JP3662763B2 - Horizontal diffusion furnace - Google Patents
Horizontal diffusion furnace Download PDFInfo
- Publication number
- JP3662763B2 JP3662763B2 JP05889999A JP5889999A JP3662763B2 JP 3662763 B2 JP3662763 B2 JP 3662763B2 JP 05889999 A JP05889999 A JP 05889999A JP 5889999 A JP5889999 A JP 5889999A JP 3662763 B2 JP3662763 B2 JP 3662763B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- core tube
- end portion
- horizontal
- diffusion
- diffusion furnace
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シリコン基板等の半導体製造用基板に対して不純物を拡散するために使用される横型拡散炉に関する。
【0002】
【従来の技術】
各種半導体部品の製造に使用される不純物拡散半導体基板は、半導体製造用基板であるシリコン基板に対して不純物を拡散することにより製造される。図9は、シリコン基板に対して不純物を拡散するために使用される横型拡散炉30の一例を示す概略断面図である。この横型拡散炉30には、全長にわたってほぼ一定の内径および外径になった円筒状の炉心管31が水平な状態で設けられている。この炉心管31の一方の端面は開放されており、その開放された端面が、炉心管31の端部に嵌合された封止キャップ32によって、気密に封止されている。封止キャップ32には、排気口32aが設けられている。炉心管31の他方の端面の軸心部には、外側に突出した管状のガス導入部31aが設けられており、このガス導入部31aから不純物ガスが導入される。
【0003】
炉心管31は、封止キャップ32が嵌合された端部およびその近傍部分を除いて、ヒーター33によって、全周にわたって覆われている。炉心管31における封止キャップ32が設けられた端部近傍部分、および、ガス導入部31aが設けられた端部は、ヒーター33の各端部との間にそれぞれ設けられた各断熱材34によってそれぞれ支持されており、炉心管31は、ヒーター33とは同心状態でほぼ水平になっている。
【0004】
このような横型拡散炉30では、まず、封止キャップ32を炉心管31の端部から取り外して、開放された炉心管31の端面から、基板拡散用ボート22が搬入される。基板拡散用ボート22は、多数の半導体製造用基板であるシリコン基板21を、水平方向に適当な間隔をあけた状態でそれぞれ垂直に保持している。基板拡散用ボート22は、高温にて均等に加熱される炉心管31の中央部付近にまで挿入される。その後、封止キャップ32が炉心管31の端部に嵌合されて、炉心管31の開放された端面が気密に封止される。
【0005】
このような状態になると、炉心管31の端面に設けられたガス導入管31aから、不純物ガスが導入されて加熱される。これにより、炉心管31内にて、基板拡散用ボート22にて保持された各シリコン基板21の表面に、不純物が熱拡散し、各シリコン基板21の表面には、拡散層がそれぞれ形成される。炉心管31内にて、各シリコン基板21に対して拡散層の形成に使用されない未反応の不純物ガスは、封止キャップ32の排気口32aから排出される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このような横型拡散炉30では、封止キャップ32が嵌合された炉心管31の端部近傍およびその近傍部分が、ヒーター33によって直接加熱されないために、ヒーター33にて高温に加熱される炉心管31の中央部よりも低温になっている。炉心管31内に導入された未反応の不純物ガスは、このような低温部分では、冷却されて液体状の拡散副生成物Pになるおそれがある。
【0007】
炉心管31内の低温部分にて発生した液体状の拡散副生成物Pを放置すると、炉心管31の内周面に付着して固体化し、炉心管31から容易に除去することができなくなる。また、液体状の拡散副生成物Pが、炉心管31の端部と、その端部に嵌合された封止キャップ32との間に進入して固体化すると、封止キャップ32が炉心管31から容易に取り外せなくなるおそれもある。
【0008】
このような問題を解決するためには、液体状の拡散副生成物Pが固体化する前に、炉心管31の内部を洗浄すればよい。しかしながら、液体状の拡散副生成物Pが頻繁に発生するような場合に、その発生の度に、封止キャップ32を炉心管31から取り外して、炉心管31の内部を洗浄することは煩わしく、また、洗浄のために薬液等を必要とするために、経済性が損なわれるという問題がある。しかも、炉心管31を洗浄する間は、シリコン基板21に対する不純物の拡散作業が中断することになり、拡散作業の効率も低下することになる。
【0009】
このような問題を解決するために、図10に示すように、ヒーター33から突出した炉心管31の端部における下部周面に、下方に突出するドレン部31bを設けて、炉心管31の端部に発生する液体状の拡散副生成物Pを、このドレン部31bから排出する横型拡散炉30が開発されている。しかしながら、このような横型拡散炉30でも、炉心管31の端部に発生する液体状の拡散副生成物Pをドレン部31bを通して完全に排出することができるものではない。
【0010】
また、図11に示すように、炉心管31における端面が開放された端部に延長管37を接続して、炉心管31の全体をヒーター33によって加熱する横型拡散炉30も開発されている。このような横型拡散炉30では、炉心管31に接続された延長管37内に液体状の拡散副生成物Pが発生するために、延長管37を炉心管31から取り外して洗浄すればよく、洗浄作業は簡単になる。しかしながら、このような横型拡散炉30の場合も、延長管37と封止キャップ32との間に、液体状の拡散副生成物Pが進入して固体化すると、封止キャップ32が延長管37から容易に取り外すことができなくなるおそれがある。
【0011】
特開平2−306619号公報には、炉心管内に導入された不純物ガスを加熱するためのヒーター33とは別に、炉心管の端部を加熱するヒーターを設けて、このヒーターによって、炉心管31の端部にて、不純物ガスが液体状の拡散副生成物Pになること、および、液体状の拡散副生成物Pが固体化することを防止するようになった横型拡散炉が開示されている。
【0012】
しかしながら、このように、新たにヒーターを追加するためには、既存の設備に対して大幅な改造が必要になり、経済性が損なわれるという問題がある。
【0013】
本発明は、このような問題を解決するものであり、その目的は、簡潔な構成であって、炉心管内に生じる液体状の拡散副生成物を確実に除去することができる横型拡散炉を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の横型拡散炉は、炉心管の一方の端部から炉心管内に不純物ガスを導入して加熱することにより、炉心管内に配置された半導体製造用基板に不純物拡散層を形成する横型拡散炉であって、前記炉心管が水平に対して傾斜状態で配置されていることを特徴とする。
【0015】
前記炉心管は、不純物ガスが導入される端部が下側になるように傾斜している。
【0016】
前記炉心管における不純物ガスが導入される端部とは反対側の端部には、延長管が接続されている。
【0017】
前記延長管の端部と炉心管と端部とが、それぞれの端部に設けられたテーパー面同士をすり合わせて接続されている。
【0018】
前記炉心管における不純物ガスが導入される端部とは反対側の端部の下部周面には、液体を排出するドレン部が開口している。
【0019】
前記延長管の下部周面には、液体を排出するドレン部が開口している。
また、本発明の横型拡散炉は、炉心管の一方の端部から炉心管内に不純物ガスを導入して加熱することにより、炉心管内に配置された半導体製造用基板に不純物拡散層を形成する横型拡散炉であって、前記炉心管には、不純物ガスが導入される端部とは反対側の端部の下部周面にドレン部が開口するとともに、炉心管の下部には、ドレン部に向かって傾斜する溝部が軸方向に沿って設けられていることを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面に基づいて説明する。
【0021】
図1は、本発明の横型拡散炉の実施の形態の一例を示す概略断面図である。この横型拡散炉10は、例えば、半導体製造用基板であるシリコン基板21に対して不純物を拡散するために使用されるものであり、水平に対して角度θだけ傾斜した円筒状の炉心管11を有している。この炉心管11は、その全長にわたってほぼ一定の内径および外径になっており、一方の端面が開放されている。炉心管11の他方の端面は、周面と一体になっており、その軸心部には、外側に突出した管状のガス導入部11aが一体的に設けられている。炉心管11内には、ガス導入部11aを通して、不純物ガスが導入される。
【0022】
炉心管11の開放された端面が設けられた端部には、封止キャップ12が嵌合されており、炉心管11の開放された端面が封止キャップ12によって気密に封止されている。封止キャップ12には、外側に向かって突出したガス排気口12aが、軸心に対して偏心位置に設けられている。封止キャップ12は、炉心管11の端部に対して着脱可能になっており、封止キャップ12が取り外されて開放された炉心管11の端面から、複数の半導体製造用のシリコン基板21が水平方向に適当な間隔をあけて垂直に載せられた基板拡散用ボート22が搬入されるようになっている。
【0023】
炉心管11は、封止キャップ12が嵌合された端部およびその近傍部分を除いて、ヒーター13によって、全周にわたって覆われている。炉心管11は、ガス導入部11aが設けられた端部が下側になるように、水平に対して所定の傾斜角度θで、ヒーター13内に配置されており、炉心管11における封止キャップ12が設けられた上側に位置する端部近傍部分が、ヒーター13の端部との間に設けられた断熱材14と、この断熱材14と炉心管11における下部周面との間に設けられた耐熱スペーサー15とによって支持されるとともに、ガス導入部11aが設けられた下側の端部が、ヒーター13の端部との間に設けられた断熱材16によって支持されている。
【0024】
このような構成の横型拡散炉10は、次のように使用される。まず、封止キャップ12を炉心管11の端部から取り外して、開放された炉心管11の端面から、多数の半導体製造用のシリコン基板21を水平方向に適当な間隔をあけた状態でそれぞれ垂直に保持する基板拡散用ボート22が、ヒーター13によって、高温に均等に加熱されている炉心管11の中央付近にまで挿入される。その後、封止キャップ12が炉心管11の端部に嵌合されて、炉心管11の開放された端面が気密状態に封止される。
【0025】
このような状態になると、ヒーター13によって加熱された状態で、炉心管11の端面に設けられたガス導入管11aから不純物ガスが導入される。炉心管11内に導入された不純物ガスは、加熱されて気化され、炉心管11内に配置された基板拡散用ボート22にて保持された各シリコン基板21の表面に熱拡散する。これにより、各シリコン基板21の表面に拡散層がそれぞれ形成される。
【0026】
この場合、封止キャップ12が嵌合された炉心管11の端部近傍およびその近傍部分は、ヒーター13によって直接加熱されていないために、その部分の温度が、ヒーター13にて直接加熱する部分よりも低温になっており、炉心管11内の未反応の拡散原料が、このような低温部分において冷却されると、液体状の拡散副生成物Pになる。そして、炉心管11における傾斜方向の上側に位置する端部内にて発生した液体状の拡散副生成物Pは、炉心管11の端部内周面に沿って下部周面に流動し、その下部周面を傾斜方向の下側に向かって流動する。これにより、液体状の拡散副生成物Pは、高温に加熱されている炉心管11の中央部近傍にまで流動し、その高温部分にて気化して、各シリコン基板21に対する不純物拡散源として再使用される。その結果、炉心管11内には、未反応の拡散原料が冷却されることによって発生する液体状の拡散副生成物Pが残留するおそれがなく、炉心管11内にて拡散副生成物Pが固化することが回避される。
【0027】
なお、図2に示すように、炉心管11の端部にフランジ部11cを設けて、このフランジ部11cに、フランジ部17aが設けられた延長管17のフランジ部17aを接続して、延長管17がヒーター(図示せず)にて直接加熱されないようになった横型拡散炉10の場合にも、封止キャップ12が嵌合された延長管17の端部が上側になるように、水平に対して所定の傾斜角度θで傾斜させるようにしてもよい。この場合には、図1に示す横型拡散炉10と同様に、延長管17内にて未反応の拡散原料が液体状の拡散副生成物Pになると、その拡散副生成物Pが、炉心管11の高温部分である中央部近傍にまで流動して気化される。
【0028】
さらに、炉心管11に延長管17を接続する場合には、フランジ接合とせずに、図3に示すように、炉心管11の端部内周面を、端面側になるにつれて順次拡径したテーパー面11dとするとともに、延長管17における一方の端部外周面を、炉心管11のテーパー面11dに平行なテーパー面17bとして、炉心管11のテーパー面11dと延長管17のテーパー面17bとを相互にすり合わせることによって、炉心管11と延長管17とを接続するようにしてもよい。また、この場合には、延長管17における他方の端部内周面を、端面側になるにつれて順次拡径したテーパー面17cとするとともに、封止キャップ12の端部外周面を、延長管17のテーパー面17cに平行なテーパー面12bとして、延長管17のテーパー面17cと封止キャップ12のテーパー面12bとを相互にすり合わせることによって、延長管17と封止キャップ12とを接続するようにしてもよい。
【0029】
このような構成とすることにより、炉心管11内周面および延長管17の内周面が、全周にわたって段差のない面一な状態になるとともに、延長管17の内周面および封止キャップ12の内周面も、全周にわたって段差のない面一な状態になり、液体状の拡散副生成物Pが発生しても、その拡散副生成物Pが、確実に炉心管11の中央部付近にまで流動されることになる。
【0030】
さらに、このように、炉心管11と延長管17とをテーパー面同士のすり合わせによって接続する場合には、図4に示すように、炉心管11における内周面がテーパー11dになった端部を拡径して、延長管17における外周面がテーパー面17bになった端部を挿入して、その延長管17におけるテーパー面17bが炉心管11の拡径された端部のテーパー面11dにすり合わされるように構成してもよい。
【0031】
図5は、本発明の横型拡散炉の実施の形態の他の例を示す概略断面図である。この横型拡散炉10では、炉心管11における封止キャップ12が嵌合された端部近傍における下部周面に、液体状の拡散副生成物Pを排出するためのドレン部11bが開口している。このドレン部11bは、下方に向かって突出した状態になっている。その他の構成は、図1に示す横型拡散炉10と同様である。
【0032】
このような横型拡散炉10では、炉心管11における傾斜方向の上側に位置する端部近傍の低温部分にて、未反応の拡散原料が液体状の拡散副生成物Pになると、その液体状の拡散副生成物Pは、炉心管11の下部内周面を傾斜方向に沿って流下して、ドレン部11bから排出される。従って、このような横型拡散炉10でも、炉心管11内に、未反応の拡散原料である拡散副生成物Pが残留するおそれがなく、炉心管11内にて拡散副生成物Pが固化することが回避される。
【0033】
なお、このように、炉心管11の端部にドレン部11bが設けられている場合には、図6に示すように、炉心管11を、ドレン部11bが設けられた端部が下側になるように、水平に対して傾斜させるようにしてもよい。この場合も、炉心管11内にて液体状の拡散副生成物Pが発生しても、その液体状の拡散副生成物Pは、ドレン部11bを通って炉心管11の内部から排出される。
【0034】
図7は、本発明の横型拡散炉の実施の形態の他の例を示す概略断面図である。この横型拡散炉10では、炉心管11における開放された端面近傍の端部おける下部周面に、下方に向かって突出したドレン部11bが設けられており、その端部に、延長管17の一方の端部が接続されている。この延長管17の下部周面における中程には、下方に突出するドレン部17dが設けられており、延長管17の下部周面には、ドレン部17dに向かって傾斜した溝部17eが、軸方向に沿って設けられている。延長管17の他方の端部には、封止キャップ12が嵌合されている。封止キャップ12の下部周面には、下方に突出するドレン部12bが設けられており、ドレン部12bに向かって傾斜した溝部12cが軸方向に沿って設けられている。
【0035】
このような構成の横型拡散炉10では、低温部である封止キャップ12内にて発生する液体状の拡散副生成物Pは、封止キャップ12に設けられた溝部12cを通ってドレン部12b内に流入して、ドレン部12bから外部に排出される。また、延長管17内にて発生する液体状の拡散副生成物Pは、延長管17の下部周面に設けられた溝部17eを通って、ドレン部17d内に流入して、このドレン部17dを通って外部に排出される。さらに、炉心管11の端部内に発生した液体状の拡散副生成物Pは、炉心管11の端部に設けられたドレン部11bを通って排出されるが、ドレン部11bよりも軸方向の下方にて発生する液体状の拡散副生成物Pは、炉心管11の中央部付近に流動して気化される。
【0036】
図8(a)は、本発明の横型拡散炉の実施の形態の他の例を示す概略断面図、図8(b)は、図8(a)のA−A線における断面図である。この横型拡散炉10では、炉心管10が水平な状態に配置されており、開放された端面は、炉心管11の端部に嵌合された封止キャップ12によって気密に封止されている。封止キャップ12が嵌合された炉心管11の端部近傍における下部周面には、下方に向かって突出するドレン部11bが設けられている。また、炉心管11における下部周面には、ドレン部11bに向かって傾斜した溝部11eが軸方向に沿って、炉心管11の全長にわたって設けられている。
【0037】
このような構成の横型拡散炉10では、封止キャップ12が嵌合された炉心管11の端部の低温部にて発生する液体状の拡散副生成物Pは、炉心管11の下部周面に軸方向に沿って傾斜した溝部11eを通って、ドレン部11b内に流入して、ドレン部11bを通って炉心管11の外部に排出される。従って、本実施の形態の横型拡散炉10においても、炉心管11内に拡散副生成物Pが残留するおそれがない。
【0038】
【発明の効果】
本発明の横型拡散炉は、このように、炉心管内に生成する液体状の拡散副生成物が、傾斜状態になった炉心管によって、あるいは炉心管に設けられた傾斜状態の溝部によって、炉心管内を流動するようになっているために、炉心管内にて確実に気化されることになり、炉心管内に残留するおそれがない。また、炉心管あるいは延長管にドレン部が設けられていると、液体状の拡散副生成物は、傾斜方向に沿って流動して、ドレン部から外部に排出されることになり、これによっても、液体状の拡散副生成物が炉心管内に残留するおそれがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の横型拡散炉の実施の形態の一例を示す概略断面図である。
【図2】本発明の横型拡散炉の実施の形態の他の例を示す要部の概略断面図である。
【図3】本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す要部の概略断面図である。
【図4】本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す要部の概略断面図である。
【図5】本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す概略断面図である。
【図6】本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す要部の概略断面図である。
【図7】本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す要部の概略断面図である。
【図8】(a)は、本発明の横型拡散炉の実施の形態のさらに他の例を示す要部の概略断面図、(b)は、(a)のA−A線における断面図である。
【図9】従来の横型拡散炉の一例を示す概略断面図である。
【図10】従来の横型拡散炉の他の例を示す概略断面図である。
【図11】従来の横型拡散炉のさらに他の例を示す概略断面図である。
【符号の説明】
10 横型拡散炉
11 炉心管
11a ガス導入部
11b ドレン部
11d テーパー部
12 封止キャップ
13 ヒーター
14 断熱部材
15 耐熱スペーサー
16 断熱部材
17 延長管
17b テーパー部
17d ドレン部
21 シリコン基板
22 拡散基板用ボート
P 拡散副生成物[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a horizontal diffusion furnace used for diffusing impurities with respect to a semiconductor manufacturing substrate such as a silicon substrate.
[0002]
[Prior art]
An impurity diffusion semiconductor substrate used for manufacturing various semiconductor components is manufactured by diffusing impurities into a silicon substrate which is a semiconductor manufacturing substrate. FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing an example of a
[0003]
The
[0004]
In such a
[0005]
In such a state, an impurity gas is introduced from the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In such a
[0007]
If the liquid diffusion by-product P generated in the low temperature portion in the
[0008]
In order to solve such a problem, the inside of the
[0009]
In order to solve such a problem, as shown in FIG. 10, a
[0010]
As shown in FIG. 11, a
[0011]
In JP-A-2-306619, a heater for heating the end of the core tube is provided separately from the
[0012]
However, in order to add a new heater as described above, there is a problem in that the existing facilities need to be remodeled significantly and the economic efficiency is impaired.
[0013]
The present invention solves such a problem, and an object of the present invention is to provide a horizontal diffusion furnace having a simple configuration and capable of reliably removing liquid diffusion by-products generated in the core tube. There is to do.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The horizontal diffusion furnace of the present invention is a horizontal diffusion furnace in which an impurity gas is introduced into a core tube from one end of the core tube and heated to form an impurity diffusion layer on a semiconductor manufacturing substrate disposed in the core tube. The furnace core tube is arranged in an inclined state with respect to the horizontal.
[0015]
The furnace core tube is inclined so that the end portion into which the impurity gas is introduced is on the lower side.
[0016]
An extension pipe is connected to the end of the furnace core tube opposite to the end where the impurity gas is introduced.
[0017]
The end portion of the extension tube, the core tube, and the end portion are connected by joining the tapered surfaces provided at the respective end portions.
[0018]
In the lower peripheral surface of the end portion on the opposite side to the end portion where the impurity gas is introduced in the furnace core tube, a drain portion for discharging liquid is opened.
[0019]
On the lower peripheral surface of the extension pipe, a drain part for discharging liquid is opened.
The horizontal diffusion furnace of the present invention is a horizontal type in which an impurity diffusion layer is formed on a semiconductor manufacturing substrate disposed in a core tube by introducing and heating an impurity gas into the core tube from one end of the core tube. In the diffusion furnace, a drain portion is opened in a lower peripheral surface of an end portion opposite to the end portion into which the impurity gas is introduced, and the lower portion of the core tube is directed to the drain portion. The groove part which inclines in this way is provided along the axial direction.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0021]
FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of an embodiment of a horizontal diffusion furnace according to the present invention. The
[0022]
A sealing
[0023]
The
[0024]
The
[0025]
In such a state, the impurity gas is introduced from the
[0026]
In this case, since the vicinity of the end portion of the
[0027]
In addition, as shown in FIG. 2, the
[0028]
Further, when the
[0029]
With such a configuration, the inner peripheral surface of the
[0030]
Furthermore, when connecting the
[0031]
FIG. 5 is a schematic sectional view showing another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention. In the
[0032]
In such a
[0033]
In addition, when the
[0034]
FIG. 7 is a schematic sectional view showing another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention. In the
[0035]
In the
[0036]
FIG. 8A is a schematic sectional view showing another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention, and FIG. 8B is a sectional view taken along line AA of FIG. In this
[0037]
In the
[0038]
【The invention's effect】
In the horizontal diffusion furnace of the present invention, the liquid diffusion by-product generated in the core tube is thus formed in the core tube by the inclined core tube or by the inclined groove provided in the core tube. Therefore, it is surely vaporized in the core tube, and there is no possibility of remaining in the core tube. In addition, when the drain part is provided in the core tube or the extension pipe, the liquid diffusion by-product flows along the inclination direction and is discharged to the outside from the drain part. There is no possibility that the liquid diffusion by-product remains in the core tube.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of an embodiment of a horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a main part showing another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a main part showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of a main part showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 5 is a schematic sectional view showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the main part showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the main part showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention.
8A is a schematic cross-sectional view of a main part showing still another example of the embodiment of the horizontal diffusion furnace of the present invention, and FIG. 8B is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 8A. is there.
FIG. 9 is a schematic sectional view showing an example of a conventional horizontal diffusion furnace.
FIG. 10 is a schematic sectional view showing another example of a conventional horizontal diffusion furnace.
FIG. 11 is a schematic sectional view showing still another example of a conventional horizontal diffusion furnace.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記炉心管は、不純物ガスが導入される前記一方の端部を下側にして、水平に対して傾斜状態で配置され、
前記炉心管を過熱するヒータは、該炉心管における不純物ガスが導入される前記一方の端部とは反対側の他方の端部及びその近傍部分を除いて、該炉心管の全周を覆うことを特徴とする横型拡散炉。A horizontal diffusion furnace that forms an impurity diffusion layer on a semiconductor manufacturing substrate disposed in a furnace core tube by introducing and heating an impurity gas into the furnace core tube from one end of the core tube,
The furnace core tube is disposed in an inclined state with respect to the horizontal, with the one end where the impurity gas is introduced facing down,
The heater that superheats the core tube covers the entire circumference of the core tube except for the other end portion on the opposite side to the one end portion into which the impurity gas is introduced and the vicinity thereof. Horizontal diffusion furnace characterized by
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05889999A JP3662763B2 (en) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | Horizontal diffusion furnace |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05889999A JP3662763B2 (en) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | Horizontal diffusion furnace |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000260724A JP2000260724A (en) | 2000-09-22 |
| JP3662763B2 true JP3662763B2 (en) | 2005-06-22 |
Family
ID=13097663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05889999A Expired - Fee Related JP3662763B2 (en) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | Horizontal diffusion furnace |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3662763B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6263407B2 (en) * | 2014-02-10 | 2018-01-17 | 光洋サーモシステム株式会社 | Heat treatment equipment |
-
1999
- 1999-03-05 JP JP05889999A patent/JP3662763B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000260724A (en) | 2000-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6712909B2 (en) | Substrate processing apparatus and method for manufacturing semiconductor device | |
| JP3662763B2 (en) | Horizontal diffusion furnace | |
| CN106012004B (en) | A kind of overflow isolating device of polycrystalline silicon ingot or purifying furnace | |
| US6101844A (en) | Double wall reaction chamber glassware | |
| JPH11260728A (en) | Thin film forming equipment | |
| US5733114A (en) | Detachable torch for wet oxidation | |
| JP3450033B2 (en) | Heat treatment equipment | |
| JP4509439B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
| JP3388810B2 (en) | Semiconductor manufacturing equipment | |
| JP4256174B2 (en) | Low pressure vapor phase growth equipment | |
| JPH0566967U (en) | Substrate boat in vertical substrate heat treatment equipment | |
| CN121674936A (en) | Semiconductor process equipment | |
| JP3687849B2 (en) | Wafer boat support jig for high temperature heat treatment | |
| KR200226351Y1 (en) | Structure of furnace for annealing wafer in fabrication semiconductor device | |
| JPH0249421A (en) | Structure of furnace core tube for diffusion furnace | |
| JPH05206100A (en) | Semiconductor manufacturing device | |
| JPS63181315A (en) | heat treatment equipment | |
| KR100452159B1 (en) | method for cleaning using catalyzer of semiconductor device and apparatus performing the same | |
| KR0119028Y1 (en) | Exclusing condense water system of oxidation furnace | |
| JPH11176916A (en) | Wafer support | |
| JP5304068B2 (en) | Vertical heat treatment equipment | |
| JPS6241793A (en) | Crucible for pulling up silicon single crystal | |
| JP2003037068A (en) | Substrate processing equipment | |
| JPS5860543A (en) | Processing device for semiconductor wafer | |
| JPH10209140A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and wafer heat treatment method using the same |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041012 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041209 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050322 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050324 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |