JP3580211B2 - Local processing unit - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被処理物の表面をエッチング、アッシング、改質し又は薄膜を形成する表面処理技術に関し、特に大気圧又はその近傍の圧力下でプラズマに生成される励起活性種を用いて局所的に表面処理をする局所処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、大気圧付近の圧力下でのプラズマ放電により生成される励起活性種を利用することによって、真空設備を必要とせずに低コストで被処理物の表面を様々に処理することができる表面処理技術が知られている。大気圧下でのプラズマによる表面処理には、電極と被処理物間で直接気体放電を生じさせ、これにより発生するプラズマに直接曝露させる直接放電方式と、一対の電極間での気体放電によりプラズマを発生させ、それにより生成される励起活性種に被処理物を曝露させる間接放電方式とがある。
【0003】
間接放電方式は、直接放電方式に比して処理レートが低いので高出力を要求される場合があるが、チャージアップによる被処理物の損傷の虞がない点で有利である。このような大気圧プラズマに局所表面処理に適した表面処理装置の典型例が、特開平9−232293号公報に開示されている。この従来装置は、例えば内径1mm以下の狭小な断面を有するガラス等の誘電体材料からなる細い放電管と、当該放電管を挟むように対向配置された一対の電極とを備え、放電管先端のノズル部を被処理物の表面に向けて配置する。ガス供給源から放電管内に所定のガスを導入しつつ、両電極間で気体放電を発生させることにより生成される励起活性種を含む反応性ガスを、ノズル部から細いガス流として被処理物表面に噴射する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来においては以下のような問題があった。
【0005】
放電管を挟むように対向配置された一対の電極が直線的に臨めるように対向配置された場合に電極間に高電圧を印加すると、放電管の表面を介して電流が流れる沿面放電が発生するおそれがある。このように放電管表面で沿面放電が発生すると、放電管内で気体放電が発生せず、また発生した気体放電が不安定となるため、励起活性種が生成されず表面処理が行えなくなるという問題があった。
【0006】
また、上記したプラズマにより生成される励起活性種は、一般に大気圧下では不安定で寿命が短く、非常に短時間で元の安定した状態に戻る傾向がある。そのため、上述した間接放電式の表面処理では、放電領域とノズル又はガス吹出し口間の距離をできる限り短くして、常に十分な量の励起活性種が被処理物表面に到達し得るようにする必要がある。このため、上記した放電管を挟む一対の電極を被処理物表面の近傍となるようガスの吹出口側に設ける必要がある。そして、前記放電管は、電磁的なシールドを行わせるため金属材料のケーシングにて覆わせることがあるが、上記したように放電管を挟む一対の電極はガスの吹出口側に設けるため、ケーシング底部と近接して対向するように設けられることになる。このため、ケーシングと電極とが近接して直線的に臨める場合、電極とケーシングとの間に異常放電が発生するおそれがあった。このような異常放電が発生すると、放電管内で気体放電が発生しないため、励起活性種が生成せず表面処理が行えなくなるという問題があった。
【0007】
特に、30MHz以上の出力周波数の高周波電力で気体放電を発生させる場合には、高周波電力が電極の表面を伝導するため、上記した異常放電や沿面放電の発生率が高くなり、高周波電力の伝導効率が低くなるという問題があった。
【0008】
本発明の目的は、沿面放電や異常放電を防止することにより、気体放電を安定的に効率よく発生させることで表面処理効率を向上させることのできる局所処理装置を提供することにある。
【0009】
また、本発明の他の目的は、高周波電力の伝導効率を高めて表面処理効率を向上させることのできる局所処理効率を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る局所処理装置においては、電磁的遮蔽をなすケーシングを有し、当該ケーシング内に処理用気体を流通させる放電管を設け、当該放電管の両側に一対の電極を対向配置して、前記放電管と前記一対の電極との間に配置した仕切り部と、前記一対の電極の下部を覆う受け部とからなる逆T字形状の誘電体である保護部材を設けた構成とした。
また、前記前記一対の電極の下部を覆う受け部の長さと幅は、前記逆T字形状の誘電体の前記仕切り部により仕切られた各々について、前記受け部に突接する前記一対の電極の中で対応する電極の底面の長さより長く、前記受け部に突接する前記一対の電極の中で対応する電極の底面の幅より長い。
また、前記逆T字形状の誘電体の、前記一対の電極との間に配置した前記仕切り部は、中心軸部に前記放電管を貫通させる穴を設け、前記仕切り部の幅は、前記一対の電極の厚みの2倍以上に形成した。
このため、電極同士とケーシングとが遮断されることにより沿面放電や異常放電が発生せず、気体放電を安定的に効率よく発生させることができる。また、保護部材は誘電体で形成されるため、一対の電極の静電容量が増加して、放電管内における気体放電の発生率を上昇させることができる。特に、出力周波数が30MHz以上の場合には、高周波電力が電極の表面部を伝導するが、電極同士とケーシングとが保護部材により遮断されているため、効果的に高周波電力を伝導することができ、気体放電の発生効率を上昇させることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明の局所処理装置の実施形態について図面に従って詳細に説明する。
【0012】
図1は本実施形態における局所処理装置20の断面図である。本実施形態における局所処理装置20はケーシング部材21を有している。前記ケーシング部材21は、上部ケーシング部材22、中部ケーシング部材24、下部ケーシング部材26、底部ケーシング部材28にて形成される。前記上部〜底部ケーシング部材22,24,26,28は、それぞれ略角柱形状のブロック体のセンター部を略円筒形状に刳り抜いたものである。前記ケーシング部材21は、前記上部〜底部ケーシング部材22,24,26,28の刳り抜き部が芯合わせされるように密接してなっている。このように、ケーシング部材21は前記上部〜底部ケーシング部材22,24,26,28の一部を省略したり追加したりできるため、ケーシング部材21のサイズを内部に入れ込む部材に合わせて調節することができる。本実施形態においては、ケーシング部材21はアルミなどの金属材料にて形成し、電磁波の遮蔽をなしているのである。なお、ケーシング部材21の材料としては、アルミに限らずシールド機能を有する材質のものであればよい。
【0013】
前記ケーシング部材21の軸心上には直管状の放電管40が配置されている。前記放電管40は上端部を上部ケーシング部材22の軸心上に位置し、放電管40下端部を底部ケーシング部材28内壁面に臨ませている。一方、前記放電管40下端部に対向する底部ケーシング部材28の対向面には、ノズルチップ44が外部に突出する形で着脱自在に設けられ、当該ノズルチップ44に前記放電管40の下端部がはめ込まれている。このように、放電管40とノズルチップ44とを分離可能に形成させたことにより、ノズルチップ44を異なる孔径のものに交換することができる。このため、表面処理を行わせる領域や形状に応じて最適な孔径のノズルで表面処理を行うことができる。また、ノズルチップ44の材料としては、ステンレス(SUS)やアルミが好ましい。
【0014】
前記ノズルチップ44は底部ケーシング部材28内に上端部を突出させている。前記ノズルチップ44の上端部は略円筒形状に形成したノズルホルダ42に螺着され、これによりノズルチップ44が固定保持される。ノズルホルダ42の材質としては、ステンレス(SUS)やアルミが好ましい。
【0015】
前記放電管40は、下部ケーシング部材26に対向する面の周囲を保護部材36にて覆わせている。前記保護部材36は、受け部37の中央部に仕切り部39を一体的に垂設した逆T字形状をなしている。前記保護部材36は仕切り部39の中心軸部に放電管40を貫通させ、放電管40の保護をなしている。そして、保護部材36は、受け部37下面を前記ノズルホルダ42の上面に当接され、ノズルホルダ42にて支持される。
【0016】
前記保護部材36は、図2(a)に示したように仕切り部39両面39a,39bの図2(a)の上下方向中央にそれぞれ一対の棒状電極46,48を当接させている。前記一対の棒状電極46,48はそれぞれ略直方形状をなしている。そして、前記一対の棒状電極46,48は、前記保護部材36の仕切り部39を挟み込むように対向配置している。すなわち、図2(a)に示すように前記棒状電極46と保護部材36と棒状電極48とが上面視一直線状となるように配置している。前記仕切り部39軸心部に放電管40を上下方向に貫通させて、当該放電管40の貫通部分内で気体放電を発生させるのである。このように、前記一対の棒状電極46,48はノズルチップ44近傍に配置しているため、気体放電により発生した励起活性種が直ちにノズルチップ44から外部へ放出することができる。このため、ノズルチップ44近くに配置する被処理物表面に十分な量の励起活性種を到達させることができる。
【0017】
また、受け部37の長手方向の長さは棒状電極46,48の長手方向の長さより長く形成している。これにより、両電極46,48の設置面積を確保させている。特に、高周波電圧を印加される棒状電極46は、底部ケーシング部材28を直線的に臨めないため、棒状電極46が底部ケーシング部材28と短絡することを防止できる。前記保護部材36はアルミナや石英にて形成しており、両電極46,48の絶縁を保持させている。なお、保護部材36の材料としては、絶縁体材料であればこれに限られない。
【0018】
そして、前記保護部材36の仕切り部39の高さは、図2(b)に示すように、前記棒状電極46,48よりも高く形成してある。また、前記保護部材36の仕切り部39a,39bは前記棒状電極46,48の厚み方向に対して2倍以上に十分長く形成している。これにより、棒状電極46,48同士が直線的に臨めないようにしている。棒状電極46,48同士が直線的に臨めると、棒状電極46,48に印加させる際に、保護部材36の表面(沿面)を伝って導通してしまう沿面放電が発生するおそれがある。沿面放電が発生すると、放電管40内での気体放電が発生せずまたは発生した気体放電を停止させてしまう。上記したように、前記保護部材36の仕切り部39は、前記棒状電極46、48の厚み方向に対して十分長く形成しているため、沿面放電を防止することができる。このため、放電管40内を介した気体放電を確実に発生させることができ、また発生した気体放電を安定して持続させることができる。
【0019】
前記棒状電極46,48はアルミにて形成しており、それぞれ表面に金めっきを施している。これにより、棒状電極46,48の酸化による腐食を防止させることができる。また、金は高い導電性を有しているため、棒状電極46,48の伝導効率を向上させることができる。また、棒状電極46,48の性能の劣化を防止することができる。
【0020】
前記棒状電極46背面と、ケーシング部材21内壁面との間には、ホルダ部材50が介在している。前記ホルダ部材50は基端部を下部ケーシング部材26内壁面に当接し、ホルダ部材50の先端部を前記棒状電極46の背面部に当接させている。これにより、棒状電極46が保護部材36側に位置決め保持されている。前記ホルダ部材50の材質としては、アルミナや石英を好ましく用いることができるが、絶縁体材料であればこれに限られない。
【0021】
これに対して、他方の棒状電極48は、下部ケーシング部材21の外表面まで露出した延長電極49に一体的に連結されている。前記延長電極49は、図示しないアース経路に接続されている。これにより、棒状電極48の接地が確保され、ケーシング部材21内において短絡を防止させることができる。
【0022】
前記保護部材36の上には、略円柱形状の中間部材34が配置されている。前記中間部材34は側面部を中部ケーシング部材24の内壁面に対向するよう配置している。そして、前記中間部材34は下面を前記保護部材36の仕切り部39の上面に当接して、前記保護部材36の位置決めをなしているのである。また、前記中間部材34の中心軸部には貫通孔が設けられ、当該貫通孔内に放電管40を挿入させて当該放電管40を保護しているのである。前記中間部材34は、テフロンやマイカ系セラミックスにて形成され、これにより放電管40外部への絶縁を保持させている。なお、前記中間部材34としては、テフロンやマイカ系セラミックスが好ましいが、絶縁体材料であればこれに限られない。
【0023】
前記中間部材34の上側には、絶縁部材32が配置されている。前記絶縁部材32は前記上部ケーシング部材22の刳り抜き部に対応する略円柱形状をなしている。前記絶縁部材32は前記上部ケーシング部材32の刳り抜き部にはめ込まれている。これにより、ケーシング部材21の上面方向における密閉がなされ、ケーシング部材21内部に密閉空間を形成させることができる。絶縁部材32の上面は断面凹部形状に形成してあり、当該凹部底面は前記中間部材34上面に対応させて形成している。そして、絶縁部材32の下面は下方に張り出した断面逆凸部形状に形成してあり、当該逆凸部下面にて中間部材34上面と当接させている。前記絶縁部材32は周面部に開口したガス流入孔33を有している。上部ケーシング部材22の一側面部にも、図示しないガス供給源に接続したガス流入パイプ62が設けてあり、当該ガス流入パイプ62の先端部を前記ガス流入孔33の上開口部に対応させている。前記ガス流入孔33は前記上開口部から絶縁部材32の軸中心方向に向って伸び、当該軸中心部にて軸心に沿って下方へ屈曲する。そして、前記ガス流入孔33は前記絶縁部材32の下面まで達し、当該下面部にて下開口部を有している。前記絶縁部材32下面部のガス流入孔33の下開口部には、放電管40の上端部が挿入される。このため、ガス流入パイプ62から流入された処理気体がガス流入孔33を介して放電管40上部に送り出されるのである。また、前記ガス流入孔33下開口部の内壁面は、円筒形状の押え部材35が形成されている。前記押え部材35には内側フランジが形成してあり、当該内側フランジが前記放電管40上部に当接して下方向に付勢する。このため、前記放電管40の位置決めをなすことができるのである。前記絶縁部材32はテフロンにて形成され、絶縁保持を行わせている。なお、前記絶縁部材32は、絶縁体材料であればこれに限られない。
【0024】
また、前記上部ケーシング部材22上面の軸中心方向からリード30が挿入配置されている。前記リード30は、前記絶縁部材32上面付近にて直径方向に屈曲する。そして、絶縁部材32の上面凹部内壁面に沿って下降し、絶縁部材32を貫通する。上記したように絶縁部材32の上面凹部底面は中間部材34上面に対応して形成しているため、前記絶縁部材32を貫通するリード30は、中間部材34の側面に当接するように下降する。これにより中間部材34にてリード30の保護を行わせることができる。前記リード30は、さらに下方に伸びて棒状電極46に接続する。これにより、リード30は棒状電極46との電気的導通が確保される。そして、前記リード30は下端部を保護部材36の受け部37aに当接し、伝導効率を向上させるのである。
【0025】
前記リード30は、複数の板状部材にて形成し、当該複数の板状部材を積層配置させてなっている。本実施形態においては、前記リード30は、前記板状部材を3枚積層配置させたものとしている。そして、本実施形態においては、リード30の上端部が、図示しない高周波電源に接続している。本実施形態においては、高周波電源の出力周波数が40.68MHzのものを用いている。図示しない高周波電源から出力される高周波電力は、前記リード30の上端部から棒状電極46に伝導されるが、このような高周波電力はリード30の内部ではなくリード30の表面部を伝導する。上記したように、リード30は複数の板状部材を積層配置している。このため、高周波電力は積層させた板状部材の間隙を介してそれぞれの板状部材の表面部を伝導する。本実施形態においては、3枚の板状部材を積層配置させているため、高周波電力の伝導効率を3倍化させることができる。これにより、気体放電を発生させるのに十分な高周波電圧を棒状電極46に印加させることができ、高周波電圧にて気体放電を行わせることができるのである。
【0026】
また、前記リード30は銅にて形成され、表面に金めっきを施している。これにより、前記リード30の酸化を防止して安定的に高周波電力を伝導させることができる。
【0027】
また、前記ケーシング部材21と、リード30及び棒状電極46そして前記保護部材36及び中間部材34との間は、中空領域60が設けられている。前記伝導経路の周囲をマイカ系セラミックスなどの誘電体で囲って絶縁する形態も考えられる。しかし、図3(b)に示したように、大気雰囲気中よりも誘電体(絶縁体)であるマイカ系セラミックスの方が、比誘電率は5倍以上大きい。このように、ケーシング部材21内を誘電体で充填する構成とするよりも、中空領域60を設けて絶縁空間を形成させる方が、高周波電力を伝導する際の絶縁保持を効果的に行えることに本願発明者は着目した。このように中空領域60を形成させたため、高周波電力伝導時における絶縁保持が効果的になされ、もれ電流を最小化することができる。
【0028】
また、下部ケーシング部材26の一側面部には空気供給管52を突設するとともに、下部ケーシング部材26の他側面部には空気放出管54を突設している。空気供給管52より冷却空気をケーシング部材21内に案内する。そして、ケーシング部材21内の中空領域60を通ってケーシング部材21内部の熱交換を行い、空気放出管54よりケーシング部材21外部に放出される。これにより、電極のプラズマ生成過程における過熱状態を防止することができ、ケーシング部材21内部の温度を一定に保持することができ、放電を安定させることができる。電極部の熱膨張等による破損を防止することができる。なお、ケーシング部材21内の電極部を空冷できるような構造であれば特に上記構造に限られない。
【0029】
以上のように構成した局所処理装置20の作用は以下のようになる。被処理物の表面処理を行う場合には、局所処理装置20はノズルチップ44の先端を図示しない被処理物の上方に臨ませている。
【0030】
表面処理を行うための処理用気体は上部ケーシング部材22側壁に設けたガス流入パイプ62よりケーシング部材21内に流入する。この処理用気体は絶縁部材32のガス流入孔33を介して放電管40上部に流入し、放電管40内を下方に進行する。一方、前記放電管40に対向配置した棒状電極46には上記したように高周波電圧が印加される。このような高周波電圧を棒状電極46に印加すると、棒状電極46,48に挟まれた真空管40内で電子が高周波振動する。上気したように、前記真空管40内には処理用気体が流入しているため、前記高周波振動する電子が処理用気体に衝突してプラズマ化され、励起活性種のプラズマが発生する。従って、高密度のプラズマを発生させることができるとともに、プラズマの生成率を高くすることができ、異常放電を起こりにくくすることができる。前記励起活性種はノズルチップ44の先端より、直ちに被処理物の表面上に送りだすことができる。このため、十分な励起活性種を被処理物上に送り出し、被処理物の表面処理を行わせることができる。被処理物としては半導体チップ、ウエハ等がある。処理工程としては、エッチング、アッシング、被処理物表面の改質や薄膜形成等があるが、特に用途はこれに限られない。
【0031】
図3(a)に実施例である局所処理装置20と比較例の局所処理装置におけるアッシングレイトの比較図を示す。実施例は保護部材36にて一対の46,48とケーシング部材21とを遮断した電極局所処理装置20であり、比較例は前記保護部材36を有さない局所処理装置である。処理条件としては、He流量は2l/minであり、O2流量は30ml/minである。ノズルチップ先端から被処理物までの距離は、0.5mm程度である。ノズルチップの外径は3.0mmであり、内径は1.5mmである。上記処理条件において実施例と比較例のアッシングレイトを比較すると、図3(a)に示すように同じ出力でも処理効率を3倍以上に上昇させることができるという結果を得た。
【0032】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る局所処理装置においては、電磁的遮蔽をなすケーシングを有し、当該ケーシング内に処理用気体を流通させる放電管を設け、当該放電管の両側に一対の電極を対向配置して、前記放電管と前記一対の電極との間に配置した仕切り部と、前記一対の電極の下部を覆う受け部とからなる逆T字形状の誘電体である保護部材を設けたため、電極同士とケーシングとが遮断されることにより沿面放電や異常放電が発生せず、気体放電を安定的に効率よく発生させることができる。また、保護部材は誘電体で形成されるため、一対の電極の静電容量が増加して、放電管内における気体放電の発生率を上昇させることができる。特に、出力周波数が30MHz以上の場合には、高周波電力が電極の表面部を伝導するが、電極同士とケーシングとが保護部材により遮断されているため、効果的に高周波電力を伝導することができ、気体放電の発生効率を上昇させることができる。
【0033】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態における局所処理装置を示す断面図である。
【図2】本発明の実施形態における局所処理装置の要部上面図及び斜視図である。
【図3】本発明における局所処理装置の処理効率と材質の比誘電率を示す説明図である。
【符号の説明】
20………局所表面処理装置
21………ケーシング部材
22………上部ケーシング部材
24………中部ケーシング部材
26………下部ケーシング部材
28………底部ケーシング部材
30………リード
32………絶縁部材
33………ガス流入孔
34………中間部材
35………押え部材
36………保護部材
37………受け部
39………仕切り部
40………放電管
42………ノズルホルダ
44………ノズルチップ
46………棒状電極
48………棒状電極
49………延長電極
50………ホルダ部材
52………空気供給管
54………空気放出管
60………中空領域
62………ガス流入パイプ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a surface treatment technique for etching, ashing, modifying, or forming a thin film on a surface of an object to be treated, and in particular, locally using an excited active species generated in a plasma at or near atmospheric pressure. The present invention relates to a local processing apparatus for performing a surface treatment on an object.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, by using excited active species generated by plasma discharge under a pressure near the atmospheric pressure, a surface capable of variously treating the surface of an object to be processed at low cost without requiring vacuum equipment. Processing techniques are known. For surface treatment with plasma under atmospheric pressure, a gas discharge is directly generated between the electrode and the object to be processed, and the plasma is directly exposed to the generated plasma. And an indirect discharge method in which an object to be processed is exposed to excited active species generated thereby.
[0003]
The indirect discharge method requires a high output because the processing rate is lower than that of the direct discharge method. However, the indirect discharge method is advantageous in that there is no risk of damage to the workpiece due to charge-up. A typical example of a surface treatment apparatus suitable for local surface treatment for such atmospheric pressure plasma is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-232293. This conventional device includes, for example, a thin discharge tube made of a dielectric material such as glass having a narrow cross section having an inner diameter of 1 mm or less, and a pair of electrodes arranged to face each other so as to sandwich the discharge tube. The nozzle portion is arranged facing the surface of the workpiece. A reactive gas containing excited active species generated by generating a gas discharge between both electrodes while introducing a predetermined gas from a gas supply source into a discharge tube is converted into a thin gas flow from a nozzle portion on the surface of the workpiece. Spray.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, conventionally, there were the following problems.
[0005]
When a high voltage is applied between the electrodes when a pair of electrodes facing each other with the discharge tube interposed therebetween are linearly facing each other, a creeping discharge in which a current flows through the surface of the discharge tube occurs. There is a risk. When creeping discharge occurs on the discharge tube surface in this way, gas discharge does not occur in the discharge tube, and the generated gas discharge becomes unstable. Therefore, there is a problem that excited active species are not generated and surface treatment cannot be performed. there were.
[0006]
Excited active species generated by the above-described plasma are generally unstable under atmospheric pressure, have a short life, and tend to return to an original stable state in a very short time. Therefore, in the surface treatment of the indirect discharge type described above, the distance between the discharge region and the nozzle or the gas outlet is made as short as possible so that a sufficient amount of excited active species can always reach the surface of the workpiece. There is a need. For this reason, it is necessary to provide a pair of electrodes sandwiching the above-mentioned discharge tube on the gas outlet side so as to be near the surface of the workpiece. The discharge tube may be covered with a casing made of a metal material to provide electromagnetic shielding.However, as described above, a pair of electrodes sandwiching the discharge tube are provided on the gas outlet side, It will be provided so that it may be closely opposed to the bottom. For this reason, when the casing and the electrode can approach each other linearly, abnormal discharge may occur between the electrode and the casing. When such abnormal discharge occurs, gas discharge does not occur in the discharge tube, so that there is a problem that no excited active species are generated and surface treatment cannot be performed.
[0007]
In particular, when gas discharge is generated with high-frequency power having an output frequency of 30 MHz or more, since the high-frequency power is conducted on the surface of the electrode, the occurrence rate of the abnormal discharge and creeping discharge described above increases, and the conduction efficiency of high-frequency power is increased. There was a problem that it became low.
[0008]
An object of the present invention is to provide a local processing apparatus capable of improving surface treatment efficiency by stably and efficiently generating gas discharge by preventing creeping discharge and abnormal discharge.
[0009]
Another object of the present invention is to provide a local processing efficiency capable of improving the surface treatment efficiency by increasing the conduction efficiency of high frequency power.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the local processing apparatus according to the present invention has a casing that forms an electromagnetic shield, a discharge tube that circulates a processing gas in the casing, and a pair of discharge tubes on both sides of the discharge tube. A protection member, which is an inverted T-shaped dielectric, comprising a partition portion disposed between the discharge tube and the pair of electrodes with the electrodes facing each other, and a receiving portion covering a lower portion of the pair of electrodes. Was provided.
Further, the length and width of the receiving portion covering the lower portion of the pair of electrodes are, for each of the partitions separated by the partition portion of the inverted T-shaped dielectric, between the pair of electrodes projecting against the receiving portion. And the length of the bottom surface of the corresponding electrode is longer than the width of the bottom surface of the corresponding electrode in the pair of electrodes protruding from the receiving portion.
Further, the partition portion of the inverted T-shaped dielectric, which is disposed between the pair of electrodes, is provided with a hole through the central axis portion to penetrate the discharge tube, and the width of the partition portion is the width of the pair. The electrode was formed to be twice or more the thickness of the electrode.
For this reason, since the electrodes and the casing are cut off from each other, creeping discharge and abnormal discharge do not occur, and gas discharge can be generated stably and efficiently. Further, since the protective member is formed of a dielectric, the capacitance of the pair of electrodes increases, and the rate of occurrence of gas discharge in the discharge tube can be increased. In particular, when the output frequency is 30 MHz or more, high-frequency power is transmitted through the surface of the electrode, but since the electrodes are shielded from the casing by the protective member, the high-frequency power can be effectively transmitted. As a result, the efficiency of generating gas discharge can be increased.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the local processing apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0012]
FIG. 1 is a cross-sectional view of the
[0013]
A
[0014]
The
[0015]
The
[0016]
As shown in FIG. 2A, the
[0017]
The length of the receiving
[0018]
The height of the
[0019]
The rod-shaped
[0020]
A
[0021]
On the other hand, the other rod-shaped
[0022]
A substantially cylindrical
[0023]
An insulating
[0024]
A lead 30 is inserted and arranged from the axial center direction of the upper surface of the
[0025]
The
[0026]
The
[0027]
A
[0028]
An
[0029]
The operation of the
[0030]
The processing gas for performing the surface treatment flows into the
[0031]
FIG. 3A shows a comparison diagram of the ashing rate between the
[0032]
【The invention's effect】
As described above, the local processing apparatus according to the present invention includes a casing that forms an electromagnetic shield, a discharge tube that circulates a processing gas in the casing, and a pair of electrodes on both sides of the discharge tube. And a protection member, which is an inverted T-shaped dielectric, comprising a partition portion disposed between the discharge tube and the pair of electrodes and a receiving portion covering a lower portion of the pair of electrodes. Therefore, a creeping discharge or an abnormal discharge does not occur due to the cutoff between the electrodes and the casing, and the gas discharge can be stably and efficiently generated. Further, since the protective member is formed of a dielectric, the capacitance of the pair of electrodes increases, and the rate of occurrence of gas discharge in the discharge tube can be increased. In particular, when the output frequency is 30 MHz or higher, the high-frequency power is transmitted through the surface of the electrode, but since the electrodes are shielded from the casing by the protective member, the high-frequency power can be effectively transmitted. As a result, the efficiency of generating gas discharge can be increased.
[0033]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a sectional view showing a local processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a top view and a perspective view of a main part of the local processing apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the processing efficiency and relative permittivity of a material of the local processing apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
20 Local
Claims (3)
当該ケーシング内に処理用気体を流通させる放電管を設け、当該放電管を誘電体製保護部材で覆い、その両側に一対の電極を対向配置した局所処理装置であって、
前記誘電体製保護部材は、前記放電管と前記一対の電極との間に配置した仕切り部と、前記一対の電極の下部を覆う電極の受け部とからなる、一体の逆T字形状をなし、
前記電極の受け部は、前記一対の電極の下部と、該下部に対応する側の前記ケーシングとの間に設けたことを特徴とする局所処理装置。It has a casing that forms an electromagnetic shield,
A local processing apparatus in which a discharge tube for flowing a processing gas is provided in the casing, the discharge tube is covered with a dielectric protection member, and a pair of electrodes is disposed on both sides of the discharge tube so as to face each other.
The dielectric protection member has an integral inverted T-shape including a partition portion disposed between the discharge tube and the pair of electrodes, and a receiving portion for an electrode covering a lower portion of the pair of electrodes. ,
The local processing apparatus according to claim 1, wherein a receiving portion of the electrode is provided between a lower portion of the pair of electrodes and the casing corresponding to the lower portion .
前記逆T字形状の誘電体の前記仕切り部により仕切られた各々について、
前記受け部に突接する前記一対の電極の中で対応する電極の底面の長さより長く、
前記受け部に突接する前記一対の電極の中で対応する電極の底面の幅より長いことを特徴とする請求項1記載の局所処理装置。The length and width of the receiving part of the electrode are
For each of the inverted T-shaped dielectrics partitioned by the partition,
Longer than the length of the bottom surface of the corresponding electrode in the pair of electrodes projecting against the receiving portion,
2. The local processing apparatus according to claim 1, wherein a width of the pair of electrodes abutting on the receiving portion is longer than a width of a bottom surface of a corresponding electrode. 3.
前記仕切り部の幅は、前記一対の電極の厚みの2倍以上に形成したことを特徴とする局所処理装置。2. The partition of the inverted T-shaped dielectric according to claim 1, which is disposed between the inverted T-shaped dielectric and the pair of electrodes, a hole is provided in a central shaft portion through which the discharge tube passes,
The width of the partition portion is formed to be at least twice as large as the thickness of the pair of electrodes.
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