JP3670543B2 - Solid-state imaging device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は固体撮像装置に係わり、特に原稿を密着して読み取る固体撮像装置に好適なものに関する。
【0002】
【従来の技術】
固体撮像装置には、カラーフィルタを用いてカラー画像を読み取るタイプの他に、複数色の点滅光源を用いてカラー画像を実現するタイプが存在する。また、原稿から画像を読み取る際に、レンズを用いて縮小した画像を読み取るタイプや、原稿を密着してほぼ原寸大で読み取るタイプがある。
【0003】
図3(a)に、R、G、B3色の点滅光源を用いた密着型の従来の固体撮像装置の構成を示し、図3(b)に転送電極に印加される転送クロックの波形を示し、図4に点滅光源の点灯タイミングと駆動パルスの波形に関するタイムチャートを示す。
【0004】
画素PE1、PE2、…が図中左右方向(水平方向)に配列されている。図4に示されたように、3色の点滅光源LED(B)、LED(G)、LED(R)が順にパルス状に電源を供給されて発光する。画素PE1、PE2、…において、各々の点滅光源LED(B)、LED(G)、LED(R)が点灯することによって、R、G、Bの3色に対応した信号電荷が発生し一旦保持される。
【0005】
画素PE1、PE2、…と水平転送レジスタHTRとの間に、シフトゲートSHが設けられている。シフトゲートSHに、図4のように転送パルスSHが供給される。この転送パルスSHは、点滅光源LED(B)、LED(G)、LED(R)がそれぞれ点灯した後に与えられる。これにより、画素PE1、PE2、…において発生した信号電荷が、矢印Bの方向にシフトゲートSHを介してそれぞれ水平転送レジスタHTRにおける転送電極HTR12、HTR22、…下の不純物層に蓄積される。そして、2相転送クロックΦ1、Φ2のタイミングに従い、信号電荷が矢印Aの方向に転送されていく。そして、図示されていない出力部において各々の信号電荷量に対応した電圧信号OSに変換されて、読み出される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の固体撮像装置には次のような問題があった。原稿密着型の固体撮像装置では、原稿をほぼ原寸大で読み取るため、レンズを用いて縮小して読み取るタイプよりも画素ピッチが長い。このような装置では、各々の画素PE1、PE2、…毎の転送長さが長くなる。よって、水平転送レジスタHTRを2相パルスで駆動すると、1段当たりの電荷転送距離が長いために、転送時間が長くなる。
【0007】
そこで、図3(b)に示されたように、各々の転送電極HTR11、HTR12、…毎に、その下方の不純物領域における不純物注入の回数を変えることにより、3段以上の多段バリア段差を形成している。これにより、1段当たりの転送の実行長が短縮され、結果的に転送速度が向上する。
【0008】
ところが、近年の電源電圧及びパルス電圧の低電圧化により、レジスタに多段バリア段差を形成すると、図3(b)に示された転送電極HTR11とHTR12、HTR12とFTR21、…の間の転送段差Pを確保することが困難となる。よって、多段バリア段差による高速転送を実現することができない場合があった。
【0009】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、電源電圧やパルス電圧の低電圧化と信号電荷の高速転送とを同時に実現することが可能な固体撮像装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の固体撮像装置は、
n(nは2以上の整数)色の点滅光源と、
第1の方向に配置され、前記点滅光源から光を照射されて光電変換を行い信号電荷を発生する複数の画素と、
前記画素において発生した前記信号電荷を与えられて蓄積する蓄積ゲートであって、前記画素毎に第2の方向にn個配置された前記蓄積ゲートと、
前記蓄積ゲートに蓄積されていた前記信号電荷を与えられ、前記第1の方向に順次転送する転送レジスタと、
前記蓄積ゲートと前記転送レジスタとの間に配置され、前記蓄積ゲートに蓄積されていたそれぞれの前記信号電荷を前記転送レジスタに転送するシフトゲートと、
を備え、
前記転送レジスタは、m(mは2以上の整数)相の転送クロックを与えられる場合、1画素当たりn*m個の転送電極を有し、
前記画素において発生した信号電荷が前記蓄積ゲートによって前記第2の方向に転送され、前記シフトゲートを介して前記転送レジスタに与えられた後前記第1の方向に転送される
ことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。
【0014】
図1(a)に、本実施の形態による固体撮像装置の構成を示し、図1(b)にこの装置における転送電極に印加される2相転送パルスΦ1、Φ2の波形を示す。
【0015】
複数の画素PE1、PE2、…が、図中左右方向(水平方向)に配列されている。画素PE1、PE2、…と水平転送レジスタHTRとの間に、画素毎に対応して複数の蓄積ゲートSG11〜SG13及びシフトゲートSH11、蓄積ゲートSG21〜SG23及びシフトゲートSH21、…が図中縦方向(垂直方向)に配列されている。ここで、画素PE1、PE2、…毎に設けられた蓄積ゲートSG11〜SG13、SG21〜SG23の数は、それぞれ点滅光源の色数と同一である。
【0016】
水平転送レジスタHTRは、各画素PE1、PE2、…毎に6つの画素電極HTR11〜HTR16、HTR21〜HTR26が配置されている。
【0017】
このような構成を備えた本実施の形態による固体撮像装置の動作について、点滅光源の点灯タイミングと、蓄積ゲートSG21〜SG23のゲートパルス、シフトゲートSHのゲートパルス、転送クロックΦ1のタイムチャートを示す図2を用いて説明する。
【0018】
図2に示されたように、3色の点滅光源LED(B)、LED(G)、LED(R)のうち、点滅光源LED(B)が時点t1からt2の間、パルス状に電源を供給されて発光する。画素PE1、PE2、…において、点滅光源LED(B)が点灯することによって、B色に対応した信号電荷が発生し一旦保持される。
【0019】
R色用の蓄積ゲートSG11、SG21、…に、時点t2からt3の間、ゲートパルスSG(R)が与えられ、LED(B)の発光で発生した信号電荷(B)が画素PE1、PE2、…からそれぞれ蓄積ゲートSG11、SG21、…に転送される。
【0020】
G色用の蓄積ゲートSG12、SG22、…に、時点t3からt4の間、ゲートパルスSG(G)が与えられ、LED(B)の発光で発生した信号電荷(B)が蓄積ゲート画素SG11、SG21、…からそれぞれ蓄積ゲートSG12、SG22、…に転送される。
【0021】
B色用の蓄積ゲートSG13、SG23、…に、時点t4からt5の間、ゲートパルスSG(B)が与えられ、LED(B)の発光で発生した信号電荷(B)が蓄積ゲート画素SG12、SG22、…からそれぞれ蓄積ゲートSG13、SG23、…に転送される。
【0022】
次に、点滅光源LED(G)が時点t5からt6の間、パルス状に電源を供給されて発光する。画素PE1、PE2、…において、G色に対応した信号電荷(G)が発生し一旦保持される。
【0023】
R色用の蓄積ゲートSG11、SG21、…に、時点t6からt7の間、ゲートパルスSG(R)が与えられ、信号電荷(G)が画素PE1、PE2、…からそれぞれ蓄積ゲートSG11、SG21、…に転送される。
【0024】
G色用の蓄積ゲートSG12、SG22、…に、時点t7からt8の間、ゲートパルスSG(G)が与えられ、信号電荷(G)が蓄積ゲートSG11、SG21、…からそれぞれ蓄積ゲートSG12、SG22、…に転送される。
【0025】
さらに、点滅光源LED(R)が時点t8からt9の間、パルス状に電源を供給されて発光する。画素PE1、PE2、…において、R色に対応した信号電荷(R)が発生し一旦保持される。
【0026】
R色用の蓄積ゲートSG11、SG21、…に、時点t9からt10の間、ゲートパルスSG(R)が与えられ、信号電荷(R)が画素PE1、PE2、…からそれぞれ蓄積ゲートSG11、SG21、…に転送される。
【0027】
次に、時点t10からt11の間、シフトゲートSH11、SH21、…にゲートパルスSHが与えられ、蓄積ゲートSG13、SG23、…に蓄積されている信号電荷(B)が矢印Bのように水平転送レジスタHTRの転送電極HTR16、HTR26、…下の不純物層に転送される。水平転送レジスタHTRの各転送電極には2相転送クロックΦ1、Φ2が印加され、矢印Aの方向に転送される。
【0028】
時点t11からt12の間、蓄積ゲートSG13、SG23、…にゲートパルスSG(B)が与えられ、蓄積ゲートSG12、SG22、…に蓄積されていた信号電荷(G)が蓄積ゲートSG13、SG23、…に転送される。さらに、時点t12からt13の間、蓄積ゲートSG12、SG22、…にゲートパルスSG(G)が与えられ、蓄積ゲートSG11、SG21、…に蓄積されていた信号電荷(R)が蓄積ゲートSG12、SG22、…に転送される。
【0029】
時点t13からt14の間、シフトゲートSH11、SH21、…にゲートパルスSHが与えられ、蓄積ゲートSG13、SG23、…に蓄積されていた信号電荷(G)が矢印Bのように水平転送レジスタHTRの転送電極HTR16、HTR26、…下の不純物層に転送され、矢印Aの方向に転送されていく。
【0030】
時点t15からt16の間、蓄積ゲートSG13、SG23、…にゲートパルスSG(B)が与えられ、蓄積ゲートSG12、SG22、…に蓄積されていた信号電荷(4)が蓄積ゲートSG13、SG23、…に転送される。
【0031】
時点t17からt18の間、シフトゲートSH11、SH21、…にゲートパルスSHが与えられ、蓄積ゲートSG13、SG23、…に蓄積されていた信号電荷(R)が矢印Bのように水平転送レジスタHTRの転送電極HTR16、HTR26、…下の不純物層に転送され、矢印Aの方向に転送されていく。
【0032】
このようにして、各々の画素PE1、PE2、…において発生した信号電荷(B)が一旦蓄積ゲートSG11、SG21、…に蓄積され、信号電荷(G)が蓄積ゲートSG12、SG22、…に蓄積され、信号電荷(R)が蓄積ゲートSG13、SG23、…に蓄積される。信号電荷(B)がシフトゲートSH11、SH21、…を介して水平転送レジスタHTRに与えられ、信号電荷(G)が蓄積ゲートSG13、SG23、…に与えられて蓄積され、信号電荷(R)が蓄積ゲートSG12、SG22、…に与えられて蓄積される。信号電荷(G)がシフトゲートSH11、SH21、…を介して水平転送レジスタHTRに与えられ、信号電荷(R)が蓄積ゲートSG13、SG23、…に与えられて蓄積される。そして、信号電荷(R)がシフトゲートSH11、SH21、…を介して水平転送レジスタHTRに与えられる。水平転送レジスタHTRに与えられた信号電荷は、転送クロックΦ1、Φ2のタイミングで順次転送されていき、図示されていない出力部において電圧信号に変換されて出力される。
【0033】
本実施の形態によれば、1画素当たりの転送電極の数が6段となり、1段の転送電極下における信号電荷の転送長さが短縮される。この結果、信号電荷の転送速度を高速化することができる。また、従来の装置では1段の転送電極下において、図3(b)に示されたように多段バリア段差を形成すると、電源電圧及びパルス電圧の低電圧化によってレジスタ間の転送段差Pを確保することが難しいという問題があった。これに対し、本実施の形態では多段バリア段差を設けることなく各々の転送電極下における転送長さが短縮されるので、低電圧化においても転送速度を高速化することができる。
【0034】
上述した実施の形態は一例であって、本発明を限定するものではない。例えば、上記実施の形態ではR、G、B3色の点滅光源を用いているが、2色又は4色以上の点滅光源を備える装置に対しても本発明を適用することができる。この場合は、蓄積ゲートは点滅光源の色数と同数配置されることになる。また、転送レジスタに上記実施の形態では2相クロックが与えられるが、3相以上の転送クロックが与えられる装置に対しても本発明を適用することができる。この場合は、1画素当たり、転送クロックの相数に点滅光源の色数を乗算した数の転送電極が配置される。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、画素において発生した信号電荷を転送レジスタに転送する際に、その間に配置された複数の蓄積ゲートを経るように構成したことで、一画素当たりの転送電極数を増やすことによって転送長を短縮し、その結果転送速度を高速化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による固体撮像装置の構成及び転送クロックの波形を示した平面図及びタイムチャート。
【図2】同固体撮像装置において用いられる駆動信号の波形を示したタイムチャート。
【図3】従来の固体撮像装置の構成及び転送クロックの波形を示した平面図及びタイムチャート。
【図4】同固体撮像装置において用いられる駆動信号の波形を示したタイムチャート。
【符号の説明】
PE1、PE2 画素
SG11、SG12、SG13、SG21、SG22、SG23 蓄積ゲート
SH11、SH21 シフトゲート
HTR 水平転送レジスタ
HTR11〜HTR16、HTR21〜HTR26 水平電極
Φ1、Φ2 転送クロック[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a solid-state imaging device, and more particularly to a solid-state imaging device suitable for a solid-state imaging device that reads a document in close contact.
[0002]
[Prior art]
Solid-state imaging devices include a type that implements a color image using a plurality of blinking light sources in addition to a type that reads a color image using a color filter. In addition, when reading an image from a document, there are a type that reads a reduced image using a lens, and a type that reads a document at a full size by closely contacting the document.
[0003]
FIG. 3A shows the configuration of a contact type conventional solid-state imaging device using flashing light sources of R, G, and B colors, and FIG. 3B shows the waveform of the transfer clock applied to the transfer electrode. FIG. 4 shows a time chart regarding the lighting timing of the blinking light source and the waveform of the drive pulse.
[0004]
Pixels PE1, PE2,... Are arranged in the left-right direction (horizontal direction) in the drawing. As shown in FIG. 4, the three-color blinking light sources LED (B), LED (G), and LED (R) are sequentially supplied with power in the form of pulses to emit light. In each of the pixels PE1, PE2,..., When the flashing light sources LED (B), LED (G), and LED (R) are turned on, signal charges corresponding to the three colors R, G, and B are generated and temporarily held. Is done.
[0005]
A shift gate SH is provided between the pixels PE1, PE2,... And the horizontal transfer register HTR. The transfer pulse SH is supplied to the shift gate SH as shown in FIG. This transfer pulse SH is given after each of the blinking light sources LED (B), LED (G), and LED (R) is turned on. As a result, signal charges generated in the pixels PE1, PE2,... Are accumulated in the impurity layers below the transfer electrodes HTR12, HTR22,. Then, signal charges are transferred in the direction of arrow A in accordance with the timing of the two-phase transfer clocks Φ1 and Φ2. Then, it is converted into a voltage signal OS corresponding to each signal charge amount and read out at an output section (not shown).
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional solid-state imaging device has the following problems. In a document-contact type solid-state imaging device, since a document is read at almost the full size, the pixel pitch is longer than that of a type in which the document is reduced and read using a lens. In such an apparatus, the transfer length of each pixel PE1, PE2,. Therefore, when the horizontal transfer register HTR is driven with a two-phase pulse, the transfer time becomes long because the charge transfer distance per stage is long.
[0007]
Therefore, as shown in FIG. 3B, for each transfer electrode HTR11, HTR12,..., By changing the number of impurity implantations in the impurity region below it, three or more multi-stage barrier steps are formed. doing. Thereby, the execution length of transfer per stage is shortened, and as a result, the transfer speed is improved.
[0008]
However, when a multi-stage barrier step is formed in the register due to the recent decrease in power supply voltage and pulse voltage, the transfer step P between the transfer electrodes HTR11 and HTR12, HTR12 and FTR21,... Shown in FIG. It becomes difficult to ensure. Therefore, there are cases where high-speed transfer due to multi-level barrier steps cannot be realized.
[0009]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a solid-state imaging device capable of simultaneously realizing a reduction in power supply voltage and pulse voltage and high-speed transfer of signal charges.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The solid-state imaging device of the present invention is
a flashing light source of n (n is an integer of 2 or more),
A plurality of pixels arranged in a first direction and irradiated with light from the flashing light source to perform photoelectric conversion and generate signal charges;
An accumulation gate for receiving and accumulating the signal charge generated in the pixel, the n accumulation gates being arranged in a second direction for each pixel;
A transfer register that receives the signal charge stored in the storage gate and sequentially transfers the signal charge in the first direction;
A shift gate disposed between the storage gate and the transfer register and transferring each of the signal charges stored in the storage gate to the transfer register;
With
The transfer register has n * m transfer electrodes per pixel when a transfer clock of m (m is an integer of 2 or more) phase is given.
The signal charge generated in the pixel is transferred in the second direction by the storage gate, supplied to the transfer register through the shift gate, and then transferred in the first direction.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0014]
FIG. 1A shows the configuration of the solid-state imaging device according to this embodiment, and FIG. 1B shows the waveforms of the two-phase transfer pulses Φ1 and Φ2 applied to the transfer electrodes in this device.
[0015]
A plurality of pixels PE1, PE2,... Are arranged in the left-right direction (horizontal direction) in the drawing. Between the pixels PE1, PE2,... And the horizontal transfer register HTR, a plurality of storage gates SG11 to SG13 and a shift gate SH11, storage gates SG21 to SG23 and a shift gate SH21,. They are arranged in the (vertical direction). Here, the number of storage gates SG11 to SG13, SG21 to SG23 provided for each of the pixels PE1, PE2,... Is the same as the number of colors of the blinking light source.
[0016]
In the horizontal transfer register HTR, six pixel electrodes HTR11 to HTR16 and HTR21 to HTR26 are arranged for each pixel PE1, PE2,.
[0017]
Regarding the operation of the solid-state imaging device according to the present embodiment having such a configuration, the lighting timing of the blinking light source, the gate pulse of the storage gates SG21 to SG23, the gate pulse of the shift gate SH, and the time chart of the transfer clock Φ1 are shown. This will be described with reference to FIG.
[0018]
As shown in FIG. 2, among the three-color blinking light source LEDs (B), LED (G), and LED (R), the blinking light source LED (B) is turned on in a pulsed manner from the time t1 to the time t2. Supplied to emit light. In the pixels PE1, PE2,..., The blinking light source LED (B) is lit, whereby a signal charge corresponding to the B color is generated and temporarily held.
[0019]
The gate pulses SG (R) are applied to the R color storage gates SG11, SG21,... From time t2 to t3, and the signal charges (B) generated by the light emission of the LEDs (B) are converted into the pixels PE1, PE2, Are transferred to the storage gates SG11, SG21,.
[0020]
A gate pulse SG (G) is applied to the G color storage gates SG12, SG22,... From time t3 to t4, and the signal charge (B) generated by the light emission of the LED (B) is stored in the storage gate pixels SG11, Transfer from SG21,... To storage gates SG12, SG22,.
[0021]
A gate pulse SG (B) is applied to the B color storage gates SG13, SG23,... From time t4 to t5, and the signal charge (B) generated by the light emission of the LED (B) is stored in the storage gate pixels SG12, Transfer from SG22,... To storage gates SG13, SG23,.
[0022]
Next, the blinking light source LED (G) is supplied with power in a pulsed manner from time t5 to t6 to emit light. In the pixels PE1, PE2,..., A signal charge (G) corresponding to G color is generated and temporarily held.
[0023]
A gate pulse SG (R) is applied to the R color accumulation gates SG11, SG21,... From time t6 to t7, and the signal charges (G) are accumulated from the pixels PE1, PE2,. Forwarded to….
[0024]
The gate pulses SG (G) are applied to the G color accumulation gates SG12, SG22,... From time t7 to t8, and the signal charges (G) are accumulated from the accumulation gates SG11, SG21,. , ... transferred to.
[0025]
Further, the blinking light source LED (R) is supplied with power in pulses and emits light during the period from time t8 to t9. In the pixels PE1, PE2,..., Signal charges (R) corresponding to the R color are generated and temporarily held.
[0026]
The gate pulses SG (R) are applied to the R color accumulation gates SG11, SG21,... From time t9 to t10, and the signal charges (R) are accumulated from the pixels PE1, PE2,. Forwarded to….
[0027]
Next, during time t10 to t11, the gate pulse SH is given to the shift gates SH11, SH21,..., And the signal charge (B) accumulated in the accumulation gates SG13, SG23,. Transfer electrodes HTR16, HTR26,... Of the register HTR are transferred to the lower impurity layer. Two-phase transfer clocks Φ1 and Φ2 are applied to the transfer electrodes of the horizontal transfer register HTR, and are transferred in the direction of arrow A.
[0028]
From time t11 to t12, the gate pulse SG (B) is applied to the storage gates SG13, SG23,..., And the signal charges (G) stored in the storage gates SG12, SG22,. Forwarded to Further, during time t12 to t13, the gate pulse SG (G) is applied to the storage gates SG12, SG22,..., And the signal charges (R) stored in the storage gates SG11, SG21,. , ... transferred to.
[0029]
From time t13 to t14, the gate pulse SH is given to the shift gates SH11, SH21,..., And the signal charge (G) accumulated in the accumulation gates SG13, SG23,. Transfer electrodes HTR16, HTR26,... Are transferred to the lower impurity layer and transferred in the direction of arrow A.
[0030]
From time t15 to t16, the gate pulse SG (B) is applied to the storage gates SG13, SG23,..., And the signal charge (4) stored in the storage gates SG12, SG22,. Forwarded to
[0031]
From time t17 to t18, the gate pulse SH is given to the shift gates SH11, SH21,..., And the signal charge (R) accumulated in the accumulation gates SG13, SG23,. Transfer electrodes HTR16, HTR26,... Are transferred to the lower impurity layer and transferred in the direction of arrow A.
[0032]
In this way, the signal charge (B) generated in each pixel PE1, PE2,... Is temporarily accumulated in the accumulation gates SG11, SG21,..., And the signal charge (G) is accumulated in the accumulation gates SG12, SG22,. , Signal charges (R) are accumulated in the accumulation gates SG13, SG23,. The signal charge (B) is applied to the horizontal transfer register HTR via the shift gates SH11, SH21,..., The signal charge (G) is applied to the storage gates SG13, SG23,. The storage gates SG12, SG22,. The signal charge (G) is applied to the horizontal transfer register HTR via the shift gates SH11, SH21,..., And the signal charge (R) is applied to the storage gates SG13, SG23,. Then, the signal charge (R) is applied to the horizontal transfer register HTR via the shift gates SH11, SH21,. The signal charges given to the horizontal transfer register HTR are sequentially transferred at the timing of the transfer clocks Φ1 and Φ2, and are converted into voltage signals and output at an output unit (not shown).
[0033]
According to this embodiment, the number of transfer electrodes per pixel is six, and the transfer length of signal charges under one transfer electrode is shortened. As a result, the signal charge transfer rate can be increased. Further, in the conventional device, when a multi-stage barrier step is formed under one transfer electrode as shown in FIG. 3B, a transfer step P between registers is secured by lowering the power supply voltage and the pulse voltage. There was a problem that it was difficult to do. On the other hand, in this embodiment, the transfer length under each transfer electrode is shortened without providing a multi-level barrier step, so that the transfer rate can be increased even when the voltage is lowered.
[0034]
The above-described embodiment is an example and does not limit the present invention. For example, in the above-described embodiment, blinking light sources of R, G, and B colors are used, but the present invention can also be applied to an apparatus that includes blinking light sources of two colors or four colors or more. In this case, the storage gates are arranged in the same number as the number of colors of the blinking light source. In the above embodiment, a two-phase clock is supplied to the transfer register, but the present invention can also be applied to a device to which a transfer clock of three or more phases is supplied. In this case, the number of transfer electrodes obtained by multiplying the number of phases of the transfer clock by the number of colors of the blinking light source is arranged per pixel.
[0035]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, when a signal charge generated in a pixel is transferred to a transfer register, it is configured to pass through a plurality of storage gates arranged between them, so that transfer per pixel is performed. By increasing the number of electrodes, the transfer length can be shortened, and as a result, the transfer speed can be increased.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view and a time chart showing a configuration of a solid-state imaging device and a waveform of a transfer clock according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a time chart showing a waveform of a drive signal used in the solid-state imaging device.
FIG. 3 is a plan view and time chart showing a configuration of a conventional solid-state imaging device and a waveform of a transfer clock.
FIG. 4 is a time chart showing a waveform of a drive signal used in the solid-state imaging device.
[Explanation of symbols]
PE1, PE2 Pixels SG11, SG12, SG13, SG21, SG22, SG23 Storage gate SH11, SH21 Shift gate HTR Horizontal transfer registers HTR11-HTR16, HTR21-HTR26 Horizontal electrodes Φ1, Φ2 Transfer clock
Claims (1)
第1の方向に配置され、前記点滅光源から光を照射されて光電変換を行い信号電荷を発生する複数の画素と、
前記画素において発生した前記信号電荷を与えられて蓄積する蓄積ゲートであって、前記画素毎に第2の方向にn個配置された前記蓄積ゲートと、
前記蓄積ゲートに蓄積されていた前記信号電荷を与えられ、前記第1の方向に順次転送する転送レジスタと、
前記蓄積ゲートと前記転送レジスタとの間に配置され、前記蓄積ゲートに蓄積されていたそれぞれの前記信号電荷を前記転送レジスタに転送するシフトゲートと、
を備え、
前記転送レジスタは、m(mは2以上の整数)相の転送クロックを与えられる場合、1画素当たりn*m個の転送電極を有し、
前記画素において発生した信号電荷が前記蓄積ゲートによって前記第2の方向に転送され、前記シフトゲートを介して前記転送レジスタに与えられた後前記第1の方向に転送されることを特徴とする固体撮像装置。a flashing light source of n (n is an integer of 2 or more),
A plurality of pixels arranged in a first direction and irradiated with light from the flashing light source to perform photoelectric conversion and generate signal charges;
An accumulation gate for receiving and accumulating the signal charge generated in the pixel, the n accumulation gates being arranged in a second direction for each pixel;
A transfer register that receives the signal charge stored in the storage gate and sequentially transfers the signal charge in the first direction;
A shift gate disposed between the storage gate and the transfer register and transferring each of the signal charges stored in the storage gate to the transfer register;
With
The transfer register has n * m transfer electrodes per pixel when a transfer clock of m (m is an integer of 2 or more) phase is given.
A signal charge generated in the pixel is transferred in the second direction by the storage gate, applied to the transfer register through the shift gate, and then transferred in the first direction. Imaging device.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP35572999A JP3670543B2 (en) | 1999-12-15 | 1999-12-15 | Solid-state imaging device |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3670543B2 (en) |
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|---|---|
| JP2001177694A (en) | 2001-06-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A977 | Report on retrieval |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
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|
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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