JP3554640B2 - Package for mounting semiconductor chip, semiconductor device and method of manufacturing the same - Google Patents
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Description
【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は、半導体装置、特に回路基板への装着性および回路基板との電気的導通信頼性向上さらにはハンドリング特性に優れ安価に製造できる半導体パッケージ構造技術に適用して有効である。
【0002】
【従来の技術】
リードピンを備えた半導体装置の実装技術としては、DIP(Dual Inline Package)またはSIP(Single Inline Package)と呼ばれるパッケージ構造の半導体装置を用いて、パッケージから突出されたリードピンの先端を回路基板に設けられた挿通孔に挿入し当該挿通孔の周囲の電極とリードピンとの半田付けを行うもの(差込実装方式)が知られている。
【0003】
この差込実装方式では、回路基板に挿通孔を形成する作業が必要であり、かつ当該挿通孔の位置に対してリードピンの折曲精度が要求され、実装時のハンドリングが難しいという問題があった。
【0004】
また、リードピンの先端を回路基板表面の表面と同方向に折曲して表面実装を行う形式のものも知られている。この表面実装型の樹脂パッケージの構造を図1〜4を用いて説明する。
【0005】
所定形状に加工されたリードフレーム1を用意する。このリードフレーム1は、中央に半導体チップを装着するアイランド部2を有しており、アイランド部近傍まで延出されたインナーリード3と、このインナーリード3を支持するアウターリード4とを有している。同図に示した状態ではこれらの部位は全て一体に加工されている。
【0006】
次に、図2に示すように、前記アイランド部2の上面に半導体チップ5を超音波振動あるいは熱圧着によって接合する。そして、この半導体チップ5の上面に設けられた電極とインナーリード3とを金あるいはアルミニウム等からなる導電性の細線(ワイヤ6)により導通させる。
【0007】
次に、図3に示すように、前記半導体チップ5、ワイヤ6およびインナーリード3を樹脂により封止する。これはキャビティを有する金型内に当該リードフレームを位置決めして、この金型内に熱硬化性樹脂または熱可塑性樹脂を注入することにより行われる。
【0008】
最後に図4に示すように、樹脂本体7から突出されたアウターリード4を折曲加工する。すなわち、まず樹脂本体7から突出されたアウターリード4を同図において樹脂本体7の外底面方向にL字状に折曲する。次に、アウターリード先端において樹脂本体7の側外方に折曲する。これによりアウターリードの先端(図中「C」で示す部分)は平坦になり、回路基板上の電極に対して半田により接合が可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
このような表面実装構造の半導体装置は、回路基板側に挿通孔を準備する等の加工が不要であるため、差込実装方式に較べて実装効率は向上するものの、樹脂本体の最上面からアウターリード先端(C)までの距離(図中「A」で示す距離)の精度、インナーリード(3)からアウターリード先端(C)までの距離(図中「A’」で示す距離)の精度、およびアイランド部2の中心位置からアウターリード先端(C)までの距離(図中「B」で示す距離)に誤差を生じないようにするために高い加工精度が必要であった。
【0010】
つまり、これらの加工精度が確保されなければ実装時に回路基板の電極位置とアウターリードの接合位置(C)とのズレを生じ、半導体装置への電源供給あるいは信号の読み書きに支障が出る可能性があった。
さらにインナーリード3の先端からアイランド部2までの距離(D)に自由度がなくパッケージ設計が制約されていた。
【0011】
また、多数のアウターリードの中にわずかでもリード浮きがあると、回路基板の電極との接合不良が生じてしまう可能性もあった。
さらに、図4に示したように樹脂本体の形成後にリードの折曲加工を最低2回は行うために樹脂本体(同図「d」で示す位置)に対して折曲時にストレスが加わり、樹脂クラックを生じ外観不良となったり耐湿性の低下が生じ易かった。
【0012】
加えて、樹脂本体からアウターリードが大きく突出した構造であるために、実装基板へのハンドリングがしにくく、また回路基板上において広い装着スペースが必要であり高密度実装に適さないという問題もあった。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記のような点を解消すべく以下のような手段を講じた。
すなわち第1に、半導体チップを装着するための内底面を有する中空部と、当該中空部に装着される半導体チップとパッケージ外部との電気的導通を実現するリードと、パッケージ本体を構成する樹脂本体とからなる半導体チップ装着用パッケージにおいて、前記リードを導電性金属板を切断・屈曲して得るとともに、その一端部を前記中空部に対して露出し、途中部を前記樹脂本体中に埋設し、他端部を前記樹脂本体の一面上においてその周縁近傍より略面一状に外部に露出させた構造とした。
【0014】
ここで、面一状とは、樹脂本体の上面または下面の一部を構成するという意味である。
このような構造、特にリードの他端部先端を樹脂本体の一面と略面一状に外部に露出させることにより、外部に露出させたリードを加工することなく回路基板の電極との電気的導通を確保できるため、効率的に信頼性の高い半導体チップ装着用パッケージを提供できる。
【0015】
ここで、後に搭載する半導体チップは、固体撮像素子、マイクロプロセッサ、論理回路、メモリ等のいかなる回路を持ったものでもよい。また、固体撮像素子である場合には、後に中空部を封止する蓋体はガラス等の光透過性のあるものが望ましい。
【0016】
樹脂本体はエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、シリコーン樹脂などの熱硬化性樹脂、または液晶ポリマー、ポリフェニレンオキシド、ポリフェニレンスルフィド(PPS)樹脂、ポリスルホン、ポリアミド・イミド、ポリアリルスルホン樹脂などの耐熱性熱可塑性樹脂によって成形されることが望ましい。これらのうち、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、PPSなどが特に好ましい。エポキシ樹脂としては、具体的にはビスフェノールA型、オルソクレゾールノボラック型、ビフェニル型、ナフタレン型、グリシジルアミン型などのエポキシ樹脂を用いることができる。ポリイミド樹脂としては、具体的にはポリアミノビスマレイミド、ポリピロメリットイミド、ポリエーテルイミドなどのポリイミド樹脂を用いることができる。
【0017】
これらの耐熱性樹脂には、無機充填剤を添加してもよい。この無機充填剤としては、アルミナ粉末、シリカ粉末、窒化ケイ素粉末、ボロンナイトライド粉末、酸化チタン粉末、炭化ケイ素粉末、ガラス繊維、アルミナ繊維などの耐熱性無機充填剤が挙げられる。これらのうち、アルミナ粉末、シリカ粉末、窒化ケイ素粉末、ボロンナイトライド粉末がより好ましい。無機充填剤の粒径は、0.1〜100μm、好ましくは1〜40μmである。無機充填剤は耐熱性樹脂100重量部に対して40〜1900重量部、好ましくは100〜900重量部配合される。また、無機充填剤の他に、必要に応じて硬化剤、硬化促進剤、カップリング剤などの添加剤が含まれていてもよい。
【0018】
リードはリードフレーム形式で提供され、銅、鉄、アルミニウムまたはこれらの合金からなる群より選ばれたもの、特に42アロイ、またはリン青銅のような銅合金で形成されていることが望ましい。このリードフレームはことさら表面処理する必要はないが、必要に応じて全面ないし部分的に表面処理を施すことができ、たとえば、金、銀、ニッケル、半田などのメッキを施してもよい。メッキとしては、サッカリンなどの光沢剤を配合しないニッケルメッキを使用することができ、光沢剤を添加してメッキ表面を平滑化してもよい。なお、中空パッケージ構造の場合、半導体チップを搭載するアイランド部は不要であるが、当該アイランド部を樹脂本体中に埋設させて耐湿板として用いてもよい。さらに、中空部内で通常のリードフレームと同様にアイランド部に半導体チップを接合した構造としてもよい。この場合には、アイランド部には放熱性を向上させるために銅などの他の材料をあらかじめ接合しておいてもよい。
【0019】
第2に、リードの他端部を、前記樹脂本体の一面上においてその周縁とほぼ等しいかまたは内方に位置するようにした。
これにより、樹脂本体から外部にリードが突出しない構造となるため、ハンドリング時におけるリードの変形や損傷を防止できる。
【0020】
第3に、リードの他端部を、樹脂本体の一面に対して傾斜して外部に露出させた。
このように、リード他端部を樹脂本体に対して面一状に形成する他に、傾斜した状態で外部に露出させることも可能である。
【0021】
このように傾斜させることにより、傾斜部分に半田等の接合材が入り込み接合信頼性を高めることができる。特に半田は溶融時における表面張力が高いために有効である。
【0022】
第4に、リードの他端部は半導体チップが装着された樹脂本体の内底面側の外底面、または半導体チップの上方の開口側の面のいずれから外部に露出させるようにしてもよい。
【0023】
これにより、多様な実装形態が実現できる。
第5に、半導体パッケージの製造において、あらかじめ屈折加工したリードフレームを金型上に載置し、該金型内に熱可塑性樹脂または熱硬化性樹脂を注入して中空部を有し、かつ当該中空部内に前記リードフレームの一端部が露出し、その他端部が外部に露出する樹脂本体を形成し、前記樹脂本体の一面上においてその周縁から外方に突出されるリードフレームの他端部の先端を切断除去するようにした。
【0024】
このようにリードフレームを予め折曲加工した後に樹脂本体を形成することにより、リードフレームの加工にともなう樹脂本体へのストレスが無くなるため、樹脂本体のクラックによる外観不良の発生や耐湿性低下が防止される。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。
まず、図5に示すようなリードフレーム11を用意する。このリードフレームは、42アロイまたはリン青銅のような銅合金からなる薄板状の金属板を所定形状に加工して得ることができる。なお、本実施形態においてアイランド部は存在していないが、アイランド部を有する構造であってもよい。
【0026】
このリードフレーム11は先端が互いに独立したインナーリード12(一端部)と、それを支持するために同図の状態では互いに接続され一体構造となったアウターリード13(他端部)とで構成されている。
【0027】
このようなリードフレーム11は、図6に示すようにインナーリード12とアウターリード13との途中部14において段差状に折曲加工される。すなわち、インナーリード12の外方において同図の斜め下方向に一旦折曲され、さらにその外方で同図側外方に折曲された形状となっている。
【0028】
この折曲加工形状は金型を用いた押圧力による1回のプレス処理で実現してもよいし、2回に分けたプレス処理で実現してもよい。
なお、このとき外側のリードフレーム11の折曲に際しては、図6の右側に示したようにアウターリード13がインナーリード12と略平行となるように折曲するが、図6の左側に示したようにアウターリード13がインナーリード12の平行線に対して一定の傾斜角θを有するように折曲してもよい。
【0029】
次に、当該リードフレーム11に対して図7に示すような樹脂本体15が形成される。この樹脂本体15の形成は、リードフレーム11を図示しない金型に装着し、当該金型のキャビティにエポキシ樹脂などの樹脂を高圧注入するインサート成形によって得られる。
【0030】
インサート成形の条件は使用する樹脂によっても異なるが、エポキシ樹脂の場合を例にとると、通常圧力が10乃至800kg/cm2、温度が130乃至200℃、時間が20秒乃至5分の条件で加圧加熱が行われる。なお必要に応じてさらに後硬化工程を加えることが望ましい。
【0031】
このようにして得られた樹脂本体15には、図7に示すように、中空部を有しておりこの中空部の内底面17は、半導体チップ5を接合する接合面として機能する。また、中空部の内側壁は内底面側の断面が小面積で上方の開口部側が大面積となる段差を有しており、この段差の肩部には前記リードフレーム11のインナーリード12が中空部に対して露出されている。
【0032】
そして、リードフレーム11の途中部14は、樹脂本体15内に埋設された状態となっている。さらにアウターリード13の先端は樹脂本体15の一面を構成する外底面18の周縁近傍でこの外底面と略面一状に外部に露出されている。なお、図7に示す状態においてアウターリード13の最先端部は他のアウターリードの先端同士と互いに連結された状態となっている。
【0033】
このアウターリード13の最先端部を切断することによりリード同士が互いに電気的に絶縁され独立したリードとなる。また、このときアウターリード13の最先端部を樹脂本体15の周縁に沿って切断することにより、切断後のアウターリード13は樹脂本体の周縁から側外方には突出しない形状とすることができる。
【0034】
また、アウターリード13の切断部分を前記樹脂本体15の周縁よりも外側としてもよいことは勿論である。
このようにして得られた半導体チップ装着用パッケージに対して半導体チップを装着して回路基板に実装する手順を以下に説明する。
【0035】
まず、樹脂本体15の中空部の内底面17に半導体チップ5を接着剤により装着する。このとき内底面17には接着性および熱伝導性を高めるために金、銀あるいは銅などの金属を予め塗布しておいてもよい。また、接着剤の他超音波接合等の技術を用いてもよい。
【0036】
ここで用いる半導体チップ5は、たとえばビデオカメラ等に用いられるCCD(Charge−Coupled Device)などの固体撮像素子であるが、他の用途に用いられる論理回路、メモリなどであっても構わない。
【0037】
次に、半導体チップ5の図示しない電極と中空部に露出されたインナーリード12の表面とを金またはアルミニウムによる細線で構成されたワイヤをループ状に張ることで導通させる。これには公知のワイヤボンディング技術を用いることができる。
【0038】
次に、中空部の上面にガラス板からなる蓋体20を装着して中空部内を気密封止する。この蓋体20の装着は、樹脂本体15の外上面の開口周縁部に接着剤を塗布して蓋体20を載置することによって行われる。
【0039】
このようにして得られた半導体装置は、アウターリード13の先端が樹脂本体15の外底面18の周縁近傍において当該外底面18と略面一に露出された構造となっているため、回路基板への実装時のハンドリングが容易である。また、樹脂本体15の形成前にリードを予め屈折加工しているため、樹脂本体形成後にリードを折曲する従来技術に較べてリードの折曲加工精度を高く維持でき、樹脂本体に不要な押圧力をかけることもない。
【0040】
さらに、アウターリード先端の切断を樹脂本体15のパッケージ周縁に沿って行えるため、回路基板上における実装面積を狭小化でき、高密度実装を実現できる。
【0041】
さらに、アウターリード13の折曲部分に傾斜角θを設けることによって図10に示すように、リード先端と回路基板の表面との間に断面三角状の隙間部分21ができ、ここに半田の表面張力を利用して半田を入り込ませて接合精度を高めることができる。
【0042】
なお、本実施形態では、アウターリード13の先端を樹脂本体15の外底面18から外部に露出させた例で説明したが、図9に示すように中空部の開口側の外上面22の周縁近傍から露出させた構造としてもよい。この場合にも同図9の左側部分に示すように、アウターリード13の先端を一定の傾斜角θで屈折させてもよい。
【0043】
なお、実施形態の説明では傾斜角θは図6に示すようなリードフレームの折曲時にあらかじめ傾斜させるようにした場合で説明したが、図7で説明したアウターリード13の先端部を切断する際に切断金型の上方からの押圧力で傾斜させるようにしてもよい。
【0044】
【発明の効果】
本発明によれば、回路基板に対して接合信頼性が高く、高密度実装に適しかつハンドリングが容易な半導体チップ装着用パッケージおよび半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術を説明するためのリードフレームの断面図
【図2】従来技術を説明するためのリードフレームに半導体チップが装着された状態を示す断面図
【図3】従来技術を説明するためのリードフレームに樹脂本体を形成した状態を示す断面図
【図4】従来技術を説明するためのリードフレームのリード加工を行った状態を示す断面図
【図5】実施形態のリードフレームを示す断面図
【図6】実施形態のリードフレームを折曲加工した状態を示す断面図
【図7】実施形態のリードフレームに樹脂本体を形成した状態を示す断面図
【図8】実施形態の半導体装置の完成状態を示す断面図
【図9】実施形態の変形例を示す断面図
【図10】実施形態の半導体装置を回路基板に装着した状態を示す部分断面図
【符号の説明】
1・・リードフレーム
2・・アイランド部
3・・インナーリード
4・・アウターリード
5・・半導体チップ
6・・ワイヤ
7・・樹脂本体
11・・リードフレーム
12・・インナーリード
13・・アウターリード
14・・途中部
15・・樹脂本体
17・・内底面
18・・外底面
20・・蓋体
22・・外上面[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is effective when applied to a semiconductor package structure technology which can be manufactured at a low cost because it is excellent in the mounting property to a semiconductor device, especially in a circuit board and the reliability of electrical conduction with the circuit board, and has excellent handling characteristics.
[0002]
[Prior art]
As a mounting technique of a semiconductor device having lead pins, a semiconductor device having a package structure called DIP (Dual Inline Package) or SIP (Single Inline Package) is used, and the tip of a lead pin protruding from a package is provided on a circuit board. (Insertion mounting method) is known in which the lead pin is soldered to an electrode surrounding the insertion hole and inserted into the insertion hole.
[0003]
In this insertion mounting method, there is a problem that work for forming an insertion hole in the circuit board is required, and bending accuracy of the lead pin is required for the position of the insertion hole, and handling during mounting is difficult. .
[0004]
There is also known a type in which the tip of a lead pin is bent in the same direction as the surface of the circuit board to perform surface mounting. The structure of the surface mount type resin package will be described with reference to FIGS.
[0005]
A lead frame 1 processed into a predetermined shape is prepared. The lead frame 1 has an
[0006]
Next, as shown in FIG. 2, the
[0007]
Next, as shown in FIG. 3, the
[0008]
Finally, as shown in FIG. 4, the
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
Since the semiconductor device having such a surface mounting structure does not require processing such as preparing an insertion hole on the circuit board side, the mounting efficiency is improved as compared with the plug-in mounting method, but the outer surface is formed from the uppermost surface of the resin body. Accuracy of the distance to the lead tip (C) (distance indicated by “A” in the figure), accuracy of the distance from the inner lead (3) to the outer lead tip (C) (distance indicated by “A ′” in the figure), In addition, high processing accuracy was required to prevent an error from occurring in the distance from the center position of the
[0010]
In other words, if the processing accuracy is not ensured, a deviation between the electrode position of the circuit board and the joint position (C) of the outer lead occurs at the time of mounting, which may hinder power supply to the semiconductor device or read / write of a signal. there were.
Furthermore, the distance (D) from the tip of the
[0011]
Further, if even a small amount of the lead floats among the many outer leads, there is a possibility that a defective connection with the electrode of the circuit board may occur.
Further, as shown in FIG. 4, since the lead is bent at least twice after the formation of the resin main body, stress is applied to the resin main body (the position shown by "d" in FIG. 4) at the time of bending. Cracks were likely to occur, resulting in poor appearance and reduced moisture resistance.
[0012]
In addition, due to the structure in which the outer leads protrude greatly from the resin body, it is difficult to handle the mounting board, and a large mounting space is required on the circuit board, which is not suitable for high-density mounting. .
[0013]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has taken the following measures in order to solve the above points.
That is, first, a hollow portion having an inner bottom surface for mounting a semiconductor chip, a lead for realizing electrical conduction between the semiconductor chip mounted in the hollow portion and the outside of the package, and a resin body forming the package body In the package for mounting a semiconductor chip, the lead is obtained by cutting and bending a conductive metal plate, one end of which is exposed to the hollow portion, and a middle portion is embedded in the resin body, The other end was formed so as to be exposed to the outside on one surface of the resin main body from the vicinity of the periphery thereof.
[0014]
Here, the flush state means that a part of the upper surface or the lower surface of the resin body is formed.
With such a structure, in particular, by exposing the tip of the other end of the lead to the outside substantially flush with the surface of the resin body, electrical conduction with the electrode of the circuit board can be performed without processing the exposed lead. Therefore, a highly reliable semiconductor chip mounting package can be provided efficiently.
[0015]
Here, the semiconductor chip to be mounted later may have any circuit such as a solid-state imaging device, a microprocessor, a logic circuit, and a memory. Further, in the case of a solid-state imaging device, it is desirable that the lid for sealing the hollow portion later be made of a material such as glass that has a light transmitting property.
[0016]
Resin body epoxy resin, polyimide resin, phenol resin, unsaturated polyester resin, thermosetting resin such as a silicone resin or a liquid crystal polymer, polyphenylene oxide, polyphenylene sulfide (PPS) resin, polysulfone, polyamides-imides, polyallyl It is desirable to be molded with a heat-resistant thermoplastic resin such as a sulfone resin. Among them, epoxy resin, polyimide resin, PPS and the like are particularly preferable. The epoxy resin, particularly it is possible to use bisphenol A type, cresol novolak type, biphenyl type, naphthalene type, epoxy resins such as glycidyl amine type. The polyimide resin, specifically it is possible to use polyamino bi Sumareimido, Poripirome Li Ttoimido, polyimide resins such as polyether imide.
[0017]
An inorganic filler may be added to these heat-resistant resins. As the inorganic filler, an alumina powder, silica powder, silicon nitride powder, boron nitride Lai de powder, titanium oxide powder, silicon carbide powder, glass fibers, heat-resistant inorganic filler, such as alumina fibers and the like. Among these, alumina powder, silica powder, silicon nitride powder, and boron nitride powder are more preferable. The particle size of the inorganic filler is 0.1 to 100 μm, preferably 1 to 40 μm. The inorganic filler is added in an amount of 40 to 1900 parts by weight, preferably 100 to 900 parts by weight, based on 100 parts by weight of the heat-resistant resin. Further, in addition to the inorganic filler, if necessary, additives such as a curing agent, a curing accelerator, and a coupling agent may be contained.
[0018]
The leads are provided in the form of a lead frame and are preferably formed of a material selected from the group consisting of copper, iron, aluminum or alloys thereof, particularly a 42 alloy or a copper alloy such as phosphor bronze. The lead frame does not need to be subjected to any particular surface treatment, but may be subjected to a full or partial surface treatment if necessary, for example, may be plated with gold, silver, nickel, solder or the like. As the plating, nickel plating not containing a brightener such as saccharin can be used, and a brightener may be added to smooth the plating surface. In the case of a hollow package structure, an island portion on which a semiconductor chip is mounted is unnecessary, but the island portion may be embedded in a resin body and used as a moisture-resistant plate. Further, a semiconductor chip may be joined to the island portion in the hollow portion in the same manner as a normal lead frame. In this case, another material such as copper may be bonded in advance to the island portion in order to improve heat dissipation.
[0019]
Secondly, the other end of the lead is located on one surface of the resin main body substantially equal to or inward of the periphery thereof.
Accordingly, the lead does not protrude from the resin body to the outside, so that deformation and damage of the lead during handling can be prevented.
[0020]
Third, the other end of the lead was inclined to one surface of the resin body and exposed to the outside.
As described above, in addition to forming the other end of the lead flush with the resin body, the lead can be exposed to the outside in an inclined state.
[0021]
By inclining in this way, a joining material such as solder enters the inclined portion, and joining reliability can be improved. In particular, solder is effective because it has a high surface tension at the time of melting.
[0022]
Fourth, the other end of the lead may be exposed to the outside from either the outer bottom surface on the inner bottom surface side of the resin body on which the semiconductor chip is mounted, or the opening surface above the semiconductor chip.
[0023]
Thereby, various mounting forms can be realized.
Fifth, in manufacturing a semiconductor package, a lead frame that has been bent in advance is placed on a mold, and a thermoplastic resin or a thermosetting resin is injected into the mold to have a hollow portion. One end of the lead frame is exposed in the hollow portion, and the other end is formed to the outside of the resin body. The other end of the lead frame protruded outward from the periphery on one surface of the resin body. The tip was cut off.
[0024]
By forming the resin main body after bending the lead frame in advance in this way, stress on the resin main body due to the processing of the lead frame is eliminated, thereby preventing appearance defects and deterioration of moisture resistance due to cracks in the resin main body. Is done.
[0025]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
First, a lead frame 11 as shown in FIG. 5 is prepared. This lead frame can be obtained by processing a thin metal plate made of a copper alloy such as 42 alloy or phosphor bronze into a predetermined shape. In this embodiment, there is no island part, but a structure having an island part may be used.
[0026]
The lead frame 11 includes an inner lead 12 (one end) whose ends are independent from each other, and an outer lead 13 (the other end) which is connected to each other in the state of FIG. ing.
[0027]
As shown in FIG. 6, such a lead frame 11 is bent in a step-like manner at an
[0028]
The bent shape may be realized by a single press process using a pressing force using a mold, or may be realized by two separate press processes.
At this time, when the outer lead frame 11 is bent, as shown on the right side of FIG. 6, the
[0029]
Next, a resin
[0030]
The conditions of the insert molding are different depending on the resin to be used. In the case of an epoxy resin, for example, under the conditions of a normal pressure of 10 to 800 kg / cm 2 , a temperature of 130 to 200 ° C. and a time of 20 seconds to 5 minutes. Pressure heating is performed. It is desirable to add a post-curing step as needed.
[0031]
As shown in FIG. 7, the
[0032]
The
[0033]
By cutting the leading end of the
[0034]
Further, it is a matter of course that the cut portion of the
The procedure for mounting a semiconductor chip on the semiconductor chip mounting package thus obtained and mounting it on a circuit board will be described below.
[0035]
First, the
[0036]
The
[0037]
Next, an electrode (not shown) of the
[0038]
Next, a
[0039]
The semiconductor device thus obtained has a structure in which the tip of the
[0040]
Furthermore, since the cutting of the tip of the outer lead can be performed along the package periphery of the
[0041]
Further, by providing an inclination angle θ at the bent portion of the
[0042]
In the present embodiment, an example in which the tip of the
[0043]
In the description of the embodiment, the case where the inclination angle θ is previously inclined when the lead frame is bent as shown in FIG. 6 has been described. However, when the distal end portion of the
[0044]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to provide a semiconductor chip mounting package and a semiconductor device which have high bonding reliability to a circuit board, are suitable for high-density mounting, and are easy to handle.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a lead frame for explaining a conventional technique; FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state where a semiconductor chip is mounted on a lead frame for explaining a conventional technique; FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which a resin body is formed on a lead frame for use in the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which lead processing of a lead frame is performed for explaining a conventional technique. FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which the lead frame of the embodiment is bent. FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which a resin body is formed on the lead frame of the embodiment. FIG. 8 is a semiconductor device of the embodiment. FIG. 9 is a cross-sectional view showing a completed state of FIG. 9. FIG. 9 is a cross-sectional view showing a modification of the embodiment. FIG. 10 is a partial cross-sectional view showing a state where the semiconductor device of the embodiment is mounted on a circuit board.
1 Lead
Claims (12)
パッケージ本体を構成する樹脂本体と、
前記樹脂本体内に形成された中空部の底側にあって前記半導体チップを装着するために形成された前記樹脂本体の内底面と、
前記内底面に装着される前記半導体チップと前記パッケージ本体の外部との電気的導通を実現するリードと、
からなる半導体チップ装着用パッケージであって、
前記リードは、導電性金属板を切断・屈曲して得られるとともに、その一端部が前記中空部に対して露出され、その途中部が前記樹脂本体中に埋設され、その他端部が前記樹脂本体の一面上においてその周縁近傍より略面一状に前記外部に露出されていることを特徴とする半導体チップ装着用パッケージ。In a semiconductor chip mounting package for mounting a semiconductor chip which is a solid-state imaging device,
A resin body constituting the package body,
An inner bottom surface of the resin main body formed on the bottom side of the hollow portion formed in the resin main body for mounting the semiconductor chip,
A lead for realizing electrical conduction between the semiconductor chip mounted on the inner bottom surface and the outside of the package body,
A semiconductor chip mounting package comprising:
The lead is obtained by cutting and bending a conductive metal plate, one end of the lead is exposed to the hollow portion, an intermediate portion is buried in the resin body, and the other end is the resin body. A semiconductor chip mounting package, which is exposed to the outside on one surface substantially in a plane from the periphery thereof.
固体撮像素子である半導体チップと、
前記樹脂本体内に形成された中空部の底側にあって前記半導体チップを装着するために形成された前記樹脂本体の内底面と、
前記半導体チップの表面に設けられた電極とその一端部が電気的に導通され、その途中部が前記樹脂本体中に埋設され、その他端部が前記樹脂本体の一面上においてその周縁近傍より略面一状に外部に露出された導電性金属板からなるリードと、
前記半導体チップの装着された中空部を封止するために前記樹脂本体に装着される蓋体
とからなることを特徴とする半導体装置。 A resin body constituting the semiconductor device;
A semiconductor chip that is a solid-state imaging device;
An inner bottom surface of the resin main body formed on the bottom side of the hollow portion formed in the resin main body for mounting the semiconductor chip,
An electrode provided on the surface of the semiconductor chip and one end thereof are electrically connected, an intermediate portion thereof is embedded in the resin main body, and the other end is formed on one surface of the resin main body substantially in the vicinity of the periphery thereof. A lead made of a conductive metal plate exposed to the outside in one state,
A semiconductor device comprising: a lid mounted on the resin body to seal a hollow portion in which the semiconductor chip is mounted.
該金型内に熱可塑性樹脂または熱硬化性樹脂を注入し、前記樹脂内に形成された中空部の底側にあって固体撮像素子である半導体チップを装着するための内底面を前記樹脂内に形成し、かつ当該中空部内に前記リードフレームの一端部が露出し、その他端部が外部に露出する樹脂本体を形成し、
前記樹脂本体の一面上においてその周縁から外方に突出されるリードフレームの他端部の先端を切断除去する半導体パッケージの製造方法。Place the lead frame that has been bent beforehand on the mold,
A thermoplastic resin or a thermosetting resin is injected into the mold, and an inner bottom surface for mounting a semiconductor chip, which is a solid-state imaging device, at the bottom of a hollow portion formed in the resin is formed in the resin. Forming a resin body in which one end of the lead frame is exposed in the hollow portion and the other end is exposed to the outside,
A method of manufacturing a semiconductor package, comprising cutting and removing the tip of the other end of a lead frame protruding outward from a peripheral edge on one surface of the resin body.
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