JP3678968B2 - 回路基板 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電圧制御型発振器、パワーモジュールなどの共振回路を具備した回路構成に用いられる回路基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
携帯電話機などの高周波動作する電子・通信機器では、共振回路を利用した発振器やフィルタなどが用いられる。そして、このような回路基板は、単板または積層状の誘電体基板に、ストリップ線路、マイクロストリップ線路、インダクタンタス素子などのインダクタンス成分を有する導体膜が形成されている。これにより、回路基板の高集積化を図っている。
【0003】
図4は、従来の共振回路を含む回路基板の分解斜視図である。共振回路基板としては3層のセラミック誘電体層51a、51b、51cから成る積層基板51が用いられる。そして、積層基板51には、共振回路の一部を構成する各種導体パターン54、58、配線パターン53が形成されており、さらに、表面に所定回路を構成するトランジスタ、抵抗、コンデンサなどの回路素子52が配置されている。これにより、共振回路を有する発振回路ないしフィルタ回路を構成したものである。
【0004】
図において、共振回路の一部を構成する導体パターン54(54a、54b)、58は、例えば、誘電体層51aの厚み方向に延びる2つのビアホール導体56a、56bを介して接続されている。具体的には、積層基板51の表面に形成された一方の導体パターン54a(第1の導体パターン)は、第1のビアホール導体56aの上部側一端である上部接続部に接続し、さらに、第1のビアホール導体56aの下部側一端である下部接続部は、誘電体層51aと51bとの層間(誘電体層1aの下面側)に配置された第3の導体パターン58の一端部に接続している。さらに、第3の導体パターン58の他端は、第2のビアホール導体56bの下部側一端である下部接続部に接続し、さらに、第2のビアホール導体56aの上部側一端である上部接続部は、導体パターン54(第2の導体パターン)に接続している。
【0005】
このような共振回路基板51は、誘電体セラミックのスラリーから形成された大型グリーンシートに、ビアホール導体56a、56bとなる貫通穴を形成し、そして、各貫通穴に導電ペーストを充填するとともに、大型グリーンシート上に、銀などからなる導体ペーストをスクリーン印刷して、所定導体パターン54、58や配線パターン53となる導体膜を形成し、その後、大型グリーンシートを積層する。その後、所定の条件で焼成し、得られた多数個取りの母基板を分割して個々の共振回路基板とする。このようにして得られた共振回路基板は、その表面に各種電子部品素子52を実装していた。
【0006】
尚、このような基板材料は、セラミックだけでなく、ガラスエポキシ樹脂による複合材料基板でもよい。エポキシのプリプレーグシートに銅箔を張り、所望の電極パターンにエッチングしたものを張り合わせて加熱圧着することにより同様の基板が得られる。
【0007】
このような共振回路基板において、第1の導体パターン54a、第1のビアホール導体56a、第3の導体パターン58、第2のビアホール導体56b及び第2の導体パターン54bとが一連となり、所定長さの導体膜(例えば、ストリップライン)となり、所定インダクタンス成分を有する。これにより、所定共振回路で所望の電気特性を得る。発振ないしフィルター回路は、特定の周波数で電気的に共振させる必要があるが、その共振周波数を決めるのはストリップラインの電気長Lであり、およそその物理的な長さと等価である。このストリップラインの物理的長さをコントロールすることによって当該回路を所望の共振周波数で動作させることが可能になる。
【0008】
このストリップラインとなる導体膜を基板上面に形成することは、通常、回路基板の大型化につながり得策ではない。このため、基板の構成を積層基板として、ストリップラインの一部または全部を内層に形成していた。これにより、共振回路基板の小型化に大きな効果的がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の構造の回路基板では、電気的な特性は、積層基板の製造工程、特に、積層時の精度により大きく左右される。即ち、第1の導体パターン54aの端部における接続点と、第3の導体パターン58の一端部の接続点とが、また、第3の導体パターン58の他端部の接続点と第2の導体パターン54bの端部における接続点とが、必ずしも一致せず、また、接続のための第1及び第2のビアホール導体56a、56bの中心も厳密には一致しない。
【0010】
いま結果として、誘電体層51aと誘電体層51bとの積層工程の位置ずれにより、ビアホール導体と各導体パターンとが電気的接続していたとしても、物理的にずれ量ΔLだけ位置ずれが発生したとする。この時、2つのビアホール導体で各々ずれ量ΔLが生じ、全体として2×ΔLの電気長の増加または減少してしまう。
【0011】
通常、積層基板は母基板からの多数個取りすると、積層基板となる領域がどこに位置するかによってずれ量ΔLもまちまちの値を取るのが通常である。
【0012】
このように、積層ずれや導体パターンの印刷ずれ、ビアホール位置のずれ、母基板内の収縮バラツキなどにより、インダクタンス成分を有する導体膜の全体の電気長のバラツキが発生し、その結果所望の共振特性の共振回路が得られない。
【0013】
尚、このような対策として、通常、インダクタンス成分を有する導体パターンに共振特性を調整する電極パターンを付与し、その電極パターンをトリミング処理していた。即ち、このような構成では、加工工数のアップにつながっていた。
【0014】
本発明は、上術の課題に鑑みて案出されたものであり、その目的は、製造時の位置ずれなどが発生しても、共振特性が変動することがなく、しかも、小形化が可能な回路基板を提供することにある。
【0015】
本発明の回路基板は、第1のビアホール導体及び第2のビアホール導体が形成された誘電体層の上面側に、前記第1のビアホール導体と接続する第1の導体パターン及び前記第2ビアホール導体と接続する第2の導体パターンを各々配置するとともに、前記誘電体層の下面側に、両端が前記第1及び第2のビアホール導体と接続する第3の導体パターンを配置して成る回路基板において、前記第3の導体パターンは、前記誘電体層の下面側で前記第1、第2のビアホール導体にのみ接続されるようにして帯状に形成されており、且つ前記第3の導体パターンの両端に設けられる円形ランド近傍のリード部が平行な相反する方向に導出されていることを特徴とするものである。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の回路基板を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の共振回路を具備した回路基板の部分分解斜視図であり、以下、これを共振回路基板として説明する。
【0017】
図1において、1は、誘電体基板、2a〜2dは各種電子部品、3は配線パターン、4(4a、4b)は上面側の導体パターン、6a、6bはビアホール導体、8は下面側の導体パターンである。
【0018】
誘電体基板1は、例えば、3層の誘電体層1a〜1cの積層構造である。そして、この基板には、共振回路の一部を構成するインダクタンス成分を有する導体膜(マイクロストリップ、ストリップライン、インダクタンス導体膜)が形成されている。また、基板1の表面には、各種電子部品2a〜2dが配線パターン3に接続されている。
【0019】
そして、共振回路の一部を構成する所定インダクタンス成分を有する導体膜は、誘電体基板1を構成する誘電体層1aの上面側及び下面側(誘電体層1aと誘電体層1bとの接合面)に形成されている。即ち、誘電体層1aの上面側の第1の導体パターン膜4a、第2の導体パターン4b、第3の導体パターン8及びこれらを接続するビアホール導体6a、6bとから構成されている。尚、第1の導体パターン、第2の導体パターン4a、4bは、この例では導体の長さが短いため、ビアホール導体6a、6bの両端部との接続におけるリード部と完全に分けて表記することができないため、記号を兼用している。
【0020】
具体的には、誘電体層1の上面において、第1の導体パターン4aは、所定配線パターン3から延び、一端部に円形ランド5aが形成されている。また、第2の配線パターン4bも、所定配線パターン3から延び、一端部に円形ランド5bが形成されている。
【0021】
また、誘電体層1の下面側(図では、誘電体層1bの上面)において、周回するように形成された第3の導体パターン8は、ビアホール導体6a,6bにのみ接続された状態で帯状をなすように形成されており、その両端部には円形ランド7a、7bが設けられ、該円形ランド7a、7bの近傍には、平行な相反する方向、即ち、互いに平行で、延出方向が互いに逆向きとなっているリード部8a、8bが設けられている。
【0022】
そして、誘電体層1aには、その厚み方向に延びる第1のビアホール導体6a、第2のビアホール導体6bが形成されている。
【0023】
そして、誘電体層1aと誘電体層1bとを積層した時に、誘電体層1a上の第1の導体パターン4aは、ランド5aを介して第1のビアホール導体6aの上端(上部側接続部)に接続される。また、第1のビアホール導体6aの下端(下部側接続部)は、第3の導体パターン8の一方の端部のランド7aに接続される。また、第3の導体パターン8の他方の端部のランド7bは、第2のビアホール導体6bの下端(下部側接続部)に接続されている。さらに、第2のビアホール6bの(上端)上部側接続部は、第2の導体パターン4bの端部のランド5bに接続される。
【0024】
即ち、第1の導体パターン4a、第1のビアホール導体6a、第3の導体パターン8、第2のビアホール導体6b、第2の導体パターン4bが互いに接続され、所定インダクタンス成分を有する導体膜、例えばストリップラインを構成している。
【0025】
以下に、各導体パターン4a、4b、8などの具体的な寸法を示す。誘電体基板1の表面に形成された配線パターン3に接続する第1の導体パターン4a、第2の導体パターン4bは、導体幅0.3〜0.5mmであり、その端部の円形ランド5a、5bは、直径0.7mmである。
【0026】
また、誘電体層1aの下面側に形成された第3の導体パターン8は、導体幅0.3〜0.5mmであり、その両端部の円形ランド7a、7bは、直径0.9mmである。
【0027】
そして、両ランド5a、7a及び5b、7bを接続するビアホール導体6a、6bは、その径が0.3mmである。
【0028】
そして誘電体層1a、1bとの間で位置ずれ(積層ずれ、印刷ずれ)がない場合は、ランド5a、5b、7a、7bの中心が、ビアホール導体6a、6bの中心に位置するようになる。尚、第3の導体パターン8の両端部のランド7a、7bが、第1の導体パターン4aのランド5aや第2の導体パターン4bのランド5bに比べて直径で0.2mm大きく形成されるのは、積層時の位置合わせ精度0.1mmを考慮しているためである。
【0029】
図1に示す共振回路基板のインダクタンス成分を有する導体膜と、従来の図4の共振回路基板のインダクタンス成分を有する導体膜との異なる点は、上述したように、第2の導体パターン8の両端部におけるリード部8a、8bの引き出し方向である。即ち、その両リード部8a、8bの引き出し方向(延出方向)は互いに平行であるものの、ビアホール導体6a、6bの下部接続部(ランド7a、7b)から見たときに、リード部8a、8bの延出する向きが互いに逆向きになることである。要は、ランド7aからのリード部8aと、ランド7bからのリード部8bとでは引き出し方きが180度をなしている。
【0030】
これを、2つのビアホール導体6a、6bの合計4つの接続部からみた時、第1のビアホール導体6aの上部接続部から第1の導体パターン4aの延出方向(図1上、右上に向かう方向)、第1のビアホール導体6aの下部接続部から第3の導体パターン8のリード部8aの延出方向(図1上、右上に向かう方向)、第2のビアホール導体6bの下部接続部から第3の導体パターン8のリード部8aの延出方向(図1上、左下に向かう方向)、第2のビアホール導体6bの上部接続部から第2の導体パターン4bの延出方向(図1上、右上に向かう方向)において、各4つの延出方向は互いに平行である。そして、その延出する向きは、1の延出向き、即ち、第2のビアホール導体6bの下部接続部から第3の導体パターン8のリード部8aの延出の向きのみが、他の延出向きとは逆向きになっている。
【0031】
このような第3の導体パターン8のように、その端部のリード8a、8bの延出向きを互い逆にすることで、例えば、誘電体層1aと誘電体層1bとを積層加工した時に、また、第3の導体パターン8を印刷した時、その位置ずれによる発生する電気長のずれの影響を受けないようににできる。
【0032】
この状況は図2を使って説明することができる。
【0033】
図2(a)〜(c)は、図1の第2のビアホール導体6b側を示し、第2のビアホール導体6bの上部接続部に接続するランド5bから第3の導体パターン4bが紙面の奥向きに延出し、ビアホール導体6bの下部接続部に接続するランド7bから、第3の導体パターン8の端部が紙面の手前に延出している。
【0034】
図2(d)〜(f)は、図1の第1のビアホール導体6a側を示し、第1のビアホール導体6aの上部接続部に接続するランド5aから第1の導体パターン4aが紙面の奥向きに延出し、ビアホール導体6aの下部接続部に接続するランド7aから第3の導体パターン8の端部が紙面の手前に延出している。
【0035】
図2(a)、(d)は、正常な位置に積層された場合を示す。これ対して、図2(b)(e)は、ビアホール導体6a、6bが、ランド7a、7bの中心から紙面の奥向き方向にずれた状態である。図2(c)(f)は、ビアホール導体6a、6bが、ランド7a、7bの中心から紙面の手前方向にずれた状態である。
【0036】
図2(b)及び(e)において、図2(b)の第2のビアホール導体6b側では、インダクタンス成分の導体膜の電気長Lが、位置ずれ量ΔLに応じて、ΔLだけ伸びることになる(+ΔL)。これに対して、図2(e)の第1のビアホール導体6a側では、インダクタンス成分の導体膜の電気長Lが、位置ずれ量ΔLに応じて、ΔLだけ短くなる(−ΔL)。
【0037】
また、図2(c)及び(f)において、図2(c)の第2のビアホール導体6b側では、インダクタンス成分の導体膜の電気長Lが、位置ずれ量ΔLに応じて、ΔLだけ短くなることになる(−ΔL)。これに対して、図2(f)の第1のビアホール導体6a側では、インダクタンス成分の導体膜の電気長Lが、位置ずれ量ΔLに応じて、ΔLだけ伸びる(+ΔL)。
【0038】
本発明では、第3の導体パターン8の両端部のリード部8a、8bが、互いに逆向きに延出するよう設定しているので、例えば積層時のパターンずれや印刷ずれにより、そのずれ方向が各リード部8a、8bと同一方向である場合では、図2(b)の状態と図2(e)の状態の組み合わせか、または、図2(c)の状態と図2(f)の状態の組み合わせのいずれかである。
【0039】
このような組合せでは、電気長のずれがΔL、−ΔLの組合せであり、互いに相殺されて電気長の変化は無くなる。
【0040】
すなわち積層ずれによる影響を受けることがない。
【0041】
図2(g)〜図2(i)は、第2のビアホール導体6b側を例にして、積層ずれや印刷ずれ方向が、上述の方向と直交する横方向に発生した場合の影響を考える。
【0042】
図2(g)では正常の接続状態を示す。尚、図中、点線は信号経路の最短距離を示している。
【0043】
仮に、図2(h)のように第2の導体パターン4bが左側にずれた場合、図2(i)のように第2の導体パターン4bが右側にずれた場合でも、点線部分で示す信号経路の最短距離は実質的に変動せず、電気長としては殆ど影響を受けることがない。
【0044】
尚、図2(h)、(i)は、ビアホール導体6bの上部接続部に接続する第2の導体パターン4bを例にして説明しているが、相対的にビアホール導体6aの下部接続部に接続する第3の導体パターン8の左右方向のずれも同様である。また、第1のビアホール導体6a側も同様である。
【0045】
実際のずれは、任意の方向に発生するが、ずれを前後方向と横方向に分解して考えると、前後方向、横方向共に電気長に影響を受けないため、任意方向のずれによる電気長の変動は発生しないことが分かる。
【0046】
以上のように、本発明の共振回路基板では、2つのビアホール導体6a、6bを有するインダクタンス成分を有する導体膜において、この2つのビアホール導体6a、6bから各導体パターン4a、4b、8の延出方向を制御したため、誘電体層1a、1bの延出方向での積層ずれやビアホール導体6a、6bに対して導体パターン4a、4b、または8の位置ずれが発生しても、実質的に電気長の変動が2つのビアホール導体6a、6b側で相殺されて、電気長の変動のない安定した共振特性を有する共振回路基板とすることができる。
【0047】
また、インダクタンス成分を有する導体膜を、誘電体層1aの上面側と下面側に分けて形成しているため、この導体膜の高密度化ができ、これにより、小型化が可能となる。
【0048】
また、従来、必要であったインダクタンス成分を有する導体膜に形成していたトリミングパターンが不要、または小さくて済む。
【0049】
また基板積層時の管理が容易で、調整作業がなく、加工コストのかからない安価な基板を得ることができる。
【0050】
図3は、本発明の他の実施例を示す。図1に示した第3の導体パターン8の変形例である。すなわち、図1に示す第3の導体パターン8は、一方の端部のランド7aを取り囲むようにパターンニングされているが、本実施例では、両端の2つのランドを横切るようなパターン、例えば、概略S字状の導体パターン18となっている。
【0051】
これによって、第1のビアホール導体6aの下部接続部において、リード部18aは紙面の上側に延出し、第2のビアホール導体6bの下部接続部において、リード部18bは紙面の下側に延出している。
【0052】
尚、第1のビアホール導体6aの上部接続部において、第1の導体パターン4aは、紙面の上側に延出し、第2のビアホール導体6bの上部接続部において、第2の導体パターン4bは紙面の上側に延出している。
【0054】
図3においても、図2で説明したように、2つのビアホール導体6a、6bにおいて、2つのビアホール導体の一方の接続部において、導体パターンとの間で電気長の変動が互いに相殺されることになる。これにより、安定した共振特性が維持できる。
【0056】
上述の実施例では、インダクタンス成分を有する導体膜として、ストリップラインのみな説明したが、例えは、誘電体層1bと1cとの層間にグランド電位の導体膜を形成し、マイクロストリップ線路として用いて、分布定数的に共振回路を構成しても構わない。
【0057】
また、誘電体層を1層のみ、即ち、単板上の誘電体基板として、基板の表面に第1の導体パターン、第2の導体パターンを、基板の裏面に第3の導体パターンを形成しても構わない。
【0058】
【発明の効果】
本発明によれば、回路基板の形成時の積層位置ずれが発生しても、その位置ずれによって生じる電気長の変動を、第1、第2のビアホール導体側で互いに打ち消しあうことができる。これにより、回路網側から見たときの電気長Lが影響しない。この回路基板を共振回路基板を用いた場合、共振周波数などの共振特性のバラツキを有効に抑えることができる。
【0059】
また、トリミングパターンが不要、または小さくて済み、さらに、インダクタンス成分を有する導体膜を厚み方向にわけて形成できるため、小形の回路基板となる。
【0060】
また基板積層時の管理が容易で、調整作業が除去または軽減され、加工コストのかからない安価な基板を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の回路基板の実施例を示す一部分解した斜視図である。
【図2】 (a)〜(i)は、位置ずれが発生した時の電気長の変動状態を示す概略図である。
【図3】 本発明の回路基板の他の実施例を示す一部分解した斜視図である。
【図4】 従来の回路基板を示す一部分解した斜視図である。
【符号の説明】
1・・誘電体基板
1a、1b、1c・・誘電体層
2、2a、2b、2c、2d・・電子部品
3・・配線パターン
4a、14a、34a・・第1の導体パターン
4b、14b、34b・・第2の導体パターン
5a、5b・・ランド
6a・・第1のビアホール導体
6b・・第2のビアホール導体
7a、7b・・ランド
8、18、38・・第3の導体パターン
Claims (1)
- 第1のビアホール導体及び第2のビアホール導体が形成された誘電体層の上面側に、前記第1のビアホール導体と接続する第1の導体パターン及び前記第2ビアホール導体と接続する第2の導体パターンを各々配置するとともに、前記誘電体層の下面側に、両端が前記第1及び第2のビアホール導体と接続する第3の導体パターンを配置して成る回路基板において、
前記第3の導体パターンは、前記誘電体層の下面側で前記第1、第2のビアホール導体にのみ接続されるようにして帯状に形成されており、且つ前記第3の導体パターンの両端に設けられる円形ランド近傍のリード部が平行な相反する方向に導出されていることを特徴とする回路基板。
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