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JP3533936B2 - Wafer peeling method and peeling device - Google Patents
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JP3533936B2 - Wafer peeling method and peeling device - Google Patents

Wafer peeling method and peeling device

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JP3533936B2
JP3533936B2 JP9643698A JP9643698A JP3533936B2 JP 3533936 B2 JP3533936 B2 JP 3533936B2 JP 9643698 A JP9643698 A JP 9643698A JP 9643698 A JP9643698 A JP 9643698A JP 3533936 B2 JP3533936 B2 JP 3533936B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、固定部材に接着剤
で接着されたウェーハ列から該ウェーハ列を構成する各
ウェーハを1枚宛剥離する方法及び装着に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and a mounting method for separating one wafer from each wafer row which is bonded to a fixing member with an adhesive to form each wafer row.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体材料、磁性材料、セラミッ
クス等のウェーハを作製するに際しては、これらの材料
をインゴットの状態で固定部材に接着し、その後、ワイ
ヤソーを利用して、長さ方向の垂直方向にインゴットを
下からスライスすることが行われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when manufacturing wafers of semiconductor materials, magnetic materials, ceramics, etc., these materials are adhered to a fixing member in an ingot state, and then a wire saw is used to make a vertical direction in the longitudinal direction. Slicing the ingot from below is performed in the direction.

【0003】通常、ワイヤソーによるスライスは、固定
部材の一部に達するまで行われ、インゴットを各部分に
おいて完全に切り離すが、スライスによって形成された
ウェーハどうしはそのまま固定部材に接着されているた
め、固定部材から離れることなくウェーハ列を構成して
一体化されたまま残される。
Usually, slicing with a wire saw is performed until a part of the fixing member is reached, and the ingot is completely cut off at each part. However, since the wafers formed by slicing are directly adhered to the fixing member, the fixing is performed. Wafer rows are formed and remain integrated without leaving the member.

【0004】上記のウェーハ列からウェーハを剥離する
作業は、従来、インゴットのスライス状態から固定部材
とインゴット(ウェーハ列)の上下を逆にして固定部材
とウェーハ列の接着部分を、接着剤軟化温度、例えば、
90〜95℃に保たれた温水に浸漬し、接着剤を軟化さ
せた状態で行っている。
Conventionally, the work of peeling a wafer from the above-mentioned wafer row is performed by turning the fixing member and the ingot (wafer row) upside down from the sliced state of the ingot so that the bonding portion between the fixing member and the wafer row is adhesive softening temperature. , For example,
It is immersed in warm water kept at 90 to 95 ° C. to soften the adhesive.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】直径が8インチ程度の
これまでのウェーハの場合、上記の方法で支障なく剥離
することができる。しかし、直径が12インチにも及ぶ
大径で重量のある新しいウェーハの場合であると、固定
部材を上にウェーハ列を下にしたスライス状態から、そ
れらの上下を逆にして接着部分を温水槽に入れる際、或
いは入れた後に、ウェーハが自重で折れ曲がって厚さ方
向に倒れやすく、これまでの方法及び装置ではウェーハ
を支障なく剥離することが難しい。
In the case of a conventional wafer having a diameter of about 8 inches, the above method can be used to peel the wafer without any trouble. However, in the case of a new wafer with a large diameter of 12 inches and a large weight, the sliced state with the fixing member on the upper side and the wafer row on the lower side is turned upside down and the bonded portion is heated in a hot water tank. When or after the wafer is put into the wafer, the wafer is bent by its own weight and easily falls in the thickness direction, and it is difficult to peel the wafer without any trouble by the conventional methods and apparatuses.

【0006】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
ので、大径で重量のあるウェーハであっても支障なく的
確に剥離することができるウェーハの剥離方法及び剥離
装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a wafer peeling method and a wafer peeling apparatus capable of accurately peeling a large-diameter and heavy wafer without any trouble. To aim.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するために以下の構成を採用した。すなわち、請求項
1記載のウェーハの剥離方法は、ウェーハ列からウェー
ハを1枚宛剥離するウェーハの剥離方法であって、固定
部材に接着されたウェーハ列を、上記固定部材を上にし
た状態で支持枠に設けられた支持部材上にほぼ水平に支
持するとともに、前記支持枠に設けられた係止部材で前
記ウェーハ列の外周面を該ウェーハ列のほぼ中央方向に
押し、前記支持部材と協働して前記ウェーハ列を係止す
ることにより前記支持枠に装着する工程と、支持枠に装
着されたウェーハ列から固定部材を分離する工程と、固
定部材を分離されたウェーハ列の最端部のウェーハを面
方向移動手段で該ウェーハの面方向に移動させることに
よりウェーハ列から1枚宛剥離して支持枠から取り出す
工程とを具備したことを特徴とするものである。
The present invention has the following features to attain the object mentioned above. That is, the method of stripping a wafer according to claim 1 is a method of stripping a wafer in which one wafer is stripped from a wafer row, wherein the wafer row adhered to a fixing member is placed with the fixing member on top. in together when substantially horizontally supported on supporting support member provided on the support frame, previously in engagement member provided on the support frame
The outer peripheral surface of the wafer row is oriented in the substantially central direction of the wafer row.
Push to lock the wafer row in cooperation with the support member
A step of mounting the supporting lifting frame by Rukoto, and separating the fixing member from the loaded wafer column to the support frame, the wafer outermost ends of the wafer row separated fixed member in the plane direction moving means The step of moving the wafer in the surface direction to separate one from the wafer row and take it out from the support frame.

【0008】この構成によれば、ウェーハ列の各ウェー
ハは、固定部材に垂下された状態を保ち、決して倒れる
ことがない。したがって、横倒れに起因するウェーハの
損傷が完全に防止されるようになる。また、固定部材と
ウェーハ列の上下をわざわざ逆にする必要がなく、スラ
イス終了状態のままそれらをスライス装置から取り出す
ことができるので、剥離装置への移送が容易となり、移
送ロボットの簡略化が可能となる。
According to this structure, each wafer in the wafer row is kept hanging from the fixing member and never falls. Therefore, the damage of the wafer due to the sideways falling can be completely prevented. In addition, it is not necessary to invert the upper and lower sides of the fixing member and the wafer row, and they can be taken out from the slicing machine in the sliced state, facilitating transfer to the peeling machine and simplifying the transfer robot. Becomes

【0009】請求項2記載のウェーハの剥離方法は、請
求項1記載のウェーハの剥離方法において、ウェーハ
を、支持部材と係止部材の間から支持部材の前端部を乗
り越えて取り出すことを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the method of stripping a wafer according to the first aspect, the wafer is taken out from between the support member and the locking member by overcoming the front end portion of the support member. To do.

【0010】この構成によれば、各ウェーハは、支持部
材の前端部を乗り越え、ねじれるように転回して抜け出
される。また支持部材の前端部を乗り越えるだけの外力
がウェーハに加えられない限り支持枠に安定よく係止さ
れることとなる。したがって、ウェーハは円滑にウェー
ハ列から剥離されるようになり、また振動等によるウェ
ーハの支持枠からの勝手な離脱が防止される。
According to this structure, each wafer gets over the front end portion of the support member and turns out in a twisting manner. Further, unless the external force enough to get over the front end portion of the support member is applied to the wafer, the wafer is stably locked to the support frame. Therefore, the wafer can be smoothly separated from the wafer row, and the wafer can be prevented from being arbitrarily detached from the support frame due to vibration or the like.

【0011】請求項3記載のウェーハの剥離装置は、固
定部材に接着されたウェーハ列を、上記固定部材を上に
した状態でほぼ水平に支持する支持部材の両端に側板が
それぞれ取り付けられ、該一対の側板の間に、ウェーハ
列の外周面をウェーハ列のほぼ中心方向に押してウェー
ハ列を係止する係止部材が設けられた支持枠と、該支持
枠を載せる載台と、上記支持枠に装着されて載台に載せ
られた後に前記固定部材を取り外されたウェーハ列の最
端部のウェーハを吸着する吸着盤と、前記吸着盤を前記
ウェーハの面方向に移動させ、前記支持部材及び前記係
止部材の係止を解いて前記ウェーハ列から前記ウェーハ
を剥離させる面方向移動手段とを具備したことを特徴と
するものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a wafer peeling apparatus, in which side plates are attached to both ends of a supporting member for supporting the wafer row adhered to the fixing member substantially horizontally with the fixing member facing upward. Between the pair of side plates, a support frame provided with a locking member that locks the wafer row by pushing the outer peripheral surface of the wafer row in the substantially central direction of the wafer row, a mounting table on which the support frame is placed, and the support frame. wherein the intake Chakuban, the suction cup to adsorb the wafer outermost end of the removed fixing member window Eha column after being placed on the loading table is mounted
By moving in the plane direction of the wafer,
From the wafer row to unlock the wafer
And a surface direction moving means for peeling off .

【0012】この構成では、固定部材に接着されたウェ
ーハ列を、固定部材を上にした状態で支持枠の支持部材
にほぼ水平に支持し、係止部材で係止して支持枠に装着
してから、その支持枠を載台の上に載せる。ウェーハ列
を接着した固定部材は、適当な時機に適宜の方法でウェ
ーハ列から分離する。この状態で吸着盤を作動させてウ
ェーハ列の最端部の1枚のウェーハを吸着し、そのウェ
ーハを面方向移動手段でウェーハの面方向に移動させ
、支持部材及び係止部材の係止を解いてウェーハをウ
ェーハ列から剥離する。ウェーハ列の各ウェーハは、垂
下状態で支持枠に支持されているので、大径のものであ
っても横に倒れることはない。
In this structure, the wafer row adhered to the fixing member is supported substantially horizontally on the supporting member of the supporting frame with the fixing member facing upward, and is locked by the locking member to be mounted on the supporting frame. After that, place the support frame on the platform. The fixing member to which the wafer row is adhered is separated from the wafer row at an appropriate time and in an appropriate method. In this state, the suction plate is operated to suck one wafer at the end of the wafer row, and the wafer is moved in the surface direction of the wafer by the surface direction moving means to lock the support member and the locking member. To release the wafer from the wafer row. Since each wafer in the wafer row is supported by the support frame in a suspended state, it does not fall sideways even if it has a large diameter.

【0013】請求項4記載のウェーハの剥離装置は、請
求項3記載のウェーハの剥離装置において、吸着盤によ
るウェーハの吸着位置に配設され、吸着盤に吸着された
1枚のウェーハのみを通過させるスリットを有するゲー
ト部材を具備したことを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the wafer stripping apparatus according to the third aspect, only one wafer, which is disposed at the wafer suction position by the suction plate and passes through the suction plate, is passed. It is characterized by comprising a gate member having a slit for making it.

【0014】この構成によれば、最端部の1枚のウェー
ハに次位のウェーハが水等で付着しているようなことが
あっても、ゲート部材は次位のウェーハがスリットを通
過するのを阻止する。したがって、ウェーハ列からウェ
ーハを1枚宛的確に剥離することができる。
According to this structure, even if the next wafer is adhered to the one wafer at the end by water or the like, the gate member allows the next wafer to pass through the slit. Prevent the. Therefore, one wafer can be accurately separated from the wafer row.

【0015】請求項5記載のウェーハの剥離装置は、請
求項3又は4記載のウェーハの剥離装置において、吸着
盤に吸着される最端部の1枚のウェーハと次位のウェー
ハとの間にエアを噴出して上記次位のウェーハから最端
部のウェーハを剥離するノズルを具備したことを特徴と
するものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the wafer stripping apparatus of the third or fourth aspect, between the one wafer at the end and the next wafer which are sucked by the suction plate. It is characterized in that it is provided with a nozzle for ejecting air to separate the wafer at the end from the next wafer.

【0016】この構成では、ノズルから噴出されたエア
は、ウェーハ列の最端部の1枚のウェーハを次位のウェ
ーハから離すように作用する。この場合もウェーハ列か
らウェーハが1枚宛一層円滑に剥離されるようになる。
In this structure, the air jetted from the nozzle acts so as to separate one wafer at the end of the wafer row from the next wafer. Also in this case, one wafer can be more smoothly separated from the wafer row.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して説明する。本発明に係るウェーハの剥離
装置は、支持枠1と載台2及び吸着盤3とを主体とす
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. The wafer peeling apparatus according to the present invention mainly includes a support frame 1, a mounting table 2, and a suction plate 3.

【0018】支持枠1は、円筒状の支持チューブ11を
嵌合した断面円形の支持軸12,13,14の両端部に
左右一対の側板16,17をボルト結合し、係止チュー
ブ19を嵌合した係止軸20を側板16,17の間に設
けて成る。支持軸12,13,14は、支持枠1の側面
視において、時計のほぼ7時、これに対称なほぼ5時、
3時の位置に固定され、また、係止軸20は支持軸12
に向き合うほぼ1時の位置に移動可能に設けられてい
る。支持軸12,13,14と係止軸20、及び側板1
6,17は、それぞれ互いに平行である。
In the support frame 1, a pair of left and right side plates 16 and 17 are bolted to both ends of support shafts 12, 13 and 14 having a circular cross section into which a cylindrical support tube 11 is fitted, and a locking tube 19 is fitted. A combined locking shaft 20 is provided between the side plates 16 and 17. The support shafts 12, 13, 14 are, when viewed from the side of the support frame 1, approximately 7 o'clock of the timepiece, approximately 5 o'clock symmetrical thereto,
It is fixed at the 3 o'clock position, and the locking shaft 20 is the support shaft 12.
It is movably provided at a position of about 1 o'clock facing. Support shafts 12, 13, 14 and locking shaft 20, and side plate 1
6 and 17 are parallel to each other.

【0019】支持軸12,13,14の各支持チューブ
11は、ウェーハ列Waの外周面にそれぞ接してウェー
ハ列Waを支持するものであり、各支持軸12,13,
14にそれぞれ固定されている。支持軸12,13,1
4とそれらに嵌合された支持チューブ11とは支持部材
を構成している。
The support tubes 11 of the support shafts 12, 13, 14 respectively contact the outer peripheral surface of the wafer row Wa to support the wafer row Wa.
It is fixed to 14 respectively. Support shafts 12, 13, 1
4 and the support tube 11 fitted to them constitute a support member.

【0020】係止軸20は、一対の付勢ばね21によっ
て側板16,17に取り付けられており、各支持チュー
ブ11に支持されたウェーハ列Waの外周面を支持軸1
2に向け係止チューブ19で所定量押してウェーハ列W
aを適度な力で係止するようになっている。付勢ばね2
1は、側板16,17の掛金16a,17aと係止軸2
0の端部との間に張設されており、係止軸20を側板1
6,17に当たるまで牽引して係止力を生じさせ、また
係止位置A(図3)から退避位置Bへの係止軸20の移
動を可能にしている。係止軸20とこれに固定された係
止チューブ19は係止部材を構成している。なお、各チ
ューブ11,19は、摩擦抵抗が大きく、かつ当たりが
軟らかいゴム若しくはこれと同効材料或いはブラシ等の
柔軟材料で製作されており、ウェーハ列Waを弾性的に
支持するようになっている。
The locking shaft 20 is attached to the side plates 16 and 17 by a pair of biasing springs 21, and the outer peripheral surface of the wafer row Wa supported by each supporting tube 11 is supported by the supporting shaft 1.
Wafer row W by pushing the locking tube 19 toward 2 toward a predetermined amount
It is designed to lock a with an appropriate force. Biasing spring 2
1 is latches 16a and 17a of side plates 16 and 17 and locking shaft 2
It is stretched between the end plate of the side plate 1 and the end plate of
The locking shaft 20 is pulled until it hits 6, 7 to generate a locking force, and the locking shaft 20 can be moved from the locking position A (FIG. 3) to the retracted position B. The locking shaft 20 and the locking tube 19 fixed to the locking shaft 20 constitute a locking member. Each of the tubes 11 and 19 is made of a rubber having a large friction resistance and a soft contact, a material having the same effect as that of the rubber, or a soft material such as a brush, and elastically supports the wafer row Wa. There is.

【0021】側板16,17はほぼC字状(逆C字状も
含む)に形成され、その上部に、ウェーハ列Waを接着
した固定部材5の受座16b,17bが設けられ、また
下部に下窄り状の脚部16c,17cが設けられてい
る。側板16,17の上部の外面には受具23がそれぞ
れボルトで取り付けられている。
The side plates 16 and 17 are formed in a substantially C-shape (including an inverted C-shape), on the upper part of which are provided seats 16b and 17b of the fixing member 5 to which the wafer row Wa is adhered, and on the lower part thereof. Lower constricted legs 16c and 17c are provided. Receptacles 23 are attached to the outer surfaces of the upper portions of the side plates 16 and 17 by bolts.

【0022】載台2は支持枠1を載せるものであり、固
定具25,26,27,27(図3で手前側のものしか
現われていない。)によって囲まれた空間に側板16,
17の脚部16c,17cを上から嵌め込んで支持枠1
を所定位置に正しく固定することができるようになって
いる。各固定具25,26,27はボルトで載台2にそ
れぞれ取り付けられている。
The mounting table 2 is for mounting the support frame 1, and the side plate 16, in the space surrounded by the fixtures 25, 26, 27, 27 (only the front one is shown in FIG. 3).
Support frame 1 by fitting the legs 16c, 17c of 17 from above
Can be correctly fixed in place. The fixtures 25, 26 and 27 are attached to the mounting table 2 with bolts, respectively.

【0023】吸着盤3は1枚のウェーハWを真空吸着す
るもので、真空吸着源(図示せず)に連絡されており、
取付板29に4個取り付けられている。取付板29は、
デュアルロッドシリンダ等の吸着移動手段30により、
ウェーハ列の長手方向(図2で左右方向)に動かされ
る。吸着移動手段30は、ロッドレスシリンダ等の面方
向移動手段31によって、支持枠1に支持されたウェー
ハWの面方向に水平に動かされる可動体32に取り付け
られている。また、面方向移動手段31は、ポジショニ
ングアクチュエータ等の長手方向移動手段33によっ
て、支持枠1に支持されたウェーハ列Waの長手方向に
水平に動かされる移動体34に取り付けられている。移
動体34の自由端(図3で左端)は案内部材35に沿っ
て移動する。
The suction plate 3 vacuum-sucks one wafer W and is connected to a vacuum suction source (not shown).
Four pieces are attached to the attachment plate 29. The mounting plate 29 is
By the suction moving means 30 such as a dual rod cylinder,
It is moved in the longitudinal direction of the wafer row (left-right direction in FIG. 2). The suction moving means 30 is attached to a movable body 32 which is horizontally moved in the surface direction of the wafer W supported by the support frame 1 by a surface direction moving means 31 such as a rodless cylinder. Further, the surface direction moving means 31 is attached to a moving body 34 which is horizontally moved in the longitudinal direction of the wafer row Wa supported by the support frame 1 by a longitudinal direction moving means 33 such as a positioning actuator. The free end (the left end in FIG. 3) of the moving body 34 moves along the guide member 35.

【0024】上記の構成により、吸着移動手段30で吸
着盤3を吸着移動させてウェーハ列Waの最端部のウェ
ーハWを吸着し、面方向移動手段31で吸着盤3を移動
させて吸着ウェーハWをウェーハ列Waから剥離して支
持枠1から取り出した後、ウェーハWの吸着を解いて吸
着盤3を元の状態に戻し、長手方向移動手段33の作動
で吸着盤3を次のウェーハWの位置に動かすことができ
る。
With the above structure, the suction moving means 30 sucks and moves the suction disk 3 to suck the wafer W at the end of the wafer row Wa, and the surface moving means 31 moves the suction disk 3 to suck the wafer. After separating W from the wafer row Wa and taking it out from the support frame 1, the suction of the wafer W is released to return the suction plate 3 to the original state, and the longitudinal moving means 33 operates to move the suction plate 3 to the next wafer W. Can be moved to the position.

【0025】移動体34には、ゲート部材37と起倒部
材38が設けられている。ゲート部材37は、位置決め
部37a,37bとスリット37c,37dとを有す
る。位置決め部37a,37bは、吸着盤3に吸着され
た最端部の1枚のウェーハWを接触させて位置決めする
ものであり、スリット37c,37dは吸着盤3に吸着
された1枚のウェーハWのみを通過させるものであっ
て、その隙間幅は1枚のウェーハWの厚さよりも大き
く、2枚のウェーハWの厚さよりも小さくされている。
The moving member 34 is provided with a gate member 37 and a raising / lowering member 38. The gate member 37 has positioning portions 37a and 37b and slits 37c and 37d. The positioning portions 37a and 37b contact and position the one wafer W at the endmost portion sucked by the suction plate 3, and the slits 37c and 37d serve as one wafer W sucked by the suction plate 3. Only the wafer W is passed through, and the gap width is made larger than the thickness of one wafer W and smaller than the thickness of two wafers W.

【0026】起倒部材38は、吸着盤3の面方向移動に
よりスリット37c,37dを通って移送されてきた1
枚のウェーハWを支承溝38aに受けて水平に倒され、
そのウェーハWを搬出コンベヤ39の上に載せるもの
で、起倒用シリンダ41によって取付軸42を支点に上
下に起倒させられるようになっている。支承溝38aは
起倒部材38の起立状態においてスリット37c,37
dの位置に正しく一致する。搬出コンベヤ39はモータ
43によって駆動される。
The tilting member 38 has been transferred through the slits 37c and 37d by the movement of the suction plate 3 in the surface direction.
The wafer W is received in the bearing groove 38a and is horizontally tilted,
The wafer W is placed on the carry-out conveyor 39, and can be vertically tilted by the tilting cylinder 41 with the mounting shaft 42 as a fulcrum. The support groove 38a has slits 37c, 37 when the upright member 38 is in the upright state.
Correctly matches the position of d. The carry-out conveyor 39 is driven by the motor 43.

【0027】ゲート部材37のスリット37c,37d
の挿入端の部分には、それぞれ1対のノズル45(図3
と図5)が設けられている。ノズル45は、吸着盤3に
吸着される最端部の1枚のウェーハWと次位のウェーハ
Wとの間にエアを噴出して上記次位のウェーハWから最
端部のウェーハWを剥離するもので、コンプレッサ等の
空気供給源(図示せず)に連絡されている。
Slits 37c and 37d of the gate member 37
The pair of nozzles 45 (Fig.
And FIG. 5) are provided. The nozzle 45 ejects air between the one wafer W at the end and the next wafer W adsorbed to the suction plate 3 to separate the wafer W at the end from the next wafer W. And is connected to an air supply source (not shown) such as a compressor.

【0028】符号47と48は光電センサである。光電
センサ47は、支持枠1に支持されたウェーハWの有無
を検知するものであり、また他の光電センサ48は、ウ
ェーハWの搬出を確認するものである。また、符号49
と50はケーブルベアである。
Reference numerals 47 and 48 are photoelectric sensors. The photoelectric sensor 47 is for detecting the presence or absence of the wafer W supported by the support frame 1, and the other photoelectric sensors 48 are for confirming the carry-out of the wafer W. Also, reference numeral 49
And 50 are cable bears.

【0029】次に上記の構成とされた本発明に係るウェ
ーハの剥離装置の作用を説明する。ワイヤソーによるス
ライスで形成されたウェーハ列Waは、そのままの状
態、つまり固定部材5を上にした状態でロボット等で運
ばれ、予め係止軸20を退避位置Bにつけた支持枠1の
受座16b,17bに固定部材5を載せて支持軸12,
13,14の支持チューブ11に支持される。
Next, the operation of the wafer peeling apparatus according to the present invention having the above structure will be described. The wafer row Wa formed by slicing with the wire saw is carried as it is, that is, with the fixing member 5 facing upward by a robot or the like, and the seat 16b of the support frame 1 with the locking shaft 20 attached to the retracted position B in advance is received. , 17b on which the fixing member 5 is mounted and the support shaft 12,
It is supported by the support tubes 11 of 13 and 14.

【0030】上記の状態で作業員が係止軸20を係止位
置Aに移動させて支持軸12,13,14と協働してウ
ェーハ列Waを係止し、ウェーハ列Waから固定部材5
を取り外す。この際、必要があれば、90〜95℃の温
水で接着剤を軟化させて固定部材5の取外しを容易にす
る。
In the above-mentioned state, the worker moves the locking shaft 20 to the locking position A and locks the wafer row Wa in cooperation with the support shafts 12, 13 and 14, and the fixing member 5 is moved from the wafer row Wa.
Remove. At this time, if necessary, the adhesive is softened with hot water at 90 to 95 ° C. to facilitate the removal of the fixing member 5.

【0031】上記のようにしてウェーハ列Waを装着し
た支持枠1は、固定部材5の除去後、ロボット或いは作
業員により載台2の上に運び、側板16,17の脚部1
6b,17bを固定具25,26,27,27の空間に
嵌め込んで固定する。この運込みは、脚部16b,17
bが下窄り状となっているため、的確かつ円滑に行うこ
とができる。
After removing the fixing member 5, the supporting frame 1 having the wafer row Wa mounted thereon as described above is carried onto the platform 2 by a robot or a worker, and the leg portions 1 of the side plates 16 and 17 are carried out.
6b and 17b are fitted and fixed in the spaces of the fixtures 25, 26, 27 and 27. This transportation is performed by the legs 16b, 17
Since b has a downward constriction, it can be performed accurately and smoothly.

【0032】載台2上の支持枠1に装着されたウェーハ
列WaからのウェーハWの剥離は次のようにして行われ
る。まず、吸着移動手段30の作動により、吸着盤3が
ウェーハ列Waの最端部のウェーハWに近づけられてそ
のウェーハWを吸着し、直ちに元の位置に戻される。こ
の際、ノズル45からエアが最端部のウェーハWと次位
のウェーハWとの間に噴出され、ウェーハ列Waに水等
で付着している最端部のウェーハWの剥離を助ける。そ
して、吸着盤3に吸着された1枚のウェーハWは、吸着
盤3の戻り移動で位置決め部37a,37bに軽く触れ
スリット37c,37dの位置につく。
The separation of the wafer W from the wafer row Wa mounted on the support frame 1 on the mounting table 2 is performed as follows. First, by the operation of the suction moving means 30, the suction plate 3 is brought close to the wafer W at the end of the wafer row Wa, sucks the wafer W, and immediately returns to the original position. At this time, air is ejected from the nozzle 45 between the wafer W at the outermost end and the next wafer W to help peel off the wafer W at the outermost end adhering to the wafer row Wa with water or the like. Then, one wafer W adsorbed on the suction plate 3 is brought into contact with the positioning portions 37a, 37b at the slits 37c, 37d by the return movement of the suction plate 3.

【0033】次いで、面方向移動手段31が作動して可
動体32と一緒に吸着盤3を図3で左に移動させる。吸
着盤3に吸着されたウェーハWは、吸着盤3の上記の面
方向移動により、前端部の支持軸12の支持チューブ1
1を乗り越え、ウェーハ列Waに対してねじれるように
転回して支持軸12の支持チューブ11と係止軸20の
係止チューブ19との間からそれらの係止を解いて強制
的に抜き出され、スリット37c,37dを通って起立
状態の起倒部材38の支承溝38aに挿入される。ウェ
ーハ列Waを弾性的に支持した支持軸12と係止軸20
のチューブ11,19はウェーハWの抜け出しを円滑に
する。また、ウェーハWは、支持軸12の支持チューブ
11を支点とするねじれ転回によってウェーハ列Waか
ら円滑に剥離されるようになる。スリット37c,37
dは、1枚のウェーハWのみを通過させ、次位のウェー
ハWが通過するのを阻止する。
Then, the surface direction moving means 31 is operated to move the suction plate 3 together with the movable body 32 to the left in FIG. The wafer W sucked by the suction plate 3 is moved by the above-described surface direction movement of the suction plate 3, and thus the support tube 1 of the support shaft 12 at the front end portion.
1, is rotated so as to be twisted with respect to the wafer row Wa, and is unlocked between the support tube 11 of the support shaft 12 and the locking tube 19 of the locking shaft 20 to forcibly withdraw. , Through the slits 37c and 37d, and is inserted into the support groove 38a of the upright member 38 in the upright state. Support shaft 12 elastically supporting wafer row Wa and locking shaft 20
The tubes 11 and 19 make the removal of the wafer W smooth. In addition, the wafer W is smoothly separated from the wafer row Wa by twisting and turning with the support tube 11 of the support shaft 12 as a fulcrum. Slits 37c, 37
d allows only one wafer W to pass and prevents the next wafer W from passing.

【0034】このようにして1枚のウェーハWが起倒部
材38に支承されると、吸着盤3によるウェーハWの吸
着が解除されるとともに、起倒用シリンダ41が作動し
て起倒部材38をほぼ水平に倒し、支承溝38a内のウ
ェーハWを搬出コンベヤ39の上に載せる。搬出コンベ
ヤ39はウェーハWを次の系に搬出する。
When one wafer W is thus supported by the raising / lowering member 38, the suction of the wafer W by the suction plate 3 is released, and the raising / lowering cylinder 41 is actuated to move the raising / lowering member 38. The wafer W in the support groove 38a is placed on the carry-out conveyor 39 by tilting the wafer substantially horizontally. The carry-out conveyor 39 carries the wafer W to the next system.

【0035】吸着盤3はウェーハWの吸着を解除する
と、面方向移動手段31の作動によって支持枠1の部分
に戻される。また起倒用シリンダ41は、搬出コンベヤ
39の作動によってウェーハWが支承溝38aから抜け
出ると、起倒部材38を垂直に起立させて次の作動に備
える。起倒部材38が起立させられると、長手方向移動
手段33が作動して移動体34を図1で左に動かして次
の剥離位置につける。なお、吸着移動手段30によって
吸着盤3をウェーハ列Waの長手方向に移動させること
ができるので、ウェーハWを1回剥離するごとに移動体
34を長手方向移動手段33で移動させる必要はない。
When the suction of the wafer W is released, the suction disk 3 is returned to the support frame 1 by the operation of the surface direction moving means 31. Further, when the wafer W comes out of the bearing groove 38a by the operation of the carry-out conveyor 39, the up-and-down cylinder 41 erects the up-and-down member 38 vertically to prepare for the next operation. When the erection member 38 is erected, the longitudinal moving means 33 is activated to move the moving body 34 to the left in FIG. 1 and set it at the next peeling position. Since the suction moving means 30 can move the suction disk 3 in the longitudinal direction of the wafer row Wa, it is not necessary to move the moving body 34 by the longitudinal moving means 33 every time the wafer W is separated.

【0036】以下、上記の作動を繰り返えして、支持枠
1に支持されたウェーハ列WaのすべてのウェーハWを
剥離する。
Thereafter, the above operation is repeated to peel off all the wafers W in the wafer row Wa supported by the support frame 1.

【0037】図の係止軸20は、前端部の支持軸12と
ウェーハ列Waの中心とを結ぶ直線の延長線上において
ウェーハ列Waの外周面をその中心方向に押す構造とな
っているが、その位置が図3で12時方向又は3時方向
に多少ずれていてもよい。支持軸の設備本数と吸着盤3
の個数は図のものに限らず任意である。長手方向移動手
段によって載台2を吸着盤3に対して移動させる構成と
してもよい。
The locking shaft 20 in the figure has a structure in which the outer peripheral surface of the wafer row Wa is pushed toward the center thereof on an extension line of a straight line connecting the support shaft 12 at the front end portion and the center of the wafer row Wa. The position may be slightly shifted in the 12 o'clock direction or the 3 o'clock direction in FIG. Number of supporting shaft equipment and suction cup 3
The number of is not limited to that shown in the figure and is arbitrary. A configuration may be adopted in which the mounting table 2 is moved with respect to the suction plate 3 by the longitudinal movement means.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば,次のような効果を奏することができる。 (a) 請求項1記載のウェーハの剥離方法によれば、
大径で重量のあるウェーハであっても横に倒して損傷さ
せるようなことなく、的確に剥離することができる。し
かも、固定部材とウェーハ列の上下をわざわざ逆にする
必要がないので、スライス装置から剥離装置への移送が
容易で、装置の簡略化が可能となる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) According to the wafer peeling method of claim 1,
Even a large-diameter and heavy-weight wafer can be accurately peeled off without falling down sideways to damage it. Moreover, since it is not necessary to purposely turn the fixing member and the wafer row upside down, the transfer from the slicing device to the peeling device is easy and the device can be simplified.

【0039】(b) 請求項2記載のウェーハの剥離方
法によれば、上記(a)の効果に加え、ウェーハは、支
持部材の前端部を乗り越える際にねじれるように転回す
ることとなり、一層円滑にウェーハを剥離することがで
きる。また、大きい外力がウェーハに加えられない限り
支持枠に適当な係止力で安定よく係止されているので、
振動等によるウェーハの離脱を防止できる。
(B) According to the wafer peeling method of the second aspect, in addition to the effect of the above (a), the wafer is turned so as to be twisted when getting over the front end portion of the supporting member, so that the wafer is smoother. The wafer can be peeled off. Also, unless a large external force is applied to the wafer, it is stably locked to the support frame with an appropriate locking force,
Wafer detachment due to vibration can be prevented.

【0040】(c) 請求項3記載のウェーハの剥離装
置によれば、請求項1記載の剥離方法を実施して前記
(a)の効果をあげることができる。また、構造が簡単
で実施しやすい長所がある。
(C) According to the wafer peeling apparatus of the third aspect, it is possible to carry out the peeling method of the first aspect to achieve the effect of the (a). In addition, the structure is simple and easy to implement.

【0041】(d) 請求項4記載のウェーハの剥離装
置によれば、上記(c)の効果に加え、ウェーハを1枚
宛、一層的確に剥離することができる。 (e) 請求項5記載のウェーハの剥離装置によれば、
上記(c)と(d)の効果に加え、ウェーハを1枚宛、
より一層的確かつ円滑に剥離することができる。
(D) According to the wafer peeling apparatus of the fourth aspect, in addition to the effect of the above (c), one wafer can be more accurately peeled. (E) According to the wafer peeling apparatus of claim 5,
In addition to the effects of (c) and (d) above, one wafer is addressed,
The peeling can be performed more accurately and smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施の形態を示す一部破断の平面図
である。
FIG. 1 is a partially cutaway plan view showing an embodiment of the present invention.

【図2】 図1の剥離装置の一部分を破断した正面図で
ある。
2 is a partially cutaway front view of the peeling device of FIG. 1. FIG.

【図3】 同じく側面図である。FIG. 3 is a side view of the same.

【図4】 取付板に対する吸着盤の取付状態を示す断面
図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing how the suction plate is attached to the attachment plate.

【図5】 ゲート部材の平面図である。FIG. 5 is a plan view of a gate member.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 支持枠 2 載台 3 吸着盤 5 固定部材 11 支持チューブ 12,13,14
支持軸 16,17 側板 16b,17b
受座 19 係止チューブ 20 係止軸 21 付勢ばね 31 面方向移動
手段 37 ゲート部材 37a,37b
位置決め部 37c,37d スリット 45 ノズル W ウェーハ Wa ウェーハ列
1 Support Frame 2 Mounting Platform 3 Suction Board 5 Fixing Member 11 Support Tubes 12, 13, 14
Support shafts 16 and 17 Side plates 16b and 17b
Seat 19 Locking tube 20 Locking shaft 21 Energizing spring 31 Surface direction moving means 37 Gate members 37a, 37b
Positioning parts 37c and 37d Slit 45 Nozzle W Wafer Wa Wafer row

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 49/07 H01L 21/304 611 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/68 B65G 49/07 H01L 21/304 611

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ウェーハ列からウェーハを1枚宛剥離す
るウェーハの剥離方法であって、 固定部材に接着されたウェーハ列を、上記固定部材を上
にした状態で支持枠に設けられた支持部材上にほぼ水平
に支持するとともに、前記支持枠に設けられた係止部材
で前記ウェーハ列の外周面を該ウェーハ列のほぼ中央方
向に押し、前記支持部材と協働して前記ウェーハ列を係
止することにより前記支持枠に装着する工程と、 支持枠に装着されたウェーハ列から固定部材を分離する
工程と、 固定部材を分離されたウェーハ列の最端部のウェーハを
面方向移動手段で該ウェーハの面方向に移動させること
によりウェーハ列から1枚宛剥離して支持枠から取り出
す工程とを具備したことを特徴とするウェーハの剥離方
法。
1. A wafer separating method of addressed one wafer from the wafer column peeling, the wafer column bonded to the fixing member, the support frame to provided a supporting lifting while on the fixing member in together when substantially horizontally supported on a member, the locking member provided on the support frame
The outer peripheral surface of the wafer row is located approximately in the center of the wafer row.
And pushes the wafer row in cooperation with the support member.
A step of mounting the supporting lifting frame by stopping, and separating the fixing member from the loaded wafer column to the support frame, the wafer surface direction moving means in the endmost portion of the wafer column separated the fixing member And a step of moving the wafer in the surface direction so that one wafer is peeled off from the wafer row and taken out from the supporting frame.
【請求項2】 ウェーハを、支持部材と係止部材の間か
ら支持部材の前端部を乗り越えて取り出すことを特徴と
する請求項1記載のウェーハの剥離方法。
2. The method of stripping a wafer according to claim 1, wherein the wafer is taken out from between the support member and the locking member by overcoming the front end portion of the support member.
【請求項3】 固定部材に接着されたウェーハ列を、上
記固定部材を上にした状態でほぼ水平に支持する支持部
材の両端に側板がそれぞれ取り付けられ、該一対の側板
の間に、ウェーハ列の外周面をウェーハ列のほぼ中心方
向に押してウェーハ列を係止する係止部材が設けられた
支持枠と、 該支持枠を載せる載台と、 上記支持枠に装着されて載台に載せられた後に前記固定
部材を取り外されたウェーハ列の最端部のウェーハを吸
着する吸着盤と 前記吸着盤を前記ウェーハの面方向に移動させ、前記支
持部材及び前記係止部材の係止を解いて前記ウェーハ列
から前記ウェーハを剥離させる面方向移動手段とを 具備
したことを特徴とするウェーハの剥離装置。
3. A side plate is attached to each end of a supporting member for supporting the wafer row adhered to the fixing member substantially horizontally with the fixing member facing upward, and a wafer row of the wafer row is provided between the pair of side plates. A support frame provided with a locking member that locks the wafer row by pushing the outer peripheral surface in the substantially central direction of the wafer row, a mounting table on which the support frame is mounted, and a mounting frame mounted on the supporting frame . After said fixed
Absorption wafers endmost of removed the member c Eha column
And intake Chakuban to wear, by moving the suction cup in the direction of the face of the wafer, the supporting
The wafer row by unlocking the holding member and the locking member
And a plane moving means for separating the wafer from the wafer .
【請求項4】 吸着盤によるウェーハの吸着位置に配設
され、吸着盤に吸着された1枚のウェーハのみを通過さ
せるスリットを有するゲート部材を具備したことを特徴
とする請求項3記載のウェーハの剥離装置。
4. The wafer according to claim 3, further comprising a gate member which is arranged at a suction position of the wafer by the suction plate and has a slit through which only one wafer sucked by the suction plate passes. Peeling device.
【請求項5】 吸着盤に吸着される最端部の1枚のウェ
ーハと次位のウェーハとの間にエアを噴出して上記次位
のウェーハから最端部のウェーハを剥離するノズルを具
備したことを特徴とする請求項3又は4記載のウェーハ
の剥離装置。
5. A nozzle for ejecting air between one wafer at the end and the next wafer adsorbed by the suction plate to separate the end wafer from the next wafer. The wafer peeling apparatus according to claim 3 or 4, characterized in that.
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