しか
し、保護膜50の効果によりエッチングの選択比を高く
することができ、(実施の形態1)の場合のように基盤
1よりマスク3aが早く削られることがない。次に
(f)のように、基盤1の上のマスク3aを除去し加工
された原盤を得る。除去の方法は、記録膜を溶解する薬
液をかけて除去する方法とドライ処理のアッシングで除
去する方法がある。保護膜50および記録膜3の材質に
適した方法が選ばれる。その後は(実施の形態1)と同
じであるが、(g)のように原盤の表面を導電化処理
し、導電体膜8を形成する。次に(h)のように、電鋳
により金属厚膜9を形成し、(i)に示すように基盤1
から剥離して金属原盤10を得る。In the illustrated example, the protective film 50 is removed by etching, and the recording film 3 is also scraped off. However, due to the effect of the protective film 50, the etching selection ratio can be increased, and the mask 3a is not removed earlier than the substrate 1 as in the case of the first embodiment. Next, as shown in (f), the mask 3a on the base 1 is removed to obtain a processed master. As a removing method, there are a method of applying a chemical solution that dissolves the recording film and a method of removing it by ashing of a dry process. A method suitable for the materials of the protective film 50 and the recording film 3 is selected. After that, as in (Embodiment 1), as in (g), the surface of the master is subjected to a conductivity treatment to form the conductor film 8. Next, as shown in (h), a thick metal film 9 is formed by electroforming, and as shown in (i), the substrate 1 is formed.
Then, the metal master 10 is obtained.
【0037】(実施の形態4)図4に本発明の(実施の
形態4)を示す。この例では基盤21が(実施の形態
2)と同じように導電性を有している。また表面にスパ
ッタなどにより導電性の膜を形成しているものでもよ
い。(a)の表面に記録膜を形成する工程、(b)の保
護膜を形成する工程、(c)のレーザで記録する工程、
(d)のエッチングでピット22を形成する工程、
(e)の記録膜のマスクを除去する工程までは図3と同
じである。(Embodiment 4) FIG. 4 shows (Embodiment 4) of the present invention. In this example, the base 21 has conductivity as in the case of the second embodiment. Alternatively, a conductive film may be formed on the surface by sputtering or the like. A step of forming a recording film on the surface of (a), a step of forming a protective film of (b), a step of recording with a laser of (c),
A step of forming the pit 22 by the etching of (d),
The process up to the step (e) of removing the mask of the recording film is the same as in FIG.
【0038】図4の(f)では、エッチング後の基盤の
表面に剥離処理を施し剥離膜23を形成する。剥離膜2
3としては酸化物が好ましく、クローム酸塩によるウエ
ット処理や、ドライ処理のアッシング工法で酸素ラディ
カルによって酸化皮膜を形成する方法などがある。剥離
処理はこの後の電鋳によって形成する金属厚膜を導電性
基盤から剥離しやすいように分離層として薄膜を設ける
もので、基盤の材質に適した工法が選ばれる。In FIG. 4F, the surface of the substrate after etching is subjected to a peeling treatment to form a peeling film 23. Release film 2
Oxide 3 is preferable, and there is a method of forming an oxide film by oxygen radical by ashing method of dry treatment or wet treatment with chromate. In the peeling treatment, a thin film is provided as a separation layer so that the metal thick film formed by electroforming after this can be easily peeled from the conductive substrate, and a method suitable for the material of the substrate is selected.
【0039】また、基盤の材質によっては剥離膜を設け
る必要のないものもある。具体的には、アモルファスカ
ーボンの成形板などの基盤に、ニッケルの金属厚膜を作
ったような場合には、剥離膜はいらない。次に(g)に
示すように電鋳により金属厚膜24を形成し、(h)に
示すように剥離膜23を介して剥離することにより金属
原盤25を得る。Further, depending on the material of the substrate, it is not necessary to provide a peeling film. Specifically, when a nickel metal thick film is formed on a substrate such as a molded plate of amorphous carbon, a peeling film is not necessary. Next, as shown in (g), a metal thick film 24 is formed by electroforming, and as shown in (h), a metal master 25 is obtained by peeling through the peeling film 23.
【0040】この方法では基盤21のそれ自身が導電性
であるので(実施の形態3)のように基盤をスパッタ等
で導電化処理する必要がない。この図4に示す(実施の
形態4)でも、エッチング時において保護膜50が耐エ
ッチング性を高めるので基盤へのエッチングを確実に行
える。
(実施の形態5)図5は(実施の形態5)の製造装置を
示している。In this method, since the substrate 21 itself is conductive, it is not necessary to subject the substrate to conductive treatment such as sputtering as in the third embodiment. Also in FIG. 4 (Embodiment 4), since the protective film 50 enhances the etching resistance at the time of etching, the substrate can be surely etched. (Embodiment 5) FIG. 5 shows a manufacturing apparatus according to (Embodiment 5).
【0041】この製造装置および下記に示す(実施の形
態6)の製造装置は、上記の(実施の形態1)によって
記録膜3が形成された基板1,(実施の形態2)によっ
て記録膜3が形成された基板21,(実施の形態3)に
よって記録膜3と保護膜50が形成された基板1,(実
施の形態4)によって記録膜3と保護膜50が形成され
た基板21のうちの何れの基盤の記録膜3への記録に際
しても使用できるものであって、ここでは(実施の形態
1)によって記録膜3が形成された基板1への記録の場
合を例に挙げて説明する。This manufacturing apparatus and the manufacturing apparatus according to (Embodiment 6) shown below are composed of the substrate 1 on which the recording film 3 is formed according to the above (Embodiment 1), and the recording film 3 according to (Embodiment 2). Of the substrate 21 on which the recording film 3 and the protective film 50 are formed by the (embodiment 3), and the substrate 21 on which the recording film 3 and the protective film 50 are formed by the (embodiment 4) It can be used for recording on any of the base recording films 3, and here, the case of recording on the substrate 1 on which the recording film 3 is formed according to (Embodiment 1) will be described as an example. .
【0042】図5において、基盤1は回転駆動部材35
により所望の回転数で回転させられる。記録レーザビー
ム4は落射ミラー30を介し記録レンズユニット31に
入射しサブミクロンのサイズに絞られる。基盤1に照射
され記録レーザビーム4が開口部6を形成する。この例
では図示されていない再生レーザから再生レーザビーム
32が発射され、落射ミラー33で反射されて再生レン
ズユニット34に入射する。再生レンズで適当なサイズ
に絞られた再生ビーム32は記録ビーム4で形成された
開口部6上を照射し、その反射光は開口部6で回折およ
び位相の干渉を受ける。In FIG. 5, the base 1 is a rotary drive member 35.
Is rotated at a desired rotation speed. The recording laser beam 4 is incident on the recording lens unit 31 via the epi-illumination mirror 30 and is focused to a submicron size. The recording laser beam 4 irradiated on the substrate 1 forms an opening 6. In this example, a reproduction laser beam 32 is emitted from a reproduction laser (not shown), reflected by an epi-illumination mirror 33, and incident on a reproduction lens unit 34. The reproduction beam 32 that is narrowed down to an appropriate size by the reproduction lens irradiates the opening 6 formed by the recording beam 4, and the reflected light is diffracted and interferes in phase in the opening 6.
【0043】反射光は開口部6の凹凸パターンに対応し
た変調を受け、落射ミラー33で反射され元の光路を戻
る。この反射光を光ディテクタで電気信号に変換し、信
号復調することにより記録した信号を再生モニターする
ことができる。記録と同時に再生でのチェックが可能に
なるため、信号系の欠落や信号の波形を検出できる。ま
た再生信号のレベルや周波数特性から開口部6の形状が
推測され、形状不良を検出でき、記録光学系にフィード
バックし、理想的な記録条件を維持できる。The reflected light undergoes a modulation corresponding to the concave-convex pattern of the opening 6, is reflected by the epi-illumination mirror 33, and returns to the original optical path. This reflected light is converted into an electric signal by a photodetector, and the recorded signal can be reproduced and monitored by demodulating the signal. Since recording and playback can be checked at the same time, it is possible to detect missing signal systems and signal waveforms. Further, the shape of the opening 6 can be inferred from the level and frequency characteristics of the reproduction signal, a shape defect can be detected, and feedback to the recording optical system can be performed to maintain ideal recording conditions.
【0044】(実施の形態6)図6に示す製造装置で
は、基盤1が回転駆動部材35で回転させられ、記録レ
ンズユニット31により記録ビーム4が照射され、基盤
上に開口を形成する。また、再生レンズユニット34に
より再生ビーム32が照射されリアルタイムに開口部の
信号を再生することが出来る。(Embodiment 6) In the manufacturing apparatus shown in FIG. 6, the substrate 1 is rotated by the rotary drive member 35, and the recording beam 4 is irradiated by the recording lens unit 31 to form an opening on the substrate. Further, the reproduction lens unit 34 irradiates the reproduction beam 32 to reproduce the signal of the opening portion in real time.
【0045】記録レンズユニット31と再生レンズユニ
ット34は、リニアモータ37により基盤1の半径方向
に移動可能になっている。リニアモータ37を制御する
のがヘッド送り制御系38である。また、回転駆動部材
35は回転制御系36で制御されている。信号源43は
記録すべきコンテンツを含んだ信号を発生するものであ
る。システム制御系41は再生光学系40、記録光学系
39、ヘッド送り制御系38、回転制御系36、信号源
43を制御し、全体のシステムを管理運営する。The recording lens unit 31 and the reproducing lens unit 34 can be moved in the radial direction of the base 1 by a linear motor 37. A head feed control system 38 controls the linear motor 37. The rotation driving member 35 is controlled by the rotation control system 36. The signal source 43 generates a signal containing the content to be recorded. The system control system 41 controls the reproduction optical system 40, the recording optical system 39, the head feed control system 38, the rotation control system 36, and the signal source 43 to manage and operate the entire system.
【0046】記録光学系39は記録レーザや光変調器、
レンズなどの光学部品、レーザパワー制御部材などを含
む光学系である。また、再生光学系40は、再生レー
ザ、レンズなどの光学部品、フォトディテクタなどを含
む光学系で、反射光をフォトディテクタにより電気信号
に変換し、再生信号を出力する。再生信号は基盤1に加
工された開口部によって回折および干渉作用を受けた反
射光の電気変換された信号であり、開口部の形状情報を
含んでいる。記録レーザにより形成される開口の幅は、
記録ビームのパワーが大きいほど大きくなる。従って、
再生信号の平均出力レベルと開口部の幅が最適な場合の
出力レベルを比較回路42で比較し、その差分の出力を
記録光学系39にフィードバックし、記録ビーム4のパ
ワーを制御することによって常に最適な開口幅を得るこ
とができる。The recording optical system 39 is a recording laser, an optical modulator,
An optical system including optical components such as a lens and a laser power control member. The reproduction optical system 40 is an optical system including a reproduction laser, optical components such as a lens, and a photodetector, and converts the reflected light into an electric signal by the photodetector and outputs a reproduction signal. The reproduction signal is a signal obtained by electrical conversion of the reflected light that has been diffracted and interfered by the opening processed in the base 1, and includes shape information of the opening. The width of the opening formed by the recording laser is
The larger the power of the recording beam, the larger the power. Therefore,
The comparison circuit 42 compares the average output level of the reproduction signal with the output level when the width of the opening is optimum, and the difference output is fed back to the recording optical system 39 to control the power of the recording beam 4 at all times. The optimum opening width can be obtained.
【0047】また、再生信号の波形の位相情報から記録
信号の最適状態を維持することも可能である。図6と図
7に従ってそれを説明する。図7(a)は記録信号波形
44で、信号系43から記録光学系39の光変調器に送
出される。図7(b)は再生信号波形45、図7(c)
は再生信号波形45のゼロレベルより大きい値を1にゼ
ロレベルより小さい値をゼロに2値化した信号波形46
である。It is also possible to maintain the optimum state of the recording signal from the phase information of the waveform of the reproduction signal. It will be described with reference to FIGS. 6 and 7. FIG. 7A shows a recording signal waveform 44, which is transmitted from the signal system 43 to the optical modulator of the recording optical system 39. FIG. 7B shows a reproduced signal waveform 45, and FIG. 7C.
Is a signal waveform 46 in which a value greater than the zero level of the reproduced signal waveform 45 is binarized to 1 and a value smaller than the zero level is binarized to zero.
Is.
【0048】再生光学系40からの再生信号45を比較
回路42に入力して2値化信号波形46を生成する。2
値化信号の1の時間a’とゼロの時間b’の比を求め、
理想とする比率と比較し、その差を信号源43に入力し
記録信号波形44の時間aとbの比率を制御する。この
ように閉ループの制御を行うことにより、再生信号の2
値化信号波形46のデューティ比(a’対b’)を理想
の値に保つことが出来る。ここでいう理想の比率とは最
終的に作製される原盤から作ったディスクの再生信号が
理想になる条件をいう。The reproduction signal 45 from the reproduction optical system 40 is input to the comparison circuit 42 to generate the binarized signal waveform 46. Two
The ratio of the time a ′ of 1 and the time b ′ of zero of the binarized signal is calculated,
The ratio is compared with an ideal ratio, and the difference is input to the signal source 43 to control the ratio between the time a and the time b of the recording signal waveform 44. By controlling the closed loop in this way, the reproduction signal 2
The duty ratio (a 'vs b') of the binarized signal waveform 46 can be maintained at an ideal value. The ideal ratio referred to here is a condition under which the reproduction signal of the disc finally made from the master becomes ideal.
【0049】上記の発明は、情報ピットを予め有するR
OMタイプのディスクについて説明したが、追記型ある
いは消去可能型のディスクで溝のみが予め設けられてい
るディスクでも同様に適用される。開口部が設けられた
記録膜は、再生レーザで記録直後の開口部を読み取る際
に、開口部の深さ、すなわち記録膜の厚さが、再生レー
ザの波長をλとしたときに((1/4)+(n/2))
・λ であれば開口部によって位相の干渉を受ける再生
信号出力が最大になり、S/Nのよい再生信号を得るこ
とができる。ただし、nはゼロを含む正の整数( =
0,1,2,3,・・・・ )である。この場合の記録
膜の最低の膜厚は、再生レーザ波長の4分の1である。In the above invention, R having an information pit in advance is used.
Although the OM type disc has been described, the same applies to a write-once or erasable disc in which only grooves are provided in advance. When reading the opening immediately after recording with the reproducing laser, the recording film provided with the opening has a depth of the opening, that is, a thickness of the recording film when the wavelength of the reproducing laser is λ ((1 / 4) + (n / 2))
If λ 2, the reproduction signal output that receives phase interference due to the opening becomes maximum, and a reproduction signal with good S / N can be obtained. However, n is a positive integer including zero (=
0, 1, 2, 3, ...). The minimum film thickness of the recording film in this case is 1/4 of the reproduction laser wavelength.
【0050】ここでは記録膜だけを溶発させて開口部を
形成する場合であったが、保護膜と記録膜とを溶発させ
て開口部を形成する場合には、( 記録膜の厚さ+保護
膜の厚さ )が((1/4)+(n/2))・λ であ
れば開口部によって位相の干渉を受ける再生信号出力が
最大になり、S/Nのよい再生信号を得ることができ
る。Here, the case where only the recording film is ablated to form the opening, but when the protective film and the recording film are ablated to form the opening, (the thickness of the recording film is + (Thickness of protective film) is ((1/4) + (n / 2)) · λ, the reproduction signal output that receives the phase interference due to the opening becomes maximum, and the reproduction signal with good S / N is obtained. Obtainable.
【0051】上記の各実施の形態ではスピン方式で記録
膜や保護膜を塗布する方式を説明したが、蒸着などの方
法で記録膜を形成するのでもよい。In each of the above embodiments, the method of applying the recording film or the protective film by the spin method has been described, but the recording film may be formed by a method such as vapor deposition.
【0052】[0052]
【発明の効果】本発明は上記で説明したように次のよう
な効果を有している。
(1)基盤上に記録レーザで直接穴を開けるので、従来
のフォトレジスト膜のように現像工程を不要である。
(2)また、基盤に導電性のものを用いれば、電鋳前に
スパッタなどにより表面を導電性にする必要がない。
(3)上記の理由で金属原盤を、簡単に短時間で作製可
能であり、現像装置やスパッタ装置が不要であるので材
料費や設備投資が少なくすむ。
(4)記録時に形成された開口部から反射された再生信
号をリアルタイムに読むことが出来るので、信号欠落や
開口部形状不良、付着異物などを検出することが出来
る。
(5)また、記録時に形成される開口部の再生信号を2
値化することにより、再生信号デューティが求められ、
記録信号のデューティをそれをもとに都度制御すること
により理想的なデューティを持つ信号を記録することが
出来る。
(6)従来例では開口部の幅寸法を決定する工程は、記
録工程と現像工程の2工程であるが、本発明の方法では
開口部の幅が決定される工程は記録工程のみで、記録レ
ーザのパワーを管理すればよく、一定の開口幅を実現し
やすい。
(7)マスクを介してエッチングでピットを形成する方
式において、エッチングレートの高いマスクに保護膜を
設けることによって、エッチングの選択比を高くするこ
とができる。The present invention has the following effects as described above. (1) Since a hole is directly formed on the substrate by a recording laser, a developing process unlike the conventional photoresist film is unnecessary. (2) Further, if a conductive substrate is used, it is not necessary to make the surface conductive by sputtering or the like before electroforming. (3) For the above reason, the metal master can be easily manufactured in a short time, and the developing device and the sputtering device are not required, so that the material cost and the capital investment can be reduced. (4) Since the reproduction signal reflected from the opening formed at the time of recording can be read in real time, it is possible to detect a signal dropout, defective opening shape, adhering foreign matter, and the like. (5) In addition, the reproduction signal of the opening formed during recording is set to 2
By digitizing, the reproduction signal duty is calculated,
A signal having an ideal duty can be recorded by controlling the duty of the recording signal on the basis of the duty. (6) In the conventional example, the step of determining the width dimension of the opening is a recording step and the developing step, but in the method of the present invention, the step of determining the width of the opening is only the recording step. It suffices to manage the laser power, and it is easy to realize a constant aperture width. (7) In the method of forming pits by etching through a mask, by providing a protective film on a mask having a high etching rate, the etching selection ratio can be increased.
【図1】本発明の(実施の形態1)における工程説明図FIG. 1 is an explanatory diagram of steps in (Embodiment 1) of the present invention
【図2】本発明の(実施の形態2)における工程説明図FIG. 2 is a process explanatory diagram in (Embodiment 2) of the present invention.
【図3】本発明の(実施の形態3)における工程説明図FIG. 3 is a process explanatory diagram in (Embodiment 3) of the present invention.
【図4】本発明の(実施の形態4)における工程説明図FIG. 4 is a process explanatory diagram in (Embodiment 4) of the present invention.
【図5】本発明の(実施の形態5)の製造装置の構成図FIG. 5 is a configuration diagram of a manufacturing apparatus according to (Embodiment 5) of the present invention.
【図6】本発明の(実施の形態6)の製造装置の構成図FIG. 6 is a configuration diagram of a manufacturing apparatus according to (Embodiment 6) of the present invention.
【図7】本発明の(実施の形態6)の信号デューティを
示す図FIG. 7 is a diagram showing a signal duty according to (Embodiment 6) of the present invention.
【図8】従来例における工程説明図FIG. 8 is a process explanatory diagram in a conventional example.
【図9】従来例における現像工程でのエッチングの進行
図FIG. 9 is a diagram showing the progress of etching in a developing process in a conventional example.
【符号の説明】 1 基盤 2 ノズル 3 記録膜 4 記録レーザ 5 記録レンズ 6 開口 7 ピット 8 導電体膜 9 金属厚膜 10 金属原盤 21 基盤 22 ピット 23 剥離膜 24 金属厚膜 25 金属原盤 30 記録ビームの落射ミラー 31 記録レンズユニット 32 再生ビーム 33 再生ビームの落射ミラー 34 再生レンズユニット 35 回転駆動部材 36 回転制御系 37 リニアモータ 38 ヘッド送り制御系 39 記録光学系 40 再生光学系 41 システム制御系 42 比較回路 43 信号源 50 保護層[Explanation of symbols] 1 foundation 2 nozzles 3 recording film 4 recording laser 5 recording lens 6 openings 7 pits 8 Conductor film 9 Metal thick film 10 metal master 21 foundation 22 pits 23 Release film 24 Metal thick film 25 metal master 30 Recording beam epi-illumination mirror 31 Recording lens unit 32 playback beam 33 Reflection beam epi-mirror 34 Playback lens unit 35 rotary drive member 36 Rotation control system 37 linear motor 38 Head feed control system 39 Recording optical system 40 Playback optical system 41 System control system 42 Comparison circuit 43 signal source 50 Protective layer
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−79236(JP,A) 特開 平8−241541(JP,A) 特開 平5−12722(JP,A) 特開 平9−212923(JP,A) 特開 平7−1461(JP,A) 特開 平9−180272(JP,A) 特開 平8−30973(JP,A) 特開 昭53−124404(JP,A) 特開 平8−45119(JP,A) 特開 平5−325190(JP,A) 特開 平3−238633(JP,A) 特開 平1−251348(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/26 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-2-79236 (JP, A) JP-A-8-241541 (JP, A) JP-A-5-12722 (JP, A) JP-A-9-212923 (JP , A) JP-A-7-1461 (JP, A) JP-A-9-180272 (JP, A) JP-A-8-30973 (JP, A) JP-A-53-124404 (JP, A) JP-A- 8-45119 (JP, A) JP 5-325190 (JP, A) JP 3-238633 (JP, A) JP 1-251348 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G11B 7/26
Claims (9)
製する方法であって、 基盤の上に記録膜を形成する工程と、 前記記録膜の上にこの記録膜よりもエッチングレートの
低い保護膜を形成する工程と、前記記録膜が形成された基盤に記録すべき信号に対応し
て変調されたレーザビームを集光露光し前記保護膜と前
記記録膜に同時に開口部を形成する工程と 、 前記開口部を通してエッチングにより前記基盤にピット
を開ける工程と、 前記エッチング工程後にエッチング時にエッチングマス
クとなっていた部分を除去する工程と、 前記記録膜が除去された基盤の表面を導電性にする工程
と、 前記表面が導電性になった基盤に電鋳処理を施し原盤を
作製する工程とからなる光ディスク原盤作製方法。1. A method for producing a master disk which is a mold for molding an optical disc, comprising a step of forming a recording film on a substrate, and an etching rate higher than that of the recording film on the recording film.
Corresponding to the process of forming a low protective film and the signal to be recorded on the substrate on which the recording film is formed.
Concentrated exposure of the laser beam modulated by
A step of simultaneously forming an opening in the recording film, a step of forming a pit in the substrate by etching through the opening, and an etching mass at the time of etching after the etching step.
A step of removing a portion that had become a mark, a step of making the surface of the substrate from which the recording film is removed conductive, and a step of producing a master by subjecting the substrate having a conductive surface to an electroforming treatment. And a method for producing an optical disc master.
製する方法であって、 少なくとも表面が導電性の基盤の上に記録膜を形成する
工程と、 前記記録膜の上にこの記録膜よりもエッチングレートの
低い保護膜を形成する工程と、 前記記録膜と保護膜が形成された基盤に記録すべき信号
に対応して変調されたレーザビームを集光露光し前記記
録膜と保護膜に同時に開口部を形成する工程と、 前記開口部を通してエッチングにより前記基盤の表面に
ピットを開ける工程と、 前記エッチング工程後にエッチング時にエッチングマス
クとなっていた部分を除去する工程と、 前記記録膜が除去された基盤の表面に剥離処理を施す工
程と、 前記剥離処理が施された基盤に電鋳処理を施し原盤を作
製する工程とからなる光ディスク原盤作製方法。2. A method for producing a master disk which is a mold for molding an optical disk, comprising a step of forming a recording film on a base whose surface is at least conductive, and the recording film on the recording film. A step of forming a protective film having an etching rate lower than that of the recording film and the protective film by subjecting the substrate on which the recording film and the protective film are formed to a focused and exposed laser beam modulated corresponding to a signal to be recorded. A step of simultaneously forming an opening in the substrate, a step of forming a pit on the surface of the substrate by etching through the opening, a step of removing a portion that was an etching mask during etching after the etching step, and the recording film A method for producing an optical disc master, comprising a step of subjecting the surface of the removed substrate to a peeling treatment, and a step of subjecting the substrate subjected to the peeling treatment to an electroforming treatment to produce a master.
製する方法であって、 少なくとも表面が導電性の基盤の上に記録膜を形成する
工程と、前記記録膜の上にこの記録膜よりもエッチングレートの
低い保護膜を形成する工程と、 前記記録膜と保護膜が形成された基盤に記録すべき信号
に対応して変調されたレーザビームを集光露光し前記記
録膜と保護膜に同時に開口部を形成する工程と、 前記開口部を通してエッチングにより前記基盤の表面に
ピットを開ける工程と、 前記エッチング工程後にエッチング時にエッチングマス
クとなっていた部分を除去する工程と、前記記録膜が除去された 基盤に電鋳処理を施し原盤を作
製する工程とからなる光ディスク原盤作製方法。3. A method of producing a master disk which is a mold for molding an optical disk, comprising a step of forming a recording film on a base whose surface is at least conductive, and the recording film on the recording film. Than etching rate
A step of forming a low protective film, and a laser beam modulated corresponding to a signal to be recorded is focused and exposed on the substrate on which the recording film and the protective film are formed, and an opening is simultaneously formed in the recording film and the protective film. A step of forming, a step of forming a pit on the surface of the substrate by etching through the opening, and an etching mass during etching after the etching step.
A method for producing an optical disc master, which comprises a step of removing a portion that has been a dent and a step of subjecting the substrate from which the recording film has been removed to an electroforming process to produce a master.
信号を記録する工程では、 レーザビームによる記録直後にレーザにより形成された
開口部に再生用のレーザビームを照射して記録された信
号をモニターすることを特徴とする請求項1〜請求項3
の何れかに記載の 光ディスク原盤作製方法。4. A signal-modulated laser is focused and exposed on a substrate.
In the process of recording the signal, it was formed by the laser immediately after recording by the laser beam.
The signal recorded by irradiating the opening with a laser beam for reproduction was recorded.
No. 1 to claim 3, wherein the number is monitored.
The method for producing an optical disc master according to any one of 1 .
露光して開口部を形成する工程において、 前記記録レーザとは別に前記形成された開口部の幅を読
み取るための再生レーザを照射してモニターし、 前記再生レーザによる再生信号から求めた開口部の幅と
設定された基準幅とを比較し、その差分信号で前記記録
レーザのパワーを制御し、前記記録された開口部の幅を
一定に制御する請求項1〜請求項3の何れかに記載の 光
ディスク原盤作製方法。5. A laser beam corresponding to a signal to be recorded is condensed.
In the process of forming the opening by exposure, the width of the formed opening is read separately from the recording laser.
The width of the opening obtained from the reproduction signal from the reproduction laser is monitored by irradiating the reproduction laser for sampling.
Compare with the set reference width, and record with the difference signal
Control the laser power and adjust the width of the recorded aperture.
The method for producing an optical disc master according to claim 1, wherein the optical disc master is controlled to be constant .
集光露光して開口部を形成する工程では、 前記記録レーザとは別に前記形成された開口部の凹凸を
信号として読み取る再生レーザを照射し、 再生レーザで読み取られた信号の波形を2値化すること
により再生信号のデューティを求め、前記デューティが
所望の値になるように前記記録信号のデューティを制御
する請求項1〜請求項4の何れかに記載の 光ディスク原
盤作製方法。6. A laser beam modulated corresponding to a recording signal
In the step of forming the opening by converging light exposure, the unevenness of the opening formed separately from the recording laser is removed.
Irradiating a reproduction laser that is read as a signal, and binarizing the waveform of the signal read by the reproduction laser.
The duty of the reproduction signal is calculated by
The duty of the recording signal is controlled so that it becomes a desired value.
The method for producing an optical disc master according to any one of claims 1 to 4 .
レーザの波長をλとしたときに ((1/4)+(n/2))・λ ただし、nはゼロを含む正の整数( =0,1,2,
3,・・・・ ) であることを特徴とする請求項4〜請求項6 の何れかに
記載の光ディスク原盤作製方法。7. The thickness of the recording film formed on the substrate is reproduced.
When the laser wavelength is λ, ((1/4) + (n / 2)) · λ , where n is a positive integer including zero ( = 0, 1, 2,
3, ... Optical disk master manufacturing method according to any of claims 4 to claim 6, characterized in that) it is.
護膜の厚さ )が、再生レーザの波長をλとしたときに ((1/4)+(n/2))・λ ただし、nはゼロを含む正の整数( =0,1,2,
3,・・・・ ) であることを特徴とする請求項1〜請求項6 の何れかに
記載の光ディスク原盤作製方法。8. A device formed on a substrate ( Recording film thickness + preservation
Thickness of protective film ) Is ((1/4) + (n / 2)) · λ where λ is the wavelength of the reproducing laser , where n is a positive integer (including zero ) ( = 0, 1, 2,
3, ... Optical disk master manufacturing method according to any one of claims 1 to 6, characterized in that) it is.
製する装置であって、 基盤の上に形成された記録膜または基盤の上に形成され
た記録膜とこの記録膜の上に形成された保護膜に、記録
すべき信号に対応して変調された記録レーザを集光露光
する記録露光手段と、 前記記録レーザの露光によって形成された開口部の幅を
読み取るための再生レーザを照射してモニターするモニ
ター手段と、 前記再生レーザによる再生信号から求めた開口部の幅と
設定された基準幅とを比較し前記記録レーザのパワーを
制御する制御手段とを設けた光ディスク原盤作製装置。 9. A master disk to be a mold for molding an optical disk is produced.
A recording device formed on a substrate or formed on a substrate.
On the recording film and the protective film formed on this recording film.
Condensing and exposing a recording laser modulated according to the signal to be
And the width of the opening formed by the exposure of the recording laser.
A monitor that emits a playback laser for reading and monitors it.
And the width of the opening obtained from the reproduction signal by the reproduction laser,
The power of the recording laser is compared with the set reference width.
An optical disk master manufacturing device provided with control means for controlling.
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Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10-90494 | 1998-04-03 | ||
| JP9049498 | 1998-04-03 | ||
| JP09033999A JP3485492B2 (en) | 1998-04-03 | 1999-03-31 | Method and apparatus for producing optical disk master |
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