JP3590304B2 - アナログ同期回路 - Google Patents
アナログ同期回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3590304B2 JP3590304B2 JP22871099A JP22871099A JP3590304B2 JP 3590304 B2 JP3590304 B2 JP 3590304B2 JP 22871099 A JP22871099 A JP 22871099A JP 22871099 A JP22871099 A JP 22871099A JP 3590304 B2 JP3590304 B2 JP 3590304B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- circuit
- clock signal
- current source
- constant current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/08—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Dram (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばシンクロナスDRAM等の半導体記憶装置に適用されるアナログ同期回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
この種の半導体記憶装置においては、チップの外部から供給される外部クロック信号に対して、チップの内部で発生される内部クロック信号を同期させる必要がある。チップにおいて、外部クロック信号を入力バッファで受け、この外部クロック信号をチップ内部で分配すると、バッファや配線による遅延のため、チップ内部と外部でクロック信号の位相が異なってしまう。これを避けるため、外部クロック信号と内部クロック信号を同期させる同期回路が種々開発されている。この同期回路としては、例えばT.Saeki,et al.“A2.5ns Clock Access 250MHz 256Mb SDRAM with a Synchronous Mirror Delay”,ISSCC Digest of Technical Papers, pp.374−375, Feb.,1996で用いられているSMD(Synchronous Mirror Delay)や特願平8−100976号に記載されているSTBD(Synchronous Traced Backward Delay)等を含むミラータイプDLL(DLL;Delay Locked Loop)がある。ミラータイプDLLは同期速度が速く、外部クロック信号の3クロック信号目から外部クロック信号に同期した内部クロック信号を発生させることができる。
【0003】
図27は、従来のミラータイプDLLの一例を示している。このミラータイプDLLは入力バッファ(I.B.)、出力バッファ(O.B.)、これらバッファのレプリカ回路により構成され、これらの遅延時間をモニタするディレイモニタ(DM)、及び遅延線(DL)とから構成されている。遅延線(DL)は、前進パルス用遅延線DL1と後退パルス用遅延線DL2の2個からなり、前進パルス用遅延線での遅延時間を後退パルス用遅延線に反映させるミラー動作により同期動作を行っている。このため、両遅延線での遅延時間を如何に正確に等しくできるかが同期精度を決める大きな要因となっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記従来の遅延線(DL)は、インバータ回路等の複数のロジックゲートが直列接続されて構成される。遅延線の遅延時間は、前進パルスが前進パルス用遅延線DL1を構成するロジックゲートを何段分進んだかという情報に基づいて、後退パルスが後退パルス用遅延線DL2を構成するロジックゲートを何段分通過するかで決まる。このように、遅延時間はロジックゲートの段数という量子化された値となる。
【0005】
このため、図28に示すように、前進パルス用遅延線での遅延量と、後退パルス用遅延線での遅延量が等しくならず、量子化誤差を発生してしまう。
【0006】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、量子化誤差の発生を防止し、前進パルスと後退パルスの遅延量を等しくすることが可能なアナログ同期回路を提供しようとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するため、第1のキャパシタと、第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号から遅れた第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、第2のキャパシタと、前記第2のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する第2の定電流源回路と、前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する比較器とを具備している。
【0008】
前記第1のキャパシタの容量と前記第1の定電流源回路の電流量の比が前記第2のキャパシタの容量と前記第2の定電流源回路の電流量の比と等しく設定されている。
【0009】
前記第1のキャパシタの容量と前記第1の定電流源回路の電流量の比が前記第2のキャパシタの容量と前記第2の定電流源回路の電流量の比が一定の割合で異なるように設定されている。
【0010】
前記第1のキャパシタに接続され、前記第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを放電する第1の放電回路と、前記第2のキャパシタに接続され、前記比較器の出力信号に応じて前記第2のキャパシタを放電する第2の放電回路とをさらに具備している。
【0011】
また、本発明は、第1のキャパシタと、第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号からnクロック遅れた第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、第2のキャパシタと、前記第2のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する前記第1の定電流源回路のn倍の電流量を有する第2の定電流源回路と、前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する比較器とを具備している。
【0012】
本発明の比較器は、入力端に前記第1のキャパシタの充電電圧が供給され、制御信号が第1の状態の時に導通される第1のトランスファーゲートと、入力端に前記第2のキャパシタの充電電圧が供給され、前記制御信号が第2の状態の時に導通される第2のトランスファーゲートと、前記第1、第2のトランスファーゲートの出力端に一端が接続されたキャパシタと、前記キャパシタの他端に入力端が接続されたインバータ回路と、前記インバータ回路の入力端と出力端の相互間に接続され、前記制御信号が第1の状態の時に導通される第3のトランスファーゲートとを具備している。
【0013】
さらに、本発明は、外部クロック信号が供給される入力バッファと、前記入力バッファから出力されるクロック信号の1サイクル毎に交互に第1のクロック信号、第2のクロック信号を取り出す第1の論理回路と、前記入力バッファから出力されるクロック信号が供給されるディレイモニタと、前記ディレイモニタから出力されるクロック信号の1サイクル毎に交互に第3のクロック信号、第4のクロック信号を取り出す第2の論理回路と、前記第1の論理回路から出力される第1のクロック信号と前記第2の論理回路から出力される第3のクロック信号とが供給される第1のチャージ・バランス・ディレイと、前記第1の論理回路から出力される第2のクロック信号と前記第2の論理回路から出力される第4のクロック信号とが供給される第2のチャージ・バランス・ディレイと、前記第1、第2のチャージ・バランス・ディレイから出力されれるクロック信号とを合成する合成回路と、前記合成回路の出力信号から内部クロック信号を出力する出力バッファとを具備し、前記第1のチャージ・バランス・ディレイは、第1のキャパシタと、前記第3のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、第2のキャパシタと、前記第1のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する第2の定電流源回路と、前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合前記タイミング信号を発生する第1の比較器とを具備し、前記第2のチャージ・バランス・ディレイは、第3のキャパシタと、前記第4のクロック信号に応じて前記第3のキャパシタを充電開始し、前記第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第3の定電流源回路と、第4のキャパシタと、前記第2のクロック信号に応じて前記第4のキャパシタを充電開始する第4の定電流源回路と、前記第3、第4のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合前記タイミング信号を発生する第2の比較器とを有している。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0015】
(第1の実施例)
図1は、本発明に係るアナログ同期回路の第1の実施例を示している。この回路は、基本的にはミラータイプDLLと同様の構成であり、外部クロック信号ECLKが供給される入力バッファ(I.B.)11、この入力バッファ11から供給されるクロック信号ICLKが供給されるディレイモニタ(DM)12、外部クロック信号ECLKと同期したクロック信号CKを出力する出力バッファ(O.B.)13を有している。さらに、図1に示すチャージ・バランス・ディレイ(以下、CBDと略称する)14、15は、従来のミラータイプDLLにおける遅延線に相当する。各CBD14、15は後述するように、外部クロック信号の2サイクルで1回動作する。このため、2つのCBD14、15は交互に動作され、これらCBD14、15の出力信号はオア回路16を介して前記出力バッファ13に供給される。
【0016】
図1中のアンド回路17、18は、CBD11、12を交互に動作させるため、信号T2、/T2(/は反転信号を示す)に応じてクロック信号ICLKを振り分けている。信号T2はクロック信号ICLKを分周して生成された信号である。
【0017】
図2は、クロック信号ICLKと信号T2、/T2の位相関係を示している。
【0018】
また、この交互動作を行うため、CBD11、12に供給されるクロック信号e−CL、o−CLは、クロック信号ICLKからアンド回路一段分だけ遅延する。これを補償するため、ディレイモニタ12の後段にアンド回路19、20の直列回路、及びアンド回路21、22の直列回路が設けられている。アンド回路20、22はダミーであり、入力端の一方がハイレベル例えば電源電圧Vccに固定されている。アンド回路19、21の一方入力端には信号T2’、/T2’が供給されている。これら信号T2’、/T2’は、タイミング調整用の信号であり、前記信号T2、/T2を適当に遅延して生成された信号である。
【0019】
前記CBD14、15は、同一構成であるため、CBD14について概略的に説明する。CBD14は、2つのキャパシタC1、C2と、これらキャパシタC1、C2を充電する例えば定電流源回路S1、S2と、キャパシタC1、C2の電圧V1、V2を比較する比較器(CMP)14aと、キャパシタC1、C2をそれぞれ放電するためのNチャネルMOSトランジスタN1、N2、及び遅延回路(DL)14bとから構成されている。前記キャパシタC1は前進パルス用遅延線、キャパシタC2は後退パルス用遅延線に相当する。
【0020】
キャパシタC1、C2の容量は互いに等しく、定電流源回路S1、S2の電流量は互いに等しく設定されている。定電流源回路S1は入力端Dinに供給されるパルス信号e−dmCLに応じて動作が開始され、パルス信号e−CLに応じて動作が停止される。また、定電流源回路S2はパルス信号e−CLに応じて動作が開始され、比較器14aから出力されるパルス信号e−CKを遅延回路14bにより遅延した信号に応じて動作が停止される。定電流源回路S1、S2及び比較器14aの詳細な構成は後述する。
【0021】
図3を参照して、上記CBD14の動作について説明する。入力端Dinにアンド回路20から出力されるパルス信号e−dmCLが供給されると、定電流源回路S1によりキャパシタC1の充電が開始される。このキャパシタC1は定電流で充電されるため、定電流源回路S1とキャパシタC1の接続ノードの電圧V1は一定の割合で増加する。次に、アンド回路17からパルス信号e−CLが供給されると、キャパシタC1の充電が停止されると同時にキャパシタC2の充電が開始される。比較器14aは、定電流源回路S2とキャパシタC2の接続ノードの電圧V2が電圧V1と等しくなるとパルス信号e−CKを出力端Doutに出力する。この信号は遅延回路14bを介して定電流源回路S2に供給され、定電流源回路S2の動作が停止される。
【0022】
キャパシタC1、C2の容量は互いに等しく、定電流源回路S1、S2の供給電流量が同じであるため、キャパシタC1が電圧V1まで充電されるのに要する時間と、キャパシタC2が電圧V2まで充電される時間は等しくなる。これにより、図3に示すように、入力端Dinにパルス信号e−dmCLが供給されてからパルス信号e−CLが供給されるまでの時間と同じ時間が、パルス信号e−CLが供給されてから出力端Doutにパルス信号e−CKが出力されるまでの時間にミラーされて出力される。図3に示す電圧V1、V2はアナログ量であるため、充電時間のミラーにおいて量子化誤差は全く発生しない。
【0023】
尚、前記トランジスタN1は、CBD15にアンド回路18からパルス信号o−CLが供給されるとき導通され、キャパシタC1が放電される。また、トランジスタN2は遅延回路14bにより遅延された比較器14aの出力パルス信号e−CKにより導通され、これに伴いキャパシタC2が放電される。一方、CBD15の図示せぬトランジスタN1は、アンド回路17からパルス信号e−CLが供給されるとき導通され、キャパシタC1が放電される。
【0024】
図4(a)は、クロック信号ICLKから信号T2、/T2を生成する回路の一例を示している。図4(b)は、図4(a)に示す遅延回路(DL)の一例を示している。この遅延回路において、クロックドインバータ回路は、図4(a)に示す回路から供給される信号a、/aにより制御される。
【0025】
図5、図6は、定電流源回路S1、S2の原理を示している。この場合、例えば図5に示すようなNチャネルMOSトランジスタは、ゲート電圧VGを適当に設定することにより、ドレイン−ソース間の電圧VDSが変動しても電流量IDSが変化しない。このため、その特性は、図6に示すようになり、定電流源として用いることができる。NチャネルMOSトランジスタだけでなく、PチャネルMOSトランジスタも同様にゲート電圧を適当に設定することにより、定電流源として用いることができる。キャパシタを接地電位Vssから充電する場合、ソース電圧の変動が少ないため、PチャネルMOSトランジスタを定電流源として用いる方が、NチャネルMOSトランジスタを用いる場合より、定電流特性が優れている。
【0026】
図7(a)は、PチャネルMOSトランジスタを用いた定電流源回路S1と、キャパシタC1を含むキャパシタユニットCAPを示しており、図1と同一部分には同一符号を付す。図7(b)は図7(a)に示すキャパシタユニットCAPをシンボルで表した状態を示しており、図7(a)と同一部分には同一符号を記載している。
【0027】
図7(a)に示す定電流源回路S1において、PチャネルMOSトランジスタのソースには電源Vccが供給され、ゲートに電圧Vcが供給されている。このPチャネルMOSトランジスタのドレインは、キャパシタユニットCAPのPチャネルMOSトランジスタからなるスイッチSW1を介してキャパシタC1に接続されている。前記スイッチSW1のゲートにはフリップフロップ回路FFの一方出力端が接続されている。このフリップフロップ回路FFの一方入力端ON(Din)には、前記アンド回路20の出力信号e−dmCLが供給され、他方入力端OFFには、前記アンド回路17から出力される前記パルス信号e−CLが供給される。このフリップフロップ回路FFは一方入力端ONの信号に応じて一方出力端がローレベルとされ、これに伴いスイッチSW1が導通してキャパシタC1の充電が開始される。
【0028】
また、フリップフロップ回路FFの他方入力端OFFに供給されるパルス信号e−CLに応じて、一方出力端がハイレベルとされ、これに伴いスイッチSW1が非導通とされてキャパシタC1の充電が停止される。フリップフロップ回路FFの他方出力端は出力ノードAに接続され、前記トランジスタN1のゲートは入力ノードRに接続されている。前記スイッチSW1とキャパシタC1の接続ノードと接地間にはNチャネルMOSトランジスタN3が接続されている。このトランジスタN3のゲートにはインバータ回路I1を介して活性化信号ENBLが供給されている。このトランジスタN3は、比較器の誤動作を防止するものであり、活性化信号ENBLがハイレベルのとき、非導通とされている。
【0029】
図8は、前記電圧Vcの生成回路を示している。この生成回路は活性化信号ENBLがハイレベルのとき、PチャネルMOSトランジスタP1がオンとされる。このトランジスタP1と接地間に接続されたNチャネルMOSトランジスタN4はゲートに基準信号Vbgrが供給され、常時オンとされている。基準信号Vbgrは、例えばバンドギャップリファレンス回路等により生成された温度補償された電圧である。このため、活性化信号ENBLがハイレベルとされると、PチャネルMOSトランジスタP1、NチャネルMOSトランジスタN4を介してローレベルの電圧Vcが出力される。この電圧Vcを適当に設定することにより、定電流源回路S1において、所望の定電流特性を得ることができる。
【0030】
なお、本発明に用いている定電流源回路はキャパシタC1、C2の充電時間を等しくするために用いられているが、充電時間が長く、充電電圧が高くなるとMOSトランジスタのドレイン−ソース間電圧VDSが小さくなり、定電流特性が得られなくなる。しかし、多少、定電流特性が変動しても、キャパシタC1、C2の充電に同じ構成の電流源回路を用いれば変動量も等しくなる。このため、キャパシタC1、C2の充電時間が等しくなるために問題は生じない。
【0031】
尚、CBDとして、キャパシタを例えば電源電圧Vccに充電しておき、そこから定電流で放電する構成の場合、定電流源回路としてはNチャネルMOSトランジスタが適している。
【0032】
図9(a)は、上記比較器14aの回路構成例を示し、図9(b)は図9(a)に示す比較器をシンボルで表した状態を示している。この比較器は、差動増幅器DFAと、この差動増幅器DFAの差動出力信号の立ち上がりと立ち下がりを一致させる制御回路CNTと、差動増幅器DFAの差動出力信号がそれぞれ供給されるインバータ回路INVと、インバータ回路INVの出力信号をラッチするラッチ回路LATとにより構成されている。前記差動増幅器DFA及び制御回路CNTは、V1、V2の電圧が比較的低い時でも感度が良好なPチャネルMOSトランジスタより構成されている。
【0033】
また、前述したように、キャパシタをVccに充電した状態から遅延時間に応じて放電させる場合は、NチャネルMOSトランジスタにより差動増幅器DFA及び制御回路CNTを構成すれば良い。
【0034】
電圧V1、V2の広い電圧範囲において感度を高くしたい場合は、PチャネルMOSトランジスタにより構成された差動増幅器と、NチャネルMOSトランジスタにより構成された差動増幅器を適宜組みあわせて用いても良い。
【0035】
図10、図11は、図7(a)(b)に示す定電流源回路及びキャパシタユニットCAP、及び図8(a)(b)に示す比較器を用いて図1に示すアナログ同期回路を構成したものであり、図1と同一部分には同一符号を付している。
【0036】
図12は、図1及び図10に示すディレイモニタ12の構成を示している。このディレイモニタ12は、入力バッファ11のレプリカ(I.B.)12aと出力バッファ13のレプリカ(O.B.)12bとオア回路16のレプリカ12cが直列に接続されて構成されている。
【0037】
上記第1の実施例によれば、ミラータイプDLLにおける遅延回路を定電流源回路S1、S2により充電されるキャパシタC1、C2、及びこれらキャパシタの充電電圧を比較する比較器14aにより構成し、前進パルス、後進パルスの遅延時間をキャパシタに蓄積された電荷量に置き換えている。すなわち、前進パルスの遅延時間に相当する時間だけ定電流源回路S1によりキャパシタC1を充電し、キャパシタC1と同一の容量を有するキャパシタC2を、定電流源回路S1と同一の電流量の定電流源回路S2により充電し、これらキャパシタC1、C2の電圧V1、V2を比較器14aで比較し、これら電圧が一致した時点で信号を出力している。したがって、パルス信号の遅延時間をアナログ値に置き換えて制御しているため、従来のような量子化誤差の発生を防止することが可能である。
【0038】
しかも、キャパシタC1、C2の容量は互いに等しく、定電流源回路S1、S2の電流量は互いに等しく設定されている。したがって、キャパシタC1が電圧V1まで充電されるのに要する時間と、キャパシタC2が電圧V2まで充電される時間は等しくなるため、キャパシタC1の充電時間をキャパシタC2の充電時間に正確にミラーできる。
【0039】
また、従来のように、遅延回路を複数のロジックゲートによって構成した場合、遅延回路の動作に伴いノイズが発生するが、この実施例のように、キャパシタにより構成することにより、ノイズの発生を抑えることができる。
【0040】
さらに、定電流源回路は、電圧により制御されるPチャネルMOSトランジスタあるいはNチャネルMOSトランジスタによって構成できるため、回路構成を簡単化できる利点を有している。
【0041】
また、キャパシタC1の容量を定電流源回路S1の電流量で割った値が、キャパシタC2の容量を定電流源回路S2の電流量で割った値と等しければ、すなわち、キャパシタC1と定電流源回路S1の電流量の比と、キャパシタC2と定電流源回路S2の電流量の比が所定の比率となっていれば、必ずしも定電流源回路とキャパシタの容量のどちらかを等しくする必要は無い。
【0042】
さらに、キャパシタC1、C2を充電する回路は、必ずしも定電流源回路に限定されるものではなく、電流源回路であってもよい。
【0043】
(第2の実施例)
図13に示すように、ミラータイプDLLでは外部クロック信号ECLKのジッターδを最悪3倍の3δに増幅したクロック信号ICLKを発生してしまうという問題がある。この問題を解決するため、図13に示すように、2クロック信号の間の時間(1サイクル)をミラーするのではなく、図14に示すように、2サイクルの半分の時間をミラーすれば、ジッターを平均化して低減することができる。同様に3サイクルの1/3時間をミラーすれば、3サイクルの平均を取ることになるため、ジッターを一層低減することが可能となる。
【0044】
図15は、本発明の第2の実施例を示すものであり、外部クロック信号ECLKの3サイクルを平均するミラータイプDLL回路である。図15に示す回路は、図1に示す回路に対して、CBDの構成が異なっており、その他の構成は図1と同様である。したがって、図1と同一部分には同一符号を付す。
【0045】
図15に示すCBDにおいて、キャパシタC1を充電するための定電流源回路S1は図1と同一であるが、キャパシタC2を充電するための定電流源回路S3の電流量が定電流源回路S1の3倍に設定されている。このような構成とすることにより、キャパシタC1を充電する時間の1/3の時間でキャパシタC2を充電することができる。このため、3サイクル分の時間でキャパシタC1を充電することにより、キャパシタC2はその1/3の1サイクル遅れたクロック信号を出力できることになる。
【0046】
図15に示す回路は、外部クロック信号の4クロックで1回の処理が行われる。このため、4つのCBD31、32、33、34を設け、これらCBD31、32、33、34が順次動作される。CBD31、32、33、34を順次動作するための回路が設けられている。すなわち、外部クロック信号ECLKは入力バッファ35に供給され、この入力バッファ35から出力されるクロック信号ICLKは、信号T2、/T2及び信号T4、/T4が選択的に供給されるアンド回路36、37、38、39により振り分けられる。これらアンド回路36、37、38、39から出力されるクロック信号a−CL、b−CL、c−CL、d−CLはそれぞれCBD31、32、33、34に供給される。
【0047】
また、ディレイモニタDM40は、図12に示す回路と同様であり、入力バッファ35と出力バッファ50とオア回路39の各レプリカ回路が直列接続されて構成されている。さらに、遅延時間を3倍するため、図18に示すように、3個のディレイモニタDM40が直列接続されて構成されている。図15ではこの様子をDM×3と表記している。前記ディレイモニタDM40の出力端には、タイミング調整用のアンド回路41、42の直列回路、アンド回路43、44の直列回路、アンド回路45、46の直列回路、アンド回路47、48の直列回路が接続されている。アンド回路41、43、45、47には信号T2’、/T2’及び信号T4’、/T4’が選択的に供給されている。アンド回路42、44、46、48も、図18に示すように、一方の入力端がハイレベル、例えば電源電圧Vccに固定されたアンド回路が3個直列に接続されて構成されている。図15ではこの様子を“×3”と表記している。各アンド回路42、44、46、48から出力されるクロック信号a−dmCL、b−dmCL、c−dmCL、d−dmCLはそれぞれCBD31、32、33、34に供給される。これらCBD31、32、33、34の出力信号はオア回路49を介して出力バッファ50に供給される。
【0048】
また、図15において、信号T2は前述したように、クロック信号ICLKを2分周したクロック信号である。また、信号T4はクロック信号ICLKを4分周したクロック信号であり、信号/T4は信号T4の反転信号である。さらに、信号T4’、/T4’は、信号T2’、/T2’と同様のタイミング調整のため、信号T4、/T4を適宜遅延したものである。
【0049】
図16は、図15に示すCBD31におけるキャパシタC1、C2の電圧V1、V2の変化を示している。上記構成において、定電流源回路S3の電流は定電流源回路S1の3倍であるため、キャパシタC2の電圧V2がキャパシタC1の電圧V1と一致するまでの充電時間を1/3にすることができる。このため、3サイクル分の時間でキャパシタC1を充電することにより、キャパシタC2はその1/3の1サイクル遅れたクロック信号を出力できることになる。
【0050】
図17は、外部クロック信号ECLKから内部クロック信号CKが発生されるタイミングを示している。
【0051】
上記第2の実施例によれば、外部クロック信号ECLKの3サイクルの1/3時間をミラーすることにより、3サイクルの平均を取っている。このため、ジッターを低減することができる。
【0052】
しかも、遅延時間は電荷量というアナログ量で決まるため、平均化を厳密に行うことができ、平均化に伴う量子化誤差が発生しない利点を有している。
【0053】
図18、図19は、図15を詳細に示す回路構成図であり、図15と同一部分には同一符号を付す。また、図19は、図11と同一のシンボルを用いて記載している。ここで、定電流源回路S3は3個の同一サイズのPチャネルMOSトランジスタを並列接続して構成され、各トランジスタのゲートには電圧Vcが供給されている。
【0054】
図20(a)は、クロック信号ICLKから上記信号T4、/T4を生成する回路の一例を示している。図20(b)は、図20(a)に示す遅延回路(DL)の一例を示している。この遅延回路において、クロックドインバータ回路は、図20(a)に示す回路から供給される信号b、/bにより制御される。
【0055】
なお、第2の実施例では、3サイクルの平均を取ったが、平均をとるサイクル数を増やせばジッターをさらに低減することができる。
【0056】
(第3の実施例)
図21は、本発明の第3の実施例を示している。第2の実施例では、キャパシタC2を充電するための定電流源回路S3の電流量を定電流源回路S1の3倍にした。これに対して、第3の実施例は、キャパシタC3の容量をキャパシタC2の容量の3倍に設定し、定電流源回路は等しい電流量のS1、S2を用いている。このような構成としても、第2の実施例と同様の効果を得ることができる。
【0057】
(第4の実施例)
上記第2の実施例では、ジッターの影響を低減するため、キャパシタC1の充電時間をキャパシタC2の充電時間の3倍に設定し、キャパシタC1を図16に示すように、所定の電圧に一度に充電した。これに対して、第4の実施例では図22に示すように、3回に分割して充電する。
【0058】
図23は第4の実施例の構成を示すものであり、図15と同一部分には同一符号を付す。図23において、入力バッファ35から出力されるクロック信号ICLKは論理回路(F1)61、62、63、64に供給される。これら論理回路61、62、63、64には、信号T2、/T2、及び信号T4、/T4が選択的に供給され、各論理回路61、62、63、64は信号T2、/T2、及び信号T4、/T4に応じて、各CBD31、32、33、34を構成するキャパシタC1と、キャパシタC2の充電を制御するタイミング信号out1、out2を生成する。前記タイミング信号out1は各CBD31、32、33、34を構成する前記定電流源回路S3に起動信号として供給されるとともに、各前段のCBD31、32、33、34を構成するNチャネルMOSトランジスタN1のゲートに放電タイミングの制御信号として供給される。また、前記タイミング信号out2は各CBD31、32、33、34を構成する前記定電流源回路S1に停止信号として供給される。
【0059】
また、ディレイモニタ65は、第3の実施例と異なり、入力バッファ35、出力バッファ50、オア回路49の各レプリカ回路1段のみにより構成されている。このディレイモニタ65から出力されるクロック信号ICLK’は論理回路(f2)66、67、68、69にそれぞれ供給される。これら論理回路(f2)66、67、68、69には、信号T2’、/T2’、及び信号T4’、/T4’が選択的に供給されており、これら信号に応じてタイミング信号out3を出力する。このタイミング信号out3は、各CBD31、32、33、34を構成する定電流源回路S1に起動信号として供給される。
【0060】
図24は、前記論理回路(F1)61〜64の構成を示すものであり、信号Ta、Tbはそれぞれ信号T2、/T2、及び信号T4、/T4を示している。これら論理回路61〜64は、アンド回路71、72により構成され、各アンド回路71、72から前記タイミング信号out1、out2がそれぞれ出力される。
【0061】
図25は、前記論理回路(F2)66〜69の構成を示すものであり、信号Ta、Tbはそれぞれ信号T2’、/T2’、及び信号T4’、/T4’を示している。これら論理回路66〜69は、アンド回路73、74、及びオア回路75により構成され、各アンド回路74から前記タイミング信号out3が出力される。
【0062】
上記第4の実施例によれば、図22に示すように、外部クロック信号ECLKの1サイクル毎に定電流源回路S1が動作され、キャパシタC1が3回に分割して充電される。このため、ディレイモニタ65は第2の実施例のように、3倍の遅延時間を有する必要が無い。このため、ディレイモニタ65の回路面積及び誤差の累積を削減することができる。
【0063】
(第5の実施例)
上記各実施例において、キャパシタC1、C2の電圧V1、V2の電位差は、差動増幅回路からなる比較器により検出した。これに対して、第5の実施例では、インバータ回路を用いた比較器について説明する。
【0064】
図26は、第5の実施例に係る比較器の回路図を示している。この比較器CMPにおいて、NチャネルMOSトランジスタ81の電流通路の一端にはキャパシタC1の電圧V1が供給されている。このトランジスタ81のゲートにはインバータ回路82を介して、例えばクロック信号e−CL又はo−CL等の活性化信号ENが供給されている。また、NチャネルMOSトランジスタ83の電流通路の一端にはキャパシタC2の電圧V2が供給されている。このトランジスタ83のゲートには前記インバータ回路82、及びインバータ回路84を介して前記活性化信号ENが供給されている。前記トランジスタ81、83の電流通路の他端はキャパシタCcの一端に接続されている。このキャパシタCcの他端はインバータ回路85の入力端に接続されている。このインバータ回路85の出力端と入力端は、NチャネルMOSトランジスタ86を介して接続されている。このインバータ回路85の出力端及び前記インバータ回路82の出力端はノア回路87の入力端にそれぞれ接続されている。
【0065】
上記構成において、例えば活性化信号ENがローレベルの場合、キャパシタCcにはトランジスタ81を介してキャパシタC1の電圧V1が供給されている。また、トランジスタ86が導通されているため、インバータ回路85の入力と出力が短絡され初期化されている。したがって、インバータ回路85の特性において出力が最も急峻に変化することが可能で、最も感度の良い動作点に設定される。この時、ノア回路87の出力信号はローレベルとなっている。
【0066】
上記状態において、活性化信号ENがハイレベルになると、トランジスタ86がオフとなり、インバータ回路85の初期化が停止される。また、トランジスタ83が導通されることにより、キャパシタC2の電圧がキャパシタCcの一端に供給される。ここで、電圧V2が電圧V1よりも低い時、キャパシタCcの他端の電圧がカップリングによりローレベルとなるため、ノア回路87の出力信号もローレベルである。一方、電圧V2が電圧V1よりも僅かに高い電圧になると、キャパシタCcの他端の電圧がカップリングにより上昇し、インバータ回路85の出力レベルが反転する。このため、ノア回路87の出力信号がハイレベルとなる。
【0067】
上記比較器CMPによれば、活性化信号ENがローレベルになると、電圧V1のレベルに拘わらず、インバータ回路85は最も高い動作点に設定される。このため、電圧V2が電圧V1と同じになった時点でインバータ回路85の出力信号が必ず反転する。つまり、電圧V1、V2の直流的な電圧成分はキャパシタCcが除去し、交流的な電圧成分のみでノア回路87の出力信号が決定される。このため、差動増幅器を用いた比較器に比べて、より広い動作範囲を確保することができる。
【0068】
なお、図26に示す回路では、NチャネルMOSトランジスタ81、83のみを用いてトランスファーゲートを構成しているが、電圧V1、V2の変化に対してより広い動作範囲を得るためには、CMOSのトランスファーゲートを用いれば良い。
【0069】
この発明は上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施可能なことは勿論である。
【0070】
【発明の効果】
以上、詳述したようにこの発明によれば、遅延時間を電荷量というアナログ量で検出できるため、ロジックゲートを遅延線に用いた従来のミラータイプDLLにおいて問題であった量子化誤差の発生を防止できる。したがって、前進パルスと後退パルスの遅延量を等しくすることが可能なアナログ同期回路を提供できる。
【0071】
また、キャパシタを定電流源で充電しているため、電源電圧の変動の影響を受けることがなく、動作マージンを向上できる。
【0072】
さらに、ロジックゲートをクロック信号が伝播する時にノイズを発生していたが、定電流源回路を用いることにより交流成分を大幅に低減できる。このため、ノイズの発生を著しく抑えることができる。
【0073】
また、外部クロック信号をアナログ的に平均化することにより、外部クロック信号のジッターを抑制でき、しかも、アナログ的に平均化することにより、平均化に伴う量子化誤差の発生を防止できる利点を有している。
【0074】
さらに、初期時に入力端と出力端が短絡され、比較対象としての2つの電圧がキャパシタを介して供給されるインバータ回路を用いて比較器を構成することにより、高感度の比較器を構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す回路構成図。
【図2】図1に示す回路の動作を示す波形図。
【図3】図1に示す回路の動作を示すものであり、各部の電圧波形図。
【図4】図4(a)は図1に示す信号を生成する回路の一例を示し、図4(b)は図4(a)の一部を取り出して示す回路図。
【図5】定電流源回路の原理を説明するために示す図。
【図6】定電流源回路の原理を説明するために示す図。
【図7】図7(a)は定電流源回路とキャパシタユニットを示す回路図、図7(b)は図7(a)に示すキャパシタユニットをシンボルで示す図。
【図8】図1に示す定電圧Vcの生成回路を示す回路図。
【図9】図9(a)は図1に示す比較器の一例を示す回路図、図9(b)は図9(a)に示す比較器をシンボルで示す図。
【図10】図1に示す本発明に係るアナログ同期回路の一部を具体的に示す構成図。
【図11】図1に示す本発明に係るアナログ同期回路の一部を具体的に示す構成図。
【図12】図10に示すディレイモニタの一例を示す構成図。
【図13】ミラータイプDLLの問題点を説明するために示す波形図。
【図14】本発明の第2の実施例の原理を説明するために示す波形図。
【図15】本発明の第2の実施例を示す回路構成図。
【図16】図15の動作を説明するために示すものであり、各部の電圧波形図。
【図17】図15の動作を説明するために示す波形図。
【図18】図15の一部を詳細に示す回路構成図。
【図19】図15の一部を詳細に示す回路構成図。
【図20】図20(a)は図18に示す信号を生成するための回路図、図20(b)は図20(a)の一部を取り出して示す回路図。
【図21】本発明の第3の実施例を示すものであり、チャージ・バランス・ディレイを示す回路図。
【図22】本発明の第4の実施例の原理を説明するために示す波形図。
【図23】本発明の第4の実施例を示す回路構成図。
【図24】図23の一部の回路を具体的に示す回路図。
【図25】図23の一部の回路を具体的に示す回路図。
【図26】本発明の第5の実施例を示す回路構成図。
【図27】従来のミラータイプDLLの一例を示す構成図。
【図28】従来の問題点を説明するために示す図。
【符号の説明】
11、35…入力バッファ、
12…ディレイモニタ、
13…出力バッファ、
14、15…チャージ・バランス・ディレイ(CBD)、
S1、S2、S3、S4…定電流源回路、
C1、C2…キャパシタ、
14a…比較器、
31〜34…チャージ・バランス・ディレイ(CBD)、
S3、S4…定電流源回路、
40…ディレイモニタ、
61〜64…論理回路、
65…ディレイモニタ、
66〜69…論理回路、
out1,out2,out3…タイミング信号、
CMP…比較器、
81、83、86…NチャネルMOSトランジスタ、
Cc…キャパシタ、
85…インバータ回路、
87…ノア回路。
Claims (7)
- 第1のキャパシタと、
第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号から遅れた第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、
第2のキャパシタと、
前記第2のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する第2の定電流源回路と、
前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する比較器と
を具備することを特徴とするアナログ同期回路。 - 前記第1のキャパシタの容量と前記第1の定電流源回路の電流量の比が前記第2のキャパシタの容量と前記第2の定電流源回路の電流量の比と等しいことを特徴とする請求項1記載のアナログ同期回路。
- 前記第1のキャパシタの容量と前記第1の定電流源回路の電流量の比が前記第2のキャパシタの容量と前記第2の定電流源回路の電流量の比が一定の割合で異なることを特徴とする請求項1記載のアナログ同期回路。
- 前記第1のキャパシタに接続され、前記第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを放電する第1の放電回路と、
前記第2のキャパシタに接続され、前記比較器の出力信号に応じて前記第2のキャパシタを放電する第2の放電回路と
をさらに具備することを特徴とする請求項1記載のアナログ同期回路。 - 第1のキャパシタと、
第1のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号からnクロック遅れた第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、
第2のキャパシタと、
前記第2のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する前記第1の定電流源回路のn倍の電流量を有する第2の定電流源回路と、
前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する比較器と
を具備することを特徴とするアナログ同期回路。 - 前記比較器は、
入力端に前記第1のキャパシタの充電電圧が供給され、制御信号が第1の状態の時に導通される第1のトランスファーゲートと、
入力端に前記第2のキャパシタの充電電圧が供給され、前記制御信号が第2の状態の時に導通される第2のトランスファーゲートと、
前記第1、第2のトランスファーゲートの出力端に一端が接続されたキャパシタと、
前記キャパシタの他端に入力端が接続されたインバータ回路と、
前記インバータ回路の入力端と出力端の相互間に接続され、前記制御信号が第1の状態の時に導通される第3のトランスファーゲートと
を具備することを特徴とする請求項1又は5記載のアナログ同期回路。 - 外部クロック信号が供給される入力バッファと、
前記入力バッファから出力されるクロック信号の1サイクル毎に交互に第1のクロック信号、第2のクロック信号を取り出す第1の論理回路と、
前記入力バッファから出力されるクロック信号が供給されるディレイモニタと、
前記ディレイモニタから出力されるクロック信号の1サイクル毎に交互に第3のクロック信号、第4のクロック信号を取り出す第2の論理回路と、
前記第1の論理回路から出力される第1のクロック信号と前記第2の論理回路から出力される第3のクロック信号とが供給される第1のチャージ・バランス・ディレイと、
前記第1の論理回路から出力される第2のクロック信号と前記第2の論理回路から出力される第4のクロック信号とが供給される第2のチャージ・バランス・ディレイと、
前記第1、第2のチャージ・バランス・ディレイから出力されれるクロック信号とを合成する合成回路と、
前記合成回路の出力信号から内部クロック信号を出力する出力バッファとを具備し、
前記第1のチャージ・バランス・ディレイは、
第1のキャパシタと、
前記第3のクロック信号に応じて前記第1のキャパシタを充電開始し、前記第1のクロック信号に応じて前記充電を停止する第1の定電流源回路と、
第2のキャパシタと、
前記第1のクロック信号に応じて前記第2のキャパシタを充電開始する第2の定電流源回路と、
前記第1、第2のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する第1の比較器とを具備し、
前記第2のチャージ・バランス・ディレイは、
第3のキャパシタと、
前記第4のクロック信号に応じて前記第3のキャパシタを充電開始し、前記第2のクロック信号に応じて前記充電を停止する第3の定電流源回路と、
第4のキャパシタと、
前記第2のクロック信号に応じて前記第4のキャパシタを充電開始する第4の定電流源回路と、
前記第3、第4のキャパシタの充電電圧を比較し、これらが一致した場合タイミング信号を発生する第2の比較器と
を有することを特徴とするアナログ同期回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22871099A JP3590304B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | アナログ同期回路 |
| US09/628,449 US6449212B1 (en) | 1999-08-12 | 2000-07-28 | Analog synchronization circuit for synchronizing external and internal clock signals |
| TW089116240A TW469700B (en) | 1999-08-12 | 2000-08-11 | Analog synchronizing circuit for making external clock pulse signal synchronize with internal clock pulse signal |
| KR10-2000-0046553A KR100366742B1 (ko) | 1999-08-12 | 2000-08-11 | 외부 클럭 신호와 내부 클럭 신호를 동기화시키는아날로그 동기 회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22871099A JP3590304B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | アナログ同期回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001051745A JP2001051745A (ja) | 2001-02-23 |
| JP3590304B2 true JP3590304B2 (ja) | 2004-11-17 |
Family
ID=16880606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22871099A Expired - Fee Related JP3590304B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | アナログ同期回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6449212B1 (ja) |
| JP (1) | JP3590304B2 (ja) |
| KR (1) | KR100366742B1 (ja) |
| TW (1) | TW469700B (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3790076B2 (ja) * | 1999-11-15 | 2006-06-28 | 株式会社東芝 | アナログ同期回路 |
| US6570813B2 (en) | 2001-05-25 | 2003-05-27 | Micron Technology, Inc. | Synchronous mirror delay with reduced delay line taps |
| US7266678B2 (en) * | 2001-11-06 | 2007-09-04 | Dell Products L.P. | Dynamic configuration of computer when booting |
| US7389449B2 (en) * | 2004-09-30 | 2008-06-17 | Credence Systems Corporation | Edge selecting triggering circuit |
| KR100632368B1 (ko) * | 2004-11-23 | 2006-10-09 | 삼성전자주식회사 | 락킹속도가 향상되는 내부클락발생회로와 이에 포함되는아날로그 싱크로너스 미러 딜레이 |
| US7864609B2 (en) * | 2008-06-30 | 2011-01-04 | Micron Technology, Inc. | Methods for determining resistance of phase change memory elements |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2925182B2 (ja) | 1989-10-11 | 1999-07-28 | 株式会社エー・ケー・エム | クロック再生装置 |
| JP3125516B2 (ja) | 1993-05-18 | 2001-01-22 | 株式会社日立製作所 | 音声信号処理装置 |
| US5440515A (en) * | 1994-03-08 | 1995-08-08 | Motorola Inc. | Delay locked loop for detecting the phase difference of two signals having different frequencies |
| JPH08130449A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧制御型遅延回路およびそれを用いた内部クロック発生回路 |
| JP3410922B2 (ja) | 1996-04-23 | 2003-05-26 | 株式会社東芝 | クロック制御回路 |
| JP3893167B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2007-03-14 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
| JPH11203864A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
-
1999
- 1999-08-12 JP JP22871099A patent/JP3590304B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-07-28 US US09/628,449 patent/US6449212B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-11 KR KR10-2000-0046553A patent/KR100366742B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-11 TW TW089116240A patent/TW469700B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001051745A (ja) | 2001-02-23 |
| TW469700B (en) | 2001-12-21 |
| US6449212B1 (en) | 2002-09-10 |
| KR100366742B1 (ko) | 2003-01-09 |
| KR20010050052A (ko) | 2001-06-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4609808B2 (ja) | 半導体集積回路装置及び遅延ロックループ装置 | |
| US7199634B2 (en) | Duty cycle correction circuits suitable for use in delay-locked loops and methods of correcting duty cycles of periodic signals | |
| US7969802B2 (en) | Apparatus and method of generating output enable signal for semiconductor memory apparatus | |
| US6377101B1 (en) | Variable delay circuit and semiconductor integrated circuit device | |
| JP4060514B2 (ja) | 同期信号発生回路 | |
| US7830189B2 (en) | DLL circuit and control method therefor | |
| USRE45247E1 (en) | Duty cycle correction circuit of delay locked loop and delay locked loop having the duty cycle correction circuit | |
| CN101106370B (zh) | 时钟控制方法及其控制电路 | |
| JP2000261315A (ja) | アナログ混用ディジタルdll | |
| US7116149B2 (en) | Duty cycle correction circuit of delay locked loop and the delay locked loop having the duty cycle correction circuit | |
| US6600352B2 (en) | Timing signal generating circuit | |
| KR20070104727A (ko) | 지연 고정 루프 | |
| US6924686B2 (en) | Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a counter and reduced size bi-directional delay line | |
| JP3906016B2 (ja) | 同期回路 | |
| JP3590304B2 (ja) | アナログ同期回路 | |
| JP2004208152A (ja) | 遅延回路 | |
| KR100389997B1 (ko) | 아날로그 동기 회로 | |
| JP2001195149A (ja) | 内部クロック信号発生回路 | |
| CN116488619A (zh) | 占空比纠正电路及芯片 | |
| CN116488620B (zh) | 占空比纠正电路及芯片 | |
| CN116488620A (zh) | 占空比纠正电路及芯片 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040318 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040330 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040528 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040817 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040819 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070827 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100827 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100827 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110827 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110827 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120827 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120827 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |