JP3639466B2

JP3639466B2 - Manufacturing workplace evaluation method and system

Info

Publication number: JP3639466B2
Application number: JP21719799A
Authority: JP
Inventors: 辰哉鈴木; 敏二郎大橋; 匡昭浅野
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1999-07-30
Filing date: 1999-07-30
Publication date: 2005-04-20
Anticipated expiration: 2019-07-30
Also published as: JP2001042926A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
製造職場の有する不良発生度合いを評価する職場評価方法及びシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、製造職場を評価するシステムとしては、工場の生産性を評価する「工場診断装置」（特開平9-62309号公報）や、「実装工場診断システム」（特開平10-79599号公報）などが知られている。また、工場で製造される製品の品質の高さを評価するものとしては、一般に外注工場審査のために種々の企業で作成している外注工場審査チェックシートが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
これらの工場の生産性を評価するシステムは、工場の内外における環境や現場の状況を分析して、工場が有する問題点を改善するためのものであるか、または工場の生産能力等を診断するものであり、工場が製造する製品の品質に対する評価は行っていない。また、外注工場審査チェックシートは、評価対象の工場の開発、製造、品質保証などの体制の良さを評価するものであり、その評価結果から該評価対象の工場が製造する製品にどれだけの割合で不良が発生するかを知ることはできない。
【０００４】
このように、いずれの従来技術も、工場から出荷される製品に、どのくらいの割合で不良品が含まれるのかを定量的に予測することはできない。従って、例えば、二つの工場を比較して、どちらの工場がどれだけ多くの不良品を出荷するかといったことを判断することはできなかった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、工場から出荷される製品に占める不良品の割合を予測する職場評価方法及びシステムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するための本発明にかかるシステムは、製造対象を製造する職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測する職場評価システムにおいて、前記職場環境のうち不良発生の原因となる１以上の不良原因項目について、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分して定めたレベルの範囲を記憶する記憶手段と、前記不良原因項目についての職場状態を示す情報の入力を受け付ける受付手段と、前記受付手段が受け付けた前記職場状態を示す情報が、前記記憶手段に記憶した前記複数の段階に区分して定めたレベルの範囲のうち、いずれのレベルに属するかを判別する判別手段と、前記判別手段により判別されたレベルの職場状態が、製造対象の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、不良品の出荷に影響する仕事別影響度を決定する仕事別影響度決定手段と、前記仕事別影響度を用いて、当該職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測することを特徴としている。
【０００７】
ここで、「製造対象」には販売される製品のほかに、製品として完成する前の半製品や、部品も含む。また、「出荷」とは、製品として工場から市場に出す場合のみならず、工場内である仕事から他の仕事へ、部品または半製品の状態で引き渡す場合も含む。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００９】
本発明を不良発生評価システムに適用した場合の構成を図２に示す。不良発生評価システム１は製品評価システム５と職場評価システム１０とから構成されている。
【００１０】
一般に、工場で製品を製造する場合に不良が生じる原因は、製品構造に起因するものと、製造職場のさまざまな環境に起因するものとに大別できる。すなわち、前者は、製品を構成する部品の形状、製品の機械的な構造または、組み立て方法の難しさなどによって決まる。従って、これは、作業者の技術力や作業環境には依存しない製品固有の要因である。後者は、製造職場の作業者の技術力や作業設備の管理状況、その他さまざまな職場環境によって決まる。従って、これは、職場固有のものであり、各職場の持つポテンシャルとも考えられる。
【００１１】
本実施の形態では、工場から出荷される製品に占める不良品の割合（以下、「不良率」と称する。）のうち、製品構造に依存するものは製品評価システム５で定量化し、製造職場に依存するものは職場評価システム１０で定量化する。従って、職場評価システム１０と製品評価システム５とをつなぐことで、製造職場に依存する不良率と、製品固有の不良率の組み合わせが可能となり、ある製品をある職場で製造したときの具体的な不良率を推定することが可能となる。
【００１２】
図１は、職場評価システム１０の機能ブロック図である。この職場評価システム１０は、
職場状態の入力を受け付ける受付手段２０と、当該職場のレベルを判別する判別手段２１と、職場レベルの定義情報を記憶した記憶手段２２と、仕事別に不良発生の影響度を算出する仕事別影響度算出手段２３と、不良率を算出する不良率算出手段２４と、出力手段２５と、職場状態に応じたメッセージを出力するメッセージ制御手段２６と、を備える。
【００１３】
受付手段２０は、不良発生の原因となる項目に関する職場状態を示す情報を受け付ける。判別手段２１は、受付手段２０が受け付けた職場状態を示す情報を、記憶手段２２に記憶されている職場レベルの定義情報と比較して、当該職場のレベルを判別する。記憶手段２２は、職場レベルの定義情報、およびメッセージを記憶している。職場レベルは、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分されたものである。不良発生影響度を算出する際には、このレベルに応じた評価がされる。メッセージは、メッセージ制御手段２５によって出力手段２６に出力される。
【００１４】
仕事別影響度算出手段２３は、製品の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、各仕事毎に、不良品の出荷に影響する仕事別の影響度を決定する。ここで、製造から出荷までの過程における複数の仕事とは、製品の製造に関する仕事と、製品の検査に関する仕事と、検査結果に応じて実施する対策に関する仕事と、を少なくとも含む。それぞれの仕事は、例えば、製造に関する仕事において、並行して検査に関する仕事や検査結果に応じて実施する仕事を行うことができ、各仕事間での状態遷移は任意に行うことができる。仕事別影響度算出手段２３は、項目別、かつ、仕事別に不良発生影響度を算出する項目別仕事別影響度算出手段２３ａと、項目別、かつ、仕事別の不良発生影響度に基づいて、各仕事別に、当該職場の仕事別影響度を算出する仕事別職場影響度算出手段２３ｂと、を有する。項目別仕事別影響度算出手段２３ａと仕事別職場影響度算出手段２３ｂで算出されたそれぞれの不良発生影響度は、ともに記憶手段２２に一時記憶される。不良率算出手段２４は、仕事別影響度算出手段２３で算出された仕事別の不良発生影響度を記憶手段２２から取得して、出荷される製品に不良品が含まれる不良率を算出する。
【００１５】
メッセージ制御手段２５は、職場状況に応じて出力するメッセージの制御を行う。出力するメッセージは、現状の分析、改善すべきポイントの指摘、または改善のための具体的な対策等である。これらのメッセージは記憶手段２２に記憶されている。メッセージ制御手段２５は、項目別影響度算出手段２５ａと、カテゴリ別影響度算出手段２５ｂと、メッセージ決定手段２５ｃと、を有する。項目別影響度算出手段２５ａは、記憶手段２２に記憶されている仕事別、かつ、項目別の不良発生影響度に基づいて、項目別の影響度を算出する。カテゴリ別影響度算出手段２５ｂは、前記項目を、その性質からいくつかのカテゴリに分類し、各カテゴリ別の影響度を算出する。メッセージ決定手段は、記憶手段２２に記憶されているメッセージの中から、項目別影響度に基づいて項目毎に出力するメッセージと、カテゴリ別影響度に基づいてカテゴリ別に出力するメッセージと、を決定する。出力手段２６は、不良率やメッセージを出力する。
【００１６】
次に、図１のような機能ブロックを有する職場評価システム１０を、コンピュータ上に実現した場合の実施形態について、図２を用いて詳細に説明する。
【００１７】
職場評価システム１０は、キーボード、マウス等の、入力手段を構成する入力装置１１、ディスプレイモニター等の出力手段を構成する出力装置１２と、本発明の評価処理を実行する制御装置１３と、職場を評価するための各種情報を記憶する記憶手段を構成する外部記憶装置１４とから構成される。
【００１８】
入力装置１１は、上述のもの以外に、例えば、ペン入力タブレット、記憶媒体の読み取り装置、ネットワークを介しての入力を行うための通信装置等でもよい。出力装置１２は、上述のもの以外に、例えば、プリンターなどの印刷手段、および、他システムへのネットワークを介しての出力を行うための通信装置等でもよい。制御装置１３は、所定のプログラムを格納したＲＯＭ３１、ＣＰＵ３２、各種データを一時格納するＲＡＭ３３、入出力インターフェース部３４およびバスライン３５などから構成される。外部記憶装置１４には、職場評価データベース６と、以下に説明する機能を実現するための計算プログラム４１及び入出力制御プログラム４２が格納されている。
【００１９】
一方、製品評価システム５も上記と同様な入力装置、出力装置、製品の評価処理を実行する制御装置と、製品を評価するための各種情報を記憶する外部記憶装置等により構成することができる。
【００２０】
図３には、職場評価データベース６の内容を示す。職場評価データベース６は、職場条件評価カテゴリ６０、項目番号６１、職場条件不良影響項目６２、職場レベル６３、項目間重み係数６４、不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７を含む。職場レベル６３、項目間重み係数６４、および不良発生度係数６５は、職場状況を評価した評価値を求めるためのデータである。対策ポイントアドバイス６６とコメント６７は、職場状況または職場状況の評価に対するメッセージであって、テキストデータとして格納されている。
【００２１】
職場条件評価カテゴリ（以下、単に「評価カテゴリ」と称する。）６０とは、職場条件不良影響項目６２を、その性質に基づいて分類したカテゴリをいう。ここでは、第１に作業者に関するもの、第２に設備・治工具に関するもの、第３に物理的環境に関するもの、第４に製造方法に関するもの、第５に職場のマネージメントに関するものの５つのカテゴリに分類する。それぞれの評価カテゴリ６０には、さらに詳細な条件が存在する。その条件が、職場条件不良影響項目６２（以下、単に「不良影響項目」と称する。）である。項目番号６１は、不良影響項目６２と一対一に対応する。
【００２２】
不良影響項目６２とは、様々な職場条件の中から、特に不良率に影響する条件を示す項目をいう。例えば作業者に関するものとしては「出勤率」や「作業指示方法」、設備・治工具に関するものとしては「設備の担当者」、物理的環境に関するものとしては「照度」、製造方法に関するものとしては「生産形態」、職場のマネージメントに関するものとしては「教育・訓練内容」等がある。ここでは、作業者に関するカテゴリの評価項目として「出勤率」、設備・治工具に関するカテゴリの評価項目として「設備の担当者」、物理的環境に関するカテゴリの評価項目として「照度」を例にとり説明する。
【００２３】
職場レベル６３には、各評価項目に関する職場のポテンシャルがどのようなレベルにあるかを表すために、それぞれのレベルの範囲を定める閾値が格納されている。ここでは、３つレベルに区分してある。レベル１は、その評価項目に関して、最も不良が起きにくい（ポテンシャルが高い）理想的な職場であることを示す。レベル３は、その項目に関して、最も不良が起きやすい（ポテンシャルが低い）職場であることを示す。設定する職場レベルは、少なくともその職場状態の良し悪しを評価するためには２レベルは必要であるが、上限は特に無い。レベル数が多くなると、評価精度が向上できる長所はあるが、逆に入力時の選択肢が増え、入力の手間は増えることになる。
【００２４】
ここで、レベルの範囲は、例えば、当該企業の実情または過去の経験に基づいて定める。例えば、出勤率が９７％以上の職場はレベル１、９０％以上９７％未満の職場はレベル２、９０％未満の職場はレベル３としている。設備の担当者は、すべて決まっている場合がレベル１、９０％以上の設備で決まっている場合がレベル２、９０％未満の設備しか決まっていない場合がレベル３である。照度は1000lx以上の職場はレベル１、600lx以上1000lx未満の職場はレベル２、600lx未満の職場はレベル３である。レベル範囲の設定は、適宜変更することができる。
【００２５】
項目間重み係数６４とは、不良率への影響度の大小を項目間で相対的に比較して、調整するための係数である。すなわち、項目間重み係数６４が大きいほど、不良の発生にその項目が及ぼす影響が大きいことを示している。ここでは、出勤率は「２」、設備担当者は「１」、照度は「１」である。この設定も、経験則等に基づいて設定する。もちろん、変更可能である。
【００２６】
次に、不良発生度係数６５とは、不良発生に影響する程度を示す値である。不良発生係数６５は、不良作り込み係数６５ａ、不良流出係数６５ｂ及び不良対処時間係数６５ｃからなる。不良作り込み係数６５ａは、各項目が不良の作り込みに影響する度合いを示す。不良流出係数６５ｂは、各項目が不良品流出に影響する度合いを示す。不良対処時間係数６５ｃは、各項目が不良を取り除くまでの対処時間に影響する度合いを示す。各係数は、係数値が小さいほうが、不良がおきにくいことを示している。尚、この不良発生度係数６５は、従来の製造不良発生に関する実績データを基に定めておく。個々では、０〜３の整数値で与えられている。もちろん、整数値に限られない。
【００２７】
対策ポイントアドバイス６６とは、個々の不良影響項目６２に関する職場改善のためのアドバイスである。レベル２用及びレベル３用がそれぞれ用意されている。各レベル用のアドバイスには、すぐに実行可能な「短期的対策案」と、ある程度時間をかけて実行すべき「長期的対策案」がある。これらは、例えば、国定管理者等によって経験的に得られている対策を収集して、テキストデータ化して、格納したものである。
【００２８】
コメント６７は、個々の不良影響項目６２毎に現在の職場状況を評価したコメントが格納されている。レベル２用及びレベル３用がそれぞれ用意されている。コメント６７も、上記対策と同様にして、テキストデータ化して格納しておく。
【００２９】
図４は、職場条件入力画面７（以下、単に「入力画面」と称する。）の一例である。入力画面７は、評価対象職場名７１および職場条件７２の入力フィールドが表示される。この入力画面７はディスプレーモニター等の出力装置１２に表示され、評価者がマウス、キーボード等の入力装置１１から入力する。
【００３０】
評価対象職場名７１の入力フィールド７１ａには、不良率を求めたい職場名を入力する。職場条件７２は、評価カテゴリ６１別に、項目番号６１と質問項目７５を表示する。評価カテゴリ６０、項目番号６１、および質問項目７５は、職場評価データベース６に格納されている評価カテゴリ６０、項目番号６１、および不良影響項目６２を表示する。補足説明のボタン(７５ａ，７５ｂ，７５ｃ)を押すと，それぞれの質問項目の定義を示した文書が別のウィンドウ（図示しない）で表示される。
【００３１】
回答項目７６の入力フィールドには、職場データベース６に格納されている職場レベル６３に対応する３つの選択肢に対応する選択領域（７６ａ〜７６ｃ）が表示されている。回答者はいずれかの選択領域（７６ａ〜７６ｃ）をマウスでクリックするだけで選択可能となっている。ここでは、「出勤率」は「９０％以上９７％未満」でレベル２、「設備担当者」は「９０％未満の設備で決まっている」でレベル３、「照度」は「1000lx以上」でレベル１と入力されている。
【００３２】
職場条件情報の入力方法は、必ずしも図４に示すような選択式でなくても良く、例えば、数値や文字をキーボード等から入力する形式でも良い。その場合は、入力された数値等は、どのレベルに属するかが判断される。
【００３３】
さらに、入力は、上記のようにキーボードやマウスなどによる入力装置１１からの入力の他、コンピュータネットワークを通じて他の記憶装置に記憶されている職場情報を取り込むようにしてもよい。なお、フロッピーディスクなどの記憶媒体を介して、本システムに入力することもできる。必要に応じて、評価に必要な情報を検索でき読み出せるように構成すれば良い。
【００３４】
図５は、職場評価結果出力画面８（以下、単に「出力画面」と称する。）の一例である。この出力画面８には、評価対象職場名８１、職場不良率８２、職場診断結果１（８４）、職場診断結果２（８８）の表示エリアが表示される。この出力画面８は、ディスプレーモニター等の出力装置１２に表示されるほか、プリンタなどに出力してもよい。ここでは、職場不良率、職場診断結果１及び職場診断結果２の３種類の評価結果を出力する。
【００３５】
職場不良率８２とは、製造職場の環境に起因する不良率である。これは、図４の入力画面７で入力された職場情報と、職場評価データベース６の内容に基づいて算出し、表示する（８２ａ）。職場不良率の詳細な算出手順については後述する。職場診断結果１（８４）は、各評価カテゴリ毎に（８５〜８７）、評価点（８５ａ〜８７ａ）を算出し、職場評価データベース６に記憶されているコメント６７を表示している（８５ｂ〜８７ｂ）。評価点の算出と、コメントの表示手順の詳細は後述する。職場診断結果２（８８）は、不良評価項目８８ａ毎に、職場評価データベース６に記憶されている対策ポイントアドバイス６６の短期的対策８８ｂと長期的対策８８ｃを表示している。
【００３６】
次に、図７に示すフローチャートに沿って本システムの主な動作を説明する。
【００３７】
まず、評価者などによって本システムが起動されると、外部記憶装置１４に記憶されている入出力制御プログラム４２がＣＰＵ３２に読み込まれて、以下の処理が実行される。
【００３８】
ＣＰＵ３２は、図６（ａ）に示す新規入力か、既登録ファイル開くかの選択画面５１を表示する（ステップ１００ａ）。評価者が、「新規入力」５１ａを選択した場合（ステップ１００ｂ）、職場条件を入力するための入力画面７が表示される（ステップ１００ｃ）。「既登録ファイルを開く」５１ｂが選択され場合、図６（ｂ）に示すファイル選択画面５２が表示される(ステップ１００ｆ)。ファイル選択画面５２には、入力フィールド５２ａが表示されて、評価者はここにファイル名を入力する。ＣＰＵ３２は、入力フィールド５２ａに対する入力を待って、入力されたファイルを読み込み、その情報を埋め込んで入力画面７を表示する(ステップ１００ｇ、ステップ１００ｈ)。
【００３９】
新規入力の場合は、職場条件は何も入力されていないので、すべての評価項目について、入力する。既存ファイルを開いた場合、職場条件を変更する個所だけ入力する。ここでは、「出勤率が９３％」、「設備担当者が８０％の設備で決まっている」、「照明の照度が1200ルクス」という職場条件の「職場Ａ」を例にとり説明する。入力が完了すると、図４に示すようになる。すなわち、職場Ａの出勤率は９３％であるので、レベル２が選択されている。設備担当者は８０％の設備で決まっているので、レベル３が選択されている。照度は1200ルクスであるので、レベル１が選択されている。ＣＰＵ３２は入力された情報を受け付ける（ステップ１００ｅ）。
【００４０】
ここで、この処理で利用されるＲＡＭ３３上の作業領域３３ａを、図１２および図１３に示す。ＲＡＭ３３上の作業領域３３ａは評価カテゴリ901、項目番号９０、職場レベル９１、不良発生度の計算結果９２、理想職場と最悪職場の不良発生度９３、項目間重み係数９４、不良発生度係数９５、対策ポイントアドバイス９６、コメント９７、計算結果の合計９８、および職場不良率９９を備える。
【００４１】
評価カテゴリ901、項目番号９０、職場レベル９１には、入力画面７から得たそれぞれに対応する情報を一時記憶するための領域である。不良発生度の計算結果９２、理想職場と最悪職場の不良発生度９３、計算結果の合計９８、および職場不良率９９は、後述する処理によって得られるそれぞれに対応する情報を一時記憶するための領域である。項目間重み係数９４、不良発生度係数９５、対策ポイントアドバイス９６、およびコメント９７は、職場評価データベース６からそれぞれ対応する情報を読み出し、一時記憶するための領域である。
【００４２】
評価計算実行指示が与えられると、ＣＰＵ３２は入力された職場条件に基づき、職場レベルを判定する。そして、当該項目の評価カテゴリ７３は作業領域３３ａの評価カテゴリ901に、項目番号７４は作業領域３３ａの項目番号９０に、判定された職場レベルは作業領域３３ａの職場レベル９１に、それぞれ格納される。そして、項目番号９０をキーとして、職場評価データベース６を検索する。検索により取り出す情報は、項目間重み係数６４、不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７である（ステップ１１０）。ここで取り出した情報は、作業領域３３ａのそれぞれ対応するカラム（９４〜９７）に格納される。
【００４３】
図４に示す入力例では、「出勤率」は、評価カテゴリ７３が「１」、項目番号７４が「１」、および職場レベルは「レベル２」である。従って、作業領域３３ａの評価カテゴリ901が「１」、項目番号９０が「１」、および職場レベル９１が「２」であるレコードが生成され、職場評価データベース６から、項目番号６１が「１」のレコードを検索する。そして、そのレコードの不良発生度係数６５、対策ポイントアドバイス６６、及びコメント６７を、作業領域３３ａのそれぞれ対応する領域（９４〜９７）にコピーする。これを、入力されたすべての不良影響項目６２に関して繰り返して行う。この結果をＲＡＭ３３の作業領域３３ａに記憶された情報は、図１２に示すようになる。
【００４４】
次に、作業領域３３ａに記憶された情報に基づき、評価計算が実行される（ステップ１２０）。この計算を行うための計算プログラム４１は、外部記憶装置１４に記憶されており、ＣＰＵ３２に予め読み込んでおく。評価計算は各不良影響項目６２毎の不良発生度９２ｄの計算（ステップ１２１）、評価カテゴリ別の評価点の計算（ステップ１２２）、評価カテゴリ別のコメントの選定（ステップ１２３）、及び改善ポイントアドバイスの選定（ステップ１２４）の４つのステップからなる。
【００４５】
ステップ１２１の詳細な手順は、図８に示すとおりである。先ず、ＣＰＵ３２は、職場レベル９１、不良作り込み係数９５ａ、および項目間重み係数９４を乗算して不良作り込み度を算出し、作業領域３３ａの不良作り込み度９２ａの領域に記憶する（ステップ１２１ｂ）。これと同様に、不良流出度９２ｂと不良対処時間度合９２ｃを算出し、記憶する（ステップ１２１ｃ、ステップ１２１ｄ）。具体的には、それぞれ以下の式で求める。
【００４６】
【数１】

【００４７】
【数２】

【００４８】
【数３】

【００４９】
上記不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ及び不良対処時間度合９２ｃを合計し、不良発生度を求め、作業領域３３ａの不良発生度９２ｄの領域に記憶する（ステップ１２１ｅ）。
【００５０】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１(出勤率)について、不良作り込み度９２ａは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×３（不良作り込み係数９５ａ）＝１２、不良流出度９２ｂは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×１（不良流出係数９５ｂ）＝４、不良対処時間度合９２ｃは、２（職場レベル９１）×２（項目間重み係数９４）×２（不良対処時間係数９５ｃ）＝８となる。
【００５１】
次に、理想職場不良発生度９３ａと最悪職場不良発生度９３ｂを求める（ステップ１２１ｆ）。理想職場とは、すべての不良影響項目６２の職場レベル６３がレベル１である理想的な職場のことであり、すべての製造職場が目標とすべきものである。最悪職場とは、理想職場とは反対に、すべての不良影響項目６２の職場レベル６３がレベル３である職場のことである。従って、理想職場不良発生度９３ａは、職場レベルを１としてステップ１２１ｂからステップ１２１ｅと同様の手順で、不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ、不良対処時間度合９２ｃを求め、それを合計したものとなる。最悪職場不良発生度９３ｂは、職場レベルを３として、同様に計算し、それぞれをＲＡＭ３３の作業領域３３ａに記憶する。
【００５２】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１のレコードについて、理想職場不良発生度は、（１×２×３）＋（１×２×１）＋（１×２×２）＝１２、最悪職場不良発生度は、（３×２×３）＋（３×２×１）＋（３×２×２）＝３６となる。そして、それぞれ作業領域３３ａの理想職場不良発生度９３ａと最悪職場不良発生度９３ｂに格納される。
【００５３】
さらに、改善余地９２ｅを求める（ステップ１２１ｇ）。改善余地９２ｅとは、現在の職場が理想職場になるためには、どの程度改善が必要であるかを数値で表したものである。ステップ１２１ｆで求まった理想職場の不良発生度からステップ１２１ｅで求まった当該職場の不良発生度を引いて算出し、作業領域３３ａの改善余地９２ｅに記憶する。
【００５４】
図１２に示す作業領域３３ａの情報を用いた場合、項目番号９０が１のレコードについて、改善余地は、２４（職場Ａの不良発生度）−１２（理想職場の不良発生度）＝１２となり、作業領域３３ａの改善余地９２ｅに格納される。
【００５５】
上述したステップ１２１ｂからステップ１２１ｇまでの処理を、すべての不良影響項目６２について、すなわち、作業領域３３ａ上のすべての項目番号９０に対応するデータについて行う。
【００５６】
そして、すべての項目番号９０について、不良作り込み度９２ａ、不良流出度９２ｂ及び不良対処時間度合９２ｃのそれぞれについて総和を求め、その職場の不良作り込み度、不良流出度及び不良対処時間度合の合計値を算出し、それぞれ作業領域３３ａの不良作り込み度（合計）９８ａ、不良流出度（合計）９８ｂ及び不良対処時間度合（合計）９８ｃに記憶する（ステップ１２１ｉ）。
【００５７】
最後に、ステップ１２１ｉで求まったその職場の不良作り込み度（合計）９８ａ、不良流出度（合計）９８ｂ及び不良対処時間度合（合計）９８ｃから、その職場の職場不良率９９を計算する（ステップ１２１ｊ）。具体的には、以下の式で求める。
【００５８】
【数４】

【００５９】
ステップ１２１が終了したとき、ＲＡＭ３３上の作業領域３３ａの状態は図１３のようになる。
【００６０】
本システムで職場不良率９９を算出することにより、職場の持つポテンシャルを数値化でき、不良品の発生しやすさを定量的に予測することが可能となる。また、職場不良率９９を比較することで、不良の起き易さを職場間で相対的に比較できる。
【００６１】
本システムでは、不良発生度係数６５を不良の作りこみ、不良の摘出度合い、不良対処時間の３つに定めている。この理由について説明する。
【００６２】
出荷する製品の中に含まれる不良品が少なく、ポテンシャルの高い職場とはどのような職場か考える。それは、まず第１に、そもそも不良品を作らない職場である。不良品を作らないことはきわめて重要である。それは、製造する製品の中に、不良品が少なければそれだけ出荷される不良品も少なくなるからである。従って、第１に不良作り込みの度合いの把握が必要である。
【００６３】
次に、万が一不良品を作りこんでしまった場合でも、出荷するまでの間の検査仕事等で不良品が発見され、取り除くことができれば、不良品は出荷されずに済むことになる。これは、不良品が作りこまれた後の事後的な処置であるが、不良品流出の未然防止という点では重要である。従って、第２に不良品の摘出度（または流出度（摘出できない度合い））の把握が必要である。
【００６４】
そして、不良が発生した場合、その不良の原因を突き止め、それを取り除くことができなければ、根本的な解決にはならない。しかも、その措置は迅速に行わなければ、原因が取り除かれるまでの間、次から次へと不良品が作られていくことになる。すなわち、不良発生時にその原因を取り除くまでの対処時間は短いほうが良いわけである。従って、第３に不良対処時間の把握が必要である。
【００６５】
これらの関係を模式的に表したのが図１４である。縦軸に単位時間あたりの生産台数、横軸に時間をとると、生産開始から生産終了までに製造される製品数はＡＢＣＤで表される面積に相当する。あるとき、何らかの原因で不良が発生し、一定時間後にその対策が完了し、不良が発生しなくなったとする。この間に製造される不良品の数は、ａｂｃｄで表される面積に相当する。
【００６６】
ここで、不良作り込み度９２ａは、単位時間当たりの不良発生台数（線分ａｂの長さに相当）に対応する。単位時間当たりの不良発生台数は少ないほうが、作りこむ不良品の数も少なくて済む。不良品を作りこんだ場合でも、不良流出度９２ｂが低ければ、流出する不良品の台数（aｂ'ｃ'ｄで表される面積に相当）が多くなる。さらに、不良対処時間度合９２ｃは不良発生時の対処時間（線分ａｄの長さに相当）に対応する。この対応時間が短ければ、作りこまれる不良品台数（ａｂｃｄで表される面積に相当）も少なくて済む。なお、図１４に示す模式図は、ディスプレィモニター等の出力装置１２に表示してもよい。模式図を表示することで、評価者は直感的に各職場の状態を理解することができる。
【００６７】
次に、職場診断結果１として、評価カテゴリ別に職場レベルの評価点を算出し、評価カテゴリ別にコメントを出力する。評価点を算出するステップ１２２の詳細な手順を図９に示す。
【００６８】
ＣＰＵ３２は、各評価カテゴリ毎に、その評価カテゴリに属する各不良影響項目６２に対する不良発生度９２ｄの合計値（数５のＳ）と、その評価カテゴリに属する各不良影響項目６２の理想職場不良発生度９３ａの合計値（数５のＲ）及び最悪職場不良発生度９３ｂを合計値（数５のＢ）をそれぞれ求める（ステップ１２２ｂ、１２２ｃ、１２２ｄ）。そして、評価点を次の式で計算し、結果を同様にＲＡＭ３３上の出力領域（図示しない）に記憶する（ステップ１２２ｅ）。
【００６９】
【数５】

【００７０】
この評価点は、理想職場を１００点、最悪職場を０点とした場合、評価対象職場が相対的に、どこに位置するかを表すものである。この評価点の算出処理を、すべての評価カテゴリについて行う。なお、ここでは評価カテゴリ毎に評価点を算出したが、評価カテゴリ毎に分割しないで、職場全体の不良発生度、理想職場不良発生度、最悪職場不良発生度を求めて、評価点を算出してもよい。
【００７１】
評価カテゴリ別コメントを出力するステップ１２３の詳細手順を図１０に示す。
【００７２】
以下の処理は各評価カテゴリ毎に、すべての評価カテゴリについて行う。１つの評価カテゴリに属する各不良影響項目６２についての改善余地９２ｅのうち、その値が最大のものを選定する。そして、その不良影響項目６２（項目番号９０）に対して入力されている職場レベル９１に対応するコメント９７を作業領域３３ａから読み出し、ＲＡＭ３３上の出力領域に記憶する（ステップ１２３ｂ、１２３ｃ）。
【００７３】
さらに、職場診断結果２として、対策ポイントアドバイス９６を出力する。これは、改善余地の大きい、すなわち改善すると不良率低減効果の大きい、不良影響項目６２を職場改善ポイントとして、その対策案を提示する。対策案は、作業領域３３ａに記憶されている対策ポイントアドバイス９６を利用し、短期的にできうる対策案と長期的に取り組むべき対策案とに分けて提示する。
【００７４】
職場改善ポイント選定処理を行うステップ１２４の詳細な手順を図１１に示す。
【００７５】
すべての不良影響項目６２（項目番号９０）から改善余地の値が大きいものを３つ選定し、その項目に対して入力されている職場レベルに対応する対策ポイントアドバイス９６を、作業領域３３ａから読み出し、ＲＡＭ３３上の出力領域に記憶する（ステップ１２４ａ、１２４ｂ）。
【００７６】
こうすることで、改善すると不良率低減効果の大きい順に表示することができ、効率の良く、的を射た対策を行うのには好ましい。なお、対策ポイントアドバイスの提示をする項目数は、３つに限られないことはもちろんである。
【００７７】
以上、詳細に説明したステップ１２０の評価計算を実行したのち、ＲＡＭ３３上の出力領域の内容を出力画面８に表示する(ステップ１３０)。本システムの終了前に、必要に応じて入力情報と評価結果の情報を保存する(ステップ１４０、ステップ１５０)。
【００７８】
以上の説明からわかるように、本システムによれば、アンケート形式の質問に答える形の簡単な入力により、信頼性の高い職場評価結果を提供することが可能となる。また、この評価結果として、改善余地の大きな順に職場条件項目（即ち職場改善ポイント）を出力するので、すぐに効果的な職場改善に取りかかれる。さらに、本システムを使えば、評価対象の職場で実際に製品を作らなくても、その職場の不良の起こし易さが定量的に把握できる。
【００７９】
製造部門では、その職場における不良発生に影響の大きい職場条件項目と、その項目を改善、または対策すればどれだけ不良率が低減できるかが定量的に把握できるため、職場レベル向上を効率的に行うための職場改善計画立案に役立ち、不良発生防止の効果がある。また、生産前に評価を行えば、職場における重点管理ポイントが事前に明らかになるので、的確な検査仕事配置、検査方法の選択などが可能になり、不良摘出にも大きな効果がある。
【００８０】
また、設計・開発部門においては、事前に、製品を製造する予定の職場の不良率がわかるので、その職場に応じた製品開発・設計を効率的に行うことができる。
【００８１】
さらに、品質保証部門においては、本システムを工場の審査に使用することで、その工場の製造プロセスの評価が可能となり、必要な品質を満たす工場か否かの判定や、品質向上のための指導に活用することができ、品質向上に効果がある。
【００８２】
このように、本システムにより、設計・製造・品質保証の各部門で不良発生防止・不良摘出活動が的確にできるようになる。
【００８３】
以上のことより、製品の開発・製造の各プロセスの中で本発明のシステムを用いることで、製造仕事内で発生する不良、市場で発生する不良を大幅に低減できる。即ち、出荷製品の信頼性を大幅に高めることが可能になる。
【００８４】
【発明の効果】
本発明によれば、工場から出荷される製品に占める不良品の割合を算出する職場評価方法及びシステムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のシステムの機能構成を示すブロック図である。
【図２】本発明のシステムの構成を示す説明図である。
【図３】不良発生度データベースの内容を示す説明図である。
【図４】本発明のシステムの入力画面を示す説明図である。
【図５】本発明のシステムの出力画面を示す説明図である。
【図６】 (a)は本発明のシステムの選択画面を示す説明図であり、(b)は本発明のシステムのファイル選択画面を示す説明図である。
【図７】本発明のシステムにおける全体処理のフローチャートである。
【図８】本発明のシステムにおいて、職場条件不良影響項目毎に不良発生度を求める処理のフローチャートである。
【図９】本発明のシステムにおいて、職場条件評価カテゴリ別に評価点を求める処理のフローチャートである。
【図１０】本発明のシステムにおいて、職場条件評価カテゴリ別のコメントを選定する処理のフローチャートである。
【図１１】本発明のシステムにおいて、改善ポイントアドバイスを選定する処理のフローチャートである。
【図１２】本発明のシステムで利用するＲＡＭ上の作業領域を示す説明図である。
【図１３】本発明のシステムで利用するＲＡＭ上の作業領域を示す説明図である。
【図１４】本発明のシステムでの不良率算出方法の原理を模式的に示す説明図である。
【符号の説明】
１…不良発生評価システム
１０…職場評価システム、１１…入力手段、１２…出力手段、1３…制御手段、1４…記憶手段、２０…製品評価システム、３１…ＲＯＭ、３２…ＣＰＵ、プログラム実行部、３３…ＲＡＭ、３４…入出力インターフェース部、３５…バスライン、[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a workplace evaluation method and system for evaluating the degree of occurrence of defects in a manufacturing workplace.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as a system for evaluating a manufacturing workplace, a “factory diagnostic device” (Japanese Patent Laid-Open No. 9-62309) for evaluating the productivity of a factory, a “mounting factory diagnostic system” (Japanese Patent Laid-Open No. 10-79599), etc. It has been known. In addition, as a method for evaluating the quality of products manufactured in factories, subcontract factory inspection check sheets prepared by various companies for subcontract factory inspection are generally known.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
These factory productivity evaluation systems analyze the environment inside and outside the factory and on-site conditions to improve the problems of the factory or diagnose the production capacity of the factory. The quality of products manufactured by factories is not evaluated. The outsourced factory examination check sheet evaluates the goodness of the system for development, production, quality assurance, etc. of the factory to be evaluated, and what percentage of the product manufactured by the factory to be evaluated is based on the evaluation results. It is not possible to know if a defect will occur.
[0004]
Thus, none of the conventional techniques can quantitatively predict how much defective products are included in the products shipped from the factory. Thus, for example, it was not possible to compare two factories and determine which factories shipped how many defective products.
[0005]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a workplace evaluation method and system for predicting the proportion of defective products in products shipped from a factory.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The system according to the present invention for solving the above-described problems is a workplace evaluation system for predicting a ratio of defective products mixed in a manufacturing object to be shipped due to a workplace environment of the manufacturing factory. A storage means for storing a range of levels determined by dividing into a plurality of stages according to the level of the workplace status for one or more failure cause items causing the occurrence of failure in the environment, and a workplace for the failure cause items A receiving unit that receives input of information indicating a state, and information indicating the workplace state received by the receiving unit is selected from any of a range of levels determined by dividing into the plurality of stages stored in the storage unit The discrimination means for discriminating whether it belongs to a level, and the workplace status at the level discriminated by the discrimination means are not valid for a plurality of jobs in the process from manufacture to shipment. Using the job-specific impact determination means for determining the impact by job that affects the shipment of goods and the impact by job, defective products are mixed in the manufacturing target to be shipped due to the workplace environment of the workplace. It is characterized by predicting the ratio.
[0007]
Here, “manufactured object” includes not only products to be sold but also semi-finished products and parts before being completed as products. In addition, “shipment” includes not only a case where a product is put on the market from a factory, but also a case where a part or a semi-finished product is handed over from a job in the factory to another job.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0009]
FIG. 2 shows a configuration when the present invention is applied to a defect occurrence evaluation system. The defect occurrence evaluation system 1 includes a product evaluation system 5 and a workplace evaluation system 10.
[0010]
In general, the causes of defects when manufacturing products in factories can be broadly divided into those caused by the product structure and those caused by various environments in the manufacturing workplace. That is, the former is determined by the shape of the parts constituting the product, the mechanical structure of the product, the difficulty of the assembly method, and the like. Therefore, this is a product-specific factor that does not depend on the operator's technical ability or work environment. The latter depends on the technical capabilities of the workers in the manufacturing workplace, the management status of the work equipment, and various other workplace environments. Therefore, this is unique to the workplace and can be considered as the potential of each workplace.
[0011]
In the present embodiment, out of the ratio of defective products to products shipped from the factory (hereinafter referred to as “defective rate”), those that depend on the product structure are quantified by the product evaluation system 5 and are sent to the manufacturing workplace. The dependents are quantified by the workplace evaluation system 10. Therefore, by connecting the workplace evaluation system 10 and the product evaluation system 5, it is possible to combine a defect rate that depends on the manufacturing workplace and a product-specific failure rate, and a specific product when a certain product is manufactured at a certain workplace. It becomes possible to estimate the defect rate.
[0012]
FIG. 1 is a functional block diagram of the workplace evaluation system 10. This workplace evaluation system 10
Accepting means 20 that accepts an input of workplace status, discriminating means 21 that discriminates the level of the workplace, storage means 22 that stores definition information of the workplace level, and impact level by job that calculates the impact level of defect occurrence for each job A calculation means 23, a failure rate calculation means 24 for calculating a failure rate, an output means 25, and a message control means 26 for outputting a message corresponding to the workplace state are provided.
[0013]
The accepting unit 20 accepts information indicating a workplace state related to an item causing a defect. The determination unit 21 compares the information indicating the workplace state received by the reception unit 20 with the workplace level definition information stored in the storage unit 22 to determine the level of the workplace. The storage means 22 stores workplace level definition information and messages. The workplace level is divided into several stages according to the degree of workplace status. When calculating the degree of occurrence of defects, evaluation according to this level is performed. The message is output to the output means 26 by the message control means 25.
[0014]
The job-specific influence calculating means 23 determines the job-specific influence that affects the shipment of defective products for each job among a plurality of jobs in the process from product manufacture to shipment. Here, the plurality of jobs in the process from manufacturing to shipping includes at least a job related to product manufacturing, a job related to product inspection, and a job related to countermeasures to be performed according to the inspection result. For example, each work can be performed in accordance with the work related to the inspection and the inspection result in the work related to the manufacturing, and the state transition between the respective work can be arbitrarily performed. The job-specific influence calculating means 23 is based on the item-specific job-specific influence calculating means 23a for calculating the item-specific and work-specific defect occurrence influence level, and the item-specific and job-specific defect occurrence influence levels. For each job, there is a job-specific workplace influence calculation means 23b for calculating the job-specific impact level of the workplace. The respective failure occurrence influence degrees calculated by the item-by-job influence degree calculating means 23a and the work-by-workplace influence degree calculating means 23b are both temporarily stored in the storage means 22. The defect rate calculation unit 24 acquires the defect occurrence influence level for each job calculated by the job-specific influence calculation unit 23 from the storage unit 22 and calculates a defect rate at which defective products are included in the product to be shipped.
[0015]
The message control means 25 controls the message to be output according to the workplace situation. The message to be output is analysis of the current situation, indication of points to be improved, or specific measures for improvement. These messages are stored in the storage means 22. The message control unit 25 includes an item-specific influence calculation unit 25a, a category-specific influence calculation unit 25b, and a message determination unit 25c. The item-specific impact calculation unit 25a calculates the item-specific impact based on the work-specific and item-specific defect occurrence impacts stored in the storage unit 22. The category-specific impact calculation means 25b classifies the items into several categories based on their properties, and calculates the impact for each category. The message determination unit determines a message to be output for each item based on the degree of influence for each item and a message to be output for each category based on the degree of influence for each category from the messages stored in the storage unit 22. . The output means 26 outputs a defect rate and a message.
[0016]
Next, an embodiment when the workplace evaluation system 10 having functional blocks as shown in FIG. 1 is realized on a computer will be described in detail with reference to FIG.
[0017]
The workplace evaluation system 10 includes an input device 11 that constitutes input means such as a keyboard and a mouse, an output device 12 that constitutes output means such as a display monitor, a control device 13 that executes the evaluation processing of the present invention, and a workplace. It comprises an external storage device 14 constituting storage means for storing various information for evaluation.
[0018]
In addition to those described above, the input device 11 may be, for example, a pen input tablet, a storage medium reading device, a communication device for performing input via a network, or the like. The output device 12 may be, for example, a printing unit such as a printer, a communication device for performing output to another system via a network, and the like. The control device 13 includes a ROM 31 storing a predetermined program, a CPU 32, a RAM 33 temporarily storing various data, an input / output interface unit 34, a bus line 35, and the like. The external storage device 14 stores a workplace evaluation database 6 and a calculation program 41 and an input / output control program 42 for realizing the functions described below.
[0019]
On the other hand, the product evaluation system 5 can also be composed of an input device, an output device, a control device that executes a product evaluation process, an external storage device that stores various information for evaluating the product, and the like.
[0020]
FIG. 3 shows the contents of the workplace evaluation database 6. The workplace evaluation database 6 includes a workplace condition evaluation category 60, an item number 61, a workplace condition defect influence item 62, a workplace level 63, an inter-item weight coefficient 64, a defect occurrence coefficient 65, countermeasure point advice 66, and a comment 67. The workplace level 63, the item weighting coefficient 64, and the defect occurrence coefficient 65 are data for obtaining an evaluation value for evaluating the workplace situation. The countermeasure point advice 66 and the comment 67 are messages for the workplace situation or workplace situation evaluation, and are stored as text data.
[0021]
The workplace condition evaluation category (hereinafter simply referred to as “evaluation category”) 60 refers to a category in which the workplace condition defect effect items 62 are classified based on their properties. Here, there are five categories: 1) related to workers, 2) related to equipment and jigs, 3) related to physical environment, 4) related to manufacturing methods, and 5) related to workplace management. Classify. Each evaluation category 60 has more detailed conditions. The condition is the workplace condition defect influence item 62 (hereinafter simply referred to as “defect influence item”). The item number 61 has a one-to-one correspondence with the defect effect item 62.
[0022]
The defect influence item 62 is an item indicating a condition that particularly affects the defect rate among various workplace conditions. For example, as for workers, “attendance rate” and “work instruction method”, as for facilities / tools, as “person in charge of equipment”, as for physical environment as “illuminance”, as for manufacturing methods “Production form” and “Management / training” are related to workplace management. Here, we will explain using “attendance rate” as an evaluation item for the category related to workers, “in charge of equipment” as an evaluation item for categories related to equipment and jigs, and “illuminance” as an evaluation item for categories related to the physical environment. .
[0023]
The workplace level 63 stores a threshold value that defines a range of each level in order to represent what level of workplace potential is associated with each evaluation item. Here, it is divided into three levels. Level 1 indicates that the evaluation item is an ideal workplace where defects are least likely to occur (high potential). Level 3 indicates that the workplace is most prone to defects (low potential) for the item. As for the workplace level to be set, at least two levels are necessary to evaluate the quality of the workplace status, but there is no upper limit. Increasing the number of levels has the advantage that the evaluation accuracy can be improved, but conversely, the choices at the time of input increase, and the effort of input increases.
[0024]
Here, the level range is determined based on, for example, the actual situation or past experience of the company. For example, workplaces with an attendance rate of 97% or higher are set as level 1, workplaces with 90% or higher and lower than 97% are set as level 2, and workplaces with 90% or lower are set as level 3. The person in charge of equipment is level 1 when all are determined, level 2 when equipment is determined at 90% or higher, and level 3 when only equipment below 90% is determined. Workplaces with illuminance above 1000 lx are level 1, workplaces below 600 lx and below 1000 lx are level 2, and workplaces below 600 lx are level 3. The setting of the level range can be changed as appropriate.
[0025]
The inter-item weighting coefficient 64 is a coefficient for adjusting the degree of influence on the defect rate by comparing relatively between items. In other words, the larger the inter-item weighting coefficient 64, the greater the influence that item has on the occurrence of defects. Here, the attendance rate is “2”, the equipment person in charge is “1”, and the illuminance is “1”. This setting is also set based on empirical rules. Of course, it can be changed.
[0026]
Next, the defect occurrence coefficient 65 is a value indicating the degree of influence on defect occurrence. The defect occurrence coefficient 65 includes a defect creation coefficient 65a, a defect outflow coefficient 65b, and a defect handling time coefficient 65c. The defect creation coefficient 65a indicates the degree to which each item affects defect creation. The defective outflow coefficient 65b indicates the degree to which each item affects defective product outflow. The defect handling time coefficient 65c indicates the degree to which each item affects the handling time until the defect is removed. Each coefficient indicates that a smaller coefficient value is less likely to cause defects. Note that the defect occurrence coefficient 65 is determined based on the actual data regarding the occurrence of the conventional manufacturing defect. Individually, it is given by an integer value of 0-3. Of course, it is not limited to an integer value.
[0027]
The countermeasure point advice 66 is advice for improving the workplace with respect to each defect effect item 62. Level 2 and level 3 are prepared. The advice for each level includes a “short-term countermeasure plan” that can be implemented immediately and a “long-term countermeasure plan” that should be executed over a certain period of time. These are, for example, collected countermeasures obtained empirically by national managers, etc., converted into text data, and stored.
[0028]
The comment 67 stores a comment that evaluates the current workplace situation for each defect-affected item 62. Level 2 and level 3 are prepared. The comment 67 is also stored as text data in the same manner as the above countermeasure.
[0029]
FIG. 4 is an example of the workplace condition input screen 7 (hereinafter simply referred to as “input screen”). The input screen 7 displays input fields for an evaluation target workplace name 71 and a workplace condition 72. This input screen 7 is displayed on an output device 12 such as a display monitor, and the evaluator inputs from the input device 11 such as a mouse and a keyboard.
[0030]
In the input field 71a for the evaluation target workplace name 71, the name of the workplace for which the defect rate is desired is input. The workplace condition 72 displays an item number 61 and a question item 75 for each evaluation category 61. The evaluation category 60, the item number 61, and the question item 75 display the evaluation category 60, the item number 61, and the defect influence item 62 stored in the workplace evaluation database 6. When the supplementary explanation button (75a, 75b, 75c) is pressed, a document showing the definition of each question item is displayed in a separate window (not shown).
[0031]
In the input field of the answer item 76, selection areas (76a to 76c) corresponding to the three options corresponding to the workplace level 63 stored in the workplace database 6 are displayed. The respondent can select any selection area (76a to 76c) by simply clicking with the mouse. Here, “attendance rate” is “90% or more and less than 97%” at level 2, “equipment person in charge” is “determined with less than 90% of equipment”, level 3, and “illuminance” is “1000 lx or more” Level 1 is entered.
[0032]
The work condition information input method does not necessarily have to be a selection type as shown in FIG. 4, for example, a form in which numerical values and characters are input from a keyboard or the like. In that case, it is determined to which level the input numerical value belongs.
[0033]
Furthermore, as for the input, in addition to the input from the input device 11 using a keyboard or a mouse as described above, workplace information stored in another storage device through a computer network may be captured. It is also possible to input to this system via a storage medium such as a floppy disk. If necessary, it may be configured so that information necessary for evaluation can be retrieved and read.
[0034]
FIG. 5 is an example of a workplace evaluation result output screen 8 (hereinafter simply referred to as “output screen”). The output screen 8 displays display areas for an evaluation target workplace name 81, a workplace failure rate 82, a workplace diagnosis result 1 (84), and a workplace diagnosis result 2 (88). The output screen 8 may be displayed on an output device 12 such as a display monitor, or may be output to a printer or the like. Here, three types of evaluation results, that is, a workplace defect rate, workplace diagnosis result 1 and workplace diagnosis result 2 are output.
[0035]
The workplace failure rate 82 is a failure rate resulting from the environment of the manufacturing workplace. This is calculated and displayed based on the workplace information input on the input screen 7 of FIG. 4 and the contents of the workplace evaluation database 6 (82a). The detailed procedure for calculating the workplace defect rate will be described later. The workplace diagnosis result 1 (84) calculates an evaluation score (85a to 87a) for each evaluation category (85 to 87), and displays the comment 67 stored in the workplace evaluation database 6 (85b to 85b). 87b). Details of the evaluation point calculation and comment display procedure will be described later. The workplace diagnosis result 2 (88) displays the short-term countermeasure 88b and the long-term countermeasure 88c of the countermeasure point advice 66 stored in the workplace evaluation database 6 for each defect evaluation item 88a.
[0036]
Next, main operations of the present system will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
[0037]
First, when this system is activated by an evaluator or the like, the input / output control program 42 stored in the external storage device 14 is read into the CPU 32, and the following processing is executed.
[0038]
The CPU 32 displays a selection screen 51 for selecting a new input shown in FIG. 6A or opening a registered file (step 100a). When the evaluator selects “new input” 51a (step 100b), an input screen 7 for inputting workplace conditions is displayed (step 100c). When “Open registered file” 51b is selected, a file selection screen 52 shown in FIG. 6B is displayed (step 100f). An input field 52a is displayed on the file selection screen 52, and the evaluator inputs a file name here. The CPU 32 waits for input to the input field 52a, reads the input file, embeds the information, and displays the input screen 7 (step 100g, step 100h).
[0039]
In the case of new input, since no workplace conditions have been input, input is made for all evaluation items. When opening an existing file, enter only the location where the workplace conditions are to be changed. Here, a description will be given by taking “Workplace A” in the workplace conditions of “attendance rate is 93%”, “equipment person is determined by 80% of equipment”, and “illuminance of lighting is 1200 lux” as an example. When the input is completed, it becomes as shown in FIG. That is, since the attendance rate at workplace A is 93%, level 2 is selected. Since the person in charge of equipment is determined by 80% of equipment, level 3 is selected. Since the illuminance is 1200 lux, level 1 is selected. The CPU 32 receives the input information (step 100e).
[0040]
Here, the work area 33a on the RAM 33 used in this processing is shown in FIGS. The work area 33a on the RAM 33 includes an evaluation category 901, an item number 90, a workplace level 91, a defect occurrence calculation result 92, a defect occurrence rate 93 between the ideal workplace and the worst workplace, an inter-item weight coefficient 94, a defect occurrence coefficient 95, Countermeasure point advice 96, comments 97, a total of 98 calculation results, and a workplace defect rate 99 are provided.
[0041]
The evaluation category 901, the item number 90, and the workplace level 91 are areas for temporarily storing information corresponding to each obtained from the input screen 7. The calculation result 92 of the defect occurrence degree, the defect occurrence degree 93 of the ideal workplace and the worst workplace, the total 98 of the calculation results, and the workplace defect rate 99 are areas for temporarily storing information corresponding to each obtained by processing described later It is. The inter-item weighting coefficient 94, defect occurrence coefficient 95, countermeasure point advice 96, and comment 97 are areas for reading and temporarily storing corresponding information from the workplace evaluation database 6, respectively.
[0042]
When the evaluation calculation execution instruction is given, the CPU 32 determines the workplace level based on the inputted workplace conditions. The evaluation category 73 of the item is stored in the evaluation category 901 of the work area 33a, the item number 74 is stored in the item number 90 of the work area 33a, and the determined workplace level is stored in the workplace level 91 of the work area 33a. . Then, the workplace evaluation database 6 is searched using the item number 90 as a key. The information extracted by the search is an inter-item weight coefficient 64, a defect occurrence coefficient 65, a countermeasure point advice 66, and a comment 67 (step 110). The information extracted here is stored in the corresponding columns (94 to 97) of the work area 33a.
[0043]
In the input example shown in FIG. 4, the “attendance rate” is “1” for the evaluation category 73, “1” for the item number 74, and “level 2” for the workplace level. Accordingly, a record is generated in which the evaluation category 901 of the work area 33a is “1”, the item number 90 is “1”, and the workplace level 91 is “2”, and the item number 61 is “1” from the workplace evaluation database 6. Search for records. Then, the defect occurrence coefficient 65, countermeasure point advice 66, and comment 67 of the record are copied to the corresponding areas (94 to 97) of the work area 33a. This is repeated with respect to all the input defect influence items 62. Information obtained by storing the result in the work area 33a of the RAM 33 is as shown in FIG.
[0044]
Next, an evaluation calculation is executed based on the information stored in the work area 33a (step 120). A calculation program 41 for performing this calculation is stored in the external storage device 14 and is read into the CPU 32 in advance. The evaluation calculation includes calculation of a defect occurrence rate 92d for each defect influence item 62 (step 121), calculation of evaluation points for each evaluation category (step 122), selection of comments for each evaluation category (step 123), and improvement point advice. 4 steps (step 124).
[0045]
The detailed procedure of step 121 is as shown in FIG. First, the CPU 32 multiplies the workplace level 91, the defect creation coefficient 95a, and the inter-item weight coefficient 94 to calculate the defect creation degree, and stores it in the area of the defect creation degree 92a in the work area 33a (step 121b). ). Similarly, the defect outflow degree 92b and the defect handling time degree 92c are calculated and stored (step 121c, step 121d). Specifically, it calculates | requires by the following formula | equation, respectively.
[0046]
[Expression 1]

[0047]
[Expression 2]

[0048]
[Equation 3]

[0049]
The defect creation degree 92a, defect outflow degree 92b, and defect handling time degree 92c are totaled to determine the defect occurrence degree, and stored in the defect occurrence degree 92d area of the work area 33a (step 121e).
[0050]
When the information of the work area 33a shown in FIG. 12 is used, when the item number 90 is 1 (attendance rate), the defect creation degree 92a is 2 (workplace level 91) × 2 (inter-item weight coefficient 94) × 3 ( Defect creation coefficient 95a) = 12, defect outflow rate 92b is 2 (workplace level 91) × 2 (inter-item weight coefficient 94) × 1 (defect outflow coefficient 95b) = 4, defect handling time degree 92c is 2 ( Workplace level 91) × 2 (inter-item weight coefficient 94) × 2 (defect handling time coefficient 95c) = 8.
[0051]
Next, the ideal workplace defect occurrence degree 93a and the worst workplace defect occurrence degree 93b are obtained (step 121f). The ideal workplace is an ideal workplace where the workplace level 63 of all the defect effect items 62 is level 1, and all manufacturing workplaces should be targeted. The worst workplace is a workplace where the workplace level 63 of all the defect effect items 62 is level 3 as opposed to the ideal workplace. Accordingly, the ideal workplace defect occurrence degree 93a is obtained by calculating the defect creation degree 92a, defect outflow degree 92b, and defect handling time degree 92c in the same procedure as steps 121b to 121e with the workplace level being 1, and totaling them. It becomes. The worst workplace defect occurrence degree 93b is calculated in the same manner with the workplace level set to 3, and each is stored in the work area 33a of the RAM 33.
[0052]
When the information of the work area 33a shown in FIG. 12 is used, the ideal workplace defect occurrence rate is (1 × 2 × 3) + (1 × 2 × 1) + (1 × 2) for the record whose item number 90 is 1. × 2) = 12, and the worst workplace defect occurrence rate is (3 × 2 × 3) + (3 × 2 × 1) + (3 × 2 × 2) = 36. And it is stored in the ideal workplace defect occurrence degree 93a and the worst workplace defect occurrence degree 93b, respectively, in the work area 33a.
[0053]
Further, a room for improvement 92e is obtained (step 121g). The room for improvement 92e is a numerical value indicating how much improvement is necessary for the current workplace to become an ideal workplace. It is calculated by subtracting the failure occurrence rate of the ideal workplace obtained in step 121e from the failure occurrence rate of the ideal workplace obtained in step 121f and stored in the room for improvement 92e of the work area 33a.
[0054]
When the information of the work area 33a shown in FIG. 12 is used, the room for improvement is 24 (defect occurrence rate of workplace A) −12 (defect occurrence rate of ideal workplace) = 12 for the record whose item number 90 is 1. It is stored in the room for improvement 92e of the work area 33a.
[0055]
The above-described processing from step 121b to step 121g is performed for all defect-affected items 62, that is, for data corresponding to all item numbers 90 on the work area 33a.
[0056]
Then, for all the item numbers 90, a sum is obtained for each of the defect creation degree 92a, defect outflow degree 92b, and defect handling time degree 92c, and the total of the defect creation degree, defect outflow degree, and defect handling time degree of the workplace is obtained. Values are calculated and stored in the defect creation degree (total) 98a, defect outflow degree (total) 98b, and defect handling time degree (total) 98c, respectively, in the work area 33a (step 121i).
[0057]
Finally, the workplace defect rate 99 of the workplace is calculated from the defect creation degree (total) 98a, defect outflow degree (total) 98b, and defect handling time degree (total) 98c obtained in step 121i (step). 121j). Specifically, it is obtained by the following formula.
[0058]
[Expression 4]

[0059]
When step 121 is completed, the state of the work area 33a on the RAM 33 is as shown in FIG.
[0060]
By calculating the workplace defect rate 99 with this system, the potential of the workplace can be quantified, and the ease of occurrence of defective products can be quantitatively predicted. In addition, by comparing the workplace defect rate 99, it is possible to relatively compare the ease of occurrence of defects between workplaces.
[0061]
In this system, the defect occurrence coefficient 65 is set to three: defect creation, defect extraction degree, and defect handling time. The reason for this will be described.
[0062]
Consider what kind of workplace has a high potential because there are few defective products in the product to be shipped. First of all, it is a workplace that does not make defective products in the first place. It is very important not to make defective products. This is because if there are fewer defective products among the products to be manufactured, fewer defective products are shipped. Therefore, first, it is necessary to grasp the degree of defect formation.
[0063]
Next, even if a defective product is produced, if the defective product is found and removed by inspection work or the like before shipping, the defective product will not be shipped. This is an ex-post measure after a defective product is created, but is important in terms of preventing the outflow of defective products. Therefore, secondly, it is necessary to grasp the degree of extraction of defective products (or the degree of outflow (the degree that cannot be extracted)).
[0064]
And when a defect occurs, if the cause of the defect cannot be determined and removed, it will not be a fundamental solution. Moreover, if the measures are not taken promptly, defective products will be made one after another until the cause is removed. In other words, it is better that the time taken to remove the cause when a defect occurs is shorter. Therefore, thirdly, it is necessary to grasp the defect handling time.
[0065]
FIG. 14 schematically shows these relationships. When the vertical axis represents the number of units produced per unit time and the horizontal axis represents time, the number of products manufactured from the start of production to the end of production corresponds to the area represented by ABCD. Suppose that a failure occurs for some reason, the countermeasure is completed after a certain time, and the failure does not occur. The number of defective products manufactured during this period corresponds to the area represented by abcd.
[0066]
Here, the defect creation degree 92a corresponds to the number of defects generated per unit time (corresponding to the length of the line segment ab). The fewer the number of defects per unit time, the smaller the number of defective products that can be created. Even when a defective product is created, if the defective outflow rate 92b is low, the number of defective products that flow out (corresponding to the area represented by ab'c'd) increases. Further, the failure handling time degree 92c corresponds to the handling time (corresponding to the length of the line segment ad) when a failure occurs. If this response time is short, the number of defective products (corresponding to the area represented by abcd) can be reduced. The schematic diagram shown in FIG. 14 may be displayed on the output device 12 such as a display monitor. By displaying the schematic diagram, the evaluator can intuitively understand the state of each workplace.
[0067]
Next, as a workplace diagnosis result 1, a workplace-level evaluation score is calculated for each evaluation category, and a comment is output for each evaluation category. The detailed procedure of step 122 for calculating the evaluation score is shown in FIG.
[0068]
For each evaluation category, the CPU 32 calculates the total value (S in Equation 5) of the defect occurrence degree 92d for each defect influence item 62 belonging to the evaluation category and the ideal workplace defect occurrence of each defect influence item 62 belonging to the evaluation category. The total value (R in Equation 5) and the worst workplace defect occurrence degree 93b are obtained as the total value (B in Equation 5) (steps 122b, 122c, and 122d), respectively. Then, the evaluation score is calculated by the following equation, and the result is similarly stored in an output area (not shown) on the RAM 33 (step 122e).
[0069]
[Equation 5]

[0070]
This evaluation point represents where the evaluation target workplace is relatively located when the ideal workplace is 100 points and the worst workplace is 0 points. This evaluation point calculation process is performed for all evaluation categories. Although the evaluation score is calculated for each evaluation category here, the evaluation score is calculated by calculating the failure occurrence rate, ideal workplace failure occurrence rate, and worst workplace failure occurrence rate for the entire workplace without dividing each evaluation category. May be.
[0071]
FIG. 10 shows the detailed procedure of step 123 for outputting the evaluation category comments.
[0072]
The following processing is performed for all evaluation categories for each evaluation category. Of the room for improvement 92e for each defect effect item 62 belonging to one evaluation category, the one with the largest value is selected. Then, the comment 97 corresponding to the workplace level 91 input to the defect effect item 62 (item number 90) is read from the work area 33a and stored in the output area on the RAM 33 (

steps

123b and 123c).
[0073]
Further, countermeasure point advice 96 is output as the workplace diagnosis result 2. This presents a countermeasure plan with the defect effect item 62 having a large room for improvement, that is, a defect rate reduction effect being large when improved, as a workplace improvement point. The countermeasure proposal is presented by dividing the countermeasure proposal that can be made in the short term and the countermeasure proposal that should be taken in the long term by using the countermeasure point advice 96 stored in the work area 33a.
[0074]
FIG. 11 shows the detailed procedure of step 124 for performing workplace improvement point selection processing.
[0075]
Three items having a large room for improvement are selected from all defect-affected items 62 (item number 90), and countermeasure point advice 96 corresponding to the workplace level inputted for the item is read from the work area 33a. And stored in the output area on the RAM 33 (

steps

124a and 124b).
[0076]
By doing so, it is possible to display in descending order of the defective rate reduction effect, and it is preferable to perform efficient and targeted countermeasures. Of course, the number of items for which countermeasure point advice is presented is not limited to three.
[0077]
After executing the evaluation calculation in step 120 described in detail above, the contents of the output area on the RAM 33 are displayed on the output screen 8 (step 130). Before the end of the system, the input information and evaluation result information are saved as necessary (steps 140 and 150).
[0078]
As can be seen from the above description, according to the present system, it is possible to provide a highly reliable workplace evaluation result by simple input in a form of answering a question in a questionnaire format. Moreover, since the work condition items (namely, work improvement points) are output in descending order of room for improvement as an evaluation result, effective work improvement can be immediately started. Furthermore, if this system is used, it is possible to quantitatively grasp the probability of occurrence of defects in the workplace without actually making a product in the workplace to be evaluated.
[0079]
In the manufacturing department, it is possible to quantitatively grasp the workplace condition items that have a large impact on the occurrence of defects in the workplace and how much the defect rate can be reduced by improving or taking countermeasures, so efficient improvement of the workplace level can be achieved. It helps to create a workplace improvement plan to carry out, and has the effect of preventing the occurrence of defects. Also, if evaluation is performed before production, the priority management points in the workplace will be clarified in advance, so that it is possible to accurately place inspection work, select inspection methods, etc., and have a great effect on defect extraction.
[0080]
Further, since the design / development department knows in advance the defect rate of the workplace where the product is to be manufactured, the product development / design according to the workplace can be performed efficiently.
[0081]
Furthermore, in the quality assurance department, this system can be used to evaluate a factory so that the manufacturing process of that factory can be evaluated, whether it is a factory that meets the required quality, and guidance for quality improvement. It can be used effectively for quality improvement.
[0082]
In this way, this system makes it possible to accurately prevent and detect defects in each department of design, manufacturing, and quality assurance.
[0083]
From the above, by using the system of the present invention in each process of product development / manufacturing, defects occurring in manufacturing work and defects occurring in the market can be greatly reduced. That is, it becomes possible to greatly improve the reliability of the shipped product.
[0084]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the workplace evaluation method and system which calculate the ratio of the inferior goods to the product shipped from a factory can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of a system of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a configuration of a system according to the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the contents of a defect occurrence degree database.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an input screen of the system of the present invention.
FIG. 5 is an explanatory diagram showing an output screen of the system of the present invention.
6A is an explanatory diagram showing a system selection screen of the present invention, and FIG. 6B is an explanatory diagram showing a file selection screen of the system of the present invention.
FIG. 7 is a flowchart of overall processing in the system of the present invention.
FIG. 8 is a flowchart of a process for obtaining a defect occurrence degree for each work condition defect influence item in the system of the present invention.
FIG. 9 is a flowchart of processing for obtaining an evaluation score for each workplace condition evaluation category in the system of the present invention.
FIG. 10 is a flowchart of processing for selecting a comment for each workplace condition evaluation category in the system of the present invention.
FIG. 11 is a flowchart of processing for selecting improvement point advice in the system of the present invention.
FIG. 12 is an explanatory diagram showing a work area on a RAM used in the system of the present invention.
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a work area on a RAM used in the system of the present invention.
FIG. 14 is an explanatory view schematically showing the principle of a defect rate calculation method in the system of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 ... Defect occurrence evaluation system
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Workplace evaluation system, 11 ... Input means, 12 ... Output means, 13 ... Control means, 14 ... Storage means, 20 ... Product evaluation system, 31 ... ROM, 32 ... CPU, Program execution part, 33 ... RAM, 34 ... Input / output interface part, 35 ... Bus line,

Claims

In the workplace evaluation system that predicts the ratio of defective products to the manufacturing target that is shipped due to the workplace environment of the manufacturing target manufacturing site,
Storage means for storing a range of levels determined and classified into a plurality of stages according to the degree of the workplace state for one or more failure cause items causing the occurrence of failure in the workplace environment;
Accepting means for accepting input of information indicating a workplace state of the defect cause item;
A discriminating means for discriminating which level the information indicating the workplace status received by the accepting means belongs to within a range of levels determined by dividing into the plurality of stages stored in the storage means;
The work state of the level determined by the determination means is a plurality of work in the process from manufacture to shipment of the manufacturing object, the work-specific influence determination means for determining the influence by work that affects the shipment of defective products,
A workplace evaluation system that predicts a ratio of defective products mixed in a manufacturing object to be shipped due to a workplace environment of the workplace using the degree of influence by job.

The plurality of jobs in the process from manufacturing to shipping of the manufacturing target includes a job related to manufacturing of the manufacturing target, a job related to inspection of the manufacturing target, and a job related to countermeasures to be implemented according to the inspection result. The workplace evaluation system according to claim 1.

The impact by job in the work related to the manufacture of the manufacturing object is an impact that affects the creation of defective products,
Work influence degree of work on the inspection of the production target is a degree of influence affecting the child removed before shipping the defective
The job-related influence level in the work related to the countermeasure to be implemented according to the inspection result is an influence level that affects the determination of the length of time required to eliminate the cause of producing a defective product. 2. Workplace evaluation system described in 2.

The job-specific influence determining means is
The workplace evaluation according to any one of claims 1 to 3, wherein a job-specific impact level is determined for each defect cause item, and a job-specific impact level is determined from the item-specific job impact level. system.

The storage means
For each individual failure cause item, further storing a weighting factor determined by the degree of influence on the occurrence of failure of the failure cause item,
The job-specific influence determining means is
5. The workplace evaluation system according to claim 4, wherein the job-specific influence degree is calculated by further using a weighting factor stored in the storage means.

6. The defect cause item is classified into at least a category relating to an operator, a category relating to equipment, a category relating to a manufacturing method, a category relating to a work environment, and a category relating to workplace management. The workplace evaluation system according to any one of the above.

For each defect cause item, based on the work-specific impact level of the workplace item, the workplace item-specific defect occurrence rate calculating means for calculating the workplace item-specific defect occurrence rate,
The workplace failure occurrence rate calculating means for calculating the workplace failure occurrence rate based on the workplace item failure occurrence rate of the failure cause item;
With respect to an ideal workplace where the level of all defect cause items is the level at which the failure is least likely to occur, the impact determination means for each workplace according to ideal workplace item for determining the degree of occurrence of defects by job according to the items,
For each defect cause item, based on the impact by job for each ideal workplace item, for the defect cause item, an ideal workplace item-specific defect occurrence degree calculating means for calculating the ideal workplace item-specific defect occurrence rate,
An ideal workplace failure occurrence rate calculating means for calculating an ideal workplace failure occurrence rate based on the ideal workplace item failure occurrence rate of the failure cause item;
For the worst workplace where the level of all defect cause items is the level at which the defect is most likely to occur, the impact determination means for each work item by job category for determining the degree of defect occurrence by job according to the item,
For each defect cause item, the worst workplace item-specific defect occurrence rate calculating means for calculating the worst workplace item-specific defect occurrence rate for the defect cause item, based on the worst-work item-specific job-specific influence level,
A worst workplace defect occurrence degree calculating means for calculating the worst workplace defect occurrence degree based on the worst workplace item defect occurrence degree of the defect cause item;
The workplace evaluation system according to claim 6, wherein the workplace is evaluated based on the occurrence rate of the workplace failure, the occurrence rate of the ideal workplace failure, and the occurrence rate of the worst workplace failure.

For each defect cause item, based on the work-specific impact level of the workplace item, the workplace item-specific defect occurrence rate calculating means for calculating the workplace item-specific defect occurrence rate,
For each category, based on the defect occurrence level for each work item of the defect cause item belonging to the category, for each category, a defect occurrence level calculation means for each work category that calculates the defect occurrence level for each work category ,
With respect to an ideal workplace where the level of all defect cause items is the level at which the failure is least likely to occur, the impact determination means for each workplace according to ideal workplace item for determining the degree of occurrence of defects by job according to the items,
For each defect cause item, based on the impact by job for each ideal workplace item, for the defect cause item, an ideal workplace item-specific defect occurrence degree calculating means for calculating the ideal workplace item-specific defect occurrence rate,
For each category, based on the ideal workplace item failure occurrence degree of the failure cause item belonging to the category, an ideal workplace category failure occurrence degree calculation means for calculating an ideal workplace category failure occurrence degree for the category; ,
For the worst workplace where the level of all defect cause items is the level at which the defect is most likely to occur, the impact determination means for each work item by job category for determining the degree of defect occurrence by job according to the item,
For each defect cause item, the worst workplace item-specific defect occurrence rate calculating means for calculating the worst workplace item-specific defect occurrence rate for the defect cause item, based on the worst-work item-specific job-specific influence level,
For each category, based on the worst workplace item failure occurrence degree of the failure cause item belonging to the category, the worst workplace category failure rate calculation means for calculating the worst workplace category failure occurrence rate for the category; ,
The evaluation of the workplace is performed for each category based on the failure occurrence rate by the workplace category, the failure occurrence rate by the ideal workplace category, and the failure occurrence rate by the worst workplace category. 6. Workplace evaluation system according to 6.

For each defect cause item, based on the work-specific impact level of the workplace item, the workplace item-specific defect occurrence rate calculating means for calculating the workplace item-specific defect occurrence rate,
With respect to an ideal workplace where the level of all defect cause items is the level at which the failure is least likely to occur, the impact determination means for each workplace according to ideal workplace item for determining the degree of occurrence of defects by job according to the items,
For each defect cause item, based on the impact by job for each ideal workplace item, for the defect cause item, an ideal workplace item-specific defect occurrence degree calculating means for calculating the ideal workplace item-specific defect occurrence rate,
The difference between the degree of failure occurrence by ideal workplace item and the degree of failure occurrence by workplace item is obtained as a room for improvement of the workplace for the cause of the failure, and improvement measures are taken according to the magnitude of the absolute value of the room for improvement. The workplace evaluation system according to claim 6, wherein the information on the workplace is output.

The workplace evaluation system according to claim 9, wherein the information on the improvement measure is output for a defect cause item having an absolute value of the room for improvement within the category.

11. The workplace evaluation system according to claim 9, wherein the improvement measures include information on long-term measures and information on short-term measures.