JP3602871B2

JP3602871B2 - Display device inspection apparatus and inspection method

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Publication number: JP3602871B2
Application number: JP17453194A
Authority: JP
Inventors: 英治丸本
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1994-07-26
Filing date: 1994-07-26
Publication date: 2004-12-15
Anticipated expiration: 2019-12-15
Also published as: JPH0843438A

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、複数の電極端子が配設された表示装置の表示動作の良否を検査するために用いられる表示装置の検査装置および検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
表示装置、たとえば液晶表示装置は、パネル基板の周辺部に、一定間隔で複数の電極端子が配列され、複数の表示用電極からの引出し線が個別的に前記電極端子に接続されている。このような液晶表示装置の動作の良否を検査するときには、前記電極端子の配列ピッチと同じ配列ピッチで配線パターンおよびプローブが形成された検査用基板を前記電極端子に接触させ、検査信号を前記プローブを介して各電極端子に入力する。液晶表示装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づく表示状態によって判断される。
【０００３】
このような表示装置の検査のために使用される検査用基板の典型的な従来技術は、たとえば特開平４−２９７８７６号公報に開示されている。前記公報によれば、表示パネルの電極と同一ピッチで配列される配線が形成されたフレキシブル配線基板の前記配線に、接続端側が電気的に接続され、上記フレキシブル配線基板とともにプローブを挟むように設けられたフィルムのプローブカード部分に測定すべき電極に合わせて取付けられたプローブの先端を挿入して積層構造とし、上記プローブの先端にバネ性を持たせるための弾性体を介して上記のような積層構造からなるプローブをプローブ取付体に一体的に取付けて、表示パネルの全電極に対して同時に電気的接触を得る構造になっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来技術では前述のように、表示パネルの電極端子の配列ピッチと同じ配列ピッチでプローブが配列された検査用基板が用いられ、検査用基板のプローブを表示パネルの電極端子に接触させている。
【０００５】
しかしながらこのような検査用基板では、表示パネルの電極端子と検査用基板のプローブとが１対１で対応しているため、両者の間に位置ずれが生じると、電極端子とプローブとの接触が断たれたり、接触圧力不足などで十分な接触状態が得られないという不具合が生じる。このため、検査装置側から表示パネル側に検査信号を与えても所望とする動作状態が得られず、表示パネルには異常がないにもかかわらず動作不良と判定される。前記位置合わせ不良や端子の接触圧力不足による接触不良は検出することができないので、検査効率および製品歩留りを低下させるという問題が生じる。特に、表示容量の増大によって高精細化された表示装置においては、表示装置に異常がないにもかかわらず動作不良であると判断されることは、製造コストが比較的高いことから製品歩留りを著しく低下させてしまう。
【０００６】
本発明の目的は、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれによる端子の接触不良を確実になくすことができるとともに、検査用基板上の配線が簡略化された表示装置の検査装置および前記検査装置を用いた表示装置の検査方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査装置において、
（ａ）検査用基板（３１）であって、
第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割され、
各グループ毎の検査用端子が配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続される検査用基板（３１）と、
（ｂ）前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別する判別手段と、
（ｃ）前記配線に検査信号を与える信号出力手段と、
（ｄ）前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換える切換接続手段とを含み、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査装置である。
【０００９】
また本発明は、第１ピッチ（Ａ）で予め定める第１配列方向（２６）に配列された複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）を有し、各電極端子（５ａ〜５ｄ）は幅（Ｂ）を有する、表示装置の前記電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査方法において、
（ａ）検査用基板（３１）を準備し、
この検査用基板は、第２ピッチ（Ｃ）で、もう１つの予め定める第２配列方向に配列された複数の検査用端子（３３）を有し、
第２ピッチ（Ｃ）は、電極端子（５ａ〜５ｄ）の幅（Ｂ）よりも小さく選ばれ、しかも第２ピッチ（Ｃ）は、第１ピッチ（Ａ）の３分の１に選ばれ、
第１および第２配列方向が平行となるように表示装置（２）と検査用基板（３１）とが貼合わせられた状態で、複数の電極端子（５ａ〜５ｄ）の各々に、複数の検査用端子（ｍ２，ｍ３；ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９；ｍ１１，ｍ１２）が対向し、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は６つのグループに分割されており、
各グループ毎の検査用端子は配線（３８ａ〜３８ｆ）によって共通に接続されており、
（ｂ）表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互いに対向するようにして、前記検査用基板を表示装置に貼合わせ、
（ｃ）前記検査用基板の複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別し、
（ｄ）導通状態と判別された配線に検査信号を与え、
前記複数の検査用端子（ｍ１〜ｍ１３）は、前記判別手段により２組の導通状態の配線の組合わせが検出され、かつ、一方の組合わせにより接触する電極端子（５ａ，５ｃ）と他方の組合わせにより接触する電極端子（５ｂ，５ｄ）とが互いに交互になるように、６つのグループに分割されていることを特徴とする表示装置の検査方法である。
【００１１】
【作用】
本発明に従えば、表示装置の検査装置は、検査用基板と、判別手段と、信号出力手段と、切換接続手段とを含んで構成される。表示装置は、複数の電極端子を有し、当該電極端子からの表示信号によって表示を行う。前記表示装置の動作の良否を検査する際には、前記表示装置の検査装置を用いて、表示装置の複数の電極端子から検査信号が入力される。
【００１２】
すなわち、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互いに対向するようにして検査用基板が表示装置に貼合わせられる。検査用基板の検査用端子は複数個あり、その検査用端子ｍ１〜ｍ１３の第２ピッチＣは、表示装置に第１ピッチＡで形成されている各電極端子の幅Ｂよりも小さく選ばれる。したがって、表示装置の電極端子には少なくとも２つの検査用端子が接触することとなり、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれがなくなる。
【００１３】
また、複数の検査用端子５ａ〜５ｄ毎に、第１配列方向２６に隣接する各電極端子５ｂ，５ｃに、それぞれ接触する各検査用端子（ｍ５，ｍ６；ｍ８，ｍ９）を、複数のグループに分割し、各グループに属する検査用端子は共通の配線３８ａ〜３８ｆによってそれぞれ接続される。複数の検査用端子はいくつかのグループに分割されて、グループ毎に設けられる配線によって共通に接続されるので、検査用端子毎に配線を設ける場合と比較すると、配線の本数が低減するとともに、配線パターンを簡略化することが可能となる。
【００１４】
このような検査用基板を表示装置の電極端子部分に貼合わせた後、前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別手段によって判別し、導通状態と判別された配線に信号出力手段からの検査信号を与える。切換接続手段は、前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換える。表示装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づく表示状態によって判断される。
【００１６】
上述した複数の検査用端子は、隣接する２つの電極端子ピッチ内に配置される６つの検査用端子によって６つのグループに分割される。このため、前記配線は６本設けられる。このような検査用基板を用いると、隣接する電極端子には互いに異なる配線に接続される検査用端子が接触するので、前記隣接する電極端子に互いに異なる検査信号を与えることが可能となる。また、隣接する電極端子に接触する検査用端子を接続する互いに異なる配線間の導通／非導通状態を判別することによって、隣接する電極端子間の短絡状態を判断することが可能となる。
【００１７】
【実施例】
図１は、本発明の前提となる構成である表示装置の検査装置１の構成を示すブロック図である。検査装置１は、検査用基板１１，１２、切換接続回路１３、判別手段である接続検出回路１４、信号出力回路１５、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１６およびメモリ１７を含む。ＣＰＵ１６は、検査装置１全体の動作を制御する。検査用基板１１，１２は検査用ケーブル１８，２０を介して切換接続回路１３に接続され、接続検出回路１４は接続ケーブル２２を介して切換接続回路１３に接続され、信号出力回路１５は出力ケーブル１９，２１を介して切換接続回路１３に接続される。
【００１８】
表示動作が検査される表示パネル２には、表示用の複数の走査電極３と複数のデータ電極４とが互いに直交するように配列され、電極３，４は電極端子部６，８に配設されている複数の走査電極端子５と複数のデータ電極端子７とにそれぞれ個別的に接続されている。表示パネル２の検査時には前記検査装置１が準備されて、表示パネル２の電極端子部６，８に検査装置１の検査用基板１１，１２が貼合わせられる。
【００１９】
検査時において、前記電極端子部６，８に貼合わせられる検査用基板１１，１２は、前記電極端子部６，８に対応して、本実施例では２つ設けられる。検査用基板１１，１２には、前記複数の電極端子５，７と接触する複数の検査用端子と複数の配線とが後述するようにしてそれぞれ設けられている。以後、一方の検査用基板１１の構成と、検査手順について説明する。なお、他方の検査用基板１２についても一方の検査用基板１１と同様であり、説明は省略する。
【００２０】
図２〜図４は、前記検査用基板１１の構成を示す図であり、それぞれ表示パネル２の電極端子部６と検査用基板１１とを貼合わせる際に位置ずれが生じた場合を示している。
【００２１】
電極端子部６には複数の電極端子５ａ〜５ｄが配列ピッチＡで設けられており、電極端子５ａ〜５ｄの幅はともにＢに選ばれる。検査用基板１１には、複数の検査用端子２５が配列ピッチＣで設けられる。なお、検査用端子２５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜５ｄの幅Ｂよりも小さく選ばれる（Ｃ＜Ｂ）。また、検査用端子２５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの３分の１に選ばれる（Ｃ＝Ａ／３）。したがって、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの長さの中には、３つの検査用端子２５が配置され、当該検査用端子２５の配列ピッチＣは電極端子５ａ〜５ｄの幅Ｂよりも小さいことから、貼合わせ時には電極端子５ａ〜５ｄにそれぞれ２つの検査用端子２５が接触する。
【００２２】
また、複数の検査用端子２５は、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡと検査用端子２５の配列ピッチＣとに基づいて、複数のグループに分割される。本実施例では、検査用端子２５は電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチＡの長さの中に配置される３つの検査用端子２５によって３つのグループに分割される。すなわち、図２〜図４紙面上で左から順に符号ｎ１〜ｎ１３で示した検査用端子２５は、ｎ１，ｎ４，ｎ７，ｎ１０，ｎ１３によって第１グループが構成され、ｎ２，ｎ５，ｎ８，ｎ１１によって第２グループが構成され、ｎ３，ｎ６，ｎ９，ｎ１２によって第３グループが構成される。
【００２３】
検査用基板１１に設けられる配線２７ａ〜２７ｃは、前記３つのグループに属する検査用端子２５をそれぞれ共通に接続するために３本設けられ、当該３本の配線２７ａ〜２７ｃは、貼合わせ時において電極端子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間隔をあけて設けられる。
【００２４】
切換接続回路１３は、スイッチ２３ａ〜２３ｃおよびスイッチ２４ａ〜２４ｃを含んで構成され、スイッチ２３ａ〜２３ｃは検査用基板１１の配線２７ａ〜２７ｃの接続を接続検出回路１４および信号出力回路１５との接続／遮断を切換えるスイッチ２４ａ〜２４ｃのうちのいずれか一方に切換える。検査用基板１１の配線２７ａは配線１８ａによってスイッチ２３ａに接続され、配線２７ｂは配線１８ｂによってスイッチ２３ｂに接続され、配線２７ｃは配線１８ｃによってスイッチ２３ｃに接続される。前記配線１８ａ〜１８ｃによって前記検査用ケーブル１８が構成される。配線２７ａの接続は、スイッチ２３ａによって切換えられ、配線２７ｂの接続はスイッチ２３ｂによって切換えられ、配線２７ｃの接続はスイッチ２３ｃによって切換えられる。
【００２５】
スイッチ２３ａの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は配線２２によって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ２４ａに接続される。また、スイッチ２３ｂ，２３ｃの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ｂによって接続検出回路１４と接続され、スイッチ２３ｂ，２３ｃの他方の端子はそれぞれスイッチ２４ｂ，２４ｃに接続される。配線２２ａ，２２ｂによって前記接続ケーブル２２が構成される。スイッチ２４ａは配線１９ａによって信号出力回路１５に接続され、スイッチ２４ｂは配線１９ｂによって信号出力回路１５に接続され、スイッチ２４ｃは配線１９ｃによって信号出力回路１５に接続される。配線１９ａ〜１９ｃによって出力ケーブル１９が構成される。
【００２６】
表示パネル２の動作の良否を検査する際には、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１が、前記電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用基板１１の複数の検査用端子２５とが対向するようにして貼合わせられる。ＣＰＵ１６は、切換接続回路１３および接続検出回路１４を制御し、接続検出回路１４は、検査用基板１１の各グループ毎に設けられる配線２７ａ〜２７ｃのうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別する。
【００２７】
すなわち、第１グループに対応した配線２７ａと第２グループに対応した配線２７ｂとの間の状態を、スイッチ２３ａ，２３ｂを接続検出回路１４側に切換えて判別し、同様にして、第２グループに対応した配線２７ｂと第３グループに対応した配線２７ｃとの間の状態を、スイッチ２３ｂ，２３ｃを接続検出回路１４側に切換えて判別し、第１グループに対応した配線２７ａと第３グループに対応した配線２７ｃとの間の状態を、スイッチ２３ａ，２３ｃを接続検出回路１４側に切換えて判別する。このとき、スイッチ２４ａ〜２４ｃは遮断される。これによって、接続検出回路１４は、１つの組合わせの導通状態を検出する。たとえば、図２に示されるように電極端子５ａ〜５ｄに第２グループおよび第３グループの検査用端子２５が接触している場合、第２グループに対応した配線２７ｂと第３グループに対応した配線２７ｃとの間が導通状態となり、他の配線間の状態は非導通状態となる。
【００２８】
接続検出回路１４の判別結果は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）などで実現されるメモリ１７に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内容に基づいて、切換接続回路１３のスイッチ２４ａ〜２４ｃを接続する。この場合、スイッチ２４ｂ，２４ｃを接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ２３ｂ，２３ｃをスイッチ２４ｂ，２４ｃ側に切換える。
【００２９】
続いてＣＰＵ１６は、信号出力回路１５を制御する。信号出力回路１５からは検査用の信号が出力される。出力された検査用信号は、切換接続回路１３、および検査用基板１１の第２および第３グループの検査用端子２５を介して、前記電極端子５ａ〜５ｄから表示パネル２に入力される。表示パネル２の動作の良否は、入力された検査用の信号に基づく表示状態によって判断される。たとえば、複数の帯状の走査電極３のうちの１つに断線が生じていた場合、当該電極にかかわる表示不良が生じる。
【００３０】
また、図３に示されるように、電極端子５ａ〜５ｄに第１および第３グループの検査用端子２５が接触していた場合、接続検出回路１４は同様の判別動作を行い、第１および第３グループに対応した配線２７ａ，２７ｃ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ２４ａ，２４ｃを接続し、スイッチ２３ａ，２３ｃをスイッチ２４ａ，２４ｃ側に切換える。さらに、前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００３１】
さらに、図４に示されるように、電極端子５ａ〜５ｄに第１および第２グループの検査用端子２５が接触している場合、出力検出回路１４は第１および第２グループに対応した配線２７ａ，２７ｂ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ２４ａ，２４ｂを接続し、スイッチ２３ａ，２３ｂをスイッチ２４ａ，２４ｂ側に切換える。さらに前述したのと同様にして信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００３２】
この構成によれば、検査時において１つの電極端子５ａ〜５ｄには２つの検査用端子２５が必ず接触する。また、検査用端子２５を３つのグループに分割して、各グループ毎に設けられる３本の配線２７ａ〜２７ｃのうちの２本の配線間の導通／非導通状態が、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別されて、電極端子５ａ〜５ｄと検査用端子２７ａ〜２７ｃとの接触、導通によって、導通状態の配線に検査信号が与えられる。
【００３３】
したがって、少なくとも検査時における位置ずれによる接触不良をなくすことができる。また、検査用基板１１上の複数の検査用端子２５は、３本の配線２７ａ〜２７ｃによって接続され、当該配線２７ａ〜２７ｃを介して接続検出回路１４による判別および検査用信号の供給が行われるので、複数の検査用端子２５にそれぞれ配線を設ける必要がなく、検査用基板１１上の配線パターンが簡略化される。
【００３４】
図５〜図７は、本発明の一実施例である検査装置の検査用基板３１の構成を示す図であり、それぞれ表示パネル２の電極端子部６と検査用基板３１とを貼合わせる際に位置ずれが生じた場合を示している。本実施例の検査装置は、前記検査装置１とほぼ同様に構成され、検査用基板１１および切換接続回路１３に代わって検査用基板３１および切換接続回路３４が設けられる以外は同様であり、同じ参照符を付して示す。
【００３５】
検査用基板３１には、前述した検査用端子２５と同様に、配列ピッチＣで複数の検査用端子３３が設けられる。本実施例においても、貼合わせ時には電極端子５ａ〜５ｄにはそれぞれ２つの検査用端子３３が接触する。また、前記複数の検査用端子３３は６つのグループに分割される。すなわち図５〜図７紙面上で左から順に符号ｍ１〜ｍ１３で示した検査用端子３３は、ｍ５，ｍ１１によって第１グループが、ｍ６，ｍ１２によって第２グループが、ｍ１，ｍ７，ｍ１３によって第３グループが、ｍ２，ｍ８によって第４グループが、ｍ３，ｍ９によって第５グループが、ｍ４，ｍ１０によって第６グループがそれぞれ構成される。
【００３６】
検査用基板３１に設けられる配線３８ａ〜３８ｆは、前記６つのグループに属する検査用端子３３をそれぞれ共通に接続するために６本設けられ、当該６本の配線３８ａ〜３８ｆは貼合わせ時において、電極端子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間隔をあけて設けられる。
【００３７】
切換接続回路３４は、スイッチ３５ａ〜３５ｆおよびスイッチ３６ａ〜３６ｆを含んで構成される。スイッチ３５ａ〜３５ｆは、前記スイッチ２３ａ〜２３ｃと同様に、検査用基板３１の配線３８ａ〜３８ｆの接続を接続検出回路１４および信号出力回路１５との接続／遮断を切換えるスイッチ３６ａ〜３６ｆのうちのいずれか一方に切換える。検査用基板３１の配線３８ａ〜３８ｆは、配線３２ａ〜３２ｆによってスイッチ３５ａ〜３５ｆにそれぞれ接続される。本実施例では、配線３２ａ〜３２ｆによって前記検査用ケーブル１８が構成される。
【００３８】
配線３８ａ〜３８ｆの接続は、スイッチ３５ａ〜３５ｆによってそれぞれ切換えられる。スイッチ３５ａ，３５ｄ，３５ｅの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ａによって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ３６ａ，３６ｄ，３６ｅに接続される。また、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，３５ｆの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子は、配線２２ｂによって接続検出回路１４と接続され、他方の端子はスイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｆに接続される。スイッチ３６ａ〜３６ｆは、配線３７ａ〜３７ｆによってそれぞれ信号出力回路１５に接続される。本実施例では、配線３７ａ〜３７ｆによって前記出力ケーブル１９が構成される。
【００３９】
表示パネル２の動作の良否を検査する際には、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１が、電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用基板３１の複数の検査用端子３３とが対向するようにして貼合わせられる。接続検出回路１４は、前述したのと同様に、各グループ毎に設けられる配線３８ａ〜３８ｆのうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を、それぞれの配線３８ａ〜３８ｆにおいて判別する。これによって、接続検出回路１４は、２つの組合わせの導通状態を検出する。
【００４０】
たとえば図５に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第４および第５グループの検査用端子３３が接触し、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第２グループの検査用端子３３が接触して貼合わせられたとすると、第１および第２グループに対応した配線３８ａ，３８ｂ間および第４および第５グループに対応した配線３８ｄ，３８ｅ間が導通状態となり、他の配線間は非導通状態となる。
【００４１】
接続検出回路１４の判別結果はメモリ１７に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内容に基づいて切換接続回路３４のスイッチ３６ａ〜３６ｆを接続する。この場合、スイッチ３６ａ，３６ｂ，３６ｄ，３６ｅを接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ３５ａ，３５ｂ，３５ｄ，３５ｅをスイッチ３６ａ，３６ｂ，３６ｄ，３６ｅ側に切換える。続いて、信号出力回路１５から検査用の信号が出力され、出力された検査用信号は切換接続回路３４および検査用基板３１の第１，第２，第４および第５グループの検査用端子３３を介して電極端子５ａ〜５ｄから表示パネル２に入力される。
【００４２】
また、図６に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第３および第４グループの検査用端子３３が、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第６グループの検査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回路１４は同様の判別動作を行い、第１および第６グループに対応した配線３８ａ，３８ｆ間および第３および第４グループに対応した配線３８ｃ，３８ｄ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ３６ａ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｆを接続し、スイッチ３５ａ，３５ｃ，３５ｄ，３５ｆをスイッチ３６ａ，３６ｃ，３６ｄ，３６ｆ側に切換える。さらに、前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００４３】
さらに、図７に示されるように、電極端子５ａ，５ｃに第５および第６グループの検査用端子３３が、電極端子５ｂ，５ｄに第２および第３グループの検査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回路１４は、第２および第３グループに対応した配線３８ｂ，３８ｃ間および第５および第６グループに対応した配線３８ｅ，３８ｆ間が導通状態であることを検出する。また、スイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆを接続し、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，３５ｅ，３５ｆをスイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆ側に切換える。さらに前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。
【００４４】
以上のように本実施例によれば、前述した構成と同様に少なくとも検査時における位置ずれによる接触不良をなくすことができ、検査用基板３１上の配線パターンが簡略化される。さらに、本実施例によれば、６本の配線３８ａ〜３８ｆのうちの２本の配線間の導通／非導通が判別されて、２つの導通状態の配線の組合わせが検出される。この２組の導通状態の配線によって接続される検査用端子３３が接触する電極端子５ａ〜５ｄは、一方の組合わせによるものと、他方の組合わせによるものとが互いに交互になっている。したがって、信号出力回路１５からの信号を選ぶことによって、電極端子５ａ〜５ｄに交互に異なる検査用の信号を与えることが可能となる。
【００４５】
また、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ間において短絡が発生しているか否かを検査することが可能となる。たとえば、図５を参照して、第１グループに対応した配線３８ａまたは第２グループに対応した配線３８ｂと、第４グループに対応した配線３８ｄまたは第５グループに対応した配線３８ｅとの間の導通／非導通状態を判別することによって、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ間において短絡が発生しているか否かを検査することができ、導通していた場合に短絡が発生していると判断される。
【００４６】
図８は、図２に示される切断面線Ｉ−Ｉにおける断面図である。このように検査用基板１１に設けられる配線２７ａ〜２７ｃおよび検査用端子２５は、たとえば絶縁性を有する樹脂製の基板１１の一方表面１１ａと他方表面１１ｂとに設けられる。配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５との接続は、基板１１の前述したような所定の位置に挿通孔１１ｃを設け、この挿通孔１１ｃによって配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５とを導電性を有する金属などで接続することによって実現される。
【００４７】
なお、配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５とを基板１１の一方表面にのみ形成することも可能であり、この場合、配線２７ａ〜２７ｃ上に検査用端子２５が設けられ、検査用端子２５が設けられていない配線部分は、たとえば絶縁層で覆われる。また、前記検査用基板１１と同様にして検査用基板３１上の配線３８ａ〜３８ｆおよび検査用端子３３も形成される。
【００４８】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、表示装置の動作の良否を検査する際において、表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ずれによる接触不良を確実になくすことができる。したがって、検査時において、表示装置と検査用基板との位置ずれを考慮する必要がなくなり、検査が比較的容易となる。また、検査用基板の検査用端子は、いくつかのグループに分割されて、グループ毎に共通の配線によって接続される。たとえば、３つのグループに分割されて各グループ毎に共通の３本の配線によって接続される。したがって、配線の本数が低減し、配線パターンが簡略化される。
【００４９】
また本発明によれば、２つの電極端子ピッチ内に配置される６つの検査用端子によって６つのグループに分割することによって、隣接する電極端子に互いに異なる検査信号を与えることが可能となる。また、隣接する電極端子間で短絡が発生しているか否かを判断することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の前提となる構成である表示装置の検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】前記検査装置１の検査用基板１１の構成を示し、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合の一例を示す図である。
【図３】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合の他の例を示す図である。
【図４】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。
【図５】本発明の一実施例である検査装置の検査用基板３１の構成を示し、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合の一例を示す図である。
【図６】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合の他の例を示す図である。
【図７】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。
【図８】前記検査用基板１１の断面図である。
【符号の説明】
１検査装置
２表示パネル
５，５ａ〜５ｄ，７電極端子
６，８電極端子部
１１，１２，３１検査用基板
１３，３４切換接続回路
１４接続検出回路
１５信号出力回路
１６ＣＰＵ
１７メモリ
２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，３５ａ〜３５ｆ，３６ａ〜３６ｆスイッチ
２５，３３検査用端子
２７ａ〜２７ｃ，３８ａ〜３８ｆ配線[0001]
[Industrial applications]
The present invention relates to an inspection device and an inspection method for a display device used for inspecting the quality of a display operation of a display device provided with a plurality of electrode terminals.
[0002]
[Prior art]
In a display device, for example, a liquid crystal display device, a plurality of electrode terminals are arranged at regular intervals in a peripheral portion of a panel substrate, and lead lines from a plurality of display electrodes are individually connected to the electrode terminals. When inspecting the quality of the operation of such a liquid crystal display device, a substrate for inspection on which a wiring pattern and a probe are formed at the same arrangement pitch as the arrangement pitch of the electrode terminals is brought into contact with the electrode terminals, and an inspection signal is supplied to the probe. Is input to each electrode terminal via. The quality of the operation of the liquid crystal display device is determined based on the display state based on the input inspection signal.
[0003]
A typical prior art of an inspection substrate used for inspection of such a display device is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-297876. According to the publication, a connection end side is electrically connected to the wiring of a flexible wiring board on which wirings arranged at the same pitch as the electrodes of the display panel are formed, and provided so as to sandwich a probe together with the flexible wiring board. Insert the tip of the probe attached to the probe card portion of the film in accordance with the electrode to be measured into a laminated structure, and apply the above-described structure through an elastic body to give the tip of the probe a spring property. A probe having a laminated structure is integrally mounted on a probe mounting body, so that electrical contact is simultaneously made to all the electrodes of the display panel.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the prior art, as described above, an inspection substrate on which probes are arranged at the same arrangement pitch as the electrode terminals of the display panel is used, and the probes of the inspection substrate are brought into contact with the electrode terminals of the display panel.
[0005]
However, in such a test board, the electrode terminals of the display panel correspond to the probes of the test board in a one-to-one correspondence. There is a problem that a sufficient contact state cannot be obtained due to disconnection or insufficient contact pressure. For this reason, even if an inspection signal is supplied from the inspection apparatus to the display panel, a desired operation state cannot be obtained, and it is determined that the operation is defective even though the display panel has no abnormality. Since it is not possible to detect the above-mentioned misalignment or poor contact due to insufficient contact pressure of the terminals, there arises a problem of lowering the inspection efficiency and the product yield. In particular, in the case of a display device with high definition due to an increase in display capacity, the fact that the display device is determined to be malfunctioning despite no abnormality is significantly reduced in product yield due to the relatively high manufacturing cost. Lower it.
[0006]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a display device in which a contact failure of a terminal due to a displacement between an electrode terminal of a display device and an inspection terminal of an inspection substrate can be reliably eliminated, and wiring on the inspection substrate is simplified. And a method for inspecting a display device using the inspection device.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The present invention relates to the first pitch(A)The first arrangement direction determined in advance(26)Multiple electrode terminals arranged in(5a-5d)And each electrode terminal(5a-5d) Is the width (B)Having,In a display device inspection apparatus for inspecting the operation of the display device by applying an inspection signal to the electrode terminal of the display device,
(A) Inspection board(31)And
2nd pitch(C)And a plurality of inspection terminals arranged in another predetermined second arrangement direction.(33)Has,
2nd pitch(C)Is the electrode terminal(5a-5d)Width(B)Smaller than the second pitch(C)Is the first pitch(A)Was chosen by one third of
Display device so that first and second arrangement directions are parallel(2)And inspection board(31)WhenButIn the state of being laminated, multiple electrode terminals(5a-5dEach)And several inspection terminals(M2, m3; m5, m6; m8, m9; m11, m12)Oppose each other,
The plurality of test terminals (m1 to m13) are divided into six groups,
Inspection terminals for each group are wired(38a-38f)Inspection boards commonly connected by(31)When,
(B) a conduction / non-conduction state between two different wirings of the plurality of wiringsSizeDifferentiating means,
(C) signal output means for applying an inspection signal to the wiring;
(D) switching connection means for switching the connection with the wiring to the determination means or the signal output means.See
For the plurality of test terminals (m1 to m13), the discriminating means detects a combination of two sets of conductive wires, and the electrode terminals (5a, 5c) contacted by one combination and the other are connected. The electrode terminals (5b, 5d) contacting by combination are divided into six groups so that they alternate with each other.An inspection device for a display device, characterized in that:
[0009]
Also, the present invention relates to the first pitch(A)The first arrangement direction determined in advance(26)Multiple electrode terminals arranged in(5a-5d)And each electrode terminal(5a-5d) Is the width (B)Having,In a display device inspection method for inspecting the operation of the display device by applying an inspection signal to the electrode terminal of the display device,
(A)Inspection board(31)Prepare
This test board has the second pitch(C)And a plurality of inspection terminals arranged in another predetermined second arrangement direction.(33)Has,
2nd pitch(C)Is the electrode terminal(5a-5d)Width(B)Smaller than the second pitch(C)Is the first pitch(A)Was chosen by one third of
Display device so that first and second arrangement directions are parallel(2)And inspection board(31)WhenButIn the state of being laminated, multiple electrode terminals(5a-5dEach)And several inspection terminals(M2, m3; m5, m6; m8, m9; m11, m12)Oppose each other,
The plurality of inspection terminals (m1 to m13) are divided into six groups,
Inspection terminals for each groupIswiring(38a-38f)Connected in common byHave been,
(B)The electrode terminals of the display device and the inspection terminals of the inspection substrate are opposed to each other, and the inspection substrate is attached to the display device,
(C)Conduction / non-conduction state between two different wirings among a plurality of wirings of the inspection substrateSizeSeparate,
(D)An inspection signal is given to the wiring determined to be in a conductive state,
For the plurality of test terminals (m1 to m13), the discriminating means detects a combination of two sets of conductive wires, and the electrode terminals (5a, 5c) contacted by one combination and the other are connected. The electrode terminals (5b, 5d) contacting by combination are divided into six groups so that they alternate with each other.This is a method for inspecting a display device.
[0011]
[Action]
According to the present invention, an inspection device for a display device includes an inspection substrate, a determination unit, a signal output unit, and a switching connection unit. The display device has a plurality of electrode terminals and performs display with a display signal from the electrode terminals. When inspecting the operation of the display device, an inspection signal is input from a plurality of electrode terminals of the display device using the inspection device of the display device.
[0012]
That is, the test substrate is bonded to the display device such that the electrode terminals of the display device and the test terminals of the test substrate face each other. There are a plurality of test terminals on the test substrate, and the second pitch C of the test terminals m1 to m13 is selected to be smaller than the width B of each electrode terminal formed at the first pitch A on the display device. Therefore, at least two inspection terminals come into contact with the electrode terminals of the display device, and the displacement between the electrode terminals of the display device and the inspection terminals of the inspection substrate is eliminated.
[0013]
In addition, for each of the plurality of inspection terminals 5a to 5d, each inspection terminal (m5, m6; m8, m9) that is in contact with each of the electrode terminals 5b, 5c adjacent in the first arrangement direction 26 is divided into a plurality of groups. The inspection terminals belonging to each group are connected by common wirings 38a to 38f. Since the plurality of inspection terminals are divided into several groups and are commonly connected by wiring provided for each group, the number of wirings is reduced as compared with the case where wiring is provided for each inspection terminal, The wiring pattern can be simplified.
[0014]
After bonding such an inspection substrate to the electrode terminal portion of the display device, the conducting / non-conducting state between two different wirings of the plurality of wirings is discriminated by the discriminating means, and the conducting state is discriminated. The inspection signal from the signal output means is applied to the wiring thus obtained. The switching connection means switches the connection with the wiring to the determination means or the signal output means. The quality of the operation of the display device is determined based on the display state based on the input inspection signal.
[0016]
The plurality of inspection terminals described above are divided into six groups by six inspection terminals arranged within two adjacent electrode terminal pitches. Therefore, six wirings are provided. When such an inspection substrate is used, an adjacent electrode terminal comes into contact with an inspection terminal connected to a wiring different from each other, so that different inspection signals can be given to the adjacent electrode terminal. Further, it is possible to determine the short-circuit state between the adjacent electrode terminals by determining the conductive / non-conductive state between the different wirings that connect the inspection terminals that are in contact with the adjacent electrode terminals.
[0017]
【Example】
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a display device inspection apparatus 1 which is a premise of the present invention. The inspection apparatus 1 includes inspection substrates 11 and 12, a switching connection circuit 13, a connection detection circuit 14 serving as a determination unit, a signal output circuit 15, a CPU (central processing unit) 16, and a memory 17. The CPU 16 controls the operation of the entire inspection apparatus 1. The inspection substrates 11 and 12 are connected to the switching connection circuit 13 via inspection cables 18 and 20, the connection detection circuit 14 is connected to the switching connection circuit 13 via the connection cable 22, and the signal output circuit 15 is an output cable. The switching connection circuit 13 is connected via 19 and 21.
[0018]
A plurality of scanning electrodes 3 and a plurality of data electrodes 4 for display are arranged so as to be orthogonal to each other on a display panel 2 on which a display operation is inspected, and the electrodes 3 and 4 are provided on electrode terminal portions 6 and 8. The plurality of scanning electrode terminals 5 and the plurality of data electrode terminals 7 are individually connected. When the display panel 2 is inspected, the inspection device 1 is prepared, and the inspection substrates 11 and 12 of the inspection device 1 are bonded to the electrode terminals 6 and 8 of the display panel 2.
[0019]
At the time of inspection, two inspection substrates 11 and 12 to be bonded to the electrode terminals 6 and 8 are provided in the present embodiment in correspondence with the electrode terminals 6 and 8. The inspection substrates 11 and 12 are provided with a plurality of inspection terminals and a plurality of wirings which are in contact with the plurality of electrode terminals 5 and 7, respectively, as described later. Hereinafter, a configuration of one inspection substrate 11 and an inspection procedure will be described. Note that the other inspection substrate 12 is the same as the one inspection substrate 11, and the description is omitted.
[0020]
FIGS. 2 to 4 are views showing the configuration of the inspection substrate 11, and show a case where a positional shift occurs when the electrode terminal portion 6 of the display panel 2 and the inspection substrate 11 are bonded to each other. .
[0021]
The electrode terminal portion 6 is provided with a plurality of electrode terminals 5a to 5d at an arrangement pitch A, and the width of each of the electrode terminals 5a to 5d is selected as B. The inspection substrate 11 is provided with a plurality of inspection terminals 25 at an arrangement pitch C. The arrangement pitch C of the inspection terminals 25 is selected to be smaller than the width B of the electrode terminals 5a to 5d (C <B). The arrangement pitch C of the inspection terminals 25 is selected to be one third of the arrangement pitch A of the electrode terminals 5a to 5d (C = A / 3). Therefore, three inspection terminals 25 are arranged within the length of the arrangement pitch A of the electrode terminals 5a to 5d, and the arrangement pitch C of the inspection terminals 25 is smaller than the width B of the electrode terminals 5a to 5d. Therefore, at the time of bonding, two inspection terminals 25 are in contact with the electrode terminals 5a to 5d, respectively.
[0022]
Further, the plurality of inspection terminals 25 are divided into a plurality of groups based on the arrangement pitch A of the electrode terminals 5a to 5d and the arrangement pitch C of the inspection terminals 25. In the present embodiment, the inspection terminals 25 are divided into three groups by three inspection terminals 25 arranged within the length of the arrangement pitch A of the electrode terminals 5a to 5d. In other words, the inspection terminals 25 indicated by reference numerals n1 to n13 in order from the left on FIGS. 2 to 4 form a first group of n1, n4, n7, n10, and n13, and n2, n5, n8, and n11. Form a second group, and n3, n6, n9, n12 form a third group.
[0023]
Three wirings 27a to 27c provided on the inspection substrate 11 are provided to commonly connect the inspection terminals 25 belonging to the three groups, and the three wirings 27a to 27c are attached at the time of bonding. The electrode terminals 5a to 5d are provided at intervals so as to be parallel to the arrangement direction 26.
[0024]
The switching connection circuit 13 includes switches 23a to 23c and switches 24a to 24c. The switches 23a to 23c connect the wirings 27a to 27c of the inspection board 11 to the connection detection circuit 14 and the signal output circuit 15. The switch is switched to any one of switches 24a to 24c for switching between / interruption. The wiring 27a of the inspection board 11 is connected to the switch 23a by the wiring 18a, the wiring 27b is connected to the switch 23b by the wiring 18b, and the wiring 27c is connected to the switch 23c by the wiring 18c. The cables 18a to 18c constitute the inspection cable 18. The connection of the wiring 27a is switched by the switch 23a, the connection of the wiring 27b is switched by the switch 23b, and the connection of the wiring 27c is switched by the switch 23c.
[0025]
One of two switchable terminals of the switch 23a is connected to the connection detection circuit 14 by the wiring 22, and the other terminal is connected to the switch 24a. One of the two switchable terminals of the switches 23b and 23c is connected to the connection detection circuit 14 by a wiring 22b, and the other terminals of the switches 23b and 23c are connected to the switches 24b and 24c, respectively. The connection cable 22 is constituted by the wirings 22a and 22b. The switch 24a is connected to the signal output circuit 15 by a wiring 19a, the switch 24b is connected to the signal output circuit 15 by a wiring 19b, and the switch 24c is connected to the signal output circuit 15 by a wiring 19c. The output cable 19 is configured by the wirings 19a to 19c.
[0026]
When inspecting the operation of the display panel 2, the inspection substrate 11 is provided on the electrode terminal portion 6 of the display panel 2, and the plurality of electrode terminals 5 a to 5 d of the electrode terminal portion 6 and the plurality of inspection substrates 11 are provided. It is bonded so that the inspection terminals 25 face each other. The CPU 16 controls the switching connection circuit 13 and the connection detection circuit 14, and the connection detection circuit 14 controls the conduction / connection between two different wirings among the wirings 27 a to 27 c provided for each group of the inspection board 11. The non-conduction state is determined for all the wirings 27a to 27c.
[0027]
That is, the state between the wiring 27a corresponding to the first group and the wiring 27b corresponding to the second group is determined by switching the switches 23a and 23b to the connection detecting circuit 14 side, and similarly, the state is changed to the second group. The state between the corresponding wiring 27b and the wiring 27c corresponding to the third group is determined by switching the switches 23b and 23c to the connection detection circuit 14, and the state corresponding to the wiring 27a corresponding to the first group and the wiring corresponding to the third group is determined. The switch 23a, 23c is switched to the connection detection circuit 14 side to determine the state between the connection detection circuit 14 and the wiring 27c. At this time, the switches 24a to 24c are shut off. Thereby, the connection detection circuit 14 detects the conduction state of one combination. For example, as shown in FIG. 2, when the inspection terminals 25 of the second and third groups are in contact with the electrode terminals 5a to 5d, the wiring 27b corresponding to the second group and the wiring corresponding to the third group are provided. 27c becomes conductive, and the state between other wirings becomes non-conductive.
[0028]
The determination result of the connection detection circuit 14 is stored in a memory 17 realized by a RAM (random access memory) or the like, and the CPU 16 connects the switches 24a to 24c of the switching connection circuit 13 based on the contents stored in the memory 17. I do. In this case, the switches 24b and 24c are connected. The CPU 16 switches the switches 23b and 23c to the switches 24b and 24c.
[0029]
Subsequently, the CPU 16 controls the signal output circuit 15. A signal for inspection is output from the signal output circuit 15. The output test signal is input to the display panel 2 from the electrode terminals 5 a to 5 d via the switching connection circuit 13 and the test terminals 25 of the second and third groups of the test board 11. The quality of the operation of the display panel 2 is determined based on the display state based on the input inspection signal. For example, when a disconnection occurs in one of the plurality of strip-shaped scanning electrodes 3, a display defect relating to the electrode occurs.
[0030]
Further, as shown in FIG. 3, when the first and third groups of inspection terminals 25 are in contact with the electrode terminals 5a to 5d, the connection detection circuit 14 performs the same determination operation, and It is detected that there is conduction between the wirings 27a and 27c corresponding to the three groups. Further, the switches 24a and 24c are connected, and the switches 23a and 23c are switched to the switches 24a and 24c. Further, a signal for inspection is output from the signal output circuit 15 in the same manner as described above.
[0031]
Further, as shown in FIG. 4, when the inspection terminals 25 of the first and second groups are in contact with the electrode terminals 5a to 5d, the output detection circuit 14 sets the wiring 27a corresponding to the first and second groups. , 27b are in a conductive state. The switches 24a and 24b are connected, and the switches 23a and 23b are switched to the switches 24a and 24b. Further, a signal for inspection is output from the signal output circuit 15 in the same manner as described above.
[0032]
According to this configuration, at the time of inspection, two inspection terminals 25 always contact one electrode terminal 5a to 5d. Further, the inspection terminal 25 is divided into three groups, and the conduction / non-conduction state between two wirings among the three wirings 27a to 27c provided for each group is determined by all the wirings 27a to 27c. And the contact and conduction between the electrode terminals 5a to 5d and the inspection terminals 27a to 27c, an inspection signal is given to the conductive wiring.
[0033]
Therefore, it is possible to eliminate at least a contact failure due to a positional shift at the time of inspection. The plurality of inspection terminals 25 on the inspection substrate 11 are connected by three wirings 27a to 27c, and determination and supply of an inspection signal by the connection detection circuit 14 are performed via the wirings 27a to 27c. Therefore, it is not necessary to provide a wiring for each of the plurality of inspection terminals 25, and the wiring pattern on the inspection substrate 11 is simplified.
[0034]
FIGS. 5 to 7 are views showing the configuration of the inspection substrate 31 of the inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. When the electrode terminal portion 6 of the display panel 2 and the inspection substrate 31 are bonded, respectively. The figure shows a case where a displacement has occurred. The inspection apparatus according to the present embodiment is substantially the same as the inspection apparatus 1 except that an inspection substrate 31 and a switching connection circuit 34 are provided instead of the inspection substrate 11 and the switching connection circuit 13, and the same. Indicated with reference signs.
[0035]
The inspection substrate 31 is provided with a plurality of inspection terminals 33 at an arrangement pitch C, similarly to the inspection terminals 25 described above. Also in this embodiment, at the time of bonding, two inspection terminals 33 are in contact with the electrode terminals 5a to 5d, respectively. Further, the plurality of inspection terminals 33 are divided into six groups. That is, the inspection terminals 33 indicated by reference numerals m1 to m13 in order from left to right on the sheets of FIGS. 5 to 7 are the first group by m5 and m11, the second group by m6 and m12, and the first group by m1, m7, and m13. Three groups, a fourth group is formed by m2 and m8, a fifth group is formed by m3 and m9, and a sixth group is formed by m4 and m10.
[0036]
Six wirings 38a to 38f provided on the inspection substrate 31 are provided to commonly connect the inspection terminals 33 belonging to the six groups, and the six wirings 38a to 38f are attached at the time of bonding. The electrode terminals 5a to 5d are provided at intervals so as to be parallel to the arrangement direction 26.
[0037]
The switching connection circuit 34 includes switches 35a to 35f and switches 36a to 36f. The switches 35a to 35f are, similarly to the switches 23a to 23c, among the switches 36a to 36f for switching the connection of the wirings 38a to 38f of the inspection board 31 to the connection / disconnection with the connection detection circuit 14 and the signal output circuit 15. Switch to either one. The wirings 38a to 38f of the inspection board 31 are connected to the switches 35a to 35f by the wirings 32a to 32f, respectively. In the present embodiment, the inspection cable 18 is constituted by the wirings 32a to 32f.
[0038]
The connections of the wirings 38a to 38f are switched by switches 35a to 35f, respectively. One of the two switchable terminals of the switches 35a, 35d, and 35e is connected to the connection detection circuit 14 by the wiring 22a, and the other terminal is connected to the switches 36a, 36d, and 36e. One of the two switchable terminals of the switches 35b, 35c, and 35f is connected to the connection detection circuit 14 via the wiring 22b, and the other terminal is connected to the switches 36b, 36c, and 36f. The switches 36a to 36f are connected to the signal output circuit 15 by wirings 37a to 37f, respectively. In the present embodiment, the output cable 19 is constituted by the wirings 37a to 37f.
[0039]
When inspecting the quality of the operation of the display panel 2, the inspection substrate 31 is provided on the electrode terminal portion 6 of the display panel 2, the plurality of electrode terminals 5 a to 5 d of the electrode terminal portion 6 and the plurality of inspections of the inspection substrate 31 are performed. Are bonded so that the terminal 33 for use is opposed. As described above, the connection detection circuit 14 determines the conduction / non-conduction state between two different wirings among the wirings 38a to 38f provided for each group in the respective wirings 38a to 38f. . Thereby, the connection detection circuit 14 detects the conduction state of the two combinations.
[0040]
For example, as shown in FIG. 5, the inspection terminals 33 of the fourth and fifth groups come into contact with the electrode terminals 5a and 5c, and the inspection terminals 33 of the first and second groups come into contact with the electrode terminals 5b and 5d. If they are bonded together, the conductive state is established between the wirings 38a and 38b corresponding to the first and second groups and the wiring 38d and 38e corresponding to the fourth and fifth groups, and the non-conductive state is established between the other wirings. Become.
[0041]
The determination result of the connection detection circuit 14 is stored in the memory 17, and the CPU 16 connects the switches 36 a to 36 f of the switching connection circuit 34 based on the content stored in the memory 17. In this case, the switches 36a, 36b, 36d, 36e are connected. Further, the CPU 16 switches the switches 35a, 35b, 35d, 35e to the switches 36a, 36b, 36d, 36e. Subsequently, an inspection signal is output from the signal output circuit 15, and the output inspection signal is connected to the switching connection circuit 34 and the inspection terminals 33 of the first, second, fourth, and fifth groups of the inspection board 31. Are input to the display panel 2 from the electrode terminals 5a to 5d via the.
[0042]
As shown in FIG. 6, the third and fourth test terminals 33 contact the electrode terminals 5a and 5c, and the first and sixth test terminals 33 contact the electrode terminals 5b and 5d. Then, the connection detection circuit 14 performs the same determination operation, and the conduction between the wirings 38a and 38f corresponding to the first and sixth groups and between the wirings 38c and 38d corresponding to the third and fourth groups is established. Is detected. The switches 36a, 36c, 36d, and 36f are connected, and the switches 35a, 35c, 35d, and 35f are switched to the switches 36a, 36c, 36d, and 36f. Further, a signal for inspection is output from the signal output circuit 15 in the same manner as described above.
[0043]
Further, as shown in FIG. 7, the fifth and sixth groups of inspection terminals 33 contacted the electrode terminals 5a and 5c, and the second and third groups of inspection terminals 33 contacted the electrode terminals 5b and 5d. Then, the connection detection circuit 14 detects that the wirings 38b and 38c corresponding to the second and third groups and the wirings 38e and 38f corresponding to the fifth and sixth groups are conductive. The switches 36b, 36c, 36e, and 36f are connected, and the switches 35b, 35c, 35e, and 35f are switched to the switches 36b, 36c, 36e, and 36f. Further, a signal for inspection is output from the signal output circuit 15 in the same manner as described above.
[0044]
As described above, according to the present embodiment, it is possible to at least eliminate a contact failure due to a positional shift at the time of inspection, as in the configuration described above, and to simplify the wiring pattern on the inspection substrate 31. Further, according to the present embodiment, conduction / non-conduction between the two wirings out of the six wirings 38a to 38f is determined, and a combination of the two conductive wirings is detected. The electrode terminals 5a to 5d that come into contact with the inspection terminals 33 connected by the two sets of conductive wires are alternately formed by one combination and the other by the other combination.. AndTherefore, by selecting a signal from the signal output circuit 15, it is possible to alternately supply different test signals to the electrode terminals 5a to 5d..
[0045]
In addition, it is possible to inspect whether a short circuit has occurred between the adjacent electrode terminals 5a to 5d. For example, referring to FIG. 5, conduction between wiring 38a corresponding to the first group or wiring 38b corresponding to the second group and wiring 38d corresponding to the fourth group or wiring 38e corresponding to the fifth group. By determining the non-conducting state, it is possible to inspect whether or not a short circuit has occurred between the adjacent electrode terminals 5a to 5d. .
[0046]
FIG. 8 is a sectional view taken along section line II shown in FIG. The wirings 27a to 27c and the inspection terminals 25 provided on the inspection substrate 11 are provided on one surface 11a and the other surface 11b of the resin substrate 11, for example, having an insulating property. The connection between the wirings 27a to 27c and the inspection terminal 25 is made by providing an insertion hole 11c at a predetermined position on the substrate 11 as described above, and the wiring 27a to 27c and the inspection terminal 25 are made conductive by the insertion hole 11c. It is realized by connecting with a metal or the like.
[0047]
Note that the wirings 27a to 27c and the inspection terminal 25 can be formed only on one surface of the substrate 11, and in this case, the inspection terminal 25 is provided on the wirings 27a to 27c, and the inspection terminal 25 is provided. Wiring portions not provided are covered with, for example, an insulating layer. Further, the wirings 38 a to 38 f and the inspection terminals 33 on the inspection substrate 31 are formed in the same manner as the inspection substrate 11.
[0048]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, when inspecting the operation of the display device, it is possible to reliably eliminate poor contact due to positional displacement between the electrode terminals of the display device and the inspection terminals of the inspection substrate. Therefore, it is not necessary to consider the positional deviation between the display device and the inspection substrate during the inspection, and the inspection becomes relatively easy. Further, the inspection terminals of the inspection substrate are divided into several groups and are connected by common wiring for each group. For example, it is divided into three groups and connected by three wires common to each group. Therefore, the number of wirings is reduced, and the wiring pattern is simplified.
[0049]
Further, according to the present invention, it is possible to provide different test signals to adjacent electrode terminals by dividing into six groups by six test terminals arranged within two electrode terminal pitches. Further, it is possible to determine whether or not a short circuit has occurred between adjacent electrode terminals.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a display device inspection apparatus 1 which is a premise of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a configuration of an inspection substrate 11 of the inspection apparatus 1 and showing an example of a case where the inspection substrate 11 is bonded to an electrode terminal portion 6 of a display panel 2;
FIG. 3 is a diagram showing another example of a case where an inspection substrate 11 is attached to an electrode terminal portion 6 of a display panel 2.
FIG. 4 is a diagram showing still another example in a case where the inspection substrate 11 is attached to the electrode terminal portions 6 of the display panel 2.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of an inspection substrate 31 of an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and illustrating an example of a case where the inspection substrate 31 is bonded to an electrode terminal portion 6 of a display panel 2.
FIG. 6 is a diagram showing another example of a case where the inspection substrate 31 is attached to the electrode terminal portions 6 of the display panel 2.
FIG. 7 is a view showing still another example in a case where the inspection substrate 31 is attached to the electrode terminal portion 6 of the display panel 2.
FIG. 8 is a sectional view of the inspection substrate 11;
[Explanation of symbols]
1 Inspection device
2 Display panel
5,5a-5d, 7 electrode terminal
6,8 electrode terminal
11,12,31 Inspection board
13,34 Switching connection circuit
14 Connection detection circuit
15 Signal output circuit
16 CPU
17 Memory
23a to 23c, 24a to 24c, 35a to 35f, 36a to 36f Switch
25,33 Inspection terminal
27a-27c, 38a-38f Wiring

Claims

A display having a plurality of electrode terminals ( 5a to 5d ) arranged in a first arrangement direction ( 26 ) predetermined at a first pitch ( A ) , and each electrode terminal ( 5a to 5d ) having a width ( B ) ; In a display device inspection apparatus for inspecting the operation of the display apparatus by applying an inspection signal to the electrode terminal of the apparatus,
(A) An inspection substrate ( 31 ) ,
A plurality of inspection terminals ( 33 ) arranged in a second pitch ( C ) in another predetermined second arrangement direction;
Second pitch (C) is selected smaller than the width of the electrode terminals (5a~5d) (B), moreover a second pitch (C) is selected as one-third of the first pitch (A),
In a state where the display device ( 2 ) and the inspection substrate ( 31 ) are bonded together such that the first and second arrangement directions are parallel, a plurality of inspections are performed on each of the plurality of electrode terminals ( 5a to 5d ). Terminals (m2, m3; m5, m6; m8, m9; m11, m12)
The plurality of test terminals (m1 to m13) are divided into six groups,
An inspection board ( 31 ) to which inspection terminals of each group are commonly connected by wiring ( 38a to 38f ) ;
(B) and determine another discriminating means conduction / non-conduction state between two different wires to each other among the plurality of wirings,
(C) signal output means for applying an inspection signal to the wiring;
(D) viewing including a switching connection means for switching the discriminating means or the signal output means connected with said wiring,
For the plurality of inspection terminals (m1 to m13), the discrimination means detects a combination of two sets of conducting wires, and one of the combinations makes contact with the electrode terminal (5a, 5c). An inspection apparatus for a display device, wherein the inspection apparatus is divided into six groups so that electrode terminals (5b, 5d) that come into contact with each other in combination are alternately arranged .

A display having a plurality of electrode terminals ( 5a to 5d ) arranged in a first arrangement direction ( 26 ) predetermined at a first pitch ( A ) , and each electrode terminal ( 5a to 5d ) having a width ( B ) ; In a display device inspection method of inspecting the operation of the display device by giving an inspection signal to the electrode terminal of the device,
(A) Prepare an inspection substrate ( 31 )
The inspection substrate has a plurality of inspection terminals ( 33 ) arranged at a second pitch ( C ) in another predetermined second arrangement direction,
Second pitch (C) is selected smaller than the width of the electrode terminals (5a~5d) (B), moreover a second pitch (C) is selected as one-third of the first pitch (A),
In a state where the display device ( 2 ) and the inspection substrate ( 31 ) are bonded together such that the first and second arrangement directions are parallel, a plurality of inspections are performed on each of the plurality of electrode terminals ( 5a to 5d ). Terminals (m2, m3; m5, m6; m8, m9; m11, m12)
The plurality of inspection terminals (m1 to m13) are divided into six groups,
Testing terminal of each group are connected in common by lines (38a to 38f),
(B) bonding the test substrate to the display device such that the electrode terminals of the display device and the test terminals of the test substrate face each other;
(C) the different two conduction / non-conduction state between the wiring of the plurality of wirings of the testing board to determine another,
(D) applying an inspection signal to the wiring determined to be conductive,
For the plurality of inspection terminals (m1 to m13), the discrimination means detects a combination of two sets of conducting wires, and one of the combinations makes contact with the electrode terminal (5a, 5c). A method for inspecting a display device, wherein the electrode terminals (5b, 5d) contacting by combination are divided into six groups so that the electrode terminals (5b, 5d) alternate with each other .