JP3542986B2

JP3542986B2 - ＢｂＴ積測定装置

Info

Publication number: JP3542986B2
Application number: JP2001270531A
Authority: JP
Inventors: 晴彦細谷; 政廣黒田; 貴秋上沢; 寛之石井
Original assignee: Anritsu Corp; NEC Corp
Current assignee: Anritsu Corp; NEC Corp
Priority date: 2001-09-06
Filing date: 2001-09-06
Publication date: 2004-07-14
Anticipated expiration: 2021-09-06
Also published as: JP2003087341A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、位相連続多値ＦＳＫ変調信号を生成する際に使用される波形整形フィルタのＢｂＴ積を精度よく測定するための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に有線、無線を問わず通信を行う場合、予め設定された通信規格で通信を行わなければならない。また、隣接チャネルで行われている通信に対して妨害を与えてはならない。
【０００３】
しかし、通信機器の不良等で、通信に用いる信号のスペクトラムが規格を超えて広がると、隣接チャネルの通信に妨害を与える。
【０００４】
このため、通信機器が出力する信号のスペクトラムの広がりがどの程度であるかを調べる必要がある。
【０００５】
例えば、位相連続多値ＦＳＫ変調方式の一つであるＧＭＳＫ変調方式は、図１１に示すように、ＮＲＺ形式で入力されるベースバンド信号Ｓａに対し、インパルス応答がガウス分布特性を示す波形整形フィルタ１で波形整形を行い、その波形整形された信号ＳｂでＶＣＯ（電圧制御発振器）２の出力信号Ｓｃを変調指数０．５で周波数変調する方式であり、このような変調方式で得られる信号Ｓｃのスペクトラムの形状は、波形整形フィルタ１のＢｂＴ積、即ち、波形整形フィルタ１の帯域幅とシンボルクロックの周期との積に依存する。
【０００６】
図１２はＢｂＴ積０．３のスペクトラム、図１３はＢｂＴ積１．０のスペクトラムの例を示している。
【０００７】
これらの図からわかるように、波形整形フィルタのＢｂＴ積が小さい程、スペクトラムの中央集中度が高くなり、帯域幅が狭くなる。したがって、この波形整形フィルタのＢｂＴ積が、変調波のスペクトラムの広がりの程度を評価するための基準となる。
【０００８】
このようなＧＭＳＫ変調方式で使用される波形整形フィルタのＢｂＴ積を測定するために、従来では、変調波のスペクトラムの周波数成分の広がりを実際に測定している。
【０００９】
即ち、図１４に示すスペクトラムに対して、電力レベルの最大値Ｍａｘを求め、その最大値Ｍａｘの周波数の値ｆ０を中心とし、最大値Ｍａｘから所定レベルＬ（例えば６ｄＢ）低下する周波数ｆ１、ｆ２を求める。
【００１０】
そして、周波数ｆ１、ｆ２の間隔ｆｗ（周波数帯域）と変調信号のシンボルクロック周波数ｆｃの比を演算して波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のように、スペクトラムの２つの周波数ｆ１、ｆ２の間隔ｆｗとシンボルクロック周波数ｆｃの比から波形整形フィルタのＢｂＴ積を正確に算出するためには、スペクトラムに対する平均処理回数を多く行って周波数間隔ｆｗを高い精度で求める必要があり、その平均処理のためにスペクトラムのデータの標本値を大量に処理することが必要となり、その大量の標本値に対する演算処理によってＢｂＴ積が得られるまでの時間が非常に長くなるという問題があった。
【００１２】
本発明は、この問題を解決して、少ない標本値で正確なＢｂＴ積を短時間に得ることができるＢｂＴ積測定装置を提供することを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明のＢｂＴ積測定装置は、
ＮＲＺ形式のベースバンド信号を波形整形フィルタで波形整形した変調信号によって所定の変調指数で周波数変調して得られる位相連続多値ＦＳＫ信号を受けて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を測定するＢｂＴ積測定装置において、
入力された位相連続多値ＦＳＫ信号に対して、瞬時位相を検出する位相検出手段（２２）と、
前記入力された位相連続多値ＦＳＫ信号に対してシンボルクロック同期処理を行うシンボルクロック同期処理手段（２３）と、
前記位相検出手段で検出された位相に対して、前記シンボルクロック同期処理手段で得られたタイミングで標本化する位相標本化手段（２４）と、
前記位相標本化手段で得られた位相の前記位相標本化手段で得られた一つ前の位相に対する位相推移値を検出する位相推移値検出手段（２５）と、
前記位相推移値検出手段によって検出された位相推移値の符号からシンボルデータを検出するシンボルデータ検出手段（２６）と、
前記シンボルデータ検出手段によって検出されたシンボルデータとそのシンボルデータを検出するときに用いた位相推移値とを対応づけて記憶する記憶手段（２７）と、
任意の参照パターンを設定するパターン設定部（２８）と、
前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンと前記パターン設定部によって設定されている参照パターンとを比較し、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンが前記参照パターンと一致するか否かを判定するパターン判定手段（２９）と、
前記パターン判定手段によってパターンの一致が判定されたとき、該パターンの中間のシンボルに対応する位相推移値を前記記憶手段から抽出する位相推移値抽出手段（３０）と、
前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値の平均値を算出する平均演算手段（３１）と、
前記参照パターンの中間のシンボルに対する位相推移値と前記波形整形フィルタのＢｂＴ積との関係を示す情報を予め記憶しているデータベース部（３１）と、
前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるＢｂＴ積検出手段（３２）とを備えている。
【００１４】
また、本発明の請求項２のＢｂＴ積測定装置は、請求項１のＢｂＴ積測定装置において、
前記データベース部には、前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値を前記変調指数の値を用いて正規化した値とＢｂＴ積との関係を示す情報が予め記憶されており、
前記ＢｂＴ積検出手段は、前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値を前記変調指数で正規化した値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるように構成されていることを特徴としている。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明するが、その前に本発明の原理について説明する。
【００１６】
前記したように、位相連続多値ＦＳＫ方式の一つであるＧＭＳＫ変調方式は、ベースバンド信号を波形整形フィルタ（ガウスフィルタ）で波形整形して得られる信号によって周波数変調を行う方式であり、必然的に前後の符号による干渉を受けるが、周知のように、ガウス関数は原点から離れるにしたがって急激に減衰するという特徴を有している。具体的には、原点からの距離の二乗に比例して指数関数的に減衰する。
【００１７】
したがって、符号間干渉は最隣接の符号の影響が支配的で、それ以上離れたシンボルの影響は無視できる程度に微小であり、実際に、ＢｂＴ積０．３以上のＧＭＳＫ変調では、最隣接の符号間干渉のみの影響を受け、それ以上離れたシンボルの影響は無視できる程小さいことが確認されている。
【００１８】
本発明は、この点に着目したものであり、この符号間干渉の影響の度合いからＢｂＴ積を求めるものである。
【００１９】
即ち、前記したように、符号間干渉が最隣接のシンボルのみの影響を受け、他のシンボルの影響を受けないと仮定すれば、シンボル系列として連続する３つのシンボルからなる「０００」、「００１」、「０１０」、…、「１１０」、「１１１」の８通りを考慮すればよい。
【００２０】
ここで、正負の符号の対称性を考慮すれば、「０００」のように原点を中心としてシンボルが連続する場合、「００１」や「１００」のように原点を中心として反対のシンボルが前後に生起する場合、「１０１」のように原点のシンボルと反対のシンボルが前後に生起する場合の３通りにまとめることができ、このなかで、符号間干渉の影響が最も大きくなるのは原点のシンボルと反対のシンボルが前後に生起する場合である。
【００２１】
また、符号間干渉の影響はシンボルの位相推移値として現れるから、上記のように符号間干渉の影響が最も大きくなるパターンの信号が入力されたときのシンボルの位相推移値とＢｂＴ積との関係を予め求めておき、ＢｂＴ積が未知の入力信号に、符号間干渉の影響が最も大きくなるパターンが現れたときに、そのシンボルの位相推移値からＢｂＴ積を求めることができる。
【００２２】
図１は、上記原理によるＢｂＴ積測定装置２０の構成を示している。
図１において、復調処理部２１は、位相検出手段２２、シンボルクロック同期処理手段２３、位相標本化手段２４、位相推移値検出手段２５およびシンボルデータ検出手段２６によって構成されている。
【００２３】
位相検出手段２２は、入力される測定対象の位相連続ＦＳＫ信号Ｓｄに対してその瞬時位相を検出する。
【００２４】
シンボルクロック同期処理手段２３は、位相連続ＦＳＫ信号Ｓｄに対して既知のシンボルクロック周波数ｆｃによるシンボルクロック同期処理を行う。
【００２５】
位相標本化手段２４は、位相検出手段２２で検出された位相に対して、シンボルクロック同期処理手段２３で得られたタイミングで標本化する。
【００２６】
位相推移値検出手段２５は、位相標本化手段２４で得られた位相が、位相標本化手段２４でその１つ前に求められた位相に対して推移した量を位相推移値Δφとして順次を求める。
【００２７】
シンボルデータ検出手段２６は、位相推移値検出手段２５によって得られる位相推移値Δφの符号から、「１」または「０」のいずれかのシンボルデータｄを求める。
【００２８】
復調処理部２１によって求められたシンボルデータｄは、そのシンボルデータを求めるときに用いた位相推移値Δφと対応付けられて記憶手段としてのメモリ２７に検出順に記憶される。
【００２９】
パターン設定部２８は、任意の参照パターンを設定するためのものであり、ここでは、３つの連続するシンボルからなるパターンのうち、「１０１」、「０１０」の２つの参照パターンが設定されている。
【００３０】
パターン判定手段２９は、メモリ２７に連続して記憶された３つのシンボルデータからなるパターンＰｉ＝（ｄ_ｉ、ｄ_ｉ＋１、ｄ_ｉ＋２）と、パターン設定部２８に設定されている参照パターン「１０１」、「０１０」とを比較し、パターンＰｉが、参照パターン「１０１」、「０１０」のいずれかに一致するか否かを判定する。
【００３１】
位相推移値抽出手段３０は、パターン判定手段２９によってパターンＰｉが、参照パターン「１０１」、「０１０」のいずれかに一致すると判定されたとき、パターンＰｉの中間のシンボルｄ_ｉ＋１に対応する位相推移値Δφ_ｉ＋１をメモリ２７から読み出す。
【００３２】
平均演算手段３１は、位相推移値抽出手段３０によって抽出される位相推移値Δφ_ｉ＋１の絶対値の平均値（絶対平均値という）Ｈを求める。
【００３３】
なお、この絶対平均値Ｈは、パターンＰｉが参照パターン「１０１」に一致したときに抽出される中間シンボル「０」に対応する複数個の位相推移値Δφ（０）の絶対平均値Ｈ（０）と、パターンＰｉが参照パターン「０１０」に一致したときに抽出される中間シンボル「１」に対応する複数個の位相推移値Δφ（１）の絶対平均値Ｈ（１）との平均値である。
【００３４】
ここで、シンボルデータの変化と位相の変化の関係を図２に示す。
図２において、パターンＡのように「１」のシンボルデータが連続する場合、そのシンボル間の位相推移値はπ／２となり、パターンＢのように「０」のシンボルデータが連続する場合には、そのシンボル間の位相推移値は−π／２となる。このように同一シンボルが連続する場合、パターン判定手段２９からは不一致の判定結果が出力される。
【００３５】
また、パターンＣ、Ｄのように、「１」と「０」のシンボルが交互に発生する場合には、パターン判定手段２９が一致の判定結果を出力し、位相推移値抽出手段３０が「１０１」のパターンの中間シンボル「０」に対応する位相推移値Δφ（０）と、「０１０」のパターンの中間シンボル「１」に対応する位相推移値Δφ（１）とをメモリ２７から抽出する。
【００３６】
これらの位相推移値を受けた平均演算手段３１は、シンボル「０」に対応する所定個数Ｎの位相推移値Δφ（０）の絶対平均値Ｈ（０）と、シンボル「１」に対応する所定個数Ｎの位相推移値Δφ（１）の絶対平均値Ｈ（１）とを求め、さらにその平均値Ｈを算出する。
【００３７】
ＢｂＴ積検出手段３２は、平均演算手段３１によって算出された位相推移値の絶対平均値Ｈと、データベース部３３に予め記憶されている波形整形フィルタのＢｂＴ積と位相推移値との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのＢｂＴ積を求める。
【００３８】
即ち、データベース部３３には、予め実験で求められた波形整形フィルタのＢｂＴ積と、３つの連続するシンボルデータが「１０１」と「０１０」の場合における中間シンボルの位相推移値の平均値を測定することによって得られたＢｂＴ積対位相推移値との関係を表す近似式の情報が記憶されており、ＢｂＴ積検出手段３２はこの情報と平均演算手段３１によって算出された位相推移値の絶対平均値Ｈを近似式に代入して波形整形フィルタのＢｂＴ積を求める。
【００３９】
図３は、実験的に得られたＢｂＴ積と位相推移値との関係を示す特性Ｆであり、この特性Ｆは、ＢｂＴ積に対して位相推移値が単調増加しているので、絶対平均値Ｈに対してＢｂＴ積が一義的に決まる。
【００４０】
このように、実施形態のＢｂＴ積測定装置２０では、特定のパターンで変化するシンボルについての位相推移値とＢｂＴ積との関係を予め求めておき、ＢｂＴ積が未知の位相連続多値ＦＳＫ信号について得られるシンボルが特定のパターンで変化したときの位相推移値を求め、その求めた位相推移値と、予め求めておいた位相推移値とＢｂＴ積との関係を示す情報とから、位相連続多値ＦＳＫ信号生成のために使用されている波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるようにしているので、少ない標本データ数で精度よくＢｂＴ積を測定することができる。
【００４１】
また、この実施形態のＢｂＴ積測定装置２０では、前記したように、平均値演算手段３１が、中間シンボル「０」に対応する所定個数Ｎの位相推移値Δφ（０）の絶対平均値Ｈ（０）と、中間シンボル「１」に対応する所定個数Ｎの位相推移値Δφ（１）の絶対平均値Ｈ（１）とを求め、さらにその平均演算によって最終的な位相推移値の平均値Ｈを算出しているので、周波数同期誤差がある場合でも、ＢｂＴ積を正確に測定することができる。
【００４２】
即ち、周波数同期誤差があると、変調信号のスペクトラムが図４のようにずれ、シンボルと位相推移値との関係が、図５に示すように基準位相に対して非対称となり、中間シンボル「０」に対応する位相推移値Δφ（０）の絶対値と、中間シンボル「１」に対応する位相推移値Δφ（１）の絶対値との差が大きくなるが、前記したように、中間シンボル「０」に対応する位相推移値Δφ（０）の絶対平均値Ｈ（０）と、中間シンボル「１」に対応する位相推移値Δφ（１）の絶対平均値Ｈ（１）との平均演算によって最終的な位相推移値の平均値Ｈを算出しているので、上記のような周波数同期誤差による影響を受けずに、ＢｂＴ積を正確に測定することができる。
【００４３】
また、前記したデータベース部３３には、波形整形フィルタのＢｂＴ積と位相推移値の関係を直接表す近似式が記憶されていたが、図６に示すように、位相推移値抽出手段３０で抽出された位相推移値Δφを変調指数Ｍの値を用いて正規化した値ｋと波形整形フィルタのＢｂＴ積との関係を示す情報をデータベース部３３に記憶しておき、ＢｂＴ積検出手段３２が、平均演算手段３１によって算出された位相推移値の絶対平均値Ｈを既知の変調指数Ｍで正規化し、その正規化によって得られた値ｋと、データベース部３３に記憶されている値ｋとＢｂＴ積との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるように構成してもよく、このようにすれば、一つの共通の情報で異なる変調指数に対応することができる。
【００４４】
また、データベース部３３に、例えば図７のように、値ｋの範囲とＢｂＴ積とを対応付けたテーブルを記憶しておき、ＢｂＴ積検出手段３２が、平均演算手段３１によって算出された位相推移値の絶対平均値Ｈを変調指数の値を用いて正規化し、その正規化によって得られた値ｋが図７のテーブルのどの範囲に入るかを調べて、ＢｂＴ積を求めるようにしてもよい。
【００４５】
また、このように位相推移値Δφを変調指数Ｍで正規化した値を用いることで、変調指数が未知の場合でもＢｂＴ積を求めることができる。
【００４６】
図８は、上記のように変調指数が未知の場合に対応するＢｂＴ積測定装置２０′の構成を示している。
【００４７】
このＢｂＴ積測定装置２０′では、入力される位相連続ＦＳＫ信号からその変調指数Ｍを測定する変調指数検出手段４０を有しており、ＢｂＴ積検出手段３２が、変調指数検出手段４０によって得られた変調指数Ｍで、平均演算手段３１によって算出された位相推移値の絶対平均値Ｈを正規化し、その正規化によって得られた値ｋと、データベース部３３′に記憶されている値ｋとＢｂＴ積との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのＢｂＴ積を求める。
【００４８】
また、前記説明では、最隣接の符号間干渉の影響だけに着目し、参照パターンを３つのシンボルで構成していたが、それ以上離れたシンボルの影響を加味すれば、さらに正確な測定が行える。
【００４９】
例えば５つのシンボルで構成されるパターンは、「０００００」、「００００１」、…、「１１１１１」までの３２通りあるが、この中で符号間干渉の影響がもっとも大きいのは、シンボルが交互に反転する「１０１０１」と「０１０１０」のパターンである。
【００５０】
したがって、予めこのパターンについて、その中間シンボルに対応する位相推移値とＢｂＴ積との関係（あるいは変調指数で正規化した値ｋとＢｂＴ積との関係）を前記同様に求めて予めデータベース部３１に記憶しておき、パターン設定手段２８でこの「１０１０１」と「０１０１０」を参照パターンとして設定しておけば、図９のパターンＣ′、Ｄ′のように「１０１０１」と「０１０１０」のシンボルが検出されたときの中間シンボルに対応する位相推移値から前記同様にＢｂＴ積求めることができる。この場合には、中間シンボルの前後の２つのシンボルだけでなく、そのさらに前と後の２つのシンボルの影響が加味されるので、より正確な測定が可能となる。
【００５１】
また、前記説明では、符号間干渉の影響が最も大きく現れる交互反転パターンを参照パターンとしていたが、異なる符号を含むパターンであれば他のパターンを用いてもよく、また、中間シンボルを必ずしもパターンの中心位置のシンボルにする必要はない。
【００５２】
また、前記説明では、位相連続ＦＳＫ信号のうち１つのシンボルが「０」か「１」のいずれかである２値ＦＳＫ信号について説明したが、２値以外のものについても本発明を同様に適用できる。
【００５３】
例えば、１つのシンボルが「００」、「０１」、「１０」、「１１」のいずれかをとる位相連続４値ＦＳＫ信号（変調指数０．７５）で、前記同様に３つのシンボルで符号間干渉の影響を調べる場合、図１０に示すようにシンボルと位相推移値とが変化し、この変化パターンのうち、パターンＥのようにシンボルが「００」→「１１」→「００」と変化する場合と、パターンＧのようにシンボルが「１１」→「００」→「１１」と変化する場合とが、最も符号間干渉の影響を受ける。
【００５４】
したがって、このパターンＥ、Ｇについて、その中間シンボルに対応する位相推移値とＢｂＴ積との関係を予め求めてデータベース部３３に記憶して、パターンＥ、Ｇを参照パターンとしてパターン設定手段２８によって設定することにより、前記同様にＢｂＴ積を求めることができる。
【００５５】
また、「１０」→「０１」→「１０」と変化するパターン等でもＢｂＴ積を求めることができる。このようなパターンを用いる場合、前記したパターンＥ、Ｇより多少精度は落ちるが、パターンの出現率が増加するため、ＢｂＴ積を検出するために必要な標本数を集める時間が短くて済む。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のＢｂＴ積測定装置は、参照パターンと等しいパターンで変化するシンボル列の中間シンボルの位相推移値とＢｂＴ積との関係を予め求めておき、ＢｂＴ積が未知の位相連続多値ＦＳＫ信号について得られるシンボルが参照パターンと同一パターンで変化したときの位相推移値を求め、その求めた位相推移値と、予め求めておいた位相推移値とＢｂＴ積との関係とに基づいて、位相連続多値ＦＳＫ信号生成のために使用されている波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるようにしているので、少ない標本数で精度よく且つ短時間にＢｂＴ積を測定することができる。
【００５７】
また、位相推移値を変調指数で正規化した値とＢｂＴ積との関係を示す情報をデータベース部に予め記憶しておき、ＢｂＴ積検出手段が、平均演算手段で算出された位相推移値を変調指数で正規化してその正規化された値とデータベース部の情報とからＢｂＴ積を検出するように構成した場合には、変調指数によらない共通の情報でＢｂＴ積を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図
【図２】シンボルと位相推移値との関係を示す図
【図３】位相推移値とＢｂＴ積の関係を示す図
【図４】周波数同期誤差があるときの変調信号のスペクトラムを示す図
【図５】周波数誤差があるときのシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図６】位相推移値を変調指数で正規化した値とＢｂＴ積との関係を示す図
【図７】図６の関係から得られるテーブル図
【図８】変調指数が未知の場合に対応する実施形態の構成を示す図
【図９】参照パターンが５つのシンボルで構成される場合のシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図１０】位相連続４値ＦＳＫ信号の場合のシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図１１】ＧＭＳＫ変調信号を生成するための構成を示す図
【図１２】ＢｂＴ積０．３のＧＭＳＫ変調信号のスペクトラムを示す図
【図１３】ＢｂＴ積１．０のＧＭＳＫ変調信号のスペクトラムを示す図
【図１４】従来のＢｂＴ積の検出方法を説明するための図
【符号の説明】
１……波形整形フィルタ、２……ＶＣＯ、２０、２０′……ＢｂＴ積測定装置、２１……復調処理部、２２……位相検出手段、２３……シンボルクロック同期処理手段、２４……位相標本化手段、２５……位相推移値検出手段、２６……シンボルクロック検出手段、２７……メモリ、２８……パターン設定手段、２９……パターン判定手段、３０……位相推移値抽出手段、３１……平均演算手段、３２……ＢｂＴ積検出手段、３３、３３′……データベース部、４０……変調指数検出手段

Claims

ＮＲＺ形式のベースバンド信号を波形整形フィルタで波形整形した変調信号によって所定の変調指数で周波数変調して得られる位相連続多値ＦＳＫ信号を受けて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を測定するＢｂＴ積測定装置において、
入力された位相連続多値ＦＳＫ信号に対して、瞬時位相を検出する位相検出手段（２２）と、
前記入力された位相連続多値ＦＳＫ信号に対してシンボルクロック同期処理を行うシンボルクロック同期処理手段（２３）と、
前記位相検出手段で検出された位相に対して、前記シンボルクロック同期処理手段で得られたタイミングで標本化する位相標本化手段（２４）と、
前記位相標本化手段で得られた位相の前記位相標本化手段で得られた一つ前の位相に対する位相推移値を検出する位相推移値検出手段（２５）と、
前記位相推移値検出手段によって検出された位相推移値の符号からシンボルデータを検出するシンボルデータ検出手段（２６）と、
前記シンボルデータ検出手段によって検出されたシンボルデータとそのシンボルデータを検出するときに用いた位相推移値とを対応づけて記憶する記憶手段（２７）と、
任意の参照パターンを設定するパターン設定部（２８）と、
前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンと前記パターン設定部によって設定されている参照パターンとを比較し、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンが前記参照パターンと一致するか否かを判定するパターン判定手段（２９）と、
前記パターン判定手段によってパターンの一致が判定されたとき、該パターンの中間のシンボルに対応する位相推移値を前記記憶手段から抽出する位相推移値抽出手段（３０）と、
前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値の平均値を算出する平均演算手段（３１）と、
前記参照パターンの中間のシンボルに対する位相推移値と前記波形整形フィルタのＢｂＴ積との関係を示す情報を予め記憶しているデータベース部（３１）と、
前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるＢｂＴ積検出手段（３２）とを備えたことを特徴とするＢｂＴ積測定装置。
前記データベース部には、前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値を前記変調指数の値を用いて正規化した値とＢｂＴ積との関係を示す情報が予め記憶されており、
前記ＢｂＴ積検出手段は、前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値を前記変調指数で正規化した値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのＢｂＴ積を求めるように構成されていることを特徴とする請求項１記載のＢｂＴ積測定装置。