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JP3597787B2 - Magnetic recording head measuring device and magnetic recording head measuring method - Google Patents
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JP3597787B2 - Magnetic recording head measuring device and magnetic recording head measuring method - Google Patents

Magnetic recording head measuring device and magnetic recording head measuring method Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置及び磁気記録ヘッド測定方法に関し、特に、磁気力顕微鏡(Magnetic Force Microscope:MFM)の技術を用いて磁気記録ヘッドの高周波磁界の周波数特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置及び磁気記録ヘッド測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えばハードディスクドライブ(HDD)に使用する磁気記録ヘッドの製造工程などにおいて、当該ヘッドの磁界の分布や磁気力などを測定する場合に、磁気力顕微鏡(MFM)を利用した専用のヘッド測定装置が使用されている。MFMは、走査型プローブ顕微鏡の一種で、通常ではカンチレバーに搭載された探針を測定対象試料である磁気記録ヘッドに接近させて、非接触状態で当該ヘッドから発生する磁界による磁気力相互作用(力または力勾配)を検出する。
【0003】
磁気記録ヘッド(以下単にヘッドと略す場合がある)は、例えばインダクティブ型の薄膜ヘッドであり、コイルに印加される信号電流に応じた記録磁界を発生する磁気ギャップを有する。前記磁気記録ヘッド測定装置は、試料であるヘッド(のコイル)に高周波の信号電流を印加し、当該磁気ギャップから発生する磁界分布を測定する。具体的な測定方法としては、振動しているカンチレバーの位相または変位(ヘッドの磁界に伴う磁気力相互作用)を検出し、この検出結果に基づいて探針と試料間に作用する力勾配または力を測定する。この場合、カンチレバーの位相は力勾配に近似し、またカンチレバーの変位は力に近似するという関係を利用して測定を行う。
【0004】
ところで、測定方式としては種々なものがある。例えば“Measuring the gigahertz response of recording heads with the magnetic force microscope”, R. Proksch et al. (Digital Instruments et al.), Applied Physics Latters, Vol. 74, No. 9, March 1999, pp 1308−1310(以下、先行技術1と称する)には、磁気記録ヘッドに振幅変調された電流を印加し、その変調周波数をMFMカンチレバーの共振周波数に合わせることによって、振動したカンチレバーの変位(力)の共振周波数成分を検出する技術が開示されている。この技術では、カンチレバーの機械的共振周波数のQ値を利用することによって感度を向上させている。
【0005】
また、「記録および再生ヘッドの評価解析技術」,大森広之,ソニー株式会社,日本応用磁気学会誌,vol. 23, No. 12, 1999, pp2111−2117(以下、先行技術2と称する)には、磁気記録ヘッドに高周波の正弦波を印加し、ヘッドの周りに生じた磁界によるカンチレバーの位相変化(力勾配)のDC成分を測定する技術が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上述の先行技術1及び2は、原理的には有効な方法であるが、主にヘッドの磁界の空間分布を測定するためのものであり、実際のHDDに組み込んだ状態における高周波磁界の周波数特性の測定には適していない。その理由は、信号発生器とヘッドを駆動するアンプとの信号印加方法の違いにある。信号発生器は通常、電圧一定で駆動されるが、実際のヘッドアンプは電流一定で駆動される(ただし、周波数特性により高周波では一定でなくなる場合もある)。信号発生器から直接信号印加を行う場合、高周波では回路計のインピーダンスが変化するため、HDDに組み込んだ状態に近い周波数特性を測定することができない。また、実際のヘッドアンプはデジタル動作するため、これを先行技術1や先行技術2の装置に組み込むことは困難である。
【0007】
本発明は上記実状に鑑みてなされたものであり、磁気記録ヘッドをHDDに組み込んだ状態と同じような環境において当該磁気記録ヘッドから生じている磁界の周波数特性を測定することのできる磁気記録ヘッド測定装置及び磁気記録ヘッド測定方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る磁気記録ヘッド測定装置は、磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置であって、前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査する探針と、前記探針を振動させる振動手段と、搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成すると共に、当該搬送波周波数を変化させる信号発生手段と、実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有しており、前記振幅変調信号に基づいて前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流を生成して当該磁気記録ヘッドに印加するヘッドアンプ等価回路と、前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定する位相変位測定手段と、前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定する磁界周波数依存性測定手段とを具備したことを特徴とする。
【0009】
また、本発明に係る磁気記録ヘッド測定装置は、磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置であって、実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路と、信号発生器と、電流振幅測定器とで構成され、前記磁気記録ヘッドが接続される前記ヘッドアンプ等価回路に対し、前記信号発生器から振幅を一定の値に維持したまま信号周波数を変化させた信号を入力し、前記磁気記録ヘッドに供給される電流の振幅を前記電流振幅測定器を用いて測定する電流周波数依存性測定手段と、前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査する探針と、前記探針を振動させる振動手段と、搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成し、前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流として当該磁気記録ヘッドに印加すると共に、当該搬送波周波数を変化させる信号発生手段と、前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定する位相変位測定手段と、前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定する磁界周波数依存性測定手段とを具備したことを特徴とする。
【0010】
また、本発明に係る磁気記録ヘッド測定方法は、磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定方法であって、探針を振動させた状態で前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査するステップと、搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成すると共に、当該搬送波周波数を変化させるステップと、前記振幅変調信号を実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路に印加するステップと、前記ヘッドアンプ等価回路から前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流を生成して当該磁気記録ヘッドに印加するステップと、前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定するステップと、前記搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定するステップとを有することを特徴とする。
【0011】
また、本発明に係る磁気記録ヘッド測定方法は、磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定方法であって、実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路と、信号発生器と、電流振幅測定器とを用い、前記磁気記録ヘッドが接続される前記ヘッドアンプ等価回路に対し、前記信号発生器から振幅を一定の値に維持したまま信号周波数を変化させた信号を入力し、前記磁気記録ヘッドに供給される電流の振幅を前記電流振幅測定器を用いて測定するステップと、探針を振動させた状態で前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査するステップと、搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成し、前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流として当該磁気記録ヘッドに印加すると共に、当該搬送波周波数を変化させるステップと、前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定するステップと、前記搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定するステップとを有することを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【0013】
<第1の実施形態>
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。
(磁気記録ヘッド測定装置の構成)
図1は、本発明の第1の実施形態に関係する磁気記録ヘッド測定装置の要部を示すブロック図である。
【0014】
同実施形態の測定装置は、図1のように、被測定物である磁気記録ヘッド101と、この磁気記録ヘッド101に電流を印加するヘッドアンプ等価回路102と、搬送波周波数ωc及び変調周波数ωmの振幅変調された信号を発生し、ヘッドアンプ等価回路102に流れる電流の振幅ならびに周波数を制御する信号発生器103と、磁気記録ヘッド101に流れる電流の振幅を測定する電流値測定器104と、磁気記録ヘッド101から生じている高周波磁界を測定するための、磁性体からなるもしくは磁性体をコーティングし磁化された振動子としての探針106と、この探針106に働く力学的相互作用を測定する力学的相互作用測定系107と、この力学的相互作用測定系107から出力される1つまたは複数の信号を保存・処理する信号処理装置108とを有する。以下では、「電流の振幅」を「電流値」と称するものとする。
【0015】
さらに、測定装置は、探針106を支えるカンチレバー111と、このカンチレバー111をその機械的共振周波数ωr(もしくはその近傍の周波数)で振動させる加振用圧電素子112と、この加振用圧電素子112に機械的共振周波数ωr(もしくはその近傍の周波数)の信号を与える信号発生器113を有する。
【0016】
特に、本実施形態の測定装置では、上記探針106、カンチレバー111、加振用圧電素子112、力学的相互作用測定系107などにより力測定装置109を構成しており、また、力測定装置109、磁気記録ヘッド101、ヘッドアンプ等価回路102、信号発生器103、電流値測定器104などにより磁気ヘッド特性評価装置114を構成している。
【0017】
磁気ヘッド特性評価装置114は、力学的相互作用測定系107で測定される力学的相互作用の振幅変調の変調周波数に同期した振幅成分を抽出することができ、これにより搬送波周波数に依存した磁界の成分を得ることができるようになっている。
【0018】
力測定装置109は、探針106を3次元走査する機能と、高周波磁界によって探針106に働く力学的相互作用を測定する機能と、磁気記録ヘッド101の表面形状を測定する機能とを有しており、これらの機能は市販もしくは自作の走査型プローブ顕微鏡(scanning probe microscope; SPM)を流用することで実現することが可能である。
【0019】
図2に、磁気ヘッド特性評価装置114の中の構成要素をさらに詳細に示す。
【0020】
すなわち、本実施形態の測定装置は、上述した要素のほか、カンチレバー111の変位を検出する変位検出計115と、信号発生器113から発生される信号と変位検出計115から出力される信号との位相の違いを検出し、探針106に働く力勾配を測定する位相検出器116と、この位相検出器116のAC成分を測定する同期検波器117と、変位検出計115から出力されるAC信号の振幅を直流信号として出力する振幅/直流電圧変換器(RMS−DC回路)118と、この振幅/直流電圧変換器118の出力を一定にするためのフィードバック回路119と、探針106と磁気ヘッド101との3次元の相対位置を変化させる走査用圧電素子120とを更に有する。これらの各要素は、図1中の力測定装置109に設けられるものとする。
【0021】
なお、信号処理装置108は、得られたデータを保存するだけでなく、力測定装置109を含む磁気ヘッド特性評価装置114の制御ならびに監視をも行う。また、磁気ヘッド特性評価装置114の測定条件及び測定データを一括して保存することができ、データの解析を実験後にも行うことを可能とする機能を備えている。
【0022】
特に、本実施形態では、ヘッドアンプと等価な回路(一種の電圧−電流変換器)を高周波で駆動できることから、磁気記録ヘッドの周波数特性を、電気的特性(ヘッドアンプやスライダ部分の配線をも含めた特性)と磁気的特性(ヘッドの磁性材料の特性)とに分離して測定することができるものとなっている。
【0023】
(測定方法)
以下、図1と共に、図3及び図4のフローチャートを参照して、同実施形態の測定方法を説明する。
【0024】
本実施形態における磁気記録ヘッドの周波数特性の測定は、図3及び図4に示す処理にしたがって行われる。図3における処理では、(1)磁気記録ヘッドをHDDに組み込んだ状態に近い環境でのヘッド磁界周波数依存性(即ち、位相シフト−周波数特性)、及び、(2)磁気記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性(即ち、電流−周波数特性)を測定できる。一方、図4における処理では、(3)磁気記録ヘッド部分(おもに磁性材料に関する)の周波数依存性(即ち、位相シフト−周波数特性)を測定できる。
【0025】
まず、図3において、被測定物である磁気記録ヘッド101を所定の測定位置に配置させる。信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CF(ωc)、変調周波数MF(ωm)、及び振幅を設定する(ステップS101)。なお、変調周波数MF(ωm)はカンチレバー111の機械的共振周波数ωrよりも小さくなるように設定する。
【0026】
信号発生器103から出力される振幅変調信号をヘッドアンプ等価回路102に印加し(ステップS102)、磁気記録ヘッド101に磁界を発生させる。
【0027】
探針106を磁気記録ヘッドに非接触状態で近づけ(ステップS103)、ヘッド磁界による力学的相互作用を測定できるようにする。
【0028】
磁気記録ヘッド101に流れる電流値を電流値測定器104で測定し(ステップS104)、探針106に働く力のωm成分を測定する(ステップS105)。ここで、ステップS105での測定とは、(1)探針106を磁気記録ヘッド101に近づけ探針106を走査させずに1点で測定する場合、もしくは、(2)探針106を走査させ、1次元プロファイルもしくは2次元画像を測定した後、任意の1点を選びその場所におけるωm成分を測定値とする場合がある。
【0029】
別の搬送波周波数CF(ωc)でも測定を行う場合、信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CFを設定し(ステップS107)、ステップS104及びS105の測定を繰り返す。
【0030】
それぞれの周波数における結果から、(1)磁気記録ヘッドをHDD装置に組み込んだ状態に近い状態でのヘッド磁界周波数依存性201、及び、(2)磁気記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性202が得られる(ステップS108)。
【0031】
次に、図4において、被測定物である磁気記録ヘッド101を所定の測定位置に配置させ、信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CF(ωc)、変調周波数MF(ωm)、及び振幅を設定する(ステップS201)。なお、変調周波数MF(ωm)はカンチレバー111の機械的共振周波数ωrよりも小さくなるように設定する。
【0032】
信号発生器103から出力される振幅変調信号をヘッドアンプ等価回路102に印加し(ステップS202)、磁気記録ヘッド101に磁界を発生させる。
【0033】
探針106を磁気記録ヘッドに非接触状態で近づけ(ステップS203)、ヘッド磁界による力学的相互作用を測定できるようにする。
【0034】
磁気記録ヘッド101に流れる電流値があらかじめ決めておいた値に等しくなるように、信号発生器103の振幅を調節し(ステップS204)、探針106に働く力のωm成分を測定する(ステップS205)。ここで、ステップS205での測定とは、(1)探針106を磁気記録ヘッド101に近づけ探針106を走査させずに1点で測定する場合、もしくは、(2)探針106を走査させ、1次元プロファイルもしくは2次元画像を測定した後、任意の1点を選びその場所におけるωm成分を測定値とする場合がある。
【0035】
別の搬送波周波数CF(ωc)でも測定を行う場合(ステップS206)、信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CFを設定し(ステップS207)、ステップS204及びS205の測定を繰り返す。
【0036】
それぞれの周波数における結果から、(3)磁気記録ヘッド部分の特性のみを反映したヘッド磁界周波数依存性301が得られる(ステップS208)。
【0037】
図5は、磁気記録ヘッドにおける測定位置などを説明するための図である。一方、図6(a)及び図6(b)は、それぞれ図3の処理で得られたヘッド磁界周波数依存性201及びヘッド電流周波数依存性202に対応するグラフ501及び502である。また、図7は、図4の処理で得られたヘッド磁界周波数依存性301に対応するグラフ601である。なお、この場合の測定位置は、図5の磁気記録ヘッドギャップにおけるP2磁極402のギャップ中央403に相当する。また、図6(a)のグラフ501及び図7のグラフ601における「位相シフト」とは、MFM測定における磁界の強度を示す単位で、値が大きいほど磁界強度が大きいことを示している。
【0038】
図6(a)のグラフ501において、周波数が5〜20MHzの領域では位相シフトに変化がなく、一様な磁界が生じていることがわかる。50MHz付近から位相シフトが小さくなり、100MHz付近で極小値になる。また、230MHz付近で極大になり、それ以降の周波数では減衰している。図6(b)のグラフ502では、極小値は無いが、図6(a)のグラフ501と同じ周波数で極大値が認められる。一方、図7のグラフ601では、図6(a)のグラフ501のように極小・極大値は無く、周波数が高くなるにつれて位相シフトが減少する。また、減少の割合は周波数が高くなるにつれて大きくなっている。
【0039】
ここで、磁気記録ヘッドをHDD装置に組み込んだ状態に近い状態でのヘッド磁界周波数依存性201が図6(a)のグラフ501に示す特性をもつ理由を考察する。図6(a)のグラフ501はヘッドアンプならびに配線・磁気記録ヘッドを含めた周波数特性の測定結果を示し、図7のグラフ601はヘッド部分の周波数特性の測定結果を示している。図6(b)のグラフ502における電流値の周波数特性がヘッドアンプ等価回路102や配線などの電気的な周波数特性であることを考慮すると、図7のグラフ601での周波数特性と図6(b)のグラフ502での周波数特性とを合わせたものが、図6(a)のグラフ501での特性に等しくなることが予想される。
【0040】
図8のグラフ701は、図7のグラフ601での周波数特性と図6(b)のグラフ502での周波数特性とを掛け合わせた結果を示すものである。図3のグラフ701の周波数特性は、図6(a)のグラフ501の周波数特性にほぼ等しいことがわかる。このことから、本実施形態による測定方法では、周波数依存性を磁気的特性(図7のグラフ601)と電気的特性(図6(b)のグラフ502)とに分離して測定でき、これらを合わせた特性である、磁気記録ヘッドをHDD装置に組み込んだ状態に近い状態でのヘッド磁界周波数依存性(図6(a)のグラフ501)を測定できることが実証された。
【0041】
図9は、図3に示す方法で測定を行ったときの周波数の違いによる磁界コントラストの変化をプロファイルで示したものである。プロファイルは、図5の磁気記録ヘッドギャップにおけるP1磁極401の磁極エッジ部分404での結果に相当し、点線801及び実線802はそれぞれ、周波数が10MHz及び350MHzのときの結果を示す。周波数が350MHzのとき、グラフ501での依存性に示されるように磁界強度が減少している。また、磁界の減少だけでなく、エッジコーナーにピークが生じ、コントラストも変化していることがわかる。これは、周波数が高くなると、表皮効果によって中央部の磁界強度が減少するためであると思われる。このように、任意の周波数での磁気記録ヘッドの特性を高分解能に測定することができ、周波数の違いによるコントラストや強度の変化を解析できる。
【0042】
上述した第1の実施形態によれば、磁気記録ヘッドをHDDに組み込んだ状態とほぼ同じ環境において、磁気記録ヘッドから生じている磁界の周波数特性を測定することが可能となる。
【0043】
また、磁気記録ヘッド部分の(配線やヘッドアンプの影響を取り除いた)周波数特性を測定することができる。
【0044】
また、磁気記録ヘッドの周波数特性を電気的特性と磁気的特性とに分離して測定することができる。
【0045】
また、任意の周波数での磁気記録ヘッドの特性を高分解能に測定することができ、周波数の違いによるコントラストや強度の変化を解析できる。
【0046】
また、磁気記録ヘッドのギャップ位置だけでなく、ギャップの周りから生じている磁界(漏れ磁界)の周波数依存性も測定でき、高周波漏れ磁界の隣接トラックへの影響を予想することができる。
【0047】
また、任意の周波数において、信号発生器の印加電圧と電流測定値とからインピーダンスの絶対値を測定することができる。
【0048】
また、信号処理装置により、得られたデータを保存するだけでなく、力測定装置を含む磁気ヘッド特性評価装置の制御ならびに監視をも行うことができる。さらに、磁気ヘッド特性評価装置の測定条件と測定データとを一括して保存することができ、データの解析を実験後にも行うことができる。
【0049】
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
(磁気記録ヘッド測定装置の構成)
本実施形態は、前述の第1の実施形態と同様に周波数特性を測定するものであるが、第1の実施形態と異なる点としては、磁気記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性をあらかじめ測定しておくことで磁気ヘッド特性評価装置にヘッドアンプ等価回路を組み込まずに磁気記録ヘッドの周波数特性を得られるようにするものである。
【0050】
電流値の周波数依存性をあらかじめ測定する際には、実際のHDDでの測定で使用されているデジタル駆動するヘッドアンプを用いて測定を行うことができる。このため、よりHDD装置に組み込んだ状態に近い状態での測定結果が得られる。
【0051】
ヘッドアンプ等価回路を磁気ヘッド特性評価装置に組み込んで測定を行う場合、実際のHDDの状態に近づけるために正負(つまり電流値がゼロクロスし、オフセット電流のない)高周波電流を流すことが望ましい。ただ、このような条件を満たすヘッドアンプ等価回路を構成した場合、帯域を広げることは困難となる。一方、オフセット電流を含んだ状態では、ヘッドアンプ等価回路は帯域を広げることが比較的容易である。しかし、この場合、磁気記録ヘッドにもオフセット磁界が生じ、磁気記録ヘッドの一部で磁界が飽和するため、MFMを用いた高周波磁界の測定が困難となる。そこで、オフセット電流を含んだヘッドアンプ等価回路を用いて電流値の周波数依存性をあらかじめ測定し、以下に説明する手法で測定を行うことにより、非常に高い周波数帯域での測定が可能となる。
【0052】
図10(a)は、電流値の周波数依存性をあらかじめ測定するための装置の回路構成を示す図である。図10(a)に示す装置は、図1における磁気記録ヘッド101、ヘッドアンプ等価回路102、信号発生器103、電流値測定器104と同じもので構成される。各要素については前述した通りであるため、具体的な説明を省略する。図10(b)は、図10(a)の装置を用いて測定を行った結果である電流値の周波数依存性を示すグラフである。
【0053】
図11は、本発明の第2の実施形態に関係する磁気記録ヘッド測定装置の要部を示すブロック図である。この測定装置は、図10(a)の装置により電流値の周波数依存性を測定した後、高周波磁界に起因する磁気力の周波数依存性を測定するために使用されるものである。なお、図11においては、図1と共通する構成要素には同一の符号を付し、その具体的な説明を省略する。
【0054】
図11に示す測定装置は、図1とは異なり、ヘッドアンプ測定装置が組み込まれておらず、信号発生器103から発生された信号が磁気記録ヘッド101に直接印加される構成となっている。その他の構成については、前述の第1の実施形態で説明した通りである。
【0055】
(測定方法)
以下、図10及び図11と共に、図12のフローチャートを参照して、同実施形態の測定方法を説明する。
【0056】
あらかじめ、図10(a)の装置により電流値の周波数依存性を測定する。具体的には、信号発生器103の周波数を変化させ、電流値測定器104の電流値を読み取り、保存する。その結果、図10(b)に示すような電流値の周波数依存性が得られる。
【0057】
本実施形態における磁気記録ヘッドの周波数特性の測定は、図12及び前述の図4に示す処理にしたがって行われる。図12における処理では、(1)磁気記録ヘッドをHDDに組み込んだ状態に近い環境でのヘッド磁界周波数依存性(即ち、位相シフト−周波数特性)、及び、(2)磁気記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性(即ち、電流−周波数特性)を測定できる。一方、図4における処理では、(3)磁気記録ヘッド部分(おもに磁性材料に関する)の周波数依存性(即ち、位相シフト−周波数特性)を測定できる。
【0058】
まず、図12において、被測定物である磁気記録ヘッド101を所定の測定位置に配置させ、信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CF(ωc)、変調周波数MF(ωm)、及び振幅を設定する(ステップS301)。なお、変調周波数MF(ωm)はカンチレバー111の機械的共振周波数ωrよりも小さくなるように設定する。
【0059】
信号発生器103から出力される振幅変調信号を磁気記録ヘッド101に印加し(ステップS302)、磁気記録ヘッド101に磁界を発生させる。
【0060】
探針106を磁気記録ヘッドに非接触状態で近づけ(ステップS303)、ヘッド磁界による力学的相互作用を測定できるようにする。
【0061】
磁気記録ヘッド101に流れる電流値を電流値測定器104で測定し、あらかじめ決めておいた電流値が流れるように信号発生器103の出力を調節する(ステップS304)。
【0062】
そして、探針106に働く力のωm成分を測定する(ステップS305)。ここで、ステップS305での測定とは、(1)探針106を磁気記録ヘッド101に近づけ探針106を走査させずに1点で測定する場合、もしくは、(2)探針106を走査させ、1次元プロファイルもしくは2次元画像を測定した後、任意の1点を選びその場所におけるωm成分を測定値とする場合がある。
【0063】
別の搬送波周波数CF(ωc)でも測定を行う場合、信号発生器103の振幅変調信号の搬送波周波数CFを設定し(ステップS307)、ステップS304及びS305の測定を繰り返す。
【0064】
それぞれの周波数における結果から、(1)磁気記録ヘッドをHDD装置に組み込んだ状態に近い状態でのヘッド磁界周波数依存性1101、及び、(2)磁気記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性1102が得られる(ステップS308)。
【0065】
次に、前述した図4のフローチャートと同じように測定を行う。このとき、磁気ヘッド特性評価装置114にヘッドアンプ等価回路が組み込まれていなくても同様の測定が可能である。
【0066】
上述した第2の実施形態によれば、前述の第1の実施形態と同様の効果が得られるほか、磁気記録ヘッドを磁気ヘッド特性評価装置に組み込む前に、記録ヘッドに流れる電流値の周波数依存性をあらかじめ測定しておくことにより、磁気ヘッド特性評価装置内にヘッドアンプ等価回路を設けることなく、磁気記録ヘッドの周波数特性などを測定することができるという効果がある。
【0067】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、磁気記録ヘッドをHDDに組み込んだ状態と同じような環境において当該磁気記録ヘッドから生じている磁界の周波数特性を測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に関係する磁気記録ヘッド測定装置の要部を示すブロック図。
【図2】同実施形態の磁気ヘッド特性評価装置の中の構成要素を詳細に示す図。
【図3】同実施形態の測定方法を説明するためのフローチャート。
【図4】同実施形態の測定方法を説明するためのフローチャート。
【図5】同実施形態の磁気記録ヘッドにおける測定位置などを説明するための図。
【図6】図3の処理で得られたヘッド磁界周波数依存性及びヘッド電流周波数依存性のグラフ。
【図7】図4の処理で得られたヘッド磁界周波数依存性のグラフ。
【図8】図7のグラフでの周波数特性と図6の(b)のグラフでの周波数特性とを掛け合わせた結果を示す図。
【図9】図3に示す方法で測定を行ったときの周波数の違いによる磁界コントラストの変化をプロファイルで示す図。
【図10】本発明の第2の実施形態に関係する、電流値の周波数依存性をあらかじめ測定するための装置の回路構成を示す図、及びその装置を用いて測定を行った結果である電流値の周波数依存性のグラフ。
【図11】本発明の第2の実施形態に関係する磁気記録ヘッド測定装置の要部を示すブロック図。
【図12】同実施形態の測定方法を説明するためのフローチャート。
【符号の説明】
101…磁気記録ヘッド
102…ヘッドアンプ等価回路
103…信号発生器
104…電流値測定器
106…探針
107…力学的相互作用測定系
108…信号処理装置
109…力測定装置
111…カンチレバー
112…加振用圧電素子
113…信号発生器
114…磁気ヘッド特性評価装置
115…変位検出計
116…位相検出器
117…同期検波器
118…振幅/直流電圧変換器
119…フィードバック回路
120…走査用圧電素子
201…ヘッド磁界周波数依存性
202…ヘッド電流周波数依存性
203…ヘッド磁界周波数依存性(ヘッド部分)
401…P1磁極
402…P2磁極
403…ギャップ中央
404…磁極エッジ部分
501…ヘッド磁界周波数依存性のグラフ
502…ヘッド電流周波数依存性のグラフ
601…ヘッド磁界周波数依存性(ヘッド部分)のグラフ
701…グラフ601及び502の各周波数特性を掛け合わせたグラフ
801…周波数が10MHzのときの結果
802…周波数が350MHzのときの結果
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a magnetic recording head measuring apparatus and a magnetic recording head measuring method for measuring the characteristics of a magnetic recording head, and more particularly, to the frequency of a high-frequency magnetic field of a magnetic recording head using a technique of a magnetic force microscope (MFM). The present invention relates to a magnetic recording head measuring device and a magnetic recording head measuring method for measuring characteristics.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of a magnetic recording head used for a hard disk drive (HDD), for example, when measuring a magnetic field distribution and a magnetic force of the head, a dedicated head measuring device using a magnetic force microscope (MFM) Is used. The MFM is a type of scanning probe microscope. Usually, a probe mounted on a cantilever is brought close to a magnetic recording head, which is a sample to be measured, and magnetic force interaction caused by a magnetic field generated from the head in a non-contact state ( Force or force gradient).
[0003]
A magnetic recording head (hereinafter sometimes simply referred to as a head) is, for example, an inductive type thin film head, and has a magnetic gap for generating a recording magnetic field according to a signal current applied to a coil. The magnetic recording head measuring device applies a high-frequency signal current to a (head coil) as a sample, and measures a magnetic field distribution generated from the magnetic gap. As a specific measuring method, the phase or displacement of the vibrating cantilever (magnetic force interaction caused by the magnetic field of the head) is detected, and a force gradient or force acting between the probe and the sample is determined based on the detection result. Is measured. In this case, the measurement is performed using the relationship that the phase of the cantilever approximates a force gradient and the displacement of the cantilever approximates a force.
[0004]
By the way, there are various measuring methods. For example, "Measuring the gigahertz response of recording heads with the magnetic force microscopy", R.A. See Proksch et al. (Digital Instruments et al.), Applied Physics Letters, Vol. 74, No. 9, March 1999, pp 1308-1310 (hereinafter, referred to as prior art 1), a current was amplitude-modulated to a magnetic recording head, and the modulation frequency was adjusted to the resonance frequency of the MFM cantilever to vibrate. A technology for detecting a resonance frequency component of a displacement (force) of a cantilever is disclosed. In this technique, sensitivity is improved by utilizing the Q value of the mechanical resonance frequency of the cantilever.
[0005]
Also, "Evaluation and analysis technology for recording and reproducing heads", Hiroyuki Omori, Sony Corporation, Journal of the Japan Society of Applied Magnetics, vol. 23, No. 12, 1999, pp2111-12117 (hereinafter referred to as Prior Art 2), a high frequency sine wave is applied to a magnetic recording head, and a DC component of a phase change (force gradient) of a cantilever due to a magnetic field generated around the head. A technique for measuring is disclosed.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
The above-mentioned prior arts 1 and 2 are effective methods in principle, but are mainly for measuring the spatial distribution of the magnetic field of the head, and the frequency characteristics of the high-frequency magnetic field in a state of being incorporated in an actual HDD Not suitable for measurement of The reason lies in the difference in the signal application method between the signal generator and the amplifier that drives the head. The signal generator is usually driven at a constant voltage, but the actual head amplifier is driven at a constant current (however, it may not be constant at high frequencies due to frequency characteristics). When a signal is directly applied from a signal generator, the impedance of the circuit meter changes at a high frequency, so that it is impossible to measure a frequency characteristic close to a state of being incorporated in the HDD. Further, since an actual head amplifier operates digitally, it is difficult to incorporate the head amplifier into the devices of Prior Art 1 and Prior Art 2.
[0007]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and is capable of measuring a frequency characteristic of a magnetic field generated from a magnetic recording head in an environment similar to a state where the magnetic recording head is incorporated in an HDD. It is an object to provide a measuring device and a magnetic recording head measuring method.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A magnetic recording head measuring device according to the present invention is a magnetic recording head measuring device for measuring characteristics of a magnetic recording head, wherein the probe scans the surface of the magnetic recording head in a non-contact state, and vibrates the probe. Vibrating means,Generate an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier and change the carrier frequency.A signal generating unit, and a head having an electrical characteristic equivalent to that of an actual head drive amplifier, generating an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head based on the amplitude modulation signal, and applying the amplitude modulation current to the magnetic recording head An amplifier equivalent circuit, phase displacement measuring means for measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head, and the signal generating meansCarrier frequencyMagnetic field frequency dependency measuring means for measuring the change in the phase displacement with respect to the change in the magnetic field as the magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
[0009]
Further, a magnetic recording head measuring apparatus according to the present invention is a magnetic recording head measuring apparatus for measuring characteristics of a magnetic recording head, and a head amplifier equivalent circuit having electric characteristics equivalent to an actual head driving amplifier.And a signal generator and a current amplitude measuring device, and the signal frequency of the head amplifier equivalent circuit to which the magnetic recording head is connected is changed while the amplitude is maintained at a constant value from the signal generator. The input signal is input, and the amplitude of the current supplied to the magnetic recording head is measured using the current amplitude measuring device.Current frequency dependence measuring means, a probe for scanning the surface of the magnetic recording head in a non-contact state, and a vibration means for vibrating the probe,Generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier wave;While applying to the magnetic recording head as an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head,Change the carrier frequencyA signal generating unit, a phase displacement measuring unit for measuring a phase displacement of vibration of the probe according to a magnetic field generated from the magnetic recording head,Carrier frequencyMagnetic field frequency dependency measuring means for measuring the change in the phase displacement with respect to the change in the magnetic field as the magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
[0010]
The magnetic recording head measuring method according to the present invention is a magnetic recording head measuring method for measuring characteristics of a magnetic recording head, wherein a surface of the magnetic recording head is scanned in a non-contact state with a probe vibrated. Steps toGenerate an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier and change the carrier frequency.Applying the amplitude modulation signal to a head amplifier equivalent circuit having an electrical characteristic equivalent to that of an actual head drive amplifier; and generating an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head from the head amplifier equivalent circuit. Applying to the magnetic recording head, measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head,Carrier frequencyMeasuring the change in the phase displacement with respect to the change in the magnetic field as the magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
[0011]
A magnetic recording head measuring method according to the present invention is a magnetic recording head measuring method for measuring characteristics of a magnetic recording head, and comprises a head amplifier equivalent circuit having electric characteristics equivalent to an actual head driving amplifier.Using a signal generator and a current amplitude measuring device, and changing the signal frequency of the head amplifier equivalent circuit to which the magnetic recording head is connected while maintaining the amplitude at a constant value from the signal generator. And the amplitude of the current supplied to the magnetic recording head is measured using the current amplitude measuring device.Scanning the surface of the magnetic recording head in a non-contact state with the probe vibrated,Generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier wave;While applying to the magnetic recording head as an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head,Change the carrier frequencyMeasuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head;Carrier frequencyMeasuring the change in the phase displacement with respect to the change in the magnetic field as the magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0013]
<First embodiment>
First, a first embodiment of the present invention will be described.
(Configuration of magnetic recording head measuring device)
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of a magnetic recording head measuring device according to the first embodiment of the present invention.
[0014]
As shown in FIG. 1, the measuring apparatus according to the embodiment includes a magnetic recording head 101 as an object to be measured, a head amplifier equivalent circuit 102 for applying a current to the magnetic recording head 101, a carrier frequency ωc and a modulation frequency ωm. A current that generates an amplitude-modulated signal and flows through the head amplifier equivalent circuit 102AmplitudeA signal generator 103 for controlling the frequency and a current flowing through the magnetic recording head 101AmplitudeAnd a probe 106 as a vibrator made of a magnetic material or coated with a magnetic material and magnetized to measure a high-frequency magnetic field generated from the magnetic recording head 101. It has a mechanical interaction measuring system 107 for measuring a mechanical interaction acting on the needle 106, and a signal processing device 108 for storing and processing one or more signals output from the mechanical interaction measuring system 107. .Hereinafter, “current amplitude” is referred to as “current value”.
[0015]
Further, the measuring device includes a cantilever 111 that supports the probe 106, a vibrating piezoelectric element 112 that vibrates the cantilever 111 at a mechanical resonance frequency ωr (or a frequency in the vicinity thereof), and a vibrating piezoelectric element 112. And a signal generator 113 for giving a signal of a mechanical resonance frequency ωr (or a frequency in the vicinity thereof) to the signal generator 113.
[0016]
In particular, in the measuring device of the present embodiment, the probe 106, the cantilever 111, the vibrating piezoelectric element 112, the mechanical interaction measuring system 107, and the like constitute the force measuring device 109. , A magnetic recording head 101, a head amplifier equivalent circuit 102, a signal generator 103, a current value measuring device 104, etc., constitute a magnetic head characteristic evaluation device 114.
[0017]
The magnetic head characteristic evaluation device 114 can extract an amplitude component synchronized with the modulation frequency of the amplitude modulation of the mechanical interaction measured by the mechanical interaction measurement system 107, and thereby, the magnetic field of the magnetic field depending on the carrier frequency can be extracted. The ingredients can be obtained.
[0018]
The force measuring device 109 has a function of scanning the probe 106 three-dimensionally, a function of measuring a mechanical interaction acting on the probe 106 by a high-frequency magnetic field, and a function of measuring the surface shape of the magnetic recording head 101. These functions can be realized by diverting a commercially available or self-made scanning probe microscope (SPM).
[0019]
FIG. 2 shows components in the magnetic head characteristic evaluation device 114 in more detail.
[0020]
That is, in addition to the above-described elements, the measuring device of the present embodiment includes a displacement detector 115 for detecting the displacement of the cantilever 111, a signal generated from the signal generator 113, and a signal output from the displacement detector 115. A phase detector 116 for detecting a difference in phase and measuring a force gradient acting on the probe 106, a synchronous detector 117 for measuring an AC component of the phase detector 116, and an AC signal output from the displacement detector 115 / DC voltage converter (RMS-DC circuit) 118 which outputs the amplitude of the signal as a DC signal, a feedback circuit 119 for making the output of the amplitude / DC voltage converter 118 constant, a probe 106 and a magnetic head And a scanning piezoelectric element 120 for changing a three-dimensional relative position with respect to 101. These elements are provided in the force measuring device 109 in FIG.
[0021]
The signal processing device 108 not only stores the obtained data, but also controls and monitors the magnetic head characteristic evaluation device 114 including the force measuring device 109. Further, it has a function that can collectively store measurement conditions and measurement data of the magnetic head characteristic evaluation device 114, and can perform data analysis even after an experiment.
[0022]
In particular, in the present embodiment, since a circuit equivalent to a head amplifier (a kind of voltage-current converter) can be driven at a high frequency, the frequency characteristics of the magnetic recording head are reduced, and the electrical characteristics (wiring of the head amplifier and the slider portion are also reduced). The characteristics can be measured separately from magnetic characteristics (the characteristics of the magnetic material of the head).
[0023]
(Measuring method)
Hereinafter, the measurement method of the embodiment will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 3 and 4 together with FIG.
[0024]
The measurement of the frequency characteristics of the magnetic recording head according to the present embodiment is performed according to the processing shown in FIGS. The processing in FIG. 3 includes (1) head magnetic field frequency dependency (that is, phase shift-frequency characteristic) in an environment close to a state where the magnetic recording head is incorporated in the HDD, and (2) a current value flowing through the magnetic recording head. (I.e., current-frequency characteristics) can be measured. On the other hand, in the processing in FIG. 4, (3) the frequency dependency (that is, phase shift-frequency characteristic) of the magnetic recording head portion (mainly related to the magnetic material) can be measured.
[0025]
First, in FIG. 3, the magnetic recording head 101 as an object to be measured is arranged at a predetermined measurement position. The carrier frequency CF (ωc), modulation frequency MF (ωm), and amplitude of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 are set (step S101). Note that the modulation frequency MF (ωm) is set to be lower than the mechanical resonance frequency ωr of the cantilever 111.
[0026]
The amplitude modulation signal output from the signal generator 103 is applied to the head amplifier equivalent circuit 102 (step S102), and the magnetic recording head 101 generates a magnetic field.
[0027]
The probe 106 is brought close to the magnetic recording head in a non-contact state (step S103) so that the mechanical interaction due to the head magnetic field can be measured.
[0028]
The current value flowing through the magnetic recording head 101 is measured by the current value measuring device 104 (step S104), and the ωm component of the force acting on the probe 106 is measured (step S105). Here, the measurement in step S105 means (1) when the probe 106 is brought close to the magnetic recording head 101 and measurement is performed at one point without scanning the probe 106, or (2) when the probe 106 is scanned. After measuring a one-dimensional profile or a two-dimensional image, an arbitrary point may be selected and the ωm component at that location may be used as a measured value.
[0029]
When the measurement is performed at another carrier frequency CF (ωc), the carrier frequency CF of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 is set (step S107), and the measurement of steps S104 and S105 is repeated.
[0030]
From the results at the respective frequencies, (1) the head magnetic field frequency dependence 201 in a state close to the state where the magnetic recording head is incorporated in the HDD device, and (2) the frequency dependence 202 of the current value flowing through the magnetic recording head, Obtained (Step S108).
[0031]
Next, in FIG. 4, the magnetic recording head 101, which is an object to be measured, is arranged at a predetermined measurement position, and the carrier frequency CF (ωc), modulation frequency MF (ωm), and amplitude of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 are set. Is set (step S201). Note that the modulation frequency MF (ωm) is set to be lower than the mechanical resonance frequency ωr of the cantilever 111.
[0032]
The amplitude modulation signal output from the signal generator 103 is applied to the head amplifier equivalent circuit 102 (step S202), and the magnetic recording head 101 generates a magnetic field.
[0033]
The probe 106 is brought close to the magnetic recording head in a non-contact state (step S203) so that the mechanical interaction due to the head magnetic field can be measured.
[0034]
The amplitude of the signal generator 103 is adjusted so that the current flowing through the magnetic recording head 101 becomes equal to a predetermined value (step S204), and the ωm component of the force acting on the probe 106 is measured (step S205). ). Here, the measurement in step S205 means (1) when the probe 106 is brought close to the magnetic recording head 101 and measurement is performed at one point without scanning the probe 106, or (2) when the probe 106 is scanned. After measuring a one-dimensional profile or a two-dimensional image, an arbitrary point may be selected and the ωm component at that location may be used as a measured value.
[0035]
When the measurement is performed at another carrier frequency CF (ωc) (step S206), the carrier frequency CF of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 is set (step S207), and the measurement at steps S204 and S205 is repeated.
[0036]
From the results at the respective frequencies, (3) the head magnetic field frequency dependency 301 reflecting only the characteristics of the magnetic recording head portion is obtained (step S208).
[0037]
FIG. 5 is a diagram for explaining a measurement position and the like in the magnetic recording head. On the other hand, FIGS. 6A and 6B are graphs 501 and 502 corresponding to the head magnetic field frequency dependency 201 and the head current frequency dependency 202 obtained by the processing of FIG. 3, respectively. FIG. 7 is a graph 601 corresponding to the head magnetic field frequency dependency 301 obtained by the processing of FIG. The measurement position in this case corresponds to the gap center 403 of the P2 magnetic pole 402 in the magnetic recording head gap in FIG. The “phase shift” in the graph 501 of FIG. 6A and the graph 601 of FIG. 7 is a unit indicating the strength of the magnetic field in the MFM measurement, and the larger the value, the larger the magnetic field strength.
[0038]
In the graph 501 of FIG. 6A, it can be seen that there is no change in the phase shift in the frequency range of 5 to 20 MHz, and a uniform magnetic field is generated. The phase shift decreases from around 50 MHz and reaches a local minimum around 100 MHz. Further, it becomes maximum around 230 MHz, and attenuates at frequencies after that. In the graph 502 of FIG. 6B, there is no local minimum value, but the local maximum value is recognized at the same frequency as the graph 501 of FIG. 6A. On the other hand, in the graph 601 in FIG. 7, there is no minimum / maximum value as in the graph 501 in FIG. 6A, and the phase shift decreases as the frequency increases. The rate of decrease increases as the frequency increases.
[0039]
Here, the reason why the head magnetic field frequency dependency 201 in a state close to a state where the magnetic recording head is incorporated in the HDD device has the characteristic shown in the graph 501 of FIG. A graph 501 in FIG. 6A shows the measurement results of the frequency characteristics including the head amplifier and the wiring / magnetic recording head, and a graph 601 in FIG. 7 shows the measurement results of the frequency characteristics of the head portion. Considering that the frequency characteristic of the current value in the graph 502 of FIG. 6B is an electrical frequency characteristic of the head amplifier equivalent circuit 102, wiring, and the like, the frequency characteristic of the graph 601 of FIG. 6) is expected to be equal to the characteristic in the graph 501 of FIG. 6A.
[0040]
A graph 701 in FIG. 8 shows a result obtained by multiplying the frequency characteristic in the graph 601 in FIG. 7 by the frequency characteristic in the graph 502 in FIG. 6B. It can be seen that the frequency characteristic of the graph 701 in FIG. 3 is substantially equal to the frequency characteristic of the graph 501 in FIG. Thus, in the measurement method according to the present embodiment, the frequency dependency can be measured separately from the magnetic characteristics (graph 601 in FIG. 7) and the electric characteristics (graph 502 in FIG. 6B), and these can be measured. It has been proved that the combined characteristics, that is, the magnetic field frequency dependence of the head in a state close to the state in which the magnetic recording head is incorporated in the HDD device (graph 501 in FIG. 6A) can be measured.
[0041]
FIG. 9 shows a profile of a change in magnetic field contrast due to a difference in frequency when measurement is performed by the method shown in FIG. The profile corresponds to the result at the pole edge portion 404 of the P1 pole 401 in the magnetic recording head gap of FIG. 5, and the dotted line 801 and the solid line 802 show the results when the frequency is 10 MHz and 350 MHz, respectively. When the frequency is 350 MHz, the magnetic field strength decreases as shown by the dependence in the graph 501. Further, it can be seen that not only a decrease in the magnetic field but also a peak occurs at the edge corner, and the contrast is also changed. This is presumably because the higher the frequency, the lower the magnetic field intensity at the center due to the skin effect. As described above, the characteristics of the magnetic recording head at an arbitrary frequency can be measured with high resolution, and a change in contrast or intensity due to a difference in frequency can be analyzed.
[0042]
According to the above-described first embodiment, it is possible to measure the frequency characteristics of the magnetic field generated from the magnetic recording head in almost the same environment as when the magnetic recording head is incorporated in the HDD.
[0043]
In addition, the frequency characteristics of the magnetic recording head portion (with the influence of the wiring and the head amplifier removed) can be measured.
[0044]
Further, the frequency characteristics of the magnetic recording head can be measured separately from electrical characteristics and magnetic characteristics.
[0045]
Further, the characteristics of the magnetic recording head at an arbitrary frequency can be measured with high resolution, and changes in contrast and intensity due to a difference in frequency can be analyzed.
[0046]
Further, not only the gap position of the magnetic recording head but also the frequency dependency of a magnetic field (leakage magnetic field) generated around the gap can be measured, and the influence of a high-frequency leakage magnetic field on an adjacent track can be predicted.
[0047]
Further, at an arbitrary frequency, the absolute value of the impedance can be measured from the applied voltage of the signal generator and the measured current value.
[0048]
In addition, the signal processing device not only stores the obtained data but also controls and monitors the magnetic head characteristic evaluation device including the force measuring device. Further, the measurement conditions and measurement data of the magnetic head characteristic evaluation device can be collectively stored, and the data can be analyzed even after the experiment.
[0049]
<Second embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described.
(Configuration of magnetic recording head measuring device)
This embodiment measures the frequency characteristic in the same manner as the first embodiment described above, but differs from the first embodiment in that the frequency dependence of the current value flowing through the magnetic recording head is measured in advance. By doing so, the frequency characteristics of the magnetic recording head can be obtained without incorporating a head amplifier equivalent circuit in the magnetic head characteristic evaluation device.
[0050]
When the frequency dependence of the current value is measured in advance, the measurement can be performed using a digitally driven head amplifier used in actual HDD measurement. For this reason, a measurement result in a state closer to the state of being incorporated in the HDD device can be obtained.
[0051]
When a head amplifier equivalent circuit is incorporated in a magnetic head characteristic evaluation device for measurement, it is desirable to flow a positive / negative (that is, a current value crosses zero and has no offset current) high-frequency current in order to approach an actual HDD state. However, when a head amplifier equivalent circuit that satisfies such a condition is configured, it is difficult to widen the band. On the other hand, in the state including the offset current, it is relatively easy to widen the band of the head amplifier equivalent circuit. However, in this case, an offset magnetic field is also generated in the magnetic recording head, and the magnetic field is saturated in a part of the magnetic recording head, so that it is difficult to measure a high-frequency magnetic field using the MFM. Therefore, by measuring the frequency dependence of the current value in advance by using a head amplifier equivalent circuit including an offset current and performing the measurement by the method described below, it is possible to perform measurement in a very high frequency band.
[0052]
FIG. 10A is a diagram illustrating a circuit configuration of an apparatus for measuring the frequency dependence of a current value in advance. The device shown in FIG. 10A includes the same components as the magnetic recording head 101, the head amplifier equivalent circuit 102, the signal generator 103, and the current value measuring device 104 in FIG. Since each element is as described above, a specific description is omitted. FIG. 10B is a graph showing the frequency dependence of the current value as a result of measurement using the apparatus of FIG.
[0053]
FIG. 11 is a block diagram showing a main part of a magnetic recording head measuring device according to the second embodiment of the present invention. This measuring device is used for measuring the frequency dependence of a magnetic force caused by a high-frequency magnetic field after measuring the frequency dependence of a current value using the device of FIG. In FIG. 11, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and a specific description thereof will be omitted.
[0054]
The measuring device shown in FIG. 11 is different from FIG. 1 in that the head amplifier measuring device is not incorporated, and the signal generated from the signal generator 103 is directly applied to the magnetic recording head 101. Other configurations are the same as those described in the first embodiment.
[0055]
(Measuring method)
Hereinafter, the measurement method of the embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. 12 together with FIGS. 10 and 11.
[0056]
The frequency dependence of the current value is measured in advance by the device shown in FIG. Specifically, the frequency of the signal generator 103 is changed, and the current value of the current value measuring device 104 is read and stored. As a result, the frequency dependence of the current value as shown in FIG. 10B is obtained.
[0057]
The measurement of the frequency characteristic of the magnetic recording head in the present embodiment is performed according to the processing shown in FIG. 12 and the above-described FIG. The processing in FIG. 12 includes (1) head magnetic field frequency dependence (that is, phase shift-frequency characteristics) in an environment close to a state where the magnetic recording head is incorporated in the HDD, and (2) a current value flowing through the magnetic recording head. Can be measured. On the other hand, in the processing in FIG. 4, (3) the frequency dependency (that is, phase shift-frequency characteristic) of the magnetic recording head portion (mainly related to the magnetic material) can be measured.
[0058]
First, in FIG. 12, the magnetic recording head 101 as an object to be measured is arranged at a predetermined measurement position, and the carrier frequency CF (ωc), modulation frequency MF (ωm), and amplitude of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 are set. It is set (step S301). Note that the modulation frequency MF (ωm) is set to be lower than the mechanical resonance frequency ωr of the cantilever 111.
[0059]
The amplitude modulation signal output from the signal generator 103 is applied to the magnetic recording head 101 (step S302), and the magnetic recording head 101 generates a magnetic field.
[0060]
The probe 106 is brought close to the magnetic recording head in a non-contact state (step S303) so that the mechanical interaction due to the head magnetic field can be measured.
[0061]
The current value flowing through the magnetic recording head 101 is measured by the current value measuring device 104, and the output of the signal generator 103 is adjusted so that a predetermined current value flows (step S304).
[0062]
Then, the ωm component of the force acting on the probe 106 is measured (step S305). Here, the measurement in step S305 means (1) when the probe 106 is brought close to the magnetic recording head 101 and measurement is performed at one point without scanning the probe 106, or (2) when the probe 106 is scanned. After measuring a one-dimensional profile or a two-dimensional image, an arbitrary point may be selected and the ωm component at that location may be used as a measured value.
[0063]
When measuring at another carrier frequency CF (ωc), the carrier frequency CF of the amplitude modulation signal of the signal generator 103 is set (step S307), and the measurement of steps S304 and S305 is repeated.
[0064]
From the results at the respective frequencies, (1) the head magnetic field frequency dependence 1101 in a state close to the state where the magnetic recording head is incorporated in the HDD device, and (2) the frequency dependence 1102 of the current value flowing through the magnetic recording head. Obtained (Step S308).
[0065]
Next, measurement is performed in the same manner as in the flowchart of FIG. At this time, the same measurement can be performed even if the head amplifier equivalent circuit is not incorporated in the magnetic head characteristic evaluation device 114.
[0066]
According to the above-described second embodiment, the same effects as those of the above-described first embodiment can be obtained. In addition, before the magnetic recording head is incorporated in the magnetic head characteristic evaluation device, the frequency dependence of the current flowing through the recording head depends on the frequency. By measuring the performance in advance, it is possible to measure the frequency characteristics and the like of the magnetic recording head without providing a head amplifier equivalent circuit in the magnetic head characteristic evaluation device.
[0067]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, it is possible to measure the frequency characteristics of a magnetic field generated from a magnetic recording head in an environment similar to a state where the magnetic recording head is incorporated in an HDD.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of a magnetic recording head measuring device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an exemplary view showing components in the magnetic head characteristic evaluation device of the embodiment in detail;
FIG. 3 is a flowchart illustrating a measurement method according to the embodiment.
FIG. 4 is a flowchart for explaining the measurement method according to the embodiment;
FIG. 5 is an exemplary view for explaining a measurement position and the like in the magnetic recording head of the embodiment.
FIG. 6 is a graph of a head magnetic field frequency dependency and a head current frequency dependency obtained by the processing of FIG. 3;
FIG. 7 is a graph of a head magnetic field frequency dependence obtained by the processing of FIG. 4;
8 is a diagram showing a result obtained by multiplying the frequency characteristic in the graph of FIG. 7 by the frequency characteristic in the graph of FIG.
9 is a view showing a profile of a change in magnetic field contrast due to a difference in frequency when measurement is performed by the method shown in FIG. 3;
FIG. 10 is a diagram showing a circuit configuration of an apparatus for measuring the frequency dependence of a current value in advance according to the second embodiment of the present invention, and a current obtained as a result of measurement using the apparatus. Graph of frequency dependence of values.
FIG. 11 is a block diagram showing a main part of a magnetic recording head measuring device according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a flowchart for explaining the measurement method according to the embodiment;
[Explanation of symbols]
101: Magnetic recording head
102: Head amplifier equivalent circuit
103 ... Signal generator
104… Current value measuring device
106 ... Tip
107 ... Mechanical interaction measurement system
108 ... Signal processing device
109 ... Force measuring device
111 ... Cantilever
112: Exciting piezoelectric element
113 ... Signal generator
114 ... Magnetic head characteristic evaluation device
115 ... Displacement detector
116 ... Phase detector
117 ... Synchronous detector
118: Amplitude / DC voltage converter
119 ... feedback circuit
120: scanning piezoelectric element
201: Head magnetic field frequency dependence
202: Head current frequency dependency
203: Head magnetic field frequency dependency (head part)
401 ... P1 magnetic pole
402 ... P2 magnetic pole
403… Gap center
404: Magnetic pole edge
501: Graph of head magnetic field frequency dependence
502: Graph of head current frequency dependence
601: Graph of head magnetic field frequency dependency (head portion)
701: Graph obtained by multiplying each frequency characteristic of graphs 601 and 502
801: Result when the frequency is 10 MHz
802: Result when the frequency is 350 MHz

Claims (8)

磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置であって、
前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査する探針と、
前記探針を振動させる振動手段と、
搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成すると共に、当該搬送波周波数を変化させる信号発生手段と、
実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有しており、前記振幅変調信号に基づいて前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流を生成して当該磁気記録ヘッドに印加するヘッドアンプ等価回路と、
前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定する位相変位測定手段と、
前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定する磁界周波数依存性測定手段とを具備したことを特徴とする磁気記録ヘッド測定装置。
A magnetic recording head measuring device for measuring characteristics of a magnetic recording head,
A probe that scans the surface of the magnetic recording head in a non-contact state,
Vibrating means for vibrating the probe,
A signal generating means for generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier, and changing the carrier frequency ,
A head amplifier equivalent circuit having electrical characteristics equivalent to an actual head drive amplifier, generating an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head based on the amplitude modulation signal, and applying the current to the magnetic recording head;
Phase displacement measuring means for measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head,
A magnetic recording head measuring device, comprising: a magnetic field frequency dependency measuring means for measuring a change in the phase displacement with respect to a change in a carrier frequency by the signal generating means as a magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
前記ヘッドアンプ等価回路から前記磁気記録ヘッドに印加される振幅変調電流の振幅を測定する電流測定手段と、
前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記振幅変調電流の振幅の変化を前記磁気記録ヘッドの電流周波数依存性として測定する電流周波数依存性測定手段とを更に具備したことを特徴とする請求項1記載の磁気記録ヘッド測定装置。
Current measuring means for measuring the amplitude of an amplitude modulation current applied to the magnetic recording head from the head amplifier equivalent circuit,
2. A current frequency dependency measuring means for measuring a change in the amplitude of the amplitude modulation current with respect to a change in a carrier frequency by the signal generating means as a current frequency dependency of the magnetic recording head. The magnetic recording head measuring device according to the above.
前記振幅変調電流の振幅が基準値に等しくなるように前記振幅変調信号の振幅を変化させるよう前記信号発生手段を制御する振幅制御手段を更に具備し、
前記磁界周波数依存性測定手段は、前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定することを特徴とする請求項1記載の磁気記録ヘッド測定装置。
Further comprising an amplitude control means for controlling the signal generation means to change the amplitude of the amplitude modulation signal so that the amplitude of the amplitude modulation current is equal to a reference value,
2. The magnetic recording head according to claim 1, wherein the magnetic field frequency dependency measuring means measures a change in the phase displacement with respect to a change in a carrier frequency caused by the signal generating means as a magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head. measuring device.
磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定装置であって、
実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路と、信号発生器と、電流振幅測定器とで構成され、前記磁気記録ヘッドが接続される前記ヘッドアンプ等価回路に対し、前記信号発生器から振幅を一定の値に維持したまま信号周波数を変化させた信号を入力し、前記磁気記録ヘッドに供給される電流の振幅を前記電流振幅測定器を用いて測定する電流周波数依存性測定手段と、
前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査する探針と、
前記探針を振動させる振動手段と、
搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成し、前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流として当該磁気記録ヘッドに印加すると共に、当該搬送波周波数を変化させる信号発生手段と、
前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定する位相変位測定手段と、
前記信号発生手段による搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定する磁界周波数依存性測定手段とを具備したことを特徴とする磁気記録ヘッド測定装置。
A magnetic recording head measuring device for measuring characteristics of a magnetic recording head,
A head amplifier equivalent circuit having electrical characteristics equivalent to that of an actual head drive amplifier , a signal generator, and a current amplitude measuring device, and the signal is supplied to the head amplifier equivalent circuit to which the magnetic recording head is connected. Current frequency dependency measurement for inputting a signal whose signal frequency is changed while maintaining the amplitude at a constant value from a generator and measuring the amplitude of the current supplied to the magnetic recording head using the current amplitude measuring device Means,
A probe that scans the surface of the magnetic recording head in a non-contact state,
Vibrating means for vibrating the probe,
A signal generating means for generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier , applying the amplitude-modulated signal to the magnetic recording head as an amplitude-modulated current for operating the magnetic recording head, and changing the carrier frequency ,
Phase displacement measuring means for measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head,
A magnetic recording head measuring device, comprising: a magnetic field frequency dependency measuring means for measuring a change in the phase displacement with respect to a change in a carrier frequency by the signal generating means as a magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定方法であって、
探針を振動させた状態で前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査するステップと、
搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成すると共に、当該搬送波周波数を変化させるステップと、
前記振幅変調信号を実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路に印加するステップと、
前記ヘッドアンプ等価回路から前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流を生成して当該磁気記録ヘッドに印加するステップと、
前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定するステップと、
前記搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定するステップとを有することを特徴とする磁気記録ヘッド測定方法。
A magnetic recording head measuring method for measuring characteristics of a magnetic recording head,
Scanning the surface of the magnetic recording head in a non-contact state with the probe vibrated;
Generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating a carrier, and changing the carrier frequency ;
Applying the amplitude modulation signal to a head amplifier equivalent circuit having electrical characteristics equivalent to an actual head drive amplifier,
Generating an amplitude modulation current for operating the magnetic recording head from the head amplifier equivalent circuit and applying the current to the magnetic recording head;
Measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head,
Measuring the change in the phase displacement with respect to the change in the carrier frequency as the magnetic field frequency dependence of the magnetic recording head.
前記ヘッドアンプ等価回路から前記磁気記録ヘッドに印加される振幅変調電流の振幅を測定するステップと、
前記搬送波周波数の変化に対する前記振幅変調電流の振幅の変化を前記磁気記録ヘッドの電流周波数依存性として測定するステップとを更に有することを特徴とする請求項5記載の磁気記録ヘッド測定方法。
Measuring the amplitude of the amplitude modulation current applied to the magnetic recording head from the head amplifier equivalent circuit;
6. The method according to claim 5, further comprising: measuring a change in the amplitude of the amplitude modulation current with respect to a change in the carrier frequency as a current frequency dependency of the magnetic recording head.
前記振幅変調電流の振幅が基準値に等しくなるように前記振幅変調信号の振幅を変化させるステップと、
前記搬送波周波数の変化に対する位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定するステップとを更に有することを特徴とする請求項5記載の磁気記録ヘッド測定方法。
Changing the amplitude of the amplitude modulation signal so that the amplitude of the amplitude modulation current is equal to a reference value,
6. The magnetic recording head measuring method according to claim 5, further comprising the step of: measuring a change in phase displacement with respect to a change in the carrier frequency as a magnetic field frequency dependency of the magnetic recording head.
磁気記録ヘッドの特性を測定する磁気記録ヘッド測定方法であって、
実際のヘッド駆動アンプと等価な電気特性を有するヘッドアンプ等価回路と、信号発生器と、電流振幅測定器とを用い、前記磁気記録ヘッドが接続される前記ヘッドアンプ等価回路に対し、前記信号発生器から振幅を一定の値に維持したまま信号周波数を変化させた信号を入力し、前記磁気記録ヘッドに供給される電流の振幅を前記電流振幅測定器を用いて測定するステップと、
探針を振動させた状態で前記磁気記録ヘッドの表面を非接触状態で走査するステップと、
搬送波を振幅変調させた振幅変調信号を生成し、前記磁気記録ヘッドを動作させる振幅変調電流として当該磁気記録ヘッドに印加すると共に、当該搬送波周波数を変化させるステップと、
前記磁気記録ヘッドから発生される磁界に応じた探針の振動の位相変位を測定するステップと、
前記搬送波周波数の変化に対する前記位相変位の変化を前記磁気記録ヘッドの磁界周波数依存性として測定するステップとを有することを特徴とする磁気記録ヘッド測定方法。
A magnetic recording head measuring method for measuring characteristics of a magnetic recording head,
Using a head amplifier equivalent circuit having electric characteristics equivalent to an actual head drive amplifier , a signal generator, and a current amplitude measuring device, the signal generation is performed on the head amplifier equivalent circuit to which the magnetic recording head is connected. Inputting a signal having a changed signal frequency while maintaining the amplitude at a constant value from the device, and measuring the amplitude of the current supplied to the magnetic recording head using the current amplitude measuring device ;
Scanning the surface of the magnetic recording head in a non-contact state with the probe vibrated;
Generating an amplitude-modulated signal obtained by amplitude-modulating the carrier , applying the amplitude-modulated signal to the magnetic recording head as an amplitude-modulated current for operating the magnetic recording head, and changing the carrier frequency ;
Measuring the phase displacement of the vibration of the probe according to the magnetic field generated from the magnetic recording head,
Measuring the change in the phase displacement with respect to the change in the carrier frequency as the magnetic field frequency dependence of the magnetic recording head.
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