JP3754778B2

JP3754778B2 - 高周波用磁器組成物、高周波用磁器およびその製造方法

Info

Publication number: JP3754778B2
Application number: JP33868796A
Authority: JP
Inventors: 吉健寺師
Original assignee: Kyocera Corp
Current assignee: Kyocera Corp
Priority date: 1996-12-18
Filing date: 1996-12-18
Publication date: 2006-03-15
Anticipated expiration: 2016-12-18
Also published as: JPH10182223A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波用磁器組成物、高周波磁器および高周波用磁器の製造方法に関するものであり、特に、銅と同時焼成が可能であり、マイクロ波、ミリ波用等の高周波で用いられる配線基板、誘電体共振器、ＬＣフィルター、コンデンサ、誘電体導波路および誘電体アンテナに用いることのできる高周波用磁器組成物、高周波磁器および高周波用磁器の製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来技術】
近年、高度情報化時代を迎え、情報伝送はより高速化・高周波化が進行する傾向にある。自動車電話やパーソナル無線等の移動無線、衛星放送、衛星通信やＣＡＴＶ等のニューメディアでは、機器のコンパクト化が推し進められており、これに伴い誘電体共振器等のマイクロ波用回路素子に対しても小型化が強く望まれている。
【０００３】
このようなマイクロ波用回路素子の大きさは、使用電磁波の波長が基準となる。比誘電率εｒの誘電体中を伝播する電磁波の波長λは、真空中の伝播波長をλ₀とするとλ＝λ₀／（εｒ）^1/2となる。したがって、回路素子は、使用される回路用基板の誘電率が大きい程、小型になる。また、回路形成のための導体としては、銅などの低抵抗金属を使用することが望まれている。
【０００４】
そこで、上述した高誘電率化等の要求を満足するため、例えば、特開平６−１３２６２１号公報に示すように、樹脂中に無機誘電体粒子を分散したものや、特開平６−２６００３５号公報に示されるように、高誘電率フィラーとガラスとの複合材料からなるガラスセラミック回路用基板等が提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特開平６−１３２６２１号公報に示された回路基板では、焼成温度が４００℃程度であり銅等を配線導体として用いての多層化、微細な配線化ができないという問題があった。
【０００６】
また従来のガラスセラミック材料は、銅等の低抵抗金属との同時焼成が可能であり、また多層化も可能であるが、そのほとんどが誘電率が１０より低い低誘電率のものであり、また誘電損失も１０ＧＨｚのマイクロ波領域においては２０×１０^-4以上と大きく、高周波用の機器の小型化のための高誘電率化、低誘電損失化の点では充分に検討されていない。また、従来のガラスセラミックスは、１０００℃以下での焼成が可能であることから金、銀、銅などと同時に焼成する利点を有するが、このような低温焼成を可能とするためには、少なくともガラス成分を３０重量％以上を必要とするために、得られる磁器の特性がガラスの性質に
大きく依存してしまう結果、フィラ−成分の優れた特性が発揮できないという問題があった。
【０００７】
従って、本発明は、８００〜１０００℃での焼成が可能であり、特に３０ＧＨｚ以上の高周波領域において高い比誘電率と、低い誘電損失を有する高周波用磁器組成物、高周波用磁器および高周波用磁器の製造方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記問題点を鋭意検討した結果、Ｚｎ，ＭｇおよびＴｉを特定組成で含む酸化物原料に対して、焼結助剤として、Ｂ_２Ｏ_３、または少なくともＳｉＯ_２、Ｂ_２Ｏ_３を含むガラスを特定比率で添加することにより主成分中から生成するＺｎを主とする液相とＢ（ホウ素）成分による液相反応が生じ、僅かな助剤量により、８００〜１０００℃以下の温度で焼成でき、しかもを焼成によって、結晶相として、少なくとも、Ｚｎ、Ｍｇ、およびＴｉを含むイルメナイト型結晶相、あるいは、少なくとも、Ｚｎ、Ｍｇ、およびＴｉを含むスピネル型結晶相を主体とする結晶相を析出させることにより、高い比誘電率と低い誘電正接を得ることができることを知見し、本発明に至った。
【０００９】
即ち、本発明の高周波用磁器組成物は、Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉの原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉと表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からからなる主成分８０〜９９．９５重量％と、Ｂ_２Ｏ_３０．０５〜２０重量％とからなることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の他の高周波用磁器組成物は、Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉの原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からからなる主成分７０〜９９．９重量％と、少なくともＳｉＯ_２、Ｂ_２Ｏ_３を含むガラス０．１〜３０重量％とからなることを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明の高周波用磁器は、上記の高周波用磁器組成物を焼成して得られた磁器であって、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相を含むこと、またイルメナイト型結晶相に加え、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むスピネル型結晶相、ＴｉＯ_２結晶相のうちの少なくとも１種を含み、特性上は、３０〜６０ＧＨｚでの誘電率（εｒ）が１５以上、誘電損失が１５×１０^−４以下の優れた特性を有することを特徴とするものである。
【００１２】
また、本発明の高周波用磁器の製造方法は、前記の組成物を所定形状に成形後、８００〜１０００℃で焼成することを特徴とするものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の高周波用磁器組成物は、第１の形態として、Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉを含む酸化物原料からなる主成分８０〜９９．９５重量％と、焼結助剤としてＢ_２Ｏ_３０．０５〜２０重量％とからなるものである。上記の主成分を構成する前記金属の原子比による組成は
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足するものである。
【００１４】
上記の主成分組成によれば、Ｚｎの一部をＭｇによって置換することにより、イルメナイト結晶相を安定に析出させると同時に、誘電損失を低減する作用を有するが、その置換量ｘが０．７５を越えるとＺｎの絶対量が不十分となり、焼結助剤中のＢ成分と液相を形成することが困難となり、焼結助剤を多量に添加しないと磁器を緻密化できず、それに伴い、誘電特性が大きく劣化してしまうためである。Ｚｎに対するＭｇの置換量ｘの望ましい範囲は０．１≦ｘ≦０．４である。
【００１５】
また、上記主成分組成におけるｙを０．３≦ｙ≦７としたのは、ｙが０．３より小さいと、ＺｎＯ相が過剰となり誘電特性が劣化し、ｙが７を越えるとＴｉＯ₂相が過剰となり焼結性が劣化し、焼結助剤を多量に添加しないと焼結できず、その結果、誘電特性が劣化してしまうためである。ｙの望ましい範囲は０．５≧ｙ≦１．５である。
【００１６】
また、焼結助剤として、Ｂ_２Ｏ_３量を上記の比率に限定したのは、Ｂ_２Ｏ_３量が０．０５重量％より少ないか、言い換えれば、ＺｎとＭｇ、およびＴｉを含む酸化物原料からなる主成分量が９９．９５重量％より多いと、８００〜１０００℃の低温で十分に緻密化することができず、この組成物を用いて作製される基板特性において、磁器が緻密化しないため誘電率が低下し、また誘電正接は増大してしまうためである。また、Ｂ_２Ｏ_３の量が２０重量％より多いか、言い換えれば前記主成分量が８０重量％より少ないと、７００℃以下の低温で液相が流失し磁器の形状を損ない製品形状を保てず、また磁器特性の点から誘電率は１５より低くなり、同時に、３０〜６０ＧＨｚの高周波領域における誘電正接が１５×１０^−４以上と高くなるためである。
【００１７】
上記主成分とＢ_２Ｏ_３との好ましい組成範囲は、前記主成分が９０〜９９．９重量％、Ｂ_２Ｏ_３が０．１〜１０重量％である。
【００１８】
また、本発明の高周波用磁器組成物における第２の形態としては、Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉを含む前述した主成分７０〜９９．９５重量％と、焼結助剤として少なくともＳｉＯ_２およびＢ_２Ｏ_３を含有するガラス０．１〜３０重量％とからなるものである。
【００１９】
ここで、前記ガラス量を上記の比率に限定したのは、Ｂ_２Ｏ_３量が０．１重量％より少ないか、言い換えれば、主成分量が９９．９重量％より多いと、８００〜１０００℃の低温で十分に緻密化することができず、この組成物を用いて作製される基板特性において、磁器が緻密化しないため誘電率が低下し、また誘電正接は増大してしまうためである。また、上記ガラス量が３０重量％より多いか、言い換えれば前記主成分量が７０重量％より少ないと、７００℃以下の低温で液相が流失し磁器の形状を損ない製品形状を保てず、また磁器特性の点から誘電率は１５より低くなり、同時に、３０〜６０ＧＨｚの高周波領域における誘電正接が１５×１０^−４以上と高くなるためである。
【００２０】
上記の複合酸化物からなる主成分と上記ガラスとの好ましい組成範囲は、前記主成分が８０〜９９．５重量％、Ｂ_２Ｏ_３が０．５〜２０重量％である。
【００２１】
また、本発明の高周波用磁器組成物は、第１および第２の形態のいずれも非酸化性雰囲気中で８００〜１０００℃の温度範囲での焼成によって相対密度９５％以上まで緻密化することができ、これによって形成される磁器は、図１、図２および図３のうちのいずれかの組織構造を有する。図１は、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相１と、非晶質の粒界相２とから構成されるものである。図２は、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相１と、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むスピネル型結晶相３と、非晶質の粒界相２とから構成される。図３は、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相１と、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むスピネル型結晶相３と、ＴｉＯ₂相４と、非晶質の粒界相２とから構成される。イルメナイト型結晶とは、ＦｅＴｉＯ₃で代表される三方格子に属する結晶構造を呈し、本発明の磁器では、前記ＦｅがＺｎに置き換わったものと推定される。
【００２２】
このように本発明によれば、磁器中に、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相や、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むスピネル型結晶相を析出させることにより、比誘電率を１５〜８０の間で調整でき、低い誘電正接を得ることができるのである。
【００２３】
なお、上記非晶質の粒界相２は、焼結助剤としてＢ₂Ｏ₃を用いた第１の形態の場合には、ＺｎおよびＢを含み、焼結助剤としてＳｉＯ₂およびＢ₂Ｏ₃を含むガラスを用いた第２の形態の場合には、Ｓｉ、ＺｎおよびＢを含むものから構成される。
【００２４】
なお、本発明の第２の形態において用いるＳｉＯ₂、Ｂ₂Ｏ₃を含むガラスとしては、一般にホウケイ酸系ガラス、ホウケイ酸亜鉛系ガラス、ホウケイ酸鉛ガラスなどが挙げられるが、特にＳｉＯ₂を５〜８０重量％、Ｂ₂Ｏ₃を４〜５０重量％の割合でそれぞれ含み、他の成分としてＡｌ₂Ｏ₃を３０重量％以下、アルカリ金属酸化物を２０重量％以下の割合で含むものが好適に使用され、これらの酸化物成分を所定割合で配合したものを溶融、冷却し、ガラス化したものが使用される。
【００２５】
また、本発明の高周波用磁器を製造する方法としては、主成分原料として、ＺｎＯ、ＴｉＯ₂、ＭｇＯの各酸化物粉末、あるいはこれらの２種以上の複合化合物（例えば、ＺｎＴｉＯ₃、Ｚｎ₂ＴｉＯ₄、ＭｇＴｉＯ₃、ＭｇＴｉＯ₄）など、さらには、酸化物以外に焼結過程で酸化物を形成し得る炭酸塩、酢酸塩、硝酸塩等の形態で用いることができる。この主成分原料は、それら金属の原子比が上記主成分組成を満足するように秤量混合される。
【００２６】
本発明の第１の形態に基づくと、上記の主成分原料に対して、焼結助剤としてＢ₂Ｏ₃粉末あるいは焼結過程で酸化物を形成し得るＢ₂Ｓ₃、Ｈ₂ＢＯ₃等をＢ₂Ｏ₃として、主成分原料８０〜９９．９５重量％、Ｂ₂Ｏ₃０．０５〜２０重量％となるように添加混合する。
【００２７】
また、本発明の第２の形態に基づくと、上記の主成分原料に対して、焼結助剤として前述したようなＳｉＯ₂、Ｂ₂Ｏ₃を含むガラス粉末を、主成分原料７０〜９９．９重量％、ＳｉＯ₂、Ｂ₂Ｏ₃を含むガラス０．１〜３０重量％となるように添加混合する。
【００２８】
なお、上記原料粉末は、分散性を高め高い誘電率や低い誘電正接を得るために平均粒径がいずれも２．０μｍ以下、特に１．０μｍ以下の微粉末であることが望ましい。
【００２９】
次に、上記のような割合で添加混合した混合粉末に適宜バインダ−を添加した後、例えば、金型プレス、冷間静水圧プレス、押し出し成形、ドクターブレード法、圧延法等により任意の形状に成形後、Ｎ₂、Ａｒ等の非酸化性雰囲気中、または空気中などの酸化性雰囲気中で８００℃〜１０００℃、特に９００〜１０００℃の温度で０．１〜５時間焼成することにより相対密度９５％以上に緻密化することができる。この時の焼成温度が８００℃より低いと、磁器が十分に緻密化せず、１０００℃を越えると緻密化は可能であるが、銅、銀などの導体と同時焼成ができなくなる。因みに、同時焼成時に、導体として銅を用いる場合には非酸化性雰囲気とし、銀を用いる場合には非酸化性または酸化性雰囲気で焼成することが必要である。
【００３０】
本発明の上記方法によれば、Ｚｎ，Ｍｇ，Ｔｉからなる複合酸化物とＢ₂Ｏ₃、またはＳｉＯ₂、Ｂ₂Ｏ₃を含むガラスを組み合わせることにより、複合酸化物から生成するＺｎを主とする液相とＢ（ホウ素）成分のより活性な液相反応が生じる結果、少ない焼結助剤量で磁器を緻密化することができる。そのために、誘電正接を増大させる要因となる粒界の非晶質相の量を最小限に押さえることができる。このため高周波領域においてより低い誘電正接を得ることができるのである。
【００３１】
また、本発明における磁器組成物は、８００〜１０００℃で焼成可能であることから、特に金、銀、銅などを配線する配線基板の絶縁基板として用いることができる。かかる磁器組成物を用いて配線基板を作製する場合には、例えば、上記のようにして調合した混合粉末を公知のテープ成形法、例えばドクターブレード法、圧延法等に従い、絶縁層形成用のグリーンシートを作製した後、そのシートの表面に配線回路層用として、金、銀および銅のうちの少なくとも１種の金属、特に、銅粉末を含む導体ペーストを用いて、グリーンシート表面に配線パターンにスクリーン印刷法、グラビア印刷法等によって回路パターン状に印刷し、場合によってはシートにスルーホールやビアホール形成後、上記導体ペーストを充填する。その後、複数のグリーンシートを積層圧着した後、上述した条件で焼成することにより、配線層と絶縁層とを同時に焼成することができる。
【００３２】
以下、本発明を次の例で説明する。
【００３３】
【実施例】
実施例１
平均粒径が１μｍ以下のＢ₂Ｏ₃、平均粒径が１μｍ以下のＺｎ₂ＴｉＯ₄、ＭｇＴｉＯ₃を表１の組成に従い混合した。そして、この混合物に有機バインダー、可塑剤、トルエンを添加し、ドクターブレード法により厚さ３００μｍのグリーンシートを作製した。そして、このグリーンシートを５枚積層し、５０℃の温度で１００ｋｇ／ｃｍ²の圧力を加えて熱圧着した。得られた積層体を水蒸気含有／窒素雰囲気中で、５００〜７００℃で脱バインダーした後、乾燥窒素中で表１の条件において焼成して多層基板用磁器を得た。
【００３４】
得られた焼結体について誘電率、誘電正接を以下の方法で評価した。測定は、形状直径１〜５ｍｍ、厚み２〜３ｍｍの試料を切り出し、６０ＧＨｚにてネットワークアナライザー、シンセサイズドスイーパーを用いて誘電体円柱共振器法により行った。測定では、ＮＲＤガイド（非放射性誘電体線路）で、誘電体共振器の励起を行い、ＴＥ０２１，ＴＥ０３１モードの共振特性より誘電率、誘電正接を算出した。測定の結果は表１に示した。また、Ｘ線回折測定から、磁器の構成相を同定し、試料Ｎo.１０についてＸ線回折チャートを図４に示した。
【００３５】
また、比較例として、Ｚｎ₂ＴｉＯ₄、ＭｇＴｉＯ₃に代わり、ＳｒＴｉＯ₃、ＣａＴｉＯ₃を用いて同様に焼結体を作製し評価した（試料Ｎo.２６、２７）。
【００３６】
【表１】

【００３７】
表１の結果から明らかなように、結晶相として、イルメナイト型結晶相（（Ｚｎ、Ｍｇ）ＴｉＯ₃）結晶相、あるいは、スピネル型結晶相（（Ｚｎ、Ｍｇ）₂ＴｉＯ₄）が主として析出した本発明の磁器は、いずれも誘電率が１５〜３０、６０ＧＨｚでの誘電正接が１５×１０^-4以下の優れた特性値を示し、８００〜１０００℃で焼結することができた。なお、本発明品の磁器の結晶粒界相をＸ線マイクロアナライザーによって分析した結果、いずれも粒界相中からＺｎおよびＢ元素が検出された。
【００３８】
これに対して、Ｂ₂Ｏ₃量が０．０５重量％未満である試料Ｎo.２では、焼成温度を１３００℃まで高めないと緻密化することができず、本発明の目的に適さないものであった。一方、Ｂ₂Ｏ₃量が２０重量％を越える試料Ｎo.７は液相量が多いため、誘電損失が増大し６０ＧＨｚにおいて誘電特性が評価できなかった。
【００３９】
また、（Ｚｎ＋Ｍｇ）に対してＴｉの比率が少ない（ｙ＜０．３）試料Ｎo.１３では過剰なＺｎＯ相が析出し、このため誘電損失が増大し６０ＧＨｚにおいて誘電特性が評価できなかった。（Ｚｎ＋Ｍｇ）に対してＴｉの比率が多い（ｙ＞７）試料Ｎo.１９では焼結温度を１２００℃まで高めないと磁器が緻密化できず、本発明の目的に適さないものであった。
【００４０】
ｘ＞０．７５である試料Ｎo.２５ではＺｎ量が不十分であるため、Ｂ₂Ｏ₃中のＢ成分と液相を形成することが困難となり、Ｂ₂Ｏ₃を２０重量％を越えて添加しなければ磁器が緻密化できず、誘電特性が劣化した。
【００４１】
また、比較例として、ＳｒＴｉＯ₃やＣａＴｉＯ₃を用いた試料Ｎo.２６、２７では、誘電正接が高く６０ＧＨｚでは測定不可能であった。
【００４２】
実施例２
平均粒径が１μｍ以下の表２に示すガラス粉末、平均粒径が１μｍ以下のＺｎ₂ＴｉＯ₄、ＭｇＴｉＯ₃を表３の組成に従い混合した。そして、この混合物を用いて実施例１と同様にしてグリーンシートを作製した。そして、このグリーンシートを５枚積層し、５０℃の温度で１００ｋｇ／ｃｍ²の圧力を加えて熱圧着した。得られた積層体を水蒸気含有／窒素雰囲気中で、７００℃で脱バインダーした後、乾燥窒素中で表３、４の条件で焼成して多層基板用磁器を得た。
【００４３】
得られた焼結体について誘電率、誘電正接を実施例１と同様な方法で評価した。測定の結果は表３、４に示した。また、Ｘ線回折測定から、磁器の構成相を同定し、試料Ｎo.３０についてＸ線回折チャートを図５に示した。
【００４４】
【表２】

【００４５】
【表３】

【００４６】
【表４】

【００４７】
表２〜表４の結果から明らかなように、結晶相として、イルメナイト型結晶相（（Ｚｎ、Ｍｇ）ＴｉＯ₃）結晶相、あるいは、スピネル型結晶相（（Ｚｎ、Ｍｇ）₂ＴｉＯ₄）が主として析出した本発明の磁器は、いずれも誘電率が１５〜８０、６０ＧＨｚでの誘電正接が１５×１０^-4以下の優れた特性値を示し、８００〜１０００℃で焼結することができた。なお、本発明品の磁器の結晶粒界相をＸ線マイクロアナライザーによって分析した結果、いずれも粒界相中から、Ｓｉ、ＺｎおよびＢ元素が検出された。
【００４８】
これに対して、ガラス量が０．１重量％未満である試料Ｎo.２９では、焼成温度を１３００℃まで高めないと緻密化することができず、本発明の目的に適さないものであった。一方、ガラス量が３０重量％を越える試料Ｎo.３５は液相量が多いため、誘電損失が増大し６０ＧＨｚにおいて誘電特性が評価できなかった。
【００４９】
また、（Ｚｎ＋Ｍｇ）に対してＴｉの比率が少ない（ｙ＜０．３）試料Ｎo.４１では過剰なＺｎＯ相が析出し、このため誘電損失が増大し６０ＧＨｚにおいて誘電特性が評価できなかった。（Ｚｎ＋Ｍｇ）に対してＴｉの比率が多い（ｙ＞７）試料Ｎo.４７では焼結温度を１２００℃まで高めないと磁器が緻密化できず、本発明の目的に適さないものであった。
【００５０】
ｘ＞０．７５である試料Ｎo.５３ではＺｎ量が不十分であるため、ガラス中のＢ成分と液相を形成することが困難となり、ガラス量を３０重量％を越えて添加しなければ磁器が緻密化できず、誘電特性が劣化した。
【００５１】
実施例３
各種の磁器について、直径１〜３０ｍｍ、厚み２〜１５ｍｍの円柱サンプルａ）を作製し、誘電率および誘電損失の周波数との関係について測定し図６および図７に示した。図６および図７において、▲１▼は、上記実施例１中のＮo.１０の磁器、▲２▼は、上記実施例２中のＮo.３９の磁器、また比較として▲３▼は、汎用品のコージェライト系ガラスセラミックス（硼珪酸ガラス７５重量％、Ａｌ₂Ｏ₃２５重量％）、▲４▼は汎用のアルミナ磁器（Ａｌ₂Ｏ₃９５重量％、ＣａＯ、ＭｇＯ５重量％）である。各磁器について、１ＧＨｚ、１０ＧＨｚ、２０ＧＨｚ、３０ＧＨｚおよび６０ＧＨｚの高周波、マイクロ波、ミリ波領域において、誘電体円柱共振器法により誘電率と誘電正接を測定した。
【００５２】
図６および図７の結果、汎用品のコージェライト系ガラスセラミックスは誘電率が５とかなり低く、汎用の低純度アルミナは誘電率は９と低いことがわかる。これに対して、本発明品は誘電率が１９および２２と高い値であった。汎用品のガラスセラミックスは低周波領域において誘電正接は低いが、高周波領域になるに従い特性が劣化してしまい２０ＧＨｚ以上では２０×１０^-4以上になってしまう。また、汎用のアルミナ磁器も６０ＧＨｚで４０×１０^-4と高くなった。一方、本発明品▲１▼▲２▼は、６０ＧＨｚでの高周波領域においても誘電正接は５×１０^-4以下と低いものであった。
【００５３】
【発明の効果】
以上詳述した通り、本発明の誘電体磁器組成物は、８００〜１０００℃の温度で緻密化できることから、金、銀、銅などの配線と同時に焼成することができる。しかも、上記組成物を焼成して得られる磁器は、３０ＧＨｚ以上の高周波帯において高い誘電率と低い誘電正接を示すために、マイクロ波、ミリ波用回路素子等において小型化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の誘電体磁器の組織の一例を示す概略図である。
【図２】本発明の誘電体磁器の組織の他の例を示す概略図である。
【図３】本発明の誘電体磁器の組織のさらに他の例を示す概略図である。
【図４】本発明の第１の態様の誘電体磁器の（実施例１中試料Ｎo.１０）のＸ線回折チャート図である。
【図５】本発明の第２の態様の誘電体磁器の（実施例２中試料Ｎo.３０）のＸ線回折チャート図である。
【図６】本発明の磁器と従来の磁器との誘電率εｒと周波数ｆ₀との関係を示した図である。
【図７】本発明の磁器と従来の磁器との誘電正接ｔａｎδと周波数ｆ₀との関係を示した図である。
【符号の説明】
１イルメナイト型結晶相（Ｉ）
２粒界相（Ｇ）
３スピネル型結晶相（ＳＰ）
４ＴｉＯ₂相（Ｔ）

Claims

Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉの原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からなる主成分８０〜９９．９５重量％と、Ｂ_２Ｏ_３０．０５〜２０重量％とからなることを特徴とする高周波用磁器組成物。
Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉの原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からなる主成分７０〜９９．９重量％と、少なくともＳｉＯ_２、Ｂ_２Ｏ_３を含むガラス０．１〜３０重量％とからなることを特徴とする高周波用磁器組成物。
請求項１または請求項２記載の高周波用磁器組成物を焼成して得られた磁器であって、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相と非晶質相とからなり、３０〜６０ＧＨｚでの誘電率（εｒ）が１５以上、誘電損失が１５×１０^−４以下であることを特徴とする高周波用磁器。
請求項１または請求項２記載の高周波用磁器組成物を焼成して得られた磁器であって、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むイルメナイト型結晶相と、少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含むスピネル型結晶相、ＴｉＯ_２結晶相のうちの少なくとも１種と、非晶質相とからなり、３０〜６０ＧＨｚでの誘電率（εｒ）が１５以上、誘電損失が１５×１０^−４以下であることを特徴とする高周波用磁器。
Ｚｎ、ＭｇおよびＴｉの原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からなる主成分８０〜９９．９５重量％と、Ｂ_２Ｏ_３０．０５〜２０重量％とからなる組成物を所定形状に成形後、８００〜１０００℃で焼成することを特徴とする高周波用磁器の製造方法。
少なくともＺｎ、ＭｇおよびＴｉを含み、該金属の原子比による組成を
（１−ｘ）Ｚｎ・ｘＭｇ・ｙＴｉ
と表した時、０＜ｘ≦０．７５、０．３≦ｙ≦７．０を満足する酸化物原料からなる主成分７０〜９９．９重量％と、少なくともＳｉＯ_２およびＢ_２Ｏ_３を含むガラス０．１〜３０重量％とからなる組成物を所定形状に成形後、８００〜１０００℃で焼成することを特徴とする高周波用磁器の製造方法。