JP3712656B2 - Electrolytic capacitor aging device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電解コンデンサのエージング装置に関する技術分野に属するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、電解コンデンサの製造過程において、製造中に生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復するべく、エージング装置によって、エージング処理が施される。かかるエージング装置においては、多数の電解コンデンサを治具の所定ポジションに保持させた状態で、加熱炉内に入れて過熱するとともに、保持された電解コンデンサに所定の電圧を供給することが行われる。
【0003】
このようなエージング装置の異常を検査するにあたって、従来ではエージング処理を停止し、エージング装置内から電解コンデンサを全て取り出すことが行われていた。すなわち、各治具に関し、電解コンデンサを保持するポジション1つ1つについて、所定の電圧が的確に供給される状態にあるか否かを作業者が検査するようになっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記技術では、多数のポジション1つ1つについて異常の有無を検査する必要があるため、非常に手間がかかっていた。また、エージング装置全体の作動を停止して検査する必要があるため、いつでも検査が実施可能という訳ではなく、異常が発生した時点で速やかに当該異常を検出することは、極めて困難であった。従って、異常が発生したとしても、その異常を検知するまでに非常に時間がかかったり、或いは異常のあるポジションに電解コンデンサが供給されて無駄に不良品を製造してしまうといった不具合の生じるおそれがあった。
【0005】
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、異常検出のための作業性の低下を招くことなく、速やかに異常を検出することの可能なエージング装置を提供することを主たる目的の一つとしている。
【0006】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記目的を達成し得る特徴的手段について以下に説明する。また、各手段につき、特徴的な作用及び効果を必要に応じて記載する。
【0007】
手段1.電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段とを備えた電解コンデンサのエージング装置において、前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設けたことを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【0008】
上記手段1によれば、エージング手段によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング手段の異常の有無が判定される。このように、エージング装置自身によって異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング手段を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング手段を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。
【0009】
手段2.電解コンデンサをエージング処理するためのエージング手段と、前記エージング手段を制御する制御手段と、前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段とを備えた電解コンデンサのエージング装置において、前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、当該判定手段による判定結果に基づいて前記制御手段を制御するようにしたことを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。
【0010】
上記手段2によれば、エージング手段によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング手段の異常の有無が判定される。このように、エージング装置自身によって異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング手段を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング手段を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。さらに、判定手段の判定結果に基づき、制御手段によってエージング手段が制御される。このため、比較的早期に対策を講じることができる。
【0011】
手段3.前記制御手段は、異常を報知するための報知手段へ異常信号を出力可能となっていることを特徴とする手段2に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0012】
上記手段3によれば、異常が検出されると、制御手段によって報知手段へ異常信号が出力される。すると、報知手段により作業者等へ報知される。これにより、確実に異常を検知し、より確実に早期に対策を講じることができる。
【0013】
手段4.前記制御手段は、前記エージング手段の作動を停止するための停止信号を出力可能となっていることを特徴とする手段2又は3に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0014】
上記手段4によれば、異常が検出されると、制御手段によってエージング手段の作動を停止するための停止信号が出力され、エージング手段が停止される。これにより、電解コンデンサが異常のあるエージング手段によりエージング処理され、無駄に不良品が製造されてしまうといった不具合が抑制される。
【0015】
手段5.前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっていることを特徴とする手段1乃至4のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0016】
上記手段5によれば、エージング手段には、複数の治具が備えられており、該治具には、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションが備えられている。また、判定手段には、管理部が備えられており、管理部によって各ポジション単位及び各治具単位で検査結果が管理される。管理されたデータに基づいて、判定手段では、エージング手段の少なくとも各ポジション単位及び各治具単位の異常が判定される。このように、異常の発生した範囲に応じて異常個所を特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。また、異常の発生原因の推測にも役立つ。さらに、部品交換等を必要最小限に抑えることが可能となる。
【0017】
手段6.前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各グループ単位の異常を判定可能となっていることを特徴とする手段1乃至4のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0018】
上記手段6によれば、エージング手段には、複数の治具が備えられており、該治具には、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションが備えられている。また、判定手段には、管理部が備えられており、管理部によって各ポジション単位、各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果が管理される。管理されたデータに基づいて、判定手段では、エージング手段の少なくとも各ポジション単位、各治具単位及び各グループ単位の異常が判定される。このように、異常の発生した範囲に応じて異常個所を特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。また、異常の判定単位がポジション、治具及びグループに分かれているため、異常の発生原因の推測にも一層役立つ。さらに、部品交換等を必要最小限に抑えることが可能となる。
【0019】
手段7.前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各グループのうち同一グループ内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はそのグループが異常であると判定することを特徴とする手段6に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0020】
上記手段7によれば、検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、同一グループ内において所定個数以上であるとき、判定手段によってそのグループが異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高いグループについて異常判定されることで、グループ単位での不良をより確実に判定することができる。
【0021】
手段8.前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各治具のうち同一治具内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はその治具が異常であると判定することを特徴とする手段5乃至7のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0022】
上記手段8によれば、検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、同一治具内において所定個数以上であるとき、判定手段によってその治具が異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高い治具について異常判定されることで、治具単位での不良をより確実に判定することができる。
【0023】
手段9.前記検査手段によって電解コンデンサの不良が、前記各ポジションのうち同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、前記判定手段は、そのポジションが異常であると判定することを特徴とする手段5乃至8のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0024】
上記手段9によれば、検査手段によって電解コンデンサの不良が、同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、判定手段によってそのポジションが異常であると判定される。すなわち、不良発生率の高いポジションについて異常判定されることで、ポジション単位での不良をより確実に判定することができる。尚、「所定回数検出されたとき」に代えて、「連続して所定回数検出されたとき」としてもよい。
【0025】
手段10.前記検査手段は、少なくとも前記エージング処理の施された電解コンデンサのリーク電流を検査するものであることを特徴とする手段1乃至9のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0026】
上記手段10によれば、検査手段によって、少なくともエージング処理の施された電解コンデンサのリーク電流が検査される。リーク電流の検査において電解コンデンサが不良品である場合、エージング処理が不適切である可能性が高く、、エージング手段に異常があることに大いに関連する。従って、判定手段によって、リーク電流の検査結果が用いられることで、より確実かつ、比較的容易にエージング手段の異常を検出できる。
【0027】
手段11.複数の治具の複数ポジションに取り付けられる電解コンデンサをエージング処理するためのエージング装置の異常を検出するための異常検出装置であって、前記エージング装置にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と、前記検査手段の検査結果に基づき、少なくとも前記治具単位及び前記ポジション単位で異常の判定を行う判定手段とを備えたことを特徴とするエージング装置の異常検出装置。
【0028】
上記手段11によれば、エージング装置によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果に基づき、判定手段によって、エージング装置の異常の有無が判定される。このように、異常検出装置によってエージング装置の異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。従って、検査に際しての作業性の低下を防止することができる。また、エージング装置を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング装置を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。
【0029】
手段12.複数の治具の複数ポジションに取り付けられる電解コンデンサをエージング処理するためのエージング装置の異常を検出するための異常検出装置であって、前記エージング装置にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と、前記検査手段の検査結果に基づき、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理し、管理されるデータに基づいて前記エージング装置の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常の有無を判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき、少なくともエージング装置に備えられた異常を報知するための報知手段へ異常信号を出力することで、前記エージング装置を制御する制御手段とを備えたことを特徴とするエージング装置の異常検出装置。
【0030】
上記手段12によれば、エージング装置によってエージング処理の施された電解コンデンサが、検査手段によって検査される。検査手段の検査結果は、判定手段によって、各ポジション単位及び各治具単位で管理され、管理されたデータに基づいて、エージング装置の治具単位及びポジション単位で異常の有無が判定される。このように、異常検出装置によってエージング装置の異常を検出することができるため、人手によって異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。また、異常の発生した範囲に応じて異常個所を治具単位、ポジション単位で特定できるため、異常の発生した個所を探す手間を低減できる。従って、検査効率の悪化を防止することができる。さらに、エージング装置を作動させた状態で異常を検出できるため、エージング装置を停止して検査する必要がなく、異常が発生した時点で速やかに異常を検出できる。加えて、判定手段の判定結果に基づき、制御手段によってエージング装置に備えられた報知手段へ異常信号が出力されることで、作業者等へ報知される。これにより、確実に異常を検知し、早期に対策を講じることができる。
【0031】
手段13.前記制御手段は、異常の検出された前記ポジション及び前記治具に電解コンデンサの供給を停止するための停止信号を出力可能となっていることを特徴とする手段5に記載の電解コンデンサのエージング装置。
【0032】
上記手段13によれば、異常が検出されると、制御手段によって異常の検出された前記ポジション及び前記治具に電解コンデンサの供給を停止するための停止信号が出力される。すると、異常の検出された前記ポジション及び前記治具には電解コンデンサが供給されない。これにより、電解コンデンサが異常のある状態でエージング処理されて、無駄に不良品が製造されてしまうといった不具合が抑制される。
【0033】
【発明の実施の形態】
以下に、一実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【0034】
図1,2に示すように、本実施の形態におけるエージング装置1は、搬送手段2、図示しない供給取出手段、エージング手段3、管理ユニット4、検査手段5及び制御手段6(図8参照)を備えている。
【0035】
エージング前の電解コンデンサ(コンデンサ素子)7(図4,7参照)は、搬送手段2によってエージング手段3の方へと搬送されるようになっている。搬送された電解コンデンサ7は、供給取出手段によってエージング手段3に供給され、それぞれ所定位置にセットされるようになっている。また、エージング手段3によって、電解コンデンサ7にエージング処理等が施されるようになっている。
【0036】
ここで、エージング手段3の基本構成について説明する。図3に示すように、エージング手段3は、電解コンデンサ7を加熱するための加熱機構8と、電解コンデンサ7を保持するための治具9と、電解コンデンサ7を回転させつつ送るための送り機構10とを備えている。
【0037】
送り機構10は、軸受11を備えており、軸受11には回転軸12が回転可能に支持されている。該回転軸12には、ホイール状の二対の(一対でもよい)回転体13が所定間隔を隔てて取り付けられており、これら回転体13は、図示しない駆動モータの回転に基づいてゆっくりと回転するようになっている。回転体13の外周には、複数個(例えば60〜100個:本実施の形態では80個)の長尺状の前記治具9が、所定間隔を隔てて取り付けられている。
【0038】
また、治具9の移送経路の外周には、加熱機構8が設けられている。加熱機構8は、加熱炉14を備えており、該加熱炉14は、治具9の移送経路の外周を環状に囲み、かつ、外部から隔てられている。加熱炉14は、軸受11に取り付けられた略ホイール状のフレーム15により回転軸12と同心状に支えられている。また、加熱炉14の円周方向の一端縁側には、図示しないヒータ及び送風機が設けられており、これにより、加熱炉14内に熱風が送られ、電解コンデンサ7が加熱されるようになっている。
【0039】
図4,5,6に示すように前記治具9は、電解コンデンサ7を取り付けるための基板18(18A,18B)と、取り付けられた電解コンデンサ7を挟持するための挟持手段19とを有している。基板18A,18Bは、一対の長板状をなし、その中央側端部同士が連結されている。また、基板18は、絶縁板20と電極板21,22とを備えている。一方の電極板21は、絶縁板20の一方の面に沿って延びるように設けられており、他方の電極板22は、絶縁板20の他方の面に複数設けられている。これら両電極板21,22には、フレーム15側の電極端子から一方の基板18Aへと所定の電圧が供給されるようになっている。さらに、各基板18A,18Bの連結部18aに設けられた端子を通じて他方の基板18Bへと前記電圧が供給されるようになっている。
【0040】
また、図7に示すように、基板18を挟むようにして一対のレバー23がピン24を支点として回動自在に取り付けられている。レバー23の先端部には、基板18とほぼ平行に延びる一対のばねホルダ支え25が取り付けられている。ばねホルダ支え25の基板18側の凹部内には、絶縁材製のばねホルダ26が取り付けられている。該ばねホルダ26の中央の凹部内には、導電材料よりなる板ばね27が取り付けられている。かかる板ばね27は、ばねホルダ支え25の伸長方向に互いに接触しないように複数個配置されている。これらレバー23、ばねホルダ支え25、ばねホルダ26、板ばね27等により挟持手段19が構成されている。
【0041】
電解コンデンサ7(のリード部)は、1対の板ばね27に1個挟持されるようになっており、本実施の形態では、1つの基板18あたり40個、すなわち、1つの治具9あたり80個の電解コンデンサ7が保持されるようになっている。従って、エージング手段3内における全ての電解コンデンサ7のポジション数は6400となり、「ポジションNo.1〜6400」まで存在することとなる。
【0042】
ここで、治具9及び基板18についても番号付けを行うこととする。治具9については、1つの治具9あたり80個の電解コンデンサ7が取り付けられるようになっているので、1番目の治具9(「治具No.1」)については「ポジションNo.1〜80」が、2番目の治具9(「治具No.2」)については「ポジションNo.81〜160」が、3番目の治具9(「治具No.3」)については「ポジションNo.161〜240」・・・がそれぞれ対応することとなる。従って、治具9に関しては、「治具No.1」〜「治具No.80」まで存在することとなる。また、基板18(18A、18B)に関しては、1つの治具9あたり2つよりなるので、1番目の基板18A(「基板No.1」)については「ポジションNo.1〜40」が、2番目の基板18B(「基板No.2」)については「ポジションNo.41〜80」が、3番目の基板18A(「基板No.3」)については「ポジションNo.81〜120」・・・がそれぞれ対応することとなる。従って、基板18に関しては、「基板No.1」〜「基板No.160」まで存在することとなる。さらに、エージング手段3には、「治具No.1」の治具9の位置を確認するための図示しないセンサが備えられている。
【0043】
また、エージング処理された電解コンデンサ7は、供給取出手段によって、エージング手段3から取り出され、搬送手段2によって検査手段5の方へと搬送されるようになっている。そして、検査手段5では、LC(リーク電流)、C(容量)、D(損失分tanδ)、ESR(直列等価抵抗)等の検査が実施され、良品と不良品とが選別される。これととともに、電解コンデンサ7の1つのポジションごとに測定結果読取信号及び検査結果信号が管理ユニット4に送られるようになっている。
【0044】
図8に示すように管理ユニット4は、検査結果等を表示する表示手段31と、検査結果に応じて治具9等の異常を判定する判定手段32とを備えている。該判定手段32は、検査結果を集計管理する管理部33を備え、判定結果信号を制御手段6へと送るようになっている。尚、管理ユニット4には、さらに、電解コンデンサ7に関する初期データや判定条件等を入力するための入力設定手段34等が設けられている。
【0045】
次に、本実施の形態におけるエージング装置1の動作等について説明する。まず、搬送手段2によって搬送された電解コンデンサ7は、供給取出手段によって80個単位で基板18A,18Bに取り付けられ、挟持手段19によって挟持される。次に、送り機構10において、回転体13は、所定方向にゆっくりと間欠回転される。すると、治具9が移送されつつ、電解コンデンサ7が加熱機構8によって加熱された状態で、かつ、電解コンデンサ7に対し電圧が供給されることで、エージング処理が施される。
【0046】
そして、回転体13が1周して治具9が所定位置に来ると、供給取出手段によって、エージング処理された電解コンデンサ7が取り出され、別の新たな電解コンデンサ7が取り付けられる。このとき、「治具No.1」の治具9が所定位置に到来した場合にのみ、前記センサによって「治具No.1」信号が管理ユニット4へと送られる。取り出された電解コンデンサ7は、搬送手段2によって検査手段5の方へと搬送される。
【0047】
検査手段5においては、1回の検査につき、「ポジションNo.1〜6400」までの電解コンデンサ7が1度ずつ検査される。このとき、前記「治具No.1」信号に続いて管理ユニット4に到達する1つ目の測定結果読取信号が、「ポジションNo.1」の信号であると認識される。さらに、「ポジションNo.1」の信号に続いて、検査結果信号が管理ユニット4に到達させられる。すると、この検査結果信号は、「ポジションNo.1」の信号であると認識される。尚、本実施の形態では、検査結果信号として、LC検査による検査結果による判定に基づき、そのポジションに電解コンデンサ7が存在した場合には、検査手段5から不良信号又は良品信号が出力される。但し、そのポジションに電解コンデンサ7が存在しない場合には、信号が出力されない。そして、順に2つ目、3つ目、・・・の測定結果読取信号はポジションNo.2,3,・・・の信号であると認識され、それぞれ測定結果読取信号に続く検査結果信号もポジションNo.2,3,・・・の信号であると認識される。
【0048】
また、検査結果信号が出力されると、管理ユニット4では、表示手段31によって検査結果等が表示される。また、判定手段32では、管理部33によって集計管理された検査結果に基づき、異常の有無が判定され、判定結果信号が制御手段6へと送られる。そして、制御手段6によって、判定結果に基づいてエージング手段3が制御される。
【0049】
ここで、本実施の形態における判定手段32による異常判定方法について説明する。異常判定は、検査結果信号を利用して行われる。異常内容として、ポジションごとに発生する板ばね27等の挟持不良等に起因する異常や、基板18ごとに発生する連結部18aに備えられた端子の接続不良等に起因する異常や、治具9ごとに発生するフレーム15からの電圧供給がされないこと等に起因する異常がある。これらの異常の有無を判定するべく、管理ユニット4において、検査結果信号は、各ポジション別、各基板18別、各治具9別に管理される。
【0050】
あるポジションについて1つの不良信号が管理ユニット4に入力されると、そのポジション及びそのポジションが含まれる基板18、治具9に関しそれぞれ1個の不良が検出されることになる。
【0051】
本実施の形態では、1回の検査において、各基板18ごとに、同一基板18内の不良検出個数がカウントされる。そして、ある基板18における不良検出個数が所定個数(R個)以上の場合には、判定手段32によってその基板18の異常として判定される。同様に、1回の検査において、各治具9ごとに、同一治具9内の不良検出個数がカウントされる。そして、ある治具9における不良検出個数が所定個数(S個)以上の場合には、その治具9の異常として判定される。また、エージング装置1が連続して稼動させられる場合には、同一ポジションにおける検査が繰り返し行われることになり、各ポジションごとに検査結果が蓄積される。あるポジションにおいて、不良検出が連続して複数回(例えば5回)カウントされたとき、判定手段32によってそのポジションの異常として判定される。但し、そのポジションに電解コンデンサ7が存在しないときはカウントされず、次に電解コンデンサ7が存在するときに続けてカウントされる。尚、上記異常判別のための回数や個数は、入力設定手段34によって、設定変更可能である。
【0052】
上記のように判定した異常内容に応じて、制御手段6からそのポジション、基板18又は治具9に電解コンデンサ7を取り入れないように信号が出力されることによって供給取出手段が制御されたりする。また、制御手段6から報知信号が出力されることで図示しない報知手段が作動させられ、作業者へ異常内容の報知が行われたりする。さらに、エージング手段3が停止されるよう、制御手段6からエージング手段3へと停止信号が出力されるようにしてもよい。
【0053】
以上詳述したように、本実施の形態によれば、エージング装置1を稼動させた状態でそれ自身によって異常内容が検出させられるため、エージング手段3を停止し、人手によってポジション1つ1つを異常の有無を検査する従来のような手間が必要ない。その結果、検査に際しての作業性の低下を防止できる。
【0054】
また、エージング装置1の稼動中において速やかに異常検出ができる。そのため、比較的早期に対策を講じることができる。しかも、異常のあるポジション、基板18及び治具9には、電解コンデンサ7が供給されないので、無駄に不良品を製造してしまうといった不具合が抑制される。
【0055】
尚、上記実施の形態の記載内容に限定されず、例えば次のように実施してもよい。
【0056】
(a)上記実施の形態では、LC検査に基づいて検査結果信号が出力されるようになっているが、他の検査、例えば、C、D、ESR等の検査に基づいて検査結果信号が出力されるようにしてもよい。
【0057】
(b)異常判別の手法としては、必ずしも上記実施の形態に限定されるものではなく、例えば、基板18又は治具9内の全てのポジションについて連続N回の不良がカウントされた場合においてのみ、基板18又は治具9に関しての異常と認識するようにしてもよい。
【0058】
(c)上記実施の形態ではポジション、基板18、治具9のグループに分けて異常検出を行っているが、エージング手段3の構造に合わせて、検出するグループを変更してもよい。例えば、1枚の基板18で治具9が構成されている場合には、ポジションと治具9とのグループに分けてもよい。
【0059】
(d)管理ユニット4や検査手段5をエージング装置1から独立させて設けてもよい。また、判定手段32をエージング装置1から独立させて設け、異常検出装置としてもよい。
【0060】
(e)異常が検出された場合に、必ずしも上記実施の形態のような措置を全て講ずる必要はなく、例えば、作業者へ異常を報知するだけの構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施の形態におけるエージング装置を示す図であって、(a)は平面図、(b)は正面図である。
【図2】エージング装置を示す側面図である。
【図3】エージング手段の構成を示す断面図である。
【図4】エージング手段に位置する治具等を示す部分断面図である。
【図5】基板と治具との関係を示す図である。
【図6】電極板に関する電解コンデンサ及び板ばねの位置関係を示す図である。
【図7】治具の取付状態を示す側面図である。
【図8】管理ユニット等の電気的構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1…エージング装置、3…エージング手段、5…検査手段、6…制御手段、7…電解コンデンサ、9…治具、32…判定手段、33…管理部。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention belongs to a technical field related to an aging device for electrolytic capacitors.
[0002]
[Prior art]
Generally, in the process of manufacturing an electrolytic capacitor, an aging process is performed by an aging device in order to repair a partial breakdown of a dielectric oxide film generated during the manufacturing. In such an aging device, a large number of electrolytic capacitors are held in a predetermined position of a jig, and are heated in a heating furnace, and a predetermined voltage is supplied to the held electrolytic capacitors.
[0003]
In inspecting such an abnormality of the aging apparatus, conventionally, the aging process is stopped and all electrolytic capacitors are taken out from the aging apparatus. That is, with respect to each jig, the operator inspects whether or not a predetermined voltage is accurately supplied for each position for holding the electrolytic capacitor.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above technique, it is necessary to inspect the presence / absence of abnormality for each of a large number of positions, which is very laborious. In addition, since it is necessary to stop the entire aging device for inspection, it is not always possible to perform the inspection, and it is extremely difficult to quickly detect the abnormality when the abnormality occurs. Therefore, even if an abnormality occurs, it may take a long time to detect the abnormality, or there may be a problem that an electrolytic capacitor is supplied to an abnormal position and a defective product is wasted. there were.
[0005]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and is an aging device that can quickly detect an abnormality without deteriorating workability for abnormality detection. Place It is one of the main purposes to provide.
[0006]
[Means for solving the problems and effects thereof]
Characteristic means capable of achieving the above object will be described below. For each means, characteristic actions and effects are described as necessary.
[0007]
[0008]
According to the
[0009]
Mean 2. In an aging apparatus for an electrolytic capacitor, comprising: aging means for aging the electrolytic capacitor; control means for controlling the aging means; and inspection means for inspecting the electrolytic capacitor subjected to aging treatment by the aging means. An electrolysis apparatus comprising: a determination unit configured to determine whether or not the aging unit is abnormal based on an inspection result of the inspection unit, and controlling the control unit based on a determination result of the determination unit. Capacitor aging device.
[0010]
According to the
[0011]
Means 3. 3. The electrolytic capacitor aging device according to
[0012]
According to the
[0013]
Means 4. 4. The electrolytic capacitor aging device according to
[0014]
According to the
[0015]
Means 5. The aging means includes a plurality of jigs having a plurality of attachment positions to which an electrolytic capacitor can be attached, and the determination means manages the inspection result at least for each position unit and each jig unit. Means for determining at least each position unit and each jig unit of the aging means based on data managed by the management unit. The electrolytic capacitor aging device according to any one of the above.
[0016]
According to the means 5, the aging means is provided with a plurality of jigs, and the jigs are provided with a plurality of attachment positions to which the electrolytic capacitors can be attached. In addition, the determination unit includes a management unit, and the management unit manages the inspection result in units of positions and jigs. Based on the managed data, the determination means determines abnormality of at least each position unit and each jig unit of the aging means. In this way, since an abnormal part can be specified according to the range where the abnormality has occurred, it is possible to reduce the trouble of searching for the part where the abnormality has occurred. It is also useful for estimating the cause of abnormalities. Furthermore, it is possible to minimize parts replacement and the like.
[0017]
[0018]
According to the
[0019]
Mean 7
[0020]
According to the
[0021]
Means 8. When the defect of the electrolytic capacitor detected by the inspection means is a predetermined number or more in the same jig among the jigs, the determination means determines that the jig is abnormal. The electrolytic capacitor aging device according to any one of means 5 to 7.
[0022]
According to the means 8, when the number of electrolytic capacitor defects detected by the inspection means is equal to or greater than a predetermined number in the same jig, the determination means determines that the jig is abnormal. That is, it is possible to more reliably determine the defect in the jig unit by determining the abnormality of the jig having a high defect occurrence rate.
[0023]
[0024]
According to the
[0025]
[0026]
According to the
[0027]
[0028]
According to the
[0029]
[0030]
According to the
[0031]
[0032]
According to the
[0033]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment will be described with reference to the drawings.
[0034]
As shown in FIGS. 1 and 2, the aging
[0035]
The electrolytic capacitor (capacitor element) 7 before aging (see FIGS. 4 and 7) is transported by the transport means 2 toward the aging means 3. The conveyed
[0036]
Here, the basic configuration of the aging means 3 will be described. As shown in FIG. 3, the aging means 3 includes a heating mechanism 8 for heating the
[0037]
The
[0038]
A heating mechanism 8 is provided on the outer periphery of the transfer path of the
[0039]
As shown in FIGS. 4, 5, and 6, the
[0040]
Further, as shown in FIG. 7, a pair of
[0041]
One electrolytic capacitor 7 (the lead portion thereof) is sandwiched between a pair of leaf springs 27. In the present embodiment, 40 electrolytic capacitors per one
[0042]
Here, the
[0043]
The
[0044]
As shown in FIG. 8, the
[0045]
Next, operation | movement etc. of the aging
[0046]
Then, when the
[0047]
In the inspection means 5, the
[0048]
When the inspection result signal is output, the
[0049]
Here, the abnormality determination method by the determination means 32 in this Embodiment is demonstrated. The abnormality determination is performed using an inspection result signal. As an abnormality content, an abnormality caused by a clamping failure of the
[0050]
When one defect signal is input to the
[0051]
In the present embodiment, the number of detected defects in the
[0052]
Depending on the abnormality content determined as described above, the supply / extraction means is controlled by outputting a signal from the control means 6 so that the
[0053]
As described above in detail, according to the present embodiment, since the abnormal content is detected by itself while the aging
[0054]
Further, it is possible to quickly detect an abnormality while the aging
[0055]
In addition, it is not limited to the description content of the said embodiment, For example, you may implement as follows.
[0056]
(A) In the above embodiment, the inspection result signal is output based on the LC inspection, but the inspection result signal is output based on another inspection, for example, inspection such as C, D, ESR, etc. You may be made to do.
[0057]
(B) The method of abnormality determination is not necessarily limited to the above-described embodiment. For example, only when N consecutive failures are counted for all positions in the
[0058]
(C) In the above embodiment, the abnormality detection is performed by dividing the position, the
[0059]
(D) The
[0060]
(E) When an abnormality is detected, it is not always necessary to take all the measures as in the above-described embodiment. For example, a configuration may be adopted in which the abnormality is only notified to the operator.
[Brief description of the drawings]
1A and 1B are diagrams showing an aging device according to an embodiment, wherein FIG. 1A is a plan view and FIG. 1B is a front view.
FIG. 2 is a side view showing an aging device.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a configuration of aging means.
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a jig and the like located on the aging means.
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a substrate and a jig.
FIG. 6 is a diagram showing a positional relationship between an electrolytic capacitor and a leaf spring related to an electrode plate.
FIG. 7 is a side view showing a mounting state of the jig.
FIG. 8 is a block diagram showing an electrical configuration of a management unit or the like.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各治具を細分化したグループ単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位、前記各治具単位及び前記各グループ単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各グループのうち同一グループ内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はそのグループが異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。Aging means for aging the electrolytic capacitor;
In an electrolytic capacitor aging apparatus, comprising an inspection means for inspecting an electrolytic capacitor subjected to aging treatment by the aging means,
Based on the inspection result of the inspection means, provided with a determination means for determining the presence or absence of abnormality of the aging means ,
The aging means includes a plurality of jigs having a plurality of mounting positions to which an electrolytic capacitor can be mounted,
The determination unit includes a management unit that manages an inspection result in at least each position unit, each jig unit, and each group unit obtained by subdividing each jig, and based on data managed by the management unit It is possible to determine abnormality of at least each position unit, each jig unit, and each group unit of the aging means,
When the electrolytic capacitor failure detected by the inspection means is a predetermined number or more in the same group among the groups, the determination means determines that the group is abnormal . Aging device.
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって検出された電解コンデンサの不良が、前記各治具のうち同一治具内において所定個数以上であるとき、前記判定手段はその治具が異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。Aging means for aging the electrolytic capacitor;
In an electrolytic capacitor aging apparatus, comprising an inspection means for inspecting an electrolytic capacitor subjected to aging treatment by the aging means,
Based on the inspection result of the inspection means, provided with a determination means for determining the presence or absence of abnormality of the aging means ,
The aging means includes a plurality of jigs having a plurality of mounting positions to which an electrolytic capacitor can be mounted,
The determination unit includes a management unit that manages an inspection result in at least each position unit and each jig unit, and based on data managed by the management unit, at least each position unit of the aging unit and the It is possible to determine the abnormality of each jig unit,
When the defect of the electrolytic capacitor detected by the inspection means is a predetermined number or more in the same jig among the jigs, the determination means determines that the jig is abnormal. Electrolytic capacitor aging device.
前記エージング手段にてエージング処理の施された電解コンデンサを検査する検査手段と
を備えた電解コンデンサのエージング装置において、
前記検査手段の検査結果に基づいて、前記エージング手段の異常の有無を判定する判定手段を設け、
前記エージング手段は、電解コンデンサを取付可能な複数の取付ポジションを備えた複数の治具を備えており、
前記判定手段は、少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位で検査結果を管理する管理部を備え、該管理部にて管理されるデータに基づいて前記エージング手段の少なくとも前記各ポジション単位及び前記各治具単位の異常を判定可能となっており、
前記検査手段によって電解コンデンサの不良が、前記各ポジションのうち同一ポジションにおいて所定回数検出されたとき、前記判定手段は、そのポジションが異常であると判定することを特徴とする電解コンデンサのエージング装置。Aging means for aging the electrolytic capacitor;
In an electrolytic capacitor aging apparatus, comprising an inspection means for inspecting an electrolytic capacitor subjected to aging treatment by the aging means,
Based on the inspection result of the inspection means, provided with a determination means for determining the presence or absence of abnormality of the aging means ,
The aging means includes a plurality of jigs having a plurality of mounting positions to which an electrolytic capacitor can be mounted,
The determination unit includes a management unit that manages an inspection result in at least each position unit and each jig unit, and based on data managed by the management unit, at least each position unit of the aging unit and the It is possible to determine the abnormality of each jig unit,
The electrolytic capacitor aging device according to claim 1 , wherein when the inspection unit detects a defect of the electrolytic capacitor a predetermined number of times in the same position among the positions, the determination unit determines that the position is abnormal .
前記判定手段による判定結果に基づいて前記制御手段を制御するようにしたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の電解コンデンサのエージング装置。 Control means for controlling the aging means,
6. The electrolytic capacitor aging device according to claim 1, wherein the control unit is controlled based on a determination result by the determination unit.
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