Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3538353B2 - Cleaning liquid suction device - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3538353B2 - Cleaning liquid suction device - Google Patents

Cleaning liquid suction device

Info

Publication number
JP3538353B2
JP3538353B2 JP35632899A JP35632899A JP3538353B2 JP 3538353 B2 JP3538353 B2 JP 3538353B2 JP 35632899 A JP35632899 A JP 35632899A JP 35632899 A JP35632899 A JP 35632899A JP 3538353 B2 JP3538353 B2 JP 3538353B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning liquid
suction
cleaning
suction nozzle
glass substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP35632899A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2001170578A (en
Inventor
崇 木村
仁史 小野
裕一 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP35632899A priority Critical patent/JP3538353B2/en
Publication of JP2001170578A publication Critical patent/JP2001170578A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3538353B2 publication Critical patent/JP3538353B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示素子およ
びプラズマディスプレイパネル(PDP)などのフラッ
トパネルディスプレイあるいは半導体基板などの製造工
程で用いられ、被洗浄物の洗浄後に被洗浄物に残留する
洗浄液を吸引して除去する洗浄液吸引装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a manufacturing process of a flat panel display such as a liquid crystal display device and a plasma display panel (PDP) or a semiconductor substrate, and a cleaning liquid remaining on the object after cleaning the object. The present invention relates to a cleaning liquid suction device for sucking and removing water.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば、液晶表示素子の製造工程で使
用されている従来の洗浄液の除去方式について説明す
る。図5は、エアナイフ1を用いた洗浄液の除去方式を
示す模式図であり、図6は、ヘラ型の除去器9を用いた
洗浄液の除去方式を示す模式図である。被洗浄物である
ガラス基板2は、複数の搬送ローラ3によって搬送方向
Bに搬送され、洗浄装置5から噴射される洗浄液によっ
て洗浄される。このとき、ガラス基板の一表面11上に
膜状の洗浄液8が残留したまま、搬送ローラ3によって
搬送方向Bに搬送される。
2. Description of the Related Art For example, a conventional cleaning liquid removing method used in a manufacturing process of a liquid crystal display element will be described. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a cleaning liquid removing method using the air knife 1, and FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a cleaning liquid removing method using the spatula-type remover 9. The glass substrate 2 as the object to be cleaned is transported in the transport direction B by the plurality of transport rollers 3, and is cleaned by the cleaning liquid ejected from the cleaning device 5. At this time, the cleaning liquid 8 in the form of a film remains on the one surface 11 of the glass substrate and is transported in the transport direction B by the transport roller 3.

【0003】図5に示すように、エアナイフ1は洗浄装
置5の搬送方向B下流側に配置される。このエアナイフ
1のスリット状の噴出口6からは、加圧された気体が噴
出されており、この気体の圧力によって気体カーテン7
が形成される。この気体カーテン7が、前述の膜状の洗
浄液8を堰止めることによってガラス基板2から洗浄液
が除去される。このエアナイフ1による除去方式では、
噴出される気体の圧力を調節することによって、除去す
る洗浄液の量を制御することが可能である。
As shown in FIG. 5, the air knife 1 is disposed downstream of the cleaning device 5 in the transport direction B. A pressurized gas is jetted from a slit-shaped jet port 6 of the air knife 1, and the pressure of the gas causes a gas curtain 7 to flow.
Is formed. The gas curtain 7 blocks the above-mentioned film-like cleaning liquid 8 to remove the cleaning liquid from the glass substrate 2. In the removal method using the air knife 1,
It is possible to control the amount of the cleaning liquid to be removed by adjusting the pressure of the gas to be ejected.

【0004】図6に示すように、ヘラ型の除去器9は、
洗浄装置5の搬送方向B下流側に配置され、シート状の
ゴムなどから成る。前述の気体カーテン7と同様に、こ
の除去器9が膜状の洗浄液8を堰止めることによってガ
ラス基板2から洗浄液が除去される。前述の膜状の洗浄
液8をガラス基板2から完全に除去する場合には、除去
器9の下端10をガラス基板2の一表面11に接触させ
る。すると、搬送ローラ3の搬送力と除去器9の変形に
よって生じる圧力とによって、除去器9はガラス基板2
に密着するので、膜状の洗浄液8を完全に拭い取ること
ができる。また、膜状の洗浄液8の一部だけを除去する
場合には、除去器9の下端10とガラス基板2の一表面
11との間に間隙を設ければよい。これによって、除去
器9の下端10よりも高い位置にある洗浄液のみを堰止
めて除去することができる。このように、間隙の距離を
調節することによって、ガラス基板2上に残留する洗浄
液の膜厚さを制御することができる。
[0004] As shown in FIG. 6, a spatula-type remover 9 comprises:
It is arranged downstream of the cleaning device 5 in the transport direction B, and is made of a sheet-like rubber or the like. As in the case of the gas curtain 7 described above, the remover 9 blocks the cleaning liquid 8 in the form of a film, whereby the cleaning liquid is removed from the glass substrate 2. To completely remove the film-like cleaning liquid 8 from the glass substrate 2, the lower end 10 of the remover 9 is brought into contact with one surface 11 of the glass substrate 2. Then, the remover 9 is moved by the transport force of the transport roller 3 and the pressure generated by the deformation of the remover 9 so that the glass substrate 2 is removed.
Therefore, the film-like cleaning liquid 8 can be completely wiped off. When only a part of the film-like cleaning liquid 8 is to be removed, a gap may be provided between the lower end 10 of the remover 9 and one surface 11 of the glass substrate 2. Thus, only the cleaning liquid at a position higher than the lower end 10 of the remover 9 can be blocked and removed. As described above, the thickness of the cleaning liquid remaining on the glass substrate 2 can be controlled by adjusting the distance of the gap.

【0005】また、特開平10−163153号公報に
は、洗浄液を導入する導入口と、導入された洗浄液を被
洗浄物に噴射する噴射口と、噴射された洗浄液を回収す
る排出口とが一体的に形成された洗浄ノズルが記載され
ている。この洗浄ノズルによれば、洗浄に使用された後
の洗浄液を、被洗浄物上に残留させることなく回収でき
る。
In Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-163153, an inlet for introducing a cleaning liquid, an injection port for injecting the introduced cleaning liquid onto an object to be cleaned, and an outlet for collecting the injected cleaning liquid are integrally provided. A specifically formed cleaning nozzle is described. According to this cleaning nozzle, the cleaning liquid used for cleaning can be collected without remaining on the object to be cleaned.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図7は、一般的な洗浄
装置の洗浄のメカニズムを示す図である。洗浄の対象
物、たとえばガラス基板2に対して、圧力、振動および
熱などの物理的なエネルギ12を与えることによって、
ガラス基板2の一表面11から汚染物13を洗浄液8中
に浮き上がらせる。その後、浮き上がらせた汚染物13
を洗浄液8中に拡散させる。これによって、浮き上がら
せた汚染物13が、再びガラス基板2に再付着すること
が防止され、ガラス基板2の一表面11が洗浄される。
すなわち、ガラス基板2の洗浄効率を向上させるために
は、洗浄時に与える物理的なエネルギ12を強くした
り、あるいは浮き上がった汚染物13がガラス基板2に
再付着する前に汚染物13を洗浄液8中に拡散させた
り、あるいは浮き上がった汚染物13がガラス基板2に
再付着する前に、ガラス基板2から洗浄液8を除去すれ
ばよい。
FIG. 7 is a diagram showing a cleaning mechanism of a general cleaning apparatus. By applying physical energy 12 such as pressure, vibration and heat to an object to be cleaned, for example, the glass substrate 2,
The contaminants 13 float up in the cleaning liquid 8 from one surface 11 of the glass substrate 2. Then, the contaminants 13
In the cleaning liquid 8. This prevents the contaminants 13 that have floated up from re-adhering to the glass substrate 2 and the one surface 11 of the glass substrate 2 is cleaned.
That is, in order to improve the cleaning efficiency of the glass substrate 2, the physical energy 12 applied at the time of cleaning is increased, or the contaminants 13 are removed from the cleaning liquid 8 before the floating contaminants 13 adhere to the glass substrate 2 again. The cleaning liquid 8 may be removed from the glass substrate 2 before the contaminants 13 diffused therein or lifted up adhere to the glass substrate 2.

【0007】しかし、上述のようにして洗浄効率を向上
させたとしても、汚染物13を含有する洗浄液8に洗浄
後のガラス基板2は接触しているので、ガラス基板2が
再び汚染されてしまうという問題が発生する。図5に示
すエアナイフ1による除去方式では、気体カーテン7に
よって洗浄液8が堰止められる堰止め部14に、汚染さ
れた洗浄液が集中し、この堰止め部14で汚染が進行す
る確率が高くなる。また、同様にヘラ型の除去器9によ
る除去方式では、除去器9が洗浄液8を堰止める堰止め
部15で汚染が進行する確率が高くなる。この問題は、
洗浄液8を堰止めて除去する上述の2つの方式では解決
することはできない。
[0007] However, even if the cleaning efficiency is improved as described above, the glass substrate 2 after cleaning is in contact with the cleaning liquid 8 containing the contaminants 13, so that the glass substrate 2 is again contaminated. The problem occurs. In the removal method using the air knife 1 shown in FIG. 5, the contaminated cleaning liquid concentrates on the blocking section 14 where the cleaning liquid 8 is blocked by the gas curtain 7, and the probability of the contamination progressing at the blocking section 14 increases. Similarly, in the removal method using the spatula-type remover 9, the probability of the contamination progressing at the blocking unit 15 where the remover 9 blocks the cleaning liquid 8 is increased. This problem,
The above two methods of blocking and removing the cleaning liquid 8 cannot solve the problem.

【0008】一方、ガラス基板2の一表面11を濡れた
状態で搬送方向Bに搬送することによって、残留した膜
状の洗浄液8が保護膜として機能し、ガラス基板2の一
表面11が大気によって汚染されることが防止される。
しかしながら、残留する洗浄液8の量が少量であると、
搬送中に洗浄液が揮発してしまい、洗浄液8中の汚染物
13などの溶解成分がシミとして残ってしまう恐れがあ
る。このため、ガラス基板2の一表面11に残留する洗
浄液8は、搬送中に完全に揮発してしまわない程度の量
を残す必要がある。
On the other hand, when the one surface 11 of the glass substrate 2 is transported in the transport direction B in a wet state, the remaining film-like cleaning liquid 8 functions as a protective film, and the one surface 11 of the glass substrate 2 is exposed to the atmosphere. Contamination is prevented.
However, if the amount of the remaining cleaning liquid 8 is small,
During the transportation, the cleaning liquid may be volatilized, and dissolved components such as the contaminants 13 in the cleaning liquid 8 may remain as stains. For this reason, the cleaning liquid 8 remaining on the one surface 11 of the glass substrate 2 needs to leave an amount that does not completely evaporate during transportation.

【0009】上述のように、汚染物13の再付着を防止
し、かつ洗浄液を完全に揮発させないようにガラス基板
2の一表面11に残留する洗浄液を所定量に制御する必
要がある。しかしながら、図5に示すエアナイフ1によ
る除去方式では、噴出口6から噴出される気体の圧力を
制御することは困難であるため、残留させる洗浄液8の
量を制御することも難しい。一方、図6に示すヘラ型の
除去器9による除去方式では、除去器9の下端10とガ
ラス基板2の一表面11との距離を制御することによっ
て残留させる洗浄液の量を容易に制御できる。しかし、
この方式では除去器9が汚染物13を含む洗浄液8に常
に接触しているため、除去器9が汚染されてしまい、除
去器9が二次汚染の原因となってしまう。
As described above, it is necessary to control the amount of the cleaning liquid remaining on the one surface 11 of the glass substrate 2 to a predetermined amount so as to prevent the contaminant 13 from re-adhering and not to completely volatilize the cleaning liquid. However, in the removal method using the air knife 1 shown in FIG. 5, it is difficult to control the pressure of the gas ejected from the ejection port 6, and thus it is also difficult to control the amount of the remaining cleaning liquid 8. On the other hand, in the removal method using the spatula-type remover 9 shown in FIG. 6, the amount of the remaining cleaning liquid can be easily controlled by controlling the distance between the lower end 10 of the remover 9 and one surface 11 of the glass substrate 2. But,
In this method, since the remover 9 is always in contact with the cleaning liquid 8 containing the contaminant 13, the remover 9 is contaminated and the remover 9 causes secondary contamination.

【0010】また、特開平10−163153号公報に
開示される洗浄ノズルでは、洗浄液を被洗浄物から完全
に除去してしまうので、前述の洗浄液8による保護膜を
持たないため、大気による汚染が発生するといった問題
があった。
In the cleaning nozzle disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-163153, the cleaning liquid is completely removed from the object to be cleaned. There was a problem that occurred.

【0011】本発明の目的は、洗浄後の平板状の被洗浄
物が、残留する洗浄液によって再び汚染されてしまうこ
とを防止する洗浄液吸引装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a cleaning liquid suction apparatus for preventing a flat cleaning object after cleaning from being contaminated again by a residual cleaning liquid.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、平板状の被洗
浄物を洗浄液によって洗浄した後に、被洗浄物の一表面
上に膜状に残留する洗浄液を吸引ノズルによって吸引し
て除去する洗浄液吸引装置において、前記膜状の洗浄液
の上面に、前記吸引ノズルの先端面が間隙を開けて配置
され、前記吸引ノズルの先端面の面積が、吸引ノズルの
吸引孔の面積の3倍以上であることを特徴とする洗浄液
吸引装置である。
According to the present invention, there is provided a cleaning liquid for removing a cleaning liquid remaining in a film form on one surface of a cleaning object by suctioning the cleaning liquid after cleaning the flat object to be cleaned with the cleaning liquid. In the suction device, a tip surface of the suction nozzle is disposed on the upper surface of the film-like cleaning liquid with a gap therebetween, and an area of the tip surface of the suction nozzle is at least three times an area of a suction hole of the suction nozzle. A cleaning liquid suction device characterized in that:

【0013】本発明に従えば、平板状の被洗浄物は洗浄
液によって洗浄され、被洗浄物の一表面上に膜状の洗浄
液が残留する。この膜状の洗浄液は、吸引ノズルによっ
て吸引されて除去される。このとき、吸引ノズルの先端
面と、膜状の洗浄液の上面との間には、間隙が設けられ
ており、吸引ノズルは膜状の洗浄液に非接触で洗浄液を
吸引して除去する。このように、吸引ノズルは、洗浄に
使用された後の汚染物が含まれる洗浄液に接触しないの
で、吸引ノズルが洗浄液中の汚染物によって汚染される
ことが防止される。これによって、吸引ノズルが洗浄液
および被洗浄物の二次汚染の原因となることはない。ま
た、吸引ノズルが被洗浄物にあたって被洗浄物に物理的
な損傷を与えることがない。本発明に従えば、吸引ノズ
ルの先端面の面積が、吸引孔の面積の3倍以上であれ
ば、吸引時に吸引ノズルの先端面と膜状の洗浄液の上面
とによって挟まれる間隙に、負圧雰囲気の領域を形成す
ることができるので、吸引ノズルが膜状の洗浄液に接触
していない状態で、効率よく洗浄液を吸引することがで
きる。このようにして吸引された洗浄液は、吸引孔を通
って排出される。このとき吸引孔の面積よりも広い領域
で洗浄液の吸引を行うことができる。
According to the present invention, the flat cleaning object is cleaned by the cleaning liquid, and the film-like cleaning liquid remains on one surface of the cleaning object. The film-like cleaning liquid is sucked and removed by the suction nozzle. At this time, a gap is provided between the tip surface of the suction nozzle and the upper surface of the film-like cleaning liquid, and the suction nozzle sucks and removes the cleaning liquid without contacting the film-like cleaning liquid. As described above, the suction nozzle does not come into contact with the cleaning liquid containing the contaminants after being used for cleaning, so that the suction nozzle is prevented from being contaminated by the contaminants in the cleaning liquid. Thus, the suction nozzle does not cause secondary contamination of the cleaning liquid and the object to be cleaned. Further, the suction nozzle does not physically damage the object to be cleaned when the object is to be cleaned. According to the present invention, if the area of the tip surface of the suction nozzle is three times or more the area of the suction hole, a negative pressure is applied to the gap between the tip surface of the suction nozzle and the upper surface of the film-like cleaning liquid during suction. Since the region of the atmosphere can be formed, the cleaning liquid can be efficiently suctioned in a state where the suction nozzle is not in contact with the film-shaped cleaning liquid. The cleaning liquid sucked in this way is discharged through the suction holes. At this time, the cleaning liquid can be sucked in a region larger than the area of the suction hole.

【0014】[0014]

【0015】[0015]

【0016】また本発明は、前記吸引ノズルによって吸
引された洗浄液を一時的に貯留する貯留空間を有し、貯
留空間に臨み、貯留空間内に排出された洗浄液を排出す
る排出孔が設けられる箱体を備え、前記吸引ノズルは、
その上端面が貯留空間内で、前記排出孔の上端部よりも
高い位置に配置されて箱体に接続されることを特徴とす
る。
The present invention also provides a box having a storage space for temporarily storing the cleaning liquid sucked by the suction nozzle, facing the storage space, and provided with a discharge hole for discharging the cleaning liquid discharged into the storage space. Comprising a body, wherein the suction nozzle comprises:
The upper end surface is arranged at a position higher than the upper end portion of the discharge hole in the storage space and is connected to the box.

【0017】本発明に従えば、吸引ノズルは、その上端
部が箱体の底壁から貯留空間内に突出して箱体に接続さ
れ、この箱体には貯留空間内の空気を吸引する吸引ポン
プが接続される。吸引ポンプが駆動すると、貯留空間内
の空気が吸引されて負圧となり、洗浄液は吸引ノズルか
ら吸引される。吸引された洗浄液は、吸引ノズルの上端
面から箱体内部に排出される。箱体内部に排出された洗
浄液は、箱体内部の貯留空間に一時的に貯留され、排出
孔から吸引されて排出される。上述のように吸引ノズル
と吸引ポンプとの間に、箱体を介在させることによっ
て、吸引ポンプの吸引圧力が一時的に低下するなどとい
った不安定な状態になったとしても、貯留空間がバッフ
ァとなり、吸引ノズルからの吸引力を安定化することが
できる。
According to the present invention, the suction nozzle has an upper end projecting from the bottom wall of the box into the storage space and connected to the box, and the box has a suction pump for sucking the air in the storage space. Is connected. When the suction pump is driven, the air in the storage space is sucked to a negative pressure, and the cleaning liquid is sucked from the suction nozzle. The suctioned cleaning liquid is discharged from the upper end surface of the suction nozzle into the inside of the box. The cleaning liquid discharged inside the box is temporarily stored in a storage space inside the box, and is sucked and discharged from the discharge hole. As described above, even if the suction pressure of the suction pump temporarily drops due to the interposition of the box between the suction nozzle and the suction pump, the storage space becomes a buffer. In addition, the suction force from the suction nozzle can be stabilized.

【0018】また、箱体には、貯留された洗浄液を排出
する排出孔が形成される。吸引ノズルの上端面は、この
排出孔の上端よりも高い位置に配置されており、貯留空
間内の洗浄液の液面は、排出孔の上端より上になること
がないので、洗浄液の吸引中に、負圧の偏りが発生し
て、洗浄液を吸引できなくなったり、あるいは吸引ポン
プが停止したとしても、貯留空間に貯留されている洗浄
液が、被洗浄物に逆流することが防止される。これによ
って、被洗浄物に逆流する洗浄液は、吸引孔に残留する
量だけとなり、被洗浄物の再汚染を最小限にすることが
できる
The box has a discharge hole for discharging the stored cleaning liquid. The upper end surface of the suction nozzle is disposed at a position higher than the upper end of the discharge hole, and the liquid level of the cleaning liquid in the storage space does not become higher than the upper end of the discharge hole. Even if the bias of the negative pressure is generated and the cleaning liquid cannot be suctioned or the suction pump is stopped, the cleaning liquid stored in the storage space is prevented from flowing back to the object to be cleaned. Thus, only the amount of the cleaning liquid that flows back to the object to be cleaned remains in the suction hole, and recontamination of the object to be cleaned can be minimized.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の一形態の
洗浄液吸引装置21の模式図であり、図2は洗浄液吸引
装置21の簡略化した断面図であり、図3は吸引ノズル
22の先端面29を示す図である。本発明の洗浄液吸引
装置21は、たとえば液晶表示素子などの製造工程で使
用され、平板状の被洗浄物を洗浄液によって洗浄した後
に、被洗浄物の一表面上に膜状に残留する洗浄液を吸引
ノズル22によって吸引して除去する装置である。
FIG. 1 is a schematic view of a cleaning liquid suction device 21 according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a simplified cross-sectional view of the cleaning liquid suction device 21, and FIG. FIG. 3 is a diagram showing a tip surface 29 of a second embodiment. The cleaning liquid suction device 21 of the present invention is used in, for example, a manufacturing process of a liquid crystal display element and the like, and after cleaning a flat cleaning object with a cleaning liquid, suctions a cleaning liquid remaining on one surface of the cleaning object in a film form. This is a device that sucks and removes with the nozzle 22.

【0020】図1に示すように、被洗浄物であるガラス
基板25は、被洗浄面41を上方に向けた状態で、複数
個の搬送ローラ24によって搬送方向Bに搬送される。
ガラス基板25の上方には、洗浄装置23が配置され、
この洗浄装置23は、被洗浄面41に向けて洗浄液を噴
射して、ガラス基板25を洗浄する。洗浄されたガラス
基板25は、その被洗浄面41上に洗浄に使用された後
の洗浄液が膜状に残留したまま、搬送ローラ24によっ
て搬送方向Bに搬送される。この膜状の洗浄液26は、
被洗浄面41に付着していた汚れなどの汚染物を含有し
ており、洗浄後のガラス基板25の搬送中に、この汚染
物が被洗浄面41に再付着する恐れがある。このため、
被洗浄面41から、この膜状の洗浄液26を除去する必
要があり、洗浄装置23の搬送方向B下流側で、かつガ
ラス基板25の上方に、本発明の洗浄液吸引装置21を
配置する。
As shown in FIG. 1, a glass substrate 25 to be cleaned is transported in a transport direction B by a plurality of transport rollers 24 with a surface 41 to be cleaned facing upward.
A cleaning device 23 is arranged above the glass substrate 25,
The cleaning device 23 cleans the glass substrate 25 by spraying a cleaning liquid toward the surface 41 to be cleaned. The washed glass substrate 25 is transported in the transport direction B by the transport rollers 24 with the cleaning liquid used for cleaning remaining on the surface 41 to be cleaned remaining in a film form. This film-like cleaning solution 26
It contains contaminants such as dirt attached to the surface 41 to be cleaned, and the contaminants may adhere to the surface 41 to be cleaned while the glass substrate 25 is being transported after cleaning. For this reason,
It is necessary to remove the film-like cleaning liquid 26 from the surface 41 to be cleaned, and the cleaning liquid suction device 21 of the present invention is disposed downstream of the cleaning device 23 in the transport direction B and above the glass substrate 25.

【0021】次に図2および図3を参照して、洗浄液吸
引装置21について説明する。洗浄液吸引装置21は、
1本または複数本の吸引ノズル22と、この吸引ノズル
22が接続される箱体39と、箱体内部の貯留空間28
を減圧するための吸引用配管27とによって構成され
る。
Next, the cleaning liquid suction device 21 will be described with reference to FIGS. The cleaning liquid suction device 21
One or a plurality of suction nozzles 22, a box 39 to which the suction nozzles 22 are connected, and a storage space 28 inside the box.
And a suction pipe 27 for reducing the pressure.

【0022】吸引ノズル22は、たとえば長手円筒体で
あり、中央部には、長手方向(図2の上下方向)に貫通
する吸引孔32が形成される。図3に示すように、先端
面29の面積A2は、吸引孔32の面積A1の3倍以上
(A2≧3A1)であり、好ましくは、10倍以上10
0倍以下とする。なお、本実施形態では、吸引孔32の
直径D1は3mmであり、面積A1は2.25πmm2
である。また先端面29の直径D2は18mmであり、
面積A2は81πmm2である。すなわち、先端面29
の面積A2は、吸引孔32の面積A1の36倍である。
The suction nozzle 22 is, for example, a long cylindrical body, and has a suction hole 32 formed in the center thereof in a longitudinal direction (vertical direction in FIG. 2). As shown in FIG. 3, the area A2 of the distal end face 29 is at least three times (A2 ≧ 3A1) the area A1 of the suction hole 32, and preferably at least ten times or more.
0 or less. In the present embodiment, the diameter D1 of the suction hole 32 is 3 mm, and the area A1 is 2.25πmm 2.
It is. The diameter D2 of the tip surface 29 is 18 mm,
The area A2 is 81πmm 2 . That is, the tip surface 29
Area A2 is 36 times the area A1 of the suction hole 32.

【0023】箱体39の一側壁43の下部には、排出孔
33が形成され、この排出孔33に、吸引用配管27が
その一端部が貯留空間28に配置した状態で接続され
る。この吸引用配管27の他端部には、吸引ポンプ(図
示せず)が接続される。吸引ノズル22は、その上端面
30が貯留空間28に突出し、先端面29が箱体の下に
突出するように配置された状態で、箱体39に取付けら
れる。このとき、上端面30は吸引用配管27の上端4
4よりも高い位置に配置され、先端面29は膜状の洗浄
液41に臨む。
A discharge hole 33 is formed in the lower part of one side wall 43 of the box 39, and the suction pipe 27 is connected to the discharge hole 33 with one end thereof being disposed in the storage space 28. A suction pump (not shown) is connected to the other end of the suction pipe 27. The suction nozzle 22 is attached to the box 39 with the upper end face 30 protruding into the storage space 28 and the tip end face 29 protruding below the box. At this time, the upper end surface 30 is the upper end 4 of the suction pipe 27.
4, and the tip surface 29 faces the film-like cleaning liquid 41.

【0024】次に図2を参照して、洗浄液吸引装置21
の洗浄液26の吸引方法について説明する。ガラス基板
2上の膜状の洗浄液26を吸引するとき、まず膜状の洗
浄液26の上端面と、吸引ノズル22の先端面29とを
所定のわずかな間隙t1を開けてそれぞれ対向させる。
本実施形態では、この所定のわずかな間隙t1は、1m
m以上5mm以下の値が選ばれる。
Next, referring to FIG.
The suction method of the cleaning liquid 26 will be described. When sucking the film-like cleaning solution 26 on the glass substrate 2, first, the upper end surface of the film-like cleaning solution 26 and the tip end surface 29 of the suction nozzle 22 are opposed to each other with a predetermined slight gap t1.
In the present embodiment, the predetermined slight gap t1 is 1 m
A value between m and 5 mm is selected.

【0025】吸引ポンプ(図示せず)によって吸引用配
管27を介して貯留空間28が減圧されると、吸引孔3
2から吸引ノズル22の外部の空気が貯留空間28に吸
引される。このとき前述したように、吸引ノズル22の
先端面29の面積A2が吸引孔32の面積A1の3倍以
上、本実施形態では36倍も大きいために、吸引ノズル
22の先端面29と、膜状の洗浄液26の上端面49と
の間に負圧雰囲気の領域40が発生する。このように負
圧雰囲気領域40が発生すると、膜状の洗浄液の上端面
49が、吸引ノズル22の先端面29側に吸い寄せられ
る。すると、吸い寄せられた洗浄液は、吸引孔32に流
入し、吸引孔32を通って上端面30から貯留空間28
に排出される。上述のように構成することによって、吸
引ノズル22の先端面29と、膜状の洗浄液26との間
にわずかな間隙t1を設けても、洗浄液を吸引すること
ができる。すなわち、吸引ノズル22が、膜状の洗浄液
26に非接触の状態で洗浄液を吸引することができるの
で、吸引ノズル22が、汚染物を含有する洗浄液によっ
て汚染されることがない。これによって、吸引ノズル2
2がガラス基板25の二次汚染の原因となることはな
い。また、吸引ノズル22がガラス基板25にあたって
ガラス基板25が破損することもない。
When the pressure in the storage space 28 is reduced through a suction pipe 27 by a suction pump (not shown), the suction holes 3
From 2, air outside the suction nozzle 22 is sucked into the storage space 28. At this time, as described above, since the area A2 of the distal end face 29 of the suction nozzle 22 is at least three times the area A1 of the suction hole 32, and 36 times larger in the present embodiment, the distal end face 29 of the suction nozzle 22 The area 40 of the negative pressure atmosphere is generated between the cleaning liquid 26 and the upper end surface 49 of the cleaning liquid 26. When the negative pressure atmosphere region 40 is generated as described above, the upper end surface 49 of the film-like cleaning liquid is sucked toward the front end surface 29 of the suction nozzle 22. Then, the suctioned cleaning liquid flows into the suction hole 32, passes through the suction hole 32, and moves from the upper end surface 30 to the storage space 28.
Is discharged. With the configuration described above, the cleaning liquid can be sucked even if a slight gap t1 is provided between the tip surface 29 of the suction nozzle 22 and the film-shaped cleaning liquid 26. That is, since the suction nozzle 22 can suck the cleaning liquid without contacting the film-like cleaning liquid 26, the suction nozzle 22 is not contaminated by the cleaning liquid containing contaminants. Thereby, the suction nozzle 2
2 does not cause secondary contamination of the glass substrate 25. Further, the glass substrate 25 is not damaged by the suction nozzle 22 hitting the glass substrate 25.

【0026】箱体内部に排出された洗浄液は、貯留空間
28に一時的に貯留される。貯留空間28に貯留された
洗浄液は、吸引ポンプ(図示せず)に吸引されて、矢符
46に示すように吸引用配管27を通って排出される。
排出された洗浄液は、廃棄処分されるか、あるいは循環
して再利用される。
The cleaning liquid discharged into the box is temporarily stored in the storage space 28. The cleaning liquid stored in the storage space 28 is sucked by a suction pump (not shown) and discharged through the suction pipe 27 as indicated by an arrow 46.
The discharged cleaning liquid is discarded or circulated and reused.

【0027】吸引ポンプ(図示せず)が故障して、貯留
空間28の減圧が行われなくなったり、あるいは何らか
の要因で貯留空間28の減圧状態が一時的に弱くなった
としても、貯留空間28の気体の体積がバッファとな
り、吸引ノズル22の吸引圧力を安定化することができ
る。
Even if the suction pump (not shown) breaks down and the pressure in the storage space 28 cannot be reduced, or if the pressure in the storage space 28 is temporarily reduced for some reason, the storage space 28 is not The gas volume serves as a buffer, and the suction pressure of the suction nozzle 22 can be stabilized.

【0028】また、前述したように、吸引ノズル22の
上端面29は、吸引用配管27の上端44よりも高い位
置に配置されており、かつ貯留された洗浄液の液面は、
この上端44よりも上になることがないので、吸引ポン
プ(図示せず)による吸引力に偏りが発生して、負圧雰
囲気領域40に洗浄液を吸引するのに必要な負圧が得ら
れなくなったとき、吸引ポンプ(図示せず)を停止した
とき、あるいは複数本のうちの一部の吸引ノズル22が
吸引できなくなったときなどに、貯留空間28に貯留さ
れている洗浄液がガラス基板2に逆流することが防止さ
れる。これによって、ガラス基板2に逆流する洗浄液
は、吸引孔32に残留する量だけとなり、ガラス基板2
の再汚染を最小限に抑えることができる。
As described above, the upper end surface 29 of the suction nozzle 22 is disposed at a position higher than the upper end 44 of the suction pipe 27, and the level of the stored cleaning liquid is:
Since the pressure is not higher than the upper end 44, the suction force of the suction pump (not shown) is biased, and the negative pressure required to suction the cleaning liquid into the negative pressure atmosphere region 40 cannot be obtained. When the suction pump (not shown) is stopped, or when some of the plurality of suction nozzles 22 cannot suction, the cleaning liquid stored in the storage space 28 is transferred to the glass substrate 2. Backflow is prevented. As a result, only the amount of the cleaning liquid flowing backward to the glass substrate 2 remains in the suction holes 32, and the glass substrate 2
Recontamination can be minimized.

【0029】また、吸引ポンプ(図示せず)の吸引圧力
を調節することによって、ガラス基板2上の洗浄液を所
定量だけ残すことができる。
By adjusting the suction pressure of a suction pump (not shown), a predetermined amount of the cleaning liquid on the glass substrate 2 can be left.

【0030】本件発明者は、洗浄液吸引装置21の吸引
特性についての検討を行った。図4は、実験装置図であ
る。洗浄液吸引装置21と、2台の吸引ポンプ34a,
34bとの間には、ドレインタンク37が介在され、ド
レインタンク37と洗浄液吸引装置21とは、2本の吸
引用配管27によって接続され、ドレインタンク37
と、吸引ポンプ34a,34bとは配管36によって接
続される。
The present inventor studied the suction characteristics of the cleaning liquid suction device 21. FIG. 4 is a diagram of an experimental apparatus. The cleaning liquid suction device 21 and two suction pumps 34a,
34b, a drain tank 37 is interposed, and the drain tank 37 and the cleaning liquid suction device 21 are connected by two suction pipes 27.
And the suction pumps 34a and 34b are connected by a pipe 36.

【0031】表1に、本実験で使用した吸引ポンプ34
a,34bの排気特性を示す。表1に示すように吸引用
配管27の配管径が1インチのとき、第1吸引ポンプ3
4aは、箱体内部の気体を毎分300リットル排気で
き、第2吸引ポンプ34bは、毎分500リットル排気
でき、2台の吸引ポンプ34a,34bを同時に使用す
ると毎分650リットル排気できる。また吸引用配管2
7の配管径が1/2インチのとき、第1吸引ポンプ34
aは、箱体内部の気体を毎分315リットル排気でき、
第2吸引ポンプ34bは毎分400リットル排気でき、
2台の吸引ポンプ34a,34bを同時に使用すると、
毎分450リットル排気できる。
Table 1 shows the suction pumps 34 used in this experiment.
a and 34b show the exhaust characteristics. As shown in Table 1, when the pipe diameter of the suction pipe 27 is 1 inch, the first suction pump 3
4a can exhaust 300 liters of gas inside the box body per minute, the second suction pump 34b can exhaust 500 liters per minute, and can exhaust 650 liters per minute by using two suction pumps 34a and 34b simultaneously. Suction pipe 2
7 is 1/2 inch, the first suction pump 34
a can exhaust 315 liters of gas inside the box per minute,
The second suction pump 34b can exhaust 400 liters per minute,
When two suction pumps 34a and 34b are used at the same time,
It can exhaust 450 liters per minute.

【0032】[0032]

【表1】 [Table 1]

【0033】なお、実験は以下に述べる条件の下で行っ
た。洗浄液吸引装置21には、全部で29本の吸引ノズ
ル22を接続した。そのうち約半数の15本の吸引ノズ
ル22を目止めすることができる。吸引用配管27は、
その配管径が1/2インチまたは1インチのものを使用
した。配管36のドレインタンク37に接続される側の
配管径は約100mmであり、吸引ポンプ34a,34
bに接続される側の配管径は約40mmである。2台の
吸引ポンプ34a,34bは、第2吸引ポンプ34bの
み使用するか、あるいは2台の吸引ポンプ34a,34
bをともに使用した。ガラス基板25上に残留する洗浄
液26の液膜厚さt2は2mmとした。膜状の洗浄液2
6の上端面49と、吸引ノズル22の先端面29との間
隙t1を1〜7mmのいずれかに変化させた。なお、本
実験では、洗浄液として水を使用した。
The experiment was performed under the following conditions. A total of 29 suction nozzles 22 were connected to the cleaning liquid suction device 21. About half of the 15 suction nozzles 22 can be sealed. The suction pipe 27 is
The pipe diameter was 1/2 inch or 1 inch. The diameter of the pipe 36 connected to the drain tank 37 is about 100 mm, and the suction pumps 34a, 34
The pipe diameter on the side connected to b is about 40 mm. As the two suction pumps 34a and 34b, only the second suction pump 34b is used, or the two suction pumps 34a and 34b are used.
b was used together. The thickness t2 of the cleaning liquid 26 remaining on the glass substrate 25 was 2 mm. Film-like cleaning solution 2
The gap t1 between the upper end face 49 of No. 6 and the tip end face 29 of the suction nozzle 22 was changed to any one of 1 to 7 mm. In this experiment, water was used as the cleaning liquid.

【0034】上記の実験条件ををそれぞれ変化させて、
洗浄液吸引装置21が、膜状の洗浄液26を吸引したか
否かを観測した。その結果が表2に示される。表2にお
いて、記号○は、全ての吸引ノズル22によって洗浄液
が吸引されたことを示し、記号△は、一部の吸引ノズル
22によって洗浄液が吸引されたことを示し、記号×
は、洗浄液が吸引されなかったことを示す。
By changing the above experimental conditions,
It was observed whether or not the cleaning liquid suction device 21 suctioned the film-like cleaning liquid 26. The results are shown in Table 2. In Table 2, the symbol ○ indicates that the cleaning liquid was suctioned by all the suction nozzles 22, the symbol 示 し indicates that the cleaning liquid was suctioned by some of the suction nozzles 22, and the symbol ×
Indicates that the cleaning liquid was not sucked.

【0035】[0035]

【表2】 [Table 2]

【0036】表2に示すように間隙距離t1が、2mm
または3mmのときは、どの条件においても全ての吸引
ノズル22によって洗浄液が吸引されることが判った。
間隙距離t1が4mmで、吸引用配管27の配管径が1
/2インチのときは、一部の吸引ノズル22によって洗
浄液が吸引されており、間隙距離t1が4mmで吸引用
配管27の配管径が1インチのときは、全ての吸引ノズ
ル22へ洗浄液が吸引されることが判った。間隙距離t
1が5mm、吸引用配管27の配管径が1/2インチ
で、吸引ポンプ34bのみを駆動したときは、洗浄液は
吸引されなかった。間隙距離t1が5mm、吸引用配管
27の配管径が1/2インチで、第1および第2吸引ポ
ンプ34a,34bをともに駆動したときは、一部の吸
引ノズル22のみによって洗浄液が吸引されていること
が判った。間隙距離t1が5mm、吸引用配管27の配
管径が1インチで、第2吸引ポンプ34bのみを駆動し
たときは、一部の吸引ノズル22のみによって、洗浄液
が吸引されることが判った。間隙距離t1が5mm、吸
引用配管27の配管径が1インチで、第1および第2吸
引ポンプ34a,34bをともに駆動したときは、全て
の吸引ノズル22によって洗浄液が吸引されていること
が判った。間隙距離t1が、6mm以上になると、どの
条件下においても、洗浄液が吸引されていないことが判
った。
As shown in Table 2, the gap distance t1 is 2 mm
Or when it was 3 mm, it was found that the cleaning liquid was sucked by all the suction nozzles 22 under any conditions.
The gap distance t1 is 4 mm and the pipe diameter of the suction pipe 27 is 1
At 1/2 inch, the cleaning liquid is sucked by some of the suction nozzles 22. When the gap distance t1 is 4 mm and the diameter of the suction pipe 27 is 1 inch, the cleaning liquid is suctioned to all the suction nozzles 22. It turned out to be. Gap distance t
When 1 was 5 mm, the pipe diameter of the suction pipe 27 was イ ン チ inch, and only the suction pump 34 b was driven, the cleaning liquid was not sucked. When the gap distance t1 is 5 mm, the diameter of the suction pipe 27 is 1/2 inch, and the first and second suction pumps 34a and 34b are driven together, the cleaning liquid is sucked by only some of the suction nozzles 22. I found out. When the gap distance t1 was 5 mm, the pipe diameter of the suction pipe 27 was 1 inch, and only the second suction pump 34b was driven, it was found that only part of the suction nozzles 22 sucked the cleaning liquid. When the gap distance t1 is 5 mm, the diameter of the suction pipe 27 is 1 inch, and both the first and second suction pumps 34a and 34b are driven, it is understood that the cleaning liquid is sucked by all the suction nozzles 22. Was. When the gap distance t1 became 6 mm or more, it was found that the cleaning liquid was not sucked under any conditions.

【0037】上述の観測結果から、間隙距離t1、すな
わち吸引ノズル22の先端面29と膜状の洗浄液26の
上端面49との距離が、3mm以下になると全ての条件
下において吸引が行われることが判った。また、洗浄液
吸引装置21によって、洗浄液を吸引するためには、間
隙距離t1は、少なくとも5mm以下にすると良いこと
が判った。
From the above observation results, when the gap distance t1, that is, the distance between the tip surface 29 of the suction nozzle 22 and the upper end surface 49 of the film-like cleaning liquid 26 becomes 3 mm or less, suction is performed under all conditions. I understood. Further, it has been found that the gap distance t1 should be at least 5 mm or less in order for the cleaning liquid suction device 21 to suction the cleaning liquid.

【0038】次に、前記実験装置を用いて、膜状の洗浄
液26を吸引し、箱体内部31の貯留空間28に貯留さ
れた洗浄液の水位が、所定の高さに達するまでの時間を
測定した。この測定結果から、洗浄液吸引装置21の単
位時間あたりの洗浄液の吸引量を算出した。その結果を
表3に示す。なおこの実験において、吸引用配管27
は、配管径が1インチのものを使用した。
Next, using the experimental apparatus, the film-like cleaning liquid 26 is sucked, and the time until the water level of the cleaning liquid stored in the storage space 28 of the inside 31 of the box reaches a predetermined height is measured. did. From the measurement result, the suction amount of the cleaning liquid per unit time of the cleaning liquid suction device 21 was calculated. Table 3 shows the results. In this experiment, the suction pipe 27 was used.
Used a pipe having a diameter of 1 inch.

【0039】[0039]

【表3】 [Table 3]

【0040】表3に示すように、第2吸引ポンプ34b
のみを駆動し、29本の全ての吸引ノズル22で、膜状
の洗浄液を吸引したとき、間隙距離t1が1mmの場合
では、2362.6g/minの洗浄液を吸引すること
ができ、間隙距離t1が2mmの場合では、2850.
8g/minの洗浄液を吸引することができ、間隙距離
t2が3mmの場合では、583.6g/minの洗浄
液を吸引できることが判った。またこのとき、負圧雰囲
気領域40の圧力は、−30mmHg(9.73kP
a)であった。また、第1および第2吸引ポンプ34
a,34bを駆動し、29本の全ての吸引ノズル22で
膜状の洗浄液26を吸引したとき、間隙距離t1が1m
mの場合では、2438.6g/minの洗浄液を吸引
することができ、間隙距離t1が2mmの場合では、2
480.8g/minの洗浄液を吸引することができ、
間隙距離t1が3mmの場合では、2487.9g/m
inの洗浄液を吸引できることが判った。またこのと
き、負圧雰囲気領域40の圧力は−100mmHg
(8.80kPa)であった。また第1および第2吸引
ポンプ34a,34bを駆動し、かつ29本のうちの1
5本の吸引ノズル22を目止めして、残りの14本の吸
引ノズル22で膜状の洗浄液26を吸引したとき、間隙
距離t1が1mmの場合では、1774.4g/min
の洗浄液を吸引することができ、間隙距離t1が2mm
の場合では、1737.4g/minの洗浄液を吸引す
ることができ、間隙距離t1が3mmの場合では、19
42.8g/minの洗浄液を吸引できることが判っ
た。このとき、負圧雰囲気領域40の圧力は、−120
mmHg(8.53kPa)であった。
As shown in Table 3, the second suction pump 34b
When only the suction nozzles 22 are driven and all the 29 suction nozzles 22 suck the film-like cleaning liquid, when the gap distance t1 is 1 mm, the cleaning liquid at 2362.6 g / min can be sucked, and the gap distance t1 Is 2mm.
It was found that the cleaning liquid at 8 g / min could be sucked, and when the gap distance t2 was 3 mm, the cleaning liquid at 583.6 g / min could be sucked. At this time, the pressure in the negative pressure atmosphere region 40 is -30 mmHg (9.73 kP
a). The first and second suction pumps 34
a and 34b are driven to suck the film-like cleaning liquid 26 with all 29 suction nozzles 22, the gap distance t1 is 1 m.
m, a cleaning liquid of 2438.6 g / min can be sucked, and when the gap distance t1 is 2 mm, 2
480.8 g / min of the cleaning liquid can be sucked,
When the gap distance t1 is 3 mm, 2487.9 g / m
It was found that the in cleaning solution could be sucked. At this time, the pressure in the negative pressure atmosphere region 40 is -100 mmHg.
(8.80 kPa). Further, the first and second suction pumps 34a and 34b are driven, and one of the 29
When the five suction nozzles 22 are stopped and the film-like cleaning liquid 26 is suctioned by the remaining fourteen suction nozzles 22, when the gap distance t1 is 1 mm, 1774.4 g / min.
Can be sucked, and the gap distance t1 is 2 mm.
In the case of (1), the cleaning liquid at 1737.4 g / min can be sucked, and when the gap distance t1 is 3 mm, 193
It was found that 42.8 g / min of the cleaning liquid could be sucked. At this time, the pressure in the negative pressure atmosphere region 40 is -120.
mmHg (8.53 kPa).

【0041】上述の結果から吸引用配管27の配管径が
1/2インチのときの洗浄液の吸液量は、最大でも約1
リットル/min(約1000g/min)であったの
に対して、吸引用配管27の配管径を1インチにする
と、洗浄液の吸液量は、間隙距離t1および吸引ポンプ
34の排気容量にかかわらず、約2.5リットル/mi
n(約2500g/min)と安定していることが判っ
た。
From the above results, when the pipe diameter of the suction pipe 27 is 1/2 inch, the amount of cleaning liquid absorbed is about 1 at a maximum.
When the pipe diameter of the suction pipe 27 is set to 1 inch, whereas the liter / min (about 1000 g / min), the amount of the cleaning liquid absorbed is irrespective of the gap distance t1 and the exhaust capacity of the suction pump 34. , About 2.5 liters / mi
n (about 2500 g / min).

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明によれば、洗浄後の平板状の被洗
浄物に残留する膜状の洗浄液は、吸引ノズルによって吸
引されて除去される。このとき、吸引ノズルの先端面
と、膜状の洗浄液の上端面との間には、間隙が形成され
ており、吸引ノズルは、膜状の洗浄液に非接触で洗浄液
を吸引する。このように、吸引ノズルは、洗浄に使用さ
れた後の汚染物を含有する洗浄液に接触せずに洗浄液を
吸引するので、吸引ノズルが、洗浄液中の汚染物によっ
て汚染されることが防止される。これによって、吸引ノ
ズルが洗浄液および被洗浄物の二次汚染の原因となるこ
とはない。また、吸引ノズルが被洗浄物にあたって被洗
浄物に物理的な損傷を与えることもない。
According to the present invention, the film-like cleaning liquid remaining on the flat cleaning object after cleaning is removed by suction by the suction nozzle. At this time, a gap is formed between the tip surface of the suction nozzle and the upper end surface of the film-like cleaning liquid, and the suction nozzle sucks the cleaning liquid without contacting the film-like cleaning liquid. In this manner, the suction nozzle sucks the cleaning liquid without contacting the cleaning liquid containing the contaminants after being used for cleaning, so that the suction nozzle is prevented from being contaminated by the contaminants in the cleaning liquid. . Thus, the suction nozzle does not cause secondary contamination of the cleaning liquid and the object to be cleaned. Further, the suction nozzle does not hit the object to be cleaned and does not physically damage the object to be cleaned.

【0043】また本発明によれば、吸引ノズルの先端面
の面積は、吸引孔の面積の3倍以上であるため、吸引時
には、吸引ノズルの先端面と膜状の洗浄液の上面との間
の間隙に、負圧雰囲気の領域が形成される。これによっ
て、吸引ノズルが膜状の洗浄液に接触しない状態で、洗
浄液を吸引することができる。このとき、吸引孔の面積
よりも広い領域で洗浄液の吸引を行うことができる。
According to the present invention, the area of the tip surface of the suction nozzle is at least three times the area of the suction hole. A region of a negative pressure atmosphere is formed in the gap. Thus, the cleaning liquid can be sucked in a state where the suction nozzle does not come into contact with the film-shaped cleaning liquid. At this time, the cleaning liquid can be sucked in a region larger than the area of the suction hole.

【0044】また本発明によれば、吸引ノズルの上端面
は、貯留空間内で、排出孔の上端よりも高い位置に配置
されており、かつ貯留された洗浄液の液面は、この上端
よりも上になることがないので、洗浄液の吸引中に、負
圧の偏りが発生して、洗浄液を吸引できなくなったり、
あるいは吸引ポンプを停止したときに貯留空間に貯留さ
れている洗浄液が、被洗浄物に逆流することが防止され
る。これによって被洗浄物に逆流する洗浄液は、吸引孔
に残留する量だけとなり、被洗浄物の再汚染を最小限に
することができる。
Further, according to the present invention, the upper end surface of the suction nozzle is disposed at a position higher than the upper end of the discharge hole in the storage space, and the liquid level of the stored cleaning liquid is higher than the upper end. Since it does not rise, a negative pressure bias occurs during the suction of the cleaning liquid, and the suction of the cleaning liquid becomes impossible,
Alternatively, the cleaning liquid stored in the storage space when the suction pump is stopped is prevented from flowing back to the object to be cleaned. As a result, only the amount of the cleaning liquid that flows back to the object to be cleaned remains in the suction hole, and recontamination of the object to be cleaned can be minimized.

【0045】また本発明によれば、吸引ノズルと吸引ポ
ンプとの間に、箱体を介在させることによって、吸引ポ
ンプの吸引圧力が一時的に低下するなどといった不安定
な状態となったとしても、貯留空間内の気体の体積がバ
ッファとなって、吸引ノズルの吸引圧力を安定化するこ
とができる。
According to the present invention, even if an unstable state such as a temporary decrease in the suction pressure of the suction pump is caused by interposing a box between the suction nozzle and the suction pump. The volume of the gas in the storage space serves as a buffer, so that the suction pressure of the suction nozzle can be stabilized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態の洗浄液吸引装置21を
用いた洗浄液の除去方式を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a cleaning liquid removing method using a cleaning liquid suction device 21 according to an embodiment of the present invention.

【図2】洗浄液吸引装置21の簡略化した断面図であ
る。
FIG. 2 is a simplified cross-sectional view of the cleaning liquid suction device 21.

【図3】吸引ノズル22の先端面29を示す図である。FIG. 3 is a view showing a distal end surface 29 of the suction nozzle 22;

【図4】本発明の洗浄液吸引装置21の吸引特性実験の
実験装置図である。
FIG. 4 is an experimental apparatus diagram of an experiment on a suction characteristic of the cleaning liquid suction apparatus 21 of the present invention.

【図5】エアナイフ1を用いた従来の洗浄液の除去方式
を示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic view showing a conventional cleaning liquid removing method using an air knife 1.

【図6】ヘラ型の除去器9を用いた従来の洗浄液の除去
方式を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic view showing a conventional cleaning liquid removing method using a spatula-type remover 9;

【図7】一般的な洗浄装置の洗浄のメカニズムを示す図
である。
FIG. 7 is a view showing a cleaning mechanism of a general cleaning device.

【符号の説明】 5,23 洗浄装置 8,26 洗浄液 21 洗浄液吸引装置 22 吸引ノズル 24 搬送ローラ 25 ガラス基板 27 吸引用配管 28 貯留空間 29 先端面 30 上端面 34 吸引ポンプ 39 箱体 40 負圧雰囲気領域[Explanation of symbols] 5,23 Cleaning device 8,26 cleaning solution 21 Cleaning liquid suction device 22 Suction nozzle 24 transport rollers 25 Glass substrate 27 Suction piping 28 storage space 29 Tip 30 Top face 34 Suction pump 39 box 40 Negative pressure atmosphere area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平10−64798(JP,A) 特開 平10−50650(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B08B 3/04 H01L 21/027 H01L 21/304 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-10-64798 (JP, A) JP-A-10-50650 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) B08B 3/04 H01L 21/027 H01L 21/304

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 平板状の被洗浄物を洗浄液によって洗浄
した後に、被洗浄物の一表面上に膜状に残留する洗浄液
を吸引ノズルによって吸引して除去する洗浄液吸引装置
において、 前記膜状の洗浄液の上面に、前記吸引ノズルの先端面が
間隙を開けて配置され、 前記吸引ノズルの先端面の面積が、吸引ノズルの吸引孔
の面積の3倍以上であることを特徴とする洗浄液吸引装
置。
1. A cleaning liquid suction device for cleaning a flat cleaning object with a cleaning liquid and removing a cleaning liquid remaining on one surface of the cleaning object in a film form by a suction nozzle. A tip end surface of the suction nozzle is arranged on the upper surface of the cleaning liquid with a gap therebetween, and an area of the tip end surface of the suction nozzle is at least three times an area of a suction hole of the suction nozzle. .
【請求項2】 前記吸引ノズルによって吸引された洗浄
液を一時的に貯留する貯留空間を有し、貯留空間に臨
み、貯留空間内に排出された洗浄液を排出する排出孔が
設けられる箱体を備え、 前記吸引ノズルは、その上端面が貯留空間内で、前記排
出孔の上端部よりも高い位置に配置されて箱体に接続さ
れることを特徴とする請求項1記載の洗浄液吸引装置。
2. A box having a storage space for temporarily storing the cleaning liquid sucked by the suction nozzle, facing the storage space, and provided with a discharge hole for discharging the cleaning liquid discharged into the storage space. The cleaning liquid suction device according to claim 1, wherein the suction nozzle is disposed at a position higher than an upper end portion of the discharge hole in a storage space and connected to a box.
JP35632899A 1999-12-15 1999-12-15 Cleaning liquid suction device Expired - Fee Related JP3538353B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35632899A JP3538353B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Cleaning liquid suction device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35632899A JP3538353B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Cleaning liquid suction device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001170578A JP2001170578A (en) 2001-06-26
JP3538353B2 true JP3538353B2 (en) 2004-06-14

Family

ID=18448495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35632899A Expired - Fee Related JP3538353B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Cleaning liquid suction device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3538353B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5140641B2 (en) * 2009-06-29 2013-02-06 株式会社荏原製作所 Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP5868148B2 (en) * 2011-12-01 2016-02-24 株式会社日立製作所 Cleaning device
JP6367763B2 (en) * 2015-06-22 2018-08-01 株式会社荏原製作所 Wafer drying apparatus and wafer drying method
CN114682557A (en) * 2022-03-16 2022-07-01 浙江普崎数码科技有限公司 Printer shower nozzle sprays, vacuum purification adsorbs integrative device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001170578A (en) 2001-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100949283B1 (en) Liquid treatment device and liquid treatment method
JP4003441B2 (en) Surface treatment apparatus and surface treatment method
KR101073340B1 (en) Substrate cleaning apparatus
KR100212074B1 (en) Substrate Removal Device
JP2003017457A (en) Method and apparatus for cleaning substrate
US20100300492A1 (en) Method and Apparatus for Physical Confinement of a Liquid Meniscus over a Semiconductor Wafer
JP3538353B2 (en) Cleaning liquid suction device
JP2006278606A (en) Apparatus and method for processing substrate
CN100377297C (en) Substrate processing device
JPH07308642A (en) Apparatus for drying surface of substrate
CN113412535B (en) Suspension conveying device
JP2010131485A (en) Device and method for draining liquid on substrate
KR100548639B1 (en) Cleaning device equipped with suction module and cleaning method using the same
JPH09289185A (en) Semiconductor wafer cleaning equipment
KR101976798B1 (en) Nozzle for recycling steam
KR101150022B1 (en) Apparatus for etching
JP2024054868A (en) Anilox roll cleaning apparatus and anilox roll cleaning method
KR100764683B1 (en) Substrate processing apparatus
JP4324517B2 (en) Substrate processing equipment
JP2000024712A (en) Method and apparatus for removing foreign matter from strip surface
JP6275089B2 (en) Substrate processing equipment
KR102681953B1 (en) Apparatus for preventing chemical leakage and the method thereof
JP2002075956A (en) Plate-like substrate processing apparatus and processing method
JP4396241B2 (en) Local exhaust system for cleaning piping in clean room and cleaning method
JP3069243B2 (en) Thin plate immersion equipment

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040316

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040319

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080326

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090326

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100326

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100326

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120326

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120326

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140326

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees