JP3756655B2 - Manufacturing method of build-up multilayer substrate - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コア基板、その片面あるいは両面に形成された絶縁層、および配線層を備えるビルドアップ多層基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
コア基板を用いたビルドアップ多層基板の製造手法としては、種々の手法が知られているが、そのうちの一手法であるセミアディティブ法による形成手法を、図8、図9と共に、以下に説明する。
ビルドアップ多層基板200を形成するため、予め、ビルドアップ多層基板用コア基板100を用意する(図8(a)参照)。このコア基板100は、ガラス−樹脂複合材料、例えば、ガラス繊維−BT(ビスマレイミド−トリアジン)樹脂複合材料からなるコア基板本体101を備え、その表・裏面101a,b間には貫通孔101hが形成されている。また、表面101a、裏面101bには所定パターンの配線層103a,bがそれぞれ形成され、貫通孔101h内に形成されたスルーホール配線層103hを介して、配線層103a、b間が導通されている。これらの配線層103a,b,hはいずれもCuからなる。
【0003】
まず、図8(b)に示すように、このコア基板本体101の表裏面101a,bおよび貫通孔101h内に感光性エポキシ樹脂ペーストを塗布して半乾燥させ、露光・現像後硬化させて、樹脂層104を形成する。この樹脂層104は、第1表面樹脂層104a、第1裏面樹脂層104b、および孔内樹脂層104hからなり、第1表・裏面樹脂層104a,bの所定位置には、それぞれビアホール104av,104bvが形成され、各ビアホール104av,bvの底面には配線層103a,bが露出している。
さらに、次述する無電解メッキとの密着性を向上させるために、過マンガン酸カリウムやクロム酸等の酸化剤を含む粗化剤を用いて、この第1表・裏面樹脂層104a,bの表面を粗化し、さらに、触媒核を付与しておく。
【0004】
ついで、図8(c)に示すように、第1表・裏面樹脂層104a,bの表面全体に、それぞれCu無電解メッキにより無電解メッキ層105a,bを薄く(1〜3μm程度)形成する。この無電解メッキ層105a,bにより、第1表・裏面樹脂層104a,bの表面全体に導通性が付与される。
その後、図8(d)に示すように、感光性メッキレジストを無電解メッキ層105a,b上に形成し、さらに、所定パターンとなるように露光・現像して、レジスト層S1a,S1bを形成する。
【0005】
さらに、図9(a)に示すように、無電解メッキ層105a,bを共通電極として電圧を印加し、Cu電解メッキにより、レジスト層S1a,S1bの形成されていない無電解メッキ層105a,bの露出部に電解メッキ層(厚さ10〜20μm程度)を析出させて厚さを増やし、第1表・裏面配線層106a,bをそれぞれ形成する。なお、レジスト層S1a,S1bの下部では、無電解メッキ層105a,bの厚さが増えないことは言うまでもない。
ついで、図9(b)に示すように、レジスト層S1a,S1bを除去し、さらに、ソフトエッチングにより、レジスト層S1a,S1bの下部にあった無電解メッキ層105a,bを除去して各配線層106a,bを分離・独立させる。
【0006】
以降は、上記図8(b)から図9(b)を参照して説明した工程を繰り返すことにより、図9(c)に示すように、第2表・裏面樹脂層114a,bおよび第2表・裏面配線層116a,bを形成する。以降同様にして樹脂層及び配線層を形成することができる。
そして、例えば、配線層を表・裏面側に、それぞれ3層(例えば、103a,106a,116a)形成し、図9(d)に示すように、第3表・裏面樹脂層(表・裏面ソルダーレジスト層)124a,bを形成する。そしてさらに、その開口124av,bv内に露出する第2表・裏面配線層116a,b上に、接続パッド127a,bを形成して、ビルドアップ多層基板200を完成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このような手法等によりビルドアップ多層基板200を形成するのにあたり、実際には、コア基板100に、製品(ビルドアップ多層基板)を形成する領域の他、その上下左右あるいは周囲に、ハンドリングや位置決め等を容易にするため、製品とはしないで最終的に除去する部分(捨て領域、捨て代)を設けるのが通常である。
例えば、コア基板100のコア基板本体101は、図10(a)に示すように、平面視、略正方形状であり、製品であるビルドアップ多層基板を形成することが予定されている製品形成領域101Sと、その周囲の領域であって最終的には製品にならないで除去される捨て領域101Tとを備える。なお、本例では、最終製品で4つのビルドアップ多層基板が製造できるように、図10(a)において実線および2点鎖線で囲む、小製品形成領域101S1,101S2,101S3,101S4の4つが隣接して田の字状(2段2列)に集まって、1つの製品形成領域101Sを構成している。また、捨て領域101Tは、この製品形成領域101Sを囲むように、ロ字状に形成されている。
【0008】
このうち、製品形成領域101S(例えば、小製品形成領域101S3)におけるコア基板100の構造は、図10(a)におけるX−X’断面のうち、B部の部分拡大断面図である図10(b)から判るように、上述したコア基板の構造である(図8(a)参照)。即ち、コア基板本体101の表裏面101a,b間には貫通する貫通孔101hが形成され、表・裏面101a,bにはそれぞれ配線層103a,bが形成され、貫通孔101h内に形成されたスルーホール配線層103hを介して、配線層103a、b間が導通されている。
【0009】
一方、捨て領域101Tにおけるコア基板100の断面構造は、図10(c)から判るように、図示しない位置決め用マーク、品番表示マーク等の標識等が形成された部分を除き、コア基板本体101の表裏面101a,bが露出した状態である。なお、上述したように樹脂層104a,104b,114a,114b等を形成する際に、この樹脂層表面を平坦化するため、バフ研磨等を行うことがある。この際、製品形成領域101S全体にわたって、樹脂層104a等を平坦に加工するため、捨て領域101T内に、例えば、図10(c)に破線で示す如く、製品形成領域101Sを囲むロ字状に、金属層によるダミーパターン102を形成することもある。
【0010】
実際には、かかるコア基板100を用いて、上記した手法等によりビルドアップ多層基板200を製造するのであるが、この場合に、以下のような問題が生じることが判った。
即ち、図10に示すコア基板100の製品形成領域101Sに、第1表・裏面樹脂層104a,bを形成し、Cu無電解メッキを施すと、製品形成領域101Sでは、図11(a)に示すように、第1表・裏面樹脂層104a,bの上面全面にわたって無電解メッキ層105a,bが形成される。これは、上述した通りである(図8(c)参照)。一方、捨て領域101Tでは、図11(b)に示すように、コア基板本体101の表裏面101a,bに、直接無電解メッキ層105A,Bが形成される。
【0011】
ところで、製品形成領域101Sでは、無電解メッキに先立って、第1表・裏面樹脂層104a,bの表面を酸化剤で粗化し、無電解メッキ層105a,bとの密着性を向上させることが行われる。このため、無電解メッキ層105a,bが、その後に剥がれることはない。
【0012】
一方、捨て領域101Tでも、同様に、コア基板本体101の表・裏面101a,bに酸化剤を接触させた後に、直接無電解メッキ層105A,Bが形成されるが、ガラス繊維−BT樹脂複合材料からなるコア基板の表・裏面101a,bは、上記したような酸化剤によって粗化されにくい。メッキ液やエッチング液、あるいは酸化剤等に繰り返し晒されるため、コア基板本体1には、第1表・裏面樹脂層104等の材質よりも耐薬品性の高い材質が用いられるからである。
【0013】
そのため、その後、例えば、その無電解メッキ工程やその後のレジスト塗布、露光、現像工程、電解メッキ工程、エッチング工程、さらに上層の樹脂ペースト塗布工程等において、図11(b)に示すように、無電解メッキ層105A,Bの一部(電解メッキによって厚みを増した場合も含む)が金属薄片(以下、単に薄片ともいう)105pとなって剥離することがあった。この薄片105pが生じると、例えば、配線間を短絡させたり絶縁抵抗を低下させる場合が生じ、あるいは、露光時に薄片105pにより光が遮られて、レジストや樹脂層の露光パターン不良となる場合など各種の不具合が生じる。
【0014】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされてものであって、本発明の目的は、製品形成領域と捨て領域のあるコア基板を用いてビルドアップ多層基板を形成する際に、捨て領域に形成された無電解メッキ層が剥がれてできた金属薄片による不具合を抑制、防止したビルドアップ多層基板用コア基板を用いたビルドアップ多層基板の製造方法を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
まず、コア基板として、表面と裏面とを有する略板状をなし、製品形成領域と捨て領域とを有するコア基板本体と、上記捨て領域内の上記表面および裏面にそれぞれ良好に密着した金属層と、を有し、上記金属層は、上記捨て領域内の上記コア基板本体の表面及び裏面のうち、少なくとも樹脂層非形成予定区域の略全面に形成されてなることを特徴とするビルドアップ多層基板用コア基板を用いるのが好ましい。
【0016】
上記構成を有するビルドアップ多層基板用コア基板では、コア基板本体のうち、捨て領域内の表裏面に良好に密着した金属層を備え、しかも、この金属層は、少なくとも樹脂層非形成予定区域の略全面に形成されている。
上記したように、コア基板の表面および裏面の少なくともいずれかには、ビルドアップ多層基板の製造工程において、絶縁樹脂層が形成され、その後、無電解メッキ層が形成される。この際に、絶縁樹脂層上に無電解メッキ層が形成されるばかりでなく、絶縁樹脂層が形成されない捨て領域内の表裏面にも無電解メッキ層が形成される。
ここで、このコア基板では、捨て領域内の樹脂非形成予定区域の略全面に金属層を備えるので、無電解メッキ層が、絶縁樹脂層上の他、この金属層上に堆積することとなる。この金属層上に堆積した無電解メッキ層は、金属層のないコア基板表裏面上に堆積したものに比較して、その下地(即ち、金属層)との密着強度が高く、したがって、無電解メッキ工程やその後の樹脂ペースト塗布その他の工程において、無電解メッキ層が剥がれて金属薄片が発生することが抑制・防止される。したがって、剥がれた金属薄片によって、短絡や露光パターン不良などの不具合を生じることがない。
【0017】
ここで、金属層が良好に密着した状態とは、メッキ、エッチング、樹脂ペースト塗布その他の工程において、金属層の一部が剥離しない強度でコア基板に密着している状態を指す。
また、金属層としては、コア基板本体の捨て領域等に良好に密着していれば、いずれの方法によって形成したものでもよいが、例えば、具体的には、未硬化のプリプレグの片面または両面に金属箔を重ね、熱プレス等により硬化させて、コア基板本体の片面あるいは両面に張着された金属箔や、さらにその上にパネルメッキを施して厚さを厚くしたものなどが挙げられる。
【0018】
なお、金属層は、捨て領域内のコア基板本体表面及び裏面のうち、少なくとも樹脂層非形成予定区域に、全面にわたって形成されているのが好ましい。しかし、コア基板位置決め用貫通孔、位置決め用マーク、品番表示用マーク等を形成する部位や、コア基板の周縁部等の各部位において、薄片が生じる危険性を考慮した上で、コア基板表裏面の一部を露出させ、金属層のない部分を設定して、略全面に金属層を備えるようにすれば良い。
また、金属層の材質としては、後に形成することが予定されている無電解メッキ層と略同一の金属成分からなるようにすると良い。無電解メッキ層が金属層と良く密着し、さらに剥離しにくくなるからである。この金属層の材質としては、形成の容易さや抵抗率等をも考慮して選択すればよいが、例えば、具体的には、無電解メッキ層にもCu無電解メッキ層を用いる場合に、金属層にCuを用いることが挙げられる。
【0019】
さらに、製品形成領域は、最終的に製品となるビルドアップ多層基板が形成される領域を指すが、1つの製品形成領域内で1つのビルドアップ多層基板が形成される場合に限定されず、1つの製品形成領域において複数のビルドアップ多層基板が形成されても良い。また、1つのコア基板本体内に、島状に点在するなど、製品形成領域が複数あっても良い。
また、樹脂層非形成予定区域(以下、単に非予定区域とも言う)は、コア基板本体の表面及び裏面のうち、少なくともいずれかに仮想的に設定される区域であって、ビルドアップ多層基板の製造工程において、絶縁樹脂層を形成することが予定されている区域(樹脂層形成予定区域、以下、単に予定区域とも言う)以外の区域を指す。従って、現実のコア基板に予定区域と非予定区域との境界線等が形成されているわけではない。なお、絶縁樹脂層は、表面および裏面に少なくともいずれかに形成されるので、それに対応して、樹脂層形成予定区域も表裏面の少なくともいずれかに存在することになる。従って、絶縁樹脂層を片面(例えば表面)にのみ形成されることが予定されている場合には、他面(例えば裏面)には予定区域は存在せず、非予定区域のみとなる。従って、この他面(例えば裏面)においては、捨て領域のコア基板本体裏面の略全面に金属層が形成される。
【0020】
また、コア基板本体の材質としては、後に形成されることが予定されている絶縁樹脂層の材質よりも粗化されにくい材質からなると良い。ビルドアップ多層基板の製造に当たっては、絶縁樹脂層を多層に形成するために繰り返し絶縁樹脂層の粗化を行う。このため、絶縁樹脂層よりも粗化されにくい材質であれば、粗化工程を繰り返しても、コア基板本体が繰り返し粗化されることにより、極端に粗化されて強度が低下するなどの不具合を防止できるからである。そのため、コア基板本体の材質としては、粗化容易な材質からなるフィラーが添加されていない材質を用いるのが良く、例えば、具体的には、ガラス繊維-BT樹脂複合材料、ガラス繊維−PPE樹脂複合材料などが挙げられる。
【0021】
さらに、コア基板としては、上記のビルドアップ多層基板用コア基板であって、前記捨て領域のうち、前記製品形成領域と隣接する部位に、前記コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備えることを特徴とするビルドアップ多層基板用コア基板を用いるのが好ましい。
【0022】
上記構成を有するビルドアップ多層基板用コア基板では、製品形成領域と隣接する部位に、コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備える。
上記したように、製品であるビルドアップ多層基板の完成後などにおいて、捨て領域と製品形成領域との境界部分で両者を切断し、捨て領域を除去するが、切断線(切断予定部分)上に金属層があると、切断の際に金属層の一部がヒゲ状などの金属切断くずとなって各所に付着し、短絡等の原因となり易い。
このビルドアップ多層基板用コア基板は、予め捨て領域のうち、製品形成領域に隣接する製品隣接部において、コア基板本体の表面および裏面の少なくともいずれかを露出させてあるので、金属切断くずが発生しにくくなり、金属切断くずによる短絡等を抑制できる。
特に、製品隣接部において、コア基板本体の表面および裏面の両面を露出させると、切断時に金属層を切断しないので、この金属切断くずの発生が確実に防止できて、より好ましい。
【0023】
ここで、製品隣接部は、捨て領域のうち製品形成領域に隣接する部位を指し、コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出している。なお、コア基板本体の基板平面内で、製品形成領域が島状に点在している場合に、各製品形成領域に隣接する製品隣接部同士が隣接して一体となっていても良い。即ち、1つの製品隣接部内に複数の製品形成領域が存在しても良い。
【0024】
さらに好ましくは、前述のビルドアップ多層基板用コア基板であって、前記捨て領域のうち、前記製品形成領域に隣接する部位に、前記コア基板本体の表面および裏面のいずれもが露出する製品隣接部を備えることを特徴とするビルドアップ多層基板用コア基板とするとよい。
このようにしたビルドアップ多層基板用コア基板では、コア基板本体の表面および裏面のいずれもが露出する製品隣接部を備える。従って、捨て領域と製品形成領域との境界部分で両者を切断する際に、金属切断くずが発生せず、金属切断くずによる短絡等を防止できる。
【0025】
そして、請求項1あるいは請求項2に記載の解決手段は、上述のビルドアップ多層基板用コア基板を用いるビルドアップ多層基板の製造方法であって、樹脂層形成予定区域に、所定パターンの絶縁樹脂層を形成する樹脂層形成工程と、上記絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する無電解メッキ工程と、を含むことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法である。
【0026】
上記構成を有する本発明のビルドアップ多層基板の製造方法は、上述のビルドアップ多層基板用コア基板を用い、樹脂層形成予定区域に、所定パターンの絶縁樹脂層を形成し、この絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する。
このコア基板は、樹脂層非形成予定区域の略全面に金属層が形成されてなるので、予定区域に絶縁樹脂層を形成した後に無電解メッキ層を形成すると、捨て領域のうち非予定区域では、金属層上に無電解メッキ層が堆積する。捨て領域のうち、絶縁樹脂層上に堆積した無電解メッキは絶縁樹脂層から剥がれ難い。さらに、金属層上に堆積した無電解メッキ層は、コア基板本体の表裏面に堆積した場合とは異なり、金属層と良く密着し剥がれにくいので、その無電解メッキ工程中、あるいはその後の電解メッキ工程や樹脂ペースト塗布その他の工程において、金属層上に堆積した無電解メッキ層が剥がれることがない。このため、金属層によって金属薄片の発生が防止され、あるいは金属層が形成されている分、金属薄片の発生が抑制される。
したがって、金属薄片によって、短絡や露光パターン不良などの不具合を生じることなく、あるいは抑制され、信頼性の高いビルドアップ多層基板を、高い歩留まりで製造することができる。
【0027】
さらに、請求項3に記載の解決手段は、ビルドアップ多層基板の製造方法であって、表面と裏面とを有する略板状をなし、製品形成領域と捨て領域とを有するコア基板本体と、上記捨て領域内の上記表面および裏面にそれぞれ良好に密着した金属層と、を有するコア基板を用い、上記製品形成領域を含む上記コア基板本体表面および裏面の少なくともいずれかに所定パターンの絶縁樹脂層を形成する樹脂層形成工程と、上記絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する無電解メッキ工程と、を含み、上記樹脂層形成工程において、上記捨て領域のうち、上記コア基板本体の表面および裏面が露出する露出面を、略全面にわたって上記絶縁樹脂層で覆うことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法である。
【0028】
上記構成を有する本発明のビルドアップ多層基板の製造方法では、樹脂層形成工程で絶縁樹脂層を形成し、さらに無電解メッキ工程で無電解メッキ層を形成するが、この樹脂層形成工程で、捨て領域のうち、コア基板本体の表面および裏面が露出する露出面を、略全面にわたって絶縁樹脂層で覆う。
これにより、捨て領域のうち絶縁樹脂層で覆われなかった部分は、概略金属層が露出した状態となる。その後、無電解メッキ工程により、絶縁樹脂層および金属層の上に無電解メッキ層が形成される。絶縁樹脂層上の無電解メッキ層はもちろん、金属層上の無電解メッキ層も金属層に密着し剥がれにくい。
従って、捨て領域において、無電解メッキ層が剥がれて金属薄片が発生することが抑制・防止される。
したがって、金属薄片によって、短絡や露光パターン不良などの不具合を生じることなく、あるいは抑制され、信頼性の高いビルドアップ多層基板を、高い歩留まりで製造することができる
【0029】
さらに、請求項4に記載の解決手段は、請求項3に記載のビルドアップ多層基板の製造方法であって、前記コア基板は、前記捨て領域のうち、前記製品形成領域と隣接する部位に、前記コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備えることを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法である。
【0030】
上記構成を有する本発明のビルドアップ多層基板の製造方法は、捨て領域のうち製品形成領域と隣接する部位に、コア基板本体表面および裏面の少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備える。
このため、ビルドアップ多層配線基板の完成時などにおいて、製品形成領域と捨て領域とを切断して分離するのに当たって、金属層を切断したことによる金属切断くずの発生が抑制される。従って、金属切断くずによる短絡等の不具合を抑制できる。
特に、製品隣接部におけるコア基板本体の表面及び裏面の両面で、コア基板本体が露出するようにすると、切断時に金属層を切断することが無くなるので、金属切断くずの発生が確実に防止され、より好ましい。
【0031】
さらに、請求項5に記載の解決手段は、請求項3または請求項4に記載のビルドアップ多層基板の製造方法であって、前記無電解メッキ層の材質が、前記金属層と略同一の金属成分からなることを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法である。
【0032】
上記構成を有する本発明のビルドアップ多層基板の製造方法は、無電解メッキ層の材質が、金属層と略同一の金属成分からなる。
このため、金属層上に無電解メッキ層を堆積させると、金属層と同一成分なのでとくに密着性が良好で、剥がれ難くなり、金属薄片の発生をより確実に防止できる。
この無電解メッキ層の材質としては、メッキの容易さや無電解メッキ層の抵抗率等をも考慮して選択すればよいが、例えば、具体的には、金属層にCuを用いた場合に、無電解メッキ層にもCu無電解メッキ層を形成する場合が挙げられる。
【0033】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態を、図と共に説明する。図1に示すコア基板10は、図1(b)(c)から判るように、ガラス繊維−BT樹脂複合材料からなるコア基板本体を備える。このコア基板本体1は、250×250mm、板厚1.0mmの平面視正方形板状である。そのコア基板本体1の平面内では、40×40mmの大きさのビルドアップ多層基板(以下、単に製品ともいう)が形成されることが予定されている4つの小製品形成領域(例えば、1SA1,1SA2,1SA3,1SA4)が互いに隣接して田の字状(2段2列)に集まって、1つの製品形成領域(例えば1SA)を成している。さらに、4つの製品形成領域1SA,1SB,1SC,1SDが、互いに若干の隙間(20mm)を空けて2段2列に並んでいる。
【0034】
また、各製品形成領域1SA間およびその周囲は、製品の完成後に除去する捨て領域1Tになっている。この捨て領域1Tのうち製品隣接部1TPは、図1(a)中、各製品形成領域1SA,1SB,1SC,1SDとの境界近傍において、幅5mmでロ字状(枠状)の各製品形成領域1SA等に隣接する部位であり、コア基板本体1の表・裏面1a,1b(図1(a)では表面1aのみ示す)がそれぞれ露出している。また、捨て領域1Tのうち残部1TZは、本実施形態では図1(a)において略田の字状をなす。
さらに、この残部1TZは、図1(a)中、各製品隣接部1TPの間に位置する略十字形状の中間残部1TZmと、その余の部分であってコア基板の周縁に位置する幅25mmの略ロ字状(枠状)の周囲残部1TZpとからなる。
【0035】
また、コア基板本体表面1aのうち、上記した各製品形成領域1SA,1SB,1SC,1SD、各製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmを含み、図1(a)中一点鎖線で示す、外周縁が略正方形状(200×200mm)の区域は、後述するように、絶縁樹脂層4aを形成することが予定されている樹脂層形成予定区域1Uaである。逆に、一点鎖線よりも外側の区域は、樹脂層非形成予定区域1Naである。従って、各製品形成領域1SA等の他、各製品隣接部1TPおよび中間残部1TZm上にも絶縁樹脂層4aが形成される(図2(a)参照)。 なお、本実施形態では、表面1a側および裏面1b側に絶縁樹脂層4a,4bを形成するので、図示しないが、同様に、絶縁樹脂層4bを形成することが予定されている樹脂層形成予定領域1Ub、および樹脂層非形成予定区域1Nbも設定される。
ただし、この予定区域1Ua,1Ubおよび非予定区域1Na,1Nbは、仮想的に設定される区域であって、コア基板10にこれらの予定区域と非予定区域との境界線等が形成されているわけではない。
また、同様に、説明の都合上、残部1TZを、中間残部1TZmと周囲残部1TZpとに分けたが、現実のコア基板10において、この両者間に境界線等が形成されている訳ではない。
【0036】
ここで、製品形成領域1SA等(例えば、製品形成領域1SC)におけるコア基板10の構造は、図1(a)におけるY−Y’断面のうち、D部の部分拡大断面図である図1(b)から判るように、前記した従来のコア基板の構造と同様である(図8(a)参照)。即ち、コア基板本体1の表裏面1a,b間には貫通孔1hが形成され、表・裏面1a,bにはそれぞれCuからなる配線層3a,b(厚さ30μm)が形成され、貫通孔内1h内に形成され、同じくCuからなるスルーホール配線層3hを介して、配線層3a、b間が導通されている。
【0037】
一方、捨て領域1Tのうち、残部1TZは、図1(a)におけるY−Y’断面のうち、E部の部分拡大断面図である図1(c)から判るように、コア基板本体1の表裏面1a,1bにCuからなる金属層3A,3B(厚さ30μm)が形成されている。しかもこの金属層3A,3Bは、図1(a)に示すように、捨て領域1Tのうち製品隣接部1TPを除く残部1TZの全面に形成されている。
したがって、本実施形態においては、捨て領域1Tのうち、樹脂層非形成予定区域1Naに入るロ字形状の周囲残部1TZpにおいても、コア基板本体1の表裏面1a,1bに金属層3A,3Bが形成されている。
【0038】
かかるコア基板10を用いて、前記した従来の手法と同様にしてビルドアップ多層基板を形成する。図2(a)において一点鎖線で示す、樹脂層形成予定区域1Ua、1Ubに、それぞれ予定通り絶縁樹脂層4(4a,4b)を形成する。即ち、各製品形成領域1SA等を含み、これを囲む各製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmにわたるコア基板本体表面1aに、エポキシ樹脂を主成分とする感光性樹脂ペーストを塗布し、露光・現像し、さらに硬化させて、所定位置の開口に配線層3a,3bが露出するビアを形成した絶縁樹脂層4(4a,4b)を形成する。図2(a)では、このうちコア基板本体表面1a側の第1表面樹脂層4aを表示した。この図2(a)から判るように、捨て領域1Tのうちの製品隣接部1TPにおいて露出していたコア基板本体表面1aは、その全面を第1表面樹脂層4aで覆われるので、後述する無電解メッキ工程において、直接コア基板表面1aに無電解メッキ層が堆積することはない。また、中間残部1TZmも第1表面樹脂層4aで覆われる。
なお、図示しないが、コア基板本体裏面1b側においても、同様に製品隣接部1TPにおいて露出する裏面1bが、第1裏面樹脂層4bで覆われる。
【0039】
このようにして絶縁樹脂層4(第1表・裏面樹脂層4a,4b)を形成した後、過マンガン酸カリウムを含む酸化剤で絶縁樹脂層4(4a,4b)の表面を粗化し、さらに、活性化処理をして、表面に触媒核を付与した後、Cu無電解メッキを施す。
すると、図1(a)および図2(a)に示したY−Y’線上での断面のうち、D部の部分拡大断面図である図2(b)から判るように、製品形成領域1S(例えば1SC)では、従来と同様(図8(c)、図11(b)参照)に、第1表面樹脂層4aおよび第1裏面樹脂層4bの表面全体にわたって、無電解メッキ層5a,b(厚さ2μm)が形成される。
なお、図示しないが、製品隣接部1TPや中間残部1TZmにおいても、上記したように第1表・裏面樹脂層4a、bが形成されているので、その上に、無電解メッキ層5a,bが形成される。この無電解メッキ層5a,bは、第1表・裏面樹脂層4a,bを予め粗化してから形成するので、高い密着性を有し、無電解メッキ工程中あるいはその後の工程において、剥がれることはなく、金属薄片を発生させないことは言うまでもない。
【0040】
一方、同じくE部の部分拡大断面図である図2(c)から判るように、捨て領域1Tのうち周囲残部1TZpでは、金属層3A,3B上に、それぞれ無電解メッキ層5A,5B(厚さ2μm)が形成される。
つまり、前記した従来のコア基板100において、密着しにくいコア基板本体表裏面101a,b上に、無電解メッキ層105A,Bが直接形成されたのに対して(図11(b)参照)、本実施形態における無電解メッキ層5A,5Bは、Cuからなる金属層3A,3B上に形成されている。
【0041】
一般に、無電解メッキ層と金属層とは、密着性が高い、さらに、本実施形態においては、Cuからなる金属層3A,3Bに対し、無電解メッキ層5A,5Bの材質にこれと同一の金属成分であるCuを選択した。つまり、金属層3A,3Bが、その上に堆積する無電解メッキ層5A,5Bと略同材質のCuからなるため、さらに高い密着性を得ることができる。このため、無電解メッキ層5A,5Bが、金属層3A,3Bから剥がれることはなく、従来のような金属薄片が発生することがない。
したがって、この無電解メッキ工程中において、剥がれた薄片が他の部分に付着して、無電解メッキ層5a,5bの厚さが不均一になることがなくなる。また、後述するように、その後のレジスト塗布、露光現像工程、エッチング工程、さらには、樹脂ペースト塗布工程等の以降の工程において、金属薄片の発生に起因する短絡や露光不良等の不具合の発生を無くすことができる。
【0042】
ついで、前記した従来の工程と同様にして、ビルドアップ多層基板を形成する場合について、以降の工程における製品形成領域1SA等および捨て領域1Tの周囲残部1TZpの状態を、図3および図4を参照しつつ説明する。なお、図3および図4においては、各図中右側は図1(a)中のD部、即ち、製品形成領域1S(1SC)の断面構造を、各図中左側は同様にE部、即ち、捨て領域1Tの周囲残部1TZpの構造を拡大して示すこととする。
【0043】
まず、無電解メッキ層5a,5b,5A,5Bが形成されたコア基板10(図2(b)(c)参照)を用い、図3(a)に示すように、感光性メッキレジストを無電解メッキ層5a,5b,5A,5B上に塗布し、さらに、所定パターンとなるように露光・現像して、レジスト層R2a,R2b,R2A,R2Bを形成する。
このとき、D部、即ち、製品形成領域1S(図3(a)中右側)では、無電解メッキ層5a、5b上に所定パターンのレジスト層R2a,R2bが形成され、開口内には、無電解メッキ層5a,5bが露出している。
【0044】
一方、E部、即ち、周囲残部1TZp(図3(a)中左側)では、レジスト層R2A,R2Bが、それぞれ無電解メッキ層5A,5B上の全面に形成されている。次述する電解メッキ工程において、不要部である残部1TZに電解メッキ層が形成されないようにして、不要な電解メッキ層の析出を防止するためである。この工程においても、無電解メッキ層5A,5Bは、その下地である金属層3A,3Bと良好に密着しているので、剥がれて金属薄片を生じることがない。したがって、レジスト塗布時にペースト状のレジスト内に薄片が混入し、露光時に不要な部分に薄片による影を発生させ、レジスト層R2a,R2bのパターン不良を生じさせることもない。
なお、図示しないが、製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmにおいても、無電解メッキ層5a,b上にレジスト層R2a,R2bが形成された状態とする。不要な電解メッキ層の析出を防止するためである。これら部分1TP、1TZpにおいても、金属薄片が発生しないことはもちろんである。
【0045】
ついで、無電解メッキ層5a等を共通電極として電圧を印加して、Cu電解メッキを施する。これにより、図3(b)中右側に示すように、D部では、レジスト層R2a,R2bの形成されていない無電解メッキ層5a,5bの露出部に電解メッキ(厚さ15μm)を析出させて厚さを増やし、無電解メッキ層と電解メッキ層からなる第1表・裏面配線層6a,6bをそれぞれ形成する。なお、レジスト層R2a,R2bの下部では、無電解メッキ層5a,bの厚さが増えないことは言うまでもない。
一方、図3(b)中左側に示すように、レジスト層R2A,R2Bに覆われた周囲残部1TZp(E部)では、電解メッキ層は形成されない。なお、この電解メッキ工程においても、無電解メッキ層5A,5Bは剥離しないため、薄片が付着して電解メッキ層6a,6bの厚さが不均一になる等の不具合は生じない。
なお、図示しないが、製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmにおいても、電解メッキ層は形成されないし、金属薄片も発生しない。
【0046】
ついで、各レジスト層R2a等を溶解除去し、さらに、エッチング液(例えば硫酸過水)で、無電解メッキ層5a等の厚さ(2μm)よりやや厚い約3μm程度の厚さにわたってソフトエッチングする。
すると、D部、即ち、製品形成領域1Sでは、図3(c)中右側に示すように、レジスト層R2a,bにより、その上部に電解メッキ層が形成されなかった部分、即ち、無電解メッキ層5a,bのみの部分は除去されて、下層の第1表・裏面樹脂層4a,4bが露出する。これにより、各第1表・裏面配線層6a,6bがそれぞれ分離・独立する。なお、各配線層6a、6bもソフトエッチングされて厚さが3μm程度減少するため、厚さが14μm程度になる。
【0047】
一方、E部、即ち、捨て領域1Tの周囲残部1TZpでは、図3(c)中左側に示すように、無電解メッキ層5A,5Bがソフトエッチングにより除去され、金属層3A、3Bが再び露出する。本工程においても、剥離した薄片が配線層6a,6bや無電解メッキ層5a等に重なってその部分が厚くなり、重なった部分で不完全なエッチングとなって短絡や絶縁不良等となる不具合が発生することがない。
なお、図示しないが、製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmにおいても、無電解メッキ層5a,bがソフトエッチングによって除去され、第1表・裏面樹脂層4a,bが露出した状態となる。また、金属薄片も発生しない。
【0048】
以降は、上記図1から図3(c)を参照して説明した工程を繰り返すことにより、図4(a)に示すように、第2表・裏面樹脂層14a,14bおよび第2表・裏面配線層16a,16bを形成する。これらの工程においても、第2表・裏面樹脂層14a,14b上に第2表・裏面配線層16a,16bを形成するに当たりCu無電解メッキを施すが、残部1TZにおいてコア基板本体1の表裏面1a,1bに金属層3A、3Bが形成されている。このため、この残部1TZに堆積する無電解メッキ層(図示しない)は、この金属層3A、3Bと良好に密着して剥離しないので、薄片による不具合を生じないことは上記と同様である。
なお、図示しないが、製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmにおいては、第1表・裏面樹脂層4a,bおよび第2表・裏面樹脂層14a,bが重ねて形成された状態となる。
【0049】
以後、同様にして樹脂層及び配線層を形成することができるが、本実施形態では、コア基板本体1中心として、表面側に3層の配線層3a,6a,16aを、裏面側に3層の配線層3b,6b,16bをそれぞれ形成した。さらに、図4(b)に示すように、第3表・裏面樹脂層(表・裏面ソルダーレジスト層)24a,24bを形成し、その開口24av,24bv内に露出する第2表・裏面配線層16a,16b上に、Niメッキによる接続パッド27a,bを形成して、ビルドアップ多層基板20を完成した。
以上のような本実施形態のビルドアップ多層基板20の製造工程においては、捨て領域1Tのコア基板本体1の表裏面1a,1bのうち、樹脂層形成予定区域1Ua,b外の全面、即ち、周囲残部1TZpの全面に金属層3A,3Bを形成した。これにより、この周囲残部1TZpに堆積する無電解メッキ層5A,Bが剥離して薄片となることがないので、薄片による短絡やパターン不良等の不具合を生じることがない。
また、製品隣接部1TPや中間残部1TZmの部分についても、粗化された第1表・裏面樹脂層4a,b等の上に、無電解メッキ層5a,bが堆積するので、金属薄片を生じることはない。
【0050】
なお、このビルドアップ多層基板20は、捨て領域1Tが除去されていないので、製品としてのビルドアップ多層基板(平面寸法40×40mm:図示しない)とするには、切断により捨て領域1Tに相当する部分を除去し、製品形成領域1SA等に相当する部分のみにする必要がある。なお、本実施形態では、さらに小製品形性領域1SA1等に相当する部分に細分する必要もある。
この際、図1(a)を参照して説明したように、捨て領域1Tのうち、製品形成領域1SA等の周囲には、金属層3A,3Bが形成されず、コア基板本体表面1aおよび裏面1bが露出したロ字状の製品隣接部1TPが、それぞれ形成されている。このように、製品形成領域1SA等と捨て領域1Tとの境界部分において、コア基板本体1を露出させておくと、切断時に、金属層3A,3Bを切断することによる金属切断くずの発生が防止され、切断くずによる短絡等の不具合をなくすことができる。
【0051】
なお、比較形態として、コア基板本体の捨て領域に金属層を形成していない従来のコア基板を用い、上記と同様の手法で形成したビルドアップ多層基板を用意し、上記実施形態のビルドアップ多層基板と共に、各回路配線のオープンショート検査を行った。すると、本実施形態にかかる基板では、短絡発生率15%であったのに対し、比較形態にかかる基板では、短絡発生率が70%に達した。
さらに、これらの短絡が発生した基板の短絡原因を調査したところ、本実施形態の基板では、銅の薄片による短絡は皆無であり、一方、比較形態の基板では、短絡した基板の約80%が、銅の薄片による短絡が原因であると確認された。このことからも判るように、本実施形態にかかる基板は、比較形態にかかる基板に比して、短絡の不具合についてだけ見ても、顕著な効果が得られることが確認できた。
【0052】
ついで、本実施形態にかかるコア基板10の製造方法について、図5を参照しつつ説明する。なお、図5の各図において、右側に図1におけるD部(製品形成領域1S)に対応する部分、左側に同じくE部(捨て領域1Tの残部1TZ)に対応する部分の部分拡大図を示す。
まず、図5(a)に示すように、ガラス繊維−BT樹脂複合材料からなるコア基板本体1の表裏面1a,1bの両面に厚さ18μmのCu箔Pa,Pbをそれぞれ張り合わせた両面銅張り積層板を用意する。
つぎに、図5(b)中右側に示すように、製品形成領域1S内(D部)の所定部分に、表裏面1a、1b間を貫通する貫通孔1hを穿孔する。なお、この工程において、E部には貫通孔を形成しない。
【0053】
さらに、活性化処理により貫通孔1h内面を含む全面に触媒核を付与した後、Cu無電解メッキにより貫通孔1h内周面を含む全面に無電解メッキ層を形成し、さらに、Cu電解メッキにより全体にCu電解メッキ層を析出させる。これにより、図5(c)に示すように、コア基板本体1の表裏面1a、1b上には、厚さ30μmのCuからなるパネル金属層Qa,Qbを、また貫通孔1h内面には、厚さ12μmのCuからなるスルーホール金属層Qhを形成する。
【0054】
その後、感光性フィルムレジストRa,Rbをパネル金属層Qa,Qb上に貼り付け、さらに露光・現像して、図5(d)中右側に示すように、製品形成領域1S(D部)の所定位置に、開口Ora,Orbを形成する。なお、捨て領域1Tの残部1TZ(E部)では、図5(d)中左側に示すように、パネル金属層Qa,Qbの全面にレジストRa,Rbが形成され、開口は形成されない。
しかる後、開口Ora,Orb内に露出したパネル金属層Qa,Qbをエッチングにより溶解・除去して、開口内にコア基板本体1の表裏面1a、1bを露出させる。さらに、レジストRa,Rbを除去すると、図5(e)中右側に示すように、製品形成領域1S(D部)の所定位置において、パネル金属層Qa,Qbが各パターンにしたがって分離独立して、配線層3a,3bとなり、この配線層3a,3b間をスルーホール配線層3hが結ぶ構造となる。一方、捨て領域1Tの残部1TZ(E部)では、図5(d)中左側に示すように、コア基板本体1の表裏面1a、1bの全面にCuからなる金属層3A,3Bが形成された構造となる。このようにして、上述したコア基板10(図1参照)が完成できた。
【0055】
以上においては、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の範囲内で適宜変更して実施できることはいうまでもない。
例えば、上記実施形態のコア基板10においては、製品隣接部1TPにおいてコア基板本体表裏面1a、bが露出し、中間残部1TZmの全面にも金属層3A,3Bが形成されているものを示した。しかし、このような構成に限定されず、例えば、中間残部1TZmの一部において、コア基板本体表面1aや裏面1bが露出していても良く、さらには、図6に示すように、中間残部1TZm全体についてコア基板本体表面1aや裏面1bが露出してコア基板10’としても良い。一点鎖線で示す樹脂層形成予定区域1Ua内では、無電解メッキ工程の前に絶縁樹脂層4a,bに覆われるため、金属層3A等の有無に拘わらず薄片の発生と関係しないからである。従って、樹脂層形成予定区域1Ua、b内の残部1T、即ち、製品隣接部1TPおよび中間残部1TZmの領域に形成される金属層3A,Bのパターン、換言すれば、表裏面1a、bの露出パターンが他の形状にされていても良いことも容易に理解される。逆に言えば、捨て領域1Tのうち表裏面1a、bが露出する露出面を、樹脂層形成工程において、絶縁樹脂層4a,bで覆えば良い。
一方、残部1Tのうち、樹脂層非形成予定区域1Na、b、即ち、上記実施形態で言えば周囲残部1TZpでは、表裏面1a,bの全面にわたり金属層3A,Bが形成されていることが好ましい。但し、コア基板の位置決めや品番表示標識形成その他の理由のより周囲残部1TZmにおいて、一部が露出していても良い。
【0056】
その他、一点鎖線で示す樹脂層形成予定区域1Uaと樹脂層非形成予定区域1Naとの境界を、図7に示すように、各製品隣接部1TPの外側近傍に位置させたコア基板10”の場合にも、同様に金属薄片が発生しないことは明らかである。
上記実施形態では、第1表・裏面樹脂層4a,bと孔内樹脂層4hを同じ材質で形成したが、孔内樹脂層4hを第1表・裏面樹脂層4a,bとは異なる材質で形成しても良く、例えば、感光性を有しない熱硬化性樹脂、金属粒子やメッキ触媒等を混合した樹脂などを用いても良い。
さらに、上記実施形態においては言及しなかったが、コア基板本体の外側面にも金属層を形成しておくとより好ましい。外側面上にも僅かではあるが無電解メッキ層が堆積するからである。あるいは、外側面には、金属層に代えてメッキレジスト層を形成し、無電解メッキ層の堆積を防止するようにしても良い。
また、上述した実施形態におけるビルドアップ多層基板の製造方法においては、いわゆるセミアディティブ法によって第1表・裏面配線層等を形成したが、無電解メッキ法を用いて配線層の一部または全部を形成するならば、他の方法によって形成しても良く、具体的には、例えば、フルアディティブ法やサブトラクティブ法によって第1表・裏面配線層等を形成しても良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態にかかるビルドアップ多層基板用コア基板を示し、(a)は平面図、また、そのY−Y’断面のうち、(b)はD部(製品形成領域)の部分拡大断面図、(c)はE部(捨て領域)の部分拡大断面図である。
【図2】 (a)は、図1に示すコア基板の表裏面に、樹脂層を形成した状態を示す平面図、また、(b)(c)は、さらにこれに無電解メッキ層を形成した状態における部分拡大断面図であり、(b)は図1(b)に示すD部に対応する部分、(c)は図1(c)に示すE部に対応する部分である。
【図3】 実施形態にかかるコア基板を基に、さらにビルドアップ多層基板を形成する工程のうち、第1表・裏面配線層を形成するまでの工程を説明する部分拡大断面図であり、各図の右側は図1(b)に示すD部に対応し、左側は図1(c)に示すE部に対応する部分を示す。
【図4】 実施形態にかかるコア基板を基に、さらにビルドアップ多層基板を形成する工程のうち、完成までの工程を説明する部分拡大断面図であり、各図の右側は図1(b)に示すD部に対応し、左側は図1(c)に示すE部に対応する部分を示す。
【図5】 実施形態にかかるコア基板の製造工程を説明する部分拡大断面図であり、各図の右側は図1(b)に示すD部に対応し、左側は図1(c)に示すE部に対応する部分を示す。
【図6】 他の実施形態にかかるコア基板の平面図である。
【図7】 さらに他の実施形態にかかるコア基板の平面図である。
【図8】 ビルドアップ多層基板の製造方法のうち、無電解メッキ層上に所定パターンのレジスト層を形成する工程までを説明する部分拡大断面図である。
【図9】 ビルドアップ多層基板の製造方法のうち、電解メッキ以降の工程を説明する部分拡大断面図である。
【図10】 従来のコア基板を示し、(a)は平面図、また、そのX−X’断面のうち、(b)はB部(製品形成領域)の部分拡大断面図、(c)はC部(捨て領域)の部分拡大断面図である。
【図11】 図10に示すコア基板に、無電解メッキを施した状態を示し、(a)は、図10(b)に示すB部に対応する部分拡大断面図、(b)は図10(c)に示すC部に対応する部分拡大断面図である。
【符号の説明】
1 コア基板本体
1a 表面
1b 裏面
1SA,1SB,1SC,1SD 製品形成領域
1SA1,1SA2,1SA3,1SA4 小製品形成領域
1T 捨て領域
1TP 製品隣接部
1TZ 残部
1TZm 中間残部
1TZp 周囲残部
1Ua 樹脂層形成予定区域
1Na 樹脂層非形成予定区域
3 配線層
3a 表面側配線層
3b 裏面側配線層
3h スルーホール配線層
4 樹脂層
4a 第1表面樹脂層
4b 第1裏面樹脂層
4h 孔内樹脂層
5a,5b,5A,5B 無電解メッキ層
6a 第1表面配線層
6b 第1裏面配線層
10,10’,10”,100 コア基板
20,200 ビルドアップ多層基板[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention includes a core substrate, an insulating layer formed on one side or both sides thereof, and a wiring layer. Rubi The present invention relates to a method for manufacturing a rolled-up multilayer substrate.
[0002]
[Prior art]
Various methods are known as a method for manufacturing a build-up multilayer substrate using a core substrate, and a forming method by a semi-additive method, which is one of them, will be described below with reference to FIGS. .
In order to form the build-
[0003]
First, as shown in FIG. 8 (b), a photosensitive epoxy resin paste is applied and semi-dried in the front and
Further, in order to improve the adhesion with the electroless plating described below, a roughening agent containing an oxidizing agent such as potassium permanganate or chromic acid is used to form the first and
[0004]
Next, as shown in FIG. 8C, the
Thereafter, as shown in FIG. 8 (d), a photosensitive plating resist is formed on the
[0005]
Further, as shown in FIG. 9A, a voltage is applied using the
Next, as shown in FIG. 9B, the resist layers S1a and S1b are removed, and the
[0006]
Thereafter, by repeating the steps described with reference to FIGS. 8B to 9B, as shown in FIG. 9C, the second front and
Then, for example, three wiring layers (for example, 103a, 106a, and 116a) are formed on the front and back sides, respectively, and a third front and back resin layer (front and back solder) is formed as shown in FIG. Resist layers) 124a and b are formed. Further, the
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in forming the build-
For example, as shown in FIG. 10A, the
[0008]
Among these, the structure of the
[0009]
On the other hand, as can be seen from FIG. 10C, the cross-sectional structure of the
[0010]
Actually, the build-up
That is, when the first front / back
[0011]
By the way, in the
[0012]
On the other hand, in the
[0013]
Therefore, after that, for example, in the electroless plating process, the subsequent resist coating, exposure, development process, electrolytic plating process, etching process, and the upper resin paste coating process, as shown in FIG. Part of the
[0014]
The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to form a build-up multilayer substrate using a core substrate having a product formation region and a discard region in a discard region. Core board for build-up multilayer boards that suppresses and prevents problems due to metal flakes that have been peeled off from the electroless plating layer Used The object is to provide a method for manufacturing a build-up multilayer substrate.
[0015]
[Means, actions and effects for solving the problems]
First, As core substrate , Having a substantially plate shape having a front surface and a back surface, having a core substrate body having a product formation region and a discard region, and a metal layer that is well adhered to the front surface and the back surface in the discard region, The core layer for a build-up multilayer board, wherein the metal layer is formed on at least substantially the entire surface of the area where the resin layer is not to be formed, among the front and back surfaces of the core board body in the discard area. It is preferable to use .
[0016]
Has the above configuration Rubi The core substrate for a rolled-up multilayer substrate includes a metal layer that is well adhered to the front and back surfaces in the disposal area of the core substrate body, and the metal layer is formed on substantially the entire area where the resin layer is not formed. ing.
As described above, an insulating resin layer is formed on at least one of the front surface and the back surface of the core substrate in the manufacturing process of the build-up multilayer substrate, and then an electroless plating layer is formed. At this time, not only the electroless plating layer is formed on the insulating resin layer, but also the electroless plating layer is formed on the front and back surfaces in the discarded area where the insulating resin layer is not formed.
here, This In this core substrate, since the metal layer is provided on substantially the entire surface of the resin non-formation area in the disposal region, the electroless plating layer is deposited on the metal layer in addition to the insulating resin layer. The electroless plating layer deposited on this metal layer has higher adhesion strength with its base (ie, metal layer) than that deposited on the front and back surfaces of the core substrate without the metal layer. In the plating process and subsequent processes such as application of the resin paste and the like, the occurrence of metal flakes due to peeling of the electroless plating layer is suppressed / prevented. Therefore, the peeled metal flakes do not cause problems such as a short circuit and an exposure pattern defect.
[0017]
Here, the state in which the metal layer is in good contact refers to a state in which the metal layer is in close contact with the core substrate with a strength that does not peel off in plating, etching, resin paste application, and other processes.
In addition, the metal layer may be formed by any method as long as it is in good contact with the disposal region of the core substrate body, for example, specifically, on one or both sides of the uncured prepreg. Examples of the metal foil include a metal foil that is stacked and cured by hot pressing or the like, and is stuck to one or both sides of the core substrate body, or a panel that is further plated to increase the thickness.
[0018]
In addition, it is preferable that the metal layer is formed over the entire surface at least in the area where the resin layer is not formed, on the front surface and the back surface of the core substrate body in the disposal region. However, in consideration of the risk of flakes occurring in each part such as the core board positioning through-hole, positioning mark, part number display mark, and the peripheral part of the core board, the front and back surfaces of the core board It is sufficient to expose a part of the metal layer and set a part without the metal layer so that the metal layer is provided on the substantially entire surface.
Further, the material of the metal layer is preferably made of substantially the same metal component as the electroless plating layer scheduled to be formed later. This is because the electroless plating layer is in close contact with the metal layer, and is more difficult to peel off. The material of the metal layer may be selected in consideration of easiness of formation, resistivity, and the like. Specifically, for example, when a Cu electroless plating layer is used for the electroless plating layer, a metal is used. It is mentioned that Cu is used for the layer.
[0019]
Furthermore, the product formation region refers to a region where a build-up multilayer substrate that will eventually become a product is formed, but is not limited to the case where one build-up multilayer substrate is formed within one product formation region. A plurality of build-up multilayer substrates may be formed in one product formation region. Also, there may be a plurality of product formation regions such as islands scattered within one core substrate body.
Further, the resin layer non-formation planned area (hereinafter also simply referred to as non-schedule area) is an area that is virtually set to at least one of the front surface and the back surface of the core substrate body, In the manufacturing process, it refers to an area other than an area where an insulating resin layer is planned to be formed (resin layer formation scheduled area, hereinafter also simply referred to as a scheduled area). Therefore, the boundary line between the planned area and the non-scheduled area is not formed on the actual core substrate. Since the insulating resin layer is formed on at least one of the front surface and the back surface, the resin layer formation planned area also exists on at least one of the front and back surfaces correspondingly. Therefore, when the insulating resin layer is scheduled to be formed only on one side (for example, the front surface), there is no planned area on the other surface (for example, the back surface), and only the non-scheduled area. Therefore, on this other surface (for example, the back surface), a metal layer is formed on substantially the entire back surface of the core substrate body in the discarded region.
[0020]
The material of the core substrate body may be made of a material that is less likely to be roughened than the material of the insulating resin layer that is planned to be formed later. In manufacturing the build-up multilayer substrate, the insulating resin layer is repeatedly roughened in order to form the insulating resin layer in multiple layers. For this reason, if the material is harder to roughen than the insulating resin layer, even if the roughening process is repeated, the core substrate body is repeatedly roughened, resulting in extreme roughening and reduced strength. It is because it can prevent. Therefore, as the material of the core substrate body, it is preferable to use a material made of an easily roughened material to which no filler is added. Specifically, for example, glass fiber-BT resin composite material, glass fiber-PPE resin are used. Examples include composite materials.
[0021]
further, As the core substrate, the above A core substrate for a buildup multilayer substrate, comprising a product adjacent portion in which at least one of a front surface and a back surface of the core substrate body is exposed in a portion adjacent to the product formation region in the discarding region. Core board for build-up multilayer boards characterized by It is preferable to use .
[0022]
Has the above configuration Rubi In the core substrate for a rolled-up multilayer substrate, a product adjacent portion where at least one of the front surface and the back surface of the core substrate body is exposed is provided at a portion adjacent to the product formation region.
As described above, after the build-up multilayer substrate, which is a product, is completed, both are cut at the boundary portion between the discard area and the product formation area, and the discard area is removed, but on the cutting line (part to be cut) When there is a metal layer, a part of the metal layer becomes a metal cutting waste such as a whisker at the time of cutting, and is likely to cause a short circuit or the like.
This In the core substrate for buildup multilayer substrate, at least one of the front and back surfaces of the core substrate body is exposed in the product adjacent area adjacent to the product formation area in the discarded area, so that metal cutting scraps are generated. Therefore, it is possible to suppress a short circuit caused by metal cutting waste.
In particular, it is more preferable to expose both the front surface and the back surface of the core substrate body in the adjacent part of the product, because the metal layer is not cut at the time of cutting.
[0023]
Here, the product adjacent portion refers to a portion adjacent to the product formation region in the disposal region, and at least one of the front surface and the back surface of the core substrate body is exposed. In addition, when the product formation regions are scattered in an island shape within the substrate plane of the core substrate body, the product adjacent portions adjacent to each product formation region may be adjacent and integrated. That is, a plurality of product formation regions may exist in one product adjacent portion.
[0024]
More preferably, Above A core substrate for a buildup multilayer substrate, wherein a portion adjacent to the product formation region in the discarded region is provided with a product adjacent portion where both the front surface and the back surface of the core substrate body are exposed. It is preferable to use a core substrate for a buildup multilayer substrate.
The core substrate for a buildup multilayer substrate thus configured includes a product adjacent portion where both the front surface and the back surface of the core substrate body are exposed. Therefore, when cutting both at the boundary portion between the disposal region and the product formation region, metal cutting waste is not generated, and short circuit due to metal cutting waste can be prevented.
[0025]
And
[0026]
The manufacturing method of the build-up multilayer substrate of the present invention having the above-described configuration is as follows. Above Using the core substrate for a build-up multilayer substrate, an insulating resin layer having a predetermined pattern is formed in a resin layer formation scheduled area, and an electroless plating layer is formed on the insulating resin layer.
Since this core substrate is formed with a metal layer on substantially the entire surface of the resin layer non-formation planned area, if the electroless plating layer is formed after forming the insulating resin layer in the planned area, the non-planned area of the discarded area An electroless plating layer is deposited on the metal layer. In the discarded area, the electroless plating deposited on the insulating resin layer is difficult to peel off from the insulating resin layer. Furthermore, unlike the case where the electroless plating layer deposited on the metal layer is deposited on the front and back surfaces of the core substrate body, the electroless plating layer adheres well to the metal layer and is not easily peeled off. In the process, resin paste application, and other processes, the electroless plating layer deposited on the metal layer is not peeled off. For this reason, generation | occurrence | production of a metal flake is prevented by the metal layer, or generation | occurrence | production of a metal flake is suppressed by the part in which the metal layer is formed.
Therefore, a highly reliable build-up multilayer substrate can be manufactured with a high yield without causing or suppressing problems such as a short circuit or an exposure pattern defect by the metal flakes.
[0027]
And claims 3 The solution described in (1) is a method for manufacturing a build-up multilayer substrate, which has a substantially plate shape having a front surface and a back surface, has a core substrate body having a product formation region and a discard region, and the above-mentioned in the discard region. Forming a resin layer having a predetermined pattern on at least one of the front and back surfaces of the core substrate body including the product formation region, using a core substrate having a metal layer that is well adhered to the front and back surfaces, respectively. And an electroless plating step of forming an electroless plating layer on the insulating resin layer, and in the resin layer forming step, an exposure in which the front and back surfaces of the core substrate body are exposed in the discarded region. A method for producing a build-up multilayer substrate, wherein the surface is covered with the insulating resin layer over substantially the entire surface.
[0028]
In the manufacturing method of the build-up multilayer substrate of the present invention having the above-described configuration, an insulating resin layer is formed in the resin layer forming step, and an electroless plating layer is further formed in the electroless plating step. In this resin layer forming step, In the discarded area, the exposed surface where the front and back surfaces of the core substrate body are exposed is covered with an insulating resin layer over substantially the entire surface.
Thereby, the part which was not covered with the insulating resin layer in the discarded area is in a state where the metal layer is substantially exposed. Thereafter, an electroless plating layer is formed on the insulating resin layer and the metal layer by an electroless plating process. In addition to the electroless plating layer on the insulating resin layer, the electroless plating layer on the metal layer is also in close contact with the metal layer and hardly peels off.
Accordingly, it is possible to suppress / prevent the occurrence of metal flakes due to peeling of the electroless plating layer in the discarded area.
Therefore, the metal flakes can produce a highly reliable build-up multilayer substrate with a high yield without causing or suppressing problems such as short circuits and defective exposure patterns.
[0029]
And claims 4 The solution described in
[0030]
The manufacturing method of the build-up multilayer substrate of the present invention having the above-described configuration includes a product adjacent portion in which at least one of the front surface and the back surface of the core substrate body is exposed in a portion adjacent to the product forming region in the discarded region.
For this reason, when the build-up multilayer wiring board is completed, for example, when the product formation region and the disposal region are cut and separated, generation of metal cutting scraps due to cutting the metal layer is suppressed. Accordingly, it is possible to suppress problems such as a short circuit due to metal cutting waste.
In particular, if the core substrate body is exposed on both the front and back surfaces of the core substrate body in the adjacent part of the product, the metal layer is not cut at the time of cutting, so the occurrence of metal cutting waste is reliably prevented, More preferred.
[0031]
And claims 5 The solution described in
[0032]
In the method for manufacturing a buildup multilayer substrate of the present invention having the above-described configuration, the material of the electroless plating layer is composed of substantially the same metal component as the metal layer.
For this reason, when the electroless plating layer is deposited on the metal layer, since it is the same component as the metal layer, the adhesion is particularly good and it is difficult to peel off, and the generation of metal flakes can be prevented more reliably.
The material of the electroless plating layer may be selected in consideration of the ease of plating, the resistivity of the electroless plating layer, and the like. For example, specifically, when Cu is used for the metal layer, The case where a Cu electroless plating layer is formed also in the electroless plating layer is mentioned.
[0033]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1B and 1C, the
[0034]
Further, between and around each product formation region 1SA is a discarding
Further, the remaining portion 1TZ has a substantially cross-shaped intermediate remaining portion 1TZm positioned between each product adjacent portion 1TP in FIG. 1A and a remaining portion of the intermediate substrate 1TZm having a width of 25 mm positioned on the periphery of the core substrate. It consists of an approximately square-shaped (frame-shaped) peripheral remaining portion 1TZp.
[0035]
Further, of the core substrate
However, the planned areas 1Ua and 1Ub and the non-scheduled areas 1Na and 1Nb are virtually set areas, and a boundary line between the planned areas and the non-scheduled areas is formed on the
Similarly, for the convenience of explanation, the remaining portion 1TZ is divided into an intermediate remaining portion 1TZm and a surrounding remaining portion 1TZp. However, in the
[0036]
Here, the structure of the
[0037]
On the other hand, the remaining portion 1TZ of the discarded
Therefore, in the present embodiment, the
[0038]
Using the
Although not shown, on the core substrate main body back
[0039]
After forming the insulating resin layer 4 (first and rear resin layers 4a and 4b) in this way, the surface of the insulating resin layer 4 (4a and 4b) is roughened with an oxidizing agent containing potassium permanganate, Then, after activating treatment and providing catalyst nuclei on the surface, Cu electroless plating is performed.
Then, as can be seen from FIG. 2B, which is a partial enlarged cross-sectional view of the D portion, among the cross sections on the YY ′ line shown in FIGS. 1A and 2A, the product formation region 1S. In the case of (for example, 1SC), the electroless plating layers 5a and 5b are formed over the entire surface of the first
Although not shown, since the first front and
[0040]
On the other hand, as can be seen from FIG. 2C which is a partially enlarged sectional view of the E portion, the
That is, in the above-described conventional
[0041]
In general, the electroless plating layer and the metal layer have high adhesion. Further, in the present embodiment, the material of the
Therefore, during this electroless plating process, the peeled flakes do not adhere to other portions, and the thickness of the electroless plating layers 5a and 5b does not become uneven. In addition, as will be described later, in subsequent processes such as resist coating, exposure development process, etching process, and resin paste coating process, the occurrence of defects such as short circuit and exposure failure due to the occurrence of metal flakes. It can be lost.
[0042]
Next, in the case where a build-up multilayer substrate is formed in the same manner as in the conventional process described above, refer to FIGS. 3 and 4 for the states of the product formation region 1SA and the like and the remaining portion 1TZp around the discard
[0043]
First, using the core substrate 10 (see FIGS. 2B and 2C) on which the
At this time, in the D portion, that is, in the product formation region 1S (right side in FIG. 3A), resist layers R2a and R2b having a predetermined pattern are formed on the electroless plating layers 5a and 5b, and there are no openings in the openings. Electrolytic plating layers 5a and 5b are exposed.
[0044]
On the other hand, in the E portion, that is, the remaining remaining portion 1TZp (left side in FIG. 3A), the resist layers R2A and R2B are formed on the entire surface of the
Although not shown, the resist layers R2a and R2b are formed on the electroless plating layers 5a and b in the product adjacent portion 1TP and the intermediate remaining portion 1TZm. This is to prevent deposition of an unnecessary electrolytic plating layer. Of course, metal flakes are not generated in these portions 1TP and 1TZp.
[0045]
Next, a voltage is applied using the
On the other hand, as shown on the left side in FIG. 3B, the electrolytic plating layer is not formed in the peripheral remaining portion 1TZp (E portion) covered with the resist layers R2A and R2B. Also in this electrolytic plating process, since the
Although not shown, no electrolytic plating layer is formed on the product adjacent portion 1TP and the intermediate remaining portion 1TZm, and no metal flakes are generated.
[0046]
Next, each resist layer R2a and the like is dissolved and removed, and further, soft etching is performed with an etching solution (for example, sulfuric acid / hydrogen peroxide) over a thickness of about 3 μm which is slightly thicker than the thickness (2 μm) of the
Then, in the D part, that is, the product formation region 1S, as shown on the right side in FIG. 3C, the portion where the electrolytic plating layer is not formed on the upper part by the resist layers R2a and b, that is, electroless plating. The portions of only the
[0047]
On the other hand, in the E portion, that is, the remaining portion 1TZp around the discarded
Although not shown, in the product adjacent portion 1TP and the intermediate remaining portion 1TZm, the electroless plating layers 5a and 5b are removed by soft etching, and the first front and
[0048]
Thereafter, by repeating the steps described with reference to FIGS. 1 to 3C, as shown in FIG. 4A, the second front and
Although not shown, in the product adjacent portion 1TP and the intermediate remaining portion 1TZm, the first front / back
[0049]
Thereafter, the resin layer and the wiring layer can be formed in the same manner. However, in this embodiment, three layers of
In the manufacturing process of the build-up
Further, in the product adjacent portion 1TP and the intermediate remaining portion 1TZm, the electroless plating layers 5a and 5b are deposited on the roughened first and rear resin layers 4a and 4b, so that metal flakes are generated. There is nothing.
[0050]
In addition, since the discarded
At this time, as described with reference to FIG. 1A, the
[0051]
As a comparative form, a build-up multilayer substrate formed by the same method as described above is prepared using a conventional core substrate in which a metal layer is not formed in the discarded region of the core substrate body, and the build-up multilayer of the above embodiment is prepared. Along with the substrate, each circuit wiring was subjected to open short inspection. Then, in the substrate according to the present embodiment, the short circuit occurrence rate was 15%, whereas in the substrate according to the comparative embodiment, the short circuit occurrence rate reached 70%.
Further, when the cause of the short circuit of the substrate in which these short circuits occurred was investigated, the short circuit due to the copper flakes was not found in the substrate of this embodiment, whereas in the comparative substrate, about 80% of the shorted substrates were It was confirmed that the short circuit caused by the copper flakes was the cause. As can be seen from this, it was confirmed that the substrate according to the present embodiment has a remarkable effect even when only the short-circuit defect is observed, as compared with the substrate according to the comparative embodiment.
[0052]
Next, a method for manufacturing the
First, as shown in FIG. 5 (a), double-sided copper-clad with 18 μm thick Cu foils Pa and Pb bonded to both the front and
Next, as shown on the right side in FIG. 5B, a through
[0053]
Furthermore, after applying catalyst nuclei to the entire surface including the inner surface of the through-
[0054]
Thereafter, the photosensitive film resists Ra and Rb are attached on the panel metal layers Qa and Qb, and further exposed and developed. As shown on the right side in FIG. 5 (d), the product forming region 1S (D portion) is predetermined. Openings Ora and Orb are formed at the positions. In the remaining portion 1TZ (E portion) of the discard
Thereafter, the panel metal layers Qa and Qb exposed in the openings Ora and Orb are dissolved and removed by etching to expose the front and
[0055]
In the above, the present invention has been described with reference to the embodiment. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and it is needless to say that the present invention can be appropriately modified within the scope of the invention.
For example, in the
On the other hand, in the remaining
[0056]
In addition, in the case of the
In the above embodiment, the first front and
Further, although not mentioned in the above embodiment, it is more preferable to form a metal layer on the outer surface of the core substrate body. This is because a slight electroless plating layer is deposited on the outer surface. Alternatively, a plating resist layer may be formed on the outer surface instead of the metal layer to prevent deposition of the electroless plating layer.
Moreover, in the manufacturing method of the buildup multilayer substrate in the above-described embodiment, the first front and back wiring layers and the like are formed by a so-called semi-additive method, but part or all of the wiring layers are formed by using an electroless plating method. If it is formed, it may be formed by another method. Specifically, for example, the first front / back wiring layer and the like may be formed by a full additive method or a subtractive method.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 shows a core substrate for a buildup multilayer substrate according to an embodiment of the present invention, wherein (a) is a plan view, and (b) is a D part (product formation region) of a YY ′ cross section thereof. (C) is a partial expanded sectional view of E section (discarded area).
2A is a plan view showing a state in which a resin layer is formed on the front and back surfaces of the core substrate shown in FIG. 1, and FIGS. 2B and 2C are views in which an electroless plating layer is further formed thereon. FIG. 2B is a partially enlarged cross-sectional view in the state of FIG. 1B, in which FIG. 1B corresponds to a portion D shown in FIG. 1B and FIG. 1C corresponds to a portion E shown in FIG.
FIG. 3 is a partially enlarged cross-sectional view for explaining a process until a first front / back wiring layer is formed in a process of further forming a buildup multilayer substrate based on the core substrate according to the embodiment; The right side of the drawing corresponds to the D portion shown in FIG. 1B, and the left side shows the portion corresponding to the E portion shown in FIG.
FIG. 4 is a partial enlarged cross-sectional view for explaining a process up to completion among processes for further forming a build-up multilayer substrate based on the core substrate according to the embodiment, and the right side of each figure is FIG. The left side shows a portion corresponding to the E portion shown in FIG. 1 (c).
FIG. 5 is a partial enlarged cross-sectional view for explaining a manufacturing process of the core substrate according to the embodiment, in which the right side of each figure corresponds to the D portion shown in FIG. 1B, and the left side is shown in FIG. The part corresponding to E part is shown.
FIG. 6 is a plan view of a core substrate according to another embodiment.
FIG. 7 is a plan view of a core substrate according to still another embodiment.
FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view for explaining the steps up to the step of forming a resist layer having a predetermined pattern on the electroless plating layer in the build-up multilayer substrate manufacturing method.
FIG. 9 is a partially enlarged cross-sectional view for explaining steps after electrolytic plating in the buildup multilayer substrate manufacturing method.
10A shows a conventional core substrate, FIG. 10A is a plan view, and FIG. 10B is a partially enlarged cross-sectional view of a B portion (product formation region), and FIG. It is a partial expanded sectional view of the C section (discarded area).
11 shows a state where electroless plating is applied to the core substrate shown in FIG. 10, (a) is a partially enlarged cross-sectional view corresponding to part B shown in FIG. 10 (b), and (b) shows FIG. It is a partial expanded sectional view corresponding to the C section shown in (c).
[Explanation of symbols]
1 Core board body
1a Surface
1b Back side
1SA, 1SB, 1SC, 1SD Product formation area
1SA1,1SA2,1SA3,1SA4 Small product formation area
1T discard area
1TP product adjacent part
1TZ remaining
1TZm intermediate balance
1TZp Surrounding remainder
1Ua Resin layer formation planned area
1Na resin layer non-formation planned area
3 Wiring layer
3a Front side wiring layer
3b Back side wiring layer
3h Through-hole wiring layer
4 Resin layer
4a First surface resin layer
4b First back surface resin layer
4h Resin layer in the hole
5a, 5b, 5A, 5B Electroless plating layer
6a First surface wiring layer
6b First backside wiring layer
10, 10 ', 10 ", 100 core substrate
20,200 Build-up multilayer board
Claims (5)
上記捨て領域内の上記表面および裏面にそれぞれ良好に密着した金属層と、
を有し、
上記金属層は、上記捨て領域内の上記コア基板本体の表面及び裏面のうち、少なくとも樹脂層非形成予定区域の略全面に形成されてなる
ビルドアップ多層基板用コア基板を用いるビルドアップ多層基板の製造方法であって、
樹脂層形成予定区域に、所定パターンの絶縁樹脂層を形成する樹脂層形成工程と、
上記絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する無電解メッキ工程と、
を含む
ことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法。Core plate body having a substantially plate shape having a front surface and a back surface, having a product formation region and a disposal region,
A metal layer that adheres well to each of the front and back surfaces in the discarded area;
Have
The metal layer is formed on substantially the entire surface of the area where the resin layer is not to be formed, of the front and back surfaces of the core substrate body in the discard area.
A method of manufacturing a build-up multilayer substrate using a core substrate for build-up multi-layer substrate,
A resin layer forming step of forming an insulating resin layer of a predetermined pattern in the resin layer formation planned area;
An electroless plating step of forming an electroless plating layer on the insulating resin layer;
including
A method for producing a build-up multilayer substrate, characterized in that:
上記捨て領域内の上記表面および裏面にそれぞれ良好に密着した金属層と、
を有し、
上記金属層は、上記捨て領域内の上記コア基板本体の表面及び裏面のうち、少なくとも樹脂層非形成予定区域の略全面に形成されてなる
ビルドアップ多層基板用コア基板であって、
前記捨て領域のうち、前記製品形成領域と隣接する部位に、前記コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備える
ビルドアップ多層基板用コア基板を用いるビルドアップ多層基板の製造方法であって、
樹脂層形成予定区域に、所定パターンの絶縁樹脂層を形成する樹脂層形成工程と、
上記絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する無電解メッキ工程と、
を含む
ことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法。 Core plate body having a substantially plate shape having a front surface and a back surface, having a product formation region and a disposal region,
A metal layer that adheres well to each of the front and back surfaces in the discarded area;
Have
The metal layer is formed on substantially the entire surface of the area where the resin layer is not to be formed, of the front and back surfaces of the core substrate body in the discard area.
A core substrate for a build-up multilayer substrate ,
A product adjacent portion in which at least one of the front surface and the back surface of the core substrate body is exposed at a portion adjacent to the product forming region in the discarding region.
A method of manufacturing a build-up multilayer substrate using a core substrate for build-up multi-layer substrate,
A resin layer forming step of forming an insulating resin layer of a predetermined pattern in the resin layer formation planned area;
An electroless plating step of forming an electroless plating layer on the insulating resin layer;
including
A method for producing a build-up multilayer substrate, characterized in that:
表面と裏面とを有する略板状をなし、製品形成領域と捨て領域とを有するコア基板本体と、上記捨て領域内の上記表面および裏面にそれぞれ良好に密着した金属層と、を有するコア基板を用い、
上記製品形成領域を含む上記コア基板本体表面および裏面の少なくともいずれかに所定パターンの絶縁樹脂層を形成する樹脂層形成工程と、
上記絶縁樹脂層上に無電解メッキ層を形成する無電解メッキ工程と、を含み、 上記樹脂層形成工程において、上記捨て領域のうち、上記コア基板本体の表面および裏面が露出する露出面を、略全面にわたって上記絶縁樹脂層で覆うことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法。A method of manufacturing a build-up multilayer board,
A core substrate having a substantially plate shape having a front surface and a back surface, a core substrate body having a product formation region and a discard region, and a metal layer that is well adhered to the front and back surfaces in the discard region, respectively. Use
A resin layer forming step of forming an insulating resin layer having a predetermined pattern on at least one of the front and back surfaces of the core substrate body including the product formation region;
An electroless plating step of forming an electroless plating layer on the insulating resin layer, and in the resin layer formation step, an exposed surface in which the front surface and the back surface of the core substrate body are exposed in the discarded region, A method for producing a build-up multilayer substrate, characterized by covering the substantially entire surface with the insulating resin layer.
前記コア基板は、前記捨て領域のうち、前記製品形成領域と隣接する部位に、前記コア基板本体の表面および裏面のうち少なくともいずれかが露出する製品隣接部を備える
ことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法。It is a manufacturing method of the buildup multilayer substrate according to claim 3 ,
The core substrate includes a product adjacent portion in which at least one of a front surface and a back surface of the core substrate body is exposed in a portion adjacent to the product formation region in the discard region. A method for manufacturing a substrate.
前記無電解メッキ層の材質が、前記金属層と略同一の金属成分からなる
ことを特徴とするビルドアップ多層基板の製造方法。It is a manufacturing method of the buildup multilayer substrate according to claim 3 or 4 ,
A method for manufacturing a buildup multilayer substrate, wherein a material of the electroless plating layer is composed of substantially the same metal component as the metal layer.
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|---|---|---|---|
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