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JP3609137B2 - Oscillator circuit - Google Patents
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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、半導体集積回路に外付抵抗および外付コンデンサが接続されてCR発振する発振回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は、例えば特開昭60−46610号公報に示された従来の発振回路を示す回路図であり、図において、1は発振回路の一部が内蔵された半導体集積回路、2はVDD電位の電源、3,4はこのVDD電位の電源2とVSS電位の接地5との間に直列接続された外付抵抗および外付コンデンサである。
【0003】
また、6は半導体集積回路1に設けられたピン端子としてのクロック入力端子、8は基準電圧入力部、9は上記クロック入力端子6に入力される入力電圧と上記基準電圧入力部8に得られる基準入力電圧とを比較するコンパレータである。
【0004】
さらに、10はこのコンパレータ9の出力を受けて、すなわち、上記入力電圧≧基準入力電圧となったときQ端子からハイレベルの信号を出力するセット・リセット型のフリップフロップである
【0005】
また、11はこのフリップフロップ10の出力を遅延させる遅延回路、12はこの遅延回路11の出力を例えば1/2に分周してシステムクロックとして出力する分周器である。
【0006】
上記遅延回路11の出力側は上記フリップフロップ10のR端子に接続され、このフリップフロップ10のQ端子には、同じく半導体集積回路1に内蔵されたNチャネルトランジスタ13のゲートが接続されている。
【0007】
また、このNチャネルトランジスタ13のドレインは、上記クロック入力端子6に接続された上記コンパレータ9の一方の入力回路に接続され、さらにソースは半導体集積回路1の内部で接地されている。
【0008】
次に動作について説明する。まず、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4は電源2から電圧を受けてクロック入力端子6に電圧を入力する。この入力電圧は基準電圧入力部8からの基準入力電圧とコンパレータ9で比較される。
【0009】
このコンパレータ9において、入力電圧≧基準入力電圧となった場合には、この結果を受けてフリップフロップ10はQ端子からハイレベルの信号を出力し、この信号にもとづいてNチャネルトランジスタ13がオンになる。
【0010】
このため、このNチャネルトランジスタ13のドレインに接続されたクロック入力端子6の電位はVSS電位に低下し、従ってフリップフロップ10のQ端子からローレベルの信号を出力させて、Nチャネルトランジスタ13はオフとなる。
【0011】
しかし、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4の充電時定数により、クロック入力端子6の入力電圧は再び基準入力電圧に達し、さらにこれを超えることで、再びコンパレータ9の出力にもとづいてフリップフロップ10のQ端子はハイレベルの信号を出力し、以下、上記同様の動作を繰り返し、発振動作することとなる。
【0012】
一方、このように発振動作を続けながら、上記フリップフロップ10の出力は、遅延回路11および分周器12を介して半導体集積回路1内の内部システムクロックとして用いられる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
従来の発振回路は以上のように構成されているので、外付抵抗3と外付コンデンサ4の接続中点を接続する1つのクロック入力端子6を半導体集積回路1に設けるだけで、所期のRC発振動作を実現できるものの、半導体集積回路1に2つの端子を必要とするセラミック発振器や水晶発振器を持つ外部回路を接続することができないなどの問題点があった。
【0014】
また、かかる外部回路の接続を可能とするためには、入力端子を2端子分設けるなど、半導体集積回路1のピン数やピン配置を予め独自に設定しておかなければならず、発振回路以外の部分は同一機能を持ち、しかもピンコンパチブルな半導体集積回路の実現が困難であるなどの問題点があった。
【0015】
この発明は上記のような問題点を解消するためになされたものであり、半導体集積回路のクロック入力端子およびクロック出力端子を外部で短絡接続することによりCR発振動作を行わせることができるほか、上記各クロック入力端子およびクロック出力端子にCR回路以外の外部回路を接続可能とすることで、他の回路機能を持たせることができ、かつピンコンパチブル化できる発振回路を得ることを目的とする。
【0016】
また、この発明はクロック出力端子を外部で接地することによりCR発振動作を行わせることができる発振回路を得ることを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明に係る発振回路は、発振制御用のNチャネルトランジスタのソースを半導体集積回路内で接地し、ドレインを上記半導体集積回路に設けられ、かつクロック入力端子に対し外部で短絡接続可能なクロック出力端子に接続したものである。
【0018】
請求項2の発明に係る発振回路は、Nチャネルトランジスタのドレインを半導体集積回路内でクロック入力端子に接続し、ソースを上記半導体集積回路に設けられ、かつ外部で接地接続可能なクロック出力端子に接続したものである。
【0019】
【作用】
請求項1の発明における発振回路は、半導体集積回路内に設けられたNチャネルトランジスタのドレインを、その半導体集積回路に設けたクロック出力端子に接続することで、このクロック出力端子と上記クロック入力端子とを短絡接続した際に、CR発振回路を形成可能にし、一方、その短絡接続を解除することで、これらのクロック入力端子およびクロック出力端子を利用して、セラミック発振器や水晶発振器の2端子を接続して、上記とは異なるタイプの発振回路の形成を可能にしたり、外部クロックの入力により発振回路のテストを実施可能とする。
【0020】
また、請求項2の発明における発振回路は、半導体集積回路内に設けられたNチャネルトランジスタのソースを、その半導体集積回路に設けたクロック出力端子に接続することで、そのクロック出力端子を外部で接地した際に、CR発振回路を形成可能にし、一方、その接地を解除することで、上記クロック入力端子およびクロック出力端子を利用して外部クロックの入力による発振回路のテストの実施を可能にする。
【0021】
【実施例】
実施例1.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。図1において、1は発振回路の一部が内蔵された半導体集積回路、2はVDD電位の電源、3,4はこのVDD電位の電源2とVSS電位の接地5との間に直列接続された外付抵抗および外付コンデンサである。
【0022】
また、6は半導体集積回路1に設けられたピン端子としてのクロック入力端子、8は基準電圧入力部、9は上記クロック入力端子6に入力される入力電圧と上記基準電圧入力部8に得られる基準入力電圧とを比較するコンパレータである。
【0023】
さらに、10はこのコンパレータ9の出力を受けて、すなわち、上記入力電圧≧基準入力電圧となったときQ端子からハイレベルHの信号を出力するセット・リセット型のフリップフロップである
【0024】
また、11はこのフリップフロップ10の出力を遅延させる遅延回路、12はこの遅延回路11の出力を例えば1/2に分周してシステムクロックとして出力する分周器である。
【0025】
上記遅延回路11の出力側は上記フリップフロップ10のR端子に接続され、このフリップフロップ10のQ端子には、同じく半導体集積回路1に内蔵されたNチャネルトランジスタ13のゲートが接続されている。
【0026】
また、このNチャネルトランジスタ13のドレインは、半導体集積回路1に外部設置されたクロック出力端子7に接続されており、これが上記クロック入力端子6とともに、半導体集積回路1の所定の位置に設けられている。
【0027】
次に動作について説明する。まず、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4と上記半導体集積回路1とを用いて発振動作を行わせる場合には、上記のクロック入力端子6およびクロック出力端子7をその半導体集積回路1の外部でリード線などを用いて短絡接続する。
【0028】
すなわち、クロック入力端子6を接地レベル(VSS電位)に制御するためのNチャネルトランジスタ13のドレイン端子に、上記クロック出力端子7を接続しておき、このクロック出力端子7をクロック入力端子6に対してリード線などにより外部で短絡接続する。
【0029】
こうすることにより、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4の充放電時定数に従って、従来の場合と同じく、Nチャネルトランジスタ13はオン,オフを繰り返し、発振動作を始める。すなわち、この実施例ではRC発振回路による発振動作が行われる。
【0030】
一方、必要に応じ、上記クロック入力端子6およびクロック出力端子7の短絡接続を解除し、そのクロック入力端子6に外部クロックを入力して、クロック出力端子7からの出力クロックを監視することで、発振回路のテストを実施することができる。
【0031】
また、上記クロック入力端子6およびクロック出力端子7には、セラミック発振回路や水晶発振回路などを構成する2端子回路を接続することで、上記各端子6,7としてのピンの数や配置を変更することなく、発振回路のタイプが異なる半導体集積回路として利用することができる。
【0032】
すなわち、この実施例では、クロック入力端子6およびクロック出力端子7を、RC発振回路としての利用の他に、発振回路のテスト用や他のタイプの発振回路形成用として利用できる。
【0033】
実施例2.
図2はこの発明の他の実施例を示す。この実施例では、半導体集積回路1内の上記Nチャネルトランジスタ13のドレインを、その半導体集積回路1内において、クロック入力端子6に、さらに具体的にはクロック入力端子6とコンパレータ9とを結ぶ回路に接続してある。
【0034】
また、上記Nチャネルトランジスタ13のソースは外部で接地接続可能なクロック出力端子7に、さらにゲートは上記同様にフリップフロップ10のQ端子にそれぞれ接続してある。
【0035】
従って、この実施例では、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4と上記半導体集積回路1とを用いて発振動作を行わせる場合には、上記クロック出力端子7を半導体集積回路1の外部でリード線などを用いて接地5に接続し、接地レベル(VSS電位)に低下させる。
【0036】
こうすることによって、上記外付抵抗3および外付コンデンサ4の充放電時定数に従って、上記実施例1について説明した場合と同じくNチャネルトランジスタ13はオン,オフを繰り返して、発振動作を開始し、RC発振回路による発振動作が継続される。
【0037】
一方、上記クロック出力端子7の接地接続を解除し、クロック入力端子6に外部クロックを入力し、クロック出力端子7の出力を監視することで、半導体集積回路1の上記各端子6,7としてのピンの数や位置の変更なしに、発振回路のテストを行うことができる。
【0038】
また、この実施例ではCR発振回路としての発振動作時にクロック出力端子7を最短距離にてVSS電位となるように接続すれば、上記実施例1の場合に比較して、ノイズ環境はさらに良好になる。
【0039】
【発明の効果】
以上のように、請求項1の発明によれば、発振制御用のNチャネルトランジスタのソースを半導体集積回路内で接地し、ドレインを上記半導体集積回路に設けられ、かつクロック入力端子に対し外部で短絡接続可能なクロック出力端子に接続するように構成したので、半導体集積回路のクロック入力端子およびクロック出力端子を外部で短絡接続することによりCR発振動作を行わせることができるほか、上記各クロック入力端子およびクロック出力端子に他の回路機能を持たせるようにピンコンパチブル化できるものが得られる効果がある。
【0040】
また、請求項2の発明によれば、Nチャネルトランジスタのドレインを半導体集積回路内でクロック入力端子に接続し、ソースを上記半導体集積回路に設けられ、かつ外部で接地接続可能なクロック出力端子に接続するように構成したので、クロック出力端子を外部で接地することによりCR発振動作を行わせることができるほか、上記各クロック入力端子およびクロック出力端子に他の回路機能を持たせるようにピンコンパチブル化できるものが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例による発振回路を示す回路図である。
【図2】この発明の他の実施例による発振回路を示す回路図である。
【図3】従来の発振回路を示す回路図である。
【符号の説明】
1 半導体集積回路、3 外付抵抗、4 外付コンデンサ、6 クロック入力端子、7 クロック出力端子、10 フリップフロップ、13 Nチャネルトランジスタ。
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to an oscillation circuit that performs CR oscillation by connecting an external resistor and an external capacitor to a semiconductor integrated circuit.
[0002]
[Prior art]
FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional oscillation circuit disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 60-46610. In FIG. 3, 1 is a semiconductor integrated circuit in which a part of the oscillation circuit is built, and 2 is V DD. power potential, 3 and 4 in series connected resistor and external capacitor external between the ground 5 of the power supply 2 and V SS potential of the V DD potential.
[0003]
Further, 6 is a clock input terminal as a pin terminal provided in the semiconductor integrated circuit 1, 8 is a reference voltage input unit, 9 is an input voltage input to the clock input terminal 6 and the reference voltage input unit 8 is obtained. It is a comparator that compares with a reference input voltage.
[0004]
Further, reference numeral 10 denotes a set / reset type flip-flop which receives the output of the comparator 9, that is, outputs a high level signal from the Q terminal when the above input voltage ≧ reference input voltage.
Reference numeral 11 denotes a delay circuit that delays the output of the flip-flop 10, and reference numeral 12 denotes a frequency divider that divides the output of the delay circuit 11 by, for example, ½ and outputs it as a system clock.
[0006]
The output side of the delay circuit 11 is connected to the R terminal of the flip-flop 10, and the Q terminal of the flip-flop 10 is connected to the gate of an N-channel transistor 13 that is also built in the semiconductor integrated circuit 1.
[0007]
The drain of the N-channel transistor 13 is connected to one input circuit of the comparator 9 connected to the clock input terminal 6, and the source is grounded inside the semiconductor integrated circuit 1.
[0008]
Next, the operation will be described. First, the external resistor 3 and the external capacitor 4 receive a voltage from the power supply 2 and input a voltage to the clock input terminal 6. This input voltage is compared with the reference input voltage from the reference voltage input unit 8 by the comparator 9.
[0009]
In the comparator 9, when the input voltage is equal to or higher than the reference input voltage, the flip-flop 10 outputs a high level signal from the Q terminal in response to this result, and the N-channel transistor 13 is turned on based on this signal. Become.
[0010]
For this reason, the potential of the clock input terminal 6 connected to the drain of the N-channel transistor 13 is lowered to the VSS potential. Therefore, a low-level signal is output from the Q terminal of the flip-flop 10, and the N-channel transistor 13 Turn off.
[0011]
However, due to the charging time constant of the external resistor 3 and the external capacitor 4, the input voltage at the clock input terminal 6 reaches the reference input voltage again, and further exceeds this, so that the flip-flop is again based on the output of the comparator 9. The Q terminal of 10 outputs a high level signal, and thereafter the same operation as described above is repeated to oscillate.
[0012]
On the other hand, the output of the flip-flop 10 is used as an internal system clock in the semiconductor integrated circuit 1 via the delay circuit 11 and the frequency divider 12 while continuing the oscillation operation in this way.
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
Since the conventional oscillation circuit is configured as described above, the semiconductor integrated circuit 1 is provided with only one clock input terminal 6 for connecting the connection midpoint between the external resistor 3 and the external capacitor 4. Although the RC oscillation operation can be realized, there is a problem that an external circuit having a ceramic oscillator or a crystal oscillator that requires two terminals cannot be connected to the semiconductor integrated circuit 1.
[0014]
In addition, in order to enable connection of such an external circuit, the number of pins and pin arrangement of the semiconductor integrated circuit 1 must be uniquely set in advance, such as by providing two input terminals. These parts have the same function, and there is a problem that it is difficult to realize a pin-compatible semiconductor integrated circuit.
[0015]
The present invention has been made to solve the above-described problems. In addition to allowing a clock input terminal and a clock output terminal of a semiconductor integrated circuit to be short-circuited externally, a CR oscillation operation can be performed. An object of the present invention is to obtain an oscillation circuit that can be provided with other circuit functions and can be made pin-compatible by making it possible to connect an external circuit other than a CR circuit to each clock input terminal and clock output terminal.
[0016]
Another object of the present invention is to provide an oscillation circuit capable of performing a CR oscillation operation by grounding a clock output terminal externally.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
According to the first aspect of the present invention, the source of the oscillation control N-channel transistor is grounded in the semiconductor integrated circuit, the drain is provided in the semiconductor integrated circuit, and can be short-circuited externally to the clock input terminal. This is connected to the correct clock output terminal.
[0018]
According to a second aspect of the present invention, there is provided an oscillation circuit in which a drain of an N-channel transistor is connected to a clock input terminal in a semiconductor integrated circuit, a source is provided in the semiconductor integrated circuit, and a clock output terminal that can be externally grounded Connected.
[0019]
[Action]
According to another aspect of the present invention, there is provided an oscillation circuit in which a drain of an N-channel transistor provided in a semiconductor integrated circuit is connected to a clock output terminal provided in the semiconductor integrated circuit, whereby the clock output terminal and the clock input terminal are connected. When a short circuit connection is made, a CR oscillation circuit can be formed. On the other hand, by canceling the short circuit connection, these clock input terminals and clock output terminals can be used to connect two terminals of a ceramic oscillator and a crystal oscillator. By connecting, it is possible to form an oscillation circuit of a type different from the above, or to test the oscillation circuit by inputting an external clock.
[0020]
According to a second aspect of the present invention, there is provided an oscillation circuit comprising: a source of an N channel transistor provided in a semiconductor integrated circuit is connected to a clock output terminal provided in the semiconductor integrated circuit; When grounded, a CR oscillation circuit can be formed. On the other hand, by releasing the grounding, the oscillation circuit can be tested by inputting an external clock using the clock input terminal and the clock output terminal. .
[0021]
【Example】
Example 1.
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, 1 is a semiconductor integrated circuit in which a part of an oscillation circuit is incorporated, 2 is a power supply having a V DD potential, and 3 and 4 are connected in series between a power supply 2 having this V DD potential and a ground 5 having a VSS potential. Connected external resistor and external capacitor.
[0022]
Further, 6 is a clock input terminal as a pin terminal provided in the semiconductor integrated circuit 1, 8 is a reference voltage input unit, 9 is an input voltage input to the clock input terminal 6 and the reference voltage input unit 8 is obtained. It is a comparator that compares with a reference input voltage.
[0023]
Further, reference numeral 10 denotes a set / reset type flip-flop which receives the output of the comparator 9, that is, outputs a high level H signal from the Q terminal when the above input voltage ≧ reference input voltage is satisfied.
Reference numeral 11 denotes a delay circuit that delays the output of the flip-flop 10, and reference numeral 12 denotes a frequency divider that divides the output of the delay circuit 11 by, for example, ½ and outputs it as a system clock.
[0025]
The output side of the delay circuit 11 is connected to the R terminal of the flip-flop 10, and the Q terminal of the flip-flop 10 is connected to the gate of an N-channel transistor 13 that is also built in the semiconductor integrated circuit 1.
[0026]
The drain of the N-channel transistor 13 is connected to a clock output terminal 7 provided outside the semiconductor integrated circuit 1, and this is provided at a predetermined position of the semiconductor integrated circuit 1 together with the clock input terminal 6. Yes.
[0027]
Next, the operation will be described. First, when an oscillation operation is performed using the external resistor 3 and the external capacitor 4 and the semiconductor integrated circuit 1, the clock input terminal 6 and the clock output terminal 7 are connected to the outside of the semiconductor integrated circuit 1. Connect with a short circuit using lead wires.
[0028]
That is, the clock output terminal 7 is connected to the drain terminal of the N-channel transistor 13 for controlling the clock input terminal 6 to the ground level ( VSS potential), and the clock output terminal 7 is connected to the clock input terminal 6. On the other hand, short-circuit externally with lead wires.
[0029]
As a result, according to the charge / discharge time constants of the external resistor 3 and the external capacitor 4, the N-channel transistor 13 is repeatedly turned on and off and starts oscillating as in the conventional case. That is, in this embodiment, an oscillation operation is performed by the RC oscillation circuit.
[0030]
On the other hand, if necessary, the short-circuit connection between the clock input terminal 6 and the clock output terminal 7 is canceled, an external clock is input to the clock input terminal 6, and the output clock from the clock output terminal 7 is monitored. Oscillator circuit testing can be performed.
[0031]
The clock input terminal 6 and the clock output terminal 7 are connected to a two-terminal circuit constituting a ceramic oscillation circuit, a crystal oscillation circuit, or the like, so that the number and arrangement of pins as the terminals 6 and 7 are changed. Thus, it can be used as a semiconductor integrated circuit having a different type of oscillation circuit.
[0032]
That is, in this embodiment, the clock input terminal 6 and the clock output terminal 7 can be used not only for the RC oscillation circuit but also for testing the oscillation circuit and for forming other types of oscillation circuits.
[0033]
Example 2
FIG. 2 shows another embodiment of the present invention. In this embodiment, the drain of the N-channel transistor 13 in the semiconductor integrated circuit 1 is connected to the clock input terminal 6 in the semiconductor integrated circuit 1, more specifically, a circuit connecting the clock input terminal 6 and the comparator 9. Is connected to.
[0034]
The source of the N-channel transistor 13 is connected to the clock output terminal 7 which can be externally connected to the ground, and the gate is connected to the Q terminal of the flip-flop 10 as described above.
[0035]
Therefore, in this embodiment, when the oscillation operation is performed using the external resistor 3 and the external capacitor 4 and the semiconductor integrated circuit 1, the clock output terminal 7 is read outside the semiconductor integrated circuit 1. Connect to the ground 5 using a wire or the like, and lower it to the ground level ( VSS potential).
[0036]
As a result, according to the charge / discharge time constants of the external resistor 3 and the external capacitor 4, the N-channel transistor 13 is repeatedly turned on and off in the same manner as described in the first embodiment, and starts an oscillation operation. The oscillation operation by the RC oscillation circuit is continued.
[0037]
On the other hand, the ground connection of the clock output terminal 7 is released, an external clock is input to the clock input terminal 6, and the output of the clock output terminal 7 is monitored. The oscillator circuit can be tested without changing the number or position of the pins.
[0038]
Further, in this embodiment, if the clock output terminal 7 is connected to the VSS potential at the shortest distance during the oscillation operation as the CR oscillation circuit, the noise environment is further improved as compared with the case of the first embodiment. become.
[0039]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect of the present invention, the source of the N channel transistor for oscillation control is grounded in the semiconductor integrated circuit, the drain is provided in the semiconductor integrated circuit, and externally to the clock input terminal. Since it is configured to connect to a short-circuitable clock output terminal, CR oscillation operation can be performed by short-circuiting the clock input terminal and clock output terminal of the semiconductor integrated circuit externally. There is an effect that a terminal and clock output terminal can be made pin compatible so as to have other circuit functions.
[0040]
According to a second aspect of the present invention, the drain of the N-channel transistor is connected to the clock input terminal in the semiconductor integrated circuit, and the source is provided to the clock output terminal provided in the semiconductor integrated circuit and externally connectable to the ground. Since it is configured to connect, CR oscillation operation can be performed by grounding the clock output terminal externally, and pin-compatible so that each of the clock input terminals and clock output terminals can have other circuit functions. There is an effect that can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to another embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional oscillation circuit.
[Explanation of symbols]
1 semiconductor integrated circuit, 3 external resistor, 4 external capacitor, 6 clock input terminal, 7 clock output terminal, 10 flip-flop, 13 N channel transistor.

Claims (2)

導体集積回路に設けられ、外付抵抗および外付コンデンサの接続点に接続されるクロック入力端子と、該クロック入力端子の入力電圧が基準値を超えたときハイレベルの信号を出力するフリップフロップと、該フリップフロップからのハイレベルの信号をゲートに受けてオンとなり、上記クロック入力端子を接地レベルに引き込み、上記フリップフロップが出力する信号をローレベルにした後、再び上記外付抵抗および外付コンデンサの時定数により上記入力電圧が上記基準値を超えるようにする発振制御用のNチャネルトランジスタとを備えた発振回路において、
上記Nチャネルトランジスタのソースを上記半導体集積回路内で接地し、ドレインを上記半導体集積回路に設けられ、かつ上記クロック入力端子に対し外部で短絡接続可能なクロック出力端子に接続したことを特徴とする発振回路。
Provided in a semi-conductor integrated circuit, and outputs a clock input terminal connected to the connection point of the external resistor and external capacitor, a high level signal when the input voltage of the clock input terminal exceeds the reference value flip And the high-level signal from the flip-flop is received by the gate and turned on, the clock input terminal is pulled to the ground level, the signal output from the flip-flop is set to low level, and then the external resistor and In an oscillation circuit including an N-channel transistor for oscillation control that causes the input voltage to exceed the reference value by a time constant of an external capacitor,
The source of the N-channel transistor is grounded in the semiconductor integrated circuit, and the drain is connected to a clock output terminal provided in the semiconductor integrated circuit and capable of being short-circuited externally to the clock input terminal. Oscillator circuit.
導体集積回路に設けられ、外付抵抗および外付コンデンサの接続点に接続されるクロック入力端子と、該クロック入力端子の入力電圧が基準値を超えたときハイレベルの信号を出力するフリップフロップと、該フリップフロップからのハイレベルの信号をゲートに受けてオンとなり、上記クロック入力端子を接地レベルに引き込み、上記フリップフロップが出力する信号をローレベルにした後、再び上記外付抵抗および外付コンデンサの時定数により上記入力電圧が上記基準値を超えるようにする発振制御用のNチャネルトランジスタとを備えた発振回路において、
上記Nチャネルトランジスタのドレインを上記半導体集積回路内で上記クロック入力端子に接続し、ソースを上記半導体集積回路に設けられ、かつ外部で接地可能なクロック出力端子に接続したことを特徴とする発振回路。
Provided in a semi-conductor integrated circuit, and outputs a clock input terminal connected to the connection point of the external resistor and external capacitor, a high level signal when the input voltage of the clock input terminal exceeds the reference value flip And the high-level signal from the flip-flop is received by the gate and turned on, the clock input terminal is pulled to the ground level, the signal output from the flip-flop is set to low level, and then the external resistor and In an oscillation circuit including an N-channel transistor for oscillation control that causes the input voltage to exceed the reference value by a time constant of an external capacitor,
The drain of the N channel transistor is connected to the clock input terminal in the semiconductor integrated circuits, provided the source to the semiconductor integrated circuit, and characterized by being connected to the outside contact groundwater ability clock output terminal Oscillator circuit.
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