JP3572256B2 - Chemical substance detection device - Google Patents
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- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims description 61
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 23
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 97
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 34
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 12
- 238000001269 time-of-flight mass spectrometry Methods 0.000 claims description 6
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 4
- 108010085603 SFLLRNPND Proteins 0.000 description 20
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 150000002013 dioxins Chemical class 0.000 description 3
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 3
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 3
- OCJBOOLMMGQPQU-UHFFFAOYSA-N 1,4-dichlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=C(Cl)C=C1 OCJBOOLMMGQPQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000008422 chlorobenzenes Chemical class 0.000 description 2
- 229940117389 dichlorobenzene Drugs 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- RELMFMZEBKVZJC-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-trichlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC(Cl)=C1Cl RELMFMZEBKVZJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KVGZZAHHUNAVKZ-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxin Chemical compound O1C=COC=C1 KVGZZAHHUNAVKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 1
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 238000007670 refining Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、化学物質検出装置に係り、特に、特定の化学物質を高精度に検出することができる化学物質検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
クロロベンゼン類、ダイオキシン類のような微量で有害な化学物質が、燃焼炉、金属精錬炉から排出される排ガス中に含まれて排出されている。このような、微量有害物質の検出および濃度測定を的確に行うことが、特に強く求められている。
【0003】
上述のような化学物質の検出、濃度測定のための装置として、ガスクロマトグラフ法、質量分析法のような慣用技術によるものが知られており、そのうち、質量分析法は、ガスクロマトグラフ法に比べて、その計測時間が短い点で優れている。
【0004】
質量分析法は、RF放電(高周波放電)によるプラズマ、電子銃による電子ビームなどを用いてサンプルガスをイオン化し、そのイオンを一瞬に加速して質量分離を行い、その質量数に対応する飛行時間を計測することにより、その物質を同定する方法である。
【0005】
上述のような飛行時間型質量分析法は、サンプルガスをイオン化するプロセスで、検出対象物質以外の物質がイオン化したり、検出対象物質、検出対象でない物質の質量がより小さい分子、原子に分解され、分解されて生成するフラグメントが複雑になって、特定物質の同定が困難であり、その計測感度の低下を招いている。
【0006】
このため、サンプルガス中の計測対象物質以外の物質のイオン化を防止する技術が開発されている。また、計測対象物質の光吸収波長に合わせたレーザ光を照射し、その物質を選択的に多光子イオン化する共鳴多光子イオン化法が知られている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、計測感度を高めることができる共鳴多光子イオン化法は、クロロベンゼン類、ダイオキシン類のうちで、ジクロロベンゼン、トリクロロベンゼンのような塩素が多く含まれる物質ほど、イオン化の効率が低下し、その計測感度が低下するので、イオン化効率の低下を補うために、超短パルスレーザが必要になる。このため、従来装置では、上述のような特定物質の計測のために、高価な装置となってしまう。
【0008】
そこで、この出願人は、特定物質のイオン化効率を高め、光子エネルギーより高いイオン化エネルギーを持つ他物質のイオン化の阻止、及び特定物質のフラグメント生成を抑制することで計測感度を向上することと、装置の低コスト化、簡素化を図れる化学物質検出装置(特願2000−178985号)を先に出願した。
【0009】
先願の化学物質検出装置は、サンプルガスを真空紫外光によりイオン化するイオン化手段と、前記真空紫外光によりイオン化されたイオンのうち、特定質量のイオンを蓄積するイオントラップと、前記イオントラップ中に蓄積された前記イオンを加速させ、その加速されたイオンの飛行時間に基づいて前記サンプルガス中の前記特定質量の化学物質を同定する飛行時間型質量分析手段と、を備える。
【0010】
この発明は、先願の化学物質検出装置の改良にかかり、特定の化学物質を高精度に検出することができる化学物質検出装置を提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、請求項1にかかる発明は、以下の構成を特徴とする。すなわち、イオン化手段は、イオンが通過する孔を有する仕切り壁により、イオン生成用の第1空間とイオン蓄積用の第2空間とに仕切られており、前記第1空間には、前記真空紫外光発生手段が具備されており、前記第2空間中には、前記イオントラップが配置されており、前記第1空間中で生成されたイオンを前記第2空間中の前記イオントラップ中に引き込む引き込み電極が設けられている。
【0012】
この結果、請求項1にかかる発明は、第1空間と第2空間とを仕切り壁で仕切ることにより、第2空間中のイオントラップの機能が損なわれない程度に、第1空間中のガス圧(ガス密度)を増加させることができる。また、第1空間側の真空紫外光発生手段と第2空間側のイオントラップとを仕切り壁で仕切ることにより、第1空間中において、サンプルガスに対する真空紫外光の照射体積を増加させることができる。前記ガス圧および真空紫外光の照射体積を増加することにより、イオンの生成量が増加する。このために、飛行時間型質量分析手段の計測感度が向上され、その分、特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0013】
また、請求項2にかかる発明は、第2空間中の圧力を第1空間中の圧力よりも低くする差動排気手段が設けられている、ことを特徴とする。
【0014】
この結果、請求項2にかかる発明は、差動排気手段により、第2空間中のガス圧を上げることなく、第1空間中のガス圧を増加させることができる。このために、さらに、イオンの生成量が増加して特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、この発明にかかる化学物質検出装置の実施の形態の1例を添付図面を参照して説明する。なお、この実施の形態によりこの化学物質検出装置が限定されるものではない。
【0016】
(実施の形態の構成の説明)
図1において、1はサンプルガスを真空紫外光によりイオン化するイオン化手段である。このイオン化手段1は、主に、イオン化室2と、サンプルガス導入管3と、イオン加速電極4と、真空紫外光発生手段としてのランプ5とから構成されている。前記イオン化室2中には、サンプルガス(図示せず)が前記サンプルガス導入管3を介して導入されている。また、前記イオン加速電極4は、後記イオントラップ9と後記飛行時間型質量分析手段19との間に配置されている。
【0017】
前記ランプ5は、供給されたランプガス6(たとえば、H2 /Heなど)をμ波で放電させて、H2 の固有の発光線エネルギー10.2eVを持つ真空紫外光7を発生させるものである。このランプ5は、放電するランプガス6の種類を変えることにより、発生する真空紫外光7の持つ光子エネルギー量を変化させて、イオン化する物質を選定することができる。また、このランプ5中は、たとえば、約10Torr以下に減圧されている。
【0018】
前記ランプ5は、MgF2 窓8を介して前記イオン化室2に配置されている。前記真空紫外光7は、前記MgF2 窓8を経て前記イオン化室2中に照射される。前記MgF2 窓8は、真空紫外光7の透過性が良い。
【0019】
図1において、9は前記真空紫外光7によりイオン化されたイオンのうち、特定質量のイオンを蓄積するイオントラップである。このイオントラップ9は、図2に示すように、2個のエンドキャップ電極10、11と、1個のリング電極12とから構成されている。また、このイオントラップ9は、前記電極10、11、12で囲まれた空間24を有する。
【0020】
前記エンドキャップ電極10、11および前記リング電極12は、その内面が凸曲面をなす。前記2個のエンドキャップ電極の一方10のほぼ中央には、生成された後記イオン28を中に引き込むための孔、すなわち引き込み孔13が設けられている。また、前記2個のエンドキャップ電極の他方11のほぼ中央には、蓄積された後記イオン18を外に引き出すための孔、すなわち引き出し孔14が設けられている。
【0021】
前記エンドキャップ電極10、11の端部とリング電極12の端部との間には、絶縁物15(たとえば、セラミック製の絶縁物)が固定されている。そして、これらエンドキャップ電極10、11およびリング電極12および絶縁物15は、ホルダ16により、保持されている。
【0022】
前記エンドキャップ電極10、11および前記リング電極12には、図1に示すように、高周波電圧を印加するための高周波電源17が接続されている。この高周波電源17から印加される高周波電圧の周波数と電圧とを調整することにより、引き込まれたイオン28のうち、特定の質量のイオン18を前記空間24中において選別蓄積することができる。すなわち、周波数と電圧とが調整された高周波電界により、特定の質量のイオン18がそのイオン軌道上を対流して保持蓄積されるものである。その他のイオンは、電極10、11、12に当って消失する。
【0023】
前記イオントラップ9中のイオンの蓄積時間は、蓄積する化学物質により変わるが、約1〜2秒間である。その蓄積時間が終了した時点で、イオン加速電極4に電圧を印加して電界を加える。すると、イオントラップ9中に蓄積されたイオン18が引き出し孔14から外に引き出されて加速されることとなる。
【0024】
前記イオン化室2内には、仕切り壁25が配置されている。これにより、前記イオン室2内は、イオン生成用の第1空間26と、イオン蓄積用の第2空間27とに仕切られる。前記仕切り壁25には、イオン28が通過する孔29が設けられている。
【0025】
前記第1空間26には、前記サンプルガス導入管3と前記ランプ5とポンプ30とがそれぞれ接続されている。前記真空紫外光7の照射方向とイオン18の加速方向とは、ほぼ直交する。すなわち、前記イオントラップ9とイオン加速電極4との間のイオン加速域に真空紫外光7が照射されない位置に、前記ランプ5が配置されている。前記第1空間26中には、サンプルガス(図示せず)が充満している。前記第1空間26中に充満しているサンプルガスは、前記真空紫外光7によりイオン化される。
【0026】
前記第2空間27中には、前記イオン加速電極4と前記イオントラップ9とが配置されている。また、前記第2空間27には、差動排気用ポンプ31が接続されている。この差動排気用ポンプ31は、前記第2空間27内の圧力を前記第1空間26内の圧力よりも低くするものである。
【0027】
前記第1空間26と、前記第2空間27の仕切り壁25、イオントラップ9間とには、イオン引き込み電極32がそれぞれ配置されている。このイオン引き込み電極32は、前記第1空間26中で生成されたイオン28をイオン通過孔29を経て前記第2空間27中の前記イオントラップ9中に引き込むためのものである。
【0028】
図1において、19は前記加速されたイオン18の飛行時間に基づいてサンプルガス中の特定質量の化学物質を同定する飛行時間型質量分析手段(いわゆる、TOFMS)である。この飛行時間型質量分析手段19の飛行室20が前記第2空間27と連通して配置されている。
【0029】
前記飛行室20には、ポンプ21が接続されている。このポンプ21の作動により、相互に連通する前記飛行室20および前記第2空間27中の圧力が高真空、たとえば、約10−5Torr以下に保持されている。この高真空は、前記第2空間27および前記飛行室20中を飛行するイオン18が他の分子と衝突して消失しない程度のものである。
【0030】
前記飛行室20のうち、前記イオン18が到達する箇所には、イオン検出器22が設置されている。このイオン検出器22は、たとえば、マイクロチャンネルプレート(いわゆる、MCP)や電子増倍管などから構成されているものである。このイオン検出器22は、図3に示すように、前記イオン18を検出した時点で信号を出力するものである。なお、前記イオン検出器22の信号出力のレベルは、前記イオン18の量によって変わる。
【0031】
前記イオン検出器22には、オシロスコープ23が接続されている。このオシロスコープ23は、図3に示すように、前記イオン検出器22でイオン18を検出した時点で出力する信号の時間波形を表示するものである。
【0032】
(実施の形態の作用の説明)
この実施の形態における化学物質検出装置は、以上の如き構成からなり、以下、その作用について説明する。なお、この例における検出対象の化学物質は、たとえば、ダイオキシン類やその前駆体である。
【0033】
まず、サンプルガスをサンプルガス導入管3を介してイオン化室2の第1空間26中に導入する。すると、サンプルガスは、イオン化室2の第1空間26中に充満する。このとき、イオン化室2は、第1空間部26と第2空間部27とに仕切られており、かつ、第2空間部27は差動排気用ポンプ31により差動排気されている。このために、第1空間26中のガス圧を増加させることが可能である。
【0034】
一方、ランプ5を作動させて真空紫外光7を、MgF2 窓8を経て、イオン化室2の第1空間26中に照射させる。すると、サンプルガスは、真空紫外光7により、イオン化される。このとき、前記真空紫外光7の前記第1空間26中への照射体積は、ランプ5の照射口径の大きさに準じて増加させることができる。また、前記真空紫外光7は、イオントラップ9とイオン加速電極4との間のイオン加速域には照射されない。
【0035】
前記真空紫外光7の照射において、サンプルガス中の検出対象の化学物質のイオン化エネルギーに対して、それよりも高い光子エネルギーを持つ真空紫外光7を照射する。この結果、検出対象の化学物質は、1光子エネルギーにより、イオン化されるので、イオン化効率が良い。
【0036】
前記第1空間26中においてイオン化されたイオン28は、引き込み電極32により、イオン通過孔29、引き込み孔13を経て第2空間27中のイオントラップ9中に引き込まれる。このイオントラップ9中に引き込まれたイオン28のうち、特定質量のイオン18は、イオントラップ9中の空間24において1〜2秒間蓄積される。これにより、イオン18の密度が高くなる。
【0037】
イオン18がイオントラップ9において蓄積された後、イオン加速電極4に電圧を印加する。すると、イオントラップ9中のイオン18パケット(集団)が引き出し孔14から引き出されて加速される。このとき、前記イオン18パケットの引き出し加速方向と、前記真空紫外光7の照射方向とは、ほぼ直交する。
【0038】
加速されたイオン18パケットは、イオン化室2の第2空間27および飛行室20中を飛行してイオン検出器22に到達する。そのイオン18パケットの飛行時間に基づいてサンプルガス中の特定質量の化学物質が同定される。
【0039】
たとえば、図3に示すように、飛行時間(μs)がT1の場合、質量M1(たとえば、112)の化学物質X1(たとえば、モノクロロベンゼン)が同定される。また、飛行時間(μs)がT2の場合、質量M2(たとえば、146)の化学物質X2(たとえば、ジクロロベンゼン)が同定される。ここで、図3において、時間0は、イオン加速電極4に電圧を印加した時点をいう。
【0040】
しかも、図3に示すように、イオン検出器22からの信号出力のレベルから検出対象の化学物質の濃度が判明する。たとえば、濃度特性から、基準の信号出力レベル(図3中の最小の三角形のレベル)の濃度を1ppmとする。この場合において、飛行時間T1における信号出力レベルS1が基準の信号出力レベルの2倍となっているので、質量M1の化学物質X1の濃度は、2ppmとなる。また、飛行時間T2における信号出力レベルS2が基準の信号出力レベルの3倍となっているので、質量M2の化学物質X2の濃度は、3ppmとなる。
【0041】
(実施の形態の効果の説明)
このように、この実施の形態における化学物質検出装置は、イオン化室2中の第1空間26と第2空間27とを仕切り壁25で仕切ることにより、第2空間27中のイオントラップ9の機能が損なわれない程度に、第1空間26中のガス圧を増加させることができる。また、第1空間26側のランプ5と第2空間27側のイオントラップ9とを仕切り壁25で仕切ることにより、第1空間26中において、サンプルガスに対する真空紫外光7の照射体積を増加させることができる。
【0042】
前記ガス圧および真空紫外光7の照射体積を増加することにより、イオン28の生成量が増加する。このために、飛行時間型質量分析手段19の計測感度が向上され、その分、特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0043】
特に、この実施の形態における化学物質検出装置は、第2空間27中の圧力を第1空間26中の圧力よりも低くする差動排気用ポンプ31により、第2空間27中のガス圧を上げることなく、第1空間26中のガス圧を増加させることができる。このために、さらに、イオン28の生成量が増加して特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0044】
このように、この実施の形態における化学物質検出装置は、サンプルガスを真空紫外光7によりイオン化する領域を、イオントラップ9中と別個に区画されたイオン化室2の第1空間26に設けたものである。このために、イオントラップ9のガス圧の制限および真空紫外光7の照射体積の制限よりも緩やかな制限下において、イオン28の生成量の増加が図られる。
【0045】
また、この実施の形態においては、サンプルガスは、真空紫外光7の1光子エネルギーにより、イオン化されるので、イオン化効率が良い。
【0046】
さらに、この実施の形態においては、真空紫外光7の発生手段としてランプ5を使用したので、コスト上非常に優れている。しかも、ランプ5は、パルスレーザと比較して、光子密度が小さいが、連続発光であるから、光子量はトータル的にほぼ同等となる。その上、イオントラップ9でイオンを蓄積するので、光子密度の小ささは、特に問題とはならない。
【0047】
さらにまた、この実施の形態においては、飛行時間型質量分析手段19として、イオン18が直進するリニア型方式のものを使用する。このために、イオンが電極により反射するリフレクトロン型方式の飛行時間型質量分析手段と比較して、イオンが電極に衝突して消失する量が少ない。この結果、この実施の形態においては、イオン検出器22におけるイオン18の検出が正確となる。
【0048】
その上、この実施の形態における化学物質検出装置は、イオン18の引き出し加速方向と真空紫外光7の照射方向とが直交するものであるから、真空紫外光7がイオントラップ9とイオン加速電極4との間のイオン加速域に照射されない。このために、イオン加速域に存在するサンプルガスが真空紫外光7によりイオン化してノイズとなるのを抑制することができる。その結果、飛行時間型質量分析手段19の計測感度が向上され、その分、特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0049】
(実施の形態以外の例)
なお、この実施の形態においては、検出対象の化学物質としては、ダイオキシン類やその前駆体であるが、この発明は、その他の化学物質の検出にも適用できる。
【0050】
また、この実施の形態において、第2空間27に差動排気用ポンプ31を接続したものであるが、この発明においては、特に、第2空間27に差動排気用ポンプ31を接続しなくても良い。
【0051】
さらに、この実施の形態においては、真空紫外光7の照射方向とイオン18の引き出し方向とが直交するものであるが、この発明の化学物質装置においては、真空紫外光7の照射方向とイオン18の引き出し方向とが同一方向であっても良い。
【0052】
【発明の効果】
以上から明らかなように、この発明にかかる化学物質検出装置(請求項1)は、第1空間と第2空間とを仕切り壁で仕切ることにより、第2空間中のイオントラップの機能が損なわれない程度に、第1空間中のガス圧を増加させることができる。また、第1空間側の真空紫外光発生手段と第2空間側のイオントラップとを仕切り壁で仕切ることにより、第1空間中において、サンプルガスに対する真空紫外光の照射体積を増加させることができる。前記ガス圧および真空紫外光の照射体積を増加することにより、イオンの生成量が増加する。このために、飛行時間型質量分析手段の計測感度が向上され、その分、特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【0053】
また、この発明にかかる化学物質検出装置(請求項2)は、第2空間中の圧力を第1空間中の圧力よりも低くする差動排気手段が設けられている。この差動排気手段により、第2空間中のガス圧を上げることなく、第1空間中のガス圧を増加させることができる。このために、さらに、イオンの生成量が増加して特定の化学物質を高精度に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の化学物質検出装置の実施の形態を示す説明図である。
【図2】同じく、イオントラップを示す縦断面図である。
【図3】同じく、オシロスコープにおいて表示されるイオン検出器からの信号出力とイオンの飛行時間とを示したグラフである。
【符号の説明】
1 イオン化手段
2 イオン化室
3 サンプルガス導入管
4 イオン加速電極
5 ランプ(真空紫外光発生手段)
6 ランプガス
7 真空紫外光
8 MgF2 窓
9 イオントラップ
10、11 エンドキャップ電極
12 リング電極
13 引き込み孔
14 引き出し孔
15 絶縁物
16 ホルダ
17 高周波電源
18 イオン
19 飛行時間型質量分析手段
20 飛行室
21 ポンプ
22 イオン検出器
23 オシロスコープ
24 空間
25 仕切り壁
26 第1空間
27 第2空間
28 イオン
29 イオン通過孔
30 ポンプ
31 差動排気用ポンプ
32 イオン引き込み電極[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a chemical substance detection device, and more particularly to a chemical substance detection device capable of detecting a specific chemical substance with high accuracy.
[0002]
[Prior art]
Trace amounts of harmful chemical substances, such as chlorobenzenes and dioxins, are contained in exhaust gas discharged from combustion furnaces and metal refining furnaces and are discharged. There is a particularly strong demand for accurate detection and concentration measurement of such trace harmful substances.
[0003]
As a device for detecting the above-described chemical substances and measuring the concentration, gas chromatograph methods and those using conventional techniques such as mass spectrometry are known. Among them, the mass spectrometry method is compared with the gas chromatograph method. It is excellent in that the measurement time is short.
[0004]
In mass spectrometry, a sample gas is ionized using plasma generated by RF discharge (high-frequency discharge), an electron beam from an electron gun, and the like, and the ions are instantaneously accelerated to perform mass separation, and a flight time corresponding to the mass number This is a method of identifying the substance by measuring the amount of the substance.
[0005]
Time-of-flight mass spectrometry, as described above, is a process in which a sample gas is ionized. In addition, the fragments generated by the decomposition are complicated, and it is difficult to identify a specific substance, resulting in a decrease in the measurement sensitivity.
[0006]
For this reason, techniques for preventing ionization of substances other than the substance to be measured in the sample gas have been developed. In addition, a resonance multiphoton ionization method is known in which a laser beam is radiated according to a light absorption wavelength of a substance to be measured, and the substance is selectively multiphoton ionized.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, the resonance multiphoton ionization method that can increase measurement sensitivity is based on the fact that, among chlorobenzenes and dioxins, the more chlorine-containing substances such as dichlorobenzene and trichlorobenzene, the lower the ionization efficiency. Since sensitivity is reduced, an ultrashort pulse laser is required to compensate for the reduction in ionization efficiency. For this reason, the conventional apparatus is an expensive apparatus for measuring the specific substance as described above.
[0008]
Therefore, the applicant has improved the measurement sensitivity by increasing the ionization efficiency of a specific substance, preventing the ionization of another substance having ionization energy higher than the photon energy, and suppressing the fragmentation of the specific substance. Filed a patent application for a chemical substance detection device (Japanese Patent Application No. 2000-178985) capable of reducing the cost and simplifying the method.
[0009]
The chemical substance detection device of the prior application is an ionization means for ionizing a sample gas with vacuum ultraviolet light, an ion trap for accumulating ions of a specific mass among ions ionized by the vacuum ultraviolet light, and Time-of-flight mass spectrometry means for accelerating the accumulated ions and identifying the chemical substance of the specific mass in the sample gas based on the time of flight of the accelerated ions.
[0010]
An object of the present invention is to improve a chemical substance detection device of the prior application, and to provide a chemical substance detection device capable of detecting a specific chemical substance with high accuracy.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
To achieve the above object, the invention according to claim 1 has the following configuration. That is, the ionization means is partitioned into a first space for ion generation and a second space for ion accumulation by a partition wall having a hole through which ions pass, and the first space includes the vacuum ultraviolet light. Generating means, wherein the ion trap is disposed in the second space, and a drawing electrode for drawing ions generated in the first space into the ion trap in the second space. Is provided.
[0012]
As a result, according to the first aspect of the present invention, the first space and the second space are separated by the partition wall, so that the function of the ion trap in the second space is not impaired. (Gas density) can be increased. Further, by separating the vacuum ultraviolet light generating means on the first space side and the ion trap on the second space side by a partition wall, the irradiation volume of the sample gas with vacuum ultraviolet light can be increased in the first space. . By increasing the gas pressure and the irradiation volume of vacuum ultraviolet light, the amount of generated ions increases. For this reason, the measurement sensitivity of the time-of-flight mass spectrometer is improved, and accordingly, a specific chemical substance can be detected with high accuracy.
[0013]
The invention according to
[0014]
As a result, according to the second aspect of the invention, the gas pressure in the first space can be increased by the differential pumping means without increasing the gas pressure in the second space. For this reason, the generation amount of ions further increases, and a specific chemical substance can be detected with high accuracy.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of a chemical substance detection device according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. The embodiment is not intended to limit the chemical substance detection device.
[0016]
(Description of Configuration of Embodiment)
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes ionization means for ionizing a sample gas by vacuum ultraviolet light. The ionization means 1 mainly includes an
[0017]
The lamp 5 discharges a supplied lamp gas 6 (for example, H 2 / He) with a microwave to generate vacuum ultraviolet light 7 having a specific emission line energy of H 2 of 10.2 eV. is there. This lamp 5 can change the type of the
[0018]
The lamp 5 is arranged in the
[0019]
In FIG. 1,
[0020]
The inner surfaces of the
[0021]
An insulator 15 (for example, a ceramic insulator) is fixed between the end of the
[0022]
As shown in FIG. 1, a high-
[0023]
The accumulation time of the ions in the
[0024]
A
[0025]
The
[0026]
The
[0027]
Between the
[0028]
In FIG. 1,
[0029]
A
[0030]
An
[0031]
An
[0032]
(Explanation of the operation of the embodiment)
The chemical substance detection device according to this embodiment has the above-described configuration, and its operation will be described below. The chemical substance to be detected in this example is, for example, dioxins and their precursors.
[0033]
First, a sample gas is introduced into the
[0034]
On the other hand, the lamp 5 is operated to irradiate the vacuum ultraviolet light 7 into the
[0035]
In the irradiation with the vacuum ultraviolet light 7, the vacuum ultraviolet light 7 having a higher photon energy than the ionization energy of the chemical substance to be detected in the sample gas is irradiated. As a result, the chemical substance to be detected is ionized by one-photon energy, so that the ionization efficiency is high.
[0036]
The
[0037]
After the
[0038]
The accelerated
[0039]
For example, as shown in FIG. 3, when the flight time (μs) is T1, the chemical substance X1 (for example, monochlorobenzene) having the mass M1 (for example, 112) is identified. When the flight time (μs) is T2, the chemical substance X2 (for example, dichlorobenzene) having the mass M2 (for example, 146) is identified. Here, in FIG. 3,
[0040]
Moreover, as shown in FIG. 3, the concentration of the chemical substance to be detected is determined from the level of the signal output from the
[0041]
(Explanation of effects of the embodiment)
As described above, the chemical substance detection device according to the present embodiment separates the
[0042]
Increasing the gas pressure and the irradiation volume of the vacuum ultraviolet light 7 increases the amount of
[0043]
In particular, in the chemical substance detection device according to this embodiment, the gas pressure in the
[0044]
As described above, the chemical substance detection device according to the present embodiment is configured such that the region for ionizing the sample gas by the vacuum ultraviolet light 7 is provided in the
[0045]
Further, in this embodiment, the sample gas is ionized by one-photon energy of the vacuum ultraviolet light 7, so that the ionization efficiency is high.
[0046]
Further, in this embodiment, since the lamp 5 is used as a means for generating the vacuum ultraviolet light 7, the cost is very excellent. In addition, the lamp 5 has a lower photon density than the pulse laser, but emits light continuously, so that the total amount of photons is substantially equal. In addition, since the ions are accumulated in the
[0047]
Furthermore, in this embodiment, as the time-of-
[0048]
In addition, in the chemical substance detection device according to the present embodiment, the direction in which the
[0049]
(Examples other than the embodiment)
In this embodiment, the chemical substance to be detected is a dioxin or a precursor thereof, but the present invention can be applied to the detection of other chemical substances.
[0050]
Further, in this embodiment, the
[0051]
Further, in this embodiment, the irradiation direction of the vacuum ultraviolet light 7 and the extraction direction of the
[0052]
【The invention's effect】
As is clear from the above, in the chemical substance detection device according to the present invention (claim 1), the function of the ion trap in the second space is impaired by dividing the first space and the second space by the partition wall. The gas pressure in the first space can be increased to the extent that it does not occur. Further, by separating the vacuum ultraviolet light generating means on the first space side and the ion trap on the second space side with a partition wall, the irradiation volume of the sample gas with vacuum ultraviolet light can be increased in the first space. . By increasing the gas pressure and the irradiation volume of vacuum ultraviolet light, the amount of generated ions increases. For this reason, the measurement sensitivity of the time-of-flight mass spectrometer is improved, and accordingly, a specific chemical substance can be detected with high accuracy.
[0053]
Further, the chemical substance detection device according to the present invention (claim 2) is provided with a differential exhaust unit that makes the pressure in the second space lower than the pressure in the first space. By this differential evacuation means, the gas pressure in the first space can be increased without increasing the gas pressure in the second space. For this reason, the generation amount of ions further increases, and a specific chemical substance can be detected with high accuracy.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an embodiment of a chemical substance detection device according to the present invention.
FIG. 2 is a vertical sectional view showing the ion trap.
FIG. 3 is a graph showing a signal output from an ion detector and a flight time of ions displayed on an oscilloscope.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ionization means 2 Ionization chamber 3 Sample
Claims (2)
前記真空紫外光によりイオン化されたイオンのうち、特定質量のイオンを蓄積するイオントラップと、
前記イオントラップ中に蓄積された前記イオンを加速させ、その加速されたイオンの飛行時間に基づいて前記サンプルガス中の前記特定質量の化学物質を同定する飛行時間型質量分析手段と、
を備えた化学物質検出装置において、
前記イオン化手段は、イオンが通過する孔を有する仕切り壁により、イオン生成用の第1空間とイオン蓄積用の第2空間とに仕切られており、前記第1空間には、前記真空紫外光発生手段が具備されており、前記第2空間中には、前記イオントラップが配置されており、前記第1空間中で生成されたイオンを前記第2空間中の前記イオントラップ中に引き込む引き込み電極が設けられている、ことを特徴とする化学物質検出装置。Ionization means for ionizing the sample gas with vacuum ultraviolet light generated from the vacuum ultraviolet light generation means,
Of the ions ionized by the vacuum ultraviolet light, an ion trap that accumulates ions of a specific mass,
Time-of-flight mass spectrometry means for accelerating the ions accumulated in the ion trap and identifying the chemical substance of the specific mass in the sample gas based on the time of flight of the accelerated ions,
In the chemical substance detection device provided with
The ionization means is partitioned into a first space for ion generation and a second space for ion accumulation by a partition wall having a hole through which ions pass, and the first space has the vacuum ultraviolet light generation space. Means are provided, and the ion trap is disposed in the second space, and a drawing electrode for drawing ions generated in the first space into the ion trap in the second space is provided. A chemical substance detection device provided.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000385982A JP3572256B2 (en) | 2000-12-19 | 2000-12-19 | Chemical substance detection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000385982A JP3572256B2 (en) | 2000-12-19 | 2000-12-19 | Chemical substance detection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181790A JP2002181790A (en) | 2002-06-26 |
| JP3572256B2 true JP3572256B2 (en) | 2004-09-29 |
Family
ID=18853157
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000385982A Expired - Fee Related JP3572256B2 (en) | 2000-12-19 | 2000-12-19 | Chemical substance detection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3572256B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0319347D0 (en) | 2003-08-18 | 2003-09-17 | Micromass Ltd | Mass Spectrometer |
| JP2007171064A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Nippon Steel Corp | Jet-REMPI system for gas analysis |
| WO2011106656A1 (en) * | 2010-02-26 | 2011-09-01 | Purdue Research Foundation (Prf) | Systems and methods for sample analysis |
| EP2825875B1 (en) * | 2012-03-13 | 2019-05-08 | MKS Instruments, Inc. | Trace gas concentration in art ms traps |
-
2000
- 2000-12-19 JP JP2000385982A patent/JP3572256B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002181790A (en) | 2002-06-26 |
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