JP3615864B2 - Measuring method of optical axis angle of wedge birefringent plate - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、偏波無依存型光アイソレータなどの光学デバイスに用いられる楔状複屈折板の光学軸方向を測定する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5は偏波無依存型光アイソレータの概略構成とその動作原理とを説明するための斜視図である。同図(a),(b)のそれぞれに示すように、偏波無依存型光アイソレータ2はファラデー回転子4を挟んで一対の同形状の楔状複屈折板6を対称に配置し、さらにその前後に一対のレンズ8を配置して光ファイバー10に結合させている。
【0003】
ここで、上記ファラデー回転子4による偏光面回転角は45度とされ、その前後の一対の楔状複屈折板6は前方の第1複屈折板6aの光学軸方向に対して後方の第2複屈折板6bの光学軸方向が上記ファラデー回転子4による偏光面回転角に対応されて45度ずらされ、かつ第1,第2複屈折板6a,6bは楔状の傾斜面同士を外側にして平行に対称配置されている。なお、楔状複屈折板6は光の透過方向に垂直な端面62と、この端面62に対して所定角度傾斜して対面する傾斜面64とを有し、光学軸は上記端面62の面内に存する。
【0004】
そして、このように構成される偏波無依存型光アイソレータ2では、同図(a)に示すように、前方の光ファイバー10aからの順方向の光は第1レンズ8aで平行光線にされて第1複屈折板6aに入射され、この第1複屈折板6aを透過した光は常光と異常光とに分離される。そして、この分離された常光と異常光とはさらにファラデー回転子4によって各々偏光面が45度回転されて、後方の第2複屈折板6bに入射される。
【0005】
このとき、第2複屈折板6bは第1複屈折板との関係において、その光学軸方向がファラデー回転子4による偏光面の回転角度に合わされて45度ずらされており、かつ傾斜面同士を平行にして対称配置されているから、この第2複屈折板6bを透過する際の常光と異常光との関係は、第1複屈折板6aを透過したときと変わらず、このため第2複屈折板6bを透過した常光と異常光は平行光線に戻されて後方の第2レンズ8bに入射する。よって当該常光と異常光は後方の光ファイバー10bに集光されて順方向に伝播されていく。
【0006】
一方、同図(b)に示すように、後方の光ファイバー10bからの逆方向の反射戻り光は、第2レンズ8bで平行光線にされてから第2複屈折板6bで常光と異常光とに分離され、さらにファラデー回転子4で偏光面が45度回転されたのち、第1複屈折板6aに入射される。
【0007】
ところが、この逆方向の場合には、第1複屈折板6aの光学軸は第2複屈折板6bの光学軸に対してファラデー回転子4による回転方向と逆回転方向に45度ずれていることになるので、第2複屈折板6bを透過したときに分離された常光と異常光は、当該第1複屈折板6aを透過する際においてはそれらの関係が逆転することになる。
【0008】
従って、この第1複屈折板6aを透過しても反射戻り光の常光と異常光とは平行光線には戻らず、よって当該常光と異常光は第1レンズ8aによって前方の光ファイバー10aに集光されることがなく、これ故、反射戻り光の逆方向への伝播が阻止される。
【0009】
ところで、この偏波無依存型光アイソレータ2は上述の動作原理から明らかなように、一対の楔状複屈折板6a,6bはその傾斜面角度を同一にするとともに平行に配置し、かつ光学軸の角度方向を相互に45度ずらすことが必要であり、しかもこれらの精度はきわめて精密に設定しなければならない。
【0010】
このため、上記一対の楔状複屈折板6a,6bは、ルチル(TiO2 )等の光学材料のブロック素材からの切り出しから研磨による傾斜面64の形成までを一貫して同一の工程で同時加工し、その後に2つの複屈折板6a,6bに切断分離して作製しており、一対に組み合わせる2つの楔状複屈折板6a,6bは必ずペアで同時に作製することにより加工精度の誤差レベルまで形状が等しくなるようにしている。
【0011】
また、このようにペアで作製した一対の楔状複屈折板6a,6bは、図6に拡大表示するように、ファラデー回転子4の前後にそれぞれの傾斜面64を外側にしてかつ平行度を精密にして対称に配置するが、その際には平行度だけでなく光学軸<001>の方向も正確に45度ずらさなければならない。
【0012】
ここで、上述のように一対の楔状複屈折板6a,6bは同一のブロック素材からペアで切り出されて加工形成されるので、光学軸<001>が存する端面62の周囲に直角に形成したある共通の周側面を基準面66とすれば、この基準面66に対する光学軸<001>の方向つまり角度θは等しく、この一対の楔形複屈折板6a,6bをその各傾斜面64を平行にして対称配置すれば両光学軸<001>のなす角度、即ち光学軸<001>相互のずれ角度は2θになる。よって、ずれ角度を45度にするには上記基準面66からの光学軸角度θを22.5度にすれば良い。
【0013】
従って、以上のことから、従来より上記一対の楔状複屈折板6a,6bは図7に示すようにして作製している。即ち、先ず光学材料のブロック素材12の光学軸<001>をX線回析により測定し、この光学軸<001>を面内に内包する平行な2面と、この2面に直交するとともに光学軸<001>に対して22.5度の角度をなす平行な2面とで囲まれる角柱状体14を切り出す。次に、光学軸<001>を内包する平行な2面のうちの一方を研磨して所定角度傾斜させ、傾斜面64を形成する。爾後、上記4面に直交する面で切断して、2つの同形状の楔状複屈折板6a,6bを得ている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記偏波無依存型光アイソレータ2の性能を規定値以上に満足させるためには、楔状複屈折板6a,6bの光学軸の方向は基準面に対して22.5度±10分程度の加工精度内に納める必要がある。しかしながら、楔状複屈折板6にまで加工し終わった後では、あまりにも小さすぎてその光学軸<001>の測定はX線回析によっても正確に行うことができず、また従来では正確に当該光学軸<001>の測定を行う術も他に無く、よって楔状複屈折板6はその寸法精度管理が行えず、部品としての合否判定をすることが実質的にできなかった。
【0015】
従って、楔状複屈折板6は加工途中のブロック素材12段階でのX線回析による光学軸測定に依存して、以後の加工精度を可及的に高めることによって便宜的にその部品の寸法精度を保証せざるを得ず、偏波無依存型光アイソレータ2として組立の完了した完成品の性能試験で合否判定するしかなかった。
【0016】
このため、部品として光学軸角度が不良であっても、無駄に組立をおこなっており、その結果、歩留まりを低下させて、コストの低減を阻害する要因にもなっていた。
【0017】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、楔形複屈折板における基準面と光学軸とのなす角度を正確に測定することができ、もって部品としての合否判定を容易に行い得る楔状複屈折板の光学軸角度測定方法を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明に係る楔状複屈折板の光学軸角度測定方法では、光の透過方向に平行な基準面(66)と、該透過方向に直交して光学軸<001>が面内に存する端面(62)と、該端面(62)に対して所定角度傾斜して対面する傾斜面(64)とを有する楔状複屈折板(6)における該基準面(66)と該光学軸<001>とのなす角度θを測定するに際して、測定台(22)上に該複屈折板(6)をその基準面(66)を合わせて載置し、該載置した複屈折板(6)に回転式偏光板(28)により偏光した光を透過させて、該透過後の常光又は異常光のみの透過光量を測定し、該透過光量が最小値となる該偏光板(28)の回転位置を探して該光学軸<001>方向を求めた後、載置する楔形複屈折板6の基準面(66)はそのままにして当該楔状複屈折板(6)を180度回転させて該光学軸<001>方向を求めることで、該端面(62)側からと該傾斜面(64)側からとの双方で該光学軸<001>方向を求め、該両回転位置の角度差αから該基準面(66)と該光学軸<001>とのなす角度θを測定することを特徴とする。
【0019】
ここで、上記常光又は異常光のみの透過光量が最小値となる回転式偏光板(28)の回転位置は光学軸<001>方向を正確に計測して示すものであり、端面(62)側から見た場合の光学軸<001>方向と傾斜面(64)側から見た場合の光学軸<001>方向とは当然のことであるが基準面(66)に対して逆方向に同一角度θだけ回転した位置となる。従って、この2方向から見た場合の各光学軸<001>方向の回転位置をそれぞれ求めて、それらの角度差αを得れば、この角度差αは基準面(66)と光学軸<001>とがなす角度θの2倍をπから差し引いたものであるから、当該角度θは(π−α)/2となり、容易に算出できる。また、2方向から測定して得られるそれぞれの光学軸方向つまり回転位置は、実質的に光学軸<001>を直接計測するものであるから、それらの角度差αはきわめて高精度に計測でき、よって角度θも高精度に測定できる。このため、信頼度の高い部品精度管理が可能となり、部品の合否判定を適切に行えるようになる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下に本発明に係る楔状複屈折板の光学軸角度測定方法について、添付図面に基づき詳細に説明する。
【0021】
図1は本発明に係る測定方法を実施するにあたって用いる測定系の概略構成を示す図である。同図に示すように、測定系20は被測定物である楔状複屈折板6を載せる測定台22と、この測定台22上に載置した楔状複屈折板6に向けて平行光線を照射して透過させる照射器24及びその光源26、測定台22と照射器24との間に配置されて照射される平行光線を任意な角度の偏波面に偏光可能な回転式偏光板28、並びにこの回転式偏光板28の回転角度を測定する角度測定手段30、そして楔状複屈折板6を透過した後の透過光量を計測するディテクター32及びその電源34とからなる。
【0022】
また、楔状複屈折板6は上述の従来技術で説明したように、光の透過方向に直角で光学軸<001>を内包する端面62と、この端面62に対して所定角度傾斜して対面する傾斜面64及び上記端面62に直交して光の透過方向に平行な基準面66とを有し、具体的には直方体の一面を傾斜面に形成した楔状をなす。
【0023】
ところで、この楔状複屈折板6の基準面66に対する光学軸<001>方向、つまり基準面66と光学軸<001>とのなす角度θを測定するには、図1及び図2に示すように、先ず、楔状複屈折板6を測定台22上に基準面66を合わせて載置し、かつこの楔状複屈折板6の端面62あるいは傾斜面64を照射器24に向けて(図2(a)参照)、照射器24から平行光線を照射して透過させる。そして、楔状複屈折板6で分離された常光又は異常光のいずれか一方の光軸上にディテクター32の位置を合わせ、透過後の透過光量を測定する。なお、本図示例では常光の光軸上にディテクター32を配置して、常光のみの透過光量を測定するようにしており、また、光学軸<001>を内包する端面62側から見た場合の光学軸<001>方向を先に求めるべく、当該端面62側を照射器24側に向けている。
【0024】
次に、回転式偏光板28を回転させて上記透過光量の測定値が最小値となる回転位置を探して光学軸<001>方向を求め、当該光学軸<001>方向が求められたなら、このときの回転式偏光板28の回転位置を角度測定開始点とし、角度測定手段30のスケールをリセットする。
【0025】
次いで、載置する楔形複屈折板6の基準面66はそのままにして当該楔状複屈折板6を180度回転させて傾斜面64側を照射器24に向け(図2(b)参照)、当該傾斜面64側から見た場合の光学軸<001>方向を上述したのと同様にして求める。そして、このときの回転式偏光板28の回転角度を角度測定器30で読みとれば、端面62側から見た場合の光学軸<001>の角度方向でスケールが予めリセットしてあるから、その読みとり値がそのまま2方向からの見た場合の各光学軸<001>方向の角度差αになる。そして、こうして求められる角度差αは、いわば2つの光学軸<001>間の角度を直接的に計測するのに実質的に等しいから、その測定精度はきわめて高いものとなる。
【0026】
また、上記角度差αは基準面66と光学軸<001>とがなす角度θの2倍をπから差し引いたものであるから、当該角度θは(π−α)/2であり、容易に算出して測定でき、しかも高精度な測定値が得られる。
【0027】
なお、角度差αを求めるにあたっては、角度測定手段30のスケール初期値を任意にしておいて、それぞれの方向からの光学軸<001>方向を探し当てたときの回転位置のスケール表示値をそのまま読みとって、それらの読みとり値の差から角度差αを求めても良い。このようにして算出しても、任意に設定した初期値は減算するときに消失するので何等影響はない。つまり、各光学軸<001>の方向を回転式偏光板28を回転させて探し当てるにあたって、角度測定手段30のスケールは初期設定する必要がない。また、楔状複屈折板6の基準面66としては傾斜面の周囲4面のいずれをも選択し得る。
【0028】
また、偏波無依存型光アイソレータに組み込む一対の楔状複屈折板6a,6bの光学軸方向を測定する場合には、一方の楔状複屈折板6aは図2に示すように、楔状の台形断面において幅広となる長辺側の周側面を基準面66として測定し、他方の楔状複屈折板6bは図3に示すように楔状の台形断面において幅狭となる短辺側の周側面を基準面66として測定するようにしても良い。このように、基準面を分けて測定した場合において、一対の両楔状複屈折板6a,6bの光学軸<001>方向がともに許容寸法精度内(具体例としては22.5度±10分)に入って、部品として合格判定が下されていれば、偏波無依存型光アイソレータを組み立てるときに、当該一対の楔状複屈折板6a,6bは組立治具台36の基準面36a上に載置するだけで光学軸方向を相互に45度ずらすことができ、光学軸調整が不要になる。
【0029】
【発明の効果】
以上、発明の実施の形態で詳細に説明したように、本発明に係る楔形複屈折板の光学軸角度測定方法によれば、常光又は異常光のみの透過光量が最小値となる回転式偏光板の回転位置から光学軸方向を正確に探し出して、端面側から見た場合の光学軸方向と傾斜面側から見た場合の光学軸方向との角度差αを計測でき、この2方向から見た場合の光学軸方向の角度差αは、基準面と光学軸とがなす角度θの2倍をπから差し引いたもので、当該角度θは(π−α)/2であるから、求めた角度差αから角度θを容易に算出して測定できる。
【0030】
また、2方向から測定して得られるそれぞれの光学軸方向の回転位置は、実質的に光学軸を直接計測するものであるから、それらの角度差αはきわめて高精度に計測でき、よって角度θも高精度に測定できる。
【0031】
このため、信頼度の高い部品精度管理が可能となり、部品の合否判定を適切に行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る測定方法を実施するにあたって用いる測定系の概略構成を示す図である。
【図2】測定台上に基準面を合わせて載置した楔状複屈折板を示すもので、同図(a)は端面側から測定する場合を示し、(i)はその側面図、(ii)はその正面図、同図(b)は傾斜面側から測定する場合を示し、(i)はその側面図、(ii)はその正面図である。
【図3】同上、測定台上に異なる基準面を合わせて載置した楔状複屈折板を示すもので、同図(a)は端面側から測定する場合を示し、(i)はその側面図、(ii)はその正面図、同図(b)は傾斜面側から測定する場合を示し、(i)はその側面図、(ii)はその正面図である。
【図4】組立治具台上で偏波無依存型光アイソレータを組み付ける状態を示す図である。
【図5】偏波無依存型光アイソレータの概略構成とその動作原理とを説明するための斜視図である。
【図6】偏波無依存型光アイソレータの要部を拡大して示す斜視図である。
【図7】偏波無依存型光アイソレータに用いる楔状複屈折板の形成手順を説明する図である。
【符号の説明】
6 楔状複屈折板
22 測定台
28 回転式偏光板
62 端面
64 傾斜面
66 基準面
<001> 光学軸[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for measuring the optical axis direction of a wedge-shaped birefringent plate used in an optical device such as a polarization-independent optical isolator.
[0002]
[Prior art]
FIG. 5 is a perspective view for explaining a schematic configuration and an operation principle of a polarization-independent optical isolator. As shown in FIGS. 1A and 1B, the polarization-independent
[0003]
Here, the rotation angle of the polarization plane by the Faraday
[0004]
In the polarization-independent
[0005]
At this time, in relation to the first birefringent plate, the second
[0006]
On the other hand, as shown in FIG. 4B, the reflected light in the reverse direction from the rear
[0007]
However, in the case of this reverse direction, the optical axis of the first
[0008]
Therefore, even if it passes through the first
[0009]
By the way, the polarization-independent
[0010]
For this reason, the pair of wedge-shaped
[0011]
In addition, the pair of wedge-shaped
[0012]
Here, as described above, the pair of wedge-shaped
[0013]
Therefore, from the above, the pair of wedge-shaped
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in order to satisfy the performance of the polarization-independent
[0015]
Therefore, the wedge-shaped
[0016]
For this reason, even if the optical axis angle is defective as a component, the assembly is wasted, resulting in a decrease in yield and a factor in inhibiting cost reduction.
[0017]
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to accurately measure the angle formed by the reference surface and the optical axis of the wedge-shaped birefringent plate, and thus pass or fail as a component. An object of the present invention is to provide a method for measuring the optical axis angle of a wedge-shaped birefringent plate that can be easily determined.
[0018]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, in the method of measuring the optical axis angle of the wedge-shaped birefringent plate according to the present invention, the reference plane (66) parallel to the light transmission direction and the optical axis <001> perpendicular to the transmission direction are provided. The reference surface (66) in the wedge-shaped birefringent plate (6) having the end surface (62) existing in the surface and the inclined surface (64) facing the end surface (62) at a predetermined angle and the optical surface When measuring the angle θ formed with the axis <001>, the birefringent plate (6) is placed on the measurement table (22 ) with its reference surface (66) aligned, and the placed birefringent plate ( The light polarized by the rotary polarizing plate (28) is transmitted to 6) , the transmitted light amount of only ordinary light or abnormal light after the transmission is measured, and the transmitted light amount of the polarizing plate (28) is minimized. after looking for the rotational position seeking optical axis <001> direction, the reference surface of the tapered
[0019]
Here, the rotational position of the rotary polarizing plate (28) at which the transmitted light amount of only ordinary light or abnormal light is the minimum value is obtained by accurately measuring the optical axis <001> direction, and is on the end face (62) side. The optical axis <001> direction when viewed from the side and the optical axis <001> direction when viewed from the inclined surface (64) side are naturally the same angle in the opposite direction with respect to the reference surface (66) . The position is rotated by θ. Accordingly, if the rotational positions in the respective optical axis <001> directions when viewed from these two directions are obtained and the angular difference α between them is obtained, the angular difference α is determined from the reference plane (66) and the optical axis <001. Since it is obtained by subtracting twice the angle θ formed by> from π, the angle θ is (π−α) / 2 and can be easily calculated. In addition, each optical axis direction obtained by measuring from two directions, that is, the rotational position, is a direct measurement of the optical axis <001>. Therefore, the angular difference α can be measured with extremely high accuracy. Therefore, the angle θ can be measured with high accuracy. For this reason, highly accurate component accuracy management becomes possible, and it becomes possible to appropriately perform pass / fail determination of components.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a method for measuring an optical axis angle of a wedge-shaped birefringent plate according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0021]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a measurement system used in carrying out the measurement method according to the present invention. As shown in the figure, the
[0022]
Further, as described in the above-mentioned prior art, the wedge-shaped
[0023]
By the way, in order to measure the optical axis <001> direction of the wedge-shaped
[0024]
Next, the rotation
[0025]
Next, the wedge-shaped
[0026]
Further, since the angle difference α is obtained by subtracting twice the angle θ formed by the
[0027]
In determining the angle difference α, the initial scale value of the angle measuring means 30 is set arbitrarily, and the scale display value of the rotational position when the optical axis <001> direction from each direction is found is read as it is. Then, the angle difference α may be obtained from the difference between the read values. Even if the calculation is performed in this way, the initial value set arbitrarily is lost when subtracting, and thus has no effect. That is, when the direction of each optical axis <001> is found by rotating the
[0028]
When measuring the optical axis direction of a pair of wedge-shaped
[0029]
【The invention's effect】
As described above in detail in the embodiments of the present invention, according to the wedge-shaped birefringent plate optical axis angle measuring method according to the present invention, the rotating polarizing plate in which the transmitted light amount of only ordinary light or extraordinary light becomes the minimum value. The optical axis direction can be accurately found from the rotation position of the lens, and the angle difference α between the optical axis direction when viewed from the end surface side and the optical axis direction when viewed from the inclined surface side can be measured. In this case, the angle difference α in the optical axis direction is obtained by subtracting twice the angle θ formed by the reference surface and the optical axis from π, and the angle θ is (π−α) / 2. The angle θ can be easily calculated from the difference α and measured.
[0030]
Further, the rotational positions in the respective optical axis directions obtained by measuring from the two directions substantially measure the optical axis directly, so that the angle difference α can be measured with extremely high accuracy, and therefore the angle θ Can be measured with high accuracy.
[0031]
For this reason, highly accurate component accuracy management becomes possible, and it becomes possible to appropriately perform pass / fail determination of components.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a measurement system used in carrying out a measurement method according to the present invention.
FIG. 2 shows a wedge-shaped birefringent plate placed on a measurement table with a reference surface aligned, where FIG. 2A shows a case where measurement is performed from the end surface side, FIG. 2I is a side view thereof, and FIG. ) Is a front view thereof, FIG. 5B is a case where measurement is performed from the inclined surface side, (i) is a side view thereof, and (ii) is a front view thereof.
FIG. 3 shows a wedge-shaped birefringent plate placed on a measuring table with different reference planes, wherein FIG. 3 (a) shows a case where measurement is performed from the end face side, and FIG. 3 (i) is a side view thereof. , (Ii) is a front view thereof, FIG. 4B is a case of measurement from the inclined surface side, (i) is a side view thereof, and (ii) is a front view thereof.
FIG. 4 is a diagram showing a state in which a polarization-independent optical isolator is assembled on an assembly jig table.
FIG. 5 is a perspective view for explaining a schematic configuration and an operation principle of a polarization-independent optical isolator.
FIG. 6 is an enlarged perspective view showing a main part of a polarization-independent optical isolator.
FIG. 7 is a diagram illustrating a procedure for forming a wedge-shaped birefringent plate used in a polarization-independent optical isolator.
[Explanation of symbols]
6 Wedge-shaped
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1996
- 1996-04-26 JP JP10713096A patent/JP3615864B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JPH09292212A (en) | 1997-11-11 |
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