JP3652966B2 - Back pressure threshold automatic change method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はバックプレッシャ閾値自動変更方式に関し、特にATM交換システムのバックプレッシャ閾値自動変更方式に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種のバックプレッシャ閾値自動変更方式は、例えば特開平6−244858号公報に記載されたATM網のバッファ閾値制御システムのように、高品質ATMセルの廃棄低減を目的として用いられている。
【0003】
図10は、従来のバックプレッシャ閾値自動変更方式の構成を示すブロック図である。図10を参照すると従来のバックプレッシャ閾値自動変更方式は、到着したATMセルを蓄積するバッファ10と、バッファ10のキュー長を測定するキュー長測定手段11と、キュー長測定手段11の出力と別途入力される閾値とを比較する比較手段12と、信号メッセージから与えられる情報を基に1つの呼を受け付ける毎に最適な閾値を比較手段12に与える制御部20と、比較手段12の比較結果に応じてバッファ10に到着するATMセルの廃棄制御を行うセル廃棄手段13とを備える。
【0004】
次に動作を説明する。入力ラインからはATMセルと信号メッセージを受ける。制御部20では信号メッセージからCLP検出部21でATMセル毎にCLPビットの値を検出してCPU22に通知する。さらに、CPU22は1つの呼毎にCLPの比率を計算し、メモリ23内の閾値テーブル23aから対応する閾値を読み出して、キュー長閾値として比較手段12の入力に与える。
【0005】
比較手段12ではキュー長測定手段11からのバッファ使用率と前記の閾値を比較する。低品質ATMセルの到着が多い場合には、閾値を小さくする。そして、セル廃棄手段13で低品質ATMセルの廃棄を行い、高品質ATMセルの廃棄をなるべく少なくする。
【0006】
これにより、高品質ATMセルが到着したときには、バッファ10に空きがある限りそのセルを蓄積するが、低品質ATMセルが到着したときには、キュー長が閾値を越えているならば、セル廃棄手段13によりそのATMセルを廃棄する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来技術では、高品質ATMセルの廃棄低減しか考慮されていないため、高品質ATMセルの遅延及び揺らぎに伴うセル欠落、PCR(PEAK CELL RATE)超過、及びエコー等が生じてしまうという問題があった。
【0008】
また従来の技術では、低品質ATMセルを廃棄するためにセル廃棄手段を新たに設けなければならないという問題があった。
【0009】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、高品質ATMセルの遅延及び揺らぎの低減することができるバックプレッシャ閾値自動設定方式を提供することにある。
【0010】
本発明の他の目的は、セル廃棄手段を使用せずに低品質ATMセルの廃棄が可能なバックプレッシャ閾値自動設定方式を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、バックプレッシャ閾値自動変更方式であって、入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するATMスイッチ部と、前記ATMスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎを測定し、測定結果が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する揺らぎ測定部と、前記揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とする。
【0012】
請求項2記載の発明は、前記揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ATMセルの到着間隔を監視する揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値を算出する揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値と予め設定された許容揺らぎ値とを比較して前記揺らぎ値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする。
【0013】
請求項3記載の発明は、前記閾値制御部が、前記閾値変更要求信号の受信により新たな閾値を決定する閾値決定部と、前記閾値決定部で決定した閾値を前記出力バッファ部に設定する閾値変更機能とを備えることを特徴とする。
【0014】
請求項4記載の発明は、バックプレッシャ閾値自動変更方式であって、入力セルを一時的に蓄積する入力バッファ部と、前記入力バッファ部から送出されたセルを交換接続するATMスイッチ部と、前記ATMスイッチ部から送出されたセルを一時的に蓄積し、セル蓄積量が予め設定された閾値を超えると前記入力バッファ部に対してセル送出の抑制を行う出力バッファ部と、前記入力バッファ部に入力されるセルの揺らぎ値及び遅延値を測定し、前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外である時に前記閾値の変更を要求する閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ測定部と、前記遅延及び揺らぎ測定部からの要求によって変更すべき閾値を決定して前記出力バッファ部の閾値を変更する閾値制御部とを備えたことを特徴とする。
【0015】
請求項5記載の発明は、前記遅延及び揺らぎ測定部が、閾値変更タイミングを通知する閾値変更タイマー部と、前記閾値変更タイマー部から通知されたタイミングで前記入力バッファ部に入力される高品質ATMセルの到着間隔を監視する遅延及び揺らぎ監視部と、前記到着間隔から揺らぎ値及び遅延値を算出する遅延及び揺らぎ値算出部と、前記揺らぎ値及び前記遅延値を予め設定された許容揺らぎ値及び許容遅延値と各々比較して前記揺らぎ値または前記遅延値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号を出力する遅延及び揺らぎ値比較部とを備えたことを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明にかかるバックプレッシャ閾値自動変更方式の実施形態の構成を示すブロック図である。図1を参照すると本発明の実施形態は、入力バッファ部1と、ATMスイッチ部2と、出力バッファ部3と、揺らぎ測定部4と、閾値制御部5と、回線出力部6とを備える。
【0017】
入力バッファ部1は、サービスクラス毎に入力セルを一時的に蓄積し、ATMスイッチ部2に出力する。また出力バッファ部3からバックプレッシャ要求を受信すると、低品質ATMセルの送出を抑制し、低品質ATMセル用入力バッファが満杯になると低品質ATMセルを廃棄する。
【0018】
ATMスイッチ部2は、入力バッファ部1と出力バッファ部3の間に接続され、セルの交換接続を行う。通常、ATMスイッチ部2には回線セル入力100からセルが入力され、出力バッファ入力線110を通り、出力バッファ部3へと蓄積される。出力バッファ部3から出力したセルは、出力バッファ出力線150から回線出力部6を経由して出力される。
【0019】
出力バッファ部3は、ATMスイッチ部2から出力されたセルを一時的に蓄積し、回線出力部6を介して回線に出力する。出力バッファ部3が蓄積できるセル数は、キュー長閾値として予め設定されており、セル蓄積量が閾値を超えると入力バッファ部1に対してセル送出を抑制するバックプレッシャを発生する。なお、キュー長閾値は外部から変更することができる。また出力バッファ部3は、受信したセルのサービスクラスを示すサービスクラス通知信号120を揺らぎ測定部4に出力する。
【0020】
揺らぎ測定部4は、出力バッファ部3から受信したサービスクラス通知信号120から、所定のタイミングで高品質ATMセルの揺らぎの測定を行い、測定値が許容範囲外の時に閾値変更要求信号130を出力する。
【0021】
ここにおいて、サービスクラスとはパス毎に決定されるトラヒックタイプを指し、本実施形態では輻輳時に優先度の高い高品質ATMセルと優先度の低い低品質ATMセルの2つのクラスで説明する。なお、本発明におけるサービスクラスは2つとは限らず、2つ以上の複数有することも可能である。
【0022】
閾値制御部5は、揺らぎ測定部4から閾値変更要求信号130を受信すると、適切なキュー長閾値を決定して閾値変更信号140を出力バッファ部3に出力する。
【0023】
図2は図1における揺らぎ測定部4の内部構成を示すブロック図である。
図2を参照すると、揺らぎ測定部4は、閾値変更タイマー機能41と、揺らぎ監視機能42と、揺らぎ値算出機能43と、最大許容揺らぎ値記憶機能44と、最小許容揺らぎ値記憶機能45と、揺らぎ値比較機能46とを備える。
【0024】
閾値変更タイマー機能41は、揺らぎ監視機能42に接続され、閾値変更の実行タイミングを示す監視タイミング通知信号を出力する。閾値変更タイマー機能41には予めタイマー値が設定されており、このタイマー値に基づいて監視タイミング通知信号が出力される。タイマー値の設定例としては、システム起動初期時のみや一定サイクル毎の設定が挙げられる。
【0025】
揺らぎ監視機能42は、閾値変更タイマー機能41から監視タイミング通知信号が通知されると、サービスクラス通知信号120から高品質ATMセルの到着間隔を監視し、その監視結果を揺らぎ値算出機能43に出力する。揺らぎ値算出機能43は、揺らぎ監視機能42から受信した監視結果から高品質ATMセルの揺らぎ値を算出して揺らぎ値比較機能46に出力する。
【0026】
最大許容揺らぎ値記憶機能44は、揺らぎ値比較機能46に接続されており、高品質ATMセルの最大許容揺らぎ値が予め記憶されている。最大揺らぎ値とはセルの欠落が生じない範囲でとりうる最大の揺らぎ値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはVPI/VCI毎の設定も可能である。
【0027】
最小許容揺らぎ値記憶機能45は、揺らぎ値比較機能46に接続されており、高品質ATMセルの最小許容揺らぎ値が予め記憶されている。最小許容揺らぎ値とは出力回線側の許容最大速度を超えない範囲でとりうる最小の揺らぎ値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはVPI/VCI毎の設定も可能である。
【0028】
揺らぎ値比較機能46は、揺らぎ値算出機能43から受信した揺らぎ値が許容範囲内であるか判定を行い、許容範囲外の時は閾値制御部5に対して閾値変更要求信号130を出力する。また判定時の上限値及び下限値は、最大許容揺らぎ値記憶機能44に記憶された最大許容値と最小許容揺らぎ値記憶機能45に記憶された最小許容値を使用する。
【0029】
図3は図1における閾値制御部5の内部構成を示すブロック図である。
図3を参照すると、閾値制御部5は、閾値決定機能51と、閾値増加値記憶機能52と、閾値減少値記憶機能53と、閾値変更機能54とを備える。
【0030】
閾値決定機能51は、閾値変更要求信号130を受信すると揺らぎ測定値が許容範囲を上回っているのか、下回っているのかを判断して閾値の減少または増加を行う。閾値増加値記憶機能52は、閾値決定機能51に接続され、閾値決定機能51が閾値を増加する際の増加量が記憶されている。閾値減少値記憶機能53は、閾値決定機能51に接続され、閾値決定機能51が閾値を減少する際の減少量が記憶されている。
【0031】
閾値変更機能54は、閾値決定機能51で確定した閾値を受信し、出力バッファ部3へバックプレッシャの閾値変更処理手続きを送出して、出力バッファ部3の閾値を閾値決定機能51から受信した閾値に変更する。
【0032】
次に図1の実施形態の動作について詳細に説明する。
入力セルは、一旦、入力バッファ部1に蓄積された後、入力バッファ出力線100を介してATMスイッチ部2に出力される。ATMスイッチ部2は入力したセルの交換処理を行い、所定の出力バッファ部3に出力する。出力バッファ部3は、受信したセルを一時的に蓄積し、その後、回線出力部6を介してセルを出力する。
一方、揺らぎ測定部4は、常に出力バッファ部3からサービスクラス通知信号120を受信しており、以下の手順で揺らぎの測定を行う。
【0033】
図4は、揺らぎ測定部4における揺らぎの測定手順を示すフローチャート図である。
揺らぎ測定部4は、閾値変更タイマー機能41で予め設定されたタイマー値から閾値を変更するタイミングであると判断した場合(例えばタイマー値オーバーフロー)に、揺らぎ監視機能42に対して監視タイミング信号を出力する(ステップ401)。揺らぎ監視機能42は監視タイミング信号を受信すると、直ちに高品質ATMセルの到着間隔をVPI/VCI毎に監視し、その結果を揺らぎ値算出機能43へ出力する(ステップ402)。
【0034】
揺らぎ値算出機能43は揺らぎ監視機能42から到着間隔の結果を受信すると、各高品質ATMセル毎に揺らぎ値を算出し、揺らぎ値比較機能46へ出力する(ステップ403)。揺らぎ値比較機能46は、揺らぎ値算出機能43からの入力値と最大許容揺らぎ値記憶機能44および最小許容揺らぎ値記憶機能45からの入力値とを比較して、測定値がこの許容範囲内に収まっているか否かを判断する(ステップ404)。
【0035】
そして範囲内であれば高品質ATMセルの揺らぎに問題はないと判断して、揺らぎ測定部4は監視タイミング信号受信待ちの状態となる。また、範囲外であれば揺らぎ値比較機能46は閾値制御部5に対して閾値変更要求信号130を送出する(ステップ405)。閾値変更要求信号130を受信した閾値制御部5は、以下の手順で閾値の変更を行う。
【0036】
図5は、閾値制御部5における閾値の変更手順を示すフローチャート図である。
閾値制御部5は、閾値決定機能51で閾値変更要求信号130を受信すると(ステップ501)、揺らぎ測定値が許容範囲を上回っているか否かを判断する(ステップ502)。閾値決定機能51において、許容範囲を上回っていると判断された場合は、閾値減少値記憶機能53から受信した閾値の減少量と出力バッファ部3に設定されている閾値とから変更すべき閾値が決定される(ステップ503)。
【0037】
また閾値決定機能51において、許容範囲を下回っていると判断された場合には、閾値増加値記憶機能52から受信した閾値の増加量と出力バッファ部3に設定されている閾値とから変更すべき閾値が決定される(ステップ504)。閾値変更機能54は閾値決定機能51で確定した閾値を基に、出力バッファ部3へ閾値変更処理手続きを送出して、出力バッファ部3の閾値変更を実施する(ステップ505)。
【0038】
これら一連の手順で出力バッファ部3の閾値変更が行われ、閾値が減少した場合はバックプレッシャが起こりやすくなり、低品質ATMセルを抑制し、高品質ATMセルの揺らぎを低下させることが可能となる。また抑制された低品質ATMセルは、低品質ATMセル用バッファ部が満杯になった時点で低品質ATMセルの廃棄を開始する。一方、閾値が増加するとバックプレッシャが起こりにくくなり、低品質ATMセルの品質が向上する。
【0039】
以上、説明したように第1の実施形態では、揺らぎを監視して出力バッファ部3の閾値を最適化することによって、高品質ATMセルの品質を確保しつつ、低品質ATMセルの遅延あるいは廃棄処理を減少するさせることが可能となる。
【0040】
次に本発明の第2の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
図6は第2の実施形態の構成を示すブロック図で、第1の実施形態における揺らぎ測定部4に代えて遅延及び揺らぎ測定部7を備えたことを特徴とする。遅延及び揺らぎ測定部7は、揺らぎ値の測定に加えて遅延値の測定も行う。なお図6において、図1に示す符号と同一符号は同一機能を有するものとして詳細の説明を省略する。
【0041】
図7は遅延及び揺らぎ測定部7の内部構成を示すブロック図である。図7を参照すると、遅延及び揺らぎ測定部7は、遅延及び揺らぎ監視機能71と、閾値変更タイマー機能41と、遅延及び揺らぎ値算出機能72と、最大許容揺らぎ値記憶機能44と、最小許容揺らぎ値記憶機能45と、最大許容遅延値記憶機能73と、遅延及び揺らぎ値比較機能74とを備える。なお、図2に示す符号と同一符号は同一機能を有するものとして詳細を説明する。
【0042】
遅延及び揺らぎ監視機能71は、閾値変更タイマー機能41から監視タイミング通知信号が通知されると、サービスクラス通知信号120から高品質ATMセルの到着間隔を監視し、その監視結果を遅延及び揺らぎ値算出機能72に出力する。遅延及び揺らぎ値算出機能72は、遅延及び揺らぎ監視機能71から受信した監視結果から高品質ATMセルの遅延値及び揺らぎ値を算出して遅延及び揺らぎ値比較機能74に出力する。
【0043】
最大許容遅延値記憶機能73は、遅延及び揺らぎ値比較機能74に接続され、高品質ATMセルの最大許容遅延値が予め記憶されている。最大許容遅延値とはエコーが生じない範囲でとりうる最大の遅延値のことで、この値は外部から変更することができる。また変更の際にはVPI/VCI毎の設定も可能である。
【0044】
遅延及び揺らぎ値比較機能74は、遅延及び揺らぎ値算出機能72から受信した遅延値及び揺らぎ値が許容範囲内であるか判定を行い、許容範囲外の時は閾値制御部5に対して閾値変更要求信号130を出力する。また許容範囲の上限値及び下限値は、最大許容揺らぎ値記憶機能44に記憶された最大許容値と最小許容揺らぎ値記憶機能45に記憶された最小許容値を使用し、遅延値判定時の上限値は最大許容遅延値記憶機能73に記憶された最大遅延値を使用する。
【0045】
次に第2の実施形態の動作について図面を参照して詳細に説明する。なお、第2の実施形態は、第1の実施形態に対して遅延及び揺らぎ測定部7及び閾値制御部5の動作の一部が異なるだけなので、これらのポイントに絞って説明し、他の部分については説明を省略する。
【0046】
遅延及び揺らぎ測定部7は、常に出力バッファ部3からサービスクラス通知信号120を受信しており、以下の手順で遅延及び揺らぎの測定を行う。
【0047】
図8は遅延及び揺らぎ測定部7における遅延及び揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
遅延及び揺らぎ測定部7は、閾値変更タイマー機能41で予め設定されたタイマー値から閾値を変更するタイミングであると判断した場合(例えばタイマー値オーバーフロー)に、遅延及び揺らぎ監視機能71に対して監視タイミング信号を出力する(ステップ801)。遅延及び揺らぎ監視機能71は監視タイミング信号を受信すると、直ちに高品質ATMセルの到着間隔をVPI/VCI毎に監視し、その結果を遅延及び揺らぎ値算出機能72へ出力する(ステップ802)。
【0048】
遅延及び揺らぎ値算出機能72は遅延及び揺らぎ監視機能71から到着間隔の結果を受信すると、各高品質ATMセル毎に遅延値及び揺らぎ値を算出し、遅延及び揺らぎ値比較機能74へ出力する(ステップ803)。遅延及び揺らぎ値比較機能74は、遅延及び揺らぎ値算出機能72からの入力値と最大許容揺らぎ値記憶機能44及び最小許容揺らぎ値記憶機能45からの入力値とを比較して、測定値がこの許容範囲内に収まっているか否かを判断する(ステップ804)。
そして、範囲外であれば遅延及び揺らぎ値比較機能74は閾値制御部5に対して閾値変更要求信号130を送出する(ステップ806)。
【0049】
一方、範囲内であれば次に遅延及び揺らぎ値算出機能72からの遅延値と最大許容遅延値記憶機能73からの入力値を比較して、条件に適合しているか否かを判断する(ステップ805)。そして適合していなければ同じく閾値制御装置4に対して閾値変更要求信号130を送出する(ステップ806)。また条件に適合している場合は高品質ATMセルの遅延及び揺らぎに問題はないと判断する。閾値変更要求信号130を受信した閾値制御部5は、図9のフローチャート図に示した手順に従って閾値の変更を行う。
【0050】
以上、説明したように第2の実施形態では、揺らぎ及び遅延を監視して出力バッファ部3の閾値を最適化することによって、高品質ATMセルの品質を確保しつつ、低品質ATMセルの遅延あるいは廃棄処理を減少するさせることが可能となる。
【0051】
【発明の効果】
第1の効果は、低品質ATMセルの廃棄率を低下しつつ、高品質ATMセルの品質を確保することが可能になるということである。その理由は、高品質ATMの揺らぎが生じた際に、適正なバックプレッシャ閾値を算出して変更するからである。第2の効果は、低品質ATMセルの廃棄手段が不要なことである。その理由は、入力バッファ部が満杯になるとセルの廃棄が行われるからである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図2】揺らぎ測定部4の内部構成を示すブロック図である。
【図3】閾値制御部5の内部構成を示すブロック図である。
【図4】第1の実施形態の揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
【図5】第1の実施形態の閾値変更手順を示すフローチャート図である。
【図6】本発明の第2の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図7】遅延及び揺らぎ測定部7の内部構成を示すブロック図である。
【図8】第2の実施形態の遅延及び揺らぎ測定手順を示すフローチャート図である。
【図9】第2の実施形態の閾値変更手順を示すフローチャート図である。
【図10】従来技術の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 入力バッファ部
2 ATMスイッチ部
3 出力バッファ部
4 揺らぎ測定部
5 閾値制御部
6 回線出力部
7 遅延及び揺らぎ測定部
41 閾値変更タイマー機能
42 揺らぎ監視機能
43 揺らぎ値算出機能
44 最大許容揺らぎ値記憶機能
45 最小許容揺らぎ値記憶機能
46 揺らぎ値比較機能
51 閾値決定機能
52 閾値増加値記憶機能
53 閾値減少値記憶機能
54 閾値変更機能
71 遅延及び揺らぎ監視機能
72 遅延及び揺らぎ値算出機能
73 最大許容遅延値記憶機能
74 遅延及び揺らぎ値比較機能[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a back pressure threshold automatic change system, and more particularly to a back pressure threshold automatic change system of an ATM switching system.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, this type of back pressure threshold automatic change method is used for the purpose of reducing discard of high-quality ATM cells, as in, for example, a buffer threshold control system for an ATM network described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-244858. .
[0003]
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a conventional back pressure threshold automatic changing method. Referring to FIG. 10, the conventional back pressure threshold automatic change method is different from the
[0004]
Next, the operation will be described. An ATM cell and a signal message are received from the input line. In the
[0005]
The
[0006]
Thus, when a high-quality ATM cell arrives, the cell is stored as long as there is a vacancy in the
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
In the above-described prior art, only the reduction of discard of high-quality ATM cells is taken into consideration, so that there are problems such as cell loss due to delay and fluctuation of high-quality ATM cells, PCR (PEAK CELL RATE) excess, echo, and the like. was there.
[0008]
Further, the conventional technique has a problem that a cell discarding means must be newly provided in order to discard a low-quality ATM cell.
[0009]
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a back pressure threshold automatic setting method capable of reducing delay and fluctuation of a high-quality ATM cell.
[0010]
Another object of the present invention is to provide a back pressure threshold automatic setting method capable of discarding low-quality ATM cells without using cell discarding means.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to
[0012]
The invention according to
[0013]
According to a third aspect of the present invention, the threshold control unit determines a new threshold by receiving the threshold change request signal, and a threshold for setting the threshold determined by the threshold determination unit in the output buffer unit And a change function.
[0014]
The invention according to
[0015]
According to a fifth aspect of the present invention, the delay and fluctuation measurement unit is a threshold change timer unit that notifies a threshold change timing, and a high-quality ATM that is input to the input buffer unit at a timing notified from the threshold change timer unit. A delay and fluctuation monitoring unit for monitoring the arrival interval of cells; a delay and fluctuation value calculating unit for calculating a fluctuation value and a delay value from the arrival interval; an allowable fluctuation value in which the fluctuation value and the delay value are set in advance; and And a delay and fluctuation value comparison unit that outputs a threshold value change request signal when the fluctuation value or the delay value is outside the allowable range in comparison with an allowable delay value.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of an automatic back pressure threshold change system according to the present invention. Referring to FIG. 1, the embodiment of the present invention includes an
[0017]
The
[0018]
The
[0019]
The
[0020]
The
[0021]
Here, the service class refers to a traffic type determined for each path, and in the present embodiment, two classes of a high-quality ATM cell having a high priority and a low-quality ATM cell having a low priority at the time of congestion will be described. Note that the number of service classes in the present invention is not limited to two, and two or more service classes may be provided.
[0022]
Upon receiving the threshold change request signal 130 from the
[0023]
FIG. 2 is a block diagram showing an internal configuration of the
Referring to FIG. 2, the
[0024]
The threshold
[0025]
When the monitoring timing notification signal is notified from the threshold
[0026]
The maximum allowable fluctuation value storage function 44 is connected to the fluctuation value comparison function 46, and the maximum allowable fluctuation value of the high-quality ATM cell is stored in advance. The maximum fluctuation value is the maximum fluctuation value that can be taken in a range where no cell is lost. This value can be changed from the outside. In addition, for each change, setting for each VPI / VCI is also possible.
[0027]
The minimum allowable fluctuation value storage function 45 is connected to the fluctuation value comparison function 46, and the minimum allowable fluctuation value of the high-quality ATM cell is stored in advance. The minimum allowable fluctuation value is the minimum fluctuation value that can be taken within the range not exceeding the allowable maximum speed on the output line side, and this value can be changed from the outside. In addition, for each change, setting for each VPI / VCI is also possible.
[0028]
The fluctuation value comparison function 46 determines whether or not the fluctuation value received from the fluctuation value calculation function 43 is within the allowable range, and outputs a threshold value
[0029]
FIG. 3 is a block diagram showing the internal configuration of the
Referring to FIG. 3, the
[0030]
When the threshold
[0031]
The threshold
[0032]
Next, the operation of the embodiment of FIG. 1 will be described in detail.
The input cell is temporarily stored in the
On the other hand, the
[0033]
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for measuring fluctuations in the
The
[0034]
When the fluctuation value calculation function 43 receives the result of the arrival interval from the fluctuation monitoring function 42, it calculates a fluctuation value for each high-quality ATM cell and outputs it to the fluctuation value comparison function 46 (step 403). The fluctuation value comparison function 46 compares the input value from the fluctuation value calculation function 43 with the input values from the maximum allowable fluctuation value storage function 44 and the minimum allowable fluctuation value storage function 45, and the measured value falls within this allowable range. It is determined whether it is within the range (step 404).
[0035]
If it is within the range, it is determined that there is no problem in the fluctuation of the high-quality ATM cell, and the
[0036]
FIG. 5 is a flowchart showing a threshold changing procedure in the
When the threshold
[0037]
If the threshold
[0038]
When the threshold value of the
[0039]
As described above, in the first embodiment, by monitoring the fluctuation and optimizing the threshold value of the
[0040]
Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of the second embodiment, and is characterized in that a delay and fluctuation measuring unit 7 is provided instead of the
[0041]
FIG. 7 is a block diagram showing an internal configuration of the delay and fluctuation measuring unit 7. Referring to FIG. 7, the delay and fluctuation measuring unit 7 includes a delay and
[0042]
When the monitoring timing notification signal is notified from the threshold
[0043]
The maximum allowable delay
[0044]
The delay and fluctuation
[0045]
Next, the operation of the second embodiment will be described in detail with reference to the drawings. Note that the second embodiment differs from the first embodiment only in some of the operations of the delay and fluctuation measurement unit 7 and the
[0046]
The delay and fluctuation measurement unit 7 always receives the service
[0047]
FIG. 8 is a flowchart showing a delay and fluctuation measurement procedure in the delay and fluctuation measurement unit 7.
The delay and fluctuation measuring unit 7 monitors the delay and
[0048]
When the delay and fluctuation
If it is out of the range, the delay and fluctuation
[0049]
On the other hand, if it is within the range, the delay value from the delay and fluctuation
[0050]
As described above, in the second embodiment, the delay of the low quality ATM cell is ensured while ensuring the quality of the high quality ATM cell by monitoring the fluctuation and the delay and optimizing the threshold value of the
[0051]
【The invention's effect】
The first effect is that it is possible to ensure the quality of high-quality ATM cells while reducing the discard rate of low-quality ATM cells. The reason is that an appropriate back pressure threshold value is calculated and changed when fluctuation of the high quality ATM occurs. The second effect is that a means for discarding low-quality ATM cells is unnecessary. The reason is that cells are discarded when the input buffer is full.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a first exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing an internal configuration of a
FIG. 3 is a block diagram showing an internal configuration of a
FIG. 4 is a flowchart showing a fluctuation measurement procedure according to the first embodiment.
FIG. 5 is a flowchart showing a threshold value changing procedure according to the first embodiment.
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a second exemplary embodiment of the present invention.
7 is a block diagram showing an internal configuration of a delay and fluctuation measurement unit 7. FIG.
FIG. 8 is a flowchart showing a delay and fluctuation measurement procedure according to the second embodiment.
FIG. 9 is a flowchart showing a threshold value changing procedure according to the second embodiment.
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a conventional technique.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (5)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000226255A JP3652966B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Back pressure threshold automatic change method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000226255A JP3652966B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Back pressure threshold automatic change method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002044098A JP2002044098A (en) | 2002-02-08 |
| JP3652966B2 true JP3652966B2 (en) | 2005-05-25 |
Family
ID=18719901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000226255A Expired - Lifetime JP3652966B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Back pressure threshold automatic change method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3652966B2 (en) |
-
2000
- 2000-07-27 JP JP2000226255A patent/JP3652966B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002044098A (en) | 2002-02-08 |
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