JP3701477B2 - Cylindrical surface inspection device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、円筒状被検物の表面検査装置に関し、特に、電子写真方式の画像形成装置を構成する感光体ドラム表面の凸欠陥の検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来汎用されている電子写真方式の複写機の構造および、これによる複写プロセスについて図8を基に説明する。この複写機の基本構成は良く知られており、201は感光体ドラム、202は露光器、203はトナーボックス、204はトナー供給ローラ、205は現像ローラ、206は現像剤攪拌ローラ、207はトナーセンサ、208は固定ガイド、209は現像器、210はコロナ帯電器、211は除電器、212はクリーナ、213は転写器、214は分離器、215は定着器である。さらに、216はトナー、217はキャリア、218は記録紙である。
【0003】
上記複写機では、まず、暗所においてコロナ帯電器210で感光体ドラム201表面(外周面)を均一に帯電させる。
次に、露光器202により画像部以外のところに光を当て、光の当たった帯電電荷を除去し、画像部に電荷を残した静電潜像を形成する。現像部では、静電潜像と逆極性に帯電した着色微粒子であるトナーを潜像に付着させて可視画像とする。
続いて記録紙218をこのトナー像に付着させて、記録紙218の裏側からコロナ帯電器210でトナーの帯電極性とは逆極性の電荷を記録紙218に与え、静電力によりトナー像を記録紙218に転写する。転写されたトナー像に熱あるいは圧力を与え、記録紙218に融着させて永久像とする。
一方、転写されずに感光体ドラム201に残った残留トナーはクリーナ212で除去される。また、感光体ドラム201上の潜像電荷は光により除去される。この帯電から除電に至る一連のプロセスを繰り返すことにより連続的に印写が行われる。
【0004】
ところで、感光体ドラム201にトナーが正しく付着されるためには、現像ローラ205と感光体ドラム201とのギャップを一定に保つ必要がある。
そのため、例えば図8に示すように、現像ローラ205に上記固定ガイド208を設け、このガイド208に感光体ドラム201を両端を突き当てて回転させるような機構が用いられる。この際、感光体ドラム201の両端10mm程度が固定ガイド208に当接するガイド部になっていれば充分である。
【0005】
そのため、このような複写機に用いられている感光体ドラム201は、図9(a)(b)に示すように、両端部表面のうち10mm程度の部分が金属面201aになっており、この面には感光体が塗布されていない。もしも、この部分に凸欠陥(突起状欠陥)があるとギャップ量が変化して良好な転写ができなくなるため、このような感光体ドラムは使用するべきでない。
【0006】
また図9(b)に示すように、上記両端の金属面201aを含む長さ17.5mmの範囲は実際には非画像領域であるため、機能上は濃淡欠陥(色ムラ、白ポチ、白斑点、黒ポチ等)があってもかまわない。実際に、金属面201aと感光体塗布面201bとの境界部から数mm程度の部分には、良品であっても図9(b)のように色ムラがある。
しかし、前述のように、残留トナーを除去するクリーナ212の先端部を傷つける可能性のある凸欠陥があってはならない。つまり、感光体ドラム両端部の非画像領域では凸欠陥の有無を検出し、その凸欠陥の高さによって良否判定する必要がある。なお工程上、凸欠陥は金属面201aと感光体塗布面201bとの境界部に最も発生しやすい。
【0007】
感光体ドラム等の円筒状部材の欠陥検査装置として、特開平2−201142号公報(発明の名称:感光層表面の異常検出方法)や、特開平4−169840号公報(発明の名称:円周表面傷検査方法および装置)に開示されているものがある。
特開平2−201142号公報の装置では、図10に示すように光源311からのレーザ光を回転多面鏡313を介して感光体ドラム330の長手方向に順次走査する。この走査光は感光体ドラム330の感光層表面においてその長手方向に対して所定角度で反射し、受光器320に進入し、光電子倍増管322によって光強度が検出され、所定の演算処理装置に入力される。
このような動作が順次繰り返されることにより、感光体ドラム330の全面にレーザ光が走査されて、その表面の異状が検出される。
なお、図10において318,319は反射鏡、315はステッピングモータ、316はステージである。
【0008】
特開平4−169840号公報に記載の装置では、図11に示すように、ハロゲン光源等を備えた投光器401から感光体ドラム403へ向けてスリット光402が投射される。感光体ドラム403の表面欠陥によって散乱した散乱光はレンズ404によって集光され、ラインセンサ405で受光される。405aはラインセンサ405の画素列、406はラインセンサ405の受光範囲である。
【0009】
このように、上記公報に記載された装置のいずれにおいても、受光量の変化によって表面欠陥を検出するものであるため、欠陥の大きさ(面積)は計算できるが、欠陥の高さに関する情報を得ることはできないという問題がある。また、これらの装置は、欠陥のない正常部は均一であることが前提である。
したがって、図9の感光体ドラムの両端のように表面形状が異なるものや、良品であっても不均一な領域が存在する被検物に対しては、検出そのものが不可能であったり、検出できたとしても良品との区別ができなかったりする問題もある。
【0010】
また、特開昭56−55805号公報(発明の名称:被測定体の凹凸測定法)に開示された装置(図略)では変位計を直接、円筒状被検物に接触させて、その真円度や凹凸量を測定するように構成され、変位計の幅で測定領域が限定されている。しかしながら、上記感光体ドラム端部の凸欠陥検査にこの装置を応用する場合、変位計を感光体ドラムの長手方向に移動させながら何周分も測定しなければならず、検査時間が非常に長くなってしまう。
そこで渦電流式、静電容量式のようにある程度の幅を測定できる変位計を用いることが考えられるが、この場合にも、凸欠陥のような直径数十μm程度の測定対象に対しては正しい変位量が測定できない。この装置はあくまで、円筒状被検物の真円度や回転振れを測定するためのものにすぎず、欠陥を検出するために適したものとは言えない。
【0011】
そこで本発明者は、円筒状被検物の凸欠陥、特に感光体ドラムの両端部表面の凸欠陥を確実に検出することができる装置として、図12(a)(b)に示すものを検討中である。この凸欠陥検出装置500では、底板501の一端部に固定板502が固着され、底板501上にはリニアガイド(スライドガイド)503が固定され、このガイド503上に変位測定板504が前後動可能に設けられ、この変位測定板504の片側に接触ローラ505が自由回転可能に設けられている。504aは変位測定板504の下端部に固着したスライダである。
【0012】
さらに、圧縮ばね506の一端部が固定板502に固定され、他端部が変位測定板504に固定されている。
また、固定板502には距離変位計507が固定されている。この距離変位計507は、変位測定板504・固定板502間の距離を測定するためのものである。
一方、感光体ドラム510の両端部は図13のようにチャック511,512で固定され、チャック511にはカップリング513を介して回転モータ514が連結されている。
【0013】
凸欠陥検出に際しては、接触ローラ505の表面と感光体ドラム510の端部表面とを適当な圧力で接触させ、圧縮ばね506がある程度縮んだ状態に維持する。ここで回転モータ514によって感光体ドラム510を回転させると、接触ローラ505が連れ回る。この状態で感光体ドラム510を1回転させ、固定板502と変位測定板504との距離を距離変位計507で測定する。
【0014】
この場合において、もしも感光体ドラム510の表面に凸欠陥があれば、接触ローラ505がその凸欠陥により図12(a)(b)中、左向きに微小距離だけ押されるため、結果的に固定板502と変位測定板504との距離が近くなる。また、凸欠陥がなくなれば、圧縮ばね506の弾性力で変位測定板504が元の位置に戻るので、変位測定板504のこれら微小変位量を距離変位計507で測定し、記録する。
【0015】
図14は上記凸欠陥検出装置500による検出結果の一例を示すグラフであり、縦軸(変位)の「近い」は、凸欠陥があるため変位測定板504が固定板502に対して、凸欠陥のない正常な場合に比べて、より近い位置にあることを示ている。
また、図14の「変位」量に適当な閾値を設定することで凸欠陥を検出することが可能であり、上記グラフ中の「谷」の部分は凸欠陥信号を示している。換言すると、感光体ドラムとしては、図14のグラフが横軸に平行な直線になるものが望ましい。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、感光体ドラムの生産ラインでは、電子写真方式の画像形成装置(例えば複写機)の様々な仕様に対応して、長さ・直径や、端部凸欠陥の検査幅(「幅」とは、感光体ドラムの軸方向の寸法を意味する)が種々に異なる感光体ドラムが数日単位で生産される場合がしばしば生じる。
しかしながら、上記図12の凸欠陥検出装置では、このような多品種の感光体ドラムに対応することができない。
【0017】
本発明は、図10乃至図12に示す各種検査装置の問題点に鑑みなされたもので、その目的は円筒状被検物表面の凹凸、特に感光体ドラム表面の凸欠陥、あるいは円筒状被検物の真円度を簡単な構成、簡便な操作で検出することができ、特に複数品種の感光体ドラムに的確に対応することができる、円筒状被検物の表面検査装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
【0019】
請求項1に係る円筒状被検物の表面検査装置は、円筒状の被検物を回転自在にセットし、回転自在に設けたローラの表面を所定圧力で被検物の表面に接触させ、該被検物表面の形状に対応する上記ローラの変位量を測定する検査ユニットを備えた円筒状被検物の表面検査装置において、上記検査ユニットを上記ローラの軸直角断面において該ローラの変位方向と交差する方向に移動させる移動機構を設け、前記被検物を前記ローラの中心軸が変位する直線の延長線上からずらして設置してあることを特徴とする円筒状被検物の表面検査装置。
【0020】
請求項2に係る円筒状被検物の表面検査装置は、請求項1において、上記検査ユニットを上記ローラの中心軸線に平行な方向(被検物の長手方向)に移動させる移動機構をさらに設けたことを特徴とする。
【0021】
請求項3に係る円筒状被検物の表面検査装置は、請求項1または2において上記検査ユニットが上記ローラを着脱自在に備えていることを特徴とする。
【0022】
請求項4に係る円筒状被検物の表面検査装置は、請求項2において、上記ローラの幅を検査規格が最大の被検物に対応させたことを特徴とする。
【0024】
請求項5に係る円筒状被検物の表面検査装置は、請求項1〜4のいずれか一つの項において、被検物の外観検査を行う光学的検査機構を設けたことを特徴とする。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
実施の形態1
図1は円筒状被検物の表面検査装置の構成を示すもので、(a)は平面図、(b)は正面図である。この装置は感光体ドラムの両端部表面の凸欠陥を検出するためのものである。この装置では、図12に示す凸欠陥検出装置500と実質的に同一構造の装置を検査ユニット(凸欠陥検出ユニット)10とする。すなわち図1において、検査ユニット10を底板11、固定板12、スライドガイド13、変位測定板14、スライダ14a、接触ローラ15、圧縮ばね16および距離変位計17を設けて構成する。
【0026】
この検査ユニット10を、接触ローラ15の変位方向(感光体ドラム1または2の軸直角断面の中心点と、接触ローラ15の軸直角断面の中心点とを結ぶ線分の方向Ac)に平行な方向に移動させる移動機構としてスライド機構20を設けたものである。このような構成の表面検査装置を感光体ドラムの両端に対応して2つ並列に配備する。なお、以下説明の便宜上、感光体ドラムの両端部のうち図面上側の端部を「上端」と呼び、下側の端部を「下端」ということがある。
【0027】
スライド機構20では、出力軸にボールネジ23を連結した正逆転可能なモータ22をベースプレート21上に固定する。ボールネジ23にリニアガイド24を螺合させ、このリニアガイド24上に検査ユニット10を取り付ける。ボールネジ23は、その中心軸線が上記方向Acに平行になるように設ける。
【0028】
この表面検査装置により感光体ドラム1(直径が大)、2(直径が小)の端部凸欠陥を検出する場合には、回転モータ22でボールネジ23を回転させることにより、検査ユニット10をリニアガイド24と一体で感光体ドラム側に前進させ、接触ローラ15を所定の圧力で感光体ドラムに接触させる。このとき、リニアガイド24の前進方向Aaと、接触ローラ15の前進方向Abと、方向Acとは互いに平行(同一方向)である。
【0029】
このように、この表面検査装置では、直径が小さい感光体ドラム2の場合の接触ローラ15の前進距離を、直径が大きい感光体ドラム1の場合よりも適宜に長くすることで、上記接触圧を同一に設定することができるため、検出感度を同一に保つことが可能となり、また接触ローラ15の変位量から直接、凸欠陥の高さを判定することができる。したがって、直径が種々に異なる感光体ドラムに対応することができる。
【0030】
実施の形態2
図2(a)(b)は円筒状被検物の表面検査装置の構成を示す平面図である。この表面検査装置は、図1の装置を改変したものである。図1の装置ではこの図の左右方向に大きなスペースが必要となり、結果的に検査装置の大型化につながる不具合がある。そこで、図2の検査装置ではスライド機構20として、接触ローラ15の軸直角断面において該ローラの変位方向Abと交差するAd方向に検査ユニット10を移動させるものを設けた点に特徴がある。その他の構成は図1と同様で、直径が種々に異なる感光体ドラムに対応することができる。
【0031】
この表面検査装置により直径が大きい感光体ドラム1について凸欠陥を検出する場合には、図2(a)のように方向Abが方向Acに平行になる。直径が小さい感光体ドラム2の場合には、スライド機構20により検査ユニット10をAd方向に前進させて、接触ローラ15を感光体ドラム2に接触させるため、図2(b)のように方向Abが方向Acと交差する。
図2(a)の場合には、方向Abが方向Acに平行であるため、接触ローラ15の変位そのものを凸欠陥の高さと判断でき、また凸欠陥による接触ローラ15の動きが最も滑らかになる。
これに対し図2(b)の場合には、接触ローラ15の変位を適正に換算して凸欠陥の高さとする必要があるが、充分な検出感度を容易に得ることができる。
【0032】
実施の形態3
図3は、円筒状被検物の表面検査装置の構成を示す正面図である。この装置では、感光体ドラム3下端の凸欠陥を検出するための下端用検査ユニット10aを直接ベースプレート31上に設ける(検査ユニット10aは上下に移動しない)。また、感光体ドラム3上端の凸欠陥を検出するための上端用検査ユニット10bは、ベースプレート31上に垂設した支柱32に設けるとともに、検査ユニット10bを支柱32の長手方向に平行に昇降自在に設けることにより、検査ユニット10bを接触ローラ15の中心軸線に平行方向に移動自在とする。すなわち、支柱32にリニアガイド(スライドガイド)33と、その上に図略の昇降機構により昇降自在のスライダ34と、その上に断面L字型の支持板35とを設け、この支持板35上に上端用検査ユニット10bを設ける。検査ユニット10a,10bの構成は図1の検査ユニット10と同一とする。
【0033】
長さが種々に異なる感光体ドラム3の凸欠陥検出に際しては、図3に示すように感光体ドラム3を、下端用検査ユニット10aの接触ローラ15aに対する感光体ドラム3下端位置の接触高さを同一にしてセットする。
また、上端用検査ユニット10bは、上記昇降機構で適宜位置に昇降させることにより、接触ローラ15bを感光体ドラム3の上端に接触させる。
このように、この表面検査装置では、上端用検査ユニット10bを昇降させて高さ位置を適正に設定することで、長さが種々に異なる感光体ドラムに対応することができる。
【0034】
実施の形態4
図4(a)(b)は、円筒状被検物の表面検査装置の構成を示す正面図である。この装置は、端部凸欠陥検査幅が種々に異なる感光体ドラムに対応できるように構成したもので、検査ユニットが、接触ローラとその支持部材とからなる接触ローラユニットを着脱自在に備えている点に特徴がある。図4(a)に示す検査ユニット41aは、感光体ドラム4の検査幅Waに対応して幅の大きい接触ローラ15cを設けた接触ローラユニット42aを備え、図4(b)の検査ユニット41bは感光体ドラム4の検査幅Wb(ただし、Wa>Wb)に対応して、幅の小さい接触ローラ15dを設けた接触ローラユニット42bを備えている。ただし、これらの検査ユニットの全体構成は、図1の検査ユニット10と同一である。この表面検査装置では、検査幅がWaの場合には接触ローラユニット42aを取り付けて検査ユニット41aを構成し、検査幅がWbの場合には接触ローラユニット42bを取り付けて検査ユニット41bとする。
【0035】
実施の形態5
図5(a)(b)は、感光体ドラムの表面検査装置を構成する上端用検査ユニット51bを示す正面図である。この表面検査装置は図3の装置を改変し、端部凸欠陥検査幅が種々に異なる感光体ドラムに対応できるように構成したものである。すなわち接触ローラ15の幅を、端部凸欠陥検査幅の最大値Wmに設定するとともに、上端用検査ユニット51bを適宜高さに移動させるための昇降機構を設けたものである。なお、図示されていない下端用検査ユニットの接触ローラも同じように構成され、かつこの下端用検査ユニットも昇降自在である。
【0036】
端部凸欠陥検査幅が最大値Wmの感光体ドラムについて上記装置により検査を行う場合には、図5(a)に示すように、上端用検査ユニット51bの接触ローラ15の上端位置を感光体ドラム4の上端位置に合わせる。
また、感光体ドラムの端部凸欠陥検査幅が最大値Wmより小さいWnの場合には、図5(b)のように、接触ローラ15をWmとWnの差だけ上昇させる。
これに対し下端用検査ユニットでは、検査幅が最大値Wmの感光体ドラムについて検査を行う場合には、上記と逆に接触ローラの下端位置を感光体ドラムの下端位置に合わせ、検査幅がWnの場合には接触ローラをWmとWnの差だけ下降させる。
【0037】
実施の形態6
図6は、感光体ドラムの表面検査装置の構成を示す正面図である。この装置は、直径・長さ・端部凸欠陥検査幅が種々に異なる感光体ドラムに対応できるようにしたもので、図1、図3、図4にそれぞれ示す表面検査装置の構成要素を組み合わせて構成されている。
【0038】
すなわち、リニアガイド24上に支柱32を設け、これらをスライド機構20により一体的に前後動自在とする。接触ローラ15aを着脱自在に設けた下端用検査ユニット10aをリニアガイド24上に固着する。
また、接触ローラ15bを着脱自在に設けた上端用検査ユニット10bを支柱32に、図示されない昇降機構により昇降自在に設ける。スライド機構20が上記第1の移動機構に相当し、支柱32に設けた上記昇降機構が上記第2の移動機構に相当する。
図6に示す検査装置の作用効果については、図1,3,4に示す装置についての説明から明らかであろう。
【0039】
本発明では、図1〜図5に示す装置の構成要素を適宜に組み合わせることで、例えば下記のように種々の形態の表面検査装置を構成することができる。
(1)図1、図3の各装置の構成要素を組み合わせたもの、
(2)図1、図3、図5の各装置の構成要素を組み合わせたもの、
(3)図2、図3の各装置の構成要素を組み合わせたもの、
(4)図2、図4の各装置の構成要素を組み合わせたもの、
(5)図2、図5の各装置の構成要素を組み合わせたもの。
そして、(1)の装置によれば、直径・長さが種々に異なる感光体ドラムに対応することができ、(2)の装置は直径・長さ・検査幅が異なる感光体ドラムに対応でき、(3)の装置は、直径・長さが異なる感光体ドラムに対応できるうえ、装置を小型化することが可能となり、(4)(5)の装置では、直径・検査幅が異なる感光体ドラムに対応できうえ、装置の小型化が可能となる。
【0040】
実施の形態7
図7は、感光体ドラムの表面検査装置の構成を示す概略平面図である。この装置は、図1〜6の装置に感光体ドラムの外観検査を行う光学的検査機構を設けたものである。図7において61は感光体ドラム5の長手方向に伸びるライン光源、62はレンズ、63はラインセンサカメラである。感光体ドラム5は、図13に示すような回転駆動機構(図示せず)により回転自在である。この表面検査装置では、感光体ドラム5を上記回転駆動機構で回転させながらライン光源61から感光体ドラム5の塗布面に光を照射し、反射光をレンズ62を介してラインセンサカメラ63で受光する。これにより、感光体ドラム5の端部凸欠陥検査と、ドラム全面にわたる塗布面の外観検査とを同時に行うことができる。
【0041】
上記各実施の形態は、感光体ドラムの端部凸欠陥検査用の装置に係るものであるが、本発明に係る円筒状被検物の表面検査装置はこれに限らず、各種円筒体外周面の凹凸状態や傷の検出、またはその真円度の測定するための装置として構成することもできる。
【0042】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば以下の効果が得られる。
この円筒状被検物の表面検査装置では、接触ローラと円筒状被検物との接触による該接触ローラの変位方向に平行な方向に検査ユニットを移動させる移動機構を設けたため、直径が種々に異なる被検物について凸欠陥検査、凹凸状態や傷の検出、またはその真円度の測定を行うことができ、種々の直径の被検物に的確に対応することが可能である。
【0043】
本発明の表面検査装置では、検査ユニットを接触ローラの軸直角断面においてこの接触ローラの変位方向と交差する方向に移動させる移動機構を設けたため、請求項1の表面検査装置による上記効果に加えて、この請求項1に比べて装置全体を小型化することができる効果がある。
【0044】
本発明の表面検査装置では、検査ユニットを接触ローラの中心軸線に平行な方向に移動させる移動機構を設けたため、長さが種々に異なる被検物に対応することができる。
【0045】
本発明の表面検査装置では、検査ユニットが接触ローラを着脱自在に備えているため、幅が大、小に異なる接触ローラを交換取付けすることで、検査幅が種々に異なる被検物に対応することができる。
【0046】
本発明の表面検査装置では、接触ローラの幅を検査規格が最大の被検物(検査幅が最大)に対応させるとともに、検査ユニットを接触ローラの中心軸線に平行な方向に移動させる移動機構を設けたため、検査幅が種々に異なる被検物に対応することができる。
【0047】
本発明の表面検査装置では、検査ユニットを接触ローラの変位方向に平行な方向に移動させる第1の移動機構と、検査ユニットを接触ローラの中心軸線に平行な方向に移動させる第2の移動機構とを設け、さらに接触ローラを検査ユニットに着脱自在としたため、直径・長さ・検査幅が種々に異なる被検物に対応することができる。
【0048】
本発明の表面検査装置では、請求項1〜4のいずれかの装置に、被検物の外観検査を行う光学的検査機構を併設したため、被検物表面の凸欠陥検査などと、表面の外観検査とを同時に行うことができる。
【0049】
このように、本発明によれば、円筒状被検物表面の凸欠陥などを簡単な構成、簡便な操作で的確に検査することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の構成を示すもので、(a)は平面図、(b)は正面図である。
【図2】本発明の実施の形態2の構成を示す平面図である。
【図3】本発明の実施の形態3の構成を示す正面図である。
【図4】本発明の実施の形態4の構成を示す正面図である。
【図5】本発明の実施の形態5の構成を示す正面図である。
【図6】本発明の実施の形態6の構成を示す正面図である。
【図7】本発明の実施の形態7の構成を示す概略平面図である。
【図8】電子写真方式の複写機の要部構成を示す断面図である。
【図9】図8の複写機に設けられる感光体ドラムの一例を示すもので、(a)は正面図、(b)は(a)の一部拡大図である。
【図10】感光体ドラム表面の異状検出装置の従来例を示す概略構成図である。
【図11】感光体ドラム表面の欠陥検出装置の従来例を示す概略構成図である。
【図12】本発明者が検討中の、感光体ドラム端部表面の凸欠陥検出装置の構成を示すもので、(a)は平面図、(b)は正面図である。
【図13】図12の検出装置と組み合わせて用いられる感光体ドラム支持回転装置の構成を示す概略説明図である。
【図14】図12の検出装置による検出結果の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
1〜5 感光体ドラム
10 検査ユニット
10a 下端用検査ユニット
10b 上端用検査ユニット
11 底板
12 固定板
13 スライドガイド
14 変位測定板
14a スライダ
15 接触ローラ
15a 接触ローラ
15b 接触ローラ
15c 接触ローラ
15d 接触ローラ
16 圧縮ばね
17 距離変位計
20 スライド機構
21 ベースプレート
22 回転モータ
23 ボールネジ
24 リニアガイド
31 ベースプレート
32 支柱
33 リニアガイド(スライドガイド)
34 スライダ
35 支持板
41a 検査ユニット
41b 検査ユニット
42a 接触ローラユニット
42b 接触ローラユニット
51b 上端用検査ユニット
61 ライン光源
62 レンズ
63 ラインセンサカメラ
500 凸欠陥検出装置
501 底板
502 固定板
503 リニアガイド(スライドガイド)
504 変位測定板
504a スライダ
505 接触ローラ
506 圧縮ばね
507 距離変位計
510 感光体ドラム
511 チャック
512 チャック
513 カップリング
514 回転モータ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a surface inspection apparatus for a cylindrical test object, and more particularly to an apparatus for detecting a convex defect on the surface of a photosensitive drum constituting an electrophotographic image forming apparatus.
[0002]
[Prior art]
A structure of a conventional electrophotographic copying machine and a copying process using the same will be described with reference to FIG. The basic structure of this copying machine is well known, 201 is a photosensitive drum, 202 is an exposure device, 203 is a toner box, 204 is a toner supply roller, 205 is a developing roller, 206 is a developer stirring roller, and 207 is a toner.
[0003]
In the copying machine, first, the surface (outer peripheral surface) of the
Next, light is applied to a portion other than the image portion by the
Subsequently, the
On the other hand, the residual toner remaining on the
[0004]
Incidentally, in order for the toner to adhere correctly to the
Therefore, for example, as shown in FIG. 8, a mechanism is used in which the
[0005]
Therefore, as shown in FIGS. 9 (a) and 9 (b), the
[0006]
Further, as shown in FIG. 9B, since the range of 17.5 mm in length including the metal surfaces 201a at both ends is actually a non-image area, the density defect (color unevenness, white spots, white spots) is functionally present. There may be dots, black spots, etc.). Actually, even in the case of a non-defective product, there is a color unevenness in a portion about several mm from the boundary between the metal surface 201a and the photoreceptor coating surface 201b as shown in FIG.
However, as described above, there should be no convex defect that may damage the tip of the
[0007]
As a defect inspection apparatus for a cylindrical member such as a photosensitive drum, Japanese Patent Laid-Open No. Hei 2-2014142 (Title of Invention: Abnormality Detection Method for Surface of Photosensitive Layer) and Japanese Patent Laid-Open No. Hei 4-169840 (Title of Invention: Circumference) (Surface inspection method and apparatus).
In the apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2-201442, the laser beam from the
By sequentially repeating such an operation, the laser beam is scanned over the entire surface of the
In FIG. 10, 318 and 319 are reflecting mirrors, 315 is a stepping motor, and 316 is a stage.
[0008]
In the apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 4-169840,
[0009]
As described above, in any of the apparatuses described in the above publications, since the surface defect is detected by the change in the amount of received light, the size (area) of the defect can be calculated, but information on the height of the defect can be obtained. There is a problem that you can not get. In addition, these apparatuses are premised on that the normal part without defects is uniform.
Therefore, the detection itself is not possible or is not possible for a specimen having a different surface shape such as both ends of the photosensitive drum in FIG. There is also a problem that even if it can be done, it cannot be distinguished from good products.
[0010]
Further, in an apparatus (not shown) disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-55805 (title of invention: method for measuring unevenness of measured object), a displacement meter is directly brought into contact with a cylindrical test object, and its true It is configured to measure the circularity and the amount of unevenness, and the measurement area is limited by the width of the displacement meter. However, when this apparatus is applied to the inspection of the convex defect at the end of the photosensitive drum, the displacement meter must be measured while moving in the longitudinal direction of the photosensitive drum, and the inspection time is very long. turn into.
Therefore, it is conceivable to use a displacement meter that can measure a certain width, such as an eddy current type and a capacitance type, but in this case as well, for a measurement object having a diameter of about several tens of μm such as a convex defect. The correct amount of displacement cannot be measured. This apparatus is merely for measuring the roundness and rotational shake of a cylindrical specimen, and cannot be said to be suitable for detecting a defect.
[0011]
Therefore, the present inventor has examined an apparatus shown in FIGS. 12A and 12B as an apparatus capable of reliably detecting a convex defect of a cylindrical specimen, particularly a convex defect on both end surfaces of the photosensitive drum. It is in. In this convex
[0012]
Further, one end of the
A
On the other hand, both ends of the
[0013]
When detecting the convex defect, the surface of the
[0014]
In this case, if there is a convex defect on the surface of the
[0015]
FIG. 14 is a graph showing an example of the detection result obtained by the convex
Further, it is possible to detect a convex defect by setting an appropriate threshold value for the amount of “displacement” in FIG. 14, and the “valley” portion in the graph indicates a convex defect signal. In other words, as the photosensitive drum, it is desirable that the graph of FIG. 14 is a straight line parallel to the horizontal axis.
[0016]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the photosensitive drum production line, the length / diameter and the inspection width ("width") of the edge convex defect correspond to various specifications of an electrophotographic image forming apparatus (for example, a copying machine). In many cases, photoconductor drums having different dimensions (meaning the axial dimension of the photoconductor drum) are produced in units of several days.
However, the convex defect detection apparatus shown in FIG. 12 cannot cope with such a variety of photosensitive drums.
[0017]
The present invention has been made in view of the problems of the various inspection apparatuses shown in FIGS. 10 to 12. The object of the present invention is to provide irregularities on the surface of the cylindrical object, particularly convex defects on the surface of the photosensitive drum, or cylindrical inspection. To provide a surface inspection apparatus for a cylindrical object that can detect the roundness of an object with a simple configuration and a simple operation, and can particularly cope with a plurality of types of photosensitive drums. is there.
[0018]
[Means for Solving the Problems]
[0019]
Claim1The cylindrical inspection object surface inspection apparatus according to the present invention sets a cylindrical inspection object in a rotatable manner, and makes the surface of the roller provided rotatably contact the surface of the inspection object with a predetermined pressure. In a surface inspection apparatus for a cylindrical object having an inspection unit for measuring a displacement amount of the roller corresponding to the shape of an object surface, the inspection unit intersects the displacement direction of the roller in a cross section perpendicular to the axis of the roller. Provide a moving mechanism to move in the directionThe test object is installed by being shifted from a linear extension line on which the central axis of the roller is displaced.A surface inspection apparatus for a cylindrical specimen characterized by the above.
[0020]
Claim2The cylindrical surface inspection device according toIn claim 1,A moving mechanism for moving the inspection unit in a direction parallel to the central axis of the roller (longitudinal direction of the test object);furtherIt is provided.
[0021]
Claim3The cylindrical surface inspection device according toClaim 1 or 2The inspection unit includes the roller detachably.
[0022]
Claim4A surface inspection apparatus for a cylindrical object according to claim2The width of the roller is made to correspond to the test object having the maximum inspection standard.
[0024]
Claim5The cylindrical surface inspection device according toClaims 1-4In any one of the above items, an optical inspection mechanism for inspecting the appearance of the test object is provided.
[0025]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
Embodiment1
FIG. 1 shows the configuration of a surface inspection apparatus for a cylindrical specimen, wherein (a) is a plan view and (b) is a front view. This apparatus is for detecting a convex defect on both end surfaces of the photosensitive drum. In this apparatus, an apparatus having substantially the same structure as the convex
[0026]
This
[0027]
In the
[0028]
When this surface inspection apparatus detects a convex defect at the end of the photosensitive drum 1 (large diameter) and 2 (small diameter), the
[0029]
Thus, in this surface inspection apparatus, the contact pressure is increased by appropriately setting the advance distance of the
[0030]
Embodiment2
2A and 2B are plan views showing the configuration of a surface inspection apparatus for a cylindrical specimen. This surface inspection apparatus is a modification of the apparatus shown in FIG. The apparatus of FIG. 1 requires a large space in the left-right direction in this figure, and as a result, there is a problem that leads to an increase in the size of the inspection apparatus. Therefore, the inspection apparatus of FIG. 2 is characterized in that a
[0031]
When a convex defect is detected for the photosensitive drum 1 having a large diameter by this surface inspection apparatus, the direction Ab is parallel to the direction Ac as shown in FIG. In the case of the
In the case of FIG. 2A, since the direction Ab is parallel to the direction Ac, the displacement of the
On the other hand, in the case of FIG. 2B, it is necessary to appropriately convert the displacement of the
[0032]
Embodiment3
FIG. 3 is a front view showing a configuration of a surface inspection apparatus for a cylindrical test object. In this apparatus, a lower end inspection unit 10a for detecting a convex defect at the lower end of the
[0033]
When detecting the convex defect of the
Further, the upper end inspection unit 10 b moves the contact roller 15 b to the upper end of the
As described above, in this surface inspection apparatus, the upper end inspection unit 10b is moved up and down to appropriately set the height position, so that it is possible to cope with photosensitive drums having different lengths.
[0034]
Embodiment4
4 (a) and 4 (b) are front views showing the configuration of a surface inspection apparatus for a cylindrical specimen. This apparatus is configured so as to be compatible with various photosensitive drums having different end convex defect inspection widths, and the inspection unit is detachably provided with a contact roller unit including a contact roller and a supporting member thereof. There is a feature in the point. The inspection unit 41a shown in FIG. 4A includes a contact roller unit 42a provided with a contact roller 15c having a large width corresponding to the inspection width Wa of the
[0035]
Embodiment5
FIGS. 5A and 5B are front views showing the upper
[0036]
When the above-mentioned apparatus is used to inspect the photosensitive drum having the maximum edge defect inspection width Wm, as shown in FIG. 5A, the upper end position of the
Further, when the end convex defect inspection width of the photosensitive drum is Wn smaller than the maximum value Wm, the
On the other hand, in the inspection unit for the lower end, when inspecting the photosensitive drum having the inspection width of the maximum value Wm, the lower end position of the contact roller is aligned with the lower end position of the photosensitive drum in reverse to the above, and the inspection width is Wn. In this case, the contact roller is lowered by the difference between Wm and Wn.
[0037]
Embodiment6
FIG. 6 is a front view showing the configuration of the surface inspection apparatus for the photosensitive drum. This device is designed to be compatible with photoreceptor drums with different diameters, lengths, and edge convex defect inspection widths, and combines the components of the surface inspection devices shown in FIGS. 1, 3, and 4 respectively. Configured.
[0038]
That is, the
Further, the upper end inspection unit 10b provided with the contact roller 15b is detachably provided on the
The operational effects of the inspection apparatus shown in FIG. 6 will be apparent from the description of the apparatus shown in FIGS.
[0039]
In the present invention, by appropriately combining the components of the apparatus shown in FIGS. 1 to 5, various types of surface inspection apparatuses can be configured as follows, for example.
(1) A combination of the components of each device in FIG. 1 and FIG.
(2) A combination of the components of each device in FIG. 1, FIG. 3, and FIG.
(3) A combination of the components of each device in FIG. 2 and FIG.
(4) A combination of the components of each device in FIG. 2 and FIG.
(5) A combination of the components of each device shown in FIGS.
According to the apparatus of (1), it is possible to deal with photosensitive drums having various diameters and lengths, and the apparatus of (2) can cope with photosensitive drums having different diameters, lengths and inspection widths. The apparatus of (3) can cope with photosensitive drums having different diameters and lengths, and the apparatus can be miniaturized. (4) In the apparatuses of (5), photosensitive bodies having different diameters and inspection widths. In addition to being compatible with drums, the size of the apparatus can be reduced.
[0040]
Embodiment7
FIG. 7 is a schematic plan view showing the configuration of the surface inspection apparatus for the photosensitive drum. This apparatus is provided with an optical inspection mechanism for inspecting the appearance of a photosensitive drum in the apparatus shown in FIGS. In FIG. 7, 61 extends in the longitudinal direction of the photosensitive drum 5.lineA light source, 62 is a lens, and 63 is a line sensor camera. The
[0041]
Each of the above embodiments relates to an apparatus for inspecting a convex defect at the end of a photosensitive drum. However, the surface inspection apparatus for a cylindrical specimen according to the present invention is not limited to this, and various cylindrical body outer peripheral surfaces. It can also be configured as an apparatus for detecting the uneven state and scratches of the surface, or measuring the roundness thereof.
[0042]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, the present invention provides the following effects.The
In this surface inspection apparatus for a cylindrical specimen, a moving mechanism for moving the inspection unit in a direction parallel to the displacement direction of the contact roller due to contact between the contact roller and the cylindrical specimen is provided. Convex defect inspection, uneven state and scratch detection, or roundness measurement can be performed on different specimens, and it is possible to accurately deal with specimens of various diameters.
[0043]
Of the present inventionIn the surface inspection apparatus, since the moving mechanism for moving the inspection unit in a direction intersecting the displacement direction of the contact roller in the cross section perpendicular to the axis of the contact roller is provided, in addition to the above-described effect by the surface inspection apparatus of claim 1, Compared with item 1, there is an effect that the entire apparatus can be reduced in size.
[0044]
Of the present inventionIn the surface inspection apparatus, since the moving mechanism for moving the inspection unit in a direction parallel to the central axis of the contact roller is provided, it is possible to cope with test objects having different lengths.
[0045]
Of the present inventionIn the surface inspection apparatus, since the inspection unit is detachably provided with the contact roller, it is possible to deal with specimens having different inspection widths by exchanging and attaching contact rollers having large and small widths. .
[0046]
Of the present inventionIn the surface inspection device, since the width of the contact roller corresponds to the test object having the maximum inspection standard (the inspection width is maximum), and the moving mechanism for moving the inspection unit in the direction parallel to the central axis of the contact roller is provided. It is possible to deal with specimens having different inspection widths.
[0047]
Of the present inventionThe surface inspection apparatus includes a first movement mechanism that moves the inspection unit in a direction parallel to the displacement direction of the contact roller, and a second movement mechanism that moves the inspection unit in a direction parallel to the central axis of the contact roller. Furthermore, since the contact roller is detachably attached to the inspection unit, it is possible to deal with test objects having different diameters, lengths, and inspection widths.
[0048]
Of the present inventionIn surface inspection equipment,Claims 1-4Since any of these apparatuses is provided with an optical inspection mechanism for inspecting the appearance of the test object, it is possible to perform a convex defect inspection on the surface of the test object and an appearance inspection of the surface at the same time.
[0049]
ThisAs described above, according to the present invention, it is possible to accurately inspect a convex defect on the surface of a cylindrical test object with a simple configuration and a simple operation.
[Brief description of the drawings]
FIGS. 1A and 1B show a configuration of a first embodiment of the present invention, where FIG. 1A is a plan view and FIG. 1B is a front view.
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a front view showing a configuration of a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a front view showing a configuration of a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a front view showing a configuration of a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a front view showing a configuration of a sixth embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a schematic plan view showing the configuration of a seventh embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a main configuration of an electrophotographic copying machine.
FIGS. 9A and 9B show an example of a photosensitive drum provided in the copier of FIG. 8, in which FIG. 9A is a front view and FIG. 9B is a partially enlarged view of FIG.
FIG. 10 is a schematic configuration diagram showing a conventional example of an abnormality detection device for the surface of a photosensitive drum.
FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a conventional example of a defect detection device on the surface of a photosensitive drum.
FIGS. 12A and 12B show a configuration of a convex defect detecting device on the surface of the end of the photosensitive drum under investigation by the present inventor, wherein FIG. 12A is a plan view and FIG. 12B is a front view.
13 is a schematic explanatory diagram showing a configuration of a photosensitive drum support rotating device used in combination with the detection device of FIG. 12. FIG.
14 is a graph showing an example of a detection result obtained by the detection device of FIG.
[Explanation of symbols]
1-5 Photosensitive drum
10 Inspection unit
10a Inspection unit for lower end
10b Upper end inspection unit
11 Bottom plate
12 Fixed plate
13 Slide guide
14 Displacement measuring plate
14a slider
15 Contact roller
15a Contact roller
15b Contact roller
15c contact roller
15d contact roller
16 Compression spring
17 Distance displacement meter
20 Slide mechanism
21 Base plate
22 Rotating motor
23 Ball screw
24 Linear guide
31 Base plate
32 props
33 Linear guide (slide guide)
34 Slider
35 Support plate
41a Inspection unit
41b Inspection unit
42a Contact roller unit
42b Contact roller unit
51b Upper end inspection unit
61 line light source
62 lenses
63 Line sensor camera
500 Convex defect detector
501 Bottom plate
502 fixed plate
503 Linear guide (slide guide)
504 Displacement measurement board
504a slider
505 Contact roller
506 Compression spring
507 Distance displacement meter
510 Photosensitive drum
511 chuck
512 chuck
513 coupling
514 Rotation motor
Claims (5)
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