JP3587950B2 - Electromagnetic interference measurement device - Google Patents
Electromagnetic interference measurement device Download PDFInfo
- Publication number
- JP3587950B2 JP3587950B2 JP35725796A JP35725796A JP3587950B2 JP 3587950 B2 JP3587950 B2 JP 3587950B2 JP 35725796 A JP35725796 A JP 35725796A JP 35725796 A JP35725796 A JP 35725796A JP 3587950 B2 JP3587950 B2 JP 3587950B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electromagnetic interference
- digital device
- magnetic field
- measurement
- antenna
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は電磁障害測定装置に関し、特にディジタル装置から発生する電磁波ノイズを測定できる電磁障害測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
添付資料1の特開平6−58970に示されているようにいくつかのループアンテナを碁盤目状に並べ近傍磁界を測定する方法、あるいは直線ステージでループアンテナの位置制御を行って近傍磁界を測定する方法が提案されている。これらの測定手法は大まかな近傍磁界の強度分布を調べるのには有効であるが、ディジタル回路では非周期波形であるため、ディジタル波形のどのタイミングで妨害電磁波が発生するかが不明であった。
従来、電子部品が実装された回路基板におけるノイズ発生源を調べるための電磁波障害測定装置(以下、EMI測定装置という。)として、特開平6−58970号公報に示されているように、複数のループアンテナを碁盤目状に配置してなる測定台上に測定対象物である回路基板を載せて磁界を測定するものや、直線ステージでループアンテナの位置制御を行って近傍磁界を測定するものが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した従来のEMI測定装置では、回路基板の近傍の磁界の強度分布を調べることにより、回路基板のどの部分がノイズ発生源であるかを大まかに知ることはできても、ディジタル装置では信号波形が非周期波形であるため、ディジタル装置の各測定点においてどのようなタイミングで電磁波ノイズが発生するかを測定することはできなかった。
本発明の課題は、上記従来の技術の欠点を解消し、ディジタル装置の全ての測定点において、ディジタル装置の動作とループアンテナによる磁界測定動作とを同期させ、ディジタル装置に同一のシーケンス処理を実行させて測定を行うことにより、各測定点でどのようなタイミングで電磁波ノイズが発生するかを測定することができるEMI測定装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項1記載の発明は、測定対象物であるディジタル装置の各測定点にループアンテナを移動させて回路近傍の磁界を測定するEMI測定装置において、前記ループアンテナを順次測定点に移動させる移動手段と、前記ループアンテナが測定点に移動する毎に、前記ディジタル装置にタイミング信号を与えて予め決められたシーケンス処理を行なわせるタイミング制御手段と、前記ディジタル装置から放射される電磁波を所定の位置で検出するEMI測定用アンテナと、該EMI測定用アンテナによる測定値とEMI規制値とを比較し、測定値がEMI規制値を越えたときにトリガ信号を発生する比較手段と、当該比較手段からのトリガ信号に基づいて、当該測定値がEMI規制値を越えたときのタイミング情報を記録するための記憶手段と、当該記憶手段に記録されているタイミング情報に基づいて、当該測定値がEMI規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけを前記ディジタル装置に実行させるべく前記タイミング制御手段に指示を与えてタイミング信号を発生を発生させるとともに、前記ディジタル装置がシーケンス処理を実行している間に前記ループアンテナにより磁界を測定する中央制御装置と、を備えたものである。
また、請求項2記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記中央制御装置に、予め前記ディジタル装置の各測定点にループアンテナを移動させて磁界を測定し、所定の周波数でEMI規制値を越える電磁波が発生するタイミング情報を取得しておき、そのタイミング情報に基づいて、前記ディジタル装置が前記所定の周波数でEMI規制値を越える電磁波を発生させたときに行なっていたシーケンス処理だけを前記ディジタル装置に実行させるべく前記タイミング制御手段に指示を与える機能を持たせたものである。
また、請求項3記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記EMI測定用アンテナを前記ディジタル装置の周囲を全周に亘って移動可能に構成したものである。
また、請求項4記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記中央制御装置に、予め前記ディジタル装置の各測定点にループアンテナを移動させて磁界を測定し、EMI規制値を越える電磁波が発生するタイミング情報を取得しておき、そのタイミング情報に基づいて、前記ディジタル装置がEMI規制値を越える電磁波を発生する頻度が所定値よりも高かったインストラクションだけを前記ディジタル装置に実行させるべく、前記タイミング制御手段に指示を与える機能を持たせたものである。
また、請求項5記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記中央制御装置に、前記ディジタル装置で実行されるインストラクションを識別し、所定のインストラクション実行時の測定結果は磁界発生情報として取り込まないようにする機能を持たせたものである。
また、請求項6記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記ループアンテナによる測定磁界を周波数成分に変換するフーリエ変換装置と、該フーリエ変換装置により変換されたそれぞれの周波数成分毎に振幅及び位相の較正を行うアンテナ較正係数補正と、該アンテナ較正係数補正により較正された測定磁界の周波数成分から前記ディジタル装置の近傍における磁界波形を求めるフーリエ逆変換装置と、を備えたものである。
また、請求項7記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記ディジタル装置の複数の測定点における磁界測定結果を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶されている複数の磁界測定結果に基づいて前記ディジタル装置の電流分布を求める逆解析手段と、該逆解析手段により求めた電流分布情報から前記ディジタル装置の放射磁界を求める順解析装置と、を備えたものである。
また、請求項8記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記記憶手段に記録されているタイミング情報を、前記ディジタル装置を複数重ねた状態で前記EMI測定用アンテナにより電磁波を測定した際に測定値がEMI規制値を越えたときのタイミング情報としたものである。
また、請求項9記載の発明は、請求項1記載のEMI測定装置において、前記記憶手段に記録されているタイミング情報を、前記ディジタル装置に筐体を被せた状態で前記EMI測定用アンテナにより電磁波を測定した際に測定値がEMI規制値を越えたときのタイミング情報としたものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
〈請求項1に対応する実施の形態〉
図1は、請求項1記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図1において1は測定対象物であるディジタル装置、2はタイミング制御装置、3は中央制御装置、4はループアンテナ、5はループアンテナ移動装置、6はアンテナ較正係数補正装置、7はデータ記憶装置、8はEMI測定用アンテナ、9は比較装置である。
中央制御装置3は、CPU及びCPUで実行されるマイクロプログラムを記憶したROMを備えて構成され、タイミング制御装置2、ループアンテナ移動装置5、アンテナ較正係数補正装置6、データ記憶装置7、及び比較装置9を統括制御しつつ、近磁界プローブ4によりディジタル装置のEMI測定を行う。
EMI測定用アンテナ8は、ディジタル装置1からEMI規格で定められている距離だげ離れた位置で、ディジタル装置1から放射される電磁波ノイズを検出している。比較装置9は、EMI測定用アンテナ8により検出された電磁波ノイズがEMI規制値を超えたときだけ中央制御装置3にトリガー信号を送る。
中央制御装置3は、ループアンテナ4による磁界測定に先立ち、タイミング制御装置2により所定のタイミング信号を発生させて、ディジタル装置1に予め決められたシーケンス処理を実行させつつ、比較装置9からのトリガー信号を監視し、トリガー信号が送られてきたときのタイミング情報をデータ記憶装置7に記録する。
【0006】
そして、ループアンテナ4による磁界測定の際には、中央制御装置3は、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を順次所定の測定位置に移動させる。そして、ループアンテナ4が測定点に移動する毎に、タイミング制御装置2に近磁界プローブ4の移動が完了したことを知らせる。すると、タイミング制御装置2は所定のタイミング信号を発生させる。
このとき、中央制御装置3は、データ記憶装置7に記憶されているタイミング情報に基づいて、EMI測定用アンテナ8により検出された電磁波ノイズがEMI規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけをディジタル装置1に実行させるべく、タイミング制御装置2に指示を与えてタイミング信号を発生させる。このタイミング信号は、ディジタル装置1及び中央制御装置3に送られる。 ディジタル装置1は、タイミング信号に応じて予め決められたシーケンス処理を実行する。そして、中央制御装置3は、ループアンテナ4で発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正装置6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、その磁界発生情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
上記のように、ディジタル装置1から放射される電磁波ノイズをEMI測定用アンテナ8により測定して、ディジタル装置1がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を予め特定しておき、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置1に実行させて発生する磁界を測定することにより、それぞれの磁界測定点でどのようなタイミングで電磁妨害波が発生するのかを知ることができる。
【0007】
〈請求項2に対応する実施の形態〉
図2は、請求項2記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図2において1は測定対象物であるディジタル装置、2はタイミング制御装置、3は中央制御装置、4はループアンテナ、5はループアンテナ移動装置、6はアンテナ較正係数補正装置、7はデータ記憶装置、8はEMI測定用アンテナ、9は比較装置である。
この実施の形態のEMI測定装置は、請求項1に対応する図1のEMI測定装置と構成は同じてあるが、中央制御装置3は、上記の機能に加え、予め前記ディジタル装置1の各測定点にループアンテナ5を移動させて磁界を測定し、所定の周波数で電磁波障害規制値を越える電磁波が発生するタイミング情報を取得し、そのタイミング情報に基づいて、タイミング制御装置2に指示を与える機能を有している。また、データ記憶装置7は、ディジタル装置1の各測定点における測定結果をタイミング情報(測定時点を示す情報)とともに電磁波障害のサンプル値として記憶しておくための記憶領域を備えている。
中央制御装置3は、本測定に先立ち、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を、正常に動作することが予め確認されているディジタル装置1の幾つかの測定点に移動させて磁界を測定し、各測定結果をデータ記憶装置7に記憶させておき、本測定の際には、データ記憶装置7に記憶されているサンプル値とEMI規制値とを比較し、サンプル値がEMI規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけをディジタル装置1に実行させるべく、タイミング制御装置2によるタイミング信号の発生を制御する。そして、中央制御装置3は、ループアンテナ4で発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、その磁界発生情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
上記のように、ディジタル装置1がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置1に実行させて発生する磁界を測定することにより、EMI測定を効率良く行って測定時間を短縮化することができる。
【0008】
〈請求項3に対応する実施の形態〉
図3は、請求項3記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図3に示す装置構成は、図1の装置構成に加えて、EMI測定用アンテナ8を測定対象であるディジタル装置1に対して移動させるアンテナ移動装置10をさらに備えたものである。すなわち、EMI測定用アンテナ8は、ディジタル装置1の周囲を全周に亘って移動可能に構成されており、アンテナ移動装置10によって任意の位置に移動されるようになっている。
中央制御装置3は、ループアンテナ4による磁界測定に先立ち、タイミング制御装置2により所定のタイミング信号を発生させて、ディジタル装置1に予め決められたシーケンス処理を実行させる。そして、アンテナ移動装置10を制御して、EMI測定用アンテナ8をその移動軌跡がディジタル装置1を円筒状に囲むように移動させつつ、比較装置9からのトリガー信号を監視し、トリガー信号が送られてきたときのタイミング情報をデータ記憶装置7に記録する。これにより、ディジタル装置1を中心にして全ての方向に放射される電磁波ノイズを測定し、電磁波ノイズがEMI規制値を越えるタイミング情報を得ることができる。
【0009】
そして、ループアンテナ4による近磁界測定の際には、データ記憶装置7に記憶されているタイミング情報に基づいて、EMI測定用アンテナ8により検出された電磁波ノイズがEMI規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけをディジタル装置1に実行させるべく、タイミング制御装置2によるタイミング信号の発生を制御する。そして、中央制御装置3は、ループアンテナ4で発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、その磁界発生情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
上記のように、ディジタル装置1から全ての方向に放射される電磁波ノイズをEMI測定用アンテナ8により測定して、ディジタル装置1がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置1に実行させて発生する近磁界を測定することにより、任意の測定点でEMI規制値を超える近磁界の測定をより精度良く効率的に行うことができる。
【0010】
〈請求項4に対応する実施の形態〉
図4は、請求項4記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図4において1は測定対象物であるディジタル装置、2はタイミング制御装置、3は中央制御装置、4はループアンテナ、5はループアンテナ移動装置、6はアンテナ較正係数補正装置、7はデータ記憶装置、8はEMI測定用アンテナ、9は比較装置である。
この実施の形態のEMI測定装置は、請求項1に対応する図1のEMI測定装置と構成は同じてあるが、中央制御装置3は、上記の機能に加え、予めディジタル装置1の各測定点にループアンテナ4を移動させて磁界を測定し、電磁波障害規制値を越える電磁波が発生するタイミング情報を取得しておき、そのタイミング情報に基づいて、ディジタル装置1が電磁波障害規制値を越える電磁波を発生する頻度が所定値よりも高かったインストラクションだけをディジタル装置1に実行させるべく、タイミング制御装置2に指示を与える機能を有している。また、データ記憶装置7は、ディジタル装置1の各測定点における測定結果をタイミング情報(測定時点を示す情報)とともに電磁波障害のサンプル値として記憶しておくための記憶領域を備えている。
【0011】
中央制御装置3は、本測定に先立ち、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を、正常に動作することが予め確認されているディジタル装置1の幾つかの測定点に移動させて磁界を測定し、各測定結果をデータ記憶装置7に記憶させておき、本測定の際には、データ記憶装置7に記憶されているサンプル値とEMI規制値とを比較し、電磁波障害規制値を越える電磁波を発生する頻度が所定値よりも高かったインストラクションだけをディジタル装置1に実行させるべく、タイミング制御装置2によるタイミング信号の発生を制御する。そして、中央制御装置3は、ループアンテナ4で発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、その磁界発生情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
上記のように、ディジタル装置1がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生しやすいインストラクションを特定し、その特定されたインストラクションのみをディジタル装置1に実行させて発生する磁界を測定することにより、EMI測定をより精度良く且つ効率良く行って測定時間を短縮化することができる。
【0012】
〈請求項5に対応する実施の形態〉
図5は、請求項5記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図5に示す装置構成は、図1の装置構成に加えて、ディジタル装置1で実行されるインストラクションを識別し、通常の動作とは関係のない所定のインストラクション実行時、例えば割り込み処理などの実行時における測定結果は磁界発生情報として取り込まないようにする機能を有している。
中央制御装置3は、タイミング制御装置2、ループアンテナ移動装置5、アンテナ較正係数補正装置6、データ記憶装置7、及び比較装置9を統括制御しつつ、近磁界プローブ4によりディジタル装置のEMI測定を行う。
その際、中央制御装置3は、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を順次所定の測定位置に移動させる。そして、ループアンテナ4が測定点に移動する毎に、タイミング制御装置2にループアンテナ4の移動が完了したことを知らせる。
すると、タイミング制御装置2は所定のタイミング信号を発生させる。このタイミング信号は、ディジタル装置1及び中央制御装置3に送られる。ディジタル装置1は、タイミング信号に応じて予め決められたシーケンス処理を実行する。一方、中央制御装置3は、ディジタル装置1で実行されるインストラクション監視しつつ、ループアンテナ4で発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正装置6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、割り込み処理などの所定のインストラクションが実行された場合には、当該インストラクション実行中以外の近磁界情報だけをデータ記憶装置7に記憶させる。
以上のようにして、通常の動作と関係のない所定のインストラクションによる影響を排除し、常に通常のシーケンス処理実行中における電磁波ノイズだけを正確に測定することができる。
【0013】
〈請求項6に対応する実施の形態〉
図6は、請求項6記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図6に示す装置構成は、図1の装置構成に加えて、ループアンテナ4による測定磁界を周波数成分に変換するフーリエ変換装置11と、フーリエ変換装置11により変換されたそれぞれの周波数成分毎に振幅及び位相の較正を行うアンテナ較正係数補正装置12と、アンテナ較正係数補正装置12により較正された測定磁界の周波数成分をディジタル装置1の近傍における近磁界波形すなわち電流波形に変換するフーリエ逆変換装置13とをさらに備えたものである。
中央制御装置3は、タイミング制御装置2、プローブ移動装置5、ループアンテナ移動装置5、アンテナ較正係数補正装置6、データ記憶装置7、比較装置9、フーリエ変換装置11、アンテナ較正係数補正装置12、及びフーリエ逆変換装置13を統括制御しつつ、ループアンテナ4によりディジタル装置のEMI測定を行う。
その際、中央制御装置3は、プローブ移動装置5によりループアンテナ4を順次所定の測定位置に移動させる。そして、ループアンテナ4が測定点に移動する毎に、タイミング制御装置2にループアンテナ4の移動が完了したことを知らせる。すると、タイミング制御装置2は所定のタイミング信号を発生させる。このタイミング信号は、ディジタル装置1及び中央制御装置3に送られる。ディジタル装置1は、タイミング信号に応じて予め決められたシーケンス処理を実行する。一方、中央制御装置3は、ループアンテナ4がディジタル装置1からの電磁波ノイズを受けて発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正装置6により予め特定された周波数の磁界発生情報に変換し、その磁界発生情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
【0014】
また、中央制御装置3は、一連の磁界測定処理が終わって、ある時刻のある測定位置での近傍電流波形を測定したい場合、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を所定の位置に移動する。そして、タイミング制御装置2にタイミング信号発生指示を与えて、ディジタル装置1に予め決められたシーケンス処理を行わせ、所定の時刻になった時、フーリエ変換装置11により、ループアンテナ4により所定の時刻に測定された近磁界を周波数成分に変換し、アンテナ較正係数補正装置12により、それぞれの周波数成分毎に振幅及び位相の較正を行った後、逆フーリエ変換装置13により、測定磁界の周波数成分を近傍磁界波形すなわち電流波形に変換し、その電流波形情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
以上のようにして、任意の時刻の任意の測定点における電流波形を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0015】
〈請求項7に対応する実施の形態〉
図7は、請求項7記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図7に示す装置構成は、図1の装置構成に加えて、データ記憶手段7に記憶されている複数の近磁界測定結果に基づいてディジタル装置1の電流分布を求める逆解析装置14と、逆解析装置14により求めた電流分布情報からディジタル装置1の放射近磁界を求める順解析装置15とをさらに備えたものである。
中央制御装置3は、タイミング制御装置2、ループアンテナ移動装置5、アンテナ較正係数補正装置6、データ記憶装置7、比較装置9、逆解析装置14、及び順解析装置15を統括制御しつつ、近磁界プローブ4によりディジタル装置のEMI測定を行う。
その際、中央制御装置3は、ループアンテナ移動装置5によりループアンテナ4を順次所定の測定位置に移動させる。そして、ループアンテナ4が測定点に移動する毎に、タイミング制御装置2にループアンテナ4の移動が完了したことを知らせる。すると、タイミング制御装置2は所定のタイミング信号を発生させる。このタイミング信号は、ディジタル装置1及び中央制御装置3に送られる。ディジタル装置1は、タイミング信号に応じて予め決められたシーケンス処理を実行する。一方、中央制御装置3は、近磁界プローブ4がディジタル装置1からの電磁波ノイズを受けて発生する逆起電圧を、アンテナ較正係数補正装置6により予め特定された周波数の時間領域での近磁界情報に変換し、その近磁界情報をデータ記憶装置7に記憶させる。
そして、中央制御装置3は、全ての測定点における近磁界の測定及びデータ記憶装置7への記録が完了すると、データ記憶装置7に記憶されている複数の近磁界情報を読み出して逆解析装置14に送る。すると、逆解析装置14は、複数の近磁界情報に基づいてディジタル装置1の電流分布を求める。
さらに、中央制御装置3は、逆解析装置14により求めた電流分布情報を順解析装置15に送り、電流分布情報からディジタル装置1の放射近磁界を算出させる。順解析装置15において使用される放射近磁界Hの計算式は次式(1)で表される。
【0016】
【数1】
ここで、Jは体積v内での電流分布、rは源から測定点までの距離、βは波数である。
以上の処理により、ディジタル装置1の任意の位置の電流値を低減した場合にどの程度放射近磁界が低減できるかを前もって予測することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0017】
〈請求項8に対応する実施の形態〉
図8は、請求項8記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図8において1は測定対象物であるディジタル装置、2はタイミング制御装置、3は中央制御装置、4はループアンテナ、5はループアンテナ移動装置、6はアンテナ較正係数補正、7はデータ記憶装置、8はEMI測定用アンテナ、9は比較装置である。
この実施の形態では、ループアンテナ4による磁界測定に先立ち、ディジタル装置1を複数重ねた状態で、タイミング制御装置2により所定のタイミング信号を発生させて、ディジタル装置1に予め決められたシーケンス処理を実行させつつ、比較装置9からのトリガー信号を監視し、トリガー信号が送られてきたときのタイミング情報をデータ記憶装置7に記録する。そして、ループアンテナ4による磁界測定の際には、ディジタル装置1を1枚ずつの状態にして、請求項1に対応する実施の形態と全く同様にして測定を行う。
すなわち、ディジタル装置1を複数重ねた状態において、EMI規制値を越える電磁波が発生されるときのタイミング情報を予め取得しておき、そのタイミング情報に基づいて、EMI規制値を越える電磁波が発生されたときに行なっていたシーケンス処理だけをディジタル装置1に実行させつつ、ループアンテナ4による磁界測定を行う。
このように、ディジタル装置1を複数重ねた状態においてEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみを個々のディジタル装置1に実行させて発生する近磁界を測定することにより、ディジタル装置1が複数重なった状態での電磁波ノイズの発生と相関があるそれぞれのディジタル装置1の磁界を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0018】
〈請求項9に対応する実施の形態〉
図9は、請求項9記載の発明に係るEMI測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。図9において1は測定対象物であるディジタル装置、2はタイミング制御装置、3は中央制御装置、4はループアンテナ、5はループアンテナ移動装置、6はアンテナ較正係数補正、7はデータ記憶装置、8はEMI測定用アンテナ、9は比較装置である。
この実施の形態では、ループアンテナ4による磁界測定に先立ち、ディジタル装置1を筐体16内に収容した状態で、タイミング制御装置2により所定のタイミング信号を発生させて、ディジタル装置1に予め決められたシーケンス処理を実行させつつ、比較装置9からのトリガー信号を監視し、トリガー信号が送られてきたときのタイミング情報をデータ記憶装置7に記録する。そして、ループアンテナ4による磁界測定の際には、筐体16を取り除き、請求項1に対応する実施の形態と全く同様にして測定を行う。
すなわち、ディジタル装置1を筐体16内に収容した状態において、EMI規制値を越える電磁波が発生されるときのタイミング情報を予め取得しておき、そのタイミング情報に基づいて、EMI規制値を越える電磁波が発生されたときに行なっていたシーケンス処理だけを各ディジタル装置1に実行させつつ、ループアンテナ4による磁界測定を行う。
このように、ディジタル装置1を複数重ねた状態においてEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置1に実行させて発生する近磁界を測定することにより、ディジタル装置1を筐体16内に収容した状態での電磁波ノイズの発生と相関があるそれぞれのディジタル装置1の磁界を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0019】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば以下のような優れた効果を発揮できる。請求項1記載の発明によれば、測定対象物であるディジタル装置の各測定点に近磁界プローブを移動させて回路近傍の近磁界を測定するEMI測定装置において、ディジタル装置から放射される電磁波ノイズをEMI測定用アンテナにより実際に測定して、ディジタル装置がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、近磁界プローブを測定点に移動させる毎に、特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置に実行させつつ、ループアンテナにより磁界を測定するように構成したので、ディジタル装置の全ての測定点において、ディジタル装置に同一のシーケンス処理を実行させて効率良く測定を行うことができ、その結果、各測定点でどのようなタイミングで電磁波ノイズが発生するかを知ることができる。
また、請求項2記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、予め前記ディジタル装置の各測定点にループアンテナを移動させて磁界を測定し、所定の周波数でEMI規制値を越える電磁波が発生するタイミング情報を取得し、そのタイミング情報に基づいて、EMI規制値を越える電磁波ノイズが発生したときに実行されていたシーケンス処理のみをディジタル装置に実行させつつ測定を行う構成としたので、より正確に且つ効率良く測定を行うことができる。
【0020】
また、請求項3記載の発明によれば、請求項1の効果に加え、EMI測定用アンテナを移動させつつディジタル装置からの電磁波ノイズを測定することにより、ディジタル装置から全ての方向に放射される電磁波ノイズを測定できるので、ディジタル装置がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理をより正確に特定することができ、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置に実行させて発生する近磁界を測定することにより、任意の測定点でEMI規制値を超える近磁界の測定をより精度良く効率的に行うことができる。
また、請求項4記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、ディジタル装置がEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生しやすいインストラクションを特定し、その特定されたインストラクションのみをディジタル装置に実行させて発生する磁界を測定することにより、EMI測定をより精度良く且つ効率良く行って測定時間を短縮化することができる。
【0021】
また、請求項5記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、通常の動作とは関係のない所定のインストラクション実行時における測定結果は磁界発生情報として取り込まないようにできるので、通常の動作と関係のない所定のインストラクションによる影響を排除し、常に通常のシーケンス処理実行中における電磁波ノイズだけを正確に測定することができる。
また、請求項6記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、任意の時刻の任意の測定点における電流波形を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0022】
また、請求項7記載の発明は、請求項1の効果に加えて、複数の測定点における磁界測定結果に基づいてディジタル装置の電流分布を求め、その電流分布情報からディジタル装置の放射近磁界を求めることができるので、ディジタル装置の任意の位置の電流値を低減した場合にどの程度放射磁界が低減できるかを前もって予測し、EMI対策を効果的に行うことができる。
また、請求項8記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、ディジタル装置を複数重ねた状態においてEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみを個々のディジタル装置に実行させて発生する近磁界を測定することにより、ディジタル装置が複数重なった状態での電磁波ノイズの発生と相関があるそれぞれのディジタル装置の磁界を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【0023】
また、請求項9記載の発明によれば、請求項1の効果に加えて、ディジタル装置を複数重ねた状態においてEMI規制値を越える電磁波ノイズを発生するシーケンス処理を特定し、その特定されたシーケンス処理のみをディジタル装置に実行させて発生する近磁界を測定することにより、ディジタル装置を筐体内に収容した状態での電磁波ノイズの発生と相関があるそれぞれのディジタル装置の磁界を測定することができ、その情報を基にしてより効果的なEMI対策を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図2】請求項2記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図3】請求項3記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図4】請求項4記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図5】請求項5記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図6】請求項6記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図7】請求項7記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図8】請求項8記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図9】請求項9記載の発明に係る電磁波障害測定装置の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 ディジタル装置、2 タイミング制御装置、3 中央制御装置(測定手段)、4 ループアンテナ、5 ループアンテナ移動装置、6 アンテナ較正係数補正装置、7 データ記憶装置、8 EMI測定用アンテナ、9 比較装置、10 アンテナ移動装置、11 フーリエ変換装置、12 アンテナ較正係数補正装置、13 フーリエ逆変換装置、14 逆解析装置、15 順解析装置、16筐体。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electromagnetic interference measuring device, and more particularly to an electromagnetic interference measuring device capable of measuring electromagnetic noise generated from a digital device.
[0002]
[Prior art]
A method of arranging several loop antennas in a grid pattern and measuring the near magnetic field as shown in Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-58970 in Attachment 1, or measuring the near magnetic field by controlling the position of the loop antenna with a linear stage A way to do that has been proposed. Although these measurement methods are effective for roughly examining the intensity distribution of a nearby magnetic field, it is unclear at what timing of a digital waveform an interfering electromagnetic wave is generated because a digital circuit has an aperiodic waveform.
2. Description of the Related Art Conventionally, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-58970, a plurality of electromagnetic interference measuring apparatuses (hereinafter, referred to as EMI measuring apparatuses) for examining noise sources on a circuit board on which electronic components are mounted are disclosed. One that measures the magnetic field by placing a circuit board, which is a measurement object, on a measuring table with loop antennas arranged in a grid pattern, and one that measures the near magnetic field by controlling the position of the loop antenna with a linear stage Are known.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described conventional EMI measuring apparatus, it is possible to roughly know which part of the circuit board is a noise source by examining the intensity distribution of the magnetic field near the circuit board. Since the signal waveform is an aperiodic waveform, it has not been possible to measure at what timing electromagnetic wave noise occurs at each measurement point of the digital device.
An object of the present invention is to solve the above-mentioned drawbacks of the conventional technique, to synchronize the operation of the digital device and the magnetic field measurement operation by the loop antenna at all measurement points of the digital device, and to execute the same sequence processing on the digital device. It is an object of the present invention to provide an EMI measuring apparatus capable of measuring at what timing electromagnetic wave noise is generated at each measurement point by performing measurement.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 is an EMI measurement apparatus for measuring a magnetic field near a circuit by moving a loop antenna to each measurement point of a digital device to be measured. Moving means for sequentially moving to the measurement point; timing control means for applying a timing signal to the digital device to perform a predetermined sequence process each time the loop antenna moves to the measurement point; An EMI measurement antenna for detecting an electromagnetic wave to be detected at a predetermined position, a comparison between a value measured by the EMI measurement antenna and an EMI regulation value, and a trigger signal generated when the measured value exceeds the EMI regulation value. Means and timing information when the measured value exceeds the EMI regulation value based on a trigger signal from the comparing means. Storage means for recording, and the timing based on the timing information recorded in the storage means for causing the digital device to execute only the sequence processing performed when the measured value exceeds the EMI regulation value. A central control unit for giving an instruction to a control means to generate a timing signal, and for measuring a magnetic field by the loop antenna while the digital device is executing a sequence process.
According to a second aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, a magnetic field is measured by moving a loop antenna to each measurement point of the digital device in advance by the central control device and measuring the magnetic field at a predetermined frequency. The timing information at which an electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is generated is acquired, and based on the timing information, the sequence processing performed when the digital device generates the electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value at the predetermined frequency is performed. And a function of giving an instruction to the timing control means so as to cause the digital device to execute only the above.
According to a third aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, the EMI measuring antenna is configured to be movable around the digital device over the entire circumference.
According to a fourth aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, the central control unit moves a loop antenna to each measurement point of the digital device in advance to measure a magnetic field, and sets an EMI regulation value. Information on the timing of generation of an electromagnetic wave exceeding the frequency is acquired, and based on the timing information, the digital device is caused to execute only an instruction in which the frequency of generation of the electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is higher than a predetermined value. Therefore, a function of giving an instruction to the timing control means is provided.
According to a fifth aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, the central control device identifies an instruction to be executed by the digital device, and a measurement result at the time of executing the predetermined instruction is magnetic field generation information. It has a function to prevent it from being imported.
According to a sixth aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, a Fourier transform device for transforming a magnetic field measured by the loop antenna into a frequency component, and each of the frequency components converted by the Fourier transform device is provided. An antenna calibration coefficient correction for calibrating the amplitude and phase, and a Fourier inverse transform device for obtaining a magnetic field waveform in the vicinity of the digital device from a frequency component of the measurement magnetic field calibrated by the antenna calibration coefficient correction. is there.
According to a seventh aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, storage means for storing magnetic field measurement results at a plurality of measurement points of the digital device, and a plurality of magnetic fields stored in the storage means An inverse analysis unit for obtaining a current distribution of the digital device based on a measurement result, and a forward analysis device for obtaining a radiation magnetic field of the digital device from current distribution information obtained by the inverse analysis unit.
According to an eighth aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, the timing information recorded in the storage unit is measured by using the antenna for EMI measurement in a state where a plurality of the digital devices are overlapped. This is used as timing information when the measured value exceeds the EMI regulation value.
According to a ninth aspect of the present invention, in the EMI measuring apparatus according to the first aspect, the timing information recorded in the storage means is transmitted to the digital device with the casing for covering the electromagnetic wave by the EMI measuring antenna. Is used as timing information when the measured value exceeds the EMI regulation value.
[0005]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<Embodiment Corresponding to Claim 1>
FIG. 1 is a block diagram showing an example of an embodiment of an EMI measuring device according to the first aspect of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a digital device as an object to be measured, 2 denotes a timing control device, 3 denotes a central control device, 4 denotes a loop antenna, 5 denotes a loop antenna moving device, 6 denotes an antenna calibration coefficient correction device, and 7 denotes a data storage device. , 8 are EMI measurement antennas, and 9 is a comparison device.
The
The
Prior to the magnetic field measurement by the
[0006]
When the magnetic field is measured by the
At this time, based on the timing information stored in the
As described above, the electromagnetic wave noise radiated from the digital device 1 is measured by the
[0007]
<Embodiment corresponding to claim 2>
FIG. 2 is a block diagram showing an example of an embodiment of the EMI measuring device according to the second aspect of the present invention. In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a digital device to be measured, 2 denotes a timing control device, 3 denotes a central control device, 4 denotes a loop antenna, 5 denotes a loop antenna moving device, 6 denotes an antenna calibration coefficient correction device, and 7 denotes a data storage device. , 8 are EMI measurement antennas, and 9 is a comparison device.
Although the EMI measuring device of this embodiment has the same configuration as the EMI measuring device of FIG. 1 corresponding to claim 1, the
Prior to the main measurement, the
As described above, the digital device 1 specifies a sequence process that generates electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value, and causes the digital device 1 to execute only the specified sequence process to measure a magnetic field generated. The measurement can be performed efficiently and the measurement time can be shortened.
[0008]
<Embodiment Corresponding to Claim 3>
FIG. 3 is a block diagram showing an example of an embodiment of the EMI measuring device according to the third aspect of the present invention. The device configuration shown in FIG. 3 further includes an
Prior to the measurement of the magnetic field by the
[0009]
The near-magnetic field measurement by the
As described above, the electromagnetic wave noise radiated in all directions from the digital device 1 is measured by the
[0010]
<Embodiment corresponding to claim 4>
FIG. 4 is a block diagram showing an example of an embodiment of an EMI measuring apparatus according to the invention of
The EMI measuring device of this embodiment has the same configuration as the EMI measuring device of FIG. 1 corresponding to claim 1. However, the
[0011]
Prior to the main measurement, the
As described above, the EMI measurement is performed by specifying an instruction in which the digital device 1 easily generates electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value and causing the digital device 1 to execute only the specified instruction to measure a magnetic field generated. Can be performed more accurately and efficiently, and the measurement time can be shortened.
[0012]
<Embodiment Corresponding to Claim 5>
FIG. 5 is a block diagram showing an example of an embodiment of an EMI measuring device according to the invention of
The
At that time, the
Then, the
As described above, it is possible to eliminate the influence of the predetermined instruction unrelated to the normal operation and always accurately measure only the electromagnetic wave noise during the execution of the normal sequence processing.
[0013]
<Embodiment corresponding to claim 6>
FIG. 6 is a block diagram showing an example of an embodiment of the EMI measuring device according to the invention of
The
At this time, the
[0014]
In addition, when a series of magnetic field measurement processes is completed and the
As described above, a current waveform at an arbitrary measurement point at an arbitrary time can be measured, and more effective EMI countermeasures can be performed based on the information.
[0015]
<Embodiment Corresponding to Claim 7>
FIG. 7 is a block diagram showing an example of an embodiment of an EMI measuring device according to the invention of
The
At that time, the
When the measurement of the near magnetic field at all the measurement points and the recording to the
Further, the
[0016]
(Equation 1)
Here, J is the current distribution in the volume v, r is the distance from the source to the measurement point, and β is the wave number.
By the above processing, it is possible to predict in advance how much the radiated near magnetic field can be reduced when the current value at an arbitrary position of the digital device 1 is reduced, and based on the information, a more effective EMI measure can be taken. It can be carried out.
[0017]
<Embodiment Corresponding to Claim 8>
FIG. 8 is a block diagram showing an example of an embodiment of an EMI measuring device according to the invention described in
In this embodiment, prior to the magnetic field measurement by the
That is, in a state in which a plurality of digital devices 1 are superimposed, timing information when an electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is generated is acquired in advance, and an electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is generated based on the timing information. The magnetic field measurement by the
As described above, the sequence processing that generates the electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value in a state where a plurality of digital devices 1 are stacked is specified, and the near magnetic field generated by causing each digital device 1 to execute only the specified sequence processing is performed. Is measured, the magnetic field of each digital device 1 that is correlated with the generation of electromagnetic wave noise in a state where a plurality of digital devices 1 are overlapped can be measured. Based on the information, more effective EMI countermeasures can be taken. It can be performed.
[0018]
<Embodiment corresponding to claim 9>
FIG. 9 is a block diagram showing an example of an embodiment of the EMI measuring apparatus according to the ninth aspect of the present invention. In FIG. 9, 1 is a digital device which is a measurement object, 2 is a timing control device, 3 is a central control device, 4 is a loop antenna, 5 is a loop antenna moving device, 6 is an antenna calibration coefficient correction, 7 is a data storage device, 8 is an antenna for EMI measurement, and 9 is a comparison device.
In this embodiment, before the magnetic field measurement by the
That is, in a state where the digital device 1 is housed in the housing 16, timing information when an electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is generated is acquired in advance, and based on the timing information, the electromagnetic wave exceeding the EMI regulation value is acquired. The magnetic field measurement by the
In this way, when a plurality of digital devices 1 are stacked, a sequence process that generates electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value is specified, and only the specified sequence process is executed by the digital device 1 to measure a near magnetic field generated. By doing so, it is possible to measure the magnetic field of each digital device 1 that is correlated with the generation of electromagnetic noise when the digital device 1 is housed in the housing 16, and based on the information, a more effective magnetic field can be obtained. EMI measures can be taken.
[0019]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the following excellent effects can be exhibited. According to the first aspect of the present invention, there is provided an EMI measuring apparatus for measuring a near magnetic field near a circuit by moving a near magnetic field probe to each measurement point of a digital device to be measured. Is actually measured by the EMI measurement antenna, and the digital device specifies the sequence processing that generates the electromagnetic noise exceeding the EMI regulation value, and every time the near magnetic field probe is moved to the measurement point, only the specified sequence processing is performed. Since the magnetic field is measured by the loop antenna while being executed by the digital device, the same sequence processing can be executed by the digital device at all measurement points of the digital device so that the measurement can be performed efficiently. As a result, it is possible to know at what timing electromagnetic wave noise occurs at each measurement point
According to the second aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, the magnetic field is measured by moving the loop antenna to each measurement point of the digital device in advance, and exceeds the EMI regulation value at a predetermined frequency. Since the timing information at which the electromagnetic wave is generated is acquired, and based on the timing information, only the sequence processing that has been performed when the electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value is generated is performed while the digital device performs the measurement while performing the measurement. The measurement can be performed more accurately and efficiently.
[0020]
According to the third aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, the electromagnetic wave noise from the digital device is measured while moving the EMI measurement antenna, so that the digital device radiates in all directions. Since the electromagnetic wave noise can be measured, the digital device can more accurately specify the sequence processing that generates the electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value, and the near field generated by causing the digital device to execute only the specified sequence process. Is measured, a near magnetic field exceeding the EMI regulation value at an arbitrary measurement point can be measured more accurately and efficiently.
According to the fourth aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, the digital device specifies an instruction which is likely to generate electromagnetic wave noise exceeding the EMI regulation value, and only the specified instruction is transmitted to the digital device. By measuring the magnetic field generated by the execution, the EMI measurement can be performed more accurately and efficiently, and the measurement time can be reduced.
[0021]
According to the fifth aspect of the invention, in addition to the effect of the first aspect, a measurement result at the time of executing a predetermined instruction unrelated to a normal operation can be prevented from being taken in as magnetic field generation information. In this way, it is possible to eliminate the influence of the predetermined instruction unrelated to the operation of the first embodiment, and to always accurately measure only the electromagnetic wave noise during the execution of the normal sequence processing.
According to the sixth aspect of the invention, in addition to the effect of the first aspect, a current waveform at an arbitrary measurement point at an arbitrary time can be measured, and based on the information, a more effective EMI can be obtained. Measures can be taken.
[0022]
According to a seventh aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, a current distribution of the digital device is obtained based on magnetic field measurement results at a plurality of measurement points, and a radiation near magnetic field of the digital device is obtained from the current distribution information. Since it can be obtained, it is possible to predict in advance how much the radiated magnetic field can be reduced when the current value at an arbitrary position of the digital device is reduced, and to effectively take measures against EMI.
According to the invention of
[0023]
According to the ninth aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, a sequence process for generating electromagnetic wave noise exceeding an EMI regulation value in a state where a plurality of digital devices are superimposed is specified, and the specified sequence is specified. By measuring the near magnetic field generated by allowing the digital device to perform only processing, it is possible to measure the magnetic field of each digital device that is correlated with the generation of electromagnetic noise when the digital device is housed in the housing. Based on the information, more effective EMI measures can be taken.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention described in
FIG. 3 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention described in
FIG. 4 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention described in
FIG. 5 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention of
FIG. 6 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention described in
FIG. 7 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention of
FIG. 8 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention described in
FIG. 9 is a block diagram showing an example of an embodiment of an electromagnetic interference measuring device according to the invention of
[Explanation of symbols]
REFERENCE SIGNS LIST 1 digital device, 2 timing control device, 3 central control device (measuring means), 4 loop antenna, 5 loop antenna moving device, 6 antenna calibration coefficient correction device, 7 data storage device, 8 EMI measurement antenna, 9 comparison device,
Claims (9)
前記ループアンテナを順次測定点に移動させる移動手段と、
前記ループアンテナが測定点に移動する毎に、前記ディジタル装置にタイミング信号を与えて予め決められたシーケンス処理を行なわせるタイミング制御手段と、
前記ディジタル装置から放射される電磁波を所定の位置で検出する電磁波障害測定用アンテナと、
該電磁波障害測定用アンテナによる測定値と電磁波障害規制値とを比較し、測定値が電磁波障害規制値を越えたときにトリガ信号を発生する比較手段と、
当該比較手段からのトリガ信号に基づいて、当該測定値が電磁波障害規制値を越えたときのタイミング情報を記録するための記憶手段と、
当該記憶手段に記録されているタイミング情報に基づいて、当該測定値が電磁波障害規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけを前記ディジタル装置に実行させるべく前記タイミング制御手段に指示を与えてタイミング信号を発生を発生させるとともに、前記ディジタル装置がシーケンス処理を実行している間に前記ループアンテナにより磁界を測定する中央制御装置と、
を備えたことを特徴とする電磁波障害測定装置。An electromagnetic interference measurement device for measuring a magnetic field near a circuit by moving a loop antenna to each measurement point of a digital device to be measured,
Moving means for sequentially moving the loop antenna to a measurement point,
Each time the loop antenna moves to a measurement point, timing control means for giving a timing signal to the digital device to perform a predetermined sequence process,
An electromagnetic interference measurement antenna for detecting an electromagnetic wave radiated from the digital device at a predetermined position,
A comparison unit that compares a measurement value by the electromagnetic interference measurement antenna with the electromagnetic interference restriction value and generates a trigger signal when the measured value exceeds the electromagnetic interference restriction value;
Based on a trigger signal from the comparing means, storage means for recording timing information when the measured value exceeds the electromagnetic interference limit value,
On the basis of the timing information recorded in the storage unit, the timing control unit is instructed to cause the digital device to execute only the sequence processing performed when the measured value exceeds the electromagnetic interference limit value. A central controller for generating a timing signal and measuring a magnetic field with the loop antenna while the digital device is performing sequence processing;
An electromagnetic interference measuring device comprising:
前記ディジタル装置の複数の測定点における測定結果を電磁波障害のサンプル値として記憶しておくための記憶領域を有し、 前記中央制御装置は、該記憶手段に記憶されているサンプル値と電磁波障害規制値とを比較し、サンプル値が電磁波障害規制値を越えたときに行なっていたシーケンス処理だけを前記ディジタル装置に実行させるべく、前記タイミング制御手段にタイミング信号の発生を指示する機能を備えていることを特徴とする請求項1記載の電磁波障害測定装置。The storage means,
A storage area for storing measurement results at a plurality of measurement points of the digital device as sample values of electromagnetic interference, wherein the central control unit stores the sample values stored in the storage means and electromagnetic interference control And a function of instructing the timing control means to generate a timing signal so that the digital device executes only the sequence processing that was performed when the sample value exceeded the electromagnetic interference limit value. The electromagnetic interference measuring apparatus according to claim 1, wherein:
該フーリエ変換装置により変換されたそれぞれの周波数成分毎に振幅及び位相の較正を行うアンテナ較正係数補正と、
該アンテナ較正係数補正により較正された測定磁界の周波数成分から前記ディジタル装置の近傍における磁界波形を求めるフーリエ逆変換装置と、
を備えたことを特徴とする請求項1記載の電磁波障害測定装置。A Fourier transform device for converting a measurement magnetic field by the loop antenna into a frequency component,
Antenna calibration coefficient correction for calibrating amplitude and phase for each frequency component converted by the Fourier transform device,
An inverse Fourier transform apparatus for determining a magnetic field waveform near the digital device from a frequency component of the measured magnetic field calibrated by the antenna calibration coefficient correction;
The electromagnetic interference measuring apparatus according to claim 1, further comprising:
該記憶手段に記憶されている複数の磁界測定結果に基づいて前記ディジタル装置の電流分布を求める逆解析手段と、 該逆解析手段により求めた電流分布情報から前記ディジタル装置の放射磁界を求める順解析装置と、
を備えたことを特徴とする請求項1記載の電磁波障害測定装置。Storage means for storing magnetic field measurement results at a plurality of measurement points of the digital device;
Inverse analysis means for obtaining a current distribution of the digital device based on a plurality of magnetic field measurement results stored in the storage means; forward analysis for obtaining a radiation magnetic field of the digital device from current distribution information obtained by the inverse analysis means Equipment and
The electromagnetic interference measuring apparatus according to claim 1, further comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35725796A JP3587950B2 (en) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Electromagnetic interference measurement device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35725796A JP3587950B2 (en) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Electromagnetic interference measurement device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10185975A JPH10185975A (en) | 1998-07-14 |
| JP3587950B2 true JP3587950B2 (en) | 2004-11-10 |
Family
ID=18453199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35725796A Expired - Fee Related JP3587950B2 (en) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Electromagnetic interference measurement device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3587950B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4574529B2 (en) * | 2004-12-22 | 2010-11-04 | パナソニック株式会社 | Electromagnetic wave analysis device, design support device, electromagnetic wave analysis program, and design support program |
| KR100628889B1 (en) | 2005-01-07 | 2006-09-26 | 삼성전자주식회사 | Electrostatic Sensors and Electrostatic Measurement Devices Having the Same |
-
1996
- 1996-12-26 JP JP35725796A patent/JP3587950B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10185975A (en) | 1998-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20210215750A1 (en) | Method and system for fault detection | |
| CN104736050B (en) | The Forecasting Methodology of MR imaging apparatus and SAR | |
| JPH09211040A (en) | Waveform analyzer | |
| JP3587950B2 (en) | Electromagnetic interference measurement device | |
| CN112863533B (en) | Method, device, equipment and medium for acquiring voice signal in medical imaging equipment | |
| US20230086826A1 (en) | Method, Apparatuses and System for Correcting an Influence of an Interference Effect on a Gradient System | |
| US20140167782A1 (en) | Electromagnetic interference measuring device and electromagnetic interference measuring method | |
| JPH10185974A (en) | Electromagnetic interference measurement device | |
| CN117706213A (en) | Electromagnetic relay electromagnetic pulse interference resistance test method, device and equipment | |
| JP5430145B2 (en) | Noise measuring device and noise measuring method | |
| EP3318887B1 (en) | A device and a method for correcting the current in a gradient coil of a magnetic resonance imaging apparatus for the compensation of the effect of eddy currents | |
| CN117871993A (en) | Cable detection method, device, storage medium and cable detection system | |
| JP7713331B2 (en) | Noise measurement program, noise measurement method, and noise measurement device | |
| JP3603143B2 (en) | Electromagnetic interference measuring device | |
| JP4030155B2 (en) | EXTERNAL NOISE REMOVING DEVICE AND RADIATION MEASURING DEVICE HAVING THE EXTERNAL NOISE REMOVING DEVICE | |
| JPH1114671A (en) | Current-estimating device | |
| JP3809880B2 (en) | Method and apparatus for acquiring transfer function within a short time in vibration control system | |
| JPH11316255A (en) | Electromagnetic wave durability measurement device | |
| Liu et al. | Scanning of random fields using blind source separation | |
| JP2006105901A (en) | Electromagnetic wave leakage measuring method for electromagnetic wave shield enclosure and electromagnetic wave leakage measuring device thereof | |
| JP3085284B2 (en) | Method and apparatus for observing power supply current spectrum | |
| EP0772784A1 (en) | A method and a system for moving a measuring means above a test object | |
| JP2824765B2 (en) | Nuclear magnetic resonance equipment | |
| JP2000346887A (en) | Electromagnetic interference measuring device | |
| RU2107303C1 (en) | Method of automatic nocontact diagnosis of electrotechnical devices |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040809 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040811 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090820 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090820 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100820 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100820 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110820 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110820 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120820 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120820 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130820 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |