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JP3661400B2 - Electrode panel pressure resistance test method and apparatus - Google Patents
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JP3661400B2 - Electrode panel pressure resistance test method and apparatus - Google Patents

Electrode panel pressure resistance test method and apparatus Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電極パネルの試験方法および装置に関し、詳しくは、PDP(プラズマディスプレイパネル)に利用される電極パネルの耐電圧性能を試験する方法と、そのような試験方法を実施するための装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
PDPは、壁掛式TVなどに利用される画像表示装置である。マトリックス状に配置された小さなセル内でプラズマ放電を起こして、セル内に配置された蛍光体を発光させ、各セルの光点の集合として画像を形成する。色の異なる蛍光体を備えたセルを組み合わせることで、カラー画像を構成できる。
【0003】
各セルにプラズマ放電を起こさせるための電圧を印加するには、セルの両側に互いに交差する多数の線状電極を配置しておくことで、両側の線状電極の特定の交差点に配置されたセルに電圧を印加する。
PDPを製造する方法として、セルおよび一方の電極を備えたベースパネルと、他方の電極を備えた透明な前面パネルとをそれぞれ作製したあと、両方のパネルを一体に接合する方法がある。この場合、ベースパネルおよび前面パネルが作製された段階で、それぞれの品質性能を検査して、良品だけをPDPの組み立てに用いるようにしたり、不良品は補修を行うようにしたりすれば、生産性あるいは品質性能の向上が図れ、製品歩留りを高めることもできる。
【0004】
前面パネルの品質検査試験の一つとして耐圧試験がある。前面パネルは、表面に形成された電極を誘電体層で覆っている。誘電体層は、材料液を塗工して形成される。この誘電体層は、十分な厚みを有し、微細な孔などの欠陥を有しないものでなければならない。前記したセルに電圧が印加されたときに上記誘電体層が印加電圧に耐えることができなければ放電破壊が生じてしまう。
【0005】
そこで、前面パネルの誘電体層が、要求される耐圧特性を有しているか否かを予め検査しておくことが要求される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記耐圧特性を検査するには、誘電体層の厚みや孔の有無、膜特性などを直接に測定することもできるが、前面パネルの全体にわたって形成された誘電体層に対して上記測定を行うのは大変に面倒である。また、例えば、誘電体層の厚みとPDPに使用したときの機能とは直接には関係がないので、上記試験だけでは、PDPとしての使用に適しているか否かを正確に判定することは困難である。
【0007】
本発明の課題は、前記したPDPの前面パネルに対する耐圧試験を、簡単かつ正確に行うことである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る電極パネルの試験方法は、基板の表面に多数の放電電極が配置され放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネルに対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する方法であって、以下の工程を含む。
(a) 電極パネルの誘電体層表面に放電用ガス雰囲気を形成する工程。
【0009】
(b) 放電用ガス雰囲気を介し誘電体層との間に間隙をあけて試験電極を配置する工程。
(c) 試験電極と電極パネルの放電電極との間に電圧を印加する工程。
各構成要件について具体的に説明する。
〔電極パネル〕
PDPはプラズマパネルディスプレイの略称であり、本発明におけるPDPの基本的な構造は通常のPDPと同様でよい。PDPの構造には、AC型とDC型とがあるが、本発明はAC型PDPに好ましく適用される。
【0010】
PDPの具体的構造としては、蛍光体が収容されるセルおよびセルの背面側に互いに平行に配置された多数の線状をなす電極とを備えたベースパネルと、前記ベースパネルの電極と交差する方向に多数の線状をなす電極を互いに平行に備えた前面パネルとで構成される。
前面パネルは、ガラス等からなる透明な基板と、基板の表面に配置され、これも透明な放電用の電極と、この放電電極のうち少なくとも前記セルに配置される部分の全体を覆う透明な誘電体層とを備える。したがって、前面パネルは、ほぼ全体が実質的に透明であり、前記セルにおける発光が前面パネルを通過し、外部に画像として現出される。
【0011】
なお、放電電極は、前面パネルの基板の表面のうち、前記セルに対応する個所に多数の線状あるいは帯状をなす電極が平行に並んで配置される。この平行部分の電極は、誘電体層で確実に覆っておく必要がある。セルの外側になる個所には、放電電極を外部の電圧印加回路に接続するための接続部を備え、この接続部は誘電体層から露出していてもよい。接続部は、セルに対応する平行な線状部分と電気的に接続されていれば、その配置形状は自由に設定できる。
【0012】
電極パネルの耐圧試験は、放電電極のうち、前記セルに対応して誘電体層で覆われた部分に対して行い、この領域が試験領域となる。
〔放電用ガス〕
PDPとして使用する際にセルに充填される放電用ガスと同様のガスが用いられる。具体的には、Ne やHe 、N2 などを単独あるいは混合して用いることができる。
【0013】
放電用ガス雰囲気は、電極パネルのうち、耐圧試験を行う部分、あるいは、耐圧試験で電圧が印加される部分を含む範囲に形成する必要がある。放電用ガス雰囲気を、電極パネルの全体に一様に形成しておいてもよいし、試験の進行に伴って必要な個所のみに放電用ガス雰囲気を形成するようにしてもよい。
放電用ガスを蓄えたガスボンベのガス供給源から配管を経て、所定の領域に放電用ガスを吹き出せば、その領域に放電用ガス雰囲気が形成される。
〔試験電極〕
試験電極は、放電用ガス雰囲気を介して誘電体層との間に間隙をあけて放電電極と対向するように配置される。
【0014】
試験電極の材料は、ステンレス鋼など通常用いられている放電用の電極材料が使用できる。
試験電極と誘電体層との間隔は、PDPにおけるベースパネルの電極と前面パネルの誘電体層との間隔と同程度に設定しておくことができる。
〔電圧印加〕
試験電極と放電電極との間に電圧を印加するには、それぞれの電極を電源と接続する。
【0015】
印加する電圧は、PDPの使用時に加わる電圧、あるいは、パネルの誘電体層が耐える必要のある電圧など、試験の目的に合わせて設定される。具体的には、数百Vから数千Vの範囲で設定できる。
〔試験腕〕
試験腕は、電極パネルとの間に間隙をあけ電極パネルを横断して配置され、電極パネルの表面に沿って平行移動する。この試験腕の軸方向に沿って試験電極および放電用ガスの吹き出し手段を備えておく。
【0016】
試験腕の軸方向に沿った帯状の領域に放電用ガス雰囲気を形成し、この放電用ガス雰囲気中で試験電極と電極パネルの放電電極との間に電圧を印加して、その部分の誘電体層の耐圧試験を行うことができる。試験腕を電極パネルに対して平行移動させれば、電極パネルの全体に順次耐圧試験を行うことができる。
ガス吹き出し手段として、帯状に放電用ガスを吹き出すガス吹出口を、試験腕の下面などに備えておけば、帯状の領域に放電用ガス雰囲気を形成することができる。試験腕が平行移動すれば、帯状の放電用ガス雰囲気が電極パネルの全体に順次形成される。
【0017】
平行移動する試験腕に対して、電極パネルはパネル保持手段で定位置に保持しておく。具体的には、機械的に挟持機構や真空吸着機構など、通常の試験装置における板材の保持手段が採用できる。
上記のような試験腕を用いれば、電極パネルの全面に放電用ガス雰囲気を形成せず、比較的に狭い帯状領域だけに放電用ガス雰囲気を形成すればよく、また、線状または帯状の試験電極だけに電圧を印加すればよい。その結果、放電用ガスの使用量を削減でき、放電に必要な電力の消費も少なくて済む。
【0018】
特に、不良個所に過大な電流が流れて放電破壊を起こす問題が防げる。これは、電極パネルの誘電体層の不良個所に電圧が印加されると、それまでは試験電極の全体と電極パネルの放電電極との間を流れていた電流が、不良個所だけに集中的に流れ、この集中的な電流で放電破壊を起こす。試験電極と放電電極との対向面積が広いほど大きな電流を流しておく必要があるから、不良個所に集中的に流れる電流の値も大きくなり、放電電極などの電極パネルに放電破壊が生じる可能性が高くなる。しかし、前記した線状あるいは帯状の試験電極であれば、その放電に関与する面積はわずかであるから、試験時に流す電流が少なくて済み、不良個所において集中する電流値も小さくなり、過大な電流による放電破壊が生じ難い。
【0019】
試験腕で電極パネルの全体を走査すれば、電極パネルの全面に存在する不良個所が全て発見できるので、試験時間は短くて済む。
〔電圧印加手段〕
パネル保持手段で保持された電極パネルの放電電極に電圧を印加するには、以下の電圧印加手段が採用できる。
【0020】
電極パネルの放電電極の接続部に当接され電圧が印加される接触片と、接触片を支持し、接触片を電極パネルの外側から接続部の上方位置へと進退させる進退機構と、接触片を接続部に圧接する圧接機構とを有する。
接触片は、銅やステンレス鋼などの導体材料からなり、接続部の配置形状に対応する配置形状を有する。圧接されたときにある程度変形して接続部との電気的接触を良好にできるものが好ましい。
【0021】
接触片は、多数の放電電極毎に配置された多数の接続部に対して、個々の接続部に別々の接触片を当接させてもよいし、複数の接続部に同じ接触片を当接させて同時に電圧を印加することもできる。電極パネルに有する全ての接続部に同時に接触片を当接させて電圧を印加することもできる。
進退機構は、電磁シリンダやカム機構、ラックギア機構など、通常の機械装置における進退作動手段が適用される。
【0022】
圧接機構は、カムやギアなどの各種動作機構を組み合わせて、接触片を接続部に押し当てることができれば、具体的な機構については通常の電気装置における電極の圧接機構が使用できる。ゴムなどの弾性材料で接触片を接続部に圧接すれば、適度な圧力で確実に圧接させることができる。
〔パネル載置台〕
電極パネルを面状の試験電極を備えたパネル載置台に装着して試験を行うことができる。
【0023】
パネル載置台には、電極パネルの装着個所の全面にわたって面状の試験電極が配置される。電極パネルは、その誘電体層を有する面を、面状の試験電極との間に間隙をあけて対面させて装着される。
電極パネルと面状の試験電極との間に放電用ガス雰囲気を形成する。パネル載置台の表面に放電用ガスの吹出口を設けることができる。
【0024】
電極パネルと試験電極との間の間隙を形成するために、間隙形成枠が用いられる。間隙形成枠は、合成樹脂などの絶縁材料からなり、電極パネルの外周辺に沿って当接する位置に配置され、電極パネルと試験電極との隙間を埋める。間隙形成枠を絶縁テープで構成することができる。間隙形成枠が存在すれば、電極パネルと試験電極の間隙を一定に維持できるととせに、間隙形成枠の内側に放電用ガスを確実に溜めることができる。
【0025】
パネル載置台の試験電極と、パネル載置台に載せられた電極パネルの放電電極との間で電圧を印加する電圧印加手段を備えておく。
上記のようなパネル載置台を用いて耐圧試験を行うには、パネル載置台に装着した電極パネルと試験電極との間に放電用ガスを供給したあと、電極パネルの放電電極と試験電極との間に所定の試験電圧を印加すればよい。
【0026】
電極パネルの誘電体層に不良個所があれば、不良個所において集中的な放電が生じて発光するので、不良個所の存在が判る。
この方法は、比較的構造の簡単なパネル載置台を使用するだけで、簡単に耐圧試験が行える。
但し、上記方法では、複数個所に不良がある場合にも、最も放電が生じ易い不良個所だけに集中放電および発光が生じるので、その他の不良個所が発見し難い。
【0027】
そこで、次に説明する絶縁片を用いる方法が適用できる。
〔絶縁片〕
絶縁片は、合成樹脂フィルムなどの絶縁材料からなり、電極パネルの誘電体層に生じる1個の欠陥を覆える程度の面積および形状を有する。通常は、数mm角程度の大きさでよい。絶縁片の片面に粘着層を形成しておけば、電極パネルへの貼着作業が行い易い。
【0028】
前記した電極パネルの全体と対面する面状の試験電極を用い、電極パネルと試験電極との間に電圧を印加して耐圧試験を行う際に、誘電体層の不良個所が発見されると、その不良個所に絶縁片を貼着してから、再び上記の電圧を印加する工程を繰り返す。
不良個所に絶縁片を貼着すれば、その部分で放電破壊が生じたり集中放電が起きることは無くなる。この状態で、再び電圧の印加を行えば、別の位置に存在する不良個所で集中放電および発光が生じる。発見された不良個所に順次絶縁片を貼着して、電圧の印加を繰り返せば、電極パネルの全体に存在する不良個所の位置を検知することができる。
【0029】
電極パネルに絶縁片が貼着された個所が不良個所であり、不良個所の絶縁片を剥がして、補修作業を行うことができる。
【0030】
【発明の実施の形態】
〔PDPの構造〕
試験に供する電極パネルを含むPDPの概略構造について説明する。
図6に示すように、PDPは、前面パネル20とベースパネル10とを有する。
【0031】
ベースパネル10は、基板12の表面に多数の線状をなす電極13が間隔をあて平行に並んで配置されている。図6では、紙面を貫く方向に各電極13が延びている。電極13は誘電体層14で覆われ、その上に多数のセル空間17が設けられた隔壁16が配置されている。隔壁16で区切られた各セル空間17には蛍光体層18が形成されている。
【0032】
前面パネル20は、ベースパネル10の隔壁16の上に配置される。透明基板22の表面に放電電極24が形成され、放電電極24を誘電体層26が覆っている。誘電体層26がベースパネル10のセル空間17に対面している。
図7および図8に示すように、前面パネル20の放電電極24は、多数の線状をなす放電電極24が間隔をあけて平行に配置されている。この放電電極24が延びる方向は、PDPを組み立てたときに、前記したベースパネル10の電極13が延びる方向とは交差する方向に設定されている。放電電極24の平行部分は誘電体層26で完全に覆われている。放電電極24の端部は誘電体層26の外側まで延びており、基板22の外周辺に沿って配置された短冊状の接続部25に接続されている。
【0033】
接続部25は、各放電電極24毎に設けられているとともに、平行に並んだ放電電極24…は、交互に左右の外側に配置された接続部25に接続されている。放電電極24…と接続部25とを接続する配線構造は平行ではなくそれぞれが異なる角度で傾斜している。基板22の両側の外周辺に配置された接続部25が、交互に中央の放電電極24…に接続されていることになる。基板22のそれぞれの外周辺で、複数の接続部25…がひとまとまりになって隣接して配置され、このような接続部25…の集まりすなわちブロックが、一定間隔毎に配置されている。
【0034】
上記した、基板22と放電電極24と誘電体層26を備えた前面パネルすなわち電極パネル20に対して耐圧試験を行う。
〔第1の実施形態〕
図1〜図3に示す試験装置は、試験腕を備えている。
全体構造
試験機本体30には、画面サイズ40インチ相当の電極パネル20を載置する矩形状の支持台32を有する。支持体32の奥側の長手辺に沿って長さ目盛りが表示されたスケール34が配置されている。支持台32の上方に試験腕50が配置される。
【0035】
試験腕50の一端は、支持台32の長手辺の側方で昇降柱62に支持されており、試験腕50を上下に昇降させる。昇降柱62は、支持台32の側方に沿って配置された摺動部64に支持され、支持台32の側方に沿って水平移動する。
その結果、試験腕50は、支持台32に支持された電極パネル20の表面に対して、面と直交する上下方向に移動してその間隙の大きさを調整できる。電極パネル20を上方を横断した状態で表面に沿って平行移動する。なお、電極パネル20に配置された放電電極24の平行部分に対して、試験腕50は各放電電極24を横断する方向に配置され、放電電極24の延びる方向と同じ方向に平行移動することになる。試験腕50の平行移動速度は、5mm/sec〜50mm/sec程度の範囲で調整できる。
【0036】
支持台32の短手辺の外側には、電圧印加部40を備える。電圧印加部40が電極パネル20の放電電極24につながる接続部25に接触することで、放電電極24に電圧を印加することができる。
試験機本体30にはモニタ画面を有する制御盤70を備え、試験腕50や電圧印加部40の作動を含む試験機の動作を制御したり、動作状況を監視したりする。
【0037】
試験腕
図2に詳しく示すように、試験腕50は全体が透明なアクリル樹脂で構成されている。
試験腕50の断面中央にはステンレス板からなり、厚み1mm程度の試験電極80が配置されている。
【0038】
試験電極80を挟んで、試験腕50の中央にはガス室54が配置されている。試験腕50の軸方向の両端で、ガス室54は試験腕50の外壁によって閉塞されている。試験腕50の昇降柱62への支持側で試験腕50の壁面にガス供給孔52が設けられ、図示しない外部のガスタンクあるいはガス配管からガス室54へと放電用ガスが供給される。放電用ガスには、HeとNeの混合ガスが用いられ、ガス供給量は2〜3リットル/分程度である。ガス室54の中央を横断する試験電極80にはガス通過孔82が貫通形成されていて、両側のガス室54を放電用ガスが流通する。
【0039】
ガス室54から試験電極80の両側に沿って狭いガス通過溝55が設けられ、ガス通過溝55の先端は、試験腕50の下端に配置されたガス保持空間56に連通している。ガス保持空間56は、試験電極80の両側にガス通過溝55よりも広い幅で設けられている。
ガス室54からガス通過溝55を経てガス保持空間56に供給された放電用ガスは、ガス保持空間56を充満させたあと、試験腕50の下端と電極パネル20の誘電体層26の表面との間の隙間を通過して、試験腕50の両側から外部に放出される。
【0040】
その結果、試験電極80の下端とその周囲の一定範囲については、放電用ガス雰囲気で覆われることになり、試験電極80と電極パネル20の放電電極24とを、PDPにおけるセル空間と同様の放電雰囲気に維持することができる。
試験電極80と放電電極24とは、配線により電源84に連結される。試験電極80は、試験腕50や昇降柱62を経て試験機本体30に備える電源84に配線接続されている。電源84は、交流0〜24kV程度の範囲で電圧を印加する。
【0041】
電圧印加部
図3に示すように、電極パネル20の放電電極24に連結された接続部25は、支持台32の側方に配置された電圧印加部40を介して前記電源84に接続される。
電圧印加部40は、接続部25の上面に当接し、概略√形に屈曲された銅などの導体材料からなる接触片42を有する。接触片42は図示しない配線を経て前記電源84に接続されている。
【0042】
接触片42は、断面円形の加圧ゴム41を介してシーソー板44に支持されている。シーソー板44は、中央の支持軸43を中心にして前後の両端が上下反対方向に旋回運動を行う。
シーソー板44の後端下面には、水平方向に進退するアクチュエータ45の作動部材49が当接している。作動部材49は自由回転するローラからなる。作動部材49が前進するとシーソー板44を上方に押し上げて旋回させる。シーソー板44が旋回すると、加圧ゴム41および接触片42が下方に移動するので、接触片42を電極パネル20の接続部25に圧接することになる。その結果、接触片42と接続部25との良好な電気接続が達成される。
【0043】
アクチュエータ45およびシーソー板44の全体を支持する摺動台46が、試験機本体30に固定されたアクチュエータ47に進退自在に取り付けられている。
アクチュエータ47を作動させて、摺動台46を進退させると、接触片42が電極パネル20の接続部25の上方に配置したり、接触片42を電極パネル20の外側へと退かせたりすることができる。電極パネル20の取り付けおよび取り外しを行う際には、摺動台46は電極パネル20から離れた後退位置に配置してき、電極パネル20に電圧印加する際には、摺動台46を電極パネル20に近づける。
【0044】
なお、接触片42は、図7に示す電極パネル20の平面形状において、各接続部25毎に別々の接触片42が当接するようになっていてもよいし、隣接して配置された各群の接続部25…を一括して一つの接触片42で接触させてもよい。左右の接続部25、25には、それぞれの側に配置された電圧印加部40の接触片42が接触することになる。
【0045】
試験動作
まず、電極パネル20を試験機本体30の支持台32に載せる。試験腕50を電極パネル20の上方に配置し、電極パネル20の接続部25に電圧印加部40の接触片42を当接させる。
図2に示すように、試験電極80が電極パネル20の誘電体層26よりも少し上方に配置された状態で、試験腕50のガス保持空間56に放電用ガスを吹き出させる。試験電極80と誘電体層26との間隙は1mm前後である。この状態で、試験電極80と放電電極24との間に、所定の試験電圧を印加する。
【0046】
試験電極80と放電電極24の間には一定の弱い放電が生じるが、誘電体層26に孔があいていたり薄くなっていたりすると、その部分で試験電極80と基板放電電極24との間に集中放電が起こる。試験電極80と放電電極24との間に集中放電に伴う局部的な発光現象も生じる。全体が透明な試験腕50を透して、上方から発光を目視することが可能である。また、集中放電が生じると、電源回路における電圧値や電流値に変動が生じるので、この電圧や電流の変動を検知することで、誘電体層26の不良発生を知ることもできる。
【0047】
試験腕50を、電極パネル20の表面全体を走査するように平行移動させながら、前記した電圧の印加を行えば、電極パネル20の全体について誘電体層26の耐圧試験を行うことができる。
放電の発生によって誘電体層26の不良が検知された位置を電子的に記憶させたり記録させたりしておけば、試験後に、不良位置に誘電体の補修塗工などの補修作業を行うことができる。
【0048】
不良位置の記録は、前記した目視により発光の生じた位置に手作業でマーキングを施すことでも行える。このマーキングを機械的あるいは自動的に行わせることもできる。電極パネル20の長手辺に沿って配置されたスケール34の目盛りを読み取って記録することもできる。
また、前記した電圧や電流の局部的な変動と、そのときの試験腕50の移動位置とを、試験機本体30の制御コンピュータなどに記憶させておけば、電極パネル20の長手辺に沿った方向における不良位置を電子データとして取得し、補修工程で利用することができる。
【0049】
さらに、電極パネル20の短手辺に沿って平行配置された各放電電極24に対して、一端側から他端側へと順番に電圧を印加し、前記不良現象が発生したときに電圧を印加していた放電電極24の位置データと、そのときの試験腕50の位置データとを組み合わせれば、電極パネル20の長手辺および短手辺の両方に沿った座標位置が求められ、不良位置の座標を特定することも可能である。
【0050】
後述する実施形態で用いる絶縁片120を不良位置に貼り付けて目印にしておくこともできる。
〔第2の実施形態〕
図4および図5には、面状の試験電極を用いる試験装置を示している。
装置構造
全体が矩形をなすパネル載置台100の上面には、全面にわたってCr金属層からなる試験電極102が配置されている。試験電極102は電源84に接続されている。
【0051】
試験電極102の上には、パネル載置台100の外周辺に沿って、ビニールテープなどの絶縁材料からなる帯状の間隙形成枠116が配置されている。
間隙形成枠116よりも内側のパネル載置台100表面には、ガス吹出口115が配置され、ガス吹出口115はガス配管114を経て放電用ガス供給源に接続されている。
【0052】
パネル載置台100の長手辺の側面には、上方に突出する位置決め片118、118が立設されている。
電極パネル20が、パネル載置台100の上に装着される。電極パネル20の一側辺を位置決め片118、118に当接させた状態で、パネル載置台100の上に重ね合わせるようにすれば、電極パネル20の外周辺が丁度、間隙形成枠116の上に載るように位置決めされる。
【0053】
図5に示すように、電極パネル20の誘電体層26とパネル載置台100の試験電極102との間には、1mm前後の隙間があく。電極パネル20とパネル載置台100との間には外周を間隙形成枠116で囲まれた空間が生じる。この空間にガス吹出口115から放電用ガスを吹き出して充満させる。電極パネル20と間隙形成枠116との間の気密性を高めるには、両者を挟み付けたり互いに押圧したりする機構を備えておくことができる。
【0054】
なお、図5において、図中右側の放電電極24および誘電体層26が挟まれている個所と、図中左側の放電電極24および誘電体層26がない個所では、間隙形成枠116の厚みが大きく違っている。これは、各部の構造を判りやすく表示するための表現であり、実際の試験装置では、間隙形成枠116の厚みに比べて放電電極24および誘電体層26の厚みは極めて薄く、間隙形成枠116の材料自体は枠全体で同じ厚みのものを用いても構わない。通常は、間隙形成枠116の材料の弾性変形によって、放電電極24および誘電体層26の有無による厚みの違いを吸収することができる。
【0055】
なお、図5の状態で、電極パネル20と間隙形成枠116との間の空間に配置される放電電極24あるいは放電電極24と接続部25とを結ぶ配線路は、誘電体層26で全てが覆われているようにする。間隙形成枠116で塞がれた部分や間隙形成枠116の外側に出る部分においては、電極構造が誘電体層26で覆われていなくても構わない。
【0056】
電極パネル20の放電電極24に連結された接続部25には、着脱自在なクリップ状の接続端子108が接続される。この接続端子108は、電極パネル20に配置された全ての放電電極24に対して同時に接続される。電極端子108は配線を介して電源84に接続される。
電極パネル20のうち、接続端子108が取り付けられた側とは反対側の側辺にはアース端子104が設けられる。アース端子104にはアース線106が接続され、アース線106は接地される。
【0057】
試験動作
パネル載置台100の上に電極パネル20を装着して、両者の間隙に放電用ガスを充満させた状態で、電源84から試験電極102と基板放電電極24との間に所定の試験電圧を印加する。試験電圧は、±1000V程度の範囲に設定される。
【0058】
放電用ガスが充満した空間で、放電電極24を覆う誘電体層26に孔xや厚みの薄い個所があると、基板放電電極24と試験電極102との間で集中放電が生じ、その部分が発光する。透明な電極パネル20の上方から目視すれば、発光位置すなわち不良の発生位置を特定することができる。
不良個所には、電極パネル20をパネル載置台100から持ち上げて、電極パネル20の下面になる誘電体層26の表面にポリイミドテープなどの絶縁材料からなる約4mm×4mm程度の小さな絶縁片120を貼着する。
【0059】
絶縁片120が貼着された電極パネル20を、前記同様にして再びパネル載置台100に装着し、放電用ガスを供給したあと、所定の試験電圧を印加する。再び不良個所が出れば、前記同様の絶縁片120の貼着を行う。
このような工程を、不良個所が発生しなくなるまで繰り返す。
その結果、電極パネル20に有する全ての不良個所を発見することができる。これは、最初の電圧印加で発光する不良個所は、最も耐電圧性の低い個所であり、この不良個所を絶縁片120で塞げば、次の電圧印加では、その次に耐電圧性の低い個所が発光する。このような動作を繰り返すことで、耐電圧性の低い不良個所が順番に見つけ出される。
【0060】
試験を終えた電極パネル20は、絶縁片120が貼着された個所に、絶縁片120を取り除いてから誘電体材料を塗工するなどして補修作業を行えば、全ての不良個所を補修して、必要な耐圧性能を備えた電極パネル20を得ることができる。
【0061】
【発明の効果】
本発明の電極パネルの耐圧試験方法および装置は、電極パネルの放電電極を覆う誘電体層の表面に放電用ガス雰囲気を形成して、試験電極と放電電極との間に電圧を印加するので、PDPを組み立てたときの実際の使用状態に近い環境で耐圧試験を行うことができる。その結果、電極パネルの良否を正確かつ簡単に試験することが可能になる。
【0062】
前記した試験腕などを用い、放電用ガス雰囲気の帯状領域と試験電極とを、電極パネルの表面に沿って平行移動させながら、試験電極と放電電極との間に電圧を印加すれば、電極パネルの全体を能率的にしかも確実に試験することができる。しかも、電極パネルのうち試験電極と対面する一部のみに電流を流せばよいので、比較的に小さな電力しか消費されず、不良個所で集中放電が生じたときに過大な電流が流れることもないので、放電電極などの電極パネルに放電破壊が起こり難い。
【0063】
電極パネルの試験領域の全体に放電用ガス雰囲気を形成して面状の試験電極で電圧を印加すれば、最も耐圧性能の弱い不良個所が迅速に発見できる。発見した不良個所に絶縁片を貼着して、同様の試験を繰り返せば、耐圧性能の弱い不良個所を順番に見つけることができる。試験電極等に複雑な動作を必要としないので、簡単な装置で容易に試験が行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を表す試験装置の全体斜視図
【図2】走査バーの詳細構造を示す断面図
【図3】基板の電極への電圧印加機構を示す一部断面側面図
【図4】別の実施形態を表す試験装置の全体斜視図
【図5】要部拡大断面図
【図6】PDPの構造を説明する断面図
【図7】基板の電極配置を示す平面図
【図8】基板の断面図
【符号の説明】
20 電極パネル(前面パネル)
22 基板
24 放電電極
25 接続部
26 誘電体層
30 試験機本体
40 電圧印加部
50 試験腕
54 ガス室
55 ガス通過溝
56 ガス保持空間
80 試験電極
84 電源
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electrode panel test method and apparatus, and more particularly, to a method for testing a withstand voltage performance of an electrode panel used in a plasma display panel (PDP) and an apparatus for performing such a test method. .
[0002]
[Prior art]
The PDP is an image display device used for a wall-mounted TV or the like. Plasma discharge is caused in a small cell arranged in a matrix to cause the phosphor arranged in the cell to emit light, and an image is formed as a set of light spots of each cell. A color image can be constructed by combining cells having phosphors of different colors.
[0003]
In order to apply a voltage for causing plasma discharge to each cell, a large number of linear electrodes crossing each other are arranged on both sides of the cell, so that they are arranged at specific intersections of the linear electrodes on both sides. Apply voltage to the cell.
As a method of manufacturing a PDP, there is a method in which a base panel provided with a cell and one electrode and a transparent front panel provided with the other electrode are manufactured, and then both the panels are joined together. In this case, when the base panel and the front panel are manufactured, the quality performance of each is inspected so that only non-defective products are used for assembling the PDP, or defective products are repaired. Alternatively, quality performance can be improved and product yield can be increased.
[0004]
One of the front panel quality inspection tests is a pressure resistance test. The front panel covers an electrode formed on the surface with a dielectric layer. The dielectric layer is formed by applying a material liquid. This dielectric layer must have a sufficient thickness and no defects such as fine holes. If the dielectric layer cannot withstand the applied voltage when a voltage is applied to the aforementioned cell, a discharge breakdown will occur.
[0005]
Therefore, it is required to inspect beforehand whether the dielectric layer of the front panel has the required withstand voltage characteristics.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In order to inspect the withstand voltage characteristics, the thickness of the dielectric layer, the presence / absence of holes, and film characteristics can be directly measured, but the above measurement is performed on the dielectric layer formed over the entire front panel. It is very troublesome. Further, for example, since the thickness of the dielectric layer and the function when used in a PDP are not directly related, it is difficult to accurately determine whether or not it is suitable for use as a PDP only by the above test. It is.
[0007]
An object of the present invention is to easily and accurately perform a pressure resistance test on the front panel of the PDP.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The test method for an electrode panel according to the present invention is to test the withstand voltage performance of a dielectric layer on an electrode panel in which a large number of discharge electrodes are arranged on the surface of a substrate and a dielectric layer is arranged to cover the discharge electrodes. The method includes the following steps.
(a) A step of forming a discharge gas atmosphere on the surface of the dielectric layer of the electrode panel.
[0009]
(b) A step of disposing a test electrode with a gap between the dielectric layer and the discharge gas atmosphere.
(c) A step of applying a voltage between the test electrode and the discharge electrode of the electrode panel.
Each component requirement will be specifically described.
[Electrode panel]
PDP is an abbreviation for plasma panel display, and the basic structure of the PDP in the present invention may be the same as that of a normal PDP. There are AC type and DC type in the structure of PDP, but the present invention is preferably applied to AC type PDP.
[0010]
As a specific structure of the PDP, a base panel including a cell in which a phosphor is accommodated and a plurality of linear electrodes arranged in parallel to each other on the back side of the cell, and an electrode of the base panel intersect. The front panel is provided with a plurality of linear electrodes in the direction.
The front panel is a transparent substrate made of glass or the like, and is disposed on the surface of the substrate, which is also a transparent discharge electrode, and a transparent dielectric that covers at least the entire portion of the discharge electrode disposed in the cell. A body layer. Therefore, the front panel is substantially transparent as a whole, and light emitted from the cells passes through the front panel and appears as an image on the outside.
[0011]
The discharge electrode has a large number of linear or belt-like electrodes arranged in parallel on the surface of the front panel substrate corresponding to the cell. It is necessary to securely cover the electrodes of the parallel portions with a dielectric layer. A connection portion for connecting the discharge electrode to an external voltage application circuit may be provided at a location outside the cell, and this connection portion may be exposed from the dielectric layer. If the connecting portion is electrically connected to the parallel linear portions corresponding to the cells, the arrangement shape can be freely set.
[0012]
The pressure resistance test of the electrode panel is performed on a portion of the discharge electrode covered with a dielectric layer corresponding to the cell, and this region becomes a test region.
[Discharge gas]
A gas similar to the discharge gas filled in the cell when used as a PDP is used. Specifically, Ne, He, N2Etc. can be used alone or in combination.
[0013]
The discharge gas atmosphere needs to be formed in a range including a portion where the withstand voltage test is performed or a portion where a voltage is applied in the withstand voltage test. The discharge gas atmosphere may be formed uniformly over the entire electrode panel, or the discharge gas atmosphere may be formed only at necessary locations as the test proceeds.
If the discharge gas is blown out to a predetermined region from the gas supply source of the gas cylinder storing the discharge gas through a pipe, a discharge gas atmosphere is formed in that region.
[Test electrode]
The test electrode is arranged so as to face the discharge electrode with a gap between the test electrode and the dielectric layer through the discharge gas atmosphere.
[0014]
As a material for the test electrode, a commonly used electrode material for discharge such as stainless steel can be used.
The distance between the test electrode and the dielectric layer can be set to be approximately the same as the distance between the electrode of the base panel and the dielectric layer of the front panel in the PDP.
(Voltage applied)
In order to apply a voltage between the test electrode and the discharge electrode, each electrode is connected to a power source.
[0015]
The applied voltage is set in accordance with the purpose of the test, such as a voltage applied when the PDP is used or a voltage that the dielectric layer of the panel needs to withstand. Specifically, it can be set in the range of several hundred volts to several thousand volts.
[Test arm]
The test arm is disposed across the electrode panel with a gap between the test arm and the test arm, and translates along the surface of the electrode panel. A test electrode and discharge gas blowing means are provided along the axial direction of the test arm.
[0016]
A discharge gas atmosphere is formed in a strip-shaped region along the axial direction of the test arm, and a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode of the electrode panel in the discharge gas atmosphere, and the dielectric of the portion A layer pressure test can be performed. If the test arm is moved in parallel with respect to the electrode panel, a pressure resistance test can be sequentially performed on the entire electrode panel.
If a gas outlet for blowing out the discharge gas in a strip shape is provided as a gas blowing means on the lower surface of the test arm or the like, a discharge gas atmosphere can be formed in the strip region. If the test arm moves in parallel, a strip-shaped discharge gas atmosphere is sequentially formed on the entire electrode panel.
[0017]
The electrode panel is held at a fixed position by the panel holding means with respect to the test arm that moves in parallel. Specifically, plate material holding means in a normal test apparatus such as a mechanical clamping mechanism or a vacuum suction mechanism can be employed.
If the test arm as described above is used, a discharge gas atmosphere may be formed only in a relatively narrow strip region without forming a discharge gas atmosphere over the entire surface of the electrode panel. It is only necessary to apply a voltage to the electrodes. As a result, the amount of discharge gas used can be reduced, and the amount of power required for discharge can be reduced.
[0018]
In particular, it is possible to prevent a problem in which an excessive current flows to a defective portion and causes a discharge breakdown. This is because when a voltage is applied to a defective part of the dielectric layer of the electrode panel, the current that has been flowing between the entire test electrode and the discharge electrode of the electrode panel until then is concentrated only on the defective part. This intensive current causes discharge breakdown. The larger the opposing area between the test electrode and the discharge electrode, the larger the current that needs to flow, so the value of the current that flows intensively at the defective location also increases, which may cause discharge breakdown in the electrode panel such as the discharge electrode. Becomes higher. However, if the above-described linear or strip-shaped test electrode is used, the area involved in the discharge is very small, so that a small amount of current flows during the test, and the current value concentrated at the defective portion becomes small. It is difficult for electric discharge destruction to occur.
[0019]
By scanning the entire electrode panel with the test arm, all defective portions existing on the entire surface of the electrode panel can be found, so that the test time can be shortened.
[Voltage application means]
In order to apply a voltage to the discharge electrodes of the electrode panel held by the panel holding means, the following voltage applying means can be employed.
[0020]
A contact piece that is in contact with the connection portion of the discharge electrode of the electrode panel and to which a voltage is applied; a back and forth mechanism that supports the contact piece and advances and retracts the contact piece from the outside of the electrode panel to a position above the connection portion; And a pressure-contact mechanism that press-contacts the connector to the connection portion.
A contact piece consists of conductor materials, such as copper and stainless steel, and has the arrangement | positioning shape corresponding to the arrangement | positioning shape of a connection part. Those which can be deformed to some extent when pressed and can be in good electrical contact with the connecting portion are preferred.
[0021]
For the contact pieces, separate contact pieces may be brought into contact with the individual connection portions, or the same contact pieces may be brought into contact with a plurality of connection portions, with respect to the multiple connection portions arranged for each of the many discharge electrodes. The voltage can be applied simultaneously. It is also possible to apply a voltage by simultaneously bringing a contact piece into contact with all the connecting portions of the electrode panel.
As the advance / retreat mechanism, an advance / retreat operation means in a normal mechanical device such as an electromagnetic cylinder, a cam mechanism, or a rack gear mechanism is applied.
[0022]
As long as the pressure contact mechanism can combine various operation mechanisms such as cams and gears and press the contact piece against the connection portion, the electrode pressure contact mechanism in an ordinary electric device can be used as a specific mechanism. If the contact piece is pressed against the connecting portion with an elastic material such as rubber, it can be reliably pressed with an appropriate pressure.
[Panel mounting table]
The test can be performed by mounting the electrode panel on a panel mounting table having a planar test electrode.
[0023]
On the panel mounting table, planar test electrodes are arranged over the entire surface of the electrode panel mounting portion. The electrode panel is mounted so that the surface having the dielectric layer is opposed to the planar test electrode with a gap.
A discharge gas atmosphere is formed between the electrode panel and the planar test electrode. A discharge gas outlet can be provided on the surface of the panel mounting table.
[0024]
A gap forming frame is used to form a gap between the electrode panel and the test electrode. The gap forming frame is made of an insulating material such as a synthetic resin, and is disposed at a position where the gap forms along the outer periphery of the electrode panel, and fills the gap between the electrode panel and the test electrode. The gap forming frame can be made of an insulating tape. If there is a gap forming frame, the discharge gas can be reliably stored inside the gap forming frame even though the gap between the electrode panel and the test electrode can be maintained constant.
[0025]
Voltage application means for applying a voltage between the test electrode of the panel mounting table and the discharge electrode of the electrode panel mounted on the panel mounting table is provided.
In order to perform a pressure resistance test using the panel mounting table as described above, after supplying a discharge gas between the electrode panel mounted on the panel mounting table and the test electrode, the discharge electrode of the electrode panel and the test electrode A predetermined test voltage may be applied between them.
[0026]
If there is a defective portion in the dielectric layer of the electrode panel, intensive discharge occurs in the defective portion and light is emitted, so that the presence of the defective portion can be known.
In this method, the pressure resistance test can be easily performed only by using a panel mounting table having a relatively simple structure.
However, in the above method, even when there are defects at a plurality of locations, concentrated discharge and light emission occur only at the failure locations where discharge is most likely to occur, so it is difficult to find other failure locations.
[0027]
Therefore, a method using an insulating piece described below can be applied.
[Insulation piece]
The insulating piece is made of an insulating material such as a synthetic resin film, and has an area and shape enough to cover one defect generated in the dielectric layer of the electrode panel. Usually, the size may be about several mm square. If the adhesive layer is formed on one side of the insulating piece, the attaching operation to the electrode panel is easy.
[0028]
Using a planar test electrode facing the entire electrode panel described above, when performing a withstand voltage test by applying a voltage between the electrode panel and the test electrode, when a defective part of the dielectric layer is found, The process of applying the voltage again is repeated after attaching an insulating piece to the defective portion.
If an insulating piece is attached to a defective portion, there will be no discharge breakdown or concentrated discharge at that portion. If a voltage is applied again in this state, concentrated discharge and light emission occur at a defective portion existing at another position. If the insulating pieces are sequentially attached to the found defective portions and the voltage application is repeated, the position of the defective portion existing in the entire electrode panel can be detected.
[0029]
The part where the insulating piece is adhered to the electrode panel is the defective part, and the repairing work can be performed by removing the insulating piece at the defective part.
[0030]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
[PDP structure]
A schematic structure of a PDP including an electrode panel used for the test will be described.
As shown in FIG. 6, the PDP has a front panel 20 and a base panel 10.
[0031]
In the base panel 10, a large number of linear electrodes 13 are arranged in parallel on the surface of the substrate 12 at intervals. In FIG. 6, each electrode 13 extends in a direction penetrating the paper surface. The electrode 13 is covered with a dielectric layer 14, and a partition wall 16 provided with a large number of cell spaces 17 is disposed thereon. A phosphor layer 18 is formed in each cell space 17 delimited by the barrier ribs 16.
[0032]
The front panel 20 is disposed on the partition wall 16 of the base panel 10. A discharge electrode 24 is formed on the surface of the transparent substrate 22, and the discharge electrode 24 is covered with a dielectric layer 26. The dielectric layer 26 faces the cell space 17 of the base panel 10.
As shown in FIGS. 7 and 8, the discharge electrode 24 of the front panel 20 has a large number of linear discharge electrodes 24 arranged in parallel at intervals. The direction in which the discharge electrode 24 extends is set to a direction that intersects with the direction in which the electrode 13 of the base panel 10 extends when the PDP is assembled. The parallel portion of the discharge electrode 24 is completely covered with the dielectric layer 26. An end portion of the discharge electrode 24 extends to the outside of the dielectric layer 26 and is connected to a strip-shaped connection portion 25 arranged along the outer periphery of the substrate 22.
[0033]
The connection part 25 is provided for each discharge electrode 24, and the discharge electrodes 24 arranged in parallel are connected to the connection parts 25 arranged alternately on the left and right sides. The wiring structures that connect the discharge electrodes 24 to the connection portion 25 are not parallel but are inclined at different angles. The connection portions 25 arranged on the outer periphery on both sides of the substrate 22 are alternately connected to the central discharge electrodes 24. A plurality of connecting portions 25 are collectively arranged adjacent to each other on the outer periphery of the substrate 22, and a group of such connecting portions 25, that is, blocks, are arranged at regular intervals.
[0034]
A withstand voltage test is performed on the front panel including the substrate 22, the discharge electrode 24, and the dielectric layer 26, that is, the electrode panel 20.
[First Embodiment]
The test apparatus shown in FIGS. 1 to 3 includes a test arm.
Overall structure
The tester main body 30 has a rectangular support base 32 on which the electrode panel 20 corresponding to a screen size of 40 inches is placed. A scale 34 on which a length scale is displayed is arranged along the longitudinal side on the back side of the support 32. A test arm 50 is disposed above the support base 32.
[0035]
One end of the test arm 50 is supported by the elevating column 62 on the side of the longitudinal side of the support base 32 and moves the test arm 50 up and down. The elevating column 62 is supported by a sliding portion 64 disposed along the side of the support base 32, and moves horizontally along the side of the support base 32.
As a result, the test arm 50 can move in the vertical direction perpendicular to the surface with respect to the surface of the electrode panel 20 supported by the support base 32 to adjust the size of the gap. The electrode panel 20 is translated along the surface while traversing the upper side. In addition, with respect to the parallel part of the discharge electrode 24 arrange | positioned at the electrode panel 20, the test arm 50 is arrange | positioned in the direction which crosses each discharge electrode 24, and translates in the same direction as the direction where the discharge electrode 24 is extended. Become. The parallel movement speed of the test arm 50 can be adjusted in the range of about 5 mm / sec to 50 mm / sec.
[0036]
A voltage application unit 40 is provided outside the short side of the support base 32. A voltage can be applied to the discharge electrode 24 by the voltage application unit 40 coming into contact with the connection unit 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20.
The test machine main body 30 includes a control panel 70 having a monitor screen, and controls the operation of the test machine including the operation of the test arm 50 and the voltage application unit 40 and monitors the operation status.
[0037]
Test arm
As shown in detail in FIG. 2, the entire test arm 50 is made of a transparent acrylic resin.
A test electrode 80 made of a stainless steel plate and having a thickness of about 1 mm is disposed at the center of the cross section of the test arm 50.
[0038]
A gas chamber 54 is disposed in the center of the test arm 50 with the test electrode 80 interposed therebetween. At both axial ends of the test arm 50, the gas chamber 54 is closed by the outer wall of the test arm 50. A gas supply hole 52 is provided in the wall surface of the test arm 50 on the support side of the test arm 50 to the lifting column 62, and discharge gas is supplied from an external gas tank or gas pipe (not shown) to the gas chamber 54. As the discharge gas, a mixed gas of He and Ne is used, and the gas supply amount is about 2 to 3 liters / minute. A gas passage hole 82 is formed through the test electrode 80 that crosses the center of the gas chamber 54, and discharge gas flows through the gas chambers 54 on both sides.
[0039]
A narrow gas passage groove 55 is provided from the gas chamber 54 along both sides of the test electrode 80, and the tip of the gas passage groove 55 communicates with a gas holding space 56 disposed at the lower end of the test arm 50. The gas holding space 56 is provided on both sides of the test electrode 80 with a width wider than that of the gas passage groove 55.
The discharge gas supplied from the gas chamber 54 to the gas holding space 56 through the gas passage groove 55 fills the gas holding space 56, and then the lower end of the test arm 50 and the surface of the dielectric layer 26 of the electrode panel 20. The test arm 50 is discharged to the outside through the gap between the two.
[0040]
As a result, the lower end of the test electrode 80 and a certain range around it are covered with a discharge gas atmosphere, and the test electrode 80 and the discharge electrode 24 of the electrode panel 20 are discharged in the same manner as the cell space in the PDP. The atmosphere can be maintained.
The test electrode 80 and the discharge electrode 24 are connected to a power source 84 by wiring. The test electrode 80 is connected to a power supply 84 provided in the tester main body 30 via the test arm 50 and the lifting column 62. The power source 84 applies a voltage in the range of about 0 to 24 kV.
[0041]
Voltage application section
As shown in FIG. 3, the connection part 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20 is connected to the power source 84 via the voltage application part 40 arranged on the side of the support base 32.
The voltage application unit 40 has a contact piece 42 made of a conductor material such as copper, which is in contact with the upper surface of the connection unit 25 and bent in a substantially square shape. The contact piece 42 is connected to the power source 84 via a wiring (not shown).
[0042]
The contact piece 42 is supported by the seesaw plate 44 via a pressure rubber 41 having a circular cross section. The seesaw plate 44 pivots in the opposite direction at the front and rear ends around the central support shaft 43.
The actuating member 49 of the actuator 45 that advances and retreats in the horizontal direction is in contact with the lower surface of the rear end of the seesaw plate 44. The actuating member 49 is a freely rotating roller. When the actuating member 49 moves forward, the seesaw plate 44 is pushed upward to turn. When the seesaw plate 44 turns, the pressure rubber 41 and the contact piece 42 move downward, so that the contact piece 42 is pressed against the connection portion 25 of the electrode panel 20. As a result, good electrical connection between the contact piece 42 and the connection portion 25 is achieved.
[0043]
A slide base 46 that supports the whole of the actuator 45 and the seesaw plate 44 is attached to an actuator 47 that is fixed to the tester main body 30 so as to freely advance and retract.
When the actuator 47 is operated to move the slide base 46 forward and backward, the contact piece 42 is disposed above the connection portion 25 of the electrode panel 20, or the contact piece 42 is retracted to the outside of the electrode panel 20. Can do. When attaching and detaching the electrode panel 20, the slide base 46 is disposed at a retracted position away from the electrode panel 20, and when applying a voltage to the electrode panel 20, the slide base 46 is attached to the electrode panel 20. Move closer.
[0044]
In addition, the contact piece 42 may be configured such that a separate contact piece 42 comes into contact with each connection portion 25 in the planar shape of the electrode panel 20 shown in FIG. May be brought into contact with one contact piece 42 at a time. The contact piece 42 of the voltage application part 40 arrange | positioned at each side contacts the left and right connection parts 25 and 25.
[0045]
Test operation
First, the electrode panel 20 is placed on the support base 32 of the tester main body 30. The test arm 50 is disposed above the electrode panel 20, and the contact piece 42 of the voltage application unit 40 is brought into contact with the connection portion 25 of the electrode panel 20.
As shown in FIG. 2, the discharge gas is blown into the gas holding space 56 of the test arm 50 with the test electrode 80 disposed slightly above the dielectric layer 26 of the electrode panel 20. The gap between the test electrode 80 and the dielectric layer 26 is about 1 mm. In this state, a predetermined test voltage is applied between the test electrode 80 and the discharge electrode 24.
[0046]
A certain weak discharge is generated between the test electrode 80 and the discharge electrode 24. However, if the dielectric layer 26 is perforated or thinned, the portion between the test electrode 80 and the substrate discharge electrode 24 in that portion. Concentrated discharge occurs. A local light emission phenomenon caused by the concentrated discharge also occurs between the test electrode 80 and the discharge electrode 24. It is possible to visually observe light emission from above through the test arm 50 which is entirely transparent. Further, when the concentrated discharge occurs, the voltage value or current value in the power supply circuit changes, so that the occurrence of a defect in the dielectric layer 26 can be known by detecting the change in voltage or current.
[0047]
When the voltage is applied while the test arm 50 is moved in parallel so as to scan the entire surface of the electrode panel 20, the dielectric layer 26 can be subjected to a withstand voltage test for the entire electrode panel 20.
If the position where the defect of the dielectric layer 26 is detected due to the occurrence of electric discharge is stored or recorded electronically, after the test, repair work such as dielectric repair coating may be performed on the defective position. it can.
[0048]
The recording of the defective position can also be performed by manually marking the position where light emission has occurred by visual inspection. This marking can be performed mechanically or automatically. It is also possible to read and record the scale of the scale 34 arranged along the longitudinal side of the electrode panel 20.
Further, if the above-described local fluctuations in voltage and current and the moving position of the test arm 50 at that time are stored in the control computer of the tester body 30, the longitudinal direction of the electrode panel 20 is maintained. The defect position in the direction can be acquired as electronic data and used in the repair process.
[0049]
Furthermore, a voltage is applied in order from one end side to the other end side with respect to each discharge electrode 24 arranged in parallel along the short side of the electrode panel 20, and the voltage is applied when the defect phenomenon occurs. By combining the position data of the discharge electrode 24 and the position data of the test arm 50 at that time, the coordinate position along both the long side and the short side of the electrode panel 20 can be obtained, and the defective position It is also possible to specify coordinates.
[0050]
An insulating piece 120 used in an embodiment to be described later can be attached to a defective position as a mark.
[Second Embodiment]
4 and 5 show a test apparatus using a planar test electrode.
Device structure
A test electrode 102 made of a Cr metal layer is disposed on the entire upper surface of the panel mounting table 100 having a rectangular shape. The test electrode 102 is connected to the power source 84.
[0051]
A strip-shaped gap forming frame 116 made of an insulating material such as vinyl tape is disposed on the test electrode 102 along the outer periphery of the panel mounting table 100.
A gas outlet 115 is disposed on the surface of the panel mounting table 100 inside the gap forming frame 116, and the gas outlet 115 is connected to a discharge gas supply source via a gas pipe 114.
[0052]
Positioning pieces 118, 118 projecting upward are erected on the side surface of the longitudinal side of the panel mounting table 100.
The electrode panel 20 is mounted on the panel mounting table 100. If one side of the electrode panel 20 is in contact with the positioning pieces 118, 118, the outer periphery of the electrode panel 20 is just above the gap forming frame 116. To be placed on the
[0053]
As shown in FIG. 5, there is a gap of about 1 mm between the dielectric layer 26 of the electrode panel 20 and the test electrode 102 of the panel mounting table 100. Between the electrode panel 20 and the panel mounting table 100, a space whose outer periphery is surrounded by a gap forming frame 116 is generated. The space is filled with discharge gas from the gas outlet 115. In order to improve the airtightness between the electrode panel 20 and the gap forming frame 116, a mechanism for sandwiching the two and pressing each other can be provided.
[0054]
In FIG. 5, the gap forming frame 116 has a thickness at a portion where the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 on the right side in the drawing are sandwiched and at a portion where the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 on the left side in the drawing are not present. It ’s very different. This is an expression for displaying the structure of each part in an easy-to-understand manner. In an actual test apparatus, the thickness of the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 is extremely thin compared to the thickness of the gap forming frame 116, and the gap forming frame 116. The material itself may be of the same thickness throughout the frame. Normally, the difference in thickness due to the presence or absence of the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 can be absorbed by elastic deformation of the material of the gap forming frame 116.
[0055]
In the state of FIG. 5, all of the discharge electrodes 24 arranged in the space between the electrode panel 20 and the gap forming frame 116 or the wiring paths connecting the discharge electrodes 24 and the connection portions 25 are the dielectric layers 26. Make it covered. The electrode structure does not have to be covered with the dielectric layer 26 in the portion closed by the gap forming frame 116 or the portion that goes outside the gap forming frame 116.
[0056]
A detachable clip-like connection terminal 108 is connected to the connection portion 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20. The connection terminal 108 is simultaneously connected to all the discharge electrodes 24 arranged on the electrode panel 20. The electrode terminal 108 is connected to the power source 84 through wiring.
A ground terminal 104 is provided on the side of the electrode panel 20 opposite to the side on which the connection terminal 108 is attached. An earth wire 106 is connected to the earth terminal 104, and the earth wire 106 is grounded.
[0057]
Test operation
A predetermined test voltage is applied between the test electrode 102 and the substrate discharge electrode 24 from the power source 84 in a state where the electrode panel 20 is mounted on the panel mounting table 100 and the gap between them is filled with the discharge gas. To do. The test voltage is set in a range of about ± 1000V.
[0058]
In the space filled with the discharge gas, if there is a hole x or a thin portion in the dielectric layer 26 covering the discharge electrode 24, concentrated discharge occurs between the substrate discharge electrode 24 and the test electrode 102, and the portion is Emits light. When viewed from above the transparent electrode panel 20, the light emission position, that is, the position where the defect occurs can be specified.
In the defective portion, the electrode panel 20 is lifted from the panel mounting table 100, and a small insulating piece 120 of about 4 mm × 4 mm made of an insulating material such as polyimide tape is formed on the surface of the dielectric layer 26 which becomes the lower surface of the electrode panel 20. Adhere.
[0059]
The electrode panel 20 with the insulating piece 120 attached is mounted on the panel mounting table 100 again in the same manner as described above, and after supplying a discharge gas, a predetermined test voltage is applied. If a defective part comes out again, the insulation piece 120 similar to the above is stuck.
Such a process is repeated until no defective portion is generated.
As a result, all defective portions of the electrode panel 20 can be found. This is because the defective part that emits light by the first voltage application is the part with the lowest withstand voltage, and if this defective part is closed with the insulating piece 120, the next part with the lowest withstand voltage is applied with the next voltage application. Emits light. By repeating such an operation, defective parts having low withstand voltage properties are found in order.
[0060]
When the electrode panel 20 that has been tested is repaired by removing the insulating piece 120 and then applying a dielectric material to the place where the insulating piece 120 is adhered, all defective parts are repaired. Thus, the electrode panel 20 having the required pressure resistance can be obtained.
[0061]
【The invention's effect】
In the electrode panel withstand voltage test method and apparatus according to the present invention, a discharge gas atmosphere is formed on the surface of the dielectric layer covering the discharge electrode of the electrode panel, and a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode. The pressure resistance test can be performed in an environment close to the actual use state when the PDP is assembled. As a result, it is possible to accurately and easily test the quality of the electrode panel.
[0062]
If a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode while moving the belt-like region of the discharge gas atmosphere and the test electrode along the surface of the electrode panel using the test arm described above, the electrode panel Can be tested efficiently and reliably. Moreover, since it is only necessary to pass a current to only a part of the electrode panel that faces the test electrode, a relatively small amount of power is consumed, and an excessive current does not flow when a concentrated discharge occurs at a defective part. Therefore, it is difficult for discharge breakdown to occur in an electrode panel such as a discharge electrode.
[0063]
If a discharge gas atmosphere is formed in the entire test region of the electrode panel and a voltage is applied with a planar test electrode, a defective portion with the weakest breakdown voltage performance can be found quickly. By attaching an insulating piece to the found defective part and repeating the same test, defective parts with weak pressure resistance can be found in order. Since no complicated operation is required for the test electrode or the like, the test can be easily performed with a simple apparatus.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall perspective view of a test apparatus representing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a sectional view showing a detailed structure of a scanning bar.
FIG. 3 is a partial cross-sectional side view showing a mechanism for applying a voltage to an electrode on a substrate.
FIG. 4 is an overall perspective view of a test apparatus representing another embodiment.
FIG. 5 is an enlarged sectional view of a main part.
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating the structure of a PDP
FIG. 7 is a plan view showing the electrode arrangement of the substrate.
FIG. 8 is a sectional view of the substrate.
[Explanation of symbols]
20 Electrode panel (front panel)
22 Substrate
24 Discharge electrode
25 connections
26 Dielectric layer
30 Tester body
40 Voltage application section
50 test arms
54 Gas chamber
55 Gas passage groove
56 Gas holding space
80 test electrodes
84 Power supply

Claims (6)

基板の表面に多数の放電電極が配置され放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネルに対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する方法であって、
前記電極パネルの誘電体層表面に放電用ガス雰囲気を形成する工程(a) と、
前記放電用ガス雰囲気を介し前記誘電体層との間に間隙をあけて試験電極を配置する工程(b) と、
前記試験電極と前記電極パネルの放電電極との間に電圧を印加する工程(c) とを含む電極パネルの耐圧試験方法。
A method of testing a dielectric layer withstand voltage performance on an electrode panel in which a large number of discharge electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged to cover the discharge electrodes,
Forming a discharge gas atmosphere on the surface of the dielectric layer of the electrode panel (a);
A step (b) of disposing a test electrode with a gap between the dielectric layer via the discharge gas atmosphere; and
A method for testing the withstand voltage of an electrode panel, comprising: (c) applying a voltage between the test electrode and a discharge electrode of the electrode panel.
前記放電用ガス雰囲気を形成する工程(a) が、前記電極パネルを横断する帯状の領域に放電用ガス雰囲気を形成し、
前記試験電極を配置する工程(b) が、前記放電用ガス雰囲気の帯状領域に沿って試験電極を配置し、
前記電圧を印加する工程(c) が、前記放電用ガス雰囲気の帯状領域および前記試験電極を、前記電極パネルの表面に沿って平行移動させながら、試験電極と前記放電電極との間に電圧を印加する
請求項1に記載の電極パネルの耐圧試験方法。
The step (a) of forming the discharge gas atmosphere forms a discharge gas atmosphere in a band-shaped region crossing the electrode panel,
The step (b) of disposing the test electrode, disposing the test electrode along a strip-shaped region of the discharge gas atmosphere;
In the step (c) of applying the voltage, a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode while the strip region of the discharge gas atmosphere and the test electrode are translated along the surface of the electrode panel. The withstand voltage test method for an electrode panel according to claim 1 to be applied.
前記放電用ガス雰囲気を形成する工程(a) が、前記電極パネルの試験領域全面を覆う放電用ガス雰囲気を形成し、
前記試験電極を配置する工程(b) が、前記電極パネルの試験領域全面と対面する面状の試験電極を配置し,
前記電圧を印加する工程(c) が、前記面状の試験電極と前記電極パネルの放電電極との間に電圧を印加し、
さらに、前記電圧の印加により前記誘電体層の不良個所が発見されれば、前記不良個所に絶縁片を貼着してから、前記電圧を印加する工程(c) を繰り返す工程(d) を備える
請求項1に記載の電極パネルの耐圧試験方法。
The step (a) of forming the discharge gas atmosphere forms a discharge gas atmosphere covering the entire test region of the electrode panel;
The step (b) of disposing the test electrode includes disposing a planar test electrode facing the entire test region of the electrode panel;
Applying the voltage (c), applying a voltage between the planar test electrode and the discharge electrode of the electrode panel;
In addition, if a defective part of the dielectric layer is found by applying the voltage, a step (d) of repeating the step (c) of applying the voltage after attaching an insulating piece to the defective part The pressure resistance test method for an electrode panel according to claim 1.
基板の表面に多数の放電電極が配置され放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネルに対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する装置であって、
前記電極パネルを保持するパネル保持手段と、
前記電極パネルとの間に間隙をあけ電極パネルを横断して配置され、電極パネルの表面に沿って平行移動する試験腕と、
前記試験腕の軸方向に沿って配置され、前記電極パネルとの間隙に放電用ガスを吹き出すガス吹出手段と、
前記ガス吹出手段による放電用ガスの吹き出し雰囲気中に前記試験腕の軸方向に沿って配置される試験電極と、
前記電極パネルの放電電極と前記試験電極との間に電圧を印加する電圧印加手段と
を備える電極パネルの耐圧試験装置。
An apparatus for testing a dielectric layer withstand voltage performance with respect to an electrode panel in which a large number of discharge electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged to cover the discharge electrodes,
Panel holding means for holding the electrode panel;
A test arm that is disposed across the electrode panel with a gap between the electrode panel and translates along the surface of the electrode panel;
A gas blowing means arranged along the axial direction of the test arm, for blowing a discharge gas into a gap with the electrode panel;
A test electrode disposed along the axial direction of the test arm in a discharge gas blowing atmosphere by the gas blowing means;
A pressure test apparatus for an electrode panel, comprising voltage applying means for applying a voltage between a discharge electrode of the electrode panel and the test electrode.
前記放電電極が、基板の周辺に沿って前記誘電体層から露出して配置された接続部を有し、
前記電圧印加手段が、前記電極パネルの電極の接続部に当接され電圧が印加される接触片と、前記接触片を支持し、接触片を前記電極パネルの外側から前記接続部の上方位置へと進退させる進退機構と、前記接触片を前記接続部に圧接する圧接機構とを有する
請求項4に記載の電極パネルの耐圧試験装置。
The discharge electrode has a connection portion arranged to be exposed from the dielectric layer along the periphery of the substrate;
The voltage application means abuts against the contact portion of the electrode of the electrode panel to which a voltage is applied, and supports the contact piece. The pressure resistance test apparatus for an electrode panel according to claim 4, further comprising an advancing / retreating mechanism for advancing and retreating, and a pressing mechanism for pressing the contact piece against the connecting portion.
基板の表面に多数の電極が配置され電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネルに対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する装置であって、
前記電極パネルが、前記誘電体層を有する面を向けて装着されるパネル載置台と、
前記パネル載置台に配置され、前記電極パネルの外周辺に沿って当接して電極パネルの表面とパネル載置台の表面との間に間隙を維持する間隙形成枠と、
前記間隙形成枠の内側で前記パネル載置台の表面に開口し、放電用ガスを吹き出すガス吹出口と、
前記電極パネルの表面に対面して前記パネル載置台に配置される面状の試験電極と、
前記電極パネルの電極と前記試験電極との間に電圧を印加する電圧印加手段とを備える電極パネルの耐圧試験装置。
An apparatus for testing a dielectric layer withstand voltage performance with respect to an electrode panel in which a large number of electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged to cover the electrodes,
A panel mounting table on which the electrode panel is mounted with the surface having the dielectric layer;
A gap forming frame disposed on the panel mounting table and maintaining a gap between the surface of the electrode panel and the surface of the panel mounting table by contacting along the outer periphery of the electrode panel;
A gas outlet that opens on the surface of the panel mounting table inside the gap forming frame and blows out a discharge gas;
A planar test electrode disposed on the panel mounting table facing the surface of the electrode panel;
A pressure test apparatus for an electrode panel, comprising: voltage applying means for applying a voltage between an electrode of the electrode panel and the test electrode.
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