JP3494559B2 - Flow type particle image analysis method and apparatus - Google Patents
Flow type particle image analysis method and apparatusInfo
- Publication number
- JP3494559B2 JP3494559B2 JP25052497A JP25052497A JP3494559B2 JP 3494559 B2 JP3494559 B2 JP 3494559B2 JP 25052497 A JP25052497 A JP 25052497A JP 25052497 A JP25052497 A JP 25052497A JP 3494559 B2 JP3494559 B2 JP 3494559B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- particle
- particles
- image
- sample
- flow
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、フロー式粒子画像解析
方法及びフロー式粒子画像解析装置に係り、流れている
液体中に懸濁した静止粒子、特に、血液または尿中の細
胞や粒子の画像を撮像し粒子解析する粒子画像解析に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image analysis apparatus, and relates to static particles suspended in a flowing liquid, particularly cells or particles in blood or urine. The present invention relates to particle image analysis for capturing an image and performing particle analysis.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の粒子画像解析においては、血液中
の細胞、尿中の細胞及び粒子を分類解析するには、スラ
イドガラス上に標本を作成し顕微鏡にて観察することで
行われてきた。尿の場合には、尿中の粒子濃度が薄いた
め、サンプルを予め遠心分離器で遠心濃縮してから観察
する。2. Description of the Related Art In conventional particle image analysis, cells in blood, cells and particles in urine are classified and analyzed by preparing a sample on a slide glass and observing with a microscope. . In the case of urine, since the particle concentration in urine is low, the sample is centrifugally concentrated with a centrifuge in advance and then observed.
【0003】これらの観察、検査の作業を自動化する方
法又は装置としては、血液などのサンプル試料をスライ
ドガラス上に塗沫したあと顕微鏡にセットし、顕微鏡ス
テージを自動的に走査し、粒子の存在する位置で顕微鏡
ステージを止めて静止粒子画像を撮影し、画像処理技術
による特徴抽出およびパターン認識手法を用い、サンプ
ル試料中にある粒子の分類・解析等を行っている。As a method or apparatus for automating these observation and inspection operations, a sample such as blood is smeared on a slide glass and set on a microscope, and the microscope stage is automatically scanned to detect the presence of particles. At this position, the microscope stage is stopped and a still particle image is captured, and the feature extraction and pattern recognition techniques of image processing technology are used to classify and analyze the particles in the sample.
【0004】しかし、上記手法では標本作成に時間がか
かること、さらに顕微鏡ステージを機械的に移動しなが
ら粒子を見つけ、粒子を適当な画像取り込み領域へ移動
させる作業が必要である。そのため、解析に時間を要し
たり、機械機構が複雑になるという欠点がある。However, in the above method, it takes time to prepare a sample, and it is necessary to find particles while mechanically moving the microscope stage and move the particles to an appropriate image capturing area. Therefore, there are disadvantages that analysis takes time and the mechanical mechanism becomes complicated.
【0005】上記のような塗沫標本を作成しない粒子画
像解析方法または粒子画像解析装置には、サンプル試料
を液体中に懸濁させた状態にてフローセル中に流し、光
学的に解析するフローサイトメータ法が知られている。In a particle image analysis method or particle image analysis apparatus that does not form a smear as described above, a flow site in which a sample sample is suspended in a liquid and is flown into a flow cell for optical analysis. The meter method is known.
【0006】このフローサイトメータによる方法は、サ
ンプル中の各粒子からの蛍光強度や散乱光強度を観測す
るもので、毎秒数千個の処理能力を備えている。This method using a flow cytometer observes the fluorescence intensity and scattered light intensity from each particle in a sample, and has a throughput of several thousand per second.
【0007】しかし、粒子の形態学的特徴を反映する特
徴量を観測することはむずかしく、従来顕微鏡下で行わ
れていた形態学的特徴で粒子を分類することができな
い。However, it is difficult to observe the feature amount that reflects the morphological features of the particles, and it is impossible to classify the particles by the morphological features that have been conventionally used under a microscope.
【0008】連続的に流れているサンプル試料中の静止
粒子画像を撮像し、それぞれの静止粒子画像から粒子を
分類、解析する試みとしては、特表昭57−50099
5号公報、特開昭63−94156号公報、特開平4−
72544号公報等に記載された技術が知られている。As an attempt to capture static particle images in a continuously flowing sample sample and classify and analyze the particles from each static particle image, Japanese Patent Publication No. 57-50099.
5, JP-A-63-94156, JP-A-4-
The technology described in Japanese Patent No. 72544 is known.
【0009】特表昭57−500995号公報記載の技
術では、サンプル試料を特別な形状の流路に通して幅広
の撮像領域中に流し、フラッシュランプによる静止粒子
画像を撮影し、その画像を用い粒子解析する方法が示さ
れている。In the technique described in Japanese Patent Publication No. 57-500995, a sample sample is passed through a channel having a special shape into a wide imaging area, a static particle image is taken by a flash lamp, and the image is used. A method for particle analysis is shown.
【0010】上記方法は、顕微鏡を用いてサンプル粒子
の拡大画像をCCDカメラ上に投影するとき、パルス光
源であるフラッシュランプがCCDカメラの動作に同期
して周期的に発光する。In the above method, when a magnified image of sample particles is projected on a CCD camera using a microscope, a flash lamp, which is a pulse light source, periodically emits light in synchronization with the operation of the CCD camera.
【0011】パルス光源の発光時間が短いので、粒子が
連続的に流れていても静止画像を得ることができ、しか
も、CCDカメラは、毎秒30枚の静止画像を撮影する
ことができる。Since the light emission time of the pulse light source is short, a still image can be obtained even when particles are continuously flowing, and the CCD camera can take 30 still images per second.
【0012】また、特開昭63−94156号公報に記
載の技術は、静止粒子画像撮像系とは別にサンプル流れ
中の粒子画像撮影領域より上流に粒子検出系を設けてい
る。つまり、予め、粒子検出系で粒子通過を知り、その
粒子が粒子画像撮像領域に達したときに適当なタイミン
グによりパルス光源であるフラッシュランプを点灯させ
る方法である。Further, in the technique disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-94156, a particle detection system is provided upstream of the particle image capturing area in the sample flow, in addition to the stationary particle image capturing system. In other words, it is a method in which the particle detection system knows particle passage in advance, and when the particles reach the particle image capturing area, the flash lamp, which is a pulse light source, is turned on at an appropriate timing.
【0013】この方法においては、パルス光源の発光を
周期的に行わず、粒子の通過を検出してその時だけタイ
ミングを合わせて静止粒子画像を撮像することができる
ので、効率的に静止粒子画像が集められ、濃度の小さい
サンプル試料の場合でも粒子の存在しない無意味な画像
を撮像・処理することはない。In this method, it is possible to detect the passage of particles and take a static particle image at a timing only at that time without periodically emitting light from the pulsed light source. Even in the case of a sample sample that is collected and has a low concentration, it does not capture and process a meaningless image in which particles are not present.
【0014】さらに、特開平5−296915号公報で
は、特開昭63−94156と同じく、静止粒子画像系
とは別にサンプル流れ中の粒子を検出する手段を有し、
加えて検出された粒子画像において画像処理した粒子の
総数からサンプル粒子中の実際の粒子数、分類された種
類ごとの粒子数を求める手段を提供している。Further, in JP-A-5-296915, as in JP-A-63-94156, a means for detecting particles in a sample flow is provided separately from a stationary particle image system,
In addition, a means for determining the actual number of particles in the sample particles and the number of particles of each classified type from the total number of particles image-processed in the detected particle image is provided.
【0015】また、特開平7−83817号公報では、
上記特開平5−296915号公報で問題になる、検出
粒子と検出された粒子画像の1対1の対応方法について
示されている。Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 7-83817,
The above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 5-296915 discloses a one-to-one correspondence method between detected particles and detected particle images, which is a problem.
【0016】また、特開平8−34748号公報では、
検出粒子と検出された粒子画像の1対1の対応を行うた
めの、粒子検出系の調整段階について述べられている。Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 8-34748,
The adjustment stage of the particle detection system for making a one-to-one correspondence between the detected particles and the detected particle image is described.
【0017】[0017]
【発明が解決しようとする課題】従来の粒子画像解析装
置においては、一般的に、連続的に流れているサンプル
粒子の静止画像を解析して、サンプル中の複数種類の粒
子数や分類を効率よく行うためには、上述した公知例で
行われているように、静止粒子画像撮像領域またはその
上流に通過粒子を検出する粒子検出系を配置することが
必要である。すなわち、サンプル粒子が通過したときだ
けパルス光源を点灯させサンプル粒子の静止画像を撮像
するように構成することが必要である。In the conventional particle image analyzer, generally, a still image of a sample particle flowing continuously is analyzed to efficiently determine the number and classification of plural kinds of particles in the sample. In order to perform well, it is necessary to dispose a particle detection system for detecting passing particles in the static particle image pickup area or upstream thereof, as is done in the above-mentioned known example. That is, it is necessary to turn on the pulse light source and capture a still image of the sample particle only when the sample particle passes.
【0018】上述した、通過粒子を検出する粒子検出系
を配置する方法は、粒子濃度の小さい測定サンプルに対
し非常に効率よく処理できるため、測定サンプル量の増
大、解析時間の短縮、解析精度の向上を計ることができ
る。The above-mentioned method of arranging the particle detection system for detecting passing particles can process a measurement sample having a small particle concentration very efficiently, so that the amount of measurement sample is increased, the analysis time is shortened, and the analysis accuracy is improved. You can measure improvement.
【0019】このようなフロー式粒子画像解析装置にお
いては、静止粒子画像撮像領域またはその上流に粒子が
通過したことを検出する粒子検出系と、粒子が通過した
ときだけパルス光源を点灯させ静止粒子画像を撮像する
画像撮像系とを有しているが、上記粒子検出系と上記画
像撮像系とは一般的にその測定原理が異なっている。In such a flow-type particle image analysis apparatus, a particle detection system for detecting passage of particles to a stationary particle image pickup area or its upstream side, and a pulse light source being turned on only when the particles have passed therethrough An image pickup system for picking up an image is provided, but the particle detection system and the image pickup system generally have different measurement principles.
【0020】上記粒子検出系としては、通常フローセル
中を流れている測定サンプルにレーザ光束を集光して照
射し、上記レーザ光束をよぎった粒子からの光散乱光を
検出する方法が用いられている。As the particle detection system, a method is used in which a laser beam is focused on a measurement sample that normally flows in a flow cell and irradiated, and light scattered light from particles that cross the laser beam is detected. There is.
【0021】上記光信号は光検出器により電気信号に変
換される。光信号の大きさは、粒子の光学的な屈折率、
吸収、サイズ、粒子の内部状態、散乱光検出条件などに
より影響を受け、画像処理で用いられる粒子の形態情報
である粒子直径、周囲長、色彩情報、テクスチャ情報と
は必ずしも完全には一致しない。The optical signal is converted into an electric signal by a photodetector. The magnitude of the optical signal is the optical refractive index of the particles,
It is affected by absorption, size, internal state of particles, scattered light detection conditions, etc., and does not always completely match the particle diameter, perimeter, color information, and texture information that are morphological information of particles used in image processing.
【0022】また、上記粒子検出系において、所定の粒
子検出レベル以上を粒子検出の条件とすると、実際の上
記画像撮像系による静止粒子画像には、サイズが小さく
光散乱による粒子検出レベルに達しない粒子が存在する
ことは、しばしば起こることである。In the particle detection system, if the particle detection condition is a predetermined particle detection level or higher, the size of an actual static particle image obtained by the image pickup system is small and does not reach the particle detection level due to light scattering. The presence of particles is a frequent occurrence.
【0023】その結果、粒子検出系で計数される粒子数
と画像処理された粒子数は、画像取り込みで避けられな
いデットタイムによる粒子数え落としを考慮しても一致
せず、粒子解析精度、再現性の低下を引き起す原因とな
る。As a result, the number of particles counted by the particle detection system and the number of particles subjected to image processing do not match even if the counting of particles due to dead time, which is unavoidable in image capture, is taken into consideration, and particle analysis accuracy and reproduction are reproduced. It causes a decrease in sex.
【0024】これらの問題に正しく対応させる方法を提
供するのが特開平7−83817号公報に記載された技
術である。この特開平7−83817号公報に記載され
た方法は、1つの画像に撮像されている粒子と、粒子検
出系で検出された粒子とについて、1対1の対応関係を
取るものである。The technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-83817 provides a method for correctly addressing these problems. The method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 7-83817 has a one-to-one correspondence relationship between particles captured in one image and particles detected by a particle detection system.
【0025】このために、粒子検出信号の中から、フラ
ッシュランプ光源が点灯した時点で画像に写っている粒
子のうち、検出粒子に相当する粒子を計数する手段と、
この計数値と画像中の粒子のうち検出粒子と対応させる
こと、および検出粒子と見なされない粒子と区別する手
段を提供する。To this end, means for counting, from the particle detection signal, particles corresponding to detected particles among particles shown in the image when the flash lamp light source is turned on,
This count value is made to correspond to the detected particles among the particles in the image, and means for distinguishing from the particles which are not regarded as the detected particles is provided.
【0026】上述した方法は、粒子検出系と画像撮像系
とをそれぞれ具備し、粒子検出系の原理と画像撮像系の
粒子画像識別の原理とが異なるフロー式粒子画像解析方
法およびフロー式粒子画像解析装置において、検出粒子
と静止粒子画像中の粒子とを対応させ、粒子検出系の検
出粒子以外の粒子が画像撮像系の静止粒子画像中に存在
しても、サンプル中の各種類の粒子個数、粒子存在比
率、粒子密度、濃度情報を正しく知ることができ、解析
精度の良好なフロー式粒子画像解析方法およびフロー式
粒子画像解析装置を提供するものである。The above-described method includes a particle detection system and an image pickup system, respectively, and the flow detection type particle image analysis method and the flow type particle image differ in the principle of the particle detection system and the principle of particle image identification of the image pickup system. In the analyzer, the detected particles and the particles in the static particle image are made to correspond to each other, and even if particles other than the detection particles of the particle detection system exist in the static particle image of the image capturing system, the number of particles of each type in the sample The present invention provides a flow-type particle image analysis method and a flow-type particle image analysis device which can accurately know the particle abundance ratio, particle density, and concentration information and have good analysis accuracy.
【0027】しかしながら、上述した特開平7−838
17号公報に記載された方法は、1つの静止画像ごとに
検出粒子との対応をとる方法であるため、作業は比較的
確実に行えるが、処理そのものが複雑になってしまい、
連続して流れてくる粒子の静止画像の処理に時間がかか
る。この静止画像を、高速で処理するためには複雑な回
路構成が必要となってしまう。However, the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 7-838.
The method described in Japanese Patent No. 17 is a method in which the detection particles are associated with each still image, so that the work can be performed relatively reliably, but the processing itself becomes complicated,
It takes time to process a still image of particles flowing continuously. A complicated circuit configuration is required to process this still image at high speed.
【0028】この問題を軽減する方法としては、特開平
9−72842号公報に示されているように、測定終了
後に一括して、検出粒子と粒子画像粒子の対応をとる方
法がある。As a method for alleviating this problem, there is a method, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-72842, in which the detected particles and the particle image particles are made to correspond to each other collectively after the measurement is completed.
【0029】つまり、特開平9−72842号公報で
は、粒子検出系で検出された通過全粒子数を使って、予
想される粒子画像数を計算し、画像処理された粒子画像
を大きいサイズからさきに予想した粒子数分だけを、検
出粒子と対応すると見なすものである。That is, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-72842, the number of expected particle images is calculated by using the total number of passing particles detected by the particle detection system, and the image-processed particle images are first sized. Only the number of particles expected to correspond to the detected particles is considered.
【0030】この方法は、処理が簡単で時間的な制約が
少ない反面、測定終了まで粒子特徴パラメータを蓄積し
ていかなければならない。また、粒子画像を格納しなけ
ればならない測定対象では、画像メモリーは大きなもの
が必要になる。後者の場合には、この問題を解決するた
めに、1画像分の処理を行う段階で、画像中の粒子のう
ち予め設定した粒子サイズ以下は棄却してしまう処理を
行う。In this method, the processing is simple and there are few time constraints, but the particle characteristic parameters must be accumulated until the end of the measurement. In addition, a large image memory is required for a measurement target that must store a particle image. In the latter case, in order to solve this problem, at the stage of performing the process for one image, a process of rejecting particles smaller than a preset particle size among particles in the image is performed.
【0031】上述した特開平7−83817号公報及び
特開平9−72842号公報に示されている、2つの方
法は、不要粒子画像を捨てることが出来、さらに、画像
撮像系でのデットタイムに起因する粒子画像の数え落と
しが存在しても、正しい粒子の分類比率を求めることが
出来、結果として、正しい粒子密度が得られ、人による
顕微鏡検査と相関が良い分析データが得られる特徴があ
る。The two methods disclosed in the above-mentioned JP-A-7-83817 and JP-A-9-72842 can discard unnecessary particle images, and further reduce dead time in an image pickup system. Even if there is a dropout of particle images due to it, the correct classification ratio of particles can be obtained, and as a result, correct particle density can be obtained and analysis data that correlates well with human microscopic examination can be obtained. .
【0032】しかし、上述した粒子検出系で検出した粒
子と、撮像された粒子画像のうち粒子検出系で検出した
粒子との対応をとるためには、次の問題が存在する。す
なわち、これら2つの方法では、検出粒子と粒子画像と
対応させるための条件として、暗黙のうちに、サンプル
流れの幅が粒子画像撮像系の撮影領域に対して狭いこと
を仮定している。実際の流れの系では、常にこの仮定が
成立させられず、測定条件によって満足させることがで
きない場合が存在する。However, the following problems exist in order to establish correspondence between the particles detected by the above-mentioned particle detection system and the particles detected by the particle detection system in the imaged particle image. That is, in these two methods, it is implicitly assumed that the width of the sample flow is narrower than the imaging region of the particle image capturing system as a condition for making the detected particles correspond to the particle images. In an actual flow system, this assumption is not always satisfied, and there are cases where the assumption cannot be satisfied depending on the measurement conditions.
【0033】例えば、次のような事実が考えられる。フ
ローセル制作上での不具合、光学系の調整の問題、周囲
温度の変化によってサンプル流れの幅が大きく変化する
現象がある。また、測定モードが複数存在してサンプル
流れ条件を変えなければならないような場合では、サン
プル流れ形状が変化したり、流れ位置が移動する現象も
起こりうる。For example, the following facts can be considered. There are problems in the production of flow cells, problems with the adjustment of the optical system, and the phenomenon that the width of the sample flow changes greatly due to changes in ambient temperature. Further, in the case where there are a plurality of measurement modes and the sample flow conditions have to be changed, the phenomenon that the sample flow shape changes or the flow position moves may occur.
【0034】このような条件で粒子画像サンプルを処理
する場合には、測定粒子が、画像撮像領域の外側を通過
したり、粒子画像の一部分だけ撮像される現象が起る。
1個の完全な粒子画像が得られない場合には、通常画像
処理の段階で捨てられる。When the particle image sample is processed under such conditions, the phenomenon that the measurement particles pass outside the image pickup region or a part of the particle image is picked up occurs.
If one complete grain image cannot be obtained, it is usually discarded at the image processing stage.
【0035】図6に具体的なサンプル流れと粒子画像撮
像視野が一致しない上述した問題が生じている場合の例
を示す。図6では2個の粒子が粒子検出系で検出された
が、視野の外側をながれている粒子は粒子画像が撮像さ
れなかった場合である。FIG. 6 shows an example of a case where the above-mentioned problem that the specific sample flow and the particle image pickup visual field do not match occurs. In FIG. 6, two particles are detected by the particle detection system, but a particle image is not captured for particles running outside the visual field.
【0036】この場合、画像処理される粒子数が実際予
想される数より少なくなり、上述した検出系で検出した
粒子と粒子画像の1対1の対応が出来なくなる。結果と
して、粒子分析データの信頼性が低下する。In this case, the number of particles to be image-processed is smaller than actually expected, and it becomes impossible to make a one-to-one correspondence between the particles detected by the above-mentioned detection system and the particle image. As a result, the reliability of the particle analysis data is reduced.
【0037】すなわち、サンプル流れ幅が粒子画像撮像
系の視野と一致しない場合では、検出された粒子が、画
像視野の外側を流れる場合が生じ、検出粒子と粒子画像
の正しい対応関係を取ることができない問題が発生す
る。That is, when the sample flow width does not match the visual field of the particle image pickup system, the detected particles may flow outside the visual field of the image, and the detected particle and the particle image may have a correct correspondence relationship. The problem that can not occur occurs.
【0038】また、測定系に存在する誤差要因、例え
ば、配管系をサンプルが流れてくる段階で管壁の付着し
ている水溶液と置換して、サンプル粒子濃度が小さくな
るなどの系統的な誤差が生じる。Further, there is an error factor existing in the measurement system, for example, a systematic error such that the sample particle concentration becomes small by replacing the pipe system with the aqueous solution adhering to the pipe wall at the stage when the sample flows. Occurs.
【0039】本発明の目的は、サンプル流れの状態を定
量化し、装置を最良な状態に維持すると共に、測定デー
タを適切に補正し、データの信頼性を向上することが可
能なフロー式粒子画像解析方法及び装置を実現すること
である。An object of the present invention is to quantify the state of the sample flow, maintain the apparatus in the best condition, and appropriately correct the measured data to improve the reliability of the flow type particle image. It is to realize an analysis method and apparatus.
【0040】 上記目的を達成するため、本発明は次の
用に構成される。(1)被測定粒子が懸濁された液体サ
ンプルをフローセル中に流し、粒子検出系により上記サ
ンプル中の粒子数を計数する粒子検出段階と、上記フロ
ーセル中の撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮
像系により撮像する撮像段階と、画像解析手段により上
記静止画像中の粒子の形態学的分類を行う解析段階とを
有するフロー式粒子画像解析方法において、所定の粒子
を含み粒子濃度の分かっている液体サンプルを用意し、
この粒子サンプルの測定時間中に通過した全粒子数を計
数し、通過した全粒子数から予想される画像処理粒子数
を計算し、予想される画像処理粒子数に対する実際に画
像処理した粒子画像数の割合に基づいて粒子画像有効係
数を求め、更に、上記全粒子数と、予め分かっている粒
子濃度から予想される粒子検出数の割合に基づいて粒子
濃度補正係数を求める段階と、サンプル測定段階におい
て測定時間中に通過した全粒子数を計数する段階と、通
過した全粒子数から予想される画像処理粒子数を計算す
る段階と、この予想される画像処理粒子数に先の粒子画
像有効係数と上記粒子濃度補正係数とを掛けて実効画像
粒子数を計算する段階と、サンプル粒子画像のうちサイ
ズの大きい方から上記実効画像粒子数だけを測定粒子画
像と定める段階とを備える。In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows. (1) A particle detection step of flowing a liquid sample in which particles to be measured are suspended into a flow cell and counting the number of particles in the sample by a particle detection system, and a static image of particles passing through an imaging region in the flow cell. an imaging step for imaging the particle imaging system, the image analysis unit in the flow type particle image analyzing method having an analysis step of performing a morphological classification of particles in the still image, a given particle
Prepare a liquid sample containing
Count the total number of particles that passed during the measurement time of this particle sample.
Image processing particles expected from the total number of particles counted and passed
And calculate the actual image for the expected number of image processing particles.
A particle image validator based on the ratio of the number of image-processed particle images.
Calculate the total number of particles and the number of particles
Particles based on the percentage of particle detections expected from the child concentration
A step of obtaining a concentration correction coefficient, a step of counting the total number of particles passed during the measurement time in the sample measurement step, and a step of calculating an expected number of image-processed particles from the total number of passed particles, A step of calculating the number of effective image particles by multiplying the number of image- processed particles by the above-mentioned particle image effective coefficient and the above-mentioned particle concentration correction coefficient, and measuring only the number of effective image particles from the larger size of the sample particle images An image and a defining step.
【0041】 (2)好ましくは、上記(1)におい
て、粒子画像有効係数を決める際、粒子の測定時間中に
通過した全粒子数を計数する段階にて、粒子検出条件を
通常の粒子検出条件とは別に、対象粒子以外の微小粒子
を検出しないように、粒子検出条件を切り替える。 (2) Preferably, in determining the particle image effective coefficient in (1) above, during the particle measurement time.
At the stage of counting the total number of passed particles, set the particle detection conditions.
Apart from normal particle detection conditions, fine particles other than target particles
The particle detection condition is switched so as not to detect.
【0042】[0042]
【0043】[0043]
【0044】 (3)また、好ましくは、上記(1)に
おいて、あらかじめ測定した粒子画像有効係数の大小を
所定の値と比較する段階と、測定した粒子画像有効係数
が所定の値より大きければサンプル流が正常に流れてい
ると判断し、小さけれぱサンプル流れが正常でないと判
断する段階と、をさらに備える。 (3) Further, preferably, in ( 1 ) above , the magnitude of the particle image effective coefficient measured in advance is
The step of comparing with a predetermined value and the measured particle image effective coefficient
Is larger than the specified value, the sample flow is normal.
And the small sample flow is not normal.
And a step of disconnecting.
【0045】[0045]
【0046】[0046]
【0047】[0047]
【0048】[0048]
【0049】[0049]
【0050】[0050]
【0051】[0051]
【0052】[0052]
【0053】[0053]
【0054】[0054]
【0055】 (4)被測定粒子が懸濁された液体サン
プルをフローセル中に流し、粒子検出系による上記サン
プル中の粒子数を計数する粒子検出手段と、上記フロー
セル中の撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像
系により撮像する撮像手段と、画像解析手段により上記
静止画像中の粒子の形態学的分類を行う解析手段とを有
するフロー式粒子画像解析装置において、上記粒子検出
手段は、所定の粒子を含み粒子濃度の分かっている液体
サンプルを用意し、この粒子サンプルの測定時間中に通
過した全粒子数を計数し、通過した全粒子数から予想さ
れる画像処理粒子数を計算し、予想される画像処理粒子
数に対する実際に画像処理した粒子画像数の割合に基づ
いて求められた粒子画像有効係数と、更に、上記全粒子
数と、予め分かっている粒子濃度から予想される粒子検
出数の割合に基づいて求められた粒子濃度補正係数を記
憶する記憶手段と、サンプル測定段階において測定時間
中に通過した全粒子数を計数する手段と、通過した全粒
子数から予想される画像処理粒子数を計算する手段と、
この予想される画像処理粒子数に上記粒子画像有効係数
及び粒子濃度補正係数を掛けて実効画像粒子数を計算す
る手段と、サンプル粒子画像のうちサイズの大きい方か
ら上記実効画像粒子数だけを測定粒子画像と定める手段
と、を備える。(4) Liquid sun in which particles to be measured are suspended
Flow the pull through a flow cell and use the particle detection system described above.
Particle detection means for counting the number of particles in the pull, and the above flow
Particle imaging of still images of particles passing through the imaging area in the cell
The image capturing means for capturing an image by the system and the image analyzing means
Includes analysis means for morphological classification of particles in still images.
Flow type particle image analyzer
The means is a liquid containing predetermined particles and having a known particle concentration.
Prepare the sample and let it pass during the measurement time of this particle sample.
Count the total number of particles that have passed and predict from the total number of particles that have passed.
Calculate the number of image processing particles
Based on the ratio of the number of particle images actually processed to the number
And the particle image effective coefficient determined by
The expected particle detection based on the number and the known particle concentration.
Enter the particle concentration correction coefficient calculated based on the ratio of the number of particles.
Memorizing memory and measuring time at sample measuring stage
A means to count the total number of particles that have passed through, and a total number of particles that have passed
Means for calculating the number of image processing particles expected from the number of particles,
This particle image effective coefficient is added to this expected number of image processed particles.
And calculate the effective image particle number by multiplying by the particle concentration correction coefficient
Which is the larger of the sample particle images
To determine the number of effective image particles as the measured particle image
And
【0056】[0056]
【0057】[0057]
【0058】 (5)好ましくは、上記(4)におい
て、複数の測定モードを有する場合に、各測定モードご
とに粒子画像有効係数を定める手段を、さらに備える。 (5) Preferably, in the above ( 4 ), when there are a plurality of measurement modes, each measurement mode is
Further, means for determining the particle image effective coefficient are further provided.
【0059】[0059]
【0060】[0060]
【0061】[0061]
【0062】[0062]
【0063】[0063]
【0064】[0064]
【0065】[0065]
【0066】[0066]
【0067】[0067]
【0068】[0068]
【0069】[0069]
【0070】[0070]
【0071】[0071]
【0072】[0072]
【0073】[0073]
【0074】[0074]
【0075】[0075]
【0076】[0076]
【0077】[0077]
【0078】[0078]
【0079】[0079]
【0080】[0080]
【0081】[0081]
【0082】[0082]
【0083】粒子検出系で検出した粒子と、撮像された
粒子画像のうち粒子検出系で検出した粒子との対応をと
るためには、次の問題が生じる。サンプル流れ幅が粒子
画像撮像系の視野と一致しない場合では、検出された粒
子が、画像視野の外側を流れる場合が生じ、検出粒子と
粒子画像の正しい対応関係を取ることができない。In order to make the particles detected by the particle detection system correspond to the particles detected by the particle detection system in the imaged particle image, the following problems occur. If the sample flow width does not match the visual field of the particle image capturing system, the detected particles may flow outside the visual field of the image, and a correct correspondence between the detected particles and the particle image cannot be obtained.
【0084】この影響を補正するために、粒子画像有効
係数Ksを導入し粒子画像と粒子検出粒子の対応をとる
ため、正しい粒子数の測定、粒子濃度の算定ができる。In order to correct this influence, the particle image effective coefficient Ks is introduced and the correspondence between the particle image and the particle detected particles is obtained, so that the correct number of particles can be measured and the particle concentration can be calculated.
【0085】さらに、粒子画像有効係数Ksを、測定開
始前に標準粒子を使って測定することにより、粒子画像
解析装置のサンプル流れの状態をチェックすることがで
き、粒子画像の撮像位置の情報に基づいて、サンプル流
れの状態を把握することができる。Furthermore, by measuring the particle image effective coefficient Ks using standard particles before the start of measurement, it is possible to check the state of the sample flow of the particle image analyzer, and to obtain the information of the imaging position of the particle image. On the basis of this, the state of the sample flow can be grasped.
【0086】また、同時に、測定系に存在する系統的誤
差要因や、配管系をサンプルが流れてくる段階で管壁の
付着している水溶液と置換して、サンプル粒子濃度が小
さくなるなどの系統的な誤差が生じる問題に対しても、
粒子濃度補正係数Kuをあらかじめ標準粒子を使って調
べ、粒子画像測定データを補正する手段を使用すること
により、サンプル中の粒子濃度をより正確に測定を行う
ことができる。At the same time, a systematic error factor existing in the measurement system or a system in which the sample particle concentration is reduced by substituting the pipe system with an aqueous solution adhering to the pipe wall at the stage where the sample flows To the problem that causes the error
The particle concentration in the sample can be more accurately measured by previously examining the particle concentration correction coefficient Ku using standard particles and using a means for correcting the particle image measurement data.
【0087】[0087]
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態の説明に先だ
って、本発明の基本原理について説明する。まず、フロ
ーセル中の粒子検出領域を通過した粒子を検出し、一定
時間後に、検出粒子が静止画像撮像領域の所定の位置に
到着したとき、フラッシュランプを点灯させ、粒子の静
止画像を撮影する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Prior to the description of the embodiments of the present invention, the basic principle of the present invention will be described. First, particles that have passed through the particle detection area in the flow cell are detected, and after a certain time, when the detected particles arrive at a predetermined position in the still image capturing area, the flash lamp is turned on and a still image of the particle is captured.
【0088】一般に、撮像された一枚の静止粒子画像中
には、粒子検出系で検出した粒子以外の小さな粒子も撮
像されていることが度々発生する。この現象は、粒子検
出信号レベルを高くすればするほど、この傾向は大きく
なる。このため、撮像した粒子画像のなかのどれとどれ
が検出対象粒子であるかを区別する方法が必要である。In general, it is often the case that small particles other than the particles detected by the particle detection system are also picked up in one picked-up still particle image. This phenomenon becomes more prominent as the particle detection signal level is increased. Therefore, there is a need for a method of distinguishing which of the captured particle images is the detection target particle.
【0089】ここで、粒子検出系の検出原理として、粒
子検出信号の信号レベルを越えた粒子に対し、さらに、
信号のパルス幅が所定の値を越えたものを、粒子検出信
号と見なす。このパルス幅は、測定粒子が粒子検出系を
通過する時間に相当し、通過粒子のサイズに比例する。
そして、測定時間中に通過し検出した全粒子数を計数
し、全検出粒子数とする。Here, as a detection principle of the particle detection system, for particles exceeding the signal level of the particle detection signal,
A signal whose pulse width exceeds a predetermined value is regarded as a particle detection signal. This pulse width corresponds to the time taken for the measurement particles to pass through the particle detection system, and is proportional to the size of the passing particles.
Then, the total number of particles that have passed and are detected during the measurement time is counted to obtain the total number of detected particles.
【0090】粒子検出により、フラッシュランプ光源を
点灯させ、検出粒子の静止画像を撮影し、画像中にある
全粒子について画像処理をおこない、粒子分類に必要な
粒子特徴量を抽出し、粒子分類処理を行う。この特徴抽
出および粒子分類識別処理を測定時間に撮像した全画像
粒子に対し実行する。Upon detection of particles, the flash lamp light source is turned on, a still image of the detected particles is photographed, image processing is performed on all particles in the image, and the particle feature amount necessary for particle classification is extracted to perform particle classification processing. I do. This feature extraction and particle classification identification processing is executed for all image particles imaged at the measurement time.
【0091】測定終了時に、上述した粒子検出系で測定
時間に通過した全検出粒子数より、測定時間にフラッシ
ュランプ点灯による粒子静止画像の内で予想される検出
画像粒子数を計算する。検出画像粒子数はサンプル中の
粒子濃度、測定時間、TVカメラの画像撮像条件によっ
て計算する。この予想される検出画像粒子数計算式の形
は、測定条件で変わるが、粒子通過の発生事象が統計学
におけるポアソン過程をすることを仮定することで求め
る事が出来る。At the end of the measurement, the number of detected image particles in the particle still image due to lighting of the flash lamp during the measurement time is calculated from the total number of detected particles that have passed the measurement time in the above-mentioned particle detection system. The number of detected image particles is calculated according to the particle concentration in the sample, the measurement time, and the image capturing conditions of the TV camera. Although the form of this expected detection image particle number calculation formula changes depending on the measurement conditions, it can be obtained by assuming that the occurrence event of particle passage is a Poisson process in statistics.
【0092】一般的には、次式(1)の形に表現され
る。
N = Nf・γ・{λ+exp(-λ(1-h))} −−−(1)
式(1)において、Nfは測定時間にTVカメラが撮像
出来るフレーム画像の総数である。測定時間をTm、1
フレーム時間をTfとすればNf=Tm/Tfである。
また、γの項は、フレーム画像の総数Nfのなかで、実
際のサンプル条件で粒子検出により撮像されるフレーム
数のNfに対する割合である。γの内容は測定条件で変
わる。Nf・γの値は、実際に粒子画像を撮像した予想
フレーム数に相当する。Generally, it is expressed in the form of the following equation (1). N = Nfγ {λ + exp (-λ (1-h))} ----- (1) In the equation (1), Nf is the total number of frame images that can be captured by the TV camera during the measurement time. Measuring time is Tm, 1
If the frame time is Tf, then Nf = Tm / Tf.
The term γ is the ratio of the number of frames imaged by particle detection under actual sample conditions to Nf in the total number Nf of frame images. The content of γ changes depending on the measurement conditions. The value of Nf · γ corresponds to the expected number of frames in which the particle image is actually captured.
【0093】式(1)の{λ+exp(-λ(1-h))}は、画像
取り込み領域に存在する検出粒子を含む予想される平均
粒子数である。ここで、λは画像取り込み領域体積に相
当する体積Vgに存在する平均粒子数、hは粒子検出に
よるフラッシュランプ点灯を画像取り込み領域のどこで
行うかにより決まる値で、0から1の間の値である。通
常は1に近い値の条件にする。Vmは測定サンプル体積
である。{Λ + exp (-λ (1-h))} of the equation (1) is the expected average number of particles including the detection particles existing in the image capturing area. Here, λ is the average number of particles existing in the volume Vg corresponding to the volume of the image capturing area, h is a value determined depending on where in the image capturing area the flash lamp is lit by particle detection, and is a value between 0 and 1. is there. Normally, the condition is a value close to 1. Vm is the measurement sample volume.
【0094】また、λは次式(2)で表される。 λ = (Nm/Vm)・Vg −−−(2) 次に、具体的なγの式の形の例を以下に示す。Further, λ is expressed by the following equation (2). λ = (Nm / Vm) ・ Vg −−− (2) Next, a specific example of the form of the expression of γ is shown below.
【0095】フラッシュランプの点灯タイミングの制
約、すなわち、TVカメラの奇数フィールドまたは偶数
フィールドでのみ点灯可能という制約がない一番効率よ
く粒子画像を撮像する場合を考える。フラッシュランプ
点灯後、2フィールドかけてCCD・TVカメラに蓄積
された画像を画像メモリに読みだす場合には、γの式の
形は次式(3)で示される。
γ={2(1-exp(-Nm・Tf/(2・Tm)))}/{2-exp(-Nm・Tf/(2・Tm))} −−−(3)
上記(3)式で、Tfは、TVカメラ系の1フレーム時
間を表す。また、画像読みだし及び画像処理に3フィー
ルド必要な条件の場合にはデット・タイムが1フィール
ド増加するが、この場合のγの式の形は次式(4)で示
される。
γ={2(1-exp(-Nm・Tf/(2・Tm)))}/{3-2・exp(-Nm・Tf/(2・Tm))} −−−(4)
いずれにしても、γの式の形は、粒子濃度、測定時間、
TVカメラ撮像系の条件で変わる。この予想される検出
画像粒子数は、統計的なバラツキは避けられないが、比
較的正しい検出画像粒子数を得る。Let us consider a case where the particle image is most efficiently captured without the restriction on the lighting timing of the flash lamp, that is, the restriction that the flash lamp can be lit only in the odd field or even field of the TV camera. When the image accumulated in the CCD / TV camera over two fields is read out to the image memory after the flash lamp is turned on, the form of the equation of γ is represented by the following equation (3). γ = {2 (1-exp (-Nm ・ Tf / (2 ・ Tm)))} / {2-exp (-Nm ・ Tf / (2 ・ Tm))} −−− (3) Above (3) In the equation, Tf represents one frame time of the TV camera system. The dead time increases by one field under the condition that three fields are required for image reading and image processing. In this case, the form of γ is represented by the following expression (4). γ = {2 (1-exp (-Nm ・ Tf / (2 ・ Tm)))} / {3-2 ・ exp (-Nm ・ Tf / (2 ・ Tm))} −−− (4) Either way However, the form of the γ equation is particle concentration, measurement time,
It depends on the conditions of the TV camera imaging system. Statistical variations are unavoidable in this expected number of detected image particles, but a relatively correct number of detected image particles is obtained.
【0096】また、式(1)において、Nf・γの値
は、測定時間中にフラッシュランプ発光平均回数、すな
わち、粒子検出によって粒子撮像されたTV画像の平均
フレーム数に相当する。よって、実際に画像処理した全
画像数、すなわち、粒子画像を撮像した全フレーム数N
fsに置き換えたほうが、実際の装置においてはNf・
γの値の計算をしなくてすみ、処理が簡単になる。式
(1)において、Nf・γをNfsに置き換えるとNは
次式(5)で示される。
N = Nfs・{λ+exp(-λ(1-h))} −−−(5)
上述したように、Nf・γの値は、実際に粒子画像を撮
像した予想フレーム数に相当する。Further, in the equation (1), the value of Nf · γ corresponds to the average number of flash lamp emission during the measurement time, that is, the average number of frames of the TV image in which particles are imaged by particle detection. Therefore, the total number of images actually image-processed, that is, the total number N of frames in which particle images are captured
It is better to replace with fs in the actual device.
The calculation is simplified because it is not necessary to calculate the value of γ. When Nf · γ is replaced with Nfs in the equation (1), N is given by the following equation (5). N = Nfs * {[lambda] + exp (-[lambda] (1-h))} --- (5) As described above, the value of Nf * [gamma] corresponds to the expected number of frames in which the particle image is actually captured.
【0097】なお、測定条件によっては、式(1)から
式(5)において、近似式を導きだし、計算処理を簡単
にすることも可能である。しかし、上述した計算式が成
立するための条件は、サンプル流れが粒子画像撮像視野
よりも狭い場合に成立するものである。Depending on the measurement conditions, it is possible to derive an approximate expression from the expressions (1) to (5) and simplify the calculation process. However, the condition for satisfying the above-described calculation formula is satisfied when the sample flow is narrower than the particle image capturing visual field.
【0098】サンプル流れが撮像視野と一致しない場合
には、粒子検出はされるけれども、撮像視野の外側を粒
子が流れる場合が生じ、これまで述べてきた検出粒子と
粒子画像の対応が取れなくなる場合がある。このため
に、この補正が必要になる。When the sample flow does not coincide with the imaging field of view, particles are detected, but particles may flow outside the imaging field of view, and the detected particles and the particle image described above cannot correspond to each other. There is. For this reason, this correction is necessary.
【0099】このような現象が生じるのは、サンプル流
れが撮像視野と一致しない場合の他に、サンプル流れの
位置がずれる場合、サンプル液およびシース液の温度上
昇による粘性の変化による流れの変化に起因する場合、
さらに、流量・流速などが異なる複数の測定条件を有す
る場合に発生する。また、流れの系の途中に気泡やゴミ
などが存在するとサンプル流れの位置や形状が変化す
る。This phenomenon occurs not only when the sample flow does not coincide with the imaging field of view, but also when the position of the sample flow shifts, and when the sample liquid and the sheath liquid change in viscosity due to temperature rise. If it is caused,
Furthermore, it occurs when there are a plurality of measurement conditions having different flow rates, flow velocities, and the like. Further, if air bubbles or dust are present in the flow system, the position and shape of the sample flow change.
【0100】この問題に対処するために、粒子画像有効
係数Ksを導入し、上述した計算式の中の予想される粒
子画像数Nにこの係数をかけたものを実効画像粒子数と
定める。In order to deal with this problem, a particle image effective coefficient Ks is introduced, and the expected particle image number N in the above-mentioned calculation formula is multiplied by this coefficient to determine the effective image particle number.
【0101】粒子画像有効係数Ksの算出は次のように
行う。サンプル測定の前に、あらかじめ粒子画像有効係
数を知る処理を行う。この処理を行うために、所定の粒
子を含む液体サンプルを用意し、この粒子サンプルの測
定時間中に通過した全粒子数を計数する段階と、通過し
た全粒子数から予想される画像処理粒子数を計算する段
階と、予想される画像処理粒子数に対する実際に画像処
理した粒子画像数の割合により粒子画像有効係数を求め
る段階とを実行する。The particle image effective coefficient Ks is calculated as follows. Before measuring the sample, a process of knowing the particle image effective coefficient is performed in advance. In order to perform this processing, prepare a liquid sample containing predetermined particles, count the total number of particles that passed during the measurement time of this particle sample, and the number of image-processed particles expected from the total number of particles that passed. And a step of obtaining a particle image effective coefficient by the ratio of the number of particle images actually image-processed to the expected number of image-processed particles.
【0102】所定の粒子としては、サイズのそろった標
準粒子を懸濁した液体サンプルを使用するのが望まし
い。標準粒子として、ポリスチレン等を主成分としたラ
テックス標準粒子が好ましい。As the predetermined particles, it is desirable to use a liquid sample in which standard particles of uniform size are suspended. As the standard particles, latex standard particles containing polystyrene as a main component are preferable.
【0103】粒子の測定時間中に通過した全粒子数を計
数する段階において、粒子検出条件を通常測定の場合の
粒子検出条件とは別に、対象粒子以外の微小粒子を検出
しないように、粒子検出条件を切り替えることが望まし
い。これにより、標準粒子だけが粒子検出される事にな
る。このために、標準粒子のサイズも大きめのものを使
うことが望ましい。In the step of counting the total number of particles that have passed during the measurement time of particles, the particle detection conditions are set separately from the particle detection conditions in the case of normal measurement so that fine particles other than the target particles are not detected. It is desirable to switch the conditions. As a result, only standard particles are detected. For this reason, it is desirable to use larger standard particles.
【0104】粒子検出系を通過した全粒子数と測定条件
から予想される画像処理粒子数を計算する方法は、上述
した計算方法と同一の計算方法を使用する。すなわち、
粒子検出系を通過した全粒子数と測定条件から予想され
る画像処理粒子数を計算する段階において、上記式
(1)及び式(3)を使用する。As the method of calculating the total number of particles that have passed through the particle detection system and the number of image-processed particles expected from the measurement conditions, the same calculation method as that described above is used. That is,
The equations (1) and (3) are used in the step of calculating the total number of particles that have passed through the particle detection system and the number of image-processed particles expected from the measurement conditions.
【0105】撮像条件が異なる場合には、式(3)の代
わりに式(4)を使用する。また、画像フレーム数で代
用する場合には、式(1)の代わりに式(5)を使用す
ることができる。When the imaging conditions are different, the equation (4) is used instead of the equation (3). Further, when substituting the number of image frames, Expression (5) can be used instead of Expression (1).
【0106】粒子画像有効係数Ksは、予想される画像
処理粒子数Nと、実際に画像処理された標準粒子画像数
Ngとから次式(6)より求める。
Ks = Ng/N −−−(6)
複数の測定モードを有する測定系では、各測定モードご
とに粒子画像有効係数を定めることが必要である。The particle image effective coefficient Ks is obtained from the following equation (6) from the expected number N of image-processed particles and the number Ng of standard particle images actually image-processed. Ks = Ng / N --- (6) In a measurement system having multiple measurement modes, it is necessary to determine the particle image effective coefficient for each measurement mode.
【0107】測定サンプル中の粒子濃度を決定するに
は、次のように行う。懸濁する液体サンプルをフローセ
ル中に流し、粒子検出系によるサンプル中の粒子数を計
数し、フローセル中の撮像領域を通過する粒子の静止画
像を粒子撮像系により撮像する。The particle concentration in the measurement sample is determined as follows. A liquid sample to be suspended is flown into a flow cell, the number of particles in the sample is counted by a particle detection system, and a static image of particles passing through an imaging region in the flow cell is imaged by the particle imaging system.
【0108】そして、画像解析手段により画像中の粒子
の形態学的分類を行う解析処理を行い、測定時間中に通
過した全粒子数Nmと、通過した全粒子数から予想され
る画像処理粒子数Nを計算し、この予想させる画像処理
粒子数Nに粒子画像有効係数Ksを掛けて実効画像粒子
数を算出する。次に、サンプル粒子画像のうちサイズの
大きい方から上述した実効画像粒子数だけを測定粒子画
像と定める。Then, an analysis process is carried out to morphologically classify the particles in the image by the image analysis means, and the total number Nm of particles passed during the measurement time and the number of image-processed particles expected from the total number of particles passed. N is calculated, and the expected number N of image-processed particles is multiplied by the particle image effective coefficient Ks to calculate the number of effective image particles. Next, among the sample particle images, only the above-mentioned effective image particle numbers from the larger size are determined as measurement particle images.
【0109】上述した処理を行って得られた測定粒子画
像だけに粒子分類の対象を限定し、この画像の中に、粒
子分類iの粒子がni個存在したとすると、測定サンプ
ル中に存在する粒子数Niは、次式(7)の形で表現さ
れる。
Ni = Nm・(ni/(N・Ks)) −−−(7)
粒子濃度の形で表現する場合には、粒子個数Niを測定
体積を使って単位体積当たりの個数で表現すればよい。If the object of particle classification is limited only to the measured particle image obtained by performing the above-mentioned processing, and if ni particles of particle classification i are present in this image, they are present in the measurement sample. The number of particles Ni is expressed in the form of the following expression (7). Ni = Nm · (ni / (N · Ks)) −−− (7) When expressing in the form of particle concentration, the number Ni of particles may be expressed by the number per unit volume using the measurement volume.
【0110】実際の粒子サンプルを測定する前に、あら
かじめ粒子画像有効係数Ksを測定する段階は、粒子画
像測定系の状態を知るのに重要な段階である。すなわ
ち、サンプル流れが、撮像視野をどのように流れている
かを判断する材料になるからである。The step of measuring the particle image effective coefficient Ks in advance before measuring the actual particle sample is an important step for knowing the state of the particle image measuring system. That is, this is because the sample flow serves as a material for determining how the sample flow is flowing in the imaging visual field.
【0111】具体的には、あらかじめ測定した粒子画像
有効係数Ksを、所定の値と大小比較することで行え
る。所定の値より大きければサンプル流が正常に流れて
いること、小さければサンプル流れが正常でないと判断
する。Ksが1に近い値ならば、サンプル流れは十分撮
像視野内を流れていることになる。Specifically, it can be performed by comparing the particle image effective coefficient Ks measured in advance with a predetermined value. If it is larger than the predetermined value, it is judged that the sample flow is flowing normally, and if it is smaller than it, it is judged that the sample flow is not normal. If Ks is a value close to 1, it means that the sample flow is sufficiently flowing in the imaging visual field.
【0112】これに加えて、粒子画像撮像視野のどこの
位置で撮像したかの個々の粒子ごとに位置情報を表示す
る手段を設けると、サンプル流れの状態をより視覚的に
把握することができる。In addition to this, if a means for displaying the position information for each individual particle at which position in the visual field for picking up the particle image is provided, the state of the sample flow can be grasped more visually. .
【0113】サンプル流れの状態を表示するには、撮像
視野の撮像位置のヒストグラム情報、特にサンプル流れ
の幅方向または流れ方向の位置に対する粒子個数のヒス
トグラムで表現するのが適当である。In order to display the state of the sample flow, it is appropriate to express it as histogram information of the imaging position of the imaging field of view, especially as a histogram of the number of particles with respect to the position in the width direction or the flow direction of the sample flow.
【0114】あらかじめ粒子画像有効係数Ksを測定す
る段階で、標準粒子として粒子濃度の既知である液体サ
ンプルを使うことができれば、測定系に存在する誤差要
因に起因する補正を行うことが出来る。誤差要因として
は、測定系の個々の要素が持っている定量性誤差による
濃度の変化、測定系の系統誤差、サンプルが配管系など
を流れていく段階で管壁の溶液と置換して粒子濃度が小
さくなる現象を補正することが出来る。If a liquid sample having a known particle concentration can be used as a standard particle at the stage of measuring the particle image effective coefficient Ks in advance, correction due to an error factor existing in the measurement system can be performed. Error factors include changes in concentration due to quantitative errors of the individual elements of the measurement system, systematic errors in the measurement system, and particle concentration by replacing the solution on the pipe wall with the sample as it flows through the pipe system. It is possible to correct the phenomenon that becomes smaller.
【0115】実際に粒子検出された粒子数と、あらかじ
め分かっている粒子濃度から予想される粒子検出数の割
合を粒子濃度補正係数Kuとして使用する。The ratio between the number of particles actually detected and the number of particles detected expected from the particle concentration known in advance is used as the particle concentration correction coefficient Ku.
【0116】粒子画像有効係数Ksおよび粒子濃度補正
係数Kuを使って、測定サンプルの粒子成分iの粒子数
Niは、先の式(7)の代わりに次式(8)を使って求
めることが出来る。
Ni = (Nm/Ku)・ni/(N・Ks) −−−(8)
測定サンプルの粒子濃度を測定するには、測定体積で割
って単位体積当たりの粒子数を求めればよい。複数の測
定モードを有する場合に、各測定モードにおいて、別々
に処理を実施することが必要である。Using the particle image effective coefficient Ks and the particle concentration correction coefficient Ku, the number Ni of particles of the particle component i of the measurement sample can be obtained using the following equation (8) instead of the above equation (7). I can. Ni = (Nm / Ku) * ni / (N * Ks) --- (8) To measure the particle concentration of the measurement sample, the number of particles per unit volume may be obtained by dividing by the measurement volume. When there are a plurality of measurement modes, it is necessary to perform the processing separately in each measurement mode.
【0117】なお、粒子画像有効係数および粒子濃度補
正係数の粒子個数を算出する場合、複数の粒子が連接し
てあたかも1個の粒子と見なされる場合がある。この場
合には、粒子画像のパターン認識手法で連接粒子の存在
比率を決定し、これを基にして、上記補正を行なうこと
が必要である。連接した粒子の存在比率が小さな場合に
は、この影響は無視してもよい。When calculating the number of particles of the particle image effective coefficient and the particle concentration correction coefficient, a plurality of particles may be concatenated and regarded as one particle. In this case, it is necessary to determine the existence ratio of the connecting particles by the pattern recognition method of the particle image and perform the above correction based on this. When the abundance ratio of particles connected to each other is small, this effect can be ignored.
【0118】また、測定開始前に、定期的に、各測定モ
ードごとに、上述の2つの補正係数を求め、その値を基
に、サンプル中の粒子濃度を決定する段階を設けること
により、粒子画像処理結果の解析結果の信頼性を確保す
ることが出来る。Further, before the measurement is started, the above-mentioned two correction coefficients are periodically obtained for each measurement mode, and the step of determining the particle concentration in the sample based on the values is provided. The reliability of the analysis result of the image processing result can be secured.
【0119】さらに、フロー系に存在する気泡やゴミに
よるサンプル流れの状態をこれらの補正係数から知るこ
とができ、測定系が正常動作をしているかどうかの判断
情報としても使うことが出来る。Furthermore, the state of the sample flow due to bubbles and dust existing in the flow system can be known from these correction coefficients, and can be used as information for determining whether or not the measurement system is operating normally.
【0120】次に、本発明の実施形態を、添付する図を
参照しながら説明する。図1は、本発明の一実施形態に
係るフロー式粒子画像解析方法に用いられるフロー式粒
子画像解析装置の略示構成図であり、図2は、図1の例
における粒子検出系処理部の構成を示すブロック図であ
る。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a flow-type particle image analysis device used in a flow-type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram of a particle detection system processing unit in the example of FIG. It is a block diagram which shows a structure.
【0121】また、図3は、図1の粒子検出系動作を示
すタイムチャート図である。図4は、粒子検出および静
止粒子画像取り込みの概略説明図である。図5は、本発
明を実施する場合の処理の流れを示すフローチャートで
ある。FIG. 3 is a time chart showing the operation of the particle detection system shown in FIG. FIG. 4 is a schematic explanatory diagram of particle detection and still particle image capture. FIG. 5 is a flow chart showing the flow of processing when implementing the present invention.
【0122】図1において、100はフローセル、10
1は画像撮像手段、102は粒子解析手段、103は粒
子検出手段である。また、1はフラッシュランプ、1a
はフラッシュランプ駆動回路、2はフィールドレンズ、
3は顕微鏡コンデンサレンズ、5は顕微鏡対物レンズ、
6は結像位置、7は投影レンズである。In FIG. 1, 100 is a flow cell and 10 is a flow cell.
Reference numeral 1 is an image pickup means, 102 is a particle analysis means, and 103 is a particle detection means. Also, 1 is a flash lamp, 1a
Is a flash lamp drive circuit, 2 is a field lens,
3 is a microscope condenser lens, 5 is a microscope objective lens,
6 is an image forming position, and 7 is a projection lens.
【0123】また、8はTVカメラ、11は視野絞り、
12は開口絞り、15は半導体レーザ、16はコリメー
タレンズ、17はシリンドリカルレンズ、18及び19
は反射鏡である。In addition, 8 is a TV camera, 11 is a field stop,
12 is an aperture stop, 15 is a semiconductor laser, 16 is a collimator lens, 17 is a cylindrical lens, 18 and 19
Is a reflector.
【0124】また、20はビームスプリッタ、21は絞
り、22は光検出回路、23はフラッシュランプ点灯制
御回路、24はAD変換器、25は画像メモリ、26は
画像処理制御回路、27は特徴抽出回路、28は識別回
路、29は中央制御部、40は粒子検出処理部、50は
表示部である。Further, 20 is a beam splitter, 21 is a diaphragm, 22 is a photodetector circuit, 23 is a flash lamp lighting control circuit, 24 is an AD converter, 25 is an image memory, 26 is an image processing control circuit, and 27 is feature extraction. A circuit, 28 is an identification circuit, 29 is a central control unit, 40 is a particle detection processing unit, and 50 is a display unit.
【0125】図1において、本発明の一実施形態に係る
フロー式粒子画像解析方法に用いられるフロー式粒子画
像解析装置は、粒子を懸濁させたサンプル液が供給され
るフローセル100と、フローセル100中のサンプル
液を撮像する画像撮像手段101と、撮像された画像か
ら粒子を検出する粒子検出手段103と、検出された粒
子を分析する粒子解析手段102とを備えている。In FIG. 1, a flow type particle image analysis apparatus used in a flow type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention is a flow cell 100 to which a sample liquid in which particles are suspended is supplied, and a flow cell 100. An image capturing means 101 for capturing an image of the sample liquid therein, a particle detecting means 103 for detecting particles from the captured image, and a particle analyzing means 102 for analyzing the detected particles are provided.
【0126】フローセル100には、サンプル液110
と共にシース液が供給され、サンプル液110がシース
液に包まれる流れが形成される。そして、サンプル液1
10の流れは、画像撮像手段101(後述する)の顕微
鏡光軸9(後述する)に対して垂直方向に偏平な断面形
状を有する安定した定常流、いわゆるシースフローとな
り、フローセル100の中心を紙面の上方から下方へ向
かって流下する。このサンプル液110の流速は、中央
制御部29(後述する)により制御される。The flow cell 100 has a sample solution 110.
At the same time, the sheath liquid is supplied, and a flow in which the sample liquid 110 is wrapped in the sheath liquid is formed. And sample liquid 1
The flow of 10 is a stable steady flow having a flat cross-sectional shape in the direction perpendicular to the microscope optical axis 9 (described later) of the image pickup means 101 (described later), that is, a so-called sheath flow, and the center of the flow cell 100 is the paper surface. Run down from above. The flow velocity of the sample liquid 110 is controlled by the central control unit 29 (described later).
【0127】画像撮像手段101は、顕微鏡としての機
能を有し、パルス光源であるフラッシュランプ1と、フ
ラッシュランプ1を発光させるフラッシュランプ駆動回
路1aと、フラッシュランプ1からのパルス光束を平行
にするフィールドレンズ2と、フィールドレンズ2から
の平行なパルス光束10をフローセル100内のサンプ
ル液流れ110に集束させる顕微鏡コンデンサレンズ3
と、フローセル100内のサンプル液流れ110に照射
されたパルス光束を集光し結像位置6に結像させる顕微
鏡対物レンズ5と、投影レンズ7を介して投影した結像
位置6の粒子像を、いわゆるインターレース方式により
取り込み電気信号である画像データ信号に変換するTV
カメラ8と、パルス光束10の幅を制限する視野絞り1
1および開口絞り12とを具備している。上記TVカメ
ラ8としては、残像の少ないCCDカメラ等が一般に用
いられる。The image pickup means 101 has a function as a microscope, and makes the flash lamp 1 which is a pulse light source, the flash lamp drive circuit 1a for causing the flash lamp 1 to emit light, and the pulse light flux from the flash lamp 1 parallel. The field lens 2 and the microscope condenser lens 3 for focusing the parallel pulsed light flux 10 from the field lens 2 on the sample liquid flow 110 in the flow cell 100.
A microscope objective lens 5 for condensing the pulsed light flux irradiated on the sample liquid flow 110 in the flow cell 100 to form an image at the image forming position 6, and a particle image at the image forming position 6 projected via the projection lens 7. , A so-called interlace method, a TV that converts the image data signal which is an electric signal taken in
Camera 8 and field stop 1 for limiting the width of pulsed light flux 10
1 and an aperture stop 12. As the TV camera 8, a CCD camera or the like having a small afterimage is generally used.
【0128】また、粒子検出手段103は、検出光とし
てのレーザ光を発する検出光源である半導体レーザ15
と、この半導体レーザ15からのレーザ光を平行なレー
ザ光束14にするコリメータレンズ16と、このコリメ
ータレンズ16からのレーザ光束14の一方向のみを集
束させるシリンドリカルレンズ17と、このシリンドリ
カルレンズ17からのレーザ光束14を反射させる反射
鏡18と、顕微鏡コンデンサレンズ3とフローセル10
0との間に位置し、上記反射鏡18からのレーザ光束1
4をサンプル液流れ110上の画像取り込み領域の上流
側近傍に導く微小反射鏡19とから構成されている。Further, the particle detecting means 103 is a semiconductor laser 15 which is a detection light source for emitting laser light as detection light.
A collimator lens 16 for converting the laser light from the semiconductor laser 15 into a parallel laser light beam 14, a cylindrical lens 17 for focusing only one direction of the laser light beam 14 from the collimator lens 16, and a cylindrical lens 17 A reflector 18 for reflecting the laser beam 14, a microscope condenser lens 3, and a flow cell 10
The laser beam 1 from the reflecting mirror 18 is located between 0 and 0.
4 and a micro-reflecting mirror 19 for guiding the sample 4 to the vicinity of the upstream side of the image capturing area on the sample liquid flow 110.
【0129】さらに、粒子検出手段103は、粒子によ
る上記レーザ光束14の散乱光を集光する顕微鏡対物レ
ンズ5(この顕微鏡対物レンズ5は、画像撮像手段10
1の結像用の顕微鏡対物レンズ5と共用される)と、顕
微鏡対物レンズ5で集光された散乱光を反射させるビー
ムスプリッタ20と、このビームスプリッタ20からの
散乱光を絞り21を介して受光し、その強度に基づく電
気信号を出力する光検出回路22と、この光検出回路2
2からの電気信号に基づいて上記フラッシュランプ駆動
回路1aを作動させるフラッシュランプ発光制御回路2
3とを具備している。Further, the particle detecting means 103 is a microscope objective lens 5 for collecting the scattered light of the laser light flux 14 by the particles (this microscope objective lens 5 is the image pickup means 10).
1 is also used as a microscope objective lens 5 for image formation), a beam splitter 20 for reflecting scattered light condensed by the microscope objective lens 5, and scattered light from this beam splitter 20 via a diaphragm 21. A photodetector circuit 22 that receives light and outputs an electric signal based on its intensity, and
A flash lamp emission control circuit 2 for operating the flash lamp drive circuit 1a based on an electric signal from the flash lamp 2.
3 and 3.
【0130】また、粒子解析手段102は、上記TVカ
メラ8から転送された画像データ信号をデジタル信号に
変換するAD変換器24と、このAD変換器24からの
信号に基づくデータを所定のアドレスに記憶する画像メ
モリ25と、この画像メモリ25におけるデータの書き
込みおよび読み出しの制御を行う画像処理制御回路26
と、画像メモリ25からの信号に基づき画像処理を行い
粒子数や分類を行う特徴抽出回路27と、識別回路28
と、中央制御部29と、サンプル液110中の粒子数を
決定し粒子検出系を制御し、かつ粒子画像の演算を行う
粒子検出処理部40と、上記の画像処理の結果である粒
子数や分類を表示する表示部50とからなっている。Further, the particle analysis means 102 converts the image data signal transferred from the TV camera 8 into a digital signal, and the data based on the signal from the AD converter 24 at a predetermined address. An image memory 25 for storing, and an image processing control circuit 26 for controlling writing and reading of data in the image memory 25.
And a feature extraction circuit 27 that performs image processing based on a signal from the image memory 25 to perform particle number and classification, and an identification circuit 28.
A central control unit 29, a particle detection processing unit 40 that determines the number of particles in the sample liquid 110, controls the particle detection system, and calculates a particle image, and the number of particles that is the result of the image processing described above. The display unit 50 displays the classification.
【0131】上記中央制御部29は、上記TVカメラ8
の撮影条件やフローセル100のサンプル液流れの条
件、画像処理制御回路26の制御、識別回路28からの
画像処理結果の記憶、粒子検出処理部40とのデータの
授受、表示部50への表示等を行うように構成されてい
る。The central controller 29 controls the TV camera 8
Imaging conditions, sample liquid flow conditions of the flow cell 100, control of the image processing control circuit 26, storage of image processing results from the identification circuit 28, exchange of data with the particle detection processing unit 40, display on the display unit 50, etc. Is configured to do.
【0132】次に、図2を参照して、粒子検出処理部4
0の構成について説明する。図中、図1と同一符号は、
同等部分であるので、詳細な説明を省略する。図2にお
いて、44は粒子検出回路、41は粒子検出レベル設定
部、42は粒子検出パルス幅設定部、43は検出粒子カ
ウンタである。また、70は画像処理粒子数計算部、7
1はフラッシュランプ点灯回数計算部、72は画像処理
粒子数計数部、73はフラッシュランプ点灯回数計数部
である。75は粒子検出系調整部全体を制御する粒子検
出系制御・演算部である。Next, referring to FIG. 2, the particle detection processing unit 4
The configuration of 0 will be described. In the figure, the same reference numerals as in FIG.
Since it is an equivalent part, detailed description is omitted. In FIG. 2, 44 is a particle detection circuit, 41 is a particle detection level setting unit, 42 is a particle detection pulse width setting unit, and 43 is a detection particle counter. Also, 70 is an image processing particle number calculation unit, 7
Reference numeral 1 is a flash lamp lighting frequency calculation unit, 72 is an image processing particle number counting unit, and 73 is a flash lamp lighting frequency counting unit. A particle detection system control / calculation unit 75 controls the entire particle detection system adjustment unit.
【0133】図2において、粒子検出処理部40を構成
する粒子検出回路44は、光検出回路22からの所定の
信号レベル以上の粒子検出信号を検出する。粒子検出回
路44の粒子検出レベルは粒子検出レベル設定部41お
よび粒子検出パルス幅設定部42で設定された検出条件
と比較され、この条件を満たすものを粒子検出信号とみ
なす。検出粒子カウンタ43は、粒子検出回路44で検
出したパルス数を数え上げる。測定終了時には粒子検出
カウンタ43の計数値は、検出系を通過した全粒子数と
なる。In FIG. 2, a particle detection circuit 44 constituting the particle detection processing section 40 detects a particle detection signal from the photodetection circuit 22 which is equal to or higher than a predetermined signal level. The particle detection level of the particle detection circuit 44 is compared with the detection conditions set by the particle detection level setting unit 41 and the particle detection pulse width setting unit 42, and those satisfying this condition are regarded as the particle detection signal. The detection particle counter 43 counts the number of pulses detected by the particle detection circuit 44. At the end of the measurement, the count value of the particle detection counter 43 becomes the total number of particles that have passed through the detection system.
【0134】測定終了時の粒子検出カウンタ43の粒子
計数値Nmを使って、粒子画像数計算部70にて、測定
時間中に画像処理されることが期待される画像処理粒子
数Nが計算される。また、粒子計数値Nmを使って、フ
ラッシュランプ点灯数計算部71にて、測定時間中にフ
ラッシュランプが点灯することが期待される点灯回数n
fが計算される。Using the particle count value Nm of the particle detection counter 43 at the end of measurement, the particle image number calculation unit 70 calculates the number N of image-processed particles expected to be image-processed during the measurement time. It In addition, using the particle count value Nm, the flash lamp lighting number calculation unit 71 expects that the flash lamp will light during the measurement time n
f is calculated.
【0135】一方、実際に測定時間中に画像処理した粒
子画像数N’とフラッシュランプ点灯回数nf’とは、
それぞれ画像処理制御回路26およびフラッシュランプ
点灯制御回路23から、粒子画像計数部72およびフラ
ッシュランプ点灯回数計数部73にセットされる。粒子
検出系制御・演算部75は、粒子検出系全体を制御し、
さらに、粒子数補正演算処理を実行する。On the other hand, the number of particle images N ′ actually image-processed during the measurement time and the flash lamp lighting number nf ′ are
The particle image counting unit 72 and the flash lamp lighting frequency counting unit 73 are set by the image processing control circuit 26 and the flash lamp lighting control circuit 23, respectively. The particle detection system control / arithmetic unit 75 controls the entire particle detection system,
Further, a particle number correction calculation process is executed.
【0136】検出粒子カウンタ43では、測定時間内に
粒子検出された全粒子数を計数しているから、この値を
基にして粒子画像数計算部70において実際に測定時間
内に画像処理される予想粒子画像の総数を所定の数式を
使って計算する。計算式は、測定条件に左右される。計
算式の例が、上述した(1)式から(4)式に示されて
いる。フラッシュランプ点灯数計算部71では測定時間
にTVカメラが撮像したフレーム総数の予想値も計算す
る機能を有する。計算式は、上記(6)式を使う。Since the detected particle counter 43 counts the total number of particles detected in the measurement time, the particle image number calculation unit 70 actually processes the image within the measurement time based on this value. Calculate the total number of expected particle images using a predetermined formula. The calculation formula depends on the measurement conditions. Examples of the calculation formulas are shown in the above formulas (1) to (4). The flash lamp lighting number calculation unit 71 has a function of calculating an estimated value of the total number of frames captured by the TV camera during the measurement time. The formula (6) is used as the calculation formula.
【0137】上記構成のフロー式粒子画像解析方法とそ
れに用いられるフロー式粒子画像解析装置の動作を説明
する。まず、画像撮像手段101と、粒子検出手段10
2との動作を説明する。半導体レーザ15は、常時連続
的に発振しており、常に、サンプル110中の粒子が検
出領域を通過するのを観測している。The operation of the flow-type particle image analysis method and the flow-type particle image analysis apparatus used therefor will be described. First, the image pickup means 101 and the particle detection means 10
The operation with 2 will be described. The semiconductor laser 15 constantly oscillates continuously and always observes that particles in the sample 110 pass through the detection region.
【0138】半導体レーザ15からのレーザ光束14
は、コリメータレンズ16において平行なレーザ光束に
変換され、シリンドリカルレンズ17において光束14
の1方向のみ集束される。Laser beam 14 from semiconductor laser 15
Is converted into a parallel laser light beam by a collimator lens 16, and a light beam 14 is converted by a cylindrical lens 17.
Is focused only in one direction.
【0139】そして、レーザ光束14は、反射鏡18お
よび微小反射鏡19で反射され、フローセル100内の
サンプル液流れ110上に照射される。この照射位置
は、シリンドリカルレンズ17によってレーザ光束14
が集束する粒子検出位置であり、サンプル液流れ110
上の画像取り込み領域の上流側近傍の位置である。Then, the laser beam 14 is reflected by the reflecting mirror 18 and the minute reflecting mirror 19, and is irradiated onto the sample liquid flow 110 in the flow cell 100. This irradiation position is set by the cylindrical lens 17 by the laser beam 14
Is the particle detection position where the
It is a position near the upstream side of the upper image capturing area.
【0140】解析対象である粒子が上記レーザ光束14
を横切ると、このレーザ光束14は散乱される。レーザ
光束14の散乱光は、ビームスプリッタ20で反射さ
れ、光検出回路22において受光される。そして、光検
出回路22により、受光した光の強度に基づく電気信号
に変換される。The particle to be analyzed is the laser beam 14
This laser light beam 14 is scattered when it crosses. The scattered light of the laser beam 14 is reflected by the beam splitter 20 and received by the photodetector circuit 22. Then, the light detection circuit 22 converts the light into an electric signal based on the intensity of the received light.
【0141】さらに、光検出回路22の出力は、粒子検
出系処理部40に送られ、信号のうち所定のレベル、所
定のパルス幅以上のものを、検出粒子とみなし、結果を
フラッシュランプ点灯制御回路23に伝える。Further, the output of the light detection circuit 22 is sent to the particle detection system processing section 40, and signals having a predetermined level and a predetermined pulse width or more are regarded as detected particles, and the result is controlled by the flash lamp lighting control. Tell circuit 23.
【0142】つまり、光検出回路22により、粒子検出
がなされると、画像処理対象粒子が通過したものとし、
検出したことを示す信号がフラッシュランプ発光制御回
路23に伝送される。上記所定の遅延時間は、粒子検出
位置と画像取り込み領域との距離およびサンプル液11
0の流速等により決定される。That is, when particles are detected by the photodetector circuit 22, it is assumed that the particles to be image-processed have passed,
A signal indicating the detection is transmitted to the flash lamp emission control circuit 23. The predetermined delay time depends on the distance between the particle detection position and the image capturing area and the sample liquid 11
It is determined by a flow velocity of 0 and the like.
【0143】フラッシュランプ点灯制御回路23からフ
ラッシュ発光信号がフラッシュランプ駆動回路1aに伝
送されると、フラッシュランプ駆動回路1aはフラッシ
ュランプ1を発光させる。When the flash light emission signal is transmitted from the flash lamp lighting control circuit 23 to the flash lamp drive circuit 1a, the flash lamp drive circuit 1a causes the flash lamp 1 to emit light.
【0144】フラッシュランプ1より発せられたパルス
光は、顕微鏡光軸9上を進み、フィールドレンズ2によ
り平行光となり、顕微鏡コンデンサレンズ3により集束
されてフローセル100内のサンプル液流れ110上に
照射される。なお、視野絞り11および開口絞り12に
よりパルス光束10の幅が制限される。The pulsed light emitted from the flash lamp 1 travels on the microscope optical axis 9, becomes parallel light by the field lens 2, is focused by the microscope condenser lens 3, and is irradiated onto the sample liquid flow 110 in the flow cell 100. It The width of the pulsed light flux 10 is limited by the field stop 11 and the aperture stop 12.
【0145】フローセル100内のサンプル液流れ11
0に照射されたパルス光束は、顕微鏡対物レンズ5で集
光され、結像位置6に像を結像する。この結像位置6の
像は、投影レンズ7によりTVカメラ8の撮像面上に投
影され、インターレース方式により画像データ信号に変
換される。このようにして、サンプル液110内の粒子
の静止粒子画像が撮像されたことになる。Sample liquid flow 11 in flow cell 100
The pulsed light flux irradiated to 0 is condensed by the microscope objective lens 5 and forms an image at the image forming position 6. The image at the image forming position 6 is projected onto the image pickup surface of the TV camera 8 by the projection lens 7 and converted into an image data signal by the interlace method. In this way, the static particle image of the particles in the sample liquid 110 is captured.
【0146】上記TVカメラ8における撮像条件は、中
央制御部29に予め設定されており、この撮像条件によ
ってTVカメラ8の撮像動作が制御される。The image pickup conditions of the TV camera 8 are preset in the central control unit 29, and the image pickup operation of the TV camera 8 is controlled by these image pickup conditions.
【0147】次に、粒子解析手段102について説明す
る。上記TVカメラ8により撮像され、インターレース
方式により変換される画像データ信号は、AD変換器2
4でデジタル信号に変換され、これに基づくデータが、
画像処理制御回路26に制御され、画像メモリ25の所
定のアドレスに記憶される。Next, the particle analysis means 102 will be described. An image data signal captured by the TV camera 8 and converted by the interlace method is used as an AD converter 2
Converted to digital signal in 4 and the data based on this is
It is controlled by the image processing control circuit 26 and stored in a predetermined address of the image memory 25.
【0148】画像メモリ25に記憶されたデータは、画
像処理制御回路26の制御により読み出され、特徴抽出
回路27および識別回路28に入力されて画像処理が行
われ、中央制御部29にその結果が記憶される。中央制
御部29に記憶される内容は、粒子分類に用いられた粒
子識別特徴パラメータと粒子分類結果データである。The data stored in the image memory 25 is read out under the control of the image processing control circuit 26, is input to the feature extraction circuit 27 and the identification circuit 28, is subjected to image processing, and the central control unit 29 receives the result. Is memorized. Contents stored in the central control unit 29 are particle identification feature parameters used for particle classification and particle classification result data.
【0149】粒子の分類識別処理は、通常行われている
パターン認識処理により自動的に行われる。この画像処
理結果と測定条件および画像処理された画像数情報が、
画像処理制御回路26から粒子検出系処理部40に送ら
れる。The classification and identification process of particles is automatically performed by the pattern recognition process which is usually performed. This image processing result, measurement conditions, and information on the number of images that have been image processed,
It is sent from the image processing control circuit 26 to the particle detection system processing unit 40.
【0150】ここで、図4を参照して、一画像粒子計数
における粒子検出位置と静止粒子画像取り込み位置の関
係について説明する。Now, with reference to FIG. 4, the relationship between the particle detection position and the still particle image capture position in one image particle counting will be described.
【0151】図4に示すように、Tgを、粒子が画像の
A端からB端まで流れるに要する時間とし、Teを、粒
子が静止粒子画像取り込み視野のフラッシュランプ発光
位置PからB端まで流れるに要する時間とし、Toを、
粒子が画像のA端からフラッシュランプ発光位置Pまで
流れるに要する時間とすれば、Tg=Te+Toとな
る。As shown in FIG. 4, Tg is the time required for the particles to flow from the A end to the B end of the image, and Te is the particle from the flash lamp emission position P to the B end of the field of view for capturing the still particle image. And To is
Assuming that the time required for the particles to flow from the edge A of the image to the flash lamp emission position P is Tg = Te + To.
【0152】測定サンプル中の粒子が粒子検出位置を通
過し、粒子検出信号が所定のレベル以上である粒子を検
出すれば、検出パルス信号を出力する。検出パルス信号
を出力した後、粒子が静止粒子画像取り込み領域の所定
の位置まで達するまでのディレイ時間Tdが経過した後
に、フラッシュランプ1を発光させる。When the particles in the measurement sample pass through the particle detection position and the particles whose particle detection signal is above a predetermined level are detected, a detection pulse signal is output. After the detection pulse signal is output, the flash lamp 1 is caused to emit light after a delay time Td until the particles reach a predetermined position in the static particle image capturing area.
【0153】フラッシュランプ1の発光条件は、次のと
おりである。一つ前の粒子検出による静止粒子画像取り
込みが終了し、すなわち、フラッシュランプ1発光後の
フラッシュランプ1発光の禁止状態にし、二つのフィル
ド読みだし信号により画像信号を一静止粒子画像転送さ
せた後に、再びフラッシュランプ1を発光可能状態にす
る。この状態にするのがランプ発光レディ信号であり、
フラッシュランプ制御回路23でつくられる。The light emitting conditions of the flash lamp 1 are as follows. After the still particle image capture by the previous particle detection is completed, that is, the flash lamp 1 emission after the flash lamp 1 emission is prohibited, and the image signal is transferred by one filled particle image signal by two field reading signals. , The flash lamp 1 is turned on again. It is the lamp light emission ready signal that makes this state,
It is made by the flash lamp control circuit 23.
【0154】ランプ発光レディ信号の信号レベルが、
“on”であれば、フラッシュランプ1は発光レデイ状
態、“off”であれば発光禁止状態である。図3にお
いては、y粒子が検出されたのち、Td時間経過後、フ
ラッシュランプ1を発光させているが、y粒子検出前に
通過した粒子が、流れの下流側に存在する可能性があ
る。The signal level of the lamp emission ready signal is
If it is "on", the flash lamp 1 is in a light emission ready state, and if it is "off", it is in a light emission prohibition state. In FIG. 3, the flash lamp 1 is caused to emit light after a lapse of Td time after y particles have been detected, but there is a possibility that particles that have passed before y particle detection exist on the downstream side of the flow.
【0155】上述した流れの下流側に存在する可能性が
ある粒子としては、y粒子通過以前の時間間隔Teの位
置に存在するもので、例えば、x粒子が相当する。これ
は、P点からB端までサンプル粒子が流れていく時間T
eの間において、ランプ発光レディ信号が、まだ“o
n”状態になっていない場合があるためである。The particles that may be present on the downstream side of the above-mentioned flow are those present at the position of the time interval Te before the passage of the y particles, and correspond to, for example, x particles. This is the time T during which the sample particles flow from point P to end B.
During e, the lamp light emission ready signal is still "o".
This is because it may not be in the n "state.
【0156】これは、サンプル中の粒子濃度が濃い場合
に顕著に現われる。このような状態が発生する区間を図
3のランプ発光レディ信号の斜線区間で示した。This is remarkable when the concentration of particles in the sample is high. The section in which such a state occurs is shown by the hatched section of the lamp light emission ready signal in FIG.
【0157】上記ランプ発光レディ信号が“on”にな
ってからランプ発光までの時間がTeより大となると、
下流側の粒子、例えば、x粒子が画像上から流れ去り、
この斜線の部分はなくなる。一画像粒子計数の時間間隔
は、粒子が静止粒子画像取り込み領域を通過する時間T
gの間である。If the time from when the lamp light emission ready signal is turned "on" to when the lamp light is emitted becomes longer than Te,
Downstream particles, such as x particles, flow away from the image,
The shaded area disappears. One image particle counting time interval is the time T during which the particles pass through the stationary particle image capturing area.
between g.
【0158】各信号のタイミングを図3を参照して説明
する。粒子検出信号には、粒子x、y、zの3個から検
出信号が発生するとする。タイミングよくフラッシュラ
ンプ1を発光させるには、粒子が検出後、時間Td遅ら
せた粒子検出ディレイTd信号を発信させればよい。The timing of each signal will be described with reference to FIG. In the particle detection signal, detection signals are generated from three particles x, y, and z. In order to cause the flash lamp 1 to emit light in a timely manner, a particle detection delay Td signal delayed by time Td may be transmitted after the particles are detected.
【0159】ここで、ランプ発光レディ信号が“on”
または“off”状態でランプ発光すべきかどうかが決
まる。図3において、一つ前のフレームで静止粒子画像
を取り込み中であったため、ランプ発光レディ信号が始
めから“on”になっておらず、垂直同期信号によりラ
ンプ発光レディ信号が、レディ“on”になった。Here, the lamp light emission ready signal is "on".
Alternatively, it is determined whether or not the lamp should emit light in the “off” state. In FIG. 3, since the still particle image was being captured in the previous frame, the lamp light emission ready signal was not "on" from the beginning, and the lamp light emission ready signal was ready "on" due to the vertical synchronization signal. Became.
【0160】このため、粒子xではフラッシュランプは
発光せず、次のy粒子で発光され、ランプ発光レディ信
号は“off”になる。For this reason, the flash lamp does not emit light with particle x, but emits light with the next particle y, and the lamp emission ready signal becomes "off".
【0161】次に、図2を参照して粒子検出系処理部4
0の説明をする。まず、測定対象サンプルを測定する前
段階として、粒子画像有効係数および粒子濃度補正係数
を設定する段階を説明する。Next, referring to FIG. 2, the particle detection system processing unit 4
0 will be explained. First, the step of setting the particle image effective coefficient and the particle concentration correction coefficient will be described as a step before measuring the sample to be measured.
【0162】この段階では、これら補正係数を決定する
ために、サイズの揃った標準粒子を懸濁したサンプル溶
液を使用する。粒子濃度は予め、別な手段で測定させて
おり既知であるとする。この標準粒子サンプルをフロー
式粒子画像解析装置にセットして測定を開始する。この
とき、粒子検出系の粒子検出条件は、通常の測定条件よ
りも厳しくし、上述の標準粒子だけが検出されるように
設定されていることが必要である。At this stage, in order to determine these correction factors, a sample solution in which standard particles of uniform size are suspended is used. It is assumed that the particle concentration is known by being measured by another means in advance. This standard particle sample is set in a flow type particle image analyzer and measurement is started. At this time, the particle detection conditions of the particle detection system are set to be stricter than normal measurement conditions, and it is necessary to set so that only the standard particles described above are detected.
【0163】粒子検出条件は、粒子検出レベル設定部4
1および粒子検出パルス幅設定部42の設定値を変える
ことで行うことが出来る。測定時間内に通過した標準粒
子の全個数は粒子検出カウンタ43にて計数される。フ
ラッシュランプの点灯回数はフラッシュランプ点灯回数
計数部73にて計数される。また、粒子画像を処理した
結果、画像処理制御部26をへて、このサンプルを粒子
画像処理した標準粒子の画像数は画像処理粒子数計数部
72にセットされる。The particle detection condition is the particle detection level setting unit 4
This can be performed by changing the setting values of 1 and the particle detection pulse width setting unit 42. The total number of standard particles that have passed within the measurement time is counted by the particle detection counter 43. The flash lamp lighting frequency is counted by the flash lamp lighting frequency counting unit 73. Further, as a result of processing the particle image, the number of images of standard particles obtained by subjecting this sample to the particle image processing is set in the image processing particle number counting section 72 through the image processing control section 26.
【0164】これらの処理で得られた粒子検出した全粒
子数・粒子検出計数値を基にして、予想される粒子画像
処理数を計算する。計算式は上記式(1)〜式(4)を
使う。計算は画像処理粒子数計算部70にて実行され
る。The expected number of particle image processes is calculated based on the total number of detected particles and the particle detection count obtained by these processes. As the calculation formula, the above formulas (1) to (4) are used. The calculation is executed by the image processing particle number calculation unit 70.
【0165】画像処理粒子数計算部70にて計算された
値は、サンプル流れと粒子画像撮像視野とが一致しない
ために、画像処理粒子計数部72の計数結果値よりも一
般的に大きい。また、フラッシュランプ点灯回数計数部
73の計数結果を使って予想される粒子画像処理数を計
算する場合には上記式(5)を使用する。The value calculated by the image processing particle number calculating section 70 is generally larger than the count result value of the image processing particle counting section 72 because the sample flow and the particle image capturing visual field do not match. Further, when the expected number of particle image processes is calculated using the counting result of the flash lamp lighting number counting unit 73, the above equation (5) is used.
【0166】粒子画像有効計数Ksは、予想される粒子
画像処理数に対する実際に処理された粒子画像数である
画像処理粒子数計数部72の計数値の割合で、式(6)
により求められる。粒子画像有効計数Ksは、サンプル
流れと粒子画像撮像視野とが一致していれば1に近づ
き、一致しない場合には1より小さな値を示す。The particle image effective count Ks is the ratio of the count value of the image processing particle number counting section 72, which is the number of particle images actually processed, to the expected number of particle image processes, and is expressed by the equation (6).
Required by. The particle image effective count Ks approaches 1 when the sample flow and the particle image capturing visual field match, and shows a value smaller than 1 when they do not match.
【0167】また、粒子濃度補正係数Kuは、既知の粒
子濃度の標準粒子を前提にしているから、本来、粒子検
出系で計数されるべき粒子数は予想できるので、この予
想される粒子数に対する、実際に計数された粒子検出カ
ウンタ43の計数値の割合で計算される。Further, since the particle concentration correction coefficient Ku is premised on standard particles having a known particle concentration, the number of particles to be originally counted in the particle detection system can be predicted. Is calculated by the ratio of the count value of the particle detection counter 43 actually counted.
【0168】実際の計算は、粒子検出系制御・演算部7
5にて行われる。粒子濃度補正係数Kuは、測定系の構
成や系統誤差のための、粒子濃度補正を行なうもので、
この粒子濃度補正係数Kuの値は1前後の値になる。The actual calculation is performed by the particle detection system control / arithmetic unit 7
It will be held at 5. The particle concentration correction coefficient Ku is used to correct the particle concentration due to the configuration of the measurement system and systematic errors.
The value of the particle concentration correction coefficient Ku is around 1.
【0169】予め、粒子画像有効計数Ksおよび粒子濃
度補正係数Kuの値を定めておき、実際に測定された粒
子画像有効計数Ksおよび粒子濃度補正係数Kuの値
と、計算で得られた値とを比較する手段を設けて、比較
した結果から、粒子画像解析装置の装置状態を把握する
事が出来る。The values of the particle image effective count Ks and the particle concentration correction coefficient Ku are set in advance, and the values of the actually measured particle image effective count Ks and the particle concentration correction coefficient Ku and the values obtained by calculation are calculated. By providing a means for comparing, it is possible to grasp the device state of the particle image analysis device from the comparison result.
【0170】さらに、粒子画像処理系で粒子を撮像した
粒子撮像位置が分かるようにしておけば、計算で得られ
た粒子画像有効計数Ksおよび粒子濃度補正係数Kuの
値と照合する事が出来る。Further, if the particle image pickup position where the particles are picked up by the particle image processing system is known, it is possible to collate them with the values of the particle image effective count Ks and the particle concentration correction coefficient Ku obtained by the calculation.
【0171】例えば、粒子画像の撮像位置を測定粒子全
体を画像として表示できる手段を使う事で、何が原因で
補正値が異常値を示すかの原因追求の参考になる。ま
た、撮像位置のヒストグラム情報で表示することが出来
る。この場合は、サンプル流れ方向またはサンプル流れ
の幅方向のヒストグラムで表示するのが良い。For example, by using a means capable of displaying the imaged position of the particle image as an image of the entire measured particle, it can be used as a reference for pursuing the cause of what causes the correction value to be an abnormal value. Also, it can be displayed as histogram information of the image pickup position. In this case, it is preferable to display the histogram in the sample flow direction or the sample flow width direction.
【0172】フラッシュランプ点灯回数計数部73の計
数値とフラッシュランプ点灯回数計算部71の計算値と
の一致度から、フラッシュランプ点灯制御回路23およ
びフラッシュランプ点灯動作の不具合をチェックするこ
とが出来る。このチェック処理は、粒子検出系制御・演
算部75のなかで処理される。From the degree of coincidence between the count value of the flash lamp lighting frequency counter 73 and the calculated value of the flash lamp lighting frequency calculator 71, it is possible to check the malfunction of the flash lamp lighting control circuit 23 and the flash lamp lighting operation. This check processing is performed in the particle detection system control / arithmetic unit 75.
【0173】次に、実際の粒子サンプルを測定する段階
について説明する。なお、測定の処理は、上述した補正
係数を求める場合と変わらない。測定サンプルを粒子画
像解析装置にセットして、測定を開始する。この場合、
粒子検出条件は、先の標準粒子のように標準粒子だけを
対象にしないから、粒子検出条件は、より小さな粒子成
分を処理できるように、粒子検出条件を緩くする事が必
要である。Next, the step of measuring an actual particle sample will be described. Note that the measurement process is the same as that for obtaining the correction coefficient described above. The measurement sample is set in the particle image analyzer and the measurement is started. in this case,
Since the particle detection condition does not target only the standard particles like the above-mentioned standard particles, the particle detection condition needs to be relaxed so that a smaller particle component can be processed.
【0174】1つの粒子サンプルを粒子検出しながら、
粒子画像処理により粒子画像のパターン認識・分類処理
を続け、測定終了段階で次の処理を実行する。測定時間
内に通過した粒子数は、粒子検出カウンタ43に格納さ
れているから、この値をもとに画像処理粒子数計算部7
0にて予想される粒子画像処理数を計算する。画像処理
粒子数計算部70による計算は、上記式(1)〜式
(5)により実行する。While detecting one particle sample,
The pattern recognition / classification process of the particle image is continued by the particle image process, and the next process is executed at the measurement end stage. Since the number of particles passed within the measurement time is stored in the particle detection counter 43, the image processing particle number calculation unit 7 is based on this value.
Calculate the expected number of particle image processes at 0. The calculation by the image processing particle number calculation unit 70 is executed by the above formulas (1) to (5).
【0175】次に、サンプル流れと粒子画像撮像視野と
が一致しないため、粒子画像数の補正を行なう。上記の
ように測定した粒子画像有効計数Ksを予想される粒子
画像処理数に掛けて、実際の測定で画像処理した粒子数
を求める。この演算は、粒子検出系制御・演算部75で
行われる。Next, since the sample flow does not match the particle image pickup visual field, the number of particle images is corrected. The particle image effective count Ks measured as described above is multiplied by the expected particle image processing number to obtain the number of particles image-processed in the actual measurement. This calculation is performed by the particle detection system control / calculation unit 75.
【0176】次に、画像処理した粒子画像から、粒子検
出した粒子との対応を取る作業を実施する。具体的に
は、画像処理した粒子画像の個々の粒子の特徴パラメー
タのうち粒子サイズに相当するものに着目し、サイズの
大きい方から順に並べ替えを実施する。そして、上述の
ようにして求めた粒子画像有効計数Ksとの積を計算し
て予想される粒子画像処理数分とし、この数だけを粒子
検出された粒子画像と定める。この作業により、粒子検
出系で検出した粒子に相当する粒子画像が選ばれた事に
なる。この対応関係は、中央制御部29にて処理され
る。Next, the work for establishing correspondence with the detected particle is carried out from the image-processed particle image. Specifically, among the characteristic parameters of the individual particles of the image-processed particle image, attention is paid to those corresponding to the particle size, and the particles are rearranged in order from the larger size. Then, the product of the particle image effective count Ks obtained as described above is calculated and set as the expected number of particle image processes, and only this number is determined as the particle image in which particles have been detected. By this work, the particle image corresponding to the particles detected by the particle detection system is selected. This correspondence is processed by the central control unit 29.
【0177】パターン認識・分類処理された成分iのサ
ンプル中の個数Niは、粒子画像の個数niとして、上
記(7)より計算される。粒子濃度補正係数Kuを考慮
する場合には、上記式(8)の演算を行なう。ここで、
Nmは粒子検出系で計数された粒子個数で粒子検出カウ
ンタ43の計数値である。The number Ni of the pattern-recognized / classified component i in the sample is calculated from the above (7) as the number ni of particle images. When the particle concentration correction coefficient Ku is taken into consideration, the above equation (8) is calculated. here,
Nm is the number of particles counted by the particle detection system and is the count value of the particle detection counter 43.
【0178】これまでの説明では、粒子画像数に着目し
て述べてきたが、フラッシュランプ1の点灯回数に着目
して、粒子検出系を調整することができる。フラッシュ
ランプ1の点灯回数から、予想される粒子画像数を上記
式(5)から計算し、さらに、画像処理有効係数Ksを
掛けて、上述した操作を行なうものである。フラッシュ
ランプ点灯回数係数部73の計数値を用いると、より簡
単に粒子画像数を計算できる。In the above description, the number of particle images is focused on, but the particle detection system can be adjusted by focusing on the number of times the flash lamp 1 is turned on. The expected number of particle images is calculated from the number of times the flash lamp 1 has been turned on by the above equation (5), and is multiplied by the image processing effective coefficient Ks to perform the above-described operation. If the count value of the flash lamp lighting frequency coefficient unit 73 is used, the number of particle images can be calculated more easily.
【0179】なお、粒子画像有効係数および粒子濃度補
正係数の粒子個数を算出する場合、複数の粒子が連接し
てあたかも1個の粒子と見なされる場合がある。これ
は、粒子検出系および粒子画像処理の段階で生じる可能
性がある。粒子画像のパターン認識手法で連接粒子の存
在比率を決定し、これを基にして、上記補正を行なうこ
とが必要である。連接した粒子の存在比率が小さな場合
には、この影響は無視してもよい。When calculating the number of particles of the particle image effective coefficient and the particle concentration correction coefficient, a plurality of particles may be concatenated and regarded as one particle. This can occur during the particle detection system and particle image processing stages. It is necessary to determine the existence ratio of the connecting particles by the pattern recognition method of the particle image and perform the above correction based on this. When the abundance ratio of particles connected to each other is small, this effect can be ignored.
【0180】以上の粒子画像解析の処理の流れを図5に
示したフローチャートに従って説明する。
第1段階(S1):サイズの揃った粒子濃度の分かって
いる補正用標準粒子を測定する。測定対象は、補正係数
としての粒子画像有効係数Ksおよび粒子濃度補正係数
Kuである。この時、粒子検出条件を、標準粒子だけが
検出されるように設定する。The flow of the above particle image analysis processing will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First step (S1): The standard particles for correction, whose particle concentration is uniform and whose concentration is known, are measured. The measurement targets are the particle image effective coefficient Ks and the particle concentration correction coefficient Ku as the correction coefficient. At this time, the particle detection conditions are set so that only standard particles are detected.
【0181】第2段階(S2):測定結果のうち、粒子
検出系で検出した全粒子数、この値から予想される粒子
画像数、画像処理系で実際に処理した標準粒子に関する
画像処理粒子数、さらに、粒子濃度から予想される粒子
検出系で検出される粒子数をもとにして、粒子画像有効
係数Ksおよび粒子濃度補正係数Kuを計算から求め
る。計算式は上記式(1)〜式(6)を使用する。Second step (S2): Of the measurement results, the total number of particles detected by the particle detection system, the number of particle images expected from this value, the number of image-processed particles relating to the standard particles actually processed by the image-processing system Further, the particle image effective coefficient Ks and the particle concentration correction coefficient Ku are calculated based on the number of particles detected by the particle detection system which is expected from the particle concentration. As the calculation formula, the above formulas (1) to (6) are used.
【0182】第3段階(S3):粒子画像の撮像視野の
撮像位置を基にしたヒストグラムを作成する。Third step (S3): A histogram is created based on the image pickup position of the image pickup field of the particle image.
【0183】第4段階(S4):粒子画像有効係数K
s、粒子濃度補正係数Kuおよびサンプル流れの状態を
表示・出力する。Fourth stage (S4): Particle image effective coefficient K
s, the particle concentration correction coefficient Ku, and the state of the sample flow are displayed and output.
【0184】第5段階(S5):粒子画像有効係数Ks
および粒子濃度補正係数Kuの値と、サンプル流れの状
態とをチェックして、サンプル流れが正常か否かの判定
を行なう。正常ならば、測定対象である粒子サンプルを
測定する第6段階(S6)に進む。サンプル流れに異常
があれば第11段階(S11)に進む。Fifth step (S5): Particle image effective coefficient Ks
The value of the particle concentration correction coefficient Ku and the state of the sample flow are checked to determine whether the sample flow is normal. If normal, the process proceeds to the sixth step (S6) of measuring the particle sample to be measured. If the sample flow is abnormal, the process proceeds to the 11th step (S11).
【0185】第6段階(S6):測定サンプルが存在す
るかどうかの判断をし、もし、測定サンプルが存在しな
ければ粒子画像解析操作を終了する。測定サンプルが存
在すれば、第7段階(S7)に進む。Sixth step (S6): It is judged whether or not a measurement sample is present. If no measurement sample is present, the particle image analysis operation is terminated. If the measurement sample exists, the process proceeds to the seventh step (S7).
【0186】第7段階(S7):粒子検出条件を測定対
象粒子を検出する条件に設定して、実サンプルを測定
し、粒子画像解析を実行する。Seventh step (S7): The particle detection condition is set to the condition for detecting the particles to be measured, the actual sample is measured, and the particle image analysis is executed.
【0187】第8段階(S8):ここで、サンプル流れ
と粒子撮像視野との不一致に起因する粒子画像と検出粒
子との対応を行なう。つまり、粒子数補正演算を行う。
そのために、粒子画像有効係数Ksを使う。画像処理し
た全粒子画像から、検出系で検出されたであろう粒子画
像を選別する。この作業により、検出粒子と粒子画像と
の対応が取れる事になる。Eighth step (S8): Here, the particle image and the detected particle caused by the mismatch between the sample flow and the particle imaging visual field are associated with each other. That is, the particle number correction calculation is performed.
For that purpose, the particle image effective coefficient Ks is used. A particle image that is likely to be detected by the detection system is selected from all the image-processed particle images. By this operation, the detected particles and the particle image can be associated with each other.
【0188】第9段階(S9):粒子濃度補正係数Ku
を加えて、測定体積中にある粒子成分iの粒子数Ni、
さらに、粒子濃度を計算する。Ninth step (S9): Particle concentration correction coefficient Ku
And the number of particles Ni of the particle component i in the measurement volume,
In addition, the particle concentration is calculated.
【0189】第10段階(S10):粒子分析結果を表
示・出力する。そして、第6段階に戻って、測定サンプ
ルが存在するかどうかの判断をし、もし、測定サンプル
が存在しなければ粒子画像解析操作を終了する。測定サ
ンプルが存在すれば、第7段階(S7)に進む。Step 10 (S10): The particle analysis result is displayed and output. Then, returning to the sixth step, it is judged whether or not the measurement sample is present, and if the measurement sample is not present, the particle image analysis operation is ended. If the measurement sample exists, the process proceeds to the seventh step (S7).
【0190】第11段階(S11):第5段階におい
て、サンプル流れに異常があると、判断した場合には、
この第11段階において、サンプル流れの異常を表示・
出力して処理を中止する。Eleventh stage (S11): In the fifth stage, if it is determined that the sample flow is abnormal,
In this 11th stage, display of abnormal sample flow
Output and stop processing.
【0191】なお、サンプル測定モードに複数モードが
存在する場合には、各測定モード毎に調整を行なった
り、装置の動作チェックを各々の測定モードに対して実
行させる。当然、補正データとしての、粒子画像有効計
数Ksおよび粒子濃度補正係数Kuは各測定モードごと
に設定されている必要がある。サンプル流れの条件が違
うと、一般的に、粒子画像有効計数Ksおよび粒子濃度
補正係数Kuの値は変化するからである。When there are a plurality of sample measurement modes, adjustment is performed for each measurement mode, and the operation check of the apparatus is executed for each measurement mode. Naturally, the particle image effective count Ks and the particle concentration correction coefficient Ku as the correction data need to be set for each measurement mode. This is because the values of the particle image effective count Ks and the particle concentration correction coefficient Ku generally change when the conditions of the sample flow are different.
【0192】上述した、本発明の一実施形態に係るフロ
ー式粒子画像解析方法およびフロー式粒子画像解析装置
は、液体中に懸濁した生物サンプルや細胞、血液中の赤
血球や白血球などの血球成分、または尿中に存在する尿
沈渣成分の分類および分析に有効である。The above-described flow type particle image analysis method and flow type particle image analysis device according to one embodiment of the present invention are used for biological samples and cells suspended in a liquid, and blood cell components such as red blood cells and white blood cells in blood. Or, it is effective for classification and analysis of urinary sediment components present in urine.
【0193】特に、尿中の尿沈渣成分の粒子数の計数や
粒子の分類においては、サンプルごとに存在する粒子数
は数桁以上違う場合があるため、粒子検出手段による検
出した粒子に対し画像処理することは、サンプル液中の
粒子数情報を知る上で効果的である。Particularly, in counting the number of particles of the urinary sediment component in urine and classifying the particles, the number of particles existing in each sample may differ by several digits or more. The treatment is effective in knowing the information on the number of particles in the sample liquid.
【0194】尿沈渣成分では粒子の種類と大きさが非常
にバラエティに富み、粒子検出系の検出粒子と静止粒子
画像中の粒子との対応を正確に取ることが出来ないが、
本発明の実施形態により、正確な粒子計数、粒子分類、
粒子濃度を解析することができる。In the urinary sediment component, the types and sizes of particles are very diverse, and it is not possible to accurately correspond the detected particles of the particle detection system and the particles in the static particle image.
Accurate particle counting, particle classification,
The particle concentration can be analyzed.
【0195】上述した例は、粒子検出系の粒子検出とし
て、半導体レーザからのレーザ光束を検出光として用
い、粒子で散乱されたレーザ光束を利用する場合の例で
あるが、これに限らず粒子からの蛍光や透過光を利用す
ることもできるし、一次元イメージセンサにより粒子を
検出する方法や、粒子通過による電気抵抗変化により粒
子を検出する方法を利用することもできる。The above-described example is an example in which the laser light flux from the semiconductor laser is used as the detection light and the laser light flux scattered by the particles is used as the particle detection of the particle detection system, but the present invention is not limited to this. It is also possible to use fluorescence or transmitted light from the above, a method of detecting particles by a one-dimensional image sensor, or a method of detecting particles by a change in electric resistance due to passage of particles.
【0196】なお、これまでは画像取り込みにおいてT
Vカメラ撮像方式としてインターレース走査について説
明したが、ノンインターレース走査方式でも本発明を適
用することができ、上述した例と同様な効果を奏するこ
とができる。It should be noted that, up to now, in image capturing, T
Although the interlaced scanning has been described as the V camera imaging method, the present invention can be applied to the non-interlaced scanning method, and the same effect as the above-described example can be obtained.
【0197】[0197]
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、次のような効果がある。サンプル流れの状
態を定量化し、装置を最良な状態に維持すると共に、測
定データを適切に補正し、データの信頼性を向上させる
ことが可能なフロー式粒子画像解析方法及び装置を実現
することができる。Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects. It is possible to realize a flow type particle image analysis method and apparatus capable of quantifying the state of sample flow, maintaining the apparatus in an optimum state, appropriately correcting measured data, and improving the reliability of data. it can.
【0198】つまり、粒子検出系で検出した粒子と、撮
像された粒子画像のうち粒子検出系で検出した粒子との
対応をとるために、サンプル流れ幅が粒子画像撮像系の
視野と一致しない場合に生じるが、この影響を補正する
ために、粒子画像有効係数Ksを導入し粒子画像と粒子
検出粒子の対応をとるため、正しい粒子数の測定、粒子
濃度の算定ができる。That is, in order to make the particles detected by the particle detection system correspond to the particles detected by the particle detection system in the imaged particle image, the sample flow width does not match the visual field of the particle image imaging system. However, in order to correct this effect, the particle image effective coefficient Ks is introduced and the correspondence between the particle image and the particle detection particles is taken, so that the correct number of particles can be measured and the particle concentration can be calculated.
【0199】さらに、粒子画像有効係数Ksを、測定開
始前に標準粒子を使って測定することにより、粒子画像
解析装置のサンプル流れの状態をチェックすることがで
き、粒子画像の撮像位置の情報に基づいて、サンプル流
れの状態を把握することができる。Furthermore, by measuring the particle image effective coefficient Ks using standard particles before starting the measurement, the state of the sample flow of the particle image analyzer can be checked, and the information of the imaging position of the particle image can be obtained. On the basis of this, the state of the sample flow can be grasped.
【0200】また、同時に、測定系に存在する定量性誤
差要因や、配管系をサンプルが流れてくる段階で管壁の
付着している水溶液と置換して、サンプル粒子濃度が小
さくなるなどの測定系の系統的な誤差が生じる問題に対
しても、粒子濃度補正係数Kuをあらかじめ粒子濃度既
知の標準粒子を使って調べ、粒子画像測定データを補正
する手段を使用することにより、サンプル中の粒子濃度
をより正確に測定を行うことができる。At the same time, a measurement error such as a quantitative error factor existing in the measurement system, or replacement of the piping system with an aqueous solution adhering to the tube wall at the stage when the sample flows to reduce the sample particle concentration, etc. To solve the problem of systematic error in the system, the particle concentration correction coefficient Ku is checked in advance using standard particles having a known particle concentration, and a means for correcting the particle image measurement data is used to measure the particles in the sample. The concentration can be measured more accurately.
【図1】本発明の一実施形態に係るフロー式粒子画像解
析方法に用いられるフロー式粒子画像解析装置の概略構
成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a flow type particle image analysis apparatus used in a flow type particle image analysis method according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の例における粒子検出処理部の構成を示す
ブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a particle detection processing unit in the example of FIG.
【図3】図1の例における一画像粒子計数の信号タイミ
ング関係を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a signal timing relationship for counting one image particle in the example of FIG. 1.
【図4】粒子検出および静止粒子画像取り込みの概略説
明図である。FIG. 4 is a schematic explanatory diagram of particle detection and still particle image capturing.
【図5】本発明による粒子画像解析処理の流れを示すフ
ローチャートである。FIG. 5 is a flowchart showing a flow of particle image analysis processing according to the present invention.
【図6】粒子サンプル流れと粒子画像撮像視野との不一
致による撮像されない粒子の存在を示す概略図である。FIG. 6 is a schematic diagram showing the presence of unimaged particles due to a mismatch between the particle sample flow and the particle image imaging field of view.
1 フラッシュランプ
1a フラッシュランプ駆動回路
2 フィールドレンズ
3 顕微鏡コンデンサレンズ
5 顕微鏡対物レンズ
6 結像位置
7 投影レンズ
8 TVカメラ
11 視野絞り
12 開口絞り
15 半導体レーザ
16 コリメータレンズ
17 シリンドリカルレンズ
18、19 反射鏡
20 ビームスプリッタ
21 絞り
22 光検出回路
23 フラッシュランプ点灯制御回路
24 AD変換器
25 画像メモリ
26 画像処理制御回路
27 特徴抽出回路
28 識別回路
29 中央制御部
40 粒子検出系処理部
41 粒子検出レベル設定部
42 粒子検出パルス幅設定部
43 粒子検出カウンタ
44 粒子検出回路
70 画像処理粒子数計算部
71 フラッシュランプ点灯回数計算部
72 画像処理粒子数計数部
73 フラッシュランプ点灯回数計数部
75 粒子検出系制御・演算部
100 フローセル
101 画像撮像手段
102 粒子解析手段
103 粒子検出手段
110 サンプル流れ
Nf 測定時間にTVカメラが撮像出来るフレーム画像
の総数
Tm 測定時間
Tf 1フレーム時間
γ Nfのなかで実際のサンプル条件で粒子検出によ
り撮像されるフレーム数のNfに対する割合
Vg 画像取り込み領域体積に相当する体積
λ 画像取り込み領域体積に相当する体積Vgに存在
する平均粒子数
h 粒子検出によるフラッシュランプ点灯を画像取り
込み領域のどこで行うかにより決まる値で、0から1の
間の値
Vm 測定サンプル体積
Td 粒子検出ディレイ時間
Te 粒子画像がフラッシュランプ発光位置PからB端
まで流れるのに要する時間
Tg 粒子画像が画像のA端からB端まで流れるのに要
する時間
To 粒子画像が画像のA端からフラッシュランプ発光
位置Pまで流れるのに要する時間
Ks:粒子画像有効係数
Ku:粒子濃度補正係数1 Flash Lamp 1a Flash Lamp Drive Circuit 2 Field Lens 3 Microscope Condenser Lens 5 Microscope Objective Lens 6 Imaging Position 7 Projection Lens 8 TV Camera 11 Field Stop 12 Aperture Stop 15 Semiconductor Laser 16 Collimator Lens 17 Cylindrical Lens 18, 19 Reflector 20 Beam splitter 21 Aperture 22 Light detection circuit 23 Flash lamp lighting control circuit 24 AD converter 25 Image memory 26 Image processing control circuit 27 Feature extraction circuit 28 Identification circuit 29 Central control unit 40 Particle detection system processing unit 41 Particle detection level setting unit 42 Particle detection pulse width setting unit 43 Particle detection counter 44 Particle detection circuit 70 Image processing particle number calculation unit 71 Flash lamp lighting frequency calculation unit 72 Image processing particle number counting unit 73 Flash lamp lighting frequency counting unit 75 Particle detection system control Calculation unit 100 Flow cell 101 Image capturing means 102 Particle analyzing means 103 Particle detecting means 110 Sample flow Nf Total number of frame images that can be captured by the TV camera at the measurement time Tm Measurement time Tf 1 Frame time γ Nf under actual sample conditions Ratio of the number of frames imaged by particle detection to Nf Vg Volume equivalent to image capture area volume λ Average number of particles present in volume Vg equivalent to image capture area volume h Flash lamp lighting by particle detection where in image capture area A value determined depending on whether or not to carry out. Vm between 0 and 1 Vm Measurement sample volume Td Particle detection delay time Te Time required for particle image to flow from flash lamp emission position P to B end Tg Particle image from A end of image Time required to flow to B end To Particle image Time required to flow from the end A to the flash lamp emission position P Ks: particle image effective coefficient Ku: particle density correction coefficient
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 15/00 - 15/14 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 15/00-15/14
Claims (5)
ローセル中に流し、粒子検出系により上記サンプル中の
粒子数を計数する粒子検出段階と、上記フローセル中の
撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により
撮像する撮像段階と、画像解析手段により上記静止画像
中の粒子の形態学的分類を行う解析段階とを有するフロ
ー式粒子画像解析方法において、所定の粒子を含み粒子濃度の分かっている液体サンプル
を用意し、この粒子サンプルの測定時間中に通過した全
粒子数を計数し、通過した全粒子数から予想される画像
処理粒子数を計算し、 予想される画像処理粒子数に対する実際に画像処理した
粒子画像数の割合に基づいて粒子画像有効係数を求め、 更に、上記全粒子数と、予め分かっている粒子濃度から
予想される粒子検出数の割合に基づいて粒子濃度補正係
数を求める段階と、 サンプル測定段階において測定時間中に通過した全粒子
数を計数する段階と、 通過した全粒子数から予想される画像処理粒子数を計算
する段階と、 この予想される画像処理粒子数に先の粒子画像有効係数
と上記粒子濃度補正係数とを掛けて実効画像粒子数を計
算する段階と、 サンプル粒子画像のうちサイズの大きい方から上記実効
画像粒子数だけを測定粒子画像と定める段階と、 を備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。1. A particle detection step of flowing a liquid sample, in which particles to be measured are suspended, into a flow cell, and counting the number of particles in the sample by a particle detection system; and a step of detecting particles passing through an imaging region in the flow cell. In a flow-type particle image analysis method having an imaging step of capturing a still image with a particle imaging system and an analysis step of performing morphological classification of particles in the still image by image analysis means, a particle concentration including predetermined particles Known liquid sample
Was prepared, and all the particles that passed during the measurement time of this particle sample were prepared.
Image that counts the number of particles and is expected from the total number of particles that have passed
Calculated the number of particles processed, and actually processed the image against the expected number of particles processed.
Obtain the particle image effective coefficient based on the ratio of the number of particle images, and further from the total number of particles and the previously known particle concentration.
A particle concentration correction factor based on the expected number of detected particles.
The step of obtaining the number, the step of counting the total number of particles passed during the measurement time in the sample measurement step, the step of calculating the expected image processing number from the total number of particles passed, and the expected image processing Particle image effective coefficient before particle number
And a step of calculating the number of effective image particles by multiplying by the above-mentioned particle concentration correction coefficient, and a step of determining only the above-mentioned effective image particle number as a measurement particle image from a sample particle image having a larger size. Flow type particle image analysis method.
において、粒子画像有効係数を決める際、粒子の測定時
間中に通過した全粒子数を計数する段階にて、粒子検出
条件を通常の粒子検出条件とは別に、対象粒子以外の微
小粒子を検出しないように、粒子検出条件を切り替える
ことを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。2. The flow-type particle image analysis method according to claim 1 , wherein when determining the particle image effective coefficient, a particle detection condition is set to a normal particle detection condition at the step of counting the total number of particles that have passed during the particle measurement time. In addition to the particle detection conditions, a flow type particle image analysis method is characterized in that the particle detection conditions are switched so that fine particles other than the target particles are not detected.
において、あらかじめ測定した粒子画像有効係数の大小
を所定の値と比較する段階と、測定した粒子画像有効係
数が所定の値より大きければサンプル流が正常に流れて
いると判断し、小さけれぱサンプル流れが正常でないと
判断する段階と、をさらに備えることを特徴とするフロ
ー式粒子画像解析方法。3. The flow-type particle image analysis method according to claim 1 , wherein the magnitude of the particle image effective coefficient measured in advance is compared with a predetermined value, and if the measured particle image effective coefficient is larger than the predetermined value. A flow-type particle image analysis method, further comprising: determining that the sample flow is flowing normally, and determining that the small flow sample flow is not normal.
ローセル中に流し、粒子検出系による上記サンプル中の
粒子数を計数する粒子検出手段と、上記フローセル中の
撮像領域を通過する粒子の静止画像を粒子撮像系により
撮像する撮像手段と、画像解析手段により上記静止画像
中の粒子の形態学的分類を行う解析手段とを有するフロ
ー式粒子画像解析装置において、上記粒子検出手段は、所定の粒子を含み粒子濃度の分か
っている液体サンプルを用意し、この粒子サンプルの測
定時間中に通過した全粒子数を計数し、通過した全粒子
数から予想される画像処理粒子数を計算し、 予想される画像処理粒子数に対する実際に画像処理した
粒子画像数の割合に基づいて求められた粒子画像有効係
数と、更に、上記全粒子数と、予め分かっている粒子濃
度から予想される粒子検出数の割合に基づいて求められ
た粒子濃度補正係数を記憶する記憶手段と、 サンプル測定段階において測定時間中に通過した全粒子
数を計数する手段と、 通過した全粒子数から予想される画像処理粒子数を計算
する手段と、 この予想される画像処理粒子数に上記粒子画像有効係数
及び粒子濃度補正係数を掛けて実効画像粒子数を計算す
る手段と、 サンプル粒子画像のうちサイズの大きい方から上記実効
画像粒子数だけを測定粒子画像と定める手段と、 を備え
ることを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。4. A particle detecting means for flowing a liquid sample, in which particles to be measured are suspended, into a flow cell, and counting the number of particles in the sample by a particle detection system, and of particles passing through an imaging region in the flow cell. In a flow-type particle image analysis device having an image pickup means for picking up a still image by a particle image pickup system and an analysis means for performing morphological classification of particles in the still image by the image analysis means, the particle detection means has a predetermined size. Of particle concentration including particles of
Prepared liquid sample and measure the particle sample.
Count the total number of particles that passed in a fixed time
Calculate the expected number of image processing particles from the number, and actually perform image processing against the expected number of image processing particles
Particle image effective coefficient calculated based on the ratio of the number of particle images
Number, and the total number of particles above, and the particle concentration
Is calculated based on the percentage of particle detection
Storage means for storing the particle concentration correction coefficient and all particles that have passed during the measurement time during the sample measurement stage.
A means to count the number and calculate the expected number of image processing particles from the total number of particles passed
And the particle image effective coefficient to the expected number of image processing particles.
And calculate the effective image particle number by multiplying by the particle concentration correction coefficient
From the larger one of the sample particle image and the sample particle image
A flow-type particle image analysis device , comprising: a unit for determining only the number of image particles as a measured particle image .
において、複数の測定モードを有する場合に、各測定モ
ードごとに粒子画像有効係数を定める手段を、さらに備
えることを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。5. The flow type particle image analyzer according to claim 4 , further comprising means for determining a particle image effective coefficient for each measurement mode when the flow type particle image analysis apparatus has a plurality of measurement modes. Particle image analyzer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25052497A JP3494559B2 (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Flow type particle image analysis method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25052497A JP3494559B2 (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Flow type particle image analysis method and apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1194727A JPH1194727A (en) | 1999-04-09 |
| JP3494559B2 true JP3494559B2 (en) | 2004-02-09 |
Family
ID=17209183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25052497A Expired - Fee Related JP3494559B2 (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Flow type particle image analysis method and apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3494559B2 (en) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101135138B1 (en) * | 2003-08-13 | 2012-04-16 | 루미넥스 코포레이션 | Methods for controlling one or more parameters of a flow cytometer type measurement system |
| JP4744132B2 (en) * | 2004-12-09 | 2011-08-10 | シスメックス株式会社 | Display value creation method for standard solution for particle image analyzer |
| JP2007309895A (en) * | 2006-05-22 | 2007-11-29 | Univ Nagoya | Particle analyzer |
| JP6282969B2 (en) * | 2014-10-31 | 2018-02-21 | 日本光電工業株式会社 | Flow analysis apparatus, flow cytometer, and flow analysis method |
| JP6683362B2 (en) | 2016-04-19 | 2020-04-22 | メタウォーター株式会社 | A method for estimating the number of fine particles in a sample |
| CN107457189A (en) * | 2017-08-07 | 2017-12-12 | 南京理工大学 | A kind of bulky grain particle diameter is analyzed in real time and high speed separation system |
| US11959908B2 (en) | 2019-12-17 | 2024-04-16 | Arkray, Inc. | Measurement device and measurement method |
| EP4657134A1 (en) * | 2024-05-28 | 2025-12-03 | Leica Microsystems CMS GmbH | Control device, microscope and method for controlling a microscope |
-
1997
- 1997-09-16 JP JP25052497A patent/JP3494559B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1194727A (en) | 1999-04-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3127111B2 (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| US5159642A (en) | Particle image analyzing apparatus | |
| JP5470625B2 (en) | Particle image analysis method and apparatus | |
| US5457526A (en) | Apparatus for analyzing particles in fluid samples | |
| JP3290786B2 (en) | Particle analyzer | |
| JP5380026B2 (en) | Sample imaging device | |
| JP3282458B2 (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| JP3494559B2 (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| JPH0579970A (en) | Particle analyzer | |
| JP2004279032A (en) | Method and apparatus for analyzing particle image in liquid sample | |
| JPH08210961A (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| JP2826448B2 (en) | Flow type particle image analysis method and flow type particle image analysis device | |
| JP4554810B2 (en) | Particle analyzer and particle analysis method | |
| JPH07294414A (en) | Particle image analysis method and apparatus | |
| JP3165309B2 (en) | Particle image analyzer | |
| JP2959813B2 (en) | Particle image analyzer | |
| JPH04337460A (en) | Device for analyzing cell in urine | |
| JP2002062251A (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| JP2002277381A (en) | Particle analyzer | |
| EP0545348A1 (en) | Blood cell analyzer | |
| JP3165272B2 (en) | Flow type particle image analysis method and flow type particle image analysis device | |
| JPH06221986A (en) | Flow-type method and apparatus for analyzing particle image | |
| JP2002071548A (en) | Flow type particle image analysis method and apparatus | |
| JPH0961339A (en) | Flow-type particle image analysis method and apparatus | |
| JPH11337470A (en) | Flow-type particle image analyzer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071121 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081121 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081121 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091121 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101121 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101121 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131121 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |