JP3570642B2

JP3570642B2 - Continuity inspection device and continuity inspection method

Info

Publication number: JP3570642B2
Application number: JP13822595A
Authority: JP
Inventors: 暢服部; 卓加藤; 直之上田; 中村　　勉
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date: 1995-06-05
Filing date: 1995-06-05
Publication date: 2004-09-29
Anticipated expiration: 2019-09-29
Also published as: JPH08327683A

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は導通検査装置および導通検査方法に関し、特に、ワイヤーハーネスの導通検査に最適な導通検査装置および導通検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、多数の電気回路を形成する電気配線システムを製造する際には、各部品の外観検査の他、電気的な導通を検査し、構成されるべき電気回路が正規に接続されているか否かをチェックする。特に、ワイヤーハーネスのように、複数の製造工程を経て多数の電線をコネクタハウジングに接続することにより電気回路を形成するものにおいては、最終工程に至るまでに導通検査を複数回行ない、コネクタハウジングに対する電線の誤り接続を防止するようにしている。
【０００３】
上述のような導通検査は、導通チェッカを用いて行われる（例えば、実開昭５９−３４３６８号参照）。
図６は、ワイヤーハーネスの導通を検査する場合の導通チェッカの概略図であり、図７は、図６の導通チェッカに採用されている導通ユニットの回路構成図である。
【０００４】
図６を参照して、一般的な導通チェッカは、ワイヤーハーネスＷＨのコネクタＷＨ１〜ＷＨ４と接続される検査ユニット１と、検査ユニット１に対し、配線２を通して微弱電流を送って導通状態を検出する導通ユニット３とを備えている。図７に示すように、導通ユニット３は、コントローラ３１、デマルチプレクサ３２、マルチプレクサ３３、複数のインバータ３４、および複数のプルアップ抵抗３５を有している。上記デマルチプレクサ３２の各出力は、複数のインバータ３４を介し、該インバータ３４に対応して設けられたプローブピンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈからなる上記検査ユニット１にそれぞれ接続される。この検査ユニット１の各プローブピンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈには、当該ワイヤーハーネスＷＨに形成されている電気回路を構成する端子（接点）が、導通されるグループＧ１０〜Ｇ１３に対応した組み合わせで接続される。
【０００５】
上記コントローラ３１には、検査されるワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３に対応する基準情報がそれぞれメモリ３１Ａに記憶されているとともに、マルチプレクサ３３を経て送られる各グループＧ１０〜Ｇ１３の読取情報を記録するメモリ３１Ｂを備えている。
基準情報は、ワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ１３を構成する接点の導通状態が記憶されている。例えば、図７の例では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する基準情報をそれぞれｇ１０〜ｇ１３とすると、
ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）（１）
ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）（２）
ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）（３）
ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）（４）
と記憶されている。
【０００６】
他方、読取情報は、ワイヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ１３を構成する接点の導通状態が検出される。図７の例では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する読取情報をそれぞれＧ１０〜Ｇ１３とすると、ワイヤーハーネスＷＨが正常な場合には
Ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）（５）
Ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）（６）
Ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）（７）
Ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）（８）
が検出される。
【０００７】
この構成では、コントローラ３１がデマルチプレクサ３２に信号を送って、微弱電流を流すことにより、各プローブピンａ、ｂ、ｃ、…ｈの電位がマルチプレクサ３３に検出され、読取情報としてコントローラ３１に伝送される。コントローラ３１は、伝送された読取情報をメモリ３１Ｂに記憶するとともに、これをメモリ３１Ａに記憶されている基準情報とグループＧ１０〜Ｇ１３毎に比較し、この基準情報と一致すれば正常と、一致しなければ断線若しくは短絡の異常があるものと判定する。
【０００８】
例えば、上述の構成の場合、読取情報が（５）〜（８）式の通りであれば、基準情報の（１）〜（４）式と同一であるから、正常と判定される。これに対し、読取情報のうち、例えばグループＧ１０が
Ｇ１０＝（▲１▼、▲６▼）（９）
である場合、（９）式中の接点▲６▼が基準情報の（１）式と不一致であるから、異常があるものと判定する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述のような電気配線システムを製造する際には、最終的に形成される電気回路が、当該電気配線システムの製品規格や製品仕様とされている電気回路（以下、「基準回路」という）と等価であれば、具体的な配線形態については差異があっても許容される場合がある。
【００１０】
しかし、従来の導通検査装置では、この等価回路を含めての検査が行えず、初期設定した一回路パターンに検査が行われるため、この初期設定した回路パターンに含めたワイヤーハーネスＷＨの配線形態を作る必要があった。
上述した図７のワイヤーハーネスＷＨを例に説明すると、このワイヤーハーネスＷＨは、図８（Ａ）に示す回路ＣＡを形成しており、コネクタＷＨ３、ＷＨ４が、それぞれジョイントコネクタＪＣ１、ＪＣ２で最終的に短絡されるものである。この場合、グループＧ１０は、接点▲５▼と接点▲６▼とが短絡されることから、図８（Ｂ）（Ｄ）に示すように、接点▲１▼を接点▲６▼と接続して形成されるグループＧ１０Ａと最終的に等価となる。すなわち
Ｇ１０＝（▲１▼、▲５▼）＝Ｇ１０Ａ＝（▲１▼、▲６▼）（１０）
同様に、グループＧ１１は、図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグループＧ１１Ａと、グループＧ１２は、図８（Ｂ）（Ｄ）に示すグループＧ１２Ａと、グループＧ１３は、図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグループＧ１３Ａと最終的に等価となる。すなわち
Ｇ１１＝（▲２▼、▲７▼）＝Ｇ１１Ａ＝（▲２▼、▲８▼）（１１）
Ｇ１２＝（▲３▼、▲６▼）＝Ｇ１２Ａ＝（▲３▼、▲５▼）（１２）
Ｇ１３＝（▲４▼、▲８▼）＝Ｇ１３Ａ＝（▲４▼、▲７▼）（１３）
従って、図８（Ａ）に示すワイヤーハーネスＷＨの回路ＣＡは、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）に示す回路ＣＢ〜ＣＤと同じ接続状態になり、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）の回路ＣＢ〜ＣＤも製品として正規に許容される場合がある。
【００１１】
しかるに、上述したように、従来の導通チェッカにおいては、単に接点▲１▼〜▲８▼の対応関係を基準情報に特定されている接点▲１▼〜▲８▼の対応関係と照合して、電気配線システムの合否を判定しているに過ぎなかった。従って、ジョイントコネクタＪＣ１、ＪＣ２が接続される前のワイヤーハーネスＷＨを検査した場合、ある接点とそれが基準回路を形成するために接続されるべき接点との対応関係のみが判別され、上記ある接点が当該基準回路の等価回路を形成する接点と接続されている場合でも、その導通を許容するように検査を行うことができなかった。このため、図８の例では、（１０）〜（１３）式を合格と認定することができず、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）に示す等価の配線については、不合格と判別される結果、必要以上に配線を修正することを余儀なくされていた。このような修正を繰り返すことは、無駄な工程を増加させ、生産効率を低下させる原因となっていた。また、配線の修正に伴い、部品が損傷して、製品の信頼性を却って損ねる等の不具合も考えられる。
【００１２】
上述のような不具合を解決するために、導通チェッカのコントローラ３１に、予め等価回路を全て記憶させておくことも考えられる。しかし、その場合には、基準回路の回路数が増加するに伴って等価回路も大幅に増加し、プログラム作業が複雑になる等の不具合があったため、実用化されるには至っていなかった。
本発明は上記不具合に鑑みてなされたものであり、電気配線システムの導通検査を行う際に、当該電気配線システムの基準回路を形成すべき接点が、当該基準回路の等価回路を形成することを許容した状態で、電気配線システムの合否を簡素な構成で判別することのできる導通検査装置および導通検査方法を提供することを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１記載の構成は、
電気配線システムに形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報として記憶する基準情報記憶手段と、
上記電気配線システムの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、基準回路が短絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶する短絡情報記憶手段と、
短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として、基準情報を等価回路情報に変換する情報変換手段と、
上記電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報として読み取る読取手段と、
読取情報から、上記短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点とする被検査情報を形成する情報形成手段と、
上記被検査情報を等価回路情報と照合して、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを判別する判別手段と
を備えていることを特徴とする導通検査装置である。
【００１４】
また、請求項２記載の構成は、
電気配線システムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形成する複数の接点を、互いに導通されるもの同士のグループ毎に読取情報として採取するとともに、採取された読取情報を、当該電気配線システムに形成されるべき基準回路の基準情報と照合することにより、上記電気回路の接点が正規に接続されているか否かを検査する導通検査方法において、
上記基準回路が、導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として照合することを特徴とする導通検査方法である。
【００１５】
【作用】
請求項１または２記載の構成では、製造された電気配線システムの導通情報である読取情報を基準回路の導通情報である基準情報と照合するに当たり、基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡されるべき接点同士が任意に互換可能な任意接点として照合されるので、電気配線システムに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる。
【００１６】
【実施例】
以下、添付図面を参照しつつ本発明の好ましい実施例について詳述する。
先ず、図２を参照して、本実施例により検査される電気配線システムの一例としてのワイヤーハーネスＷＨについて説明する。図２は、製造されるべきワイヤーハーネスＷＨの仕様を例示して示す配線図である。
【００１７】
このワイヤーハーネスＷＨは、複数の電線Ｗの両端に端子Ｔ１〜Ｔ１６を圧着し、コネクタＷＨ１〜ＷＨ６の各極に挿入することにより、複数の電気回路を形成しているものである。
図２のワイヤーハーネスＷＨの場合、各端子Ｔ１〜Ｔ１６は以下のグループＧ１〜Ｇ５の通りに接続されている。すなわち
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２）（１）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（２）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）（３）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）（４）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）（５）
なお、本実施例では、端子Ｔ４には、端子Ｔ４への電流の流入を許容し、端子Ｔ４からの電流の流出を阻止するためのダイオードＷＨ７が、端子Ｔ１５には、端子Ｔ１５からの電流の流出を許容し、端子Ｔ１５への電流の流入を阻止するダイオードＷＨ８が、それぞれ接続されている。
【００１８】
ここで、図２に示すワイヤーハーネスＷＨのコネクタＷＨ１〜ＷＨ６のうち、端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８が挿入されているコネクタＷＨ３は、ジョイントコネクタＪＣ１により、端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１が挿入されているコネクタＷＨ４は、ジョイントコネクタＪＣ２により、端子Ｔ１２、Ｔ１３、Ｔ１４が挿入されているコネクタＷＨ５は、ジョイントコネクタＪＣ３により、端子Ｔ１５、Ｔ１６が挿入されているコネクタＷＨ６は、ジョイントコネクタＪＣ４により、それぞれ最終的に短絡されるように設計されている。
【００１９】
次に、図３を参照して、本実施例に係る導通ユニット１０の回路構成について説明する。図３は、本発明の一実施例に係る導通ユニット１０の回路構成図である。
本実施例に係る導通ユニット１０は、基本的には、一般的な従来の導通チェッカと同様に周知の検査ユニット１と接続されて用いられる構成であり、コントローラとしてのＣＰＵ１１、デマルチプレクサ１２、インバータ回路１３、比較回路１４、およびマルチプレクサ１５を備えている。
【００２０】
上記デマルチプレクサ１２は、ＣＰＵ１１からの入力情報が４ビット、インバータ回路１３への出力情報が１６ビットのデコード回路１２Ａを所定個だけ含んでいる。各デコード回路１２Ａは、ＣＰＵ１１から指令を受けるデコーダ１２Ｄに接続されており、このデコーダ１２Ｄによって選択可能に構成されている。これとともに、各デコード回路１２Ａは、インバータ回路１３の各インバータ１３Ａに対する出力を選択することにより、ワイヤーハーネスＷＨの端子（接点）の導通情報を特定できるようになっている。
【００２１】
上記インバータ回路１３は、上記デコード回路１２Ａと同数のゲート回路１３Ａで構成されており、各ゲート回路１３Ａのインバータ１３Ｂは、それぞれ対応するデコード回路１２Ａの出力側と同数だけ設けられて、接続されている。
各インバータ１３Ｂの出力側は、上記周知の検査ユニット１のプローブピンを介して、ワイヤーハーネスＷＨの端子Ｔ１〜Ｔ１６と接続されており、さらに、上記比較回路１４の入力側に接続されている。
【００２２】
上記比較回路１４は、上記インバータ回路１３のゲート回路１３Ａと同数のゲート回路１４Ａで構成されており、各ゲート回路１４Ａは、上記インバータ１３Ｂと同数の比較器１４Ｂが設けられている。各比較器１４Ｂは、対応するインバータ１３Ｂの出力を基準電圧と比較することにより、各端子が導通しているか否かを判別するようになっている。
【００２３】
上記マルチプレクサ１５は、上記比較回路１４のゲート回路１４Ａと同数のゲート回路１５Ａで構成されている。各ゲート回路１５Ａは、ＣＰＵ１１から指令を受けるデコーダ１５Ｄに接続されており、このデコーダ１５Ｄによって選択可能に構成されている。これとともに、各ゲート回路１５Ａには、上記比較器１４Ｂと同数のインバータ１５Ｂが設けられている。各インバータ１５Ｂは、対応する比較器１４Ｂの出力に基づいて、ＣＰＵ１１に対し、ワイヤーハーネスＷＨの読取情報を入力するためのものである。
【００２４】
上記ＣＰＵ１１には、通信用インターフェイス１６を介して操作ボックス１７と接続されており、上記ＣＰＵ１１は、この操作ボックス１７によって操作されるものである。また、ＣＰＵ１１には、バス１８を介してＲＯＭ１９、ＲＡＭ２０、ＤＲＡＭ２１が接続されているとともに、フロッピーディスクドライブ２２および検査結果を表示する表示装置２３とも接続されている。
【００２５】
本実施例において、ＲＯＭ１９は、ＣＰＵ１１を制御するためのプログラムを記憶するためのものであり、ＲＡＭ２０は、ワークメモリおよびバックアップメモリを記憶するためのものであり、ＤＲＡＭ２１は、フロッピーディスクドライブ２２によって読み出されるフロッピーディスクから、ワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報として記憶するエリア２１Ａと、ワイヤーハーネスＷＨの電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報として記憶するエリア２１Ｂと、ワイヤーハーネスＷＨの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものである場合（図２のワイヤーハーネスＷＨにおいては、端子Ｔ６〜Ｔ１６）に、基準回路が短絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶するエリア２１Ｃとを備えたものである。
【００２６】
以上のような構成において、図１、図４、および図５を参照しつつ本実施例の作用について説明する。図１は、本実施例における導通ユニット１０の検査プロセスを示すフローチャートである。また、図４、図５は、製造されたワイヤーハーネスＷＨＲ、ＷＨ^＊の配線図である。
先ず、ステップＳ１において、ＲＯＭ１９に記憶されているプログラムが展開され、製造されるべきワイヤーハーネスＷＨに関する基準情報が展開される。例えば、図２に示すワイヤーハーネスＷＨの場合、この基準情報は、
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２）（６）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（７）
ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）（８）
ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）（９）
ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）（１０）
となる。
【００２７】
次に、ステップＳ２において、検査対象となっているワイヤーハーネスＷＨＲの導通情報が読取情報として、デマルチプレクサ１２、インバータ回路１３、比較回路１４、およびマルチプレクサ１５により、読み取られる。例えば、図４に示すワイヤーハーネスＷＨＲの場合、コネクタＷＨ３の端子Ｔ６とＴ７が入れ代わっており、規格のものと相違している。従って、このワイヤーハーネスＷＨＲの読取情報は、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７^＊、Ｔ９、Ｔ１２）（１１）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６^＊、Ｔ１０、Ｔ１３）（１２）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）（１３）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５）（１４）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）（１５）
となる。
【００２８】
次に、ステップＳ３において、ジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡されることのない端子だけを照合するために、ステップＳ１の基準情報のうち、最終的にジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡される端子については、ステップＳ２の読取情報の端子と同一に書き換える。この書換えは、ＤＲＡＭ２１のエリア２１Ｃに記憶されている短絡情報に基づいて、ＣＰＵ１１により行われる。図２のワイヤーハーネスＷＨにおいて、短絡情報は、
Ｊ１＝Ｔ６＝Ｔ７＝Ｔ８（Ｊ１）
Ｊ２＝Ｔ９＝Ｔ１０＝Ｔ１１（Ｊ２）
Ｊ３＝Ｔ１２＝Ｔ１３＝Ｔ１４（Ｊ３）
Ｊ４＝Ｔ１５＝Ｔ１６（Ｊ４）
である。（Ｊ１）〜（Ｊ４）式中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、ジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４によって短絡される互換可能な接点（以下、「任意接点」という）を意味している。この短絡情報に基づき、短絡されない端子を特定するために、基準情報のうち（６）式と（７）式とがそれぞれ
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７^＊、Ｔ９、Ｔ１２）（１６）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６^＊、Ｔ１０、Ｔ１３）（１７）
と変換される。
【００２９】
そして、ステップＳ４において、図４に示す上記ワイヤーハーネスＷＨの読取情報が変換後の基準情報と照合される。
ステップＳ５において、照合された読取情報が変換後の基準情報と同一であるか否かが判別され、同一でない場合には、ステップＳ６において、不良判定がなされ、ステップＳ７において、表示装置２３に不良表示がなされる。他方、照合された読取情報が変換後の基準情報と同一である場合には、ステップＳ８に移行する。
【００３０】
ステップＳ８においては、短絡される端子Ｔ６〜Ｔ１６の導通を検査するために、ＤＲＡＭ２１のエリア２１Ａに、再び（６）〜（１０）式に示す基準情報が展開される。
次に、ステップＳ９において展開された基準情報と、（Ｊ１）〜（Ｊ４）式に示す上記短絡情報から等価回路情報Ｄｓが形成される。本実施例においては、
ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）（１８）
ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）（１９）
ｇ３＝（Ｊ１、Ｊ２）（２０）
ｇ４＝（Ｔ５、Ｊ４）（２１）
ｇ５＝（Ｔ１４、Ｊ４）（２２）
が等価回路情報Ｄｓとして形成されることになる。式中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、上述した任意接点を意味している。すなわち、ジョイントコネクタＪＣ１によって最終的に短絡される端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ１として、ジョイントコネクタＪＣ２によって最終的に短絡される端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ２として、ジョイントコネクタＪＣ３によって最終的に短絡される端子Ｔ１２、Ｔ１３、Ｔ１４については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ３として、ジョイントコネクタＪＣ４によって最終的に短絡される端子Ｔ１５、Ｔ１６については、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ４として、後述する被検査情報Ｄｄと比較されるのである。
【００３１】
他方、ステップＳ１０において、ワイヤーハーネスＷＨの読取情報および短絡情報から被検査情報Ｄｄが形成される。この読取情報および短絡情報から被検査情報Ｄｄを形成する際に、各端子Ｔ１〜Ｔ１６のうち、最終的に短絡されるものについては、等価回路情報Ｄｓを形成する場合と同様に、短絡情報に基づいて任意接点Ｊ１〜Ｊ４に変換される。従って、上記読取情報が（１１）〜（１５）の場合、被検査情報Ｄｄは、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）（２３）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３）（２４）
Ｇ３＝（Ｊ１、Ｊ２）（２５）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｊ４）（２６）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｊ４）（２７）
となる。
【００３２】
次に、被検査情報Ｄｄを導通されるグループＧ１〜Ｇ５毎に等価回路情報Ｄｓと照合するために、ステップＳ１１において、被検査情報Ｄｄのうち、一つのグループ（例えば（23) 式のＧ１）が選択され、これをＧとする。そして、ステップＳ１２において、等価回路情報Ｄｓのうち、選択されたグループと同じグループ構成のものの有無が判別され、同じグループ構成のものがある場合には、それをステップＳ１３において、ｇとする。例えば、Ｇ＝Ｇ１の場合、ｇ＝ｇ１とされる。仮に、このステップＳ１２において、同一のグループ構成のものがなかった場合、フローは、周知の不良解析に移行し（ステップＳ２４）、不良表示を行って（ステップＳ２５）終了する。例えば、図５に示すワイヤーハーネスＷＨ* の場合、端子Ｔ５と端子Ｔ１５の配線が誤っているために、いわゆるダイオード余剰という誤り接続になっている。このワイヤーハーネスＷＨ* の電気回路における読取情報は、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ１５* 、Ｔ１２）（28）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（29）
Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１）（30）
Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ９* ）（31）
Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６）（32）
となり、被検査情報Ｄｓは、
Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、J1、J4* 、J3）（33）
Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、J1、J2、J3）（34）
Ｇ３＝（J1、J2）（35）
Ｇ４＝（Ｔ５、J2* ）（36）
Ｇ５＝（J3、J4）（37）
となるから、（33）式および（36）式のグループＧ１、Ｇ４に対応するグループが検出されない結果、ステップＳ２４に移行し、いわゆるダイオード余剰がステップＳ２５で表示されて終了する。
【００３３】
次に、ステップＳ１４において、Ｇがｇと照合され、ここで、任意接点を構成する端子の導通検査が行われる。（２３）式と（１８）式のように、Ｇがｇと同一の導通状態である場合、ステップＳ１５において、合格したＧとｇとがＲＡＭ２０に記憶（マーク）され、次のグループの判別に移行する。すなわち、ステップＳ１６において、未検査のグループの有無が判別され、ステップＳ１７において、未検査のグループが選択された後、ステップＳ１２に戻って上述した照合作業を各グループＧ２〜Ｇ５毎に繰り返す。そして、全てのグループＧ１〜Ｇ５の照合が終了し、何れも等価回路情報Ｄｓのグループｇ１〜ｇ５と同一である場合には、ステップＳ１８において、表示装置２３に合格表示がなされる。
【００３４】
ここで、上述したように、本実施例においては、基準回路が導通検査後にジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４によって短絡される接点としての端子Ｔ６〜Ｔ１６を含んでいるものである場合に、短絡されるべき端子同士を任意に互換可能な任意接点として、ジョイントされるもの毎に変換された被検査情報Ｄｄおよび等価回路情報Ｄｓを形成し、照合しているので、ワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき基準回路と最終的に等価な電気回路についても、これを合格と判定することが可能になる。
【００３５】
上述した図４のワイヤーハーネスＷＨを検査する場合には、基準回路を形成する図２のワイヤーハーネスＷＨに対し、コネクタＷＨ３に係る端子Ｔ６と端子Ｔ７とが入れ変わっているにも拘らず、これらは最終的に短絡されるものであることから、合格と判定される。
ステップＳ１４において、Ｇがｇと同一の導通状態ではなかった場合、ステップＳ１９において、未検査のグループが検索され、ステップＳ２０において、別のグループとの照合が行われる。また、ステップＳ１９において、未検査のグループが存在しなかった場合には、ステップＳ２１において、ｇのデータをそれに対応するＧのポイント位置に移動し、ステップＳ２２において、不良判定がなされ、ステップＳ２３において、表示装置２３に不良表示がなされる。
【００３６】
以上説明したように、本実施例の構成では、ワイヤーハーネスＷＨに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる結果、そのような等価回路を形成することが許容されている製品については、その導通検査を容易に行うことができ、生産効率を向上させることが可能になる等、顕著な効果を奏する。
【００３７】
また、等価回路の基準情報を全て記憶する必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、容易に実施することができるという利点もある。
上述した実施例は、本発明の好ましい具体例に過ぎず、本発明は、上記実施例に限定されない。例えば、図３に例示した装置以外の装置を用いて、上記導通検査を行うことも勿論可能である。その他、本発明の要旨を変更しない範囲内で種々の設計変更や被検査物の変更を行うことができることは、云うまでもない。
【００３８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の導通検査装置および導通検査方法では、電気配線システムに形成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と判定することが可能になる結果、そのような等価回路を形成することが許容されている製品については、その導通検査を容易に行うことができ、生産効率を向上させることが可能になる等、顕著な効果を奏する。また、これにより、多品番生産での効率を向上させることも可能になるという利点がある。
【００３９】
また、等価回路の基準情報を全て記憶する必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、容易に実施することができるという利点もある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施例における導通ユニットの検査プロセスを示すフローチャートである。
【図２】製造されるべきワイヤーハーネスの仕様を例示して示す配線図である。
【図３】本発明の一実施例における導通ユニットの回路構成図である。
【図４】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。
【図５】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。
【図６】ワイヤーハーネスの導通を検査する場合の導通チェッカの概略図である。
【図７】図６の導通チェッカに採用されている導通ユニットの回路構成図である。
【図８】図６の導通チェッカで検査されるワイヤーハーネス配線図である。
【符号の説明】
１検査ユニット
１０導通ユニット
１１ＣＰＵ
１２デマルチプレクサ
１３インバータ回路
１４判別回路
１５マルチプレクサ
２１ＤＲＡＭ[0001]
[Industrial applications]
The present invention relates to a continuity inspection device and a continuity inspection method, and more particularly to a continuity inspection device and a continuity inspection method most suitable for a continuity inspection of a wire harness.
[0002]
[Prior art]
In general, when manufacturing an electrical wiring system that forms a large number of electrical circuits, in addition to the appearance inspection of each component, an electrical continuity is inspected to determine whether an electrical circuit to be configured is properly connected. Check Particularly, in the case of forming an electric circuit by connecting a large number of electric wires to the connector housing through a plurality of manufacturing processes, such as a wire harness, a continuity test is performed a plurality of times before the final process, and the We try to prevent wrong connection of electric wire.
[0003]
The above-described continuity inspection is performed using a continuity checker (for example, see Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 59-34368).
FIG. 6 is a schematic diagram of a continuity checker for checking continuity of a wire harness, and FIG. 7 is a circuit configuration diagram of a continuity unit employed in the continuity checker of FIG.
[0004]
Referring to FIG. 6, a general conduction checker detects a conduction state by sending a weak current through wiring 2 to inspection unit 1 connected to connectors WH1 to WH4 of wire harness WH and inspection unit 1. And a conduction unit 3. As shown in FIG. 7, the conduction unit 3 has a controller 31, a demultiplexer 32, a multiplexer 33, a plurality of inverters 34, and a plurality of pull-up resistors 35. Each output of the demultiplexer 32 is connected via a plurality of inverters 34 to the inspection unit 1 including probe pins a, b, c, d, e,. You. Each of the probe pins a, b, c, d, e,... H of the inspection unit 1 has a group G10 to G13 to which terminals (contact points) constituting an electric circuit formed in the wire harness WH are conducted. Are connected in a combination corresponding to.
[0005]
In the controller 31, reference information corresponding to the groups G10 to G13 of the wire harness WH to be inspected is stored in the memory 31A, and read information of each group G10 to G13 sent through the multiplexer 33 is recorded. A memory 31B is provided.
The reference information stores, for each of the groups G10 to G13 of the wire harness WH, the conduction state of the contacts forming the groups G10 to G13. For example, in the example of FIG. 7, if the reference information regarding the groups G10 to G13 is g10 to g13, respectively,
g10 = (1), (5) (1)
g11 = (2), (7) (2)
g12 = (3), (6) (3)
g13 = (4), (8) (4)
It is remembered.
[0006]
On the other hand, in the read information, for each of the groups G10 to G13 of the wire harness WH, the conduction state of the contacts forming the groups G10 to G13 is detected. In the example of FIG. 7, when the read information regarding the groups G10 to G13 is G10 to G13, and the wire harness WH is normal,
G10 = (1), (5) (5)
G11 = (2), (7) (6)
G12 = (3), (6) (7)
G13 = (4), (8) (8)
Is detected.
[0007]
In this configuration, the controller 31 sends a signal to the demultiplexer 32 and causes a weak current to flow, whereby the potential of each probe pin a, b, c,... H is detected by the multiplexer 33 and transmitted to the controller 31 as read information. Is done. The controller 31 stores the transmitted read information in the memory 31B, and compares the read information with the reference information stored in the memory 31A for each of the groups G10 to G13. If not, it is determined that there is a disconnection or short circuit abnormality.
[0008]
For example, in the case of the above-described configuration, if the read information is as shown in Expressions (5) to (8), it is determined to be normal because the read information is the same as Expressions (1) to (4) of the reference information. On the other hand, of the read information, for example, the group G10
G10 = (1), (6) (9)
In the case of, since the contact (6) in the expression (9) does not match the expression (1) in the reference information, it is determined that there is an abnormality.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, when manufacturing the electric wiring system as described above, an electric circuit finally formed is an electric circuit (hereinafter, referred to as a “reference circuit”) that is set as a product standard or product specification of the electric wiring system. ) May be acceptable even if there is a difference in the specific wiring form.
[0010]
However, in the conventional continuity inspection device, the inspection including the equivalent circuit cannot be performed, and the inspection is performed on the initially set circuit pattern. Therefore, the wiring form of the wire harness WH included in the initially set circuit pattern is changed. I needed to make it.
If the wire harness WH of FIG. 7 described above is taken as an example, this wire harness WH forms the circuit CA shown in FIG. 8A, and the connectors WH3 and WH4 are finally connected to the joint connectors JC1 and JC2, respectively. Is short-circuited. In this case, in the group G10, since the contacts (5) and (6) are short-circuited, the contact (1) is connected to the contact (6) as shown in FIGS. 8 (B) and (D). It is finally equivalent to the formed group G10A. Ie
G10 = (1), (5) = G10A = (1), (6) (10)
Similarly, the group G11 is a group G11A shown in FIGS. 8C and 8D, the group G12 is a group G12A shown in FIGS. 8B and 8D, and the group G13 is a group G11 shown in FIGS. ) Is finally equivalent to the group G13A shown in FIG. Ie
G11 = ([2], [7]) = G11A = ([2], [8]) (11)
G12 = (3), (6) = G12A = (3), (5) (12)
G13 = (4), (8) = G13A = (4), (7) (13)
Therefore, the circuit CA of the wire harness WH shown in FIG. 8A has the same connection state as the circuits CB to CD shown in FIGS. 8B to 8D, and FIG. 8B to FIG. The circuits CB to CD of D) may be legally permitted as products.
[0011]
However, as described above, in the conventional continuity checker, the correspondence between the contacts (1) to (8) is simply compared with the correspondence between the contacts (1) to (8) specified in the reference information. It was just a pass / fail decision for the electrical wiring system. Therefore, when the wire harness WH is inspected before the joint connectors JC1 and JC2 are connected, only the correspondence between a certain contact and a contact to be connected to form a reference circuit is determined. Cannot be inspected to allow the conduction even when it is connected to a contact forming an equivalent circuit of the reference circuit. For this reason, in the example of FIG. 8, the expressions (10) to (13) cannot be determined to be acceptable, and the equivalent wirings shown in FIGS. 8B to 8D are determined to be unacceptable. As a result, the wiring had to be modified more than necessary. Repetition of such correction has increased unnecessary steps and reduced production efficiency. In addition, there is a possibility that components are damaged due to the correction of the wiring, and that the reliability of the product is impaired.
[0012]
In order to solve the above-mentioned problem, it is conceivable to store all the equivalent circuits in the controller 31 of the conduction checker in advance. However, in this case, the equivalent circuit has also increased significantly as the number of reference circuits has increased, and there have been problems such as complicating the program work.
The present invention has been made in view of the above-described problem, and when performing a continuity test of an electric wiring system, it is necessary that a contact to form a reference circuit of the electric wiring system forms an equivalent circuit of the reference circuit. It is an object of the present invention to provide a continuity inspection device and a continuity inspection method that can determine pass / fail of an electric wiring system with a simple configuration in an allowed state.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, the configuration of claim 1 of the present invention is
Reference information storage means for storing, as reference information, conduction information of contacts of a reference circuit to be formed in the electric wiring system;
When the reference circuit of the electrical wiring system includes a contact that is short-circuited after the continuity test, a short-circuit information storage unit that stores information of the contact to which the reference circuit is to be short-circuited as short-circuit information,
Information conversion means for converting the reference information into equivalent circuit information, based on the short-circuit information, as arbitrary contacts that can arbitrarily interchange the contacts to be short-circuited with the reference circuit;
A reading unit that energizes an electric circuit formed in the electric wiring system and reads conduction information of a plurality of contacts forming the electric circuit as read information;
From the read information, based on the short-circuit information, based on the short-circuit information, an information forming means for forming the information to be inspected as an arbitrary contact that can arbitrarily interchange the contacts to be short-circuited,
Determining means for comparing the inspected information with the equivalent circuit information to determine whether or not the contacts of the electric circuit are properly connected;
A continuity inspection device characterized by comprising:
[0014]
The configuration according to claim 2 is
Electricity is supplied to an electric circuit formed in the electric wiring system, and a plurality of contacts forming the electric circuit are collected as read information for each group of mutually conductive ones. In a continuity inspection method for checking whether or not the contacts of the electric circuit are properly connected by comparing with reference information of a reference circuit to be formed in the electric wiring system,
When the reference circuit includes a contact that is short-circuited after the continuity test, the continuity test method is characterized in that the contacts to be short-circuited are collated as arbitrary interchangeable contacts.
[0015]
[Action]
In the configuration according to claim 1 or 2, when the read information as the conduction information of the manufactured electric wiring system is compared with the reference information as the conduction information of the reference circuit, the reference circuit includes a contact that is short-circuited after the continuity test. If the electrical circuit formed in the electrical wiring system eventually becomes an equivalent circuit with the reference circuit, the contacts to be short-circuited are arbitrarily interchangeable. Can determine this as a pass.
[0016]
【Example】
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
First, a wire harness WH as an example of an electric wiring system inspected according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a wiring diagram illustrating the specifications of the wire harness WH to be manufactured.
[0017]
The wire harness WH forms a plurality of electric circuits by crimping terminals T1 to T16 on both ends of a plurality of electric wires W and inserting the terminals T1 to T16 into respective poles of the connectors WH1 to WH6.
In the case of the wire harness WH of FIG. 2, the terminals T1 to T16 are connected in the following groups G1 to G5. Ie
G1 = (T1, T2, T6, T9, T12) (1)
G2 = (T3, T4, T7, T10, T13) (2)
G3 = (T8, T11) (3)
G4 = (T5, T15) (4)
G5 = (T14, T16) (5)
In the present embodiment, a diode WH7 for allowing the current to flow into the terminal T4 and preventing the current from flowing out of the terminal T4 is connected to the terminal T4, and a current flowing from the terminal T15 is connected to the terminal T15. Diodes WH8 that allow outflow and prevent current from flowing into terminal T15 are connected respectively.
[0018]
Here, among the connectors WH1 to WH6 of the wire harness WH shown in FIG. 2, the connector WH3 in which the terminals T6, T7, and T8 are inserted is a connector in which the terminals T9, T10, and T11 are inserted by the joint connector JC1. WH4 is finally connected by a joint connector JC2, connector WH5 into which terminals T12, T13, and T14 are inserted, joint connector JC3, and connector WH6 into which terminals T15 and T16 are inserted is finally connected by a joint connector JC4. Designed to be short-circuited.
[0019]
Next, a circuit configuration of the conduction unit 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a circuit configuration diagram of the conduction unit 10 according to one embodiment of the present invention.
The continuity unit 10 according to the present embodiment is basically configured to be used by being connected to a well-known inspection unit 1 like a general continuity checker, and includes a CPU 11 serving as a controller, a demultiplexer 12, and an inverter. The circuit includes a circuit 13, a comparison circuit 14, and a multiplexer 15.
[0020]
The demultiplexer 12 includes a predetermined number of decode circuits 12A in which input information from the CPU 11 is 4 bits and output information to the inverter circuit 13 is 16 bits. Each decoding circuit 12A is connected to a decoder 12D that receives a command from the CPU 11, and is configured to be selectable by the decoder 12D. At the same time, each decoding circuit 12A can specify conduction information of a terminal (contact) of the wire harness WH by selecting an output of the inverter circuit 13 to each inverter 13A.
[0021]
The inverter circuits 13 are composed of the same number of gate circuits 13A as the decode circuits 12A, and the same number of inverters 13B of each gate circuit 13A as the output side of the corresponding decode circuit 12A are provided and connected. I have.
The output side of each inverter 13B is connected to the terminals T1 to T16 of the wire harness WH via the probe pins of the well-known inspection unit 1, and further connected to the input side of the comparison circuit 14.
[0022]
The comparison circuit 14 is composed of the same number of gate circuits 14A as the gate circuits 13A of the inverter circuit 13, and each gate circuit 14A is provided with the same number of comparators 14B as the inverter 13B. Each comparator 14B compares the output of the corresponding inverter 13B with a reference voltage to determine whether or not each terminal is conductive.
[0023]
The multiplexer 15 includes the same number of gate circuits 15A as the number of gate circuits 14A of the comparison circuit 14. Each gate circuit 15A is connected to a decoder 15D that receives a command from the CPU 11, and is configured to be selectable by the decoder 15D. At the same time, each gate circuit 15A is provided with the same number of inverters 15B as the comparators 14B. Each inverter 15B is for inputting read information of the wire harness WH to the CPU 11 based on the output of the corresponding comparator 14B.
[0024]
The CPU 11 is connected to an operation box 17 via a communication interface 16, and the CPU 11 is operated by the operation box 17. The CPU 11 is connected to a ROM 19, a RAM 20, and a DRAM 21 via a bus 18, and is also connected to a floppy disk drive 22 and a display device 23 for displaying an inspection result.
[0025]
In the present embodiment, the ROM 19 is for storing a program for controlling the CPU 11, the RAM 20 is for storing a work memory and a backup memory, and the DRAM 21 is read by the floppy disk drive 22. An area 21A for storing, as reference information, conduction information of contacts of a reference circuit to be formed on the wire harness WH from a floppy disk to be read, and storing conduction information of a plurality of contacts forming an electric circuit of the wire harness WH as read information. In the case where the area 21B to be connected and the reference circuit of the wire harness WH include a contact that is short-circuited after the continuity test (the terminals T6 to T16 in the wire harness WH of FIG. 2), the reference circuit is short-circuited. Information on the power contact should be stored as short-circuit information It is obtained by a area 21C.
[0026]
In the above configuration, the operation of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 4, and 5. FIG. 1 is a flowchart illustrating an inspection process of the conduction unit 10 according to the present embodiment. 4 and 5 show the manufactured wire harnesses WHR and WH. ^* FIG.
First, in step S1, a program stored in the ROM 19 is developed, and reference information on the wire harness WH to be manufactured is developed. For example, in the case of the wire harness WH shown in FIG.
g1 = (T1, T2, T6, T9, T12) (6)
g2 = (T3, T4, T7, T10, T13) (7)
g3 = (T8, T11) (8)
g4 = (T5, T15) (9)
g5 = (T14, T16) (10)
It becomes.
[0027]
Next, in step S2, conduction information of the wire harness WHR to be inspected is read as read information by the demultiplexer 12, the inverter circuit 13, the comparison circuit 14, and the multiplexer 15. For example, in the case of the wire harness WHR shown in FIG. 4, the terminals T6 and T7 of the connector WH3 are interchanged, which is different from the standard one. Therefore, the read information of this wire harness WHR is
G1 = (T1, T2, T7 ^* , T9, T12) (11)
G2 = (T3, T4, T6 ^* , T10, T13) (12)
G3 = (T8, T11) (13)
G4 = (T5, T15) (14)
G5 = (T14, T16) (15)
It becomes.
[0028]
Next, in step S3, in order to verify only the terminals that are not short-circuited by the joint connectors JC1 to JC4, of the reference information of step S1, the terminals that are finally short-circuited by the joint connectors JC1 to JC4 are described. , The same information as the terminal of the read information in step S2. This rewriting is performed by the CPU 11 based on the short-circuit information stored in the area 21C of the DRAM 21. In the wire harness WH of FIG.
J1 = T6 = T7 = T8 (J1)
J2 = T9 = T10 = T11 (J2)
J3 = T12 = T13 = T14 (J3)
J4 = T15 = T16 (J4)
It is. In the formulas (J1) to (J4), J1, J2, J3, and J4 are short-circuited by the joint connectors JC1 to JC4. Mutual Replaceable contacts (hereinafter, referred to as “arbitrary contacts”). Based on this short-circuit information, in order to identify a terminal that is not short-circuited, the expressions (6) and (7) in the reference information
g1 = (T1, T2, T7 ^* , T9, T12) (16)
g2 = (T3, T4, T6 ^* , T10, T13) (17)
Is converted to
[0029]
Then, in step S4, the read information of the wire harness WH shown in FIG. 4 is compared with the converted reference information.
In step S5, it is determined whether or not the collated read information is the same as the converted reference information. If not, a failure determination is made in step S6, and a failure is displayed on the display device 23 in step S7. The display is made. On the other hand, when the collated read information is the same as the converted reference information, the process proceeds to step S8.
[0030]
In step S8, the reference information shown in the equations (6) to (10) is developed again in the area 21A of the DRAM 21 in order to check the continuity of the terminals T6 to T16 to be short-circuited.
Next, equivalent circuit information Ds is formed from the reference information developed in step S9 and the short-circuit information shown in equations (J1) to (J4). In this embodiment,
g1 = (T1, T2, J1, J2, J3) (18)
g2 = (T3, T4, J1, J2, J3) (19)
g3 = (J1, J2) (20)
g4 = (T5, J4) (21)
g5 = (T14, J4) (22)
Is formed as the equivalent circuit information Ds. In the formula, J1, J2, J3, and J4 mean the above-mentioned arbitrary contacts. That is, the terminals T6, T7, and T8 that are finally short-circuited by the joint connector JC1 are the contacts J1 that can be interchanged with each other, and the terminals T9, T10, and T11 that are finally short-circuited by the joint connector JC2. The terminals T12, T13, and T14, which are finally short-circuited by the joint connector JC3 as the contacts J2 that can be interchanged with each other, are finally connected by the joint connector JC4 as the contacts J3 that can be interchanged with each other. The terminals T15 and T16 that are temporarily short-circuited are compared with the inspection target information Dd described later as a contact point J4 that can be interchanged.
[0031]
On the other hand, in step S10, the inspection information Dd is formed from the read information and the short-circuit information of the wire harness WH. When forming the inspected information Dd from the read information and the short-circuit information, of the terminals T1 to T16 that are finally short-circuited, as in the case of forming the equivalent circuit information Ds, the short-circuit information is used. It is converted into arbitrary contacts J1 to J4 based on the information. Therefore, when the read information is (11) to (15), the inspected information Dd is
G1 = (T1, T2, J1, J2, J3) (23)
G2 = (T3, T4, J1, J2, J3) (24)
G3 = (J1, J2) (25)
G4 = (T5, J4) (26)
G5 = (T14, J4) (27)
It becomes.
[0032]
Next, in step S11, in order to check the inspected information Dd with the equivalent circuit information Ds for each of the conductive groups G1 to G5, one group of the inspected information Dd (for example, G1 in equation (23)). Is selected, and this is set to G. Then, in step S12, it is determined whether or not the equivalent circuit information Ds has the same group configuration as the selected group. If there is the same group configuration, it is set to g in step S13. For example, when G = G1, g = g1. If there is no identical group configuration in step S12, the flow shifts to a known failure analysis (step S24), displays a failure (step S25), and ends. For example, in the case of the wire harness WH * shown in FIG. 5, since the wiring between the terminal T5 and the terminal T15 is wrong, so-called erroneous connection called diode surplus is made. The read information in the electric circuit of this wire harness WH * is:
G1 = (T1, T2, T6 , T15 *, T12) (28)
G2 = (T3, T4, T 7 , T10, T13) (29)
G3 = (T8, T11) (30)
G4 = (T5, T9 *) (31)
G5 = (T14, T16) (32)
And the information Ds to be inspected is
G1 = (T1, T2, J1, J4 *, J3) (33)
G2 = (T3, T4, J1, J2, J3) (34)
G3 = (J1, J2) (35)
G4 = (T5, J2 *) (36)
G5 = (J3, J4) (37)
As a result, no group corresponding to the groups G1 and G4 in the equations (33) and (36) is detected, and as a result, the processing shifts to the step S24, where a so-called diode surplus is displayed in the step S25 and the processing ends.
[0033]
Next, in step S14, G is compared with g, and here, a continuity test of the terminals constituting the arbitrary contacts is performed. When G is in the same conduction state as g as in the equations (23) and (18), the passed G and g are stored (marked) in the RAM 20 in step S15, and the next group is determined. Transition. That is, in step S16, the presence or absence of an untested group is determined. In step S17, after the untested group is selected, the process returns to step S12 and the above-described collation operation is repeated for each of the groups G2 to G5. Then, the collation of all the groups G1 to G5 is completed, and if all of them are the same as the groups g1 to g5 of the equivalent circuit information Ds, a pass display is made on the display device 23 in step S18.
[0034]
Here, as described above, in the present embodiment, when the reference circuit includes the terminals T6 to T16 as the contacts that are short-circuited by the joint connectors JC1 to JC4 after the continuity test, the circuit should be short-circuited. Since the inspected information Dd and the equivalent circuit information Ds converted for each joint are formed and collated as arbitrary contacts that can freely exchange the terminals, the reference circuit to be formed in the wire harness WH. It can be determined that the electric circuit finally equivalent to the above is also acceptable.
[0035]
In the case of inspecting the wire harness WH of FIG. 4 described above, although the terminal T6 and the terminal T7 of the connector WH3 are switched with respect to the wire harness WH of FIG. Is determined to be passed because it is finally short-circuited.
In step S14, if G is not in the same conductive state as g, In step S19, an untested group is searched, and in step S20, collation with another group is performed. If there is no untested group in step S19, In step S21, the g data is moved to the corresponding G point position. In step S22, a defect is determined, and in step S23, a defect is displayed on the display device 23.
[0036]
As described above, in the configuration of the present embodiment, when the electric circuit formed in the wire harness WH finally becomes an equivalent circuit with the reference circuit, it is possible to determine that the circuit is acceptable. For a product that is allowed to form such an equivalent circuit, a continuity test can be easily performed, and a remarkable effect can be obtained such that the production efficiency can be improved.
[0037]
Further, since it is not necessary to store all the reference information of the equivalent circuit, there is an advantage that the programming or the like is simplified and can be easily implemented.
The above embodiments are merely preferred embodiments of the present invention, and the present invention is not limited to the above embodiments. For example, it is of course possible to perform the continuity test using an apparatus other than the apparatus illustrated in FIG. In addition, it goes without saying that various design changes and inspection object changes can be made without departing from the scope of the present invention.
[0038]
【The invention's effect】
As described above, in the continuity inspection device and the continuity inspection method of the present invention, when the electric circuit formed in the electric wiring system finally becomes an equivalent circuit with the reference circuit, it is determined that the reference circuit is acceptable. As a result, for products that are allowed to form such an equivalent circuit, a continuity test can be easily performed, and a remarkable effect can be obtained, such as improvement in production efficiency. Play. In addition, there is an advantage that efficiency in multi-item production can be improved.
[0039]
Further, since it is not necessary to store all the reference information of the equivalent circuit, there is an advantage that the programming or the like is simplified and can be easily implemented.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a flowchart illustrating an inspection process of a conduction unit in the present embodiment.
FIG. 2 is a wiring diagram illustrating the specifications of a wire harness to be manufactured;
FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a conduction unit in one embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a wiring diagram of the manufactured wire harness.
FIG. 5 is a wiring diagram of the manufactured wire harness.
FIG. 6 is a schematic diagram of a continuity checker for inspecting continuity of a wire harness.
FIG. 7 is a circuit configuration diagram of a conduction unit employed in the conduction checker of FIG. 6;
FIG. 8 is a wiring diagram of a wire harness inspected by the continuity checker of FIG. 6;
[Explanation of symbols]
1 Inspection unit
10 Conduction unit
11 CPU
12 Demultiplexer
13 Inverter circuit
14. Discrimination circuit
15 Multiplexer
21 DRAM

Claims

Reference information storage means for storing, as reference information, conduction information of contacts of a reference circuit to be formed in the electric wiring system;
When the reference circuit of the electrical wiring system includes a contact that is short-circuited after the continuity test, a short-circuit information storage unit that stores information of the contact to which the reference circuit is to be short-circuited as short-circuit information,
Information conversion means for converting the reference information into equivalent circuit information, based on the short-circuit information, as arbitrary contacts that can arbitrarily interchange the contacts to be short-circuited with the reference circuit;
A reading unit that energizes an electric circuit formed in the electric wiring system and reads conduction information of a plurality of contacts forming the electric circuit as read information;
From the read information, based on the short-circuit information, based on the short-circuit information, an information forming means for forming the information to be inspected as an arbitrary contact that can arbitrarily interchange the contacts to be short-circuited,
A continuity inspection device comprising: a determination unit that checks the information to be inspected with equivalent circuit information to determine whether or not a contact of the electric circuit is properly connected.

Electricity is supplied to an electric circuit formed in the electric wiring system, and a plurality of contacts forming the electric circuit are collected as read information for each group of mutually conductive ones. In a continuity inspection method for checking whether or not the contacts of the electric circuit are properly connected by comparing with reference information of a reference circuit to be formed in the electric wiring system,
When the reference circuit includes a contact that is short-circuited after the continuity test, the continuity test method is characterized in that the contacts to be short-circuited are collated as arbitrary interchangeable contacts.