JP3605071B2 - Nuclear magnetic resonance equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、核磁気共鳴装置に係り、特に、核磁気共鳴を用いた拡散計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
核磁気共鳴イメージング装置 (magnetic resonance imaging、MRI)は、静磁場中に置かれた核スピンが核磁気共鳴の共鳴条件を満たす高周波磁場を吸収することを利用して、物質の断層像などを得る装置である。
【0003】
信号計測の際に、分子拡散(ブラウン運動)を強調する傾斜磁場対を印加することにより、拡散係数を求める拡散計測法が1965年に提案され、脳梗塞の診断等に応用されている。上記拡散計測法の詳細については、「ジャーナル・オブ・ケミカル・フィジックス(Journal of Chemical Physics)」第42巻、288〜292頁(1965年)において述べられているが、以下に簡単に述べる。
【0004】
最も一般的な拡散計測法では、スピンエコー型のパルスシーケンスを用い、反転高周波パルス印加の前後にスピンの運動を検出するための傾斜磁場(motion probing gradient、 MPG)を印加する。第1のMPG印加に際して、各スピンはぞれぞれの存在する場所に応じた強度の傾斜磁場を感受するため、再差運動の周波数が場所毎に変化し、位相変化が生じる。上記位相変化は傾斜磁場の印加量(強度と時間の積)に従う。上記反転高周波パルスの後に、第1のMPGと同一形状を有する第2のMPGを印加する。
【0005】
静止部位では、第1および第2のMPG印加時点における各スピンの場所が同じであるため、第2のMPG印加によって上記第1のMPG印加により生じた位相変化は相殺される。従って、MPG印加に起因する信号量の減少は起こらない。
これに対して動きのある部位では、第1および第2のMPG印加時点における各スピンの場所が異なるため、第2のMPG印加によって第1のMPG印加により生じた位相変化は相殺されず、信号量が減衰する。運動が一定の速度で行われる場合には位相変化は一定値となるが、ランダムな動きの場合には位相の分散とともに信号量の減少は大きくなる。
【0006】
上記例では、スピンエコー型のパルスシーケンスを用いているが、グラディエントエコー型のパルスシーケンスでも同様の計測が可能である。この場合には、第1および第2のMPGの傾斜磁場パルスは逆極性であり、極性以外は同一形状である。
【0007】
以上のメカニズムにより、計測部位の動きやすさ(拡散係数)が、MRI画像のコントラストとして反映される。このような画像を拡散強調画像という。脳梗塞などにより細胞が石灰化すると、周辺の組織に対して拡散係数が変化するので、拡散強調画像のコントラストから病変部位の特定が可能となる。また、MPGの印加量を変化させて画像計測を繰り返すことにより、ピクセル毎の拡散係数を求めることもできる。MPGを印加しない場合、および印加した場合のMRI信号をそれぞれS0、Smpgとすると、これらの信号と拡散係数Dとの関係は数式(1)で表される。
【0008】
【数1】
数式(1)において、右辺の係数bはMPGの印加量に依存する位相の関数であり、b−factor(傾斜磁場による核磁気共鳴信号減衰因子)と呼ばれる。数式(1)から、複数のb−factorに対して左辺対数のプロットを直線近似すれば、上記直線の傾きから拡散係数Dが求められる。
【0009】
厳密にはb−factorはMPGだけでなく、イメージングの傾斜磁場にも依存する。拡散係数計測値に及ぼすイメージング傾斜磁場の影響が、「ジャーナル・オブ・マグネティック・レゾナンス(Journal of Magnetic Resonance)」、第90巻、303〜312頁(1990年)にて論じられている。
【0010】
拡散現象の効果を強調するために、MPGとして用いる傾斜磁場は、通常のイメージング傾斜磁場に比べて高強度である。しかし、最近では、計測時間を短縮するため、エコープラナー法(echo planar imaging、EPI)等の超高速撮影法を用いて拡散計測を行うことが多い。これらの超高速撮影法の多くは、高強度のイメージング傾斜磁場を用いるため、b−factorへの寄与も大きい。そこで、一般に用いられている拡散計測では、イメージング傾斜磁場の影響までも含めたb−factorを数式(2)に従って計算する。
【0011】
【数2】
ここで、k(x、y、t)およびk1はそれぞれ数式(3)および数式(4)により与えられる。G(x、y、t)は傾斜磁場強度分布である。また、TEは励起高周波パルス印加からエコー発生までの時間間隔である。
【0012】
【数3】
【0013】
【数4】
上記数式(2)計算をMRI計測空間の各軸に対して行う。上記方法により求められるb−factorは、MPGに起因する項、イメージング傾斜磁場に起因する項、両者のクロスタームの和となる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
前述のごとく、上記従来技術により求められるb−factorは、MPGに起因する項、イメージング傾斜磁場に起因する項、両者のクロスタームの和である。しかし、拡散計測では高強度の傾斜磁場を用いるため、渦電流の発生量が多い。エコープラナー法などのイメージング法を拡散計測に適用すれば、MPGだけでなくイメージング傾斜磁場による渦電流も無視できない。渦電流が傾斜磁場コイル上に生じた場合、二次的な傾斜磁場が発生し、画像歪みなどの原因となる。
【0015】
上記傾斜磁場コイル上に生じた渦電流がMRI信号に与える影響は、減衰の時定数により異なる。第1のケースは、上記時定数が十分短く、信号計測期間以前に減衰する場合であり、このケースでは、渦電流の影響は問題にならない。第2のケースは、上記時定数が信号計測期間に比べ十分長い場合であり、このケースでは、渦電流の影響はほぼ傾斜磁場のオフセットと見なすことができるので、シミングによる磁場補正や信号処理による画像補正も可能である。第3のケースは、信号計測時間と同程度の時定数を有する場合であり、このケースでは、シミングも画像補正も困難である。特に、エコープラナー法のように1スキャン毎の信号計測時間が長い計測法では、第3のケースに該当する可能性が高い。このような信号計測期間中に変動する渦電流の影響を押さえるため、本計測に先立ってプリスキャンを行い、渦電流を定常状態にする方法がよく用いられる。
【0016】
しかし、プリスキャンを行って渦電流を定常状態とし、信号計測期間中に変動する成分を抑制したとしても、b−factorに対する上記渦電流の寄与は消滅するわけではない。第1、第2のケースについても同様である。従って、b−factorを求める際に上記渦電流に起因する項を考慮する必要がある。しかし、この渦電流の発生量は装置ごとに異なり、計算によって求めることは難しい。
【0017】
本発明の目的は、核磁気共鳴装置において、上述した渦電流による二次的な傾斜磁場に起因する項を含めたb−factorを求める技術を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記目的を解決するために、本発明では、傾斜磁場コイルから発生した傾斜磁場波形の時間積分を計測し、数式(2)に従ってb−factorを求めるものである。
【0019】
上記傾斜磁場波形の時間積分は、被検体から発生するMR信号の位相に基づいて得られる。このような傾斜磁場波形計測法については、「ジャーナル・オブ・マグネティック・レゾナンス(Journal of Magnetic Resonance)」、第132巻、150〜153頁(1998年)において論じられている。
【0020】
上記傾斜磁場波形計測法では、傾斜磁場の各軸に対して2回ずつの計測を行う。第1の計測では、ひとつの軸に直交し、傾斜磁場中心を含まない任意断面を選択的に励起した後、傾斜磁場波形計測の対象となるパルスシーケンスで用いられる傾斜磁場パルスのうち、上記軸成分のみを発生させ、任意期間の信号計測を行う。第2の計測では、第1の計測と同一の断面を選択的に励起した後、上記傾斜磁場の発生は行わずに、上記任意期間の信号計測のみ行う。上記第1、第2の信号の位相差Δφ(r、t)は、傾斜磁場波形G(r、t)の時間積分k(r、t)、磁気回転比γ、および上記任意断面の傾斜磁場中心からの距離Dとの積になる。ここで、r=(x、y、z)である。γおよびDは既知であるから、これらの値で位相差Δφ(r、t)を除算することにより、k(r、t)を求めることができる。
【0021】
本発明では、上記計測法を利用して任意パルスシーケンスのb−factorを計測するものである。スピンエコーを用いて、b−factorを計測するパルスシーケンスを図3に示す。
【0022】
図3において斜線を施した、b−factor計測区間306において、b−factor計測の対象となるパルスシーケンスに含まれる傾斜磁場パルスを印加する。ただし、1回の計測に際してはいずれかひとつの軸方向にのみ、上記傾斜磁場パルスを印加する。302〜304は、選択的高周波パルス301とともに検査対象に印加されるスライス選択傾斜磁場パルスである。ただし、1回の計測に際しては、上記b−factor計測の対象となるパルスシーケンスに含まれる傾斜磁場パルスを印加する軸と同方向のスライス選択傾斜磁場パルスを印加する。該任意断面の核磁化を励起してから所定の時間τ後、非選択高周波パルス305を印加し、上記核磁化の反転を行う。上記非選択高周波パルス305の印加からさらに時間τが経過すると、スピンエコーが発生するので、A/D区間307において、スピンエコーを計測する。
【0023】
上記スピンエコーは静磁場不均一等に応じて減衰するため、減衰時間の時定数に比べて上記b−factor計測区間306が長い場合は、1回のスキャンで上記b−factor計測区間306全区間の信号計測を行うことは困難である。
【0024】
そこで、図4に示すように、非選択高周波パルスの印加タイミング、およびA/D区間をずらすことにより、異なる区間の信号を計測する。このように、必要に応じて複数回のスキャンを行うことにより、上記b−factor計測区間306全体の信号を計測することができる。なお、図4中の401〜407は、それぞれ図3中の301〜307に対応する。
【0025】
次に、上記b−factor計測区間306において、傾斜磁場パルスの印加を行わずに信号計測のみを行う。傾斜磁場パルスを印加する場合と同様に、必要に応じて複数回のスキャンを行い、上記b−factor計測区間306全体の信号を計測する。本発明では、上記傾斜磁場パルスを印加する場合および印加しない場合の2通りの計測を、上記スライス選択傾斜磁場を印加する軸を変えて3通り行うため、合計6通りの計測を行う。
【0026】
また、スティミュレィテッドエコーを用いて、b−factorを計測するパルスシーケンスを図11に示す。図11において斜線を施した、b−factor計測区間1107において、b−factor計測の対象となるパルスシーケンスに含まれる傾斜磁場パルスを印加する。ただし、1回の計測に際してはいずれかひとつの軸方向にのみ、上記傾斜磁場パルスを印加する。1102〜1104は、選択的高周波パルス1101とともに検査対象に印加されるスライス選択傾斜磁場パルスである。ただし、1回の計測に際しては、上記b−factor計測の対象となるパルスシーケンスに含まれる傾斜磁場パルスを印加する軸と同方向のスライス選択傾斜磁場パルスを印加する。任意断面の核磁化を励起してから所定の時間τ後、非選択高周波パルス1105を印加し、上記励起された核磁化を縦磁化に戻す。上記非選択高周波パルス1105の印加からさらに時間ε後、非選択高周波パルス1106を印加し、上記核磁化を再び励起する。さらに時間τが経過すると、スティミュレィテッドエコーが発生するので、A/D区間1108において、スティミュレィテッドエコーを計測する。
【0027】
上記スティミュレィテッドエコーは静磁場不均一等に応じて減衰するため、減衰時間の時定数に比べて上記b−factor計測区間1107が長い場合は、1回のスキャンで上記b−factor計測区間1107全区間の信号計測を行うことは困難である。
【0028】
そこで、図12に示すように上記時間τを変えるか、あるいは図13に示すように上記時間εを変えて、A/D区間をずらすことにより、異なる区間の信号を計測する。このように、必要に応じて複数回のスキャンを行うことにより、上記b−factor計測区間1107全体の信号を計測することができる。
【0029】
次に、上記b−factor計測区間1107において、傾斜磁場パルスの印加を行わずに信号計測のみを行う。傾斜磁場パルスを印加する場合と同様に、必要に応じて複数回のスキャンを行い、上記b−factor計測区間1107全体の信号を計測する。本発明では、上記傾斜磁場パルスを印加する場合および印加しない場合の2通りの計測を、上記スライス選択傾斜磁場を印加する軸を変えて3通り行うため、合計6通りの計測を行う。
【0030】
上記6通りの計測で得られたMR信号に基づき、b−factorを求めるためのアルゴリズムを図1に示す。図1において、変数iは1〜3の値を取り、スライス選択傾斜磁場の方向を表す。該変数iが4以上となった時、繰り返しループ102を抜ける。変数jは1〜2の値を取り、上記b−factor計測区間306あるいは1107における傾斜磁場パルスの有無を表す。図3〜4、図11〜13のパルスシーケンスを用いて上記b−factor計測区間306あるいは1107のMR信号を計測する。該変数jが3以上となった時、繰り返しループ104を抜け、数式(2)に従ってMR信号の位相差Δφ(r、t)からbiを求める。ここで、biはb−factorのi方向成分である。最後にb1、b2、b3の和からb−factorを求められる(111)。
【0031】
上記MR信号の位相差Δφ(r、t)には、傾斜磁場パルス自身による位相項だけでなく、傾斜磁場により発生する渦電流による位相項も含まれるため、渦電流の影響を含むb−factorが求められる。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【0033】
図2は、本発明を実施するための拡散計測装置の一例を示す構成図である。図において、201は静磁場を発生するコイル、202は傾斜磁場を発生するコイル、203は検査対象であり、この検査対象はコイル201および202内に配置される。シーケンサ204は傾斜磁場電源205、高周波発信器206に命令を送り、傾斜磁場および高周波パルスを検査対象203に印加する。高周波パルスは、高周波変調器207、高周波増幅器208を経て高周波送信器209により、検査対象203に印加される。検査対象から発生したMR信号は受信器210によって受波され、増幅器211、位相検波器212、A/D変換器213を通ってCPU214に送られ、ここでb−factorの計算や画像再構成などの信号処理が行われる。必要に応じて、記憶媒体215に信号や演算結果、測定条件などを記憶させることもできる。また、CPU214で信号処理を行った結果を表示装置216に表示させることもできる。
【0034】
図3および図4は、本発明を実施するためのパルスシーケンスの一実施例である。図3において、301は選択高周波パルス、302〜304はスライス選択傾斜磁場パルス、305は非選択高周波パルスである。スライス選択傾斜磁場302〜304は、選択的高周波パルス301とともに検査対象に印加されるスライス選択傾斜磁場パルスであり、1回の計測に際してはいずれかひとつを用いて任意断面の核磁化の励起を行う。ただし、任意断面は傾斜磁場中心を含まない。上記任意断面の核磁化を励起してから所定の時間τ後、非選択高周波パルス305を印加し、上記核磁化の反転を行う。上記非選択高周波パルス305の印加からさらに時間τが経過すると、スピンエコーが発生するので、 A/D区間307において、該スピンエコーを計測する。また、斜線で示した306はb−factor計測区間であり、上記b−factorの計測対象となるパルスシーケンスのうち、上記スライス選択傾斜磁場と同方向の傾斜磁場パルスが印加される。
【0035】
上記スピンエコーは検査対象の静磁場不均一等に応じて減衰するため、減衰時間の時定数に比べて上記b−factor計測区間306が長い場合は、1回のスキャンで上記b−factor計測区間306全体の信号計測を行うことは困難である。
【0036】
そこで、図4に示すように、非選択高周波パルスの印加タイミング、およびA/D区間のタイミングを変えて、図3と同様のパルスシーケンスを実行する。これは、A/D区間のタイミングを変えて同様の計測を繰り返し行うことにより、上記b−factor計測区間全体の信号を取得するためである。上記b−factor計測区間の区間長から、上記繰り返し計測の回数が決まるので、該繰り返し回数に応じて上記非選択高周波パルスの印加タイミングおよびA/D区間のタイミングを決める。
【0037】
図3あるいは図4において、二番目の高周波パルスとして非選択高周波パルスを用いる理由は、該高周波パルスの印加タイミングが、上記b−factor計測区間306に含まれるためである。選択高周波パルスを用いれば、同時にスライス選択傾斜磁場を印加しなければならないので、上記b−factor計測区間306で印加される傾斜磁場パルスは、b−factor計測対象となるパルスシーケンスとは一致しなくなる。このため、スライス選択は一番目の高周波パルスのみで行い、二番目の高周波パルスは非選択高周波パルスを用いる。非選択高周波パルスは、核磁化を180度回転させる反転パルスとして用いるため、上記選択高周波パルスが作用しない領域の核磁化からは信号が発生しない。
【0038】
本発明では、上記b−factor計測区間全体の信号の位相φ1からb−factorを求めるが、該位相φ1には静磁場不均一やケミカルシフトなど、上記傾斜磁場パルスや渦電流に起因する位相以外の成分が含まれる。そこで、上記b−factor計測区間306において、傾斜磁場パルスの印加を行わずに信号計測を行い、該信号の位相φ2を上記位相φ1から差し引くことにより、上記傾斜磁場パルスや渦電流に起因する位相以外の成分を除去する。b−factorを求める場合には、上記位相の差分Δφ(t)=φ1−φ2を用いる。本発明では、上記傾斜磁場パルスを印加する場合と印加しない場合の2通りの計測を、上記スライス選択傾斜磁場の方向を変えて3通り行うため、合計6通りの計測を行う。
【0039】
次に、本発明を各種の拡散計測法に適用した場合についての具体例を述べる。
【0040】
図5は、スピンエコー法による拡散計測法のパルスシーケンスである。図5において、501は第1の選択高周波パルス、502は第1のスライス選択傾斜磁場パルス、503は第2の選択高周波パルス、504は第2のスライス選択傾斜磁場パルスである。第1の選択高周波パルス501と第2の選択高周波パルス503は、時間TE/2によって隔てられており、上記第2の選択高周波パルス503からさらに時間TE/2の後にスピンエコーが発生する。505はリードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、506はリードアウト方向のリフェーズ傾斜磁場である。該リードアウト方向のリフェーズ傾斜磁場506は、上記ディフェーズ傾斜磁場505印加による位相分散が相殺される時刻と、上記スピンエコー発生時刻とが一致するように配置する。507は位相エンコード傾斜磁場、508はスライス方向の第1のMPG、509はスライス方向の第2のMPG、510はリードアウト方向の第1のMPG、511はリードアウト方向の第2のMPG、512は位相エンコード方向の第1のMPG、513は位相エンコード方向の第2のMPGである。各方向の第1および第2のMPGは、傾斜磁場波形は同一である。また、各方向のMPGは同時に印加するとは限らず、いずれか1方向にのみ印加する場合も、複数方向に同時に印加する場合もある。MPG複数方向に同時に印加する場合、上記MPGの傾斜磁場波形は一致しているとは限らない。
【0041】
また、図5のパルスシーケンスにより、検査対象の拡散係数を求める場合には、従来技術の項で述べたように、第1および第2のMPG508〜513の傾斜磁場強度を変化させて複数回の計測を行う。
【0042】
前節図5では一般的に用いられているスピンエコー法による拡散計測法について説明したが、本節では上記スピンエコー法による拡散計測法に本発明を適用し、b−factorを計測する場合について述べる。
【0043】
図6において、601は選択高周波パルス、602〜604はスライス選択傾斜磁場パルスである。ただし、選択高周波パルス601は図5における選択高周波パルス501とは異なり、MRI計測空間の3方向に直交する任意の断面を選択的に励起するために用いられる。上記スライス選択傾斜磁場パルス602〜604は同時に印加するのではなく、1計測につきいずれかひとつを用いる。605は非選択高周波パルスであり、上記選択高周波パルス601により励起された核磁化を反転させ、所定の時刻にスピンエコーを発生させるために用いられる。A/D区間606において、スピンエコーを計測する。
【0044】
図3および図4の説明において述べたように、上記非選択高周波パルス605の印加タイミングをずらすことによって、上記スピンエコーの発生時刻もずれる。該スピンエコー発生時刻のずれに連動して、上記A/D区間606がずれるので、任意区間の信号を計測することができる。この様子を図7に示す。図7のパルスシーケンスでは、非選択高周波パルス705の印加タイミングが図6よりも遅れているため、スピンエコー発生時刻がずれ、A/D区間706も後ろにずれている。707はb−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分であり、上記スピンエコー法による拡散計測法のパルスシーケンスで用いられる傾斜磁場パルスが印加される。すなわち、708、709、710、711、712、713、714、715、716、717、718は、それぞれ上記502、504、505、506、507、508、509、510、511、512、513と同一の傾斜磁場パルスである。
【0045】
傾斜磁場パルス、および渦電流以外の要因に起因する位相成分を除去するため、b−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分607において、傾斜磁場パルスを印加せずに上記位相成分除去用の信号を計測する。上記b−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分607において、傾斜磁場パルスを印加した場合と印加しない場合の信号からそれぞれ位相を求め、両者の差分Δφ(r、t)から数式(2)に従ってbiを求める。なお、上記biは、上記選択高周波パルス601と同時に印加するスライス選択傾斜磁場パルス602〜604の印加方向の成分である。MRI計測空間の3方向に対して同様のb−factor計測を行い、全成分の和を求める。
【0046】
上述したように、検査対象の拡散係数を求める場合には、第1および第2のMPG508〜513の傾斜磁場強度を変化させて繰り返し信号計測を行う。この場合、図6のパルスシーケンスにおいても、MPG508〜513と同様にMPG613〜618の傾斜磁場強度を変化させて、繰り返し計測を行う。
【0047】
図8はエコープラナー法による拡散計測法のパルスシーケンスである。図8において、801は第1の選択高周波パルス、802は第1のスライス選択傾斜磁場パルス、803は第2の選択高周波パルス、804は第2のスライス選択傾斜磁場パルスである。第1の選択高周波パルス801と第2の選択高周波パルス803は、時間TE/2時間によって隔てられており、上記第2の選択高周波パルス803からさらに時間TE/2の後にスピンエコーが発生する。805はリードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、806はリードアウト傾斜磁場であり、極性反転を繰り返してマルチエコーを発生させる。807は位相エンコード方向のディフェーズ傾斜磁場、808はブリップ位相エンコード傾斜磁場である。
【0048】
スキャン方法によっては、上記位相エンコード方向のディフェーズ傾斜磁場807が不要な場合もあり、また808のようなブリップパルスではなく、連続的な矩形パルスが用いられる場合もある。809はスライス方向の第1のMPG、810はスライス方向の第2のMPG、811はリードアウト方向の第1のMPG、812はリードアウト方向の第2のMPG、813は位相エンコード方向の第1のMPG、814は位相エンコード方向の第2のMPGである。各方向の第1および第2のMPGは傾斜磁場波形は同一である。また、各方向のMPGは同時に印加するとは限らず、いずれか1方向にのみ印加する場合も、複数方向に同時に印加する場合もある。MPG複数方向に同時に印加する場合、上記MPGの傾斜磁場波形は一致しているとは限らない。
【0049】
また、図8のパルスシーケンスにより、検査対象の拡散係数を求める場合には、従来技術の項で述べたように、第1および第2のMPG809〜814の傾斜磁場強度を変化させて複数回の計測を行う。
【0050】
前節図8では一般的に用いられているエコープラナー法による拡散計測法について説明したが、本節では上記エコープラナー法による拡散計測法に本発明を適用し、b−factorを計測する場合について述べる。
【0051】
図9において、901は選択高周波パルス、902〜904はスライス選択傾斜磁場パルスである。ただし、選択高周波パルス901は、図8における選択高周波パルス801とは異なり、MRI計測空間の3方向に直交する任意の断面を選択的に励起するために用いられる。上記スライス選択傾斜磁場パルス902〜904は同時に印加するのではなく、1計測につきいずれかひとつを用いる。905は非選択高周波パルスであり、上記選択高周波パルス901により励起された核磁化を反転させ、所定の時刻にスピンエコーを発生させるために用いられる。A/D区間906において、スピンエコーを計測する。
【0052】
図3および図4の説明において述べたように、上記非選択高周波パルス905の印加タイミングをずらすことによって、上記スピンエコーの発生時刻もずれる。スピンエコー発生時刻のずれに連動して、上記A/D区間906がずれるので、任意区間の信号を計測することができる。この様子を図10に示す。図10のパルスシーケンスでは、非選択高周波パルス1005の印加タイミングが図9よりも遅れているため、スピンエコー発生時刻がずれ、A/D区間1006も後ろにずれている。
【0053】
907はb−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分であり、上記スピンエコー法による拡散計測法のパルスシーケンスで用いられる傾斜磁場パルスが印加される。すなわち、908、909、910、911、912、913、914、915、916、917、918、919は、それぞれ上記802、804、805、806、807、808、809、810、811、812、813、814と同一の傾斜磁場パルスである。
【0054】
傾斜磁場パルス、および渦電流以外の要因に起因する位相成分を除去するため、b−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分907において、傾斜磁場パルスを印加せずに上記位相成分除去用の信号を計測する。上記b−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分907において、傾斜磁場パルスを印加した場合と印加しない場合の信号からそれぞれ位相を求め、両者の差Δφ(r、t)から数式(2)に従ってbiを求める。なお、上記biは、上記選択高周波パルス901と同時に印加するスライス選択傾斜磁場パルス902〜904の印加方向の成分である。MRI計測空間の3方向に対して同様のb−factor計測を行い、全成分の和を求める。
【0055】
上述したように、検査対象の拡散係数を求める場合には、第1および第2のMPG809〜814の傾斜磁場強度を変化させて繰り返し信号計測を行う。この場合、図9のパルスシーケンスにおいても、MPG809〜814と同様にMPG914〜919の傾斜磁場強度を変化させて、繰り返し計測を行う。
【0056】
図11乃至図13は、本発明を実施するためのパルスシーケンスの他の実施例である。図11において、1101は選択高周波パルス、1102〜1104はスライス選択傾斜磁場パルス、1105〜1106は非選択高周波パルスである。スライス選択傾斜磁場1102〜1104は、選択的高周波パルス1101とともに検査対象に印加されるスライス選択傾斜磁場パルスであり、1回の計測に際してはいずれかひとつを用いて任意断面の核磁化の励起を行う。ただし、任意断面は傾斜磁場中心を含まない。
【0057】
上記任意断面の核磁化を励起してから所定の時間τ後、非選択高周波パルス1105を印加し、上記核磁化を縦磁化に戻す。縦磁化に戻した核磁化は、再び励起されるまで静磁場不均一や横緩和時間の影響を受けない。上記非選択高周波パルス1105の印加からさらに時間ε後、非選択高周波パルス1106を印加し上記縦磁化に戻した核磁化を再び励起する。さらに時間τが経過すると、スティミュレィテッドエコーが発生するので、A/D区間1108において、スピンエコーを計測する。また、斜線で示した1107はb−factor計測区間であり、上記b−factorの計測対象となるパルスシーケンスのうち、上記スライス選択傾斜磁場と同方向の傾斜磁場パルスが印加される。上記スティミュレィテッドエコーは検査対象の静磁場不均一等に応じて減衰するため、該減衰時間の時定数に比べて上記b−factor計測区間1107が長い場合は、1回のスキャンで上記b−factor計測区間1107全体の信号計測を行うことは困難である。
【0058】
そこで、図12あるいは13に示すように、非選択高周波パルスの印加タイミングおよび、A/D区間のタイミングを変えて、図11と同様のパルスシーケンスを実行する。図12は時間τを変え、図13は時間tを変えることにより、上記A/D区間のタイミングを変えている。これは、A/D区間のタイミングを変えて同様の計測を繰り返し行うことにより、上記b−factor計測区間全体の信号を取得するためである。上記b−factor計測区間の区間長から、上記繰り返し計測の回数が決まるので、繰り返し回数に応じて上記非選択高周波パルスの印加タイミングおよびA/D区間のタイミングを決める。
【0059】
図11〜13において、二番目および三番目の高周波パルスとして非選択高周波パルスを用いる理由は、該高周波パルスの印加タイミングが、上記b−factor計測区間1107に含まれるためである。選択高周波パルスを用いれば、同時にスライス選択傾斜磁場を印加しなければならないので、上記b−factor計測区間1107で印加される傾斜磁場パルスは、b−factor計測対象となるパルスシーケンスとは一致しなくなる。このため、スライス選択は1番目の高周波パルスのみで行い、2番目および3番目の高周波パルスは非選択高周波パルスを用いる。
【0060】
本発明では、上記b−factor計測区間全体の信号の位相φ1からb−factorを求めるが、位相φ1には静磁場不均一やケミカルシフトなど、上記傾斜磁場パルスや渦電流に起因する位相以外の成分が含まれる。そこで、上記b−factor計測区間306において、傾斜磁場パルスの印加を行わずに信号計測を行い、該信号の位相φ2を上記位相φ1から差し引くことにより、上記傾斜磁場パルスや渦電流に起因する位相以外の成分を除去する。b−factorを求める場合には、上記位相の差分Δφ(t)=φ1−φ2を用いる。本発明では、上記傾斜磁場パルスを印加する場合と印加しない場合の2通りの計測を、上記スライス選択傾斜磁場の方向を変えて3通り行うため、合計6通りの計測を行う。
【0061】
上記6通りの計測で得られたMR信号に基づき、b−factorを求めるためのアルゴリズムを図1に示す。図1において、変数iは1〜3の値を取り、スライス選択傾斜磁場の方向を表す。該変数iは初期値を1とし(101)、i<4である間+1を加算して(110)繰り返し、i≧4となった時、繰り返しループ102を抜ける。変数jは1〜2の値を取り、上記b−factor計測区間における傾斜磁場パルスの有無を表す。図3〜図4、あるいは図11〜13のパルスシーケンスを用いて上記b−factor計測区間のMR信号を計測し、位相φj(r、t)を求める(105)。該変数jは初期値を1とし(103)、j<3である間+1を加算して繰り返し、j≧3以上となった時、繰り返しループ104を抜ける。φ1とφ2の位相差Δφ(r、t)を求め(107)、上記励起断面と傾斜磁場中心との距離LiでΔφ(r、t)を割って、傾斜磁場波形の時間積分k(r、t)を求める(108)。数式(2)に従って、k(r、t)からbiを求める(109)。ここで、biはb−factorのi方向成分である。最後にb1、b2、b3の和からb−factorを求められる(111)。
【0062】
上記MR信号の位相差Δφ(r、t)には、傾斜磁場パルス自体による位相項だけでなく、傾斜磁場により発生する渦電流による位相項も含まれるため、渦電流の影響を含むb−factorが求められる。
【0063】
以上述べたように、本発明は、任意の拡散計測法パルスシーケンスのb−factorを、パルスシーケンス実行中に傾斜磁場コイルから発生する傾斜磁場波形の時間積分を計測することにより求めるものである。上記傾斜磁場波形の時間積分はMR信号の位相から求められるので、MR信号を発生させるために、任意断面を選択励起してから所定の時間後に、非選択高周波パルスを印加してスピンエコーあるいはスティミュレィテッドエコーを発生させるようにしたものである。
【0064】
上記MR信号を計測するためのパルスシーケンスでは、上記選択励起に引き続いて、上記任意の拡散計測法パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルスを印加するので、上記MR信号の位相には傾斜磁場パルスに起因する位相項が含まれる。また、傾斜磁場パルス自体だけでなく、傾斜磁場に起因する渦電流が発生する2次的な傾斜磁場に起因する位相項も含まれるため、渦電流の影響を含むb−factorを求めることができる。従って、本発明によれば、従来法に比べて、より精度の高い拡散計測を行うことが可能である。
【0065】
また,本発明では、上記非選択高周波パルスの印加タイミングを変化させることにより、上記スピンエコーあるいはスティミュレィテッドエコーの発生タイミングをずらし、複数回にわけて上記MR信号の計測を行うので、上記任意の拡散計測法パルスシーケンスが、静磁場不均一等による信号減衰の時定数に比べて長い場合においても、b−factorを計測することが可能である。
【0066】
以上、本発明を整理すると、次のようになる。
【0067】
1)核磁気共鳴を用いた拡散計測にあって、任意の拡散計測パルスシーケンスのb−factorを、パルスシーケンス実行中に傾斜磁場コイルから発生する傾斜磁場波形の時間積分を計測することにより求めるよう構成したことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0068】
2)静磁場を発生する静磁場発生手段と、傾斜磁場を発生する傾斜磁場発生手段と、高周波磁場を発生する高周波磁場発生手段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を取得する信号検出手段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を処理する信号処理手段とを備えた核磁気共鳴装置において、前記傾斜磁場発生手段のひとつの軸に直交し、かつ傾斜磁場中心を含まない任意断面からの第1のスピンエコーを発生させる手段と、任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルスのうち、前記軸方向成分の印加を行う手段と、前記第1のスピンエコーの位相値(φ1)から、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルス波形の時間積分を求める手段と、前記時間積分から前記任意の拡散計測パルスシーケンスのb−factorを求める手段とを有してなることを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0069】
3)前記2)の構成において、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルスの印加を行わずに、前記任意断面からの第2のスピンエコーを発生させる手段と、前記第2のスピンエコーの位相値(φ2)を、前記第1のスピンエコーの位相値(φ1)から差し引いた位相差の差分(Δφ=φ1−φ2)から、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルス波形の時間積分を求める手段とを有し、前記時間積分から前記任意の拡散計測パルスシーケンスのb−factorを求めるよう構成したことことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0070】
4)静磁場を発生する静磁場発生手段と、傾斜磁場を発生する傾斜磁場発生手段と、高周波磁場を発生する高周波磁場発生手段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を取得する信号検出手段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を処理する信号処理手段とを備えた核磁気共鳴装置において、前記傾斜磁場発生手段のひとつの軸に直交し、かつ傾斜磁場中心を含まない任意断面からの第1のスティミュレィテッドエコーを発生させる手段と、任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルスのうち、前記軸方向成分の印加を行う手段と、前記第1のスティミュレィテッドエコーの位相値(φ1)から、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルス波形の時間積分を求める手段と、前記時間積分から前記任意の拡散計測パルスシーケンスのb−factorを求める手段とを有してなることを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0071】
5)前記4)の構成において、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルスの印加を行わずに、前記任意断面からの第2のスティミュレィテッドエコーを発生させる手段と、前記第2のスティミュレィテッドエコーの位相値(φ2)を、前記第1のスティミュレィテッドエコーの位相値(φ1)から差し引いた位相差の差分(Δφ=φ1−φ2)から、前記任意の拡散計測パルスシーケンスにおいて用いられる傾斜磁場パルス波形の時間積分を求める手段とを有し、前記時間積分から前記任意の拡散計測パルスシーケンスのb−factorを求めるよう構成したことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0072】
6)前記3)の構成において、前記第1のスピンエコーの位相値(φ1)および前記第2のスピンエコーの位相値(φ2)は、それぞれ発生タイミングの異なる複数個のスピンエコーから得られるよう構成したことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0073】
7)前記5〕の構成において、前記第1のスティミュレィテッドエコーの位相値(φ1)および前記第2のスティミュレィテッドエコーの位相値(φ2)は、それぞれ発生タイミングの異なる複数個のスティミュレィテッドエコーから得られるよう構成したことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0074】
8)前記3)又は前記5)の構成において、前記時間積分を求める手段は、前記位相値(φ1)あるいは位相差の差分(Δφ)を前記任意断面と傾斜磁場中心との距離で割ることにより、前記時間積分を求めるよう構成したことを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0075】
9)前記2)の構成において、前記スピンエコーを発生させる手段は、第1および第2の高周波パルスを印加する手段であり、前記第2の高周波パルスは非選択高周波パルスであることを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0076】
10)前記4)の構成において、前記スティミュレィテッドエコーを発生させる手段は、第1および第2および第3の高周波パルスを印加する手段であり、前記第2および前記第3の高周波パルスは非選択高周波パルスであることを特徴とする核磁気共鳴装置。
【0077】
【発明の効果】
本発明は、核磁気共鳴を用いた拡散計測装置において、渦電流による二次的な傾斜磁場に起因する項を含めたb−factorを求める技術を実現するものであり、従来法に比べて、より精度の高い拡散計測を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるb−factor計測アルゴリズムを説明するフロー図。
【図2】本発明を実施するための計測装置の構成を説明するブロック図。
【図3】本発明を実施するためのパルスシーケンスの一例(1)を示す図。
【図4】本発明を実施するためのパルスシーケンスの一例(2)を示す図。
【図5】スピンエコー法による拡散計測パルスシーケンスの例を示す図。
【図6】図5のスピンエコー法による拡散計測パルスシーケンスへの本発明の適用例(1)を示す図。
【図7】図5のスピンエコー法による拡散計測パルスシーケンスへの本発明の適用例(2)を示す図。
【図8】エコープラナー法による拡散計測パルスシーケンスの例を示す図。
【図9】図8のエコープラナー法による拡散計測パルスシーケンスへの本発明の適用例(1)を示す図。
【図10】図8のエコープラナー法による拡散計測パルスシーケンスへの本発明の適用例(2)を示す図。
【図11】本発明を実施するためのパルスシーケンスの他の例(1)を示す図。
【図12】本発明を実施するためのパルスシーケンスの他の例(2)を示す図。
【図13】本発明を実施するためのパルスシーケンスの他の例(3)を示す図。
【符号の説明】
201:静磁場を発生するコイル、202:傾斜磁場を発生するコイル、203:検査対象、204:シーケンサ、205:傾斜磁場電源、206:高周波発信器、207:高周波変調器、208:高周波増幅器、209:高周波送信器、210:受信器、211:増幅器、212:位相検波器、213:A/D変換器、214:CPU、215:記憶媒体、216:表示装置、301、401:選択高周波パルス、302〜304、402〜404:スライス選択傾斜磁場パルス、305、405:非選択高周波パルス、306、406:b−factor計測区間、307、407:A/D区間、501:第1の選択高周波パルス、502:第1のスライス選択傾斜磁場パルス、503:第2の選択高周波パルス、504:第2のスライス選択傾斜磁場パルス、505:リードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、506:リードアウト方向のリフェーズ傾斜磁場、507:位相エンコード傾斜磁場、508:スライス方向の第1のMPG、509:スライス方向の第2のMPG、510:リードアウト方向の第1のMPG、511:リードアウト方向の第2のMPG、512:位相エンコード方向の第1のMPG、513:位相エンコード方向の第2のMPG、601、701:選択高周波パルス、602〜604、702〜704:スライス選択傾斜磁場パルス、605、705:非選択高周波パルス、606、706:A/D区間、607、707:b−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分、608、708:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける第1のスライス選択傾斜磁場パルス、609、709:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける第2のスライス選択傾斜磁場パルス、610、710:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、611、711:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向のリフェーズ傾斜磁場、612、712:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード傾斜磁場、613、713:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるスライス方向の第1のMPG、614、714:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるスライス方向の第2のMPG、615、715:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向の第1のMPG、616、716:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向の第2のMPG、617、717:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード方向の第1のMPG、618、718:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード方向の第2のMPG、801:第1の選択高周波パルス、802:第1のスライス選択傾斜磁場パルス、803:第2の選択高周波パルス、804:第2のスライス選択傾斜磁場パルス、805:リードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、806:リードアウト傾斜磁場、807:位相エンコード方向のディフェーズ傾斜磁場、808:ブリップ位相エンコード傾斜磁場、809:スライス方向の第1のMPG、810:スライス方向の第2のMPG、811:リードアウト方向の第1のMPG、812:リードアウト方向の第2のMPG、813:位相エンコード方向の第1のMPG、814:位相エンコード方向の第2のMPG、901、901:選択高周波パルス、902〜904、1002〜1004:スライス選択傾斜磁場パルス、905、1005:非選択高周波パルス、906、1006:A/D区間、907、1007:はb−factor計測対象パルスシーケンス挿入部分、908、1008:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける第1のスライス選択傾斜磁場パルス、909、1009:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける第2のスライス選択傾斜磁場パルス、910、1010:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場、911、1011:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト傾斜磁場、912、1012:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード方向のディフェーズ傾斜磁場、913、1013:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるブリップ位相エンコード傾斜磁場、914、1014:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるスライス方向の第1のMPG、915、1015:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるスライス方向の第2のMPG、916、1016:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向の第1のMPG、917、1017:b−factor計測対象パルスシーケンスにおけるリードアウト方向の第2のMPG、918、1018:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード方向の第1のMPG、919、1019:b−factor計測対象パルスシーケンスにおける位相エンコード方向の第2のMPG、1101、1201、1301:選択高周波パルス、1102〜1104、1202〜1204:スライス選択傾斜磁場パルス、1105〜1106、1205〜1206、1305〜1306:非選択高周波パルス、1107、1207、1307:b−factor計測区間、1108、1208、1308:A/D区間。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a nuclear magnetic resonance apparatus, and more particularly, to a diffusion measurement apparatus using nuclear magnetic resonance.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art A nuclear magnetic resonance imaging (MRI) apparatus obtains a tomographic image of a substance by utilizing the fact that a nuclear spin placed in a static magnetic field absorbs a high-frequency magnetic field satisfying a resonance condition of nuclear magnetic resonance. Device.
[0003]
At the time of signal measurement, a diffusion measurement method for obtaining a diffusion coefficient by applying a gradient magnetic field pair that emphasizes molecular diffusion (Brownian motion) was proposed in 1965 and applied to diagnosis of cerebral infarction and the like. The details of the diffusion measurement method are described in "Journal of Chemical Physics", Vol. 42, pp. 288-292 (1965), but will be briefly described below.
[0004]
In the most common diffusion measurement method, a gradient magnetic field (motion probing gradient, MPG) for detecting spin motion is applied before and after application of an inverted high-frequency pulse using a spin echo type pulse sequence. At the time of the first MPG application, each spin senses a gradient magnetic field having an intensity corresponding to the location where each spin exists, so that the frequency of the differential motion changes for each location, and a phase change occurs. The phase change depends on the applied amount of the gradient magnetic field (the product of the intensity and the time). After the inverted high frequency pulse, a second MPG having the same shape as the first MPG is applied.
[0005]
At the stationary part, the positions of the spins at the time of the first and second MPG application are the same, so the phase change caused by the first MPG application is canceled by the second MPG application. Therefore, the signal amount does not decrease due to the application of the MPG.
On the other hand, in a moving part, the positions of the spins at the time of applying the first and second MPGs are different. Therefore, the phase change caused by the application of the first MPG is not canceled by the application of the second MPG, and the signal changes. The amount is attenuated. When the movement is performed at a constant speed, the phase change becomes a constant value. However, when the movement is random, the decrease in the signal amount increases with the dispersion of the phase.
[0006]
In the above example, a spin echo type pulse sequence is used, but the same measurement can be performed with a gradient echo type pulse sequence. In this case, the gradient magnetic field pulses of the first and second MPGs have opposite polarities, and have the same shape except for the polarity.
[0007]
With the above mechanism, the ease of movement (diffusion coefficient) of the measurement site is reflected as the contrast of the MRI image. Such an image is called a diffusion weighted image. When cells are calcified due to cerebral infarction or the like, the diffusion coefficient changes with respect to the surrounding tissue, so that the lesion site can be specified from the contrast of the diffusion-weighted image. Also, by repeating the image measurement while changing the applied amount of MPG, the diffusion coefficient for each pixel can be obtained. The MRI signals when MPG is not applied and when MPG is applied are respectively S 0 , S mpg Then, the relationship between these signals and the diffusion coefficient D is expressed by Expression (1).
[0008]
(Equation 1)
In equation (1), the coefficient b on the right side is a function of the phase depending on the applied amount of MPG, and is called b-factor (nuclear magnetic resonance signal attenuation factor due to a gradient magnetic field). From equation (1), if a plot of the logarithm of the left side is linearly approximated for a plurality of b-factors, the diffusion coefficient D is obtained from the slope of the straight line.
[0009]
Strictly speaking, b-factor depends not only on MPG but also on the gradient magnetic field of imaging. The effect of imaging gradient magnetic field on diffusion coefficient measurements is discussed in "Journal of Magnetic Resonance", Vol. 90, pp. 303-312 (1990).
[0010]
In order to emphasize the effect of the diffusion phenomenon, the gradient magnetic field used as the MPG has a higher intensity than a normal imaging gradient magnetic field. However, recently, in order to reduce the measurement time, diffusion measurement is often performed using an ultra-high-speed imaging method such as an echo planar method (echo planar imaging, EPI). Many of these ultra-high-speed imaging methods use a high-intensity imaging gradient magnetic field, and thus greatly contribute to the b-factor. Therefore, in the diffusion measurement generally used, b-factor including the influence of the imaging gradient magnetic field is calculated according to the equation (2).
[0011]
(Equation 2)
Where k (x, y, t) and k 1 Is given by Equations (3) and (4), respectively. G (x, y, t) is a gradient magnetic field intensity distribution. TE is a time interval from application of the excitation high-frequency pulse to generation of the echo.
[0012]
(Equation 3)
[0013]
(Equation 4)
The above equation (2) is calculated for each axis in the MRI measurement space. The b-factor obtained by the above method is a sum of a term caused by the MPG, a term caused by the imaging gradient magnetic field, and a cross term of both terms.
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the b-factor obtained by the above-described conventional technique is the sum of the term caused by the MPG, the term caused by the imaging gradient magnetic field, and the cross term of both terms. However, in the diffusion measurement, since a high-intensity gradient magnetic field is used, a large amount of eddy current is generated. If an imaging method such as an echo planar method is applied to diffusion measurement, not only MPG but also eddy current due to an imaging gradient magnetic field cannot be ignored. When an eddy current is generated on the gradient coil, a secondary gradient magnetic field is generated, which causes image distortion and the like.
[0015]
The effect of the eddy current generated on the gradient coil on the MRI signal differs depending on the time constant of the attenuation. In the first case, the time constant is sufficiently short and attenuates before the signal measurement period. In this case, the effect of the eddy current does not matter. The second case is a case where the time constant is sufficiently longer than the signal measurement period. In this case, the influence of the eddy current can be regarded as almost an offset of the gradient magnetic field, and thus the magnetic field correction by shimming and the signal processing Image correction is also possible. The third case is a case where the time constant is almost the same as the signal measurement time. In this case, both shimming and image correction are difficult. In particular, in a measurement method such as an echo planar method in which the signal measurement time per scan is long, the possibility of falling into the third case is high. In order to suppress the influence of the eddy current fluctuating during the signal measurement period, a method of performing a prescan prior to the main measurement and setting the eddy current to a steady state is often used.
[0016]
However, even if the eddy current is set to a steady state by performing the pre-scan and the component that fluctuates during the signal measurement period is suppressed, the contribution of the eddy current to the b-factor does not disappear. The same applies to the first and second cases. Therefore, it is necessary to consider the term caused by the eddy current when obtaining the b-factor. However, the generation amount of the eddy current differs for each device, and it is difficult to obtain by calculation.
[0017]
An object of the present invention is to provide a technique for obtaining a b-factor including a term caused by the secondary gradient magnetic field due to the eddy current in a nuclear magnetic resonance apparatus.
[0018]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned object, according to the present invention, a time integral of a gradient magnetic field waveform generated from a gradient magnetic field coil is measured, and a b-factor is obtained according to Expression (2).
[0019]
The time integration of the gradient magnetic field waveform is obtained based on the phase of the MR signal generated from the subject. Such a gradient magnetic field waveform measurement method is discussed in "Journal of Magnetic Resonance", Vol. 132, pp. 150-153 (1998).
[0020]
In the gradient magnetic field waveform measurement method, measurement is performed twice for each axis of the gradient magnetic field. In the first measurement, after selectively exciting an arbitrary cross section orthogonal to one axis and not including the center of the gradient magnetic field, of the gradient magnetic field pulses used in the pulse sequence to be measured for the gradient magnetic field waveform, Only the component is generated, and the signal is measured for an arbitrary period. In the second measurement, after selectively exciting the same cross section as in the first measurement, only the signal measurement in the arbitrary period is performed without generating the gradient magnetic field. The phase difference Δφ (r, t) between the first and second signals is a time integral k (r, t) of the gradient magnetic field waveform G (r, t), a gyromagnetic ratio γ, and a gradient magnetic field of the arbitrary cross section. It is the product of the distance D from the center. Here, r = (x, y, z). Since γ and D are known, k (r, t) can be obtained by dividing the phase difference Δφ (r, t) by these values.
[0021]
In the present invention, the b-factor of an arbitrary pulse sequence is measured by using the above measurement method. FIG. 3 shows a pulse sequence for measuring b-factor using spin echo.
[0022]
In a b-
[0023]
Since the spin echo is attenuated in accordance with the static magnetic field inhomogeneity or the like, when the b-
[0024]
Therefore, as shown in FIG. 4, signals in different sections are measured by shifting the application timing of the non-selection high-frequency pulse and the A / D section. In this way, by performing a plurality of scans as necessary, it is possible to measure the signals of the entire b-
[0025]
Next, in the b-
[0026]
FIG. 11 shows a pulse sequence for measuring b-factor using stimulated echo. In a b-
[0027]
Since the stimulated echo is attenuated in accordance with static magnetic field inhomogeneity or the like, if the b-
[0028]
Therefore, by changing the time τ as shown in FIG. 12 or changing the time ε as shown in FIG. 13, the signals in different sections are measured by shifting the A / D section. In this manner, by performing a plurality of scans as necessary, it is possible to measure the signals of the entire b-
[0029]
Next, in the b-
[0030]
FIG. 1 shows an algorithm for obtaining the b-factor based on the MR signals obtained by the above six types of measurement. In FIG. 1, a variable i takes a value of 1 to 3, and represents a direction of a slice selection gradient magnetic field. When the variable i becomes 4 or more, the processing exits the
[0031]
Since the phase difference Δφ (r, t) of the MR signal includes not only the phase term due to the gradient magnetic field pulse itself but also the phase term due to the eddy current generated by the gradient magnetic field, b-factor including the influence of the eddy current is included. Is required.
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0033]
FIG. 2 is a configuration diagram showing an example of a diffusion measurement device for implementing the present invention. In the figure, 201 is a coil that generates a static magnetic field, 202 is a coil that generates a gradient magnetic field, and 203 is an inspection target. The inspection target is arranged in the
[0034]
3 and 4 show one embodiment of a pulse sequence for implementing the present invention. In FIG. 3,
[0035]
Since the spin echo is attenuated in accordance with the static magnetic field inhomogeneity of the inspection object or the like, when the b-
[0036]
Therefore, as shown in FIG. 4, the pulse sequence similar to that of FIG. 3 is executed by changing the application timing of the non-selection high-frequency pulse and the timing of the A / D section. This is because the same measurement is repeatedly performed while changing the timing of the A / D section to obtain a signal of the entire b-factor measurement section. Since the number of times of the repetition measurement is determined from the section length of the b-factor measurement section, the application timing of the unselected high-frequency pulse and the timing of the A / D section are determined according to the number of repetitions.
[0037]
In FIG. 3 or FIG. 4, the reason why an unselected high-frequency pulse is used as the second high-frequency pulse is that the application timing of the high-frequency pulse is included in the b-
[0038]
In the present invention, the b-factor is obtained from the phase φ1 of the signal in the entire b-factor measurement section. The phase φ1 has a phase other than the phase caused by the gradient magnetic field pulse or the eddy current, such as non-uniform static magnetic field or chemical shift. Is contained. Therefore, in the b-
[0039]
Next, specific examples of a case where the present invention is applied to various diffusion measurement methods will be described.
[0040]
FIG. 5 shows a pulse sequence of the diffusion measurement method by the spin echo method. In FIG. 5, reference numeral 501 denotes a first selection high-frequency pulse, 502 denotes a first slice selection gradient magnetic field pulse, 503 denotes a second selection high-frequency pulse, and 504 denotes a second slice selection gradient magnetic field pulse. The first selected high-frequency pulse 501 and the second selected high-
[0041]
In addition, when the diffusion coefficient of the inspection target is obtained by the pulse sequence of FIG. 5, as described in the section of the related art, the gradient magnetic field strength of the first and
[0042]
In FIG. 5 in the previous section, the diffusion measurement method using the spin echo method which is generally used has been described. In this section, the case where the present invention is applied to the diffusion measurement method using the spin echo method to measure the b-factor will be described.
[0043]
In FIG. 6,
[0044]
As described in the description of FIG. 3 and FIG. 4, by shifting the application timing of the non-selection high-
[0045]
In order to remove the gradient magnetic field pulse and the phase component caused by factors other than the eddy current, the signal for removing the phase component is measured without applying the gradient magnetic field pulse in the b-factor measurement pulse
[0046]
As described above, when determining the diffusion coefficient of the inspection target, the signal measurement is repeatedly performed by changing the gradient magnetic field strength of the first and
[0047]
FIG. 8 shows a pulse sequence of the diffusion measurement method by the echo planar method. In FIG. 8,
[0048]
Depending on the scanning method, the dephase gradient
[0049]
When the diffusion coefficient of the inspection target is obtained by the pulse sequence shown in FIG. 8, as described in the section of the related art, the gradient magnetic field strength of the first and
[0050]
In FIG. 8 in the previous section, the diffusion measurement method using the generally used echo planar method has been described. In this section, a case where the present invention is applied to the diffusion measurement method using the above echo planar method to measure the b-factor will be described.
[0051]
In FIG. 9,
[0052]
As described in the description of FIGS. 3 and 4, by shifting the application timing of the non-selection high-
[0053]
[0054]
In order to remove the gradient magnetic field pulse and the phase component caused by factors other than the eddy current, the signal for removing the phase component is measured without applying the gradient magnetic field pulse in the b-factor measurement pulse
[0055]
As described above, when determining the diffusion coefficient of the inspection target, the signal measurement is repeatedly performed while changing the gradient magnetic field strength of the first and
[0056]
11 to 13 show another embodiment of the pulse sequence for implementing the present invention. In FIG. 11, 1101 is a selected high-frequency pulse, 1102 to 1104 are slice selection gradient magnetic field pulses, and 1105 to 1106 are non-selected high-frequency pulses. The slice selection gradient
[0057]
After a predetermined time τ after exciting the nuclear magnetization of the arbitrary cross section, a non-selective high-
[0058]
Therefore, as shown in FIG. 12 or 13, the pulse sequence similar to that of FIG. 11 is executed by changing the application timing of the non-selection high-frequency pulse and the timing of the A / D section. 12 changes the time τ, and FIG. 13 changes the time t to change the timing of the A / D section. This is because the same measurement is repeatedly performed while changing the timing of the A / D section to obtain a signal of the entire b-factor measurement section. Since the number of times of the repetition measurement is determined from the section length of the b-factor measurement section, the application timing of the unselected high-frequency pulse and the timing of the A / D section are determined according to the number of repetitions.
[0059]
In FIGS. 11 to 13, the reason why the non-selected high-frequency pulse is used as the second and third high-frequency pulses is that the application timing of the high-frequency pulse is included in the b-
[0060]
In the present invention, the b-factor is obtained from the phase φ1 of the signal in the entire b-factor measurement section. However, the phase φ1 has a phase other than the phase caused by the gradient magnetic field pulse or the eddy current, such as inhomogeneous static magnetic field or chemical shift. Ingredients are included. Therefore, in the b-
[0061]
FIG. 1 shows an algorithm for obtaining the b-factor based on the MR signals obtained by the above six types of measurement. In FIG. 1, a variable i takes a value of 1 to 3, and represents a direction of a slice selection gradient magnetic field. The variable i is set to an initial value of 1 (101), and is repeated by adding +1 while i <4 (110). When i ≧ 4, the process exits the
[0062]
Since the phase difference Δφ (r, t) of the MR signal includes not only the phase term due to the gradient magnetic field pulse itself but also the phase term due to the eddy current generated by the gradient magnetic field, b-factor including the influence of the eddy current is included. Is required.
[0063]
As described above, in the present invention, the b-factor of an arbitrary diffusion measurement pulse sequence is obtained by measuring the time integral of the gradient magnetic field waveform generated from the gradient magnetic field coil during execution of the pulse sequence. Since the time integration of the gradient magnetic field waveform is obtained from the phase of the MR signal, in order to generate the MR signal, a predetermined time after selective excitation of an arbitrary cross section, a non-selective high-frequency pulse is applied to apply a spin echo or a static echo. This is to generate a muted echo.
[0064]
In the pulse sequence for measuring the MR signal, a gradient magnetic field pulse used in the arbitrary diffusion measurement method pulse sequence is applied subsequent to the selective excitation, so that the phase of the MR signal is caused by the gradient magnetic field pulse. Phase term. Further, not only the gradient magnetic field pulse itself but also a phase term caused by a secondary gradient magnetic field in which an eddy current is generated due to the gradient magnetic field is included. Therefore, a b-factor including an influence of the eddy current can be obtained. . Therefore, according to the present invention, it is possible to perform more accurate diffusion measurement than the conventional method.
[0065]
Further, in the present invention, the generation timing of the spin echo or stimulated echo is shifted by changing the application timing of the non-selection high-frequency pulse, and the measurement of the MR signal is performed a plurality of times. Even when the pulse sequence of any diffusion measurement method is longer than the time constant of signal decay due to non-uniformity of the static magnetic field, it is possible to measure b-factor.
[0066]
As described above, the present invention is as follows.
[0067]
1) In the diffusion measurement using nuclear magnetic resonance, the b-factor of an arbitrary diffusion measurement pulse sequence is obtained by measuring the time integration of the gradient magnetic field waveform generated from the gradient coil during the execution of the pulse sequence. A nuclear magnetic resonance apparatus, comprising:
[0068]
2) Static magnetic field generating means for generating a static magnetic field, gradient magnetic field generating means for generating a gradient magnetic field, high frequency magnetic field generating means for generating a high frequency magnetic field, and signal detecting means for obtaining a nuclear magnetic resonance signal from a test object A signal processing means for processing a nuclear magnetic resonance signal from the test object, a nuclear magnetic resonance apparatus comprising: A means for generating a first spin echo, a means for applying the axial component of the gradient magnetic field pulse used in an arbitrary diffusion measurement pulse sequence, and a phase value (φ1) of the first spin echo. Means for calculating the time integral of the gradient magnetic field pulse waveform used in the arbitrary diffusion measurement pulse sequence, and the arbitrary diffusion measurement pulse sequence from the time integration. Nuclear magnetic resonance apparatus characterized by comprising a means for obtaining a b-factor of the cans.
[0069]
3) In the configuration of the above 2), a means for generating a second spin echo from the arbitrary cross section without applying a gradient magnetic field pulse used in the arbitrary diffusion measurement pulse sequence, and the second spin The gradient magnetic field pulse used in the arbitrary diffusion measurement pulse sequence is obtained from the difference (Δφ = φ1−φ2) of the phase difference obtained by subtracting the phase value (φ2) of the echo from the phase value (φ1) of the first spin echo. Means for calculating a time integral of a waveform, wherein the b-factor of the arbitrary diffusion measurement pulse sequence is determined from the time integral.
[0070]
4) Static magnetic field generating means for generating a static magnetic field, gradient magnetic field generating means for generating a gradient magnetic field, high frequency magnetic field generating means for generating a high frequency magnetic field, and signal detecting means for acquiring a nuclear magnetic resonance signal from a test object A signal processing means for processing a nuclear magnetic resonance signal from the test object, a nuclear magnetic resonance apparatus comprising: A means for generating a first stimulated echo; a means for applying the axial component of the gradient magnetic field pulse used in an arbitrary diffusion measurement pulse sequence; and a means for applying the first stimulated echo. Means for obtaining a time integration of a gradient magnetic field pulse waveform used in the arbitrary diffusion measurement pulse sequence from the phase value (φ1); Nuclear magnetic resonance apparatus characterized by comprising a means for obtaining a b-factor of the arbitrary spreading measurement pulse sequence.
[0071]
5) In the configuration of 4), means for generating a second stimulated echo from the arbitrary cross section without applying a gradient magnetic field pulse used in the arbitrary diffusion measurement pulse sequence, and 2 from the phase difference (Δφ = φ1−φ2) obtained by subtracting the phase value (φ2) of the stimulated
[0072]
6) In the configuration of 3), the phase value (φ1) of the first spin echo and the phase value (φ2) of the second spin echo are obtained from a plurality of spin echoes having different generation timings. A nuclear magnetic resonance apparatus, comprising:
[0073]
7) In the configuration of 5), the phase value (φ1) of the first stimulated echo and the phase value (φ2) of the second stimulated echo are different from each other in a plurality of generation timings. A nuclear magnetic resonance apparatus characterized by being obtained from stimulated echo.
[0074]
8) In the configuration according to 3) or 5), the means for obtaining the time integral is obtained by dividing the phase value (φ1) or the difference in phase difference (Δφ) by the distance between the arbitrary cross section and the center of the gradient magnetic field. A nuclear magnetic resonance apparatus configured to obtain the time integration.
[0075]
9) In the configuration of 2), the means for generating the spin echo is means for applying first and second high-frequency pulses, and the second high-frequency pulse is an unselected high-frequency pulse. Nuclear magnetic resonance equipment.
[0076]
10) In the configuration of 4), the means for generating the stimulated echo is means for applying first, second, and third high-frequency pulses, and the second and third high-frequency pulses are A nuclear magnetic resonance apparatus characterized by being a non-selective high-frequency pulse.
[0077]
【The invention's effect】
The present invention realizes a technique for obtaining a b-factor including a term caused by a secondary gradient magnetic field due to an eddy current in a diffusion measurement apparatus using nuclear magnetic resonance. It is possible to perform more accurate diffusion measurement.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a flowchart illustrating a b-factor measurement algorithm according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a measurement device for implementing the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing an example (1) of a pulse sequence for implementing the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing an example (2) of a pulse sequence for implementing the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing an example of a diffusion measurement pulse sequence by a spin echo method.
FIG. 6 is a diagram showing an application example (1) of the present invention to the diffusion measurement pulse sequence by the spin echo method in FIG. 5;
FIG. 7 is a diagram showing an application example (2) of the present invention to the diffusion measurement pulse sequence by the spin echo method in FIG. 5;
FIG. 8 is a diagram showing an example of a diffusion measurement pulse sequence by the echo planar method.
FIG. 9 is a diagram showing an application example (1) of the present invention to the diffusion measurement pulse sequence by the echo planar method in FIG. 8;
FIG. 10 is a diagram showing an application example (2) of the present invention to the diffusion measurement pulse sequence by the echo planar method of FIG. 8;
FIG. 11 is a diagram showing another example (1) of a pulse sequence for implementing the present invention.
FIG. 12 is a diagram showing another example (2) of a pulse sequence for implementing the present invention.
FIG. 13 is a diagram showing another example (3) of a pulse sequence for implementing the present invention.
[Explanation of symbols]
201: a coil for generating a static magnetic field, 202: a coil for generating a gradient magnetic field, 203: a test object, 204: a sequencer, 205: a gradient magnetic field power supply, 206: a high frequency transmitter, 207: a high frequency modulator, 208: a high frequency amplifier, 209: high frequency transmitter, 210: receiver, 211: amplifier, 212: phase detector, 213: A / D converter, 214: CPU, 215: storage medium, 216: display device, 301, 401: selected high frequency pulse , 302 to 304, 402 to 404: slice selection gradient magnetic field pulse, 305, 405: non-selection high frequency pulse, 306, 406: b-factor measurement section, 307, 407: A / D section, 501: first selection high frequency Pulse, 502: first slice selection gradient magnetic field pulse, 503: second selection high frequency pulse, 504: second slice Selection gradient magnetic field pulse, 505: dephase gradient magnetic field in readout direction, 506: rephase gradient magnetic field in readout direction, 507: phase encoding gradient magnetic field, 508: first MPG in slice direction, 509: second MPG in slice direction , 510: first MPG in the lead-out direction, 511: second MPG in the lead-out direction, 512: first MPG in the phase encoding direction, 513: second MPG in the phase encoding direction, 601, 701 : Selected high frequency pulse, 602 to 604, 702 to 704: Slice selection gradient magnetic field pulse, 605, 705: Non-selected high frequency pulse, 606, 706: A / D section, 607, 707: b-factor measurement pulse sequence insertion part , 608, 708: b-factor measurement target pulse sequence 609, 709: b-factor measurement target pulse sequence in second slice selection gradient magnetic field pulse, 610, 710: de-phase gradient in read-out direction in b-factor measurement target pulse sequence Magnetic field, 611, 711: Re-phase gradient magnetic field in the readout direction in the b-factor measurement target pulse sequence, 612, 712: Phase encoding gradient magnetic field in the b-factor measurement target pulse sequence, 613, 713: b-factor measurement target pulse sequence , The first MPG in the slice direction, 614, 714: the second MPG in the slice direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 615, 715, the pulse sequence for b-factor measurement First MPG in the readout direction in the readout direction, 616, 716: the second MPG in the readout direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 617, 717: the first in the phase encoding direction in the pulse sequence for b-factor measurement. MPG, 618, 718: second MPG in the phase encoding direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 801: first selected high frequency pulse, 802: first slice selection gradient magnetic field pulse, 803: second selection High frequency pulse, 804: second slice selection gradient magnetic field pulse, 805: dephase gradient magnetic field in readout direction, 806: readout gradient magnetic field, 807: dephase gradient magnetic field in phase encoding direction, 808: blip phase encoding gradient magnetic field , 809: Sly First MPG in direction, 810: second MPG in slice direction, 811: first MPG in lead-out direction, 812: second MPG in lead-out direction, 813: first MPG in phase encoding direction, 814: second MPG in the phase encoding direction, 901, 901: selected high frequency pulse, 902 to 904, 1002 to 1004: slice selection gradient magnetic field pulse, 905, 1005: non-selected high frequency pulse, 906, 1006: A / D section , 907, 1007: b-factor measurement target pulse sequence insertion portion, 908, 1008: first slice selection gradient magnetic field pulse in b-factor measurement target pulse sequence, 909, 1009: b-factor measurement target pulse sequence 2 slice selection gradient pulses, 910, 010: Dephase gradient magnetic field in the readout direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 911, 1011: Readout gradient magnetic field in the pulse sequence for b-factor measurement, 912, 1012: Phase encoding in the pulse sequence for b-factor measurement 913, 1013: blip factor encoding gradient magnetic field in the pulse sequence to be measured, 914, 1014: first MPG in the slice direction in the pulse sequence to be b-factor measured, 915, 1015: b -Second MPG in slice direction in pulse sequence for factor measurement, 916, 1016: First in readout direction in pulse sequence for b-factor measurement , 1017: second MPG in the readout direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 918, 1018: first MPG in the phase encoding direction in the pulse sequence for b-factor measurement, 919, 1019: b -The second MPG in the phase encoding direction in the factor measurement target pulse sequence, 1101, 1201, 1301: selected high frequency pulse, 1102 to 1104, 1202 to 1204: slice selection gradient magnetic field pulse, 1105 to 1106, 1205 to 1206, 1305 1306: Non-selection high-frequency pulse, 1107, 1207, 1307: b-factor measurement section, 1108, 1208, 1308: A / D section.
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