JP3693227B2 - Insulation life estimation method for rotating machine and insulation life estimation system for rotating machine - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は昇降機等に用いられる回転機の絶縁寿命の推定方法および絶縁寿命を推定するシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】
昇降機等に用いられる回転機の性能劣化については様々なパターンがある。その中でも例えば巻線被覆樹脂等の絶縁物質の絶縁性能劣化はとりわけ重要な問題である。
【0003】
この絶縁物質の絶縁劣化を示す指標としては、部品や物質の破壊を伴う破壊検査による劣化指標(例えば、絶縁破壊電圧BDV等、以下破壊指標と記す)と、非破壊検査による劣化指標(例えば、絶縁抵抗R、誘電正接tanδ、弱点比WR、成極指数PI、定格電圧における誘電正接と100Vにおける誘電正接との差分Δtanδ、または静電容量Cと絶縁抵抗Rとの積CR等、以下非破壊指標と記す)とがある。破壊指標に基づく劣化診断は、文字通り破壊を伴うため、非破壊指標に基づく劣化診断に比べてより詳細かつ正確に劣化状況を知ることができる反面、検査した部品を引き続き使用することができない。従って、従来このような絶縁劣化診断は、非破壊指標により行われてきた。図6に、絶縁抵抗Rと運転経過時間Tとの相関データを示す。これら非破壊指標に基づく劣化診断は、例えば絶縁抵抗Rにおいては10MΩといった経験値を限界指標値Yeとして、この相関に基づいて前記限界指標値に対応する値として推定絶縁寿命値Teを算出していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の非破壊検査による劣化診断では、非破壊検査による限界指標値が経験的に定められた精度の良くない値である為、または、図6に示されるように、非破壊指標の時間に対するばらつきが大きい為に、種々のサンプルに対して高い精度で絶縁寿命を判定することが困難であった。従って、まだ寿命が十分に残存しているにもかかわらず部品交換を余儀なくされる等、資源やコストの浪費を生じるという問題が生じていた。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、回転機の絶縁体の絶縁性能の寿命を推定する方法であって、破壊検査による絶縁体の劣化指標(X)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との第一の相関関係(Fxy)の統計的な信頼度に基づいて、破壊検査による限界劣化指標値(Xe)から非破壊検査による限界劣化指標値(Ye)を算出する工程と、経過時間(T)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係(Fty)に基づいて、前記非破壊検査による限界劣化指標値(Ye)から推定絶縁寿命値(Te)を算出する工程と、を有することを特徴とする回転機の絶縁寿命の推定方法である。
上記課題に鑑み、本発明は、非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)とさらに詳細かつ正確な劣化状況を把握可能な破壊検査による絶縁体の劣化指標(X)との第一の相関関係(Fxy)に基づいて非破壊検査による限界劣化指標値(Ye)を定めることにより、より確実な推定絶縁寿命値(Te)の算出を行うことができるので、資源やコストの浪費を抑制することができる。
【0006】
また、本発明は、経過時間(T)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との間の複数の異なる第二の相関関係(Fty)に基づいて推定絶縁寿命値(Te)の算出を行うことにより、ばらつきが少なく相関度の高い相関関係に基づいてより精度の高い絶縁寿命の推定を行うことができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
【0008】
まず、本発明を昇降機用モータの巻線被覆の絶縁寿命推定システムに適用した第一の実施の形態について説明する。まず、本システムの概略構成について図1を用いて説明する。
【0009】
このシステム1は、絶縁寿命の推定に必要なデータの入力を行う入力部100例えばキーボード101、絶縁寿命の算出に伴う全ての演算を行う演算部200例えばCPU201、絶縁寿命の演算に必要なデータを格納する記憶部300例えばメモリ301、および計算した絶縁寿命の結果を出力する出力部400例えばディスプレイ401を備える。
【0010】
図2に、記憶部300例えばメモリ301に記憶されるデータを示す。第一の非破壊指標データYda(例えば絶縁抵抗R、誘電正接tanδ等)、およびこれに対応する破壊指標データXd(例えば絶縁破壊電圧BDV)は、第一のデータセットDaとしてメモリ301に格納されている。これを表に示したものが図2の第一のテーブル310である。また、第二の非破壊指標データYdb、およびこれに対応する経過時間データTdは、第二のデータセットDbとしてメモリ301に格納されている。これを表に示したものが図2の第二のテーブル320である。この第二のデータセットDbは、個体別例えば各モータ個別または部品個別に区分され、また、劣化の進行速度別にも区分されている。これらの区分は個体別フラグFuおよび進行速度別フラグFsの設定により行われている。なお、本システム1は、メモリ301に格納されるこれらのデータの値および種類を必要に応じて入力部100から追加または変更自在に構成されている。
【0011】
次に、本実施形態による絶縁寿命の推定方法について図2乃至図5を用いて説明する。図3は絶縁寿命推定方法のフローチャート、図4は破壊指標Xと無次元化された非破壊指標Ynとの第一の相関関係Fxyを示す図、図5は経過時間Tと無次元化された非破壊指標Ynとの第二の相関関係Ftyを示す図である。
【0012】
まず、入力部100例えばキーボード101より絶縁寿命の推定に必要なデータを入力する(データ入力工程10)。この工程10では、絶縁寿命を推定したいサンプル非破壊指標値Ysと、使用開始からサンプル非破壊指標値Ysの測定を実施した時までの経過時間Tsとが入力される。またここでは実施した非破壊検査方法の種類に応じて複数種のサンプル非破壊指標値Ys(例えば、第一のサンプル非破壊指標値Ysaとして絶縁抵抗値Rs、および第二のサンプル非破壊指標値Ysbとして誘電正接値tanδs)を入力することができる。さらに、この工程10においては、メモリ301に格納あるいは絶縁寿命の推定に使用される全てのパラメータの値もしくは種類について、入力、設定、変更、既定値選択、追加あるいは削除を行うことができる。
【0013】
次いで、破壊指標Xと非破壊指標Yとの第一の相関関係Fxy、および非破壊指標Yと経過時間Tとの第二の相関関係Ftyを算出する(相関関係Fxy,Ftyの算出工程20)。
【0014】
この工程20ではまず、前記工程10により入力されたサンプル非破壊指標値Ysの種類に応じて、メモリ301に格納されている演算に必要なデータを呼び出す(データ呼び出し工程21)。ここでは、破壊指標データXdと、それに対応する第一の非破壊指標データYdaとが、サンプル非破壊指標値Ysの種類に応じて呼び出される。例えば、一の破壊指標データXdに対してサンプル非破壊指標値Ysと同じ種類の第一の非破壊指標データYda全てが格納されているものについて、破壊指標データXdと第一の非破壊指標データYdaとが呼び出される。より具体的には、サンプルの非破壊指標値Ysが、例えば絶縁抵抗値Ysa(Rs)、および誘電正接値Ysb(tanδs)の2種類であった場合には、破壊指標データXdに対してこれらと同一種類の非破壊指標データ、即ち、絶縁抵抗データYdaaおよび誘電正接データYdabの2種類のデータが両方入力されているものについて、これらのデータ(Xd、Ydaa、Ydab;図2に太線枠で囲んで示したデータ)を呼び出す。また同様にして、サンプル非破壊指標値Ysの種類に応じて、経過時間データTdと、それに対応する第二の非破壊指標データYdbとが呼び出される。より具体的には、一の経過時間データTdに対してサンプル非破壊指標値Ysと同じ種類の第二の非破壊指標データYdb全てが格納されているものについて、第二の非破壊指標データYdbと経過時間データTdとが呼び出される。
【0015】
次いで、例えば、発明者らが開発した方法(参考文献:金古、大島、山田、飯島:ファジイ推論を導入したエキスパートシステムによる昇降機用回転機の絶縁診断、電気学会論文誌A、112巻11号、平成4年、pp931〜937)により、前の工程21で呼び出された一または複数の第一の非破壊指標データYdaをもとに、無次元化された第一の非破壊指標データYdanを計算する(非破壊劣化指標データの無次元化工程22)。例えば、呼び出された第一の非破壊指標データYdaが、絶縁抵抗データ(Ydaa(i)、i=1,2,3,,,)と、誘電正接データ(Ydab(i)、i=1,2,3,,,)との2種類であった場合には、この方法に従い、これら2種類のデータ全てを対応関係i毎に統合してそれぞれ無次元化した1種類の第一の非破壊指標データ(Ydan(i)、i=1,2,3,,,)を算出する。同様に、呼び出された第二の非破壊指標データYdbについても無次元化された第二の非破壊指標データYdbnを算出する。
【0016】
そして、第一の無次元非破壊指標データYdanとそれに対応した破壊指標データXdとから第一の相関関係Fxyを、また、第二の無次元非破壊指標データYdbnとそれに対応した経過時間データTdとから第二の相関関係Ftyをそれぞれ算出する(相関関係の算出工程23)。この工程においては、相関関係として、例えば、回帰係数、平均値、標準偏差等が算出される。また、このとき、第二の相関関係Ftyは、第二のデータセットDbに設定されているフラグF例えば進行速度別フラグFsに応じて算出される。例えばこのフラグFsが複数例えば3階級(Fs=1、2、3)設定されている場合には、これに応じて同数即ち3階級の第二の相関関係Fty(Fty1、Fty2、Fty3)が算出される。なお、本システム1では、この進行速度別フラグFsは例えばデータ入力工程10において適宜書き換え自在であり、このため、第二の相関関係Ftyの算出に適用する第二のデータセットDbの変更、あるいは第二の相関関係Ftyの階級数の増大等を容易に行うことができる。
【0017】
次いで、工程22と同様の方法により、入力された一または複数のサンプル非破壊指標値Ysをもとに無次元化されたサンプル非破壊指標値Ysnを計算する(サンプルの非破壊劣化指標値の無次元化工程30)。例えば、サンプル非破壊指標値として、絶縁抵抗値Ysa(Rs)、および誘電正接値Ysb(tanδs)が入力された場合には、これらをもとに、先の工程22と同様の方法に従い、これら全てを統合化した無次元サンプル非破壊指標値Ysnを計算する。
【0018】
次に、第一の相関関係Fxyに基づいて、限界破壊指標値Xeから限界非破壊指標値Yeを求める(非破壊限界劣化指標値の算出工程40)。この工程40を図4を用いて説明する。ここでは、例えば、無次元非破壊指標Ynは、劣化状況に応じて0(劣悪)〜5(良好)の幅を有する指標として一または複数種の非破壊指標Yをもとに無次元化され、また破壊指標Xは、測定値Xdを初期値X0で除算することにより無次元化されている。図4に、第一の相関関係Fxyとして、回帰線501と、第一の相関関係Fxyの信頼度Rxyの線例えば−3σ線502(σ:相関の標準偏差)とを示す。また限界破壊指標値Xe(例えばXe=0.15)は、破壊試験により求められた絶縁性能劣化の限界指標値である。ここで、この第一の相関関係Fxyの−3σ線502における限界破壊指標値Xe(=0.15)に対応する無次元非破壊指標Ynの値として無次元限界非破壊指標値Yen(=1.8)を求める。このように、破壊試験による限界破壊指標値Xeをもとに限界非破壊指標値Yeを定めることにより、非破壊指標による絶縁寿命の推定において、実用的な見地からより精度の高い推定を行うことができる。また、このように第一の相関関係から統計的に信頼度に基づいて行うことにより、さらに確実な絶縁寿命の推定を可能としている。
【0019】
次に、第二の相関関係Ftyに基づいて、先の工程40により求めた限界非破壊指標値Yeから推定絶縁寿命値Teを推定する(推定絶縁寿命値の算出工程50)。この工程50について先の図4に対応した図5を用いて説明する。モータまたは部品の使用開始からの経過時間Tと無次元非破壊指標Ynとの第二の相関関係Ftyは、前述のように、例えば、劣化の進行速度よる区分に応じて、Fty1、Fty2、Fty3の3つの相関関係に区分されている。まず、先の工程30で算出された無次元サンプル非破壊指標値Ysnとサンプル経過時間Tsとこれらの相関関係(Fty1、Fty2、Fty3)とを比較し、サンプルの劣化進行度例えば劣化線602を推定する(劣化進行度の推定工程51)。より具体的には、例えば図5に示す例で説明すると、各第一の相関関係FxyにおけるYn=Ysn(=4.1)の点(603、604、605)とサンプル601とを例えばTの値により比較し、サンプル601の各第二の相関関係Ftyに対する相対的な位置づけを認識する。そして、サンプル601の最も近傍にある2つの第一の相関関係Fty(図5に示す例の場合はFty1、Fty2)より、サンプルの劣化進行度例えば劣化線602を定める。劣化線602は例えば、図5において、サンプル601に最も近い二つの第一の相関関係Fty(Fty1、Fty2)と劣化線602とのTの差分(606、607)の比が各Ynにおいて同一となる線として定める。次いで、この劣化線602から先の工程40で求めた無次元限界非破壊指標値Yen(=1.8)をもとに推定絶縁寿命値Te(=7300日)を求める(絶縁寿命値の算出工程52)。即ち、劣化線602におけるYn=Yeの際のT値として推定絶縁寿命値Teの値を求める。このように、第二の相関関係Ftyを基にサンプルの経過時間値Tsとこれに対応した非破壊指標値Ysとからサンプル毎の劣化進行度を推定することにより、サンプル個別の劣化状況に応じた精度の高い寿命推定を可能としている。また、劣化進行状況の異なる複数の第二の相関関係Ftyを基に行うことにより、劣化進行状況に応じて細分化された精度の高い相関関係に基づいてサンプル個別の劣化進行状況をより精度良く推定することができるので、さらに精度の高い絶縁寿命の推定を行うことができる。
【0020】
そして、信頼度Rxyを変えて再度推定絶縁寿命値Teを計算をするか否かを判断する(推定絶縁寿命値の再計算実施の判断工程60)。例えば、先のデータ入力工程10において予め複数の信頼度Rxyが入力設定あるいは選択設定されている場合、あるいは新たに異なる信頼度Rxyによる寿命の推定が必要となった場合等には非破壊限界劣化指標値の算出工程40に戻る。図4に示すように、例えば、信頼度Rxyとして、先の−3σ線502とは異なり信頼度の低い−2σ線503を用いた場合には、それにより求まる無次元限界非破壊指標値Yen2(=0.8)は−3σ線502から求めた場合における無次元限界非破壊指標値Yen(=1.8)とは異なった低い値となり、また図5に示すように、それに基づいて算出される絶縁寿命値Te2(=7700日)は先の絶縁寿命値Te(=7300日)とは異なる高い値となる。このように信頼度Rxyの設定の自由度を確保することにより、例えば、特に破損の許されないモータや部品の寿命推定の際にはより安全側とするために信頼度を高く設定したり、あるいは、劣化の進行速度が早いまたは寿命までの余裕が少ない場合には信頼度を高く設定する一方劣化の進行速度が遅いまたは寿命までの余裕が多い場合には信頼度を低く設定する等、寿命推定の用途あるいは絶縁劣化状況に応じて適した信頼度を設定することができ、このため破壊指標Xdとの相関による寿命推定の精度を確保しつつ様々な状況に対して最適な絶縁寿命の推定を行うことができる。
【0021】
このようにして算出した推定絶縁寿命値Teまたは残存寿命値Tr(=Te−Ts)は、他の各パラメータ例えばYs、Ysn、Ts、Rxy等と共に出力部400例えばディスプレイ401により出力される(推定絶縁寿命の出力工程70)。異なる信頼度Rxyにより計算された複数の推定絶縁寿命値Teは、信頼度Rxy毎に表示され、グラフ化される。
【0022】
そして、入力されたサンプルの非破壊指標値Ysおよび経過時間値Tsは記憶部300例えばメモリ301に第二のデータセットDbの値として追加される(データの追加工程80)。追加されたこれらのデータは次のサンプルの寿命推定の際に加味されるため、寿命推定は常に最新のデータに基づいて行われる。
【0023】
なお、本実施の形態は上記の構成および方法に限られるものではない。
【0024】
前述の実施の形態では記憶部には非破壊検査の測定値自体が格納されているが、これは無次元化された非破壊指標値を格納するものでもよいし、第一の相関関係Fxyや第二の相関関係Ftyあるいは限界破壊指標値Xeを記憶部に格納するような構成としてもよい。これらの構成によれば、絶縁寿命推定のための工程数を減らすことができ、より迅速に寿命の推定を行うことができる。
【0025】
また、前述の実施形態では、記憶部に格納されるデータセットは、2つに分けられていたが、これは、同一のデータセットとして記憶しても良い。この場合、第一の相関関係Fxyの算出に際しては破壊指標データXが格納されているものからデータが呼び出され、第二の相関関係Ftyの算出に際しては経過時間データTが格納されているものからデータが呼び出される。
【0026】
さらに、前述の実施形態では、無次元化された非破壊指標データYdnと無次元化されたサンプル非破壊指標値Ysnとで、無次元化された非破壊指標Yn(Ydn、Ysn)の算出の基として統合する非破壊指標Yの種類を同一としている。しかしながら、例えば、サンプル非破壊指標値Ysと同一種類の非破壊指標データYdについて、この同一種のデータYdの総数が少ない場合や、この同一種のデータYdに基づく第一または第二の相関関係Fxy,Ftyの相関が低い場合等、相関関係の相関度が十分に確保できない場合等においては、前記基とする非破壊指標Yの種類を互いに異にして例えばより相関度の高い相関関係を適用するようにしても良い。またこのために、前記基とする非破壊指標Yの種類を選択あるいは設定する工程を備えても良い。これによりさらに精度の高い寿命推定を行うことができる。
【0027】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明によれば、より確実な絶縁寿命の推定を行うことができるので、回転機の絶縁寿命に近い長い期間使用することが可能となるため、資源やコストの浪費を抑制することが可能となるとともに、使用中の寿命到達による機能停止を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第一の実施の形態にかかる昇降機用モータの絶縁寿命推定システムの概略構成を示す説明図である。
【図2】 第一の実施の形態にかかる昇降機用モータの絶縁寿命推定システムの記憶部に格納されるデータを示す説明図である。
【図3】 第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにより行う絶縁寿命推定方法のフローチャート図である。
【図4】 第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにおいて、破壊検査による絶縁体の劣化指標(X)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との第一の相関関係(Fxy)を示す説明図である。
【図5】 第一の実施の形態にかかる絶縁寿命推定システムにおいて、経過時間(T)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との第二の相関関係(Fty)を示す説明図である。
【図6】 従来の絶縁寿命推定における絶縁抵抗Rと運転経過時間Tとの相関を示す説明図である。
【符号の説明】
1 絶縁寿命推定システム、20 相関関係Fxy,Ftyの算出工程、40非破壊検査による限界劣化指標値Yeの算出工程、50 推定絶縁寿命値Teの算出工程、100 入力部、200 演算部、300 記憶部、400 出力部、Xe 破壊検査による限界劣化指標値、Yn 無次元化された非破壊検査による劣化指標、Yen 無次元化された非破壊検査による限界劣化指標値、Ysn サンプルの無次元化された非破壊検査による劣化指標値、Ts サンプルの使用開始からの経過時間値。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for estimating an insulation life of a rotating machine used in an elevator or the like and a system for estimating an insulation life.
[0002]
[Prior art]
There are various patterns of performance deterioration of rotating machines used for elevators and the like. Among them, for example, deterioration of insulating performance of an insulating material such as a winding coating resin is a particularly important problem.
[0003]
As an index indicating the insulation deterioration of the insulating substance, a deterioration index (for example, dielectric breakdown voltage BDV, etc., hereinafter referred to as a breakdown index) accompanied by a breakdown of parts or materials, and a deterioration index (for example, a breakdown index (for example, breakdown voltage BDV)) Insulation resistance R, dielectric loss tangent tan δ, weak point ratio WR, polarization index PI, difference Δtan δ between dielectric loss tangent at rated voltage and dielectric loss tangent at 100 V, or product CR of capacitance C and insulation resistance R, etc. It is described as an indicator). Since the deterioration diagnosis based on the destruction index literally involves destruction, the deterioration state can be known in more detail and more accurately than the deterioration diagnosis based on the non-destructive index, but the inspected parts cannot be used continuously. Therefore, conventionally, such insulation deterioration diagnosis has been performed using a non-destructive index. FIG. 6 shows correlation data between the insulation resistance R and the elapsed operation time T. In the deterioration diagnosis based on these non-destructive indices, for example, in the insulation resistance R, an estimated value of 10 MΩ is set as the limit index value Ye, and the estimated insulation life value Te is calculated as a value corresponding to the limit index value based on this correlation. It was.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in such deterioration diagnosis by the conventional nondestructive inspection, the limit index value by the nondestructive inspection is an empirically determined value with poor accuracy, or as shown in FIG. Due to the large variation of the index with respect to time, it was difficult to determine the insulation lifetime with high accuracy for various samples. Therefore, there has been a problem of waste of resources and costs, such as forced replacement of parts even though the lifetime is still sufficient.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is a method for estimating the insulation performance life of an insulator of a rotating machine, and is a first of an insulator deterioration index (X) by destructive inspection and an insulator deterioration index (Y) by nondestructive inspection. A step of calculating a limit deterioration index value (Ye) by non-destructive inspection from a limit deterioration index value (Xe) by destructive inspection based on the statistical reliability of the correlation (Fxy), and an elapsed time (T) Based on a plurality of different second correlations (Fty) according to the classification of the deterioration progress rate with the deterioration index (Y) of the insulator by the nondestructive inspection, from the limit deterioration index value (Ye) by the nondestructive inspection And a step of calculating an estimated insulation lifetime value (Te). A method for estimating an insulation lifetime of a rotating machine.
In view of the above problems, the present onset Ming, the insulator according to the nondestructive inspection degradation index (Y) and further detailed and accurate insulator according prehensible destructive testing the deterioration condition deterioration index (X) and the first By determining the critical deterioration index value (Ye) based on the non-destructive inspection based on the correlation (Fxy), it is possible to calculate the estimated insulation life value (Te) with more certainty, thereby suppressing waste of resources and costs. can do.
[0006]
The present onset Ming, estimated insulation lifetime value based on a plurality of different second correlation (Fty) between the elapsed time (T) and the degradation index of the insulation by non-destructive inspection (Y) (Te) By calculating the above, it is possible to estimate the insulation life with higher accuracy on the basis of the correlation with little variation and high correlation.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0008]
First, a description will be given of a first embodiment in which the present invention is applied to an insulation life estimation system for a winding coating of an elevator motor. First, a schematic configuration of the present system will be described with reference to FIG.
[0009]
The
[0010]
FIG. 2 shows data stored in the
[0011]
Next, the method for estimating the insulation lifetime according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a flowchart of the insulation life estimation method, FIG. 4 is a diagram showing a first correlation Fxy between the failure index X and the non-destructive non-destructive index Yn, and FIG. 5 is made dimensionless with the elapsed time T. It is a figure which shows the 2nd correlation Fty with the nondestructive parameter | index Yn.
[0012]
First, data necessary for estimating the insulation life is input from the
[0013]
Next, a first correlation Fxy between the destructive index X and the non-destructive index Y and a second correlation Fty between the non-destructive index Y and the elapsed time T are calculated (correlation Fxy and Fty calculation step 20). .
[0014]
In this
[0015]
Next, for example, a method developed by the inventors (reference: Kinko, Oshima, Yamada, Iijima: Insulation diagnosis of a rotating machine for an elevator using an expert system incorporating fuzzy reasoning, Journal of the Institute of Electrical Engineers of Japan, Vol. 112, No. 11, Based on one or more first non-destructive index data Yda called in the
[0016]
The first non-destructive index data Ydan and the corresponding destructive index data Xd are used to obtain the first correlation Fxy, the second non-dimensional nondestructive index data Ydbn and the corresponding elapsed time data Td. The second correlation Fty is calculated from the above (correlation calculation step 23). In this step, for example, a regression coefficient, an average value, a standard deviation, and the like are calculated as the correlation. At this time, the second correlation Fty is calculated according to a flag F set in the second data set Db, for example, a flag Fs for each traveling speed. For example, when a plurality of flags Fs, for example, the third class (Fs = 1, 2, 3) is set, the same number, that is, the second correlation Fty (Fty1, Fty2, Fty3) of the third class is calculated accordingly. Is done. In the
[0017]
Next, a non-destructive sample non-destructive index value Ysn is calculated based on the input one or more sample non-destructive index values Ys by the same method as in step 22 (the non-destructive degradation index value of the sample Non-dimensionalization process 30). For example, when an insulation resistance value Ysa (Rs) and a dielectric loss tangent value Ysb (tan δs) are input as sample non-destructive index values, these are used according to the same method as in the
[0018]
Next, based on the first correlation Fxy, the limit non-destructive index value Ye is obtained from the limit destructive index value Xe (non-destructive limit deterioration index value calculating step 40). This
[0019]
Next, based on the second correlation Fty, the estimated insulation life value Te is estimated from the limit nondestructive index value Ye obtained in the previous step 40 (estimated insulation life value calculation step 50). This
[0020]
Then, it is determined whether or not the estimated insulation life value Te is calculated again by changing the reliability Rxy (determination step 60 for recalculating the estimated insulation life value). For example, when a plurality of reliability levels Rxy are input or set in advance in the previous
[0021]
The estimated insulation life value Te or remaining life value Tr (= Te−Ts) calculated in this way is output by the
[0022]
Then, the input non-destructive index value Ys and elapsed time value Ts of the sample are added as values of the second data set Db to the
[0023]
Note that the present embodiment is not limited to the above configuration and method.
[0024]
In the above-described embodiment, the measurement value itself of the nondestructive inspection is stored in the storage unit, but this may be a non-destructive nondestructive index value, or the first correlation Fxy or The second correlation Fty or the limit fracture index value Xe may be stored in the storage unit. According to these configurations, the number of processes for estimating the insulation life can be reduced, and the life can be estimated more quickly.
[0025]
In the above-described embodiment, the data set stored in the storage unit is divided into two, but may be stored as the same data set. In this case, when the first correlation Fxy is calculated, the data is called from the one that stores the destruction index data X, and when the second correlation Fty is calculated, the elapsed time data T is stored. Data is called.
[0026]
Further, in the above-described embodiment, the non-destructive non-destructive index data Ydn and the non-dimensional sample non-destructive index value Ysn are used to calculate the non-destructive non-destructive index Yn (Ydn, Ysn). The types of non-destructive indicators Y to be integrated as a group are the same. However, for example, regarding the nondestructive index data Yd of the same type as the sample nondestructive index value Ys, when the total number of the same type of data Yd is small, or the first or second correlation based on the same type of data Yd When the degree of correlation between Fxy and Fty is low, for example, when the degree of correlation cannot be sufficiently secured, the type of the non-destructive index Y used as the base is different from each other, for example, a higher degree of correlation is applied. You may make it do. For this purpose, a step of selecting or setting the type of the non-destructive index Y as the base may be provided. Thereby, life estimation with higher accuracy can be performed.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since the insulation life can be estimated more reliably, it can be used for a long period of time that is close to the insulation life of the rotating machine, which wastes resources and costs. In addition to being able to be suppressed, it is possible to prevent the function from being stopped due to the end of life during use.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of an insulation life estimation system for an elevator motor according to a first embodiment.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing data stored in a storage unit of the insulation life estimation system for an elevator motor according to the first embodiment;
FIG. 3 is a flowchart of an insulation life estimation method performed by the insulation life estimation system according to the first embodiment.
FIG. 4 shows a first correlation between an insulator deterioration index (X) by a destructive inspection and an insulator deterioration index (Y) by a nondestructive inspection in the insulation life estimation system according to the first embodiment ( It is explanatory drawing which shows Fxy).
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a second correlation (Fty) between an elapsed time (T) and a deterioration index (Y) of an insulator by nondestructive inspection in the insulation life estimation system according to the first embodiment; It is.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a correlation between an insulation resistance R and an elapsed operation time T in conventional insulation life estimation.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (4)
破壊検査による絶縁体の劣化指標(X)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との第一の相関関係(Fxy)の統計的な信頼度に基づいて、破壊検査による限界劣化指標値(Xe)から非破壊検査による限界劣化指標値(Ye)を算出する工程と、
経過時間(T)と非破壊検査による絶縁体の劣化指標(Y)との劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係(Fty)に基づいて、前記非破壊検査による限界劣化指標値(Ye)から推定絶縁寿命値(Te)を算出する工程と、
を有することを特徴とする回転機の絶縁寿命の推定方法。A method of estimating the life of insulation performance of an insulator of a rotating machine,
Based on the statistical reliability of the first correlation (Fxy) between the deterioration index (X) of the insulator by the destructive inspection and the deterioration index (Y) of the insulator by the non-destructive inspection, the limit deterioration index by the destructive inspection Calculating a limit deterioration index value (Ye) by nondestructive inspection from the value (Xe);
Based on a plurality of different second correlations (Fty) according to the classification of the degradation progress rate between the elapsed time (T) and the degradation index (Y) of the insulator by the nondestructive inspection, the limit degradation by the nondestructive inspection is performed. Calculating an estimated insulation lifetime value (Te) from the index value (Ye);
A method for estimating an insulation life of a rotating machine.
非破壊検査による絶縁体の劣化指標値(Ys)を入力する入力部と、An input unit for inputting a deterioration index value (Ys) of an insulator by nondestructive inspection;
非破壊検査による絶縁体の第一の劣化指標データ(Yda)とこれに応じた破壊検査による絶縁体の劣化指標データ(Xd)、および非破壊検査による絶縁体の第二の劣化指標データ(Ydb)とこれに応じた経過時間値(Td)とを格納する記憶部と、Insulator first degradation index data (Yda) by non-destructive inspection and insulator degradation index data (Xd) by destructive inspection corresponding thereto, and second degradation index data (Ydb) of insulator by non-destructive inspection ) And an elapsed time value (Td) according to this,
前記非破壊検査による劣化指標値(Ys)の種類に応じて、前記非破壊検査による第一の劣化指標データ(Yda)と破壊検査による劣化指標データ(Xd)とから求められる第一の相関関係(Fxy)と、前記非破壊検査による第二の劣化指標データ(Ydb)と経過時間データ(Td)とから求められる劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係(Fty)と、前記第一の相関関係(Fxy)の統計的な信頼度及び前記劣化進行速度の区分に応じた複数の異なる第二の相関関係(Fty)に基づいて前記非破壊検査による劣化指標値(Ys)から求められる推定絶縁寿命値(Te)と、を算出する演算部と、The first correlation obtained from the first deterioration index data (Yda) by the nondestructive inspection and the deterioration index data (Xd) by the destructive inspection according to the type of the deterioration index value (Ys) by the nondestructive inspection (Fxy) and a plurality of different second correlations (Fty) corresponding to the categories of deterioration progress rates determined from the second deterioration index data (Ydb) and elapsed time data (Td) by the nondestructive inspection The deterioration index value (Ys) by the nondestructive inspection based on a plurality of different second correlations (Fty) according to the statistical reliability of the first correlation (Fxy) and the deterioration progress rate classification ) An estimated insulation life value (Te) obtained from the calculation unit,
を備えたことを特徴とする回転機の絶縁寿命推定システム。A system for estimating an insulation life of a rotating machine.
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