JP3620577B2 - Cleaning method for ultrapure water production system - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は超純水製造システムの洗浄方法に関し、特に半導体製造プロセスに好適に用いられる超純水製造システムの洗浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から半導体製造等の分野における洗浄工程に超純水が用いられている。この超純水としては、洗浄トラブルの原因となる微粒子、有機物や無機物を含まないことが要求され、例えば抵抗率:18.2MΩ・cm以上、微粒子:1個/mL以下、生菌:1個/L以下、TOC(Total Organic Carbon):1ppb以下、シリカ:1ppb以下、金属類:1ppt以下、イオン類:10ppt以下、であることが要求水質となっている。
【0003】
そして、上述した超純水の使用場所(ユースポイント)は、超純水製造装置と配管(流路)で接続され、このユースポイントで使用されなかった残余の超純水は別の流路を介して前記超純水製造装置に戻されることにより、全体として超純水製造システムを構成する。
ところで、上記超純水製造システムを新規に建設したり長期間休止させた場合には、このシステム内に微粒子が混入して超純水の水質が低下するので、適宜システムの洗浄を行うことが必要となる。特に工場の建設に伴って上記システムを新設する場合、その施工時に微粒子や汚れ(有機物等)がシステムの内部に付着するので、洗浄作業が長期化(例えば1カ月)して工場の稼動率が低下する。
【0004】
このようなことから、超純水製造システムを洗浄してから所定の要求水質を満たす超純水が得られるまでの時間を短縮すること(超純水製造システムの垂直立上げ)が要望されており、例えば洗浄液として温水や過酸化水素水を用いてシステムの洗浄が行われている。さらに、特開平7−195073号公報には、上記洗浄液に代えて洗浄力の大きいアルコールを用いた洗浄技術が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、温水や過酸化水素水を用いて洗浄を行った場合、これらは洗浄力が強くないため、上記システムの配管等に付着した微粒子や汚れの除去が不充分となる。
一方、洗浄にアルコールを用いた場合、微粒子を充分に除去するためにはアルコールを比較的高濃度(約10〜80%)とする必要があり、洗浄後に上記システム内にアルコールが残留して水質の低下(TOCの増大)を招く可能性がある。そして、かかる残留アルコールの除去に時間を要するので、結果として洗浄作業を短時間で行うことが困難となる。
【0006】
本発明は、超純水製造システムにおける上記した問題を解決し、洗浄力(微粒子及び有機物の除去)に優れるとともに、洗浄液中の成分が残留することが少ないので洗浄に要する時間が短く、超純水製造装置の垂直立上げが可能な超純水製造システムの提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記した目的を達成するために、請求項1に記載の本発明に係る超純水製造システムの洗浄方法は、超純水製造装置と超純水のユースポイントとを超純水の流路で接続して成る超純水製造システムの少なくとも一部を、静電気によって前記少なくとも一部に付着していた微粒子を親水化させて剥離させることができる濃度の、テトラアルキルアンモニウム塩の水溶液、またはテトラアルキルアンモニウムヒドロキサイド水溶液である塩基性洗浄液で洗浄することを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
本発明によって洗浄が施される超純水製造システム1は、図1に示すように、超純水製造装置2、超純水のユースポイント4、及びこれらを接続する超純水の流路6a、6bから成っている。そして、超純水製造装置2で製造された超純水は流路6aを介してユースポイント4へ送られて該ユースポイントでその一部が使用され、未使用の超純水は流路6bを経て超純水製造装置2に戻る循環系をなしている。
【0010】
超純水製造装置2は、少なくとも紫外線酸化装置2a及び限外濾過膜装置2bを含み、後述する1次純水10を紫外線酸化装置2aで処理して有機物を除去した後、限外濾過膜装置2bで微粒子を除去することにより、例えば上述の要求水質を満たす超純水を製造するものである。1次純水10は、原水を例えば逆浸透膜で処理した後、酸性及び塩基性のイオン交換樹脂による処理を順に行い、さらに逆浸透膜処理することにより得られる。
【0011】
なお、図1に示す実施形態においては、超純水製造装置2の入側に1次純水10及びユースポイント4から戻された未使用の超純水を収容するタンク21が配設される。そして、タンク21に収容された超純水はポンプ22を介して熱交換器23で温度調整された後、上述した紫外線酸化装置2aで処理され、さらにイオン交換樹脂塔24で処理されて限外濾過膜装置2bで最終処理される。これらに加え、図示しない逆浸透膜その他の膜処理装置を超純水製造装置2に適宜組み込んでもよい。
【0012】
ユースポイント4は超純水の使用場所を示し、対象物(例えば半導体)を洗浄するための洗浄装置(洗浄槽)4aの他、適宜配管やノズル類等を含んでもよい。なお、ユースポイント4で使用された超純水は、適宜排水として回収される。超純水製造装置2とユースポイント4とを接続する超純水の流路6a、6bは基本的には配管やチューブから成るが、本発明では流路の途中に適宜タンク、ポンプ、継手、及び弁その他の設備を配置したものも含めて流路と称する。流路6a、6bに用いる材料としては、超純水中にその成分が溶出するものでなければよく、例えば、PVC(ポリ塩化ビニル)、PPS(ポリフェニレンサルファイト)、PVDF(ポリビニルジフロライド)、FRP(繊維強化プラスチック)、PFA(テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体)、ステンレス等を用いることができる。
【0013】
さて、上述した超純水製造システムの洗浄には塩基性洗浄液8が用いられる。かかる塩基による洗浄機構は明らかではないが、一般に上記微粒子は静電力によってシステムの配管等に付着しており、洗浄液中の塩基や塩基性塩によってこの微粒子が親水化(イオン化)されて付着界面から剥離させられるものと考えられる。特に、非共有電子対を有する窒素原子を含む化合物の場合に、上述の洗浄作用が大きい。
【0014】
そして、上述した剥離・除去作用は、塩基性洗浄液8に含まれる塩基(又は塩基性塩)の濃度が低くても(例えば数100ppm)充分に発揮される。従って、洗浄液を低濃度とすることができる。そのため、洗浄液の成分が上記システム内に残留する割合が少なくなり、この成分に由来してTOCが増大することも抑制される。その結果、洗浄作業を短時間で終了させることができ、超純水製造システムの垂直立上げが可能となる。
【0015】
塩基性洗浄液8としては、例えば、テトラアルキルアンモニウム塩の水溶液、テトラアルキルアンモニウムヒドロキサイド水溶液等を用いることができる。特にテトラメチルアンモニウムヒドロキサイド(TMAH)水溶液を用いることが好ましい。なお、TMAH水溶液を用いる場合には、その濃度を10〜100ppmとするのが好ましい。TMAHの濃度が上記範囲未満であると洗浄力(微粒子及び有機物の除去能力)が充分でなく、TMAHの濃度が上記範囲を超えると洗浄力が飽和するとともに、洗浄後にTMAHが多量に残留するからである。より好ましくは、TMAHの濃度を40〜60ppmとするのがよい。
【0016】
上記洗浄液の温度については特に制限はないが、超純水製造システムを構成する部材や配管の耐熱温度を超えない範囲でなるべく高い温度とするのが洗浄力の点で好ましく、より具体的には20〜100℃とするのがよい。例えば、耐熱温度が約45℃であるPVCを部材とする場合は洗浄液の温度を40℃程度とし、耐熱温度が約80℃であるPVDFの場合は洗浄液の温度を75〜80℃以下とすればよい。又、ステンレスを部材とする場合は100℃程度の温度で洗浄することができる。
【0017】
具体的な洗浄方法としては、例えば塩基性洗浄液8を超純水製造システムの系内に導入し、通常の超純水の循環フローに従ってシステム全体を洗浄すればよい。又、上記システムの一部分(例えば限外濾過膜装置2b)を個別に洗浄してもよい。洗浄時間も特に制限されず、例えばシステム内を数時間洗浄液が流れるよう適宜洗浄液を循環させればよい。洗浄後は、洗浄液をブロー配管等から排出させ、次いでシステム内に通常の超純水を導入して残留した洗浄液の除去を行う。なお、洗浄液を含んだ排水は、例えば弱酸性の陽イオン交換樹脂で吸着処理すればよい。
【0018】
【実施例】
実施例、比較例1,2
1.超純水製造システムの洗浄
図1に示す超純水製造システムを新設し、以下の洗浄を行った。
まず、超純水製造装置2の入側タンク21にテトラメチルアンモニウムヒドロキサイド(TMAH)を50ppm含む水溶液8を収容し、ポンプ22で熱交換器23に送って40℃の温度に調整した後、超純水製造装置2、流路6a、ユースポイント4、流路6bの順にTMAH水溶液8を循環させてこのシステムを洗浄した(循環洗浄時間:1時間)。但し、イオン交換樹脂塔24は洗浄せず、バイパス流路30を介してTMAH水溶液8を迂回させた。
次いで、TMAH水溶液8を図示しないブロー配管から排出させ、入側タンク21に1次純水10を供給し、得られた超純水をシステム内に適宜循環させてシステムの内部に残ったTMAH水溶液8を除去した。なお、洗浄液を含んだ排水を弱酸性の陽イオン交換樹脂に通液してTMAHを吸着処理した。
【0019】
2.洗浄性の評価
上記した洗浄が終了した後、通常の運転を行い、ユースポイント4における超純水の水質の経時変化を調査した。超純水中の微粒子量は、一定量の超純水をフィルタで濾過し、このフィルタ上にトラップされた微粒子(粒径0.05μm以上)を走査型電子顕微鏡で計数した。又、超純水中のTOCは、紫外線酸化−抵抗率検出法によって測定した。
【0020】
以上の結果を図2及び図3に示す。各図中の破線は通常の超純水に要求される水質を示す。
比較のために、洗浄液を40℃の温水に代えたことの他は上記と同様にして超純水製造システムの洗浄を行った後、同様にユースポイントにおける水質を調査した。これを比較例1とする。又、洗浄液を50ppmのイソプロピルアルコール(IPA)に代えたものを比較例2とする。
【0021】
図2から明らかなように、実施例では、超純水製造システムの洗浄後に微粒子数が要求水質(1個/mL以下)に達するまでの時間が極めて短く(半日以下)、微粒子の除去能力に優れている。一方、比較例1,2では、要求水質になるまでに4〜5日以上かかっており、微粒子の除去能力が低い。
又、図3から明らかなように、実施例では、洗浄後にTOCが要求水質(1ppb以下)になるまで1日で済み、有機物の除去能力に優れている。一方、比較例1,2では、要求水質になるまでに6〜7日以上かかっており、有機物の除去能力が低い。
【0022】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、従来の超純水製造システムの洗浄方法に比べて、微粒子や有機物の除去能力に優れているので、システム内に付着した微粒子や有機物を速やかに剥離・除去することができる。さらに、洗浄液が低濃度であるため、洗浄後に洗浄液中の成分が残留してTOCを増大させることも少ない。
【0023】
その結果、洗浄作業を全体として短時間で行うことができ、超純水製造システムの垂直立上げが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る超純水製造システムの洗浄フローを示す模式図である。
【図2】超純水製造システムの洗浄後における超純水中の微粒子数の経時変化を示すグラフである。
【図3】超純水製造システムの洗浄後における超純水中のTOCの経時変化を示すグラフである。
【符号の説明】
1 超純水製造システム
2 超純水製造装置
2a 紫外線酸化装置
2b 限外濾過膜装置
4 (超純水の)ユースポイント
6a、6b (超純水の)流路
8 TMAH水溶液(塩基性洗浄液)[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a cleaning method for an ultrapure water manufacturing system, and more particularly to a cleaning method for an ultrapure water manufacturing system suitably used in a semiconductor manufacturing process.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, ultrapure water has been used in cleaning processes in the field of semiconductor manufacturing and the like. This ultrapure water is required not to contain fine particles, organic matter, or inorganic substances that cause cleaning trouble. For example, resistivity: 18.2 MΩ · cm or more, fine particles: 1 piece / mL or less, viable bacteria: 1 piece / L or less, TOC (Total Organic Carbon): 1 ppb or less, Silica: 1 ppb or less, Metals: 1 ppt or less, Ions: 10 ppt or less.
[0003]
The above-mentioned ultrapure water use location (use point) is connected to the ultrapure water production apparatus by piping (flow path), and the remaining ultrapure water not used at this use point is connected to another flow path. Then, the ultrapure water production system is configured as a whole by returning to the ultrapure water production apparatus.
By the way, when the above-described ultrapure water production system is newly constructed or suspended for a long time, the quality of ultrapure water is deteriorated by mixing fine particles in the system. Necessary. In particular, when the above system is newly installed in connection with the construction of a factory, fine particles and dirt (organic matter, etc.) adhere to the inside of the system at the time of construction, so that the cleaning operation is prolonged (for example, one month) and the operation rate of the factory is increased. descend.
[0004]
For this reason, there is a demand for shortening the time from cleaning the ultrapure water production system to obtaining ultrapure water that satisfies the required water quality (vertical startup of the ultrapure water production system). For example, the system is cleaned using warm water or hydrogen peroxide as a cleaning solution. Further, Japanese Patent Laid-Open No. 7-195073 proposes a cleaning technique using alcohol having a large cleaning power instead of the above cleaning liquid.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, when washing is performed using warm water or hydrogen peroxide solution, since these do not have a strong detergency, removal of fine particles and dirt adhering to the piping of the system is insufficient.
On the other hand, when alcohol is used for cleaning, it is necessary to make the alcohol relatively high in concentration (about 10 to 80%) in order to sufficiently remove the fine particles. Decrease (increased TOC). And since it takes time to remove such residual alcohol, as a result, it is difficult to perform the cleaning operation in a short time.
[0006]
The present invention solves the above-mentioned problems in the ultrapure water production system, is excellent in cleaning power (removal of fine particles and organic substances), and since the components in the cleaning liquid are less likely to remain, the time required for cleaning is short, The purpose is to provide an ultrapure water production system capable of vertical startup of water production equipment.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above-described object, a cleaning method for an ultrapure water production system according to the present invention as set forth in
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
As shown in FIG. 1, an ultrapure
[0010]
The ultrapure
[0011]
In the embodiment shown in FIG. 1, a
[0012]
The
[0013]
Now, the
[0014]
The peeling / removal action described above is sufficiently exerted even when the concentration of the base (or basic salt) contained in the
[0015]
The
[0016]
The temperature of the cleaning liquid is not particularly limited, but it is preferable in terms of cleaning power to be as high as possible within the range not exceeding the heat resistance temperature of the members and pipes constituting the ultrapure water production system, and more specifically, It is good to set it as 20-100 degreeC. For example, when PVC having a heat resistant temperature of about 45 ° C. is used as a member, the temperature of the cleaning liquid is about 40 ° C., and in the case of PVDF having a heat resistant temperature of about 80 ° C., the temperature of the cleaning liquid is 75 to 80 ° C. or lower. Good. Further, when stainless steel is used as a member, it can be washed at a temperature of about 100 ° C.
[0017]
As a specific cleaning method, for example, the
[0018]
【Example】
Examples, Comparative Examples 1 and 2
1. Cleaning of the ultrapure water production system The ultrapure water production system shown in FIG. 1 was newly established and the following cleaning was performed.
First, after containing the
Next, the TMAH
[0019]
2. Evaluation of detergency After the above-described washing was completed, normal operation was performed, and the change over time in the quality of ultrapure water at
[0020]
The above results are shown in FIGS. The broken line in each figure shows the water quality required for normal ultrapure water.
For comparison, after cleaning the ultrapure water production system in the same manner as described above except that the cleaning liquid was replaced with warm water at 40 ° C., the water quality at the point of use was similarly investigated. This is referred to as Comparative Example 1. Further, Comparative Example 2 was obtained by replacing the cleaning liquid with 50 ppm isopropyl alcohol (IPA).
[0021]
As is clear from FIG. 2, in the example, the time required for the number of fine particles to reach the required water quality (less than 1 / mL) after cleaning of the ultrapure water production system is extremely short (less than half a day), and the fine particle removal capability is improved. Are better. On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2, it takes 4 to 5 days or more to obtain the required water quality, and the ability to remove fine particles is low.
In addition, as apparent from FIG. 3, in the example, it takes one day until the TOC reaches the required water quality (1 ppb or less) after washing, and the organic matter removal ability is excellent. On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2, it takes 6 to 7 days or more to obtain the required water quality, and the organic matter removing ability is low.
[0022]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the present invention, the ability to remove fine particles and organic matter is superior to the conventional ultrapure water production system cleaning method. It can be removed and removed quickly. Furthermore, since the cleaning liquid has a low concentration, it is unlikely that the components in the cleaning liquid remain after the cleaning to increase the TOC.
[0023]
As a result, the cleaning operation can be performed in a short time as a whole, and the vertical startup of the ultrapure water production system becomes possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram showing a cleaning flow of an ultrapure water production system according to the present invention.
FIG. 2 is a graph showing the change over time in the number of fine particles in ultrapure water after cleaning by the ultrapure water production system.
FIG. 3 is a graph showing a change with time of TOC in ultrapure water after cleaning of the ultrapure water production system.
[Explanation of symbols]
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