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JP3501671B2 - Defect picture element coordinate identification device for display device - Google Patents
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JP3501671B2 - Defect picture element coordinate identification device for display device - Google Patents

Defect picture element coordinate identification device for display device

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JP3501671B2
JP3501671B2 JP00587199A JP587199A JP3501671B2 JP 3501671 B2 JP3501671 B2 JP 3501671B2 JP 00587199 A JP00587199 A JP 00587199A JP 587199 A JP587199 A JP 587199A JP 3501671 B2 JP3501671 B2 JP 3501671B2
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picture element
defect
defective
liquid crystal
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ドライバー実装前
のパネル形態及びドライバー実装後のモジュール形態を
問わず、表示装置の製造工程で発生する表示不良品の検
査及び修正を効率良く行うための表示装置の欠陥絵素座
標特定装置に関し、特に、表示装置が直視タイプの液晶
表示装置である場合に好適に使用される表示装置の欠陥
絵素座標特定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display for efficiently inspecting and correcting display defective products generated in the manufacturing process of a display device regardless of the panel form before the driver is mounted and the module form after the driver is mounted. More specifically, the present invention relates to a defective pixel coordinate specifying device for a display device, which is preferably used when the display device is a direct-view type liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、液晶表示装置は、液晶表示パネ
ルにドライバーや駆動回路を実装することによりモジュ
ール化される。その後、用途によって、例えば、プロジ
ェクション等の投影タイプとして使用されるものは、液
晶表示装置を光源ランプや投影レンズ等の光学系と組み
合わせる。一方、液晶テレビジョンセットや液晶ディス
プレイ等の直視タイプとして使用されるものは、透過型
液晶表示装置をバックライトと組み合わせたり、反射型
液晶表示装置をフロントライトと組み合わせたりするこ
とが多い。
2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display device is modularized by mounting a driver and a drive circuit on a liquid crystal display panel. Then, depending on the application, for example, those used as a projection type such as projection, the liquid crystal display device is combined with an optical system such as a light source lamp or a projection lens. On the other hand, those used as a direct-view type such as a liquid crystal television set and a liquid crystal display often combine a transmissive liquid crystal display device with a backlight and a reflective liquid crystal display device with a front light.

【0003】このような液晶表示装置を出荷する際に
は、点灯不良品の市場への流出を防止するため、通常、
パネル形態及びモジュール形態の各々の状態において点
灯検査を実施している。
When shipping such a liquid crystal display device, in order to prevent defective lighting products from leaking to the market, it is usually
The lighting inspection is performed in each state of the panel form and the module form.

【0004】この点灯検査では、液晶表示装置の点灯状
態が規定基準を満たしているか否かを判断し、その結
果、規定の基準を満たしていないものは不合格として市
場に出荷されない。
In this lighting inspection, it is determined whether or not the lighting state of the liquid crystal display device satisfies the prescribed standard, and as a result, those which do not satisfy the prescribed standard are rejected and not shipped to the market.

【0005】しかし、不合格品と判断された液晶表示装
置でも、不良の発生具合によっては配線パターン等の修
正を行うことによって、規定の基準をクリアできる場合
があり、一度不合格になった表示装置であっても修正に
より良品として救済できるものもある。
However, even a liquid crystal display device determined to be a rejected product may be able to clear the prescribed standard by modifying the wiring pattern or the like depending on the occurrence of a defect. Even some devices can be repaired as good products by modification.

【0006】この欠陥修正工程についても、液晶表示装
置の用途によって異なる。例えば、パーソナルコンピュ
ーター、液晶TV(テレビジョン)や携帯型情報端末
(PDA:Personal Degital Ass
istant)等のいわゆる直視タイプと、プロジェク
ターやOHP等の投影タイプとでは、修正する絵素の位
置を特定するための座標特定工程及び修正工程が以下の
ように異なっていた。
This defect correction process also differs depending on the application of the liquid crystal display device. For example, a personal computer, a liquid crystal TV (television), or a personal digital assistant (PDA).
The so-called direct-view type such as istant) and the projection type such as a projector and OHP differ in the coordinate specifying step and the correcting step for specifying the position of the pixel to be corrected as follows.

【0007】まず、直視タイプの液晶表示装置を実装前
のパネル形態で欠陥修正する場合について説明する。
First, a case will be described in which a direct view type liquid crystal display device is repaired in a panel form before mounting.

【0008】液晶表示装置に対して、予めバックライト
上で点灯直視検査を行って点欠陥や断線等の欠陥を確認
する。そして、図11(a)及び図11(b)に示すよ
うに、液晶表示装置1のカラーフィルター形成側基板
(以下、CF基板と称する)1bのガラス表面に直接、
検査員が欠陥絵素周辺の概略位置にマーキング26を行
い、次工程の修正工程へと搬送される。なお、この図1
1(b)において、1aは薄膜トランジスタ形成側基板
(以下、TFT基板と称する)を示す。
The liquid crystal display device is subjected in advance to a direct lighting inspection on a backlight to confirm defects such as point defects and disconnections. Then, as shown in FIGS. 11A and 11B, directly on the glass surface of the color filter forming side substrate (hereinafter referred to as CF substrate) 1b of the liquid crystal display device 1,
An inspector makes a marking 26 at a rough position around the defective picture element and is conveyed to the next correction step. It should be noted that this FIG.
In 1 (b), 1a indicates a thin film transistor formation side substrate (hereinafter referred to as a TFT substrate).

【0009】修正工程では、図12及び図13に示すよ
うに、液晶表示装置1をマーキング26が施されたCF
基板1b側を下面にしてセットプレート2にセットし、
その後、液晶表示装置1の端子部の下方に位置している
プローブピン35により圧接する。液晶表示装置1はプ
ローブピン35を介して点灯信号入力装置(図示せず)
からの信号により点灯される。
In the correction step, as shown in FIGS. 12 and 13, the liquid crystal display device 1 is provided with a CF having markings 26.
Set the substrate 1b side down on the set plate 2,
After that, the probe pins 35 located below the terminals of the liquid crystal display device 1 press-contact with each other. The liquid crystal display device 1 is a lighting signal input device (not shown) via the probe pin 35.
It is turned on by the signal from.

【0010】検査員は、TFT基板1aのガラスを通し
てプローブピン35の下方に位置する光源36からの照
明によって、前工程で予めマーキング26が施された位
置を目視により観察する。そして、マーキング26位置
を確認しながら、その概略位置まで操作ボード38を操
作して、XYテーブル15を移動させる。
The inspector visually observes the position where the marking 26 is previously made in the previous step by illumination from the light source 36 located below the probe pin 35 through the glass of the TFT substrate 1a. Then, while confirming the position of the marking 26, the operation board 38 is operated to the approximate position to move the XY table 15.

【0011】液晶表示装置1が搬送された上方には、C
CDカメラ5とリペア用レーザー37とがその光軸を一
致させて設置されている。検査員は、倍率を変更したり
しながらモニター11に拡大された映像を見て、欠陥が
確認された絵素の位置を特定して修正箇所を絞り込む。
そして、配線パターンをレーザーによって切断したり、
絵素自体の黒点化を行ったりして、欠陥絵素の修正等を
行っていた。なお、この図13において、4は顕微鏡筒
を示す。
On the upper side where the liquid crystal display device 1 is conveyed, C
The CD camera 5 and the repair laser 37 are installed with their optical axes aligned. The inspector looks at the enlarged image on the monitor 11 while changing the magnification, specifies the position of the picture element in which the defect is confirmed, and narrows down the corrected portion.
And cutting the wiring pattern with a laser,
The picture elements themselves were made into black dots, and the defective picture elements were corrected. In addition, in FIG. 13, reference numeral 4 denotes a microscope cylinder.

【0012】次に、投影タイプの液晶表示装置を実装後
のモジュール形態で欠陥修正する場合について説明す
る。
Next, a description will be given of a case where a defect is corrected in a module type after mounting a projection type liquid crystal display device.

【0013】投影タイプの液晶表示装置について、その
検査及び欠陥位置の特定方法は、例えば特開平9−73
059号公報や特開平10−39268号公報に開示さ
れている。この投影タイプの液晶表示装置においては、
最終製品の使用形態に近づけるために、図14に示すよ
うに、液晶プロジェクション41に液晶表示装置1をセ
ットしてスクリーン42に投影した状態で、製品と全く
同一の光学系を用いて検査及び欠陥絵素の位置特定を行
っていた。
Regarding the projection type liquid crystal display device, the inspection method and the defect position specifying method are described in, for example, JP-A-9-73.
No. 059 and Japanese Patent Laid-Open No. 10-39268. In this projection type liquid crystal display device,
In order to approximate the usage pattern of the final product, as shown in FIG. 14, with the liquid crystal display device 1 set on the liquid crystal projection 41 and projected on the screen 42, inspection and defects are performed using the same optical system as the product. The position of the picture element was specified.

【0014】しかしながら、液晶プロジェクション41
の投影時には、概して、液晶表示装置1のすぐ近くに投
影レンズや偏光板という障害物が配置されているため、
欠陥絵素をスクリーン42上では判別できても、その欠
陥絵素の位置を示すためのマーキングを直接液晶表示装
置の表示面に施すことはできない。このため、図14に
示すような座標特定装置を用いて欠陥絵素の位置を求め
た後、欠陥絵素の修正を行っていた。なお、図14
(a)は上面図、図14(b)は側面図であり、8は透
過照明を示し、15は精密XYテーブルを示す。
However, the liquid crystal projection 41
In general, when projecting, the obstacles such as the projection lens and the polarizing plate are arranged in the immediate vicinity of the liquid crystal display device 1.
Even if the defective picture element can be identified on the screen 42, the marking for indicating the position of the defective picture element cannot be directly provided on the display surface of the liquid crystal display device. Therefore, after the position of the defective picture element is obtained by using the coordinate specifying device as shown in FIG. 14, the defective picture element is corrected. Note that FIG.
(A) is a top view, FIG.14 (b) is a side view, 8 shows transmitted illumination, 15 shows a precision XY table.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】ところで、昨今の液晶
業界の動向を鑑みると、液晶表示装置自体の価格が急激
に下落しており、その反面、生産数は増加していく傾向
にある。
In view of the recent trends in the liquid crystal industry, the price of the liquid crystal display device itself has fallen sharply, while the number of products produced tends to increase.

【0016】特に、直視タイプの液晶表示装置は、今ま
で主流であったパーソナルコンピューター等のOA分野
以外の用途でも様々な分野での用途が期待されており、
増産が見込まれている。
In particular, direct-viewing type liquid crystal display devices are expected to be used in various fields other than the OA field such as personal computers, which have been mainstream until now,
Increased production is expected.

【0017】このため、上述したような従来の座標特定
装置や欠陥修正装置を用いた方法では、以下のような問
題があった。
Therefore, the method using the conventional coordinate specifying device or defect correcting device as described above has the following problems.

【0018】まず、予め検査工程でマーキングが施され
た液晶表示装置を修正装置上にセットし、検査員が目視
によってマーキング位置を確認しながらXYテーブルを
移動させて、顕微鏡の視野範囲に映し出される位置まで
液晶表示装置を移動させる。そして、倍率を変更したり
しながら修正箇所を絞り込んで配線パターンをレーザー
により切断したり、絵素自体を黒点化したりして修正を
行う。
First, a liquid crystal display device, which has been marked in the inspection process in advance, is set on a correction device, and an inspector moves the XY table while visually confirming the marking position, and is displayed in the visual field range of the microscope. Move the liquid crystal display to the position. Then, the modification is narrowed down while changing the magnification, the wiring pattern is cut by a laser, and the picture element itself is made into a black dot to carry out the modification.

【0019】この修正までに要する付帯作業時間、即
ち、欠陥絵素の確認と修正箇所の特定に要する作業に非
常に多くの時間が費やされている。このことが欠陥修正
装置において1枚の表示装置の修正にかかる時間を長く
する(タクトを落とす)原因となっていた。
A great deal of time is spent on the incidental work time required for the correction, that is, the work required to confirm the defective picture element and specify the repaired portion. This has been a cause of prolonging the time (reducing the takt time) required to repair one display device in the defect repairing device.

【0020】これを防ぐために単純に欠陥修正装置の台
数を増やすという方法は、欠陥修正装置自体が非常に高
価で大がかりであり、さらに、装置の設置スペースも大
きいため、現実的ではない。このままでは今後の急激な
増産に対応することができないため、欠陥修正装置のタ
クトを上げる必要がある。
The method of simply increasing the number of defect repairing devices in order to prevent this is not practical because the defect repairing device itself is very expensive and large-scale and the installation space of the device is large. As it is, it will not be possible to cope with the rapid increase in production in the future, so it is necessary to increase the tact time of the defect correction device.

【0021】一方、従来の投影タイプの液晶表示装置の
検査においては、上述したように予め前工程で欠陥絵素
位置を特定できる座標特定装置が用いられている。しか
し、この座標特定装置は、製品と全く同一の光学系を用
いて画像を投影しながら検査及び位置特定を行う必要が
あり、製品の光学系は概してその機種毎に大きく異なる
ため、機種切り換えに膨大な時間がかかり、座標特定装
置を機種毎に製作する必要があった。
On the other hand, in the inspection of the conventional projection type liquid crystal display device, as described above, the coordinate specifying device capable of specifying the position of the defective pixel in advance is used in advance. However, this coordinate identification device needs to perform inspection and position identification while projecting an image using the same optical system as the product, and since the optical system of the product is largely different for each model, model switching is required. It took an enormous amount of time, and it was necessary to manufacture the coordinate identification device for each model.

【0022】さらに、投影タイプの座標特定装置におい
ては、スクリーンに液晶表示装置の表示画面を投影する
ため、装置の設置スペースが大きくなる。加えて、装置
周辺を暗室化する必要があるので装置設置環境が大がか
りとなり、しかも、暗室内での投影像の検査が必要であ
るという観点から、検査員の目への負担が大きく、検査
員の視力が低下する原因になっていた。
Further, in the projection type coordinate specifying device, since the display screen of the liquid crystal display device is projected on the screen, the installation space of the device becomes large. In addition, since it is necessary to create a dark room around the device, the environment in which the device is installed becomes large, and in addition, it is necessary to inspect the projected image in the dark room. Had caused a decrease in his eyesight.

【0023】本発明は、このような従来技術の課題を解
決すべくなされたものであり、迅速かつ確実に表示装置
の欠陥絵素位置の座標を特定することができる表示装置
の欠陥絵素座標特定装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to quickly and surely specify the coordinates of the defective pixel position of the display device, and the defective pixel coordinates of the display device. The purpose is to provide a specific device.

【0024】[0024]

【課題を解決するための手段】本発明の表示装置の欠陥
絵素座標特定装置は、表示装置を支持して所定の位置に
移動させる移動手段と、該移動手段にて支持された該表
示装置に表示信号を付与して各絵素を駆動させる駆動回
路と、該駆動回路によって駆動される該表示装置の各
素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素
確定手段と、確定された欠陥絵素の位置座標を特定する
座標特定手段と、特定された欠陥絵素の位置座標を記録
する記録手段とを有し、前記欠陥絵素確定手段は、該表
示装置の表示面を観察するための顕微鏡筒と、該顕微鏡
筒を介して該表示面の画像をとらえる画像撮像手段と、
該表示面における光学的変化の確認箇所を照らす光エネ
ルギー照射手段を有し、該光エネルギー照射手段は、該
確認箇所を、該顕微鏡筒と光軸が一致した状態で該表示
面の両側からそれぞれ光を照射する一対の照明を有する
ものであり、そのことにより上記目的が達成される。
A defective picture element coordinate specifying device for a display device according to the present invention comprises moving means for supporting the display device and moving it to a predetermined position, and the display device supported by the moving means. A drive circuit for applying a display signal to each pixel to drive each pixel, and a defective pixel determining means for determining a defective pixel by capturing an optical change of each pixel of the display device driven by the drive circuit. A coordinate specifying means for specifying the position coordinates of the confirmed defect picture element and a recording means for recording the position coordinate of the specified defect picture element , wherein the defect picture element confirming means is the table.
And a microscope cylinder for observing the display surface of the display device.
Image capturing means for capturing an image of the display surface through a cylinder;
Light energy that illuminates the location where the optical change is confirmed on the display surface.
And a light energy irradiating means,
Display the confirmation location with the optical axis aligned with the microscope tube
It has a pair of illuminations which respectively radiate light from both sides of the surface, thereby achieving the above object.

【0025】本発明の表示装置の欠陥絵素座標特定装置
は、表示装置を支持して所定の位置に移動させる移動手
段と、該移動手段にて支持された該表示装置に表示信号
を付与して各絵素を駆動させる駆動回路と、該駆動回路
によって駆動される該表示装置の各絵素の光学的変化を
とらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素確定手段と、確定
された欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段と、
特定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを
有し、前記欠陥絵素確定手段は、該表示装置の表示面を
観察するための顕微鏡筒と、該顕微鏡筒を介して該表示
面の画像をとらえる画像撮像手段と、該表示面における
光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギー照射手段を
有し、該光エネルギー照射手段は、該確認箇所に対して
斜め方向から光を照射する照明を有するものであり、そ
のことにより上記目的が達成される。
Defect picture element coordinate specifying device for display device of the present invention
Is a moving hand that supports the display device and moves it to a predetermined position.
And a display signal on the display device supported by the moving means.
And a drive circuit for driving each picture element by applying
The optical change of each picture element of the display device driven by
Defect picture element determining means for determining and determining defect picture element
Coordinate specifying means for specifying the position coordinates of the defective picture element,
A recording means for recording the position coordinates of the identified defective picture element
And the defective picture element determining means has a display surface of the display device.
A microscope tube for observing, and the display through the microscope tube
Image capturing means for capturing an image of the surface, and
A means for irradiating light energy that illuminates the location where optical changes are confirmed
The light energy irradiating means has
It has lighting that emits light from an oblique direction.
The above object is achieved by the above.

【0026】前記光エネルギー照射手段は、ハロゲン光
源とファイバーからなっていてもよい。
The light energy irradiating means may be composed of a halogen light source and a fiber.

【0027】前記光エネルギー照射手段は、発光ダイオ
ードからなっていてもよい。
The light energy irradiation means may be a light emitting diode.

【0028】前記光エネルギー照射手段は、レーザー光
発生装置であってもよい。
The light energy irradiating means may be a laser light generator.

【0029】前記光エネルギー照射手段から出射される
光の前記表示装置に対する入射角及び照明強度を各々調
整する調整手段を有しているのが好ましい。
It is preferable to have adjusting means for adjusting the incident angle and the illumination intensity of the light emitted from the light energy irradiating means with respect to the display device.

【0030】前記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素の
光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠陥
絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示する
目印手段を有しているのが好ましい。
Marking means for displaying an alignment reference for specifying the position of the defective picture element is displayed on the screen on which an image is displayed based on the optical change of each picture element captured by the defective picture element determining means. It is preferable to have.

【0031】前記記録手段は、表示装置の各製造工程、
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えている
のが好ましい。
The recording means is used in each manufacturing process of the display device,
It is preferable to provide information transmitting means capable of transmitting information to and from the information concentrating device to which various kinds of information obtained in the inspection process, the coordinate specifying process and the defect correcting process are transferred and concentrated.

【0032】以下に、本発明の作用について説明する。The operation of the present invention will be described below.

【0033】本発明にあっては、表示装置を支持して移
動させる移動手段と、移動手段にて支持された表示装置
を点灯させるための駆動回路と、点灯された表示装置の
絵素に光を照射し、その光学的変化をとらえて欠陥絵素
を確定できる欠陥絵素確定手段と、欠陥絵素の位置座標
を特定する座標特定手段と、欠陥絵素の位置座標を記録
する記録手段とを有しており、欠陥絵素確定手段は、表
示装置の表示面を観察する顕微鏡筒と、顕微鏡筒を介し
て表示面の画像をとらえる画像撮像手段と、表示面にお
ける光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギー照射手
段を有し、光エネルギー照射手段は、確認箇所を、顕微
鏡筒と光軸が一致した状態で表示面の両側からそれぞれ
光を照射する一対の照明を有しているので、表示装置が
モジュール形態であってもパネル形態であっても、欠陥
絵素の確認及び修正箇所の特定を迅速に行うことが可能
である。
In the present invention, the moving means for supporting and moving the display device, the drive circuit for turning on the display device supported by the moving means , and the illuminated display device. Defect image element determining means for irradiating a pixel with light and capturing the optical change to determine the defective pixel, coordinate specifying means for specifying the position coordinates of the defective pixel, and recording the position coordinates of the defective pixel has a recording means for, the defect pixel determination means, the table
Through the microscope tube for observing the display surface of the display device.
Image capturing means for capturing an image of the display surface with the
Light energy illuminating hand illuminating the location where the optical change is confirmed
The light energy irradiation means has a step
From both sides of the display surface with the optical axis aligned with the lens barrel
Since the display device has a pair of illuminations for irradiating light, whether the display device has a module form or a panel form, it is possible to quickly confirm a defective pixel and specify a correction portion.

【0034】本発明にあっては、表示装置を支持して移
動させる移動手段と、移動手段にて支持された表示装置
を点灯させるための駆動回路と、点灯された表示装置の
絵素に光を照射し、その光学的変化をとらえて欠陥絵素
を確定できる欠陥絵素確定手段と、欠陥絵素の位置座標
を特定する座標特定手段と、欠陥絵素の位置座標を記録
する記録手段とを有しており、欠陥絵素確定手段は、表
示装置の表示面を観察する顕微鏡筒と、顕微鏡筒を介し
て表示面の画像をとらえる画像撮像手段と、表示面にお
ける光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギー照射手
段を有し、光エネルギー照射手段は、確認箇所に対して
斜め方向から光を照射する照明を有しているので、表示
装置がモジュール形態であってもパネル形態であって
も、欠陥絵素の確認及び修正箇所の特定を迅速に行うこ
とが可能である。
In the present invention, the display device is supported and transferred.
Moving means for moving and display device supported by the moving means
Drive circuit for turning on the
Defect pixels by irradiating the pixels with light and capturing the optical changes
Defect picture element determining means and the position coordinates of the defect picture element
Record the position coordinates of the defective picture element
And a recording means for
Through the microscope tube for observing the display surface of the display device.
Image capturing means for capturing an image of the display surface with the
Light energy illuminating hand illuminating the location where the optical change is confirmed
It has steps and the light energy irradiation means is
Since it has lighting that emits light from an oblique direction,
Even if the device is modular,
In addition, it is possible to quickly check defective pixels and identify repaired parts.
And are possible.

【0035】上記欠陥絵素確定手段は、CCD(電荷結
合素子)カメラのような光学的変化を取り込む手段によ
り光学的変化をとらえることができる。そして、上記光
エネルギー照射手段は、光学的変化の確認箇所を明確化
するために、顕微鏡筒と光軸が一致した状態で表示面の
両側からそれぞれ光を照射し、または、斜め方向から光
を照射して、表示面の光学的変化をCCDカメラへの映
像取り込み用に用いられる。例えば、ハロゲン光源とフ
ァイバーからなる照明を用いれば、光が直線的な経路を
辿るので、周囲の不要な箇所に逃げることがない。又
は、集光レンズで集光された照明や発光ダイオード等、
表示装置に応じた最適な照明手段を用いればよい。或い
は、レーザー光発生装置であってもよく、レーザーポイ
ンター等を用いれば、指示手段と角度調整機構とを設け
て視野範囲を指示可能である。
The defective picture element determining means is a CCD (charge connection).
Compound device) By means of capturing optical changes such as a camera
Optical changes can be captured. And the light
Energy irradiation means clarifies where optical changes are confirmed
In order to adjust the optical axis of the microscope tube,
Irradiate light from both sides, or light from diagonal directions.
To illuminate the screen with the optical changes on the display surface.
Used for image capture. For example, if an illumination composed of a halogen light source and a fiber is used, the light follows a linear path, so that it does not escape to an unnecessary place around. Or, lighting or light-emitting diode etc. condensed by a condenser lens,
It is only necessary to use the optimum illumination means according to the display device. Alternatively, a laser light generator may be used, and if a laser pointer or the like is used, it is possible to indicate the visual field range by providing an indicating means and an angle adjusting mechanism.

【0036】さらに、光エネルギー照射手段から出射さ
れる光の表示装置に対する入射角度及び照明強度を各々
調整する調整手段を設ければ、表示装置に応じた最適な
照明光を用いて欠陥絵素の特定を行うことが可能であ
る。
Further, if adjusting means for adjusting the incident angle of the light emitted from the light energy irradiating means to the display device and the illumination intensity are respectively provided, the optimum illuminating light suitable for the display device is used to detect the defective pixel. It is possible to specify.

【0037】上記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素の
光学的変化に基づいてモニター等の画面上に画像が表示
される。その画面上にクロスライン等の位置合わせ基準
を表示させれば、欠陥絵素を所定の位置まで移動させる
ための基準として、容易に座標位置特定が可能である。
An image is displayed on the screen of a monitor or the like based on the optical change of each picture element captured by the defective picture element determining means. If the alignment reference such as a cross line is displayed on the screen, the coordinate position can be easily specified as the reference for moving the defective picture element to a predetermined position.

【0038】上記記録手段は、表示装置の各製造工程、
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を設けるのが
好ましい。これにより、情報伝達手段を介して得られる
各種情報に基づいて、検査や欠陥修正等を行うことがで
きるので、作業効率が向上する。
The recording means is used in each manufacturing process of the display device.
It is preferable to provide an information transmitting means capable of transmitting information to and from the information concentrating device to which various information obtained in the inspection process, the coordinate specifying process and the defect correcting process are transferred and concentrated. As a result, it is possible to perform inspection, defect correction, and the like based on various information obtained through the information transmission means, so that work efficiency is improved.

【0039】[0039]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0040】(実施形態1)本実施形態では、モジュー
ル形態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を
行う場合について説明する。
(Embodiment 1) In this embodiment, a description will be given of a case where a defective pixel coordinate is specified for a liquid crystal display device in a module form.

【0041】図1は、本実施形態の欠陥絵素座標特定装
置の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the structure of the defective pixel coordinate specifying apparatus of this embodiment.

【0042】この欠陥絵素座標特定装置は、架台16上
にモーター駆動される精密XYテーブル15が設置され
ており、精密XYテーブル15には液晶表示装置1を位
置決めしてセットするためのセットプレート2及び位置
決めブロック3が取り付けられている。
In this defective pixel coordinate specifying apparatus, a precision XY table 15 driven by a motor is installed on a pedestal 16, and a set plate for positioning and setting the liquid crystal display device 1 on the precision XY table 15. 2 and the positioning block 3 are attached.

【0043】液晶表示装置1をセットプレート2に固定
する方法としては、真空吸着法による方法や、永久磁石
によりモジュール形態の液晶表示装置1を固定する方
法、機械的クランプにより液晶表示装置1を保持する方
法、液晶表示装置1に位置決め穴を設けておいて位置決
めピンに挿入する方法等が考えられる。
As a method of fixing the liquid crystal display device 1 to the set plate 2, a method by a vacuum adsorption method, a method of fixing the liquid crystal display device 1 in the form of a module by a permanent magnet, or a method of holding the liquid crystal display device 1 by a mechanical clamp is used. There may be considered a method of doing so, a method of providing a positioning hole in the liquid crystal display device 1 and inserting the positioning hole into the positioning pin.

【0044】セットプレート2には液晶表示装置1の絵
素エリアよりも大きい抜き穴が設けられている。セット
プレート2の上方には、液晶表示装置1の表示面を観察
するための顕微鏡筒4、CCDカメラ5及び同軸落射照
明6が設置されている。さらに、セットプレート2の下
方には透過照明8(または同軸落射照明)が設けられ、
同軸落射照明6の光路7と透過照明8からの光路9の光
軸は一致している。従って、セットプレート2の抜き穴
を通して透過照明8がCCDカメラ5により確認でき、
各絵素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定すること
ができる。本実施形態では、同軸落射照明6及び透過照
明8として、ハロゲン光源とファイバーからなるファイ
バー照明を用いている。
The set plate 2 has a hole larger than the picture element area of the liquid crystal display device 1. A microscope barrel 4, a CCD camera 5, and a coaxial incident illumination 6 for observing the display surface of the liquid crystal display device 1 are installed above the set plate 2. Further, a transmission illumination 8 (or a coaxial incident illumination) is provided below the set plate 2,
The optical paths of the coaxial epi-illumination 6 and the optical path 9 from the transmitted illumination 8 coincide with each other. Therefore, the transmitted illumination 8 can be confirmed by the CCD camera 5 through the hole in the set plate 2,
The defective pixel can be determined by capturing the optical change of each pixel. In this embodiment, fiber illumination including a halogen light source and fibers is used as the coaxial epi-illumination 6 and the transmitted illumination 8.

【0045】さらに、架台16上には、パーソナルコン
ピューター10、モニター11、キーボード12、マウ
ス13及び電子ライン発生器14が設置されている。
Further, a personal computer 10, a monitor 11, a keyboard 12, a mouse 13 and an electronic line generator 14 are installed on the gantry 16.

【0046】次に、この欠陥絵素座標特定装置の制御に
ついて、図2を用いて説明する。この図2は、欠陥絵素
座標特定装置の制御ブロック図である。
Next, the control of this defective pixel coordinate specifying apparatus will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a control block diagram of the defective pixel coordinate specifying apparatus.

【0047】液晶表示装置1は点灯回路19に接続さ
れ、点灯状態で精密XYテーブル15上のセットプレー
ト2上にセットされる。透過照明8からの光照射によっ
て、各絵素の光学的変化が顕微鏡筒4を介してCCDカ
メラ5によりとらえられ、とらえられた映像信号はビデ
オ信号としてスーパーインポーズドボード18を通して
パーソナルコンピューター10に入力される。
The liquid crystal display device 1 is connected to the lighting circuit 19 and is set on the set plate 2 on the precision XY table 15 in a lighting state. The optical change of each picture element is captured by the CCD camera 5 through the microscope tube 4 by the light irradiation from the transmissive illumination 8, and the captured video signal is transmitted as a video signal to the personal computer 10 through the superposed board 18. Is entered.

【0048】パーソナルコンピューター10にはモニタ
ー11が接続され、スーパーインポーズドボード18を
通してパーソナルコンピューター10に入力されたビデ
オ信号がパーソナルコンピューター10の表示画面の背
景にスーパーインポーズされて表示される。
A monitor 11 is connected to the personal computer 10, and the video signal input to the personal computer 10 through the superimposed board 18 is superimposed and displayed on the background of the display screen of the personal computer 10.

【0049】また、パーソナルコンピューター10には
キーボード12やマウス13が接続され、各種入力が行
えるようになっている。
A keyboard 12 and a mouse 13 are connected to the personal computer 10 so that various inputs can be made.

【0050】さらに、パーソナルコンピューター10に
は電子ライン発生器14が接続され、モニター11の画
面上に位置合わせ基準(目印)となるクロスライン21
を映し出すことができる。
Further, an electronic line generator 14 is connected to the personal computer 10, and a cross line 21 serving as an alignment reference (mark) on the screen of the monitor 11 is displayed.
Can be projected.

【0051】このパーソナルコンピューター10からの
指示により、モーターコントローラー17は精密XYテ
ーブル15を自由に制御することができる。
The motor controller 17 can freely control the precision XY table 15 according to an instruction from the personal computer 10.

【0052】次に、この欠陥絵素座標特定装置の動作に
ついて、図3〜図6を用いて説明する。
Next, the operation of this defective picture element coordinate specifying device will be described with reference to FIGS.

【0053】まず、図3に示すように、予め前工程であ
る検査工程において、液晶表示装置1の欠陥絵素周辺に
マーキング26を施しておく。そして、液晶表示装置1
に点灯回路19を接続した後、位置決めブロック3を基
準としてセットプレート2上にセットして固定する。
First, as shown in FIG. 3, in the inspection step which is a previous step, marking 26 is provided around the defective pixel of the liquid crystal display device 1 in advance. Then, the liquid crystal display device 1
After the lighting circuit 19 is connected to, the positioning block 3 is set on the set plate 2 as a reference and fixed.

【0054】次に、図1における精密XYテーブル15
を用いて、予めモーターコントローラー17にデータ登
録しておいた液晶表示装置1の一角の絵素20が、顕微
鏡筒4の視野内に映し出される位置まで液晶表示装置1
を移動させる。このとき、CCDカメラ5に入力された
画像は、スーパーインポーズボード18を経由してモニ
ター11の画面に図4(a)に示すように映し出され
る。そして、モニター11の画面には、電子ライン発生
器14によりクロスライン21が基準線として同時に映
し出される。
Next, the precision XY table 15 in FIG.
The liquid crystal display device 1 is displayed up to a position where a picture element 20 in one corner of the liquid crystal display device 1 previously registered in the motor controller 17 by using
To move. At this time, the image input to the CCD camera 5 is displayed on the screen of the monitor 11 via the superimposing board 18 as shown in FIG. Then, the cross line 21 is simultaneously displayed on the screen of the monitor 11 as a reference line by the electronic line generator 14.

【0055】その後、検査員がモニター11を確認しな
がらキーボード12又はマウス13を用いて精密XYテ
ーブル15を移動させて、図4(b)に示すように一角
の絵素20がクロスライン21の交差エリア22と一致
するように液晶表示装置1を移動させる。
Thereafter, the inspector moves the precision XY table 15 by using the keyboard 12 or the mouse 13 while checking the monitor 11, and the single picture element 20 is crossline 21 as shown in FIG. 4B. The liquid crystal display device 1 is moved so as to coincide with the intersection area 22.

【0056】このときの精密XYテーブル15の位置デ
ータ(Sx1、Sy1)を、パーソナルコンピューター
10に記憶させる。
The position data (Sx1, Sy1) of the precision XY table 15 at this time is stored in the personal computer 10.

【0057】このSx1、Sy1から、図5に示す精密
XYテーブル15の原点25から一角の絵素20までの
距離X1、Y1が下記式(1)及び(2)により求めら
れる。
From these Sx1 and Sy1, the distances X1 and Y1 from the origin 25 of the precision XY table 15 shown in FIG. 5 to the picture element 20 in one corner can be obtained by the following equations (1) and (2).

【0058】X1=Sx1×P ・・・(1) Y1=Sy1×P ・・・(2) P : 精密XYテーブル15の分解能 同様にして、精密XYテーブル15の原点25から反対
側の一角の絵素23までの距離X2、Y2も求める。
X1 = Sx1 × P (1) Y1 = Sy1 × P (2) P: In the same manner as the resolution of the precision XY table 15, one corner on the opposite side from the origin 25 of the precision XY table 15. The distances X2 and Y2 to the picture element 23 are also obtained.

【0059】これにより、図5に示す精密XYテーブル
15の直交軸に対する液晶表示装置1の傾きAθが下記
式(3)により求められる。
As a result, the tilt Aθ of the liquid crystal display device 1 with respect to the orthogonal axis of the precision XY table 15 shown in FIG. 5 can be obtained by the following equation (3).

【0060】 Aθ=tan-1{(Y2−Y1)/(X2−X1)} ・・・(3) 以上により、液晶表示装置1が精密XYテーブル15の
直交軸に対してどのような位置関係(水平位置、垂直位
置、傾き方向)で設置されているかが求められる。
Aθ = tan −1 {(Y2-Y1) / (X2-X1)} (3) From the above, what positional relationship the liquid crystal display device 1 has with respect to the orthogonal axis of the precision XY table 15. It is required to determine whether it is installed (horizontal position, vertical position, tilt direction).

【0061】次に、以下のようにして欠陥絵素24の位
置を求める。
Next, the position of the defective picture element 24 is obtained as follows.

【0062】まず、検査員は、図3に示すように液晶表
示装置1の表示面に施されたマーキング26を目印にし
て精密XYテーブル15を移動させて、欠陥絵素24が
顕微鏡筒4の視野内に映る位置まで移動させる。この実
施形態では、液晶表示装置1に照射される同軸落射照明
6の光路7や透過照明8の光路9を目印にして、マーキ
ング26部分を顕微鏡4の視野内に映る位置まで移動さ
せる。このとき、CCDカメラ5に入力された画像は、
スーパーインポーズボード18を経由してモニター11
の画面に図6(a)に示すように映し出される。そし
て、モニター11の画面には、電子ライン発生器14に
よるクロスライン21が基準線として同時に映し出され
る。
First, the inspector moves the precision XY table 15 with the marking 26 provided on the display surface of the liquid crystal display device 1 as a mark as shown in FIG. Move to a position where you can see in the field of view. In this embodiment, with the optical path 7 of the coaxial epi-illumination 6 and the optical path 9 of the transmissive illumination 8 with which the liquid crystal display device 1 is irradiated as a mark, the marking 26 portion is moved to a position where it is reflected in the visual field of the microscope 4. At this time, the image input to the CCD camera 5 is
Monitor 11 via superimpose board 18
Is displayed on the screen as shown in FIG. Then, the cross line 21 generated by the electronic line generator 14 is simultaneously displayed as a reference line on the screen of the monitor 11.

【0063】その後、検査員がモニター11を確認しな
がらキーボード12又はマウス13を用いて精密XYテ
ーブル15を移動させて、図6(b)に示すように欠陥
絵素24がクロスライン21の交差エリア22と一致す
るように液晶表示装置1を移動させる。
Thereafter, the inspector moves the precision XY table 15 by using the keyboard 12 or the mouse 13 while checking the monitor 11, and the defective picture element 24 crosses the cross line 21 as shown in FIG. 6B. The liquid crystal display device 1 is moved so as to coincide with the area 22.

【0064】このときの精密XYテーブル15の位置デ
ータ(Rx、Ry)を、パーソナルコンピューター10
に記憶させる。
The position data (Rx, Ry) of the precision XY table 15 at this time is stored in the personal computer 10.
To memorize.

【0065】このRx、Ryから、図5に示す精密XY
テーブル15の原点25から欠陥絵素24までの距離T
x、Tyが下記式(4)及び(5)により求められる。
From these Rx and Ry, the precision XY shown in FIG.
Distance T from the origin 25 of the table 15 to the defective pixel 24
x and Ty are calculated by the following equations (4) and (5).

【0066】Tx=Rx×P ・・・(4) Ty=Ry×P ・・・(5) P : 精密XYテーブル15の分解能 これらに基づいて、図5に示す液晶表示装置1における
欠陥絵素24の位置座標(bx、by)が下記式(6)
及び(7)により求められる。
Tx = Rx × P (4) Ty = Ry × P (5) P: Resolution of the precision XY table 15 Based on these, the defective pixel in the liquid crystal display device 1 shown in FIG. The position coordinates (bx, by) of 24 are the following formula (6).
And (7).

【0067】 bx=(Tx−X1)×cos(Aθ)−(Ty−Y1)×sin(Aθ) ・・・(6) by=(Tx−X1)×sin(Aθ)+(Ty−Y1)×cos(Aθ) ・・・(7) 上記式(1)〜(7)により求められる欠陥絵素24の
位置座標は、パーソナルコンピューター10により算出
して記録する。これにより、欠陥絵素24の位置座標が
求められる。
Bx = (Tx−X1) × cos (Aθ) − (Ty−Y1) × sin (Aθ) (6) by = (Tx−X1) × sin (Aθ) + (Ty−Y1) × cos (Aθ) (7) The position coordinates of the defect picture element 24 obtained by the above equations (1) to (7) are calculated by the personal computer 10 and recorded. As a result, the position coordinates of the defective picture element 24 are obtained.

【0068】最後に、液晶表示装置1をセットプレート
2から取り外し、点灯回路19とのケーブルを外す。
Finally, the liquid crystal display device 1 is removed from the set plate 2 and the cable with the lighting circuit 19 is removed.

【0069】(実施形態2)本実施形態では、パネル形
態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を行う
場合について説明する。
(Embodiment 2) In this embodiment, description will be given of a case where a defective pixel coordinate is specified in a panel type liquid crystal display device.

【0070】図7は、本実施形態の欠陥絵素座標特定装
置の構成を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing the structure of the defective pixel coordinate specifying apparatus of this embodiment.

【0071】この欠陥絵素座標特定装置は、架台16上
にモーター駆動される精密XYテーブル15が設置され
ている。精密XYテーブル15には液晶表示装置1を位
置決めしてセットするためのセットプレート2が取り付
けられており、このセットプレート2には、液晶表示装
置1を点灯させるための点灯治具27が取り付けられて
いる。
In this defective pixel coordinate specifying apparatus, a precision XY table 15 driven by a motor is installed on a frame 16. A set plate 2 for positioning and setting the liquid crystal display device 1 is attached to the precision XY table 15, and a lighting jig 27 for turning on the liquid crystal display device 1 is attached to the set plate 2. ing.

【0072】液晶表示装置1を点灯治具27にセットす
る方法としては、図8に示すように、点灯治具27内の
ベース板27aに取り付けられている位置決めピン28
に液晶表示装置1を押し当てた後、上蓋27bを閉じて
固定する方法が挙げられる。上蓋27bには金属電極2
9が液晶表示装置1のパネル電極30に対応する部分に
取り付けられており、図示しない点灯回路からの信号が
金属電極29を通してパネル電極30に入力される。
As a method of setting the liquid crystal display device 1 on the lighting jig 27, as shown in FIG. 8, a positioning pin 28 attached to a base plate 27a in the lighting jig 27 is used.
A method of pressing the liquid crystal display device 1 on the plate and then closing and fixing the upper lid 27b can be mentioned. The upper lid 27b has a metal electrode 2
9 is attached to a portion corresponding to the panel electrode 30 of the liquid crystal display device 1, and a signal from a lighting circuit (not shown) is input to the panel electrode 30 through the metal electrode 29.

【0073】セットプレート2及び点灯治具27には液
晶表示装置1の絵素エリアよりも大きい抜き穴が設けら
れている。セットプレート2の上方には、液晶表示装置
1の表示面を観察するための顕微鏡筒4、CCDカメラ
5及び同軸落射照明6が設置されている。さらに、セッ
トプレート2の下方には透過照明8が設けられ、同軸落
射照明6の光路7と透過照明8からの光路9の光軸は一
致している。従って、セットプレート2の抜き穴を通し
て透過照明8がCCDカメラ5により確認でき、各絵素
の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定することができ
る。本実施形態では、同軸落射照明6及び透過照明8と
して、ハロゲン光源とファイバーからなるファイバー照
明を用いてる。
The set plate 2 and the lighting jig 27 are provided with a hole larger than the picture element area of the liquid crystal display device 1. A microscope barrel 4, a CCD camera 5, and a coaxial incident illumination 6 for observing the display surface of the liquid crystal display device 1 are installed above the set plate 2. Further, a transmission illumination 8 is provided below the set plate 2, and the optical paths 7 of the coaxial incident illumination 6 and the optical path 9 from the transmission illumination 8 coincide with each other. Therefore, the transmitted illumination 8 can be confirmed by the CCD camera 5 through the hole of the set plate 2, and the defective pixel can be determined by capturing the optical change of each pixel. In the present embodiment, fiber illumination including a halogen light source and fibers is used as the coaxial incident illumination 6 and the transmitted illumination 8.

【0074】さらに、架台16上には、パーソナルコン
ピューター10、モニター11、キーボード12、マウ
ス13及び電子ライン発生器14が設置されている。
Further, a personal computer 10, a monitor 11, a keyboard 12, a mouse 13 and an electronic line generator 14 are installed on the gantry 16.

【0075】この欠陥絵素座標特定装置を用いて欠陥絵
素の位置座標を求める方法については、実施形態1と同
様であるので、ここでは説明を省略する。
The method of obtaining the position coordinates of the defective picture element by using this defective picture element coordinate specifying device is the same as that in the first embodiment, and therefore its explanation is omitted here.

【0076】上記実施形態1及び実施形態2に示すよう
に、液晶表示装置がモジュール形態であってもパネル形
態であっても、液晶表示装置がセットされる部分を交換
することにより、欠陥絵素座標特定装置自体に大がかり
な改造や機種切り換えをしなくても欠陥絵素の位置座標
を確実に求めることができる。さらに言及すれば、液晶
表示装置の形態が上述のようなガラス基板(以下、大
板)から完全に分断された単一状態である必要はなく、
一方向のみに分断され、一列に数枚の液晶表示装置がつ
ながったままの短冊状態や、それよりも前段階の大板状
態でも同様に欠陥絵素の位置座標を求めることができ
る。
As shown in the first and second embodiments, whether the liquid crystal display device is a module form or a panel form, by exchanging the portion where the liquid crystal display device is set, the defective pixel The position coordinates of the defective pixel can be reliably obtained without major modification or model change of the coordinate specifying device itself. Further, the form of the liquid crystal display device does not need to be a single state completely separated from the glass substrate (hereinafter, referred to as a large plate) as described above.
The position coordinates of the defective picture element can be similarly obtained in a striped state in which a plurality of liquid crystal display devices are connected in a row and divided in only one direction, or in a large plate state in the preceding stage.

【0077】上記実施形態1及び実施形態2において、
照明手段はCCDカメラ5への映像取り込み用途の他
に、マーキング26の位置を顕微鏡筒4の視野内に追い
込むための目印としても大きな役割を果たしている。こ
こではファイバー照明からなる同軸落射照明6と透過照
明8とを例に挙げたが、これらに限定されるものではな
く、図1及び図7に示すような斜め方向からの斜方照明
39であってもよい。また、集光レンズによる集光照明
やLED照明等、各表示装置に応じて最適な照明手段を
選択することができる。表示装置への照明光の入射角度
は、図1及び図7に示すような角度調整機構40により
適宜変更することができ、各表示装置の欠陥認識のため
に最適な角度に調整及び固定することができる。さら
に、マーキングの位置を顕微鏡筒の視野内に追い込むた
めの目印という意味では、レーザーポインター等の指示
手段と角度調整機構を設けて、顕微鏡筒の視野範囲を指
示するように角度調整して設置することも可能である。
照明強度の調整は、ハロゲン光源、LED光源、レーザ
ーポインター等を問わず、図示しない各々の光源用電源
設けられたつまみの調整により行うことができる。
In the first and second embodiments described above,
The illumination means plays a large role as a mark for driving the position of the marking 26 into the field of view of the microscope cylinder 4 as well as for capturing an image in the CCD camera 5. Although the coaxial epi-illumination 6 and the transmissive illumination 8 made of fiber illumination are given as an example here, the present invention is not limited to these, and the oblique illumination 39 from an oblique direction as shown in FIGS. 1 and 7. May be. In addition, it is possible to select the optimum illumination means according to each display device, such as condensed illumination by a condenser lens and LED illumination. The angle of incidence of the illumination light on the display device can be appropriately changed by an angle adjusting mechanism 40 as shown in FIGS. 1 and 7, and the angle must be adjusted and fixed to the optimum angle for the defect recognition of each display device. You can Further, in the sense of a mark for driving the marking position into the field of view of the microscope tube, a pointing device such as a laser pointer and an angle adjusting mechanism are provided, and the angle is adjusted to indicate the field of view of the microscope tube. It is also possible.
The illumination intensity can be adjusted by adjusting a knob provided on each of the light source power sources (not shown) regardless of the halogen light source, the LED light source, the laser pointer, or the like.

【0078】上記実施形態1及び実施形態2において、
液晶表示装置1の表示面に施されたマーキング26の確
認方法としては、検査員の目視により顕微鏡筒4の視野
内に追い込む方法を用いたが、これに限られない。例え
ば、図9(a)に示すように、顕微鏡筒4の対物レンズ
部分をレボルバー31として倍率を変えられるように
し、まず、低倍率レンズで絵素エリア全体を観察してマ
ーキング26を確認し、徐々に高倍率レンズに切り換え
て欠陥絵素24の位置を特定する方法を用いてもよい。
又は、図9(b)に示すように、高倍率の顕微鏡筒4か
ら独立して低倍率用カメラ32を設け、まず、低倍率用
カメラ32で絵素エリア全体を観察してマーキング26
を確認し、モニター11のカメラ映像を高倍率の顕微鏡
筒4側に切り換えて欠陥絵素24の位置座標を特定する
方法を用いてもよい。
In the first and second embodiments described above,
As a method of confirming the marking 26 provided on the display surface of the liquid crystal display device 1, a method of driving the operator into the visual field of the microscope cylinder 4 by visual inspection is used, but the method is not limited to this. For example, as shown in FIG. 9A, the objective lens portion of the microscope barrel 4 is used as a revolver 31 so that the magnification can be changed. First, the marking area 26 is confirmed by observing the entire pixel area with a low magnification lens. A method of gradually switching to the high-magnification lens and specifying the position of the defective pixel 24 may be used.
Alternatively, as shown in FIG. 9B, a low-magnification camera 32 is provided independently of the high-magnification microscope barrel 4, and first, the entire pixel area is observed by the low-magnification camera 32 to make a marking 26.
Alternatively, a method may be used in which the position of the defect picture element 24 is identified by switching the camera image of the monitor 11 to the high-magnification microscope tube 4 side.

【0079】さらに、上記実施形態1及び実施形態2で
は液晶表示装置1の一角の絵素20や反対側の一角の絵
素23及び欠陥絵素24を、モニター11の画面上のク
ロスライン21の交差エリア22に追い込む際に、検査
員が直接精密XYテーブル15を移動させることにより
位置特定を行ったが、これに限定されるものではない。
例えば、スーパーインポーズボード18の代わりに画像
処理ボードを用いて自動アライメントを行うことによ
り、欠陥絵素24を自動的に交差エリア22に一致させ
て欠陥絵素24の位置座標を特定することもできる。こ
の場合、ボードやカメラの分解能によるが、組み合わせ
次第でマーキング工程を省略することも可能である。
Further, in the above-described first and second embodiments, one pixel 20 of the liquid crystal display device 1 and one pixel 23 and the defective pixel 24 of the opposite side are arranged in the cross line 21 on the screen of the monitor 11. When driving into the intersecting area 22, the inspector specified the position by directly moving the precision XY table 15, but the position is not limited to this.
For example, the image processing board may be used in place of the superimposing board 18 to perform automatic alignment so that the defect picture element 24 is automatically aligned with the intersection area 22 and the position coordinates of the defect picture element 24 are specified. it can. In this case, depending on the resolution of the board or the camera, the marking step can be omitted depending on the combination.

【0080】(実施形態3)本実施形態では、情報集中
装置との間に情報伝達手段を設けた欠陥絵素座標特定装
置の例について説明する。
(Embodiment 3) In the present embodiment, an example of a defective picture element coordinate specifying device in which information transmitting means is provided between the information concentrating device will be described.

【0081】上記実施形態1及び実施形態2のようにし
て特定された欠陥絵素24の位置座標は、次工程である
欠陥修正装置にデータとして伝達する必要がある。
The position coordinates of the defect picture element 24 specified as in the first and second embodiments must be transmitted as data to the defect repairing apparatus which is the next step.

【0082】そこで本実施形態3では、図10に示すよ
うに、情報伝達手段としてのネットワーク回線34を介
して、欠陥絵素座標特定装置51と情報集中装置(ホス
トコンピュータ)50とが接続されている。また、表示
装置の点灯検査装置52、欠陥修正装置53、及び表示
装置の各部材を製造するための各製造装置54について
も同様に、ネットワーク回線34を介して情報集中装置
50と接続されている。
Therefore, in the third embodiment, as shown in FIG. 10, the defective pixel coordinate specifying device 51 and the information concentrating device (host computer) 50 are connected via a network line 34 as an information transmitting means. There is. Similarly, the lighting inspection device 52 of the display device, the defect correction device 53, and each manufacturing device 54 for manufacturing each member of the display device are also connected to the information concentration device 50 via the network line 34. .

【0083】これにより、全体としてCIM(Comp
uter IntegratedManufactur
ing)が構築され、表示装置の各製造工程、検査工程
及び欠陥修正工程において得られる各種情報が、ネット
ワーク回線34を介して情報集中装置50に集中する。
その結果、特定の装置の情報集中装置50との間で、各
種情報の送受信が可能となる。
As a result, the CIM (Comp
uter Integrated Manufactur
ing), and various information obtained in each manufacturing process, inspection process, and defect correction process of the display device is concentrated in the information concentrating device 50 via the network line 34.
As a result, various kinds of information can be transmitted / received to / from the information concentrating device 50 of a specific device.

【0084】このような情報としては、上述の欠陥絵素
24の位置座標データの他にも、例えばロットナンバ
ー、パネルナンバー、各工程投入日時、工程担当者、良
品/不良品判定結果、不良内容、良品率(歩留り)、欠
陥修正結果などが挙げられる。
As such information, in addition to the position coordinate data of the defective picture element 24 described above, for example, lot number, panel number, date and time of each process introduction, process person in charge, non-defective / defective product determination result, defective content. , Non-defective product rate (yield), defect correction result, and the like.

【0085】このようなシステムの下で、本発明の欠陥
絵素座標特定装置により得られる欠陥絵素24の位置座
標データや欠陥内容等の情報がネットワーク回線34を
介して情報集中装置50に送信される。これにより、次
工程である欠陥修正工程において、欠陥修正装置53は
ネットワーク回線34を介して情報集中装置50から上
記情報を受信することが可能となる。
Under such a system, information such as the position coordinate data of the defective picture element 24 and the content of the defect obtained by the defective picture element coordinate specifying device of the present invention is transmitted to the information concentrating device 50 via the network line 34. To be done. As a result, in the defect repairing process, which is the next process, the defect repairing device 53 can receive the above information from the information concentrating device 50 via the network line 34.

【0086】このように、本実施形態3では、各製造装
置から得られる情報を情報集中装置50とネットワーク
回線34を介して送受信することができるので、表示装
置を効率的に生産することができる。さらに言及すれ
ば、上述した自動アライメント機能、液晶表示装置1の
点灯回路19への接続やセットプレート2へのセッティ
ング等を自動供給/排出手段を設けることにより、欠陥
絵素座標特定装置に検査員を立ち合わせる必要が無くな
り、検査工程における情報を利用して欠陥絵素24の座
標特定工程や欠陥修正工程を完全に自動化することがで
きる。その結果、人件費を削減して商品のコストダウン
を図ることができる。
As described above, in the third embodiment, the information obtained from each manufacturing apparatus can be transmitted / received to / from the information concentrating apparatus 50 via the network line 34, so that the display apparatus can be efficiently produced. . More specifically, by providing the automatic alignment function, the connection to the lighting circuit 19 of the liquid crystal display device 1, the setting to the set plate 2 and the like with automatic supply / discharge means, the defect picture element coordinate identification device can be inspected by an inspector. It is no longer necessary to stand up, and the coordinate specifying process of the defect picture element 24 and the defect correcting process can be completely automated by using the information in the inspection process. As a result, personnel costs can be reduced and product costs can be reduced.

【0087】このように各装置間及び情報集中装置との
間で情報伝達を行うための手段は、上述のネットワーク
回線34に限られない。例えば、フロッピーディスク、
光磁気ディスク、書込型コンパクトディスク(CD−
R)、書換型コンパクトディスク(CD−RW)、書換
型DVD(DVD−RAM)等の電磁媒体(記録媒体)
が挙げられ、各記録媒体に上記情報を記録して各装置と
情報集中装置との間で情報伝達を行うようにしても、本
実施形態と同様の効果を得ることができる。
The means for transmitting information between each device and the information concentrating device in this way is not limited to the network line 34 described above. For example, a floppy disk,
Magneto-optical disc, writable compact disc (CD-
R), rewritable compact disc (CD-RW), rewritable DVD (DVD-RAM), and other electromagnetic media (recording media)
Even if the above information is recorded on each recording medium and information is transmitted between each device and the information concentrating device, the same effect as this embodiment can be obtained.

【0088】なお、上記実施形態1〜実施形態3におい
て、表示装置の種類としては透過型、反射型、半透過
(一部透過)型、透過/反射切換型等、あらゆる種類の
表示装置に適用可能である。CCDカメラへの映像取り
込み状態に応じて、各表示装置に適した照明方式を採用
することにより、これらの表示装置の欠陥絵素24の位
置座標を特定することができる。例えば、アモルファス
シリコン液晶表示装置、低温ポリシリコン液晶表示装置
(LPS)、高温ポリシリコン液晶表示装置(HP
S)、LCDオン単結晶シリコンデバイス、EL(El
ectro Luminescence)表示装置、プ
ラズマ表示装置、プラズマアドレス液晶表示装置(PA
LC)等、各種表示装置の欠陥絵素位置座標を求める際
にも、本発明を適用可能であることは言うまでもない。
いずれの場合でも、透過用照明や反射用照明等の各表示
装置に最適な状態で照明光量をセッティングしておき、
照明光量を切り換えるだけでよいので、投影タイプのよ
うに光学系の機種切換の問題は生じない。
In Embodiments 1 to 3, the display device is applicable to all kinds of display devices such as a transmissive type, a reflective type, a semi-transmissive (partially transmissive) type, and a transmissive / reflective switching type. It is possible. By adopting an illumination method suitable for each display device, the position coordinates of the defective picture element 24 of these display devices can be specified according to the state of capturing the image in the CCD camera. For example, amorphous silicon liquid crystal display device, low temperature polysilicon liquid crystal display device (LPS), high temperature polysilicon liquid crystal display device (HP
S), LCD on single crystal silicon device, EL (El
Electro Luminescence display device, plasma display device, plasma addressed liquid crystal display device (PA)
It is needless to say that the present invention can be applied to obtaining the defective pixel position coordinates of various display devices such as LC).
In any case, the illumination light amount is set in an optimal state for each display device such as transmissive illumination and reflective illumination.
Since it is only necessary to switch the amount of illumination light, there is no problem of switching the model of the optical system unlike the projection type.

【0089】[0089]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明による場合
には、モジュール形態及びパネル形態のいずれであって
も、確実に絵素欠陥座標位置を特定してその座標データ
を後の工程に利用することが可能である。よって、今後
価格の下落が進むと予想される中で益々生産が増加する
と考えられるパーソナルコンピューター、液晶TV、携
帯型情報端末(PDA)、液晶ディスプレイ付きビデオ
カメラ、カーナビゲーション用途等の所謂直視タイプの
液晶表示装置の欠陥絵素修正に際して、非常に高価で大
がかりな欠陥修正装置の設置台数を大幅に増やすこと無
く、効率的で確実な修正を行うことができる。
As described in detail above, according to the present invention, the pixel defect coordinate position is surely specified and the coordinate data is used in the subsequent process regardless of the module form or the panel form. It is possible to use. Therefore, the so-called direct-view type of personal computers, liquid crystal TVs, personal digital assistants (PDAs), video cameras with liquid crystal displays, car navigation applications, etc., whose production is expected to increase in the future as prices are expected to decline When repairing a defective pixel in a liquid crystal display device, efficient and reliable repair can be performed without significantly increasing the number of installed extremely expensive and large-scale defect repair devices.

【0090】本発明の欠陥絵素座標特定装置自体は安価
であり、広大な設置スペースの必要もない。また、表示
装置を設置するセットプレートと点灯回路を適宜用意す
ることにより機種切り換えも容易であるため、機種汎用
性にも優れており、表示装置に応じた照明手段を用意す
ることにより、確実に欠陥絵素を確定することができ
る。
The defective pixel coordinate specifying apparatus of the present invention is inexpensive and does not require a vast installation space. In addition, since it is easy to switch models by properly preparing the set plate for installing the display device and the lighting circuit, it is excellent in model versatility, and by providing an illumination means according to the display device, Defect pixels can be determined.

【0091】本発明の欠陥絵素座標特定装置、各種製造
装置、検査装置や欠陥修正装置等をネットワーク回線等
の情報伝達手段を介して情報集中装置に接続することに
より、各種情報を各装置で得ることができる。よって、
迅速で確実な生産を行うことができる。さらに、本発明
の欠陥絵素座標特定装置に自動供給/排出手段と自動ア
ライメント手段を設けることにより、検査員が座標特定
工程に立ち合う必要が無いため、人件費を削減すること
ができる。
By connecting the defective pixel coordinate specifying device, various manufacturing devices, inspection devices, defect repairing devices and the like of the present invention to the information concentrating device via the information transmission means such as a network line, various information can be obtained by each device. Obtainable. Therefore,
It enables quick and reliable production. Further, by providing the defective pixel coordinate specifying apparatus of the present invention with the automatic supply / discharge means and the automatic alignment means, it is not necessary for the inspector to stand in the coordinate specifying step, so that the labor cost can be reduced.

【0092】このように、点欠陥や断線不良等の絵素欠
陥位置座標を正確に特定して修正することにより、良品
率の向上を図ることができ、さらには、製品のコストダ
ウンを実現することができる。
As described above, by accurately specifying and correcting the pixel defect position coordinates such as point defects and disconnection defects, it is possible to improve the non-defective product rate and further realize the cost reduction of the product. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施形態1の欠陥絵素座標特定装置の概略構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a defective pixel coordinate specifying device according to a first embodiment.

【図2】実施形態1の欠陥絵素座標特定装置を制御する
制御系のブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram of a control system for controlling the defective pixel coordinate specifying apparatus according to the first embodiment.

【図3】モジュール状態での点灯検査工程において、検
査員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメー
ジを示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an appearance image of a liquid crystal display device marked by an inspector in a lighting inspection process in a module state.

【図4】実施形態1及び実施形態2においてモニターに
取り込まれる映像の模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of an image captured by a monitor in the first and second embodiments.

【図5】実施形態1及び実施形態2において、欠陥絵素
座標データを求める方法を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a method for obtaining defective pixel coordinate data in the first and second embodiments.

【図6】実施形態1及び実施形態2においてモニターに
取り込まれる映像の模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram of an image captured by a monitor in the first and second embodiments.

【図7】実施形態2の欠陥絵素座標特定装置の概略構成
を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a defective pixel coordinate specifying device according to a second embodiment.

【図8】実施形態2の欠陥絵素座標特定装置における点
灯治具を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a lighting jig in the defective pixel coordinate specifying apparatus according to the second embodiment.

【図9】本発明に使用可能な顕微鏡筒の他の例を示す図
である。
FIG. 9 is a diagram showing another example of a microscope cylinder usable in the present invention.

【図10】実施形態3において、各装置と情報集中装置
をネットワーク回線を介して接続したシステムを示す図
である。
FIG. 10 is a diagram showing a system in which each device and an information concentrating device are connected via a network line in the third embodiment.

【図11】パネル状態での点灯検査工程において、検査
員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメージ
を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an appearance image of a liquid crystal display device marked by an inspector in a lighting inspection process in a panel state.

【図12】従来の欠陥修正装置の概略構成を示す斜視図
である。
FIG. 12 is a perspective view showing a schematic configuration of a conventional defect repairing apparatus.

【図13】図12の欠陥修正装置の要部を示す図であ
る。
13 is a diagram showing a main part of the defect repairing apparatus of FIG.

【図14】従来の投影タイプの座標特定装置の概略構成
を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional projection type coordinate specifying device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 液晶表示装置 2 セットプレート 3 位置決めブロック 4 顕微鏡筒 5 CCDカメラ 6 同軸落射照明 7 同軸落射照明の光路 8 透過照明 9 透過照明の光路 10 パーソナルコンピューター 11 モニター 12 キーボード 13 マウス 14 電子ライン発生装置 15 精密XYテーブル 16 架台 17 モーターコントローラー 18 スーパーインポーズボード 19 点灯回路 20、23 一角の絵素 21 クロスライン 22 交差エリア 24 欠陥絵素 25 原点 26 マーキング 27 点灯治具 27a ベース板 27b 上蓋 28 位置決めピン 29 金属電極 30 パネル電極 31 レボルバー 32 低倍率用カメラ 34 ネットワーク回線(情報伝達手段) 39 斜方照明 40 角度調整機構 50 ホストコンピューター(情報集中装置) 51 座標特定装置 52 点灯検査装置 53 欠陥修正装置 54 製造装置 1 Liquid crystal display 2 set plates 3 Positioning block 4 microscope tube 5 CCD camera 6 Coaxial epi-illumination 7 Optical path of coaxial epi-illumination 8 Transmitted illumination 9 Optical path of transmitted illumination 10 personal computer 11 monitors 12 keyboard 13 mice 14 Electronic line generator 15 Precision XY table 16 mounts 17 Motor Controller 18 Superimpose Board 19 Lighting circuit 20, 23 One-sided picture element 21 cross line 22 intersection area 24 Defect picture element 25 origin 26 Marking 27 Lighting jig 27a base plate 27b Top lid 28 Positioning pin 29 Metal electrodes 30 panel electrodes 31 revolver 32 Low magnification camera 34 network lines (information transmission means) 39 Oblique lighting 40 Angle adjustment mechanism 50 host computer (information concentrator) 51 Coordinate specifying device 52 Lighting inspection device 53 Defect repair device 54 Manufacturing equipment

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/13 - 1/141 G09F 9/00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/13-1/141 G09F 9/00

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 表示装置を支持して所定の位置に移動さ
せる移動手段と、該移動手段にて支持された 該表示装置に表示信号を付与
して各絵素を駆動させる駆動回路と、 該駆動回路によって駆動される該表示装置の各絵素の光
学的変化をとらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素確定手
段と、 確定された欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段
と、 特定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段と
有し、 前記欠陥絵素確定手段は、該表示装置の表示面を観察す
るための顕微鏡筒と、該顕微鏡筒を介して該表示面の画
像をとらえる画像撮像手段と、該表示面における光学的
変化の確認箇所を照らす光エネルギー照射手段を有し、
該光エネルギー照射手段は、該確認箇所を、該顕微鏡筒
と光軸が一致した状態で該表示面の両側からそれぞれ光
を照射する一対の照明 を有する表示装置の欠陥絵素座標
特定装置。
1. A moving means for supporting a display device to move it to a predetermined position, a drive circuit for applying a display signal to the display device supported by the moving means to drive each picture element, Defect picture element determining means for determining a defect picture element by capturing an optical change of each picture element of the display device driven by a drive circuit, and coordinate specifying means for specifying a position coordinate of the confirmed defect picture element, and recording means for recording the position coordinates of the identified defective pixel
And the defect picture element determining means observes the display surface of the display device.
And a picture of the display surface through the microscope tube for
Image capturing means for capturing an image and optical means on the display surface
It has a light energy irradiation means that illuminates the change confirmation point,
The light energy irradiating means uses the microscope cylinder as the confirmation point.
Light from both sides of the display surface with their optical axes aligned.
Defect pixel coordinate specifying device for a display device having a pair of illuminations for illuminating .
【請求項2】 表示装置を支持して所定の位置に移動さ
せる移動手段と、 該移動手段にて支持された該表示装置に表示信号を付与
して各絵素を駆動させる駆動回路と、 該駆動回路によって駆動される該表示装置の各絵素の光
学的変化をとらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素確定手
段と、 確定された欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段
と、 特定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを
有し、 前記欠陥絵素確定手段は、該表示装置の表示面を観察す
るための顕微鏡筒と、該顕微鏡筒を介して該表示面の画
像をとらえる画像撮像手段と、該表示面における光学的
変化の確認箇所を照らす光エネルギー照射手段を有し、
該光エネルギー照射手段は、該確認箇所に対して斜め方
向から光を照射する照明を有する 表示装置の欠陥絵素座
標特定装置。
2. A display device is supported and moved to a predetermined position.
And a display signal applied to the display device supported by the moving means.
And a drive circuit for driving each picture element, and light of each picture element of the display device driven by the drive circuit
Determining Defect Picture Element by Determining Defect Picture Element Based on Geological Change
And a coordinate specifying means for specifying the position coordinates of the fixed defect picture element
And a recording means for recording the position coordinates of the specified defective picture element.
And the defect picture element determining means observes the display surface of the display device.
And a picture of the display surface through the microscope tube for
Image capturing means for capturing an image and optical means on the display surface
It has a light energy irradiation means that illuminates the change confirmation point,
The light energy irradiating means is oblique to the confirmation location.
A device for identifying defective pixel coordinates of a display device that has illumination that emits light from the direction .
【請求項3】 前記光エネルギー照射手段は、ハロゲン
光源とファイバーからなる請求項1または2に記載の表
示装置の欠陥絵素座標特定装置。
Wherein the light energy irradiation means, the defect pixel coordinate specification device for a display device according to claim 1 or 2 consisting of halogen light source and the fiber.
【請求項4】 前記光エネルギー照射手段は、発光ダイ
オードからなる請求項1または2に記載の表示装置の欠
陥絵素座標特定装置。
Wherein said light energy irradiation means, the defect pixel coordinate specification device for a display device according to claim 1 or 2 consisting of light emitting diodes.
【請求項5】 前記光エネルギー照射手段は、レーザー
光発生装置である請求項1または2に記載の表示装置の
欠陥絵素座標特定装置。
Wherein said light energy irradiation means, the defect pixel coordinate specification device for a display device according to claim 1 or 2 which is a laser light generator.
【請求項6】 前記光エネルギー照射手段から出射され
る光の前記表示装置に対する入射角度及び照明強度を各
々調整する調整手段を有する請求項2乃至請求項5のい
ずれかに記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。
6. The defect of the display device according to claim 2, further comprising adjusting means for adjusting an incident angle and an illumination intensity of the light emitted from the light energy irradiating means with respect to the display device. Picture element coordinate identification device.
【請求項7】 前記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素
の光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠
陥絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示す
る目印手段を有する請求項1乃至請求項6のいずれかに
記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。
7. A mark for displaying an alignment reference for specifying the position of the defective picture element on a screen on which an image is displayed based on the optical change of each picture element captured by the defective picture element determining means. 7. A defective picture element coordinate specifying device for a display device according to claim 1, further comprising means.
【請求項8】 前記記録手段は、表示装置の各製造工
程、検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において
得られる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置と
の間に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えて
いる請求項1乃至請求項7のいずれかに記載の表示装置
の欠陥絵素座標特定装置。
8. The recording means communicates information with each other with an information concentrating device to which various kinds of information obtained in each manufacturing process, inspection process, coordinate specifying process and defect correcting process of the display device are concentrated. The defective pixel coordinate specifying device for a display device according to claim 1, further comprising a possible information transmitting means.
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JP5335614B2 (en) * 2009-08-25 2013-11-06 株式会社日本マイクロニクス Defective pixel address detection method and detection apparatus
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