JP3553468B2 - Print solder inspection equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板の製造ラインに設けられる半田印刷装置に関し、特に、半田の形成状態を検査して印刷条件を決定できる印刷半田検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
プリント基板の製造ラインは、先ず半田印刷装置でプリント基板上に半田が印刷形成され、半田検査装置で半田の形成状態が検査された後、電子部品を部品搭載装置で搭載するようになっている。
【0003】
半田検査装置は、前段の半田印刷装置で半田印刷されたプリント基板を検査し、半田印刷の状態(配置、欠損の有無等)を検査するようになっている。この検査手段は、プリント基板上に配置されたCCDカメラの画像に基づき、各半田の配置位置及び面積を検出するようになっている。
半田印刷装置における半田の形成状態は、マスクのスキージ圧と速度、マスクの引き剥がし速度、マスクのクリーニング間隔、半田の粘度と量、等の各項目によって変動する。これらの各項目は、半田印刷装置の動作パラメータとして設定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来の半田印刷装置では、上述した動作パラメータの設定が経験的に定められるため、調整に熟練を要し、調整を容易に行えなかった。また、半田の印刷状態に応じた制御が行えなかった。
【0005】
例えば、半田印刷装置のマスクの状態が半田の形成状態を大きく変化させる。したがって、半田印刷装置においては、クリーニング間隔が固定値として設定されており、マスクを用いて複数回のスキージを行った後にこのマスクをクリーニングするようになっている。なお、クリーニングによってマスク裏面、及び開口部に付着した半田粒とフラックスを除去でき、半田形成時のにじみ(ブリッジ)、かすれ(オープン)を防止して品質を維持できる。従来、このクリーニング間隔は、設定値に基づき所定枚数のプリント基板を半田印刷する毎に実行されており上記にじみ等の問題が発生しない適宜の値が設定されるようになっていた。しかし、1回のクリーニング実行によって、ほぼ1枚のプリント基板印刷分の時間がかかる。また、上述したようにクリーニングの間隔は、経験的な固定値であるため、最適なクリーニング間隔が設定されたものとは限らず、印刷状態による制御も行えなかった。
【0006】
この他、従来の半田印刷装置では、上述した各動作パラメータそれぞれについて、固定値であるため半田印刷に最適な値であるとは言えず、また印刷状態の変化に対応することができなかった。
これにより、半田印刷装置のみならずこのプリント基板作成のライン全体の稼働効率の向上を図ることができなかった。
【0007】
ところで、従来は、半田検査装置でCCDを用いた検査では、プリント基板上における平面的な半田の配置位置及び面積程度しか検出できず詳細な半田の形成状態が得られない為、半田印刷装置の動作パラメータの変更に反映させることができない状況であった。
【0008】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、半田印刷の動作パラメータを簡単に設定でき、また、印刷状態の変化に応じて動作パラメータを最適値となるよう変更でき、プリント基板の品質を向上できる印刷半田検査装置及び検査機能付き半田印刷装置の提供を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の印刷半田検査装置は、前段の半田印刷装置で半田形成された後、搬入された各プリント基板上の半田の形成状態を検査する印刷半田検査装置において、
前記プリント基板の半田の形成状態を検出して、前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値を変更させる制御指令を出力するものであって、過去の複数枚のプリント基板の半田の形成状態の変化の方向と制御指令の変更方向の推移とを学習し、かつ前記半田の形成状態と前記制御指令の変更方向との対応関係を学習し、前記半田印刷装置で半田を形成させる制御部の動作パラメータの値が最適値となる方向に変更方向を決定して制御指令を出力する履歴学習手段が設けられた処理部を備えたことを特徴とする。
【0010】
また、本発明は、前段の半田印刷装置で半田形成された後、搬入された各プリント基板上の半田の形成状態を検査する印刷半田検査装置において、
前記プリント基板に対向配置され、該プリント基板上の各半田の変位量を検出するセンサヘッドと、
前記センサヘッドから出力される半田の変位量、及び前記プリント基板上におけるセンサヘッドの走査位置に基づき、プリント基板上の半田の変位量の3次元データを作成する3次元データ作成手段と、
前記3次元データ作成手段による3次元データの作成結果を基準値と比較して各半田の配置位置、高さ、面積、体積の各検出項目について半田の形成状態を判別し、この判別結果に基づき前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値を変更させる制御指令を出力するものであって、過去の複数枚のプリント基板の半田の形成状態の変化の方向と制御指令の変更方向の推移とを学習し、かつ前記半田の形成状態と前記制御指令の変更方向との対応関係を学習し、前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値が最適値となる方向に変更方向を決定して制御指令を出力する履歴学習手段が設けられた処理部と、
を備えたことを特徴とする。
【0014】
上記構成によれば、前段の印刷部で形成されたプリント基板上の半田の状態が検査部で検出される。処理部は、検出された半田の形成状態を判別して印刷部の動作パラメータの値を可変させる制御指令を出力する。
このようなフィードバック系の構成により、動作パラメータの値が最適値となるよう制御できる。また、履歴学習手段を設けることにより、以前のプリント基板の半田の形成状態と、制御指令の変更方向の推移及び半田の形成状態と前記制御指令の変更方向との対応関係を学習することにより、制御部の動作パラメータの値を最適値となる方向に変更方向を決定した制御指令が出力できるようになる。
これにより、印刷部の各動作パラメータの値を最適値に設定できるようになり、プリント基板の印刷品質を維持でき、またライン全体の稼働効率の向上が図れるようになる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の印刷半田検査装置を説明する。図1は、プリント基板の製造ラインの一部を示すブロック図である。このライン上には、半田印刷装置1と、印刷半田検査装置5が設けられている。
【0016】
半田印刷装置1の印刷部2は、プリント基板P上に搭載される電子部品等の配置に適合して半田を形成させる。この印刷部2は、半田形成箇所に開口されたマスクをプリント基板Pに重合させて半田を開口部に充填させ、マスク上でスキージを移動させながらプリント基板P表面に半田を転写形成させる。この後、プリント基板Pをマスクから引き剥がし、このプリント基板Pを後段のプリント基板P検査装置5に搬出する。以降、複数枚のプリント基板Pの製造毎にマスクをクリーニングする。
【0017】
印刷部2は制御部3によって動作制御される。制御部3には、上記動作パラメータが設定される設定部3aを有し、この設定部3aに設定された動作パラメータで印刷部2を動作制御する。動作パラメータとしては、マスクのスキージ圧と速度、マスクの引き剥がし速度、マスクのクリーニング間隔、半田の粘度と充填量、等の各項目がある。
【0018】
印刷半田検査装置5の構成を図2、図3に示す(詳細は後述する)。検査部6は、プリント基板Pに形成された半田の状態を検出し、処理部7に出力する。処理部7は、検出された半田の状態に基づき、半田印刷装置1の動作パラメータを可変させる制御信号を生成する。この制御信号は、変換部8によって半田印刷装置1の制御部3が受け入れる信号形態に変換される。
上記により、制御部3の設定部3aに設定された動作パラメータが実際のプリント基板P上の半田の形成状態によって変更されて印刷動作するフィードバック系が構成されている。
【0019】
図2は、印刷半田検査装置の正面図、図3は同平面図である。
検査装置5の筐体内部には、搬送手段12が設けられプリント基板Pを図中X軸方向に搬送させる。この搬送方向手前側には前段装置の搬出部が設けられ、搬送方向後端側には後段装置の搬入部が設けられている。
【0020】
搬送手段12は、図2中Y軸方向に所定幅を有して配置された一対のレール13(13a,13b)及びベルト14(14a,14b)を有する。このY軸はX軸(搬送方向)と直交する方向である。一方は固定レール13aであり、ベルト14aはこの固定レール13a上を移動する無端状に形成される。他方は固定レール13aと平行な可動レール13bであり、同様に無端状のベルト14bを有する。ベルト14a,14bはそれぞれ両端が回転軸5で軸支され、モータ16の回転でプリント基板PをX軸方向に搬送移動させる。
【0021】
これら固定レール13aと可動レール13bは、Y軸テーブル17上に設けられている。Y軸テーブル17は、Y軸方向に延びる複数の支軸、ボールネジ、及びモータ等からなるY軸移動手段18によってY軸方向に移動自在である。
このY軸テーブル17上には、支軸、ボールネジ、及びモータ等からなるW軸移動手段20が設けられ、可動レール13bをW軸方向に移動自在に支持している。W軸はY軸と同方向である。
これにより、可動レール13bは固定レール13aに対してY軸方向に移動し、互いの間隔が可変自在であり、搬送するプリント基板Pの幅に対応することができる。なお、不図示であるが、固定レール13a、及び可動レール13bには側部位置にそれぞれプリント板Pを案内する側板が設けられている。
【0022】
Y軸テーブル17の上方位置には、プリント基板Pを検査する検査部6が設けられている。この検査部6のセンサヘッド30にはレーザ変位計が用いられ、プリント基板Pの表面側の半田の突起(高さ方向Zの変位量)を検出する。この検査部6は、X,Y軸方向に移動走査され、プリント基板Pの3次元データを出力する。検査部6の検出信号は処理部7に出力される。
【0023】
図4は、センサヘッド30としてのレーザ変位計による変位量の検出原理を示す概要図である。
光源51からのレーザビームをプリント基板Pの基板面に照射し、その照射点Sの反射光による像を結像レンズ53によって受光素子54の受光面54aに結像させる構成である。
【0024】
これにより、プリント基板Pが高さ方向Zに移動すると(半田等の突起があると)、照射点SがS’あるいはS”に移動し、対応して受光素子54の受光面54aの結像点Kの位置がK’あるいはK”に移動する。受光素子54は、この結像点Kの位置に対応した検出信号を出力し、この信号の変化量に基づきプリント基板P上の突起(半田)の変位量(高さや外形)を出力する。レーザ変位計が検出可能な検出範囲は、図示の如く所定の範囲を有している。
【0025】
検査部6は、上記センサヘッド30と走査移動手段37を備えている。
走査移動手段37は、X軸移動手段38と、Z軸移動手段39で構成され、Z軸移動手段39にセンサヘッド30が設けられている。
X軸移動手段38は、プリント基板Pの検査位置上部においてX軸方向に沿って水平な支軸、ボールネジ、及びモータ等で構成されている。このX軸方向の長さはプリント基板Pの長さ程度である。
【0026】
Z軸移動手段39は、X軸移動手段38のモータによってX軸方向に移動自在な移動体39aと、移動体39aの上下方向(Z軸方向)に設けられた支軸、ボールネジ、及びモータ等で構成されている。この移動体39a(センサヘッド30)はボールネジの回転によって上下に昇降自在に構成されている。
これにより、センサヘッド30は、プリント基板Pの搬送方向(X軸方向)に走査移動自在である。ここで、Z軸移動手段39は、プリント基板Pと所定の間隔を維持した状態で変位量を測定する倣い計測を行うため、センサヘッド30を高さ方向に移動させる。
【0027】
プリント基板Pは、搬送手段12のモータ16の回転によりベルト14a,14b上をX軸方向に移動する。略中央部の検査位置には固定用のストッパ23が突出しており、プリント基板Pがこの検査位置にて停止するようになっている。
プリント基板Pは位置検出センサ(不図示)により検査位置に達したことが検出された後、モータ16の停止で検査部6の直下に位置する。この状態でプリント基板Pは不図示の矯正機構により搬送方向の反りが矯正される。具体的には、レール13a,13bは、この長さ方向に渡ってプリント基板Pの両端部を挟持し、この両端部は長さ方向の反りが矯正される。
【0028】
この状態で検査部6による検査が実行される。
センサヘッド30は、プリント基板P上の変位量(半田突起)をX,Y軸方向に走査して行う。うちX軸方向の走査は走査移動手段37によりセンサヘッド30を移動制御して行う。また、Y軸方向の走査は、搬送手段12のY軸テーブル17を移動制御して行うようになっている。
【0029】
具体的には、図2の平面図に記載の如く、センサヘッド30によるレーザビームの照射点をプリント基板Pの4隅部分(位置T1)から開始し、同時にモータを駆動してY軸テーブル17をこのプリント基板Pの幅Dに対応した距離だけY1方向に移動させて(同Y軸方向を主走査方向とする)、連続的に半田突起の変位量を検出していく。
このY軸テーブル17の移動時、固定レール13a及び可動レール13bの間隔は不変であるためプリント基板Pは、同Y1方向に移動する。
レーザビームの照射点がプリント基板Pの他端側(位置T2)まで移動すると、モータ18bの駆動を停止させる。
【0030】
この後、走査移動手段37のX軸移動手段38のモータを駆動してセンサヘッド30をX軸方向に所定量(位置T3)まで移動(副走査)させる。
このX軸方向への移動量は、センサヘッド30の走査範囲xAに対応している。図2記載のように、センサヘッド30がレーザビームをX軸方向に図中xAの幅で走査する場合、この走査幅xAに対応した所定量だけセンサヘッド30をX軸方向に移動させる。
【0031】
副走査後、Y軸テーブル17をY2方向に移動させて連続的に半田突起の変位量を検出していく。
この後、走査移動手段37のX軸移動手段38のモータを駆動してセンサヘッド30をX軸方向に所定量(位置T4まで)移動(副走査)させる。
以上のようなX,Y軸への移動走査の繰返しでプリント基板P上の半田突起の変位量を連続的に検出していく。
【0032】
このように、搬送手段12がY軸方向に移動可能な構成であることを利用して、プリント基板Pの検査処理時に、センサヘッド30側はX軸方向にのみ移動制御するようになっている。
【0033】
上記のように、センサヘッド30をプリント基板Pに対して相対的にX,Y軸に走査することによって、センサヘッド30からは連続的にプリント基板P上の半田の突起に対応した高さデータ(検出信号)を連続出力する。
検査部6がプリント基板Pの検査を終了した後は、ストッパ23が退避してモータ16の駆動によりプリント板PはX軸方向の後段装置に搬出される。
【0034】
なお、上記構成では、センサヘッド30をX軸方向に移動させ、プリント基板PをY軸方向に移動させる構成としたが、他、センサヘッド30がX,Y軸に移動する構成としてもよく、センサヘッド30とプリント基板Pが相対的にX,Y軸方向に移動する構成であればよい。
【0035】
図5は、検査装置5の電気的構成を示すブロック図である。
処理部は、CPU,ROM,RAM,タイマ等を有し所定の処理プログラムの実行により測定したプリント基板P上の半田の形成状態を判断処理する。 センサヘッド30から出力される(検出信号)3次元データは、上記X軸移動手段38及びY軸移動手段18のX,Y軸の走査により半田の突起に対応して連続的に変化するデータである。
【0036】
各領域別の画像データは、3次元データ作成手段41により3次元データに変換される。即ち、X,Y軸の走査位置に対応した2次元データと、センサヘッド30から出力される変位量のデータに基づき3次元データを生成する。この際、プリント基板Pの面上における半田の形成状態のみ抽出してデータ化されるようになっている。
【0037】
項目別演算手段42は、3次元データに基づき、半田の形成状態に関して各種項目を演算する。形成の検査項目としては、各半田についての配置位置、面積、高さ、体積等がある。
演算後の項目別データは、状態判別手段43に出力され、また、記憶手段44に格納される。
【0038】
状態判別手段43は、演算後の項目別データに基づき、各半田の形成状態を判別する。
この際、データベースDBに格納されている基準の半田データの配置位置(X,Y座標形式)と比較して配置ずれを検出する。また、基準の半田データの高さと比較して、欠損及び高さムラを検出する。また、基準の半田データの高さ、面積、体積と比較して高さ、面積、体積の変動を検出する。
【0039】
履歴学習手段45は、今回、及び過去の複数枚のプリント基板Pについて、状態判別手段43で判別された半田の形成状態を示す各項目を記憶手段44から読み出し、半田の形成状態の変動に基づき、半田印刷装置1に対して動作パラメータの可変が必要か否かを判断する。
動作パラメータの可変が必要な場合には、複数の動作パラメータの項目(上記(マスクのスキージ圧と速度、マスクの引き剥がし速度、マスクのクリーニング間隔、半田の粘度と充填量、等)のうち任意に設定した1つの項目について動作パラメータを可変させる。
【0040】
以下、動作パラメータの可変制御についての1例を説明する。この例では、上記半田の高さの形成状態に基づき、動作パラメータのクリーニング間隔を可変させる例を説明する。半田印刷装置1の設定部3aに設定されている動作パラメータのうちクリーニングに関しては、所定枚数(例えば4枚)印刷後に1回のマスククリーニングを行う設定であるとする。
この場合、状態判別手段43は、各半田の形成高さを判断する。データベースDBには予めプリント基板Pに形成されるべきプリント基板P上の全半田の高さの基準平均値と、この基準高さ(基準平均値)を中心とする上下限の設定範囲が設定されている。そして、検出された各半田の高さの平均値がこの設定範囲内であるか、あるいは設定範囲を超えたかを判断する。
なお、この設定範囲は、プリント基板Pの製造品質を維持するために必要な許容範囲内に設定されている。
【0041】
履歴学習手段45は、状態判別手段44で判別された半田の高さについて、前回のクリーニング動作後の各プリント基板Pの各半田の高さの平均値が前記設定範囲内であればクリーニング間隔を広げるクリーニング間隔信号を出力する。一方、検出した各プリント基板Pの各半田高さの平均値が設定範囲を越えた場合にはクリーニング間隔を狭めるクリーニング間隔信号を出力する。
【0042】
図6を用いて履歴学習処理の内容を説明する。図示の縦軸は高さ、横軸はプリント基板Pの枚数である。1枚のプリント基板P検査毎に、形成されている半田の平均高さが得られ、履歴学習手段45は、各プリント基板Pの半田高さの変動を把握する。
【0043】
そして、図6(a)に示すように、設定部3aの動作パラメータのうちクリーニング間隔(1サイクル)が複数枚(図示の例では4枚)のプリント基板Pを印刷する設定であり、nサイクル(n=1以上、図示の例ではn=2)の期間中、継続して半田高さの平均値が範囲内であったとする。
この場合、履歴学習手段45は、3サイクル開始時にクリーニング間隔を1枚のプリント基板P分だけ広げた制御信号(クリーニング間隔可変指令)を半田印刷装置1の設定部3aに出力する。この制御信号は変換部8にて変換される。
【0044】
これにより、半田印刷装置1の制御部3は、設定部3aの設定更新により、3サイクル目では1枚増加させて計5枚のプリント基板Pを印刷(検査)した後にクリーニングが実行されることになる。ここで、3サイクル目の5枚のプリント基板Pにおける半田の高さの平均値がいずれも設定範囲内であれば、クリーニング間隔を最適な間隔に近づけたことになる。同時に、クリーニング間隔を広げることができ、プリント基板Pの製造品質を維持しつつ印刷装置及びライン全体の稼働効率を向上できるようになる。
以降も、同様の高さ検出処理を実行して最適なクリーニング間隔が得られるようになる。
【0045】
一方、図6(b)に示すように、設定部3aに設定されたクリーニング間隔が5枚であり、1サイクルあたり複数枚(図示の例では5枚)のプリント基板Pの検査を実行し、nサイクル(n=1以上、図示の例ではn=2)の期間中に半田高さの平均値が範囲を越えた場合があったとする。
この場合、履歴学習手段45は、3サイクル開始時にクリーニング間隔を1枚のプリント基板P分だけ狭めたクリーニング間隔信号を半田印刷装置1の設定部3aに出力する。
これにより、半田印刷装置1の制御部3は、3サイクル目では計4枚のプリント基板Pを印刷(検査)した後にクリーニングを実行させることになる。ここで、3サイクル目の4枚のプリント基板Pにおける半田の高さの平均値がいずれも設定範囲内であれば、クリーニング間隔を最適な間隔に近づけたことになる。同時に、プリント基板Pの製造品質を維持することができるようになる。
また、以降も、同様の高さ検出処理を実行して最適なクリーニング間隔が得られるようになる。
【0046】
また、上記履歴学習手段45は、出力した制御信号(クリーニング間隔の変更指令)によるクリーニングの実行により、逆にプリント基板Pの半田の高さの平均値が設定範囲から外れた場合には、次のクリーニング間隔を以前に広げ/あるいは狭めた制御指令と逆に狭め/あるいは広げる制御を実行して、同様に半田の高さの状態変化を検出していき、クリーニング間隔を最適値に近づける学習を行う。なお、この際、高さの設定範囲が品質維持の設定範囲内となるよう設定されている為、プリント基板Pの半田の高さに関する品質低下(例えば不良品発生)を防止できる。
【0047】
図6に示した説明図は、プリント基板Pに形成された半田の高さ、クリーニング時期を時間的経過で視覚的に把握しやすい。同図に示された半田の高さとクリーニング時期は図示しない表示部に表示する構成としてもよい。
【0048】
上記実施形態では、動作パラメータの変更として、半田の高さに基づきマスクのクリーニング間隔を可変制御する構成とした。印刷半田検査装置5は、この他、プリント基板P上に形成された半田の配置位置、面積、高さ、体積等を検出することができるため、これらの各検出項目の複数用いて前記マスクのクリーニング間隔を可変制御する構成にもできる。
また、半田印刷装置1の動作パラメータとしては、他に、マスクのスキージ圧と速度、マスクの引き剥がし速度、半田の粘度と充填量、等があり、上記クリーニング間隔に代えてこれらのうちいずれか1つの動作パラメータの設定を上記印刷半田検査装置5の検査項目に基づき可変制御する構成にもできる。なお、複数の動作パラメータの項目について値を同時に可変制御させた場合、最適化の対象が絞れず不安定な制御になるため、動作パラメータは予め選択、設定したある1つの項目について値を可変させる構成とする。この動作パラメータの項目は任意に選択、設定でき、上記処理により設定した動作パラメータ別にそれぞれ最適値を設定していくことができる。
【0049】
例えば、検査項目を配置位置、及び高さとし、可変対象の動作パラメータとしてマスクのスキージ圧とすることができる。履歴学習手段45は、複数枚のプリント基板Pの履歴に基づき配置位置ずれ、あるいは高さ変動があった場合、マスクのスキージ圧を前回に比して高く/あるいは低く可変制御する。
この結果、得られた次回のプリント基板Pにおける配置位置ずれ、あるいは高さ変動の状態が基準側に変化したか否かに基づき、基準側に変化した場合には前記動作パラメータの可変制御が適していたと判断(学習)し、次回もスキージ圧を同傾向側(前回が高くした場合今回も高い側)に制御する。
逆に基準から逸れる方向に変化した場合には、前記動作パラメータの可変制御が適していなかったと判断(学習)し、次回のスキージ圧を逆の傾向側(前回が高くした場合今回は低い側)に制御する。
【0050】
上記のような動作パラメータの可変制御は、前回の制御を含めプリント基板P複数枚分のデータを用いた履歴学習で実行されるため、最適値への収束性を良好にできる(フィードバック系で問題となる未収束(オーバーシュート、アンダーシュートの発生)を低減化できる。
【0051】
上記実施形態では、半田印刷装置1と、印刷半田検査装置5が別装置である例で説明した。これに限らず、半田印刷装置1が上記説明した印刷半田検査装置5の機能を有する構成とすることもできる。このような検査機能付き半田印刷装置であっても、上記実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
【0052】
【発明の効果】
本発明によれば、印刷部で形成されたプリント基板の半田の状態を検出して、印刷部の動作パラメータの値を可変させるため、印刷状態の変化に応じて印刷部の動作パラメータを簡単かつ適切に設定できるようになる。これにより、プリント基板の印刷品質を維持でき、またライン全体の稼働効率の向上が図れる。
また、検査部に半田の変位量を検出するセンサヘッドを設けた構成とすれば、半田の形成状態をより詳細に検出でき、半田の形成状態の変化に迅速に対応して動作パラメータの値を可変でき、不良基板の発生を防止できるようになる。
また、履歴学習手段を設ける構成とすれば、過去の半田の形成状態と制御指令の推移、及び対応を学習することができ、動作パラメータの値をより最適値に収束できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の装置が適用されるプリント基板の製造ラインの一部を示すブロック図。
【図2】プリント基板検査装置の正面図。
【図3】プリント基板検査装置の平面図。
【図4】センサヘッドによる変位量の検出原理を示す概要図。
【図5】装置の電気的構成を示すブロック図。
【図6】履歴学習の制御例を示す説明図。
【符号の説明】
1…半田印刷装置、2…印刷部、3…制御部、3a…設定部、5…印刷半田検査装置、6…検査部、7…処理部、8…変換部、12…搬送手段、30…センサヘッド、41…3次元データ作成手段、42…項目別演算手段、43…状態判別手段。44…記憶手段、45…履歴学習手段、P…プリント基板。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a solder printing apparatus provided on a production line of a printed circuit board, and more particularly, to a printed solder inspection apparatus capable of determining a printing condition by inspecting a solder formation state.
[0002]
[Prior art]
In a printed circuit board manufacturing line, first, solder is printed and formed on a printed circuit board by a solder printing apparatus, and after a solder formation state is inspected by a solder inspection apparatus, electronic components are mounted by a component mounting apparatus. .
[0003]
The solder inspection apparatus inspects a printed circuit board on which solder printing has been performed by a preceding solder printing apparatus, and inspects a state of solder printing (arrangement, presence or absence of a defect, and the like). The inspection means detects an arrangement position and an area of each solder based on an image of a CCD camera arranged on a printed board.
The formation state of the solder in the solder printing apparatus varies depending on items such as a mask squeegee pressure and speed, a mask peeling speed, a mask cleaning interval, a solder viscosity and an amount, and the like. These items are set as operating parameters of the solder printing apparatus.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional solder printing apparatus, since the setting of the above-described operation parameters is empirically determined, the adjustment requires skill and the adjustment cannot be easily performed. In addition, control cannot be performed according to the solder printing state.
[0005]
For example, the state of the mask of the solder printing apparatus greatly changes the state of formation of the solder. Therefore, in the solder printing apparatus, the cleaning interval is set as a fixed value, and the mask is cleaned after performing the squeegee a plurality of times using the mask. The cleaning can remove the solder particles and the flux attached to the back surface of the mask and the opening, and can prevent bleeding (bridge) and blurring (opening) at the time of forming the solder to maintain the quality. Conventionally, the cleaning interval is performed every time a predetermined number of printed circuit boards are printed by soldering based on a set value, and an appropriate value that does not cause the problem of bleeding or the like is set. However, one cleaning execution takes time for printing almost one printed circuit board. Further, since the cleaning interval is an empirically fixed value as described above, the optimum cleaning interval is not always set, and control based on the printing state cannot be performed.
[0006]
In addition, in the conventional solder printing apparatus, since each of the above-mentioned operation parameters is a fixed value, it cannot be said that it is an optimum value for solder printing, and it is not possible to cope with a change in printing state.
As a result, it has not been possible to improve the operating efficiency of not only the solder printing apparatus but also the entire production line of the printed circuit board.
[0007]
By the way, conventionally, in the inspection using a CCD with a solder inspection apparatus, since only a flat solder arrangement position and area can be detected on a printed circuit board and a detailed solder formation state cannot be obtained, the solder printing apparatus has The situation could not be reflected in the change of the operation parameter.
[0008]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and can easily set an operation parameter of solder printing, and can change an operation parameter to an optimum value according to a change in a printing state. It is an object of the present invention to provide a printed solder inspection device and a solder printing device with an inspection function that can improve the quality of the printed solder.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the printed solder inspection apparatus of the present invention is a printed solder inspection apparatus for inspecting the state of formation of solder on each printed circuit board after solder is formed by a preceding solder printing apparatus,
Detecting the state of formation of the solder on the printed circuit board, and outputting a control command for changing the value of the operation parameter of the control unit of the solder printing apparatus when forming the solder in the solder printing apparatus; Learning the direction of change of the state of formation of the solder of the plurality of printed circuit boards and the change of the direction of change of the control command, and learning the correspondence between the state of formation of the solder and the direction of change of the control command , A processing unit provided with history learning means for determining a change direction in a direction in which the value of the operation parameter of the control unit for forming solder in the solder printing apparatus becomes an optimum value and outputting a control command; .
[0010]
Further, the present invention is a printed solder inspection apparatus for inspecting the state of formation of solder on each of the conveyed printed circuit boards after the solder is formed by the preceding stage solder printing apparatus,
A sensor head that is arranged to face the printed board and detects a displacement amount of each solder on the printed board;
Three-dimensional data creating means for creating three-dimensional data of the displacement of the solder on the printed board based on the displacement of the solder output from the sensor head and the scanning position of the sensor head on the printed board;
The result of the three-dimensional data creation by the three- dimensional data creation means is compared with a reference value to determine the solder formation state for each detection item such as the arrangement position, height, area, and volume of each solder. It outputs a control command for changing the value of an operation parameter of a control unit of the solder printing apparatus when forming solder with the solder printing apparatus, and the change of the solder formation state of a plurality of printed circuit boards in the past. And the transition of the control command change direction, and the correspondence between the solder formation state and the control command change direction is learned, and the solder printing is performed when the solder printing apparatus forms the solder. A processing unit provided with history learning means for determining a change direction in a direction in which the value of the operation parameter of the control unit of the apparatus becomes an optimum value and outputting a control command,
It is characterized by having.
[0014]
According to the above configuration, the inspection unit detects the state of the solder on the printed circuit board formed by the preceding printing unit. The processing unit outputs a control command for determining the detected solder formation state and changing the value of the operation parameter of the printing unit.
With such a configuration of the feedback system, control can be performed so that the value of the operation parameter becomes an optimum value. Further, by providing the historical learning means, by learning earlier and solder forming state of the printed circuit board, and trends and solder forming state change direction of the control command the correspondence between the change direction of the control command, It becomes possible to output a control command in which a change direction is determined so that the value of the operation parameter of the control unit becomes an optimum value.
As a result, the value of each operation parameter of the printing unit can be set to an optimum value, the printing quality of the printed circuit board can be maintained, and the operation efficiency of the entire line can be improved.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the printed solder inspection apparatus of the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing a part of a production line for a printed circuit board. On this line, a
[0016]
The
[0017]
The operation of the
[0018]
The configuration of the printed
As described above, a feedback system that performs a printing operation by changing the operation parameters set in the
[0019]
FIG. 2 is a front view of the printed solder inspection apparatus, and FIG. 3 is a plan view of the same.
A
[0020]
The conveying means 12 has a pair of rails 13 (13a, 13b) and a belt 14 (14a, 14b) arranged with a predetermined width in the Y-axis direction in FIG. The Y axis is a direction orthogonal to the X axis (transport direction). One is a fixed
[0021]
The fixed
On the Y-axis table 17, a W-axis moving means 20 including a support shaft, a ball screw, a motor and the like is provided, and supports the
As a result, the
[0022]
An
[0023]
FIG. 4 is a schematic diagram showing the principle of detecting the amount of displacement by a laser displacement meter as the
A laser beam from the
[0024]
As a result, when the printed board P moves in the height direction Z (when there is a protrusion such as solder), the irradiation point S moves to S ′ or S ″, and an image of the
[0025]
The
The
The X-axis moving means 38 includes a horizontal support shaft, a ball screw, a motor, and the like along the X-axis direction above the inspection position of the printed circuit board P. The length in the X-axis direction is about the length of the printed circuit board P.
[0026]
The Z-axis moving means 39 includes a moving
Thus, the
[0027]
The printed circuit board P moves in the X-axis direction on the
After detecting that the printed board P has reached the inspection position by the position detection sensor (not shown), the printed board P is located immediately below the
[0028]
In this state, the inspection by the
The
[0029]
Specifically, as shown in the plan view of FIG. 2, the irradiation point of the laser beam by the
When the Y-axis table 17 moves, the interval between the fixed
When the irradiation point of the laser beam moves to the other end of the printed circuit board P (position T2), the driving of the
[0030]
Thereafter, the motor of the
The amount of movement in the X-axis direction corresponds to the scanning range xA of the
[0031]
After the sub-scanning, the Y-axis table 17 is moved in the Y2 direction to continuously detect the displacement amount of the solder protrusion.
Thereafter, the motor of the
The displacement of the solder protrusion on the printed circuit board P is continuously detected by repeating the above-described movement scanning in the X and Y axes.
[0032]
As described above, the
[0033]
As described above, by scanning the
After the
[0034]
In the above configuration, the
[0035]
FIG. 5 is a block diagram illustrating an electrical configuration of the
The processing unit has a CPU, a ROM, a RAM, a timer, and the like, and determines a state of formation of the solder on the printed circuit board P measured by executing a predetermined processing program. The three-dimensional data (detection signal) output from the
[0036]
The image data for each area is converted into three-dimensional data by the three-dimensional data creation means 41. That is, three-dimensional data is generated based on the two-dimensional data corresponding to the scanning positions on the X and Y axes and the displacement data output from the
[0037]
The item-by-item calculating means 42 calculates various items with respect to the state of formation of the solder based on the three-dimensional data. Inspection items for formation include an arrangement position, an area, a height, and a volume for each solder.
The itemized data after the calculation is output to the state determination unit 43 and stored in the
[0038]
The state determination unit 43 determines the formation state of each solder based on the calculated item data.
At this time, the misalignment is detected by comparing the arrangement position (X, Y coordinate format) of the reference solder data stored in the database DB. In addition, loss and height unevenness are detected by comparing with the height of the reference solder data. Further, a change in height, area, and volume is detected in comparison with the height, area, and volume of the reference solder data.
[0039]
The history learning unit 45 reads, from the
If it is necessary to change the operation parameters, any of a plurality of operation parameter items (the above (mask squeegee pressure and speed, mask peeling speed, mask cleaning interval, solder viscosity and filling amount, etc.)) The operation parameters are varied for one item set in the above.
[0040]
Hereinafter, an example of variable control of an operation parameter will be described. In this example, an example in which the cleaning interval of the operation parameter is changed based on the formation state of the solder height will be described. Regarding the cleaning among the operation parameters set in the
In this case, the state determination unit 43 determines the formation height of each solder. In the database DB, a reference average value of the heights of all the solders on the printed circuit board P to be formed on the printed circuit board P, and upper and lower limit setting ranges centered on the reference height (reference average value) are set. ing. Then, it is determined whether the average value of the detected heights of the respective solders is within the set range or exceeds the set range.
This setting range is set within an allowable range necessary for maintaining the manufacturing quality of the printed circuit board P.
[0041]
The history learning unit 45 determines the cleaning interval for the solder height determined by the
[0042]
The details of the history learning process will be described with reference to FIG. The vertical axis in the figure is the height, and the horizontal axis is the number of printed circuit boards P. The average height of the formed solder is obtained for each inspection of one printed circuit board P, and the history learning unit 45 grasps the fluctuation of the solder height of each printed circuit board P.
[0043]
As shown in FIG. 6A, among the operation parameters of the
In this case, the history learning unit 45 outputs a control signal (cleaning interval variable command) in which the cleaning interval is extended by one printed circuit board P at the start of three cycles to the
[0044]
As a result, the
Thereafter, the same height detection processing is executed to obtain an optimum cleaning interval.
[0045]
On the other hand, as shown in FIG. 6B, the cleaning interval set in the
In this case, the history learning unit 45 outputs a cleaning interval signal in which the cleaning interval is narrowed by one printed circuit board P at the start of three cycles to the
As a result, the
Thereafter, the same height detection processing is executed to obtain an optimum cleaning interval.
[0046]
On the contrary, if the average value of the solder height of the printed circuit board P is out of the set range due to the execution of the cleaning by the output control signal (cleaning interval change command), the history learning means 45 Performs control to narrow or widen the cleaning interval in the opposite direction to the control command that previously widened or narrowed the cleaning interval, and also detects changes in the height of the solder in the same manner, and learns to approach the optimum cleaning interval. Do. At this time, since the setting range of the height is set to be within the setting range of maintaining the quality, it is possible to prevent a decrease in the quality (for example, occurrence of defective products) relating to the height of the solder on the printed circuit board P.
[0047]
The explanatory diagram shown in FIG. 6 makes it easy to visually grasp the height of the solder formed on the printed circuit board P and the cleaning timing over time. The height of the solder and the cleaning time shown in the figure may be displayed on a display unit (not shown).
[0048]
In the above embodiment, as the change of the operation parameter, the cleaning interval of the mask is variably controlled based on the height of the solder. The printed
Other operating parameters of the
[0049]
For example, the inspection item may be an arrangement position and a height, and the squeegee pressure of the mask may be used as an operation parameter to be changed. The history learning unit 45 variably controls the squeegee pressure of the mask to be higher / lower than the previous time when the arrangement position is shifted or the height is changed based on the histories of the plurality of printed boards P.
As a result, based on whether or not the obtained dislocation position on the next printed circuit board P or the state of the height change has changed to the reference side, if the state changes to the reference side, the variable control of the operation parameter is suitable. It is determined (learned) that the squeegee pressure has been increased, and the squeegee pressure is controlled to the same tendency side next time (if the previous time was high, the squeegee pressure is also high this time).
On the other hand, if it changes in a direction deviating from the reference, it is determined (learned) that the variable control of the operation parameter is not suitable, and the next squeegee pressure is on the opposite tendency (if the previous time was high, the squeegee pressure was low this time). To control.
[0050]
Since the variable control of the operation parameters as described above is performed by history learning using data of a plurality of printed circuit boards P including the previous control, the convergence to the optimum value can be improved satisfactorily. (Convergence of overshoot and undershoot) can be reduced.
[0051]
In the above embodiment, the example in which the
[0052]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the state of the solder on the printed circuit board formed by the printing unit is detected and the value of the operation parameter of the printing unit is changed, the operation parameter of the printing unit can be easily and simply changed according to the change in the printing state. You will be able to set it properly. As a result, the print quality of the printed circuit board can be maintained, and the operation efficiency of the entire line can be improved.
In addition, if the inspection unit is provided with a sensor head that detects the amount of displacement of the solder, the formation state of the solder can be detected in more detail, and the value of the operation parameter can be quickly responded to a change in the formation state of the solder. It can be changed, and the occurrence of defective substrates can be prevented.
Further, if the configuration is provided with the history learning means, it is possible to learn the past solder formation state, the transition of the control command, and the correspondence, and converge the values of the operation parameters to more optimal values.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a part of a production line of a printed circuit board to which the apparatus of the present invention is applied.
FIG. 2 is a front view of the printed board inspection apparatus.
FIG. 3 is a plan view of the printed board inspection apparatus.
FIG. 4 is a schematic diagram showing a principle of detecting a displacement amount by a sensor head.
FIG. 5 is a block diagram showing an electrical configuration of the device.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a control example of history learning.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記プリント基板の半田の形成状態を検出して、前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値を変更させる制御指令を出力するものであって、過去の複数枚のプリント基板の半田の形成状態の変化の方向と制御指令の変更方向の推移とを学習し、かつ前記半田の形成状態と前記制御指令の変更方向との対応関係を学習し、前記半田印刷装置で半田を形成させる制御部の動作パラメータの値が最適値となる方向に変更方向を決定して制御指令を出力する履歴学習手段が設けられた処理部を備えたことを特徴とする印刷半田検査装置。After the solder is formed by the solder printing apparatus at the preceding stage, the printed solder inspection apparatus for inspecting the state of formation of the solder on each of the conveyed printed circuit boards,
Detecting the state of formation of the solder on the printed circuit board, and outputting a control command for changing the value of the operation parameter of the control unit of the solder printing apparatus when forming the solder in the solder printing apparatus; Learning the direction of change of the state of formation of the solder of the plurality of printed circuit boards and the change of the direction of change of the control command, and learning the correspondence between the state of formation of the solder and the direction of change of the control command , A processing unit provided with history learning means for determining a change direction in a direction in which the value of the operation parameter of the control unit for forming solder in the solder printing apparatus becomes an optimum value and outputting a control command; Print solder inspection equipment.
前記プリント基板に対向配置され、該プリント基板上の各半田の変位量を検出するセンサヘッドと、
前記センサヘッドから出力される半田の変位量、及び前記プリント基板上におけるセンサヘッドの走査位置に基づき、プリント基板上の半田の変位量の3次元データを作成する3次元データ作成手段と、
前記3次元データ作成手段による3次元データの作成結果を基準値と比較して各半田の配置位置、高さ、面積、体積の各検出項目について半田の形成状態を判別し、この判別結果に基づき前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値を変更させる制御指令を出力するものであって、過去の複数枚のプリント基板の半田の形成状態の変化の方向と制御指令の変更方向の推移とを学習し、かつ前記半田の形成状態と前記制御指令の変更方向との対応関係を学習し、前記半田印刷装置で半田を形成させる際に該半田印刷装置の制御部の動作パラメータの値が最適値となる方向に変更方向を決定して制御指令を出力する履歴学習手段が設けられた処理部と、
を備えたことを特徴とする印刷半田検査装置。After the solder is formed by the solder printing apparatus at the preceding stage, the printed solder inspection apparatus for inspecting the state of formation of the solder on each of the conveyed printed circuit boards,
A sensor head that is arranged to face the printed board and detects a displacement amount of each solder on the printed board;
Three-dimensional data creating means for creating three-dimensional data of the displacement of the solder on the printed board based on the displacement of the solder output from the sensor head and the scanning position of the sensor head on the printed board;
The result of the three-dimensional data creation by the three- dimensional data creation means is compared with a reference value to determine the solder formation state for each detection item such as the arrangement position, height, area, and volume of each solder. It outputs a control command for changing the value of an operation parameter of a control unit of the solder printing apparatus when forming solder with the solder printing apparatus, and the change of the solder formation state of a plurality of printed circuit boards in the past. And the transition of the control command change direction, and the correspondence between the solder formation state and the control command change direction is learned, and the solder printing is performed when the solder printing apparatus forms the solder. A processing unit provided with history learning means for determining a change direction in a direction in which the value of the operation parameter of the control unit of the apparatus becomes an optimum value and outputting a control command,
A printed solder inspection device comprising:
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